TW546986B - Active matrix organic electroluminescent device simplifying a fabricating process and a fabricating method thereof - Google Patents
Active matrix organic electroluminescent device simplifying a fabricating process and a fabricating method thereof Download PDFInfo
- Publication number
- TW546986B TW546986B TW091114409A TW91114409A TW546986B TW 546986 B TW546986 B TW 546986B TW 091114409 A TW091114409 A TW 091114409A TW 91114409 A TW91114409 A TW 91114409A TW 546986 B TW546986 B TW 546986B
- Authority
- TW
- Taiwan
- Prior art keywords
- electrode
- layer
- contact hole
- patent application
- scope
- Prior art date
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 82
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 title claims description 42
- 239000010410 layer Substances 0.000 claims description 363
- 238000009413 insulation Methods 0.000 claims description 63
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 62
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 46
- 230000000873 masking effect Effects 0.000 claims description 18
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 claims description 16
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 16
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N silicon dioxide Inorganic materials O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 14
- 238000005401 electroluminescence Methods 0.000 claims description 13
- 239000004020 conductor Substances 0.000 claims description 12
- 229910021420 polycrystalline silicon Inorganic materials 0.000 claims description 11
- 229910052581 Si3N4 Inorganic materials 0.000 claims description 9
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 claims description 9
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims description 9
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 9
- HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N silicon nitride Chemical compound N12[Si]34N5[Si]62N3[Si]51N64 HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 9
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 claims description 8
- AMGQUBHHOARCQH-UHFFFAOYSA-N indium;oxotin Chemical compound [In].[Sn]=O AMGQUBHHOARCQH-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 6
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 claims description 5
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 5
- 230000005611 electricity Effects 0.000 claims description 5
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims description 4
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 239000000956 alloy Substances 0.000 claims description 3
- 239000011777 magnesium Substances 0.000 claims description 3
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 239000010703 silicon Substances 0.000 claims description 3
- 229910052691 Erbium Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims description 2
- UYAHIZSMUZPPFV-UHFFFAOYSA-N erbium Chemical compound [Er] UYAHIZSMUZPPFV-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 238000005530 etching Methods 0.000 claims description 2
- 238000000926 separation method Methods 0.000 claims description 2
- 239000011810 insulating material Substances 0.000 claims 3
- WHXSMMKQMYFTQS-UHFFFAOYSA-N Lithium Chemical compound [Li] WHXSMMKQMYFTQS-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 2
- 239000011229 interlayer Substances 0.000 claims 2
- 229910052744 lithium Inorganic materials 0.000 claims 2
- FYYHWMGAXLPEAU-UHFFFAOYSA-N Magnesium Chemical compound [Mg] FYYHWMGAXLPEAU-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- 235000014676 Phragmites communis Nutrition 0.000 claims 1
- BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N Silver Chemical compound [Ag] BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- 238000002347 injection Methods 0.000 claims 1
- 239000007924 injection Substances 0.000 claims 1
- 239000012212 insulator Substances 0.000 claims 1
- 229910052749 magnesium Inorganic materials 0.000 claims 1
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 claims 1
- 239000004332 silver Substances 0.000 claims 1
- 239000012780 transparent material Substances 0.000 claims 1
- 238000001771 vacuum deposition Methods 0.000 claims 1
- 238000009834 vaporization Methods 0.000 claims 1
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 14
- PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N Nickel Chemical compound [Ni] PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 11
- 229910052814 silicon oxide Inorganic materials 0.000 description 6
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 6
- ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N Molybdenum Chemical compound [Mo] ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 238000002425 crystallisation Methods 0.000 description 5
- 229910052750 molybdenum Inorganic materials 0.000 description 5
- 239000011733 molybdenum Substances 0.000 description 5
- 239000011241 protective layer Substances 0.000 description 5
- 229910000838 Al alloy Inorganic materials 0.000 description 4
- 230000008025 crystallization Effects 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 229910052735 hafnium Inorganic materials 0.000 description 4
- VBJZVLUMGGDVMO-UHFFFAOYSA-N hafnium atom Chemical compound [Hf] VBJZVLUMGGDVMO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 229910010272 inorganic material Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000011147 inorganic material Substances 0.000 description 4
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 description 4
- 229920005591 polysilicon Polymers 0.000 description 4
- WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N tungsten Chemical compound [W] WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000010937 tungsten Substances 0.000 description 4
- 229910021417 amorphous silicon Inorganic materials 0.000 description 3
- 238000002438 flame photometric detection Methods 0.000 description 3
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 3
- 239000007769 metal material Substances 0.000 description 3
- 229920002120 photoresistant polymer Polymers 0.000 description 3
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910021419 crystalline silicon Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000008021 deposition Effects 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 230000005669 field effect Effects 0.000 description 2
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 2
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 2
- 239000012044 organic layer Substances 0.000 description 2
- 239000011368 organic material Substances 0.000 description 2
- -1 oxide Substances 0.000 description 2
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 description 2
- 229910001316 Ag alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910001148 Al-Li alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 241000282326 Felis catus Species 0.000 description 1
- 206010024796 Logorrhoea Diseases 0.000 description 1
- 240000007594 Oryza sativa Species 0.000 description 1
- 235000007164 Oryza sativa Nutrition 0.000 description 1
- JFBZPFYRPYOZCQ-UHFFFAOYSA-N [Li].[Al] Chemical compound [Li].[Al] JFBZPFYRPYOZCQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052783 alkali metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000001340 alkali metals Chemical class 0.000 description 1
- UQZIWOQVLUASCR-UHFFFAOYSA-N alumane;titanium Chemical compound [AlH3].[Ti] UQZIWOQVLUASCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000002585 base Substances 0.000 description 1
- 238000001311 chemical methods and process Methods 0.000 description 1
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 1
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 1
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- 230000005684 electric field Effects 0.000 description 1
- 238000005538 encapsulation Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 239000010408 film Substances 0.000 description 1
- 239000009730 ganji Substances 0.000 description 1
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 1
- 230000002496 gastric effect Effects 0.000 description 1
- 235000003642 hunger Nutrition 0.000 description 1
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 1
- 229910052738 indium Inorganic materials 0.000 description 1
- APFVFJFRJDLVQX-UHFFFAOYSA-N indium atom Chemical compound [In] APFVFJFRJDLVQX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000008595 infiltration Effects 0.000 description 1
- 238000001764 infiltration Methods 0.000 description 1
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 1
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 1
- 239000001989 lithium alloy Substances 0.000 description 1
- PQXKHYXIUOZZFA-UHFFFAOYSA-M lithium fluoride Inorganic materials [Li+].[F-] PQXKHYXIUOZZFA-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- SJCKRGFTWFGHGZ-UHFFFAOYSA-N magnesium silver Chemical compound [Mg].[Ag] SJCKRGFTWFGHGZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 1
- 150000004767 nitrides Chemical class 0.000 description 1
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000011017 operating method Methods 0.000 description 1
- 238000004321 preservation Methods 0.000 description 1
- 238000002310 reflectometry Methods 0.000 description 1
- 238000011160 research Methods 0.000 description 1
- 235000009566 rice Nutrition 0.000 description 1
- 230000001568 sexual effect Effects 0.000 description 1
- 230000035939 shock Effects 0.000 description 1
- 239000004575 stone Substances 0.000 description 1
- 238000010408 sweeping Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K59/00—Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one organic light-emitting element covered by group H10K50/00
- H10K59/10—OLED displays
- H10K59/12—Active-matrix OLED [AMOLED] displays
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K59/00—Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one organic light-emitting element covered by group H10K50/00
- H10K59/10—OLED displays
- H10K59/12—Active-matrix OLED [AMOLED] displays
- H10K59/123—Connection of the pixel electrodes to the thin film transistors [TFT]
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Electroluminescent Light Sources (AREA)
- Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)
- Thin Film Transistor (AREA)
Description
五、發明說明(υ 發明背景 發明領域 尤指一種主動矩 本發明係與有機電致發光裝置有關 陣電致發光裝置。 Ρ 發明演進 最近幾年’輕薄短小兼省電的平板式顯示器(FPD Fiat panel display)裝置儼然已經成為資訊時代一個 界等相投入的研究目標。按,FPD裝置基本上可 β ς 發射或接受光線而區分為兩大類,其一屬於發射光'&以显 示影像的發光型顯示裝置,另一屬於利用外部光 ^ 影像的受光型顯示裝置,前者如電漿顯示板(PDp/,' ^η
Plasma display paneis)、電場發光顯示(fed, emission display)裝置、及電致發光(EL, , electroluminescence)裝置等,而後者主要為液 (LCD, Liquid crystal display)裝置。 # 一 在諸多PD裝置中’ LCD裝置因具有極佳的解像特性 色彩顯示、及顯示品質等優點,所以廣為業界採用。 而,正因為其係屬一種受光型顯示裝置,所以也具有^此
例如對比欠佳、視角較窄、放大困難等宿命缺點了因此些 業界無不引頸企盼能夠發展出可以一舉解決上十 型FPD。 卿决上述問題的新 由於屬於發光型FPD的有機EL顯示裝置相對於LC])且 更為寬廣的視角與較佳的對比效果,最近已有不少業^ 極投入這方面的研發工作。因為有機EL顯示裝晉—二 貝 衣夏7〇全不需 546986 五、發明說明(2) ___ 利用背光,所以,造型上不難達到既輕且薄兼 要求。應用時,僅需-個低壓直流電源即可 j ^平 顯示裝置,而且反應快速。眾所週知,纟士 w 為el 裝置的有機el顯示裝置因本身為一全不同於LCD 外界的衝擊具有更大的抗力,而且;對於 寬^…與LCD或PDP相車交,製作有機孔顯::: 私中,特別是因為僅需沉積與封囊設備, 吝=衣 為低廉。 所以生產成本更 傳統上操作有機EL顯示裝置係以_種 電晶體(TFTs,Thin film transistors)之被動矩名陣操膝 法(Passive matrix operating meth〇d)為之。缺而了 陣有機EL顯示裝置在解像度、耗電量、、、與使口用 可〒各方面皆有不足之處,近來已有業者發展一 2提供高解像度與大顯像面積且可望 :員“ ^ =動;陣有侧示裝置。在一被動矩 1 "中,柃瞄線與信號線彼此垂直交叉形成一車 而在-主動矩陣有機EL顯示裝置中,通常各=狀 配置有"'薄膜電晶體(TFT) ’該m係用以 之連結之第-電極及另-設於該第-電極 掃r ί 被動矩陣有機EL顯示裂置時,必須連續對該等 加一掃晦電屢。在選擇時段内,各像素之瞬間亮 二二ίτ線數乘以平均亮度所得值,藉以獲得所需之平 二儿X。疋以,掃瞄線數愈多,需要的電壓和電流也愈
546986 五、發明說明(3) 〇此所以該被動矩陣有機乩顯示裝置之用於高解像度之 -像2有不足,非但耗電大而且容易受損。 之带然而’在該主動矩陣有機^顯示裝置中,施加於像素 包^係儲存在一蓄電電容器内部以保持該電壓及驅動該 ^ ^裝置而不計該掃瞄線數量之多寡,直到施加下一資料 ,包電壓為止。結果,僅須施加一小電流即可 效 ί機=製Γ低耗電、高解像度、及大面積之主動矩陣 為el》、、員示1置並無特殊困難。 n圖顯示一傳統主動矩陣有機EL顯示裝置之基礎 京、、、吉構寻效電路圖。 ^第1圖中’-條落在第一方向上的掃猫線 一方向的第二方向上的-條信請^ 3〇 ^ "而疋義了一個像素區,其中該信號線20與電源線 4此分隔一段距離。一切換用TFT " Ts·,,即一 ’一、、、’ 係連結於該掃瞄線10與信號線2〇,而一蓄電 = 、則跨接於該切換用TFT "τ 口口 TFT "Τ丨,中士、店-从b ”电原線30。一驅動用 L ,即一電流源兀件,接於該蓄電電容哭”c " ^ 源線30、及一有機EL二極體"D丨,。 思%令时CST 、電
EL 為有機EL —極體DEL"在陽極座陰極 膜之雙層結構。當-順向電流施=置;'有機薄 忪,一電子與一電洞將分別穿越位於提供 =del 供電子之陰極間之PN接合面而重新結合形^ 、每提 偶。該電子-電洞偶具有的能量較为I八 电子屯洞 為低’即電子與電洞之結合與分隔存在有能量差,^以门發 第7頁 546986 五、發明說明(4) =ί i㈣成釋出該能量差。該切換用tft ’’Ts”調整通過 該驅動用TFT π T丨,之)値a帝、古、,的 突,,r " + D之順向适、抓亚將電荷儲存在該蓄電電容 态 lst 内。 =下為該主動矩陣有機EL裝置之驅動原理說明。 :電壓根據選擇信號施加於一擇定之掃瞄線1 〇時, ==、S用UT Ts”之閘極開始導通並允許信號線20 一資料 二τίτ過"1 ,換用m ’’ TS,’。胃資料信號㉟即施加於該驅 =用TFT TD與蓄電電容器"Cs/。於是,該驅動用τ{?τ > D的閘極被導通,電源線30的電流遂透過TFT ” TDn進入 j,機EL _極體’’ Del”使之發光。因該驅動用tft " T/閘極 導通)程度端視資料信號的情況而定,故調整通過 TD的電流可得一灰色(模糊)電平。其次,由於存放 >畜屯私谷态丨’ cSTn的資料信號即使在非被選定的時段内仍 7、、買%光直到下一資料封包電壓到達並施加於該掃聪線 止。 從而可知,相對於被動矩陣有機^裝置,該主動矩陣 有機EL裝置僅使用一較低電壓與一較低瞬間電流而已。再 者在資料封包下,該有機EL二極體仍持續處於被驅動 之$態而與掃瞄線的數量無關,所以,主動矩陣有機讥裝 f當可符合低電力消耗、高解像度、與大塊顯示面積等條 件所需。 、 因為在主動矩陣有機EL裝置中有電流通過—TFT,故 而採用一種場效機動性高的多元矽(P —Si)TFT應比場效機
546986 五、發明說明(5) 動性低的傳統無定形矽(a-Si)TFT更為有利。鑒於p_Si TFT之高場效機動性,適合在基板上利用p_si τρτ形 驅動電路以降低驅動1C的成本及簡化其製程。一種透過 =雷射韌化之低溫結晶化法,已廣泛使用做為“i的製 =2一圖係、-傳統主動矩陣有觀裝置之斷面示意圖, TFT :古甘機豇二極體、一蓄電電容器、及-驅動 還有’其發光形態係採用光線可透過一低電極之陽 極而發射的一種底部發射型者。 、低电極之% 又,第2圖中形成於一基板1〇上之以丁 " 丁"且一 r^3^2:^,38 ^ ^,5〇 ^.;^δ52 〇 ^ " t J ίτ,^ ^ aEL Μ,,1)-Μ ^ 1f f t 合时CST包括有一對彼此對望之電源電極42與 4 ,且該電源電極42與蓄電電極34之二一 =β 4〇。該有機EL二極體"D ”包含一斜θ 一弟一、、、邑緣層 祕,且插入-有飢^二:;=相對望的陽極58與陰 力紙LL· ! D4於该兩極間。該TFT " τ, 極50係與該電源電極42連結,而該m τ = 該有機EL二極體"Del"的陽極58相接。 ,” 2則兵 送從;射:m明材料製得以便傳 得以供輕易將電子注 在頂部發射型中,因為該有撫 θ 線’所以該陰極也必須利用透明:料G穿過陰極發射光 至於具有多層結構的絕緣層方面,、其構成主要包括:
546986
五、發明說明(6) 一介於該基板10與半導體層32之間的緩衝層3〇 ; 一提供給 該蓄電電容器” CST"之第一絕緣層4〇 ; 一介於該源極5〇與電 源電極42之間的第二絕緣層44 ; 一介於該陽極58及洩極52 之間的第二絕緣層54 ;及一介於該有機以層64與陽極58之 ’ 間的保護層60。該第一、第二、第三絕緣層4〇/44/54及保 · 護層6 0均設有電性連結用接觸孔。 第3A至31圖皆為第2圖所示一主動矩陣有機^^裝置之 製程斷面圖。其圖案之形成係利用遮罩經過光阻劑(p R, photoresist)塗裝、排列、曝光、與顯影等照相石版製程 而完成者。 着, 第3A圖中,俟一缓衝層30形成於一基板1〇之全表面 後,一活性層32a與一多元晶矽製儲存電極34係透過一第 一遮罩製程而形成於該緩衝層3〇之上表面。 第3B圖中,俟一閘絕緣層36形成於該基板1 〇之全表面 後,一金屬製閘極38係透過一第二遮罩製程而形成於該活 性層3 2 a上方該閘絕緣層3 6之上表面。 第3C圖中,俟一第一絕緣層4〇形成於該基板1〇之全表 面後,一金屬製電源電極42係透過一第三遮罩製 於該第,絕緣層40之上表面以遮蔽該儲存電:二…成 第3D圖中,一經過第四遮罩製程而形成於該電源電極 42上表面之第二絕緣層44具有一源極接觸孔、一洩極 接觸孔46b、與-儲存接觸孔仏,其中該源極接觸孔…與 我極接觸孔46b分別曝露該活性層32a之左右兩侧部,而儲 存接觸孔48則使該電源、電極42外露。該活性層…左右兩
第10頁 546986 五、發明說明(7) 側部又为別構成一源極區I a與一泡極區I b。其次,具有活 性層32a與歐姆接觸層32b之該半導體層32係透過雜質摻入 方式以離子滲進該活性層3 2 a兩側而得者。
第3E圖中,一彼此分隔的洩極52與源極5〇係透過一第 五遮罩製程而形成於該第二絕緣層44上表面,其中該源極 50係經過源極接觸孔46a (第3D圖)與該源極區ia之歐姆接 觸層3 2 b相接;而洩極5 2則係經過洩極接觸孔4 6 a (第3 D圖) 與該洩極區la之歐姆接觸層32c相接,且透過該儲存接觸 孔4 8 (弟3 D圖)而與§亥電源電極4 2結合。經歷以上過程後, 一個具備半導體層3 2、閘極3 8、源極5 0、與洩極5 2之薄膜 電晶體(TFT) ΠΤΠ乃告完成。再者,由該電源電極“與蓄 電電極3 4共同形成的區域構成一蓄電電容器„ ”。又,該 蓄電電極34係與閘極38相接(未示),而該電源電極42係盥 平行於信號線的電源線一體化。 ^ 第3F圖中,一經歷第六遮罩製程而具有一洩極接觸孔 5 6之弟二絕緣層5 4係形成於該源極與洩極5 〇 / 5 2之上表 面〇 第3G圖中,一透過該洩極接觸孔56 (第評圖)接於 52之陽極58係經歷_第七遮罩製程而形成於該第三絕緣層 5 4上表面。 曰 第3H圖中,一含有開口部62以曝露該陽極58之保護声 〇在經歷一第八遮罩製程後形成於基板丨〇之全表面上。^ 保護層60係用以保護TFT "τ,,免受濕氣或雜質侵入。^ 第31圖中,與該陽極58共同建構—有機以二極體" 546986 五、發明說明(8) DEL之—有機EL層64與陰極66係透過該開口 (第3H圖) 成於該保護層6〇上表面。 1 、矛 亦丨(pm夕冶4 廷些製程因包括有高溫沉積、光阻 二,嘉处齙及其他如蝕刻等物理或化學之諸多製程處 理,產爿b難免党到影響。 發明說明 對液上2製?冗長而產生的缺失,本發明主要係針 ,:…不叙置在實質上解決既有技術的缺點與侷限性。 產旦及之一在於提供一種能削減遮軍製程以提昇 產里及卜低成本之主動矩陣有機EL裝置。 至於本發明之其他特性或優點,應可藉由若干實施 配合附®的說明與㈣巾請时或透過實作獲得瞭解。 為達1上述目的,本發明之一種主動矩陣有機電致發 尤 UL’ blectrolununescence)裝置包括有:_ 基板一 形成於該基板上表面之半導體層與一儲存電極;二形_ 該半導體層與儲存電極上表面且具有源極/洩極接觸/孔、 開絕緣層,·一位於該半導體層上方形成於該閘絕緣層上 面之閘極;一第一絕緣層係形成於該閘極上且遮蓋^ P 電極並如同該閘絕緣層般設有源極/洩極接觸孔,· 一以遮葚子 該儲存電極位於該第一絕緣層上之電源電極;一透明、導^ 材料構成而形成於該第一絕緣層上表面之陽極;一形成二 該陽極上且具有一開口部、一陽極接觸孔、一儲存接觸;
第12頁 546986 五、發明說明(9) 孔、及一 ^同該閘絕緣層與第一絕緣層般設有源極/洩極 接觸孔之第二絕緣層;彼此分隔形成於該第二絕緣層上之 =極與洩極,其中該源極係透過該源極接觸孔接於該半導 ‘ Ϊ 3 ί過該儲存接觸孔接於該電源電極,而該洩極則係 =二,極接觸孔接於該半導體層及透過該陽極接觸孔接 j極:形成於該源極與洩極上之第三絕緣層,該第 第Τ ': Ϊ ί如同該第二絕緣層般設有開口部;-形成於該 係i =兮二上表面之有機電致發光層,該有機電致發光層 声上#:巧口部與陽極接觸;及一形成於該有機電致發光 曰表面之不透明導電性陰極。 光裂面向中,一種主動矩陣有機電致發 儲存電極·,匕在基板上形成一半導體層與一 觸孔鱼、朽ί該半導體層與儲存電極上形成一具有源極接 接觸孔之閑絕緣層;在該間絕緣層之上表面及 存電極之▲亡:::ί二在該閘極上形成-遮擋該儲 孔娜接觸孑匕;在該第-絕緣層之上形成 透源電極;在該第-絕緣層上形成-開口部觸ί該陽極上形成一第二絕緣層具有-層與第一的& & Α ^ 保存接觸孔,及如同該閘絕緣 二絕:層=觸孔及茂極接㈣;在該第 過該源極接觸二二::之源極與洩極,#中該源極係透 該電源電極,繼極則;;存接觸孔接於 、j你還過違洩極接觸孔接於該半導
第13頁 546986
體層及透過該陽極接觸孔接於該陽極· 上形成-第三絕緣層,該第三絕緣層係與?極之 般設有開口部;在該第三絕緣層上^二μ弟一絕緣層 層,該有機電致發光層係透過該開: : 光 在該有機電致發光層之上形成-不透陰 緣層一樣具有開口部;一形成於第三絕緣層上表面之有機
第14頁 在本發明又一訴求面向中 光裝置包括有:一基板;一形 層;一形成於該半導體層上表 之閘絕緣層;一形成於該閘絕 極,該閘極與儲存電極係同時 遠半導體層上方;一形成於該 一絕緣層,該第一絕緣層和閘 孔與洩極接觸孔;兩同時形成 源電極與陽極,其中該電源電 於遠電源電極與陽極上表面之 具有一開口部、一陽極接觸孔 閘絕緣層與第一絕緣層一樣, 孔;形成於該第二絕緣層且彼 該源極係透過該源極接觸孔接 接觸孔接於該電源電極,而該 接於該半導體層及透過該陽極 於該源極與洩極上之第三絕緣 ’一種主動矩陣有機電致發 成於4基板上表面之半導體 面且具有源極/洩極接觸孔丑 緣層上表面之閘極與儲存電 形成者,其中該閘極係位於 閘極與儲存電極上表面之第 絕緣層一樣,具有源極接觸 於該第一絕緣層上表面之電 極遮住該儲存電極;一形成 弟一絕緣層,該第二絕緣層 、與一儲存接觸孔,且和該 具有源極接觸孔及茂極接觸 此分隔之源極與洩極,其中 於該半導體層及透過該儲存 洩極則係透過該洩極接觸孔 接觸孔接於該陽極;一形成 層,該第三絕緣層與第二絕
546986 五 發明說明(11) 電致發光層,有機電致發光層 觸;及,一形成於該有機電致 在本啦明又一訴求面向中 光裝置之製造方法包括:透過 形成一半導體層;摻雜離子進 層之上形成一閘絕緣層;利用 層之上同時形成一閘極與一儲 该半導體層上方;在該閘極與 緣層;透過一第三遮罩製程在 源電極與一陽極,其中該電 邊電源電極與陽極之上形成一 罩製程同時在該第二絕緣層形 觸孔、及源極與洩極接觸孔, 該陽極,該儲存接觸孔用以曝 洩極接觸孔用以曝露該半導體 ό亥弟一絕緣層之上形成兩彼此 源極係透過該源極接觸孔接於 觸孔接於該電源電極,而該汽 該半導體層及透過該陽極接觸 洩極之上形成一第三絕緣層; 三絕緣層形成一用以曝露該陽 層之上形成一有機電致發光層 該開口部而與該陽極接觸; 形成一陰極。 係透過該開口部與陽極接 發光層上之陰極。 ,二種主動矩陣有機電致發 弟遮罩製程在一基板上 入該半導體層;在該半導體 一第二遮罩製程在該閘絕^ 存電極,其中該閘極係位於 儲存電極之上形成一第一絕 第一絕緣層之上同時形成一 源電極遮住該儲存電極;在 第二絕緣層;透過一第四遮 成一陽極接觸孔、一儲存接 其中該陽極接觸孔用以曝露 路该電源電極,及該源極與 層;透過一第五遮罩製程在 分隔之源極與洩極,其中該 該半導體層及透過該儲存接 極則透過該洩極接觸孔接於 孔接於該陽極;在該源極與 透過一第六遮罩製程在該第 極之開口部;在該第三絕緣 ’該有機電致發光層係透過 ,在該有機電致發光層之上
546986 五、發明說明(12) 以上摘要說明僅作大體陳述,下方將配合若干實施例 進一步詳予說明之。 ' 實施例 以下茲舉出若干實施例配合相關附圖加以解說,其中 同一或功能近似之零件儘可能加註相同編號以利對照了參 考。 第4圖係本發明主動矩陣有機EL裝置一典型實施例之 斷面示意圖。由於此處的主動矩陣有機EL裝置使用多元矽 薄膜電晶體(p-Si TFT),所以採取頂閘型。第1圖中雖僅 使用一像素結構為例,然亦有其他結構使用一顆TP?以上 甚至多達四顆TFT者。在使用一顆TFT的結構中,該TFT係 設於一掃瞒線與一信號線之交點,一有機乩裝置則與該 TFT相接。在使用四顆TFT的結構中,部分係做為補償之 用藉以提昇亮度之均勻度。 第4圖中,一緩衝層1〇2形成於一基板1〇()上表面。一 半導體層104與一互不電性連接之儲存電極1〇6係形成於該 緩衝層1 0 2之上。隨後,一閘絕緣層1 Q 7與一閘極1 〇 8依序 形成於該半導體層104之上表面中央部。源極丨24與洩極 126分別接於該半導體層1 〇4之右侧部與左侧部。一覆蓋於 該儲存電極106上方之電源電極112係接於該源極124。一' 第一絕緣層110插設於該電源電極112與儲存電極丨〇6之間 以構成一蓄電電容裔’ CST"。再者,一有機μ二極體,,& "之 陽極11 4係與該洩極1 26相接。一具有開口部之第二絕绫層
546986 五、發明說明(13) 118設於一TFT "ΤΓ之上方,而一有機EL層132係透過該開 口部接於陽極114。又,一陰極134形成於該有機EL層132 上表面做為一共同電極。 在該有機EL二極體"DEL" —多層結構中,該閘絕緣層 1 0 7係先形成於該缓衝層1 〇 2上表面,然後依序該第一絕緣 層11 〇形成於閘絕緣層1 0 7之上,以及該陽極114形成於第 一絕緣層11 〇之上。通常各具有一開口部之第二與第三絕 緣層11 8/1 28依序形成於該陽極114之上。該有機EL層1 32 與陰極1 3 4透過該開口部後接於陽極11 4。然後該陽極11 4 穿過一陽極接觸孔連接於該TFT ”T"之洩極126,而該TFT ΠΤ"則利用第三絕緣層128與有機EL層132隔離。 兹因本發明主動矩陣有機EL裝置中,該陽極114形成 於第一絕緣層110之上及該洩極丨26係接於該陽極114之頂 部表面,故而一相當於該洩極接觸孔5 6 (第3F圖)用以連結 浪極126與陽極114之接觸孔得與一第一、第二、及儲存接 觸孔同時形成,藉以免除一道單獨形成該接觸孔的手續以 簡化製程。 第5A〜5H圖係第4圖所示該主動矩陣有機裝置之製程 斷面示意圖。 一夕第5A圖中,一緩衝層102形成於一基板1〇〇上。其後, 二=晶矽活性層l〇4a與一多元晶矽之儲存電極丨〇6係透 過一第一遮罩製程而形成於該緩衝層丨〇 2上表面。該基板 10 〇係可為玻璃基板、塑膠基板、或可撓性基板之任一 種今為形成該多元晶矽活性層1 0 4 a起見,俟無定形矽沉
546986 五、發明說明(14) 積於緩衝層1 0 2上表面後,利用熱處理手段使之脫氫及結 晶化,其中該結晶化程序於該第一遮罩製程之前或之後實 施皆無不可。又,該緩衝層102係以氧化矽(si〇2)或氮化 石夕(S i Nx)等無機材料製得,主要用於進行結晶化時防止該 基板1 0 0受損。 第5B圖中,一閘絕緣層1〇7形成於該基板丨00之全表面 後’ 一閘極1 0 8係透過一第二遮罩製程形成於該閘絕緣層 107上表面,該閘絕緣層1〇7亦係以氧化矽或氮化矽等無機 材料製成者。該閘極108得具有一雙層結構,其包括一下 鋁層或下鋁合金層及一由鉬(M〇)、鎳(Ni)、或鎢構成 Ο 之上防錄金屬層。該閘極1 〇 8之雙層結構以鋁(a 1 ) /鈥(n d) /銷(Mo )構成者為最佳選擇。一掃瞄線(未示)含該閘極丨〇 8 係形成於該閘絕緣層1 〇 7之上。 第5C圖中,俟一第一絕緣層11〇形成於該基板1〇〇之全 表面後’一覆蓋該儲存電極1 0 6之電源電極1丨2係透過一第 三遮罩製程而形成於該第一絕緣層丨丨〇上表面。該電源電 極112與儲存電極106間夾帶第一絕緣層11〇而構成一蓄電 電容Is n CST"。構成該第一絕緣層丨丨〇的材質可與該閘絕緣 層1 0 7或缓衝層1 〇 2的材質相同,例如氧化矽(s i )或氮化‘ 碎(S i Νχ) 然因δ亥弟一乡巴緣層1 1 〇係供該蓄電電容哭"c " 之用,故採用介電常數高的材質是為上策。例如f氮&矽 (S i Nx)就可k供較咼的電容量與較強的銦錫氧化物(I το ) 附著力。該電源電極11 2可採低電阻金屬材料製作,以鋁 合金或雙層結構中之下層採用鋁合金較佳。含該電源電極
546986 五、發明說明(15) 11 2及又越忒掃目田線之電源線(未示)係可時形成於該 一絕緣層11 0之上。 、第^圖中,一陽極11 4於經歷一第四遮罩製程後,形 成於忒第一絕緣層上由掃瞄線與電源線定義的一個像素區 内。因為光線係自一有機乩層發射至該陽極114後再傳送 出去,所以該陽極114宜利用如銦錫氧化物(ITO, Indium Tin oxide)等透明導電金屬材料製作。 笫5 E 0中 具有一陽極接觸孔1 2 7、源極與汽極接 觸孔120a/120b、及儲存接觸孔122之第二絕緣層118係透 過一第五遮罩製程而形成於該基板100上表面。該陽極接 觸孔1 2 7、儲存接觸孔1 2 2、與源極與洩極接觸孔 1 2 0 a/ 1 2 0 b分別顯露該陽極114、電源電極丨丨2、及活性層 104a之右/左兩侧部。其次,離子被摻入該活性層1〇4a之 右/左兩側部分別形成一歐姆接觸層1〇4b/1〇4c以完成一具 備該活性層104a與歐姆接觸層i〇4b/1 04c之半導體層1〇4。 此TFT視離子的種類而定,可以是^型或p型電晶體。於摻 入離子後,該歐姆接觸層l〇4b/104c可被歸入一源極區π a 與一泡極區I I b。 第5F圖中,源極與洩極1 24/ 1 2 6係經歷一第六遮罩製 程而形成於遠笫二絕緣層11 8上表面。該源極1 2 4係透過源 極接觸孔1 2 0 a (第5 E圖)與該源極區I I a之歐姆接觸層1 〇 4 b 相接,及透過該儲存接觸孔122(第5E圖)與該電源電極112 相接。該洩極126係透過洩極接觸孔120b(第5E圖)與該洩 極區I lb之歐姆接觸層1 04c相接,及透過陽極接觸孔1 27與
第19頁 546986 五、發明說明(16) 該陽極11 4相接。又,此處亦形成有一包含切換TFT ’,Ts ’’(第1圖)源極之^號線(未示)’該信號線係與電源線 互呈平行且分隔之狀態。該源極1 2 4與洩極1 2 6係可利用鉬 (Mo)、鎳(Ni )、鎢(W)之任一種材料製成,或具有鋁/鈥/ 铜(Al/Nd/Mo)形成之雙層結構。結果,一具備半導體層 104、閘極108、源極124、與洩極126的TFT,,Tsn於焉誕 生。而且,透過上述製程尚可形成至少另一顆TFT。 第5G圖中,一具有開口部130之第三絕緣層128係透過 一第七遮罩製程而形成於該基板100之全表面上。該第三 絕緣層128主要用以保護該TFT "T"並使之與下一步驟即將〇 產生的有機EL層隔離。又,該第三絕緣層1 28係以如氧化 矽(Si02)或氮化矽(SiNx)等材料製成者。 由上可知,本發明主動矩陣有機孔裝置之遮罩製程手 續已經簡化為七道。理由是該陽極114之形成先於該源極 124與洩極126,故該陽極114可透過與該儲存接觸孔 122(第5E圖)、源極接觸孔120a、及洩極接觸孔12〇b(第5E 圖)同時形成之陽極接觸孔127而接於該洩極丨26。因此, 原本必要的洩極接觸孔56 (第3F圖)就可省略而簡化製程。 第5H圖中,一經由該開口部丨3 0與陽極丨丨4銜接之有機· EL層1 3 2係形成於該第三絕緣層丨2 8之上。然後,該有機 EL層132之上表面形成一陰極134。該陰極134之材質為工 作函數低於4eV之不透明金屬如驗金屬等,但以鎭銀合金 (Mg :Ag)、銘鐘合金(A1 :u)、及鋰氟鋁“丨以^)之雙層 結構為首選。茲因該有機讥層132之有機材質容易受到濕曰 546986
氣影響形成該有機阢層丨32後不適合再進行遮罩製程, 所以’形成該陰極1 3 4時不使用遮罩製程。 另一實施例中,利用一遮罩製程可形成電源電極與陽 極’其遮罩製程數可進而降低至六道。 絲第6圖^本發明主動矩陣有機EL裝置另一典型實施例 之斷面示意圖。由於此處的主動矩陣有機EL裝置使用多元 矽薄膜電晶體(p —Si TFT),所以採取頂閘型。第i圖中雖 僅使用一像素結構為例,但亦得使用一顆TFT以上甚至多 達四顆TFT者。在使用一顆TFT的結構中,該TFT係設於一 掃瞒線與一信號線之交點,一有機讥裝置則與該TFT相 接。在使用四顆TFT的結構中,部分係做為補償之用藉以 提昇亮度之均勻度。 第6圖中,一緩衝層102形成於一基板i 〇〇上表面,一 半導體層1 0 4再形成於該缓衝層1 〇 2之上。隨後,一閘絕緣 層107與一閘極1〇8依序分別形成於該半導體層1〇4之上表 面中央部。源極124與洩極126分別接於該半導體層1〇4之 右側部與左側部。一覆蓋於該儲存電極1 〇 6上方之電源電 極112係接於該源極124,及一第一絕緣層110係插設於該 電源電極11 2與儲存電極1 〇 6之間以構成一蓄電電容器 ” CST"。再者,一與該洩極126相接之有機EL二極體"DE1/陽 極114係與該電源電極11 2居於同一層次。一第二絕緣層 118係形成於一TFT ΠΤ"上方,而一有機EL層132係與該陽 極114接觸。又,一陰極134形成於該有機EL層1 32上表面 做為一共同電極。
第21頁 546986 五、發明說明(18)
在該有機E L二極體M DEL" —多層結構中,該閘絕緣層 1 0 7係先形成於該缓衝層1 〇 2上表面,然後依序該第一絕緣 層11 0形成於閘絕緣層1 〇 7之上,以及該陽極11 4形成於第 一絕緣層11 0之上。通常各具有一開口部之第二與第三絕 緣層118M28依序形成於該陽極114之上。該有機EL層132 與陰極134透過該開口部後接於陽極114。然後該陽極114 穿過一陽極接觸孔連接於該TFT "Γ1之洩極126,而該TFT "T”則利用第三絕緣層128與有機EL層132隔離。該陽極114 係以透明導電材料製得,銦錫氧化物(IT〇)為最佳選擇。 該陰極1 34的材料為具有高反射性的金屬鋁或鋁合金。在 頂部發射型有機EL裝置的場合,該陽極與陰極的材料可以 互換。又,視TFT的種類而定,該陽極與陰極有時亦可彼 此交換。 該半導體層104包括有一摻入雜質的活性層i〇4a與右/ 左兩侧部l〇4b/104c。該源極124係可納入一電源線(未示) 中’而該電源電極11 2則可納入一相當於該電源線之一額 外電源線(未示)。 #兹因本發明主動矩陣有機EL裝置中,該陽極114形成 於第一絕緣層110之上及該洩極126係接於該陽極114之頂 f 部表面,故而一相當於該洩極接觸孔5 6 (第3F圖)用以連結 極1 26與陽極1 14之接觸孔得與源極接觸孔、洩極接觸 孔、與儲存接觸孔同時形成者。藉此可免除一道形成接觸 孔!!手續以減少遮罩製程數。尚且,因該陽極11 4係與電 源電極11 2同時形成於該第一絕緣層丨丨〇上,該遮罩製程數 546986 五、發明說明(19) 因可進而降至六道。 第7A〜7G圖係第6圖所示該主動矩陣有機EL裝置之製程 斷面示意圖。
第7A圖中,一緩衝層1〇2形成於一基板100上。一多元 晶矽活性層1 〇4a透過一第一遮罩製程而形成於該緩衝層 102上表面。該基板1〇〇係可為玻璃基板、塑膠基板、或 可撓性基板之任一種。今為形成該多元晶矽活性層1 〇4a起 見,俟無定形矽沉積於緩衝層1 〇 2上表面後,利用熱處理 手段使之脫氫及結晶化,其中該結晶化程序於該第一遮軍 製程之前或之後實施皆無不可。又,該緩衝層1 〇2係以氧 化矽(SiOd或氮化矽(SiNx)等無機材料製得,主要用於進 行結晶化時防止該基板1 〇 〇受損。
第7B圖中,一閘絕緣層1〇7形成於該基板1〇〇之全表面 後,一閘極108與一儲存電極110係透過一第二遮罩製程形 成於該閘絕緣層107上表面,該閘絕緣層1〇7亦係以氧化石夕 或氮化矽等無機材料製成者。該閘極1 〇 8得具有一雙層結 構,其包括一下铭層或下铭合金層及一由銦(M〇)、鎳 (N1)、或鎢(W )構成之上防銹金屬層。該閘極1 〇 8之雙層結 構以链(A 1) /鈥(Nd ) /鉬(Mo)構成者為最佳選擇。一掃瞒線 (未示)含該閘極1 〇 8係形成於該閘絕緣層1 〇 7之上。再者, 在讜活性層1 〇 4 a被摻入離子後,其右侧部1 〇 4 b與第二側部 1 0 4c變成具有導電性。一包含該右側部丨〇4b與第二側部 l〇4c之半導體層1〇4將依掺入之離子種類被區分為11〜型或 p-型。若屬於p-型,則有機EL二極體之陽極與陰極之極性 546986 五、發明說明(20) 可被父換。又由於該閘絕緣層107仍存留在該基板1〇〇的整 個表面上’該問極1〇8和儲存電極丨1〇僅需經歷一次遮罩製 程即可完成。 弟7c圖中三俟一第一絕緣層110形成於該基板100之全 表面後/一覆蓋該儲存電極106之電源電極112及一陽極 114係透過一第三遮罩製程而形成於該第一絕緣層11 〇上表 面。違電源電極112與儲存電極1〇6間夾帶第一絕緣層丨1〇 而構成一蓄電電容器"CST·,。構成該第一絕緣層11〇的材質 可厂忒閘二巴緣層1 〇 7或緩衝層1 〇 2的材質相同,例如氧化矽 (S1 〇2)或氮化矽(s i nx )。然因該第一絕緣層丨丨〇係供該蓄電 電容『CST”之用,故採用介電常數高的材質是為上策。例 ^,氮化矽(S1 Nx)就可提供較高的電容量與較強的丨τ〇附 著力。,者,因為光線係自一有機EL層發射至該陽極U 4 後再傳迗出去,所以該陽極11 4宜利用如1 T0等透明導電金 屬材料製作。從而,該電源電極11 2亦以透明導電材料製 作為宜。縱然,傳統有機EL裝置之陽極與電源電極係以、 別遮罩製程形成,該陽極與電源電極依然可透過本發明一 遮罩製程而形成,仍可縮減遮罩製程數。 第7D圖中,一具有一陽極接觸孔123、源極與洩極 觸孔120a/120b、及儲存接觸孔122之第二絕緣層118係 過一第四遮罩製程而形成於該基板1〇〇上表面。該陽極 觸孔123、儲存接觸孔122、與源極與洩極接觸孔 120a/120b分別顯露該陽極114、電源電極112、及活性声 104a之右/左兩侧部。由於該陽極接觸孔123、儲存接觸\ 546986 五、發明說明(21) 1 2 2、與源極與洩極接觸孔1 2 0 a/ 1 2 0 b係透過同一遮罩製程 而同時形成,故可減少遮罩製程數。另外,濕式及乾式飯 刻法可用以提昇接觸特性。 第7E圖中,源極與洩極1 24/ 1 2 6係經歷一第五遮罩製 程而形成於該第二絕緣層118上表面。該源極124係透過源 極接觸孔120a(第7D圖)與源極區之歐姆接觸層l〇4b相接, 及透過該儲存接觸孔122 (第7D圖)與該電源電極112相接。 該洩極126則係透過洩極接觸孔120b(第7D圖)與源極區之 歐姆接觸層1 0 4 c相接,及透過該陽極接觸孔1 2 3與該陽極 114相接。一電源線(未示)包含該源極丨24,及一相當於該+ 電源線之額外電源線(未示)包含該電源電極11 2。該源極 124與洩極126係由鉬(Mo)、鎳(Ni)、鎢(W)之任一種或一 鋁鈦/鉬(AINd/Mo)雙層結構構成。結果,一具備半導體; 104、閘極108、源極124、與洩極126之薄膜電晶體 日 (TFT)"T"於焉完成。 ' 第7F圖中,一具有開口部1 3 〇之第三絕緣層丨28係透過 一第六遮罩製程而形成於該基板1〇〇之全表面上。該第三 絕緣層1 2 8主要用以保護該T F T ” T"並使之與下一步驟即將 產生的有機EL層隔離。又,該第三絕緣層128係以如氧化、 矽(si〇2)或氮化矽(SiNx)等材料製成者。該陽極114透過誃零, 開口部1 3 0外露。 ° 由上可知,本發明主動矩陣有機EL装置之遮罩製程 續已經簡化為六道。理由是該陽極114之形成先於該源極 124與洩極126 ’故該陽極114可透過與該儲存接觸孔
546986 五、發明說明(22) 122(第7D圖)、源極接觸孔12〇a、及洩極接觸孔12〇b(第7d 圖)同時形成之陽極接觸孔丨23而接於該洩極126。因此, 原本必要的洩極接觸孔56 (第3F圖)就可省略而簡化製程。 再者,因為該陽極1丨4與電源電極丨丨2係同時經由一個遮罩 製程所形成,遂得將遮罩製程減為六道。 第7G圖中,一經由該開口部130與陽極114銜接之有機 E L層1 3 2係形成於該第三絕緣層1 2 8之上。然後,該有機 EL層132之上表面形成一陰極134。該陰極134之材質為工 作函數低於4eV之不透明金屬如鹼金屬等,但以鎂銀合金 (Mg .Ag)、鋁鋰合金(A1 :Li)、及鋰氟鋁(LiF/A1)之雙層 結構為首選。茲因該有機讥層132之有機材質容易受到濕 氣影響,形成該有機EL層132後不適合再進行遮罩製程, 所以,形成該陰極1 3 4時不使用遮罩製程。 一結果,因為遮罩製程減少,製作時間與成本得以降低 而實現了一個可以改善產量的主動矩陣有機乩裝置。而一 且,在不增加遮罩製程數的條件下提供了 一個額外電源 線’可免因原電源線出岔而影響品質。 以上’對於熟悉本發明領域的人士而言,本發明的基 本理念當可運用於其他不同的方式,故本發明提示之實二 例僅供例證而非用以限制其實施範圍者,惟任何引伸之變 化仍應受申請專利範圍各申請項之節制。
rj ir
第26頁 546986 圖式簡單說明 為期相關人士能對本發明之結構、特徵、及效用等更 易於瞭解起見,以下茲舉實施例配合相關圖式詳細說明 之,其中: 第1圖係一傳統主動矩陣有機EL裝置之基本像素結構 等效電路圖; 第2圖係該傳統主動矩陣有機EL裝置之斷面示意圖; 第3A〜31圖皆為第2圖所示主動矩陣有機EL裝置之製程 斷面圖; 第4圖係本發明主動矩陣有機EL裝置一典型實施例之 斷面示意圖; 第5 A〜5H圖係第4圖所示該主動矩陣有機EL裝置之製程 斷面示意圖; 第6圖係本發明主動矩陣有機EL裝置另一典型實施例 之斷面示意圖;及 第7 A〜7G圖係第6圖所示該主動矩陣有機EL裝置之製程 斷面示意圖。 圖式編號說明 10 掃瞒線、基板 2 0信號線 3 0電源線 32半導體層 3 2 a活性層 32b 、32c歐姆接觸層
第27頁 546986 圖式簡單說明 3 4蓄電電極 3 6閘絕緣層 38 閘極 4 0 第一絕緣層 4 2 電源電極 44 第二絕緣層 4 6 a 源極接觸孔 46b 洩極接觸孔 48接觸孔 50 源極 5 2泡極 5 4 第三絕緣層 5 6 茂極接觸孔 58 陽極 6 0保護層 62 開口部 64 有機EL層 66 陰極 100基板 1 0 2緩衝層 104半導體層 1 0 4 a活性層 1 0 4 b 歐姆接觸層(右測部) 1 0 4 c歐姆接觸層(左測部)
546986 圖式簡單說明 1 0 6儲存電極 1 0 7 閘絕緣層 I 0 8 閘極 II 0 第一絕緣層 11 2 電源電極 11 4 陽極 11 8 第二絕緣層 1 2 0 a 源極接觸孔 120b 洩極接觸孔 1 2 2儲存接觸孔 1 2 3 陽極接觸孔 124 源極 1 2 6 洩極 127陽極接觸孔 1 2 8 第三絕緣層 1 3 0 開口部 132 有機EL層 134 陰極
第29頁
Claims (1)
- 546986 六、申請專利範圍 一種主動矩陣有機電致發光裝置,包括 一基板; 一形成於該基板上之半導體層與儲存電極; 一形成於該半導體層與儲存電極上之閘絕緣声, 緣層設有源極與Ά極接觸孔; 、巴 一形成於該閘絕緣層之上且位於該半導I#芦 極; h方之閑 一第一絕緣層係形成於該閘極之上且遮蓋該儲存⑧ 該第一絕緣層並如同該閘絕緣層般設有源極/洩極接觸 一形成於該第一絕緣層之上且位於該儲存電極 源電極; 41¾ 一形成於該第一絕緣層上之第一電極; 一形成於該第一電極上且具有一開口部、一 孔、與-儲存接觸孔之第二絕緣層,該第二絕 該閘絕緣層與第一絕緣層般設有源極/洩極接觸孔曰者/冋 彼此分隔形成於該第二絕緣層上之源極與$極,1中 源極係透過該源極接觸孔接於該半導體層及透過該儲〜 觸孔接於該電源電&,而該&極則係透過該&極接觸孔接 於該半導體層及透過該電極接觸孔接於該第一電極· -形成於該源極與茂極上之第三絕緣層,該第 係如同該第二絕緣層般設有開口部; 豕曰 一形成於該第三絕緣層上之有機電致發光層,該有機電 致發光層係透過該開口部與該第一電極接觸;及 第30頁 546986六、申請專利範圍一形成於該有機電致發光層上之第二電極。 2 ·如申請專利範圍第1項所述之裝置,其中該第一、第 二、與第三絕緣層係以無機絕緣材料製成。 3 ·如申請專利範圍第2項所述之裳置,其中該無機絕緣材 料係氧化砍(S i 〇2)及氮化矽(S 1 Nx)之任一種。 4。如申請專利範圍第1項所述之裝置,其中該半導體層與 儲存電極係同時形成者。 〃 5·如申請專利範圍第1項所述之裝置,其中該半導體層與 儲存電極係位於同一層級者。 、 6·如申請專利範圍第1項所述之裝置,其中該半導體層之 複數個側端部經以離子掺入。 曰 了·如申請專利範圍第i項所述之裝置,其中該第一電極 採透明導電材料製得者。 % '、 8. 如申請專利範圍第7項所述之裝置,其中該透明 料係銦錫氧化物(ITO)。 ” 9. 如申請專利範圍第i項所述之裝置,其中該第二電極係 以一種工作函數稍低於4eV之不透明導電材料製成。 、 10. 如申請專利範圍第9項所述之裝置,其中該不透明 材料係為驗金屬。 11 ·如申請專利範圍第9項所述之裝置,其中該不透明導電 材料係鎂/銀(Mg : Ag)合金或鋁/鋰(A1 :Li)合金或鋰敦 (L i F)與銘(A 1 )雙層結構之任一種。 12·如申請專利範圍第1項所述之裝置,其進而包括一沿第 一方向延伸之掃瞄線及一沿第二方向延伸之信號線與電源第31頁 546986 六、申請專利範圍 ^千其中"亥知目苗線包含該閘才泰,該信號線句人m 0 邊電源線包含與該信號線隔離之電源電二…源極,及 β如申凊專利範圍第1項所述之裝置,复由^ 光層具有一雷、、門、、士 冷、η Α 其中該有機電致發 電子輸;層…入層一電洞輪送層、-發射層、及- 其中該有機電致發 其中該半導體層係 1丄4·如申請專利範圍第1項所述之裝置 $層係透過一種真空蒸鑛法而形成者 Υ .如申請專利範圍第1項所述之裝置 採用多元晶矽製得。 1 6· —種主動矩陣有機電致發光裝置之 ΐ一基板上形成-半導體層與-儲存電;二方法’包括: 在該半導體層與儲存電極上形成—具有;, 接觸孔之閘絕緣層; ’原極接觸孔與洩極 ,該間絕緣層之上表面及該半 在該間極上形成—第一絕緣層,該::成:閘極; 儲存電極上方且如同該閘絕緣層 _ 1,遮蓋於該 接觸孔; 百'原極接觸孔與洩極 在該第一絕緣層之上形成一遮擋該儲存電極 在該第一絕緣層上形成一第一電極; 电源電極; 在該第一電極上形成一第二絕緣層,該 ,口部、-電極接觸孔、一儲存接觸孔,且如同;j:: 層與弟-絕緣層般設有源極接觸孔及茂極接觸孔Ί-、巴緣 在該第二絕緣層上形成彼此分隔之源極與浪極,龙 極係透過該源極接觸孔接於該半導體層&透過該儲存= 546986孔接於該電源電極,而該洩極則係透過該洩極接觸孔接於 該半導體層及透過該電極接觸孔接於該第一電極;在該源 極與洩極之上形成一第三絕緣層,該第三絕緣層如同該第 二絕緣層般設有開口部; ~ 在該第三絕緣層上形成一有機電致發光層,該有機電致發 光層係透過該開口部與該第一電極接觸;及, a x 在該有機電致發光層之上形成一第二電極。 17.如申請專利範圍第16項所述之方法,其中該電極接觸 孔、儲存接觸孔、源極與泡極接觸孔皆係同時形成者。 18·如申請專利範圍第16項所述之方法,其中該/半導 與該儲存電極係同時形成者。 立曰 1 9 ·如申請專利範圍第丨6項所述之方法,其中該第—、第 二、與第三絕緣層皆係採用無機絕緣材料製成者。 2〇·如申請專利範圍第16項所述之方法,其進而包括以 子摻入該半導體層之端部。 H·如申請專利範圍第16項所述之方法,其中該第一電極 係以透明導電材料形成者。 免ϋ 22·如申請專利範圍第21項所述之方法,其中該透明導 材料係採銦錫氧化物(ΙΤ0)。 23·如申請專利範圍第16項所述之方法,其中該第二♦ 係利用工作函數稍低於4eV之不透明導電材料形成^包才亟 24.^如申請專利範圍第丨6項所述之…方法,其進而包括有沿 一第一方向延伸之掃瞄線及沿一第二方向延伸之信 〜 電源線,其該掃瞄線包含該閘極,該信號線包含該^極了546986 六、申請專利範圍 及該電源線包含該電源電極及係與該信號線分隔。 2 5 ·如申請專利範圍第丨6項所述之方法,其中該有機電致 發光層具有一電洞注入層、一電洞輪送層、一發射声、 —電子輸送層。 其中該有機電致 0 其中該半導體層 2 6 ·如申請專利範圍第丨6項所述之方法^ 發光層係透過一種真空蒸鍍法而形成者 2 7 ·如申請專利範圍第丨6項所述之方法, 係以多元晶矽製成者。 ❶ 28· —種主動矩陣有機電致發光裝置,包括·· 一基板; 一形成於該基板上之半導體層; ; = 導體層上之閘絕緣層’"I絕緣層設有源極 : = = : =…,極與儲存電極’其中該閘極係 二第一絕緣層係形成於該閘極與儲存電極之上,且該第一 :ί : : =5亥閘絕緣層般設有源極/洩極接觸孔; •桎ΐ = 緣層上之電源電極與第-電極,且電源 私極係位於該儲存電極之上方; 包狂 形成於該電源電極與第一電極上 4嚷一 絕縫爲目女 0Β <乐一絕緣層,邊第一 ' 曰’、有 開口部一電極接觸;f| 、命 笫-绍給© *包位接觸孔、與一儲存接觸孔之 弟一、、、巴、·彖層,其亚如同該閘絕 極/洩極接觸孔者; /、弟、、、巴緣層般5又有源 彼此分隔形成於該第二絕緣層上之源極與茂極,其中該源第34頁 546986 六、申請專利I巳圍 極係透過該源極接觸孔接於該半導體層及透過該儲存接觸 孔接於該電源電極,而該洩極則係透過該洩極接觸孔接於 該半導體層及透過該電極接觸孔接於該第一電極; 一形成於該源極與洩極上之第三絕緣層,該第三絕緣層係 如同該第二絕緣層般設有開口部; 一形成於該第三絕緣層上之有機電致發光層,該有機電致 發光層係透過該開口部與該第一電極接觸;及 一形成於該有機電致發光層上之第二電極。 29. 如申請專利範圍第28項所述之裝置,其中該半導體層 係以多元晶矽為其材料。 丑曰 30. 如申請專利範圍第28項所述之裝置,其中該閘極與該 儲存電極係同時形成者。 31. 如&申請專利範圍第28項所述之裝置,其中該電源電極 及該第一電極係同時形成者。 3 2·如申請專利範圍第28項所述之裝置,其中該第一電極 係以透明導電材料製成者。 33·如申請專利範圍第28項所述之裝置,其係一底 型者。 34.如申請專利範圍第32項所述之装置,其中該透明導電 材料係銦錫氧化物(I τ 0)。 35·如申請專利範圍第28項所述之敦置,其中該第二電極 係以透明導電材料製成者。 3 6·如申請專利範圍第28項所述之裝置,其係一頂部 型者。 对546986 六、申請專利範圍 3 7 ·如申請專利範圍第2 8項所述之裝置,其中該閘絕緣声 係形成於該基板之全表面。 4马 3 8 ·如申請專利範圍第2 8項所述之裝置,其進而包括、、八 第一方向延伸之掃瞄線,及沿一第二方向延伸之信號 電源線’其中該掃瞄線包含該閘極,該信號線包含兮^ 極,及該電源線包含該電源電極且與該信號線分^二源 3 9, —種主動矩陣有機電致發光裝置之製造方法,""包 透過 弟一遮罩製程在一基板上形成一半導體声· 在該半導體層之上形成一閘絕緣層; 利用一第二遮罩製程在該閘絕緣層之上同時形成一 一儲存電極,其中該閘極係位於該半導體層上 二w — 子進入該半導體層; ’乡雜離 在該閘極與儲存電極之上形成一第一絕緣層; 製程在第一絕緣層之上同時形成-電源電 極〔、第一電極,其中該電源電極遮住該儲存電極; 在該電源電極與第一電極之上形成一第二絕緣層· 程同時在該第二絕緣層形成二電極接觸 υϊΐ 源極與茂極接觸孔,其中該電極接 ΐ極電極,該儲存接觸孔用以曝露該電源 ,、及忒源極與洩極接觸孔用以曝露該半導體声; ί ί: ί ΐ=罩ΐ程在該第二絕緣層之上形成心此分隔 導碱屌^ ΐ '、中該源極係透過該源極接觸孔接於該半 透』“ίί::儲存接觸孔接於該電源電極’而該㈣則 ",接觸孔接於該半導體層及透過該電極接觸孔接546986 六、申請專利範圍 於該第一電極; 在成源極與戍極之上形成—^第三絕緣層; 透過一第六遮罩製程在該第三絕緣層形成一用以曝露該第 一電極之開口部; 在邊第二絕緣層之上形成〆有機電致發光層,該有機電致 發光層係透過該開口部而與該第一電極接觸;及,在該有 機電致發光層之上形成一第二電極。 4 0 ·如申請專利範圍第3 9項所述之方法,其中該半導體詹 係以多元晶石夕製成。 41 ·如申請專利範圍第3 9項所述之方法,其中該源極接觸 孔與洩極接觸孔之形成係依序對該閘絕緣層、第一與第二 絕緣層進行钱刻而得者。 42·如申請專利範圍第39項所述之方法,其中該源極接觸 孔與洩極接觸孔之形成係同時對該第二絕緣層、第一絕緣 層、及該閘絕緣層進行钱刻而得者。 43·如申請專利範圍第39項所述之方法,其中該儲存與電 極接觸孔之形成係同時對該第二絕緣層進行蝕刻而得者。 44·如申請專利範圍第39項所述之方法,其進而包括形成 一包含該電源電極在内之額外電源線,及形成一包含該源 極在内相當於該額外電源線之電源線。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR10-2001-0044928A KR100390680B1 (ko) | 2001-07-25 | 2001-07-25 | 액티브 매트릭스형 유기전계발광 소자 및 그의 제조방법 |
KR1020010061982A KR100404989B1 (ko) | 2001-10-09 | 2001-10-09 | 액티브 매트릭스형 유기전계발광 소자 및 그의 제조방법 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
TW546986B true TW546986B (en) | 2003-08-11 |
Family
ID=26639262
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
TW091114409A TW546986B (en) | 2001-07-25 | 2002-06-28 | Active matrix organic electroluminescent device simplifying a fabricating process and a fabricating method thereof |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6771328B2 (zh) |
JP (1) | JP4236150B2 (zh) |
CN (1) | CN100364105C (zh) |
GB (1) | GB2381658B (zh) |
TW (1) | TW546986B (zh) |
Families Citing this family (42)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002343578A (ja) * | 2001-05-10 | 2002-11-29 | Nec Corp | 発光体、発光素子、および発光表示装置 |
JP4021194B2 (ja) * | 2001-12-28 | 2007-12-12 | シャープ株式会社 | 薄膜トランジスタ装置の製造方法 |
TW585009B (en) * | 2002-05-03 | 2004-04-21 | Ritdisplay Corp | Active-driving type organic electroluminescent device |
TW588299B (en) * | 2003-04-04 | 2004-05-21 | Au Optronics Corp | Active-matrix organic electroluminescence display device and fabricating method thereof |
CN100373630C (zh) * | 2003-04-11 | 2008-03-05 | 友达光电股份有限公司 | 主动矩阵式有机电致发光显示组件及其制造方法 |
CN100379014C (zh) * | 2003-07-28 | 2008-04-02 | 友达光电股份有限公司 | 主动式驱动有机电致发光显示器结构 |
KR100560782B1 (ko) * | 2003-08-25 | 2006-03-13 | 삼성에스디아이 주식회사 | 유기 전계 발광 표시 장치 |
KR100611153B1 (ko) * | 2003-11-27 | 2006-08-09 | 삼성에스디아이 주식회사 | 평판 표시 소자 |
KR100595456B1 (ko) * | 2003-12-29 | 2006-06-30 | 엘지.필립스 엘시디 주식회사 | 액정표시소자의 제조방법 |
JP4160597B2 (ja) * | 2004-01-07 | 2008-10-01 | 浜松ホトニクス株式会社 | 半導体発光素子及びその製造方法 |
CN100353560C (zh) * | 2004-02-12 | 2007-12-05 | 友达光电股份有限公司 | 有机发光显示面板 |
JP4116587B2 (ja) * | 2004-04-13 | 2008-07-09 | 浜松ホトニクス株式会社 | 半導体発光素子及びその製造方法 |
WO2005111972A1 (ja) * | 2004-05-13 | 2005-11-24 | Ulvac, Inc. | 表示装置、表示装置の製造方法 |
KR100669720B1 (ko) | 2004-08-06 | 2007-01-16 | 삼성에스디아이 주식회사 | 평판 디스플레이 장치 |
KR100689316B1 (ko) * | 2004-10-29 | 2007-03-08 | 엘지.필립스 엘시디 주식회사 | 유기전계발광다이오드소자 및 그 제조방법 |
KR20060061880A (ko) * | 2004-12-02 | 2006-06-08 | 엘지.필립스 엘시디 주식회사 | 유기전계발광표시장치 및 그 제조방법 |
KR101139523B1 (ko) | 2004-12-28 | 2012-05-02 | 엘지디스플레이 주식회사 | 유기 전계 발광 소자 키트 |
KR20060079040A (ko) * | 2004-12-31 | 2006-07-05 | 엘지.필립스 엘시디 주식회사 | 프린지 필드 스위칭 타입의 박막 트랜지스터 기판 및 그제조 방법 |
KR101107252B1 (ko) * | 2004-12-31 | 2012-01-19 | 엘지디스플레이 주식회사 | 일렉트로-루미네센스 표시 패널의 박막 트랜지스터 기판및 그 제조 방법 |
US7888702B2 (en) * | 2005-04-15 | 2011-02-15 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Display device and manufacturing method of the display device |
US20090072717A1 (en) * | 2005-04-21 | 2009-03-19 | The Regents Of The University Of California | Highly efficient polymer light-emitting diodes |
KR101097167B1 (ko) * | 2005-06-07 | 2011-12-22 | 엘지디스플레이 주식회사 | 유기전계발광표시소자 및 그 제조방법 |
KR100683791B1 (ko) * | 2005-07-30 | 2007-02-20 | 삼성에스디아이 주식회사 | 박막 트랜지스터 기판 및 이를 구비한 평판 디스플레이장치 |
TWI358964B (en) * | 2006-04-12 | 2012-02-21 | Au Optronics Corp | Electroluminescence display element and method for |
KR100805154B1 (ko) * | 2006-09-15 | 2008-02-21 | 삼성에스디아이 주식회사 | 유기 발광 표시 장치 및 그 제조 방법 |
KR101031713B1 (ko) * | 2006-12-22 | 2011-04-29 | 엘지디스플레이 주식회사 | 박막트랜지스터 기판과 이의 제조방법 |
DE102008020816B4 (de) * | 2008-02-29 | 2019-10-10 | Osram Oled Gmbh | Organische Leuchtdiode, flächiges, optisch aktives Element mit einer Kontaktanordnung und Verfahren zur Herstellung einer organischen Leuchtdiode |
KR20110039062A (ko) * | 2009-10-09 | 2011-04-15 | 삼성모바일디스플레이주식회사 | 유기 발광 표시 장치 |
KR101793047B1 (ko) * | 2010-08-03 | 2017-11-03 | 삼성디스플레이 주식회사 | 플렉서블 디스플레이 및 이의 제조 방법 |
KR101777246B1 (ko) * | 2010-08-30 | 2017-09-12 | 삼성디스플레이 주식회사 | 유기 발광 디스플레이 장치 및 그 제조 방법 |
KR20120032904A (ko) * | 2010-09-29 | 2012-04-06 | 삼성모바일디스플레이주식회사 | 유기 발광 표시 장치 및 그 제조 방법 |
KR101345047B1 (ko) * | 2011-03-30 | 2013-12-26 | 샤프 가부시키가이샤 | 액티브 매트릭스 기판, 표시 장치 및 액티브 매트릭스 기판의 제조 방법 |
KR102108572B1 (ko) * | 2011-09-26 | 2020-05-07 | 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 | 반도체 장치 및 반도체 장치의 제작 방법 |
KR101903671B1 (ko) * | 2011-10-07 | 2018-10-04 | 삼성디스플레이 주식회사 | 박막 트랜지스터 표시판 및 그 제조 방법 |
KR101846411B1 (ko) | 2011-11-03 | 2018-04-09 | 삼성디스플레이 주식회사 | 액정 표시 장치 |
US9099892B2 (en) * | 2012-03-28 | 2015-08-04 | Humless, Llc | Portable power systems |
KR101954984B1 (ko) * | 2012-09-25 | 2019-03-08 | 삼성디스플레이 주식회사 | 박막 트랜지스터 어레이 기판, 이를 포함하는 유기 발광 표시 장치 및 그 제조 방법 |
KR102236381B1 (ko) * | 2014-07-18 | 2021-04-06 | 삼성디스플레이 주식회사 | 유기 발광 표시 장치 및 유기 발광 표시 장치의 제조 방법 |
CN105590951B (zh) | 2014-11-10 | 2019-04-09 | 乐金显示有限公司 | 具有多模腔结构的有机发光二极管显示器 |
CN104393026A (zh) * | 2014-12-12 | 2015-03-04 | 京东方科技集团股份有限公司 | Oled显示基板及其制作方法、显示装置 |
TWI552322B (zh) * | 2015-08-06 | 2016-10-01 | 友達光電股份有限公司 | 畫素結構 |
KR102550322B1 (ko) * | 2016-03-22 | 2023-07-03 | 삼성디스플레이 주식회사 | 표시 장치 및 그 제조 방법 |
Family Cites Families (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3438178B2 (ja) * | 1993-10-06 | 2003-08-18 | 松下電器産業株式会社 | 薄膜トランジスタアレイとこれを用いた液晶表示装置 |
US5556706A (en) * | 1993-10-06 | 1996-09-17 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Conductive layered product and method of manufacturing the same |
US5714968A (en) * | 1994-08-09 | 1998-02-03 | Nec Corporation | Current-dependent light-emitting element drive circuit for use in active matrix display device |
JP2689916B2 (ja) * | 1994-08-09 | 1997-12-10 | 日本電気株式会社 | アクティブマトリクス型電流制御型発光素子の駆動回路 |
EP0717445B1 (en) * | 1994-12-14 | 2009-06-24 | Eastman Kodak Company | An electroluminescent device having an organic electroluminescent layer |
JP2000349297A (ja) * | 1999-03-10 | 2000-12-15 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 薄膜トランジスタ、パネル及びそれらの製造方法 |
JP3770368B2 (ja) * | 1999-06-14 | 2006-04-26 | セイコーエプソン株式会社 | 表示装置、回路基板、回路基板の製造方法 |
US6876145B1 (en) * | 1999-09-30 | 2005-04-05 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Organic electroluminescent display device |
TW511298B (en) * | 1999-12-15 | 2002-11-21 | Semiconductor Energy Lab | EL display device |
JP4748859B2 (ja) * | 2000-01-17 | 2011-08-17 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 発光装置の作製方法 |
TW521226B (en) * | 2000-03-27 | 2003-02-21 | Semiconductor Energy Lab | Electro-optical device |
JP4954380B2 (ja) * | 2000-03-27 | 2012-06-13 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 発光装置、半導体装置 |
JP2002014628A (ja) * | 2000-04-27 | 2002-01-18 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 半導体装置およびその作製方法 |
US6580475B2 (en) * | 2000-04-27 | 2003-06-17 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device and method of fabricating the same |
JP4021194B2 (ja) * | 2001-12-28 | 2007-12-12 | シャープ株式会社 | 薄膜トランジスタ装置の製造方法 |
-
2002
- 2002-06-26 US US10/179,386 patent/US6771328B2/en not_active Expired - Lifetime
- 2002-06-26 GB GB0214836A patent/GB2381658B/en not_active Expired - Lifetime
- 2002-06-27 JP JP2002188337A patent/JP4236150B2/ja not_active Expired - Lifetime
- 2002-06-28 TW TW091114409A patent/TW546986B/zh not_active IP Right Cessation
- 2002-06-28 CN CNB021405336A patent/CN100364105C/zh not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN1399504A (zh) | 2003-02-26 |
CN100364105C (zh) | 2008-01-23 |
JP4236150B2 (ja) | 2009-03-11 |
GB2381658B (en) | 2004-03-03 |
US6771328B2 (en) | 2004-08-03 |
GB2381658A (en) | 2003-05-07 |
JP2003076299A (ja) | 2003-03-14 |
GB0214836D0 (en) | 2002-08-07 |
US20040012028A1 (en) | 2004-01-22 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
TW546986B (en) | Active matrix organic electroluminescent device simplifying a fabricating process and a fabricating method thereof | |
KR101714026B1 (ko) | 유기 발광 디스플레이 장치 및 그 제조 방법 | |
CN104201186B (zh) | 平板显示器及其制造方法 | |
TWI590437B (zh) | 有機發光顯示裝置及其製造方法 | |
KR101912923B1 (ko) | 유기 발광 표시 장치 및 그 제조 방법 | |
US8822999B2 (en) | Organic light-emitting display device and method of manufacturing the same | |
US8405084B2 (en) | Organic light emitting diode display and method for manufacturing the same | |
CN1700828B (zh) | 有机电致发光显示器及其制造方法 | |
TWI578542B (zh) | 包含薄膜電晶體的基板、製造該基板之方法以及包含該基板的有機發光顯示裝置 | |
US8003417B2 (en) | Organic electroluminescent display device and method of manufacturing the same | |
US8008857B2 (en) | Organic light emitting display with reflective electrode | |
US7626330B2 (en) | Organic electroluminescence display device | |
CN103996690A (zh) | 显示器衬底及其制造方法 | |
TW201505159A (zh) | 有機發光顯示裝置及其製造方法 | |
KR20140020565A (ko) | 유기 발광 표시 장치 및 유기 발광 표시 장치의 제조방법 | |
KR101499233B1 (ko) | 유기 발광 표시 장치 | |
KR20130054014A (ko) | 유기 발광 표시 장치 및 그 제조 방법 | |
KR20140140415A (ko) | 표시 장치용 필름 및 이를 포함하는 유기 발광 표시 장치 및 그 제조 방법 | |
CN103681748B (zh) | 显示面板及其制造方法 | |
CN1979840A (zh) | 平板显示器及其制造方法 | |
GB2462504A (en) | Organic light emitting display and manufacturing method of the same | |
CN103383952A (zh) | 有机发光显示装置及其制造方法 | |
CN105280680A (zh) | 有机发光二极管显示装置及其制造方法 | |
US8916878B2 (en) | Thin film transistor and organic light-emitting display apparatus | |
KR20070060688A (ko) | 유기 발광 표시 장치 및 그 제조 방법 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
GD4A | Issue of patent certificate for granted invention patent | ||
MK4A | Expiration of patent term of an invention patent |