TW525288B - Semiconductor integrated circuit - Google Patents
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Description
525288 A7 --一―_____Β7__ 五、發明説明(1 ) 【發明所屬之技術領域】 本發明係有關一種半導體積體電路,該半導體積體電 路係因應由外部供給之外部指令以及於内部產生之内部指 令,而使内部電路進行動作者。尤其,本發明係有關一種 具揮發性記憶胞(Memory Cell)之半導體積體電路。 【習知技藝】 dram等半導體積體電路係用以將資料保持於形成於 记憶胞内之電容器。因寫入於記憶胞内之資料將逐漸消 失’故’需於預定之週期進行再次寫入該等資料之更新 (Refresh)動作。近來,不僅備用(Standby)期間,就連動作 期間亦於内部產生更新要求,為因應該要求而揭示有自動 地執行更新動作之DRAM。 第7圖係例示此種DRAM之動作。DRAM藉由接收用以 執行讀出動作RD或寫入動作WR之外部指令,而使内部電 路(記憶體陣列)進行動作。為防止内部電路之誤動作 (Malfunction),故由供給外部指令至内部電路之動作rd、 WR結束間,禁止接受内部指令(更新指令)(禁止期間 DRAM於除去禁止期間外之許可期間内產生内部指令並執 行更新動作(第7圖⑷)。即,DRAM於未執行記憶體陣列22 |之讀出動作RD及寫入動作WR之期間内,將自動地執行更 新動作。由該結果,裝❹RAM之系統不僅於dram為備 用時,就連動作期間内亦不需產生更新要求。 【本發明欲解決之課題】 然而,内部指令之禁止期間係於接收外部指令,且判 本紙張尺度適用中國國家標準(CTS) A4規格(21〇χ297公着^ --—- (請先閱讀背面之注意事項再填窝本頁) 、可| -4- 525288 A7 I----—-__ 五、發明説明(2 ) 定所接收之指令正確後才進行設定。因此,由外部指令之 接收至禁止内部指令之接收間,將產生數ns之錯位T1。於 此期間T1内產生更新指令時(第7圖(b)),外部指令與内部 指令將重疊且記憶體陣列22作出誤動作(重複動作)。由該 I 結果,保持於記憶胞之資料將遭受破壞。 前述問題並不限於非同步地於時鐘(C】〇 c k)進行動作 之 DRAM,於 SDRAM 等時鐘同步式(Cl0ck Synchr〇n〇us
Mode)之半導體積體電路中亦將產生。進而,前述問題並 I 不是僅於半導體記憶體中產生之現象。譬如cpu等邏輯 LSI(邏輯大型積體Logic Large Scale Integrati〇n),其係因 應來自外部之控制指令而使内部電路進行動作,但此内部 電路因應於内部產生之中斷(Interrupt)指令而進行動作 打,控制扣令與中斷指令競爭(c〇ntenti〇n)時CPU便作出誤 動作。 本發明之目的即在於防止由外部供給之外部指令與於 内部產生之内部指令重疊,並防止半導體積體電路之内部 電路作出誤動作。 尤其,本發明之目的係在於具有揮發性記憶胞之半導 體積體電路中,確實地執行更新動作。 【用以解決課題之手段】 本發明第丨態樣之半導體積體電路中,外部指令接收電 路,係用以與由外部供給之第丨時鐘信號中其中一方之遷移 邊緣(Margin)同步地接收由外部供給之外部指令信號者。 内部指令接收電路,係用以與第丨時鐘信號中另一方之遷移 - — - —- 本紙張尺度適用中國國家標準(〇^)人4規格(210父297公釐) ·" -------- 525288 五、發明説明(3 ) 邊緣同步地接收於内部產生之内部指令信號者。即,夢由 =令接收電路而進行之内部指令信號之接收動,係相 ^ 部指令接收電路㈣行之外部指令信號之接收 ’至少錯開第1時鐘信號之半週期而執行。因此,即使 =部指令信號非同步地產生於第m鐘信料,仍可防止因 -外部指令信號而進行之内部電路之動作與因應内部指令 …進行之内部電路之動作重疊。即,可防止内部電路 之疾動作。 控制電路於因應外部指令信號而開始動作後,不合立 即接收因應内部指令信號而產生之動作要求。因此,控制 電路之動作裕量(Margin)提高,且,控制電路可分別因應 以外部指令接收電路接收之外部指令信號及以内部指令接 =電路接收之内部&令仏號,而無誤地使内部電路進行動 本發明第2態樣之半導體積體電路中,外部指令接收電 路係與第1時紹5 ·5虎之上升邊緣同步地接收外部指令信 號,且内部指令接收電路,係與第】時鐘信號之下降邊㈣ 步地接收内部指令信號。一般而言,半導體積體電路係與 時鐘信號(第1時鐘信號)之上升邊緣同步讀取(fetch)外部 指,信號。因此,可用與習知相同之邏輯來設計外部指令 k號之接收電路,以提高設計效率。 本發明第3態樣之半導體積體電路中,内部指令接收電 路❹有-用以令第i時鐘信號之相位反轉,以生成第2時 鐘信號之相位反轉電路。與第2時鐘信號之上升邊緣同步地 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS) A4規格(21〇χ297公楚) -6 - 五、發明説明 接收内部指今f缺 便可將内部指:二只需形成簡單之相位反轉電路, 收時序㈤主“ 收時序相對於外部指令信號之接 s’鈿仏號之上升邊緣)錯開預定時間。 路,:二 # h β π Α &之苐1時鐘信號同步地接收由外部 二=部指令信號。時鐘生成電路,係用以將 與該第增鐘信號相位相異之第2時鐘信號。内部 生^/路係、用以與第2時鐘信號同步地接收於内部產 t礼令㈣。即,藉由外部指令接收電路而進行之 a令信號之接收動作與藉由内部指令接收電路而進行 =指令信號之接收動作,係錯開約第〗時鐘信號與第2 里域之相位差而執行。因此,可防止因應外部指令作
號而進行之内部電路之動作與因應内部指令信號而進行I 内部電路之動作重疊。 &制電路於因應外部指令信號而開始動作後,不會立 即接收因應内部指令信號而產生之動作要求。因此,控制 、動作裕里提N ’且,控制電路可分別因應以外部指 7接收電路接收之外部指令信號及以内部指令接收電路接 收之内部指令信號’而無誤地使内部電路進行動作。 本發明第5態樣之半導體積體電路中,時鐘生成電路係 具有一用以令第1時鐘信號之相位反轉,以生成第2時鐘信 號之相位反轉電路。因此,只需形成簡單之相位反轉電路, 收 便可錯開外部指令信號之接收時序與内部指令信號之接 時序。 525288 A7
525288 A7 —------ B7 五、發明説明(6 ) 定週期產生内部指令信號之計時器。,就算内部指令信 號非同步地產生於第i時鐘信號,仍可防止因應外部指令信 號而進行之内部電路之動作與因應内部指令信號而進行之 内部電路之動作重疊。 【圖示之簡單說明】 第1圖·係一區塊圖’用以例示本發明之半導體積體電 路之第1實施型態。 第2圖·係一時序圖,用以例示第1圖之fcram之動作。 第3圖·係一區塊圖,用以例示本發明之半導體積體電 路之第2實施型態。 第4圖·係一時序圖,用以例示第3圖之fcram之動作。 第5圖·係一區塊圖,用以例示本發明之半導體積體電 路之第3實施型態。 第6圖:係一時序圖,用以例示第5圖之FCram之動作。 第7圖:係一時序圖,用以例示習知之dram之動作。 【發明之實施型態】 以下,使用附圖說明本發明之實施型態。 第1圖係例示本發明之半導體積體電路之第1實施型 態。此實施型態與申請專利範圍第i乃至3項、第7乃至9項 對應。此半導體積體電路係於矽基板上使用CMOS製程, 作為時鐘同步式之FCRAM(快速循環隨機存取記憶體Fast Cycle RAM)而形成。FCRAM係一將内部動作分為3階段 (Stage),而自行結束各自之階段内之動作的記憶體。即, FCRAM不僅係對資料之輸入輸出,就連有關位址之讀取動 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS) A4规格(210X297公釐) (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 訂— -9- 525288 A7 五、發明説明(7 ) 作、記憶體磁芯之動作等,亦藉由進行管線處理(pipeHne Process)而縮短隨機存取時之週期時間(Cycle 丁^匀。由於 FCRAM具有揮發性之記憶胞(以電容器構成之⑽颜記憶 胞),因此必須進行再次寫入保持於記憶胞内之資料之更新 動作。此實施型態中,更新動作係因應kFCRAm内部自動 地產生之更新要求而執行。更新要求不僅於備用時,就連 執行讀出動作及寫入動作時亦將產生。因此,裝 之系統需進行更新之控制。 FCRAM係具有時鐘緩衝器1〇、指令緩衝器12、外部指 令接收電路14、更新計時器16、内部指令接收電路18、控 制電路20、及記憶體陣列(記憶體磁芯)22。 時鐘緩衝器ίο接收由外部供給之時鐘信號clk(第^夺 鐘信號並將業已接收之信號作為内部時鐘信號icu^ 輸出。指令緩衝器12接收由外部供給之指令信號cmd(外部 私令“號)’並因應業已接收之信號之組合而生成讀出指令 信號RDC或寫入指令信號WRC等。指令信號cmd係一用以 執行記憶體P車列22之讀出動作《寫入動作之控制信號。外 部指令接收電路14係與内部時鐘信號ICLK之上升邊緣同 步地閂鎖(Latch)讀出指令信號11〇(::或寫入指令信號 | WRC,並將業已問鎖之信號作為讀出脈衝撕或寫入^ WRP而輸出。一般而言,指令信號CMD係與時鐘信號clk 之上升邊緣同步地被讀取。因此,可用與習知相同之邏輯 來設計指令信號CMD之接收電路。 更新計時器! 6内藏有產生器(Generat〇r),而於預定之 本紙張尺度適用中國國家標準⑽)A4規格⑵〇χ297公复) ' ------
·;ί :-------------#…: (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) .訂丨 525288 A7 —-----一 _ B7 五、發明綱 -—- 週期產生更新要求信號REFRQ(内部指令信號)。内部指令 接收電路18係與内部時鐘信號1(^之下降邊緣同步地; 鎖更新要求信號REFRQ,並將業已閃鎖之信號作為更新脈 衝REFP而輸出。實際上,内部指令接收電路18具有-用以 將内部時鐘信號1(:1^尺之相位反轉之反相器i8a(相位反轉 電路),且,與由該反相器18a輸出之内部時鐘信號/clk(第 2時釦^號)之上升邊緣同步地閂鎖更新要求信號refrq。 控制電路20具有一用以判斷讀出脈衝RDp、寫入脈衝 WRP、及更新脈衝REFp中之先接收者之判斷電路2〇a。控 制電路20因應藉由判斷電路2〇a判斷為先接收之脈衝,而輸 出使記憶體陣列22進行動作之控制信號CNT。控制電路2〇 具有一用以保持藉由判斷電路20a而判斷為後接收之脈衝 之資訊的保持電路(未圖示)。控制電路2〇於因應先接收之 脈衝而使記憶體陣列22進行之動作結束後,才因應保持於 保持電路之資訊而使記憶體陣列22進行動作。讀出脈衝 RDP、寫入脈衝WRP、與更新脈衝REFP,係至少錯開約時 鐘信號CLK之半週期而生成。因此,判斷電路2如可輕易地 進行該等脈衝中之先接收者之判斷。換言之,藉由以錯開 半時鐘之時序而讀取指令信號CMD與更新要求信號 REFRQ,可擴大控制電路2〇之動作裕量。 記憶體陣列22具有未圖示之多數記憶胞、感測放大器 等。記憶體陣列22因應控制信號CNT,而執行讀出保持於 記憶胞内之資料之讀出動作、將資料寫入記憶胞之寫入動 作、或再次寫入保持於記憶胞内之資料之更新動作。即, 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS) Α4規格(210Χ297公釐) ;-------------#:… (請先閲讀背面之注意事項再填窝本頁) •、一^丨 -11 - 525288 A7 _________ B7 _ 五、發明説明(9 ) 記憶體陣列22係因應外部指令信號及内部指令信號而作為 内部電路進行動作。 第2圖係例示前述FCRAM之動作。 此例中,首先,第1圖所示之更新計時器16產生更新要 求信號REFRQ(第2圖(a))。内部指令接收電路18係與第1個 内部時鐘信號ICLK之下降邊緣同步地閂鎖更新要求信號 REFRQ,並生成更新脈衝REFP(第2圖(b))。因生成更新脈 衝REFP,故重設(Reset)更新要求信號REFRq(第2圖⑷)。 生成更新脈衝REFP時,記憶體陣列22並不進行動作。 因此’第1圖所示之判斷電路20a將更新脈衝REFP判定為先 接收者。控制電路20便控制記憶體陣列22,而開始記憶胞 之更新動作REF(第2圖(d))。 配合第2個時鐘信號CLK而將指令信號CMD供給於 SDRAM。指令緩衝器12將指令信號CMD解碼,並將讀出指 令RD作為内部指令信號ICMD而輸出(第2圖(e))。第1指令 接收電路14係與内部時鐘信號ICLK之上升邊緣同步地閂 鎖讀出指令RD,並作為讀出脈衝RDP而輸出(第2圖(f))。此 時’因執行更新動作REF,故判斷電路20a將讀出脈衝RDP 判定為後接收者。讀出脈衝RDP至更新動作rEF結束間, 均保持於保持電路。控制電路20於更新動作REF結束後才 執行讀出動作RD(第2圖(g))。 配合第4個時鐘信號CLK而將指令信號cMd供給於 SDRAM。指令緩衝器12將指令信號CMD解碼,並將寫入指 令WR作為内部指令信號ICMD而輸出(第2圖。第工指令 Μ規格⑵⑽7公釐)---—— (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) .、§·. -12- 525288 A7 B7 五、發明説明(10 ) (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 接收電路14係與内部時鐘信號ICLK之上升邊緣同步地閃 鎖寫入指令WR,並作為寫入脈衝WRp而輸出(第2圖(i))。 生成寫入脈衝WRP時,記憶體陣列22並不進行動作。因 此,判斷電路20a將寫入脈衝WRP判定為先接收者。控制電 路20便控制^己憶體陣列22,而開始寫入動作WR(第2圖⑴)。 .、訂— 之後,更新计時器16產成更新要求信號REFRq(第2圖 (k))内邛^曰令接收電路1 8係與第4個内部時鐘信號icLK 之下降邊緣同步地閂鎖更新要求信號REFRQ,並生成更新 脈衝REFP(第2圖(1))。此時,因執行寫入動作wr,故判斷 電路20a將更新脈衝REFP判定為後接收者。更新脈衝REFp 至寫入動作WR結束間,均保持於保持電路。控制電路2〇 於寫入動作WR結束後才執行更新動作REF(第2圖(111))。 更新計時器16再次產生更新要求信號REFRQ,並生成 更新要求^ ^REFRQ(第2圖(η))。生成更新脈衝REFp時, 記憶體陣列22並不進行動作。因此,控制電路2〇將更新脈 衝REFP判疋為先接收者,並執行記憶胞之更新動作ref(第 2 圖(〇)) 〇 配合第9個時鐘信號CLK而供給讀出指令尺〇,並生成 項出脈衝RDP(第2圖(p))。生成讀出脈衝RDp時,記憶體陣 列22並不進行動作。因此,控制電路2〇將讀出脈衝判 定為先接收者,並執行讀出動作RD(第2圖(q))。 如此,可無誤地執行因應外部指令信號而進行之内部 動作(讀出動作RW及寫入動作WR),與因應内部指令信號 而產生之内部動作(更新動作ref)。
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以上,本實施型態中,藉由内部指令接收電路1 8而進 订之更新要求信號REFRQ之接收動作,係相對於藉由外部 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 才曰令接收電路14而進行之指令信號CMD之接收動作,錯開 時鐘信號CLK之半週期而執行。因此,可防止因應指令信 唬CMD而進行之記憶體陣列22之動作與因應更新要求信 唬REFRQ而進行之記憶體陣列22之動作重疊,並可防止誤 動作。
控制電路20於因應指令信號CMD而開始讀出動作RD 或寫入動作WR後,不會立即接收更新脈衝REFp。故可提 同控制電路20之動作裕量。因而可無誤地使記憶體陣列22 進行動作。 .訂· 與習知相同,外部指令接收電路14係與時鐘信號 CLK(内部時鐘信號ICLK)之上升邊緣同步地接收指令信號 貝出指令信號RDC、寫入指令信號WRC)。因此,可 用與驾知相同的邏輯來設計指令信號CMD之接收電路,而 提局設計效率。 於内°卩指令接收電路1 8内形成一用以將内部時鐘信號 ICLK之相位反轉,並生成内部時鐘信號/ICLK之反相器 1 8a(相位反轉電路)。因此,可以簡單之電路,便將指令信 唬CMD之接收時序與更新要求信號refrq之接收時序至 夕錯開半時鐘。即,更新要求信號REFRQ之接收時序相對 於扎令k虓CMD之接收時序(時鐘信號cLK之上升邊緣), 可錯開預定時間。 因^令信號CMD之接收時序與更新要求信號rEFrq
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發明説明 之接收時序必然會錯開預定時間,故,藉由簡單之判斷電 路20a便可判定指令信號CMD及更新要求信中之 * (請先閲讀背面之注意事項再填窝本頁) 先接收者。因此,控制電路20可無誤地使記憶體陣列22確 實地進行動作。 訂丨 將本發明應用於一具有DRAM之記憶胞’且於内部將 自動地產生更新要求之FCRAM。因由外部供給之指令信號 CMD之接收時序與於内部產生之更新要求信號refrq之 接收時序錯開,故控制電路20於因應指令信號cME>而開始 讀出動作RD或寫入動作WR後,不會立即接收更新要求信 號REFRQ(更新脈衝rEFP)。因此,讀出動作rd、寫入動作 WR及更新動作不會因控制電路2〇之誤動作而同時執行,可 防止記憶胞之資料遭受破壞。 即使更新要求信號REFRQ非同步地產生於時鐘信穿 CLK時,亦可防止讀出動作RD、寫入動作WR與更新動作 重疊。 第3圖係例示本發明之半導體積體電路之第2實施型 態。此實施型態與申請專利範圍第4、5、7乃至9項對應。 有關與第1實施型態說明之電路、信號相同之電路、信號, 則賦予同樣的元件標號並省略有關該等電路、信號之詳細 說明。與第1實施型態相同地,半導體積體電路係於石夕基板 上使用CMOS製程,作為時鐘同步式之FCRam(快速循環隨 機存取記憶體Fast Cycle RAM)而形成。 取代第1實施型態之時鐘緩衝器1〇及内部指令接收電 路18,FCRAM具有時鐘緩衝器24(時鐘生成電路)、内部指 -15- 525288 A7 ------------B7_'_ 五、發明説明(13^ " '— ...................#…: ··- (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 々接收電路26。時鐘緩衝器24接收由外部供給之時鐘信號 CLK(第1時知號),並將業已接收之信號作為内部時鐘信 號ICLK(第1時鐘信號)及内部時鐘信號/ICLK(第2時鐘信號) 而輸出内邛時|里仏號/JCLK係一透過反相器24a(相位反轉 電路)而將内部時鐘信號ICLK之相位反轉之信號。内部指 令接收電路26係與内部時鐘信號/ICLK之上升邊緣同步地 接收更新要求信號㈣RQ,並將業已接收之信號作為更新 脈衝REFP而輸出。#他構造則與前述第以施型態相同。 第4圖係例示前述fCram之動作。此實施型態中,内 部指令接收電路26係與内部時鐘信號/ICLK之上升邊緣同 步地閂鎖更新要求信號REFRQ,並生成更新脈衝REFp(第4 圖(b)、(1)、(n))。因基本動作與第2圖相同,故省略詳細之 說明。附於第4圖之波形之,係分別對應於第2圖之 ⑷〜(q)〇 於此實施型態亦可得與前述第1實施型態相同之效 果。進而’此實施型態中,將藉由外部指令接收電路14而 進行之指令信號CMD之接收動作與藉由内部指令接收電 路26而進行之更新要求信號尺即尺卩之接收動作,錯開約内 部時鐘信號ICLK與内部時鐘信號/IClk之相位差而執行。 因此,可防止因應指令信號CMD而產生之記憶體陣列22之 動作與因應更新要求信號REFRQ而產生之記憶體陣列22 之動作重疊,並可防止誤動作。 於時鐘緩衝器24形成一用以將内部時鐘信號ICLk之 相位反轉,並生成内部時鐘信號/ICLK之反相器24a(相位反 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS) Α4規格(210X297公釐) -16- 525288 五、發明説明(Η ) 轉電路)。因此’以簡單之電路便可錯開指令信號cmd之接 收時序與更新要求信號REFRQ之接收時序。 請係例示本發明之半導體積體電路之第3實施型 態。此實施型態與申請專利範圍第4、6乃至9項對應。有關 與第1及第2實施型態說明之電路、信號相同之電路、信號, 則賦予同樣的元件標號並省略有關該等電路、信號之詳細 說明。與第1實施型態相同地,半導體積體電路係於矽基板 上使用CMOS製程,作為時鐘同步式之FCRAM(快速循環隨 機存取記憶體Fast Cycle RAM)而形成。 FCRAM具有一用以令内部時鐘信號ICLK(第1時鐘信 號)延遲預定時間,並生成延遲時鐘信號〇1(:^&(第2時鐘信 號)之延遲電路28(時鐘生成電路)。内部指令接收電路%係 與延遲時鐘信號DICLK之上升邊緣同步地接收更新要求信 號REFRQ,並將業已接收之信號作為更新脈衝REFp而輸 出。其他構造則與前述第1實施型態相同。 第6圖係例示前述FCRAM之動作。此實施型態中,内 部指令接收電路26係與延遲時鐘信號DICLK之上升邊緣同 步地閂鎖更新要求信號REFRQ,並生成更新脈衝REFp(第6 圖(b)、(1)、(η))。因基本動作與第2圖相同,故省略詳細之 說明。附於第6圖之波形之(a)〜(q),係分別對應於第2圖之 (a)〜(q) 〇 於此實施型態亦可得與前述第1及第2實施型態相同之 效果。進而,此實施型態中,只需形成簡單之延遲電路28(時 鐘生成電路),便錯開指令信號CMD之接收時序與更新要求 本紙張尺度適财關家鮮(CNS) A4規格⑽χ297公爱) -17- 525288 A7 B7 五、發明説明 15 信號REFRQ之接收時序。 此外’刖述之實施型態係以將本發明應用於FCraM為 例而作說明。本發明並不限於此種實施型態。譬如,亦可 將本發明應用於SDRAM。或,應用於微電腦等邏輯LSI。 以上’雖詳細說明有關本發明,但前述實施型態及其 變形僅是發明之一例,本發明並不限於此。理所當然,於 不脫離本發明之範圍内可作變形。【發明之效果】 本發明第1悲樣之半導體積體電路,因内部指令信號之 接收時序係相對於外部指令信號之接收時序,至少錯開第i 時鐘信號之半週期,故可防止因應外部指令信號而產生之 内部電路之動作與因應内部指令信號而產生之内部電路之 動作重疊。由於可提高控制電路之動作裕量,故控制電路 可無誤地使内部電路進行動作。 本發明第2態樣之半導體積體電路,因可用與習知相 之邏輯來設計外部指令信號之接收電路,故可提高設計 率。 本發明第3態樣之半導體積體電路,只需形成簡單之 位反轉電路,便可將㈣指令信號之接㈣序相對於外; 指令信號之接收時序(第i時鐘信號之上升邊緣)錯開預 時間。 本發明第4態樣之半導體積體電路,因外部指令信號 接收時序與内部指令信號之接收時序必然會錯開,故; 止因應外部指令信號而產生之内部電路之動作與因應内 同 效 相 定 之 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) .訂丨 本紙張尺度翻中關家標準(CNS) A4規格(21GX297公釐、 -18 - 525288 A7 B7 五、發明説明 指令信號而產生之内部電路之動作重疊。由於可提高控制 電路之動作裕量,故控制電路可無誤地使内部電路進行動 作。 本發明第5態樣之半導體積體電路,只需形成簡單之相 位反轉電路,便可錯開外部指令信號之接收時序與内部指 令信號之接收時序。 本發明第6態樣之半導體積體電路,只需形成簡單之延 遲電路’便可錯開外部指令信號之接收時序與内部指令信 號之接收時序。 本發明第7態樣之半導體積體電路,藉由判斷電路便可 輕易地進行外部指令信號與内部指令信號中之先接收者之 判斷。因此’控制電路可不無誤地使内部電路確實地進行 動作。 本發明第8態樣之半導體積體電路,可防止讀出動作、 寫入動作及更新動作因控制電路之務動作而同時執行,並 可防止記憶胞之資料遭受破壞。 之 ...... (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) .、?Γ· 本發明第9態樣之半導體積體電路,即使内部指令信號 非同步地產生於第1時鐘信號時,仍可防止因應外部指令信 號而產生之内部電路之動作與因應内部指令信號而產生 内部電路之動作重疊。 【元件標號對照表】 10…時鐘緩衝器 16…更新計時器 12··.指令緩衝器 18···内部指令接收電路 14…外部指令接收電路 1 8 a…反相器 -19- 525288 A7 B7 五、發明説明(l7 ) (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁)
20…控制電路 20a…判斷電路 22…記憶體陣歹丨J 24.. .時鐘緩衝器 2 4 a…反相為 26.. .延遲電路 CLK···時鐘信號(第1時鐘信 號) CMD···指令信號(外部指令 信號) CNT…控制信號 DICLK·.·延遲時鐘信號(第2 時鐘信號) ICLK...内部時鐘信號 /ICLK.··内部時鐘信號(第2 時鐘信號) RDC...讀出指令信號 RDP...讀出脈衝 REFRQ…更新要求信號(内 部指令信號) REFP...更新脈衝 WRC...寫入指令信號 WRP...寫入脈衝 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS) A4規格(210X297公釐) -20-
Claims (1)
- 六、申請專利範園 1. 一種半導體積體電路,係具有: 外部指令接收電路,係用 信號中1中一士 ^ 丨仏、、、口之苐1時鐘 部指令«者遷移邊緣同步地接收由外部供給之外 方=t接收電路’係用以與前述第1時鐘信號中另 者=遷移邊_步地接收於㈣產生之㈣指令信號 ㈣職應以前述外部指 ==外部指令信號及以前述内部指令接收電路 接收之則相部指令信號,而使内部電路進行動作者 2. =專利範圍第i項之半導體積體電路,其中該外部 :電路,係與前述第1時鐘«之上升邊緣同步 地接收前述外部指令信號, 前述内部指令接收電路,係與前述第1時鐘信號之下 降邊緣同步地接收前述内部指令信號。 3. 如申請專利範圍第2項之半導體積體電路,其中該 指令接收電路係具有一用以令前述第!時鐘信號之㈣ 反轉以生成前述第2時鐘信號之相位反轉電路, 且’與前述第2時鐘信號之上升邊緣同步地接收 内部指令信號。 4· 一種半導體積體電路,係具有: ▲外部指令接收電路,係用以與由外部供給之第】時鐘 信號同步地接收由外部供給之外部指令信號者; 時鐘生成電路,係用以將前述第j時鐘信號變換為與 525288 、申請專利範園 ,亥第1時相位相異之第2時鐘信號者; :部指令接收電路,係用以與前述第2時鐘信號同步 收於内部產生之前述内部指令信號者; 控制電路,係用以分別因應以前述外部指令接收電 路接收之前料部指令㈣及以前述”指令接收電路 接收之前述内部指令信號,而使内部電路進行動作者。 5·如申請專利範圍第4項之半導體積體電路,其中該時鐘 生成電=係具有—用以令前述第1時鐘信號之相位反轉 以生成别述第2時鐘信號之相位反轉電路。 6.如申請專利範圍第4項之半導體積體電路,其中該時鐘 生成電路係具有—用以令前述第1時鐘信號延遲而生成 前述第2時鐘信號之延遲電路。 7·如申請專利範圍第U4項之半導體積體電路,其中該控 制電路係具有-判斷電路,該判斷電路係用以由以前述 外部指令接收電路接收之前述外部指令信號,及以前述 内部指令接收電路接收之前述内部指令信號中,因應先 月J業已接收之^曰令#號而使前述内部電路進行動作者。 8.如申請專利範圍第!或4項之半導體積體電路,其中該内 部電路係設有一具有揮發性記憶胞之記憶體陣列, 則述外部指令信號,係一用以執行前述記憶胞之讀 出動作及寫入動作中任一者之控制信號者, 别述内部指令信號,係一用以再次寫入保持於前述 記憶胞中之資料之更新要求信號者。 9·如申請專利範圍第〗或4項之半導體積體電路,其係具有 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS) A4規格(210X297公釐)•訂| (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) -22- 525288 A8 B8 C8 D8 申請專利範圍 一用以於預定之週期產生前述内部指令信號之計時器 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS) A4規格(210X297公釐) -23-
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001107300A JP2002304885A (ja) | 2001-04-05 | 2001-04-05 | 半導体集積回路 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
TW525288B true TW525288B (en) | 2003-03-21 |
Family
ID=18959638
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
TW091100034A TW525288B (en) | 2001-04-05 | 2002-01-03 | Semiconductor integrated circuit |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6567339B2 (zh) |
JP (1) | JP2002304885A (zh) |
KR (1) | KR20030009080A (zh) |
TW (1) | TW525288B (zh) |
Families Citing this family (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2003297080A (ja) * | 2002-03-29 | 2003-10-17 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体記憶装置 |
JP4078119B2 (ja) * | 2002-04-15 | 2008-04-23 | 富士通株式会社 | 半導体メモリ |
DE10315528B4 (de) * | 2003-04-04 | 2009-01-15 | Qimonda Ag | Datenspeicherschaltung |
JP4326294B2 (ja) | 2003-09-16 | 2009-09-02 | 株式会社ルネサステクノロジ | 半導体記憶装置 |
KR100607169B1 (ko) | 2003-12-08 | 2006-08-01 | 삼성전자주식회사 | 반도체 메모리 장치 및 이 장치의 데이터 리드 방법 |
KR100614200B1 (ko) * | 2004-11-03 | 2006-08-21 | 삼성전자주식회사 | 리얼 억세스 타임 측정을 위한 의사 스태틱 램의 셀프리프레쉬 회로 및 이를 위한 셀프 리프레쉬 회로의 동작방법 |
JP4516483B2 (ja) * | 2005-06-07 | 2010-08-04 | 富士通セミコンダクター株式会社 | 半導体記憶装置及び情報処理システム |
US7313047B2 (en) * | 2006-02-23 | 2007-12-25 | Hynix Semiconductor Inc. | Dynamic semiconductor memory with improved refresh mechanism |
US7533222B2 (en) * | 2006-06-29 | 2009-05-12 | Mosys, Inc. | Dual-port SRAM memory using single-port memory cell |
KR100945802B1 (ko) * | 2008-06-24 | 2010-03-08 | 주식회사 하이닉스반도체 | 클럭을 생성하는 반도체 집적 회로 |
KR101816529B1 (ko) | 2011-01-19 | 2018-01-09 | 삼성전자주식회사 | 메모리 장치 및 이를 포함하는 시스템 |
JP5998814B2 (ja) * | 2012-10-03 | 2016-09-28 | 株式会社ソシオネクスト | 半導体記憶装置 |
KR20170013101A (ko) | 2015-07-27 | 2017-02-06 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 입출력라인구동회로를 포함하는 반도체장치 및 반도체시스템 |
DE102017106713A1 (de) * | 2016-04-20 | 2017-10-26 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Rechensystem, nichtflüchtiges Speichermodul und Verfahren zum Betreiben einer Speichervorrichtung |
JP6734962B1 (ja) * | 2019-04-17 | 2020-08-05 | ウィンボンド エレクトロニクス コーポレーション | 半導体装置 |
Family Cites Families (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3592386B2 (ja) * | 1994-11-22 | 2004-11-24 | 株式会社ルネサステクノロジ | 同期型半導体記憶装置 |
-
2001
- 2001-04-05 JP JP2001107300A patent/JP2002304885A/ja active Pending
-
2002
- 2002-01-03 TW TW091100034A patent/TW525288B/zh not_active IP Right Cessation
- 2002-01-07 US US10/036,392 patent/US6567339B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2002-03-11 KR KR1020020012923A patent/KR20030009080A/ko not_active Application Discontinuation
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20020145930A1 (en) | 2002-10-10 |
JP2002304885A (ja) | 2002-10-18 |
US6567339B2 (en) | 2003-05-20 |
KR20030009080A (ko) | 2003-01-29 |
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MM4A | Annulment or lapse of patent due to non-payment of fees |