TW476930B - Optical information recording method and apparatus, and recorded medium where optical information recording control program is recorded - Google Patents

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Akira Negishi
Ryuichi Sunagawa
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Taiyo Yuden Kk
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Description

476930 1 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 A7 B7 五、發明說明（丨） 〔技術領域〕 本發明係關於光資訊記錄方法及光資訊記錄裝置、以 及記錄著光資訊記錄控制程式之d錄媒體 〔背景技術〕 從前，在光資訊記錄媒體、例如可寫入一次型光碟 (CD-R)等光碟上記錄大容量資訊所採用的技術，近幾年來 用2〜6倍或更快的記錄速度來記錄資訊的技術已普及起來 〇 要把資訊記錄在光碟上時，是根據數位信號(把記錄對 象的資訊數位化），對正在轉動的光碟照射來自光拾訊器之 脈衝狀的雷射光，以形成凹坑(Pit) ° 當採用數位信號（把記錄對象的資訊數位化）在光碟上 形成凹坑時，例如，在數位信號的高位準期間’將照射在 光碟上的雷射光強度控制爲高強度，利用雷射光能量使記 錄層的狀態改變，以形成凹坑。另外，在低位準期間，係 照射爲了進行循跡所需之低光強度的雷射光。 另外，光碟有時會因光碟的彎曲和變形而在光碟上的 資訊記錄面產生傾斜。這種資訊記錄面的傾斜，幾乎不是 一定，而是從光碟的內周向外周逐漸變大。在此，相對於 與光碟的轉軸呈正交的平面，資訊記錄面的傾斜角度0 — 般稱爲傾斜(tilt)角度。 當資訊記錄面不產生傾斜時，光拾訊器係對資訊記錄 面大致垂直地照射雷射光，以形成凹坑。 可是，當雷射光的射出方向一定時，若在資訊記錄面 4 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS)A4規格（210 X 297公釐）""" 寒 一 ---------------------^-------— ·線—. (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 476930 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 A7 B7 五、發明說明（》） 產生傾斜，因雷射光點扭曲，資訊記錄面之單位面積的照 射光量將減少’故凹坑的尺寸變小，再生資訊時的顫動 (jitter)會惡化。 因此採用了傾斜伺服控制，該控制係檢測出光碟資訊 記錄面的傾斜（傾斜角度），根據傾斜角度來傾斜光拾訊器 ，以使雷射光的射出方向垂直於光碟的資訊記錄面。 而且，除了上述的傾斜伺服控制外，進一步藉由進行 雷射光點的聚焦控制、使雷射光點追隨凹槽之循跡控制等 的伺服控制，以形成最適的凹坑。 但是，根據傾斜角度6»來傾斜光拾訊器的機構，很複 雑且裝置成本很局。 另外，就不採用傾斜修正機構而將記錄校正(校正値/3 )的方法而言，可考慮如「光碟記錄再生裝置的功率校正方 法」（特開平8 - 147701號)所揭示般，在外周亦進行記錄 雷射光強度最適化(OPC : Optimum Power Control，以下簡 稱OPC)，但這種情形OPC極耗時間。 又上述万代表不對稱値，是用以下的（A)或（B)式來表 示。 /3 =(Α1 + Α2)/(Α1 - Α2)···(Α) /3=[(I14H+I14L)—(I3H+I3L)]/[2(I14H—I14L)]…(Β) 式中，A1代表CD — R的長度爲11T的脈衝的最高位 準値，A2代表長度爲11T的最低位準値。 另外，I14H代表DVD — R的長度爲14T的脈衝的最 高位準値，I14L代表長度爲MT的脈衝的最低位準値， 5 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS)A4規格（210 X 297公釐） ------------魏--------訂---------線—麝 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 476930 A7 B7 五、發明說明（今） I3H代表長度爲3T的脈衝的最高位準値，I3L代表長度爲 3T的脈衝的最低位準値。 〔發明之揭示〕 本發明的目的是提供出，即使在光資訊記錄媒體的資 訊記錄面產生傾斜等，也能以雷射光射出方向維持一定的 方式來進行資訊記錄之光資訊記錄方法及光資訊記錄裝置 〇 另外，本發明的目的是提供出，即使在光資訊記錄媒-體的資訊記錄面產生傾斜等，也能以雷射光射出方向維持 一定的方式進行資訊記錄之記錄著光資訊記錄控制程式之 記錄媒體。 本發明之光資訊記錄方法，係根據由表示凹坑形成期 間的第1位準和表示凹坑不形成期間的第2位準所構成的 數位信號，在光資訊記錄媒體上照射既定直徑的雷射光點 ，以在該光資訊記錄媒體上形成長度對應於前述凹坑形成 期間的凹坑，其特徵在於： 在記錄實際的資訊前，依序變化照射在光資訊記錄媒 體上的雷射光之記錄功率，以在該光資訊記錄媒體上進行 記錄，並檢測出各記錄功率的不對稱値，以求出不對稱値 和記錄功率的第1關係； 其次，將記錄功率固定爲既定記錄功率，依序變化雷 射光相對光資訊記錄媒體的空間位置關係，以在該光資訊 記錄媒體上進行記錄，並檢測出各空間位置關係的不對稱 値及不同長度凹坑的反射光量比，以求出不對稱値和反射 6 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS)A4規格（210 X 297公釐） ----------11-----— II ^'1 — — — — — — I (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 476930 A7 B7 五、發明說明（‘） 光量比的第2關係； 而且，根據第1關係和第2關係，求出記錄功率和反 射光量比的第3關係，並求出對應於最適記錄功率的最適 反射光量比； 當記錄實際的資訊時，藉由檢測出反射光量比，根據 第3關係來求出對應於該檢測出的反射光量比之記錄功率 ，修正該記錄功率，以使該檢測出的反射光量比和最適反 射光量比的差份爲零。 在此，所謂記錄實際資訊前所進行的記錄，是指OPC 的試寫，在本發明中，將這種試寫分爲二次進行，在第1 次試寫中，利用依序變化雷射光的記錄功率來進行試寫， 以求出不對稱値和記錄功率'的第1關係，在第2次試寫中 ，利用依序變化雷射光相對光資訊記錄媒體的空間位置關 係來進行試寫，以求出不對稱値和反射光量比的第2關係 ，根據第1次試寫中所求的第1關係和第2次試寫中所求 的第2關係，求出記錄功率和反射光量比的第3關係，當 進行實際的記錄時，根據反射光量比來進行記錄功率的修 正，以對光資訊記錄媒體的資訊記錄面所產生的傾斜等進 行最適當的修正。 在此，爲了依序變化記錄功率，係藉由控制雷射控制 部，用既定的步驟改變雷射功率來實現，又爲依序變化空 間的位置關係，係藉由以既定步驟來改變光拾訊器的聚焦 、傾斜、循跡中之至少一種伺服系統的偏置來進行。 另外，反射光量比，例如，是作爲來自比雷射光點的 7 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS)A4規格（210 X 297公釐） (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) ;% --線· 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 476930 A7 B7 五、發明說明（y) 點徑小的凹坑之全反射量對來自比該點徑大很多的凹坑之 全反射光量的比來檢測出，該反射光量比係包括光資訊記 錄媒體的資訊記錄面所產生的傾斜等的資訊，藉由使用該 反射光量比，即使在光資訊記錄媒體的資訊記錄面產生傾 斜等，僅靠控制記錄功率就能進行最適的修正。 另外，所謂不對稱値是指前述的式(A)或(B)所算出的 値。 另外’本發明之光資訊記錄方法’係根據由表不凹坑 形成期間的第1位準和表示凹坑不形成期間的第2位準所 構成之數位信號，在光資訊記錄媒體上照射既定直徑的雷 射光點，以在該光資訊記錄媒體上形成長度對應於凹坑形 成期間的凹坑，其特徵在於： 在記錄實際的資訊前，當進行記錄雷射光強度最適化 處理時，依序變化照射在光資訊記錄媒體上的雷射光之記 錄功率，以在該光資訊記錄媒體上進行第1記錄(記錄試驗 數據）； 固定記錄功率後，依序變化雷射光對應於光資訊記錄 媒體的空間位置關係，以在該光資訊記錄媒體上進行第2 記錄(記錄試驗數據）； 當進行第1記錄時，針對各記錄功率，檢測出主要依 存於記錄功率的第1資訊、依存於記錄功率和空間位置關 係的第2資訊及不對稱値後，記憶住記錄功率和第1資訊 的第1關係、記錄功率和第2資訊的第2關係、不對稱値 和記錄功率的關係； 8 ------------€ (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 訂----------線| 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS)A4規格（210 X 297公釐） 1 476930 五、發明說明（b ) 並根據不對稱値和記錄功率的關係，求出能得到最趫 不對稱値的最適記錄功率後記憶住’同時根據第1關係和 第2關係，記憶住對應於最適記錄功率的最適第1資訊及 最適第2資訊； 當進行第2記錄時，檢測出主要依存於空間位置關係 的第3資訊及不對稱値後，記憶住不對稱値和第3資訊的 關係； 根據進行第1記錄時所記憶的不對稱値和記錄功率的 關係、和進行第2記錄時所記憶的不對稱値和第2資訊的 關係，求出記錄功率和第3資訊的第3關係後記億住，逝 根據該第3關係，記憶住對應最適記錄功率的最適第3資 訊； 當記錄實際的資訊時，檢測出第1資訊及第2資訊及 第3資訊後， 求出該檢測出的第1資訊和最適第1資訊的第1差份 、第2資訊和最適第2資訊的第2差份、第3資訊和最趫 第3資訊的第3差份； 當第3的差份是零、第1差份不是零時，根據所檢測 出的第1資訊和第1關係求出記錄功率，修正該記錄功率 以使第1的差份成爲零； 當第3差份不是零、第1差份是零時，根據所檢測出 的第1資訊和第3關係求出記錄功率，修正該記錄功率以 使第3差份成爲零； 當第3差份不是零、第1差份不是零、第2差份不是 9 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS)A4規格（210 X 297公髮） ------------,% (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 訂---------線黯----------------------- 476930 A7 B7 五、發明說明π ) 零時，根據所檢測出的第2資訊和第2關係求出記錄功率 ，修正該記錄功率，以使第2的差份成爲零。 在本發明中進行2次試寫，第1次試寫是依序變化雷 射光的記錄功率，第2次試寫是依序變化雷射光相對光資 訊記錄媒體的空間位置關係。 但是，在本發明中，不僅進行光資訊記錄媒體的資訊 記錄面所產生的傾斜等所對應之記錄功率的最適化，而且 ，也進行不依存於光資訊記錄媒體的資訊記錄面所產生的 傾斜等的再生信號所對應的記錄功率之最適化。 也就是說，本發明在第1次試寫中，檢測出主要依存 於記錄功率的第1資訊、依存於記錄功率和空間位置關係 的第2資訊、不對稱値，在第2次試寫中，檢測出主要依 存於空間位置關係的第3資訊及不對稱値，在第1次試寫 中，根據不對稱値和記錄功率的關係’求出最適記錄功率 ，並根據記錄功率和第1資訊的第1關係及記錄功率和第 2資訊的第2關係，記憶住最適記錄功率所對應的最適第1 資訊及最適第2資訊，在第2次試寫中，根據第1次試寫 中所求的不對稱値和記錄功率的關係、第2次試寫中所求 的不對稱値和第2資訊的關係，求出記錄功率和第3資訊 的第3關係，記憶之，根據該第3關係，記憶住最適記錄 功率所對應的最適第3資訊。 而且，當進行實際的資訊記錄時，檢測出第1資訊及 第2資訊及第3資訊，當第3資訊和最適第3資訊的第3 差份是零、第1資訊和最適第1資訊的第1差份不是零時 10 尺度適用中國國家標準（CNS)A4規格（210 X 297公ίΐ (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 訂---------線丨- 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 476930 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 A7 B7 五、發明說明（γ) ，判斷出必須進行主要依存於記錄功率的記錄功率最適化 後，根據所檢測出的第1資訊和第1關係求出記錄功率， 修正該記錄功率以使第1的差份成爲零。 另外，當第3差份不是零、第1差份是零時，判斷必 須進行光資訊記錄媒體的資訊記錄面所產生的傾斜等所對 應之記錄功率最適化後，根據所檢測出的第3資訊和第3 關係求出記錄功率，修正該記錄功率以使第3差份成爲零 〇 另外，當第3差份不是零、第1差份不是零、第2差 份不是零時，判斷必須進行主要依存於記錄功率的記錄功 率之最適化和光資訊記錄媒體的資訊記錄面所產生的傾斜 等所對應之記錄功率最適化後，根據所檢測出的第2資訊 和第2關係求出記錄功率，補正該記錄功率以使第2差份 成爲零。 在此，就第1資訊而言，例如能採用由比雷射光點的 點徑大的凹坑前端部之反射光強度極大値和後端部之反射 光強度平均値的差所構成的差份光強度値，就第2的資訊 而言，例如能採用由差份光強度値和反射光量比的差所構 成的差份檢測値，就第3的資訊而言，例如能採用反射光 量比。 另外，本發明之光資訊記錄方法，係根據由表示凹坑 形成期間的第1位準和表示凹坑不形成期間的第2位準所 構構的數位信號，在光資訊記錄媒體上照射既定直徑的雷 射光點，以在該光資訊記錄媒體上形成長度對應於凹坑形 11 _____ 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS)A4規格（210 X 297公釐） •丨丨丨丨丨丨丨丨丨丨丨丨·丨丨丨丨丨丨丨.1^ ·丨丨丨丨丨丨丨丨丨"^1111^丨丨丨丨丨丨丨丨丨丨丨丨丨丨丨丨丨丨丨—丨· (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 476930 五、發明說明（？） 成期間的凹坑，其特徵爲具備： 第1步驟，在記錄實際的資訊前，當進行記錄雷射光 強度最適化處理時，依序變化照射在光資訊記錄媒體上的 雷射光之記錄功率，以在該光資訊記錄媒體上記錄試驗數 據； 第2步驟，在第1步驟中，對應於記錄功率，檢測出 差份光強度値（由比雷射光點的光點徑大之凹坑的前端部之 反射光強度極大値和後端部之反射光強度平均値的差所構 成）、反射光量比（由來自比光點徑小的凹坑之全反射光量 對來自比光點徑大的凹坑之全反射光量的比所構成）及不對 稱値，並將差份光強度値和反射光量比的差當作差份檢測 値來算出； 第3步驟，根據第2步驟所檢測出的差份光強度値， 求出表示記錄功率和差份光強度値的關係之第1檢測式， 記憶之； 第4步驟，根據第2步驟所算出的差份檢測値，求出 表示記錄功率和差份檢測値的關係之第2檢測式，記億之 j 第5步驟，根據第2步驟所檢測出的不對稱値，求出 表示不對稱値和記錄功率的關係之基準式，記憶之； 第6步驟，根據第5步驟所記憶的基準式，求出能得 到最適不對稱値的最適記錄功率，記憶之； 第7步驟，根據第6步驟所求得的最適記錄功率和第 1檢測式，把最適記錄功率所對應的差份光強度値當作最 12 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS)A4規格（210 X 297公釐） (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) .•^10 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 ·11111111 I — — — — — — — — — — — — — — — — — — — — — — 476930 A7 B7 五 _I___ 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 、發明說明（/C ) 適差份光強度値，記憶之， 第8步驟，根據第6步驟所求得的最適記錄功率和第 2檢測式，把最適記錄功率所對應的差份檢測値當作最適 基準化差份檢測値，記憶之； 第9步驟，將記錄功率固定爲第6步驟所求得的最適 記錄功率後，以既定步驟來改變爲對光資訊記錄媒體照射 雷射光之光拾訊器的聚焦、傾斜、循跡中之至少一種伺服 系統的偏置，以在該光資訊記錄媒體上記錄試驗數據； 第10步驟，在第9步驟中’檢測出各偏置之反射光量 比及不對稱値； 第11步驟，根據第步驟所檢測出的反射光量比及 不對稱値，求出不對稱値和反射光量比的關係式； 第12步驟，根據第Π步驟所求得的關係式和第5步 驟所求得的基準式，求出表示記錄功率和反射光量比的關 係之第3檢測式，記憶之； 第13步驟，根據第6步驟所求得的最適記錄功率和第 3檢測式，將最適記錄功率所對應的反射光量比當作最適 反射光量比，記憶之； 第14步驟，當記錄實際的資訊時，檢測出差份光強度 値及反射光量比，並算出差份檢測値； 第15步驟，算出第14步驟所檢測出的差份光強度値 和最適差份光強度値的第1差份； 第16步驟，算出第14步驟所算出的差份檢測値和最 適基準化差份檢測値的第2差份； 13 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS)A4規格（210 X 297公釐） 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 476930 A7 B7 五、發明說明（（I ) 第17步驟，算出第14步驟所檢測出的反射光量比和 最適反射光量比的第3差份； 第18步驟，當第3差份是零、第1差份不是零時，根 據第14步驟所檢測出的差份光強度値和第1檢測式求出記 錄功率，修正記錄功率，以使第1差份成爲零； 第19步驟，當第3差份不是零、第1差份是零時，根 據第14步驟所檢測出的反射光量比和第3檢測式求出記錄 功率，修正記錄功率，以使第3差份成爲零；以及 第20步驟，當第3差份不是零、第1差份不是零、第 2差份不是零時，根據第14步驟所算出的差份檢測値和第 2檢測式求出記錄功率，修正記錄功率，以使第2差份成 爲零。 在此，上述第1檢測式〜第3檢測式，能分別由一次 函數構成。 另外，本發明之光資訊記錄裝置，係根據由表示凹坑 形成期間的第1位準和表示凹坑不形成期間的第2位準所 構成的數位信號，在光資訊記錄媒體上照射既定直徑的雷 射光點，以在該光資訊記錄媒體上形成長度對應於凹坑形 成期間的凹坑，其特徵爲具備： 光拾訊器，在光資訊記錄媒體上照射雷射光，並接受 來自該光資訊記錄媒體的反射光後輸出受光信號； 雷射控制機構，用以控制光拾訊器所輸出的雷射光之 記錄功率； 伺服控制機構，用以控制光拾訊器的聚焦、循跡、傾 14 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS)A4規格（210 X 297公釐） "~" · (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) ^_________線—HVI-------1-------------- 476930 A7 B7 五、發明說明（、7-) 斜中之至少一種； 反射光量比檢測機構’係根據光拾訊器所輸出的受光 信號，把來自比雷射光點的點徑小之凹坑的全反射光量對 來自比前述光點徑大之凹坑的全反射量之比，當作反射光 量比來檢測出； 不對稱値檢測機構，係根據光拾訊器所輸出的受光信 號，檢測出該受光信號的不對稱値； 第1控制機構，當記錄實際的資訊前，藉由控制伺服 控制機構以依序變化照射光資訊記錄媒體的雷射光之記錄 功率，而在該光資訊記錄媒體上進行第1記錄，並藉由不 對稱檢測機構檢測出各記錄功率之不對稱値，以求出該不 對稱値和記錄功率的第1關係；其次，將記錄功率固定爲 既定記錄功率後，以既定的步驟依序變化光拾訊器的聚焦 、傾斜、循跡中至少一種的偏置，以在該光資訊記錄媒體 上進行第2記錄，並藉由不對稱檢測機構及反射光量比檢 測機構來檢測出各偏置之不對稱値及反射光量比，以求出 不對稱値和反射光量比的第2關係，且根據第1關係和第 2關係來求出記錄功率和反射光量比的第3關係，並求出 最適記錄功率所對應的最適反射光量比；以及 第2控制機構，當記錄實際的資訊時，藉由反射光量 比檢測機構檢測反射光量比，根據第3關係求出該檢測的 反射光量比所對應的記錄功率，修正該記錄功率，以使該 檢測出的反射光量比和最適反射光量比的差份成爲零。 上述構成，能對光資訊記錄媒體的資訊記錄面所產生 15 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS)A4規格（210 X 297公釐） ______________^ (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 訂---------線！ 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製
^ H I 1· I -I I n n n n n I n n I 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 476930 A7 B7 五、發明說明（ο ) 的傾斜等進行最適的修正。 另外’本發明之光資訊gB錄裝置，係根據由表示凹坑 形成期間的第1位準和表示凹坑不形成期間的第2位準所 構成的數位信號，在光資訊記錄媒體上照射既定直徑的雷 射光點，以在該光資訊記錄媒體上形成長度對應於凹坑形 成期間的凹坑，其特徵爲具備： 光拾訊器，用以在光資訊記錄媒體上照射雷射光，並 接受來自該光資訊記錄媒體的反射光後輸出受光信號； 雷射控制機構，用以控制光拾訊器所輸出的雷射光之 記錄功率； 伺服控制機構，用以控制雷射光相對於光資訊記錄媒 體的空間位置關係； 資訊檢測機構，根據光拾訊器所輸出的受光信號，檢 測出主要依存於記錄功率的第1資訊、依存於記錄功率和 空間位置關係的第2資訊、主要依存於空間位置關係的第 3資訊； 不對稱檢測機構，根據光拾訊器所輸出的受光信號， 檢測出該受光信號的不對稱値；以及 控制機構； 該控制機構係具備： 第1記錄控制機構，在記錄實際的資訊前，當進行記 錄雷射光強度最適化處理時，藉由控制雷射控制機構來依 序變化照射於光資訊記錄媒體的雷射光之記錄功率，以在 該光資訊記錄媒體上進行記錄試驗數據的第1記錄； 16 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS)A4規格（210 X 297公釐） — — — — — — — — — — — — I— « — — III — — ·11111111 I II — — — — — — — — — — — — — — — — — — ! — (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 476930 A7 B7 五、發明說明（A) 第2記錄控制機構’藉由控制雷射控制機構及伺服控 制機構來固定記錄功率後’依序變化雷射光相對光資訊記 錄媒體的空間位置關係，以在該光資訊記錄媒體上進行記 錄試驗數據的第2記錄； 第1記憶機構’當進行第1記錄時，針對各記錄功率 ，根據資訊檢測機構的輸出來取得第1資訊及第2資訊’ 並根據不對稱値檢測機構的輸出來取得不對稱値’以記憶 住記錄功率和第1資訊的第1關係、記錄功率和第2資訊 的第2關係、不對稱値和記錄功率的關係； 第2記憶機構，根據不對稱値和記錄功率的關係’求 出能得到最適不對稱値的最適記錄功率後記億之’並根據 第1關係及第2關係，記錄最適記錄功率所對應的最適第 1資訊及最適第2資訊； 第3記憶機構，當進行第2記錄時’根據資訊檢測機 構的輸出取得第3資訊，並根據不對稱値檢測機構的輸出 取得不對稱値，記憶住不對稱値和第3資訊的關係； 第4記憶機構，根據第1記錄時所記憶的不對稱値和 記錄功率的關係、和第2記錄時所記憶的不對稱値和第2 資訊的關係，求出記錄功率和第3資訊的第3關係後記憶 之，並根據該第3關係記憶住最適記錄功率所對應的最適 第3資訊；以及 修正機構，當記錄實際的資訊時，根據資訊檢測機構 的輸出檢測出第1資訊、第2資訊及第3·資訊，求出該檢 測出的第1資訊和最適第1資訊的第1差份、第2資訊和 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS)A4規格（210 X 297公釐） ----------------------^---------線—AWI (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 476930 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 A7 B7 五、發明說明（κ) 最適第2資訊的第2差份、第3資訊和最適第3資訊的第 3差份，當第3差份是零、第1差份不是零時，根據檢測 出的第1資訊及第1關係求出記錄功率，修正該記錄功率 以使第1差份成爲零’當第3差份不是零、第1差份是零 時，根據檢測出的第3資訊及第3關係求出記錄功率，修 正該記錄功率以使第3差份成爲零，當第3差份不是零、 第1差份不是零、第2差份不是零時，根據檢測出的第2 資訊及第2關係求出記錄功率，修正該記錄功率以使第2 差份成爲零。 另外，本發明之光資訊記錄裝置，係根據由表示凹坑 形成期間的第1位準和表示凹坑不形成期間的第2位準所 構成的數位信號，在光資訊記錄媒體上照射既定直徑的雷 射光點，以在該光資訊記錄媒體上形成長度對應於凹坑形 成期間的凹坑，其特徵爲具備： 光拾訊器，用以在光資訊記錄媒體上照射雷射光，並 接受來自該光資訊記錄媒體的反射光後輸出受光信號； 雷射控制機構，用以控制光拾訊器所輸出的雷射光之 記錄功率； 伺服控制機構，用以控制光拾訊器的聚焦、循跡、傾 斜中之至少一種； 差份光強度値檢測機構，用以檢測差份光強度値（由比 雷射光點的點徑大的凹坑之前端部的反射光強度極大値和 後端部的反射光強度平均値的差所構成）； 反射光量比檢測機構，根據光拾訊器所輸出的受光信 18 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS)A4規格（210 X 297公釐） ---------------------I ^---------^ I (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 476930 五 ______ 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 B7 、發明說明（4) 號，把來自比雷射光點的點徑小的凹坑之全：反射光量對來 自比點徑大的凹坑之全:反躬*光:量的比’當丨乍反射光量比來 檢測； 不對稱値檢測機構’根據光拾訊器所輸出的受光信號 來檢測出該受光信號的不對稱値；以及 控制機構； 該控制機構係具備： 第1記錄控制機構，在記錄實際的資訊前’當進行記 錄雷射光強度最適化處理時’藉由控制雷射控制機構來依 序變化照射在光資訊記錄媒體上的雷射光之記錄功率’以 在該光資訊記錄媒體上記錄試驗數據； 第1取得機構，當利用第1記錄控制機構進行記錄時 ，對應記錄功率，取得來自差份強度値檢測機構之差份強 度値、來自反射光量比檢測機構之反射光量比、來自不對 稱値檢測機構之不對稱値，並把差份光強度値和反射光量 比的差當作差份檢測値來算出； 第1處理機構，根據第1取得機構所取得的差份光強 度値，求出表示記錄功率和差份光強度値的關係之第1檢 測式，記憶之； 第2處理機構，根據第1取得機構所算出的差份檢測 値，求出表示記錄功率和差份檢測値的關係之第2檢測式 ，記憶之； 第3處理機構，根據第1取得機構所取得的不對稱値 ，求出表示不對稱値和記錄功率的關係之基準式’記憶、之 19 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS)A4規格（210 X 297公釐） (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 訂： 476930 A7 B7 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 五、發明說明（d) ， 第4處理機構，根據第3處理機構所記憶的基準式， 求出得到最適不對稱値的最適記錄功率，記憶之； 第5處理機構，根據第4處理機構所求得的最適記錄 功率和第1檢測式，把最適記錄功率所對應的差份光強度 値當作最適差份光強度値，記憶之； 第6處理機構，根據第4處理機構所求得的最適記錄 功率和第2檢測式，把最適記錄功率所對應的差份檢測値 當作最適基準化差份檢測値，記憶之； 第2記錄控制機構，藉由控制雷射控制機構及伺服控 制機構，將記錄功率固定爲第4記錄機構所求得的最適記 錄功率，用既定步驟依序變化爲對光資訊記錄媒體照射雷 射光的光拾訊器之聚焦、傾斜、循跡中之至少一種伺服系 統的偏置，以在該光資訊記錄媒體上記錄試驗數據； 第2取得機構，當利用第2記錄控制機構進行記錄時 ，針對各偏置，取得來自反射光量比檢測機構之反射光量 比，並取得來自不對稱値檢測機構之不對稱値； 第7的處理機構，根據第2取得機構所取得的反射光 量比及不對稱値，求出不對稱値和反射光量比的關係式； 第8處理機構，根據第7處理機構所求得的關係式和 第3處理機構所求得的基準式，求出表示記錄功率和反射 光量比的關係之第3檢測式，記憶之； 第9處理機構，根據第4處理機構所求得的最適記錄 功率和第3檢測式，把最適記錄功率所對應的反射光量比 20 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 篇 . 丨線 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS)A4規格（210 X 297公釐） 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 476930 A7 B7 五、發明說明（J) 當作最適反射光量比，記憶之； 第3取得機構，當記錄實際的資訊時，取得來自差份 光強度値檢測機構的差份光強度値，並取得來自反射光量 檢測機構的反射光量比，把差份光強度値和反射光量比的 差當作差份檢測値來算出； 第10處理機構，算出第3取得機構所取得的差份光強 度値和最適差份光量強度値的第1差份； 第11處理機構，算出第3取得機構所算出的差份光檢 測値和最適基準化差份檢測値的第2差份； 第12處理機構，算出第3的取得機構所取得的反射光 量比和最適反射光量比的第3差份； 第1修正機構，當第3差份是零、第1差份不是零時 ，根據第3取得機構所取得的差份光強度値和第1檢測式 ，求出記錄功率，修正該記錄功率以使第1差份成爲零； 第2修正機構，當第3差份不是零、第1差份是零時 ，根據第3取得機構所取得反射光量比和第3檢測式’求 出記錄功率，修正該記錄功率以使第3差份成爲零；以及 第3修正機構，當第3差份不是零、第1差份不是零 、第2差份不是零時，根據第3取得機構所算出的差份檢 測値和第2檢測式，求出記錄功率，修正該記錄功率以使 第2差份成爲零。 另外，本發明之記錄著光資訊記錄控制程式之記錄媒 體，其所記錄的控制程式，能藉由電腦的處理，以根據表 示凹坑形成期間的第1位準和表示凹坑不形成期間的第2 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS)A4規格CM X 297公爱） _________I_______I I I I ^ ·11111!--*5^ 1 ---------------- (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 476930 五、發明說明（1) 位準所構成的數位信號，在光資訊記錄媒體上照射既定直 徑的雷射光點，而在該光資訊記錄媒體上形成長度對應於 凹坑形成期間的凹坑，其特徵在於： 在記錄實際的資訊前，依序變化照射光資訊記錄媒體 的雷射光之記錄功率，以在該光資訊記錄媒體上進行記錄 ，並針對各記錄功率檢測不對稱値，求出不對稱値和記錄 功率的第1關係； 其次，將記錄功率固定爲既定記錄功率，依序變化雷 射光相對光資訊記錄媒體的空間位置關係，以在該光資訊 記錄媒體上進行記錄，並針對各空間位置關係檢測不對稱 値及不同長度凹坑的反射光量比，求出不對稱値和反射光 量比的第2關係； 而且，根據第1關係和第2關係來求出記錄功率和反 射光量比的第3關係，並求出最適記錄功率所對應的最適 反射光量比； 當記錄實際的資訊時，藉由檢測反射光量比，以根據 第3關係求出該檢測的反射光量比所對應之記錄功率，修 正該記錄功率以使該檢測的反射光量比和最適反射光量比 的差份成爲零。 另外，本發明之記錄著光資訊記錄控制程式之記錄媒 體，其所記錄的控制程式，能藉由電腦的處理，以根據表 示凹坑形成期間的第1位準和表示凹坑不形成期間的第2 位準所構成的數位信號，在光資訊記錄媒體上照射既定直 徑的雷射光點，而在該光資訊記錄媒體上形成長度對應於 22 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS)A4規格（210 X 297公釐） (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) ·. --線. 476930 A7 B7 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 五、發明說明（w) 凹坑形成期間的凹坑，其特徵在於： 在記錄實際的資訊前，當進行記錄雷射光強度最適化 處理時，依序變化照射光資訊記錄媒體的雷射光之記錄功 率，以對該光資訊記錄媒體進行記錄試驗數據的第1記錄 固定記錄功率後’依序變化雷射光相對光資訊記錄媒 體的空間位置關係，以對該光資訊記錄媒體進行記錄試驗 數據的第2記錄； 當進行第1記錄時，針對各記錄功率’檢測主要依存 於記錄功率的第1資訊、依存於記錄功率和空間位置關係 的第2資訊、不對稱値，記憶住記錄功率和第1資訊的第 1關係、記錄功率和第2資訊的第2關係、不對稱値和記 錄功率的關係； 根據不對稱値和記錄功率的關係，求得最適不對稱値 所能得到的最適記錄功率後記憶之，根據第1關係及第2 關係，記憶住最適記錄功率所對應的最適第1資訊及最適 第2資訊； 當進行第2記錄時，檢測出主要依存於空間位置關係 的第3資訊及不對稱値，記憶住不稱値和第3資訊的關 係； 根據進行第1記錄時所記億之不對稱値和記錄功率的 關係、和進行第2記錄時所記億之不對稱値和第2資訊的 關係，求出記錄功率和第3資訊的第3關係後記憶之’並 根據該第3關係，記憶住最適記錄功率所對應的最適第3 23 ^紙張尺度適用中國國家標準（CNS)A4規格（210 x 297公釐） (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 476930 A7 B7 五、發明說明（y) 資訊； 一 ^ _ 當記錄實際的資訊時，檢測出第1資訊及第2資訊及 第3資訊； ^ 求出該檢測出的第1資訊和最適第1資訊的第1差份 、第2資訊和最適第2資訊的第2差份、第3資訊和最適 第3資訊的第3差份； 當第3差份是零、第1差份不是零時，根據所檢測的 第1資訊和第1關係求出記錄功率，修正該記錄功率以使 第1差份成爲零； 當第3差份不是零、第1差份是零時，根據所檢測的 第3資訊和第3關係求出記錄功率，修正該記錄功率以使 第3差份成爲零； 當第3差份不是零、第1差份不是零、第2差份不是 零時，根據所檢測的第2資訊和第2關係求出記錄功率， 修正該記錄功率以使第2差份成爲零。 另外，本發明之記錄著光資訊記錄控制程式之記錄媒 體，其所記錄的控制程式，能藉由電腦的處理’以根據表 示凹坑形成期間的第1位準和表示凹坑不形成期間的第2 位準所構成的數位信號，在光資訊記錄媒體上照射既定直 徑的雷射光點，而在該光資訊記錄媒體上形成長度對應於 凹坑形成期間的凹坑，其特徵爲具備： 第1步驟，在記錄實際的資訊前，當進行記錄雷射光 強度最適化處理時，依序變化照射在光資訊記錄媒體上的 雷射光之記錄功率，以在該光資訊記錄媒體上記錄試驗數 24 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 訂---------線丨 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS)A4規格（210 X 297公釐） 476930 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 A7 B7 五、發明說明（汐） 據； 第2步驟，在第1步驟中，對應於記錄功率，檢測出 差份光強度値（由比雷射光點的光點徑大之凹坑的前端部之 反射光強度極大値和後端部之反射光強度平均値的差所構 成）、反射光量比（由來自比光點徑小的凹坑之全反射光量 對來自比光點徑大的凹坑之全反射光量的比所構成）及不對 稱値，並將差份光強度値和反射光量比的差當作差份檢測 値來算出； 第3步驟，根據第2步驟所檢測出的差份光強度値， 求出表示記錄功率和差份光強度値的關係之第1檢測式， 記憶之； 第4步驟，根據第2步驟所算出的差份檢測値，求出 表示記錄功率和差份檢測値的關係之第2檢測式，記憶之 9 第5步驟，根據第2步驟所檢測出的不對稱値，求出 表示不對稱値和記錄功率的關係之基準式，記憶之； 第6步驟，根據第5步驟所記憶的基準式，求出能得 到最適不對稱値的最適記錄功率，記憶之； 第7步驟，根據第6步驟所求得的最適記錄功率和第 1檢測式，把最適記錄功率所對應的差份光強度値當作最 適差份光強度値，記憶之； 第8步驟，根據第6步驟所求得的最適記錄功率和第 2檢測式，把最適記錄功率所對應的差份檢測値當作最適 基準化差份檢測値，記憶之； 25 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS)A4規格（210 X 297公釐） —w ΜΜ> ΜΜ aw w a··· MM· MM* MM w * n n m 1 Λβ— l In 一a n n ϋ n flu n I 1 / < (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 476930 Α7 Β7 五、發明說明（4 ) 第9步驟，將記錄功率固定爲第6步驟所求得的最適 記錄功率後，以既定步驟來改變爲對光資訊記錄媒體照射 雷射光之光拾訊器的聚焦、傾斜、循跡中之至少一種伺服 系統的偏置，以在該光資訊記錄媒體上記錄試驗數據； 第10步驟，在第9步驟中，檢測出各偏置之反射光量 比及不對稱値； 第11步驟，根據第10步驟所檢測出的反射光量比及 不對稱値，求出不對稱値和反射光量比的關係式； 第12步驟，根據第11步驟所求得的關係式和第5步 驟所求得的基準式，求出表示記錄功率和反射光量比的關 係之第3檢測式，記憶之； 第13步驟，根據第6步驟所求得的最適記錄功率和第 3檢測式，將最適記錄功率所對應的反射光量比當作最適 反射光量比，記憶之； 第14步驟，當記錄實際的資訊時，檢測出差份光強度 値及反射光量比，並算出差份檢測値； 第15步驟，算出第14步驟所檢測出的差份光強度値 和最適差份光強度値的第1差份； 第16步驟，算出第Μ步驟所算出的差份檢測値和最 適基準化差份檢測値的第2差份； 第I7步驟，算出第I4步驟所檢測出的反射光量比和 最適反射光量比的第3差份； 第18步驟，當第3差份是零、第1差份不是零時，根 據第14步驟所檢測出的差份光強度値和第1檢測式求出記 26 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS)A4規格（210 X 297公釐） (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) .鼇 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 476930 A7 B7 五、發明說明（一） 錄功率，修正記錄功率，以使第1差份成爲零； 第19步驟，當第3差份不是零、第1差份是零時’根 據第14步驟所檢測出的反射光量比和第3檢測式求出記錄 功率，修正記錄功率，以使第3差份成爲零；以及 第20步驟，當第3差份不是零、第1差份不是零、第 2差份不是零時，根據第14步驟所算出的差份檢測値和第 2檢測式求出記錄功率，修正記錄功率，以使第2差份成 爲零。 〔圖式之簡單說明〕 圖1係顯示本發明的一實施形態之光資訊記錄裝置的 電氣系統電路的方塊圖。 圖2係顯示本發明的一實施形態之光資訊記錄裝置的 記錄功率偏差檢測部的電氣系統電路的方塊圖。 圖3係本發明的一實施形態的反射光量比的說明圖。 圖4係本發明的一實施形態的差份光強度値的說明圖 〇 圖5係本發明的一實施形態的雷射光點徑和凹坑長度 的關係之說明圖。 圖6係用眼圖（eye pattern)來說明本發明的一實施形態 的雷射光點徑和凹坑長度關係的圖。 圖7係說明本發明的一實施形態的記錄功率修正的處 理流程圖。 圖8係說明本發明的一實施形態的記錄功率修正的處 理流程圖。 27 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS)A4規格（210 X 297公釐） μμιι I Maw a··* aw mm ΜΜ·· aw S _1 ·>1 ·ϋ ί US n n ^ 0 βϋ ϋ H ϋ_ι 11 ί I am· 4MB imi* μη* wi Mm awat aav· (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 476930 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 —----— 五、發明說明（/) 圖9係說明本發明的一實施形態的記錄功率修正的處 理流程圖。 圖10係說明本發明的一實施形態的記錄功率修正的處 理流程圖。 圖11係說明本發明的一實施形態的記錄功率修正的處 理流程圖。 圖Π係說明本發明的一實施形態的記錄功率修正的處 理流程圖。 圖13係說明本發明的一實施形態的記錄功率修正的處 理流程圖。 圖I4係說明本發明的一實施形態的記錄功率修正的處 I理流程圖。 〔實施本發明的最佳形態〕 以下，根據圖面，說明本發明的一種實施形態。 圖1係表示本發明的一種實施形態的光資訊記錄裝置 的主要電氣系統電路的方塊圖。還有，在本實施形態中， 就可寫入一次型的光資訊記錄媒體而言，是以眾所周知之 DVD—R爲對象之裝置的構造加以說明。另外，就可寫入 一次型的光碟而言，採用周知的CD- R之裝置的構造也大 致相同。 在圖1中，10是可寫入一次型的光碟，2〇是光資訊 記錄裝置。 光資訊記錄裝置20備有··光碟旋轉馬達21、馬達驅 動控制電路22、光拾訊器23、雷射控制部24、伺服控制 28 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS)A4規格（210 X 297公釐） (請先閱讀背面之注音？事項再填寫本頁> · ;線· 丨» 476930 A7 B7 五、發明說明（4) 部25、記錄功率偏差檢測部26、不對稱値檢測部27、及 系統控制器28等。 在光碟10上，事先在其記錄區域(記錄軌)形成凹槽。 根據該凹槽的起伏或凹槽側所形成的島坑(land pit) ’而取 出光碟旋轉控制信號等。 光碟旋轉馬達21是根據馬達驅動控制電路22所供給 的驅動電壓，以既定轉速來旋轉。 馬達驅動控制電路22，係根據系統控制器28所輸入 的命令信號來對光碟旋轉馬達21供給驅動電壓。 光拾訊器23備有：雷射二極體(LD)231、周知的4分 割的光偵測器(PD)232、及未圖示的物鏡致動器等。而且’ 光拾訊器23，例如，能利用周知之線性馬達方式的拾訊器 傳送機構，而移動於光碟1〇的半徑方向。 雷射控制部24輸入構成記錄對象之資訊所對應的數位 信號，根據系統控制器28所指定的策略設定資訊’從該數 位信號產生寫入脈衝。而且，同步於寫入脈衝’將大小對 應於系統控制器28所指定的雷射光強度之驅動電流供給雷 射二極體231。藉此，雷射二極體231射出系統控制器28 所指定之強度的雷射光。 伺服控制部25是由聚焦控制部251、循跡控制部252 、及傾斜控制部253等所構成，根據來自系統控制器28的 命令，進行光拾訊器23的物鏡致動器及拾訊器傳送機構的 動作控制。 記錄功率偏差檢測部2 6是如圖2所不’由3 T檢測電 29 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS)A4規格（210 x 297公釐） (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) · -丨線. 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 476930 A7 B7 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 五、發明說明（) 路261、MT檢測電路262、反射光量檢測電路263、264 、除法電路265、峰値檢測電路266、取樣保持電路267、 及減法電路268所構成。 如眾所周知，DVD- R在媒體的記錄層，係藉由形成 長度3T〜11T及14T的凹坑來進行資訊記錄。 因此，在本實施形態的記錄功率偏差檢測部26中，比 照射光碟1〇的雷射光的點徑小的長度的凹坑是採用長度 3T的凹坑(以下’簡稱爲3T凹坑），點徑以上長度的凹坑 是採用長度14T的凹坑(以下，簡稱爲14T凹坑），以檢測 反射光量比(X2)及差份光強度値(XI)。 因此，反射光量比(X2)是記錄時來自3T凹坑的全反射 光量S3T對來自14T凹坑的全反射光量S14T的比。 另外，差份光強度値(XI)，係記錄時14T凹坑所對應 的RF信號之凹坑前端部的峰値Vpk、和除去前端部的後 部之平均値Vsp之差份的光強度値。 在圖2中，3T檢測電路261是輸入光拾訊器23所輸 出的RF信號，僅輸出來自資訊記錄中的3T凹坑之反射光 電流。來自3T凹坑的反射光電流，是經由反射光量檢測 電路263的電阻器263a來將電容器263b充電。利用這種 方式，電容器263b的充電電壓即成爲對應來自3T凹坑的 全反射光量的値，從反射光量檢測電路263輸出來自3T 凹坑的的全反射光量S3T之對應値所對應的電壓。 另外，14T檢測電路261是輸入來自光拾訊器23的 RF信號，僅輸出來自資訊記錄中14T凹坑的反射光電流。 30 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) ·- -線· 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS)A4規格（210 X 297公釐） 476930 _____Β7_ 五、發明說明（j ) 來自14T凹坑的反射光電流，是經由反射光量檢測電路 264的電阻器264a將電容器264b充電。利用這種方式， 電容器264b的充電電壓即成爲對應來自14T凹坑的的全 反射光量的値，從反射光量檢測電路264輸出來自14T凹 坑的的全反射光量S14T之對應値所對應的電壓。 因此，由反射光量檢測電路263輸出的電壓及由反射 光量檢測電路264輸出的電壓，是在除法電路265進行相 除，在系統控制器28輸出，當作反射光量比(X2)。 另外，峰値檢測電路265是根據14T檢測電路261的 輸出，檢測來自14T凹坑的反射光電流的凹坑則端部的峰 値Vpk。取樣保持電路266是根據14T檢測電路261的輸 出，檢測來自14T凹坑的後部之反射光電流平均値Vsp。 因此，利用減法電路267，算出用峰値檢測電路265 所檢測的14T凹坑的反射光電流的凹坑之前端部峰値Vpk 和用取樣保持電路266所檢測的14T凹坑之後部的反射光 電流平均値Vsp的差，以作爲差份光強度値(XI)向系統控 制器28輸出。 不對稱値檢測部27是從光拾訊器23所輸出的RF信 號檢測不對稱値，將該檢測結果向系統控制器28輸出。 系統控制器28是由周知的CPU等所構成’根據記錄 功率偏差檢測部26及不對稱値檢測部27的輸出信號’向 雷射控制部24、雷射控制部25等輸出控制命令，以進行 資訊記錄。 此時，係進行後述的運算處理，以邊即時修正記錄時 31 尺度適用中國國家標準（CNS)Ai規格（210 X 297公釐） ' _ (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) · 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 476930 A7 B7 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 五、發明說明（4) 的雷射光強度、邊進行資訊的記錄。以下，把記錄時的雷 射光強度(記錄雷射光強度)簡稱爲記錄功率。 以下，針對反射光量比(X2)及差份光強度値(XI)加以 詳細說明。 反射光量比(X2)，如前所述，是記錄時來自3T凹坑的 全反射光量S3T對來自14T凹坑的全反射量S14T的比。 來自3T凹坑的全反射量S3T，當採用圖3(a)所示的 3T記錄脈衝進行3T的記錄時，係根據來自光碟10的反射 光所對應之圖3(b)所示的RF信號之面積來求得。 另外，來自14T凹坑的全反射光量S14T，當採用圖 3(c)所示的14T記錄脈衝(採用脈衝序列法的記錄脈衝)進行 14T的記錄時，係根據來自光碟10的反射光所對應之圖 3(d)所示的RF信號之面積來求得。* 即，從圖2所示的反射光量檢測電路263輸出來自3T 凹坑的全反射量S3T的對應値所對應的電壓，從圖2所示 的反射光量檢測電路264輸出來自14T凹坑的全反射量 S14T的對應値所對應的電壓，用除法電路265將反射光量 檢測電路264的輸出除以反射光量檢測電路263的輸出， 即求出記錄時來自3T凹坑的全反射量S3T對來自14T凹 坑的全反射量S14T的比所構成的反射光量比(X2)。 在此，3T凹坑是比雷射光的點徑短的凹坑，14T凹坑 是比雷射光的點徑長很多的凹坑，故這種反射光量比(X2) 是對應於光碟相對雷射光束的傾斜等表面狀態而變化’ 其結果，即包括主要依存於光碟1〇表面狀態的資訊。 32 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS)A4規格（210 X 297公釐） ' " (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) ’·% · •線· 476930 A7 B7 五、發明說明（p) (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 另外，差份光強度値(XI)是如前所述，是在記錄時， 14T凹坑所對應的RF信號之凹坑前端部的峰値Vpk和除 了前端部的後部的平均値Vsp之差份的光強度値。 當採用圖3(c)所示的脈衝序列法的14T記錄脈衝形成 14T凹坑時，從光碟1〇能得到圖3(d)所示的RF信號。在 此，該RF信號的凹坑前端部的峰値成爲Vpk，除去前端 部的後部之取樣期間Tsp的平均値則成爲Vsp。從該峰値 Vpk和平均値Vsp的差份Vdf可求出差份光強度値(XI)。 即，從圖2所示的峰値檢測電路266輸出來自14T凹 坑的反射光電流的凹坑前端部的峰値Vpk，從取樣保持電 路266輸出14T凹坑的後部之反射光電流的平均値Vsp， 用減法電路268求出峰値檢測電路266和取樣保持電路 266的差份，即求出差份光強度値(XI)。 在此，因是比雷射光的點徑長很多的凹坑，該RF信 號不致受到光碟1〇相對雷射光束的傾斜等表面狀態的影響 ，而成爲僅依存於記錄功率的信號，故其結果，差份光強 度値(XI)則包括主要依存於照射在光碟1〇的雷射光之記錄 功率的資訊。 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 又，由於採用來自比雷射光的點徑長很多的凹坑的RF 信號，能檢測差份光強度値(XI)，採用來自比雷射光的點 徑短的凹坑的RF信號及來自比雷射光的點徑長很多的凹 坑的RF信號，能檢測反射光量比(X2)，故在圖2的記錄 功率偏差檢測部，就比雷射光的點徑長很多的凹坑而言， 是採用14T凹坑(DVD — R的最長凹坑），就比雷射光的點 33 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS)A4規格（210 X 297公釐） 476930 A7 B7 五、發明說明（々I ) 徑短的凹坑而言，是採用3T凹坑(DVD—R的最短凹坑）’ 但不限定於此。 還有，雷射光點徑和凹坑長度的關係，能用以下的方 式來檢測。 即，在DVD—R的情形，若調查來自3T〜11T及14T 凹坑之P3T〜P11T及P14的RF信號，如圖5所示，當凹 坑長度L在比點徑2R短的區域A時’ RF信號的位準雖隨 著凹坑長度變長而依序增加，但凹坑長度在比點徑2R長 的區域B時，RF信號的位準就會飽和，成爲一定値。 另外，在DVD - R的情形，若調查來自3T〜11T及 14T凹坑身P3T〜P11T及P14的RF信號之眼圖，如圖6 所示，當凹坑長度比點徑短時，其振幅雖雖隨凹坑長度變 長而依序增加，但若凹坑長度比點徑長時，其振幅就會飽 和，成爲一定値。 又，在DVD- R(4.7G位元組光碟)的情形，當線速爲 3,49ms時，1T的長度約爲0.13#m，在圖5及圖6中，是 用7T凹坑來表示RF信號的位準或振幅的最大値，此時， 可想成7T凹坑的長度和點徑相等，因此，點徑約爲0.9 μ m ° 因此，根據圖5或圖6所示之RF信號的位準或振幅 達飽和的凹坑長度，能選擇比雷射光的點徑小的凹坑長度 的凹坑及比雷射光的點徑大很多的凹坑長度的凹坑。 其次，有關系統控制器28的資訊記錄處理中之本發明 的處理，參照圖7〜圖10所示的流程圖加以詳細說明。 34 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS)A4規格（210 X 297公釐） (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) _纛 訂---------線！ 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 476930 A7 B7 五、發明說明（弘） 系統控制器28是在開始記錄資訊時，進行OPC。在 執行此OPC時，求出爲將記錄功率修正爲最適値的關係式 等，在記錄實際的資訊時，採用這個關係式，用邊即時進 行記錄功率的修正邊進行資訊的記錄。 即，當系統控制器28執行OPC時，是如圖7所示， 將光拾訊器23移動到光碟1〇試寫領域(SK1)，一面以既定 步驟依序改變記錄功率（X)，一面進行試驗數據的記錄 (SK2)。 另外，在此試驗數據的記錄中，根據記錄功率偏差檢 測部26的輸出信號，取得各記錄功率(X)之差份光強度値 (XI)及反射光量比(X2)(SK3、SK4)。 其次，系統控制器28，一面再生記錄的資訊，一面輸 入不對稱値檢測部27的輸出，以取得各記錄功率(X)之不 對稱値(y)(SK5)。這種不對稱値(y)是對應前式（A)或(B)所 算出的Θ値。 然後，採用前述SK3的結果，如下列的（1)式所示，求 差份光強度値(XI)和記錄功率(X)的關係式，當作第1檢測 式來記憶在未圖示的記憶體中（SK6)。 X=al · Xl + bl-*-(l) 式中，al，bl是常數。 其次，採用前述SK3及SK4的結果，把差份光強度値 (XI)及反射光量比(X2)的差當作差份檢測値D，如下列的 (2)式所示，求出這種差份檢測値D和記錄功率(X)的關係 式，當作第2檢測式來記憶在記憶體中（SK7)。 35 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS)A4規格（210 X 297公釐） (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 言 Γ 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 476930 A7 B7 五、發明說明（））） X= a2 · D+ b2".(2) 式中，a2，b2是常數。 而且，採用前述SK5的結果，如下列的(3)式所示’求 出記錄功率(X)和不對稱値(y)的關係式，當作基準式來記 憶在記憶體中（SK8)。 _ y = c2 · X+ dl *··(3) 式中，cl，dl是常數。 其次，系統控制器28，採用上述的基準式，算出爲得 到符合規格的最適不對稱値(y)之記錄功率(X)，把此値當 作最適記錄功率(Xms)，記憶在記憶體(SK9)中。 然後，系統控制器28，採用上述的第1檢測式，算出 爲得到上述最適記錄功率(Xms)的差份光強度値(XI)，把此 値當作最適差份光強度(Xlms)，記憶在記憶體(SK10)中。 而且，系統控制器28，採用上述的第2檢測式，算出 爲得到上述最適記錄功率(Xms)的差份檢測値(X2ms)，把此 値當作最適基準化差份檢測値(Dms)，記憶在記憶體(SK11) 中。 藉由以上的處理，將第1檢測式(X = a 1 · X1 + b 1 )、第 2 檢測式(X=a2 · D+b2)、基準式（y=cl · Xl + dl)、最適 差份光強度値(Xlms)、最適基準化差份檢測値、最適 記錄功率(Xms)記憶在系統控制器28中。 而且，系統控制器28在執行OPC時，係進行圖8所 示的處理來求出第3檢測式、最適反射光量比(X2tns)，記 憶在記憶體中。 36 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) m 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 本紙張尺度顧帽目家標準（CNS)A4規格（210 X 297公爱） 476930 A7 B7 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 五、發明說明（Η ) 即’系統控制器28在執行OPC時，係採用上述的最 適g3錄功率(Xms)，以既定步驟來改變伺服控制部25所控 制的聚焦、傾斜、循跡內至少一種伺服系統的偏置後記錄 試驗數據（SL1)，將該數據再生，根據不對稱値檢測部27 的輸出取得各偏置値之不對稱値(y)。 而且’根據記錄功率偏差檢測部26的輸出，取得各偏 置値的反射光量比(X2)(SL3)。 然後’系統控制器28採用前述SL2及SL3的結果， 如下列的(4)式所示，求出反射光量比(X2)和不對稱値(y)的 關係式。 y= c2 · X2 + d2…(4) 式中，c2，d2是常數。 因此’根據上述(4)式和前述基準式（3)，如下列的（5) 式所示’求出反射光量比(X2)和記錄功率(X)的關係式，將 此式當作第3檢測式記憶在記憶體中（SL5)。 X=a3 · X2 + b3"-(5) 式中，a3，b3是常數。 而且，系統控制器28求出上述最適記錄功率(Xms)的 反射光量比(X2)，把此値當作最適反射光量比(X2ms)記憶 在記憶體中（SL6)。 系統控制器28在執行OPC時，當進行上述的處理後 ，如圖9及圖10所示，一面即時進行記錄功率的修正處理 ，一面進行實際的資訊記錄。 即，當記錄實際的資訊時，系統控制器28根據記錄功 37 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS)A4規格（210 X 297公釐） C請先閱讀背面之注意事頊存填寫本頁) 瘃 訂· .線' 476930 A7 B7 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 五、發明說明（β) 率偏差檢測部26的輸出信號，取得記錄中差份光強度値 (X1)(SM1)，比較該差份光強度値(XI)和所記憶的最適差份 光強度値(Xlms)，算出其等的差當作第1差份(SM2)。 其次，系統控制器28根據記錄功率偏差檢測部26的 輸出信號，取得記錄中差份光強度値(X1)(SM3) ’比較該差 份光強度値(XI)和所記憶的最適差份光強度値(Xlms) ’算 出該等的差當作第3差份(SM4)。 而且，根據SM1及SM3的結果，算出記錄中差份光 強度値(XI)和記錄中反射光量値(X2)的差，當作記錄中差 份檢測値(D)(SM5)。 其次，系統控制器28，算出記錄的最適基準化差份檢 測値(Dms)和SM5處理所求出的差份檢測値(D)之差，當作 第2差份(SM6)。 其次，判斷用前述SM4的處理所求得的第3差份是否 爲0(SM7)，當是0時，再判定第1差份是否是O(SMS)。 該判定的結果，當第1的差份是〇時，則轉移到前述 SM1的處理，當不是0時，則將用上述SM1的處理所取得 的記錄中的差份光強度値(XI)代入第1檢測式，算出現時 點的記錄功率(X〇(SM9)。 因此，以使第1差份成爲0的方式朝雷射控制部24輸 出控制命令，以修正該算出的記錄功率(X〇(SM10)。然後 ，轉移到前述SM1的處理。 前述的SM7的判定結果，當第3差份不是0時，判定 第1的差份是否爲0(SM11)。 38 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁)
T 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS)A4規格（210 X 297公釐） 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 476930 A7 B7 五、發明說明（4 ) 這種判定結果，當第1差份是0時，將用上述SM3的 處理所取得的記錄中反射光量比(X2)代入第3檢測式’算 出現時點的記錄功率(Xr)(SM12) ° 因此，以使第3差分成爲〇的方式朝雷射控制部24 _ 出控制命令，以修正該算出的記錄功率(X〇(SM13)。 前述的SM11的判定結果，當第1差份不是0時，判 定第2差份是否爲〇(SM14)。當是0時，則轉移到前述 SM1的處理。 另外，當第2差份爲0時，將前述SM5的處理所求的 記錄中差份檢測値(D)代入第2檢測式，求現時點的記錄功 率(Xr)(SM15)。 因此，以使第2差份成爲0的方式朝雷射控制部24輸 出控制命令，以修正該算出的記錄功率(Xr)(SM16)。 參照圖11〜圖11，進一步說明上述處理。 圖11係表示上述的基準式和第1檢測式、第2檢測式 、第3檢測式的關係的圖。 在圖11中，縱軸表示不對稱値y或記錄率X，橫軸表 示記錄功率X或差份光強度檢測値XI或差份檢測値D或 反射光量比X2。 此處之基準式，顯示最適不對稱値y之記錄功率X爲 最適記錄功率Xms。 另外’在第1檢測式，使記錄功率X成爲最適記錄功 率Xms之差份光強度檢測値Χι爲最適差份光強度檢測値 Xlms，在第2檢測式，使記錄功率X成爲最適記錄功率 39 本紙張尺度適用中國國豕標準（CNS)A4規格（21〇 X 297公;^ ) n H —i .ϋ I n n / I · ϋ I n ϋ n n n· 一 口▼ i n ϋ n ϋ n n 1_1 I n I (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 476930 A7 B7 五、發明說明（1)
Xms之差份檢測値D爲最適基準化差份檢測値Dms，在第 2檢測式’使記錄功率X成爲最適記錄功率Xms之反射光 量比X2爲最適反射光量比X2ms。 在前述SM7、SM8的判定中，當第3差份爲〇且第1 差份爲〇以外的値時，不必對應於光碟10之相對雷射光束 的傾斜等表面狀態進行修正，只要進行對應於記錄功率的 修正就可以，故如圖12所示，根據第1檢測式求出現時點 的記錄功率(Xr)，朝雷射控制部24輸出控制命令，以修正 爲使弟1差份成爲〇之現時點的記錄功率(Xr)和最適差份 光強度檢測値(Xlms)所對應的記錄功率之差，而將雷射輸 出功率(記錄功率)最適化。 另外，在SM7、SM11的判定中，當第3差份爲0以 外的値，且第1差份爲〇時，只要對應於光碟之相對雷射 光束的傾斜等表面狀態進行修正就可以，故如圖13所示， 根據第3檢測式求出現時點的記錄功率(Xr)，對雷射控制 部24輸出控制命令，以修正爲使第3差份成爲0之現時點 的記錄功率(Xr)和最適反射光量比(X2ms)所對應的記錄功 率之差，而將雷射輸出功率(記錄功率)最適化。 另外，在SM7、SM11、SM14的判定中，當第3差份 及第1差份以及第2差份都是0以外的値時，需要對應於 記錄功率的修正、及對應於光碟1〇之相對雷射光束的傾斜 等表面狀態的修正兩者，故追種情形是如圖14所不’根據 第2檢測式求出現時點的記錄功率(Xr) ’朝雷射控制部24 輸出控制命令，以修正爲使第1差份成爲0之現時點的記 40 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS)A4規格（210 X 297公釐） (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) m 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 一 0, I 1·1 an n I— H ϋ I 1 ϋ n in n n n i>— n ϋ n 476930 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 A7 B7 五、發明說明（/) 錄功率(Xr)和最適反射光量比（X2ms)所對應的記錄功率之 差，而將雷射輸出功率(記錄功率)最適化。 依據本實施形態’即使光碟10上產生傾斜’由於是以 能獲得最適不對稱値及來自形成中的凹坑之最適反射光量 之方式，邊變化記錄雷射光強度邊形成凹坑’故即使在光 碟10上產生傾斜’不須修正雷射光的射出方向，也能修正 伴隨光碟10的資訊記錄面之傾斜所產生之單位面積的照射 光量之減少量。 藉此，能將必要形狀的凹坑形成在適切的位置，而能 •進行具有優異資訊再生特性的資訊記錄。 而且，不必具備習知之複雜機構(根據傾斜角度來傾斜 光碟拾訊器23，以使記錄雷射光的射出方向垂直於光碟10 的資訊記錄面），故裝置的成本能比從前更低。 另外，依據本實施形態，不僅對應於光碟10的傾斜， 對應於媒體種類的不同和光碟上局部的反射率不同等，也 能經常用最適的記錄功率（記錄雷射光強度）來進行資訊的 記錄(形成凹坑）。 另外，在本實施形態中，因以第1〜第3檢測式及基 準式係採用直線式(一次函數），故能提高處理速度。 還有，前述的實施形態，只是本發明的一個具體例， 本發明不限於此。 〔產業上之利用可能性〕 本發明是提供一種光資訊記錄方法及裝置以及記錄著 光資訊記錄控制程式的記錄媒體，即使在光資訊記錄媒體 41 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS)A4規格（210 X 297公釐） (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) *. --線· 476930 A7 B7 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 五、發明說明（) 的資訊記錄面上產生傾斜等，也能以雷射光射出方向維持 一定的方式進行資訊記錄。 依據本發明的光資訊記錄方法，由於對應於光資訊記 錄媒體的傾斜邊改變雷射光的強度邊形成凹坑，即使在光 資訊記錄媒體上產生傾斜等，不必修正雷射光的射出方向 ，即可修正伴隨資訊記錄面的傾斜所產生之單位面積的照 射光量的減少量。藉此，能將必要形狀的凹坑形成在適當 的位置，故能進行具有優異資訊再生特性的資訊記錄。 另外，本發明除上述的效果外，也能縮短實際的資訊 記錄時所進行的雷射光強度的修正處理時間。 另外’依據本發明的光資訊記錄方法，除上述的效果 外，即使記錄雷射光的點徑有些變化，也能進行正確的修 正處理。 另外’依據本發明的光資訊記錄裝置，由於對應於光 資訊§Β錄媒體的傾斜邊改變雷射光的強度邊形成凹坑，故 即使在光資訊記錄媒體上產生傾斜，也能修正伴隨資訊記 錄面的傾斜所產生之單位面積的照射光量之減少量。藉此 ’能將必要形狀的凹坑形成在適當的位置，故能進行具有 優異資訊再生特性的資訊記錄。而且，不須設置習知般之 雷射光射出方向的修正機構，故能減低裝置成本。 另外’依據本發明的光資訊記錄裝置，除了上述的效 果外’即使記錄雷射光的點徑有些變化，也能進行正確的 修正處理。 另外’依據本發明之記錄著光資訊記錄控制程式之記 42 本紙張尺度適用中國國豕標準（CNS)A4規格（210 X 297公髮） ~一 — (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) · 476930 A7 B7 五、發明說明（〜ο 錄媒體，藉由利用該程式來操作電腦，能對應於光資訊記 錄媒體的傾斜來邊變化雷射光強度邊形成凹坑，故即使在 光資訊記錄媒體上產生傾斜，不須修正雷射光的射出方向 ，即能修正伴隨著資訊記錄面的傾斜所產生之單位面積的 照射光量的減少量。藉此，能在適當的位置形成必要形狀 的凹坑，故能進行具有優異資訊再生特性的資訊記錄。 ____n I I n n ϋ ϋ I · n n d ϋ n n n 一WOT n n n I» ϋ ϋ I n ' (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 43 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS)A4規格（210 X 297公釐）

Claims (1)

  1. 476930 經濟部智慧財是局a(工消费合作社印製 A8 B8 C8 D8 六、申請專利範圍 1、 一種光資訊記係根據由表示凹坑形成期間 的第1位準和表示凹坑不形/成期間的第2位準所構成的數 位信號，在光資訊記錄媒體上照射既定直徑的雷射光點， 以在該光資訊記錄媒體上形成長度對應於前述凹坑形成期 間的凹坑，其特徵在於： 在記錄實際的資訊前，依序變化照射在光資訊記錄媒 體上的雷射光之記錄功率，以在該光資訊記錄媒體上進行 記錄，並檢測出各記錄功率的不對稱値，以求出不對稱値 和記錄功率的第1關係； 其次’將記錄功率固定爲既定記錄功率，依序變化雷 射光相對光資訊記錄媒體的空間位置關係，以在該光資訊 記錄媒體上進行記錄，並檢測出各空間位置關係的不對稱 値及不同長度凹坑的反射光量比，以求出不對稱値和反射 光量比的第2關係； 而且，根據第1關係和第2關係，求出記錄功率和反 射光量比的第3關係，並求出對應於最適記錄功率的最適 反射光量比； 當記錄實際的資訊時，藉由檢測出反射光量比，根據 第3關係來求出對應於該檢測出的反射光量比之記錄功率 ，修正該記錄功率，以使該檢測出的反射光量比和最適反 射光量比的差份爲零。 2、 如申請專利範圍第1項之光資訊記錄方痒> 其中， 前述依序變化雷射光相對光資訊記錄媒體的空ft位置關係 ，係藉由以既定步驟來改變爲對光資訊記錄媒體照射雷射 1 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS ) A4規格（2丨OX 297公釐） (請先閣讀背面之注意事項再填寫本頁) 訂 476930 A8 B8 C8 D8 六、申請專利範圍 合訊器的聚焦、傾斜、循跡中之至少一種伺服系統 的偏置來進行。 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 3'如申請專利範圍第1項之光資訊記錄方法，係根據 前述第1關係求出最適記錄功率，並將前述既定記錄功率 設定爲該所求出的最適記錄功率。 4、 如申請專利範圍第丨項之光資訊記錄方_，其中前 述全反射光量比，係檢測出第1全反射光量(來自比雷射光 點的點徑小的第1凹坑)及第2全反射光量(來自比雷射光 點的點徑大的第2凹坑），根據該第1全反射光量對第2全 反射光量的比來算出。 5、 如申請專利範圍第4項之光資訊記錄方法:，其中前 述第1凹坑是資訊記錄時所採用之最小長度的凹坑，前述 第2凹坑是資訊記錄時所採用的最大長度的凹坑。 6、 一種光資訊記錄方法，係根據由表示凹坑形成期間 的第1位準和表示凹坑不形成期間的第2位準所構成之數 位信號，在光資訊記錄媒體上照射既定直徑的雷射光點’ 以在該光資訊記錄媒體上形成長度對應於凹坑形成期間的 凹坑，其特徵在於： 經濟部智恶財/4局y (工消骨合作社印製 在記錄實際的資訊前，當進行記錄雷射光強度最適化 處理時，依序變化照射在光資訊記錄媒體上的雷射光之記 錄功率，以在該光資訊記錄媒體上進行第1記錄(記錄試驗 數據）； 固定記錄功率後’依序變化雷射光對應於光資訊記錄 媒體的空間位置關係’以在該光資訊記錄媒體上進彳了第2 2 本紙張尺度適用中國系@準（CNS ) A4規格（210X 297公釐) 476930 A8 B8 C8 D8 六、申請專利範圍 記錄(記錄試驗數據）； 當進行第1記錄時，針對各記錄功率’檢測出主要依 存於記錄功率的第1資訊、依存於記錄功率和空間位置關 係的第2資訊及不對稱値後，記憶住記錄功率和第1資訊 -的第1關係、記錄功率和第2資訊的第2關係、不對稱値 和記錄功率的關係； 並根據不對稱値和記錄功率的關係，求出能得到最適 不對稱値的最適記錄功率後記憶住，同時根據第1關係和 第2關係，記憶住對應於最適記錄功率的最適第1資訊及 最適第2資訊； 當進行第2記錄時，檢測出主要依存於空間位置關係 的第3資訊及不對稱値後，記憶住不對稱値和第3資訊的 關係； 根據進行第1記錄時所記憶的不對稱値和記錄功率的 關係、和進行第2記錄時所記憶的不對稱値和第2資訊的 關係，求出記錄功率和第3資訊的第3關係後記憶住’並 根據該第3關係，記憶住對應最適記錄功率的最適第3資 訊； 當記錄實際的資訊時，檢測出第1資訊及第2資訊及 第3資訊後， 求出該檢測出的第1資訊和最適第1資訊的第1差份 、第2資訊和最適第2資訊的第2差份、第3資訊和最適 第3資訊的第3差份； 當第3的差份是零、第1差份不是零時，根據所檢測 3 本紙張尺度適用中國國家標率（CNS ) A4規格（210X 297公釐） (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) #丨 訂 經濟部智慧財是局t貝工消費合作社印製 476930 A8 B8 C8 D8 _ 六、申請專利範圍 出的第1資訊和第1關係求出記錄功率，修正該記錄功率 以使第1的差份成爲零； 當第3差份不是零、第1差份是零時，根據所檢測出 的第1資訊和第3關係求出記錄功率，修正該記錄功率以 使第3差份成爲零； 當第3差份不是零、第1差份不是零、第2差份不是 零時，根據所檢測出的第2資訊和第2關係求出記錄功率 ，修正該記錄功率，以使第2的差份成爲零。 7、 如申請專利範圍第6項之光資訊記錄方法，其中， 前述依序變化雷射光相對光資訊記錄媒體的空間位置關係 ，係藉由以既定步驟來改變爲對光資訊記錄媒體照射雷射 光之光拾訊器的聚焦、傾斜、循跡中之至少一種伺服系統 的偏置來進行。 8、 如申請專利範圍第6項之光資訊記錄方妻，其中前 述第2記錄，是將記錄功率固定爲根據不對稱値和記錄功 率的關係所求得的最適記錄功率後，進行記錄。 9、 如申請專利範圍第6項之光資訊記錄方法，其中前 述第1資訊，是由比雷射光點的點徑大的凹坑之前端部的 反射光強度極大値和後端部的反射光強度平均値之差所構 成的差份光強度値。 10、 如申請專利範圍第9項之光資訊記錄方法，其中 前述比雷射光點的點徑大的凹坑是資訊記錄時所採用的最 大長度的凹坑。 11、 如申請專利範圍第6項之光資訊記錄方法，其中 4 木纸張尺度適用中國國家標準（CNS ) A4規格（21〇X 297公釐） (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 訂 經濟部智慧財是AΜ工消費合作社印製 476930 A8 B8 C8 D8 經濟部智慧財/I.局工消費合作社印製 六、申請專利範圍 前述第2資訊是差份光強度値和反射光量比的差所構成之 差分檢測値；該差份光強度値，是由比雷射光點的點徑大 之凹坑的前端部的反射光強度極大値和後端部的反射光強 度平均値的差所構成；該反射光量比，是來自比點徑小的 凹坑之全反射光量對來自比點徑大的凹坑之全反射光量的 12、 如申請專利範圍第11項之光資訊記錄仿法)，其 中前述比雷射光點的點徑大的凹坑是資訊記錄時所使用的 最大長度的凹坑； 比雷射光點的點徑小的凹坑是資訊記錄時所使用的最 小長度的凹坑。 13、 如申請專利範圍第6項之光資訊記錄方法’其中 前述第3資訊，是來自比雷射光點的點徑小的凹坑之全反 射光量對來自比雷射光點的點徑大的凹坑之全反射光量的 比所構成的反射光量比。 14、 如申請專利範圍第13項之光資訊記錄方法，其 中前述比雷射光點的點徑大的凹坑是資訊記錄時所使用的 最大長度的凹坑； 比雷射光點的點徑小的凹坑是資訊記錄時所使用的最 小長度的凹坑。 15、 一種光資訊記錄方法，根據由表示凹坑形成期間 的第1位準和表示凹坑不形成期間的第2位準所構構的數 位信號，在光資訊記錄媒體上照射既定直徑的雷射光點， 以在該光資訊記錄媒體上形成長度對應於凹坑形成期間的 5 __ 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS ) A4規格（210X 297公釐） (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 辦 476930 8 8 8 8 ABCD 經濟部智慈財是局貞工消費合作社印製 六、申請專利範圍 凹坑，其特徵爲具備： 桌1步驟，在記錄實際的資訊前，當進行記錄雷射光 強度最適化處理時，依序變化照射在光資訊記錄媒體上的 雷射光之記錄功率，以在該光資訊記錄媒體上記錄試驗數 據； 第2步驟，在第i步驟中，對應於記錄功率，檢測出 差份光強度値（由比雷射光點的光點徑大之凹坑的前端部之 反射光強度極大値和後端部之反射光強度平均値的差所構 成）、反射光量比（由來自比光點徑小的凹坑之全反射光量 對來自比光點徑大的凹坑之全反射光量的比所構成）及不對 稱値，並將差份光強度値和反射光量比的差當作差份檢測 値來算出； 第3步驟，根據第2步驟所檢測出的差份光強度値， 求出表示記錄功率和差份光強度値的關係之第1檢測式， 記億之； / 第4步驟，根據第2步驟所算出的差份檢測値，求出 表示記錄功率和差份檢測値的關係之第2檢測式，記憶之 第5步驟，根據第2步驟所檢測出的不對稱値，求出 表示不對稱値和記錄功率的關係之基準式，記憶之； 第6步驟，根據第5步驟所記憶的基準式，求出能得 到最適不對稱値的最適記錄功率，記億之； 第7步驟，根據第6步驟所求得的最適記錄功率和第 1檢測式，把最適記錄功率所對應的差份光強度値當作最 6 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 丁 衣紙張尺度適用中國國家標準·（ CNS > A4規格（210X297公釐） 476930 經濟部智慧財是局員工消費合作社印製 A8 B8 C8 D8 六、申請專利範圍 適差份光強度値，記憶之； 第8步驟，根據第6步驟所求得的最適記錄功率和第 2檢測式，把最適記錄功率所對應的差份檢測値當作最適 基準化差份檢測値，記憶之； 第9步驟，將記錄功率固定爲第6步驟所求得的最適 記錄功率後，以既定步驟來改變爲對光資訊記錄媒體照射 雷射光之光拾訊器的聚焦、傾斜、循跡中之至少一種伺服 系統的偏置，以在該光資訊記錄媒體上記錄試驗數據； 第10步驟，在第9步驟中，檢測出各偏置之反射光量 比及不對稱値； 第11步驟，根據第10步驟所檢測出的反射光量比及 不對稱値，求出不對稱値和反射光量比的關係式； 第12步驟，根據第11步驟所求得的關係式和第5步 驟所求得的基準式，求出表示記錄功率和反射光量比的關 係之第3檢測式，記憶之； 第13步驟，根據第6步驟所求得的最適記錄功率和第 3檢測式，將最適記錄功率所對應的反射光量比當作最適 反射光量比，記憶之； 第14步驟，當記錄實際的資訊時，檢測出差份光強度 値及反射光量比，並算出差份檢測値； 第15步驟，算出第14步驟所檢測出的差份光強度値 和最適差份光強度値的第1差份； 第16步驟，算出第14步驟所算出的差份檢測値和最 適基準化差份檢測値的第2差份； Ί 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS ) A4規格（210X 297公釐） (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁)
    經濟部智慧財是^Ja(工消費合作社印製 476930 B8 C8 D8 ________ 六、申請專利範圍 第17步驟，算出第14步驟所檢測出的反射光量比和 最適反射光量比的第3差份； 第18步驟，當第3差份是零、第1差份不是零時，根 據第14步驟所檢測出的差份光強度値和第1檢測式求出記 錄功率，修正記錄功率，以使第1差份成爲零； 第19步驟，當第3差份不是零、第1差份是零時，根 據第14步驟所檢測出的反射光量比和第3檢測式求出記錄 功率，修正記錄功率，以使第3差份成爲零；以及 第20步驟，當第3差份不是零、第1差份不是零、第 2差份不是零時，根據第14步驟所算出的差份檢測値和第 2檢測式求出記錄功率，修正記錄功率，以使第2差份成 爲零。 16、 如申請專利範圍第15項之光資訊記錄方法’其 中前述第1檢測式〜第3檢測式是分別由一次函數所構成。 17、 如申請專利範圍第15項之光資訊記錄方法，其 中前述比雷射光點的點徑大的凹坑是資訊記錄時所使用的 最大長度的凹坑； 比雷射光點的點徑小的凹坑是資訊記錄時所使用的最 小長度的凹坑。 18、 一種光資訊記錄裝置，係根據由表示凹坑形成期 間的第1位準和表示凹坑不形成期間的第2位準所構成的 數位信號，在光資訊記錄媒體上照射既定直徑的雷射光點 ，以在該光資訊記錄媒體上形成長度對應於凹坑形成期間 的凹坑，其特徵爲具備： 8 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁)
    木紙張尺度適用中國國家標準（CNS ) Μ規格（21〇X 297公釐） 476930 Α8 Β8 C8 D8 六、申請專利範圍 光拾訊器，在光資訊記錄媒體上照射雷射光，並接受 來自該光資訊記錄媒體的反射光後輸出受光信號； 雷射控制機構，用以控制光拾訊器所輸出的雷射光之 記錄功率， 伺服控制機構，用以控制光拾訊器的聚焦、循跡、傾 斜中之至少一種； 反射光量比檢測機構，係根據光拾訊器所輸出的受光 信號，把來自比雷射光點的點徑小之凹坑的全反射光量對 來自比前述光點徑大之凹坑的全反射量之比，當作反射光 量比來檢測出； 不對稱値檢測機構，係根據光拾訊器所輸出的受光信 號，檢測出該受光信號的不對稱値； 第1控制機構，當記錄實際的資訊前，藉由控制伺服 控制機構以依序變化照射光資訊記錄媒體的雷射光之記錄 功率，而在該光資訊記錄媒體上進行第1記錄，並藉由不 對稱檢測機構檢測出各記錄功率之不對稱値，以求出該不 對稱値和記錄功率的第1關係；其次，將記錄功率固定爲 既定記錄功率後，以既定的步驟依序變化光拾訊器的聚焦 、傾斜、循跡中至少一種的偏置，以在該光資訊記錄媒體 上進行第2記錄，並藉由不對稱檢測機構及反射光量比檢 測機構來檢測出各偏置之不對稱値及反射光量比，以求出 不對稱値和反射光量比的第2關係，且根據第1關係和第 2關係來求出記錄功率和反射光量比的第3關係，並求出 最適記錄功率所對應的最適反射光量比；以及 9 本紙張尺i適用中國國家標準（CNS ) Μ規格（210X29*7公釐) (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 、1Τ 經濟部智慧財是局員工消费合作社印繁 476930 A8 B8 C8 D8 六、申請專利範圍 第2控制機構，當記錄實際的資訊時，藉由反射光量 比檢測機構檢測反射光量比，根據第3關係求出該檢測的 反射光量比所對應的記錄功率，修正該記錄功率，以使該 檢測出的反射光量比和最適反射光量比的差份成爲零。 19、 如申請專利範圍第I8項之光資訊記錄裝屢>，其 中前述第1控制機構，是根據進行第1記錄時所求得的第 1關係求出最適記錄功率，用該所求得的最適記錄功率設 定第2記錄的既定記錄功率。 20、 如申請專利範圍第18項之光資訊記錄裝置，其 中前述反射光量比檢測機構係具備： 第1檢測電路，根據光拾訊器所輸出的受光信號，檢 測出來自比雷射光點的點徑小的第1凹坑之全反射光量； 第2檢測電路，根據光拾訊器所輸出的受光信號，檢 測出來自比雷射光點的點徑大的第2凹坑之全反射光量； 以及 除法電路，用以將第1檢測電路的檢測輸出除以第2 檢測電路的檢測輸出。 21、 如申請專利範圍第20項之光資訊記錄裝置，其 中前述第1凹坑，是資訊記錄時所使用的最小長度的凹坑 ，第2凹坑是資訊記錄時所使用的最大長度的凹坑。 22、 一種光資訊記錄裝置，係根據由表示凹坑形成期 間的第1位準和表示凹坑不形成期間的第2位準所構成的 數位信號，在光資訊記錄媒體上照射既定直徑的雷射光點 ，以在該光資訊記錄媒體上形成長度對應於凹坑形成期間 10 衣紙張尺度適用中國國家標準（CNS ) A4規格（210X 297公釐） (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 訂 經濟部智慧財是局a:工消骨合作社印製 476930 經濟部智总財是，工消骨合作社印製 A8 B8 C8 __ D8 六、申請專利範圍 的凹坑，其特徵爲具備： 光拾訊器，用以在光資訊記錄媒體上照射雷射光，並 接受來自該光資訊記錄媒體的反射光後輸出受光信號； 雷射控制機構，用以控制光拾訊器所輸出的雷射光之 記錄功率； 伺服控制機構，用以控制雷射光相對於光資訊記錄媒 體的空間位置關係； 資訊檢測機構，根據光拾訊器所輸出的受光信號，檢 測出主要依存於記錄功率的第1資訊、依存於記錄功率和 空間位置關係的第2資訊、主要依存於空間位置關係的第 3資訊； 不對稱檢測機構，根據光拾訊器所輸出的受光信號’ 檢測出該受光信號的不對稱値；以及 控制機構； 該控制機構係具備： 第1記錄控制機構，在記錄實際的資訊前，當進行記 錄雷射光強度最適化處理時，藉由控制雷射控制機構來依 序變化照射於光資訊記錄媒體的雷射光之記錄功率’以在 該光資訊記錄媒體上進行記錄試驗數據的第1記錄； 第2記錄控制機構，藉由控制雷射控制機構及伺服控 制機構來固定記錄功率後，依序變化雷射光相對光資訊記 錄媒體的空間位置關係，以在該光資訊記錄媒體上進行記 錄試驗數據的第2記錄； 第1記憶機構，當進行第1記錄時，針對各記錄功率 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 訂 線 本紙張尺度適用中國國家標率（CNS ) A4規格（210X 297公釐） 476930 8 8 8 8 ABCD 經濟部智慧財4^7¾工消費合作社印焚 六、申請專利範圍 ’根據資訊檢測機構的輸出來取得第1資訊及第2資訊， 並根據不對稱値檢測機構的輸出來取得不對稱値，以記憶 住記錄功率和第1資訊的第1關係、記錄功率和第2資訊 的第2關係、不對稱値和記錄功率的關係； 第2記憶機構，根據不對稱値和記錄功率的關係，求 出能得到最適不對稱値的最適記錄功率後記憶之，並根據 第1關係及第2關係，記錄最適記錄功率所對應的最適第 1資訊及最適第2資訊； 第3記憶機構，當進行第2記錄時，根據資訊檢測機 構的輸出取得第3資訊，並根據不對稱値檢測機構的輸出 取得不對稱値，記憶住不對稱値和第3資訊的關係； 第4記憶機構，根據第1記錄時所記憶的不對稱値和 記錄功率的關係、和第2記錄時所記憶的不對稱値和第2 資訊的關係，求出記錄功率和第3資訊的第3關係後記憶 之，並根據該第3關係記憶住最適記錄功率所對應的最適 第3資訊；以及 修正機構，當記錄實際的資訊時，根據資訊檢測機構 的輸出檢測出第1資訊、第2資訊及第3資訊，求出該檢 測出的第1資訊和最適第1資訊的第1差份、第2資訊和 最適第2資訊的第2差份、第3資訊和最適第3資訊的第 3差份，當第3差份是零、第1差份不晏零時’根據檢測 出的第1資訊及第1關係求出記錄功率’修正該記錄 以使第1差份成爲零，當第3差份不是零、第1差份是零 時，根據檢測出的第3資訊及第3關係求出記錄功率’修 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁)
    本紙張尺度適用中國國家標準（CNS ) A4規格（210X297公釐） 476930 A8 B8 C8 _ D8 六、申請專利範圍 正該記錄功率以使第3差份成爲零，當第3差份不是零、 第1差份不是零、第2差份不是零時，根據檢測出的第2 資訊及第2關係求出記錄功率，修正該記錄功率以使第2 差份成爲零。 23、 如申請專利範圍第22項之光資訊記錄裝置）其 中前述伺服控制機構係具備光拾訊器的聚焦伺服系統、傾 斜伺服系統、循跡伺服系統； 前述第2記錄時之空間位置關係的依序變化，係用既 定步驟變化伺服控制機構的聚焦伺服系統、傾斜伺服系統 、循跡伺服系統中至少一種的偏置來進行。 24、 如申請專利範圍第22項之光資訊記錄裝置，其 中前述第2記錄，係將記錄功率固定爲根據不對稱値和記 錄功率的關係所求得的最適記錄功率後，進行記錄。 25、 如申請專利範圍第22項之光資訊記錄裝置，其 中前述第1資訊，是由比雷射光點的點徑大的凹坑之前端 部的反射光強度極大値和後端部的反射光強度平均値的差 所構成之差份光強度値。 26、 如申請專利範圍第25項之光資訊記錄裝置，其 中前述比雷射光點的點徑大的凹坑是資訊記錄時所使用的 最大長度的凹坑。 27、 如申請專利範圍第22項之光資訊記錄裝置，其 中前述第2資訊，是由差份光強度値（由比雷射光點的點徑 大的凹坑之前端部的反射光強度極大値和後端部的反射光 強度平均値的差所構成）、和反射光量比（由來自比點徑小 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS ) Μ規格（210X 297公釐） (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) -. 、IT. 經濟部智慧財是局Μ工消骨合作社印繁 476930 A8 B8 C8 D8 六、申請專利範圍 的凹坑的全反射光量對來自比點徑大的凹坑的全反射 光量的比所構成)的差所構成的差份檢測値。 28、 如申請專利範圍第27項之光資訊記錄裝置，其 中前述比雷射光點的點徑大的凹坑是資訊記錄時所使用的 、最大長度的凹坑，比雷射光點的點徑小的凹坑是資訊記錄 時所使用的最小長度的凹坑。 29、 如申請專利範圍第22項之光資訊記錄裝置，其 咖中前述第3資訊，是由來自比點徑小的凹坑之全反射光量
    對來自比點徑大的凹坑之全反射光量的比所構成反射光量 30、 如申請專利範圍第29項之光資訊記錄裝置，其 中前述比雷射光點的點徑大的凹坑是資訊記錄時所使用的 最大長度的凹坑，比雷射光點的點徑小的凹坑是資訊記錄 時所使用的最小長度的凹坑。 31、 一種光資訊記錄裝置，係根據由表示凹坑形成期 間的第1位準和表示凹坑不形成期間的第2位準所構成的 I 經濟部智慧財產局員工消費合作社印别π (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 數位信號，在光資訊記錄媒體上照射既定直徑的雷射光點 ，以在該光資訊記錄媒體上形成長度對應於凹坑形成期間 的凹坑，其特徵爲具備： 光拾訊器，用以在光資訊記錄媒體上照射雷射光，並 接受來自該光資訊記錄媒體的反射光後輸出受光信號； 雷射控制機構，用以控制光拾訊器所輸出的雷射光之 記錄功率； 伺服控制機構，用以控制光拾訊器的聚焦、循跡、傾 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS)A4規格（210 X 297公釐） 476930 8 8 8 8 ABCD 經濟部智慧財/i^M工消費合作钍印製 六、申請專利範圍 斜中之至少一種； 差份光強度値檢測機構’用以檢測差份先強度値（由比 雷射光點的點徑大的凹坑之前端部的反射光強度極大値和 後端部的反射光強度平均値的差所構成）； 反射光量比檢測機構’根據光拾訊器所輸出的受光信 號，把來自比雷射光點的點徑小的凹坑之全反射光量對來 自比點徑大的凹坑之全反射光量的比’當作反射光量比來 檢測； 不對稱値檢測機構，根據光拾訊器所輸出的受光信號 來檢測出該受光信號的不對稱値；以及 控制機構； 該控制機構係具備： 第1記錄控制機構，在記錄實際的資訊前，當進行記 錄雷射光強度最適化處理時，藉由控制雷射控制機構來依 序變化照射在光資訊記錄媒體上的雷射光之記錄功率，以 在該光資訊記錄媒體上記錄試驗數據； 第1取得機構，當利用第1記錄控制機構進行記錄時 ，對應記錄功率，取得來自差份強度値檢測機構之差份強 度値、來自反射光量比檢測機構之反射光量比、來自不對 稱値檢測機構之不對稱値，並把差份光強度値和反射光量 比的差當作差份檢測値來算出； 第1處理機構，根據第1取得機構所取得的差份光強 度値，求出表示記錄功率和差份光強度値的關係之第1檢 測式，記憶之； 15 本紙悵尺度適用中國國家標準（CNS ) A4規格（210X297公釐） (請先閲讀背面之注意事項再填寫本貢) 476930 A8 B8 C8 D8 ------------ -..... ..—------ 六、申請專利範圍 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 第2處理機構，根據第1取得機構所算出的差份檢測 値’求出表示記錄功率和差份檢測値的關係之第2檢測式 ，記憶之； 第3處理機構，根據第1取得機構所取得的不對稱値 ’求出表示不對稱値和記錄功率的關係之基準式，記憶之 $ 第4處理機構，根據第3處理機構所記憶的基準式， 求出得到最適不對稱値的最適記錄功率，記憶之； 第5處理機構，根據第4處理機構所求得的最適記錄 功率和第1檢測式，把最適記錄功率所對應的差份光強度 値當作最適差份光強度値，記憶之； 第6處理機構，根據第4處理機構所求得的最適記錄 功率和第2檢測式，把最適記錄功率所對應的差份檢測値 當作最適基準化差份檢測値，記憶之； 經濟部智慧財是局Μ工消f合作社印製 第2記錄控制機構，藉由控制雷射控制機構及伺服控 制機構，將記錄功率固定爲第4記錄機構所求得的最適記 錄功率，用既定步驟依序變化爲對光資訊記錄媒體照射雷 射光的光拾訊器之聚焦、傾斜、循跡中之至少一種伺服系 統的偏置，以在該光資訊記錄媒體上記錄試驗數據； 第2取得機構，當利用第2記錄控制機構進行記錄時 ，針對各偏置，取得來自反射光量比檢測機構之反射光量 比，並取得來自不對稱値檢測機構之不對稱値； 第7 處理機構，根據第2取得機構所取得的反射光 量比及不對稱値，求出不對稱値和反射光量比的關係式； 16 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS ) A4規格（210X 297公釐） 476930 A8 B8 C8 D8 經^部智-'")財^^^3>工"%^合作社^7 六、申請專利範圍 第8處理機構，根據第7處理機構所求得的關係式和 第3處理機構所求得的基準式，求出表示記錄功率和反射 光量比的關係之第3檢測式，記憶之； 第9處理機構，根據第4處理機構所求得的最適記錄 功率和第3檢測式，把最適記錄功率所對應的反射光量比 當作最適反射光量比，記億之； 第3取得機構，當記錄實際的資訊時，取得來自差份 光強度値檢測機構的差份光強度値’並取得來自反射光量 檢測機構的反射光量比，把差份光強度値和反射光量比的 差當怍差份檢測値來算出； 第10處理機構，算出第3取得機構所取得的差份光強 度値和最適差份光量強度値的第1差份： 第11處理機構，算出第3取得機構所算出的差份光檢 測値和最適基準化差份檢測値的第2差份； 第12處理機構，算出第3的取得機構所取得的反射光 量比和最適反射光量比的第3差份； 第1修正機構，當第3差份是零、第1差份不是零時 ，根據第3取得機構所取得的差份光強度値和第1檢測式 ，求出記錄功率，修正該記錄功率以使第1差份成爲零； 第2修正機構，當第3差份不是零、第1差份是零時 ，根據第3取得機構所取得反射光量比和第3檢測式’求 出記錄功率，修正該記錄功率以使第3差份成爲零；以及 第3修正機構，當第3差份不是零、第1差份不是零 、第2差份不是零時，根據第3取得機構所算出的差份檢 17 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS ) A4規格（2丨〇><297公釐） (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁)
    476930 A8 B8 C8 D8 經濟部智慧財/4^73工消費合作社卬货 六、申請專利範圍 測値和第2檢測式，求出記錄功率，修正該記錄功率以使 第2差份成爲零。 32、 如申請專利範圍第31項之光資訊記錄裝置，其 中第1檢測式〜第3檢測式是分別由一次函數所構成。 33、 如申請專利範圍第31項之光資訊記錄裝置，其 中前述差份光強度値檢測機構，係具備： 檢測電路，根據光拾訊器所輸出的受光信號，檢測來 自比雷射光點的點徑大的凹坑之受光信號； 峰値檢測電路，根據檢測電路的輸出，檢測比雷射光 點的點徑大的凹坑之前端部的反射光強度極大値； 取樣保持電路，根據檢測電路的輸出，求出比雷射光 點的點徑大的凹坑之後端部的反射光強度平均値；以及 減法電路，求出峰値檢測電路的輸出和取樣保持電路 的輸出的差値。 34、 如申請專利範圍第33項之光資訊記錄裝置，其 中前述比雷射光點的點徑大的凹坑是資訊記錄時所使用的 最大長度的凹坑。 35、 如申請專利範圍第31項之光資訊記錄裝置，其 中前述反射光量比檢測機構，係具備： 第1檢測電路，根據光拾訊器所輸出的受光信號，檢 測來自比雷射光點的點徑小的第1凹坑之全反射光量； 第2檢測電路，根據光拾訊器所輸出的受光信號，檢 測來自比雷射光點的點徑大的第2凹坑之全反射光量；以 及 18 張尺度適用中國國家標準（CNS ) A4規格（210X297公釐） "" " (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁)
    476930 A8 B8 C8 D8 經濟部智慧財/iA員工消費合作社印製 六、申請專利範圍 除法電路，用以將第1檢測機構的檢測輸出除以第2 檢測機構的檢測輸出。 36、 如申請專利範圍第35項之光資訊記錄裝置’其 中前述第1凹坑是資訊記錄時所使用的最小長度的凹坑’ 第2凹坑是資訊記錄時所使用的最大長度的凹坑。 37、 一^種記錄著光資訊錄控制程式之#錄媒體’其 所記錄的控制程式，能藉由電腦的處理，以根據表示凹坑 形成期間的第1位準和表示凹坑不形成期間的第2位準所 構成的數位信號，在光資訊記錄媒體上照射既定直徑的雷 射光點，而在該光資訊記錄媒體上形成長度對應於凹坑形 成期間的凹坑，其特徵在於： 在記錄實際的資訊前，依序變化照射光資訊記錄媒體 的雷射光之記錄功率，以在該光資訊記錄媒體上進行記錄 ，並針對各記錄功率檢測不對稱値，求出不對稱値和記錄 功率的第1關係； 其次，將記錄功率固定爲既定記錄功率，依序變化雷 射光相對光資訊記錄媒體的空間位置關係，以在該光資訊 記錄媒體上進行記錄，並針對各空間位置關係檢測不對稱 値及不同長度凹坑的反射光量比，求出不對稱値和反射光 量比的第2關係； 而且，根據第1關係和第2關係來求出記錄功率和反 射光量比的第3關係，並求出最適記錄功率所對應的最適 反射光量比； 當記錄貫際的資訊時，藉由檢測反射光量比，以根據 19 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 、言 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS ) A4規格（210X297公釐） 經濟部智慧財是局員工消骨合作社卬製 476930 A8 B8 C8 D8 _ 六、申請專利範圍 第3關係求出該檢測的反射光量比所對應之記錄功率，修 正該記錄功率以使該檢測的反射光量比和最適反射光量比 的差份成爲零。 38、一種記錄著光資訊記錄控制程式之記錄媒體，其 所記錄的控制程式，能藉由電腦的處理，以根據表示凹坑 形成期間的第1位準和表示凹坑不形成期間的第2位準所 構成的數位信號，在光資訊記錄媒體上照射既定直徑的雷 射光點，而在該光資訊記錄媒體上形成長度對應於凹坑形 成期間的凹坑，其特徵在於： 在記錄實際的資訊前，當進行記錄雷射光強度最適化 處理時，依序變化照射光資訊記錄媒體的雷射光之記錄功 率，以對該光資訊記錄媒體進行記錄試驗數據的第1記錄 固定記錄功率後，依序變化雷射光相對光資訊記錄媒 體的空間位置關係，以對該光資訊記錄媒體進行記錄試驗 數據的第2記錄； 當進行第1記錄時，針對各記錄功率’檢測主要依存 於記錄功率的第1資訊、依存於記錄功率和空間位置關係 的第2資訊、不對稱値，記億住記錄功率和第1資訊的第 1關係、記錄功率和第2資訊的第2關係、不對稱値和記 錄功率的關係； 根據不對稱値和記錄功率的關係，求得最適不對稱値 所能得到的最適記錄功率後記憶之’根據第1關係及第2 關係，記憶住最適記錄功率所對應的最適第1資訊及最適 20 衣紙張尺度適用中國國家標準（CNS ) A4規格（210X297公釐） (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁)
    經濟部智总財4局員工消費合作社印製 476930 A8 B8 C8 D8 六、申請專利範圍 第2資訊； 當進行第2記錄時，檢測出主要依存於空間位置關係 的第3資訊及不對稱値，記憶住不對稱値和第3資訊的關 係； 根據進行第1記錄時所記憶之不對稱値和記錄功率的 關係、和進行第2記錄時所記憶之不對稱値和第2資訊的 關係，求出記錄功率和第3資訊的第3關係後記憶之，並 根據該第3關係，記憶住最適記錄功率所對應的最適第3 資訊； 當記錄實際的資訊時，檢測出第1資訊及第2資訊及 第3資訊； 求出該檢測出的第1資訊和最適第1資訊的第1差份 、第2資訊和最適第2資訊的第2差份、第3資訊和最適 第3資訊的第3差份； 當第3差份是零、第1差份不是零時，根據所檢測的 第1資訊和第1關係求出記錄功率，修正該記錄功率以使 第1差份成爲零； 當第3差份不是零、第1差份是零時，根據所檢測的 第3資訊和第3關係求出記錄功率，修正該記錄功率以使 第3差份成爲零； 當第3差份不是零、第1差份不是零、第2差份不是 零時，根據所檢測的第2資訊和第2關係求出記錄功率， 修正該記錄功率以使第2差份成爲零。 39、一種記錄著光資訊記錄控制程式之記錄媒體，其 21 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS ) A4規格（210X 297公釐） ~ (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁)
    476930 8 8 8 8 ABCD 六、申請專利範圍 所記錄的控制程式，能藉由電腦的處理，以根據表示凹坑 形成期間的第1位準和表示凹坑不形成期間的第2位準所 構成的數位信號，在光資訊記錄媒體上照射既定直徑的雷 射光點，而在該光資訊記錄媒體上形成長度對應於凹坑形 成期間的凹坑，其特徵爲具備： 第1步驟，在記錄實際的資訊前，當進行記錄雷射光 強度最適化處理時，依序變化照射在光資訊記錄媒體上的 雷射光之記錄功率，以在該光資訊記錄媒體上記錄試驗數 據； 第2步驟，在第1步驟中，對應於記錄功率，檢測出 差份光強度値（由比雷射光點的光點徑大之凹坑的前端部之 反射光強度極大値和後端部之反射光強度平均値的差所構 成）、反射光量比（由來自比光點徑小的凹坑之全反射光量 對來自比光點徑大的凹坑之全反射光量的比所構成)及不對 稱値，並將差份光強度値和反射光量比的差當作差份檢測 値來算出； 第3步驟，根據第2步驟所檢測出的差份光強度値， 求出表示記錄功率和差份光強度値的關係之第1檢測式， 記憶之； 第4步驟，根據第2步驟所算出的差份檢測値，求出 表示記錄功率和差份檢測値的關係之第2檢測式，記憶之 j 第5步驟，根據第2步驟所檢測出的不對稱値，求出 表示不對稱値和記錄功率的關係之基準式，記憶之； 22 木紙張尺度適用中國國家標準（CNS ) A4規格（210X 297公釐） (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 訂 線 經濟部智总財是AP、工消費合作社印製 476930 A8 B8 C8 D8 六、申請專利範圍 第6步驟，根據第5步驟所記憶的基準式’求出能得 到最適不對稱値的最適記錄功率’ S隱之’ 第7步驟，根據第6步驟所求得的最適記錄功率和第 1檢測式，把最適記錄功率所對應的差份光強度値當作最 適差份光強度値，記憶之； 第8步驟，根據第6步驟所求得的最適記錄功率和第 2檢測式，把最適記錄功率所對應的差份檢測値當作最適 基準化差份檢測値，記憶之； 第9步驟，將記錄功率固定爲第6步·驟所求得的最適 記錄功率後，以既定步驟來改變爲對光資訊記錄媒體照射 雷射光之光拾訊器的聚焦、傾斜、循跡中之至少一種伺服 系統的偏置，以在該光資訊記錄媒體上記錄試驗數據； 第10步驟，在第9步驟中’檢測出各偏置之反射光量 比及不對稱値； 第11步驟，根據第ίο步驟所檢測出的反射光量比及 不對稱値，求出不對稱値和反射光量比的關係式； 第12步驟，根據第11步驟所求得的關係式和第5步 驟所求得的基準式，求出表示記錄功率和反射光量比的關 係之第3檢測式，記憶之； 第13步驟，根據第6步驟所求得的最適記錄功率和第 3檢測式，將最適記錄功率所對應的反射光量比當作最適 反射光量比，記憶之； 第14步驟，當記錄實際的資訊時，檢測出差份光強度 値及反射光量比，並算出差份檢測値； 23 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS ) A4規格（210X29*7公釐） (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 訂 經濟部智慧財/ΐ局a;工消費合作社印製 476930 A8 B8 C8 __ D8 六、申請專利範圍 第15步驟，算出第14步驟所檢測出的差份光強度値 和最適差份光強度値的第1差份； 第16步驟，算出第14步驟所算出的差份檢測値和最 適基準化差份檢測値的第2差份； 第17步驟，算出第14步驟所檢測出的反射光量比和 最適反射光量比的第3差份； 第18步驟，當第3差份是零、第1差份不是零時，根 據第14步驟所檢測出的差份光強度値和第1檢測式求出記 錄功率，修正記錄功率，以使第1差份成爲零； 第19步驟，當第3差份不是零、第1差份是零時，根 據第14步驟所檢測出的反射光量比和第3檢測式求出記錄 功率，修正記錄功率，以使第3差份成爲零；以及 第20步驟，當第3差份不是零、第1差份不是零、第 2差份不是零時，根據第14步驟所算出的差份檢測値和第 2檢測式求出記錄功率，修正記錄功率，以使第2差份成 爲零。 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本I) 、1T. 線 經濟部智慧財是局員工消費合作社印製 24 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS ) A4規格（210X297公釐）
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