TW462058B - Latch type sense amplifier circuit - Google Patents

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TW462058B
TW462058B TW089102569A TW89102569A TW462058B TW 462058 B TW462058 B TW 462058B TW 089102569 A TW089102569 A TW 089102569A TW 89102569 A TW89102569 A TW 89102569A TW 462058 B TW462058 B TW 462058B
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TW
Taiwan
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gate
output signal
transistors
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TW089102569A
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English (en)
Inventor
Kouichi Kumagai
Hiroaki Iwaki
Original Assignee
Nippon Electric Co
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Description

4 6205 8 發明說明 【發明之背景】
力& i發明係關於一種適合以低電源電壓運作之靜態隨機 二典】隐體之閂鎖型感測放大器電路,尤有關—種較不易 ;又|路疋件之特性影響而變化之閂鎖型感測放大器電 般而& ’電流鏡型感測放大器電路係使用於一種包 含靜態隨機存取記憶體(以下稱別人趵之習知半導體積體電 路中。電流鏡型感測放大器可穩定地運作,但是其功率消 耗大’且此種電路之特性’在以低電源電壓運作之情況下 具有其困難度。因此,近年來,因為攜帶式裝置漸漸普 及’所以降低功率消耗之需求增加,特別是需要一種能以 低電源電壓運作之感測放大器電路。 為符合此種需求,已提出一種能以低電源電壓作高速 運作之閂鎖型感測放大器電路。圖1顯示一種習知之問鎖 型感測放大器電路之電路圖。 於習知之閂鎖型感測放大器電路中,一閂鎖電路包含 兩個Ρ通道M0S電晶體ΜΡ11與ΜΡ12與兩個Ν通道M0S電晶體 ΜΝ11與ΜΝ12。兩個Ρ通道M0S電晶體ΜΡ11與ΜΡ12和兩個Ν通 道M0S電晶體ΜΝ11與012 ’係設計成使其電晶體特性彼此 相同’用以增加感測運作之速度。具體而言,兩個Ρ通道 M0S電晶體ΜΡ11與ΜΡ12之閘極長度與閘極寬度,與兩個|^通 111 I麵 第5頁 462058 五、發明說明(2) 一 道M0S電晶體ΜΝΐι與MN12之閘極長度與問極寬度係設定 成彼此相等。由問鎖電路所構成之兩個反相電路之邏輯閾 值係設定成彼此相等。 又’於習知之閂鎖型感測放大器電路中,設有一 P通 道M0S電晶體MP13,其係連接於從—記憶體單元讀取之信 號D所傳輸到的位元線與電晶體Μρι】與〇1丨之汲極之間。 在習知之閂鎖型感測放大器電路中,設有一p通道M〇s電晶 體MP14 ’其係連接於從一記憶體單元讀取之信號⑽所傳輸 到的位元線與電晶體心12與〇12之汲極之間。又,設有一 N通道M0S電晶體MN13,其係連接於一接地端與電晶體⑽" 與MN1 2之源極之間。依此方式,於習知之閂鎖型感測放大 器電路中,一閂鎖電路係為一組位元線而設置。 於由此構成之習知閂鎖型感測放大器電路中,電晶體 MP13與MP14之0N與OFF係由一感測放大器啟動信號SAE所切 換’藉以控制此電路之運作。此電路可利用該對位元線(D 與DB)間之相當小的電位差,高速地感測資料。 另一方面’因為未來之裝置之小尺寸傾向與製程技術 之成長’故存在有下列傾向:降低電源電壓;降低待使用 之M0S電晶體之閾值電壓值之絕對值;以及增加〇FF電流。 又,如果M0S電晶體之特性之變化大,則在字元線升高 後’於該對位元線(D與DB)之電位之變化,係主要取決於 連接至非選擇的字元線之SRAM單元中之電晶體之OFF狀態 之漏電流特性。亦即,包含於字元線之升高之後所顯現之 該對位元線(D與DB)間的電位差的雜訊率會增加。因此, 462〇5 8 -------- 五、發明說明(3) ~ ' 須判斷在顯現於感測時之該對位元線(D與DB)間 是是否顯著。 習知技術已經提出了 ·-種RAM之感測放大器電路,其 含一對問鎖電路(日本特開平第9_22597號公報)。說明 _此公告之感測放大器電路係設有:兩個閃鎖電路/對於 鉬^電壓具有不同之讀取速度;與—電路’用以取出從問 路輸出之信號之OR邏輯值。一位元線之信號係被輸入 其^ 一個閂鎖電路之N通道M0S電晶體的閘極,而一位元 :之信號係被輸入至另一個閂鎖電路之p通道M〇s電晶體的 閘極。
於依此方式構成之習知感測放大器電路,即使當電源 電整改變時,亦可用以執行高速讀出動作D 然而’在具有一閂鎖電路之習知之感測放大器電路與 ^明於日本特開平第9-22597號公報之感測放大器電路兩 中’存在有電路易受元件之特性變化所影響的問題。 *又 $知之感測放大器電路並未具有用以判斷在該對 顯著的位元線間之電位差之正常偵測是否已完成的裝置, 而且此等電路並未具有用以偵測讀取錯誤之功能。因此, 存在有此等電路並未具有當在該對位元線間之電位差不足 時’用以傳送重新感測需求之裝置的問題。 【發明概要】 本發明之一個目的係提供一種閂鎖型感測放大器電 路’其能較不易於受元件特性變化所影響,並能偵測在當
462058 五、發明說明(4) --------- 導致這種狀況時,在一對彳立— 依據本發明之一個f A = f間之電位差係為不足。 電路,包含:第一與第_ „ & 種閂鎖型感測放大器 ^ 一'門鎖電路^ 备 位差等於或大於一預定盔蚀ndt 崎’田一位元線對間之電 出相同的輸出信號,而當才 與第一鬥鎖電路輸 預定數值時,該第一與笛二位兀線對間之該電位差小該 號:以及一比較結果信=鎖電路輸出不同的輸出信 該第一與第二閂鎖電路作 電路,用以將該輸出信號和 果的信號。 乂 ’並與輸出一個代表比較結 於本發明中 係從第一與第二閂鎖電路輸π;::差而定之信號 號’係從比較結果信號產生ί二:表ί比較結果的信 可判斷位元線對間的電位差是^ 。 t,藉由此信號 it笛可能基於此信號,在系統侧重新執行價測。又,因 1由第-肖第二問鎖電路所構成之元件之特性不需一致 所以感測放大器電路較不易於受元件特性影響而變 化。 【較佳實施例之說明】 本發明之實施例之閂鎖型感測放大器電路將於以下參 考附圖而詳細說明。圖2係為顯示依本發明第—實施例之 問鎖型感測放大器電路之構造之電路圖。 — 第―實施例包含:兩個閂鎖電路3與4 ’連接至一對位 元線;與一感測完成信號產生電路5,用以從這些電路3與
4 ο 5 8 五、發明說明(5) 4產生與輸出信號有關聯之一感測完成信號。於本發明 中’感測完成信號產生電路5係對應至一比較結果信號產 生電路。 閂鎖電路3包含兩個Ρ通道MOS電晶體ΜΡ1與ΜΡ2,與兩 個Ν通道MOS電晶體ΜΝ1與ΜΝ2。電晶體ΜΡ1之閾值電壓 之絕對值,係設定成電晶體ΜΡ2之閾值電壓(Vt)之絕對 值’而電晶體MN2之Vt係設定成高於電晶體MN1之Vt。於電 晶體MN1與MN2中之閘極長度與閘極寬度,與於電晶體Mpj 與MP2中之閘極長度與閘極寬度係設定成彼此相等。亦 即,對於由閂鎖電路所構成之兩個反相電路,位於圖2左 側之其中一個包含電晶體MN1與MP1之反相電路之邏輯閣 值’係設定成低位於圖2右側之另一個包含電晶體龍2與 MP 2之反相電路之邏輯閾值。 又,設置有一P通道MOS電晶體MP3,連接於從一記憶 體單元讀取之信號D所傳輸到之位元線與電晶體MP1與MN1 之汲極之間。更設置有一P通道MOS電晶體MP4,連接於從 一記憶體單元讀取之信號DB所傳輸到之位元線與電晶體 MP2與MN2之汲極之間。在閂鎖電路3與位元線間的連接係 由電晶體MP3與MP4所控制。又’更設有一N通道MOS電晶體 MN3 ’連接於一接地端與電晶體MN1與MN2之源極之間。閂 鎖電路3之ΟΝ/OFF係由此電晶體MN3所控制。
一感測放大器啟動信號SAE所傳輸到之一信號線,係 連接至電晶體MP3,MP4與MN3之閘極。一輸出信號out係從 電晶體MP3與電晶體MP1與MN1之間輸出,而為輸出信號OUT
462058 五、發明說明(6) 之互補信號之一輸出信號0UTB,係從電晶體MP4與電晶體 MP2與MN2之間輸出。 電晶體Μ N 3之源極係連接至一接地端1,而電晶體肝1 與Μ Ρ 2之源極係連接至一電源2。 藉由依此方式構造閂鎖電路3,相較於升高一低輸出 信號OUT之情況下,可以以在位元線(d,db)之間之較小的 電位差獲得低輸出信號OUT。 另一方面,閂鎖電路4包含兩個P通道M0S電晶體MP5與 MP6 ’和兩個N通道M0S電晶體MN4與MN5。電晶體MP6之閾值 電壓(Vt)之絕對值係設定成高於電晶體MP5,而電晶體MN4 之Vt係設定成高於電晶體MN5。電晶體MN4與MN5中之閘極 長度與閘極寬度和電晶體MP5與MP6中之閘極長度與閘極寬 度設定成彼此相等。亦即,對於由閂鎖電路所構成之兩個 反相電路而言’位於圖2左側之其中一個包含電晶體MN4與 MP5之反相電路之邏輯閾值,係設定成高於位於圖2右側之 另一個包含電晶體MN 5與MP 6之反相電路之邏輯閾值。 又,設有一P通道M0S電晶體MP7,連接於信號D所傳輸 到之位元線與電晶體Μ P 5與Μ N 4之汲極之間。更設有一 p通 道M0S電晶體ΜΡ8,連接於信號DB所傳輸到之位元線與電晶 體ΜΡ6與ΜΝ5之汲極之間。在閂鎖電路4與位元線間的連 接’係由電晶體ΜΡ7與ΜΡ8所控制。又,設有一 ν通道M0S電 晶體ΜΝ6 ’連接於一接地端與電晶體ΜΝ4與ΜΝ5之源極之 間。閂鎖電路4之0N/0FF係由此電晶體〇6所控制。 感測放大器啟動信號SAE所傳輸到之信號線,係連接
第10頁 4 62 0 5 8
至電晶體MP7,MP8與MN6之閘極。一輸出信號N〇1係從電晶 體MP7與電晶體MP5與MN4之間輸出,而為輸出信號N〇1之互 補信號之一輸出信號N02,係從電晶體Mp8與電晶體Mp6與 Μ N 5之間輸出。 電晶體ΜΝ6之源極係連接至一接地端1,而電晶體犯^ 與ΜΡ6之源極係連接至一電源2。 藉由依此方式構造閂鎖電路4,相較於降低一高輸出 信號Ν01之情況下,可以以在位元線(D,DB)間之較小電位 差獲得一高輸出信號NO 1。 依此方式,該對位元線之信號D與卯係被輸入至閂鎖 電路3與4,而輸出信號0UT與〇υτβ和輸出信號N〇1與N〇2之 互補信號,係從各閂鎖電路3與4輸出。來自閂鎖電路3之 輸出信號OUT與0UTB係亦被輸出至外部。 又’感測完成信號產生電路5係設有一互斥閘
EjORl,用以執行輸出信號〇υτ與輸出信號N〇2之互斥⑽運 算。感測完成信號產生電路5設有一互斥〇R閘以⑽〗,用以 進行輸出k號0UTB與輸出信號NOi之一互斥運算。又, 設有一AND閘AND1,用以執行互斥01?閘以〇1^與£^〇1^之輸 士信號之一AND運算。AND閘AND1之輸出信號變成感測完成 信號S_END。於感測完成信號產生電路5中,在感測放大器 啟動k號SAE變高與感測運作啟動之後,輸出信號out與 N02之一互斥〇R信號會被產生,並產生輸出信號〇UTB與Ν〇ι 之一互斥OR信號。然後,其AND值係被輸出作為一感測完 成信號S_END。
第11頁 4β2〇5 B 五、發明說明(8) 因此’在感測運作開始之後,當於輸出信號〇ϋτ與輸 出信號Ν01之組合和輸出信號〇UTB與輸出信號Ν〇2之組合獲 得相同數值時,感測完成信號^;^^變高。然後,代表感 測,成之信號係被傳輸至一系統。另一方面,如果於輸出 仏號OUT與輸出信號Ν01之組合和輸出信號〇UTB與輸出信號 N02之組合獲得不同數值,則感測完成信號s —END維持於低 值’且並未被改變。因此,於此情況下,代表感測完成之 信號並未被傳輪至此系統。 其次將說明應用上述方式建構之閂鎖型感測放大器電 路之一記憶體單元陣列。亦即’將說明用以產生信號D與 DB之電路。圖3係為顯示應用依本發明第一實施例之閂鎖 型感測放大器電路之一記憶體單元陣列之構造之方塊圖。 記憶體單元陣列設有複數之記憶體單元,以每個位元 為ra行與η列(m = 2k,k與η是自然數)的方式構成。設置於此 記憶體單元陣列中之Μ組位元線對,係連接至一預充電電 路7與一行選擇器電路8。信號D與DB係從行選擇器電路8輸 出。 信號DO,DB0,Dl,DB1,· · · ,D(m-2), ’D(m-l)與DB(m-l)係被傳輸至m組位元線。一字 元線係連接至每一列,而信號tfLO,WL1,· · ·ΐ^(η-2) 與WL(n-l )係傳輸至η條字元線。舉例而言,位於從左起算 之第一列與從上起算之第一行之SRAM單元6,係為一單一 埠.,其包含兩個負載P通道M0S電晶體MPC1與MPC2和四個N 通道M0S電晶體MNC1至MNC4。其餘的(mxn-Ι)個記憶體單元
第12頁 4 62 05 8 五、發明說明(9) 亦具有相同的構造。 於依此方式構造之記憶體單元陣列中,當一時鐘脈衝 信號CLK為低料’ m組位元線對係藉由預充電電路7而預 充電至一電源電位。然後,m組位元線對之其中一組係由 行選擇器電路8選擇,而且選擇的信號係從行選擇器電㈣ 輸出以作為信號D與DB,其中,行選擇器電路8係使用 選擇信號COLS作為選擇信號。 SRAM單元之構造並未受限於單一埠,而本發明可應用 至即使當SRAM單元係形成為一電阻負載型式單元或一 構造的狀態。 / π 接著,將本發明應用至上述記憶體單元陣列之第一實 施例之運作將說明於下。圖4係為顯示依本發明第一實施 例之閂鎖型感測放大器電路之運作之時序圖d Sram電路係 與時鐘脈衝彳§號CLK同步,而圖4顯示對應於四個週期的時 鐘脈衝信號CLK之不同的運作。 ’ 在一第一時鐘脈衝週期期間’在時鐘脈衝信號“尺上 升之後,字元線WL0至WL(n-1)之其中一個被選擇並上升, 儲存” 0”資訊之一個單元被存取。然後,在經過一段延遲 時間DLY0之後,感測放大器啟動信號SAE上升,問鎖電路3 與4開始運作’接著’輸出一低的輸出信號OUT。 當時鐘脈衝彳§號CLK為低值,位元線係藉由預充電電 路7而被預充電至一預充電位準^接著,當字元線上升 時,信號D與DB被傳輸至位元線對,而電位差係於位元線 對之間產生。於本發明中之位元線之預充電位準,係充分
第13頁 462058 五、發明說明(ίο) 尚於感測完成信號產生電路5中之互斥⑽閘以⑽丨與以〇1?2 之邏輯閾值。 、如上所述,因為儲存"〇 „資訊之單元係於第一時鐘脈 ,週期存取’所以信號D所傳輸到之位元線之電位係比信 =DB所傳輸到之位兀線的電位較早被降低。於信號db所傳 :至之位tl線中’電位係只被降低對應MSRAM單元中之漏 電流之數量。 於此時,在位几線對間之電位差在感測運作開 :,大’而閃鎖電路3與4可正常地偵測儲存於sram單 也訊。因>此,輸出信號〇UT與㈣1變低,而輸出信號 N02變南。因此’當信號改變時,為感測完成信號 .路5之輸出信號之感測完成信號s—END係從低值改變 同值,且感測完成信號S — END係與感測放大器啟動信號 bAE之下降同步地降下。 夕诠在:第一時鐘脈衝週期中,在時鐘脈衝信號CLK上升 ί 2 之其令—個係被選擇且與上 唾過;ιΐ過11有1資訊之一單元係被存取。然後,在 間關之後,感測放大器 I⑽電路3與4開始運作,接著,輸出-高輸出信號 π之ΐ上’於第—時鐘脈衝週期中’因為儲存"Γ資 輪到之位元線之電位根it 後,於信獅所傳 降低。 糸比偽號D所傳輸到之位元線較早被
第14 1 "4 6 2 Ο 5 8 五、發明說明(11) 於此時,在位元線對間之電位差At丨於感測運作開始 時係夠大,且閂鎖電路3與4可正常地彳貞測儲存於SRAM單元 之資§fl。因此,輸出信號OUT與N01變高,與輸出信號OJJTB 與N02變低。因此’當信號改變時,為感測完成信號產生 電路5之輸出信號之感測完成信號S — END,係從低值改變為 尚值’而感測完成信號S—END係與感測放大器啟動信號saE 之下降同步地降下。 於一第三時鐘脈衝週期中,在時鐘脈衝信號CLli上升 之後,字元線WL0至WL(n-l)之其中一個係被選擇與上升, 於其中儲存有"0 ”資訊之單元係被存取。接著,在經過一 段延遲時間DLY1之後’感測放大器啟動信號SAE上升與閃 鎖電路3與4開始運作’但在位元線對間之電位差小,並產 生一讀出錯誤。 因為儲存有” 0 ”資訊之單元係於第三時鐘脈衝週期被 存取’所以信號D所傳輪到之位元線之電位,信號所傳 輸到之位元線之電位較早被降低。 於此時’在位元線對間之電位差Δνι;2係小於感測運 作開始時之電位差AVtl,但於閂鎖電路3中,包含電晶體 MN2與MP2(具有接收信號d之位元線之電位之閘極)之反相 電路的邏輯閾值,係高於另一反相電路。因此,可正常地 偵測儲存於SRAM單元之資訊□然而,在另一個閃鎖電路4 中’包含電晶體MN5與MP6(具有接收信號D之位元線之電位 之閘極)之反相電路的邏輯閾值’係低於另一反相電路。 因此,輸出信號N02變低,且輸出信號Ν〇ι變高。因此,在 IHK1 第15頁 五、發明說明(12) f测運作開始之後’輸出信細τ變低,輸出信號0UTB變 尚’輸出信號N01變高,且輸出信號N〇2變低。目此,為感 信號產生電路5之輸出信號之感測完成信號s end, 係維持於低值且並未改變。 一 於一第四時鐘脈衝週期中,纟時鐘脈衝信號CLK上升 之後,字元線no至WLU-Di其中一個係被選擇與上升, 於其中儲存有” Γ資訊之單元係被存取。接著,在經過一 段延遲時間DLY1之後,感測放大器啟動信號Sae上升且閂 鎖電路3與4開始運作’但在位元線對間之電位差小,並產 生一讀出錯誤。 因為儲,有”丨"資訊之單元係於第三時鐘脈衝週期被 二y所以信號DB所傳輪到之位元線電位,係比信號D所 傳輸到之位元線之電位被較早降低。 #明^ ^時’在位兀線對間之電位差AVt2係小於感測運 ==電位差則’但是於問鎖電路4中,包含電晶 、(具有將信號DB所傳輸到之位元線之電位予以 :入:閑㈤的反相電路之邏輯閨值,係高於另一反相電 m可正常地傾測儲存於襲單元之資訊。然而, HR所值^鎖電路3中’包含電晶體〇1與犯1(具有將信號 的、羅綠^之位元線之電位予以輸人之閘極)的反相電路 且& +,係低於另一反相電路。因此,輸出信號0UT Γ屮=號0UTB變高。因此,在感測運作開始之後, J I二UT變低’輸出信號0UTB變高,輸出信號N〇1變 命,且輸出信號N02變低。因此,為感測完成信號產生電 ^ηπ·η 第16頁 五、發明說明(13) 路5之輸出信號之感測完成信號S—ENI) ’係維持於低值且並 未改變。 _ 如上所述,因為兩個具有非對稱電晶體構造之閂鎖電 路係併入於本發明中,所以關於元件特性之變化之運作裕 度係在以前應用於感測放大器電路中。因此,感測放大器 電路可以利用低電源電壓穩定地感測。 又於本發明中’因為可產生代表在位元線間之一顯 著電位差的感測完成之感測完成信號^㈣]),所以當將此 應用於系統中時,則可建構更穩定的系統。 其次,將說明本發明之第二實施例。於第二實施例 中,來自兩個閂鎖電路3與4之輸出信號之連接關係係不同 於第一實施例,並可在讀出錯誤時產生要求系統重新感測 運作之信號。圖5係為顯示依據本發明之第二實施例一閂 鎖型感測放大器電路之構造之電路圖。於顯示於圖5之第 二實施例中,類似於顯示於圖2之第一實施例之組成元 件,係以相同的參考數字表示,而省略其詳細的說明。 第二實施例包含:兩個閂鎖電路3與4 ;及一重新感測 需求號產生電路9,用以產生與來自這些電路3盥4之輸 出信號有關聯之一重新感測需求信號。於本發明^,重新 感測需求信號產生電路9係相當於比較結果信號產生電 路。 重新感測需求信號產生電路9設有:—互斥⑽閘 EX0R3,用以執打輪出信號〇υτ與輸出信號N〇1之互斥⑽運 算;及一互斥OR閘Ex〇R4 ’帛以執行輸出信號〇ϋτΒ與輸出
im 第17頁 五、發明說明(14) k號Ν02之互斥OR運算。又,設有一 OR閘ORl,用以用以執 行互斥OR閘EX0R1與EX0R2之輸出信號之OR運算。〇R閉0以 之輪出信號變成感測完成信號S _ E N D。於重新感測需求信 號產生電路9中,在感測放大器啟動信號SAE變高與感測運 作開始之後,輸出信號OUT與NO 1之一互斥〇R信號產生,並 產生輸出信號0UTB與N02之一互斥OR信號。然後,其〇R運 算結果係被輸出以作為重新感測需求信號s_REq。 因此’在感測運作開始之後,如果在輪出信號out與 輸出信號N01之組合與輸出信號0UTB與輸出信號N〇2之組合 兩者中獲得不同數值,則重新感測需求信號^^^^變高。 然後’代表重新感測需求之信號係被傳輸至一系統。另一 方面,如果在輸出信號〇υτ與輸出信號N〇1之組合盥輸出 號0UTB與輸出信號N02之組合兩者中獲得相同數值,則/ 新感測需求信係維持於低值且並未改變。因此, :此情況下’卩表重新感測需求的信號並未被傳輸至此系 _ i其i將ί明將本發明應用至顯示於圖3之上述記憶 第-ϊ施一實施例之運作。圖6係為顯示依本發‘ 第一實施例之閂鎖型感測放大 月 S議電路係與時鐘脈衝作二器上路之運作之時序圖。 w。號CLK同步,而圖6顧干科虛认 個週期的時鐘脈衝信號ακ之不同運作。 對應於四 在一第一時鐘脈衝週翻甘 .+ ^ 升之後,字元線WL0至η(η-υ^其中日,伽脈衝信號CU上 升’且於其中儲存有" )之其中一個係被選擇與上 貢Λ之卓疋係被存取。然後,在 五、發明說明(15) 經過一段延遲時間DLYO之後,感測放大器啟動信號SAE上 升’且閂鎖電路3與4開始運作,接著輸出一低輸出信號 OUT 〇 當時鐘脈衝信號CLK為低值時,位元線係被預充電電 路7預充電至一預充電位準。然後,當字元線上升時,信 號D與DB係被傳輸至位元線對,並在位元線對間產生電位 差。於本發明之於重新感測需求信號產生電路9中,位元 線之預充電位準係遠高於互斥〇R閘EX〇R3與EX0R4之閾值。 如上所述,因為儲存有資訊之單元係於第一時鐘 脈衝週期被存取’在信號D所傳輸到之位元線之電位係比 信號DB所傳輸到之位元線之電位較早被降低。在信號卯所 傳輸到之之位元線中,電位係只被降低了對應於SRAM元 之漏電流之少量。 於此時,在感測運作開始時,在位元線對間之 =^係足Λ大,且⑽電路3與4可正常地價測儲存於 信號議_變高。@此,在感 =且輸出 彼此-致,且輸出 信號Ν02彼此一致。因此,為重新感測 興輸出 之輸出信號之重新感測需求信號、 ;持=路9 並未改變。 w保維持於低值且 於一第二時鐘脈衝週期中,在時鐘 之後,字元線WL0至ffL(n-l )之其中—彳衝信號CLK上升 於其中儲存有””資訊之單元係被存皮選擇與上升 热後,在經過— 4 62 05 8
五、發明說明(16) 段延遲時間DLY0之後’感測放大器啟動信號SAE上升,且 閂鎖電路3與4開始運作,接著輸出一高輸出信號〇υτ。 如上所述’在第二時鐘脈衝週期中,因為儲存有"Γ, 資訊之早元係在字元線上升之後被存取’所以信號的所傳 輸到之位元線之電位’係比信號D所傳輸到之位元線的電 位較早被降低。 於此時’在感測運作開始時,在位元線對間之電位差 △ Vtl係為夠大’且閂鎖電路3與4可正常地偵測儲存於 SRAM單元之資訊。因此,輪出信號out與N01變高,且輸出 信號0UTB與N02變低。因此,在感測運作開始之後,輸出 號OUT與輸出信號N01彼此一致,且輸出信號〇υτΒ與輸出 信號N02彼此一致。因此,為重新感測需求信號產生電路9 之輸出h號之重新感測需求信號,係維持於低值且 並未改變。 於一第三時鐘脈衝週期中,在時鐘脈衝信號CLK上升 之後,字元線no至η(η-ι)之其中一個係被選擇與上升, 而於其中儲存有"011資訊之單元係被存取。然後,在經過 一段延遲時間DLY1之後,感測放大器啟動信號SAE上升, 且閂鎖電路3與4開始運作,但在位元線對間之電位差小, 並產生一讀出錯誤。 因為儲存有” 0,,資訊之單元係於第三時鐘脈衝週期被 存取’在信號D所傳輸到之位元線之電位,係比信號db所 傳輸到之位元線之電位較早被降低。 於此時’在位兀線對間之之電位差AVt2,係小於感
4 6205 8 五、發明說明(17) 測運作開始時之電位差,但於問鎖電路3中,包含電 晶體ΜΝ2與ΜΡ2(具有將信號D所傳輸到之位元線之電位予以 輸入的閘極)之反相電路的邏輯閾值,係高於另一反相電 路。因此,可正常地偵測儲存kSRAM單元之資訊。然而, 在另一個閃鎖電路4中,包含電晶體關5與肿6(具有將信號 D所。傳輸到之位το線之電位予以輸入的閘極)之反相電路的 邏輯閾值’係低於另一反相電路。因此,輸出信號N〇2變 低,且輸出信號NO 1變高。因此,當信號改變時,為重新 感測需求信號產生電路之輸出信號的重新感測需求信號 S — REQ,係從低值改變為高值。接著,重新感測需求信號 S_REQ係與感測放大器啟動信號SAE之降下同步地下降。 於一第四時鐘脈衝週期中’在時鐘脈衝信號CLK上升 之後’字元線WL0至WL(n-l)之其中一個係被選擇與上升, 於其中儲存有” 1”資訊之單元係被存取。然後,在經過一 段延遲時間DLY1之後,感測放大器啟動信號SAE上升,且 問鎖電路3與4開始運作,但在位元線對間之電位差小,並 產生一讀出錯誤。 因為储存有"Γ資訊之單元係於第四時鐘脈衝週期被 存取’所以信號DB所傳輸到之位元線電位係比信號d所傳 輸到之位元線之電位較早被降低。 於此時’在位元線對間之電位差AVt〗,係小於感測 運作開始時之電位差Δηι,但於閂鎖電路4中,包含電晶 體ΜΝ4與ΜΡ5(具有將信號DB所傳輸到之位元線之電位予以 輸入的閘極)的反相電路之邏輯閾值,係高於另—反相電
第21頁 462058 五、發明說明(18) 路。因此,可正常地偵測儲存於SRAM單元之資訊。然而, 在另一個問鎖電路3中,包含電晶體MN1與MP1(具有信號DB 所傳輸到位元線之電位予以輸入之閘極)之反相電路之邏 輯閾值,係低於另一反相電路。因此,輸出信號OUT變 低,且輸出信號0UTB變高。所以,當信號改變時,為重新 感測需求信號產生電路9之輸出信號之重新感測需求信號 S_REQ,係從低值改變為高值。然後,重新感測需求信號 S_REQ係與感測放大器啟動信號SAE之下降同步地降下。 如上所述,於第二實施例中,因為感測運作開始,且 讀出錯誤係在位元線對間之相當的電位差產生之前被偵 測,故可將重新感測需求信號傳輸至系統。因此,當將此 利用於系統中時,可建構更穩定的系統。 其次’將說明本發明之第三實施例。於第一與第二實 施例中’電路係以使兩個閂鎖電路3與4之所有輸出信號 OUT ’ OUTB ’N01與N02被輸入至互斥0R閘之輸入端子的方 式形成。關於位元線對之負載電容係彼此相等。然而,當 感測元成信號產生電路5或重新感測需求信號產生電路9申 之互斥0R閘EXORi ’EX〇R2,EX〇R3與EX0R4的電容遠小於位 兀線的電容時’不需考量閂鎖電路之互補信號端子之負載 f稱性。因此’相較於第一與第二實施例之下,可簡化每 個感測完成信號產生電路與重新感測需求信號產生電路 的構造。、於第二實施例中,每一個感測完成信號產生電路 與重新感測需求信號產生電路的構造之簡化已被實現。圖 7係為顯示依本發明第三實施例之閃鎖型感測放大器電路
第22頁 462058 五、發明說明(19) 的構造之電路圖。於顯示於圖7之第三實施例中,類似於 顯示於圖2之第一實施例之組成元件係以相同的參考數字 表示,並省略其詳細說明。 第三實施例包含:兩個閂鎖電路3與4 ; 一感測完成信 號產生電路5a ’用以產生一感測完成信號;及一重新感測 需求信號產生電路9a,用以產生一重新感測需求信號。於 本發明中,感測完成信號產生電路5a與重新感測需求信號 產生電路9a,對應至比較結果信號產生電路。 感測完成信號產生電路5a設有一互斥〇R閘EX0R5,用 以執行輸出信號OUT與輸出信號n〇2之互斥〇R運算,而互斥 0R閘EX0R5之輸出信號變成感測完成信號5—ENE) ^於感測完 成信號產生電路5a中’在感測放大器啟動信號SAE變高與 感測運作開始之後’產生輸出信號OUT與N02之一互斥0R信 號,而此信號係被輸出作為一感測完成信號S_END。 重新感測需求"is號產生電路9 a設有一互斥〇 r閑 EX0R6,用以執行輸出信號0UT與輸出信號N〇1之互斥⑽運 算,而互斥0R閘EX0R6之輸出信號變成重新感測需求信號 S_REQ。於重新感測需求信號產生電路9&中,在感大 測需求二Γ信號’而此信號係被輪出作為重新感 因此,在感測運作開始 數值係彼此相異時,感測完 測運作完成之信號係被傳輸 之後,當輸出信號〇υτ與N〇2之 成信號S—END變高,且代表感 至系統中。另—方面,在感測
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運作開 完成信 下,代 又 值彼此 重新感 測運作 新感測 此情況 中 〇 出信號0UTW02之數值相同時,感測 ^S:END維持於低值且並未改變。因此,於兄 表感測運作完成e # 土,士 & a ; 成之仏號並未被傳輸至系統中。 :測運作開始之後,當輸出信號OUT與N01之數 相”時,重新感測需求信號s —REQ變高,且一 測需求的信號係、被傳輸至m另-方面,在感 開始之後,當輸出信號OUT與N01之數值相同時,重 需求信號S—REQ維持於低值且並未改變。因此,於 下代表重新感測需求的信號並未被傳輸至系統 因為輸出信號則1與_2係為互補信號,故當輸出信號 OUT與M01彼此一致時,輸出信號〇υτ與N〇2並未彼此—致, 而當輸出jg號OUT與N01並未彼此一致時,輸出信號〇υτ與 Ν02係彼此一致》 、 #其次’將說明將本發明應用至顯示於圖3之上述記憶 體單το陣列之第三實施例之運作。圖8係為顯示本發明之 第二實施例之問鎖型感測放大器電路之運作之時序圖。 SRAM電路係與時鐘脈衝信號cu同步,而圖8顯示對應於四 個週期的時鐘脈衝信號CLK之不同運作。在每一個時鐘脈 衝週期之運作,係與說明於第一與第二實施例之運作相 同β 在一第一時鐘脈衝週期期間,在時鐘脈衝信號CLK上 升之後’字元線WL0至WL(n-l)之其中一個係被選擇與上 升,於其中儲存有1’ 〇,'資訊之單元係被存取。然後’在經
第24頁 462058 五、發明說明(21) 過一段延遲時間DLY0之後,感測放大器啟動信號SAE上 升,且閂鎖電路3與4開始運作,接著輸出一低輸出信號。 當時鐘脈衝信號CLK為低值時,位元線係被預充電電 路7預充電至一預充電位準。然後,當字元線上升時,信 號D與DB係被傳輸至位元線對,且電位差係在位元線對間 產生。於本發明中之位元線之預充電位準,係遠高於感測 完成信號產生電路5中的互斥〇R閘EX0R5與於重新感測需求 信號產生電路9中的互斥0R閘EX0R6之間值。 如上所述’於第一時鐘脈衝週期中,因為儲存有Μ 〇 " 資訊之單元係被存取,所以信號D所傳輸到之位元線之電 位’係比信號DB所傳輸到之位元線之電位較早被降低。於 信號DB所傳輸到之位元線中,電位係僅些微降低了對應於 SRAM單元中之漏電流的數量。 於此時’於感測運作開始時,在位元線對間之電位差 △ Vtl係夠大’而閂鎖電路3與4可正常地偵測儲存於SRAM 單元之資訊。因此,輸出信號OUT與N01變低,且輸出信號 0UTB與N02變高。因此,在感測運作開始之後,輸出信號 OUT與輸出信號Ν01彼此一致’且輸出信號〇υτβ與輸出信號 Ν02彼此一致。因此,為重新感測需求信號產生電路9之輸 出信號之重新感測需求信號S_REQ,係維持於低值且並未 改變。另一方面,為感測完成信號產生電路5之輸出信號 之感測完成信號S —END,係從低值改變為高值,而感測完 成號8_£_係與感測放大器啟動信號SAE之下降同步地降 下。
第25頁 462058 五、發明說明(22) ---- 於一第二時鐘脈衝週期中,在時鐘脈衝信號ακ上 之後,字το線WL0至WL(n-l)之其中一個係被選擇與上升, 於其中儲存有"1"資訊之單元係被存取。然後,在經過— 段延遲時間DLY0之後,感測放大器啟動信號SAE上升且閂 鎖電路3與4開始運作,接著輸出一高輸出信號〇υτ。 如上所述,在第二時鐘脈衝週期中,因為儲存有 資&ΤΙ之單元係被存取’在字元線上升之後,信號DB所傳輸 到之位元線的電位,係比信號D所傳輸到之位元線的電位’ 較早被降低。 於此時’在感測運作開始時,在位元線對間之電位差 △ Vtl係夠大’而閂鎖電路3與4可正常地偵測儲存於sram 單元之資訊。因此’輸出信號OUT與N01變高,而輸出信號 0UTB與N02變低。因此,在感測運作開始之後,輸出信號 OUT與輸出信號N01彼此一致,且輸出信號〇UTB與輸出信號 N 0 2彼此一致。因此,為重新感測需求信號產生電路9之輸 出信號之重新感測需求信號S_REQ,係維持於低值且並未 改變。另一方面,為感測完成信號產生電路5之輸出信號 之感測完成信,係從低值改變為高值,且感測完 成"is说S_END係與感測放大Is啟動彳§说SAE之下降同步地降 下。 於第三時鐘脈衝週期中,在時鐘脈衝信號CLK上升之 後,字元線WL0至WL(n-l)之其中一個係被選擇與上升,於 其中儲存有” 〇"資訊之單元係被存取。然後,在經過一段 延遲時間DLY1之後,感測放大器啟動信號SAE上升且閂鎖 ΙΚΜΒ 第26頁 4 62 05 8 五、發明說明(23) 電路3與4開始運作,但在位元 一讀出錯誤。 在位-線對間之電位差小,並產生 J第三時鐘脈衝週期中,因為儲存有τ資訊之單元 係被存取,所以信號D所值齡5,丨a , 妹“ b所傳輸到之位元線的電位,係比信 唬DB所傳輸到之位元線的電位較早被降低。 於此時,在位元線對間的電位差Δη2係小於感測運 :開始時的電位差AVU,但是於閃鎖電路3中,包 體讀與MP2(具有將信號㈣傳輸到之位元線之電位予以^ 入的閘極)之反相電路的邏輯閱值,係高於另—反相電 路。因此,可正常地偵測儲存mSRAM單元之資訊。然而, 在另一個閂鎖電路4中,包含電晶體MN5與Mp6(具有將信號 D所。傳輸到之位元線之電位予以輸入之閘極)之反相電路的 邏輯閾值,係低於另一反相電路。因此,輸出信號N〇2變 ,,而輸出信號NO 1變高。所以,當信號改變時,為感測 元成信號產生電路5之輸出信號之感測完成信號S_END,係 維持時低值且並未改變,另一方面,為重新感測需求信號 產生電路9之輸出信號的重新感測需求信號S_REQ,係從低 1改變為高值’且重新感測需求信號s_REq係與感測放大 器啟動信號SAE之下降同步地降下。 於第四時鐘脈衝週期中,在時鐘脈衝信號CLK上升之 後,字元線WL0至WL(n-l )之其中一個係被選擇與上升,於 其中儲存有1’ Γ資訊之單元係被存取。然後,在經過一段 延遲時間DLY1之後,感測放大器啟動信號SAE上升而閂鎖 電路3與4開始運作,但在位元線對間之電位差小,並產生
第27頁 4 62 05 8 五、發明說明(24) 一讀出錯誤。 於第四時鐘脈衝调地士 m Λ 圮』中’因為儲存有"Γ資訊之單元 係被存取,所以信號DB所僂# 5丨 ― a&n ^ ^ ^ 吓得輸到之位兀線之電位,係比信 號D所傳輸到之位元線 < 電位較早被降低。 伟pi=2 ·在位7°線對間的電位差AVt2係小於感測運 N=r Λ?1,但"鎖電路4中,包含電晶體 入之二:號讪所傳輸到之位元線之電位予以輪 路的邏輯閣值,係高於另-反相電 路。因此,可正常地偵測 J, κ _ j儲存於sram單元之資訊。然而, 在另一個閂鎖電路3中,句人而 所傳輸到之位元線之電位\含電晶體關1與肿1(具有信號⑽ 攞Μ閉柏 也, 彳予以輸入之問極)之反相電路的 邏輯閾值,係低於另一反, 栖,Θ鉍山> 久相電路。因此,輸出信號OUT變 低,且輸出信號0UTB變高 夂 完成信號產生電路之輸^以,當信號改變時,為感測 維持於低值且並未改變出^的感測完成信,係、 產生電路9之輸出信號的重另一方面,為重新感測需J信號 值改變為高值,且重新咸新感測需求信號1心9,係從低 器啟動信號SAE之不降同步^ f求信號S-REQ係與感測放大 如上所述,於第三實 降下 線間之相當的電位差之I例中,可產生顯示感測在位元 出錯誤係在位元線對間的信號,而感測運作開始且讀 到。因此,可將重新感測:t的電位差產生之前被债測. 此信號係被採用於系統令:来信號傳輸至系統。因此,當 於本發明中,因為:!,可建構更穩定的系統。 % —個感測完成信號產生電路5與
4 62 05 8 五、發明說明(25) 重新感測需求信號產生電路9,係僅分別包含互斥〇R閘 E X 〇 R 5與E X 0 R 6,所以本實施例係以較少的元件提供與第 一與第二實施例相同功能之顯著效果。 於第一至第三實施例之每一個中,因為由閂鎖電路所 構成之兩個反相電路之邏輯閾值可能彼此相異,所以使用 具有不同閾值電壓之電晶體。然而’當電晶體之閘極寬 度、閘極長度或閘極氧化膜之厚度彼此相異時,亦可實現 相同的功能。又,其組合亦可實現相同的功能。 如上所述,依據本發明,設置了兩個閂鎖電路,其輸 出與位元線對間之電位差有關聯之相同的輪出信號或不同 的輸出信號。因此’關於元件特性變化之運作裕度,係在 以前就被應用。因此,可以以低電源電壓實現穩定之摘測 運作。此外,更設有比較結果信號產生電路,用以比較兩 個閂鎖電路之輸出信號。因此,當位元線對間之電位差不 足時,可偵測此事實。因此,當將此信號利用於系統時, 可建構出更穩定的系統。
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462058 圖式簡單說明 圖1係為顧+ 33 , 圖; 顯不一習知之閂鎖型感測放大器電路之電路 圖2係為顯示依據本發明第一一 放大器電路之播1 貫狍例之問鎖型感測 <構造之電路圖; 圖3係、為t gs 放大器電路之發;^一實施例之問鎖型感測 5己憶體早几陣列之構造之方塊圊; 考雷路之湩收顯示依本發明第—實施例之閂鎖型感測放大 器電路之運作之時序圖; 大器顯示依本發明第二實施例之-閃鎖型感測放 大器電路之構造之電路圖; 圖6係為顯示依本發明第二實施例之閃鎖型感測放大 Is電路之運作之時序圖; 圖7係為顯示依本發明第三實施例之一閂鎖型感測放 大器電路之構造之電路圖;以及 圖8係為顯示依本發明第三實施例之閂鎖型感測放大 器電路之運作之時序圖。 【符號之說明】 1〜接地端 2〜電源 3〜閂鎖電路 1〜閂鎖電路 5、5a〜感測完成信號產生電路 6〜SRAM單元
第30頁 4b2 05 8 圖式簡單說明 7〜預充電電路 8〜行選擇器電路 9、9a〜重新感測需求信號產生電路 EX0R1-EX0R6 〜互斥OR 閘 MNU-MN13〜電晶體 MN1-MN6〜電晶體 MNC1-MNC4 ~ 電晶體 MPU-MP14〜電晶體 MP1-MP8〜電晶體 MPH-MPC2〜負載電晶體 0 R1〜0 R閘 WLO-WL(n-l)〜字元線
第31頁

Claims (1)

  1. 462 05 8 六 申請專利範園 閂鎖型感測放大器電路,包含: 第二問鎖電路,當一位元線對間之電位差等於 定數值時,該第一與第二閃鎖電路輸出相同的 而當在該位元線對間之該電位差小該預定數值 與第二閂鎖電路輸出不同的輪出信號;以及 結果信號產生電路,用以將該輪出信號和該第 鎖電路作比較,並與輸出一個代表比較結果的 »月專利範圍第1項之閂鎖型感測放大器電路, 線對包含第一與第二位元線; 閂鎖電路包含:-第一反相電路,具有兩電晶 電晶體之其汲極係連接至該第一位元線;以及 電路具有兩個電晶體,該兩電晶體之汲極係 一位70線,並具有高於該第一反相電路之閾值 1. 一種 第一與 或大於一預 輸出信號’ 時,該第一 一比較 一與第二閂 信號。 2. 如申 其中: 該位元 該第一 體,該兩個 一第二反相 連接至該第 之閾值;且 該第二閂鎖電路包含: 一第三反相電路,具有兩個電晶體,該兩電晶體 之沒極係連接至該第一位元線;以及 體之汲極係 電路之閾值 3.如申 其中,該比 第四反相電路,具有兩個電晶體,該兩個電晶 連接至該第二位元線,並具有低於該第三反相 的閾值。 研專利範圍第2項之閂鎖型感測放大器電路, 較結果信號產生電路包含:
    第32頁 462058
    六、申請專利範圍 一第一閘’執行該第一反相電路之一輸出信號與該 四反相電路之輸出信號之互斥〇R運算; Λ 一第二閘’執行該第二反相電路之一輸出信鞔與該 三反相電路之一輪出信號之互斥0R運算;以及 一第三閘,執行該第一閘之一輸出信號與該第二 一輸出信號之AND運算。 一甲之 4. 如申請專利範圍第2項之閂鎖型感測放大器電路, 其中’該比較結果信號產生電路包含: 一第一閘’執行該第一反相電路之一輪出信號與該 三反相電路之一輸出信號之互斥0R運算; 一第二閘’執行該第二反相電路之一輸出信號與該第 四反相電路之一輪出信號之互斥0R運算;以及 一第三閘’執行該第一閘之一輸出信號與該第二閣之 一輸出信號之0R運算。 5. 如申請專利範圍第2項之閂鎖型感測放大器電路, 其中,該比較結果信號產生電路包含: 一第一閘’執行該第一反相電路之一輸出信號與該第 四反相器電路之一輸出信號之互斥〇R運算;以及 一第二閘,執行該第一反相電路之一輸出信號與該第 三反相電路之一輸出信號之互斥〇R運算。 6 如申請專利範圍第2項之閂鎖型感測放大器電路, 其中: 在構成該第一反相電路之該兩個電晶體與構成該第二 反相電路之該兩個電晶體之間’從由一閾值電壓,一閘極
    第33頁 4 6205 8 六、申請專利範圍 寬度’ 一閘極長度與一 擇之至少一參數係不相 在構成該第三反相 反相電路之該兩個電晶 寬度’一閘極長度與一 擇之至少一參數係不相 7 ·如申請專利範圍 其中: 在構成該第一反相 反相電路之該兩個電晶 寬度,一閘極長度與一 擇之至少一參數係不相 三反相 個電晶 在構成該第 反相電路之該兩 寬度,一閘極長度與一 擇之至少一參數係不相 8.如申請專利範圍 其中: 在構成該第一反相 反相電路之該兩個電晶 寬度,一閘極長度與一 擇之至少一參數 在構成該第 反相電路之該兩 係不相 三反相 個電晶體之間,從由一閾值電壓
    閣極氧化膜厚度所組成之群組所選 同;且 電路之該兩個電晶體與構成該第四 體之間,從由一閾值電壓,一閘極 間極氧化膜厚度所組成之群組所選 同。 第3項之閂鎖型感測放大器電路, 電路之該兩個電晶體與構成該第二 體之間,從由一閾值電壓,—閘極 間極氧化膜厚度所組成之群組所選 同;且 電路之該兩個電晶體與構成該第四 體之間,從由一閾值電壓,一閘極 閑極氧化膜厚度所組成之群組所選 同。 第4項之閂鎖型感測放大器電路, 電路之該兩個電晶體與構成該第二 體之間’從由一閾值電壓,一閘極 開極氧化膜厚度所組成之群組所選 同;且 電路之該兩個電晶體與構成該第四 閘極 第34頁 462058 六、申請專利範圍 寬度’一閘極長度與一間極氧化膜厚度所組成之群組所選 擇之至少一參數係不相同。 9‘如申請專利範圍第5項之閂鎖型感測放大器電路, 其中: 在構成該第一反相電路之該兩個電晶體與構成該第二 反相電路之該兩個電晶體之間,從由一閾值電壓,一閘極 寬度,一閘極長度與一閘極氧化膜厚度所組成之群組所選 擇之至少一參數係不相同;且 構成該第三反相電路之該兩個電晶體與構成 ί:電=之該兩個電晶體之間,㈤由一閾值電壓,-閘極 ,—閘極長度與一閘極氧化膜厚度所組成之i h 1 擇之至少-參數係不相同。 成之群組所選
    第35頁
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Families Citing this family (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100408420B1 (ko) * 2002-01-09 2003-12-03 삼성전자주식회사 감지증폭기의 센싱속도를 향상시킬 수 있는 반도체메모리장치의 감지증폭기 구동회로
US6950368B2 (en) 2003-02-25 2005-09-27 Micron Technology, Inc. Low-voltage sense amplifier and method
WO2004077443A1 (ja) * 2003-02-27 2004-09-10 Fujitsu Limited 半導体記憶装置
US20050117424A1 (en) * 2003-12-01 2005-06-02 Chih-Ta Star Sung Low power sensing scheme for the semiconductor memory
US7365596B2 (en) * 2004-04-06 2008-04-29 Freescale Semiconductor, Inc. State retention within a data processing system
US7447964B2 (en) * 2005-01-03 2008-11-04 International Business Machines Corporation Difference signal path test and characterization circuit
JP2008016163A (ja) * 2006-07-10 2008-01-24 Univ Of Tokyo メモリ装置およびメモリ読み出しエラー検出方法
JP2008217864A (ja) * 2007-03-01 2008-09-18 Toshiba Corp センスアンプ回路、及びこれを用いた半導体記憶装置
US20090059686A1 (en) * 2007-09-04 2009-03-05 Chih-Ta Star Sung Sensing scheme for the semiconductor memory
US7688656B2 (en) * 2007-10-22 2010-03-30 Freescale Semiconductor, Inc. Integrated circuit memory having dynamically adjustable read margin and method therefor
JP2010015614A (ja) * 2008-07-01 2010-01-21 Renesas Technology Corp 半導体装置
US20110187414A1 (en) * 2010-02-01 2011-08-04 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. Pbti tolerant circuit design
US9911501B2 (en) * 2016-05-24 2018-03-06 Silicon Storage Technology, Inc. Sensing amplifier comprising a built-in sensing offset for flash memory devices
CN108847265B (zh) * 2018-05-17 2021-08-24 上海华虹宏力半导体制造有限公司 灵敏放大器电路

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR910009444B1 (ko) * 1988-12-20 1991-11-16 삼성전자 주식회사 반도체 메모리 장치
JPH04119597A (ja) 1990-09-07 1992-04-21 Mitsubishi Electric Corp 不揮発性半導体記憶装置のセンスアンプ
JPH05325569A (ja) 1992-05-27 1993-12-10 Toshiba Corp 半導体記憶装置
JP3297949B2 (ja) 1993-06-30 2002-07-02 ソニー株式会社 Cmosカレントセンスアンプ
US5563835A (en) * 1994-01-31 1996-10-08 Advanced Risc Machines Limited Sense amplification in data memories
GB2286270A (en) * 1994-01-31 1995-08-09 Advanced Risc Mach Ltd Sense amplification in data memories
JPH08273370A (ja) 1995-03-30 1996-10-18 Seiko Epson Corp 半導体記憶装置
JP3618144B2 (ja) 1995-07-05 2005-02-09 株式会社リコー 半導体メモリ装置の読出し回路
KR100214510B1 (ko) * 1996-10-15 1999-08-02 구본준 센스앰프의 전력 차단 회로
US5828614A (en) * 1997-04-07 1998-10-27 Cypress Semiconductor Corp. Memory cell sensing method and circuitry for bit line equalization

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