TW419591B - IC test apparatus and error action prevention method of the IC test apparatus - Google Patents

IC test apparatus and error action prevention method of the IC test apparatus Download PDF

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TW419591B TW088104435A TW88104435A TW419591B TW 419591 B TW419591 B TW 419591B TW 088104435 A TW088104435 A TW 088104435A TW 88104435 A TW88104435 A TW 88104435A TW 419591 B TW419591 B TW 419591B
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Description

Α7 41959ί ___Β7_____ 五、發明說明(1 ) (發明之領域) 本發明有關於測試由半導體積體電路(下面稱1C ) 所構成之半導體裝置,例如存儲體I C ,邏輯I c等用之 I C測試裝置,及有關於I C測試裝置之誤動作防止方法 (關連技術之說明) 於圖3表示以往之I C測試裝置之一例之槪略之構成 。如圖示,I C測試裝置係如大分之由:發生應施加於被 測試I C之測試圖樣訊號或地址訊號、控制訊號I期待値 訊號等,同時依據由被測試I C所讀取之回應輸出訊號以 資判定被測試I C之良否之1 C測試器1 0 0,以及自裝 載部將被測試I C移送至測試部,使I C插口電氣的予以 接觸,試驗終了後,將測試受I C由測試部移至卸料部, 而在此卸料部而依據試驗結果而將測試受之I C予以分類 之處理器4 0 0所構成。 I C測試器1 〇 〇係含有以電纜K B 1而互相電氣的 連接之另體之測試頭2 0 0,例示之I c測試裝置中該測 試頭2 0 0係配置於處理器4 0 0之測試部下部之規定之 位置。測試頭2 0 0乃通常含有將I C測試器1 0 〇所發 生之測試圖樣訊號或地址訊號施加於被測試I C用之驅動 器群,及由被測試I C所讀出之回應輸出訊號與期待値訊 號做比較之比較器群,從比較器群之輸出訊號即通經電纜 K B 1送至I C測試器1 0 0 » 本紙張尺度適用中國國家標準<CNS>A4規格<210 * 297公* ) (請先«讀背面之>!.♦?事項再填寫本頁) ·. * II 111 訂·! I 1 經濟部智慧財產局員工消费合作社印製 Η.- -4- A7 419591 ______B7___ 五、發明說明(2 ) 於測試頭2 0 0之上部裝卸自如地裝置有,將測試頭 內之驅動器群及比較器群與被測試IC之引線端子電氣的 連接之I C插口 S K之稱之謂測定部之構件(下面略稱測 定部3_ 0 0 )。 規定個數之I C插口 S K係裝置於該測定部上面,而 配置於處理器4 0 0之測試部。 處理器4 0 0乃將被測試I C移送至測試部之後,使 之接觸於I C插口,而由I C測試器1 〇 〇通介電纜 KB1 ,測試頭200、測定部300及1C插口 SK而 將規定之測試圖樣訊號施加於被測試I C由而實施被測試 I C之測試,完成測試之測試妥I C即由處理器4 0 0而 從I C插口 S K卸下,自測試部移送至卸料部。 I C測試器1 0 0依依照收容於主控制器1 0 i之測 試程序而動作,介著裝置於測定部3 0 0之I C插口 S K 而測試被測試I C。換言之由I C測試器1 0 0而介經電 纜κ B 1 ,測試頭2 0 0,測定部3 0 0而對於接觸於 I C插口 S K之被測試I c施加測試圖樣訊號,介著測試 頭2 0 0而將該回應訊號取入於測試頭2 0 0,而藉測定 部3 0 0內部之比較器群而比較被測試I C之回應訊號與 自I C測試器1 0 0所供給之期待値訊號,而介經電纜 KB 1而將此比較結果傳送於I c測試器1 〇〇。I C測 試器1 0 0係依據回應訊號與期待値訊號之比較結果而實 施特定被測試I C之不良處所等之判定動作β 下面說明測定部3 0 0之裝卸自如地裝置於測試頭 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS>A4規格(210 * 297公爱) <請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁>
i I I I I I 1 ·11111 _ I 經濟部智慧时產局員工消费合作社印製 -5- 經濟部智慧財產局員工消费合作社印裂 ^ ^95 9J a7 _B7_ 五、發明說明(3 ) 2 0 0之理由。 被測試I C係有多種類存在。所以欲測試例如插腳( p 1 η )數目不同之I C時,須要更換成爲實裝有適合於 各1C之插口之測定部300才行。 又IC之插腳數乃由IC之品種而由數十腳至數百腳 之多,因此在一次可測試之I C之數目,換言之同時可測 定之I C之數目(下面稱之謂同測數number of Sim ultaneous tests )會很大的變動。具體的說,自I C測試器 1 0 0而對被試驗I C可供給測試圖樣訊號,或電源電壓 ,裝置控制訊號等之頻道數通常爲1 0 0 0頻道程度,具 體的說被準備有1024頻道。 而將此1 0 2 4頻道之訊號經路適當地分配於各I C 插口 S K而實施測試。因此在試驗插腳數少之I C時可以 使用同測數增加,惟在測試插腳數多至數百腳之I C時, 同測數即不得不減少。 由以上之理由而準備實裝了各種插腳數之IC插口之 測定部3 0 0,而隨應於被測數I C之品種(規格)而將 這些測定部3 0 0安裝於測試頭2 0 0,以資實施品種( 規格)不同之I C之測試。 於圖4,乃至圖1 0乃表示各種型式之測定部之例。 圖4A、 4B及4C分別表示以型式No.5(TYPE =5 )呼稱之測定部3 0 0之構成之平面圖。又圖4乃至 圖1 0之各圖面中,測定部3 0 0內之虛線所示之方塊乃 表示I C插口 s K之裝置位置。在其內部所標之數字係表 <請先Μ讀背面之沒意事項再填寫本頁) 裝—丨II訂*!11 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) -6- 幻95gj A7 B7______ 五、發明說明(4 ) 示標於各I C插口 SK之號碼(也對應於各I C插口 SK 之被測試I C之號碼)。 圖4A表示,同測數SUM爲32個(SUM=32 ),I C 插 C3SK 爲 4 行(row ) x8 列(column ),( 下面表記爲4 x 8 )地予以排列之測定部3 0 0。圖4 B 表示同測數SUM 16個(SUM=16) ,1C插口 S K排列成4 X 4之測定部3 0 0。圖4 C係同測數 SUM爲8個(SUM=8) , 1C插口SK被排列爲4 乂2之測定部300,又圖4B及圖4C中,標上〇之部 份乃表示1C插口 SK不存在。圖4A、4B、4C之 TVPE=5之測定部300之特徵之共同項目乃,1C 插口 SK之四行全部地予以配置之點,及將I C插口 SK 之號碼分派於橫方向(norizonial directioin )之點。 相對的圖5 A,圖5 B及圖5 C乃分別表示呼稱型式 . 4 (TYPE = 4)之測定部300之構成之平面 圖。圖5 A係同測數S U Μ爲3 2個(S U Μ = 3 2 ), 巾M C插口 s Κ排列成4 X 8之測定部3 0 0。圖5 Β即 表示同測數S U Μ爲1 6個(S U Μ = 1 6 ) ,I C插□ S Κ被排列爲4 X 4之測定部3 0 0。圖5 C係表示同測 數S U Μ爲8個(S U Μ = 8 ) ,I C插口 S Κ排列成4 χ 2之測定部3 0 0。與圖4所示之Τ Υ Ρ Ε = 5之測定 部不同之點係在Τ Υ Ρ Ε = 4之測定部時將I C插口 S Κ 之號碼分派於縱方向(vertical direction )之點。又關於I C插口 S K之號碼之分派乃由各使用者之希望來決定者, 本紙張尺度適用中國國家標準(CNTS)A4規格(210 X 297公釐) — — — — —— — — · i— — — — — — ^ *1 — — —^ - J 一 ^ <諳先W讀背面之沒意事項再填寫本頁} 經濟部智慧財產局員工消费合作社印製 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 4l959t _: _ 五、發明說明(5 ) 技術上並沒有差別》 圖6係表示呼稱爲型式No · 3 (ΤΥΡΕ = 3 )之 測定部3 0 0之構成之平面圖。此Τ Υ Ρ Ε = 3之測定部 300 係,同測數 SUM 8 個(SUM=8) ’ICS 口 SK排列爲2x4。此丁 YPE = 3之測定部3〇0乃 在於I C插口 S K之裝置位置與號碼之分派爲交叉狀( cross-stitch )之點爲其特徵,只有圖6所示之1種° 圖7A、 7B及7C係分別表示呼稱型SNo·2( TYPE=2)之測定部300之構成平面圖。圖7八乃 同測數 S U Μ 爲 1 6 個(S U Μ = 1 6 ) ’ I C 插口 S Κ 排列成2 X 8之測定部3 0 0。圖7 Β係同測數S U Μ 8個(S U Μ = 8 ) ,I C插口 S Κ排列成2 X 4之測定 部 3 0 0。 圖7C係表示同測數SUM爲4個(SUM=4) ’ I C插口 S K係被排列成2 X 2之測定部3 0 0。在 丁丫卩£=2之測定部300中1匚插口5仄之號碼之分 派全部係橫方向。 圖8 A、8 B及8 C乃分別表示呼稱爲型式No . 1 (TYPE二1 )之測定部300之構成之平面圖。圖 8 A係表示同測數S U Μ爲1 6個(S ϋ Μ = 1 6 ) ’而 I C插口 S Κ被排列爲2 X 8之測定部3 0 0 » 圖8Β表示同測數SUM爲8個(SUM=8),
I C插DSK被排列成2x4之測定部300。圖8C係 表示同測數s U Μ爲4個(S U Μ = 4 ) ,I C插口 S K ---^--— HI— — — · ^ — — — — — — — ^*1-------^ <請先Μ讀背面之注意事項再填寫本頁) 本纸張尺度適用中國國家標準(CNS)A4规格(210 X 297公t) -8- 41^591 Α7 Β7 _ 五、發明說明< 6 ) 被排列爲2 X 2之測定部3 0 0。 此TYPE = 1之測定部300中I C插口 SK之號 碼之分派均爲縱方向。 圖9及圖1 0表不特殊之測定部之例。圖9係表示呼 稱爲型.式No . 6 (TYPE = 6)之測定部30 ◦。同 測數S U Μ爲8個(S U Μ = 8個),I C插口 S Κ係被 排列成橫一層(1 X 8 )。 圖10係表示呼稱爲型式No . 7 (ΤΥΡΕ = 7) 之測定部3 0 0。 同測數S U Μ爲1 6個(S U Μ = 1 6 ) 。I C插□ S Κ被排列成橫二層(2 X 8 )。 如上所述,以測定部3 0 0而準備種種之型式。將這 些各型式之測定部3 0 0對應於被測試I C之品種而選擇 採闬裝置於測試頭2 0 0,以資實施被測試I C之測試。 按在開始被測試I C之測試之前應準備好之事項有下 述者。 (1 )選擇裝載有合乎被測試I C之插腳數之1C插 口 s Κ之測定部3 0 0而裝置於測試頭2 0 0。 (2 )於I C測試器1 0 0之主控制器1 0 1 (參照 圖3 )中裝載:依照所裝置之測定部3 0 0之型式而對被 測試I C分派號碼,而具有可識別被測試I c之機能之測 試程序。 (3 )爲了處理機4 0 0能實施:依照所裝置之測定 部3 0 0之型式而將被測試I C送入於I C插口 S K之動 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁> 二 二 裝 i I--- —訂!! ϋ n i 經濟部智慧財產局員工消费合作社印製 二 本纸張尺度適用1f1國國家標準(CNS>A4規格(210 X 297公S ) -9- 經濟部智慧財產局員工消費合作钍印製 4 i959h A7 _J _B7__ 五、發明說明(7 ) 作起見,在處理器400之設定器401(參照圖3)中 ,設定I C插口 S K之排列如4 X 8、4x4、4x2, ......等等 = 實施上述之準備之後即實施被測試I C之測試,惟以 往並沒有確認在測試頭2 0 0上裝置了那一個型式之測定 部之手段。所以更換了測定部3 0 0時,操作者須要一定 沒有錯誤適正(適宜且正確地)對於I c測試器實施(2 )之操作,又對處理器4 0 0實施上述(3 )之操作才行 如果操作者忽略此操作時,測試乃無法正常地被實施 ,最不良之情形時會使處理器4 0 0之I C供給機構或裝 置於測定部3 0 0之I C插口 S K等破損。又如果將I C 插口 S K之號碼誤認時,在於卸料部而依照測試結果而分 類測試妥之IC時有發生做錯誤之分類之重大事故等之不 合宜之情形。 發明之槪要 本發明之一個目的係提供—種可防止依據操作者之誤 操作之誤動作之I C測試裝置及I c測試裝置之誤動作防 止方法也。 本發明之其他目的係提供一種’如果沒有實施對應於 裝置於測試頭之測定頭之操作時無法實施測試而構成之 I C測試裝置以及I c測試裝置之誤動作防止方法者。 本發明之另一其他目的係提供一種如果將某一型式之 — — — IlllllIt <^· — I I i I —^* — ιιί---^ (請先Μίι背面之ii意事項再填寫本頁) 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公* > -10- A7 經濟部智慧財產局貝工消费合作社印¾ _B7____五、發明說明(8 ) 測定部裝置於測試頭後,除非對於I c測試器及處理器實 施對應於該型式之測定部之操作,否則I C測試器不會被 起動之I C測試裝置以及I C測試裝置之誤動作防止方法 者。 爲了達成上述目的,本發明之第1面乃可以提供一種 I C測試裝置,主要乃具備有I C測試器及處理器之I C 測試裝置中,其特徵爲,具備有: 用於發訊顯示該所裝載之IC插口之測定部之型式之 型式訊號之,設於該測定部之型式訊號發訊機構,及 用於接受顯示上述測定部之型式之型式訊號之,設置 於上述I C測試器之型式訊號接受機構,及 至少將上述接受之型式訊號傳送於上述處理器之機構 ,及 依據由上述I C測試器所傳送而來之型式訊號,來判 定是否設定了適正於上述處理器之測定部之型式與否之’ 設置於上述處理器上之判定機構,及 將表示上述判定機構所輸出之判定結果之電氣訊號傳 送於上述I C測試器之機構,及 當自上述處理機所傳送而來之表示結果之電氣訊號爲 表示處理器之設定不良之電氣訊號時’用於阻止上述I c 測試器之起動之起動停止控制機構’而構成者。 上述I C測定部乃卸下可能地裝置於上述測定部, 上述I C測試器乃通過上述測試頭’上述測定部及上 述I C插□而對於被測試I c施加測驗圖樣同時,由此被 ί請先閱請背面之注意事項再填寫本頁) 裝 1111-i-rB, .ft — — ^ 二 二 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(21(W97公« ) •11 - 4 ^5 91 A7 __J__B7__ 五、發明說明(9 ) 測試i c讀取回應訊號而比較此回應訊號與期待値訊號, 以資判定被測試I c之良否地被構成, 上述處理機係對上述部運送被測試IC同時由上述測 定部搬出完成測試之測試妥I c,依測試結果將測試妥 I c予以分類分解而構成。 合宜之一實施例中,上述I c測試器係與上述型式訊 號一齊,將收容於該I C測試程序所指定之將同時的測定 IC之個數之IC同測數傳送於上述處理器, 上述處理器之判定機構係,依據由上述I C測試器傳 送而來之上述型式訊號及同測數,來判定是否設定有,適 正於此處理機之測定部之型式,以及是否收容有對上述 I C測試器適正之測試程序,而分別在於適正時輸出良訊 號,在不適正時輸出不良訊號1 上述I C測試器乃含有當在於上述判定機構之判定輸 出,全部係良訊號時,產生I c測試器之起動命令’當上 述判定機構之判定輸出之至少一個爲不良訊號時’產生阻 止I C測試器之起動之起動停止命令之起動•停止控制機 構者。 又,上述處理機中設定有,裝置於上述測試頭之測定 部之I C插口之排列, 上述處理機之判定機構乃依據自上述I c測試器所傳 送而來之上述型式訊號及同測號,以資判定設定於此處理 器之I c插口之排列是否與裝置於上述測定部之I C插口 之排列一致與否者。. <請先M讀背面之注意事項再填寫本頁) 二 -i i - I I I--1 I 訂-I I---- I -^ 經濟部智慧財產局具工消费合作社印 本紙張又度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) -12- i--一 4 a7 9 B7 烴濟部智.¾时產局員工消費合作社印製 五、發明說明(10) 一具體例中,在上述處理器乃設定有將裝置於上述測 試頭之測定部之I C插口之排列,上述處理機乃具備有, 由型式訊號及同測數而可以特定裝置於上述測定部之IC 插口之排列之參照表,上述處理器之判定機構係,由上述 I C測試器所傳送而來之上述型式訊號及同測數,而使弔 上述參照表來特定裝置於上述測試頭之測定部之I C插口 之排列以資判定設定於此處理機之I C插口之排列之是否 與裝置於上述測定部之IC插口之排列一致與否者。 又•上述處理機之判定機構乃,由於自上述I C測試 器所傳送來之與上述型式訊號及同測數之對應關係之不存 在於,由型式訊號及同測數而可以特定裝置於上述測定部 之I C插口之排列之參照表上,因此無法特定上述測試頭 上所裝置於測定部之I c插口之排列時,判定該收容於上 述I C測試器之測試程序爲不適正者。 一變形例中,上述I c測試器乃依據所接受之上述型 式訊號及由收容於該I C測試器之測試程序所指定之I C 之同測數而判定,上述測定部之型式,上述測定部之I C 插口之排列,及同測數之是否對應於上述測試程序,如對 應關係相一致時,將上述I C插口之排列傳送於上述處理 器, 上述處理器之判定機構乃用於判定,由上述I C測試 器所傳送而來之上述I C測試器之排列是否與設定於上述 處理機之I C插口之排列相一致者。 本發明之第2面乃一種I C測試裝'置之誤動作防止方
i I {靖先閲讀背面之注項再填寫本頁) 裝--— — — — — — 訂----- 二 二 本纸張尺度適用中囤囷家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) 4^9591 Α7 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 Β7____五、發明說明(11 ) 法,主要乃在於具備有I C測試器及處理器之I C測試裝 置中,其特徵爲,含有: 將表示,裝置有I C插口之測定部之型式訊號’由該 測定部而予以發訊之階段,及 以上述I C測試器來接受上述型式訊號之階段,及 將至少上述接受之型式訊號傳送於上述處理器之階段 ,及 依據由上述I C測試器所傳送而來之型式訊號,以資 判定在上述處理器上是否設定有適正之測定部之型式之階 段,及 將表示判定之電氣訊號傳送於上述I C測試器之階段 ,及 將表示上述判定結果之電氣訊號係表示處理器之設定 不良之電氣訊號時*阻止上述I C測試器之起動之階段者 C 上述判定之階段乃,依據由上述I c測試器所傳送來 之上述型式訊號來判定,設定於上述處理器之I C插口之 排列是否與裝置於上述測定部之I C插口之排列一致者。 合宜之一實施例中,將上述型式訊號傳送於上述處理 器之階段係含有與上述型式訊號一齊,將收容於上述I C 測試器之由測試程序所指之該同時地測定I c之個數之 I C之同測數傳送於上述處理器之階段, 實施上述判定之階段乃含有,依據自上述I C測試器 所傳而來之上述型式訊號及同測數來判定,在上述處理器 (請先W讀背面之注意事項再填寫本頁) 二 二 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公* ) -14- 4i959l Α7 Β7 五、發明說明(12) 是否設定有適正之測定部之型式與否,及在上述I C測試 器是否收容有適正之測試程序,而分別如果適正時輸出良 訊號,而如果不適正時即輸出之階段。 阻止上述I C測試器之起動之階段係含有,當由上述 判定階段所輸出之訊號係全部爲良訊號時即發出上述I C 測試器之起動命令,而當至少有一個爲不良訊號時即發生 阻止上述IC測試器之起動之起動停止命令之階段者。 又判定是否在上述處理器上設定有適正之測定部之型 式與否之階段乃,依據自上述I C測試器所傳送來之上述 型式訊號及同測數來判定,設定於上述處理器之I C插口 之排列是否與裝置於上述測定部之I C插口之排列一致者 0 又一具體例中判定上述處理器是否設定有適正之測定 部之型式之階段乃含有,筒用由型式訊號及同測數來可特 定裝置於上述測定部之I C插□之排列之參照表,以資由 上述I C測試器所送而來之上述型式訊號及同測數來特定 上述測定部之I C插口之排列*以資判定設定於上述處理 器之I C插口之排列是否和裝置於上述測定部之I C插口 之排列相一致與否之階段者》 又,判定上述I C測試器,是否收容有適正之測試程 序之階段乃含有,由於該自上述I C測試器所傳送而來之 上述型式訊號與同測數之對應關係乃,不存在於,由型式 訊號及同測數而可特定裝置於上述測定部之I C插口之排 列之參照表中,所以無法特定上述測定部之I C插口之排 本紙張又度適用中國國家標準(CNS)A4規格(21〇 X 297公« > <請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 二 ~| h * - -----I -----I 1—1*% 經濟部智慧財產局員工消费合作社印製 -15- 419591 a7 ____B7 _*_ 五、發明說明(13) 列時,判定爲收容於上述i c測試器之測試程序係不適正 之階段者。 {請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 在於一變形例中,再含有,依據,以上述I C測試器 所接受之上述型式訊號及收容於該I C測試器之測試程序 所指定之I C之同測數而判定上述測定部之型式,上述測 定部之I C插口之排列以及同測數之是否對應於上述測試 程序,而當對應關係之相一致時將上述I C插口之排列傳 送於上述處理器之階段, 而上述實施判定之階段係用於判定 > 自上述I c測試 器所送列之上述i C插口之排列是否與設定於上述處理器 之I C插口之排列相一致。 依上述之本發明時,除非隨伴於測定部之更換而實施 之對於1 C測試器及處理器之操作之以正規的被實施,判 定機構乃不會判定爲良,因此不會在誤操作之狀態下I C 測試器不會起動。 經濟部智慧財產局員工消费合作社印製 所以不會有以誤操作之狀態地實施試驗,由而引起使 處理器破損之事故之虞。又也不會誤認測試結果致使試驗 妥I C之誤分類之虞,所以可以提供操作容易並且可靠性 高之I C測試裝置也。 (合宜之實施例之詳細說明) 下面参照圖1及圖2詳細的說明本發明之合宜之實施 例。爲了使簡單的說明,於圖1中與圖3 (習用)對應之 部份或元件即標上同一標號’而除非必要盡量省略其說明 本纸張尺度適用中國困家標準(CNS〉A4規格(210 X 297公爱) -16- 4 Q 1 A7 B7 五、發明說明(14) 0 圖1係表示本發明之I c測試裝置之一實施例之方塊 圖。 本實施例中|應裝置於測試頭2 0 0之各測定部 3 0 0設置當裝置於測試頭2 0 0時發訊該測定部之型式 (TYP E )之電氣訊號之型式訊號發訊器3 0 1 。此型 式訊號發訊器3 0 1乃例如可使用:採用雙引直插開關( DIP switch :組入於D I P型之I C包之開關)之設定器 ,或採用在於端子板之連結線之連接而發訊出Η邏輯訊號 及L邏輯訊號所成之複數位元之邏輯訊號,依此複數位元 之邏輯訊號而以電氣訊號發訊測定部3 0 0之型式號碼而 構成之一接點訊號發訊器。 裝置於各測定部3 0 0之型式訊號發訊器3 0 1乃藉 由將特定之一個測定部3 0 0裝置於測試頭2 0 0,由而 與I C插口一齊電氣的連接於測試頭2 0 0,又介著電纜 KB 1而電氣的連接於設於I C測試器1 〇 〇之型式訊號 讀入器1 0 2。此型式訊號讀取器1 0 2乃讀取該裝置於 測定部3 0 〇之型式訊號發訊器3 0 1之型式訊號 ΤΥ Ρ Ε。型式訊號讀取器1 0 2乃將所讀取之型式訊號 TYPE送至傳送裝置103。 I C測試器1 0 0之主控制器1 〇 1中,預先裝載有 測試程序。由此測試程序抽出設定於此測試程序之同測數 S U Μ而輸入於傳送裝置1 0 3。輸入於傳送裝置1 0 3 之同測數S U Μ乃與型式訊號Τ Υ Ρ Ε —齊經電纜+ Κ Β 2 本紙張尺度適用中S國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公« ) {請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) i I I I I 訂·!丨丨 — _ !4t 經濟部智慧財產局員工消费合作社印製 4^5qj A7 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 ____ B7____五、發明說明(15 ) 而傳送於處理器4 0 0。 本實施例中,於處理器4 0 0中,設定器4 0 1之外 ’設有判定裝置402,參照表40.3,返送器404, 以及警報發生器4 0 5。 由I C測試器1 0 0送來之型式訊號TYP E及同測 數S UM係被輸入於處理器4 0 0之判定裝置4 0 2。 判定裝置4 0 2乃由被輸入之型式訊號TY P E及同 測數S U Μ而參照參照表4 0 3以資特定裝置於測試頭 2 0 0之測定部3 0 0之I C插口 S Κ之排列。 具體的說明之。即,參照表4 0 3係如圖2所示以對 應關係地記億型式訊號及同測數,所以如型式訊號 Τ Υ Ρ Ε及同測數S U Μ決定時,由此參照表就可讀取I C插口 S Κ之排列地被構成者。 例如型式訊號Τ Υ Ρ Ε爲,Τ Υ Ρ Ε = 1 ,同測數 SUM,SUM=16時I C插口 SK係由圖2可知。可 特定2 X 8 ( 2行X 8列)之排列。由此結果可判定,屬 於圖8 A所示之測定部之構造。 再者,如型式訊號TYPE爲TYPE 4 ’同測數 SL'M,SLTM=32時,1C插口 SK係由圖2可知, 可特定4 X 8 ( 4行X 8列)之排列。由此結果可判定此 乃如圖5 A所示之測定部之構造。 又如果,型式訊號TYPE爲TYPE = 5 ’同測數 SUM,SUM=8時I C插口 SK乃由圖2可知可特定 爲4 X 2 ( 4行X 2列)之排列。由此結果可判定這是圖 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 * 297公釐) -18- <請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 二· 二 二 A7 4 ^95 9 ____B7____ 五、發明說明(16 ) 4 C所示之測定部之構造= 如上所述的由I C測試器1 〇 〇將型式訊號τγ ρ E 及同測數S U Μ送來之結果,在於處理器4 0 0側即可特 定裝置於測試頭2 0 0之測定部3 0 0之I C插口 SK之 排列。所以比較由參照表4 0 3所特定之I C插口 S Κ之 排列,與設定於處理器4 0 〇之設定器4 0 1之I C插口 SK之排列,就可判定設定於處理器400之IC插口之 排列與實際的裝置於測定部3 〇 〇之I C插口之排列是否 相互一致也。 再者’如由ί C測試器1 〇 0所送至處理器4 〇 〇之 型式訊號Τ Υ Ρ Ε與同測數S U Μ之對應關係並不存在於 參照表4 0 3時’就可明白預先裝載於I c測試器1 〇 0 之主控制器1 0 1之測試程序並不對應於裝置於測試頭 2 0 0之測定部3 0 0之型式。換言之,雖然型式訊號 TYPE爲ΤΥΡΕ = 4或5 ’惟由測試程序所抽出之同 測數S U Μ ’ S U Μ = 4或2時,即由於Τ Υ Ρ Ε = 4或 5所對應之同測數並不存於參照表4 0 3 ,由而可以判定 裝載於I C測試器1 〇 〇之主控制器1 〇 1之測試程序乃 屬於錯誤者。 所以在此處理器4 0 0側可以實施設定於此處理器 400之設定器401之IC插口之排列是否與實際的裝 置於測定部3 0 0之I C插口之排列之判定。以及裝載於 I C測試器1 0 〇之主控制器1 〇 1之測試程序是否適正 t適及正確)之判定也。 本纸張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) (請先W讀背面之注意事項再填寫本頁)
-- 二 '裝 — II 訂·! —I 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 -19- 4 ^5 9 J A7 B7 經濟部智慧財產局具工消費合作社印製 五、發明說明(17) 上述之判定乃於處理器4 0 0之判定裝置4 0 0中實 施,此判定裝置4 0 2之判定結果係給於警報發生器 4 0 5,同時介經返送器4 0 4及電纜K B 3而送至設於 I C測試器1 0 0之起動•停止控制器1 〇 4。 此起動•停止控制器104,乃自處理器400而送 來該表示設定於處理器4 0 0之I C插口之排列,與測定 部3 0 0之I C插口之排列相一致(即表示處理器之設定 正確)之設定良訊號OK時,發生起動命令(起動訊號) 而P武予主控制器1 0 1使之開始測試也。 相對的,如果處理器4 0 0之判定裝置4 0 2發生, 表示設定於處理器4 0 0之I C插口 •與測定部3 0 0之 I C插口之排列不一致(即表示處理器之設定有錯誤)之 設定不良訊號NG時處理器4 0 0之警報發生器4 0 5被 啓動而發出警報,同時I C測試器1 0 0之起動•停止控 制器1 0 4發生起動•停止命令(起動停止訊號)將它賦 予主控制器1 0 1 ,報知處理器4 0 0之設定有錯誤之情 形=由而主控制器1 0 1被阻止其起動,所以I C測試器 不能開始測試,同時主控制器1 0 1乃令顯示器1 0 5顯 示處理器之設定不良之情況。又視必要可以使I C測試器 1 ◦ 0之警報發生器1 0 6啓動發生警報也可以。 再者,在上述實施例乃對於型式No . 1 ’ No . 2 ,Ν ο · 4及Ν ο . 5之測定部分別以1個型式訊號( TYPE=1 ,2 ,4,或5)來總稱三種之測定部而構 成‘惟如果型式訊號發訊器3 0 1之發訊可能之位元數有 本纸張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公* > 二 <請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁)
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ϋ n V -20- 經濟部智慧財產局員Η消費合作社印製 419591 Λ7 _____B7 五、發明說明(18) 寬裕時,即得對於全部之型式(Τ Υ Ρ Ε )之測定部均可 以賦予型式號碼。如上所述對於全部之型式之測定部賦予 型式號碼時,得於實施I C測試器1 〇 〇中對於全部之測 定部3 0 0之型式號碼及I C插口之排列以及同測數 S U Μ.個別地測試程序是否對應之判定也。 .此時如果使之構成爲於I C測試器1 〇 〇側而判定測 定部3 0 0與測試程序之對應關係是否一致,如果該判定 結果良時即對於處理器4 0 0傳送I C插口之排列。又在 處理器4 0 0側實施比較設定於此處理器4 0 0之I C插 口之排列,與自I C測試器1 〇 〇送來之I C插口之排列 時’就能實施雙重之判定,於是更能提高更一層之可靠性 c 由上述之說明就可以明瞭,依本發明時,當對應於被 測試I C之品種之變更而更換裝置於測試頭之測定部時, 由於各測定部具備有型式訊號之發訊機構,所以由所裝置 之測定部會發訊出型式訊號,而可以讀取它》並且將此型 式訊號及自測試程序所抽出來之同測數傳送至處理器,而 在處理器側得依型式訊號及同測數從參照表明瞭裝置於該 測試頭之測定部之I C插口之排列。由而在處理器側可判 定由該參照表所讀取之I C插口之排列與設定於處理器之 設定器上之I C插口之排列之是否相一致,以資判定設定 於處理器之IC插口之排列是否正碓也。 再者,如果自I C測試器送至處理器之同測數係不存 在於型式訊號之數値時,將顯示裝載於I C測試器之測試 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) (锖先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 裝---- ----訂------1 — ·^ 二一 -21 - A7 B7 五、發明說明(19) 程序係不適合於裝置於測試頭之測定部之型式之意思。所 以由此也可以判定在IC測試器之主控制器上是否裝載有 適正之測試程序與否也。 再者,如果上述之判定結果全部係w良"時’ I C測 試器被起動開始測試,惟如果在上述之判定結果中就算是 有一個不良時,I C測試器即被阻止該起動,因此不會有 發生誤動作之虞。 於是依本發明時不會有:以誤設定之狀態地起動I C 測試器以致破損處理器之機構部份,或I C之分類錯誤之 情形。所以可以提供操作容易,並且可靠性高之I C測試 裝置之顯著之利點。 上面乃以圖示之合宜之實施例來說明本發明,惟不逸 脫本發明之精神及範圍地對於上述之實施例而可以做種種 之變形、變更以及改良係在此領域之技術者而言很淸楚之 事實,所以本發明乃不限定於例示之實施例,如果能夠合 乎本發明之申請專利範圍所定之範圍內之所有之變形、變 更·以及改良自應包含於本發明之範圍乃自明之道理也。 圖式之簡單說明 第1圖係表示本發明之I C測試裝置之一實施例之方 塊圖。 第2圖係使用於第1圖所示之Ic測試裝置之參照表 之一例之圖。 第3圖係表示習用之I c測試裝置之一例之方塊圖。 各紙張尺度適用中國國家標準(CNS>A4規格(210 X 297公« ) {請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) -—— — III— ·11111111 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 •22- 二- 經濟部智慧財.產局員工消費合作社印製 4^59] 1 A7 __B7 _ 五、發明說明(20) 第4圖係爲說明使用於I C測試裝置之測定部之型式 之 — 之 圖 〇 第 5 圖 係 說 明 測 定 部 之 其 他 型 式 之 圖。 第 6 圖 係 說 明 測 r-*-· 疋 部 之 其 他 型 式 之 圖。 第 7 圖 係 說 明 測 定 部 之 其 他 型 式 之 圖。 第 8 圖 係 說 明 測 定 部 之 其 他 型 式 之 圖。 第 9 圖 係 說 明 測 定 部 之 其 他 型 式 之 圖。 第 1 0 圖 係 說 明 測 定 部 之 其 他 型 式 之圖 主 要 元 件 對 照 表 1 0 0 I C 測 試 器 1 0 1 主 控 制 器 1 0 2 型 式 訊 號 讀 取 器 1 0 3 傳 送 裝 置 1 0 4 起 動 _ 停 止 控 制 器 1 0 δ 示 器 1 0 6 警 報 產 生 器 9 0 0 測 試 頭 3 0 0 測 定 部 3 0 1 型 式 訊 Ψι 發 訊 器 4 0 0 處 理 器 4 0 1 π又 定 器 4 〇 2 判 定 器 4 0 3 參 照 表 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) |~ i 一 二一 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210x 297公釐〉 -23- 4^59ί 五、發明說明(21 ) 4 0 4 返送器 405 警報發生器 5 K I C 插口 SUM 同測數 TYPE 型式 {請先Μ讀背面之注意事項再填寫本頁) -* 1 ---ί I 訂·------- - 今 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 本紙張尺度適用中因國家標準(CNS>A4規格(210x 297公釐) -24-

Claims (1)

  1. 4 Μ B8 C8 D8 六、申請專利範圍 1.一種Ic測試裝置,主要乃具備有Ic測試器及 處理器之I C測試裝置中,其特徵爲,具備有: 用於發訊顯示該所裝載之I C插口之測定部之型式之 型式訊號之,設於該測定部之型式訊號發訊機構,及 用於接受顯示上述測定部之型式之型式訊號之’設置 於上述I C測試器之型式訊號接受機構,及 至少將上述接受之型式訊號傳送於上述處理器之機構 ,及 依據由上述I C測試器所傳送而來之型式訊號•來判 定是否設定了適正於上述處理器之測定部之型式與否之, 設置於上述處理器上之判定機構,及 將表示上述判定機構所輸出之判定結果之電氣訊號傳 送t h述I C測試器之機構,及 迄S上述處理機所傳送而來之表示結果之電氣訊號爲 表示處理器之設定不良之電氣訊號時,用於阻止上述I C 測試器之起動之起動.停止控制機構,而構成者。 2 .如申請專利範圍第1項所述之I C測試裝置,其 中 上述I c測定部乃卸下可能地裝置於上述測定部, 上述I C測試器乃通過上述測試頭,上述測定部及上 述I C插口而對於被測試I C施加測驗圖樣同時,由此被 測試I C讀取回應訊號而比較此回應訊號與期待値訊號, 以資判定被測試I C之良否地被構成, 上述處理機係對上述部運送被測試.I C同時由上述測 本纸張尺度逋用中國國家揉♦( CNS ) A4规格(210X297公釐) (請先閲讀背面之注意事項再填寫本育) .!裝· 經濟部智慧財產局員工消费合作社印製 -25- 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 4ί959ι I DS六、申請專利範園 定部搬出完成測試之測試妥I c ^依測試結果將測試妥 I C予以分類分解者。 3.如申請專利範圍第1項所述之I C測試裝置,其中 上述I C測試器係與上述型式訊號—齊’將收容於該 I C測試程序所指定之將同時的測定1C之個數之1C同 測數傳送於上述處理器, 上述處理器之判定機構係’依據由上述I c測試器傳 送而來之上述型式訊號及同測數’來判定是否設定有,適 正於此處埋機之測定部之型式,以及是否收容有對上述 I c測試器適正之測試程序’而分別在於適正時輸出良訊 號,在不適正時輸出不良訊號, , 上述I C測試器乃含有當在於上述判定機構之判定輸 出,全部係良訊號時,產生I C測試器之起動命令,當上 述判定機構之判定輸出之至少一個爲不良訊號時,產生阻 止I c測試器之起動之起動停止命令之起動•停止控制機 構者。 4 .如申請專利範圍第2項所述之I C測試裝置,其 中 上述I C測試器係與上述型式訊號一齊,將收容於該 I C測試程序所指定之I C之同測數傳送於上述處理器》 上述處理器之判定機構係,依據由上述I C測試器傳 送而來之上述型式訊號及同測數,來判定是否設定有,適 正於此處理機之測定部之型式,以及是否收容有對上述 I C測試器適正之測試程序,而分別在於適正時輸出良訊 本S張尺度逍用*S國家標牵(CMS ) A4規格(210X297公釐) (請先W讀背面之注意事項再填寫本頁) -26- 4ί95 9ι D8 經濟部智站財產局員工消贲合作社印製 六 申請專利範圍 1 1 號 T 在 不 適 正時輸出不良訊號。 * 1 ( 上 述 I C測試器乃含有當在於 上 述 判 定 Μί 慑 構 之 判 定 輸 1 I 出 全 部 係 良 訊號時產生I C測試器 之 起 動 命 令 y 當 上 述 判 請 I 1 定 機 構 之 判 定輸出之至少一個爲不良訊號時 產生阻止 先 閱 it 1 I C 測試 αα 益 之起動之起動•停止控制機構者< 背 面 之 1 1 δ 如 申請專利範圍第4項所 述 之 I C 測 試 裝 置 » 其 注 意 | 事 1 中 項 再 1 | 填 ) 上 述 處 理機中設定有,裝置於 上 述 測 試 頭 之 測 定 部 之 寫 本 裝 J I C 插 □ 之 排列- 1 1 上 述 處 理機之判定機構乃依據 白 上 述 I C 測 試 □ C3 益 所 傳 1 1 送 而 來 之 上 述型式訊號及同測號, 以 資 判 定 e又 定 於 此 處 理 1 | -!, I C 插 口之排列是否與裝置於 上 述 測 定 部 之 I C 插 □ 訂 J * *- W 排 列 — 致 與否者= 1 1 1 6 ' 如 申請專利範圍第4項所 述 之 I C 測 試 裝 置 其 1 1 中 1 1 在 上 述 處理器設定有將裝置於 上 述 測 試 頭 之 測 定 部 之 1 ! I C 插 □ 之 排列, \ 1 1 上 述 處 理機乃具備有,由型式 訊 號 及 同 測 數 而 可 以 特 1 ί 定 裝 置 於 上 述測定部之I C插口之排列之參照表, ί 上 述 處 理器之判定機構係,由 上 述 I C 測 試 器 所 傳 送 1 1 而 來 上 述 型式訊號及同測數,而 使 用 上 述 參 照 表 來 特 定 ] I 裝 置 於 上 述 測試頭之測定部之I C 插 □ 之 排 列 以 資 判 定 設 1 1 定 此 處 理 機之I C插口之排列之 是 否 與 裝 置 於 上 述 測 疋 ί 1 部 之 I C 插 口之排列一致與否者。 i 1 本紙S·尺度適用中國困家榡毕(CNS ) Α4規格(2丨0X297公釐) -27- 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 4 91六、申請專利範圍 7 .如申請專利範圍第4項所述之I C測試裝置·其 中 上述處理機之判定機構乃,由於自上述I C測試器所 傳送來之與上述型式訊號及同測數之對應關係之不存在於 ,由型式訊號及同測數而可以特定裝置於上述測定部之 I C插口之排列之參照表上,因此無法特定上述測試頭上 所裝置於測定部之I c插口之排列時,判定該收容於上述 I C測試器之測試程序爲不適正者。 8 .如申請專利範圍第1項或第2項所述之I C測試 裝置,其中 上述i C測試器乃依據所接受之上述型式訊號及由收 容巧誇I C測試器之測試程序所指定之I C之同測數而判 定,上述測定部之型式,上述測定部之I c插口之排列, 及N測數之是否對應於上述測試程序,如對應關係相一致 時·將上述I C插口之排列傳送於上述處理器, 上述處理器之判定機構乃用於判定,由上述I C測試 器所傳送而來之上述I C測試器之排列是否與設定於上述 處理機之I C插口之排列相一致者。 9 .—種I C測試裝置之誤動作防止方法,主要乃在 於具備有I c測試器及處理器之I C測試裝置中,其特徵 爲·含有: 將表示,裝置有I C插口之測定部之型式訊號,由該 測定部而予以發訊之階段,及 以上述I C測試器來接受上述型式訊號之階段’及 (請先《讀背面之注意事項再填寫本頁) 本纸張尺度速用中困a家揉準(CNS ) A4規格(210X2?7公釐) -28- “马 591 AS .-Λ C8 4 _一 六、申請專利乾圍 將至少上述接受之型式訊號傳送於上述處理器之階段 ,及 {請先W讀背面之洼意事項再填寫本頁) 依據由上述I c測試器所傳送而來之型式訊號,以資 f(J定在上述處理器上是否設定有適正之測定部之型式之階 段,及 將表示判定之電氣訊號傳送於上述I C測試器之階段 ,及 將表示上述判定結果之電氣訊號係表示處理器之設定 不良之電氣訊號時,阻止上述1 C測試器之起動之階段者 1 Ο .如申請專利範圍第9項所述之I C測試裝置之 誤酌作防止方法,其中 1:述判定之階段乃,依據由上述I C測試器所傳送來 之上述型式訊號來判定,設定於上述處理器之I C插口之 排列是否與裝置於上述測定部之I C插口之排列一致者。 l· 1 .如申請專利範圍第9項所述之I C測試裝置之 誤動作防止方法,其中 經瀵部智慧財雇局具工消骨合作社印製 將上述型式訊號傳送於上述處理器之階段係含有與上 述型式訊號一齊,將收容於上述I C測試器之由測試程序 所指之該同時地測定I C之個數之I C之同測數傳送於上 述處理器之階段, 實施上述判定之階段乃含有’依據自上述I C測試器 e斤傳而來之上述型式訊號及同測數來判定,在上述處理器 是否設定有適正之測定部之型式與否,及在上述I C測試 本紙張凡度適用中囷困家,樣率(CNS ) A4規格(210X297公釐J -29- 4195 9 A8 B8 C8 D8 經濟部智慧时產局負工消費合作社印製 A、申請專利範圍 器是否收容有適正之測試程序,而分別如果適正時輸出良 訊號’而如果不適正時即輸出之階段。 阻止上述I C測試器之起動之階段係含有,當由上述 判定階段所輸出之訊號係全部爲良訊號時即發出上述I c 測試器之起動命令,而當至少有一個爲不良訊號時即發生 1®止上述I C測試器之起動之起動停止命令之階段者。 1 2 _如申請專利範圍第1 1項所述之I c測試裝置 之誤動作防止方法,其中 判定是否在上述處理器上設定有適正之測定部之型式 與否之階段乃,依據自上述I C測試器所傳送來之上述型 式Π號及同測數來判定,設定於上述處理器之I C插口之 排列是否與裝置於上述測定部之丨c插口之排列—致者。 1 3 .如申請專利範圍第1 1項所述之I C測試裝置 之誤動作防止方法,其中 判定上述處理器是否設定有適正之測定部之型式之階 段乃含有,使用由型式訊號及同測數來可特定裝置於上述 測定部之I C插口之排列之參照表,以資由上述I C測試 器呵送而來之上述型式訊號及同測數來特定上述測定部之 I C插口之排列,以資判定設定於上述處理器之I c插□ 之排列是否和裝置於上述測定部之I C插口之排列相—致 與否之階段者。 1 4 ·如申請專利範圍第1 1項所述之I C測試裝置 之誤動作防止方法,其中 判定上述I C測試器,是否收容有適正之測試·程序之 <請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 本紙張尺度適用尹國困家標率(CNS ) A4洗格(210X297公藿) -30 - AS 4»95 91 1 -------J_______ 六、申請專利範圍 階段乃含有,由於該自上述i c測試器所傳送而來之上述 型式訊號與同測數之對應關係乃,不存在於,由型式訊號 及同測數而可特定裝置於上述測定部之I C插口之排列之 參照表中,所以無法特定上述測定部之I C插口之排列時 ’判定爲收容於上述I c測試器之測試程序係不適正之階 段者= 1 5 .如申請專利範圍第9 項所述之I C測試裝置 之誤動作防止方法,其中 再含有,依據,以上述I C測試器所接受之上述型式 訊號及收容於該I C測試器之測試程序所指定之I C之同 則數而判定上述測定部之型式,上述測定部之I c插口之 排列以及同測數之是否對應於上述測試程序,而當對應關 ί系之相一致時將上述I c插口之排列傳送於上述處理器之 階段· 而上述實施判定之階段係用於判定,自上述I C測試 器所送列之上述I C插口之排列是否與設定於上述處理器 之I c插口之排列相一致者。 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟邯智慧財是局員工消费合作社印製 本纸ft尺度通用中困S家標車(CNS ) Α4洗格(210x297公釐) -31 -
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