CN1229924A - Ic实验装置 - Google Patents

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Abstract

一种IC试验装置,用于防止伴随更换装在试验头的测定部而产生的事故。在信息处理器中,由判定装置402自传来的同测数和型号信号判定试验程序是否正确以及设定在信息处理器的IC插座的排列和测定部的IC插座的排列是否一致,由设于IC试验器的起动－停止控制器104,在判定结果全部优良时产生起动命令,使试验开始,在判定结果只要有一个不良时产生停止命令,阻止IC试验器的起动。

Description

IC实验装置
本发明涉及一种IC实验装置及IC实验装置的误动作防止方法，该IC试验装置用于试验由半导体集成电路(以下称为IC)构成的半导体器件如存储IC、逻辑IC等。
现有IC试验装置之一例的概略结构如图2所示。如图所示，IC试验装置大体上分，由IC试验器100及信息处理器400构成，其中，IC试验器100产生外加于被试验IC的试验图形信号、地址信号、控制信号、期待值信号等，并根据自被试验IC读出的应答输出信号判定被试验IC的优劣；信息处理器400将被试验IC自输入器部向试验部搬送，并使其与IC插座电接触，试验结束后，将已试验IC从试验部向卸载器部搬出，在该卸载器部，根据试验结果将已试验IC分类。
IC试验器100包括以电缆KB1相互电连接的另体的试验头200，在例示的IC试验装置中，该试验头200配置于信息处理器400的试验部下部的规定的位置上。试验头200通常包括激励器群和比较电路仪群，其中，激励器群用于将在IC试验器100产生的试验图形信号或地址信号外加于被试验IC；比较仪群将由被试验IC读出的应答输出信号与期待值信号比较；来自比较仪群的输出信号通过电缆KB1被送往IC试验器100。
在试验头200的上部可拆装地安装有和使试验头内的激励器群及比较仪群与被试验IC的引线端子电接触的IC插座SK之间电连接的被称作测定部的部件(以下单称为测定部)300。规定个数的IC插座SK安装于该测定部300的上面，配置于信息处理器400的试验部。
信息处理器400将被试验IC搬送到该试验部后，使其与IC插座SK接触，使IC试验器100通过电缆KB1、试验头200、测定部300及IC插座SK将规定的试验图形信号外加于被试验IC上，从而进行被试验IC的试验。试验结束的已试验IC由信息处理器400从IC插座SK取下，由试验部向卸载器部搬送。
IC试验器100按照存储在主控制器101里的试验程序而动作，通过装在测定部300的IC插座对被试验IC进行试验。也就是说，从IC试验器100通过电缆KB1、试验头200、测定部300将试验图形信号外加到和IC插座接触的被试验IC上，通过测定部300将其应答信号送入试验头200，由该试验头200内部的比较仪群比较被试验IC的应答信号和由IC试验器100供给的期待值信号，通过电缆KB1将其比较结果传送到IC试验器100。IC试验器100根据应答信号和期待值信号的比较结果，进行特定被试验IC的不良区域等的判定动作。
下面，就为什么将测定部300可拆装地安装于试验头200进行说明。
被试验IC的品种有很多种。因此，在试验例如插脚数不同的IC时，必须更换到装有适合于各IC的IC插座的测定部300。
另外，IC的插脚数由于因IC的品种不同而从数十个插脚到数百个插脚不同，所以可一次试验的IC数、即，可同时测定的IC数[下面称为同测数(number of sim ultaneous tests)]会大幅度变动。具体地说明如下，从IC试验器100可将试验图形信号、或电源电压、器件控制信号等供给被试验IC的信道数一般地准备有1000信道左右、具体地为1024信道。将这1024信道的信号路径适当地分配到各IC插座SK而进行试验。为此，试验插脚数少的IC时可增多同测数，但，试验插脚数到数百插脚的IC时，同测数就不得不减少。
根据以上理由，就要准备装有各种插脚数的IC插座的测定部300，根据被试验IC的品种(规格)将这些测定部300装入试验头200，试验品种(规格)不同的IC。
图3A至图9显示各种型号的测定部的例子。图3A、图3B及图3C为分别显示称作型号No.5(TYPE＝5)的测定部300的结构的平面图。另外，在图3A至图9的各图中，用测定部300内的虚线显示的方形表示IC插座SK的安装位置，其内部附有的数字表示附于各IC插座SK(也对应于与各IC插座SK接触的被试验IC的序号)的序号。
图3A表示同测数SUM为32个(SUM＝32)，IC插座SK以4行(row)×8列(column)(下面记作4×8)排列着的测定部300，图3B表示同测数SUM为16个(SUM＝16)，IC插座SK以4×4排列着的测定部300，图3C表示同测数SUM为8个(SUM＝8)，IC插座SK以4×2排列着的测定部300。另外，在图3B图及图3C中，附有0的部分表示IC插座SK不存在。作为图3A、图3B及图3C所示的TYPE＝5的测定部300的特征的共同项目为IC插座SK全部以4行配置和将IC插座SK的序号布置于横向(horitontaldireation)这两点。
与此相对，图4A、图4B以及图4C为分别显示称作型号No.4(TYPE＝4)的测定部300的结构的平面图。图4A表示同测数SUM为32个(SUM＝32)，IC插座SK以4×8排列的测定部300，图4B表示同测数SUM为16个(SUM＝16)，IC插座SK以4×4排列着的测定部300，图4C表示同测数SUM为8个(SUM＝8)，IC插座SK以4×2排列着的测定部300。和图3A、图3B、图3C所示的TYPE＝5的测定部的不同点在于在TYPE＝4的测定部将IC插座SK的序号布置于纵向(vertical direction)。另外，IC插座SK的序号的布置由各用户的希望而决定，没有技术性差异。
图5为表示称作型号No.3(TYPE＝3)的测定部300的结构的平面图。该TYPE＝3的测定部300同测数SUM为8个(SUM＝8)，IC插座SK以2×4排列。该TYPE＝3的测定部300特征在于IC插座SK的安装位置和序号布置为交错状，只有图5所示的1种。
图6A、图6B以及图6C为分别表示称作型号No.2(TYPE＝2)的测定部300的结构的平面图。图6A表示同测数SUM为16个(SUM＝16)，IC插座SK以2×8排列着的测定部300，图6B表示同测数SUM为8个，IC插座SK以2×4排列着的测定部300，图6C表示同测数SUM为4个(SUM＝4)，IC插座SK以2×2排列着的测定部300。在TYPE＝2的测定部300，IC插座SK的序号的布置全部为横向。
图7A、图7B以及图7C为分别表示称作型号No.1(TYPE＝1)的测定部300的结构的平面图。图7A表示同测数SUM为16个(SUM＝16)，IC插座SK以2×8排列着的测定部300，图7B表示同测数SUM为8个(SUM＝8)，IC插座SK以2×4排列着的测定部300，图7C表示同测数SUM为4个(SUM＝4)，IC插座SK以2×2排列着的测定部300。在该TYPE＝1的测定部300，IC插座SK的序号的布置全部在纵向。
图8及图9表示特殊的测定部例。图8表示称作型号No.6(TYPE＝6)的测定部300，同测数SUM为8个(SUM＝8)，IC插座SK以横向1行(1×8)排列着。
图9表示称作型号No.7(TYPE＝7)的测定部300，同测数SUM为16个(SUM＝16)，IC插座SK以横向2行(2×8)排列着。
这样，测定部300备有各种型号，使这些各型号的测定部300对应被试验IC的品种而选择安装于试验头200，进行被试验IC的试验。
开始试验被试验IC前的预准备事项如下。
(1)选择装载有与被试验IC的插脚数一致的IC插座SK的测定部300，装入试验头200。
(2)IC试验器100的主控制器101(参照图2)上，装入有试验程序，该试验程序按安装的测定部300的型号对被试验IC分配序号，具有识别被试验IC的功能。
(3)为了在信息处理器400进行按安装的测定部300的型号将被试验IC送入IC插座SK的动作，将IC插座SK的排列4×8，4×4，4×2…等设定于信息处理器400的设定器401(参照图2)。
进行以上的准备后，进行被试验IC的试验，目前由于没有办法确认试验头200上安装着哪种型号的测定部300，所以，更换测定部300时，操作者必须无误地对IC试验器100进行所述(2)的操作，并对信息处理器400进行所述(3)的操作。
若操作者不进行这些操作，试验就不能正常地进行，最坏的时候，会使信息处理器400的IC供给机构或者安装在测定部300的IC插座SK等破损。而且，由于误认IC插座SK的序号，在卸载器部根据试验结果对已试验IC进行分类时，会产生错误分类这样的重大事故等不良情况。
本发明的目的之一在于提供一种可防止根据操作者的误操作所引起的误动作的IC试验装置以及IC试验装置误动作的防止方法。
本发明的另一目的是提供一种IC试验装置及IC试验装置的误动作防止方法，使得在对应于装在试验头上的测定部的操作不进行时，不进行试验。
本发明的再一目的是提供一种IC试验装置及IC试验装置的误动作防止方法，使得在将某种型号的测定部装在试验头上后，只要不对IC试验器及信息处理器进行与该型号的测定部对应的操作，IC试验器就不起动。
为了实现所述目的，本发明的第一方面，提供一种IC试验装置，在具有IC试验器和信息处理器的IC试验装置中具有：型号信号发信机构，它设在测定部，将表示装有IC插座的该测定部的型号的型号信号发出；型号信号接收机构，设在所述IC试验器上，接收表示所述测定部的型号的型号信号；至少将所述接收的型号信号传送到所述信息处理器的机构；判定机构，设在所述信息处理器上，根据由所述IC试验器传来的型号信号，判定是否将正确的测定部型号设定在了所述信息处理器上；将表示由所述判定机构输出的判定结果的电信号传送到所述IC试验器的机构；起动·停止控制机构，在由所述信息处理器传来的、表示判定结果的电信号为表示信息处理器设定不良的电信号时，阻止所述IC试验器的起动。
所述测定部可拆卸地装在试验头上；所述IC试验器通过所述试验头、所述测定部及所述IC插座将试验图形信号外加在被试验IC上，同时，自该被试验IC读出应答信号，比较该应答信号和期待值信号，判定被试验IC的优劣；所述信息处理器将被试验IC搬送到所述测定部，并将试验结束后的已试验IC从所述测定部搬出，根据试验结果将已试验IC分类。
在优选的一实施例中，所述IC试验器将所述型号信号和IC的同测数传送到所述信息处理器，其中，IC的同测数为由该IC试验器存储的试验程序指定的、同时测定IC的个数；所述信息处理器的判定机构根据由所述IC试验器传来的所述型号信号及同测数，判定正确的测定部的型号是否设定在了该信息处理器上及正确的试验程序是否存储在了所述IC试验器上，正确时输出优良信号，不正确时输出不良信号；所述IC试验器包括在所述判定机构的判定输出全部为优良信号时产生IC试验器的起动命令，在所述制定机构的判定输出至少1个为不良信号时产生阻止IC试验器起动的起动停止命令的起动·停止控制机构。
在所述信息处理器上设定有装在所述试验头上的测定部的IC插座的排列，所述信息处理器的判定机构根据由所述IC试验器传送来的所述型号信号及同测数判定设定在该信息处理器上的IC插座的排列与装在所述测定部的IC插座的排列是否一致。
在一具体例中，所述信息处理器具有可由型号信号和同测数特定装在所述测定部的IC插座的排列的参照表，所述信息处理器的判定机构由自所述IC试验器传送来的所述型号信号和同测数，使用所述参照表特定装在所述试验头的测定部的IC插座的排列，判定设定在该信息处理器的IC插座的排列与装在所述测定部的IC插座的排列是否一致。
另外，所述信息处理器的判定机构在由于所述参照表不存在由所述IC试验器传送来的所述型号信号和同测数的对应关系，而不能特定装在所述试验头上的测定部的IC插座的排列时，判定存储在所述IC试验器的试验程序为不正确。
在一变形例中，所述IC试验器根据接收的所述型号信号和由存储在该IC试验器的试验程序指定的IC的同测数判定所述测定部的型号、所述测定部的IC插座的排列及同测数是否与所述试验程序对应，在对应关系一致时，将所述IC插座的排列传送到所述信息处理器；所述信息处理器的判定机构判定自所述IC试验器传来的所述IC插座的排列和设定在该信息处理器的IC插座的排列是否一致。
本发明第二方面提供一种IC试验装置的误动作防止方法，其中IC试验装置具有IC试验器和信息处理器，该方法包括下述步骤：将表示装有IC插座的测定部的型号的型号信号自该测定部发出的步骤；由所述IC试验器接收所述型号信号的步骤；至少将所述接收的型号信号传送到所述信息处理器的步骤；根据由所述IC试验器传来的型号信号，判定是否将正确的测定部型号设定在了所述信息处理器上的步骤；将表示判定结果的电信号传送到所述IC试验器的步骤；在表示所述判定结果的电信号为表示信息处理器设定不良的电信号时，阻止所述IC试验器的起动的步骤。
所述判定的步骤根据自所述IC试验器传送来的所述型号信号，判定设定在所述信息处理器的IC插座的排列与装在所述测定部的IC插座的排列是否一致。
在优选的一实施例中，将所述型号信号传送到所述信息处理器的步骤包括将同测数和所述型号信号一起传送到所述信息处理器的步骤，其中同测数为由所述IC试验器存储的试验程序指定的、同时测定IC的个数；所述判定步骤包括根据由所述IC试验器传来的所述型号信号及同测数，判定正确的测定部的型号是否设定在了所述信息处理器上及正确的试验程序是否存储在了所述IC试验器上，正确时输出优良信号，不正确时输出不良信号的步骤；阻止所述IC试验器起动的步骤包括在所述判定步骤输出的信号全部为优良信号时产生所述IC试验器的起动命令，在至少一个为不良信号时，产生阻止所述IC试验器起动的起动停止命令的步骤。
判定是否将正确的测定部型号设定在了所述信息处理器上的步骤根据由所述IC试验器传送来的所述型号信号及同测数判定设定在所述信息处理器上的IC插座的排列与装在所述测定部的IC插座的排列是否一致。
在一具体例中，判定是否将正确的测定部型号设定在了所述信息处理器上的步骤使用可由型号信号和同测数特定装在所述测定部的IC插座的排列的参照表，由自所述IC试验器传送来的所述型号信号和同测数，特定所述测定部的IC插座的排列，判定设定在所述信息处理器的IC插座的排列与装在所述测定部的IC插座的排列是否一致。
判定正确的试验程序是否存储在了所述IC试验器上的步骤在由于所述参照表不存在与由所述IC试验器传送来的所述型号信号和同测数的对应关系，而不能特定所述测定部的IC插座的排列时，判定存储在所述IC试验器的试验程序为不正确。
在一变形例中，还包括下述步骤，该步骤由所述IC试验器根据接收的所述型号信号和由存储在该IC试验器的试验程序指定的IC的同测数判定所述测定部的型号、所述测定部的IC插座的排列及同测数是否与所述试验程序对应，在对应关系一致时，将所述IC插座的排列传送到所述信息处理器；所述判定步骤判定自所述IC试验器传来的所述IC插座的排列和设定在所述信息处理器的IC插座的排列是否一致。
根据所述本发明的结构，只要不伴随着测定部的更换正规地进行对IC试验器及信息处理器的操作，判定机构就不判定为优良，故不会在该操作的情况下使IC试验器起动。
因此，不会发生在误操作的情况下进行试验而使信息处理器破损的事故，也不会发生错认试验结果而将已试验IC分类的事故。因此，可提供容易操作，且可靠性高的IC试验装置。
附图的简要说明如下：
图1为表示本发明的IC试验装置的一实施例的方块图；
图2为表示现有的IC试验装置的一例的方块图；
图3A、图3B、图3C为用于说明用于IC试验装置的测定部的型号之一的图；
图4、图4B、图4C为用于说明测定部的其他型号的图；
图5为用于说明测定部的其他型号的图；
图6A、图6B、图6C为用于说明测定部的其他型号的图；
图7A、图7B、图7C为用于说明测定部的其他型号的图；
图8为用于说明测定部的其他型号的图；
图9为用于说明测定部的其他型号的图。
下面参照图1及表1详细说明本发明的优选实施例，其中表1为用于图1所示的IC试验装置的参照表之一例。另外，为了使说明简单，在图1中，对与图2对应的部分或构件使用同一符号进行表示，只要没必要就省略其说明。
                         表1
    TYPE信号   IC插座SK的排列     SUM
    TYPE＝1     2×8，2×4，2×2     16，8，4
    TYPE＝2     2×8，2×4，2×2     16，8，4
    TYPE＝3     2×4     8
    TYPE＝4     4×8，4×4，4×2     32，16，8
    TYPE＝5     4×8，4×4，4×2     32，16，8
    TYPE＝6     1×8     8
    TYPE＝7     2×8     16
图1是表示本发明的IC试验装置之一实施例的方块图。在本实施例中，在要装于试验头200的各测定部300，设有将其装在试验头200上时发出表示该测定部的型号(TYPE)的电信号的型号信号发信器301。该型号信号发信器301可以使用例如如下结构的接点信号发信器，该接点信号发信器利用使用磁倾角开关(DIPswith：装入DIP型的IC组件的开关)的设定器或端子板上的跨接线的连接发出由H逻辑信号和L逻辑信号构成的多位逻辑信号，利用该多位逻辑信号将测定部300的型号NO作为电信号发出。
装在各测定部300的型号信号发信器301通过将特定的1个测定部300装在试验头200上，和IC插座SK一起电连接于试验头200上，进而，通过电缆KB1电连接于设在IC试验器100的型号信号读入器102上。该型号信号读入器102读入由装在测定部300的型号信号发信器301发出的型号信号TYPE。型号信号读入器102将读入的型号信号TYPE送到传送装置103。
IC试验器100的主控制器101预先输入有试验程序，从该试验程序抽出设定在该试验程序的同测数SUM并输入传送装置103。输入传送装置103的同测数SUM和型号信号TYPE一起通过电缆KB2被传送到信息处理器400。
在本实施例中，在信息处理器400除设定器401外，还设有判定装置402、参照表403即表1所示的参照表、返送器404及警报发生器405。由IC试验器100送来的型号信号TYPE和同测数SUM被输入信息处理器400的判定装置402。
判定装置402参照表1所示的参照表，由输入的型号信号TYPE和同测数SUM特定装在试验头200的测定部300的IC插座SK的排列。
若具体地说明，则参照表如表1所示，以对应关系存储有型号信号TYPE和同测数SUM，当决定型号信号TYPE和同测数SUM时，可从该参照表读取IC插座SK的排列。
例如，在型号信号TYPE为TYPE＝1，同测数SUM为SUM＝16时，IC插座SK由表1可知，被特定为2×8(2行×8列)的排列。其结果，可特定它为图7A所示的测定部的结构。
在型号信号TYPE为TYPE＝4，同测数SUM为SUM＝32时，IC插座SK由表1可知，被特定为4×8(4行×8列)的排列，其结果，可特定它为图4A所示的测定部的结构。
在型号信号TYPE为TYPE＝5，同测数SUM为SUM＝8时，IC插座SK由表1可知，被特定为4×2(4行×2列)的排列。其结果，可特定它为图3C所示的测定部的结构。
这样，通过由IC试验器100送来型号信号TYPE和同测数SUM，在信息处理器400侧可以特定装在试验头200的测定部300的IC插座SK的排列。因此，通过比较由表1所示的参照表特定的IC插座SK的排列和设定于信息处理器400的设定器401的IC插座的排列可以判定设定在信息处理器400的IC插座的排列和实际安装的测定部300的IC插座的排列是否一致。
进而，在表1所示的参照表不存在由IC试验器100向信息处理器400送来的型号信号TYPE和同测数SUM的对应关系时，就可以判明预先输入IC试验器100的主控制器101的试验程序和装在试验头200的测定部300的型号不对应。也就是说，在虽然型号信号TYPE为TYPE＝4或5，而由试验程序抽出的同测数SUM为SUM＝4或2时，对应于TYPE＝4或5的同测数在表1所示的参照表不存在，故可以判定输入IC试验器100的主控制器101的试验程序不正确。
因此，在信息处理器侧就可以进行设定在该信息处理器400的设定器401的IC插座的排列与实际安装的测定部300的IC插座的排列是否一致的判定及输入IC试验器100的主控制器101的试验程序是否正确的判定。
所述判定在信息处理器400的判定装置402进行，该判定装置402的判定结果被供给到警报发生器405，并通过返送器404及电缆KB3送到设在IC试验器100的起动·停止控制器104。该起动·停止控制器104当从信息处理器400送来表示设定在信息处理器400的IC插座的排列和测定部300的IC插座的排列一致(即表示信息处理器的设定正确)的设定良好信号OK时，发出起动命令(起动信号)，并把它传给主控制器101，使试验开始。
与此相对，在信息处理器400的判定装置402发生表示设定于信息处理器400上的IC插座的排列和测定部300的IC插座的排列不一致(即显示信息处理器的设定错误)这样的设定不良信号NG时，信息处理器400的警报发生器405被起动而产生警报，同时，IC试验器100的起动·停止控制器104发出起动停止命令(起动停止信号)，并将该命令传给主控制器101，通知信息处理器400的设定错误。这样，主控制器101阻止起动，因而，IC试验器100不能开始试验。同时，主控制器101使显示器105显示信息处理器的设定不良。另外，也可以根据需要起动IC试验器100的警报发生器106使其发出警报。
另外，在所述实施例中，对于型号No.1、No.2、No.4及No.5的测定部分别由1个型号信号(TYPE＝1、2、4或5)总称3个种类的测定部，但若型号信号发生器301的可发信的位数有空余，也可以对所有的型号(TYPE)的测定部给予型号No。这样，在对所有的型号的测定部给予型号No时，在IC试验器100上可以判定测定部300的型号No和IC插座的排列和同测数SUM之全部是否和试验程序相对应。
这种情况下，在IC试验器100侧，判定测定部300和试验程序的对应关系是否相一致，如果其判定结果为优良，则将IC插座的排列传送到信息处理器400，在信息处理器400侧只要比较设定于该信息处理器400的IC插座的排列和由IC试验器100送来的插座排列，便可进行双重判定，可进一步提高可靠度。
由以上说明可知，根据本发明，对应被试验IC的品种的变更而更换安装于试验头的测定部时，由于各测定部具有型号信号发信机构，所以，可从安装的测定部发出型号信号并读取该信号。并且，通过将该型号信号和从试验程序中抽出的同测数传送到信息处理器，在信息处理器侧由型号信号和同测数根据参照表可知道安装于试验头的测定部的IC插座的排列。因此，在信息处理器侧可判定由该参照表读取的IC插座的排列和设定于信息处理器的设定器的IC插座的排列是否一致，所以，能够判定设定于信息处理器的IC插座的排列是否正确。
另外，在由IC试验器送到信息处理器的同侧数为不存在于型号信号的数值时，因这意味着输入试验器的试验程序与装于试验头的测定部的型号不适合，所以，也可以判定IC试验器的主控制器上是否输入有正确的程序。
而且，只要所述判定结果全部为优良，则IC试验器被起动，开始试验，但在所述判定结果有即使是1个不良时，由于IC试验器阻止该起动，所以不会产生误动作。
这样，根据本发明，在误设定情况下IC试验器被起动而使信息处理器的结构部分破损、或使IC误分类等事故不会发生，所以具有可以提供操作容易、且可靠性高的IC试验装置的显著的优点。
以上，虽然就图示本发明的优选实施例进行了叙述，但，本领域的技术人员很清楚，在本发明的要旨范围内，对所述的实施例可以进行各种变形、变更及改良。因此，本发明不限于例示的实施例，还包括由权利要求书所限定的本发明范围内的所有变形、变更及改良。

Claims (15)

1、一种IC试验装置，具有IC试验器和信息处理器，其特征在于，所述IC试验装置包括：
型号信号发信机构，它设在测定部，将表示装有IC插座的该测定部的型号的型号信号发出；
型号信号接收机构，设在所述IC试验器上，接收表示所述测定部的型号的型号信号；
至少将所述接收的型号信号传送到所述信息处理器的机构；
判定机构，设在所述信息处理器上，根据由所述IC试验器传来的型号信号，判定是否将正确的测定部型号设定在了所述信息处理器上；
将表示由所述判定机构输出的判定结果的电信号传送到所述IC试验器的机构；
起动·停止控制机构，在由所述信息处理器传来的、表示判定结果的电信号为表示信息处理器设定不良的电信号时，阻止所述IC试验器的起动。
2、如权利要求1所述的IC试验装置，其特征在于：
所述测定部可拆卸地装在试验头上；
所述IC试验器通过所述试验头、所述测定部及所述IC插座将试验图形信号外加在被试验IC上，同时，自该被试验IC读出应答信号，比较该应答信号和期待值信号，判定被试验IC的优劣；
所述信息处理器将被试验IC搬送到所述测定部，并将试验完了的已试验IC从所述测定部搬出，根据试验结果将已试验IC分类。
3、如权利要求1所述的IC试验装置，其特征在于：
所述IC试验器将所述型号信号和IC的同测数一起传送到所述信息处理器，其中，IC的同测数为由该IC试验器存储的试验程序指定的、同时测定IC的个数；
所述信息处理器的判定机构根据由所述IC试验器传来的所述型号信号及同测数，判定正确的测定部的型号是否设定在了该信息处理器上及正确的试验程序是否存储在了所述IC试验器上，正确时输出优良信号，不正确时输出不良信号；
所述IC试验器包括在所述判定机构的判定输出全部为优良信号时产生IC试验器的起动命令，在所述判定机构的判定输出的至少一个为不良信号时产生阻止IC试验器起动的起动停止命令的起动·停止控制机构。
4、如权利要求2所述的IC试验装置，其特征在于：
所述IC试验器将所述型号信号和IC的同测数一起传送到所述信息处理器，其中，IC的同测数由该IC试验器存储的试验程序指定；
所述信息处理器的判定机构根据由所述IC试验器传来的所述型号信号及同测数，判定正确的测定部的型号是否设定在了该信息处理器上及正确的试验程序是否存储在了所述IC试验器上，正确时输出优良信号，不正确时输出不良信号；
所述IC试验器包括在所述判定机构的判定输出全部为优良信号时产生IC试验器的起动命令，在所述判定机构的判定输出的至少一个为不良信号时产生阻止IC试验器起动的起动停止命令的起动·停止控制机构。
5、如权利要求4所述的IC试验装置，其特征在于：
在所述信息处理器上设定有装在所述试验头上的测定部的IC插座的排列，
所述信息处理器的判定机构根据由所述IC试验器传送来的所述型号信号及同测数判定设定在该信息处理器上的IC插座的排列与装在所述测定部的IC插座的排列是否一致。
6、如权利要求4所述的所述IC试验装置，其特征在于：
在所述信息处理器上设定有装在所述试验头上的测定部的IC插座的排列，
所述信息处理器具有可由型号信号和同测数特定装在所述测定部的IC插座的排列的参照表，
所述信息处理器的判定机构由自所述IC试验器传送来的所述型号信号和同测数，使用所述参照表特定装在所述试验头的测定部的IC插座的排列，判定设定在该信息处理器的IC插座的排列与装在所述测定部的IC插座的排列是否一致。
7、如权利要求4所述的IC试验装置，其特征在于：
所述信息处理器的判定机构当因为由所述IC试验器传送来的所述型号信号和同测数的对应关系在可由型号信号和同测数特定装在所述测定部的IC插座的排列的参照表中不存在而不能特定装在所述试验头上的测定部的IC插座的排列时，判定存储在所述IC试验器的试验程序为不正确。
8、如权利要求1或2所述的IC试验装置，其特征在于：
所述IC试验器根据接收的所述型号信号和由存储在该IC试验器的试验程序指定的IC的同测数判定所述测定部的型号、所述测定部的IC插座的排列及同测数是否与所述试验程序对应，在对应关系一致时，将所述IC插座的排列传送到所述信息处理器；
所述信息处理器的判定机构判定自所述IC试验器传来的所述IC插座的排列和设定在所述信息处理器的IC插座的排列是否一致。
9、一种IC试验装置的误动作防止方法，所述IC试验装置具有IC试验器和信息处理器，这种IC试验装置的误动作防止方法的特征在于，包括下述步骤：
将表示装有IC插座的测定部的型号的型号信号自该测定部发出的步骤；
由所述IC试验器接收所述型号信号的步骤；
至少将所述接收的型号信号传送到所述信息处理器的步骤；
根据由所述IC试验器传来的型号信号，判定是否将正确的测定部型号设定在了所述信息处理器上的步骤；
将表示判定结果的电信号传送到所述IC试验器的步骤；
在表示所述判定结果的电信号为表示信息处理器设定不良的电信号时，阻止所述IC试验器的起动的步骤。
10、如权利要求9所述的方法，其特征在于：所述判定的步骤根据自所述IC试验器传送来的所述型号信号，判定设定在所述信息处理器的IC插座的排列与装在所述测定部的IC插座的排列是否一致。
11、如权利要求9所述的方法，其特征在于：将所述型号信号传送到所述信息处理器的步骤包括将IC的同测数和所述型号信号一起传送到所述信息处理器的步骤，其中IC的同测数为由所述IC试验器存储的试验程序指定的、同时测定IC的个数；
所述判定的步骤包括根据由所述IC试验器传来的所述型号信号及同测数，判定正确的测定部的型号是否设定在了所述信息处理器上及正确的试验程序是否存储在了所述IC试验器上，正确时输出优良信号，不正确时输出不良信号的步骤；
阻止所述IC试验器起动的步骤包括在所述判定步骤输出的信号全部为优良信号时产生所述IC试验器的起动命令，在至少一个为不良信号时，产生阻止所述IC试验器起动的起动停止命令的步骤。
12、如权利要求11所述的方法，其特征在于：判定是否将正确的测定部型号设定在了所述信息处理器上的步骤根据由所述IC试验器传送来的所述型号信号及同测数判定设定在所述信息处理器上的IC插座的排列与装在所述测定部的IC插座的排列是否一致。
13、如权利要求11所述的方法，其特征在于：判定是否将正确的测定部型号设定在了所述信息处理器上的步骤包括下述步骤，该步骤使用可由型号信号和同测数特定装在所述测定部的IC插座的排列的参照表，由自所述IC试验器传送来的所述型号信号和同测数，特定所述测定部的IC插座的排列，判定设定在所述信息处理器的IC插座的排列与装在所述测定部的IC插座的排列是否一致。
14、如权利要求11所述的方法，其特征在于：判定正确的试验程序是否存储在了所述IC试验器上的步骤包括下述步骤，该步骤当因为由所述IC试验器传送来的所述型号信号和同测数的对应关系在可由型号信号和同测数特定装在所述测定部的IC插座的排列的参照表中不存在而不能特定所述测定部的IC插座的排列时，判定存储在所述IC试验器的试验程序为不正确。
15、如权利要求9所述的方法，其特征在于：还包括下述步骤，该步骤由所述IC试验器根据接收的所述型号信号和由存储在该IC试验器的试验程序指定的IC的同测数判定所述测定部的型号、所述测定部的IC插座的排列及同测数是否与所述试验程序对应，在对应关系一致时，将所述IC插座的排列传送到所述信息处理器；
所述判定的步骤判定自所述IC试验器传来的所述IC插座的排列和设定在所述信息处理器的IC插座的排列是否一致。
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