CN109241326A - 一种半导体成品电路自动测试数据溯源方法 - Google Patents

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张志勇
薛来熙
刘远华
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Abstract

本发明涉及一种半导体成品电路自动测试数据溯源方法，待测区域、测试区域、出料区域依次排列，在待测区域和测试区域之间、测试区域和出料区域之间加装图像采集装置，通过图像采集装置对被测成品电路的上表面图像进行采集，电脑对采集图像进行识别、核对、对比后，将成功识别的编号进行记录，并以获取的激光打标编号按命名规则将编号代入，对测试数据命名，实现测试数据与实际被测成品电路一一对应。解决了半导体成品电路自动测试数据与实际被测成品电路无法一一对应的问题，实现所有成品电路测试数据可追溯。降低混料率，提高生产效率。

Description

一种半导体成品电路自动测试数据溯源方法
技术领域
本发明涉及一种数据管理技术，特别涉及一种半导体成品电路自动测试数据溯源方法。
背景技术
在半导体成品电路自动测试时，自动测试设备ATE对机械手Handler放入测试工位的每一个待测成品电路均会进行相应程序的测试，然后按照被测成品电路测试流水号打印并保存相应数据，但是有些特种电路会有测试数据与实际成品电路一一对应的需求，这就要求不能仅仅按照测试流水号来保存测试数据，必须按照被测成品电路的激光打标编号来保存测试数据。
但是受Handler自身限制，无法对被测成品电路激光打标编号进行记录，测试数据不能与实际成品电路一一对应，在后期数据分析时只能进行良品率统计，无法将具体的数据对应到相应的实际成品电路，满足被测成品电路数据溯源的需求；另外，如果由于人工失误造成混料，也将无法被追溯，只有将整批被测成品电路重新测试，浪费测试机时，降低生产效率。
半导体成品电路自动测试只进行合格和不合格分类，目前在半导体成品电路测试中会根据实际成品电路失效的测试项进行相应的分箱，用以区分不同失效。但受Handler自身限制，在实际测试量产时，只能进行合格和不合格分类或少量不合格分类，因此造成无法将具体的测试数据与实际成品电路一一对应，实现被测成品电路数据溯源；如果在测试过程中出现混料情况，也只有将整批被测成品电路重新测试，造成机时浪费。
发明内容
本发明是针对半导体成品电路自动测试时测试数据和实际测试成品电路无法一一对应的的问题，提出了一种半导体成品电路自动测试数据溯源方法，满足对于成品电路自动测试时的数据溯源需求，方便后续进行数据分析。
本发明的技术方案为：一种半导体成品电路自动测试数据溯源方法，待测区域、测试区域、出料区域依次排列，在待测区域和测试区域之间、测试区域和出料区域之间加装图像采集装置，将被测成品电路从料盘区域放置到待测区域，此时通过加装在待测区域和测试区域之间的图像采集装置对被测成品电路的上表面图像进行采集，然后将被测成品电路送入测试区域进行测试，同时将采集的第一图像传入电脑，测试完成后将被测成品电路从测试区域取走放置到出料区域，此时通过加装在测试区域和出料区域之间的图像采集装置再一次对被测成品电路的上表面图像进行采集，将采集的第二图像传入电脑，电脑对第一、第二图像进行识别、核对、对比后，对成功识别的编号进行记录，并以获取的激光打标编号按命名规则将编号代入，对测试数据命名，实现测试数据与实际被测成品电路一一对应。
所述电脑对第一、第二图像进行识别、核对、对比具体步骤如下：通过图像识别软件对第一图像进行处理、分析、识别，提取被测成品电路的激光打标编号，并通过数据库进行查询，核对编号是否正确；如通过第一图像未成功识别编号，则通过第二图像重复整个编号识别过程，只要第一、第二图像有一次识别编号成功，即识别编号在数据库中找到对应编号，在测试完成后将成功识别的编号进行记录，并以获取的激光打标编号按命名规则将编号代入，对测试数据命名，实现测试数据与被测成品电路一一对应；如通过第一、第二图像均未成功提取编号，则人工干预进行识别。
本发明的有益效果在于：本发明半导体成品电路自动测试数据溯源方法，解决了半导体成品电路自动测试数据与实际被测成品电路无法一一对应的问题，实现所有成品电路测试数据可追溯。降低混料率，提高生产效率。
附图说明
图1为本发明机械手工作区域俯视图；
图2为本发明方法中图像采集步骤图；
图3为本发明半导体成品电路自动测试数据溯源方法流程图；
图4为本发明实际4工位同测成品电路采集的图像。
具体实施方式
在测试前，先将所有成品电路的激光打标编号录入数据库，以备核对。如图1所示为一台机械手的工作区域俯视图，待测区域、测试区域、出料区域依次排列，在待测区域和测试区域之间、测试区域和出料区域之间加装图像采集装置，如图1中1、2、3、4四个位置加装图像采集装置，机械手臂1将被测成品电路从料盘区域放置到待测区域，此时通过加装在待测区域和测试区域之间的1或2图像采集装置对被测成品电路的上表面图像进行采集，然后将被测成品电路送入测试区域进行测试，同时将采集的第一图像传入控制电脑，测试完成后机械手臂2将被测成品电路从测试区域取走放置到出料区域，此时通过加装在测试区域和出料区域之间的3或4图像采集装置再一次对被测成品电路的上表面图像进行采集，将采集的第二图像传入控制电脑，机械手下料，测试完成，如图2所示图像采集步骤图。
如图3所示半导体成品电路自动测试数据溯源方法流程图，通过图像识别软件对第一图像进行处理、分析、识别，提取被测成品电路的激光打标编号，并通过数据库进行查询，核对编号是否正确；如通过第一图像未成功识别编号，则通过第二图像重复整个编号识别过程，只要第一、第二图像有一次识别编号成功，即识别编号在数据库中找到对应编号，在测试完成后将成功识别的编号进行记录，并以获取的激光打标编号按命名规则将编号代入，对测试数据命名，实现测试数据与被测成品电路一一对应；如通过采集第一、第二图像均未成功提取编号，则需要人工干预(概率极低)。
实际软件流程图如图3所示。其中，所述图像采集装置具备易于安装、自动对焦、彩色成像等特点；所述图像识别软件内嵌于ATE测试用户界面中，可非常方便地在保存测试数据时调用从图像中提取的被测成品电路激光打标编号；本装置支持采集两幅图像，是为了防止如第一幅图像拍摄时噪声过大无法识别时，可采用第二幅图像进行分析。
进一步地，有些特殊电路并没有激光打标编号，但是也有测试数据与实际被测成品电路一一对应的需求，这时，可将自动生成的二维码粘贴于被测成品电路表面，通过图像采集装置中的扫码器读取该二维码并进行分析识别，在测试完成后保存测试数据时以获取的二维码编号进行命名，实现测试数据与被测成品电路一一对应。
按正常量产操作流程，将测试数据保存到数据服务器，方便后续进行各种数据分析。另外，如果在量产测试过程中发生混料，也可以通过数据名称中的成品电路激光打标编号便捷地找到实际被测成品电路，不需要再将整批成品电路进行重测，减少了测试机时的浪费，提高了量产质量。最终有效地解决了测试数据与实际被测成品电路一一对应的问题，满足了数据溯源的需求。
如图4所示，为实际4工位同测成品电路采集的图像。将该图像传回控制电脑，经过图像分析、处理、识别，提取出每只电路的编号，分别为352、258、176、122，可将4只成品电路的测试数据分别命名为“XXXX_FT_site1_352”,“XXXX_FT_site2_258”,“XXXX_FT_site3_176”,“XXXX_FT_site4_122”，XXXX是产品名称，此处隐去；FT是Final Test(封装后测试)的缩写；site为测试工位序号；最后三位是电路本身编号。4个测试数据分与实际被测成品电路编号一一对应，方便后续数据分析与溯源。

Claims (2)

1.一种半导体成品电路自动测试数据溯源方法，其特征在于，待测区域、测试区域、出料区域依次排列，在待测区域和测试区域之间、测试区域和出料区域之间加装图像采集装置，将被测成品电路从料盘区域放置到待测区域，此时通过加装在待测区域和测试区域之间的图像采集装置对被测成品电路的上表面图像进行采集，然后将被测成品电路送入测试区域进行测试，同时将采集的第一图像传入电脑，测试完成后将被测成品电路从测试区域取走放置到出料区域，此时通过加装在测试区域和出料区域之间的图像采集装置再一次对被测成品电路的上表面图像进行采集，将采集的第二图像传入电脑，电脑对第一、第二图像进行识别、核对、对比后，对成功识别的编号进行记录，并以获取的激光打标编号按命名规则将编号代入，对测试数据命名，实现测试数据与实际被测成品电路一一对应。
2.根据权利要求1所述半导体成品电路自动测试数据溯源方法，其特征在于，所述电脑对第一、第二图像进行识别、核对、对比具体步骤如下：通过图像识别软件对第一图像进行处理、分析、识别，提取被测成品电路的激光打标编号，并通过数据库进行查询，核对编号是否正确；如通过第一图像未成功识别编号，则通过第二图像重复整个编号识别过程，只要第一、第二图像有一次识别编号成功，即识别编号在数据库中找到对应编号，在测试完成后将成功识别的编号进行记录，并以获取的激光打标编号按命名规则将编号代入，对测试数据命名，实现测试数据与被测成品电路一一对应；如通过第一、第二图像均未成功提取编号，则人工干预进行识别。
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