TW259862B - - Google Patents

Download PDF

Info

Publication number
TW259862B
TW259862B TW083111991A TW83111991A TW259862B TW 259862 B TW259862 B TW 259862B TW 083111991 A TW083111991 A TW 083111991A TW 83111991 A TW83111991 A TW 83111991A TW 259862 B TW259862 B TW 259862B
Authority
TW
Taiwan
Prior art keywords
layer
gate
forming
insulating layer
pixel electrode
Prior art date
Application number
TW083111991A
Other languages
English (en)
Original Assignee
Nippon Electric Co
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nippon Electric Co filed Critical Nippon Electric Co
Application granted granted Critical
Publication of TW259862B publication Critical patent/TW259862B/zh

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02FOPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/133Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
    • G02F1/136Liquid crystal cells structurally associated with a semi-conducting layer or substrate, e.g. cells forming part of an integrated circuit
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02FOPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/133Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
    • G02F1/136Liquid crystal cells structurally associated with a semi-conducting layer or substrate, e.g. cells forming part of an integrated circuit
    • G02F1/1362Active matrix addressed cells
    • G02F1/1368Active matrix addressed cells in which the switching element is a three-electrode device
    • H01L27/1244

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Nonlinear Science (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Mathematical Physics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Liquid Crystal (AREA)
  • Thin Film Transistor (AREA)
  • Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)

Description

A7 B7 <50862 五、發明説明() 發明領域 本發明你鼷於裂造一種液晶顯示器(LCD)元件之方法 ,待指一種能在信號線和像素電極間避免短路之製迪液 晶顯示元件之方法。 相鼷技術說明 使用薄膜電晶艤(TFT)之有源矩陣LCD元件己按析像 度和功能之角度發展出來,此係因為TFT能自非晶矽造 成。 在一先前技術術之製迪有源矩陣LCD元件之方法,一 閘極線圖型層形成在一絶緣基材之TFT形成面稹上。然 後一閘極绝綠層形成在閘極線画型層和絶緣基材上。其 次一非晶矽圖型層形成在閘極絶絲層之TFT形成匾上,而 且一像素電極圈型層形成在闞極绝緣層之侏素電棰圖型 形成區上。此將詳述於後。 上述先前技術之方法中,由於信號線鼷型層和像素電 棰圖型層在閘極絶緣層上,即是在同一平面上,在信號 線圖型層與像素霣極圖型層間可能發生短路。待別是當 執行於非晶矽上之蝕刻過程沒有達成信號線形成匾與像 ......—.....-..........裝................-可................線 (請先閲讀背面之注意事項再塡寫本頁) 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 矽 晶 〇 非路 之短 下之 留間 間層 其型 在圓 ,棰 去電 蝕素 份像 部與 一 層 之型 間圖 之線 區號 成信 形起 極引 E fcb 素可 述 簡 明 發 線 號 信 在 一 能 中 造 其 製 , 於 法 用 方 ,〇 之 法件件 方元元 種 D D c C I L L 供之造 提路製 是短於 的免用 目避 , 一 間明 之極發 明電本 發素據 本像根 與 棰 闞 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210X 297公釐) ^59862 A7 B7五、發明説明() 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 電上之 極了短 更 面 件 先 平 元 素區層電除.·之將 平元 二之 D 像成緣 素移間式 之 D 第件LC 一形绝 像全層 _ 件LC❶之 元 陣 和線棰 與完型 Μ 元 陣 圖件 D 矩 層號閘 Ε是躓 伴 D 矩 。面元LC源 型倍之 成矽棰 考LC源 _剖0 陣 有 c Η一間 形晶電 參 陣 有 面橫LC矩 之。圖 線之匾 線非素 及 矩 之。剖之陣 源 匾圖面 號層成 號些德 術 源 圖圖橫良矩 有 6 面剖 倍緣形 信那舆 技 有 1面之改源 一 第剖横 一絶檯 在,層 前 之 第剖線種有 之 造横之 及極電 存上型 先 術 造横號一造。明 製各線 材閘素 留層園 與 技 製各信之製圖發 於之號 基該像 會绨線 , 前 於之之圖於面本 用例信 结在與 矽絶號 明 先 用法中2Ε用剖據 示施之 绝成匾。晶極倍 說 一 示方圖第示検根 顯實圈 一形成除非閘在 面 解 顯術1示顯各解 是16 在別形蝕使之了 下 C明圖 圖技第顯面之圖 圖第第 成分線被即間免 之解說是2Ε前是是5D法是7F之是 形»號即,之避 明瞭單圖 至先圖圈至方圖 至法圖 層型信份此匾此 發顳簡1 以134以術6。以方8 緒圈在部因成因。本明示第。第第第第第技第圖第之第 绝極。一 形,路 為圖 圖 之 前 面 件 .......................裝................訂................線 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210Χ 297公釐) 259862 A7 B7 五、發明説明(+ ) 第9圖是圈解根據本發明之一有源矩陣LCD元件之平 面圖。 第10A至10P_顯示用於製造第9 _之有源矩陣LCD元 件之方法之第二寊施例之各横剖面圖。 第11圖是第9圖之信號線之横剖面圖。 第12圔是圈解根據本發明之一有源矩陣LCD元件之平 面圖。 第13A至13F圓顯示用於製造第12圖之有源矩陣LCD元 件之方法之第三資施例之各横剖面圖。 第14圖是第12圖之信號線之横剖面圖。 第15A至15P圃顯示用於製造第6圖之有源矩陣LCD元 件之方法之第四實施例之各横剖面圖。 第16圔是第6圖之信號線之另一種横剖面圖。 最佳實施例詳细說明 在說明最佳實施例之前,用於製造一有源矩陣LCD元 件之先前技術方法將參考圖1 、2八至2£、3 、4和5六至 5D加以說明。 圖1是用於圖解一先前技術之有源矩陣LCD元件之平 面圖。圖2A至2E是顯示製造第1圖之元件之第一先前技 術方法之各横剖面圖。圖3是圖1之信號線之横剖面圖。 首先參考圖1 ,提供有多個信號線,如SLi 和S Li+1 及多個閘極線如GLj,及提供一透明之像素電極如 Eij或Ei+Uj 經過TFT如Qy或Qi+Uj接在信號線Sl^, SL i+1, 一-與閘極線GL i,----間之每一交叉點。例如在 -5- _本紙張尺度逋用中國國家標率(CNS ) A4規格(210X297公釐) I I I I 訂 線 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部中央標準局貝工消費合作社印製 經濟部中央輮準局員工消费合作社印袋 259862 五、發明説明(▲) TFTQi:j,一閘極連接至閘極線GLj,—源極連接至像素 電極E..,及一吸極連接至信號線SL.。於是當TPTQ.. ID 1 X3 被閘極線之電壓開動和關閉時,信號線S L±是埋接至及 不連接至像素電極Eij。 圖1之LCD元件之製造將參考圖2A至2E中之圖1 TFT Qi;j之周邊之横剖面圖而說明之。在圖2/\至2£中,A1指示 一 TFT形成區,A2指示一信號線形成區,及A3指示一像 素電極形成區。 參考圖2A, —閘極線層2形成在玻璃基材1上之TFT 形成區A1上。由氧化鉅,氧化矽(TaO, SiO)或相類物製 成之第一閘極絕緣層31澱積在全部表面上,然後由氮化 矽(SiN)或相類物之第二閘極絕緣層澱積至其上Μ形成 一閘極絕緣層3 。 其次參考圖2Β,用作TFT之通道區域之一 I形非晶矽 層4澱積至全部表面上及用作低電姐接觸结構之N形非 晶矽澱積其上。 再次參考圖2 C ,該非晶矽層4和5被圖型化。 再次該閘極絕緣層3被圖型化以使接觸孔(未顯示)形 成在其中供接觸结構之用。 再次參考圖2D,由鉻、鉬/鉅,鋁,或鋁/|@(Cr, Mo/ ΤΑ, 或Al/Ta)製成之單層或多層之導電圖型層7被形 成。同樣由I TO造成之透明像素電極層8形成在全部表 面上。 最後參考圖2E該透明像素電極被圖型化。然後一鈍化 一 6 - 本紙張尺度適用f國國家_揉?^Γ CNS )—A4規格(210X297公釐) (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) -裝· -β 259862 A7 B7 五、發明説明(:) 層9被形成並加i圖型化。此案例中信號線S Li之周邊 是顯示於圖3中。 圖2E和圖3中,該導電圖型層7(S)和7(D)分別是TFT ij 之源極和吸極。同樣導電圖型層7(SLi)是信號線SLi。 此外像素電極圖型層8 (E j )和8 ( Ei j )分別是像素電 極 Ei-l,j 和 Eij 。 圖4是圖2E之改良型,其中一閘極線層2’埋藏於玻璃 基材1中(見JP-A-HEI4-32 4938日本專利公告)。於是該 玻璃基材1在離子束磨磨器中與一光阻抗蝕層圖型(未 顯示)之光罩被氤(Ar)氧蝕刻。在此案例中蝕刻深度是 與圖2E中之閘極線層2之高度大約相同。其结果,TFT Qij之高度被降低Μ減少定位之缺點及液晶之缺點。同 樣蝕刻深度是造成足夠的大以減小閘極線層2之電阻。 用於製造有源矩陣CCD元件之第二先前技術方法將以 參考圖5Α至5D而說明(見JP-A-HE 12 -234126日本專利公 告)。 · 首先參考圖5Α,由鉻造成之導電層gl藉在玻璃基材1 上之噴濺過程而形成並加Μ圖型化Μ形成一閘極接頭 GTM , —閘極線GL及一閘極電極GT。其次由鋁造成之導 電層g2藉在閘極接頭GTM和閘極線GL上之噴濺過程形成 。在此案例,閘極接頭GTM上之導電層g2是在鈍化層 PSV之外側(未顯示於圖5A中,但顯示在圖5C和5D中)。 其次參考圖5B,由氮化矽造成之閘極絕緣層是形成在全 部表面。然後一 I型非晶矽層A S和一 H +型矽層d 0被形 -7- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4规格(210X 297公釐) ---------------tT------# (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部中央標準局貝工消費合作社印製 經濟部中央標準局貝工消費合作社印衷 259862 g 五、發明説明(知) 成。再次一導電層dl形成並被圖型化。而後該導霉層do 被團型化。同樣一導電曆d2被形成及團型化。再後一由 I TO造成之透明電極層d3被形成及圖型化。因此,一源 極S , —吸極D ,一信號線SL和一吸極接頭DTM被形成 。在此案例中,在吸極接頭DTM上之導電層d2是在鈍化 層PSV之外側(見圖5C和5D)。其時該鈍化層PSV是由電 漿化學氣相之毅稹(CVD)過程形成在全部表面上。 再次參考圖5C,該鈍化層PSV被圖型化及閘極絕緣層 3亦被圖型化。 最後參考圖5D,在閘極接頭GTM上之導電層g2和在吸 極接頭DTM上之導電層d2皆被移除。其時由IT0造成之 透明像素電極層被形成及圖型化,Μ在閘極接頭GTM和 吸極接頭DTM上形成一上部層ΤΜΤ 。
因此,在如圖5Α至5D中所示之第二先前技術中,由於 同時實施閘極絕緣層3和鈍化層P S V之圖型化,光阻抗 蝕層中之針孔很難轉移至閘極絕緣層3 ,因之閘極線6L (閘極電極GT)與吸極線DL (源極和吸極)間難有短路,如 此加強了製造產出。 但在上述,各先前技術方法中,由於信號線(或吸極 線)和像素電極圖型層是在閘極絕緣層3上形成,即是 在同一平面上,短路即可能發生在信號線(或吸極線)與 像素電極圖型罾之間。特別是在非晶矽上執行之蝕刻過 程未能蝕刻信號線形成和像素電極形成區之間之一部份 時,其間留下之非晶矽可能在信號線(或吸極線)與像素 -8- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) Α4規格(210X297公釐) ..... I I 裝 訂 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 259862 A7 B7 經濟部中央標準局貝工消費合作社印袋 五、發明説明 ( 7 ) 1 1 I 電 極 圖 型 層 間 引 起 短 路 〇 1 1 1 本 發 明 之 第 一 實 施 例 將 參 考 圖 6 % 7 A 至 7F和 8 說 明 如 1 1 下 〇 請 先 1 1 閱 I 圖 6 是 翻 例 說 明 根 據 本 發 明 之 有 源 矩 陣 LCD 元 件 之 讀 背 1 平 面 few 圖 ; 1ΗΙ 酬 7 A 至 7F是 顯 示 圈 6 中 製 造 元 件 之 方 法 之 各 横 面 之 1 1 剖 面 圈 ; 而 ΓΒΠ 國 8 是 圖 6 中 之 信 號 媒 SLi之横剖面圖 t 事 1 如 圖 6 所 示 t 一 凹 低 部 份 如 R1 i- 1, j 形 成 在 信 號 線 形 項 再 填 1 1 裝 I .成 區 與 像 素 電 極 形 成 1¾ 間 之 閘 極 絕 緣 層 3 中 ( 未 顯 示 於 寫 本 圖 6 中 但 顯 示 在 圖 7D 7E和 7F 中 ) 〇 賁 、〆 1 1 參 考 圖 7 A 如 圖 2 A 之 相 同 方 式 一 閘 極 線 層 2 形 成 在 玻 1 | 璃 基 材 1 之 TFT 形 成 區 A1 上 同 樣 由 Ta 0 , S i 0或 相 類 物 1 i 造 成 之 第 一 閘 極 絕 緣 層 31 澱 積 在 全 部 表 面 上 ♦ 然 後 由 S i N 1 訂 或 相 類 物 造 成 之 第 二 閘 極 絕 緣 層 32 澱 積 在 其 上 Μ 形 成 一 1 I 閘 極 絕 緣 層 3 0 1 1 其 次 參 考 圖 7B > 如 nai 圓 2B 之 相 同 方 式 9 用 作 TFT 之 通 道 1 1 區 域 之 I 型 非 晶 矽 層 4 m 積 在 全 部 表 面 上 » 及 一 用 作 低 1 線 電 姐 接 觸 结 構 之 N 型 非 晶 矽 層 5 又 m 積 在 其 上 〇 1 再 次 參 考 画 7C如 圖 2C 之 相 同 方 式 9 非 晶 矽 層 4 和 5 皆 1 I 加 Μ 圖 型 化 〇 1 1 再 次 參 考 圖 7D ♦ 該 閘 極 絕 緣 層 3 與 一 光 m 抗 蝕 層 藉 使 1 1 用 乾 蝕 刻 過 程 為 形 成 接 觸 結 構 (未顯示) 而 被 蝕 刻 » Μ 形 1 I 成 凹 低 部 份 R 1 i— ] 於 閘 極 絕 緣 層 3 之 内 〇 於 是 在 信 號 1 1 線 形 成 A2與 像 素 電 極 形 成 A3間 之 閘 極 絕 緣 層 3 之 部 1 | 份 被 蝕 刻 〇 1 -9 - 1 1 1 本紙張尺度—逋用中國國家標準(CNS -广A_4#t格(_·210 X 25»7公釐) A7 B7 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 五、發明説明 ( ) 1 1 再 次 參 考 圖 7E , 如 ΓΒΠ MBI 2D之 相 同 方 式 » 由 C r Mo /T a , 1 1 A1 或 Al/ Ta 造 成 之 單 層 或 多 層 之 導 電 圓 型 層 7 被 形 成 〇 同 1 I 樣 由 IT0 造 成 之 透 明 像 素 電 極 層 8 形 成 在 全 部 表 面 〇 請 先 1 1 閱 I 最 後 參 考 圖 7F » 如 ΠΤ 圖 2E 之 相 同 方 式 9 透 明 像 素 電 極 層 讀 背 1 8 被 鼸 型 化 〇 然 後 一 鈍 化 層 9 被 形 成 及 tsss 國 型 化 〇 在 本 案 之 1 注 1 例 中 信 號 線 SL i之周邊如匾8 所示 意 事 1 在 圖 8 中 一 凹 低 部 份 Rlij 加 上 凹 低 部 份 Rli_ 1,: 1 形 項 再 1 1 成 於 閘 極 絕 緣 層 3 中 〇 於 是 信 號 媒 SL i被凹低部份R li -1,j 寫 本 頁 1 和 Rlij 圍 繞 〇 V, 1 如 此 在 第 一 實 拖 例 中 » 信 號 線 形 成 區 A2與 像 素 電 極 形 1 | 成 區 A3間 之 閘 極 絕 緣 層 3 之 部 份 是 與 用 於 接 觸 结 構 之 接 1 觸 孔 形 成 之 同 時 被 移 除 0 因 此 即 使 如 圖 7C所 示 由 非 晶 矽 1 訂 層 4 和 5 之 蝕 刻 過 程 在 信 號 線 形 成 區 A2與 像 素 電 極 形 成 1 I 區 A3間 之 閘 極 絕 緣 層 3 留 有 非 晶 矽 該 非 晶 矽 是 由 閘 極 1 i 絕 緣 層 3 之 蝕 刻 過 程 而 移 除 如 圖 7D所 示 〇 同 樣 該 閘 極 絕 1 1 緣 層 3 之 蝕 刻 過 程 使 用 一 形 成 接 觸 孔 之 步 驟 並 未 增 多 m 1 線 造 步 驟 〇 因 此 製 造 成 本 幾 乎 沒 有 增 加 0 1 本 發 明 之 第 二 實 施 例 將 參 考 圖 9 1 0 A至 1 0P和 11 說 明 1 | 如 下 〇 1 1 圖 9 是 圖 例 說 明 根 據 本 發 明 之 一 有 源 矩 陣 LCD 元 件 之 1 1 平 面 圖 圖 10A 至 1 OF 是 顯 示 tsi 酬 9 中 製 造 元 件 之 方 法 之 各 1 I 横 剖 面 圖 而 [5T 画 11 是 面 圖 9 中 之 信 號 線 SLi之横剖面圖 > 1 1 如 Π5Π _ 9 所 示 * — 凹 低 部 份 如 R2i_ 1/ j 形 成 在 信 號 線 形 1 I 成 1¾ A2與 像 素 電 極 形 成 區 A3間 之 閘 極 絕 緣 層 3 中 ( 未 顯 1 1 -1 0- 1 1 1 本家ii^TCNS卞MB ( 210X297公釐) 經濟部中央橾準局貝工消費合作社印製 < 59862 a7 B7 五、發明説明(9 ) 示於圖9但顯示在圖10D、10E和10F中)。同樣如Eij 之像素電極伸延於凹低部份R2ij上。其结果,即使當使 信號線SLi非常接近於像素電極j和Ei:j ,其間之 非晶矽之部份能完全移除。 參考圖10A ,如圖7A之相同方式,一閘極線層2形成 在玻璃基材1之TFT形成區A1上,同樣由TaO, SiO或相 類物造成之第一閘極絕緣層31澱積在全部表面上,然後 由SiN或相類物造成之第二閘極絕緣層32澱積在其上Μ 形成一閘極絕緣層3 。 其次參照圖10Β ,如圖7Β之相同方式,用作TFT之通 道區域之I型非晶矽層4澱積在全部表面上,及一用作 低電阻接觸结構之N型非晶矽層5又澱積其上。 再次參考圖1 0 C ,如圖7 C之相同方式,該非晶矽層4 和5皆加Μ圖型化。 再次參考圖10D ,如圖7D之相同方式,該閘極絕緣層 3與一光姐抗蝕層藉使用乾蝕刻過程為形成接觸结構-(未顯示)而被蝕刻,Μ形成凹低部份R 2i_lf j 於閘極絕 緣層3之內。於是在信號線形成區A2與像素電極形成區 A 3間之閘極絕緣層3之部份被蝕刻。 再次參考圖10E ,如圖7D之相同方式,由Cr, Mo/Ta, A1或Al/Ta造成之單層或多層之導電圖型層7被形成。 同樣由I TO造成之透明像素電極層8形成在全部表面。 最後參考圖10F ,如圖7F之相同方式,該透明像素電 極層8被圖型化。在本案例中,該像素電極曆8 (Ej ) -1 1 - ---------d------tT------it (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公會·-) 259862 a? B7 經濟部中央標準局貝工消費合作社印策 五、發明説明( c ) 1 1 1 是 部 份 位 於 該 閘 極 絕 緣 層 3 之 凹 低 部 份 R2 i- 1, j 上 〇 妖 1 1 後 一 鈍 化 暦 9 被 形 成 及 圖 型 化 〇 在 本 案 例 中 信號 線 SL i '、 1 I 之 周 邊 如 圖 1 1所示 〇 請 1 1 閱 I 在 圖 1 1中 * -* 凹 低 部 份 R2 ij加 上 凹 低 部 份 R2 i. -1, j 形 讀 背 1 1 成 於 閘 極 絕 緣 曆 3 中 9 於 是 信 號 線 SL •1被凹低部份R2 i«l# j 1¾ 之 1 注 1 和 R2ij 園 繞 * 凹 低 部 份 上 伸 延 有 像 素 電 極 層 (E i-i. j) 和 意 事 1 8 (Eij ) 〇 項 再 1 I 1 1 如 此 即 使 在 第 二 實 施 例 中 » 信 號 線 形 成 區A2與 像 素 本 電 極 形 成區A 3間之 閘 極 絕 緣 層 3 之 部 份 是 與 用於 接 觸 结 頁 1 1 構 之 接 觸 孔 形 成 之 同 時 被 移 除 〇 同 樣 像 素 電 極層 8 是 部 1 I 份 位 在 凹 低 部 份 R2 i-1, j和R 2i j上 >因此即使如圖10C所 1 | 示 9 由 非 晶 矽 層 4 和 5 之 蝕 刻 過 程 在 信 號 線 形成 區 A2與 1 訂 像 素 電 極 形 成區A3間 之 距 離 是 非 常 之 小 及 其 間之 閘 極 絕 1 I 緣 層 3 上 留 有 非 晶 矽 0 那 些 非 晶 矽 已 被 閘 極 絕緣 層 3 之 1 I 蝕 刻 過 程 所 移 除 如 ΙΞΙ 國 10 D 所 示 〇 同 樣 該 閘 極 絕緣 層 3 之 1 I 蝕 刻 過 程 使 用 一 形 成 接 觸 孔 之 步 驟 並 未 增 多 製造 步 驟 .0 1 線 因 此 製 造 成 本 幾 乎 沒 有 增 加 0 1 本 發 明 之 第 三 實 施 例 將 參 考 圖 12 、 13八至13卩和 14說明 1 I 如 下 〇 1 1 EST _ 1 2是 ΠΒΠ 國 例 說 明 根 據 本 發 明 之 一 有 源矩陣LCD 元 件 之 1 1 平 面 回 _ t 圖 13A至13F是顯示 回 圖 1 2中 製 造 元 件 之方 法 之 各 1 I 横 剖 面 圆 圖 » 而 圖 14是 圖 1 2中 之 信 號 線 SL i之横剖面圖c 1 1 如 _ 1 2所 示 * 一 凹 低 部 份 釦 R3i_: 形 成 在閘 極 絕 緣 1 ! 層 3 (未顯示贫 Ϊ圖12中但顯示於圖13D 、 13E和 13F 中) 中 1 -1 2- 1 1 1 本紙^尺度適用中固國家標準(-CNSfA-4^3格t2t〇X-297-公釐) 經濟部中央標準局貝工消費合作社印製 259862 a? B7 五、發明説明(i,) 信號線層SLi, SLi+1之下,W及信號線形成區與像素電 極形成區之間。 參考圖13A ,如圖7A之相同方式,一閘極線層2形成 在玻璃基材1之TFT形成區A1上,同樣由TaO, SiO或相 類物造成之第一閘極絕緣層31澱横在全部表面上,然後 由SiN或相類物造成之第二閘極絕緣層32澱積在其上Μ 形成一閘極絕緣喔3 。 其次參考圖13Β ,如圖7Α之相同方式,用作TFT通道 區域之I型非晶矽層4澱積在全部表面上,及一用作低 電胆接觸结構之N型非晶矽層5又澱積其上。 再次參考圖13C ,如圖7C之相同方式,該非晶矽層4 和5皆加Μ圖型化。 再次參考圖13D ,如圖7D之相同方式,該閘極絕緣層 3與一光姐抗蝕層藉使用乾蝕刻過程為形成接觸结構 (未顯示)而被蝕刻,Κ形成凹低部份R 3 ij於閘極絕緣層 3之内。於是在信號線形成區A2中及在信號線形成區A2 與像素電極形成區A3間之閘掻絕緣層3之部份被蝕刻。 再次參考圖13E ,如圖7D之相同方式,由C「, Mo/Ta, A1或Al/Ta造成之單層或多層之導電圖型層7被形成。 同樣由IT0形成之透明像素電極層8形成在全部表面。 最後參考圖13F ,該透明像素電極層8被圖型化,因 此信號線SLiB成在凹低部份R3i;j之內。然後一純化層9 被形成及圖型化。在本案例中信號線SLi之周邊如圖14 所示。 -13- — -本—紙張尺度適用中爵國家標準-(CNS_) Α4*#·-( 210X297公釐〉 裝 訂 線 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) ^59862 A7 B7 五、發明説明(a ) 在圖14中,該凹低部份R3ij形成在閘極絕緣層3中。 於是信號線S Li是位於凹低部份R3±j之内。 如此,即使在第三實施例中,信號線形成區A2中及在 信號線形成區A2與像素電極形成區A3間之閘極絕緣層3 之部份是與用於接觸結構之接觸孔V之形成同時被移除 。因此即使當信號線形成區A2與像素電極形成區A3間之 距離是非常之小及由非晶矽層4和5之蝕刻過程在其間 之閘極絕緣層3上留有非晶矽,那些非晶矽已被閘極絕 緣層3之蝕刻過程所移除如函13D所示。同樣該閘極絕 緣層3之蝕刻過程使用一形成接觸孔之步驟並未增多製 造步驟。因此製造成本幾乎沒有增加。 本發明之第四實施例將參考圖15A至15F和16說明。圖 15A至15F是顯示圖6中製造元件之方法之各横剖面圖, 而圖16是圖6之中之一信號線SL之横剖面圖。 在第四實胞例中,凹低部份如Rli_1/;j 形成在鈍化層 9中及在信號線形成區A2與像素電極形成區A3間之閘極 絕緣層3中(未顯示在匾12中但顯示在圖15F中)。 參考圖15A ,如圖7A之相同方式,閘極線層2形成在 玻璃基材1之TFT形成區A1上。同樣由TaO, SiO或相類 物造成之第一閘極絕緣層31澱積在全部表面上。然後由 SiN或相類物造成之第二閘極絕緣層32澱積在其上Μ形 成一閘極絕緣層3 。 其次參考圖15Β ,如圖7Β之相同方式,用作通道區域 之I型非晶矽層4澱積在全部表面上,及一用作低電阻 -1 4 - 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) Α4規格(210X297公釐)
In I n n 裝 訂 線 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 50862 A7 B7 經濟部中央標準局員工消費合作社印袋 五、發明説明 (丨》 ) 接 觸 结 構 之 N 型 非 晶 矽 層 5 m 積 其 上 〇 再 次 參 考 t—l 画 1 5C t 如 圖 7C 之 相 同 方 式 > 該 非 晶 矽 層 4 和 5 皆 加 Μ 圖 型 化 〇 再 次 t 該 閘 極 絕 緣 層 3 與 一 光 阻 抗 蝕 層 藉 使 用 乾 蝕 刻 過 程 為 形 成 接 觸 结 構 (未顯示) 而 被 牲 刻 〇 但 是 在 此 案 例 中 > 在 信 號 線 形 成 區 /\2與 像 素 電 極 形 成 區 A3 間 之 閘 極 絕 緣 層 3 之 部 份 未 被 蝕 刻 〇 再 次 參 考 圖 1 5D y 如 圖 7E 之 相 同 方 式 > 由 Cr t Mo /T a , A 1 或 A 1 /T a造成之單層或多層之導電圖型層7 被形成< ) 再 次 參 考 圖 1 5Ε » 一 由 ΙΤ0 造 成 之 透 明 像 素 電 極 層 8 形 成 在 全 部 表 面 上 〇 最 後 參 考 圖 1 5F » 一 鈍 化 層 9 被 形 成 〇 m 後 該 鈍 化 層 9 和 閘 極 絕 緣 層 3 同 時 被 圖 型 化 〇 在 此 菜 例 中 * 信 號 線 SL i之周邊如圖1 6所示 1 在 圖 16 中 » 一 凹 低 部 份 R 1 i j 加 上 凹 低 部 份 Rli_] L, j 皆 形 成 在 閘 極 絕 緣 層 3 中 » 於 是 信 號 線 SLi被凹低部份R-l-; < 和 Riij 所 圍 繞 〇 如 此 » 即 使 在 第 四 實 施 例 中 , 信 號 線 形 成 A2與 像 素 電 極 形 成 區 A3間 之 閘 極 絕 緣 層 3 之 部 份 是 與 用 於 接 觸 结 構 之 接 觸 孔 形 成 之 同 時 被 移 除 〇 因 此 即 使 如 圖 1 5C 所 示 » 由 非 晶 矽 層 4 和 5 之 蝕 刻 過 程 在 信 號 線 形 成 區 A2與 像 素 電 極 形 成 A 3間 之 閘 極 絕 緣 層 3 上 留 有 非 晶 矽 » 那 些 非 晶 矽 已 由 閘 極 絕 緣 層 3 之 蝕 刻 過 程 所 移 除 如 圖 1 3F 所 示 〇 同 樣 該 閘 極 絕 緣 層 3 之 蝕 刻 過 程 使 用 一 形 成 接 觸 孔 -1 5- 本紙張尺度適用中國國家橾準(CNS ) A4规格(210 X 297公釐) 請 先 鬩 讀 背 之 注 意 事 項 再 f裝 頁 訂 259862五、發明説明(,4 ) 加行間能 增執區亦 有上成路 沒矽形短 乎晶極之 幾非電間 本在素極 成當像電 造使與素 製即區像 此,成與 因明形線 。 發線號 驟本號信 步據信 , 造根在除 製,將蝕 多明能份 增說不部 未之程之 並上遇矽 驟以刻晶。 步如蝕非免 之 之之避 裝 訂 線 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部中央橾準局員工消費合作社印袋 本依張尺度適用_中國國家標準(CNS ) Λ4規格(2t&X_297公釐)

Claims (1)

  1. 經濟部中央標準局員工消费合作社印製 Z 59862 A8 B8 C8 D8 六、申請專利範圍 1. 一種用於製造液晶顯示元件之方法,其特徴包括下列 步驟: 形成一 W極絕緣層(3)於一絕緣基材(1)上; 蝕刻該閛極絕緣層在信號線形成區(A2)與像素電極 形成區(A3)間之一部份; 形成一信號線匾型層(S 4)於該閘極絕緣層之像素 電極區上;及 形成一像素電極圖型層(Eij)於該閘極絕緣層之像 素電極區上。 2. 如申請專利範圍第1項之方法,其中該像素電極圖型 層形成步驟又形成該像素電極画型層於該基材之一部 份上其處是該閘極絕緣層被蝕刻之一部份。 3. 如申謫専利範_第1項之方法,其中該閘棰绝線層蝕 刻步鼸又蝕刻在倍號線形成區之該關極絶緣層。 4 . 一種用於製造液晶顯示元件之方法,其特徵包括下列 步驟: 形成一閘極絕緣層(3 )於一絕緣基材(1 )上; 形成一信號線圖型層(SLi)於該閘極絕緣層之一信 號線區上; 形成一像素電極圖型層(Eq)於該閘極絕緣層之一 像素電極區(A3)上; 形成一鈍化層(9)於該信號線圖型和該像素電極圖 型上;及 蝕刻該鈍化層之一部份及在信號線形成區與像素電 17- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐〉 ---------^------1T------,ii (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) Γ59862 as Β8 C8 D8 六、申請專利範圍 極形成區間之閘極絕緣層之一部份。 5. —種用於製造液晶顯示元件之方法,其特激包括下列 步驟: 形成一 Μ極線圆型層(GL )於一絶鐮基材(1)之一薄 膜電晶體(TFT)形成區(A1)上; 形成一閘極絕緣靨(3)於該絕緣基材(1)和該閘極 線圖型層上; 形成一非晶矽圖型層(4 , 5 )於該閘極絕緣層之薄膜 電晶體形成區上; 蝕刻在一信號線形成區(A2)與一像素電極形成區 (A 3 )間該閘極絕緣層之一部份; 形成一源極/吸極圖型層及一信號線圖型層(S Li) 分刖於該閘極絕緣層之薄膜電晶體形成區和信號線區 上;及 形成一像素電極圖型層(Eij)於該閘極絕緣層之像 素電極層上。 - 6. 如申請專利範圍第5項之方法,其中該像素電極圖型 層形成步驟又形成該像素電極圖型層於該閘極絕緣層 被蝕刻部份處該絕緣基材之一部份。 經濟部中央標準局員工消费合作社印製 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本页) 7. 如申請專利範圍第5項之方法,其中該像絕緣層蝕刻 步驟又蝕刻在信號線形成區之該閘極絕緣層。 8. —種用於製造液晶顯示元件之方法,其特激包括下列 步驟: 形成一閘極絕緣層(G、)於一絕緣基材(1)之一薄 -18- 本紙張尺度適用中國國家揉準(CNS ) A4規格(210X297公釐) "59862 A8 B8 C8 D8 六、申請專利範圍 (:層 .,層 型 上緣 圖 ♦, 區絕 矽上 成極.,晶區 形閘上非成 體一層一形 晶成型成體 電形圖形晶 膜線電 材 基 緣 絕 該 於 極 閘 該 和 膜 薄 之 層 緣 絕 極 閘 該 於 \1/ 5 別上 - bKr 分區 之 }線 S i 層 L ^ ^ (S信緣 I , 絕 層 一 S 極 型及Η Η罾亥線成:: 號形W 信體ij 一晶(E 和電層 層瞑型 極薄圖 吸之極 \ 層電 極緣素 源絕像 1 極 一 成閘成 形該形 於 層 ;化 上鈍 區一 極成 電形 素 圖 極 電 素 像 該 和 型 圖 線 號 信 該 於 電 素 像 與 區 成 形 線 號 信 在 及 份 部 1 之 層 化 純 及該 ; 刻 上蝕 型 份 : 部括 一 包 之徵 層特 緣其 絕 , 極件 閛元 之示 間顯 區晶 成液 形種 極一 9 層 緣 ;絕 }極 1 mg: 材二 基第 緣和 絕 一 一 第 互 並 上 層 緣 絕 1 在 成 形 及 。 ; 上 上層 層緣 緣絕 絕極 極閘 閘二 一 第 第該 該在 在成 成形 形dr \J/ i i E L ( (s極 線電 ; 號素 離信像 分 一 一 相 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 裝. ,ιτ 線 經濟部中央梯準局負工消費合作社印製 伸 。 極上 電材 素基 像緣 該絕 上 中該 材 其之: 基 ,間括 緣 件層包 絕 元緣徵 該 之絕特 在 項極其 成 9 閘, 形 第二件 .,} 圍第元 >(3 範和示(1層 利一顯材緣 專第晶基絕 請該液緣極 申在種絕閘 如至 一一一 . 延 . 本紙張尺度適用中鬮國家橾準(CNS ) A4規格(210X297公釐) *-59862 A8 B8 C8 D8 六、申請專利範圍 一信號線(SLi)形成在該絕緣基材上;及 一像素電極(Eij)形成在閛極絕緣層上。 12. —種液晶顯示元件,其特激包括: 一絕緣基材(1 ); 一閘極線(G Li)形成在該絕緣基材上; 第一和第二閘極絕緣暦(3)形成在該絕緣基材上 並互相分離;該第一絕緣層覆蓋該閘極線; 一源極/吸極圖型形成在該第一閘極絕緣層上與 該閘極線相對立; 一信號線(SLi)形成在該第一閘極絕緣層;及 一像素電極(Ei;j)形成在該第二閘極絕緣層上。 裝 訂 線 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部中央標準局®:;工消費合作社印製 -20- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS > A4规格(210X297公釐)
TW083111991A 1993-12-30 1994-12-21 TW259862B (zh)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP35244293A JP2738289B2 (ja) 1993-12-30 1993-12-30 液晶表示装置の製造方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
TW259862B true TW259862B (zh) 1995-10-11

Family

ID=18424110

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
TW083111991A TW259862B (zh) 1993-12-30 1994-12-21

Country Status (4)

Country Link
US (2) US5872021A (zh)
JP (1) JP2738289B2 (zh)
KR (1) KR0165990B1 (zh)
TW (1) TW259862B (zh)

Families Citing this family (39)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3264282B2 (ja) * 1995-02-23 2002-03-11 シチズン時計株式会社 液晶表示装置およびその製造方法
KR100204071B1 (ko) * 1995-08-29 1999-06-15 구자홍 박막트랜지스터-액정표시장치 및 제조방법
JP2850850B2 (ja) * 1996-05-16 1999-01-27 日本電気株式会社 半導体装置の製造方法
TW418432B (en) * 1996-12-18 2001-01-11 Nippon Electric Co Manufacturing method of thin film transistor array
US6010923A (en) * 1997-03-31 2000-01-04 Sanyo Electric Co., Ltd. Manufacturing method of semiconductor device utilizing annealed semiconductor layer as channel region
KR100488924B1 (ko) * 1997-06-27 2005-10-25 비오이 하이디스 테크놀로지 주식회사 액정표시소자의제조방법
US5998229A (en) * 1998-01-30 1999-12-07 Samsung Electronics Co., Ltd. Methods of manufacturing thin film transistors and liquid crystal displays by plasma treatment of undoped amorphous silicon
CN1139837C (zh) * 1998-10-01 2004-02-25 三星电子株式会社 液晶显示器用薄膜晶体管阵列基板及其制造方法
TW514757B (en) * 1998-11-26 2002-12-21 Seiko Epson Corp Electro-optical device and production method thereof and electronic equipment
US6368664B1 (en) * 1999-05-03 2002-04-09 Guardian Industries Corp. Method of ion beam milling substrate prior to depositing diamond like carbon layer thereon
JP3329313B2 (ja) 1999-06-02 2002-09-30 日本電気株式会社 薄膜トランジスタアレイおよび薄膜トランジスタアレイ製造方法
US6297161B1 (en) * 1999-07-12 2001-10-02 Chi Mei Optoelectronics Corp. Method for forming TFT array bus
KR100739366B1 (ko) * 1999-12-20 2007-07-16 엘지.필립스 엘시디 주식회사 박막 트랜지스터 및 그 제조방법
TW594135B (en) * 2000-01-29 2004-06-21 Chi Mei Optorlrctronics Co Ltd Wide viewing-angle liquid crystal display and the manufacturing method thereof
JP4118484B2 (ja) 2000-03-06 2008-07-16 株式会社半導体エネルギー研究所 半導体装置の作製方法
JP2001257350A (ja) * 2000-03-08 2001-09-21 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 半導体装置およびその作製方法
JP4700160B2 (ja) 2000-03-13 2011-06-15 株式会社半導体エネルギー研究所 半導体装置
JP4118485B2 (ja) 2000-03-13 2008-07-16 株式会社半導体エネルギー研究所 半導体装置の作製方法
JP4683688B2 (ja) 2000-03-16 2011-05-18 株式会社半導体エネルギー研究所 液晶表示装置の作製方法
JP4393662B2 (ja) * 2000-03-17 2010-01-06 株式会社半導体エネルギー研究所 液晶表示装置の作製方法
US6900084B1 (en) * 2000-05-09 2005-05-31 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device having a display device
JP3415602B2 (ja) * 2000-06-26 2003-06-09 鹿児島日本電気株式会社 パターン形成方法
KR100726132B1 (ko) * 2000-10-31 2007-06-12 엘지.필립스 엘시디 주식회사 액정표시장치용 어레이기판과 그 제조방법
US7071037B2 (en) 2001-03-06 2006-07-04 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device and manufacturing method thereof
TWI291072B (en) * 2001-09-28 2007-12-11 Sanyo Electric Co Liquid crystal display unit
JP3957277B2 (ja) * 2002-04-15 2007-08-15 株式会社アドバンスト・ディスプレイ 液晶表示装置及びその製造方法
KR101126396B1 (ko) * 2004-06-25 2012-03-28 엘지디스플레이 주식회사 박막트랜지스터 어레이 기판 및 그 제조방법
US11126627B2 (en) 2014-01-14 2021-09-21 Change Healthcare Holdings, Llc System and method for dynamic transactional data streaming
US10121557B2 (en) * 2014-01-21 2018-11-06 PokitDok, Inc. System and method for dynamic document matching and merging
KR20150137214A (ko) * 2014-05-28 2015-12-09 삼성디스플레이 주식회사 유기발광 디스플레이 장치 및 그 제조방법
US10007757B2 (en) 2014-09-17 2018-06-26 PokitDok, Inc. System and method for dynamic schedule aggregation
CA2985839A1 (en) 2015-01-20 2016-07-28 PokitDok, Inc. Health lending system and method using probabilistic graph models
KR102311728B1 (ko) * 2015-03-17 2021-10-12 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치
US20160342750A1 (en) 2015-05-18 2016-11-24 PokitDok, Inc. Dynamic topological system and method for efficient claims processing
US10366204B2 (en) 2015-08-03 2019-07-30 Change Healthcare Holdings, Llc System and method for decentralized autonomous healthcare economy platform
WO2017066700A1 (en) 2015-10-15 2017-04-20 PokitDok, Inc. System and method for dynamic metadata persistence and correlation on api transactions
US10102340B2 (en) 2016-06-06 2018-10-16 PokitDok, Inc. System and method for dynamic healthcare insurance claims decision support
US10108954B2 (en) 2016-06-24 2018-10-23 PokitDok, Inc. System and method for cryptographically verified data driven contracts
WO2018231832A1 (en) 2017-06-12 2018-12-20 PokitDok, Inc. System and method for autonomous dynamic person management

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5166086A (en) * 1985-03-29 1992-11-24 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Thin film transistor array and method of manufacturing same
JPH0717059Y2 (ja) * 1987-07-31 1995-04-19 三洋電機株式会社 液晶表示パネル用電極基板
JP2771820B2 (ja) * 1988-07-08 1998-07-02 株式会社日立製作所 アクティブマトリクスパネル及びその製造方法
JPH02234126A (ja) * 1989-03-08 1990-09-17 Hitachi Ltd 液晶表示装置の製造方法
JPH0734467B2 (ja) * 1989-11-16 1995-04-12 富士ゼロックス株式会社 イメージセンサ製造方法
JPH04324938A (ja) * 1991-04-25 1992-11-13 Stanley Electric Co Ltd 薄膜トランジスタとその製造方法
US5539551A (en) * 1992-12-28 1996-07-23 Casio Computer Co., Ltd. LCD TFT drain and source electrodes having ohmic barrier, primary conductor, and liquid impermeable layers and method of making
JP3098345B2 (ja) * 1992-12-28 2000-10-16 富士通株式会社 薄膜トランジスタマトリクス装置及びその製造方法
KR0169356B1 (ko) * 1995-01-06 1999-03-20 김광호 박막트랜지스터 액정 디스플레이 소자 및 그 제조방법
JP2776360B2 (ja) * 1996-02-28 1998-07-16 日本電気株式会社 薄膜トランジスタアレイ基板の製造方法

Also Published As

Publication number Publication date
US5872021A (en) 1999-02-16
KR950019870A (ko) 1995-07-24
US6114184A (en) 2000-09-05
JP2738289B2 (ja) 1998-04-08
KR0165990B1 (ko) 1999-03-20
JPH07199223A (ja) 1995-08-04

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TW259862B (zh)
TW589501B (en) Manufacturing method of liquid crystal display
TW512247B (en) Liquid crystal display device, matrix array substrate, and manufacture thereof
TWI230309B (en) Thin film transistor array panel for a liquid crystal display having a wide viewing angle and a method for manufacturing the same
TW591319B (en) LCD array substrate and fabrication method thereof
US6642086B2 (en) Method for fabricating thin film transistor array substrate for liquid crystal display
TW438987B (en) Liquid crystal display and method of fabricating the same
TWI393970B (zh) 薄膜電晶體陣列面板及其製造方法
TW200419238A (en) Liquid crystal display of horizontal electronic field applying type and fabricating method thereof
TW200402888A (en) Thin film transistor array panel and manufacturing method thereof
JPH11288007A (ja) 液晶表示装置及びその製造方法
CN103309105B (zh) 阵列基板及其制备方法、显示装置
JPH01217325A (ja) 液晶表示装置
TWI288287B (en) Thin film transistor array panels for liquid crystal display and methods for manufacturing the same
KR20050067934A (ko) 금속 배선의 형성방법 및 이를 이용한 액정표시장치의제조방법
TWI282969B (en) Thin film transistor array and fabricating method thereof
TW560072B (en) Thin-film-transistor-array substrate, thin-film-transistor-array fabrication method, and display device
TWI360008B (en) Thin film transistor array panel and manufacturing
US8077268B2 (en) Thin film transistor substrate and method of manufacturing the same
TW200536123A (en) Manufacturing method of a thin film transistor-liquid crystal display
US6791651B2 (en) Array substrate for IPS mode liquid crystal display device and fabricating method for the same
KR20060125066A (ko) 개구율이 향상된 어레이 기판 및 이의 제조방법
JPH04335617A (ja) アクティブマトリクス基板
TW578240B (en) Contact portion of semiconductor device and method for manufacturing the same, thin film transistor array panel for display device including the contact portion, and method for manufacturing the same
TW447138B (en) Manufacturing method of thin-film transistor

Legal Events

Date Code Title Description
MK4A Expiration of patent term of an invention patent