TW211607B - - Google Patents

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A 6 B6 211607 五、發明説明（1 ) (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 本發明俗關於測試A T Μ接法的特性之方法，關於測 試單元産生器（具有裝置用以産ATM測試單元的資料順 序以及關於用以測試A T Μ測試單元之鑑定電路。 在ATM糸統中，各種的誤差可能發生，且必須以無 論何種方式，完全被偵測出。舉例而言，當無數元或單元 同步可予實施時，誤差一定存在。又，對無論何種問題沒 有回應，應被認為係誤差。亦所熟知者，將一値誤差保護 碼包括入ATM單元的資訊部份中，未偵測傳輸誤差。 並非所有種類之誤差可被偵測出。關於僅謬誤地發生 之誤差，就是此情況，雖然此等誤差不利地影響ATM網 路的兩點間，ATM接法之傳輸品質。 對於此問題之解決，經由申請專利範圍第1項之方法 予以示出。此方法宜藉根據申請專利範圍5之試驗單元産 生器及根據申請專利範圍第11項之鑑定電路予以實施。 此種解決的基本觀念是實現具有經適當構成之一条列 的測試單元之測試接法。 經濟部中央標準局员工消f合作社印製 較佳之具體實施例自子申請專利範圍顯然可見，一種 適當構成之測試單元，正如每個ATM單元一樣包括：一 個單元信頭和資訊部份，根據本發明，該資訊部份具有兩 倍相同内容，其中有：一個時間顯示，一接法數字及一順 序數目的單元在接法中。内容的重複係以倒轉方式而發生 。宜，每一八位元組應繼以其倒數。 以此種方式，大體上，可以測試ATM接法的所有待 性。此方法亦係有利的，因為：在資訊部份中，零和一的 81. 5. 20,000(H) 本紙張尺度逍用中國B家標準(CNS)甲4規格(210x297公；¢) -3 — 經濟部中央標準局貝工消費合作社印製 五、發明説明0 ) 數目相等，以致同位不受影饗。又，此方法可經由簡單工 具予以實施。 本發明的上述及其他目的和特徴，經由參照連同附隨 之圖式所取之具體實施例的下列敘述，將變得更顯然且本 發明本身可被最佳了解，在此等圖式中： 圖1顯示：根據本發明之ATM測試單元的構造； 圖2代表：根據本發明，測試單元産生器的方塊圖； 圖3顯示：根據本發明，鑑定電路的方塊圖。 以示意之方式，圖1的第一線顯示：完全ATM測試 單元的構造。該單元以信頭Η (包括五個八位元組或數元 組）開始。此單元信頭Η僳以所熟知方式予以使用，來轉 移單元至ATM網路以内之一個經預測定之目的地。此單 元信頭的構造，對於本發明，並非特性化，而單元信頭可 以視接法之過程以内的目的而予以改變。因此，可將它不 包括在試驗中。就本發明而論，關於何種的接法欲予測試 ，亦無關重要，即：是否關於一個交換（器）以内之兩點 間之接法，或如果是否測試兩遠點間之接法，或是否関於 構成並測試一個迴線。 舉例而言，信頭Η含有一對的位元，具有辨別：測試 與維護單元與接法以内之數據單元的功能，，而，隨著單 元信號Η後，資訊部份的最先八位元組MCT則被使用來 辨別測試單元和維護單元。關於M C Τ ,必須儲備一個經 預測定之碼。 隨後之八位元組，M C Τ代表先前之八位元組M C Τ (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 裝< 訂- 線. 本紙張尺度逍用中國困家標準（CNS)甲4規格（210X297公煃） -4 - 81. 5. 20.000(H) Λ 6 Β6 211607 五、發明説明（3 ) (請先閱讀背面之注意事項再塡寫本頁) 的倒數。此倒數像以如此一種方式予以實施，以便倒轉每 一、' b u t " 〇 M C T和M C T—繼以1 8個八位元組，它交替式含有 僅1或0。每對的此等八位元組構成一個旗標FL。此等 1 8値八位元組具有三個目的。應辨識誤差，它維持一値 接法，（連缠地）在零上或在1上。兩種型式的ATM測 試單元應予相互辨別，即：1一型單元，其數據僳以一種 非倒轉方式予以傳輸，並繼以其倒轉形式以及◦一型單元 ，將其數據倒轉，因此，隨後之經倒轉之八位元組合有未 經倒轉之數據。最後，毎對的八位元組亦被使用來偵測位 元誤差。 測量數據MD繼此等18八位元組之後。傳輸3種不 同之測置數據，即：時間顯示T S ,接法中之單元的順序 數目SN及接法數字ID。每次，將此等3種測量數據傳 輸成為1 6—位元字組。就1 一型單元I 1 cm論，傳輸 僳以ΤΙ, ΤΙ, T2, T2等次序予以實施如圖1中所 代表者。 經濟部中央標準局员工消#合作社印製 時間顯示TS被使用來考慮轉移時間（延遲時間）之 變更。使用順序數目S N來偵測單元之消失或重複。一個 有錯誤的接法數字I D指不：另外接法的一個單元，錯誤 地出現在此接法中以及因此，單元信頭業已錯誤地變更。 其餘的測試單元，係以八位元組予以完成，它再度， 交替式含有僅1或僅0。經由倒轉全部資訊部份内部，每 一八位元組之八位元組，没有部份的單元被遣留而未考慮 本紙張尺度逍用中國國家標準(CNS)甲4規格（210x297公;¢) -5 - 81. 5. 20.000(H) Λ 6 B6 2imi 五、發明説明（4 ) 。一値單元之内部，誤差可能由於以16 —位元寬度之並 行處理之結果而産生。因此，在測試接法中，交替式使用 兩種的測試單元1 -型及◦-型並以經預測定或任意之次 序。 圖2顯示：測試單元産生器的一個具體實施例，經由 它，可以産生上述之ATM單元。 該測試單元産生器TG包括：一條控制電路TCGC ,—具謓和寫記億器MEM, —具接法數字産生器ID, 一具定時計LT,一具三態匯流排TSB (具有8位元之 寬度），一具反相器INV及一具輸出暫存器REG。 將同步脉衝電路LT,接法數字産生器ID及記億器 MEM設置以三態輸出，彼等能在相同命名之活化信號 0E1, 0E2, 0E3之協助下，經由活化輸入0E1 ，0E2， 0E3予以活動，將三態匯流排TSB的導線 ，經由電阻R予以連接至供電電壓VCC上。將同步脉衝 電路L T和接法數字産生器I D設置以反向輸入S e U L ，經由它及藉相同命名之反向信號SeML,可以實現： 自高數值數據資料數元組轉換成為低數值資料數元組，反 之亦然。同步脉衝電路LT,經由單元同步脉衝電路 CCL予以控制，而輸出暫存器REG則經由數元組定時 計BCL予以控制。可將反相器INV,藉信號INVC ，轉換在非反相狀況與反相狀況間。記億器MEM可以經 由匯流排TSB而傳輸數據，以及至控制電路TCGC或 自此電路，接收數據。為了此項目的，將一個8 —位元寬 本紙張尺度逍用中Β國家標準（CNS)甲4規格(210X297公龙) (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 裝- •?τ 經濟部屮央標準局员工消#合作社印製 81. 5. 20.000(H) Λ 6 136

2116C 五、發明説明（5 ) (請先閱讀背面之注意事項再塡寫本頁) 雙向之數據接法MDA提供在兩電路間及在對照電路 TCGC與記億器MEM間，亦預見：一個3位元寬位址 接法，一個寫入輸入MW和一値讀取輸入MR。 在連接至已經述及之記億器後，亦將控制電路 TCGC配置以各輸出〇E1,〇E2, 0E3,用以激 活信號0E1, 0E2和0E3,及用以激活三態輸出， 使一個輸出S eML供相似命名之反轉信號S e w L用， 使各輸出C C L和B C L供單元定時計C C L和數元組定 時計BCL用，及使輸出INVC供控制反相器INV之 信號I N V C用。 經濟部中央標準局貝工消费合作社印製 單元信頭Η的八位元組傺由記億器Μ E Μ予以産生， 並饋入通過反相器INV，而無反轉。兩個下列之八位元 組，M C Τ和M C Τ ,經由記億器MEM兩次予以産生， 一次接一次後，僳未倒轉形式並被饋入通過反相器，一次 無反轉，一次有反轉。旗標FL，僳當三態輸出未予活化 時，在電阻R之協助下予以形成，然後，經由交替未反轉 及在反相器INV中。時間顯示偽由同步脉衝電路LT予 以産生，順序號碼經由記億器MEM予以産生，而接法數 字則經由接法數字産生器ID予以提供。特此，每次高數 值數據數元組兩次，及産生低數值數據數元組兩次，並饋 入通過反相器一次無反轉，一次有反轉。在毎次完全傳輸 後，將經存儲在記億器MEM中順序號碼，暫存在控制電 路TCGC中，將它在其中，予以增量約1,然後再負載 入記億器MEM中。 81. 5. 20.000(H) 本紙張尺度逍用中國國家標準(CNS)甲4規格（210x29’丨公货) 211607 Λ 6 15 6 經濟部屮央標準局员工消t合作社印製

五、發明説明鈐） 隨後之旗標，僳以如第一旗標之相同方式予以獲得。 控制電路TCGC,主要僳以與所熟知之程式規割電 路之相同方式而操作，需要一値計數器和一個程式記憶器 。必須將下列加至此等電路中：一個加法電路，用以增量 順序號碼以及所熟知之裝置，用以提供定時。 圖3顯示：用以測試ATM測試單元之鑑定電路之可 能具體實施例。此鑑定電路E C包括：故障辨識電路 ERRC,用以，例如：單元信頭辨識之電路HI DC, 單元型式辨識之電路TYPD,定時計LCTI,測定順 序號碼之電路SEQE,及用以測定相對或絶對轉移時間 之電路D E L C。 該故障辨識電路E RRC研究：是否八位元組發生在 彼相互倒轉之相關聯之對子中。對了此項目的，關於8位 元之每一者，需要：一個記億器，一個反相器，和一條比 較電路。計數發生在A T Μ測試單元以内之誤差，此計數 器的計數器位置構成信號ERR PAT。産生另外之信 號：ERR SEQ (當誤差發生在順序號碼中時）； ERR TIME (當誤差發生在時間顯示中時），及 ERR 1 0 (當誤差發生在順序號碼中時）。亦將信號 ERR PAT和ERR ID傳輸至單元信頭辨識 Η I D C之電路中。 所謂的單元信頭辨識電路Η I DC比較：引入之單元 的單元倍頭的5數元組，與基準單元的5數元組，各信頭 數元組毎一者包括：一對的上述之位元，下文中稱為PT (請先閱讀背面之注意事項再塡寫本頁) 裝. 訂 線. 本紙張尺度逍用中國國家標準(CNS)甲4規格(210X297公龙) -8 - 81. 5. 20,000(H) 211607 Λ 6 136 五、發明説明（7 ) ，當與測試或維護單元相關時，將它激活，而在數據單元 之情況，則不予激活。於玆，當下列情況時，將輸出 CELLREC激活： 一將PT激活，且當不僅信頭單元的五個數元組，而 且M C T和M C Τ數元組是相等；或當 一未將ΡΤ激活，且信頭的五個數元組是相等。 現在，當將CELL REC激活時，然後，將輸入 單元的順序號碼，與基準單元者相比較，並藉以，當下列 情況時，將輸出CELL INS激活： 一此等接法數字不同，且在輸入單元的接法數字中無 誤差； 一最後所述及之接法數字是錯誤的，而且，信號 ERR PAT超過一經預測定之閏值。 單元型辨識之電路TYPD區別：型一1之單元與型 _0之單元，並産生一個信號TYPE指示：單元型式。 用以測定順序號碼之電路S E QE摘取順序號碼作為一値 16 —位元信號SEQ NR (在信號TYPE的功能中 )〇 經濟部中央標準局Μ工消f合作社印製 (請先閱讀背面之注意事項再塡寫本頁) 用以測定相對或絶對轉移時間之電路D E L 4自單元 (在信號TYPE之功能中）摘取時間顯示TS,自定時 器LCTI的局部時間LTI上減去它，並産生差（像 1 6 —位元信號DL)在其輸出上。當測試單元産生器 T6中之同步脉衝電路LT,與鑑定電路中之定時器 LCTI並不以同步而操作時，則不能獲得絶對轉移。然 本紙張尺度边用中國Η家標準(CNS) Ψ4規格（210X297公没) -9 - 81. 5. 20,000(Η) Λ 6 Β 6 2116C? 五、發明説明钐） 而，就一糸列的測試單元而論，可以將相對轉移時間差以 此種方式獲得，而就大體而論，此等轉移時間差，較轉移 時間之絶對值具有較大之重要性。 經由上述本發明，提供所有設備用來测試ATM接法 的特性。 雖然本發明的原理業已連同特殊裝置予以敘述如上， 但是顯然可了解者：此項敘述僅經由實例而作成，並不視 為對於本發明範圍之限制。 (請先閱讀背面之注意事項再塡寫本頁) 裝· 線< 經濟部屮央標準局貝工消t合作社印製 本紙張尺度逍用中國B家標準(CNS)甲4規格(210x297公龙) -10 - 81. 5. 20,000(H)

Claims (1)

1. A7 B7 C7 D7 經濟部中央標準局員工消費合作社印纪 π'申請專利範圍 第81105171號專利申請案 中文申請專利範圍修正本 民國8 2年7月修正 1 ·—種測試ATM網路的兩點間之ATM接法的特 性之方法，其特徵爲：將一序列的測試單元俥输並測試， 將各單元的資訊部份，以一種適當方式予以組合，其目的 爲辨識接法的經預測定之特性。 2 ·如申請專利範圍第1項之方法，其特徴爲：每一 測試單元的資訊部份包括兩個部份，第二部份係第一部份 之倒數。 3 ·如申請專利範圍第2項之方法，其特徵爲：將兩 個部份，以如此一種方式予以交織，以便第一部份的每一 八位元組，立即繼以第二部份的相關聯之倒轉之八位元組 〇 4 ’如申請專利範圍第1項之方法，其特徵爲：每一 資訊部份包括：傳輸時間的至少一個時間顯示（TS)， ATM接法中之一個順序號碼（SN )及一個接法數字（ ID)，此等資訊係呈反轉形式或否，以及其特徵爲：不 包括此等數據之其餘的是呈倒轉形式或否。 5 · —種測試單元產生器（具有用以產生ATM測試 單元之數據順序之裝置），其特徵爲：此等裝置係以可將 數據順序，以未反轉形式或以反轉形式，選擇性及至少逐 段予以產生的方式來執行。 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS)甲4規格（210 X 297公釐） (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) ··裝_ 訂· 線 211601 A7 B7 C7 D7 經濟部中央標準局S工消費合作社印製 六、申請專利範圍 6 .如申請專利範圍第5項之測試單元產生器，其特 徵爲：數據順序係在八位元組之形式下予以實現，且每— 個八位元組，可能予以反轉。 _ 7 ·如申請專利範圍第6項之測試單元產生器，其特 徵爲：該等裝置包括：經由單元定時器（CCL )予以控 制之同步脉衝電路（LT)，一個接法數字產生器（I D )，一具寫和讀記憶器（MEM)，一條控制電路（ TCGC)，一具可轉換之反相器（INV)及一具輸出 暫存器（R E G )。 8.如申請專利範圍第7項之測試單元產生器，其特 徴爲：同步脉衝電路（LT)，接法數字產生器（ID) 及寫和讀記憶器（MEM)，均係經由一具反相器（ INV)而與輸出暫存器（REG)相耦合，以及其特徵 爲：所有此等單元均由控制電路（TCGC )予以控制。 9 .如申請專利範圍第8項之測試單元產生器，其特 徵爲：它產生測試單元，其資訊部份至少包括：各自發送 時間的時間顯示（TS) ，ATM接法中之一個順序號碼 (SN)，及經由同步豚衝電路（LT)所提供之接法數 字（ID)，記憶器（MEM)及接法數字產生器（ID )0 1 0 .如申請專利範圍第8項之測試單元產生器，其 特徵爲：記憶器（MEM)亦產生測試單元的信頭。 1 1. 一種用以測試ATM測試單元之鑑定電路，其 特徵爲：它包括：一條單元信頭辨識電路（HIDC)， (請先閲讀背面之注意事項再塡寫本頁) 、-° 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS)甲4规格（210 X 297公釐） 2116C7 A7 B7 C7 D7 經濟部中央標準局8工消费合作社印繫 六、申請專利範園 經由將單元與測試單元相比較，它能尋出：是否—個輸入 之單元被指定至鑑定電路（CELC REC)或否。 12. 如申請專利範園第11項之鑑定氰路，其特微 爲：試驗單元的數據是每八位元組之經反轉之八位元組以 及其特徵爲：提供有一條電路（TYPD)來尋出：是否 所接收之數據是最先，未經反轉，然後予以反轉者，反之 亦然。 13. 如申請專利範圍第12項之鑑定電路，其特徵 爲：此等試驗單元包括：發送時間的一個時間顯示（TS )，及其特徵爲：提供一條電路（DELC)，來自測試 單元中，摘取時間顯示（TS)，以及用局部時間顯示（ LCTI)，來計算其差。 14. 如申請專利範圍第11項之鑑定電路，其特徴 爲：將各單元，配置以具有最先單元指示（PT )之信頭 (Η )，當與一個測試或維護單元相關（而非與數據單元 相關）時，將它激活，以及其特徵爲：此等單元而且含有 一個資訊部份，包括一個單元指示（MCT，M C Τ )， 當與測試單元相關時，將它激活，該單元的發送時間之時 間顯示（TS) ，ATM接法中之順序號碼（SN)及接 法數字（I D )。 15. 如申請專利範圍第14項之鑑定電路，其特徵 爲：該單元信頭辨識電路（Η I DC )比較：輸入單元的 信頭與基準單元之信頭以及其特徵爲：當此等信頭相等， 且將第一單元指示（PT)激活時，它而且比較：各第二 (請先閱讀背面之注意事項再場寫本頁) —裝· ,11. 線- 本紙張尺度通用中國國家標準（CNS)甲4規格（21〇 X 297公釐） 21160V A7 B7 C7 D7 經濟部中央標準局貝工消費合作社印$ 六、申請專利範圍 單元指示（M C T，M C Τ )，且如果彼等相等，則產生 第一輸出信號（CELL REC)，它指示：該單元被 指定至鑑定電路。 1 6.如申請專利範圍第1 5項之鑑定電路，其特徵 爲：當所比較之信頭是相等時，亦將第一輸出信號（ CELL REC)活化，但當第一單元指示（PT)未 被活化時。 17. 如申請專利範圍第15或16項之鑑定電路， 其特徵爲：當第一輸出信號（CELL REC)予以活 化時，該單元信頭辨識電路亦比較輸入之單元的接法數字 (I D )與基準單元者，並當此等接法數字是不同且無誤 差在輸入單元的接法數字中時，產生一個經活化之第二輸 出信號（CELL INS)，該經活化之第二輸出信號 (CELL INS)指示誤差。 18. 如申請專利範圍第11項之鑑定電路，其特徵 爲：它包括一條誤差辨識電路（E R R C )來偵測並校正 位元誤差，此計數之結果係由第三輸出信號（E R R P A T )予以指示。 1 9.如申請專利範圍第1 4項之鑑定電路，其特徵 爲：該誤差辨識電路（E RRC )亦核對輸入之接法數字 中之位元誤差，且於偵測出一個誤差時，即活化第四輸出 信號（E R R ID)。 2 0.如申請專利範圍第1 7項之鑑定電路，其特徵 爲：當將第一輸出信號（CELL REC)和第四輸出 本紙張尺度通用中國國家標準（CNS)甲4規格（210 X 297公釐） (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 丨裝· 訂· 線- A7 « **· r . ： B7 J C7 D7 六、申請專利範圍 信號（ERR ID)予以活化時，且當第三輸出信號（ ERR PAT)超過一個經預定之閾値時，則將第二輸 出信號（CELL INS)活化。 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) —裝. 、ST 線. 經濟部中央標準局员工消費合作社印製 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS)甲4規格（210 X 297公釐）