TW202211615A - 恒溫槽型壓電振盪器 - Google Patents

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Abstract

本發明提供一種恒溫槽型壓電振盪器。該恒溫槽型壓電振盪器(1)中，核心部(5)以密閉狀態被封入隔熱用的封裝體(2)的內部，核心部(5)通過核心基板(4)被支承在封裝體(2)中，核心部(5)採用至少振盪器IC (51)、晶體諧振器(50)、及加熱器IC (52)依次層疊的結構。基於本發明的結構，能夠實現恒溫槽型壓電振盪器(1)的振盪頻率的穩定化。

Description

恒溫槽型壓電振盪器
本發明關於恒溫槽型壓電振盪器。
晶體諧振器等壓電振子基於固有的頻率溫度特性，振動頻率相應於溫度而發生變化。於是，現有技術中出現了為使壓電振子的周圍溫度保持恒定而將壓電振子封入恒溫槽內的恒溫槽型壓電振盪器(Oven-Controlled　Xtal(crystal)　Oscillator：以下也稱為「OCXO」)(例如，參照專利文獻1)。
如上述那樣的OCXO中，在壓電振子、振盪器IC、加熱器IC等隔開間隔地配置的情況下，壓電振子、振盪器IC、及加熱器IC等之間可能會產生溫度差，從而有可能導致OCXO的溫度調節的精度降低。因此，OCXO的振盪頻率變得不穩定會成為隱患。
專利文獻1：日本特許第6376681號公報。
鑒於上述情況，本發明的目的在於，提供一種通過盡可能將壓電振子、振盪器IC、及加熱器IC靠近配置來實現振盪頻率的穩定化的恒溫槽型壓電振盪器。
作為解決上述技術問題的技術方案，本發明具有下述結構。即，本發明是一種核心部以密閉狀態被封入隔熱用的封裝體的內部的恒溫槽型壓電振盪器，其特徵在於：所述核心部通過核心基板被支承在所述封裝體中，所述核心部採用至少振盪器IC、壓電振子、及加熱器IC依次層疊的結構。
基於上述結構，由於核心部採用了振盪器IC、壓電振子、及加熱器IC的層疊結構，所以核心部的溫度控制是在振盪器IC靠近壓電振子的狀態下進行的，從而能夠減小振盪器IC與壓電振子之間的溫度差，由此，OCXO能夠進行高精度的溫度調節。此外，由於採用了壓電振子被夾在振盪器IC與加熱器IC之間的結構，所以振盪器IC與加熱器IC被隔開，從而能夠降低壓電振子的振盪頻率的噪聲。並且，由於核心部通過核心基板被固定在封裝體中，來自於安裝有OCXO的安裝基板的應力不易傳遞到核心部，所以能夠達到保護核心部的目的。
上述結構中，所述振盪器IC與所述壓電振子彼此相向的相向面、所述壓電振子與所述加熱器IC彼此相向的相向面、及所述加熱器IC與所述核心基板彼此相向的相向面中的至少一個相向面由熱傳導促進部件固定。
基於上述結構，由於核心部的構成部件(振盪器IC、壓電振子、加熱器IC)及核心基板各自的與其它構件相向的相向面經由熱傳導促進部件相接觸，所以在核心部的構成部件及核心基板之間容易產生熱移動，從而能夠使核心部迅速達到熱平衡狀態。由此，OCXO能夠進行高精度的溫度調節。
上述結構中，俯視時，所述振盪器IC、所述壓電振子、及所述加熱器IC各自的面積從下至上逐漸減小，所述振盪器IC與所述壓電振子之間，面積相對小的一方的部件的整個相向面面向另一方的部件的相向面；所述壓電振子與所述加熱器IC之間，面積相對小的一方的部件的整個相向面面向另一方的部件的相向面。
基於上述結構，由於核心部的構成部件中，俯視的面積相對小的一方的部件的整個接合面面向面積較大的一方的部件的被接合面，所以能夠使核心部的溫度均一化。
上述結構中，所述核心部的整個底面與所述核心基板接合。
基於上述結構，由於核心部的整個底面與核心基板接合，所以能夠使核心基板和與其接合的核心部整體的溫度均一化。
上述結構中，所述核心基板以與所述封裝體的內底面之間具有空間的狀態，與所述封裝體接合。
基於上述結構，利用核心基板與封裝體的內底面之間的空間，能夠提高隔熱效果。
上述結構中，在所述封裝體的內部形成有對置的一對台階部，所述核心基板架設於所述一對台階部之間。
基於上述結構，通過在封裝體中設置台階部，能夠容易地將核心部固定在封裝體的內部。並且，由於在核心基板的下方能夠形成空間，所以能夠提高隔熱效果。
上述結構中，在所述核心基板與所述封裝體的內底面之間，設置有間隔部件。
基於上述結構，通過設置間隔部件，能夠容易地確保核心基板與封裝體的內底面之間的空間。
上述結構中，所述壓電振子具備由玻璃或水晶構成的第一密封部件、第二密封部件、及由水晶構成的壓電振動板，該壓電振動板具有在兩個主面上形成有激勵電極的振動部，所述第一密封部件與所述第二密封部件隔著所述壓電振動板層疊並接合，配置於內部的所述壓電振動板的所述振動部被氣密密封。
基於上述結構，由於採用了如上所述的振動部被氣密密封於內部的三明治結構的壓電振子作為核心部的壓電振子，所以能夠實現核心部的低矮化及小型化，從而能夠減小核心部的熱容量。由此，能夠抑制OCXO的加熱器發熱量，從而能夠減少功耗。而且，能夠提高核心部的溫度追隨性，並能提高OCXO的穩定性。此外，三明治結構的壓電振子中，由於不使用黏合劑地將振動部氣密密封，所以能夠抑制由黏合劑產生的脫氣(outgas)所引起的熱對流的不良影響。即，在將振動部氣密密封的空間內，黏合劑所產生的脫氣會循環而產生熱對流，因而，有可能妨礙振動部的高精度的溫度控制。但是，在三明治結構的壓電振子中，由於不產生上述脫氣，所以能夠實現振動部的高精度的溫度控制。
上述結構中，所述壓電振動板具有被構成為近似矩形的振動部、包圍所述振動部的外周的外框部、及連結所述振動部與所述外框部的連結部，俯視時，所述振盪器IC與所述壓電振動板的所述外框部的至少一部分區域重疊。
基於上述結構，由於振盪器IC的熱經由外框部易於傳遞到壓電振動板的振動部，所以更易於使核心部的溫度均一化。
發明效果：
基於本發明的恒溫槽型壓電振盪器，由於核心部採用了振盪器IC、壓電振子、及加熱器IC的層疊結構，並使壓電振子、振盪器IC、及加熱器IC盡可能地靠近配置，所以能夠實現振盪頻率的穩定化。
以下，參照附圖對本發明的實施方式進行說明。
如圖1所示，本實施方式的OCXO1被構成為，在陶瓷等製的近似長方體的封裝體(殼體)2的內部配置有核心部5，並由蓋3氣密密封。封裝體2的尺寸例如為7.0×5.0mm。在封裝體2上形成有朝上方開口的凹部2a，核心部5以氣密狀態被封入凹部2a的內部。周壁部2b包圍著凹部2a，蓋3通過密封材料8被固定在周壁部2b的頂面，封裝體2的內部為密封狀態(氣密狀態)。作為密封材料8，較佳為使用例如Au－Su合金、焊錫等金屬類密封材料，但也可以使用低熔點玻璃等密封材料。封裝體2的內部空間為真空、或為低壓的氮氣或氬氣等導熱率低的環境。
在封裝體2的周壁部2b的內壁面上，形成有沿順連接端子(圖示省略)的排列的台階部2c，核心部5經由板狀的核心基板4與形成在台階部2c的連接端子連接。核心基板4例如由聚醯亞胺類等具有耐熱性及撓性的樹脂材料構成。此外，核心基板4也可以由水晶構成。
核心基板4被配置為，架設於封裝體2中對置的一對台階部2c之間，空間2d形成在一對台階部2c之間的、核心基板4的下側部分。並且，形成在台階部2c的台階面上的連接端子通過導電性黏合劑7與形成於核心基板4的底面4b的連接端子(圖示省略)連接。此外，形成於核心部5的各個構成部件的外部端子(圖示省略)經由導線6a、導線6b，通過引線鍵合(wire bonding)與形成於核心基板4的頂面4a的連接端子4c連接。作為導電性黏合劑7，使用例如聚醯亞胺類黏合劑、環氧類黏合劑等。
下面，參照圖2、圖3對核心部5進行說明。圖2、圖3中示出核心部5安裝於核心基板4上的狀態。核心部5是將OCXO1中使用的各種電子部件集合為一體的部件，採用了振盪器IC51、晶體諧振器50、及加熱器IC52從上側起依次層疊為三層的結構(層疊結構)。俯視時，振盪器IC51、晶體諧振器50、及加熱器IC52各自的面積由下至上逐漸變小。尤其是，核心部5被構成為，通過對溫度特性強的晶體諧振器50、振盪器IC51、及加熱器IC52的溫度進行調節，而使OCXO1的振盪頻率穩定。在此，核心部5的各種電子部件沒有用密封樹脂進行密封，但也可以根據封裝環境而用密封樹脂進行密封。
晶體諧振器50及振盪器IC51構成晶體振盪器100。振盪器IC51通過若干個金屬突起(bump)51a(參照圖4)被安裝在晶體諧振器50上。通過用振盪器IC51對晶體諧振器50的壓電振動進行控制，而控制OCXO1的振盪頻率。後述中將對晶體振盪器100進行詳細說明。
晶體諧振器50與振盪器IC51彼此相向的相向面之間夾著非導電性黏合劑(底部填充物)53，晶體諧振器50與振盪器IC51彼此相向的相向面通過非導電性黏合劑53而被固定。在此情況下，晶體諧振器50的頂面(第一密封部件20的第一主面201)與振盪器IC51的底面通過非導電性黏合劑53而接合。作為非導電性黏合劑53，使用例如聚醯亞胺類黏合劑、環氧類黏合劑等。此外，形成於晶體諧振器50的頂面的外部端子(圖5所示的電極圖案22)經由導線6a，通過引線鍵合而與形成於核心基板4的頂面4a的連接端子4c連接。
俯視時，振盪器IC51的面積比晶體諧振器50的小，振盪器IC51的整體位於晶體諧振器50的範圍內。振盪器IC51的整個底面接合在晶體諧振器50的頂面(第一密封部件20的第一主面201)上。
加熱器IC52例如是將發熱體(熱源)、用於控制發熱體的溫度的控制電路(電流控制用的電路)、及用於檢測發熱體的溫度的溫度感測器集合為一體的結構。通過用加熱器IC52進行核心部5的溫度控制，能夠使核心部5的溫度大致維持在恒溫，從而能夠實現OCXO1的振盪頻率的穩定化。
晶體諧振器50與加熱器IC52彼此相向的相向面之間夾著非導電性黏合劑54，晶體諧振器50與加熱器IC52彼此相向的相向面之間通過非導電性黏合劑54而被固定。在此情況下，晶體諧振器50的底面(第二密封部件30的第二主面302)與加熱器IC52的頂面通過非導電性黏合劑54而接合。作為非導電性黏合劑54，使用例如聚醯亞胺類黏合劑、環氧類黏合劑等。形成於加熱器IC52的頂面的外部端子(圖示省略)經由導線6b，通過引線鍵合與形成於核心基板4的頂面4a的連接端子4c連接。
俯視時，晶體諧振器50的面積比加熱器IC52的小，晶體諧振器50的整體位於加熱器IC52的範圍內。晶體諧振器50的整個底面(第二密封部件30的第二主面302)接合在加熱器IC52的頂面上。
加熱器IC52與核心基板4彼此相向的相向面之間夾著導電性黏合劑55，加熱器IC52與核心基板4彼此相向的相向面通過導電性黏合劑55而被固定。在此情況下，加熱器IC52的底面與核心基板4的頂面4a通過導電性黏合劑55而接合。由此，加熱器IC52經由導電性黏合劑55及核心基板4而接地。作為導電性黏合劑55，使用例如聚醯亞胺類黏合劑、環氧類黏合劑等。此外，在加熱器IC52例如通過導線等接地的情況下，也可以使用與上述非導電性黏合劑53、非導電性黏合劑54相同的非導電性黏合劑來取代導電性黏合劑。
如上所述，在核心基板4的頂面4a形成有若干個連接端子4c。並且，在核心基板4的頂面4a配置有若干個(圖3中為兩個)片式電容器(旁路電容器)4d。在此，對片式電容器4d的尺寸和數量沒有特別限制。
對核心部5所使用的晶體諧振器50的種類沒有特別限定，但較佳為使用易於使裝置薄型化的三明治結構的裝置。三明治結構的裝置包括由玻璃或水晶構成的第一密封部件、第二密封部件、及壓電振動板，該壓電振動板具有例如由水晶構成、並在兩個主面形成有激勵電極的振動部，第一密封部件與第二密封部件隔著壓電振動板層疊並接合，配置於內部的壓電振動板的振動部被氣密密封。
對於具有上述三明治結構的晶體諧振器50與振盪器IC51被構成為一體的晶體振盪器100，參照圖4～圖10進行說明。
如圖4所示，晶體振盪器100具備晶體振動片(壓電振動板)10、第一密封部件20、第二密封部件30、及振盪器IC51。晶體振盪器100中，晶體振動片10與第一密封部件20接合，同時，晶體振動片10與第二密封部件30接合，從而構成近似長方體的三明治結構的封裝體。即，晶體振盪器100中，第一密封部件20及第二密封部件30分別與晶體振動片10的兩個主面接合而形成封裝體的內部空間(空室)，振動部11(參照圖7、圖8)被氣密密封在該內部空間中。
晶體振盪器100例如是尺寸為1.0×0.8mm的封裝體，實現了小型化和低矮化。此外，為實現小型化，封裝體中未形成城堡型端子(castellation)，而通過貫穿孔實現電極的導通。安裝在第一密封部件20上的振盪器IC51是與晶體振動片10一起構成振盪電路的單芯片集成電路元件。此外，晶體振盪器100經由非導電性黏合劑54安裝在上述加熱器IC52上。
如圖7、圖8所示，晶體振動片10是由水晶構成的壓電基板，其兩個主面(第一主面101、第二主面102)被構成為平坦平滑面(鏡面加工)。作為晶體振動片10，使用進行厚度剪切振動的AT切水晶片。圖7、圖8所示的晶體振動片10中，晶體振動片10的兩個主面，即第一主面101、第二主面102在XZ’平面。該XZ’平面中，將與晶體振動片10的短邊方向平行的方向作為X軸方向，該與晶體振動片10的長邊方向平行的方向作為Z’軸方向。
在晶體振動片10的兩個主面，即第一主面101、第二主面102上形成有一對激勵電極(第一激勵電極111、第二激勵電極112)。晶體振動片10具備被構成為近似矩形的振動部11、包圍該振動部11的外周的外框部12、及通過將振動部11與外框部12連結而將振動部11保持的保持部13。即，晶體振動片10是通過將振動部11、外框部12、及保持部13構成為一體而形成的。保持部13僅從位於振動部11的＋X方向且－Z’方向的一個角部開始朝著－Z’方向延伸至(突出到)外框部12。
第一激勵電極111設置於振動部11的第一主面101側，第二激勵電極112設置於振動部11的第二主面102側。在第一激勵電極111、第二激勵電極112上連接有用於將這些激勵電極與外部電極端子連接的引出佈線(第一引出佈線113、第二引出佈線114)。第一引出佈線113從第一激勵電極111引出，並經由保持部13與形成於外框部12的連接用接合圖案14相連。第二引出佈線114從第二激勵電極112引出，並經由保持部13與形成於外框部12的連接用接合圖案15相連。
在晶體振動片10的兩個主面(第一主面101、第二主面102)上，分別設置有用於將晶體振動片10與第一密封部件20及第二密封部件30接合的振動側密封部。作為第一主面101的振動側密封部，形成有振動側第一接合圖案121；作為第二主面102的振動側密封部，形成有振動側第二接合圖案122。振動側第一接合圖案121及振動側第二接合圖案122被設置於外框部12，且俯視時呈環狀。
此外，如圖7、圖8所示，在晶體振動片10上形成有將第一主面101與第二主面102貫穿的五個貫穿孔。具體而言，四個第一貫穿孔161分別設置於外框部12的四個角落(拐角部)的區域。第二貫穿孔162設置於外框部12，且位於振動部11的Z’軸方向的一側(圖7、圖8中為－Z’方向側)。在第一貫穿孔161的周圍分別形成有連接用接合圖案123。此外，在第二貫穿孔162的周圍，在第一主面101側形成有連接用接合圖案124，在第二主面102側形成有連接用接合圖案15。
在第一貫穿孔161及第二貫穿孔162中，沿著貫穿孔各自的內壁面形成有貫穿電極，該貫穿電極用於實現形成於第一主面101及第二主面102的電極的導通。此外，第一貫穿孔161及第二貫穿孔162各自的中間部分成為將第一主面101與第二主面102貫穿的、中空狀態的貫穿部分。
其次，如圖5、圖6所示，第一密封部件20是由一枚AT切水晶片構成的長方體基板，該第一密封部件20的第二主面202(與晶體振動片10接合的面)被構成為平坦平滑面(鏡面加工)。此外，第一密封部件20並不具備振動部，通過與晶體振動片10一樣使用AT切水晶片，而使晶體振動片10與第一密封部件20熱膨脹率相同，從而能夠抑制晶體振盪器100的熱變形。此外，第一密封部件20中，X軸、Y軸、及Z’軸的朝向也與晶體振動片10的相同。
如圖5所示，在第一密封部件20的第一主面201上，形成有包含用於安裝作為振盪電路元件的振盪器IC51的安裝墊的六個電極圖案22。振盪器IC51使用金屬突起(例如Au突起等)51a(參照圖4)，通過覆晶焊接(Flip Chip Bonding，FCB)法與電極圖案22接合。此外，本實施方式中，六個電極圖案22中，位於第一密封部件20的第一主面201的四個角落(拐角部)的電極圖案22經由導線6a與上述核心基板4的頂面4a上形成的連接端子4c連接。由此，振盪器IC51經由導線6a、核心基板4、封裝體2等而與外部實現電連接。
如圖5、圖6所示，在第一密封部件20上形成有六個貫穿孔，該六個貫穿孔分別與六個電極圖案22連接，並將第一主面201與第二主面202貫穿。具體而言，四個第三貫穿孔211設置於第一密封部件20的四個角落(拐角部)的區域。第四貫穿孔212、第五貫穿孔213分別設置於圖5、圖6的＋Z’方向及－Z’方向。
在第三貫穿孔211、第四貫穿孔212、及第五貫穿孔213中，沿著貫穿孔各自的內壁面形成有貫穿電極，該貫穿電極用於實現形成於第一主面201及第二主面202的電極的導通。此外，第三貫穿孔211、第四貫穿孔212、及第五貫穿孔213各自的中間部分成為將第一主面201與第二主面202貫穿的、中空狀態的貫穿部分。
在第一密封部件20的第二主面202上形成有密封側第一接合圖案24，該密封側第一接合圖案24作為與晶體振動片10接合用的密封側第一密封部。俯視時，密封側第一接合圖案24呈環狀。
此外，第一密封部件20的第二主面202中，在第三貫穿孔211的周圍分別形成有連接用接合圖案25。在第四貫穿孔212的周圍形成有連接用接合圖案261，在第五貫穿孔213的周圍形成有連接用接合圖案262。並且，在相對於連接用接合圖案261位於第一密封部件20的長軸方向的相反側(－Z’方向側)之處，形成有連接用接合圖案263，連接用接合圖案261與連接用接合圖案263通過佈線圖案27相連接。
其次，如圖9、圖10所示，第二密封部件30是由一枚AT切水晶片構成的長方體基板，該第二密封部件30的第一主面301(與晶體振動片10接合的面)被構成為平坦平滑面(鏡面加工)。並且，在第二密封部件30中，與晶體振動片10一樣也使用AT切水晶片，並使X軸、Y軸、及Z’軸的朝向也與晶體振動片10的相同。
在該第二密封部件30的第一主面301上形成有密封側第二接合圖案31，該密封側第二接合圖案31作為與晶體振動片10接合用的密封側第二密封部。俯視時，密封側第二接合圖案31呈環狀。
在第二密封部件30的第二主面302上設置有四個電極端子32。電極端子32分別位於第二密封部件30的第二主面302的四個角落(拐角部)。此外，本實施方式中，如上所述那樣通過電極圖案22、導線6a而實現與外部的電連接，但也可以使用電極端子32來實現與外部的電連接。
如圖9、圖10所示，在第二密封部件30上形成有將第一主面301與第二主面302貫穿的四個貫穿孔。具體而言，四個第六貫穿孔33設置於第二密封部件30的四個角落(拐角部)的區域。第六貫穿孔33中，沿著第六貫穿孔33各自的內壁面形成有貫穿電極，該貫穿電極用於實現形成於第一主面301及第二主面302的電極的導通。這樣，通過形成在第六貫穿孔33的內壁面的貫穿電極，形成於第一主面301的電極與形成於第二主面302的電極端子32實現了導通。此外，第六貫穿孔33各自的中間部分成為將第一主面301與第二主面302貫穿的、中空狀態的貫穿部分。此外，第二密封部件30的第一主面301中，在第六貫穿孔33的周圍分別形成有連接用接合圖案34。此外，在不使用電極端子32來實現與外部的電連接的情況下，也可以採用不設置電極端子32、第六貫穿孔33等的結構。
包含上述晶體振動片10、第一密封部件20、及第二密封部件30的晶體振盪器100中，晶體振動片10與第一密封部件20在振動側第一接合圖案121與密封側第一接合圖案24相重疊的狀態下被擴散接合，晶體振動片10與第二密封部件30在振動側第二接合圖案122與密封側第二接合圖案31相重疊的狀態下被擴散接合，由此而製造圖4所示的三明治結構的封裝體。因而，封裝體的內部空間，即，振動部11的收納空間被氣密密封。
此時，上述連接用接合圖案彼此也在相重疊的狀態下擴散接合。並且，通過連接用接合圖案彼此的接合，晶體振盪器100中實現了第一激勵電極111、第二激勵電極112、振盪器IC51、及電極端子32的電導通。
具體而言，第一激勵電極111依次經由第一引出佈線113、佈線圖案27、第四貫穿孔212、及電極圖案22而與振盪器IC51連接。第二激勵電極112依次經由第二引出佈線114、第二貫穿孔162、第五貫穿孔213、及電極圖案22而與振盪器IC51連接。
晶體振盪器100中，各種接合圖案是通過在水晶板上層疊若干層而形成的，並且，從其最下層側開始蒸鍍形成Ti(鈦)層及Au(金)層。此外，形成於晶體振盪器100的其他佈線或電極也採用與接合圖案相同的結構，這樣便能同時進行接合圖案或佈線及電極的圖案形成。
如上述那樣構成的晶體振盪器100中，俯視時，對晶體振動片10的振動部11進行氣密密封的密封部(密封路徑)115、密封部(密封路徑)116呈環狀。通過上述振動側第一接合圖案121與密封側第一接合圖案24的擴散接合而形成了密封路徑115，密封路徑115的外緣形狀及內緣形狀為近似八角形。同樣，通過上述振動側第二接合圖案122與密封側第二接合圖案31的擴散接合而形成了密封路徑116，密封路徑116的外緣形狀及內緣形狀為近似八角形。
如上所述，本實施方式中，核心部5由核心基板4支承在封裝體2中，核心部5至少具有振盪器IC51、晶體諧振器50、及加熱器IC52，並採用按振盪器IC51、晶體諧振器50、及加熱器IC52的順序層疊的結構。並且，加熱器IC52中，通過對供給發熱體的電流進行控制，而進行核心部5的溫度調節，從而使核心部5的溫度大致維持在恒溫。
基於本實施方式，通過對核心部5採用振盪器IC51、晶體諧振器50、及加熱器IC52的層疊結構，能夠在使振盪器IC51與晶體諧振器50靠近的狀態下進行核心部5的溫度控制，從而能夠減小振盪器IC51與晶體諧振器50之間的溫度差，由此，OCXO1能夠進行高精度的溫度調節。此外，在振盪器IC51與加熱器IC52之間夾有晶體諧振器50的結構中，由於振盪器IC51與加熱器IC52被隔開，所以能夠降低晶體諧振器50的振盪頻率的噪聲。並且，由於核心部5由核心基板4固定在封裝體2中，來自於安裝有OCXO1的安裝基板的應力難以傳遞至核心部5，所以能夠保護核心部5。
此外，振盪器IC51與晶體諧振器50彼此相向的相向面通過非導電性黏合劑53而被固定，晶體諧振器50與加熱器IC52彼此相向的相向面通過非導電性黏合劑54而被固定，加熱器IC52與核心基板4彼此相向的相向面通過導電性黏合劑55而被固定。基於該結構，由於核心部5的構成部件(振盪器IC51、晶體諧振器50、加熱器IC52)及核心基板4各自的與其它部件相向的相向面之間通過黏合劑接合，所以在核心部5的構成部件和核心基板4之間難以產生熱移動，從而能夠使核心部5迅速達到熱平衡狀態。由此，OCXO1能夠進行高精度的溫度調節。
此外，本實施方式中，俯視時，振盪器IC51、晶體諧振器50、及加熱器IC52各自的面積從下至上逐漸變小，振盪器IC51與晶體諧振器50之間，面積相對小的一方的部件(振盪器IC51)的整個相向面與另一方的部件(晶體諧振器50)的相向面接合；晶體諧振器50與加熱器IC52之間，面積相對小的一方的部件(晶體諧振器50)的整個相向面與另一方的部件(加熱器IC52)的相向面接合。基於該結構，核心部5的構成部件中，俯視時面積相對小的一方的部件的整個接合面與面積較大的一方的部件的被接合面接合，從而能夠使核心部5的溫度均一化。此外，由於核心部5的底面，即，加熱器IC52的整個底面與核心基板4接合，所以核心部5的整個底面與核心基板4接合，從而能夠使核心基板4及與其接合的核心部5整體的溫度均一化。
此外，在封裝體2的內部形成有對置的一對台階部2c，核心基板4被配置為，架設於一對台階部2c之間，因此，通過在封裝體2中設置台階部2c，能夠容易地將核心部5固定在封裝體2的內部。此外，由於能夠在核心基板4的下方形成空間2d，所以能夠提高隔熱效果。
並且，在本實施方式中，作為核心部5的壓電振子，採用了如上所述那樣振動部11被氣密密封於內部並能實現低矮化的三明治結構的晶體諧振器50，從而能夠實現核心部5的低矮化及小型化，並能減小核心部5的熱容量。由此，能夠抑制OCXO1的加熱器發熱量，從而能夠減小功耗。而且，能夠提高核心部5的溫度追隨性，從而能夠提高OCXO1的穩定性。此外，如上所述，三明治結構的晶體諧振器50中，不使用黏合劑地將振動部11氣密密封，從而能夠抑制由黏合劑產生的脫氣所引起的熱對流的不良影響。即，在將振動部11氣密密封的空間內，由於黏合劑所產生的脫氣會進行循環而產生熱對流，所以有可能妨礙振動部11的高精度的溫度控制。然而，三明治結構的晶體諧振器50中，不會產生上述脫氣，因此能夠實現振動部11的高精度的溫度控制。
通常，如果將具有加熱器電阻的加熱器基板用作核心部5的熱源，則可能會導致加熱器基板大型化。基於本實施方式，不使用這種大型的加熱器基板也能確保所需的加熱器發熱量，從而能夠進一步實現核心部5的小型化，並能進一步減小核心部5的熱容量。但是，在不限制核心部5的大小的情況下，也可以將具有加熱器電阻的加熱器基板用作核心部5的熱源。
此外，晶體振動片10具有被構成為近似矩形的振動部11、包圍振動部11的外周的外框部12、及連結振動部11與外框部12的保持部13，俯視時，振盪器IC51與晶體振動片10的外框部12的至少一部分區域重疊。由此，振盪器IC51的熱量經由外框部12易於傳遞至晶體振動片10的振動部11，從而易於使核心部5的溫度更加均一化。
通常，封裝體2會因密封、老化、時間推移等而受到熱損傷或經時損傷。因此，用耐熱性低的樹脂類黏合劑作為黏合劑(導電性黏合劑7、導電性黏合劑55、非導電性黏合劑53、非導電性黏合劑54)的情況下，因分解、軟化等會在封裝體2內產生氣體，從而有可能妨礙OCXO1的高精度的溫度調節。於是，本實施方式中，作為上述黏合劑，使用導熱率低且耐熱性高的聚醯亞胺類黏合劑、環氧類黏合劑，由此來防止產生上述問題發生。
本發明可不脫離其精神、主旨或主要特徵地進行其它各種變形。因此，上述實施方式僅僅是對各方面的示例，不構成限定性解釋的依據。本發明的技術範圍由申請專利範圍的記載來界定，而不受說明書內容的限定。並且，屬與申請專利範圍同等含義範圍內的所有變更均在本發明的範圍內。
上述實施方式中，作為壓電振子，採用了三明治結構的晶體諧振器50，但本發明並不局限於此，也可以採用具有其它結構的壓電振子。此外，通過使用金屬突起的FCB法來將振盪器IC51安裝於晶體諧振器50，但本發明並不局限於此，也可以通過引線鍵合、導電性黏合劑等來將振盪器IC51安裝於晶體諧振器50。此外，通過引線鍵合來將加熱器IC52安裝於核心基板4，但本發明並不局限於此，也可以通過使用金屬突起的FCB法、導電性黏合劑等來將加熱器IC52安裝於核心基板4。此外，通過引線鍵合來實現晶體諧振器50與核心基板4之間的電連接，但本發明並不局限於此，也可以通過使用金屬突起的FCB法、導電性黏合劑等來將晶體諧振器50安裝於加熱器IC52，從而經由加熱器IC52來實現晶體諧振器50與核心基板4之間的電連接。
上述實施方式中，核心部5採用了至少包括振盪器IC51、晶體諧振器50、及加熱器IC52從上側開始依次層疊的結構，與此相反地，核心部5也可以採用至少一加熱器IC52、晶體諧振器50、及振盪器IC51從上側開始依次層疊的結構。
核心部5只要是至少具有振盪器IC51、晶體諧振器50、及加熱器IC52依次層疊的結構即可，也可以是在振盪器IC51、晶體諧振器50、及加熱器IC52的層疊結構的基礎上附加例如加熱器基板等的結構。例如，可以是加熱器基板、振盪器IC51、晶體諧振器50、及加熱器IC52從上側開始依次層疊的四層結構，或者也可以是加熱器IC52、晶體諧振器50、振盪器IC51、及加熱器基板從上側開始依次層疊的四層結構。此等情況下，通過將作為發熱體的加熱器基板與振盪器IC51層疊，能夠使核心部5的溫度進一步均一化。
上述實施方式中，振盪器IC51與晶體諧振器50彼此相向的相向面、晶體諧振器50與加熱器IC52彼此相向的相向面、及加熱器IC52與核心基板4彼此相向的相向面分別通過黏合劑(非導電性黏合劑53、非導電性黏合劑54、導電性黏合劑55)被固定。但本發明並不局限於此，只要振盪器IC51與晶體諧振器50彼此相向的相向面、晶體諧振器50與加熱器IC52彼此相向的相向面、及加熱器IC52與核心基板4彼此相向的相向面中至少一個相向面通過黏合劑固定即可，也可以通過黏合劑以外的方式將相向面固定。在此情況下，振盪器IC51與晶體諧振器50之間，只要面積相對小的一方的部件(振盪器IC51)整體面向另一方的部件(晶體諧振器50)；晶體諧振器50與加熱器IC52之間，面積相對小的一方的部件(晶體諧振器50)整體面向另一方的部件(加熱器IC52)即可。此外，只要核心部5的整個底面面向核心基板4即可。
上述的黏合劑(非導電性黏合劑53、非導電性黏合劑54、導電性黏合劑55)僅為一例，只要是導熱率較高的熱傳導促進部件即可，也可以使用其它的部件。作為這樣的熱傳導促進部件，除了可以使用上述黏合劑以外，例如也可以使用樹脂膜、高熱傳導性樹脂膜、硬焊料。高熱傳導性樹脂膜例如是指聚醯亞胺類樹脂、環氧類樹脂、矽樹脂等導熱率為1.0W/m・K以上的樹脂。非高熱傳導性的普通樹脂膜的導熱率為0.3W/m・K左右。
例如，圖11、圖12所示的第一變形例、圖13所示的第二變形例中，晶體諧振器50與加熱器IC52彼此相向的相向面通過熱傳導促進部件56而被固定，加熱器IC52與核心基板4彼此相向的相向面通過熱傳導促進部件57而被固定。另一方面，在晶體諧振器50與振盪器IC51彼此相向的相向面之間未夾有底部填充物，晶體諧振器50與振盪器IC51彼此相向的相向面通過若干個金屬突起51a而被固定，從而能夠規避熱傳導促進部件產生的應力的影響。此外，在晶體諧振器50與加熱器IC52彼此相向的相向面之間、或者加熱器IC52與核心基板4彼此相向的相向面之間也可以不使用熱傳導促進部件而通過其它固定方法進行固定。
上述實施方式中，核心部5與封裝體2之間經由核心基板4而實現電連接，但核心部5與封裝體2之間也可以不經由核心基板4地實現電連接。即，也可以是，構成核心部5的振盪器IC51、晶體諧振器50、及加熱器IC52中的至少一個經由導線與封裝體2電連接。參照圖11、圖12對該變形例的OCXO1進行說明。圖11是表示第一變形例的OCXO1的概要結構的截面圖。圖12是圖11的OCXO1的俯視圖。
如圖11、圖12所示，第一變形例的OCXO1被構成為，在陶瓷等制的近似長方體的封裝體(殼體)2的內部配置有核心部5，並由蓋3氣密密封。封裝體2的尺寸例如為5.0×3.2mm。在封裝體2上形成有上方開口的凹部2a，核心部5以氣密狀態被封入凹部2a的內部。周壁部2b包圍著凹部2a，蓋3通過密封材料8被縫焊而固定於周壁部2b的頂面，封裝體2的內部為密封狀態(氣密狀態)。作為密封材料8，較佳為使用例如Au－Su合金、焊錫等金屬類密封材料，但也可以使用低熔點玻璃等密封材料。此外，本發明並不局限於此，作為密封結構，也可以用使用金屬環的接縫密封或不使用金屬環的直接接縫密封、光束密封(beam sealing)等方法來進行密封(就不降低真空度方面而言，較佳為接縫密封)。封裝體2的內部空間為真空(例如真空度為10Pa以下)，或為低壓的氮氣或氬氣等導熱率低的環境。此外，圖12中示出卸下蓋3後的狀態的OCXO1，並示出OCXO1的內部結構。
在封裝體2的周壁部2b的內壁面上，形成有沿順著連接端子(圖示省略)的排列的台階部2c。核心部5經由板狀的核心基板4配置於位於對置的一對台階部2c之間的凹部2a的底面(封裝體2的內底面)。或者，台階部2c也可被構成為包圍著凹部2a的底面的四周。核心基板4例如由聚醯亞胺等具有耐熱性及撓性的樹脂材料構成。並且，核心基板4也可以由水晶構成。
核心基板4通過非導電性黏合劑7a接合在凹部2a的底面(封裝體2的內底面)上，在核心基板4的下側的部分形成有空間2d。此外，形成在核心部5的各個構成部件上的外部端子(圖示省略)經由導線6a、導線6b，通過引線鍵合而與形成在台階部2c的台階面上的連接端子連接。在非導電性黏合劑7a、非導電性黏合劑7a的內側，分別設置有間隔部件2f。
兩個非導電性黏合劑7a分別配置於核心基板4的長邊方向的兩個端部，並沿著核心基板4的短邊方向(與圖12的紙面垂直的方向)呈直線狀地配置。各間隔部件2f與非導電性黏合劑7a的一側相鄰接地配置，並沿著核心基板4的短邊方向呈直線狀地配置。這樣，在非導電性黏合劑7a、非導電性黏合劑7a的內側，兩個間隔部件2f夾在核心基板4與封裝體2的內底面之間。核心基板4的長邊方向的兩個端部由兩個間隔部件2f支承。
核心基板4例如由聚醯亞胺等具有耐熱性及撓性的樹脂材料構成。間隔部件2f例如由鉬、鎢等膏狀材料構成。這樣，在核心基板4與封裝體2的內底面之間，設置有作為間隔部件的非導電性黏合劑7a及間隔部件2f，利用間隔部件能夠容易地確保核心基板4與封裝體2的內底面之間的空間2d。此外，塗布在封裝體2的內底面上的非導電性黏合劑7a的厚度取決於間隔部件2f，因此，能夠容易地確定核心基板4與封裝體2的內底面之間的空間2d的寬度。間隔部件2f的厚度較佳為5～50μｍ。
上述實施方式中，封裝體2為單個的封裝體，但本發明並不局限於此，例如也可以採用圖13所示的H型封裝體、兩層層疊的封裝體。圖13是表示第二變形例的OCXO1的概要結構的截面圖。
圖13所示的Ｈ型封裝體的OCXO1具有封裝體2，該封裝體2上除了形成有上方開口的凹部2a以外，還形成有下方開口的凹部2e。在作為核心部5的安裝部的主面(形成有凹部2a的主面)的相反側的另一主面上形成的凹部2e上，能夠配置作為與加熱器IC52組合使用的調整用電子部件的片式電容器4d等電路元件(例如通過焊接安裝的電路元件)。配置片式電容器4d的凹部2e與凹部2a不同，無需用蓋進行密封。
片式電容器4d可以與核心部5配置在相同的空間內(凹部2a內)，但是，通過如圖13所示那樣將電路元件與核心部5配置在不同的空間內(凹部2e內)，能夠減小收納核心部5的空間內的熱容量，實現低功耗的溫度控制，提高核心部5的溫度追隨性。此外，對於被氣密密封的凹部2a內部的環境，能夠避免因焊料、助焊劑等而事後產生氣體。因此，能夠消除氣體對核心部5的不良影響，從而能夠進一步實現電氣特性的穩定化。
本申請基於2020年7月31日在日本申請的日本特願2020－130421號申請優先權。由此，其所有內容被組合至本申請。
產業上的可利用性：
本發明可用於具備具有壓電振子、振盪器IC、及加熱器IC的核心部的恒溫槽型壓電振盪器。
1:恒溫槽型壓電振盪器、OCXO 2:封裝體 2a:凹部 2b:周壁部 2c:台階部 2d:空間 2e:凹部 2f:間隔部件 3:蓋 4:核心基板 4a:頂面 4b:底面 4c:連接端子 4d:片式電容器 5:核心部 6a:導線 6b:導線 7:導電性黏合劑 7a:非導電性黏合劑 8:密封材料 10:晶體振動片 11:振動部 12:外框部 13:保持部 14:連接用接合圖案 15:連接用接合圖案 20:第一密封部件 22:電極圖案 24:密封側第一接合圖案 25:連接用接合圖案 27:佈線圖案 30:第二密封部件 31:密封側第二接合圖案 32:電極端子 33:第六貫穿孔 34:連接用接合圖案 50:晶體諧振器 51:振盪器IC 51a:金屬突起 52:加熱器IC 53:非導電性黏合劑 54:非導電性黏合劑 55:導電性黏合劑 56:熱傳導促進部件 57:熱傳導促進部件 100:晶體振盪器 101:第一主面 102:第二主面 111:第一激勵電極 112:第二激勵電極 113:第一引出佈線 114:第二引出佈線 115:密封路徑 116:密封路徑 121:振動側第一接合圖案 122:振動側第二接合圖案 123:連接用接合圖案 124:連接用接合圖案 161:第一貫穿孔 162:第二貫穿孔 201:第一主面 202:第二主面 211:第三貫穿孔 212:第四貫穿孔 213:第五貫穿孔 261:連接用接合圖案 262:連接用接合圖案 263:連接用接合圖案 301:第一主面 302:第二主面
圖1是表示本實施方式的OCXO的概要結構的截面圖。
圖2是表示圖1的OCXO的核心部及核心基板的概要結構的截面圖。
圖3是表示圖2的核心部及核心基板的俯視圖。
圖4是示意性地表示圖2的核心部的晶體振盪器(晶體諧振器及振盪器IC)的各構成部件的概要結構的圖。
圖5是圖4的晶體振盪器的第一密封部件的第一主面側的概要俯視圖。
圖6是圖4的晶體振盪器的第一密封部件的第二主面側的概要俯視圖。
圖7是圖4的晶體振盪器的晶體振動片的第一主面側的概要俯視圖。
圖8是圖4的晶體振盪器的晶體振動片的第二主面側的概要俯視圖。
圖9是圖4的晶體振盪器的第二密封部件的第一主面側的概要俯視圖。
圖10是圖4的晶體振盪器的第二密封部件的第二主面側的概要俯視圖。
圖11是表示第一變形例的OCXO的概要結構的截面圖。
圖12是表示圖11的OCXO的俯視圖。
圖13是表示第二變形例的OCXO的概要結構的截面圖。
1:恒溫槽型壓電振盪器、OCXO
2:封裝體
2a:凹部
2b:周壁部
2c:台階部
2d:空間
3:蓋
4:核心基板
5:核心部
6a:導線
6b:導線
7:導電性黏合劑
8:密封材料
50:晶體諧振器
51:振盪器IC
52:加熱器IC
53:非導電性黏合劑
54:非導電性黏合劑
55:導電性黏合劑

Claims (9)

  1. 一種恒溫槽型壓電振盪器，核心部以密閉狀態被封入隔熱用的封裝體的內部，其包括： 所述核心部通過核心基板被支承在所述封裝體中；以及 所述核心部採用至少振盪器IC、壓電振子、及加熱器IC依次層疊的結構。
  2. 根據請求項1所述的恒溫槽型壓電振盪器，其中： 所述振盪器IC與所述壓電振子彼此相向的相向面、所述壓電振子與所述加熱器IC彼此相向的相向面、及所述加熱器IC與所述核心基板彼此相向的相向面中的至少一個相向面由熱傳導促進部件固定。
  3. 根據請求項2所述的恒溫槽型壓電振盪器，其中： 俯視時，所述振盪器IC、所述壓電振子、及所述加熱器IC各自的面積從下至上逐漸減小； 所述振盪器IC與所述壓電振子之間，面積相對小的一方的部件的整個相向面面向另一方的部件的相向面；以及 所述壓電振子與所述加熱器IC之間，面積相對小的一方的部件的整個相向面面向另一方的部件的相向面。
  4. 根據請求項2或3所述的恒溫槽型壓電振盪器，其中： 所述核心部的整個底面面向所述核心基板。
  5. 根據請求項1～4中任意一項所述的恒溫槽型壓電振盪器，其中： 所述核心基板以與所述封裝體的內底面之間具有空間的狀態，與所述封裝體接合。
  6. 根據請求項5所述的恒溫槽型壓電振盪器，其中： 在所述封裝體的內部形成有對置的一對台階部；以及 所述核心基板架設於所述一對台階部之間。
  7. 根據請求項5所述的恒溫槽型壓電振盪器，其中： 在所述核心基板與所述封裝體的內底面之間，設置有間隔部件。
  8. 根據請求項1～7中任意一項所述的恒溫槽型壓電振盪器，其中： 所述壓電振子具備由玻璃或水晶構成的第一密封部件、第二密封部件、及由水晶構成的壓電振動板，該壓電振動板具有在兩個主面上形成有激勵電極的振動部，所述第一密封部件與所述第二密封部件隔著所述壓電振動板層疊並接合，配置於內部的所述壓電振動板的所述振動部被氣密密封。
  9. 根據請求項8所述的恒溫槽型壓電振盪器，其中： 所述壓電振動板具有被構成為近似矩形的振動部、包圍所述振動部的外周的外框部、及連結所述振動部與所述外框部的連結部；以及 俯視時，所述振盪器IC與所述壓電振動板的所述外框部的至少一部分區域重疊。
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