TWI812028B - 恆溫槽型壓電振盪器 - Google Patents

Abstract

本發明提供一種恆溫槽型壓電振盪器，即，OCXO(1)。OCXO(1)中，核心部(5)以密閉狀態被封入隔熱用的封裝體(2)的內部。核心部(5)包含振盪器IC(51)、晶體振動子(50)、及發熱器IC(52)，並由核心基板(4)支撐在封裝體(2)中。OCXO(1)包含通過焊料接合而安裝於封裝體(2)的作為調節用電子元件的電容器(9)，核心部(5)被真空密封在封裝體(2)中的密閉空間內，即，凹部(2a)內，電容器(9)被配置在密閉空間外，即，凹部(2e)內。

Description

恆溫槽型壓電振盪器

本發明關於一種恆溫槽型壓電振盪器。

晶體振動子等壓電振動子基於固有的頻率溫度特性，振動頻率相應於溫度而發生變化。於是，現有技術中出現了為使壓電振動子周圍的溫度保持恆定而將壓電振動子封入恆溫槽內的恆溫槽型壓電振盪器(例如，溫度控制型晶體振盪器(Oven-Controlled Xtal(crystal)Oscillator)：以下也稱為「OCXO」)(例如，參照專利文獻1、專利文獻2)。

OCXO中，使用了被封入到作為恆溫槽的封裝體內的溫度特性較強的元件，即，壓電振動子、振盪器IC、及發熱器IC，但除此之外，還需要與發熱器IC組合使用的作為調節用電子元件的電容器等。以往的OCXO中，這些調節用電子元件也被封入到封裝體內。

通常，電容器是通過焊料安裝於基板等的焊料元件。另外，一般情況下，為了提高隔熱性能，OCXO被構成為，封裝體內被真空密封。並且，將電容器這樣的焊料元件封入到封裝體內的情況下，有時會因焊料的重熔等而產生氣體，導致封裝體內的真空度降低。因而存在若封裝體內的真空度降低，則OCXO的隔熱性能也會降低這樣的問題。

[專利文獻1]：日本特開2012-205093號公報

[專利文獻2]：日本特開2018-14705號公報

針對上述技術問題，本發明的目的在於，提供一種能夠避免隔熱性能降低的恆溫槽型壓電振盪器。

作為解決上述技術問題的技術方案，本發明的恆溫槽型壓電振盪器是核心部以密閉狀態被封入隔熱用的封裝體內部的恆溫槽型壓電振盪器，其中：所述核心部至少包含振盪器IC、壓電振動子、及發熱器IC，並且，具備通過接合材料安裝於所述封裝體的電路元件，所述核心部被真空密封在所述封裝體中的密閉空間內，所述電路元件配置在所述密閉空間外。

基於上述結構，通過將電路元件配置在配置有核心部的密閉空間以外的部位，能夠避免因接合材料(例如，焊料)所產生的氣體而使密閉空間的真空度降低的情況發生。由此，還能良好地維持恆溫槽型壓電振盪器的隔熱性能。

另外，上述恆溫槽型壓電振盪器可被構成為，所述核心部通過核心基板被支撐在所述封裝體中。

基於上述結構，由於通過核心基板將核心部連接在封裝體中，所以能夠提高對核心部隔熱的隔離效果。

另外，上述恆溫槽型壓電振盪器可被構成為，所述核心部被安裝在所述封裝體的一個主面上，所述電路元件被安裝在所述封裝體的所述一個主面的相反側的另一個主面上。

另外，上述恆溫槽型壓電振盪器可被構成為，所述密閉空間中的真空度在10Pa以下。

另外，上述恆溫槽型壓電振盪器中，所述壓電振動子可被構成為，具備第一密封元件、第二密封元件、及具有在兩個主面上形成有激勵電極的振動部的壓電振動板，所述壓電振動板的上表面、下表面分別介隔規定間隔地與所述第一密封元件、所述第二密封元件接合，配置在內部的所述振動部被氣密密封。

另外，上述恆溫槽型壓電振盪器可被構成為，所述核心部由所述振盪器IC、所述壓電振動子、及所述發熱器IC從上至下依次層疊而成，俯視時，所述振盪器IC、所述壓電振動子、及所述發熱器IC位於越上方面積越小。

另外，上述恆溫槽型壓電振盪器可被構成為，所述核心部與所述封裝體通過打線接合而實現電連接，所述壓電振動子與所述封裝體之間未直接用電線連接，與所述壓電振動子之間直接用電線連接的僅有所述振盪器IC。

本發明的恆溫槽型壓電振盪器具有能夠避免因接合材料所產生的氣體而使密閉空間的真空度降低、並能良好地維持恆溫槽型壓電振盪器的隔熱性能這樣的效果。

1:OCXO(恆溫槽型壓電振盪器)

2:封裝體

2a:凹部

2b:周壁部

2c:台階部

2d:空間

2e:凹部

3:蓋子

4:核心基板

5:核心部

50:晶體振動子(壓電振動子)

51:振盪器IC

52:發熱器IC

53、54、55:非導電性黏合劑

6a、6b:電線

7:非導電性黏合劑(接合材料)

8:密封材料

9:電容器(電路元件)

10:晶體振動片(壓電振動板)

20:第一密封元件

21:連接端子

22:外部端子

30:第二密封元件

100:晶體振盪器

在以下附圖以及說明中闡述了本說明書中所描述之主題之一或多個實施例的細節。從說明、附圖和申請專利範圍，本說明書之主題的其他特徵、態樣與優點將顯得明瞭，其中：圖1是表示本發明的一種實施方式的OCXO的概要結構的截面圖。

圖2是表示圖1中的OCXO的核心部及核心基板的概要結構的截面圖。

圖3是圖2中的核心部所包含的晶體振盪器的截面圖。

圖4是圖2中的核心部所包含的晶體振盪器的俯視圖。

圖5是表示圖2中的核心部所包含的晶體振盪器的變形例的截面圖。

圖6是表示OCXO在變形例中的概要結構的截面圖。

圖7圖1中的OCXO的仰視圖。

圖8是表示OCXO的變形例的截面圖。

如本文中所使用的，諸如「第一」、「第二」、「第三」、「第四」及「第五」等用語描述了各種元件、組件、區域、層及/或部分，這些元件、組件、區域、層及/或部分不應受這些術語的限制。這些術語僅可用於將一個元素、組件、區域、層或部分與另一個做區分。除非上下文明確指出，否則本文中使用的諸如「第一」、「第二」、「第三」、「第四」及「第五」的用語並不暗示順序或次序。

以下，參照附圖對本發明的實施方式進行詳細說明。

如圖1所示，本實施方式的OCXO1被構成為，在陶瓷等所製造的近似長方體的封裝體2的內部配置有核心部5、並由蓋子3氣密密封。在封裝體2上形成有上方開口的凹部2a，核心部5以氣密狀態被封入凹部2a的內部。蓋子3通過密封材料8被固定在包圍著凹部2a的周壁部2b的上表面，封裝體2的內部為密閉狀態(氣密狀態)。作為密封材料8，例如優選採用Au-Su合金、焊料等金屬系密封材料，但也可以採用低熔點玻璃等密封材料。另外，不局限於此，還可以採用使用了金屬環的接縫密封或不使用金屬環的直接接縫密封、利用光束密封等方式的密封元件結構(若不使真空度降低，則優選接縫密封)。為了提高隔熱性能，封裝體2的內部空間被真空(例如真空度在10Pa以下)密封。

在封裝體2的周壁部2b的內壁面上，沿順著連接端子(省略圖示)的佇列形成有台階部2c。核心部5隔著板狀的核心基板4，配置在對置的一對台階部2c之間的凹部2a的底面上。或者，台階部2c也可以被構成為包圍著凹部2a的底面的四方。核心基板4由非導電性黏合劑(接合材料)7接合在凹部2a的底面，在核心基板4的下方的部分形成有空間2d。另外，形成在核心部5的各構成元件上的外部端子(省略圖示)通過電線6a、電線6b，與形成在台階部2c的台階面上的連接端子通過打線接合而連接。

如此，由於通過核心基板4將核心部5與封裝體2連接，並在核心基板4的下方形成空間2d，能夠提高對核心部5隔熱的隔熱效果。另外，通過在封裝體2上設置一對台階部2c、在台階部2c上設置連接端子，能夠使連接端子接近封裝體2的開口部，從而核心部5與封裝體2之間的打線接合變得簡單易行。另外，較佳為，俯視時，用於將核心基板4接合在封裝體2上的接合區域(非導電性黏合劑7的塗布區域)不與核心基板4的上表面中的核心部5的配置區域相重疊。

另外，OCXO1中，包含有作為與發熱器IC52組合使用的調節用電子元件的電容器9(圖1中有三個)。電容器9是通過焊料安裝於封裝體2的焊料元件(電路元件)。在作為焊料元件的電容器9與核心部5一起配置在封裝體2內的情況下，有可能因作為接合材料的焊料的重熔等而產生氣體，從而導致封裝體2內的真空度降低。若封裝體2內的真空度降低，則OCXO1的隔熱性能也會降低。

因此，圖1所示的OCXO1中，封裝體2上除了形成有上方開口的凹部2a之外，還形成有下方開口的凹部2e，電容器9被配置在凹部2e內。另 外，電容器9與安裝於核心部5的元件(後述的振盪器IC51、晶體振動子50、及發熱器IC52)不同，是溫度特性較弱(不容易受溫度影響)的元件，因而沒有必要用蓋子等將凹部2e密封。

如此，通過將作為焊料元件的電容器9配置在配置有核心部5的密閉空間(凹部2a所形成的密閉空間)以外的部位，能夠避免配置有核心部5的密閉空間的真空度因焊料產生的氣體而降低。由此，還能良好地維持OCXO1的隔熱性能。另外，對於電容器9等配置在部外(密閉空間外)的電路元件的安裝區域(該例中凹部2e的一部分或全部等)，也可以用密封樹脂進行密封，在此情況下，通過用密封樹脂覆蓋，能夠提高對電路元件隔熱(來自外部空間的熱)的隔熱効果。

另外，通過將電容器9配置在配置有核心部5的密閉空間外，還能減小該密閉空間的熱容量。通過減小密閉空間的熱容量，能夠以小功率進行溫度控制，並能提高核心部5的溫度跟隨性。

下面，參照圖2對核心部5進行說明。圖2中示出核心部5被安裝在核心基板4上的狀態。核心部5是通過將OCXO1中使用的各種電子元件封裝而構成的，採用由振盪器IC51、晶體振動子(壓電振動子)50、及發熱器IC52從上至下依次層疊的三層結構(層疊結構)。俯視時，振盪器IC51、晶體振動子50、及發熱器IC52位於越上方面積越小。核心部5被構成為，特別是通過對溫度特性強的晶體振動子50、振盪器IC51、及發熱器IC52進行溫度調節，而使OCXO1的振盪頻率穩定。另外，核心部5的各種電子元件未由密封樹脂密封，但也可以根據密封環境而用密封樹脂進行密封。

由晶體振動子50和振盪器IC51構成晶體振盪器100。振盪器IC51通過多個金屬凸點安裝在晶體振動子50上。通過由振盪器IC51控制晶體振動子50的壓電振動，OCXO1的振盪頻率得到控制。有關晶體振盪器100的詳細結構，將於後述。

在晶體振動子50與振盪器IC51彼此相向的相向面之間，存在非導電性黏合劑53，通過非導電性黏合劑53，晶體振動子50和振盪器IC51彼此相向的相向面被固定。在此情況下，晶體振動子50的上表面與振盪器IC51的下表面通過非導電性黏合劑53相接合。

俯視時，振盪器IC51的面積小於晶體振動子50的面積，且振盪器IC51的整體位於晶體振動子50的範圍內。振盪器IC51的下表面的整體與晶體振動子50的上表面相接合。

發熱器IC52例如是通過將發熱體(熱源)、用於控制發熱體的溫度的控制電路(電流控制用的電路)、及用於檢測發熱體的溫度的溫度感測器形成為一體而構成的。通過由發熱器IC52進行核心部5的溫度控制，核心部5的溫度被維持為大致一定的溫度，從而能夠實現OCXO1的振盪頻率的穩定化。

在晶體振動子50與發熱器IC52彼此相向的相向面之間，存在非導電性黏合劑54，通過非導電性黏合劑54，晶體振動子50與發熱器IC52彼此相向的相向面被固定。在此情況下，晶體振動子50的下表面與發熱器IC52的上表面通過非導電性黏合劑54相接合。

俯視時，晶體振動子50的面積小於發熱器IC52的面積，且晶體振動子50的整體位於發熱器IC52的範圍內。晶體振動子50的下表面的整體與發熱器IC52的上表面相接合。

在發熱器IC52與核心基板4彼此相向的相向面之間，存在非導電性黏合劑55，通過非導電性黏合劑55，發熱器IC52與核心基板4彼此相向的相向面被固定。作為非導電性黏合劑(53、54、55)，例如可使用聚醯亞胺系黏合劑、環氧系黏合劑等。

圖2所示的核心部5中，在晶體振動子50及發熱器IC52的上表面上形成有打線接合用的外部端子。在此，晶體振動子50及發熱器IC52的打線接合不在將核心部5安裝於封裝體2之前進行，而在將核心部5安裝於封裝體2之後進行。即，如圖1所示，將核心部5安裝於封裝體2之後，在晶體振動子50的上表面上形成的外部端子通過電線6a與在台階部2c的台階面上形成的連接端子連接。另外，在發熱器IC52的上表面上形成的外部端子通過電線6b與在台階部2c的台階面上形成的連接端子連接。如此，通過在將核心部5安裝於封裝體2之後再進行打線接合，能夠高效地進行打線接合。

另外，本發明中，不局限於晶體振動子50和發熱器IC52通過打線接合而與封裝體2直接電連接的結構。即，也可以採用晶體振動子50和發熱器IC52通過核心基板4而與封裝體2電連接的結構。在此情況下，可以在核心基板4上形成中繼配線，通過打線接合或覆晶接合來實現晶體振動子50和發熱器IC52與核心基板4之間的連接。另外，有關核心基板4與封裝體2之間的連接，在封裝體2的與核心基板4相向的相向面上形成連接端子，通過導電性黏合劑將核心基板4和封裝體2的連接端子彼此連接即可(取代圖1中的非導電性黏合劑7，使用導電性黏合劑)。在此情況下，不一定需要圖1中的台階部2c，可以將其省略。

另外，較佳為，如圖1所示那樣，採用利用非導電性黏合劑7實現的封裝體2與核心基板4之間的機械性接合與利用打線接合實現的核心部5與封裝體2之間的電連接相分離的結構，這樣，能夠獲得使機械性接合和電連接這兩方的可靠性均得到提高的效果。例如，作為將封裝體2與核心基板4連接的非導電性黏合劑7，優選即使受到外部應力的影響，機械性接合強度也不容易降低的具有柔軟性的材料。另外，核心部5與封裝體2之間的打線接合中，通過使用電阻較小的金屬絲，不容易產生共同阻抗雜訊，從而能夠提高恆溫槽型壓電振盪器的載波雜訊(carrier noise，CN)特性。

對核心部5所使用的晶體振動子50的種類沒有特別限定，但優選使用易於使器件薄型化的三明治結構的器件。三明治結構的器件是由第一密封元件、第二密封元件、及壓電振動板構成的器件，其中，第一密封元件和第二密封元件由玻璃或水晶構成，壓電振動板例如由水晶構成，並具有在兩個主面上形成有激勵電極的振動部，第一密封元件與第二密封元件隔著壓電振動板層疊並接合，配置在內部的壓電振動板的振動部被氣密密封。

參照圖3和圖4，對這樣的三明治結構的晶體振動子50與振盪器IC51被設置為一體的晶體振盪器100的一例進行說明。圖3是晶體振盪器100的截面圖(圖4中的A-A截面圖)，圖4是晶體振盪器100的俯視圖。另外，三明治結構的晶體振動子本身屬於習知技術，因而省略對晶體振動子50的內部結構的詳細說明。

如圖3所示，晶體振盪器100具備晶體振動片(壓電振動板)10、第一密封元件20、第二密封元件30、及振盪器IC51。該晶體振盪器100中，晶體振動片10與第一密封元件20通過環狀的密封接合部41相接合，晶體振動片 10與第二密封元件30通過環狀的密封接合部42相接合，從而構成近似長方體的三明治結構的封裝體。密封接合部41、密封接合42例如可採用在晶體振動片10、第一密封元件20、及第二密封元件30各自的接合面上形成表面為Au層的接合圖案(例如，從最下層側起形成有Ti層和Au層的接合圖案)，並利用接合面彼此貼合時的Au-Au擴散接合而進行接合的結構。基於該結構，能夠使晶體振動片10與各密封元件(20、30)之間的間隙尺寸非常小，達到0.15μm~1μm左右，從而能夠成為對薄型化和核心部5的熱容量縮小化有利的結構。

即，晶體振盪器100中，通過使形成有振動部(省略圖示)的晶體振動片10的兩個主面分別與第一密封元件20、第二密封元件30接合而形成封裝體的內部空間(空腔)，晶體振動片10的振動部被氣密密封在該內部空間中。在第一密封元件20上安裝的振盪器IC51是與晶體振動片10一起構成振盪電路的單晶片積體電路元件。

如圖4所示，在晶體振動子50的上表面上形成有連接端子21、外部端子22。連接端子21的一端(外周側端部)與振動部的激勵電極(通過晶體振動子50內的佈線、貫穿孔)電連接，連接端子21的另一端(內周側端部)與振盪器IC51連接。另外，外部端子22的一端(外周側端部)用於與封裝體2之間的打線接合，外部端子22的另一端(內周側端部)與振盪器IC51連接。振盪器IC51通過使用了金屬凸點的覆晶接合(flip chip bonding，FCB)法，與連接端子21、外部端子22連接。

另外，圖3所示的核心部5中，振盪器IC51通過多個金屬凸點(即，通過覆晶接合)安裝在晶體振動子50上。然而，本發明不局限於此，也可以如圖5所示那樣，振盪器IC51晶粒接合在晶體振動子50上，並與晶體振動子 50通過打線接合而電連接。另外，也可以在晶體振動子50的背面(與發熱器IC52接合的接合面)上，形成用於在OCXO1工作時能提供GND(接地)電位的黏性電極43。

將振盪器IC51晶粒接合到晶體振動子50上的結構中，與覆晶接合相比，振盪器IC51與晶體振動子50之間的接觸面積增大，因振盪器IC51而產生的熱量的影響更容易經由晶體振動子50傳到承擔溫度控制的發熱器IC52。由此，能夠使核心部5中的溫度，即，振盪器IC51、晶體振動子50、及發熱器IC52的溫度高效地傳到發熱器IC52所具備的溫度感測器，從而能夠進行高精度的溫度控制

即，原本希望晶體振動子50不受作為發熱器以外的熱源的振盪器IC51的影響，但實際上較為困難。這樣的話，如果能將振盪器IC51所引起的晶體振動子50的溫度變化高效地傳給發熱器IC52的溫度感測器，則易於控制。

另外，在振盪器IC51與晶體振動子50通過打線接合而電連接的情況下，核心部5與封裝體2之間的打線接合中，如圖6所示那樣，晶體振動子50與封裝體2之間不直接採用電線連接，較佳為，與晶體振動子50直接電線連接的只有振盪器IC51。圖6中，僅是晶體振動子50與振盪器IC51通過電線6c連接。該結構中，能夠防止熱量從晶體振動子50通過電線逸散到封裝體2。其結果，能夠產生對晶體振動子50隔熱的隔熱性能能提高、及對晶體振動子50進行溫度控制的性能提高這樣的優點。

本實施方式的OCXO1通過使用將振盪器IC51、晶體振動子50、及發熱器IC52層疊配置而成的核心部5，能夠減小核心部5的熱容量。核心部5的熱容量減小，則易於以小功率進行溫度控制，而且，能夠使核心部5的溫度 跟隨性提高、使OCXO1的穩定性提高。另外，在OCXO1的熱容量減小的情況下，容易受到外部溫度變化的影響，但由於核心部5與封裝體2之間隔著核心基板4，所以能夠減輕應力和熱量的逸散。

本實施方式中，三個電容器9被安裝在封裝體2上的、一個主面的反面側的另一個主面(在此情況下是凹部2e的底面)上。如圖7所示，電容器9通過焊料與在封裝體2的凹部2e的底面上形成的安裝墊9a(電路元件用安裝墊)接合。在此，圖7中省略了電容器9的圖示，用點劃線僅示出電容器9的配置區域。每一對安裝墊9a分別沿著封裝體2的短邊方向對置，三個電容器9各自的封裝體2的短邊方向的兩個端部與一對安裝墊9a接合。

如圖7所示，三對安裝墊9a在封裝體2的長邊方向上彼此介隔規定間隔地排列。各安裝墊9a以島狀分佈在封裝體2的底面上。另外，俯視時封裝體2及三個電容器9分別為矩形，相對於封裝體2的短邊方向的中心線L1和長邊方向的中心線L2，三個電容器9對稱地配置。在此情況下，三個電容器9的配置部位只要相對於中心線L1、中心線L2線對稱即可。另外，在封裝體2的下表面，形成有用於通過焊料等將OCXO1與設置在外部的外部電路基板(省略圖示)電連接的多個(圖7中是八個)外部連接端子2f。

本實施方式中，由於三個電容器9相對於封裝體2的短邊方向的中心線L1和長邊方向的中心線L2對稱地配置，所以能夠實現封裝體2整體的熱分佈均一化。由此，封裝體2整體的熱傳遞不容易偏，能夠實現OCXO1的溫度控制及特性的穩定化。另外，有關電容器9的朝向和間隔，也是以良好的狀態配置，因而，相對於封裝體2的另一個主面的安裝區域，電容器9的安裝位置上不存在浪費，從而能夠使安裝性能提高。

另外，對封裝體2的另一個主面上安裝的電容器9的數目沒有特別限定，電容器9的數目也可以不是三個。另外，也可以將電容器9以外的電路元件安裝在封裝體2的另一個主面。另外，所有的電路元件的大小(體積、表面面積)可以不相同。

在圖7的例中，三個電容器9相對於中心線L1、中心線L2的兩方均線對稱地配置，但只要相對於中心線L1和中心線L2中的至少一方線對稱即可。例如，也可以是，三個電容器9僅相對於封裝體2的短邊方向的中心線L1線對稱即可；或者，三個電容器9僅相對於封裝體2的長邊方向的中心線L2線對稱即可。由此，能夠保持封裝體2在特定的邊方向上的熱傳遞的對稱性，從而熱傳遞不容易偏，能夠實現OCXO1的溫度控制和特性的穩定化。

本次公開的實施方式是對所有方面的示例，不作為限定性解釋的依據。因而，本發明的技術範圍不能僅根據上述實施方式來解釋，而需根據請求項的範圍來界定。並且，本發明包含與請求項同等的意味及範圍內的所有變更。

例如，上述實施方式中，使用了包含三明治結構的晶體振動子50的晶體振盪器100，但本發明不局限於此，也可以使用三明治結構以外的振盪器(例如，SMD(Surface Mount Device，表面安裝元件)型的振盪器)。

另外，對OCXO1所包含的發熱器的數目沒有特別的限定，OCXO1除了發熱器IC52所包含的發熱器以外，還可具有其它的發熱器。例如，可以考慮，在核心部5的上部進一步追加了發熱器的結構、在封裝體2內除核心部5以外配置的電路元件的安裝區域中追加了發熱器的結構、及在封裝體2主體中埋入了膜狀的發熱器的結構等。

另外，上述實施方式中，封裝體2被構成為，凹部2a及凹部2e分別被形成在不同的主面上的H型封裝體，但本發明不局限於此，例如也可以採用如圖8所示那樣的平置封裝體或雙重疊合封裝體。

圖8所示的平置封裝體的OCXO1被構成為，作為核心部5的安裝部並為密閉空間的凹部2a與配置有電容器9的凹部2e在封裝體2的同一個主面上排列。另外，作為雙重疊合封裝體的OCXO1，省略了圖示，可以採用僅一方有凹部的封裝體在上下方向上層疊並在機電上接合，用蓋子將上側的封裝體氣密密封的結構。在此情況下，可以為，上側的封裝體被構成為，在圖1所示的凹部中收納核心部5的結構；下側的封裝體中僅收納電容器。進一步，作為其它的OCXO1，也可以採用在圖1的蓋子3上配置電容器9的結構。

這樣的平置封裝體、雙重疊合封裝體也能夠將作為焊料元件的電容器9配置在配置有核心部5的密閉空間以外的部位，從而能夠獲得與圖1所示的H型封裝體的OCXO1相同的效果。

另外，上述核心部5採用了振盪器IC51、晶體振動子50、及發熱器IC52從上至下依次層疊的三層結構，但本發明不局限於此，也可以採用在發熱器IC52上平置(橫向排列)振盪器IC51和晶體振動子50的結構。該結構中，晶體振動子50不容易受到來自振盪器IC51的熱量的影響，容易使晶體振動子50及發熱器IC52的溫度均一化，因而，利用發熱器IC52所具備的溫度感測器，能夠對作為溫度控制物件的晶體振動子50進行高精度的溫度控制。

本申請基於2021年2月25日在日本提出申請的特願2021-028791號要求優先權。不言而喻，其所有內容被導入於本申請。使用於此且未另外定義，「實質上」及「大約」等用語係用於描述及敘述小變化。當結合於一事件或情況， 該用語可包含事件或情況發生精確的當下、以及事件或情況發生至一接近的近似點。例如，當結合於一數值，該用語可包含一變化範圍小於或等於該數值之±10%，如小於或等於±5%、小於或等於±4%、小於或等於±3%、小於或等於±2%、小於或等於±1%、小於或等於±0.5%、小於或等於±0.1%、或小於或等於±0.05%。

以上概述了數個實施例的部件、使得在本發明所屬技術領域中具有通常知識者可以更理解本發明實施例的概念。在本發明所屬技術領域中具有通常知識者應該理解、可以使用本發明實施例作為基礎、來設計或修改其他製程和結構、以實現與在此所介紹的實施例相同的目的及/或達到相同的好處。在本發明所屬技術領域中具有通常知識者也應該理解、這些等效的結構並不背離本發明的精神和範圍、並且在不背離本發明的精神和範圍的情況下、在此可以做出各種改變、取代和其他選擇。因此、本發明之保護範圍當視後附之申請專利範圍所界定為準。

1:OCXO(恆溫槽型壓電振盪器)

2:封裝體

2a:凹部

2b:周壁部

2c:台階部

2d:空間

2e:凹部

3:蓋子

4:核心基板

5:核心部

6a、6b:電線

7:非導電性黏合劑(接合材料)

8:密封材料

9:電容器(電路元件)

Claims (6)

1. 一種恆溫槽型壓電振盪器，核心部以密閉狀態被封入隔熱用的封裝體的內部，其中：所述核心部至少包含振盪器IC、壓電振動子、及發熱器IC，並且，具備通過接合材料安裝於所述封裝體的電路元件，所述核心部被真空密封在所述封裝體中的密閉空間內，所述電路元件配置在所述密閉空間外，所述核心部通過與所述封裝體為不同部件之核心基板被支撐在所述封裝體中。
2. 根據請求項1所述的恆溫槽型壓電振盪器，其中：所述核心部被安裝在所述封裝體的一個主面上，所述電路元件被安裝在所述封裝體的所述一個主面的相反側的另一個主面上。
3. 根據請求項1或2所述的恆溫槽型壓電振盪器，其中：所述密閉空間中的真空度在10Pa以下。
4. 根據請求項1或2所述的恆溫槽型壓電振盪器，其中：所述壓電振動子被構成為，具備第一密封元件、第二密封元件、及具有在兩個主面上形成有激勵電極的振動部的壓電振動板，所述壓電振動板的上表面、下表面分別介隔規定間隔地與所述第一密封元件、所述第二密封元件接合，配置在內部的所述振動部被氣密密封。
5. 根據請求項1或2所述的恆溫槽型壓電振盪器，其中：所述核心部由所述振盪器IC、所述壓電振動子、及所述發熱器IC從上至 下依次層疊而成，俯視時，所述振盪器IC、所述壓電振動子、及所述發熱器IC位於越上方面積越小。
6. 根據請求項1或2所述的恆溫槽型壓電振盪器，其中：所述核心部與所述封裝體通過打線接合而實現電連接，所述壓電振動子與所述封裝體之間未直接用電線連接，與所述壓電振動子之間直接用電線連接的僅有所述振盪器IC。