TW202032691A - 微小構造體移載裝置、模板頭單元、微小構造體移載用模板零件及微小構造體積體零件的移載方法 - Google Patents

微小構造體移載裝置、模板頭單元、微小構造體移載用模板零件及微小構造體積體零件的移載方法 Download PDF

Info

Publication number
TW202032691A
TW202032691A TW108146867A TW108146867A TW202032691A TW 202032691 A TW202032691 A TW 202032691A TW 108146867 A TW108146867 A TW 108146867A TW 108146867 A TW108146867 A TW 108146867A TW 202032691 A TW202032691 A TW 202032691A
Authority
TW
Taiwan
Prior art keywords
template
quartz glass
transfer
convex
silicone rubber
Prior art date
Application number
TW108146867A
Other languages
English (en)
Other versions
TWI742490B (zh
Inventor
中川秀夫
小川敬典
松本展明
上田修平
大崛敬司
大竹滉平
Original Assignee
日商信越化學工業股份有限公司
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 日商信越化學工業股份有限公司 filed Critical 日商信越化學工業股份有限公司
Publication of TW202032691A publication Critical patent/TW202032691A/zh
Application granted granted Critical
Publication of TWI742490B publication Critical patent/TWI742490B/zh

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/683Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping
    • H01L21/6838Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping with gripping and holding devices using a vacuum; Bernoulli devices
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K13/00Apparatus or processes specially adapted for manufacturing or adjusting assemblages of electric components
    • H05K13/04Mounting of components, e.g. of leadless components
    • H05K13/0452Mounting machines or lines comprising a plurality of tools for guiding different components to the same mounting place
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/04Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
    • H01L21/50Assembly of semiconductor devices using processes or apparatus not provided for in a single one of the subgroups H01L21/06 - H01L21/326, e.g. sealing of a cap to a base of a container
    • H01L21/52Mounting semiconductor bodies in containers
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67005Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67011Apparatus for manufacture or treatment
    • H01L21/67144Apparatus for mounting on conductive members, e.g. leadframes or conductors on insulating substrates
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/677Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations
    • H01L21/67703Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations between different workstations
    • H01L21/67721Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations between different workstations the substrates to be conveyed not being semiconductor wafers or large planar substrates, e.g. chips, lead frames
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/68Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for positioning, orientation or alignment
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/005Processes
    • H01L33/0093Wafer bonding; Removal of the growth substrate
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K13/00Apparatus or processes specially adapted for manufacturing or adjusting assemblages of electric components
    • H05K13/04Mounting of components, e.g. of leadless components
    • H05K13/0404Pick-and-place heads or apparatus, e.g. with jaws
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K13/00Apparatus or processes specially adapted for manufacturing or adjusting assemblages of electric components
    • H05K13/04Mounting of components, e.g. of leadless components
    • H05K13/0404Pick-and-place heads or apparatus, e.g. with jaws
    • H05K13/0408Incorporating a pick-up tool
    • H05K13/0409Sucking devices
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L25/00Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof
    • H01L25/03Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes
    • H01L25/04Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices not having separate containers
    • H01L25/075Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices not having separate containers the devices being of a type provided for in group H01L33/00
    • H01L25/0753Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices not having separate containers the devices being of a type provided for in group H01L33/00 the devices being arranged next to each other
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2933/00Details relating to devices covered by the group H01L33/00 but not provided for in its subgroups
    • H01L2933/0008Processes
    • H01L2933/0033Processes relating to semiconductor body packages
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/48Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor body packages

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Shaping Of Tube Ends By Bending Or Straightening (AREA)
  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
  • Led Device Packages (AREA)

Abstract

本發明為一種模板頭單元,其包含:模板零件,其在石英玻璃基板上至少具備矽氧系橡膠膜;模板零件保持零件,其具備具有孔之面,該孔用來對前述模板零件的石英玻璃基板面抽真空;以及,管狀零件,其具有排氣吸引孔且與前述模板零件保持零件結合並固定,該排氣吸引孔以能夠保持真空的狀態來與前述用來抽真空的孔連通地連接。藉此,提供一種能藉由簡便的真空吸盤方式來穩定地固定的模板零件、可在短時間內對該模板零件進行更換之模板頭單元、以及具備該等構件之微小構造體移載裝置。

Description

微小構造體移載裝置、模板頭單元、微小構造體移載用模板零件及微小構造體積體零件的移載方法
本發明關於一種微小構造體移載裝置,其將形成或配置在基板上的半導體元件等的微小構造體移載至其他基板,本發明亦關於該移載裝置中所使用的模板頭單元、微小構造體移載用模板零件及微小構造體積體零件的移載方法。
近年來,隨著半導體元件的微小化,作為針對使用了半導體元件之電力、電子應用產品的組裝手段,使用了模板(stamp)之微小構造體移載技術受到矚目(非專利文獻1)。特別是熱衷在開發一種技術,其藉由使用上述移載技術,一次移載一個或是複數個甚至到幾萬個大量的迷你LED(發光二極體,短邊在100μm以上~數百μm的LED)或是微型LED(短邊在100μm以下或更進一步在50μm以下),藉此來製造用於看板、電視、醫療用、車載、平板電腦、智慧型手機、智慧手錶等的顯示器以及AR(擴增實境)/VR(虛擬實境)等的LED顯示器。
作為先前技術,在專利文獻1中已報告能夠使用平板狀的PDMS(聚二甲基矽氧烷)橡膠來將大量元件自供給基板輸送至接收基板。 專利文獻2中表示了一種複合模板的構造與固定至模板頭的方法,其使用了具有凸型形狀突起之PDMS。第14圖(A)、(B)、(C)、(D)分別表示先前技術的專利文獻2的第2圖(A)、(B)、(C)、(D)。 第14圖(A)~第14圖(C)所示的先前技術的複合模板是非常複雜的構造,其運用了模板、支持層、使用了纖維之強化層及強化環。該等模板的固定,全部都是使用機械性或真空來固定周邊部的方法。因此,包含定位在內,交換作業明顯會花上許多時間,而成為量產上的大問題。
第14圖(D)所示的先前技術的模板,是藉由真空吸附的方式來固定具備模板材料之石英玻璃支持體,且該模板材料具有凸型形狀突起,相較於前述第14圖(A)~(C)的案例成為較簡便的構造。然而,由於真空吸附部是以環狀的彈性體來構成,在實際反覆進行移載動作的量產中,按壓供給基板與接收基板時會產生變形,而產生位置偏離的原因。根據情況甚至有可能使得真空吸盤鬆開。這樣因為固定方法而造成的反覆模板動作中的耐久性降低是很大的問題。
此處試著計算實際以微小構造體移載裝置來製造4K(3840×2160像素)的RGB(紅綠藍)顯示器時,需要多少次的移載次數。若假設使用RGB三種顏色的LED各1個來構成1像素,則要移載3840×2160×3=24883200個LED。若假設一次移載可移載1萬個像素(LED:3萬個),則為了製造一台4K-RGB顯示器面板需要約830次的移載。若設定成一個模板零件能夠忍受2萬次的移載,則計算出一個模板零件只能製造約24台4K顯示器。
接著,若假設1次移載需要約5秒,則2萬次動作所需的時間是100000秒。據此,約每28小時(100000秒/3600秒)便需要更換一次模板。因此,若不能簡單地更換模板,則很明顯地會使裝置的運轉率大幅降低。 接著,在使用先前技術來進行實際量產的情況下,模板部會連續反覆進行移動動作。由於模板主要是使用橡膠狀的材料,所以移載中在裝置中發生的顆粒會附著至模板和支持體而成為大問題。顆粒大致上分成2種:來自要移載的微小構造體的轉印顆粒與裝置內的帶電懸浮顆粒。由於附著至模板上的顆粒會大幅降低製造良率,必須要有使顆粒減低的對策。
[先前技術文獻] (專利文獻) 專利文獻1:美國專利第7943941號說明書。 專利文獻2:美國專利第7927976號說明書。
(非專利文獻) 非專利文獻1:Mattew A. Meitl, Zheng-Tao Zhu, Vipan Kumar, Keon Jae Lee, Xue Feng, Younggang Y. Huang, Ilesanmi Adesida, Ralph G. Nuzzo & Jonh A. Rogers, “Transfer printing by kinetic control of adhesion to an elastomeric stamp”, Nature Materials Volume 5, 33-38 (2006)。
(發明所欲解決的問題) 本發明所欲解決的第1問題關於一種模板的構造與固定方法。如上述的先前技術的構成中,會有模板本身的構造複雜,更換至模板頭的作業困難而耗時的問題。又,先前技術的模板,是作成即便固定至模板頭也具有柔軟性的構成,而有著固定穩定性低的問題。本發明鑑於上述問題點而提供一種能夠以簡便的真空吸盤方式穩定地固定的模板零件、能夠在短時間內更換該模板零件之模板頭單元、以及具備該等構件之微小構造體移載裝置。 本發明所欲解決的第2問題是帶電的懸浮顆粒附著至實際量產動作時的模板上的情形。本發明提供一種模板零件,其具備用來減低顆粒附著於模板和支持體上之構造。
(用於解決問題的手段) 為了解決上述問題點,本發明的第1發明提供一種模板頭單元,其包含:模板零件,其在石英玻璃基板上至少具備矽氧系橡膠膜;模板零件保持零件,其具備具有孔之面,該孔用來對前述模板零件的石英玻璃基板面抽真空;以及,管狀零件,其具有排氣吸引孔且與前述模板零件保持零件結合並固定,該排氣吸引孔以能夠保持真空的狀態來與前述用來抽真空的孔連通地連接。 若是這樣的模板頭單元,便可在短時間內更換模板零件,且能夠藉由抽真空將模板零件確實地固定於模板保持部。
前述模板零件保持零件的前述用來抽真空的孔可被分割成複數個孔,並且在複數個點處對前述石英玻璃基板進行吸引並固定。 若作成這樣的形態,能夠在石英玻璃基板較薄的情況下防止因抽真空所導致的局部彎折的發生,並能夠更穩定地將模板零件加以固定並保持。
在前述模板零件保持零件的裝設前述模板零件之面上,可形成有經由前述用來抽真空的孔而被連接至前述排氣吸引孔之溝槽構造。 若作成這樣的形態,即便移載裝置側或周邊機器等的抽真空能力相同,也能夠減低吸引力,因此能夠防止吸引部的局部彎曲,使得即便是較薄的石英玻璃基板也能夠拿來使用。
前述石英玻璃基板可為矩形平板。 若作成這樣的構成,則X-Y正交軸變得明確,而容易進行θ方向的校準。
在前述石英玻璃基板上可形成有刻面。 若作成這樣的形態,能夠使形成在模板上的石英玻璃基板具有θ方向的基準點,而能夠在不弄錯刻面與模板的旋轉位置的情況下更換模板零件。
前述管狀零件可具有筒夾連接部。 若作成這樣的形態,當將前述模板頭單元連接至移載裝置本體時,可在模板的X-Y平面的法線方向,亦即Z方向上正確進行連接。此外,將前述模板頭單元連接至移載裝置本體的方法不限於此方法,亦可採用其他方法。
在前述模板零件保持零件的模板零件保持面上,可具備凸構造,該凸構造用來定位前述模板零件。 若作成這樣的形態,在模板更換時便能夠簡單地對模板零件與裝設面進行定位。
前述凸構造可具有正交的側面。 若作成這樣的形態,便能夠簡單地進行裝設面內的X、Y這2個方向的定位。在石英玻璃基板是矩形平板(長方體)的情況下,只要將前述石英玻璃基板的X、Y這2邊壓抵凸構造的正交側面,便能夠簡單地進行X、Y、θ方向的粗略校準。若將刻面位置設於矩形的石英玻璃基板的其中一個頂點,並且例如將具有前述刻面之頂點部分對齊前述凸構造的正交角部,在每次更換時便能夠防止弄錯安裝方向,其結果,能夠加快更換速度。
在前述模板零件的矽氧系橡膠膜上可具有校準標記。 若作成這樣的形態,藉由使供給基板上的校準標記與接收基板上的校準標記相符,便可進行模板零件與供給基板以及模板零件與接收基板的X、Y、θ方向的位置校準。結果便可進行高精確度的微小構造體的移載。又,前述校準標記,亦能夠用於在安裝模板零件時預先對裝置原點(X=Y=0)和原點角(θ=0°)進行X、Y、θ的校正。
前述石英玻璃基板,較佳是合成石英玻璃。 在微小構造體的大小較小,且高度小於數十μm的情況下,黏接微小構造體的矽氧系橡膠膜的平坦性變得重要。偏差較佳為在大約微小構造體的高度程度以內。要達成矽氧系橡膠膜的平坦性,其基材也就是石英玻璃基板的平坦性會造成很大的影響。合成石英玻璃的情況下,由於能夠實現約1μm以下的面內膜厚均勻性(TTV:總厚度變異),因此藉由使用合成石英玻璃能夠將模板零件整體的膜厚偏差最小化。進而,使用合成石英玻璃的優點,還有能夠得到反覆進行微小構造體移載動作時的熱穩定性。亦即,合成石英玻璃基板相較於其他石英玻璃基板具有約1/5的熱膨脹係數,而能夠減少動作中的熱失真。特別是在具有凸型形狀突起之模板零件的情況下,由於能夠減低因熱伸縮而導致的突起位置的偏離、失真(distortion),因此能夠進行正確的移載動作。
本發明的第2發明,是一種微小構造體移載裝置,其具備本發明之模板頭單元。 若使用本發明的微小構造體移載裝置,藉由真空吸附的ON/OFF便可簡單且在短時間內更換模板零件,而能夠實現適於量產的移載裝置。 特別是對於模板頭單元具備凸構造以用來提供物理性的安裝位置校準的情況、以及要以人手直接更換模板零件的情況很有效,能夠以簡便且短時間的方式進行高精確度的更換作業。
在此情況下,本發明的微小構造體移載裝置,可具備用來對下述進行調整的機構:安裝在模板頭單元上的模板零件的模板面(X-Y正交座標)的位置、與X-Y平面正交之Z座標位置、及以Z軸為中心的旋轉角θ。 若作成這樣的形態,在將模板零件安裝至模板頭單元後,能夠使用設在模板上的校準標記,來對模板原點與裝置原點的位置關係(X、Y、Z、θ)進行原點校準校正。又,藉由使用模板零件的校準標記與供給基板上的校準標記來進行校準,能夠進行模板零件與供給基板在X、Y、θ方向的位置校準。同樣地,藉由使用模板零件的校準標記與接收基板上的校準標記來進行校準,能夠進行模板零件與接收基板在X、Y、θ方向的位置校準。其結果便能夠進行高精確度的微小構造體的移載。又,若預先進行原點校準校正,便能夠縮短在供給基板、接收基板處進行精密校正所需的時間。
本發明的微小構造體移載裝置,可為具備模板零件更換單元之構成,該模板零件更換單元用來更換模板零件。 模板零件預先以模板零件更換單元進行粗略校準,使微小構造體移載裝置移動至前述模板頭單元被預先指定的位置,進行下降動作並在快要接觸到模板零件之前停止,然後藉由真空吸附將模板零件吸起便能夠加以吸附固定。然後,可使前述模板頭單元上昇,並移動至規定的預備位置來待機。若作成這樣的形態,相較於以人手更換模板零件的情況,能夠顯著迅速且高精確度地進行更換作業,而大幅提高量產性。
本發明的第3發明是一種微小構造體積體零件的移載方法,其包含下述步驟:使用本發明之微小構造體移載裝置來移載微小構造體。 例如,藉由使用本發明的微小構造體移載裝置,將所希望的LED移載至顯示器的像素位置,並加以配置並固定,便能夠製造顯示器的全像素或一部分像素區域的顯示器面板。若取代LED(有機/無機)而藉由本發明的微小構造體移載方法來移載IC晶片、IC和LSI複合構裝起來的1維至3維封裝體、由無機或有機半導體所構成的各種功能元件、電阻器、電容器、線圈等的電性電路元件、各種微小感測器元件、MEMS(微機電系統)的各種功能元件和感測器等的微小構造體,便能夠製造將該等各種功能元件組合起來的新功能產品,亦即能夠製造微小構造體積體產品。
本發明的第4發明是一種微小構造體移載用模板零件,其中,在合成石英玻璃基板上形成有至少一層以上的矽氧系橡膠膜。 由於合成石英玻璃基板的膜厚均勻性(平坦性)能夠作成約1μm以下,因此作為模板零件整體的黏接面的高度的厚度均勻性,藉由提高矽氧系橡膠膜的膜厚均勻性,在最佳的情況下,能夠縮小至約1μm為止。此外,矽氧系橡膠膜均勻性,可對應於移載對象也就是微小構造體的大小與高度來設定成所需的值。
進而,使用合成石英玻璃的最大優點在於:能夠獲得反覆進行微小構造體移載動作時的熱穩定性。亦即,合成石英玻璃基板相較於其他石英玻璃基板具有約1/5的熱膨脹係數,能夠減低動作中的熱失真。特別是在具有凸型形狀突起之模板零件的情況下,由於能夠減低因熱伸縮而導致的突起位置的偏離、失真(distortion),因此能夠進行正確的移載動作。
如此,藉由將與微小構造體的黏接面高度偏差較小且熱膨脹失真較少的模板零件,裝設在移載裝置的模板頭單元上來使用,在要一口氣移載複數個微小構造體時,可進行穩定的黏接、移載動作。亦即,藉由在平坦的合成石英玻璃基板上形成膜厚均勻的矽氧系橡膠膜,即便在微小構造體的移載個數是2個以上的複數個、甚至1萬個或3萬個這樣的數量的情況下,也能夠在一次移送複數微小構造體時均勻地接觸、按壓各微小構造體,而能夠藉由矽氧系橡膠膜的黏著力與初期黏著力,自供給基板上抓取微小構造體。藉由能夠如此地達成均勻的黏接,便能夠防止移動中的微小構造體脫落。要轉錄配置於接收基板時,也可發揮具有均勻面的模板零件的功效,而能夠以均勻的力道來將微小構造體按壓至接收基板上。藉由在接收基板側上形成以比矽氧系橡膠膜的黏著力與初期黏著力所帶來的黏接力更強的力來黏接的膜,便能夠自矽氧系橡膠膜取下微小構造體。
前述合成石英玻璃基板的厚度可為0.5mm~7mm。 若作成這樣的形態,便可使用合成石英玻璃晶圓或遮罩坯料用等的市售合成石英玻璃基板,而能夠取得約1μm以下的平坦性。又,同時,亦有著能夠減低製造成本的優點。
前述微小構造體可為發光二極體,且前述矽氧系橡膠膜的與前述微小構造體黏接之面部的矽氧系橡膠的膜厚的最大值與最小值的差值可在18μm以下。 例如,在LED的厚度為6μm的情況下,較佳為膜厚偏差在厚度3倍的18μm以下的模板零件。若假設LED被配置固定在平坦面上,在此情況下當對模板壓迫18μm+6μm亦即24μm時,便會成為前述模板零件的前述矽氧系橡膠膜接觸到全部LED的狀態。因此,藉由進行24μm以上的適當壓下來施加壓力,便能夠對全部的LED在最少壓下6μm以上時產生出前述矽氧系橡膠膜的黏接力(黏著力+初期黏著力)。該追加壓下量,由於會根據微小構造體的平面的大小、高度、形狀而略有不同,可在事前列出條件來加以決定。
前述微小構造體移載用模板零件,在合成石英玻璃基板與前述矽氧系橡膠膜之間可具有導電性膜。 若作成這樣的形態,由於能夠防止帶電最為集中的石英玻璃表面端部和其周邊部的帶電,當在移載裝置中反覆進行數萬次移載動作時,便能夠減低懸浮於模板零件周邊的帶電顆粒附著至模板零件上的情形。
前述導電性膜可被形成為覆蓋在前述合成石英玻璃基板的全部表面上。 若作成這樣的形態,便更容易充分發揮針對帶電顆粒附著至模板零件的情形加以減低的功效。
前述導電性膜可包含導電性材料。 前述導電性材料較佳為以下的至少其中一種:碳黑、碳填充劑、碳奈米線、碳奈米管、石墨烯、鹼金屬或鹼土金屬的鹽、離子液體。此外,該等導電材料亦可混合複數種來使用。
前述導電性材料較佳為包含導電性聚合物。 導電性聚合物,例如可使用聚噻吩系的摻雜有聚(4-苯乙烯磺酸)之聚(3,4-二氧乙基噻吩) (PEDOT/PSS)、聚苯胺系的聚苯胺磺酸等。此外,不限於前述導電性聚合物,亦可使用其他導電性聚合物。又,亦可組合導電性聚合物與碳系導電材料、鹼金屬鹽、鹼土金屬鹽、離子液體的至少其中一種來使用。藉由使導電性膜包含碳系導電材料、鹼金屬鹽、鹼土金屬鹽、離子液體、導電性聚合物等的導電性材料,可藉由調整導電性材料的添加量來任意調整前述導電性膜的導電率。
前述導電性膜可為導電性矽氧系橡膠膜。 若作成這樣的形態,便更容易發揮本發明的功效。
前述矽氧系橡膠膜可為導電性矽氧系橡膠膜。 若作成這樣的形態,由於能夠在模板表面全體防止帶電,當在移載裝置中反覆進行數萬次移載動作時,便能夠減低懸浮於模板零件周邊的帶電顆粒附著至模板零件上的情形。
前述導電性矽氧系橡膠膜可包含導電性材料。 前述導電性矽氧系橡膠膜中所含的導電性材料,較佳為以下的至少其中一種:碳黑、碳填充劑、碳奈米線、碳奈米管、石墨烯、鹼金屬或鹼土金屬的鹽、離子液體。此外,該等導電材料亦可混合複數種來使用。
前述導電性矽氧系橡膠膜中所含的導電性材料,較佳為至少包含導電性聚合物。 導電性聚合物,例如可使用聚噻吩系的摻雜有聚(4-苯乙烯磺酸)之聚(3,4-二氧乙基噻吩) (PEDOT/PSS)、聚苯胺系的聚苯胺磺酸等。此外,不限於前述導電性聚合物,亦可使用其他導電性聚合物。又,亦可組合導電性聚合物與碳系導電材料、鹼金屬鹽、鹼土金屬鹽、離子液體的至少其中一種來使用。藉由使導電性膜包含碳系導電材料、鹼金屬鹽、鹼土金屬鹽、離子液體、導電性聚合物等的導電性材料,可藉由調整導電性材料的添加量來任意調整前述導電性膜的導電率。
前述微小構造體移載用模板零件,在前述矽氧系橡膠膜表面可具備一個凸型形狀突起。 若作成這樣的形態,針對密集配置於供給基板上的微小構造體,便能夠選擇性地加以黏接並抓取,然後轉錄配置到接收基板上。若使用這樣的模板零件,便能夠用於修復,也就是選擇性地將正常的微小構造體移載至不良的微小構造體的場所。
前述微小構造體移載用模板零件,在前述矽氧系橡膠膜表面可具備二個以上的凸型形狀突起。 若作成這樣的形態,便能夠一次移載與凸型形狀突起的位置對應的二個以上的微小構造體。
前述二個以上的凸型形狀突起,可包含二種以上不同高度的凸型形狀突起。 若作成這樣的形態,便能夠一次移載高度不同的二個微小構造體。
前述二個以上的凸型形狀突起可具有與微小構造體接觸之面部,且該面部包含二種以上不同面積的凸型形狀突起。 若作成這樣的形態,便能夠一次移載大小不同的二個微小構造體。
前述二個以上的凸型形狀突起,可被任意地加以1維排列或2維排列。 如此一來,若將二個以上的凸型形狀突起配置構成為可對應於前述1維排列或2維排列來取出供給基板上的微小構造體,便能夠一次移載與凸型形狀突起的位置對應的複數個微小構造體,而能夠以所希望的排列方式來移載微小構造體。
前述1維排列或2維排列可包含具有一定節距的規則性的部分。 若作成這樣的形態,該部分便能夠一次移載以一定節距來1維配列或2維配列的複數個微小構造體。
前述一定節距可為顯示器的像素節距的整數倍。 若作成這樣的形態,便能夠將複數個微小構造體移載至遠離該整數倍節距的像素。在此情況下,若微小構造體為LED,便能夠製作LED顯示器。
前述凸型形狀突起的剖面形狀可為梯形形狀。 若作成這樣的形態,便能夠增大凸型形狀突起的耐久性,而能夠增大可利用一個模板零件來實現的移載次數。亦即,能夠延長一個模板零件的使用壽命。
前述凸型形狀突起的剖面形狀可包含前端側是小型梯形形狀的部分。 若作成這樣的形態,當矽氧系橡膠膜的凸型形狀突起被按壓至微小構造體時,凸型形狀突起能夠以不朝其中一方向彎曲的方式對黏接面施加均等的壓力。結果能夠達成穩定的黏接。
前述凸型形狀突起的剖面形狀可為二段式以上的階梯狀的凸型形狀。 若作成這樣的形態,即便在以更窄的節距來配置微小構造體的情況,也能夠在不碰到相鄰晶片的情況下確實地抓取目標晶片。又,黏接微小構造體的最前端的凸型形狀突起部為錐體形狀時也能夠得到同樣的功效。此外,亦可使第一段的突起部分也成為錐體形狀,在多段式的突起具有縱長的縱橫比時,對於要實現均勻按壓是有效的。
前述凸型形狀突起部的膜厚,可具有與2個以上的高度與大小不同的微小構造體分別對應的高度與大小。 若作成這樣的形態,便能夠一口氣移載具有不同高度與大小的微小構造體。例如,能夠一口氣將LED移載至中央部且將含有驅動電路之周邊電路元件移載至周邊部,並加以組裝。
本發明的第5發明,是一種微小構造體移載用模板頭單元,其具備前述微小構造體移載用模板零件。 製造含有微小構造體之產品時,若使用本發明的模板頭單元,便能夠簡便且高速地更換前述模板零件。其結果,便可實現量產性高的產品製造。又,若使用其中所具有的模板零件具備帶電防止構造之微小構造體移載用模板頭單元,便能夠防止懸浮帶電顆粒附著至移載動作中的模板零件上。其結果,能夠防止因顆粒所導致的移載錯誤,而能夠減少模板零件的清洗或更換作業的次數,因此結果能夠大幅有助於量產性的提高。
本發明的第6發明,是一種微小構造體移載裝置,其具備前述模板頭單元。 製造含有微小構造體之產品時,若使用本發明的微小構造體移載裝置,便能夠簡便且高速地更換前述模板零件。其結果,便可實現量產性高的產品製造。
本發明的第7發明,是一種微小構造體積體零件的移載方法,其包含下述步驟:使用前述微小構造體移載裝置來移載微小構造體。 藉由本發明的移載方法,能夠顯著縮短模板零件更換時間,亦即能夠達成裝置的停歇時間較少的運行,而實現量產性高的微小構造體積體產品的製造。進而,本發明的移載方法中,若使用具備前述帶電防止構造之模板零件,便能夠防止、減低因顆粒導致的微小構造體移載錯誤。其結果,能夠大幅提高微小構造體積體產品的製造量產性。
(發明的功效) 如以上所述,本發明藉由使用一種模板頭單元而能夠簡便且在短時間內實施模板零件更換,其中該模板頭單元包含:模板零件,其在石英玻璃基板上至少具備矽氧系橡膠膜;模板零件保持零件,其具備具有孔之面,該孔用來對前述模板零件的石英玻璃基板面抽真空;以及,管狀零件,其具有排氣吸引孔且與前述模板零件保持零件結合並固定,該排氣吸引孔以能夠保持真空的狀態來與前述用來抽真空的孔連通地連接。其結果,能夠提供一種量產性高的微小構造體移載裝置,其具備本發明的模板頭單元。因此,藉由使用本發明的微小構造體移載裝置,能夠以量產性良好的方式來製造短邊未滿100μm的微型LED顯示器面板或是具備微小半導體元件之新產品。
又,在微小構造體移載裝置中,在本發明的模板頭單元之外,藉由更使用了採用本發明的導電性材料之模板零件,能夠防止、減低在微小構造體移載中有懸浮帶電顆粒附著至模板零件上的情形。其結果,能夠大幅減低模板清洗或模板更換的頻率,而能夠實現適於量產的連續運行。
如上述,要求開發一種能夠以簡便的真空吸盤方式穩定地固定的模板零件、能夠在短時間內更換該模板零件之模板頭單元、以及具備該等構件之微小構造體移載裝置。又,要求開發一種模板零件,其具備用來減低顆粒附著於模板和支持體上之構造。
本發明人針對上述問題多次積極討論的結果,發現到:針對在合成石英玻璃基板上形成有至少一層以上的矽氧系橡膠膜的微小構造體移載用模板零件,藉由對其石英玻璃基板面進行抽真空的ON/OFF(開/關),能夠簡單且在短時間內更換前述模板零件,而能夠實現適合量產的移載裝置,從而完成了本發明。
亦即,本發明的第1發明是一種模板頭單元,其包含:模板零件,其在石英玻璃基板上至少具備矽氧系橡膠膜;模板零件保持零件,其具備具有孔之面,該孔用來對前述模板零件的石英玻璃基板面抽真空;以及,管狀零件,其具有排氣吸引孔且與前述模板零件保持零件結合並固定,該排氣吸引孔以能夠保持真空的狀態來與前述用來抽真空的孔連通地連接。
本發明的第2發明是一種微小構造體移載裝置,其具備前述模板頭單元。
本發明的第3發明是一種微小構造體積體零件的移載方法,其包含下述步驟:使用前述微小構造體移載裝置來移載微小構造體。
本發明的第4發明是一種微小構造體移載用模板零件,其中,在合成石英玻璃基板上形成有至少一層以上的矽氧系橡膠膜。
本發明的第5發明是一種微小構造體移載用模板頭單元,其具備前述微小構造體移載用模板零件。
本發明的第6發明是一種微小構造體移載裝置,其具備前述模板頭單元。
本發明的第7發明是一種微小構造體積體零件的移載方法,其包含下述步驟:使用前述微小構造體移載裝置來移載微小構造體。
以下,針對本發明加以詳細說明,但本發明並不限定於該等實施形態。 (實施形態1) 第1圖是本發明的第1實施形態中的模板頭單元100的構成圖。第1圖(a)是模板頭單元的剖面圖,第1圖(b)是從下方觀察第1圖(a)的模板頭單元的平面圖。 第1圖中,符號1是模板零件保持零件,符號2是抽真空孔,符號3是模板零件保持表面,符號4是管狀零件,符號5是排氣吸引孔。符號6是石英玻璃基板,符號7是矽氧系橡膠膜,該等構件構成模板零件13。
前述抽真空孔2,位於前述模板零件保持零件1的內部,且被形成為到達模板零件保持表面3為止的狀態。前述管狀零件4,以埋入前述模板零件保持零件1的內部中的狀態,並在排氣吸引孔5與前述抽真空孔2以能夠進行真空保持的方式連通地連接的狀態下,來與前述模板零件保持零件1結合並固定。本第1實施形態中,前述抽真空孔2被設置在模板零件保持表面3的幾乎正中央的一處。這樣構造的模板頭單元當然能夠用於量產,並且要在開發階段中換用各種大小的模板零件13時也很方便。
此外,前述抽真空孔2和排氣吸引孔5的孔的路徑並不一定要如本第1實施形態這樣的直線連接,只要能夠至少獲得與本第1實施形態同等或以上的功效,可為任何形態。例如,亦可為將抽真空的排氣吸引孔5自配管零件的橫方向取出之構造。
若作成上述構成,藉由經由排氣吸引孔5來進行抽真空,由石英玻璃基板6與至少矽氧系橡膠膜7所構成之模板零件的石英玻璃基板表面(第1圖(a)中為石英玻璃基板6的上表面),便可藉由抽真空而被固定並保持於前述模板零件保持表面3。
若使用上述構成的本發明的模板頭單元,由於僅藉由抽真空的ON/OFF動作,便能夠簡便地對在石英玻璃基板6上至少具備矽氧系橡膠膜7之模板零件進行拆裝,因此能夠在短時間內加以更換。此外,模板零件,在石英玻璃基板6與矽氧系橡膠膜7之間亦可包含一層或是複數層的膜。
前述管狀零件4的未與前述模板零件保持零件1結合的一側,被固定在未圖示的微小構造體移載裝置的模板頭可動部上來使用。此時,未圖示的微小構造體移載裝置或是其附屬機器,具備抽真空裝置。
此外,將本發明的模板頭單元的管狀零件4連接並固定至微小構造體移載裝置的模板頭的方法,只要可保證必要的功能與性能則可為任意方法,而若採用筒夾連接方式,則能夠簡便地安裝且容易獲得良好的裝設精確度。前述管狀零件4,以固定在模板零件保持表面3的法線方向上的狀態最為簡便,並且自連接至未圖示的微小構造體移載裝置的模板頭可動部的觀點來看,也是簡便的構造。可構成為:在將本發明的模板頭單元安裝至移載裝置的模板頭可動部上的狀態下,以使矽氧系橡膠膜7的表面相對於配置有微小構造體之供給基板與移送目的地的接收基板形成平行面。
又,所謂矽氧系橡膠膜7,至少是指包含了具有矽氧烷骨架之聚合物的膜、或是包含了具有由矽氧烷骨架與其他聚合物骨架經結合或聚合後而成的骨架之聚合物的膜,並且該等膜為具有硬化後橡膠特性的膜。作為習知的單純材料有聚二甲基矽氧烷(PDMS),但能夠藉由對構造施加各種處理來將橡膠特性最佳化,例如使側鏈的甲基的一部分具有甲基以外的官能基、使具有由矽氧骨架所構成的直鏈、支鏈之構造結合在一起等。將橡膠特性最佳化的手段亦能夠藉由以下方式來進行:將在矽氧烷的末端具備各種官能基之材料加以縮合聚合、或是製造出藉由與其他聚合物進行共聚合來製造的共聚合物。
作為石英玻璃基板6的母材,亦即SiO2 的母材,可使用鈉鈣玻璃(soda-lime glass)、無鹼玻璃、熔融石英玻璃、合成石英玻璃等,由適合本發明的使用目的之高平坦性、高均質性、低熱膨脹係數、高UV(紫外線)透過率的觀點來看,最佳為合成石英玻璃。
此外,鈉鈣玻璃或無鹼玻璃就平坦性這點上便已不合格。又,熔融石英玻璃,雖然若施加與合成石英玻璃同等的研磨的話能夠獲得幾乎同等的平坦性、表面均勻性,但由於原本在內部便含有空洞缺陷,因此有時會發生局部的均勻性缺陷。
合成石英玻璃基板的表面均勻性,平坦度以TTV(總厚度變異)而言約在0.1μm以下,並且藉由在具備厚度均勻性的石英玻璃基板6上以均勻膜厚形成矽氧系橡膠膜7,作為模板零件13(6&7)整體,能夠形成均勻的平面。
石英玻璃基板的厚度,若有以不受到因真空吸附而產生的失真影響的方式來將抽氣側最佳化,則約0.5mm的程度也能夠加以使用。若從作為模板零件13的處理的觀點和機械強度的觀點來加以考量,則較佳為約0.5mm以上。合成石英玻璃基板的膜厚,實用上若有約1mm以上,便不會因真空吸附而產生變形失真。然而,若採用將真空吸附部分散等的方法,則只要有0.5μm以上便不會有問題。
自厚度均勻性與製造成本的觀點來看,石英玻璃基板較佳為使用已經在市面上販售的合成石英玻璃晶圓的規格產品。例如,若要利用半導體用的合成石英玻璃晶圓,則有厚度0.7mm、1.2mm、3mm等複數種厚度的合成石英玻璃基板。又,若要利用遮罩坯料用石英玻璃基板,則有6.35mm的基板等的複數種基板。此外,藉由將上述膜厚的石英玻璃基板進一步加以研磨,可輕易地將膜厚調整成稍薄來使用。在由移載對象也就是微小構造體的大小與數量來決定的模板零件面的短邊在約7mm以上的情況下,若合成石英玻璃基板的膜厚在約7mm以下,則會成為厚度方向相對於面方向的縱橫比在1以下的形狀,而能夠在安裝至模板頭單元時進行穩定的安裝。同樣地,在更小的模板的情況下,能夠以厚度方向相對於面方向的縱橫比在1以下的方式來選擇合成石英玻璃的厚度。
作為模板零件13的尺寸,約數十mm見方~100mm見方程度便可供實用。石英玻璃基板6的實用厚度亦依模板零件13的尺寸(大小、高度)、對於微小構造體的按壓力等而定,因此選擇適合厚度的石英玻璃基板是重要的,可根據需求選擇適合的基板。
接著,對起因於石英玻璃的均質性的合成石英玻璃的低熱膨脹係數的功效加以說明。 要形成矽氧系橡膠膜7,通常是在膜形成後藉由加熱器、紅外線照射等來使其熱硬化,或是進行UV硬化來作成橡膠膜。在熱硬化的情況中,石英玻璃的均質性是重要的。若石英玻璃為均質,則熱膨脹係數在任何場所都固定,熱硬化後的石英玻璃基板與矽氧系橡膠膜的界面的應力失真能夠得到減低。不論在任何橡膠膜化方法中,合成石英玻璃針對該用途都是最適合的。若能夠形成均質的橡膠膜,則只要是平板的矽氧系橡膠膜模板,便能夠減低會根據場所而有所不同的應力失真,因此不論是用矽氧系橡膠膜的哪個位置來抓取微小構造體,都能夠得到均質的初期黏著(tack)力。進而,在後述的形成具有複數個凸型形狀突起之模板的情況下,能夠使凸型形狀突起的位置偏差最小化。這意味著,當連續進行移載動作時,能夠將移載位置偏差抑制在最小的程度。
合成石英玻璃的熱膨脹係數是6.5E-7/℃(0~1000℃),鈉鈣玻璃的熱膨脹係數是約31E-7/℃(0~300℃),無鹼玻璃的熱膨脹係數是約33E-7/℃(20~300℃)。因此,合成石英玻璃相較於其他玻璃具有至少約1/5的熱膨脹係數,因此合成石英玻璃用來作為石英玻璃基板6是最佳的。
使用石英玻璃基板6的另一個理由,是在於能夠對矽氧系橡膠膜進行UV硬化。特別是,合成石英玻璃的光的透過率,針對用於UV硬化的波長約190nm~約400nm的UV光,具有90%以上的透過率。合成石英玻璃基板的UV光透過率和其面內分佈的均勻性,相較於其他石英玻璃是最優異的,即便自石英玻璃基板側照射UV光,也能夠均勻地對矽氧系橡膠膜進行UV硬化。若使用UV硬化,相較於熱硬化,亦可獲得能夠大幅減低因硬化所導致之收縮的優點。如此,若使用合成石英玻璃基板,不論自矽氧系橡膠膜側或是石英玻璃基板側的哪一方,都能夠進行UV硬化。此外,使用於UV硬化的光的最適合波長,嚴格來說根據矽氧系橡膠膜7的材料組成而有所不同,實用上可使用365nm的i射線高壓水銀燈泡、雷射二極體等。
如以上所述,不論是藉由熱硬化、UV硬化的任何一種方法來製作,藉由使用合成石英玻璃基板,相較於其他石英玻璃,皆能夠以高精確度且均勻的方式來製作矽氧系橡膠膜的模板。
作為模板零件保持零件1的材料,可使用SUS(不鏽鋼)、Cu等的金屬。若考慮到要對石英玻璃基板6抽真空,則比起金屬,使用表面較軟的樹脂會更佳。例如,能夠使用聚醯亞胺樹脂、氟素樹脂、聚甲醛等的聚縮醛樹脂、高密度或超高分子聚乙烯樹脂、PEEK(聚二醚酮)樹脂等的所謂工程塑膠或超工程塑膠。
作為管狀零件4的材料,可使用SUS等的金屬。可使用原本就是用來作為管狀配管的剖面為圓形的配管,亦可對圓筒或多邊形的塊狀材料進行鑽孔加工來使用。
此外,本實施形態中,石英玻璃基板是表示出矩形形狀的例子,但亦可為圓形形狀或多邊形形狀。例如,在圓形形狀的石英玻璃基板的情況中,當需要約70mm見方以下的模板面時,只要在4吋(直徑100mm)的石英玻璃基板上將矽氧系橡膠膜形成為所希望的形狀即可。例如,當需要約70mm見方以下~100mm見方以下的模板面時,可將6吋晶圓(直徑150mm)照原有樣態來使用。模板零件保持面亦可配合上述方式而作成圓形或是多邊形形狀。
本發明中,所謂微小構造體,廣義來說是指約數mm以下的微小物體。具體而言,微小構造體的對象有IC晶片、IC和LSI複合構裝起來的1維至3維封裝體、發光二極體(LED)等的由無機或有機半導體所構成的元件、電阻器、電容器、線圈等的電性電路元件,是以通常的晶片接合器無法處理的尺寸的元件作為對象。特別是在LED的情況中,對於數百μm以下尺寸的元件的需求正在增高中。
在前述微小構造體為LED的情況中,在短邊為100μm以上~數百μm的LED,也就是所謂迷你LED的情況中,現在能夠取得高度在100μm至130μm的LED。在短邊未滿100μm甚至50μm以下的所謂微型LED的情況中,將藍寶石基板層除去而成為厚度6μm。在這樣的情況中,模板零件13的與微小構造體接觸的面部的面內偏差,較佳為LED的厚度(高度)的約數倍的程度。 進而,電性、電子電路元件以外的無法直接藉由抽真空來抓取的微小物體,可使用本發明的微小構造體移載裝置來進行任意的移載、組裝,而成為本發明的移載對象也就是微小構造體。
矽氧系橡膠膜的耐久性並非無限,其性能會在數萬次的移載動作之後變差,因此需要進行更換作業。根據先前例子中的說明的計算,每28小時需要更換1次模板零件。在先前技術的情況中,此更換作業本身便耗時,若包含更換後的位置確認、學習作業等的時間在內,對於量產來說會成為很大的時間損失。然而,若使用本發明的模板頭單元,則只要切換對模板零件13(6&7)抽真空的ON/OFF,便能夠簡單地加以更換。
(實施形態2) 第2圖表示本發明的第2實施形態中的模板頭單元200的構成圖。 第2圖中,符號1是模板零件保持零件,符號2是抽真空孔,符號3是模板零件保持表面,符號4是管狀零件,符號5是排氣吸引孔。符號6是石英玻璃基板,符號7是矽氧系橡膠膜,該等構件構成模板零件13。第2圖(a)是模板頭單元的剖面圖,第2圖(b)是從下方觀察第2圖(a)的模板頭單元的平面圖。此外,在第2圖(b)中,為了容易了解真空吸附孔2而未圖示石英玻璃基板6與矽氧系橡膠膜7。
本發明的第2實施形態與本發明的第1實施形態的不同部分在於:抽真空孔2並非一個而是設置了複數個。本發明的第2實施形態中,被分割成與管狀零件4的排氣吸引孔5相連的複數個小型抽真空孔2。第2圖(b)中,是排列成8×6的矩陣狀。這樣利用複數個小型孔洞來對石英玻璃基板6進行抽真空,能夠藉此來防止因抽真空壓力而造成吸引部的石英玻璃基板出現微小變形的情形。抽真空壓力,由於是由未圖示的抽真空裝置的吸力與抽真空孔2的孔洞尺寸所決定的氣導來大致上決定,因此可在不使石英玻璃基板6變形的範圍內將雙方最佳化來使用。 此外,抽真空孔2的數量與排列(布置),可根據所使用的模板零件13(6&7)的尺寸來自由地最佳化。
若如此地使用本發明的第2實施形態的模板頭單元,並藉由將抽真空孔2的大小與排列加以最佳化,則在實用上約0.5mm以上厚度的石英玻璃基板中,能夠在不使石英玻璃基板的抽真空孔位置處的局部微小失真發生的情況下,進行模板零件13的抽真空。又,針對在石英玻璃基板6上至少具備矽氧系橡膠膜7之模板零件13,由於只要藉由抽真空的ON/OFF動作便能夠簡便地拆裝,因此能夠在短時間內簡單地更換模板零件13。又,若以複數個抽真空孔來加以保持,便能夠更穩定地以保持零件來固定並保持模板零件13。
此外,即便石英玻璃基板厚度在0.5mm以下,藉由抽真空孔2的大小與排列的最佳化,也能夠調整成在不使石英玻璃基板的抽真空孔位置處的局部微小失真發生的情況下,進行模板零件13的抽真空。 又,若將抽真空孔2的排列的配置範圍作得稍微較小,在開發階段要換用各種大小的模板零件13時會很方便。
(實施形態3) 第3圖表示本發明的第3實施形態中的模板頭單元300的構成圖。第3圖(a)是模板頭單元的剖面圖,第3圖(b)是從下方觀察第3圖(a)的模板頭單元的平面圖。此外,在第3圖(b)中,未圖示石英玻璃基板6與矽氧系橡膠膜7。
本發明的第3實施形態與本發明的第1實施形態的不同部分在於:第1實施形態的抽真空孔2成為連接在一起的溝槽構造8。 符號3’是模板零件保持表面3的一部分,是因製作溝槽構造8而殘留成島狀的部分。若作成這樣的構造,能夠一邊以模板零件保持表面3與模板零件保持表面3的一部分3’來保持平面度,一邊對石英玻璃基板6進行抽真空。第3圖中溝槽的寬度因圖示方便而畫得較大,但可對溝槽的寬度、溝槽的數量、溝槽的總面積加以設計,以使得能夠得到在進行真空吸附時的吸引壓力,並且即便是0.5mm厚度的石英玻璃基板也不會因抽真空壓力而在吸引溝槽位置處發生微小變形。
若如此地使用本發明的第3實施形態的模板頭單元300,藉由將抽真空孔2的溝槽構造加以最佳化,能夠進行具有用於移載動作所需的足夠吸引力且不會在石英玻璃基板上產生失真的抽真空。又,針對在石英玻璃基板6上至少具備矽氧系橡膠膜7之模板零件13,由於只要藉由抽真空的ON/OFF動作便能夠簡便地拆裝,因此能夠在短時間內簡單地加以更換。又,亦具有能夠穩定地保持模板零件13的優點。
此外,即便石英玻璃基板厚度在0.5mm以下,藉由溝槽構造的最佳化,也能夠調整成在不使石英玻璃基板的抽真空孔位置處的局部微小失真發生的情況下,進行模板零件13的抽真空。
又,若將抽真空孔2的排列的配置尺寸作得稍微較小,在開發階段要換用各種大小的模板零件13時會很方便。
(實施形態4) 第4圖表示本發明的第4實施形態的模板頭單元400的構成圖。第4圖(a)是模板頭單元的剖面圖,第4圖(b)是從下方觀察第4圖(a)的模板頭單元的平面圖。第4圖中,符號9是凸型形狀突起,在本第4實施形態中,表示矽氧系橡膠膜具備凸型形狀突起9的例子。所謂凸型形狀突起,是指與Z軸平行的剖面形狀具有凸型形狀的突起。 符號10是凸構造部,被設置於模板零件保持表面3。 本發明的第4實施形態與本發明的第1實施形態的不同部分在於:具備了凸型形狀突起9之矽氧系橡膠膜7,與模板零件保持表面3的凸構造部10。
以下,針對與第1實施形態不同的部分,說明其功能與功效。 凸構造部10,是用來在X、Y、θ方向上對本發明之實施形態的模板頭單元400與模板零件13進行校準的機構。第4圖中,表示了在X方向與Y方向上形成有凸構造且具有矩形剖面的案例。X、Y方向的凸構造部10以具有正交的側面的狀態來結合。如第4圖(b)所示,若使用矩形形狀的石英玻璃基板6,藉由使石英玻璃基板的頂點對齊凸構造部10的正交部分,便能夠輕易進行X、Y、θ方向上的校準。更實用上,藉由在安裝有本發明之實施形態的模板頭單元400之微小構造體移載機側更加以精細校準,可進行高精確度的調整。
若如此地使用本發明的第4實施形態的模板頭單元400,在模板零件13的安裝中,能夠輕易進行X、Y、θ方向上的初步校準。結果,不僅只要藉由抽真空的ON/OFF動作便能夠簡便地拆裝在石英玻璃基板6上至少具備矽氧系橡膠膜7之模板零件13,還能夠一邊簡單地進行X、Y、θ方向上的初步校準,一邊在短時間內簡便地更換模板零件13。本發明的第4實施形態的模板頭單元400,在要藉由人手來更換模板零件13的情況特別有用。 此外,X方向與Y方向的凸構造部,並不一定要結合在一起,亦可分離開來。
本實施形態中,是表示石英玻璃基板為矩形形狀的例子,但亦可為圓形形狀或多邊形形狀。在圓形形狀的情況下,可將凸構造部10構成為能夠使用石英玻璃晶圓基板的刻面或凹口來進行校準。 此外,凸型形狀部的剖面形狀並不一定要是矩形,但較佳為凸型形狀部9中,至少與石英玻璃基板接觸之面與模板零件保持表面3大約垂直。又,凸型構造部10的高度,可與石英玻璃基板6的高度相同,但較佳為約1/2~2/3的程度。
接著,若使用了具有凸型形狀突起9之矽氧系橡膠膜7,當實際裝設在微小構造體移載機上,要黏接並抓取以微小間隔密集配置的微小構造體時、或是當要將已抓取到的微小構造體再次密集配置時,便能夠消除鄰接的微小構造體與矽氧系橡膠膜7的不必要接觸。
矽氧系橡膠膜7具有凸型形狀突起9,是為了對被配置並固定於供給基板上的LED等的微小構造體進行選擇性黏接、移載。此時,若不作成凸型形狀突起的高度以下的下壓量,會無法實現選擇性的黏接、移載。因此,假設若凸型形狀突起的高度是100μm,則其高度的80%(80μm)或者根據情況是50%(50μm)為該模板零件13的最大下壓可能量。例如,若追加下壓量為5μm~10μm的程度,則合計下壓量可為29μm~34μm,能夠充分對應100μm高度的凸型形狀突起。又,即便是50μm高度的凸型形狀突起也可加以對應。
為了提高模板零件13的下壓量的容許量的另一個方法,是提高突起的高度。又,另一個方法,是縮小模板零件13的與微小構造體黏接之面部的面內偏差(合成石英玻璃與凸型形狀突起的合計膜厚偏差)。當然,對使用者側而言,後者較佳。因此,例如針對6μm高度的LED,可使模板零件13的與微小構造體黏接之面部的面內偏差成為LED高度的2倍的12μm,且若是1倍的6μm則更佳。此外,若是這樣的面內偏差的模板零件13,很明顯的,也能夠對應迷你LED的移載。
此外,所謂模板零件13的與微小構造體黏接之面部的面內偏差,是指前述合成石英玻璃與前述矽氧系橡膠膜的與微小構造體黏接之面部的合計膜厚偏差。又,所謂前述矽氧系橡膠膜7的與微小構造體黏接之面部,是指凸型形狀突起9的面。
在接收基板側的黏接材料被構成為使得凸型形狀突起9與微小構造體的黏接力和接收基板側與微小構造體的黏接力之間能夠有足夠的差距的情況下,為了使凸型形狀突起9更穩定地抓取微小構造體,較佳為使凸型形狀突起9的與微小構造體接觸之面(接觸面)被形成為比微小構造體稍微大一點的尺寸。例如,若微小構造體的上表面尺寸作成約10μm~100μm,則凸型形狀突起9的接觸面,可在任意方向上將寬度設計成皆至少比微小構造體的寬度大上10%程度以上。此外,較佳是大於移載裝置的模板頭單元移動精確度。
凸型形狀突起9的高度依微小構造體的大小而定,可在微小構造體的高度的約數倍~約15倍程度中調整至最適合的高度。例如若微小構造體的高度是約6μm的高度,則凸型形狀突起9的高度可作成約12μm~約100μm。此外,凸型形狀突起以外的矽氧系橡膠膜7部分的膜厚,可對應於所使用的矽氧系橡膠膜的材料特性與微小構造體的大小來加以最佳化。 此外,凸型形狀突起9的與微小構造體的接觸面可為大致平坦的面。
然而,當微小構造體較大時,在能夠獲得足夠的凸型形狀突起9與微小構造體的黏接力的情況下,亦可使凸型形狀突起的黏接面被構成為小於微小構造體的面。 此外,本第4實施形態中,是將模板零件更換時的校準用的凸構造10與凸型形狀突起9整合在一個圖中來作為實施形態,但凸構造部10與凸型形狀突起9的功效是分別獨立作用並發揮功能。
(實施形態5) 第5圖表示本發明的第5實施形態中的模板頭單元500的構成圖。第5圖(a)是模板頭單元的剖面圖,第5圖(b)是從下方觀察第5圖(a)的模板頭單元的平面圖。符號6’是刻面,當自上方觀察第5圖(b)時,被設置在石英玻璃基板6的矩形面的左上頂點。
本發明的第5實施形態與第4實施形態的差異僅在於有無刻面。只要將刻面6’的位置如第5圖(b)的方式來加以對齊,在θ方向的旋轉對象的方向上便不會發生安裝錯誤。其結果,更換作業更進一步提高效率。
此外,本實施形態中,是表示石英玻璃基板為矩形形狀的例子,但亦可為圓形形狀或多邊形形狀。特別在圓形形狀的情況中,可將凸構造部10構成為能夠使用石英玻璃晶圓基板的刻面或凹口來進行校準。
(實施形態6:移載裝置) 第6圖是本發明的第6實施形態中的微小構造體移載裝置110的動作部分的概略構成圖。第6圖(a)表示藉由人手來更換模板零件13時的概略構成圖,第6圖(b)表示移載裝置自動更換模板零件13時的概略構成圖。
第6圖中,符號11是模板頭可動部。符號12是由模板零件保持零件1與管狀零件4所構成的模板零件保持部,符號13是由石英玻璃基板6與至少矽氧系橡膠膜7所構成的模板零件13,該等構件作為整體來表示本發明的模板頭單元。模板零件保持部12,連接至模板頭可動部。符號14是微小構造體,符號15是供給微小構造體之供給基板,符號16是供給基板平台。微小構造體14被配置在供給基板15上且被暫時固定。符號17是接收基板,符號18是接收基板平台。符號19是模板零件更換平台,符號20是模板零件保持器。此外,作為未圖示的微小構造體移載裝置或是其附屬機器而具備抽真空裝置。真空配管被連接至模板零件保持部12,且成為可切換真空排氣的ON/OFF的構成。
第6圖僅為說明基本動作的概略圖,且僅圖示出最小限的構成要素。使用第6圖,簡單說明微小構造體的移載動作。 使用第6圖(a),說明藉由人手來更換模板零件13的情況。 第6圖中的(#),#=1、2、3…,表示動作的序列編號。
首先,(1)將模板頭可動部11移動至模板零件交換位置A,藉由人手將模板零件13拿到模板零件保持部12上,並將真空切成ON來裝設並固定。(2)將模板頭可動部11移動至供給基板平台16所在位置B的所希望的位置。(3)使模板頭可動部11下降,將模板零件13壓到被配置且暫時固定於供給基板15上的所希望的微小構造體14上。(4)以模板零件13來抓取微小構造體14,並使模板頭可動部11上昇。(5)保持該狀態,並將模板頭可動部11移動至接收基板平台18所在位置C。(6)使模板頭可動部11下降,將微小構造體14壓到接收基板17上的所希望的位置處。(7)使接收基板17接收微小構造體14,並使模板頭可動部11上昇。(8)將模板頭可動部11移回位置B。反覆進行(3)~(8)的一連串微小構造體移載動作,以完成所希望的移載動作。
移載動作(4)中,為了自供給基板15黏接並抓取微小構造體14,可設定成使模板零件13的矽氧系橡膠膜的黏接力,亦即「黏著力+初期黏著力」比暫時固定有微小構造體14的供給基板表面的黏接強度更強的狀態。又,移載動作(7)中,為了使接收基板17接收微小構造體14,可設定成使接收基板表面的黏接強度比模板零件13的矽氧系橡膠膜的黏接力更強。此外,雖然可如此僅藉由黏接力來進行使用模板的移載動作,但是亦可使用其他方法,例如自供給基板背面對供給基板15的表面與微小構造體14的界面照射雷射光,破壞供給基板15的最外表面層的組成,以選擇性消除供給基板表面的黏接力的方法等。
如上述,隨著移載動作的次數累積,模板的黏著力與初期黏著力遲早會降低到低於移載動作所需的黏著力。因此,在到達模板的黏接力的壽命極限之前,(9)將模板頭可動部11移動至模板零件更換位置,將真空切成OFF並以手動取下已使用完畢的模板零件13。然後,藉由動作(1)安裝上新的模板零件13,並進行下個移載動作。此時,若使用本發明的模板頭單元,如上述說明過的,僅藉由真空的ON/OFF便可簡單加以更換,可達成短時間的模板零件13的更換。此外,若使用本發明的實施形態4所示的模板頭單元,即便是以人手來安裝也能每次皆以相當高的精確度來實現X、Y、θ方向的初步校準。
接著,使用第6圖(b)來說明移載裝置自動更換模板零件13的情況。 與第6圖(a)的手動情況的差異在於:第6圖(b)的動作(11)與(12)的部分。模板零件13的自動更換動作,能夠如以下來執行。
模板零件的裝設動作:(11)將模板頭可動部11移動至模板零件更換位置A後,使模板頭可動部11下降。在已將模板頭可動部11移動至使得模板零件保持部12的模板零件保持零件1的表面盡可能接近但不接觸模板零件13的石英玻璃基板表面的狀態下,若將真空切至ON,則模板零件13被抽真空吸上且固定於模板零件保持部12的模板零件保持零件1的表面。然後,(12)使模板頭可動部11上昇。如此,能夠實現模板零件13的自動更換作業。此外,模板零件13,能夠以石英玻璃基板表面朝上的方式,事先保持在模板零件更換平台19上的模板零件保持器20上。
使用後的模板零件的脫離動作:要對使用後的模板零件13,自裝設在模板零件保持部12的狀態進行模板更換動作時,是將模板頭可動部11移動至未圖示的位置A、B、C以外的另外設置的廢棄場所,然後若將真空切成OFF,便能夠卸下並除去模板零件13。此時,在卸下模板後,對模板零件保持零件的表面進行利用乙醇等的濕洗淨或是乾燥空氣或乾燥氮氣的乾洗淨會更佳。
裝設模板零件13時,使模板零件13接近模板零件保持部12的動作,藉由如以下所述的2步驟動作來進行會更佳。 (第1步驟)使模板零件保持部12大幅下降的粗略動作。 (第2步驟)將模板頭可動部11移動至使得模板零件保持零件1的表面盡可能接近但不接觸模板零件13的石英玻璃基板表面的狀態之高精確度移動動作。
若如此,能夠防止對模板零件13的意外接觸或模板零件13的破損,而提高安全性。又,第2步驟的高精確度移動動作,可在模板頭可動部11側進行,但亦可在模板零件更換平台19側進行。又,為了實現更高精確度的接近動作,較佳為具備感測器來量測模板零件保持零件的表面與模板零件13的石英玻璃基板表面的距離。例如,可使用電容量感測器、雷射感測器、影像感測器等,其中該雷射感測器是藉由通過前述兩表面的間隙的雷射的遮斷狀況來觀測接近狀態。
若使用如上述構成的微小構造體移載裝置110來移載作為微小構造體的LED,便能夠製造LED顯示器面板。亦即,使用本發明的微小構造體移載裝置,以使LED成為顯示器的像素位置的方式將所希望的LED移載至接收基板上並加以配置固定,藉此便能夠製造顯示器的全像素或一部分像素區域的顯示器面板。若取代LED而藉由本發明的微小構造體移載方法來移載IC晶片、IC和LSI複合構裝起來的1維至3維封裝體、由無機或有機半導體所構成的各種功能元件、電阻器、電容器、線圈等的電性電路元件、各種微小感測器元件等的微小構造體,便能夠製造將該等各種功能元件組合起來的新產品。
(實施形態7) 第7圖是本發明的第7實施形態中的具備校準標記之模板零件的說明圖。
第7圖(a)是第1案例的模板零件13的剖面圖。第7圖(b)是從下方觀察第1案例的模板零件13的平面圖。第7圖(c)是第2案例的模板零件13的剖面圖。第7圖(d)是從下方觀察第2案例的模板零件13的平面圖。第7圖(e)表示校準標記圖案的形狀例。
第7圖中,符號21是石英玻璃基板,符號22是矽氧系橡膠膜。符號23是形成於矽氧系橡膠膜表面的凸型形狀突起,是用來移載微小構造體之模板部位。符號25表示排列凸型形狀突起(模板部位)23的區域。第7圖(a)的符號24是形成於矽氧系橡膠膜22表面的凸型形狀突起,並且是校準標記圖案。第7圖(c)、(d)的符號26是形成於矽氧系橡膠膜22內部的凹形狀溝槽,並且是校準標記圖案。
第7圖的(a)與(b),表示第1案例,其中凸型的校準標記被形成在對角線(以單點鏈線來表示)上。校準標記圖案24,被形成在排列有凸型形狀突起23之區域25的外側。在使用凸型形狀的校準標記的情況下,校準標記24的凸型形狀突起的高度,較佳為作成比模板區域25的凸型形狀突起的高度更低。該差距需要大於凸型形狀突起23接觸微小構造體的上部後更往下壓的距離。此外,本案例中是使用圓型形狀的校準標記圖案,但亦可為矩形或十字形,只要是識別校準標記圖案的裝置能夠正確讀取位置資訊的形狀則可為任何形狀。
第7圖的(c)與(d),表示第2案例,其中凹型狀溝槽的校準標記圖案26被形成在正交十字線(以單點鏈線來表示)上。在此情況下,校準標記圖案26也是被形成在排列有凸型形狀突起23之區域25的外側。此外,本案例中是使用正方型形狀的校準標記圖案,但亦可為圓形、長方形形或十字形,只要是識別校準標記圖案的裝置能夠正確讀取位置資訊的形狀則可為任何形狀。
如第7圖(e)所示,校準標記的形狀,可使用圓形形狀27、正方形形狀28、十字形狀29等。校準標記圖案25的大小,只要配合要對其進行檢測的系統的性能即可。例如若是影像識別,則約100μm程度的大小即能夠以足夠高精準度的方式來加以識別。
此外,校準標記位置不一定要配置在對角線上或十字線上,只要知道各者的位置座標,便能夠以移載裝置的電腦處理來加以對應。絕對位置,可決定裝置的特定場所,並在動作前決定原點位置。又,由於最少有2個校準標記便可進行模板零件13的X、Y、θ方向的校準,因此校準標記的數量至少要有2處以上。此外,為了提高校準精確度,校準標記較佳為配置在盡量彼此遠離的場所。
若將裝設有該模板零件13之本發明的模板頭單元,搭載在前述校準標記圖案微小構造體移載裝置上來使用,則模板零件13的校準標記的位置資訊與供給基板上的校準標記的位置識別資訊協同動作,便可進行凸型形狀突起23與供給基板上的微小構造體的位置對齊。同樣地,模板零件13的校準標記的位置資訊與接收基板上的校準標記的位置識別資訊協同動作,便可進行模板部位23與接收基板上的微小構造體的位置對齊。又,如第6圖(b),當藉由微小構造體移載裝置來自動更換模板零件13時,藉由利用前記校準標記,便能夠每次皆將模板零件13安裝至模板零件保持部12(嚴格來說,是模板零件保持零件1的模板零件保持表面3)的幾乎相同場所。
如此,若在微小構造體移載裝置110中使用具備模板零件13之模板頭單元,且該模板零件13在矽氧系橡膠膜22上具備校準標記,便能夠高精確度地進行微小構造體的移載。 如以上所述,藉由搭載本發明的模板頭單元,且其中使用了本發明的帶有校準標記之模板零件,便可實現具備高位置精確度的微小構造體移載裝置。
移載裝置若是專用裝置則最佳,但只要至少具備以下構成的裝置即可:供給平台、接收平台、可在X、Y、Z、θ(以Z軸為主軸的旋轉座標)上進行移動動作的模板頭、安裝在模板頭上的模板頭單元、用來對模板零件13抽真空的抽真空機構、校準標記識別裝置與模板頭移載控制裝置。例如,可為將如使用於器件構裝的覆晶接合器的接合器加以改良過的裝置。
(實施形態8) 第8圖是本發明的第8實施形態中的模板零件13的剖面圖。第8圖中,符號31是石英玻璃基板,符號32和33是矽氧系橡膠膜。符號34、35、36及37是形成在矽氧系橡膠膜表面的凸型形狀突起,該等突起也是矽氧系橡膠膜的一部分。
第8圖(a),表示平板的模板零件13的剖面圖。在此情況下,較佳為自石英玻璃基板31至矽氧系橡膠膜32的表面為止的距離在面內為高精確度地恆定。該精確度依移載對象也就是微小構造體的高度而定,較佳為至少在微小構造體的高度程度以下。若是微小構造體的高度的一半以下則更佳。例如,在大小為50μm以下的LED的情況下,高度為6μm~10μm程度。在高度6μm的LED的情況下,若將模板的壓下量想定為LED的高度的2倍程度,則石英玻璃基板31與矽氧系橡膠膜32的厚度加起來的整體厚度偏差(以下,稱為模板整體的厚度偏差)至少必須在6μm以下。若針對石英玻璃基板31使用合成石英玻璃,由於其厚度精確度以TTV而言在1μm以下,因此矽氧系橡膠膜32的厚度偏差必須在5μm以下。因此,模板整體的厚度偏差,若為前述LED的厚度(6μm)的一半亦即3μm(TTV)則更佳。
如此,藉由在平坦的石英玻璃基板31上形成平坦的矽氧系橡膠膜32,不僅針對微小構造體為1個的情況,對於2個以上複數的情況,甚至1萬個或是3萬個的數量的微小構造體也能夠一次加以移送。
第8圖(b),表示在矽氧系橡膠膜33的表面上具備1個凸型形狀突起34之模板零件13的剖面圖。該模板,用於自密集配置在供給基板上的微小構造體中選擇任意1個微小構造體,並移載至接收基板的所希望的位置。不僅當然可用於移載一個一個微小構造體的情況,例如在微小構造體是LED等電子、電性零件的情況下,也能夠用於修復接收基板上的不良地點。關於凸型形狀突起34的黏接面尺寸,以下表示其中一種想法。若作為微小構造體的黏接面尺寸的短邊在約100μm以下,甚至在50μm以下,則凸型形狀突起34的黏接面的大小較佳為作成至少在單側比微小構造體大上約5%(兩側為10%)程度以上的尺寸。若作成這樣的形態,便能夠穩定獲得黏接力。針對短邊在約100μm以上的黏接面尺寸的微小構造體,可與上述同樣地將凸型形狀突起34的黏接面尺寸作成比微小構造體的黏接面尺寸稍大,但將凸型形狀突起34的黏接面尺寸作成比微小構造體的黏接面尺寸小也能夠進行移載動作。
凸型形狀突起34的高度,亦依矽氧系橡膠膜的膜質而定,但可為微小構造體的高度的約數倍~約5倍程度以上。然而,最適合的凸型形狀突起34的尺寸,嚴格來說會被矽氧系橡膠膜的特性與移載對象也就是微小構造體的大小、形狀、材質等所大幅影響到,因此最終應該要藉由實際的動作確認來加以最佳化。
此外,第8圖(b)中是表示凸型形狀突起34的剖面形狀為矩形形狀的例子,但不一定要是矩形。
第8圖(c),表示在矽氧系橡膠膜的表面上具備1個二段式的凸型形狀突起35的模板零件13的剖面圖。因此,其用途與第8圖(b)的情況相同。將僅具有一個凸型形狀突起34之模板用於實際的移載動作時,由於在供給基板和接收基板中,模板頭的壓下負載施加在凸型形狀突起34的一點上,因此有時會產生凸型形狀突起34的壽命降低的問題。例如,在微小構造體的大小為例如約100μm以上這樣比較大的情況下,以第8圖(b)的凸型形狀突起34便能夠充分對應,但要移載100μm以下的微小構造體時,較佳是將凸型形狀突起的形狀作成如第8圖(c)所示的二段式的凸型形狀突起35。又,在此時,藉由將第2段的剖面形狀作成梯形,能夠提高要反覆使用於移載動作時的耐久性,而延長凸型形狀突起的壽命。梯形形狀可為等腰梯形。要移載至接收基板上並取下前述凸型形狀突起時,有時使用非等腰的形態會比較容易取下。
第8圖(d),表示在矽氧系橡膠膜的表面上具備2個以上的複數個凸型形狀突起34之模板零件13的剖面圖。若作成這樣的形態,便能夠一次移載與凸型形狀突起34的位置對應的複數個微小構造體。關於凸型形狀突起34的大小,基本上以與第8圖(b)相同的想法來設計即可,但最適合的凸型形狀突起34的尺寸,嚴格來說會被矽氧系橡膠膜的特性與移載對象也就是微小構造體的大小、形狀、材質等所大幅影響到,因此最終應該要藉由實際的動作確認來加以最佳化。若複數個前述凸型形狀突起34是構成為根據移載目的地的任意的所希望的排列方式來作1維配列或2維配列,並且供給基板上的微小構造體也以能夠對應前述1維或2維配列來取出的方式來加以配置構成,便能夠一次移載與凸型形狀突起34的位置對應的複數個微小構造體,並且以所希望的排列方式來移載微小構造體。
若前述移載目的地的任意的所希望的排列方式的至少一部分,是根據一定的節距規則性而被1維配列或2維配列,則該部分便能夠一次移載一定節距的1維配列或2維配列的複數個微小構造體。
若前述的一定節距被構成為顯示器的像素節距的整數倍,便能夠將微小構造體移載至遠離該整數倍距離的像素。此時,若微小構造體是LED元件,便能夠製作LED顯示器。
在供給基板側已經根據LED顯示器的像素節距配置有R(紅)、G(綠)、B(藍)的各LED的情況下,藉由使用所具備的凸型形狀突起34與像素節距與RGB的各LED的配置位置對應的模板零件13,便能夠一口氣移載至接收基板也就是顯示器面板基板。此外,亦可將凸型形狀突起形成為藉由一個凸面來移載以像素為單位的RGB的LED。又,在此情況下,使用所具備的矽氧系橡膠膜為不具有凸型形狀突起的平板狀矽氧系橡膠膜之模板零件13,也能夠進行移載。
在以顯示器節距來移載RGB中的其中1色的LED的情況下,可使用一種其凸型形狀突起構成為節距的整數倍之模板零件13,並自R-LED、G-LED、B-LED各個基板分成三次來進行移載作業。若是1倍節距,便能將一定程度的複數個像素區域一起加以移載。在朝一方向以N(N≧2)倍節距來形成凸型形狀突起的情況下,藉由一邊朝一方向平移(N-1)次節距一邊進行移載,便能夠完成LED顯示器的像素面。
前述整數為1時,便是顯示器的像素節距本身,藉由將至少R(紅)、G(綠)、B(藍)的三原色的LED錯開約LED的尺寸大小+裕度大小來進行移載,便能夠製作RGB-LED顯示器。即便前述整數為2以上,由於能夠移載至顯示器像素節距上,因此能夠組裝出LED顯示器面板。
此外,在使用量子點等的波長轉換材料,自藍光LED取出紅、綠光的情況下,只要將藍光LED移載至與R、G、B相當的位置即可。
又,在第8圖(d)中表示了凸型形狀突起的剖面形狀為矩形形狀的例子,但不一定要是矩形。
第8圖(e),表示在矽氧系橡膠膜的表面上具備2個以上的複數個剖面形狀為梯形的凸型形狀突起36之模板零件13的剖面圖。如此,若凸型形狀突起36的剖面被形成為梯形形狀,能夠增大凸型形狀突起36的耐久性,而增大能夠以一個模板零件13來實現的移載次數。亦即,能夠延長一個模板零件的使用壽命。此外,梯形形狀可為等腰梯形。要移載至接收基板上並取下前述凸型形狀突起36時,有時使用非等腰的形態會比較容易取下。
第8圖(f),表示在矽氧系橡膠膜的表面上具備2個以上的複數個二段式的凸型形狀突起37之模板零件13的剖面圖。若如此構成,即便在供給基板上以更窄的節距來配置微小構造體的情況下,也能夠以不接觸相鄰晶片的方式確實地黏接並抓取目標晶片。此外,前端部的剖面形狀亦可為梯形。
(實施形態9) 第9圖是本發明的第9實施形態中的用來一次移載複數種微小構造體的模板零件13的剖面圖。
第9圖中,符號41是石英玻璃基板,符號42是矽氧系橡膠膜。符號43~46是形成於矽氧系橡膠膜表面的凸型形狀突起,該等突起也是矽氧系橡膠膜的一部分。
第9圖(a)中,形成在矽氧系橡膠膜42表面的中央部的一塊凸型形狀突起43表示用於移載微小構造體之模板面。凸型形狀突起44被形成在矽氧系橡膠膜的周邊部,表示用於移載比前述微小構造體更大的微小構造體之模板面。若作成這樣的構成,例如在供給基板側能夠以將LED元件配置在中央部分,並將LED驅動元件配置在周邊部的狀態來準備元件,並且一口氣移載兩種元件。
第9圖(b)中,形成在矽氧系橡膠膜42表面的中央部的複數個小型的凸型形狀突起45表示用於移載微小構造體之模板面。凸型形狀突起46被形成在矽氧系橡膠膜的周邊部,表示用於移載比前述微小構造體更大的微小構造體之模板面。在此情況下,也能夠一口氣移載兩種不同高度的微小構造體。
此外,凸型形狀突起的與微小構造體黏接的面,可為矩形、圓形、楕圓形、多邊形或是非對稱的形狀,可最佳化為針對移載對象的微小構造體最能有效發生矽氧系橡膠膜的黏接力的形狀來加以使用。
若將以上的本發明的模板零件組裝進本發明的模板頭單元來使用,由於能夠非常簡單地進行模板零件更換,能夠大幅縮短移載裝置的停歇時間。又,藉由根據用途而分別使用第8圖至第9圖所述的模板零件,能夠進行效率良好的微小構造體移載。
如第1實施形態的說明中所述,針對石英玻璃基板,最佳是使用合成石英玻璃。藉由使用合成石英玻璃基板,由於能夠得到石英玻璃基板的平坦性(約1μm以下),因此能夠得到包含矽氧系橡膠膜在內的整體的平坦性。由於合成石英玻璃相較於其他石英玻璃或玻璃特別均質,並且為低熱膨脹係數(其他石英玻璃的約1/5以下),當形成矽氧系橡膠膜時能夠實現利用熱硬化的均質橡膠化處理。又,實際使用於連續移載動作時,也能夠大幅抑制因熱漂移所導致的微小構造體的位置失真。此外,在藉由UV硬化進行橡膠化處理而形成矽氧系橡膠膜的情況下,在190nm~400nm為止的波長區中,也具有90%以上的高透過率,因此能形成扭曲最少的矽氧系橡膠膜。特別是,要製作具有凸型形狀突起之矽氧系橡膠膜時,能夠使凸型形狀突起的UV硬化失真最小化。
前述矽氧系橡膠膜和附帶的凸型形狀的製造,可藉由射出成型法來製造,但考慮到量產性,較佳為藉由壓印法來製造。
又,在射出成型法、壓印法的任一種方法中,皆可藉由熱硬化來製造矽氧系橡膠膜,但為了減低成膜後的應力失真,相較於熱硬化,較佳為藉由UV硬化來加以製造。
(實施形態10) 第10圖是本發明的第10實施形態中的帶電防止模板零件(抗靜電模板零件)的構成圖。 第10圖(a)是模板零件13的剖面圖,第10圖(b)是從上方觀察第10圖(a)的模板頭單元的俯視圖。第10圖中,符號51是石英玻璃基板,符號53是矽氧系橡膠膜。符號52是形成於石英玻璃基板51與矽氧系橡膠膜53之間的導電性膜,導電性膜覆蓋石英玻璃基板中的直到端部為止的整個面。
實際的移載裝置中,用一個模板以高速動作反覆進行2萬次或更多次的移載動作的情況下,模板頭單元本身會在裝置中發生亂流,而因與空氣的摩擦而使石英玻璃基板表面容易帶電。特別是,電荷容易集中於石英玻璃的邊部(尖邊)或頂點部(尖點)。因亂流而發生的懸浮帶電粒子有可能附著至前述石英玻璃表面和端面,並且被輸送至供給基板或接收基板上然後落下。為了防止這種情形,在石英玻璃表面形成導電性膜52使其無法帶電是有效的。
針對前述導電性膜52,可使用含有導電性材料之膜。前述導電性材料,可藉由包含以下至少其中一種的狀態來加以使用:碳黑、碳填充劑、碳奈米線、碳奈米管、石墨烯等的碳系導電材料、鹼金屬或鹼土金屬的鹽、離子液體。若作成這樣的形態,可藉由調整添加量來任意調整前述導電性膜的導電率。此外,可混合複數種前述導電材料來使用。
作為鹼金屬或鹼土金屬的鹽,例如可舉出:鋰、納、鉀等的鹼金屬的鹽;鈣、鋇等的鹼土金屬的鹽等。作為該等鹽的具體例,可舉出:LiClO4 、LiCF3 SO3 、LiN(CF3 SO2 )2 、LiAsF6 、LiCl、NaSCN、KSCN、NaCl、NaI、KI等的鹼金屬鹽;Ca(ClO4 )2 、Ba(ClO4 )2 等的鹼土金屬鹽等。由低電阻值與溶解度的觀點來看,較佳為LiClO4 、LiCF3 SO3 、LiN(CF3 SO2 )2 、LiAsF6 、LiCl等的鋰鹽,且特佳為LiCF3 SO3 、LiN(CF3 SO2 )2
所謂離子液體,是指在室溫(25℃)中為液體的熔融鹽,又稱為常溫熔融鹽,特別是指熔點在50℃以下者。較佳為熔點在-100℃~30℃者,更佳為熔點在-50℃~20℃者。這樣的離子液體,具有以下特性:無蒸氣壓(非揮發性)、高耐熱性、不燃性、化學穩定性等。 離子液體,可舉出由四級銨陽離子與陰離子所構成的液體。該四級銨陽離子,是咪唑離子、吡啶陽離子或是由R4 N+ [其中,R是彼此獨立地為氫或碳原子數1~20的有機基]的化學式來表示的陽離子中的任一種形態。
作為前述以R來表示的有機基的具體例,可舉出碳原子數1~20的一價烴基、烷氧基等,更具體而言,可舉出甲基、戊基、己基、庚基等的烷基;苯基、甲苯基、二甲苯基、萘基等的芳基;二苯甲醯基、苯乙基等的芳烷基;環戊基、環己基、環辛基等的環烷基;乙氧乙基(-CH2 CH2 OCH2 CH3 )等的烷氧基烷基等。此外,亦可將以R來表示的有機基中的2個結合起來形成環形構造,在此情況下2個R會一起形成2價的有機基。該2價有機基的骨架,可僅由碳來構成,亦可在其中含有氧原子、氮原子等的雜原子。具體而言,例如可舉出:2價烴基[例如碳原子數3~10的伸烷基],其化學式為:-(CH2 )c -O-(CH2 )d -[該式中,c為1~5的整數,d為1~5的整數,c+d為4~10的整數]等。
作為以前述R4 N+ 來表示的陽離子的具體例,可舉出:甲基三正辛銨陽離子、乙氧乙基甲基吡咯烷陽離子、乙氧乙基甲基嗎啉陽離子等。
作為前述陰離子,並未特別加以限制,例如較佳為:AlCl4 ,Al3 C18 、Al2 C17 、ClO4 、PF6 、BF4 、CF3 SO3 、(CF3 SO2 )2 N 、(CF3 SO2 )3 C ,其中更佳為PF6 、BF4 、CF3 SO3 、(CF3 SO2 )2 N 。 前述導電性材料,可單獨使用1種,亦可組合2種以上來使用。
亦可使用導電性聚合物作為前述導電性材料來構成導電性膜52。若作成這樣的形態,可藉由調整導電性聚合物的添加量來任意調整前述導電性膜的導電率。導電性聚合物,可使用聚噻吩系的PEDOT/PSS(聚二氧乙基噻吩-聚苯乙烯磺酸複合物)、聚苯胺系的聚苯胺磺酸等。此外,不限於前述導電性聚合物,亦可使用其他導電性聚合物。又,亦可將導電性聚合物與碳系導電材料、鹼金屬鹽、鹼土金屬鹽、離子液體中至少任意一種組合來使用。
前述導電膜52亦可由導電性矽氧系橡膠膜來構成。前述導電性矽氧系橡膠膜可包含前述導電性材料。
亦可在前述石英玻璃基板表面整體上,以在前述石英玻璃基板與前述矽氧系橡膠膜之間且完全覆蓋前述石英玻璃基板表面的方式,來形成導電性比前述矽氧系橡膠膜更高的導電性膜。若作成這樣的形態,即便在前述矽氧系橡膠膜的表面積比前述石英玻璃基板更小的情況下,也能夠使模板的表面整體成為導電性。又,即便在前述矽氧系橡膠膜與前述石英玻璃基板的表面積相同的情況下,藉由具有導電性比前述矽氧系橡膠膜更高的導電性膜,能夠防止電荷特別容易集中的石英玻璃表面端部的帶電,因此能夠減低懸浮於模板零件周邊的帶電顆粒附著於模板零件13上的情形。
前述導電膜52的表面電阻,只要具有可發揮帶電防止功效的片電阻1E9~1E14Ω/sq.即可。較佳為會出現靜電擴散(消散)功效的片電阻1E5~1E9Ω/sq.。更佳為呈現導電性的1E5Ω/sq.以下。
第11圖是本發明的第10實施形態中的帶電防止模板零件的另一構成圖。 第11圖(a)是模板零件13的剖面圖,第11圖(b)是從上方觀察第11圖(a)的模板頭單元的俯視圖。第11圖與第10圖的唯一差異點在於:在矽氧系橡膠膜54上形成有凸型形狀突起55。凸型形狀的形狀可使用如第8圖和第9圖所說明過的形狀,並可根據被移載的微小構造體的形狀或大小來加以最佳化。
(實施形態11) 第12圖是本發明的第11實施形態中的帶電防止模板零件的剖面圖。 第12圖中,符號51是石英玻璃基板,符號56是導電性矽氧系橡膠膜。
第12圖(a)作成在石英玻璃基板51上形成有導電性矽氧系橡膠膜56之構造。如此,藉由對矽氧系橡膠膜本身附加導電性,並構成為具有帶電防止功效、靜電擴散(消散)功效或導電性,便能夠防止懸浮帶電粒子附著至模板部的矽氧系橡膠膜。
第12圖(b)表示導電性矽氧系橡膠膜56覆蓋住石英玻璃基板51的全部表面之模板零件13,其中包含了在第12圖(a)中的導電性矽氧系橡膠膜56未覆蓋到的石英玻璃基板51周邊部在內。若作成如此形態,由於沒有石英玻璃的露出部,能夠防止懸浮帶電粒子附著至模板零件表面的整體上。 第12圖(c)表示以導電性膜52覆蓋石英玻璃基板51的全部表面,並且進一步在其上形成稍小的導電性矽氧系橡膠膜56之模板零件13。在這樣的構成中,由於也沒有石英玻璃的露出部,因此能夠防止懸浮帶電粒子附著至模板零件表面的整體上。
針對前述導電性矽氧系橡膠膜56,可使用包含導電性材料之膜。前述導電性矽氧系橡膠膜56中所含的導電性材料,可藉由包含以下至少其中一種的狀態來加以使用:碳黑、碳填充劑、碳奈米線、碳奈米管、石墨烯等的碳系導電材料;鹼金屬或鹼土金屬的鹽;離子液體。若作成這樣的形態,可藉由調整添加量來任意調整前述導電性矽氧系橡膠膜56的導電率。此外,可混合複數種前述導電材料來使用。
關於鹼金屬鹽、鹼土金屬鹽、離子液體,如先前所述。
作為前述導電性矽氧系橡膠膜56中所含的導電性材料,亦可使用導電性聚合物。若作成這樣的形態,可藉由調整導電性聚合物的添加量來任意調整前述導電性矽氧系橡膠膜的導電率。導電性聚合物,可使用聚噻吩系的PEDOT/PSS、聚苯胺系的聚苯胺磺酸等。此外,不限於前述導電性聚合物,亦可使用其他導電性聚合物。又,亦可將導電性聚合物與碳系導電材料、鹼金屬鹽、鹼土金屬鹽、離子液體中至少任意一種組合來使用。
前述導電性矽氧系橡膠膜56的表面電阻,只要是具有可發揮帶電防止功效的片電阻1E9~1E14Ω/sq.即可。較佳為會出現靜電擴散(消散)功效的片電阻1E5~1E9Ω/sq.。更佳為呈現導電性的1E5Ω/sq.以下。
第13圖是本發明的第11實施形態中的帶電防止模板零件的另一剖面圖。 第13圖與第12圖的唯一差異點在於:在導電性矽氧系橡膠膜57上形成有凸型形狀突起58。此外,凸型形狀的形狀可使用如第8圖和第9圖所說明過的形狀,並可根據被移載的微小構造體的形狀或大小來加以最佳化。
此外,本發明的微小構造體移載裝置的移載對象,包含但不限於以下微小構造體:有機或無機LED、半導體雷射、IC晶片、將IC和LSI複合構裝的1維至3維封裝體、由無機或有機半導體所構成的各種功能元件、電阻器、電容器、線圈等的電性電路元件、各種微小感測器元件、MEMS(微機電系統)的各種功能元件和感測器等。若藉由本發明的微小構造體移載方法來移載該等微小構造體,便能夠製造將該等各種功能元件組合起來的新功能產品,亦即微小構造體積體產品。
本發明並不限定於上述實施形態。上述實施形態僅為例示,任何與本發明的申請專利範圍所述之技術性思想在實質上具有相同構成,且發揮同樣作用功效者,皆包含在本發明的技術範圍內。
1:模板零件保持零件 2:抽真空孔 3:模板零件保持表面 3’:模板零件保持表面的一部分 4:管狀零件 5:排氣吸引孔 6:石英玻璃基板 6’:刻面 7:矽氧系橡膠膜 8:溝槽結構 9:凸型形狀突起 10:凸結構部 11:模板頭可動部 12:模板零件保持部 13:模板零件 14:微小構造體 15:供給基板 16:供給基板平台 17:接收基板 18:接收基板平台 19:模板零件交換平台 20:模板零件保持器 21:石英玻璃基板 22:矽氧系橡膠膜 23:凸型形狀突起 24:凸型形狀突起 25:區域 26:凹形狀溝槽 27:圓形形狀(校準標記) 28:正方形形狀(校準標記) 29:十字形狀(校準標記) 31:石英玻璃基板 32:矽氧系橡膠膜 33:矽氧系橡膠膜 34~37:凸型形狀突起 41:石英玻璃基板 42:矽氧系橡膠膜 43~46:凸型形狀突起 51:石英玻璃基板 52:導電性膜 53:矽氧系橡膠膜 54:矽氧系橡膠膜 55:凸型形狀突起 56:矽氧系橡膠膜 57:矽氧系橡膠膜 58:凸型形狀突起 100:模板頭單元 110:模板頭單元 200:模板頭單元 300:模板頭單元 400:模板頭單元 500:模板頭單元
第1圖是本發明的第1實施形態中的模板頭單元的構成圖。 第2圖是本發明的第2實施形態中的模板頭單元的構成圖。 第3圖是本發明的第3實施形態中的模板頭單元的構成圖。 第4圖是本發明的第4實施形態中的模板頭單元的構成圖。 第5圖是本發明的第5實施形態中的模板頭單元的構成圖。 第6圖是本發明的第6實施形態中的微小構造體移載裝置的動作部分的概略構成圖。 第7圖是本發明的第7實施形態中的具備校準標記之模板零件的說明圖。 第8圖是本發明的第8實施形態中的模板零件的剖面圖。 第9圖是本發明的第9實施形態中的用來一次移載複數種微小構造體之模板零件的剖面圖。 第10圖是本發明的第10實施形態中的帶電防止模板零件的構成圖。 第11圖是本發明的第10實施形態中的帶電防止模板零件的另一構成圖。 第12圖是本發明的第11實施形態中的帶電防止模板零件的剖面圖。 第13圖是本發明的第11實施形態中的帶電防止模板零件的另一剖面圖。 第14圖表示美國專利第7927976號說明書的第2圖(A)、(B)、(C)、(D)。
國內寄存資訊 (請依寄存機構、日期、號碼順序註記) 無
國外寄存資訊 (請依寄存國家、機構、日期、號碼順序註記) 無
1:模板零件保持零件
2:抽真空孔
3:模板零件保持表面
4:管狀零件
5:排氣吸引孔
6:石英玻璃基板
7:矽氧系橡膠膜
13:模板零件
100:模板頭單元

Claims (40)

  1. 一種模板頭單元,其包含: 模板零件,其在石英玻璃基板上至少具備矽氧系橡膠膜;模板零件保持零件,其具備具有孔之面,該孔用來對前述模板零件的石英玻璃基板面抽真空;以及,管狀零件,其具有排氣吸引孔且與前述模板零件保持零件結合並固定,該排氣吸引孔以能夠保持真空的狀態來與前述用來抽真空的孔連通地連接。
  2. 如請求項1所述之模板頭單元,其中,前述模板零件保持零件的前述用來抽真空的孔被分割成複數個孔,並且在複數個點處對前述石英玻璃基板進行吸引並固定。
  3. 如請求項1或2所述之模板頭單元,其中,在前述模板零件保持零件的裝設前述模板零件之面上,形成有經由前述用來抽真空的孔而被連接至前述排氣吸引孔之溝槽構造。
  4. 如請求項1或2所述之模板頭單元,其中,前述石英玻璃基板是矩形平板。
  5. 如請求項1或2所述之模板頭單元,其中,在前述石英玻璃基板上形成有刻面。
  6. 如請求項1或2所述之模板頭單元,其中,前述管狀零件具有筒夾連接部。
  7. 如請求項1或2所述之模板頭單元,其中,在前述模板零件保持零件的模板零件保持面上,具備凸構造,該凸構造用來定位前述模板零件。
  8. 如請求項7所述之模板頭單元,其中,前述凸構造具有正交的側面。
  9. 如請求項1或2所述之模板頭單元,其中,在前述模板零件的矽氧系橡膠膜上具有校準標記。
  10. 如請求項1或2所述之模板頭單元,其中,前述石英玻璃基板是合成石英玻璃。
  11. 一種微小構造體移載裝置,其具備請求項1或2所述之模板頭單元。
  12. 如請求項11所述之微小構造體移載裝置,其中,具備用來對下述進行調整之機構:安裝在模板頭單元上的模板零件的模板面(X-Y正交座標)的位置、與X-Y平面正交之Z座標位置、及以Z軸為中心的旋轉角θ。
  13. 如請求項11所述之微小構造體移載裝置,其中,具備用來更換模板零件之單元。
  14. 一種微小構造體積體零件的移載方法,其包含下述步驟:使用請求項11所述之微小構造體移載裝置來移載微小構造體。
  15. 一種微小構造體移載用模板零件,其在合成石英玻璃基板上形成有至少一層以上的矽氧系橡膠膜。
  16. 如請求項15所述之微小構造體移載用模板零件,其中,前述合成石英玻璃基板的厚度為0.5mm~7mm。
  17. 如請求項15或16所述之微小構造體移載用模板零件,其中,前述微小構造體是發光二極體,且前述矽氧系橡膠膜的與前述微小構造體黏接之面部的矽氧系橡膠的膜厚的最大值與最小值的差值在18μm以下。
  18. 如請求項15或16所述之微小構造體移載用模板零件,其中,在合成石英玻璃基板與前述矽氧系橡膠膜之間具有導電性膜。
  19. 如請求項18所述之微小構造體移載用模板零件,其中,前述導電性膜被形成為覆蓋在前述合成石英玻璃基板的全部表面上。
  20. 如請求項18所述之微小構造體移載用模板零件,其中,前述導電性膜包含導電性材料。
  21. 如請求項20所述之微小構造體移載用模板零件,其中,前述導電性材料是下述的至少其中一種:碳黑、碳填充劑、碳奈米線、碳奈米管、石墨烯、鹼金屬或鹼土金屬的鹽、離子液體。
  22. 如請求項20所述之微小構造體移載用模板零件,其中,前述導電性材料至少包含導電性聚合物。
  23. 如請求項18所述之微小構造體移載用模板零件,其中,前述導電性膜是導電性矽氧系橡膠膜。
  24. 如請求項15或16所述之微小構造體移載用模板零件,其中,前述矽氧系橡膠膜是導電性矽氧系橡膠膜。
  25. 如請求項23所述之微小構造體移載用模板零件,其中,前述導電性矽氧系橡膠膜包含導電性材料。
  26. 如請求項25所述之微小構造體移載用模板零件,其中,前述導電性矽氧系橡膠膜中所含的導電性材料是下述的至少其中一種:碳黑、碳填充劑、碳奈米線、碳奈米管、石墨烯、鹼金屬或鹼土金屬的鹽、離子液體。
  27. 如請求項25所述之微小構造體移載用模板零件,其中,前述導電性矽氧系橡膠膜中所含的導電性材料至少包含導電性聚合物。
  28. 如請求項15或16所述之微小構造體移載用模板零件,其中,在前述矽氧系橡膠膜表面具備一個凸型形狀突起。
  29. 如請求項15或16所述之微小構造體移載用模板零件,其中,在前述矽氧系橡膠膜表面具備二個以上的凸型形狀突起。
  30. 如請求項29所述之微小構造體移載用模板零件,其中,前述二個以上的凸型形狀突起包含二種以上不同高度的凸型形狀突起。
  31. 如請求項29所述之微小構造體移載用模板零件,其中,前述二個以上的凸型形狀突起具有與微小構造體接觸之面部,且該面部包含二種以上不同面積的凸型形狀突起。
  32. 如請求項29所述之微小構造體移載用模板零件,其中,前述二個以上的凸型形狀突起被任意地加以1維排列或2維排列。
  33. 如請求項32所述之微小構造體移載用模板零件,其中,前述1維排列或2維排列包含具有一定節距的規則性的部分。
  34. 如請求項33所述之微小構造體移載用模板零件,其中,前述一定節距是顯示器的像素節距的整數倍。
  35. 如請求項28所述之微小構造體移載用模板零件,其中,前述凸型形狀突起的剖面形狀是梯形形狀。
  36. 如請求項35所述之微小構造體移載用模板零件,其中,前述凸型形狀突起的剖面形狀包含前端側是小型梯形形狀的部分。
  37. 如請求項28所述之微小構造體移載用模板零件,其中,前述凸型形狀突起的剖面形狀是二段式以上的階梯狀的凸型形狀。
  38. 一種微小構造體移載用模板頭單元,其具備請求項15或16所述之微小構造體移載用模板零件。
  39. 一種微小構造體移載裝置,其具備請求項38所述之模板頭單元。
  40. 一種微小構造體積體零件的移載方法,其包含下述步驟:使用請求項39所述之微小構造體移載裝置來移載微小構造體。
TW108146867A 2019-02-12 2019-12-20 微小構造體移載裝置、模板頭單元、微小構造體移載用模板零件及微小構造體積體零件的移載方法 TWI742490B (zh)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2019022527A JP7145096B2 (ja) 2019-02-12 2019-02-12 微小構造体移載装置、スタンプヘッドユニット、微小構造体移載用スタンプ部品及び微小構造体集積部品の移載方法
JP2019-022527 2019-02-12

Publications (2)

Publication Number Publication Date
TW202032691A true TW202032691A (zh) 2020-09-01
TWI742490B TWI742490B (zh) 2021-10-11

Family

ID=72044761

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
TW108146867A TWI742490B (zh) 2019-02-12 2019-12-20 微小構造體移載裝置、模板頭單元、微小構造體移載用模板零件及微小構造體積體零件的移載方法

Country Status (7)

Country Link
US (1) US20220124949A1 (zh)
EP (1) EP3926695A4 (zh)
JP (1) JP7145096B2 (zh)
KR (1) KR20210125492A (zh)
CN (1) CN113396485A (zh)
TW (1) TWI742490B (zh)
WO (1) WO2020166184A1 (zh)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI797565B (zh) * 2021-02-26 2023-04-01 致茂電子股份有限公司 晶片載台

Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI780643B (zh) * 2020-03-30 2022-10-11 日商Tdk股份有限公司 壓模工具保持裝置、壓模工具定位裝置、多元件傳送裝置以及元件陣列之製造方法
JP2022058237A (ja) 2020-09-30 2022-04-11 信越化学工業株式会社 光デバイスのリフト方法及びその装置、光デバイスが移設されたレセプター基板の製造方法、並びにディスプレイの製造方法
JP2022100758A (ja) 2020-12-24 2022-07-06 信越化学工業株式会社 微小構造体移載用スタンプ部品
EP4316816A1 (en) 2021-04-01 2024-02-07 Toray Industries, Inc. Laminate, resin composition, and method for manufacturing semiconductor device
JPWO2022210154A1 (zh) 2021-04-01 2022-10-06
JPWO2023032888A1 (zh) 2021-09-01 2023-03-09

Family Cites Families (28)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TW383508B (en) 1996-07-29 2000-03-01 Nichia Kagaku Kogyo Kk Light emitting device and display
JPWO2008088069A1 (ja) 2007-01-19 2010-05-13 国立大学法人 東京大学 微小構造体の集積方法,微小構造体およびマイクロデバイス
KR20090001646U (ko) * 2007-08-17 2009-02-20 패럴린코리아(주) 패럴린 코팅 표면 처리된 반도체 칩 이송 장치의 픽업 헤드
CN101604641B (zh) * 2008-06-13 2013-02-27 涩谷工业株式会社 导电性球的搭载方法及搭载装置
US7927976B2 (en) 2008-07-23 2011-04-19 Semprius, Inc. Reinforced composite stamp for dry transfer printing of semiconductor elements
JP2010087040A (ja) * 2008-09-29 2010-04-15 Juki Corp 表面実装機のノズル交換ユニット検査方法及び装置
WO2010059781A1 (en) 2008-11-19 2010-05-27 Semprius, Inc. Printing semiconductor elements by shear-assisted elastomeric stamp transfer
EP2472646B1 (en) * 2009-08-27 2022-07-06 Dainichiseika Color & Chemicals Mfg. Co., Ltd. Aqueous coating liquid for an electrode plate, electrode plate for an electrical storage device, method for manufacturing an electrode plate for an electrical storage device, and electrical storage device
JP5321376B2 (ja) 2009-09-10 2013-10-23 ソニー株式会社 半導体発光素子及びその製造方法、画像表示装置、並びに、電子機器
JP2013237583A (ja) 2012-05-14 2013-11-28 Shin-Etsu Chemical Co Ltd 使用済合成石英ガラス基板の再生方法
KR101955335B1 (ko) 2012-11-14 2019-03-07 삼성전자주식회사 스탬프 구조체 및 이를 이용한 전사 방법
US8987765B2 (en) 2013-06-17 2015-03-24 LuxVue Technology Corporation Reflective bank structure and method for integrating a light emitting device
KR101385443B1 (ko) * 2013-09-13 2014-04-16 이향이 반도체 칩 픽업 이송용 콜렛
KR101570764B1 (ko) * 2014-02-27 2015-11-20 주식회사 페코텍 반도체 다이 본딩용 콜렛
CN107210253A (zh) * 2015-01-22 2017-09-26 株式会社岛津制作所 基板移载系统
JP6571192B2 (ja) * 2015-07-21 2019-09-04 株式会社Fuji 部品実装装置およびそれに用いるノズル交換方法
GB2541970B (en) 2015-09-02 2020-08-19 Facebook Tech Llc Display manufacture
CN107437523B (zh) * 2016-05-26 2020-01-31 群创光电股份有限公司 拾取与放置装置及其作动方法
CN106057723A (zh) * 2016-08-16 2016-10-26 厦门市三安光电科技有限公司 微元件的转移方法、装置及电子设备
CN106328576B (zh) * 2016-09-30 2019-01-04 厦门市三安光电科技有限公司 用于微元件转移的转置头的制作方法
CN106229287B (zh) * 2016-09-30 2019-04-05 厦门市三安光电科技有限公司 用于转移微元件的转置头及微元件的转移方法
CN106589493B (zh) * 2016-12-09 2018-11-23 湖北航天化学技术研究所 一种环保型低密度耐烧蚀的绝热层及其制备方法
TWI691045B (zh) * 2017-02-20 2020-04-11 友達光電股份有限公司 電子組件、電子組件的製造方法及微元件的轉置方法
TWI649855B (zh) * 2017-03-07 2019-02-01 友達光電股份有限公司 轉置圖章與應用其之轉移方法
CN108695412B (zh) * 2017-04-10 2021-08-24 英属开曼群岛商錼创科技股份有限公司 传输微小元件的方法
CN207116403U (zh) * 2017-04-21 2018-03-16 厦门市三安光电科技有限公司 一种用于微元件转移的转置头
CN108807213B (zh) * 2017-04-27 2020-07-14 宏碁股份有限公司 微型发光二极管的转移方法及微型发光二极管转移装置
TWM573076U (zh) * 2018-10-22 2019-01-11 旭光科國際有限公司 Flat porous nozzle device

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI797565B (zh) * 2021-02-26 2023-04-01 致茂電子股份有限公司 晶片載台

Also Published As

Publication number Publication date
EP3926695A4 (en) 2022-10-26
WO2020166184A1 (ja) 2020-08-20
TWI742490B (zh) 2021-10-11
EP3926695A1 (en) 2021-12-22
US20220124949A1 (en) 2022-04-21
JP2020129638A (ja) 2020-08-27
CN113396485A (zh) 2021-09-14
JP7145096B2 (ja) 2022-09-30
KR20210125492A (ko) 2021-10-18

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TWI742490B (zh) 微小構造體移載裝置、模板頭單元、微小構造體移載用模板零件及微小構造體積體零件的移載方法
TWI685946B (zh) 載板結構及微型元件結構
CN112908897B (zh) 基于无掩膜光刻的MicroLED芯片粘附式阵列转移方法
US11749636B2 (en) Apparatus for manufacturing electronic device using device chip
CN110047866B (zh) 阵列基板、显示面板及微型led的转移方法
CN109935664B (zh) 光电半导体戳记及其制造方法与光电半导体装置
JP4899675B2 (ja) 実装方法、電子機器の製造方法および発光ダイオードディスプレイの製造方法
US11037902B2 (en) Light-emitting apparatus including sacrificial pattern and manufacturing method thereof
JP6364537B2 (ja) デバイスチップを用いた電子デバイスの製造装置
CN111323878A (zh) 一种激光器芯片与硅基光电子芯片的耦合对准装置及方法
US20200185243A1 (en) Carrier structure and micro device structure
Park et al. Universal selective transfer printing via micro-vacuum force
KR20200068579A (ko) 슈퍼스트레이트 및 그 사용 방법
CN118352439A (zh) 微小构造体移载装置、模板头单元、微小构造体移载用模板部件及微小构造体集成部件的移载方法
JP2013229447A (ja) 転写装置および物品製造方法
TW201921634A (zh) 用於轉移顯示器像素之圖案膜及使用彼來製造顯示器的方法
US11204549B2 (en) Superstrate with an offset mesa and methods of using the same
KR102003974B1 (ko) 유기반도체의 용액공정에 적용되는 선택적 박막 형성 방법, 이에 사용되는 도포방지 필름 및 용액공정을 적용한 oled 조명의 제조방법
CN117747723A (zh) 一种微发光二极管的转移方法及微发光二极管显示面板
JP2020177979A (ja) モールド作製方法、および物品の製造方法
CN113573877A (zh) 晶圆对准特征
JP2005283688A (ja) 画素制御素子形成基板の製造方法及びその方法によって作られる平面ディスプレイ