TW201741653A - 零件檢查裝置及方法 - Google Patents

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Yukio Iwasaki
Satoru Hibino
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Kawasaki Heavy Ind Ltd
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Abstract

本發明之零件檢查裝置係以2條直線狀線材(9、10)之排列方向與第一投光器(1)之第一光線(3)及第二投光器(5)之第二光線(7)之光軸交叉之姿勢，基於以正常狀態下之2條直線狀線材(9、10)遮蔽第一光線(3)及第二光線(7)之方式以移動裝置使零件移動時之、第一受光器(1)及第二受光器(5)分別接收之第一光線(3)及第二光線(7)之受光量之變化，檢查2條直線狀線材(9、10)有無異常狀態。對於具有軸向相互平行且長度不同之2條直線狀線材之零件，藉由簡易之構成且簡單之操作而檢測直線狀線材之彎曲等異常。

Description

零件檢查裝置及方法
本發明係關於用以針對具有軸相互平行且長度不同之2條直線狀線材之零件檢查直線狀線材有無彎曲或缺損等異常之檢查裝置及檢查方法。例如，檢查具備具有極性之引線之電性零件之引線有無彎曲或缺損等異常。
近年來，使用機器人等自動機械將電子零件等組合而組裝、製造電性製品之需求越來越高。此種電性製品等之組裝中，例如將具有引線之電性零件組入電路基板之情形時，需要藉由機器人等自動機械將引線插入電路基板之插入孔之作業，但引線若有彎曲或缺損等異常，則無法將引線插入電路基板之插入孔。 對於此種引線之變形等異常，例如於專利文獻1中提案有一種裝置，其係使用電子零件1之引線之引線識別相機15、及基板插入孔識別相機16等，藉由根據引線等之偏移等矯正引線，而將引線插入基板之插入孔。 又，於專利文獻2中，提案有一種裝置，其係相對於相互交叉之2條射束，以自不同之3個方向遮蔽上述2條射束之方式移動，而檢測引線之位置。 但，於專利文獻1記載之裝置中，使用高價之相機且需要高度之圖像處理等，而有昂貴且系統複雜之問題。又，於專利文獻2記載之裝置中，需要對2條射束進行多數次移動操作，檢測時間變長，故有電性製品組裝之週期時間變長之問題。 [先前技術文獻] [專利文獻] [專利文獻1]日本專利特開平6-37492號公報 [專利文獻1]日本專利特開平6-188600號公報
[發明所欲解決之問題] 本發明係鑑於上述先前技術之問題而完成者，其目的在於提供一種零件檢查裝置及方法，其對於具有軸向相互平行且長度不同之直線狀線材之零件，可藉由簡易之構成且簡單之操作而檢測直線狀線材之彎曲或缺損等異常。 [解決問題之技術手段] 為解決上述問題，本發明之第1態樣之零件檢查裝置之特徵在於，其係用以檢測具有軸向相互平行且長度不同之2條直線狀線材之零件者，且具備：移動裝置，其用以保持上述零件並使其在與上述直線狀線材之軸向大致正交之方向直線移動；第一光計測器，其具有第一投光器及第一受光器，上述第一投光器係用以對正常狀態下之上述2條直線狀線材中較短線材之前端部之位置照射第一光線，上述第一受光器係用以接收上述第一光線；及第二光計測器，其具有第二投光器及第二受光器，上述第二投光器係用以對正常狀態下之上述2條直線狀線材中較長線材之前端部之位置，照射光軸與上述第一光線平行之第二光線，上述第二受光器係用以接收上述第二光線；且上述零件檢查裝置係以如下方式構成：以上述2條直線狀線材之排列方向與上述第一光線及上述第二光線之光軸交叉之姿勢，基於以正常狀態下之上述2條直線狀線材遮蔽上述第一光線及上述第二光線之方式使上述零件移動時之、上述第一受光器及上述第二受光器分別接收之上述第一光線及上述第二光線之受光量之變化，檢查上述2條直線狀線材有無異常狀態。 本發明之第2態樣之特徵在於：於第1態樣中，將上述第一光線之照射方向與上述第二光線之照射方向設定為反向。 本發明之第3態樣之特徵在於：於第1或第2態樣中，將上述零件直線移動之方向上之上述較短線材與上述較長線材之間隙為上述第一光線或上述第二光線之寬度之2倍以上。 本發明之第4態樣之特徵在於：於第1至第3之任一態樣中，以如下方式構成：針對上述較短線材及上述較長線材之各者，預先求得以上述2條直線狀線材遮蔽上述第一光線及上述第二光線之方式使上述零件移動時之、上述直線狀線材之前端部之最大容許變形量中之上述第一光線及上述第二光線之受光量之減少量，作為界限減少量，上述第一光線及上述第二光線之至少1個受光量之減少量小於上述界限減少量時，判斷為異常。 本發明之第5態樣之特徵在於：於上述第1至第4之任一態樣中，上述移動裝置係用以保持上述零件並實施組裝作業之機器人。 本發明之第6態樣之特徵在於：於上述第1至第5之任一態樣中，上述零件為電性零件，上述直線狀線材係具有上述電性零件之極性之引線。 為解決上述問題，本發明之第7態樣提供一種零件檢查方法之特徵在於，其係用以檢查具有軸向相互平行且長度不同之2條直線狀線材之零件者，且具備：移動步驟，其將上述零件在與上述直線狀線材之軸向大致正交之方向直線移動；第一光計測步驟，其對正常狀態下之上述2條直線狀線材中之較短線材之前端部之位置照射第一光線，取得由上述較短線材遮蔽之上述第一光線之受光量之變化；第二光計測步驟，其對正常狀態下之上述2條直線狀線材中之較長線材之前端部之位置照射光軸與上述第一光線平行之第二光線，取得由上述較長線材遮蔽之上述第二光線之受光量之變化；及判斷步驟，其基於藉由上述第一及第二光計測步驟分別取得之上述第一及第二光線之受光量之變化，判斷上述2條直線狀線材有無異常；於上述移動步驟中，以上述2條直線狀線材之排列方向與上述第一光線及上述第二光線之光軸交叉之姿勢移動上述零件，上述第一及第二光計測步驟與上述移動步驟並行執行。 本發明之第8態樣之特徵在於：於第7態樣中，將上述第一光線之照射方向與上述第二光線之照射方向設定為反向。 本發明之第9態樣之特徵在於：於第6或第7態樣中，將上述零件直線移動之方向上之上述較短線材與上述較長線材之間隙為上述第一光線或上述第二光線之寬度之2倍以上。 本發明之第10態樣之特徵在於：於第7至第9之任一態樣中，於上述移動步驟之前，具備界限減少量取得步驟，其針對上述較短線材及上述較長線材之各者，預先求得以上述2條直線狀線材遮蔽上述第一光線及上述第二光線之方式使上述零件移動時之、上述直線狀線材之前端部之最大容許變形量中之上述第一光線及上述第二光線之受光量之減少量，作為界限減少量，於上述判斷步驟中，上述第一光線及上述第二光線之至少1者之受光量之減少量小於上述界限減少量時，判斷為異常。 本發明之第11態樣之特徵在於：於第7至第9之任一態樣中，上述移動步驟係藉由用以保持上述零件並實施組裝作業之機器人執行。 本發明之第12態樣之特徵在於：於第7至第11之任一態樣中，上述零件為電性零件，上述直線狀線材為具有極性之引線。 [發明之效果] 根據本發明，可提供一種零件檢查裝置及方法，其對於具有軸向相互平行且長度不同之2條直線狀線材之零件，可藉由簡易之構成且簡單之操作而檢測直線狀線材之彎曲或缺損等異常。
＜第一實施形態＞ 以下，針對本發明之零件檢查裝置及方法之第一實施形態，一面參照圖式一面說明。 圖1係顯示第一實施形態之零件檢查裝置之構成之概念圖。圖2係顯示第一實施形態之電性零件11之2條引線(較短之引線9與較長之引線10)與2條光線(第一光線3與第二光線7)之關係之前視圖。 本實施形態之零件檢查裝置15係檢測具有軸向相互平行之長度較短之引線9與較長之引線10之電性零件11、例如半導體元件或電性雙層電容器等之具有極性之2條引線(一般而言較長者為正極、陽極，較短者為負極、陰極)有無彎曲或缺損等異常者。另，電性零件11只要為具有至少2條長度不同之引線者即可。 零件檢查裝置15具備：多關節機器人13，其以手前端之夾爪12將較短引線9或較長引線10之前端保持垂直向下之狀態，使電性零件11於水平面內直線移動；第一光計測器4，其具有對較短引線9之前端部照射第一光線3之第一投光器1、及接收第一光線3之第一受光器2；及第二光計測器8，其具有對較長引線10之前端部照射第二光線7之第二投光器5、及接收第二光線7之第二受光器6。 另，第一光線3及第二光線7係使用測定精度較高之雷射光，但並未限定於雷射光，亦可為LED光等。 與零件檢查裝置15相鄰設有作業平台14，藉由多關節機器人等自動機械於作業平台14上進行電性零件等之組裝作業。 圖3係顯示第一實施形態之引線(較短引線9及較長引線10)與光線(第一光線3及第二光線7)之關係之俯視圖，(a)係顯示較短引線9遮蔽第一光線3之狀態，(b)係顯示較長引線10遮蔽第二光線7之狀態。又，圖4係顯示第一實施形態之引線(較短引線9及較長引線10)與光線(第一光線3及第二光線7)之關係之左側視圖，(a)係顯示較短引線9遮蔽第一光線3之狀態(與圖3(a)對應)，(b)係顯示較長引線10遮蔽第二光線7之狀態(與圖3(b)對應) 第一光線3及第二光線7之光軸相互平行，以較短引線9及較長引線10之排列方向20與第一光線3及第二光線7之光軸之方向交叉之姿勢，使電性零件11沿著移動方向21水平移動(參照圖3(a)及(b))。 較短引線9及較長引線10有無彎曲或缺損等異常之檢測，係以較短引線9及較長引線10之前端部分別遮蔽第一光線3及第二光線7之方式，基於藉由使電性零件11水平移動而取得之、第一受光器2及第二受光器6所接收之第一光線3及第二光線7之受光量之變化而進行。 例如，若較長引線10大幅彎曲或缺損而未遮蔽第二光線7，則即使移動電性零件11，第二受光器6所接收之第二光線之受光量亦無變化，故可檢測出因彎曲或缺損所致之異常。 又，即使較長引線10之彎曲較小，但只要為特定大小以上之彎曲，由於較長引線10之前端部之第二光線之遮光量變小，因而第二受光器6受光之第二光線之受光量之變化(減少量)較小，故第二光線7之受光量會根據彎曲程度大小之增加或減少而分別減少或增加。 因此，基於第一光線3或第二光線7之受光量之減少量，可推測較短引線9或較長引線10之彎曲之大小，因此基於第一光線3或第二光線7之受光量之減少量，可判斷較短引線9或較長引線10有無異常。 另，為了高精度檢測引線9、10之彎曲之大小，較佳為將第一光線3及第二光線7照射於接近引線9、10之前端之位置，因此將較短引線9之照射第一光線3之前端部之位置，設為與較短引線9之前端之距離為較短引線6之直徑以下之範圍，將較長引線10之照射第二光線7之前端部之位置，設為與較長引線10之前端之距離為較長引線10之直徑以下之範圍。 又，較短引線9及較長引線10有無彎曲或缺損等異常之檢測係如下進行：藉由多關節機器人13，於水平面內，以較短引線9及較長引線10之排列方向20與第一光線3及第二光線7之光軸之方向交叉之姿勢，使電性零件11以特定之速度自預先設定之移動開始位置直線移動。 因此，較短引線9及較長引線10分別遮蔽第一光線3及第二光線7之時間點不同(參照圖3、4)。藉此，例如於較短引線9通過(遮蔽)第一光線3之時間點，由於較長引線10不在遮蔽第一光線之位置，故若較短引線9有異常而較長引線10為正常之情形時，第一光線3不會由較長引線10遮蔽，而不會對較短引線9之異常產生錯誤判斷。 另，圖3中設為，第一光線3配置於較第二光線7更靠紙面之上方，且電性零件11之移動開始位置較第一光線3更靠紙面上方，且以電性零件11向紙面下方直線移動之方式設定，但亦可與此相反，於圖3中，以如下方式設定：第一光線3與第二光線7之配置相同，使電性零件11之移動開始位置較第一光線7更靠紙面下方，且使電性零件11向紙面上方直線移動。若將此以圖4說明，則於圖4中，以電性零件11自紙面左方向右方移動之方式設定，但亦可與上述對應，以自紙面右方向左方移動之方式設定。 又，於水平面內，即使為較短引線9及較長引線10之排列方向20與第一光線3及第二光線7之光軸之方向交叉之狀態，若交叉之角度小，則亦有可能不足以識別例如第一光線3由較短引線9及較長引線10遮斷之狀態。 因此，為提高異常檢測之精度，較佳為將交叉角度設為特定大小以上。因此，於第一實施形態中，以將上述零件直線移動的方向上之較短引線9與較長引線10之間隙成為第一光線3之寬度(與光軸垂直之剖面中之光線之水平方向之長度)之2倍以上之方式設定。例如，上述之交叉角度設為45°。 又，於本實施形態中，將第一光線3與第二光線7之照射方向設為相反方向。這是為了防止當第一光線3與第二光線7之間隔距離短、且將第一光線3與第二光線7之照射方向設為相同之情形時，例如因光線之擴散等使得第二受光部接收第一光線3之一部分(或反之第一受光部接收第二光線7之一部分)而產生受光量之誤差等。惟若不會產生此種誤差時，則亦可將第一光線3與第二光線7之照射方向設為同一方向。 接著，使用零件檢查裝置15，針對檢測電性零件11之較短引線9及較長引線10之異常之方法進行說明。 (1)計算、解析或實驗性求得與判斷引線(較短引線9及較長引線10)為異常之彎曲或缺損等對應之受光器(第一受光器2及第二受光器6)之受光量之變化量(減少量)。 例如，若較短引線9大幅變形，則第一光線3不會由較短引線9遮蔽，因此第一受光器6接收之受光量無變化(減少)。又，若較短引線9稍微變形，則第一光線3由較短引線9之前端部被一部分遮光，但遮光量與較短引線9正常之情形相比較少，因此第一受光器6接收之受光量之變化(減少量)與較短引線9正常之情形相比較少。 因此，藉由計算、解析或實驗，求得將電性零件11組入電路基板等時對應於引線之前端部所容許之變形量之受光器接收之受光量之減少量(以下稱作「界限減少量」)。 藉此，較短引線9及較長引線10之各前端部分別通過第一光線3及第二光線7時，第一受光器2及第二受光器5分別接收之受光量之減少量若小於界限減少量，則判斷為其引線有容許值以上之變形(異常)。 另，如上述，由於以較短引線9及較長引線10之排列方向20與第一光線3或第二光線7之光軸交叉之姿勢，使電性零件11移動，因此於較短引線9通過第一光線3之時間點，較長引線10不會同時通過第一光線3，即使較短引線9大幅變形，亦不會因第一光線3由較長引線10遮光而產生錯誤判斷。 (2)以較短引線9及較長引線10分別將第一光線3及第二光線7遮光之方式，使電性零件11於水平面內直線移動，取得第一受光器2及第二受光器6所接收之受光量之變化(減少量)。 電性零件11之直線移動係藉由多關節機器人13進行，且係藉由以預先設定之速度於預先設定之移動開始位置及移動結束位置之間動作而執行。 又，電子零件11之移動係以較短引線9及較長引線10之排列方向20與第一光線3或第二光線7之光軸方向交叉之姿勢執行。藉此，第一光線3及第二光線7不會以分別將較短引線9及較長引線10同時遮光之方式通過。 (3)針對藉由上述(2)取得之第一受光器2及第二受光器6之受光量之減少量，與由上述(1)求得之各個界限減少量進行比較。 比較之結果，若第一受光器2及第二受光器6之至少一者之受光量之減少量小於界限減少量，則判斷電性零件11之引線有異常。另，受光量之減少量、界限減少量不限於受光之光強度自身之減少量，亦包含與引線正常的情形時之光強度之相對值或相對比例、相對減少值或相對減少比例等。 另，將藉由上述方法判斷出任一引線均無異常之電性零件11，藉由多關節機器人13於作業平台14上組入電路基板或電性製品等。 本實施形態之零件檢查裝置及方法利用使用分別取得光強度等之簡單之第一受光器2及第二受光器6作為第一光計測器4及第二光計測器8之簡易構成，具有可僅以簡單之直線移動動作而以短時間檢測引線有無異常之效果。 另，第一實施形態之以上說明中，為方便說明及容易理解等，使處於2條引線之軸向垂直向下之狀態之電性零件11在與引線之軸向正交之方向即水平面內直線移動，而檢測引線有無異常，且進而為簡化系統等，而藉由多關節機器人進行水平面內之電性零件11之移動。 但，2條引線之軸並不限於垂直向下，當得根據上述之檢測原理，使朝向任意方向之狀態之電性零件11在與引線之軸向正交之平面內直線移動，而檢測引線有無異常，該情形時，電性零件11之正交平面內之移動例如可使用6軸多關節機器人進行。該情形時，上述第一實施形態之說明中，例如可將「引線垂直向下」換成「引線之前端為任意方向」，將「於水平面內直線移動」換成「於相對於引線之軸向垂直之水平面內直線移動」。另，此點於後述之第二或第三實施形態中亦相同。 另，作為上述第一實施形態及後述之第二、第三實施形態中使用之機器人，可使用垂直多關節機器人或水平多關節機器人等各種機器人，機器人之形態並無特別限定。 ＜第二實施形態＞ 以下針對本發明之零件檢查裝置及方法之第二實施形態，一面參照圖式一面說明。另，以下，以與第一實施形態不同之事項為中心進行說明，對於無特別說明之事項，只要無矛盾，則與第一實施形態相同。 圖5係顯示第二實施形態之引線與光線(第一光線3及第二光線7)之關係之俯視圖，圖6係顯示第二實施形態之引線與光線(第一光線3及第二光線7)之關係之左側視圖。 電性零件11於水平剖面直線移動時，於第一實施形態中，較短引線9及較長引線10分別遮蔽第一光線3及第二光線9之時間點不同，但於第二實施形態中，以較短引線9及較長引線10分別遮蔽第一光線3及第二光線9之時間點大致為同一時間點之方式，設定水平剖面之第一光線3與第二光線7之距離，及引線9與引線10之排列方向20相對於第一光線3或第二光線7之中心軸方向之交叉角度。 藉此，可大致同時取得由引線9及引線10分別遮光之第一光線3及第二光線7之光量變化，再者，由於水平移動距離亦變少，故可謀求縮短引線之異常檢測所需時間。 另，於圖5中，以電性零件11自紙面上方向紙面下方直線移動(於圖6中，為自紙面左方向紙面右方移動)之方式設定，但亦可與此相反，於圖5中，亦可設定為第一光線3與第二光線7之配置相同，使電性零件11自紙面下方向紙面上方直線移動(於圖6中為電性零件11自紙面右方向左方移動)。 接著，使用零件檢查裝置15，針對檢測電性零件11之較短引線9及較長引線10之異常之方法進行說明。 (1)藉由計算、解析或實驗，求得與判斷為引線(較短引線9及較長引線10)之異常之彎曲等對應之受光器(第一受光器2及第二受光器6)之受光量之變化量(減少量)。 另，由於較短引線9及較長引線10之排列方向20配置於與第一光線3或第二光線7之照射方向交叉之方向，因此第一光線3不會同時通過較短引線9及較長引線10。因此，即使較短引線9大幅變形，亦不會因第一光線3由較長引線10遮光而產生錯誤判斷。 (2)以較短引線9及較長引線10分別遮光第一光線3及第二光線7之方式，將電性零件11於水平面內直線移動，取得第一受光器2及第二受光器6受光之受光量之變化(減少量)。 (3)針對由上述(2)取得之第一受光器2及第二受光器6之受光量之減少量，與由上述(1)求得之各個界限減少量進行比較，若第一受光器2及第二受光器6之至少一者之受光量之減少量小於界限減少量，則判斷電性零件11之引線有異常。 ＜第三實施形態＞ 以下，針對本發明之檢查裝置之第三實施形態，一面參照圖式一面說明。另，以下說明中，以與第一或第二實施形態不同之事項為中心進行說明，對於無特別說明之事項，只要無矛盾等，則與第一或第二實施形態相同。 圖7係顯示第三實施形態之引線(較短引線9及較長引線10)與光線(第一光線3及第二光線7)之關係之俯視圖，圖8係顯示第三實施形態之引線(較短引線9及較長引線10)與光線(第一光線3及第二光線7)之關係之左側視圖。 於第一及第二實施形態中，相對於將第二光線7配置於第一光線3之斜下方(參照圖4、圖6)，於第三實施形態中，將第二光線7配置於第一光線3之鉛垂下方(參照圖8)。 如此，即使將第二光線7配置於第一光線3之鉛垂下方，由於電性零件11係以較短引線9及較長引線10之排列方向20與第一光線3或第二光線7之照射方向交叉之姿勢移動(參照圖7)，因此第一光線3不會同時通過較短引線9及較長引線10。因此，即使較短引線9大幅變形，亦不會因第一光線3由較長引線10遮光而產生錯誤判斷。 使用第三實施形態之零件檢查裝置15，檢測電性零件11之較短引線9及較長引線10之異常之方法，基本上與第一或第二實施形態相同。
1‧‧‧第一投光器 2‧‧‧第一受光器 3‧‧‧第一光線 4‧‧‧第一光計測器 5‧‧‧第二投光器 6‧‧‧第二受光器 7‧‧‧第二光線 8‧‧‧第二光計測器 9‧‧‧較短引線 10‧‧‧較長引線 11‧‧‧電性零件 12‧‧‧夾爪 13‧‧‧多關節機器人 14‧‧‧作業平台 15‧‧‧零件檢查裝置 20‧‧‧排列方向 21‧‧‧電性零件之移動方向
圖1係顯示本發明之零件檢查裝置之第一實施形態之構成之概念圖。 圖2係顯示電性零件之引線與光線之配置之關係之前視圖。 圖3係顯示第一實施形態之引線與光線之關係之前視圖，(a)係顯示較短引線遮蔽第一光線之狀態，(b)係顯示較長引線遮蔽第二光線之狀態。 圖4係顯示第一實施形態之引線與光線之關係之左側視圖，(a)係顯示較短引線遮蔽第一光線之狀態(與圖3(a)對應者)，(b)係顯示較長引線遮蔽第二光線之狀態(與圖3(b)對應者)。 圖5係顯示第二實施形態之引線與光線之關係之俯視圖。 圖6係顯示第二實施形態之引線與光線之關係之左側視圖。 圖7係顯示第三實施形態之引線與光線之關係之俯視圖。 圖8係顯示第三實施形態之引線與光線之關係之左側視圖。
1‧‧‧第一投光器
2‧‧‧第一受光器
3‧‧‧第一光線
4‧‧‧第一光計測器
5‧‧‧第二投光器
6‧‧‧第二受光器
7‧‧‧第二光線
8‧‧‧第二光計測器
9‧‧‧較短引線
10‧‧‧較長引線
11‧‧‧電性零件

Claims (12)

  1. 一種零件檢查裝置，其係用以檢測具有軸向相互平行且長度不同之2條直線狀線材之零件者，且具備： 移動裝置，其用以保持上述零件並使其在與上述直線狀線材之軸向大致正交之方向直線移動； 第一光計測器，其具有第一投光器及第一受光器，上述第一投光器係用以對正常狀態下之上述2條直線狀線材中較短線材之前端部之位置照射第一光線，上述第一受光器係用以接收上述第一光線；及 第二光計測器，其具有第二投光器及第二受光器，上述第二投光器係用以對正常狀態下之上述2條直線狀線材中較長線材之前端部之位置，照射光軸與上述第一光線平行之第二光線，上述第二受光器係用以接收上述第二光線，且 上述零件檢查裝置係以如下方式構成：以上述2條直線狀線材之排列方向與上述第一光線及上述第二光線之光軸交叉之姿勢，基於以正常狀態下之上述2條直線狀線材遮蔽上述第一光線及上述第二光線之方式使上述零件移動時之、上述第一受光器及上述第二受光器分別接收之上述第一光線及上述第二光線之受光量之變化，檢查上述2條直線狀線材有無異常狀態。
  2. 如請求項1之零件檢查裝置，其中將上述第一光線之照射方向與上述第二光線之照射方向設定為反向。
  3. 如請求項1或2之零件檢查裝置，其中將上述零件直線移動之方向上之上述較短線材與上述較長線材之間隙為上述第一光線或上述第二光線之寬度之2倍以上。
  4. 如請求項1或2之零件檢查裝置，其中以如下方式構成：針對上述較短線材及上述較長線材之各者，預先求得以上述2條直線狀線材遮蔽上述第一光線及上述第二光線之方式使上述零件移動時之、上述直線狀線材之前端部之最大容許變形量中之上述第一光線及上述第二光線之受光量之減少量，作為界限減少量， 上述第一光線及上述第二光線之至少1者之受光量之減少量小於上述界限減少量時，判斷為異常。
  5. 如請求項1或2之零件檢查裝置，其中上述移動裝置係用以保持上述零件並實施組裝作業之機器人。
  6. 如請求項1或2之零件檢查裝置，其中上述零件為電性零件，上述直線狀線材係具有上述電性零件之極性之引線。
  7. 一種零件檢查方法，其係用以檢查具有軸向相互平行且長度不同之2條直線狀線材之零件者，且具備： 移動步驟，其將上述零件在與上述直線狀線材之軸向大致正交之方向直線移動； 第一光計測步驟，其對正常狀態下之上述2條直線狀線材中之較短線材之前端部之位置照射第一光線，取得由上述較短線材遮蔽之上述第一光線之受光量之變化； 第二光計測步驟，其對正常狀態下之上述2條直線狀線材中之較長線材之前端部之位置照射光軸與上述第一光線平行之第二光線，取得由上述較長線材遮蔽之上述第二光線之受光量之變化；及 判斷步驟，其基於藉由上述第一及第二光計測步驟分別取得之上述第一及第二光線之受光量之變化，判斷上述2條直線狀線材有無異常； 於上述移動步驟中，以上述2條直線狀線材之排列方向與上述第一光線及上述第二光線之光軸交叉之姿勢移動上述零件， 上述第一及第二光計測步驟與上述移動步驟並行執行。
  8. 如請求項7之零件檢查方法，其中將上述第一光線之照射方向與上述第二光線之照射方向設定為反向。
  9. 如請求項7或8之零件檢查方法，其中將上述零件直線移動之方向上之上述較短線材與上述較長線材之間隙為上述第一光線或上述第二光線之寬度之2倍以上。
  10. 如請求項7或8之零件檢查方法，其中於上述移動步驟之前，具備界限減少量取得步驟，其針對上述較短線材及上述較長線材之各者，預先求得以上述2條直線狀線材遮蔽上述第一光線及上述第二光線之方式使上述零件移動時之、上述直線狀線材之前端部之最大容許變形量中之上述第一光線及上述第二光線之受光量之減少量，作為界限減少量， 於上述判斷步驟中，上述第一光線及上述第二光線之至少1者之受光量之減少量小於上述界限減少量時，判斷為異常。
  11. 如請求項7或8之零件檢查方法，其中上述移動步驟係藉由用以保持上述零件並實施組裝作業之機器人執行。
  12. 如請求項7或8之零件檢查方法，其中上述零件為電性零件，上述直線狀線材為具有極性之引線。
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