TW201715262A

TW201715262A - 偏光膜之製造方法

Info

Publication number: TW201715262A
Application number: TW105126441A
Authority: TW
Inventors: Tsutomu Furuya; Kiyoshi Muto
Original assignee: Sumitomo Chemical Co
Priority date: 2015-08-21
Filing date: 2016-08-18
Publication date: 2017-05-01
Also published as: WO2017033750A1; JP2017040880A

Abstract

本發明提供一種製造偏光膜之方法，係對長度1000 m以上之聚乙烯醇系樹脂膜至少實施延伸處理、染色處理、及交聯處理者，其中上述聚乙烯醇系樹脂膜根據利用ATR-IR法所得之紅外分光光譜並利用以下式：指標α＝(A1043－A1160)/(A1093－A1160)[式中，A1043、A1160及A1093分別為波數1043、1160及1093 cm-1下之吸光度]所求出之指標α為0.73以上。

Description

偏光膜之製造方法

本發明係關於一種用以由聚乙烯醇系樹脂膜製造偏光膜之方法。

偏光膜先前使用使碘或如二色性染料之二色性色素吸附配向於延伸後之聚乙烯醇系樹脂膜而成者。偏光膜通常使用接著劑將保護膜貼合於其單面或兩面而製成偏光板。偏光板被廣泛應用於液晶電視、個人電腦用顯示器等之外，亦被廣泛應用於智慧型手機或平板終端所代表之行動機器等之圖像顯示裝置(液晶顯示裝置等)。一般而言，偏光膜係藉由實施將連續搬送之長條之聚乙烯醇系樹脂膜依序浸漬於如膨潤浴、染色浴、交聯浴之處理浴中之處理，並且於任一階段實施延伸處理而製造[例如，日本專利特開2011-186084號公報(專利文獻1)]。 [先前技術文獻] [專利文獻] [專利文獻1]日本專利特開2011-186084號公報

[發明所欲解決之問題] 因對圖像顯示裝置要求薄型輕量化，近年來逐漸要求偏光膜之薄膜化，但偏光膜變得越薄，製造步驟中膜斷裂之問題越逐漸顯著化。製造步驟中之膜斷裂會妨礙偏光膜之穩定之製造，從而會使製造效率及良率降低。專利文獻1提出，為了抑制聚乙烯醇系樹脂膜於延伸中所產生之膜斷裂，而設置3段以上之連續之硼酸處理步驟，且於該硼酸處理步驟之第3段之後設置經由至少1條導輥進行1.5倍以上之單軸延伸之高延伸處理步驟，並將該步驟中自膜搬送方向之上游側之夾輥至與最初之導輥接觸為止之膜之滯留時間設為4秒以下。本發明提供一種由聚乙烯醇系樹脂膜製造偏光膜之方法，其係可抑制製造步驟中之膜斷裂之新穎之方法。 [解決問題之技術手段] 本發明提供一種以下所示之偏光膜之製造方法。 [1]一種製造偏光膜之方法，係對長度1000 m以上之聚乙烯醇系樹脂膜至少實施延伸處理、染色處理、及交聯處理，其中上述聚乙烯醇系樹脂膜根據利用ATR-IR(Attenuated total Reflection Infrared Spectroscopy，全反射衰減紅外分光)法所得之紅外分光光譜並利用下述式(1)：指標α＝(A₁₀₄₃ －A₁₁₆₀ )/(A₁₀₉₃ －A₁₁₆₀ ) (1) [式中，A₁₀₄₃ 、A₁₁₆₀ 及A₁₀₉₃ 分別為波數1043、1160及1093 cm^-1 下之吸光度] 所求出之指標α為0.73以上。 [2]如[1]記載之方法，其中於上述延伸處理前，上述聚乙烯醇系樹脂膜之平均膜厚為10～60 μm。 [3]如[1]或[2]記載之方法，其中於上述延伸處理前，上述聚乙烯醇系樹脂膜之寬度方向上之最大膜厚與最小膜厚之差為平均膜厚之10%以下。 [4]如[1]至[3]中任一項記載之方法，其中上述延伸處理中之延伸倍率為3.5倍以上。 [5]如[1]至[4]中任一項記載之方法，其中實施上述延伸處理後之延伸聚乙烯醇系樹脂膜根據利用ATR-IR法所得之紅外分光光譜並利用下述式(2)：指標β＝(A₁₁₄₃ －A₁₁₆₀ )/(A₁₀₉₃ －A₁₁₆₀ ) (2) [式中，A₁₁₄₃ 、A₁₁₆₀ 及A₁₀₉₃ 分別為波數1143、1160及1093 cm^-1 下之吸光度] 所獲得之指標β滿足下述式(3)： β≧(0.78/上述延伸處理前之平均膜厚)＋0.56 (3)。 [發明之效果] 根據本發明，可抑制偏光膜製造步驟中之膜斷裂。

＜偏光膜之製造方法＞本發明之偏光膜之製造方法係關於一種對聚乙烯醇系樹脂膜至少實施延伸處理、染色處理、及交聯處理而製造偏光膜之方法。於本說明書中，將於由聚乙烯醇系樹脂膜製造偏光膜時對聚乙烯醇系樹脂膜實施之所有處理亦統稱為「偏光膜化處理」。以下，於對供於偏光膜化處理之聚乙烯醇系樹脂膜進行說明後，對各處理步驟進行說明。 (1)聚乙烯醇系樹脂膜供於偏光膜化處理之聚乙烯醇系樹脂膜係由聚乙烯醇系樹脂構成之膜。作為聚乙烯醇系樹脂，可使用使聚乙酸乙烯酯系樹脂皂化而成者。作為聚乙酸乙烯酯系樹脂，除作為乙酸乙烯酯之均聚物之聚乙酸乙烯酯以外，亦可列舉與可與乙酸乙烯酯共聚合之其他單體之共聚物等。可與乙酸乙烯酯共聚合之其他單體之例包含不飽和羧酸類、烯烴類、乙烯醚類、不飽和磺酸類、及具有銨基之丙烯醯胺類等。聚乙烯醇系樹脂之皂化度通常為85～100 mol%左右，較佳為98 mol%以上。聚乙烯醇系樹脂亦可經改性，例如可使用經醛類改性之聚乙烯醇縮甲醛或聚乙烯醇縮乙醛等。聚乙烯醇系樹脂之平均聚合度通常為1000～10000左右，較佳為1500～5000左右。聚乙烯醇系樹脂之平均聚合度可依據JIS K 6726而求出。將上述聚乙烯醇系樹脂製膜而成者為聚乙烯醇系樹脂膜。將聚乙烯醇系樹脂製膜之方法並無特別限定，可採用公知之方法。本發明中所使用之聚乙烯醇系樹脂膜通常為其單獨(單層)膜。供於偏光膜化處理之聚乙烯醇系樹脂膜通常含有塑化劑。塑化劑可藉由使聚乙烯醇系樹脂膜之製膜用材料(聚乙烯醇系樹脂組合物)含有其並進行製膜而含有、分散於聚乙烯醇系樹脂膜中。塑化劑之較佳例為多元醇，其具體例包含乙二醇、甘油、丙二醇、二乙二醇、二甘油、三乙二醇、三甘油、四乙二醇、三羥甲基丙烷、聚乙二醇等。聚乙烯醇系樹脂膜可含有1種或2種以上之塑化劑。其中，就抑制膜斷裂之觀點而言，塑化劑較佳為包含甘油。於1個較佳之實施形態中，供於偏光膜化處理之聚乙烯醇系樹脂膜中之塑化劑之含量係相對於構成聚乙烯醇系樹脂膜之聚乙烯醇系樹脂100重量份通常為3重量份以上，較佳為5重量份以上，更佳為7重量份以上。塑化劑之含量係相對於構成聚乙烯醇系樹脂膜之聚乙烯醇系樹脂100重量份例如為20重量份以下，較佳為18重量份以下，進而較佳為15重量份以下。若塑化劑之含量過多，則聚乙烯醇系樹脂膜之可撓性變得過大而操作性會降低。塑化劑之含量例如可藉由甲醇自聚乙烯醇系樹脂膜進行索氏萃取，並作為其前後之聚乙烯醇系樹脂膜之重量差而求出。構成聚乙烯醇系樹脂膜之聚乙烯醇系樹脂之重量可作為進行索氏萃取後之聚乙烯醇系樹脂膜之重量而求出。於本發明中，供於偏光膜化處理之聚乙烯醇系樹脂膜根據利用ATR-IR法(Attenuated total Reflection Infrared Spectroscopy；全反射衰減紅外分光法)所得之紅外分光光譜並利用下述式(1)：指標α＝(A₁₀₄₃ －A₁₁₆₀ )/(A₁₀₉₃ －A₁₁₆₀ ) (1) 所求出之指標α為0.73以上，較佳為0.74以上，更佳為0.75以上。式(1)中，A₁₀₄₃ 、A₁₁₆₀ 及A₁₀₉₃ 分別為波數1043、1160及1093 cm^-1 下之吸光度。指標α係成為有關於塑化劑(典型而言為如甘油之多元醇)之量相對於非結晶性之聚乙烯醇系樹脂之量之比之指標的參數。指標α越大，可謂塑化劑之含量越高。藉由對指標α處於上述範圍之聚乙烯醇系樹脂膜實施偏光膜化處理，而與指標α小於上述範圍之情形時相比較，可明顯地降低偏光膜化處理中之膜斷裂頻度。藉此，即便將長條之聚乙烯醇系樹脂膜連續地供於偏光膜化處理，亦可於不降低製造效率之情況下穩定地且以高產率製造薄膜之偏光膜。膜斷裂頻度之降低效果被認為起因於藉由將指標α提高至上述範圍所帶來之膜之機械強度之提高。即，認為，藉由對指標α處於上述範圍之聚乙烯醇系樹脂膜進行延伸處理，儘管藉由延伸而被薄膜化，但另一方面可藉由該延伸提高膜之結晶化度，且機械強度與該結晶化度一併提高。指標α例如為1.00以下，較佳為0.97以下，進而較佳為0.95以下。若指標α過高，則聚乙烯醇系樹脂膜之可撓性變得過大而操作性可能降低。求出指標α時之紅外分光光譜之測定條件係依據下述實施例之項所記載之內容。供於偏光膜化處理之聚乙烯醇系樹脂膜之長度為1000 m以上，較佳為3000 m以上，更佳為4000 m以上。根據本發明，即便將長度1000 m以上之長條之聚乙烯醇系樹脂膜連續地供於偏光膜化處理，亦不降低製造效率之情況下而可穩定地且以高產率製造薄膜之偏光膜。聚乙烯醇系樹脂膜之寬度例如為1500～6000 mm左右。供於偏光膜化處理，因此延伸處理前之聚乙烯醇系樹脂膜之平均膜厚例如為75 μm以下，較佳為65 μm以下，更佳為60 μm以下。聚乙烯醇系樹脂膜之平均膜厚越小，越容易於偏光膜化處理中產生膜斷裂，但根據本發明，即便為如上述範圍之薄膜，亦可有效地抑制膜斷裂。又，延伸處理前之聚乙烯醇系樹脂膜之平均膜厚通常為10 μm以上。若薄於10 μm，則延伸處理後之聚乙烯醇系樹脂膜之操作變得困難。供於偏光膜化處理，因此延伸處理前之聚乙烯醇系樹脂膜之寬度方向上之最大膜厚與最小膜厚之差較佳為上述平均膜厚之10%以下，更佳為8%以下。減小[(最大膜厚－最小膜厚)/平均膜厚]×100(以下亦稱為「膜厚偏差」)、尤其設為10%以下時，於抑制偏光膜化處理中之膜斷裂之方面有利。又，於獲得膜厚偏差較小因而光學特性之不均較小之偏光膜之方面亦有利。聚乙烯醇系樹脂膜之平均膜厚及膜厚偏差係依據下述實施例之項所記載之方法進行測定。聚乙烯醇系樹脂膜通常係以將其捲繞而成之膜捲之形式而準備，一面自該膜捲將聚乙烯醇系樹脂膜捲出並連續搬送，一面供於偏光膜化處理。以下，一面參照圖1，一面對上述聚乙烯醇系樹脂膜之偏光膜化處理進行說明。圖1係表示本發明之偏光膜之製造方法之一例之流程圖。 (2)延伸處理步驟S10 延伸處理步驟S10係對聚乙烯醇系樹脂膜實施延伸處理之步驟。該延伸通常為縱單軸延伸。於圖1中表示對未延伸之聚乙烯醇系樹脂膜首先實施延伸處理之態樣作為一例，延伸處理步驟之實施時期並不限定於此，只要於偏光膜化處理之開始時至乾燥處理步驟S50之前之期間內之任一階段進行即可，亦可於該期間內之複數個階段進行延伸處理。延伸方式既可為於大氣中(空氣中)進行延伸之乾式延伸，亦可為於水溶液等液體中進行延伸之濕式延伸。作為乾式延伸，可列舉：藉由通過表面經加熱之熱輥及周速與該熱輥不同之導輥(或亦可為熱輥)之間，而於因與熱輥接觸而產生之加熱狀態下進行縱向延伸之熱輥延伸；一面通過位於隔開距離而設置之2個夾輥間之加熱機構(烘箱等)，一面利用該等2個夾輥間之周速差而進行縱向延伸之輥間延伸；及壓縮延伸等。於在偏光膜化處理中首先實施延伸處理之情形時，該延伸通常為乾式延伸。又，作為濕式延伸，可列舉一面浸漬於如染色處理浴或交聯處理浴之處理浴中一面進行延伸之方法，該情形時之延伸方式通常為輥間延伸。亦可於2個以上之處理浴中進行延伸。延伸處理步驟S10既可包含2種以上之乾式延伸處理，亦可包含2種以上之濕式延伸處理，亦可包含乾式延伸處理及濕式延伸處理之兩者。於1個較佳之實施形態中，延伸處理步驟S10至少包含於膨潤處理步驟S20之前(於不具有膨潤處理步驟S20之情形時為染色處理步驟S30之前)進行之延伸處理。該延伸處理通常如上所述般為乾式延伸。藉由實施該乾式延伸、尤其是熱輥延伸，可提高所獲得之偏光膜之膜厚之均勻性。就所獲得之偏光膜之光學特性(尤其是偏光特性)之觀點而言，延伸處理步驟S10中之延伸倍率較佳為3.5倍以上，更佳為4倍以上。關於此處所言之延伸倍率，於實施2次以上延伸處理之情形時，意指結束所有延伸處理後之累積延伸倍率。延伸倍率通常為8倍程度以下。實施了延伸處理後(於實施2次以上延伸處理之情形時為結束所有延伸處理後)之延伸聚乙烯醇系樹脂膜較佳為根據利用ATR-IR法所得之紅外分光光譜並利用下述式(2)：指標β＝(A₁₁₄₃ －A₁₁₆₀ )/(A₁₀₉₃ －A₁₁₆₀ ) (2) 所求出之指標β滿足下述式(3)： β≧(0.78/延伸處理前之平均膜厚)＋0.56 (3) 式(2)中，A₁₁₄₃ 、A₁₁₆₀ 及A₁₀₉₃ 分別為波數1143、1160及1093 cm^-1 下之吸光度。所謂式(3)中之延伸處理前之平均膜厚，意指供於偏光膜化處理之聚乙烯醇系樹脂膜之平均膜厚。指標β係成為有關於結晶性之聚乙烯醇系樹脂之量相對於非結晶性之聚乙烯醇系樹脂之量之比之指標的參數，可根據指標β把握聚乙烯醇系樹脂膜之藉由延伸所得之結晶化度。指標β越大，可謂結晶化度越高。並且，確認於指標β滿足式(3)時，膜斷裂頻度被明顯降低。認為其原因在於因結晶化度提高而膜之機械強度增高。換言之，可藉由確認是否滿足式(3)而判定是否獲得充分之斷裂抑制效果。對剛實施延伸處理後之延伸聚乙烯醇系樹脂膜測定指標β。所謂剛實施之後，係指延伸處理後並且下一個處理步驟之前。求出指標β時之紅外分光光譜之測定條件係依據下述實施例之項所記載之內容。 (3)膨潤處理步驟S20 膨潤處理步驟S20係以去除聚乙烯醇系樹脂膜表面之異物或於染色處理步驟中賦予易染色性等為目的視需要進行之步驟，可藉由將長條之聚乙烯醇系樹脂膜浸漬於至少包含水之膨潤浴中而進行。膨潤浴之溫度例如為10～70℃左右，較佳為20～60℃左右。亦可依序浸漬於2個以上之膨潤浴中進行膨潤處理。膜於膨潤浴之浸漬時間例如為30秒～300秒左右，較佳為60秒～240秒左右。 (4)染色處理步驟S30 染色處理步驟S30係利用二色性色素對聚乙烯醇系樹脂膜進行染色之步驟，可藉由將長條之聚乙烯醇系樹脂膜浸漬於包含二色性色素之染色浴而進行。亦可依序浸漬於2個以上之染色浴而進行染色處理。亦可如上所述般於染色浴中進行濕式延伸。作為二色性色素，使用碘或二色性有機染料。作為利用碘而進行之染色處理，通常採用將聚乙烯醇系樹脂膜浸漬於含有碘及碘化鉀之染色浴(水溶液)之方法。關於染色浴中之碘之含量，水每100重量份可為0.003～1重量份左右。關於碘化鉀之含量，水每100重量份可為0.1～20重量份左右。可使用碘化鋅等其他碘化物代替碘化鉀，亦可將碘化鉀與其他碘化物併用。染色浴之溫度為10～45℃左右，較佳為20～40℃左右。膜於染色浴之浸漬時間例如為30秒～600秒左右，較佳為60秒～300秒左右。另一方面，作為利用二色性有機染料而進行之染色處理，通常採用將聚乙烯醇系樹脂膜浸漬於含有二色性有機染料之染色浴(水溶液)之方法。二色性有機染料可僅使用1種，亦可將2種以上併用。含有二色性有機染料之染色浴亦可含有硫酸鈉等無機鹽作為染色助劑。關於該染色浴中之二色性有機染料之含量，水每100重量份可為1×10^-4 ～10重量份左右。染色浴之溫度為20～80℃左右，較佳為30～70℃左右。膜於染色浴之浸漬時間例如為30秒～600秒左右，較佳為60秒～300秒左右。 (5)交聯處理步驟S40 交聯處理步驟S40係以藉由交聯之耐水化或膜之色相調整等為目的而進行之步驟，可藉由將經染色後之長條之聚乙烯醇系樹脂膜浸漬於包含交聯劑之交聯浴而進行。亦可依序浸漬於2個以上之交聯浴而進行交聯處理。亦可如上所述般於交聯浴中進行濕式延伸。作為交聯劑，例如可列舉硼酸、硼砂等硼化合物、乙二醛、戊二醛等。交聯劑可僅單獨使用1種，亦可將2種以上併用。其中，較佳為使用硼酸。關於交聯浴中之交聯劑之含量，水每100重量份可為2～15重量份左右。交聯浴可含有碘化鉀所代表之碘化物。關於碘化物之含量，水每100重量份可為0.1～20重量份左右。交聯浴之溫度為10～85℃左右，較佳為50～80℃左右。膜於交聯浴之浸漬時間例如為10～600秒左右，較佳為60～420秒左右，更佳為90～300秒左右。 (6)洗淨處理步驟S50 交聯處理步驟後之聚乙烯醇系樹脂膜通常進行洗淨處理。洗淨處理步驟S50通常包含水洗淨步驟。水洗淨處理可藉由將交聯處理步驟後之膜浸漬於離子交換水、蒸餾水等純水，將純水作為淋浴進行噴霧，或者將浸漬與噴霧併用而進行。水洗淨溫度通常為2～50℃，較佳為4～20℃之範圍，浸漬時間為2～120秒左右。除水以外，洗淨液亦可適當含有甲醇、乙醇、異丙醇、丁醇、丙醇等液體醇。再者，亦可省略洗淨處理步驟S50。 (7)乾燥處理步驟S60 於洗淨處理步驟S50後，通常進行乾燥處理步驟S60而獲得偏光膜。作為乾燥處理，可採用自然乾燥、送風乾燥、加熱乾燥等任意適當之方法。例如，於加熱乾燥之情形時，乾燥溫度通常為20～95℃。依據乾燥重量法之偏光膜之含水率例如為5～20重量%左右。偏光膜之平均膜厚(測定方法與聚乙烯醇系樹脂膜相同)例如為2～30 μm，較佳為3～20 μm。＜偏光板＞可藉由使用接著劑將保護膜貼合於以如上方式而製造之偏光膜之單面或兩面而獲得偏光板。保護膜可為包含具有透光性(較佳為光學透明)之熱塑性樹脂，例如如鏈狀聚烯烴系樹脂(聚丙烯系樹脂等)、環狀聚烯烴系樹脂(降烯系樹脂等)之聚烯烴系樹脂；如三乙醯纖維素、二乙醯纖維素之纖維素酯系樹脂；如聚對苯二甲酸乙二酯、聚萘二甲酸乙二酯、聚對苯二甲酸丁二酯之聚酯系樹脂；聚碳酸酯系樹脂；(甲基)丙烯酸系樹脂；或該等之混合物、共聚物等的樹脂膜。於將保護膜貼合於兩面之情形時，其等既可為由相同之樹脂構成之膜，亦可為由互不相同之樹脂構成之膜。保護膜亦可為兼具如相位差膜之光學功能之保護膜。例如，可藉由使包含上述材料之樹脂膜延伸(單軸延伸或二軸延伸等)或於該膜上形成液晶層等而製成賦予了任意之相位差值之相位差膜。保護膜亦可具有如硬塗層、防眩層、抗反射層、光擴散層、抗靜電層、防污層、導電層之表面處理層(塗層)。保護膜之厚度較佳為90 μm以下，更佳為5～60 μm。用以貼合保護膜之接著劑可列舉如紫外線硬化性接著劑之活性能量線硬化性接著劑、或如聚乙烯醇系樹脂之水溶液、或於其中調配有交聯劑之水溶液、胺基甲酸酯系乳膠接著劑之水系接著劑。紫外線硬化性接著劑可為包含自由基聚合性之(甲基)丙烯酸系化合物與光自由基聚合起始劑之硬化性樹脂組合物、或包含陽離子聚合性之環氧化合物與光陽離子聚合起始劑之硬化性樹脂組合物等。又，亦可使用將陽離子聚合性之環氧化合物與自由基聚合性之(甲基)丙烯酸系化合物併用，並將作為起始劑之光陽離子聚合起始劑與光自由基聚合起始劑併用之硬化性樹脂組合物。於貼合保護膜之前，為了提高偏光膜與保護膜之接著性，亦可對偏光膜及/或保護膜之貼合面實施電暈處理、火焰處理、電漿處理、紫外線照射、底塗劑塗佈處理、皂化處理等表面活化處理。於使用活性能量線硬化性接著劑之情形時，藉由於經由接著劑層將保護膜積層於偏光膜後照射活性能量線而使接著劑層硬化。活性能量線較佳為紫外線。作為紫外線光源，較佳為於波長400 nm以下具有發光分佈之光源，例如可列舉低壓水銀燈、中壓水銀燈、高壓水銀燈、超高壓水銀燈、化學燈、黑光燈、微波激發水銀燈、金屬鹵化物燈等。於使用水系接著劑之情形時，於經由接著劑層將保護膜積層於偏光膜後，為了將水系接著劑中所含之水去除而進行乾燥處理。乾燥例如可藉由將膜導入至乾燥爐而進行。乾燥溫度較佳為30～90℃。乾燥處理後亦可設置於室溫或略高於室溫之溫度、例如20～45℃左右之溫度下固化之步驟。固化溫度通常設定為低於乾燥溫度。 [實施例] 以下，表示實施例及比較例而對本發明進而具體地進行說明，但本發明並不受該等例限定。 [1]聚乙烯醇系樹脂膜之指標α之測定使用傅立葉變換紅外分光光度計(安捷倫科技股份有限公司製造之「FT-640」)測定聚乙烯醇系樹脂膜之利用ATR-IR法所得之紅外分光光譜，並依據下述式(1)：指標α＝(A₁₀₄₃ －A₁₁₆₀ )/(A₁₀₉₃ －A₁₁₆₀ ) (1) 算出指標α。式中，A₁₀₄₃ 、A₁₁₆₀ 及A₁₀₉₃ 分別為波數1043、1160及1093 cm^-1 下之吸光度。紅外分光光譜測定係於以下條件下進行。累計次數：16次、波數解析力：2 cm^-1 、測定波數範圍：4000～700 cm^-1 、掃描速度：5 kHz、低通濾波器：1.28 kHz、光源：MIR、分光鏡：KBr、檢測器：DLaTGS，TE Cooled、結晶：金剛石、入射角度：45°。 [2]聚乙烯醇系樹脂膜之膜厚之測定於長度方向上以10 cm間隔自聚乙烯醇系樹脂膜切出3條長度方向5 cm×寬度方向總寬度之樣本後，使用接觸式膜厚計(尼康(股)製造之「Digital Micro Counter MFC-101」)自各樣本之單側之端部以10 cm間隔測定膜厚，將所獲得之所有測定值之平均值設為平均膜厚。又，將所有測定值之最大值設為寬度方向上之最大膜厚，將所有測定值之最小值設為寬度方向上之最小膜厚。又，基於該等測定值，並依據下述式：膜厚偏差＝[(最大膜厚－最小膜厚)/平均膜厚]×100 算出膜厚偏差。 [3]實施了延伸處理後之延伸聚乙烯醇系樹脂膜之指標β之測定使用傅立葉變換紅外分光光度計(安捷倫科技股份有限公司製造之「FT-640」)測定剛實施延伸處理後之延伸聚乙烯醇系樹脂膜之利用ATR-IR法所得之紅外分光光譜，並依據下述式(2)：指標β＝(A₁₁₄₃ －A₁₁₆₀ )/(A₁₀₉₃ －A₁₁₆₀ ) (2) 算出指標β。式中，A₁₁₄₃ 、A₁₁₆₀ 及A₁₀₉₃ 分別為波數1143、1160及1093 cm^-1 下之吸光度。紅外分光光譜測定係於以下條件下進行。累計次數：16次、波數解析力：2 cm^-1 、測定波數範圍：4000～700 cm^-1 、掃描速度：5 kHz、低通濾波器：1.28 kHz、光源：MIR、分光鏡：KBr、檢測器：DLaTGS，TE Cooled、結晶：金剛石、入射角度：45°。又，確認了下述式(3)： β≧(0.78/延伸處理前之平均膜厚)＋0.56 (3) 之充足性。將充足之情形設為A，將不充足之情形設為B。＜實施例1＞對平均聚合度約為2400、皂化度為99.9莫耳%以上、塑化劑(甘油)含量相對於構成聚乙烯醇膜之聚乙烯醇100重量份而為10.0重量份、指標α為0.733、平均膜厚為60.2 μm、最大膜厚與最小膜厚之差為平均膜厚之6%、長度為5000 m之聚乙烯醇膜(PVA膜)使用表面溫度為122℃之熱輥並以乾式進行單軸延伸至4.5倍。繼而，於保持為張緊狀態之情況下直接以滯留時間1分鐘浸漬於40℃之純水，然後以滯留時間60秒浸漬於碘/碘化鉀/水之重量比為0.1/5/100且28℃之水溶液。其後，以滯留時間300秒浸漬於碘化鉀/硼酸/水之重量比為10.5/7.5/100且72℃之水溶液。繼而，於利用10℃之純水洗淨5秒後，於以400 N之張力保持之狀態下於40℃下乾燥75秒，繼而於70℃下乾燥30秒，而連續地製造碘吸附配向之偏光膜，結果，膜之斷裂頻度為膜每1 km為0.2次/km而為低頻度，從而可穩定地製造偏光膜。單軸延伸後之延伸聚乙烯醇膜之指標β為0.575。又，所獲得之偏光膜之平均膜厚為22.1 μm。將PVA膜之塑化劑含量、指標α、平均膜厚、最大膜厚與最小膜厚之差、膜厚偏差、長度、熱輥之表面溫度、所獲得之偏光膜之平均膜厚、指標β、及斷裂頻度彙總於表1。＜實施例2～5、比較例1～2＞使用具有表1所記載之表面溫度之熱輥使具有表1所記載之塑化劑含量、指標α、平均膜厚、最大膜厚與最小膜厚之差、膜厚偏差、及長度之PVA膜單軸延伸，除此以外，以與實施例1相同之方式連續地製造偏光膜。將所獲得之偏光膜之平均膜厚、指標β及斷裂頻度示於表1。 [表1] ＜實施例6＞對平均聚合度約為2400、皂化度為99.9莫耳%以上、塑化劑(甘油)含量相對於構成聚乙烯醇膜之聚乙烯醇100重量份而為10.2重量份、指標α為0.754、平均膜厚為29.4 μm、最大膜厚與最小膜厚之差為平均膜厚之5%、長度為5000 m之聚乙烯醇膜(PVA膜)使用表面溫度為116℃之熱輥並以乾式進行單軸延伸至4.1倍。繼而，於保持為張緊狀態之情況下直接以滯留時間1分鐘浸漬於40℃之純水，然後以滯留時間60秒浸漬於碘/碘化鉀/水之重量比為0.1/5/100且28℃之水溶液。其後，以滯留時間300秒浸漬於碘化鉀/硼酸/水之重量比為10.5/7.5/100且65℃之水溶液。繼而於利用10℃之純水洗淨5秒後，於以400 N之張力保持之狀態下於40℃下乾燥75秒，繼而於70℃下乾燥30秒，而連續地製造碘吸附配向之偏光膜，結果膜之斷裂頻度為0.1次/km而為低頻度，從而可穩定地製造偏光膜。單軸延伸後之延伸聚乙烯醇膜之指標β為0.597。又，所獲得之偏光膜之平均膜厚為12.0 μm。將PVA膜之塑化劑含量、指標α、平均膜厚、最大膜厚與最小膜厚之差、膜厚偏差、長度、熱輥之表面溫度、所獲得之偏光膜之平均膜厚、指標β、及斷裂頻度彙總於表2。＜實施例7、比較例3＞使用具有表2所記載之表面溫度之熱輥使具有表2所記載之塑化劑含量、指標α、平均膜厚、最大膜厚與最小膜厚之差、膜厚偏差、及長度之PVA膜單軸延伸，除此以外，以與實施例6相同之方式連續地製造偏光膜。將所獲得之偏光膜之平均膜厚、指標β及斷裂頻度示於表2。 [表2] ＜實施例8＞對平均聚合度約為2400、皂化度為99.9莫耳%以上、塑化劑(甘油)含量相對於構成聚乙烯醇膜之聚乙烯醇100重量份而為10.1重量份、指標α為0.741、平均膜厚為20.1 μm、最大膜厚與最小膜厚之差為平均膜厚之8%、長度為5000 m之聚乙烯醇膜(PVA膜)使用表面溫度為105℃之熱輥並以乾式進行單軸延伸至4.1倍。繼而，於保持為張緊狀態之情況下直接以滯留時間1分鐘浸漬於30℃之純水，然後以滯留時間60秒浸漬於碘/碘化鉀/水之重量比為0.1/5/100且28℃之水溶液。其後，以滯留時間300秒浸漬於碘化鉀/硼酸/水之重量比為10.5/7.5/100且64℃之水溶液。繼而，於利用10℃之純水洗淨5秒後，於以400 N之張力保持之狀態下於40℃下乾燥75秒，繼而於70℃下乾燥30秒，而連續地製造碘吸附配向之偏光膜，結果膜之斷裂頻度為0.1次/km而為低頻度，從而可穩定地製造偏光膜。單軸延伸後之延伸聚乙烯醇膜之指標β為0.601。又，所獲得之偏光膜之平均膜厚為7.2 μm。將PVA膜之塑化劑含量、指標α、平均膜厚、最大膜厚與最小膜厚之差、膜厚偏差、長度、熱輥之表面溫度、所獲得之偏光膜之平均膜厚、指標β、及斷裂頻度彙總於表3。＜實施例9～11＞使用具有表3所記載之表面溫度之熱輥使具有表3所記載之塑化劑含量、指標α、平均膜厚、最大膜厚與最小膜厚之差、膜厚偏差、及長度之PVA膜單軸延伸，除此以外，以與實施例8相同之方式連續地製造偏光膜。將所獲得之偏光膜之平均膜厚、指標β及斷裂頻度示於表3。 [表3]

S10‧‧‧延伸處理步驟
S20‧‧‧膨潤處理步驟
S30‧‧‧染色處理步驟
S40‧‧‧交聯處理步驟
S50‧‧‧洗淨處理步驟
S60‧‧‧乾燥處理步驟

圖1係表示本發明之偏光膜之製造方法之一例之流程圖。

S10‧‧‧延伸處理步驟

S20‧‧‧膨潤處理步驟

S30‧‧‧染色處理步驟

S40‧‧‧交聯處理步驟

S50‧‧‧洗淨處理步驟

S60‧‧‧乾燥處理步驟

Claims

一種製造偏光膜之方法，係對長度1000 m以上之聚乙烯醇系樹脂膜至少實施延伸處理、染色處理、及交聯處理，其中上述聚乙烯醇系樹脂膜根據利用ATR-IR法所得之紅外分光光譜並利用下述式(1)：指標α＝(A₁₀₄₃ －A₁₁₆₀ )/(A₁₀₉₃ －A₁₁₆₀ ) (1) [式中，A₁₀₄₃ 、A₁₁₆₀ 及A₁₀₉₃ 分別為波數1043、1160及1093 cm^-1 下之吸光度] 所求出之指標α為0.73以上。
如請求項1之方法，其中於上述延伸處理前，上述聚乙烯醇系樹脂膜之平均膜厚為10～60 μm。
如請求項1或2之方法，其中於上述延伸處理前，上述聚乙烯醇系樹脂膜之寬度方向上之最大膜厚與最小膜厚之差為平均膜厚之10%以下。
如請求項1至3中任一項之方法，其中上述延伸處理中之延伸倍率為3.5倍以上。
如請求項1至4中任一項之方法，其中實施上述延伸處理後之延伸聚乙烯醇系樹脂膜根據利用ATR-IR法所得之紅外分光光譜並利用下述式(2)：指標β＝(A₁₁₄₃ －A₁₁₆₀ )/(A₁₀₉₃ －A₁₁₆₀ ) (2) [式中，A₁₁₄₃ 、A₁₁₆₀ 及A₁₀₉₃ 分別為波數1143、1160及1093 cm^-1 下之吸光度] 所求出之指標β滿足下述式(3)： β≧(0.78/上述延伸處理前之平均膜厚)＋0.56 (3)。