TW201631402A - 投影光學系統之製造方法以及裝置製造方法 - Google Patents

Abstract

本發明提供能夠充分確保投影光學系統的成像性能的調整範圍的投影光學系統。一種投影光學系統的製造方法，具有：藉由對包括具備驅動部的可動光學構材的複數個光學構材進行組合配置來組裝投影光學系統的程序；利用驅動部使可動光學構材移動從而調整投影光學系統的程序；取得使驅動部移動到根據其驅動範圍決定的既定的位置的狀態下的投影光學系統的像差的資訊的程序；根據取得的像差的資訊對加工用光學構材的表面進行加工的程序；以及將加工了的加工用光學構材裝入到投影光學系統的程序；該製造方法，進一步具有使驅動部移動到根據所述驅動範圍決定的既定的位置的程序。

Description

投影光學系統之製造方法以及裝置製造方法

本發明涉及投影光學系統的製造方法以及裝置製造方法。

曝光裝置是在作為半導體裝置、液晶顯示裝置等的製造程序的光刻程序中，對遮罩(倍縮光罩(reticle))進行照明，經由投影光學系統將遮罩的圖案轉印到塗覆了感光劑(抗蝕劑)的基板(晶片、玻璃板等)上的裝置。

例如，在將圖案轉印到玻璃板的投影曝光裝置中，近年來，要求將遮罩上的更大的面積圖案在基板上一併曝光的曝光裝置。為了應對該要求，提出了能夠得到高解析度並且能夠使大畫面曝光的步進掃描(step and scan)方式的掃描型投影曝光裝置。在該掃描型曝光裝置中，在使遮罩以及基板移動的同時，藉由透射過狹縫的曝光光對遮罩進行照明，經由投影光學系統在基板上以曝光光進行掃描，從而將遮罩的圖案轉印到基板上。在日本專利5398185號公報中，記載了具有一投影光學系統的曝光裝置，該投影光學系統係具備供於針對這樣的轉印程序中的 遮罩的圖案的投影倍率進行調整的調整機構。調整機構具備具有柱狀面的複數個光學構材，藉由變更光學構材間的間隔來調整投影倍率。光學構材的移動，係藉由與光學構材、其保持機構等連接的致動器而進行。

在製造投影光學系統時，需要將複數個光學構材作組裝、調整的程序。在調整程序中，變更光學構材的位置，以使組裝誤差、像差降低。日本專利5398185號公報記載的調整機構中的光學構材也能夠為了調整而變更其位置。即，在調整程序中，在移動該光學構材的位置而製造出投影光學系統之後，在曝光程序中為了調整投影倍率而變更該光學構材的位置。如果在調整程序中移動了光學構材，則有時在曝光程序中為了調整投影倍率所需的光學構材的移動量超過光學構材的可動範圍，無法充分地調整投影倍率。即，投影光學系統的成像性能的調整範圍變窄。

解決上述課題的本發明的一個態樣是一種將物體的像投影到像面的投影光學系統的製造方法，其特徵在於，具有：組裝程序，藉由對包括具備驅動部的可動光學構材的複數個光學構材進行組合配置，從而組裝所述投影光學系統；調整程序，利用所述驅動部使所述可動光學構材移動，從而調整所述投影光學系統；取得程序，取得使所述驅動部移動到根據其驅動範圍決定的既定的位置的狀態下的所述投影光學系統的像差的資訊；加工程序，根據取得 的像差的資訊，對加工用光學構材的表面進行加工；以及裝入程序，將加工了的所述加工用光學構材裝入到所述投影光學系統；該製造方法進一步具有移動程序，使所述驅動部移動到根據所述驅動範圍決定的既定的位置。

根據(參考附圖)下面對例示性實施方式的描述，本發明的進一步的特徵將變得清楚。

1‧‧‧遮罩

2‧‧‧遮罩載置台

3‧‧‧基板

4‧‧‧基板載置台

5‧‧‧折射光學構材

6‧‧‧第一凹面鏡

7‧‧‧折射光學構材

8‧‧‧凸面鏡

9‧‧‧凹面鏡

10‧‧‧折射光學構材

11‧‧‧驅動部

12‧‧‧驅動部

13‧‧‧控制器

20‧‧‧梯形鏡

20a‧‧‧平面鏡

20b‧‧‧平面鏡

21‧‧‧底座

22‧‧‧致動器

23‧‧‧可動機構

IL‧‧‧照明光學系統

PO‧‧‧投影光學系統

圖1是曝光裝置的概要圖。

圖2是供於移動光學構材用的驅動部的示意圖。

圖3是投影光學系統的以往的製造方法的流程圖。

圖4是第1實施形態中的投影光學系統的製造方法的流程圖。

圖5是第2實施形態中的投影光學系統的製造方法的流程圖。

以下，根據附圖，詳細說明本發明的優選的實施形態。

(第1實施形態)

圖1是曝光裝置的示意圖。曝光裝置包括照明光學系統IL、投影光學系統PO。在照明光學系統IL與投影光學系統PO之間，配置了能夠保持描繪了應製造的裝置的 電路圖案的遮罩1而移動的遮罩載置台2。在照明光學系統IL中包括光源，能夠使用例如高壓汞燈。其中，光源係能夠任意地選擇適合於進行製造的裝置者。照明光學系統IL使用來自光源的光對遮罩1進行照明，藉由投影光學系統PO，將遮罩1的圖案的像投影到保持在基板載置台4的基板3。在基板3上塗覆了對曝光光有感光度的光阻，使曝光圖案顯影，從而在基板3上形成抗蝕劑圖案。在曝光時，在使遮罩載置台2和基板載置台4同步地移動的同時，在既定的照明區域中在基板3上進行掃描同時進行曝光。

投影光學系統PO沿著來自遮罩1的光的行進方向，依次包括折射光學構材5、梯形鏡20的平面鏡20a、第一凹面鏡6、折射光學構材7、凸面鏡8、第二凹面鏡9、梯形鏡20的平面鏡20b、折射光學構材10。折射光學構材5、10是供於針對投影光學系統PO的成像性能如倍率、像差等進行校正用的校正光學系統。各折射光學構材由非球面的透鏡、板或者楔狀的光學構材等構成。

在折射光學構材5、10中，分別構成了驅動部11以及12。圖2示出折射光學構材5及其驅動部11的示意圖。驅動部11具有底座21、致動器22、可動機構23、以及保持折射光學構材5的保持機構。致動器22是馬達、壓電元件等，將其驅動力傳遞給可動機構23，使可動機構23上下移動。能夠藉由驅動致動器而經由可動機構變更折射光學構材5的位置。即，折射光學構材5被構 成為可動光學構材。能夠藉由例如雷射干涉儀等位置測定裝置，測定折射光學構材的位置。由位置測定裝置測定出的折射光學構材的位置被用於折射光學構材的位置的調整。另外，驅動部11還能夠與可動機構23一起具備或者替代可動機構23而具備將致動器的驅動力傳遞給折射光學構材的其他可動機構。例如，有在相對作為折射光學構材的透鏡的光軸垂直的方向上移動的可動機構、在繞相對透鏡的光軸垂直的軸的旋轉方向上使透鏡旋轉的可動機構、或者在這些複數個方向上移動的可動機構。另外，驅動部11具備測定與致動器連接了的可動機構的位置的編碼器、雷射干涉儀等感測器。控制器13進行驅動部11的控制，使用由感測器測定出的位置的資訊，進行致動器22的回授控制等。此處，說明了在折射光學構材5中具備的驅動部11，但在折射光學構材10中具備的驅動部12也是與驅動部11同樣的構成。

一般，形成了的圖案重疊在基板3上，在其上使圖案曝光，在基板3上層疊形成複數個圖案，從而製造藉曝光裝置而製造的裝置。基板3在抗蝕劑塗覆、顯影處理時，由於進行熱處理等而伸縮。如果基板3伸縮，則在基板上重疊圖案而曝光時，產生重疊誤差。為了降低該重疊誤差，藉由在曝光裝置中具備的未圖示的測量裝置，測量基板3的伸縮量。控制器13根據該測量值，計算用於使圖案的重疊誤差成為最小的折射光學構材5、10的目標位置或者移動量。然後，控制器13根據計算出的目標位置或 者移動量，計算用於使折射光學構材5、10移動的驅動部11、12的致動器的驅動量。然後，控制器13根據計算出的驅動量，向驅動部11、12的致動器發送驅動指令，使該致動器驅動。在藉由驅動部11、12的致動器使折射光學構材5、10移動之後，進行向基板3上的圖案的曝光，從而能夠降低圖案的重疊誤差。

基於折射光學構材5、10以及驅動部11、12的投影光學系統的成像性能的調整範圍包括從原點觀察時向正側的調整和向負側的調整。例如，作為投影光學系統的倍率的調整範圍，構成為能夠進行向放大的方向的倍率調整、和向縮小的方向的倍率調整。具體而言，設計成將與致動器連接了的可動機構處於可動機構的可動範圍(驅動部的驅動範圍)的中心附近的狀態作為初始位置而配置折射光學構材。然後，藉由致動器使可動機構從其中心附近移動到一方側，從而使折射光學構材移動，進行向放大的方向的倍率調整。另一方面，構成為藉由致動器使可動機構從其中心附近移動到與一方側相反的一側，使得折射光學構材也向相反側移動，能夠進行向縮小的方向的倍率調整。

重疊誤差依基板而分別有偏差，所以需要應對更寬的範圍的重疊誤差。因此，需要連同正側的調整範圍以及負側的調整範圍一起，更寬地確保基於折射光學構材5、10以及驅動部11、12的投影光學系統的成像性能的調整範圍。

但是，折射光學構材5、10除了被用於重疊誤差的調 整以外，還被用於投影光學系統PO的組裝誤差、投影光學系統PO的像差的調整，為了各調整，需要對驅動部11、12的致動器進行驅動。因此，存在如下問題：如果為了投影光學系統PO的組裝誤差、投影光學系統PO的像差的調整而驅動致動器，則針對重疊誤差的調整用而確保的投影光學系統的成像性能的調整範圍變窄。

使用圖3，說明投影光學系統PO的以往的製造方法的步驟。圖3是示出投影光學系統的以往的製造方法的流程圖。

首先，加工而製造用於構成投影光學系統的複數個反射鏡、透鏡等光學構材(S201)。然後，組合加工了的複數個光學構材來組裝投影光學系統(S202組裝程序)。在組裝時，針對具備驅動部的折射光學構材5、10，配置為與致動器連接了的可動機構處於可動機構的可動範圍的中心附近的狀態而組裝。另一方面，在各光學構材、組裝中使用的光學構材的保持機構、驅動部中存在設計上的公差範圍內的誤差，所以產生組裝誤差。關於組裝誤差，藉由根據設計上的公差而在組裝前的階段預先預測，能夠求出所產生的誤差。作為組裝誤差，例如，可以舉出複數個光學構材的間隔的誤差、光學構材的偏心的誤差。

接下來，根據所求出的誤差，以使該誤差降低，亦即以成為設計上的位置的方式，調整各光學構材的位置(S203)。

關於具備驅動部的折射光學構材5、10，根據由位置測定裝置測定出的折射光學構材的位置，藉由驅動致動器而使可動機構移動，從而調整折射光學構材5、10的位置。此時，使折射光學構材5、10移動的可動機構偏離其可動範圍的中心附近。

在S203的調整完成之後，使用像差測量裝置來測量投影光學系統的像差(S204)。作為像差測量裝置，可以使用干涉儀等公知的裝置。藉由測量像差，還能夠得到光透射構材的折射率的同質性等在組裝時無法得到的資訊，能夠更高精度地調整投影光學系統的像差。接下來，根據測量出的像差，調整投影光學系統的像差，以使其像差變小(S205)。能夠利用驅動部使折射光學構材5、10移動、或者調整其他折射光學構材、反射鏡的間隔、偏心，從而進行像差調整。運算裝置根據測量出的像差，計算用於減小該像差的光學構材的目標位置、移動量，進而根據光學構材的目標位置、移動量，計算驅動部的致動器的驅動量。然後，控制器13根據計算出的驅動量，向驅動部11、12的致動器發送驅動指令，使該致動器驅動。然後，藉由該致動器，使折射光學構材5、10移動。此時，使折射光學構材5、10移動的可動機構進一步偏離S203中的位置。

在S205中進行了像差的調整之後，高階的像差未被校正而殘存。因此，測量殘存在投影光學系統中的像差(S206)。在光學構材的間隔調整、偏心調整中無法校 正殘存的像差，所以藉由對加工用光學構材的表面的形狀進行加工來校正。因此，使用運算裝置，根據測量出的殘存像差，計算為了降低殘存像差所需的加工用光學構材的表面形狀的加工量(S207)。然後，使用研磨加工裝置，根據計算出的加工量，對加工用光學構材的表面進行研磨而加工(S208)。作為研磨加工裝置，可以使用用研磨墊研磨光學構材的表面的公知的裝置。接下來，將加工了的光學構材裝入到投影光學系統(S209裝入程序)。加工用光學構材能夠適用於例如已經配置在投影光學系統內的折射光學構材5、10。在S208、S209中，從投影光學系統取出已經配置在投影光學系統內的折射光學構材5、10，對其表面形狀進行加工，返回到投影光學系統。

另外，在裝入加工用光學構材時，由於光學構材的間隔誤差、偏心誤差等，也有產生像差的可能性。測量投影光學系統的像差(S210)，根據測量出的像差，在測量出的像差無法忽略的情況下，為了調整像差，進行投影光學系統的光學構材的間隔、偏心的調整(S211)。由此，還能夠降低在加工用光學構材的裝入時產生的像差。在進行了像差的調整之後，進而，測量投影光學系統的像差(S212)，判斷投影光學系統的像差是否在容許範圍內(S213)。根據在S212中測量的波像差，求出RMS(Root Means Square：均方根)的值，並與被決定為規格的目標值進行比較，從而能夠進行該判斷。

在投影光學系統的像差在容許範圍內的情況下，投影光學系統PO的製造完成。在投影光學系統的像差不在容許範圍內的情況下，再次返回到S211的像差調整，反復進行S211~S213直至投影光學系統的像差成為容許範圍內為止。

在S203、S205中，調整折射光學構材5、10的位置，所以在最終地製造出的投影光學系統PO中，使折射光學構材5、10移動的可動機構偏離了其可動範圍的中心附近。因此，關於在製造出投影光學系統PO之後調整倍率等投影光學系統的成像性能時的調整範圍，正側的調整範圍以及負側的調整範圍的某一方變窄，另一方變寬。如果調整範圍變窄，則有時無法充分地降低重疊誤差。另一方面，如果在驅動部的構造設計中想要擴大投影光學系統的成像性能的調整範圍，則驅動部的機構變得複雜或變得大型化、或者由於空間、機構的設計限制而無法實現。

因此，在本實施形態中，為了改善以往的製造方法，在不改變驅動部的構造的情況下擴大投影光學系統的成像性能的調整範圍，進行圖4所示的投影光學系統的製造方法。圖4是示出本實施形態中的投影光學系統的製造方法的流程圖。

S301至S305與之前的S201至S205相同，所以省略說明。

在S305的像差調整之後，使用像差測量裝置來測量殘存在調整之後的投影光學系統中的像差(S306)。此 處，將得到的殘存像差設為31。

另外，在S305的像差調整之後，使用感測器來測量在折射光學構材5、10中具備的驅動部的可動機構的當前位置，控制器13取得感測器的測量信號，取得其當前位置的資訊(S307)。控制器13根據取得的可動機構的當前位置的資訊，求出可動機構的當前位置與可動機構的移動範圍(驅動部的驅動範圍)的中心位置的差(S308)。此處，作為中心位置，根據預先設計的驅動範圍的上限和下限的值，決定為它們的正中的值。然後，未圖示的運算裝置取得求出的差的資訊，根據求出的差藉由光學模擬預測並計算使可動機構從當前位置移動到可動機構的移動範圍的中心位置時的投影光學系統的像差變化量(S309)。將藉由模擬而計算出的像差變化量設為32。另外，在計算時，既可以針對在投影光學系統中存在的所有驅動部計算移動到可動機構的移動範圍的中心位置時的像差變化量，也可以僅針對1個驅動部進行計算。

接下來，運算裝置為了校正殘存像差31以及像差變化量32，計算加工用光學構材的面形狀的加工量(S310)。然後，使用研磨加工裝置，根據計算出的加工量，對加工用光學構材的表面進行研磨而加工(S311)。接下來，將加工了的光學構材裝入到投影光學系統(S312)。加工用光學構材既可以是已經配置在投影光學系統內的折射光學構材5、10，也可以是在投影光學系統外準備了的相同的光學構材。或者，也可以是它 們的組合。在將加工用光學構材設為已經配置在投影光學系統內的折射光學構材5、10的情況下，在S311至S312中，從投影光學系統取出已經配置在投影光學系統內的折射光學構材5、10，對其表面形狀進行加工，返回到投影光學系統。在將加工用光學構材設為在投影光學系統外準備了的相同的光學構材的情況下，對在投影光學系統外準備了的加工用光學構材的表面形狀進行加工，與處於投影光學系統的折射光學構材5、10交換。

接下來，在S308中，針對使驅動部的可動機構移動到了可動機構的移動範圍的中心位置的驅動部，藉由致動器使可動機構移動到可動範圍的中心位置(S313)。關於藉由使可動機構移動到可動範圍的中心位置而產生的像差，藉由對加工用光學構材的面形狀進行加工而被校正，所以能夠校正投影光學系統的殘存像差31以及像差變化量32。

接下來的S314至S317與之前的S210至S213相同，所以省略說明。

如以上那樣，在使驅動部的可動機構移動到可動範圍的中心位置的狀態下配置光學構材，該狀態下產生的投影光學系統的像差藉由對加工用光學構材的表面形狀進行加工而降低。藉由這樣製造投影光學系統，能夠使驅動部的可動機構處於可動範圍的中心位置，之後的投影光學系統的成像性能的正側的調整範圍以及負側的調整範圍中的任一個都能夠確保充分的範圍。即，能夠解決正側的調整範 圍和負側的調整範圍中的某一個變窄這樣的以往的問題。

曝光裝置使用這樣製造出的投影光學系統，調整投影光學系統的倍率等成像性能，降低重疊誤差，將遮罩的圖案投影到基板上。由此，曝光裝置能夠提高重疊精度。

(第2實施形態)

接下來，根據圖5，說明第2實施形態中的投影光學系統的製造方法。圖5是示出本實施形態中的投影光學系統的製造方法的流程圖。

S401至S403與之前的S201至S203相同，所以省略說明。

接下來，使用感測器來測量在折射光學構材5、10中具備的驅動部的可動機構的當前位置，控制器13取得感測器的測量信號，取得其當前位置的資訊(S404)。控制器13根據取得的位置的資訊，將可動機構的移動範圍(驅動部的驅動範圍)的中心位置作為目標位置來控制驅動部，使可動機構移動到該中心位置(S405)。

接下來，使用像差測量裝置，測量投影光學系統的像差(S406)。接下來，根據測量出的像差，調整投影光學系統的像差(S407)。在S407中，根據像差的測量結果，針對具備在S405中返回到驅動範圍的中心位置的驅動部的光學構材以外的光學構材進行間隔調整、偏心調整。

然後，測量殘存在投影光學系統中的像差(S408) 。接下來，使用運算裝置，根據測量出的殘存像差，計算為了降低殘存像差所需的加工用光學構材的表面形狀的加工量(S409)。然後，使用研磨加工裝置，根據計算出的加工量，對加工用光學構材的表面進行研磨而加工(S410)。接下來，將加工了的光學構材裝入到投影光學系統(S411)。

此處，說明了在S406的像差測量之後進行S407的像差調整以及S408的像差測量的方法，但在藉由S403的調整而充分修正了的情況下，還能夠使用S406的像差測量結果來計算加工用光學構材的表面形狀的加工量。在計算表面形狀的加工量的情況下，還能夠以調整具備返回到驅動範圍的中心位置的驅動部的光學構材以外的光學構材的間隔、偏心為前提而計算。

接下來的S409至S411與S310至S312相同，S412至S415與S314至S317相同，所以省略說明。

以上，藉由如本實施形態那樣製造投影光學系統，與第1實施形態同樣地，在使驅動部的可動機構移動到可動範圍的中心位置的狀態下配置光學構材，對加工用光學構材的表面進行加工。因此，之後的投影光學系統的成像性能的正側的調整範圍以及負側的調整範圍中的任一個都能夠確保充分的範圍。如上所述，使驅動部移動到驅動範圍的中心而測量像差，並將根據其測量結果來校正所產生的像差那樣的面形狀附加到加工用光學構材，從而能夠在使驅動部位於驅動範圍的中心位置的狀態下校正投影光學系 統的像差。藉由使驅動部位於驅動範圍的中心，能夠製造無需使驅動部複雜化、大型化而確保充分的驅動範圍、同時具有良好的成像性能的投影光學系統。

(第3實施形態)

接下來，說明利用了上述曝光裝置的裝置(半導體IC元件、液晶顯示元件等)的製造方法。首先，藉由上述製造方法製造投影光學系統。然後，使用具備製造出的投影光學系統的曝光裝置，藉由該投影光學系統將遮罩的圖案的像投影到塗覆了感光劑的基板(晶片、玻璃基板等)上，使基板曝光。然後，藉由經由使曝光了的基板(感光劑)顯影的程序、和對顯影了的基板進行加工的其他公知的程序來製造裝置。在其他公知的程序中，包括蝕刻、抗蝕劑剝離、切割(dicing)、接合(bonding)、封裝等。根據本裝置製造方法，能夠製造比以往更高的品質的裝置。

以上，說明了本發明的優選的實施形態，但本發明不限於這些實施形態，能夠在其要旨的範圍內進行各種變形以及變更。例如，測定驅動部的可動機構的位置的感測器也可以處於驅動部外。另外，作為投影光學系統的像差測量方法，能夠應用實際地在基板上使圖案曝光而根據其曝光結果測量在投影光學系統中產生的像差等各種方法。

另外，關於投影光學系統PO的構成，列舉包括反射鏡和透鏡等光折射構材的投影光學系統作為例子進行了說 明，但不限於上述構成。只要是將物體的像投影到像面的投影光學系統即可，例如，可以成為不包括反射鏡的、由複數個透鏡構成的投影光學系統等任意的構成。

另外，在上述實施形態中，在S309、S313或S405中，在使驅動部移動到其驅動範圍的中心位置的狀態下配置光學構材。但是，只要能夠充分地確保投影光學系統的成像性能的調整範圍，則驅動部應配置的位置不限於驅動範圍的中心位置。例如，也可以根據投影光學系統的成像性能的調整範圍和驅動部的驅動範圍的對應關係，決定與成像性能的調整範圍的原點對應的驅動範圍內的位置，作為所述中心位置的替代。即，也可以在使驅動部移動到根據驅動範圍決定的既定的位置的狀態下配置光學構材。

雖然參考例示性實施方式對本發明進行了說明，但應當理解本發明不限於公開的例示性實施方式。下面的申請專利範圍應當被賦予最寬的解釋，以包括所有這樣的變形以及等同的構成和功能。

本申請要求2014年11月28日提交的日本專利申請案第2014-242531號的優先權，其全部內容藉由在此引用被併入本文。

Claims (10)

1. 一種將物體的像投影到像面的投影光學系統的製造方法，其特徵在於：具有：組裝程序，藉由對包括具備驅動部的可動光學構材的複數個光學構材進行組合配置，從而組裝所述投影光學系統；調整程序，利用所述驅動部使所述可動光學構材移動，從而調整所述投影光學系統；取得程序，取得使所述驅動部移動到根據其驅動範圍決定的既定的位置的狀態下的所述投影光學系統的像差的資訊；加工程序，根據取得的像差的資訊，對加工用光學構材的表面進行加工；以及裝入程序，將加工了的所述加工用光學構材裝入到所述投影光學系統；該製造方法進一步具有移動程序，使所述驅動部移動到根據所述驅動範圍決定的既定的位置。
2. 根據申請專利範圍第1項所述的製造方法，其中，根據所述驅動範圍決定的既定的位置是所述驅動範圍的中心位置。
3. 根據申請專利範圍第1項所述的製造方法，其中，所述加工用光學構材是所述可動光學構材，在所述加工程序中，取出位於所述投影光學系統的所 述可動光學構材，對所述可動光學構材的表面進行加工，在所述裝入程序中，將加工了的所述可動光學構材裝入到所述投影光學系統。
4. 根據申請專利範圍第1項所述的製造方法，其中，所述加工用光學構材是位於在所述組裝程序中組裝了的所述投影光學系統外的光學構材，在所述加工程序中，對位於所述投影光學系統外的光學構材的表面進行加工，在所述裝入程序中，藉由交換位於所述投影光學系統的所述可動光學構材、和加工了的所述加工用光學構材，將加工了的所述加工用光學構材裝入到所述投影光學系統。
5. 根據申請專利範圍第1項所述的製造方法，其中，在所述取得程序之後進行所述移動程序，在所述取得程序中，取得所述驅動部的位置的資訊，基於取得的所述位置和根據所述驅動範圍決定的既定的位置的差，計算所述狀態下的所述投影光學系統的像差的資訊，從而取得所述投影光學系統的像差的資訊。
6. 根據申請專利範圍第1項所述的製造方法，其中，在所述調整程序之後並且在所述取得程序之前進行所述移動程序，在所述取得程序中，藉由測量進行了所述移動程序之後的所述投影光學系統的像差，取得所述像差的資訊。
7. 根據申請專利範圍第1項所述的製造方法，其中， 在所述調整程序中，調整所述投影光學系統的像差。
8. 根據申請專利範圍第1項所述的製造方法，其中，在所述調整程序中，調整所述投影光學系統的組裝誤差。
9. 根據申請專利範圍第1項所述的製造方法，其中，所述投影光學系統是將遮罩的圖案投影到像面的投影光學系統。
10. 一種裝置製造方法，其特徵在於：具有：藉由申請專利範圍第1至9項中的任一項所述的製造方法來製造投影光學系統的程序；使用該製造出的投影光學系統，將遮罩的圖案投影到基板上而使所述基板曝光的程序；使曝光了的基板顯影的程序；以及對顯影了的基板進行加工來製造裝置的程序。