TW201543088A - 偏光片保護用聚酯薄膜及使用其而成之偏光板 - Google Patents

Abstract

本發明之課題為提供一種偏光片保護用聚酯薄膜，其為二軸延伸聚酯薄膜，並且以正交尼柯耳(cross Nicol's)狀態配置時未呈現干擾色，未呈現由薄膜之表面反射、背面反射之影響所造成的干擾條紋，透明性良好，為薄膜並且捲取性良好，與為了將偏光膜及保護膜接著所使用之接著劑的接著性良好。 本發明之解決手段為一種偏光片保護用聚酯薄膜，其係在聚酯薄膜的兩面具有含交聯材料之樹脂層(X)的積層聚酯薄膜，其中該聚酯薄膜於波長590nm之遲滯為280nm以下，且於25℃之長度方向及寬度方向之楊氏模數分別為1000MPa以上且小於4000MPa；其特徵為從該積層聚酯薄膜之分光反射曲線所導出之振動波形之振幅ΔR為8%以下。

Description

偏光片保護用聚酯薄膜及使用其而成之偏光板

本發明係關於偏光片保護用聚酯薄膜。

近年，在平板顯示器或觸控板之領域中，偏光片保護膜或透明導電薄膜等各種光學用薄膜之需求正日益提高。其中，於偏光片保護膜用途，TAC(三乙醯纖維素)薄膜由於具有高透明性或光學等方性，所以常被使用。然而，TAC薄膜之耐濕熱性差，質脆，且操作性不佳。又，由於藉由溶液澆鑄法製膜而有薄膜化困難的問題。所以，從低成本化、薄膜化、耐濕熱性之觀點，正積極檢討置換成二軸延伸聚酯薄膜。

然而，先前所檢討之二軸延伸聚酯薄膜，由於經由延伸時之聚合物之配向而具有複折射，其主配向軸於薄膜面內非以一定方向存在，所以依據配向設計在偏光板上配置成正交尼柯耳(cross Nicol)狀態時，有會發生光干擾色、或因主配向軸之角度造成得不到充分亮度的問題，或者有因薄膜表面、背面反射而造成見到干擾條紋更強等品質降低的問題。又，聚酯薄膜單體有「與接著偏光膜與保護膜用之接著劑之接著性變差」的問題。為了解決此等課題，雖有提出控制遲滯之方法，然 而遲滯之程度依然稱不上充分(例如專利文獻1)。又，雖亦有提議設置提高與接著劑之黏合性用之錨固層(anchor layer)的構成，然而未揭示具體之發明(專利文獻2、3)。

又，遲滯由於與薄膜厚度成比例，亦可藉由將薄膜厚度薄化至數μm程度而加以控制，薄膜之薄化雖然就低遲滯以及作成偏光板時與玻璃之層疊中玻璃不發生翹曲之點而言為有利，但是有操作性、捲取性降低的問題。

[先前技術文獻] [專利文獻]

[專利文獻1]日本特開2011-85725號公報

[專利文獻2]日本特開2013-200435號公報

[專利文獻3]日本特開2013-210598號公報

[發明之概要]

本發明鑑於上述先前技術之問題，以提供一種偏光片保護用聚酯薄膜作為目的，其為二軸延伸聚酯薄膜，並且以正交尼柯耳狀態配置時不呈現干擾色，亦不呈現因薄膜表面、背面反射之影響所造成的干擾條紋，捲取性、透明性良好，且與接著偏光膜與保護膜用之接著劑的接著性良好。

為了解決上述問題，本發明具有以下之構成。

(1)一種偏光片保護用聚酯薄膜，其係在聚酯薄膜的兩面具有含交聯材料之樹脂層(X)的積層聚酯薄膜，其中該聚酯薄膜於波長590nm之遲滯為280nm以下，且於25℃之長度方向及寬度方向之楊氏模數分別為1000MPa以上且小於4000MPa；其特徵為該積層聚酯薄膜之從分光反射曲線所導出的振動波形中，下式(1)所示之振動波形之振幅ΔR為8%以下，該分光反射曲線係使用日立製作所製分光光度計(U-4100 Spectrophotometer)測定該積層聚酯薄膜於入射角度=10度時之相對反射率而得。

ΔR=(Rmax-Rmin)/2(%) 式(1)

(其中，振動波形意指對於以1nm刻度之波長所求得之分光反射率曲線，以各測定點為對象進行20點移動平均處理，求出20點移動平均分光反射率曲線，擷取該20點移動平均處理前及處理後之分光反射率曲線之差而得到之曲線之波長400至700nm的範圍；

Rmax、Rmin分別為振動波形之最大值及最小值)。

(2)如(1)記載之偏光片保護聚酯薄膜，其中該積層聚酯薄膜之全光線透過率為85%以上。

(3)如(1)或(2)記載之偏光片保護用聚酯薄膜，其中該樹脂層(X)之折射率為1.45以上1.60以下。

(4)如(1)至(3)中任一項記載之偏光片保護用聚酯薄膜樹脂層，其中該樹脂層(X)之至少一者含有1 種以上平均粒徑50nm以上1000nm以下之粒子，與薄膜厚度方向垂直之一側的薄膜表面，及位於與其相反側之薄膜表面的靜摩擦係數為0.5μd以上1.5μd以下，動摩擦係數為0.3μd以上1.0μd以下。

(5)如(1)至(4)中任一項記載之偏光片保護用聚酯薄膜，其中該霧度值為3.0%以下。

(6)如(1)至(5)中任一項記載之偏光片保護用聚酯薄膜，其中該積層聚酯薄膜之反射亮度L＊(SCI)為30以下，且L＊(SCE)滿足式(2)：L＊(SCE)≦L＊(SCI)/10 式(2)

(其中，L＊(SCI)及L＊(SCE)表示測定以玻璃/黏著層/偏光片保護用聚酯薄膜/黑油墨所構成之樣本之玻璃面側的數值)。

(7)如(1)至(6)中任一項記載之偏光片保護用聚酯薄膜，其中厚度方向遲滯為1500nm以下。

(8)如(1)至(7)中任一項記載之偏光片保護用聚酯薄膜，其中該聚酯薄膜為包含熱可塑性樹脂A之層(A層)及包含熱可塑性樹脂B之層(B層)交互積層至少11層以上而成的積層體。

(9)如(8)記載之偏光片保護用聚酯薄膜，其中從該聚酯薄膜之最表層至第4層為止之A層與B層之各層厚度為55nm以下。

(10)如(1)至(9)中任一項記載之偏光片保護用聚酯薄膜，其中樹脂層(X)之厚度不均為50%以下。

(11)如(1)至(10)中任一項記載之偏光片保 護用聚酯薄膜，其中該樹脂層(X)之厚度為20nm以上且小於5000nm。

(12)如(1)至(11)中任一項記載之偏光片保 護用聚酯薄膜，其中該交聯材料含有三聚氰胺系化合物、噁唑啉系化合物、碳化二亞胺(carbodiimide)系化合物之至少1種以上。

(13)如(1)至(12)中任一項記載之偏光片保 護用聚酯薄膜，其中該樹脂層(X)之至少一者包含水溶性聚酯樹脂，另一者包含水溶性丙烯酸改質樹脂，包含水溶性丙烯酸改質樹脂之樹脂層之折射率為1.53以下。

(14)一種偏光板，其係將PVA薄膜積層於 如(1)至(13)中任一項記載之偏光片保護用聚酯薄膜上而成。

本發明係提供與接著劑之接著性良好，以正交尼柯耳狀態配置時不呈現干擾色，不呈現由薄膜表面、背面反射之影響造成的干擾條紋，透明性良好，為薄膜並且捲取性良好的偏光片保護用聚酯薄膜。

[實施發明之形態]

以下，詳細說明本發明之實施形態。

本發明之偏光片保護用聚酯薄膜係在聚酯薄膜的兩面具有含交聯材料之樹脂層(X)的積層聚酯 薄膜，其中該聚酯薄膜於波長590nm之遲滯為280nm以下，且於25℃之長度方向及寬度方向之楊氏模數分別為1000MPa以上且小於4000MPa；其特徵為從該積層聚酯薄膜之分光反射曲線所導出的振動波形中，式(1)所示之振動波形之振幅ΔR為8%以下

ΔR=(Rmax-Rmin)/2(%) 式(1)。

本發明之聚酯薄膜中所使用之聚酯，較佳為以芳香族二羧酸或脂肪族二羧酸與二元醇為主要構成成分之單體藉由聚合所得到之聚酯。其中，就芳香族二羧酸而言，可列舉如：對苯二甲酸、間苯二甲酸、鄰苯二甲酸、1,4-萘二甲酸、1,5-萘二甲酸、2,6-萘二甲酸、4,4’-二苯基二甲酸、4,4’-二苯基醚二甲酸、4,4’-二苯基碸二甲酸等。就脂肪族二羧酸而言，可列舉例如：己二酸、辛二酸、癸二酸、二聚物酸、十二烷二酸、環己烷二甲酸及此等之酯衍生物等。其中，較佳可列舉對苯二甲酸及2,6萘二甲酸。此等酸成分可只使用1種，亦可併用2種以上，再者，亦可將羥基苯甲酸等含氧酸等一部分共聚合。

又，就二元醇成分而言，可列舉如：乙二 醇、1,2-丙二醇、1,3-丙二醇、新戊二醇、1,3-丁二醇、1,4-丁二醇、1,5-戊二醇、1,6-己二醇、1,2-環己烷二甲醇、1,3-環己烷二甲醇、1,4-環己烷二甲醇、二乙二醇、三乙二醇、聚伸烷基二醇、2,2-雙(4-羥基乙氧基苯基)丙烷、異山梨酸酯、螺甘油等。其中，以使用乙二醇為較佳。此等二元醇成分可僅使用1種，亦可併用2種以上。

在上述聚酯之中，較佳為使用聚對苯二甲 酸乙二酯及其聚合物、聚萘二甲酸乙二酯及其共聚物、聚對苯二甲酸丁二酯及其共聚物、聚萘二甲酸丁二酯及其共聚物、再者聚對苯二甲酸己二酯及其共聚物、聚萘二甲酸己二酯及其共聚物等。再者，在樹脂中，亦可添加各種添加劑，例如：抗氧化劑、抗靜電劑、結晶成核劑、無機粒子、有機粒子、減黏劑、熱安定劑、潤滑劑、紅外線吸收劑、紫外線吸收劑、折射率調整用之摻雜劑等。

又，本發明中之偏光片保護用聚酯薄膜之 厚度以5~50μm為較佳。在薄膜厚度小於5μm之情況，除薄膜之製膜變得困難之外，亦有操作性惡化之問題。又，50μm以上則偏光板變厚，不適合低成本化、薄膜化。 更佳為10μm以上且小於25μm。在此情況，操作性或安裝性優良，並且抑制遲滯變得容易。

本發明之聚酯薄膜，於波長590nm之遲滯 之值必須為280nm以下。更佳為100nm以下，再更佳為50nm以下。一般而言，遲滯係從薄膜面內垂直之2方向之折射率差的最大值與薄膜厚度之積所算出者。在積層薄膜中，由於無法輕易測定薄膜之折射率，所以將以間接手法所算出之遲滯之值作為遲滯。具體而言，使用以王子計測機器股份有限公司所販售之相位差測定裝置KOBRA系列所計測的值，該相位差測定裝置KOBRA系列係以光學手法測定遲滯。該值係從薄膜寬度方向中央部切出3.5cm×3.5cm樣本(薄膜寬度方向於本測定裝置中係被定義為以角度0°設置於裝置中)，測定於入射角0℃之 波長590nm之遲滯及其配向角的值。隨著遲滯之值變小，作為偏光片保護用聚酯薄膜而安裝於液晶顯示器時，干擾色不易產生，而為較佳者。又，關於厚度方向相位差Rth，亦為越低則干擾色越不易產生，而為較佳者。

又，本發明之聚酯薄膜於25℃蒙氣下之楊 氏模數，於薄膜長度方向及寬度方向均以1000MPa以上且小於4000MPa為較佳。更佳為2000MPa以上3800MPa以下。在此情況，於用作偏光片保護膜之製造步驟中，與玻璃層疊時，玻璃之翹曲不易發生，故為較佳。若楊氏模數小於1000MPa，則薄膜之剛性變得過弱，操作性差，且製膜時之捲取困難，因此不佳。 其中，薄膜長度方向，意指若為滾輪上的積層薄膜時，則以滾輪之捲取方向為薄膜長度方向，滾輪之寬度方向則相當於薄膜寬度方向。另一方面，在裁切成片狀的情況，係在薄膜之長邊方向及與長邊方向垂直之方向之兩末端，計測遲滯，以與薄膜中央之差為大的方向作為本發明中之薄膜寬度方向。

本發明之偏光片保護用聚酯薄膜，在聚酯 薄膜的兩面必須具有含交聯材料之樹脂層(X)。就樹脂層(X)而言，以水溶性聚酯樹脂或水溶性丙烯酸樹脂、丙烯酸改質聚酯樹脂等為較佳。

就構成聚酯樹脂之羧酸成分而言，可使用 芳香族、脂肪族、脂環族之二羧酸或3價以上之多元羧酸。就芳香族二羧酸而言，可使用對苯二甲酸、間苯二甲酸、鄰苯二甲酸、酞酸、2,5-二甲基對苯二甲酸、5-磺酸 基間苯二甲酸鈉(5-sodium sulfoisophtahlate)、1,4-萘二甲酸、聯苯二甲酸、2,6-萘二甲酸、1,2-雙苯氧基乙烷-對，對-二甲酸、苯基茚烷二甲酸等、及此等之酯形成性衍生物。

就聚酯樹脂之二元醇成分而言，可使用乙 二醇、二乙二醇、聚乙二醇、丙二醇、聚丙二醇、1,3-丙二醇、1,3-丁二醇、1,4-丁二醇、新戊二醇等。

又，在使用聚酯樹脂作為水系樹脂之塗液 的情況，為了使聚酯樹脂之接著性提高，或為了容易地進行聚酯樹脂之水溶性化，以將含磺酸鹽基之化合物或含羧酸鹽基之化合物共聚合為較佳。

就含磺酸鹽基之化合物而言，可使用例如 磺酸基對苯二甲酸、5-磺酸基間苯二甲酸、4-磺酸基間苯二甲酸、4-磺酸基萘-2,7-二甲酸、磺酸基-對-茬二醇、2-磺酸基-1,4-雙(羥基乙氧基)苯等或此等之鹼金屬鹽、鹼土金屬鹽、銨鹽，然而不以此等為限。

就含羧酸鹽基之化合物而言，可使用例如 偏苯三甲酸、偏苯三甲酸酐、苯均四酸、苯均四酸酐、4-甲基環己烯-1,2,3-三甲酸、對稱苯三甲酸、1,2,3,4-丁烷四甲酸、1,2,3,4-戊烷四甲酸、3,3’,4,4’-二苯酮四甲酸、5-(2,5-二側氧基四氫糠基)-3-甲基-3-環己烯-1,2-二甲酸、5-(2,5-二側氧基四氫糠基)-3-環己烯-1,2-二甲酸、環戊烷四甲酸、2,3,6,7-萘四甲酸、1,2,5,6-萘四甲酸、乙二醇雙偏苯三甲酸酯、2,2’,3,3’-二苯基四甲酸、噻吩-2,3,4,5-四甲酸、伸乙基四甲酸等或此等之鹼金屬鹽、 鹼土金屬鹽、銨鹽，然而不以此等為限。

就聚酯樹脂之二元醇成分而言，可使用乙 二醇、二乙二醇、聚乙二醇、丙二醇、聚丙二醇、1,3-丙二醇、1,3-丁二醇、1,4-丁二醇、1,5-戊二醇、1,6-己二醇、1,7-庚二醇、1,8-辛二醇、1,9-壬二醇、1,10-癸二醇、2,4-二甲基-2-乙基己-1,3-二醇、新戊二醇、2-乙基-2-丁基-1,3-丙二醇、2-乙基-2-異丁基-1,3-丙二醇、3-甲基-1,5-戊二醇、2,2,4-三甲基-1,6-己二醇、1,2-環己烷二甲醇、1,3-環己烷二甲醇、1,4-環己烷二甲醇、2,2,4,4-四甲基-1,3-環丁二醇、4,4’-硫代二苯酚、雙酚A、4,4’-亞甲基二苯酚、4,4’-(2-亞降冰片基(norbornylidene))二苯酚、4,4’-二羥基聯苯酚、鄰-、間-、及對-二羥基苯、4,4’-亞異丙基苯酚、4,4’-亞異丙基二醇、環戊-1,2-二醇、環己-1,2-二醇、環己-1,4-二醇、雙酚A等。

就本發明所用之聚酯樹脂而言，亦可使用 改質聚酯共聚物，例如以丙烯酸、胺基甲酸酯、環氧等改質之嵌段共聚物、接枝共聚物等。

就丙烯酸樹脂成分而言，可使用甲基丙烯 酸烷酯及/或丙烯酸烷酯，具體而言，較佳為使用甲基丙烯酸、甲基丙烯酸甲酯、甲基丙烯酸異丙酯、甲基丙烯酸正丁酯、甲基丙烯酸異丁酯、甲基丙烯酸正己酯、甲基丙烯酸月桂酯、甲基丙烯酸2-羥乙酯、甲基丙烯酸羥丙酯、丙烯酸、丙烯酸甲酯、丙烯酸異丙酯、丙烯酸乙酯、丙烯酸正丁酯、丙烯酸異丁酯、丙烯酸正己酯、丙烯酸月桂酯、丙烯酸2-乙基己酯等。此等可使用1種或2 種以上。

就構成經丙烯酸改質聚酯樹脂之聚酯樹 脂成分而言，為在主鏈、或側鏈具有酯鍵者，其係由二羧酸成分及二元醇成分構成。

又，本發明中所用之交聯材料，只要為可 引起交聯反應之化合物即可，無特別限定，不過可使用羥甲基化或羥烷基化之尿素系、三聚氰胺系、胺基甲酸酯系、丙烯醯胺系、聚醯胺系、環氧化合物、異氰酸酯化合物、噁唑啉系化合物、碳化二亞胺化合物、氮丙啶(aziridine)化合物、各種矽烷偶合劑、各種鈦酸酯系偶合劑等。

就樹脂層(X)之設置方法而言，無特別限定 ，然而從成本、環境之點而言，以使用在結晶配向完成前藉由於聚酯薄膜進行塗布、延伸、熱處理而使結晶配向完成的線上塗布(in-line coating)法較為適合。塗布之方法，可使用例如反向塗布(reverse coating)法、噴霧塗布法、棒式塗布法、凹板塗布法、桿式塗布法、模塗布法等。樹脂層之厚度可隨塗液之濃度或塗布量而調整。

又，本發明之偏光片保護用聚酯薄膜，在 從分光反射曲線導出之振動波形中，式(1)所示之振動波形之振幅ΔR必須為8%以下：ΔR=(Rmax-Rmin)/2(%) 式(1)。

從本發明之分光反射率曲線導出之振動 波形，係指表示藉由對於利用周知之分光光度計以每1nm之波長間隔所得到的分光反射率曲線進行數值處理 所得到之波長與振幅R之關係的曲線。

數值處理意指對於每1nm之波長間隔之分 光反射率曲線進行20點移動平均處理，從原本之分光反射率曲線，減去20點移動平均處理後之分光反射率曲線所得到之波長400nm~700nm範圍內之每1nm振幅R的曲線。

其中之移動平均處理，意指將算出連續20 點平均之操作在以波長1nm之刻度挪移下，對波長及反射率所進行之處理。採用20點移動平均處理之理由，係因當觀察對於影響干擾條紋(即本發明之課題)之短週期振動波形之波長的週期性時，判明至少20nm以下存在1週期之故。藉由將該1週期部分平均化，可得到無振動之波形，亦即，去除振動要素而可稱為分光反射率曲線之原形的曲線。由於在本發明中所用之分光反射率曲線為每1nm之數據，所已採用20點移動平均處理。若為每2nm之波長數據，則亦可採用10點移動平均處理。

若波長400~700nm中之振動波形之振幅 ΔR為8%以下，則對於表現等傾角干擾條紋之光源側主因，即對於光源之亮線光譜，有使干擾條紋明暗對比減弱的作用，該干擾條紋明暗對比係基於由光的入射角度所造成之光路差而產生。更佳為6%以下，再更佳為4%以下。分光反射率曲線之反射率之振幅，在以小於1nm之波長間隔之短週期產生的情況，由於受到測定所用之分光光度計之狹縫條件影響的可能性高，為了特定本現象，以狹縫寬度之條件為5nm以上8nm以下進行測定為較佳 。若狹縫寬度小於5nm，即使是未設置受試驗體之空氣測定，反射率之振幅仍可以小於1nm之波長間隔之短週期來得到振動波形，而與積層薄膜之振動波形混同。又，若狹縫寬度為8nm以上，則由於移動平均之效果發揮，受試驗體原本具有之振動波形本身消失，而無法正確測定受試驗體之特性。

本發明之偏光片保護用聚酯薄膜，從具有 高透明性之觀點而言，以全光線透過率為85%以上為較佳。更佳為87%，再更佳為90%以上，最佳為93%以上。 在透明性高之情況，由於具有液晶顯示裝置畫面之影像清晰性，故為較佳。

本發明之偏光片保護用聚酯薄膜，以樹脂 層(X)之折射率係1.45以上1.60以下為較佳。更佳為1.45以上且小於1.58。藉由在聚酯薄膜之表面積層折射率低之樹脂，而使表面反射率下降，結果有「分光反射率曲線之振動波形ΔR降低，干擾條紋變得不易看見」的效果。

本發明之偏光片保護用聚酯薄膜，較佳為 於樹脂層(X)之至少一者含有1種以上之數量平均粒徑50nm以上1000nm以下之粒子，與薄膜厚度方向垂直之一側之薄膜表面與位於其相反側之薄膜表面的靜摩擦係數係0.5μd以上1.5μd以下，動摩擦係數係0.3μd以上1.0μd以下。

在本發明中所用之粒子無特別限定，然而 可列舉：膠質氧化矽、氧化鈦、氧化鋁、氧化鋯、碳酸鈣、碳黑、沸石粒子等無機粒子；或丙烯酸粒子、聚矽 氧粒子、聚醯亞胺粒子、鐵氟龍(註冊商標)粒子、交聯聚酯粒子、交聯聚苯乙烯粒子、交聯聚合物粒子、核殼(core-shell)粒子等有機粒子，可使用此等粒子之任一種，或將複數種併用。更佳以使用與樹脂層(X)折射率相近之粒子較為理想。在此情況，由於由粒子所造成之擴散成為最小限度，可維持透明性。

此等粒子之數量平均一次粒徑，以在0.05 ~1.0μm的範圍內為較佳。其中，平均一次粒徑係指在JIS-H7008(2002)中，一次粒子之粒徑的平均值，該一次粒子被定義為由單一結晶核之成長所生成之粒子。又一次粒子之粒徑(以下，稱為一次粒徑)意指長徑及短徑之平均值。關於此種平均一次粒徑之測定，可依照JIS-H7804(2005)，使用掃描電子顯微鏡(SEM)以倍率5萬倍觀察試料，使用照片測定各個一次粒子之長徑及短徑，以其平均求取一次粒徑，進一步針對100個一次粒子進行同樣之一次粒徑測定，從其數量平均值求得平均一次粒徑。在粒子之平均一次粒徑小於0.05μm之情況，有粒子凝聚、霧度變差的可能性，相反地在超過1.0μm之情況，難以得到添加量程度的易滑動性或防沾黏性(blocking resistance)之效果，又，隨樹脂層之厚度而有粒子脫落的可能性。再者，於粒子可使用單分散粒子，亦可使用複數種粒子凝聚之凝聚粒子。又，視情況亦可將平均一次粒徑相異之複數種粒子併用。又，粒子之添加量可依照樹脂層(X)之厚度或樹脂組成、平均一次粒徑、所要求之易滑動性或用途等而適切地調節設計。在本發明中，為 了抑制因薄膜表面及背面反射所造成之干擾條紋，以將樹脂層(X)之光學厚度作成λ/4構成為較佳。在薄膜之全體厚度為約12μm之包含熱可塑性樹脂A之層(A層)及包含熱可塑性樹脂B之層(B層)之各層平均厚度為約50nm之薄膜的情況，樹脂層(X)之厚度以70~110nm的範圍為較佳。於樹脂層(X)中所添加之粒子，從薄膜捲取性、透明性之觀點而言，以使用平均一次粒徑比樹脂層厚度大之分別具有200~400nm及100~200nm之平均粒徑的2成分粒子為較佳。

又，較佳為與薄膜厚度方向垂直之一側之 薄膜表面，及位於與其相反側之薄膜表面的靜摩擦係數係0.5μd以上1.5μd以下，動摩擦係數係0.3μd以上1.0μd以下。更佳為靜摩擦係數係0.5μd以上1.2μd以下，動摩擦係數係0.3μd以上0.8μd以下。在此情況，由於薄膜之滑動性變得良好，即使在製膜步驟之捲取步驟中，捲繞皺紋亦不會進入，因此為良好。

本發明之偏光片保護用聚酯薄膜以霧度 值係3.0%以下為較佳。以2%以下為更佳，以1%以下為再更佳。在霧度值為3.0%以上之情況，薄膜之透明性降低，作為偏光片保護用聚酯薄膜使用時，有影像清晰性惡化之問題。

本發明之偏光片保護用聚酯薄膜，從外觀 之觀點而言，較佳為反射亮度L＊(SCI)為30以下，且L＊(SCE)滿足式(1)。

L＊(SCE)≦L＊(SCI)/10 (1) (L＊(SCI)及L＊(SCE)表示測定與實際的顯示器構成近似之樣本之玻璃面時的數值，其中該樣本係以玻璃/黏著層/偏光片保護用聚酯薄膜/黑油墨所構成。黑油墨由於係為了模擬作成一般未施加電壓時透過率或反射率變得最小而成為黑色畫面之液晶而使用者，所以在本案中係使用黑色之丙烯酸清漆噴霧劑H62-8014(ROCK PAINT(股)製))。其中，SCI及SCE意指以反射光為對象之亮度的測定方式。將在檢出側有光阱、除去正反射光而測色之方式稱為SCE(除去正反射)方式；而將無光阱、未除去正反射光而測定全部反射之色的方式稱為SCI(含正反射)方式。

若L＊(SCI)超過30，則由於表面反射高、 產生眩光、干擾條紋明顯可見，在實際上安裝於顯示器時無法得到畫像原本之色彩，因此不佳。又，L＊(SCE)以滿足式(1)為較佳。在不滿足式(1)之情況，與正反射光相比，擴散的反射光變成優勢，在以目視觀察之情況感覺發白，因此外觀上不佳。

為了滿足此要件，於樹脂層(X)中所添加 之粒子，以與樹脂層之折射率近似之膠質氧化矽粒子為較佳，粒徑以小於樹脂層(X)之厚度之4倍為較佳。再者，為了兼具滑動性及透明性，添加粒子以添加2種以上粒徑相異者為較佳。

關於L＊(SCI)及L＊(SCE)，為依照以下方 法所測定之值。

將偏光片保護用聚酯薄膜之單面使用黑 色丙烯酸清漆噴霧劑H62-8034(ROCK PAINT股份有限公司製)塗布成黑色，在與該面相反側之面，經由黏著片SK-1478(綜研化學股份有限公司製)，與10cm四方，厚度0.55mm之Corning(R)Gorilla(R)Glass(Corning Incorporated製)以不夾入氣泡之方式層疊，製成玻璃層疊樣本。再者，塗布黑色後，朝螢光燈舉起樣本一次，確認光未透過。

將作成之玻璃層疊樣本之玻璃面，使用 KONICA MINOLTA股份有限公司製CM-3600d，在測定徑 8mm之目標光罩(CM-A106)條件下，以包含正反射光之SCI方式及除去正反射之SCE方式測定L值，求取n數3之平均值。再者，白色校正板係使用CM-A103，歸零校正盒係使用CM-A104，光源為D65。

本發明之偏光片保護用聚酯薄膜之厚度 方向遲滯係以1500nm以下為較佳。以1200nm以下為更佳。其中所謂厚度方向遲滯意指以相對於偏光片保護用聚酯薄膜之表面的垂直方向當作0°，於由此50°視野角位置之遲滯。在厚度方向遲滯為1500nm以下之情況，由於不僅從正面，從斜方向觀看顯示器時亦見不到虹斑，故為較佳。又，從於偏光片之正交尼柯耳狀態所觀察到之干擾色接近無色的觀點而言，以600nm以下為更佳。以400nm以下為再更佳。正交尼柯耳係表示偏光片之吸收軸以垂直關係配置之時，在其下側遮住背光等光之時，成為消光狀態。

本發明之偏光片保護用聚酯薄膜，較佳為 將包含熱可塑性樹脂A之層(A層)及包含熱可塑性樹脂B之層(B層)交互積層至少11層以上而成的積層體。

就上述熱可塑性樹脂A、熱可塑性樹脂B 而言，較佳為由以芳香族二羧酸或脂肪族二羧酸與二元醇為主要構成成分之單體藉由聚合所得到的聚酯。其中，就芳香族二羧酸而言，可列舉如：對苯二甲酸、間苯二甲酸、鄰苯二甲酸、1,4-萘二甲酸、1,5-萘二甲酸、2,6-萘二甲酸、4,4’-二苯基二甲酸、4,4’-二苯基醚二甲酸、4,4’-二苯基碸二甲酸等。就脂肪族二羧酸而言，可列舉如：己二酸、辛二酸、癸二酸、二聚物酸、十二烷二酸、環己烷二甲酸及此等之酯衍生物等。其中，以表現高折射率之對苯二甲酸及2,6萘二甲酸為較佳。此等酸成分可只使用1種，亦可併用2種以上，再者，亦可將羥基苯甲酸等含氧酸等一部分共聚合。

又，就二元醇成分而言，可列舉如：乙二 醇、1,2-丙二醇、1,3-丙二醇、新戊二醇、1,3-丁二醇、1,4-丁二醇、1,5-戊二醇、1,6-己二醇、1,2-環己烷二甲醇、1,3-環己烷二甲醇、1,4-環己烷二甲醇、二乙二醇、三乙二醇、聚伸烷基二醇、2,2-雙(4-羥基乙氧基苯基)丙烷、異山梨酸酯、螺甘油等。其中，以使用乙二醇為較佳。此等二元醇成分可只使用1種，亦可併用2種以上。

在上述聚酯之中，較佳為使用聚對苯二甲 酸乙二酯及其聚合物、聚萘二甲酸乙二酯及其共聚物、聚對苯二甲酸丁二酯及其共聚物、聚萘二甲酸丁二酯及其共聚物、再者聚對苯二甲酸己二酯及其共聚物、聚萘 二甲酸己二酯及其共聚物等。

熱可塑性樹脂A及熱可塑性樹脂B之組合 ，從減少在形成積層構造之步驟中積層不良的觀點而言，使用相容性良好之樹脂的組合至為重要。相容性差之樹脂的組合，於積層構造之形成步驟中，於聚合物流路內難以形成層流，引發流痕等積層不良，造成積層不均之產生，亦即損及各層之厚度均勻性。就樹脂之組合指標而言，以使用相容性參數δ相近之樹脂為較佳，尤其以該相容性參數δ之絶對值之差為2以下為較佳。更佳為相容性參數δ之絶對值之差為1以下。

該樹脂之組合，以選擇使用含有共通基本 骨架之樹脂為較佳。其中所謂基本骨架，意指構成樹脂之重複單元，例如，在一側之樹脂為聚對苯二甲酸乙二酯之情況，對苯二甲酸乙二酯單元為基本骨架。在此情況，就具有共通之基本骨架的樹脂而言，以對苯二甲酸乙二酯單元與其他酯之重複單元之共聚物為代表例。若使用含共通之基本骨架的樹脂，則不僅能抑制流痕等積層不良，且不易產生成形後層間剝離等問題。從難以引起積層不良之觀點而言，以A層為聚對苯二甲酸乙二酯、B層為其共聚物之組合為最佳。其共聚物，較佳為使用：將5~40莫耳%之環己烷二甲醇成分共聚合的聚對苯二甲酸乙二酯；將5~40莫耳%之環己烷二甲酸成分、或5~40莫耳%之螺甘油成分共聚合的聚對苯二甲酸乙二酯。再者，從難以引起積層不良之觀點而言，以B層為聚對苯二甲酸乙二酯及其共聚物之混合物為較佳。此係藉由 將與A層相同之樹脂添加於B層，更增加與A層之界面的親和性之故。

又，熱可塑性樹脂B以具有比結晶性聚酯 之熔點低20℃以上之熔點的結晶性樹脂為較佳。在此情況，於後述之熱處理步驟中，藉由於熱可塑性樹脂B之熔點與結晶性聚酯之熔點之間實施熱處理，可只使熱可塑性樹脂B配向緩和，除了抑制遲滯變得容易以外，由於藉由配向緩和，薄膜之剛性降低，有「與玻璃層疊時產生之製膜殘留應力低，玻璃之翹曲不易發生」的效果。較佳之熔點差為40℃以上，在此情況，由於熱處理步驟中之溫度選擇幅度變廣，熱可塑性樹脂B之配向緩和的促進或結晶性聚酯的配向控制可變得容易。又，熱可塑性樹脂B亦以包含非晶性樹脂為較佳。與結晶性樹脂相較，非晶性樹脂由於在製造二軸延伸薄膜時不易產生配向，可抑制遲滯之增加，進而抑制積層薄膜之遲滯不均勻變得容易。

就用於滿足上述條件之樹脂之組合的一 例而言，較佳為下述之聚酯：熱可塑性樹脂A係包含聚對苯二甲酸乙二酯或聚萘二甲酸乙二酯而成，熱可塑性樹脂B係包含螺甘油而成。包含螺甘油而成之聚酯意指將螺甘油共聚合之共聚酯、或均聚酯、或將此等摻合之聚酯。包含螺甘油而成之聚酯，由於與聚對苯二甲酸乙二酯或聚萘二甲酸乙二酯之玻璃轉移溫度差小，成形時不易過度延伸，且亦不易層間剝離，故為較佳。更佳以下述之聚酯較為理想：結晶性聚酯係包含聚對苯二甲酸乙二 酯或聚萘二甲酸乙二酯而成，熱可塑性樹脂B係包含螺甘油及環己烷二甲酸而成。若為包含螺甘油及環己烷二甲酸而成之聚酯，則由於可使結晶性降低，變得可容易地抑制遲滯。又，由於與聚對苯二甲酸乙二酯或聚萘二甲酸乙二酯之玻璃轉移溫度差小，接著性亦優良，故成形時不易過度延伸，且亦不易層間剝離。

又，包含熱可塑性樹脂A之層(A層)與包含 熱可塑性樹脂B之層(B層)交互地積層所形成之積層體，係定義為存在具有將A層及B層沿厚度方向規則地積層之構造的部分。亦即，本發明之薄膜中之A層與B層沿厚度方向配置之序列，以不為無規則狀態為較佳，關於A層及B層以外之第3之層以上，對於其配置之序列無特別限定。例如，在具有A層、B層、包含樹脂C之C層的情況，以A(BCA)n、A(BCBA)n、A(BABCBA)n等規則的順序積層為更佳。其中n為重複之單元數，例如在A(BCA)n中n=3之情況，表示沿厚度方向以ABCABCABCA之順序積層者。

如此，藉由使熱特性相異之樹脂交互地積層，在製造二軸延伸薄膜時，可高度地控制各層之配向狀態，進而可抑制遲滯。又，在積層層數為10層以下之情況，因熱特性相異之樹脂積層之樹脂之特性或其層厚度之構成而對製膜性或機械物性等諸物性的影響變得顯著，例如，二軸延伸薄膜之製造變得困難，或與偏光板組合時有產生缺陷的可能性，因此有不適合之情形。另一方面，將11層以上之層交互積層而成之薄膜的情況，各層熱可 塑性樹脂可被控制而容易沿厚度方向均質地配置，可使得製膜性或機械物性安定化。又，隨著層數增加，可見到有可抑制各層配向之成長的傾向，除了變得容易控制遲滯以外，藉由降低楊氏模數，作為偏光片保護膜使用而與玻璃層疊時，玻璃之翹曲不易產生，故為較佳。更佳為100層以上，再更佳為200層以上。又，層數雖無上限，但隨著層數增加，由於製造裝置大型化所伴隨之製造成本增加或薄膜厚度之厚膜化，將使目的之薄膜化效果失去，因此現實上以10000層以內為實用範圍。

又，從包含前述積層體之偏光片保護用聚 酯薄膜之最表面至第4層為止之包含熱可塑性樹脂A之層(A層)及包含熱可塑性樹脂B之層(B層)的各層厚度，以55nm以下為較佳。從最表層至第4層為止，意指例如A/B/A/B或B/A/B/A之層構成，全部之層以55nm以下為較佳。在此情況，由於在可見光區域之波長400~700nm中之振動波形之振幅變小，不易見到干擾條紋，所以較佳。又，藉由振幅變小，全光線透過率亦提高，所以更佳。更佳為45nm以下。再更佳為40nm以下。另一方面，若超過55nm，則由於與在樹脂層之界面反射之光變得相關，振動波形之振幅變大，干擾條紋鮮明可見，而成為外觀上之問題。從正面和背面之最表層至第4層之層厚度，可藉由調整積層裝置之各縫隙之流量而作成55nm以下。

本發明之樹脂層(X)之厚度不均，以50%以 下為較佳。更佳為40%以下，再更佳為30%以下。藉由抑制樹脂層之厚度不均、以一定厚度塗布，可防止粒子從 樹脂層脫落，且得到均勻之黏合性。又，可抑制由樹脂層之厚度不均所造成之表面反射不均，亦可抑制全光線透過率之分散度，因此較佳。

其中所謂厚度不均，意指於薄膜長度方向 每隔10cm共計2m，使用日立製作所製分光光度計(U-4100 Spectrophotometer)實施分光透過率測定，從分光透過率算出樹脂層厚度，而算出厚度不均者。

本發明之偏光片保護用聚酯薄膜，樹脂層 (X)之厚度以20nm以上且小於5000nm為較佳，以20nm以上且小於2000nm為更佳，以40nm以上且小於500nm為再更佳。若樹脂層(X)之厚度過薄，則有發生與接著材之黏合性不良或添加粒子脫落的可能性。

本發明之偏光片保護用聚酯薄膜之樹脂層 (X)所含之交聯材料，較佳為含有三聚氰胺系化合物、噁唑啉系化合物、碳化二亞胺系化合物之至少1種以上。在此情況，由於可見到耐濕熱黏合性之提高，故為較佳。 又，三聚氰胺系化合物、噁唑啉系化合物、碳化二亞胺系化合物之含量無特別限定，可含2種以上之交聯材料。

本發明中所用之三聚氰胺系交聯劑，無特 別限定，然而可使用三聚氰胺、三聚氰胺與甲醛縮合所得到之羥甲基化三聚氰胺衍生物、羥甲基化三聚氰胺與低級醇反應而部分或完全醚化之化合物、及此等之混合物等。又，就三聚氰胺系交聯劑而言，可為單體、包含二聚體以上之多聚體之縮合物之任一種，亦可為此等之混合物。就醚化所用之低級醇而言，可使用甲醇、乙醇 、異丙醇、正丁醇、異丁醇等。就官能基而言，為在1個分子中具有亞胺基、羥甲基、或者甲氧甲基或丁氧甲基等烷氧基甲基者，為亞胺基型甲基化三聚氰胺樹脂、羥甲基型三聚氰胺樹脂、羥甲基型甲基化三聚氰胺樹脂、完全烷基型甲基化三聚氰胺樹脂等。其中，以羥甲基化三聚氰胺樹脂為最佳。再者，為了促進三聚氰胺系交聯劑之熱硬化，亦可使用例如對甲苯磺酸等酸性觸媒。 又，在本發明中所用之噁唑啉系交聯劑，只要為該化合物中具有噁唑啉基作為官能基者即可，無特別限定，然而較佳為包含含噁唑啉基的共聚物者，該含噁唑啉基的共聚物包含至少1種以上含噁唑啉基之單體，且將至少1種其他單體共聚合而得。

就含噁唑啉基之單體而言，可使用2-乙烯 基-2-噁唑啉、2-乙烯基-4-甲基-2-噁唑啉、2-乙烯基-5-甲基-2-噁唑啉、2-異丙烯基-2-噁唑啉、2-異丙烯基-4-甲基-2-噁唑啉、2-異丙烯基-5-乙基-2-噁唑啉等，亦可使用此等之1種或2種以上之混合物。其中，2-異丙烯基-2-噁唑啉在工業上取得容易，故為較佳。

在噁唑啉系交聯劑中，就相對於含有噁唑 啉基之單體而使用之至少1種的其他單體而言，只要為可與含有該噁唑啉基之單體共聚合的單體即可，無特別限定，然而可使用例如，丙烯酸甲酯、甲基丙烯酸甲酯、丙烯酸乙酯、甲基丙烯酸乙酯、丙烯酸丁酯、甲基丙烯酸丁酯、丙烯酸-2-乙基己酯、甲基丙烯酸-2-乙基己酯等丙烯酸酯或甲基丙烯酸酯類；丙烯酸、甲基丙烯酸、衣 康酸、馬來酸等不飽和羧酸類；丙烯腈、甲基丙烯腈等不飽和腈類；丙烯醯胺、甲基丙烯醯胺、N-羥甲基丙烯醯胺、N-羥甲基甲基丙烯醯胺等不飽和醯胺類；乙酸乙烯酯、丙酸乙烯酯等乙烯酯類；甲基乙烯基醚、乙基乙烯基醚等乙烯基醚類；乙烯、丙烯等烯烴類；氯乙烯、偏二氯乙烯、氟乙烯等含鹵素-α,β-不飽和單體類；苯乙烯、α-甲基苯乙烯等α,β-不飽和芳香族單體類等；亦可使用此等之1種或2種以上的混合物。

又，在本發明中所用之碳化二亞胺系交聯 劑，只要在該化合物中，只要為分子內具有1個或2個以上碳化二亞胺基、或與其有互變性關係之氰胺基作為官能基的化合物即可，無特別限定。就此種碳化二亞胺化合物之具體例而言，可列舉二環己基甲烷碳化二亞胺、二環己基碳化二亞胺、四甲基茬基碳化二亞胺、尿素改質碳化二亞胺等，亦可使用此等1種或2種以上之混合物。

本發明之偏光片保護聚酯薄膜，以構成之 樹脂層(X)之至少一者包含水溶性聚酯樹脂，另一者包含水溶性丙烯酸改質樹脂，且包含水溶性丙烯酸改質樹脂之樹脂層的折射率係1.53以下為較佳。在此情況，包含水溶性聚酯樹脂之樹脂層與PVA之黏合性提高，另一側之水溶性丙烯酸改質樹脂層，藉由將折射率作成1.53以下，而使薄膜表面之反射率降低，有抑制干擾條紋之效果。包含水溶性丙烯酸改質樹脂之樹脂層的折射率以1.52以下為更佳。為達成該折射率，水溶性樹脂以極化率低為較佳。 繼而，將本發明之積層薄膜之較佳製造方法於以下說明。當然，本發明並非限定於該相關之實例而解釋者。

首先，記載一般聚酯薄膜之具體製造方法 。首先，關於本發明所用之二軸配向薄膜所用的聚酯樹脂A(相當於樹脂A)及聚酯樹脂B(相當於樹脂A)，可使用市售之聚對苯二甲酸乙二酯樹脂或聚對苯二甲酸丁二酯樹脂，或依照周知之方法聚縮合而得到，然而例如聚對苯二甲酸乙二酯樹脂之情況，可藉由如以下的方式聚合。在對苯二甲酸二甲酯、及乙二醇之混合物中，添加乙酸鎂及三氧化銻，慢慢升溫，最後於220℃使甲醇餾出，同時進行酯交換反應。繼而，在該酯交換反應生成物中添加85%磷酸水溶液後，移至聚縮合反應釜。在聚合釜內加熱升溫，同時將反應系慢慢減壓，於1hPa之減壓下，在290℃進行聚縮合反應，可得到期望之極限黏度之聚對苯二甲酸乙二酯樹脂。在添加粒子之情況，較佳為將使粒子分散於乙二醇而成之漿液，以成為設定之粒子濃度的方式添加於聚合反應釜而進行聚合。

又，聚對苯二甲酸丁二酯樹脂之製造，可 依照例如以下之方式進行。將對苯二甲酸、及1,4-丁二醇之混合物於氮蒙氣下升溫至140℃，作成均勻溶液後，添加鄰苯二甲酸四正丁酯及單羥丁基錫氧化物，進行酯化反應。繼而，添加鄰苯二甲酸四正丁酯，於減壓下進行聚縮合反應，可得到期望之極限黏度之聚對苯二甲酸丁二酯樹脂。

針對使用以上述方式所得到之聚酯樹脂 ，製造本發明之積層聚酯薄膜、及積層11層以上而成之多層積層聚酯薄膜時的較佳方法，具體記述於下。

首先，在將使用之聚酯樹脂混合的情況， 以成為設定之比率的方式計量及混合。繼而，於氮蒙氣、真空蒙氣等下，進行例如150℃ 5小時之乾燥，使聚酯樹脂中之水分率較佳成為50ppm以下。其後，供應至押出機進行熔融押出。再者，在使用排氣式二軸押出機進行熔融押出之情況，可將樹脂之乾燥步驟省略。繼而，通過過濾器或齒輪泵，進行異物之除去、押出量之均衡化，從T模頭以片狀吐出至冷卻滾筒上。此時，藉由例如下述方法，而將片狀聚合物與鑄造滾筒黏合，冷卻固化，得到未延伸薄膜：使用線狀電極或帶狀電極施加靜電的方法、在鑄造滾筒與所押出之聚合物片之間設置水膜的鑄造法、將鑄造滾筒溫度作成聚酯樹脂之玻璃轉移點~(玻璃轉移點-20℃)而使押出之聚合物黏著的方法、或將此等方法之複數種組合的方法。在此等鑄造法之中，於使用聚酯之情況，從生產性或平面性之觀點，較佳為使用施加靜電之方法。

繼而，藉由將該未延伸薄膜沿長度方向延 伸後，沿寬度方向延伸，或沿寬度方向延伸後，沿長度方向延伸之逐次二軸延伸方法，或藉由將薄膜之長度方向、寬度方向幾乎同時延伸之同時二軸延伸方法等而進行延伸。

就該延伸方法中之延伸倍率而言，在各個 方向，較佳為採用2.5~3.5倍，更佳為採用2.8~3.5倍， 特佳為採用3~3.4倍。又，延伸速度以1,000~200,000%/分鐘為較佳。又，延伸溫度雖採用玻璃轉移點~(玻璃轉移點+50℃)之溫度，然而更佳為90~130℃，特佳為將長度方向之延伸溫度作成100~120℃，寬度方向之延伸溫度作成90~110℃較佳。又，延伸亦可對各方向進行複數次。

再者，於本發明之積層薄膜，為了抑制薄 膜寬度方向之遲滯或配向角之分散度，以於横延伸速度設有差異為較佳，具體而言，在將横延伸區2分割之情況，於横延伸區中間點之薄膜之延伸量(計測地點之薄膜寬-延伸前薄膜寬)，以横延伸區終了時之延伸量之60%以上為較佳。更佳為70%以上。藉由如此改變於横延伸區之延伸比率，可抑制薄膜寬度方向之遲滯或配向角之分散度，繼而可作成在液晶顯示器安裝時無著色或無亮度降低的高品質液晶顯示器。

再者，於本發明之積層薄膜，以使横延伸 時之溫度階段性地改變為較佳。具體而言，在將横延伸區2分割之情況，以横延伸區中間點為基點，於前半及後半之延伸區間之蒙氣溫度，設有20℃以上的差異。此處所謂蒙氣溫度，只要於横延伸區之前半部分之一部分以及後半部分之一部分之溫度有滿足上述的部分即可。較佳為設有40℃以上的差異。藉由將此種横延伸區之延伸溫度階段性地改變，可抑制薄膜寬度方向之遲滯或配向角之分散度，繼而可形成安裝於液晶顯示器時無著色或無亮度降低的高品質液晶顯示器。

如此進行二軸延伸之薄膜，為了賦予平面 性、尺寸安定性，以進行熱處理為較佳。熱處理可藉由在烘箱中、經加熱之滾輪上等先前周知之任何方法進行。此熱處理係於120℃以上聚酯熔點以下之溫度進行，然而以200~240℃之熱處理溫度為較佳。從薄膜之透明性、尺寸安定性之點而言，若為210~235℃則更佳。又，熱處理時間在不使特性惡化之範圍內，可任意選擇，較佳為進行1~60秒，更佳為1~30秒。再者，熱處理可使薄膜沿長度方向及/或寬度方向鬆弛而進行。

再者，在横延伸步驟之前，為使與油墨印 刷層或接著劑、蒸著層之接著力提高，至少於單面進行電暈放電處理，將該表面之濡濕張力作成47mN/m以上，在其處理面形成本發明之樹脂層(X)。本形成中，可使用滾輪塗布器、凹板塗布器、微凹板塗布器、棒塗布器、模塗布器、浸漬塗布器等周知之塗布工具。

關於同時二軸延伸之情況，說明如下。在 同時二軸延伸之情況，於所得到之鑄造薄膜上，以與逐次二軸延伸之情況同樣地，對薄膜單面進行電暈放電處理，形成水溶性樹脂層。繼而，將鑄造薄膜導至同時二軸拉幅機，將薄膜之兩側用夾具挾持，同時輸送，沿長度方向及寬度方向同時及/或階段性地延伸。就同時二軸延伸機而言，有縮放儀方式、螺桿方式、驅動馬達方式、線性馬達方式，然而以可任意變更延伸倍率，可在任意場所進行鬆弛處理之驅動馬達方式或線性馬達方式為較佳。就延伸倍率而言，雖依據樹脂之種類而異，然而 通常就面積倍率而言，以6~50倍為較佳，於構成積層薄膜之樹脂之任者使用聚對苯二甲酸乙二酯之情況，就面積倍率而言，以8~30倍為特佳。尤其在同時二軸延伸之情況，為了抑制面內之配向差，以將長度方向及寬度方向之延伸倍率設為相同，同時延伸速度亦幾乎變得相等為較佳。又，就延伸溫度而言，以構成積層薄膜之樹脂之玻璃轉移溫度~玻璃轉移溫度+120℃為較佳。

如此二軸延伸之薄膜，為了賦予平面性、 尺寸安定性，以繼而在拉幅機內進行延伸溫度以上熔點以下之熱處理為較佳。在此熱處理之時，為了抑制沿寬度方向之主配向軸之分布，以在即將進入熱處理區之前及/或剛進入熱處理區之後，瞬時地沿長度方向進行鬆弛處理為較佳。以此種方式熱處理後，均勻地緩慢冷卻後，冷至室溫然後捲取。又，視需要可在從熱處理至徐冷之時，沿長度方向及/或寬度方向進行鬆弛處理。在即將進入熱處理區之前及/或剛進入熱處理區之後，瞬時地沿長度方向進行鬆弛處理。

11層以上之多層積層薄膜之較佳製造方 法，可依照與日本特開2007-307893號公報之[0053]~[0063]段所記載之內容同樣的方法簡便地實施。將熱可塑性樹脂以顆粒(pellet)等形態準備。顆粒可視需要，於熱風中或真空下乾燥後，供給個別押出機。在押出機內，加熱熔融至熔點以上之樹脂，藉由齒輪泵等將樹脂押出量均勻化，並經由過濾器等除去異物或改質之樹脂等。此等樹脂藉由模頭成形為目的形狀後，吐出。然後， 從模頭吐出之積層為多層之片，被押出至鑄造滾筒等之冷卻體上，使其冷卻固化，得到鑄造薄膜。此時，較佳為使用線狀、帶狀、針狀或刀狀等之電極，藉由靜電力使其黏合於鑄造滾筒等之冷卻體而急冷固化。又，亦較佳為從狹縫狀、點狀、面狀之裝置吹出空氣，使其黏合於鑄造滾筒等之冷卻體上而急冷固化，或以夾輥使其黏合於冷卻體上而急冷固化的方法。

又，將A層所用之熱可塑性樹脂及與其相 異之熱可塑性樹脂B之複數種樹脂，使用2台以上押出機，從相異流路輸出，輸送至多層積層裝置。就多層積層裝置而言，可使用多歧管模頭、進料構件、靜態混合器等，但特別為了效率良好地得到本發明之構成，以使用具有11個以上微細縫隙之進料構件為較佳。若使用此種進料構件，由於裝置不會變得極端大型化，因熱劣化所造成之異物少，即使在積層數極多之情況，高精度之積層亦為可能。又，將寬度方向之積層精度與先前技術比較，亦非常地提高。又，此裝置由於可將各層之厚度藉由縫隙之形狀(長度、寬度)而調整，所以可達成任意的層厚度。

以此種方式，將形成為期望之層構成的熔 融多層積層體導入模頭，可得到如上述之鑄造薄膜。所得到之鑄造薄膜藉由與上述同樣之逐次二軸延伸或同時二軸延伸等，而作成期望之薄膜。

如以上方式進行所得到之積層薄膜，與使 市售之PVA中含有碘並配向而作成之PVA貼合，可作為 偏光板使用。

[實施例]

茲記載本發明中所使用之物性值之評價法。

[物性之評價方法]

物性值之評價方法以及效果之評價方法如以下所示。

(1)層厚度、積層數、積層構造層構成，係對於使用切片機(microtome)切出斷面而得之樣本，藉由透射型電子顯微鏡(TEM)觀察而求得。亦即，使用透射型電子顯微鏡H-7100FA型(日立製作所(股)製)，以加速電壓75kV之條件將薄膜之斷面放大40000倍進行觀察，拍攝斷面照片，測定層構成及各層厚度。再者，視情況為了提高對比，採取使用周知之RuO₄或OsO₄等的染色技術。

(2)層厚度之計算方法將上述(1)項所得到之4萬倍TEM照片影像，使用CanonScanD123U，以影像尺寸720dpi抓取。將影像以位元映像檔(BMP)或壓縮影像檔(JPEG)保存於個人電腦，繼而，使用影像處理軟體Image-Pro Plus ver.4(銷售商Planetron(股))打開此檔案，進行影像解析。影像解析處理係以垂直厚度剖面模式(vertical thick profile mode)，並視需要使用低通濾波器(low-pass filter)。再者，低通濾波器最大為10×10。繼而，將「厚度方向位置」與「寬度方向之2條線間所夾區域之平均亮度」的關係以數值數據來讀取。使用表計算軟體，並採用位置(nm)及亮度之 數據。再者，將此所得到之週期性亮度變化的數據微分，藉由VBA(Visual Basic for Applications)程式讀取此微分曲線之極大值及極小值，以鄰接之此等之間隔作為1層之層厚度而算出層厚度。對每張照片進行此操作，算出所有層之層厚度。

又，將製膜時與鑄造滾筒之接觸面當作第1層，沿厚度方向以稱為第2層、第3層之方式指定層數。其中之第1層意指熔融押出之層，與以塗布等所設置之樹脂層不同。

(3)玻璃轉移溫度(Tg)‧熔點(Tm)使用示差熱量分析(DSC)，將吐出後立即以10℃以下之冷水冷卻的熔融混煉聚酯片，以5℃/分鐘從25℃升溫至290℃，依據JIS-K-7122(1987年)測定及計算此時出現之轉移點。

裝置：SEIKO Electronics industrial(股份)「Robot DSC-RDC220」

數據解析「Disk Session SSC/5200」

樣本質量：5mg。

(4)固有黏度(IV)從在鄰氯酚中、於25℃所測定之溶液黏度算出。又，溶液黏度係使用奧氏黏度計(Ostwald viscometer)測定。單位以[dl/g]表示。再者，n數為3，採用其平均值。

(5)分光反射率之測定對於積層薄膜之5cm四方樣本，使用日立製作所製之分光光度計(U-4100 Spectrophotometer)測定入射角度=10 度之相對反射率。附屬之積分球之內壁為硫酸鋇，標準板為氧化鋁。設定測定波長為250nm~1200nm，間隔為5nm(可見光)/10nm(紅外線)，將放大率(gain)設定成2，以1nm之刻度、使掃描速度為600nm/分鐘進行測定。樣本測定時，為了消除由來自樣本背面之反射所造成的干擾，將樣本之背面貼合日東電工製之聚氯乙烯絕緣帶(Vinyl Tape)(註冊商標)。再者，可見光及紅外光之檢測器的切換波長為850nm。

(6)振動波形之振幅ΔR 將(5)項之測定所得到的以1nm刻度之分光反射率曲線(曲線A)的數據，作為相對於波長之反射率數據，進行20點移動平均處理。繼而藉由將所得到之波長259.5~1190.5nm範圍之每1nm之數據進行線性內插，而變換為波長260~1190nm範圍之每1nm之數據，得到20點移動平均分光反射率曲線(曲線B)。在波長區間400~700nm中，取曲線A及曲線B之差(曲線A中之反射率-曲線B中之反射率)，得到振動波形。從此振動波形求取反射率差之最大值Rmax及最小值Rmin，利用(1)式，算出ΔR。

(7)樹脂層(X)之折射率 對於將所用之樹脂乾燥固化或以活性光線作用而得之膜厚約1mm之膜，使用Atago公司製阿貝折射率計，依據JIS-K-7105(1981)進行測定。亦即，以鈉燈(Na-D線)作為光源，介質液(mounting liquid)係使用二碘甲烷，於23℃、相對濕度65%下，測定垂直之2個方向之複折射，以其平均值作為折射率。

(8)遲滯及厚度方向遲滯 使用王子計測機器(股)製之相位差測定裝置(KOBRA-21ADH)。將樣本從薄膜寬度方向中央部切出3.5cm×3.5cm，以薄膜寬度方向成為本測定裝置所定義之角度0°的方式設置於裝置中，以遲相軸模式測定入射角設定為0°之波長590nm之遲滯。 又，對於厚度方向遲滯，以折射率模式測定入射角設定為50°之波長590nm之遲滯。

(9)楊氏模數 依據JIS-K7127(1999年)所規定之方法，使用英斯特(Instron)型之拉伸試驗機進行測定。測定係以下述條件進行。

測定裝置：Orientec股份有限公司製薄膜強伸度自動測定裝置「Tensilon AMF/RTA-100」

試料尺寸：寬10mm×標距50mm

拉伸速度：300mm/分鐘

測定環境：溫度23℃、濕度65%RH。

(10)靜摩擦係數(μs)，動摩擦係數(μd)按照ASTM-D-1894，在藉由滑動測試機以滑行速度150毫米/分鐘、荷重200g之條件開始滑行後，基於以電阻應變計檢測之應力(電阻值)，藉由式(2)算出。再者，靜摩擦係數為從剛滑出後之電阻值所求得的摩擦係數，動摩擦係數為滑出後之於穩定區域之電阻值。

摩擦係數=電阻值(G)/荷重(G)

(11)霧度

使用直讀式霧度計HGM-2DP(Suga試驗機器製作所製)，依據JIS K 7105實施測定。霧度(%)係將擴散透過率除以全光線透過率，乘以100而算出。

(12)接著性

首先，將皂化度相異之PVA分別溶於水，調製4種固體成分濃度5%之PVA溶液。以下表示於4種PVA溶液中所用之PVA。

PVAa：完全皂化型PVA(皂化度：98~99莫耳%)「PVA-117」(Kuraray(股)製)

PVAb：準完全皂化型PVA(皂化度：91~94莫耳%)「AL-06」(日本合成化學工業(股)製)

PVAc：乙醯基改質PVA(皂化度：92~94莫耳%)「Z-320」(日本合成化學工業(股)製)

PVAd：部分皂化型PVA(皂化度：78~82莫耳%)「KL-06」(日本合成化學工業(股)製)

繼而，在聚酯薄膜之樹脂層(X)-2之上使用棒式塗布器(松尾產業(股)製，編號：4號，濕厚度：約8μm)分別塗布4種PVA溶液，使用熱風烘箱「HIGH-TEMP-OVEN PHH-200(Espec(股)製)」，於100℃進行乾燥1分鐘，得到4種接著性評價用薄膜。在所得到之接著性評價用樣本上，依據JIS5600-5-6(1999年制定)，以切割間隔2mm切劃出5×5之25個格子。繼而在劃有格子之部分，將Nichiban 18mm Cellotape(註冊商標)(品號：CT-118S)以能見到格子之方式，以手指用力擦拭Cellotape(註冊商標)。然後，以對樹脂層呈約60°之角度瞬間剝下Cellotape( 註冊商標)。計算格之剝離數。評價次數為5次，求其平均值。評價基準規定以下。將評價基準「A」「B」判定為良好接著性。

A：格之剝離數為1格以下

B：格之剝離數為3格以下

C：格之剝離數為4格以上5格以下

D：格之剝離數為6格以上

(13)可見度測試(干擾色)

在於PVA中使碘吸附、配向所作成之偏光度99.9%之偏光板之一側的面上，貼合從薄膜寬度方向中央部分切出之寬度方向420mm、長度方向310mm的樣本，作成測試片。將作成之測試片與未貼附薄膜之偏光板，以正交尼柯耳之配置重疊，確認放置在LED光源(Trytec製A3-101)上之情況的可見度。

◎：幾乎未見到干擾色。

○：見到些許干擾色，不過實用上無問題。

×：由於干擾色明顯可見，或影像變得不清楚，不適合顯示器用途。

(14)捲取性

確認將製造之薄膜以捲取機捲取成捲筒狀時，於捲取期間及捲取後的薄膜狀況。

◎：捲取後之捲筒及從捲筒捲出之薄膜無皺紋，幾乎看不到捲繞偏差或突起之發生。

○：捲取後從捲筒將薄膜捲出時，以目視可見薄膜上之皺痕，然而以與上述(13)可見度測試同樣之方法確 認可見度時，未見捲取時發生之皺紋、條痕、突起。

×：捲取後之捲筒上可見許多皺紋，以與上述(13)可見度測試同樣之方法確認可見度時，可見到皺紋、條痕、突起。又，捲取中發生捲繞偏差，捲筒薄膜寬度方向之末端偏差3cm以上。

(15)L＊(SCI)及L＊(SCE)

將偏光片保護用聚酯薄膜之單面使用黑色的丙烯酸清漆噴霧劑H62-8034(ROCK PAINT股份有限公司製)塗布成黑色，在該面相反側之面經由黏著片SK-1478(綜研化學股份有限公司製)與10cm四方、厚度0.55mm之Corning(R)Gorilla(R)Glass(Corning Incorporated製)以不包入氣泡方式層疊，製成玻璃層疊樣本。再者，塗布成黑色後，一度將樣本朝向螢光燈，確認不透光。

將製成之玻璃層疊樣本的玻璃面，使用 KONICA MINOLTA股份有限公司製CM-3600d，於測定徑 8mm之目標光罩(CM-A106)條件下，以包含正反射光之SCI方式及除去正反射之SCE方式測定L值，求取n數3之平均值。再者，白色校正板係使用CM-A103，歸零校正盒係使用CM-A104，光源為D65。

(16)樹脂層(X)之厚度不均

偏光片保護用聚酯薄膜長度方向每隔10cm共計2m，進行分光透過率測定，從所得到之分光特性算出樹脂層厚度，並算出厚度不均。分光透過率係對於偏光片保護用聚酯薄膜之5cm四方樣本，使用日立製作所製分光光度計(U-4100 Spectrophotometer)，測定入射角度=0 度之透過率。附屬之積分球的內壁為硫酸鋇，標準板為氧化鋁。設定測定波長為250nm~1200nm，間隔為5nm(可見光)/10nm(紅外線)，將放大率(gain)設定為2，以1nm之刻度，使掃描速度為600nm/分鐘進行測定。對於厚度不均之判定，係觀測波長400~500nm之透過率在長度方向之變動，並採用以下之基準。

厚度不均20%以下：透過率變動為5%以下

厚度不均40~20%：透過率之變動為5~10%

厚度不均50~40%：透過率之變動為20%以上

(17)可見度測試(干擾條紋)

確認將上述(15)所製作之玻璃層疊樣本之玻璃面側放置於F10光源螢光燈(擴散光)下時的可見度。再者，所用之螢光燈為形式：FPL27EX-N，樣本與螢光燈之距離為33cm。

◎：幾乎未見到干擾條紋。

○：可見到些許干擾條紋，不過實用上無問題。

△：可見到干擾條紋，不過實用上在適用範圍。

×：干擾條紋及著色清晰可見，不適合顯示器用途。

[樹脂]

就積層薄膜之樹脂而言，準備以下者。

<樹脂A>

在100重量份對苯二甲酸二甲酯、60重量份乙二醇之 混合物中，相對於對苯二甲酸二甲酯量，添加0.09重量份之乙酸鎂、0.03重量份之三氧化銻，依照常法加熱升溫進行酯交換反應。繼而，在該酯交換反應生成物中，相對於對苯二甲酸二甲酯量，添加0.020重量份之85%磷酸水溶液後，移至聚縮合反應層。再者，加熱升溫，同時將反應系慢慢減壓，在1mmHg減壓下、於290℃，依照常法進行聚縮合反應，得到IV=0.63之聚對苯二甲酸乙二酯。

另一方面，就樹脂B而言，準備以下者。

<樹脂B-1>

IV=0.74，與(30莫耳%環己烷二甲醇)共聚合之聚對苯二甲酸乙二酯。

<樹脂B-2>

IV=0.55，與(20莫耳%螺甘油成分、30莫耳%環己烷二甲酸成分)共聚合之聚對苯二甲酸乙二酯。

[樹脂層(X)之調合方法]

所使用之樹脂層之調合方法如以下所述。

<樹脂B-3>

IV=0.6，在與(20莫耳%螺甘油成分、30莫耳%環己烷二甲酸成分)共聚合之聚對苯二甲酸乙二酯中混煉有15wt%之樹脂A者。

<樹脂B-4>

IV=0.7，與(25莫耳%間苯二甲酸(IPA))共聚合之聚對苯二甲酸乙二酯。

<樹脂層O>

樹脂溶液(a)：包含甲基丙烯酸甲酯(62莫耳%)、丙烯酸乙酯(30莫耳%)、丙烯酸(2莫耳%)、N-羥甲基丙烯醯胺(1莫耳%)、環氧乙烷(ethylene oxide)之重複單元為16之聚乙二醇單甲基丙烯酸酯(3莫耳%)、丙烯酸2-磺酸基乙酯(2莫耳%)之丙烯酸樹脂溶液

交聯劑(b)：羥甲基型三聚氰胺交聯劑

粒子(c)：粒徑80nm之膠質氧化矽粒子的水分散體。

氟系界面活性劑(d)：將此等以固體成分重量比(a)/(b)/(c)/(d)=30重量份/8重量份/2重量份/0.6重量份之方式混合。

<樹脂層P>

樹脂溶液(e)：70重量份之包含酸成分及二元醇成分之聚酯樹脂之水溶性塗液[其中酸成分為對苯二甲酸(88莫耳%)、5-磺酸基間苯二甲酸鈉(12莫耳%)，二元醇成分為乙二醇(100莫耳%)]，與30重量份之包含酸成分及二元醇成分之聚酯樹脂之水性分散體[其中酸成分為對苯二甲酸(50莫耳%)、間苯二甲酸(49莫耳%)、5-磺酸基間苯二甲酸鈉(1莫耳%)，二元醇成分為乙二醇(55莫耳%)、新戊二醇(44莫耳%)、聚乙二醇(分子量：4000)(1莫耳%)]混合而成的溶液。

交聯劑(b)：羥甲基型三聚氰胺交聯劑

交聯劑(f)：含有噁唑啉基之交聯劑

粒子(g)：粒徑140nm之膠質氧化矽粒子之水分散體

粒子(h)：粒徑300nm之膠質氧化矽粒子之水分散體

氟系界面活性劑(d)：-

將此等以固體成分重量比(e)/(b)/(f)/(g)/(h)/(d)=47重量份/19重量份/4.9重量份/0.7重量份/0.1重量份之方式混合。

<樹脂層Q>

將樹脂層P所用之(b)~(h)以固體成分重量比(e)/(b)/(f)/(g)/(h)/(d)=47重量份/19重量份/4.9重量份/5.0重量份/0.4重量份之方式混合。

<樹脂層R>

將樹脂層P所用之(b)~(h)以固體成分重量比(e)/(b)/(f)/(g)/(h)/(d)=47重量份/19重量份/4.9重量份/1.1重量份/1.0重量份之方式混合。

<樹脂層S>

將樹脂層P所用之(b)~(h)以固體成分重量比(e)/(b)/(f)/(g)/(h)/(d)=47重量份/19重量份/4.9重量份/1.1重量份/0.4重量份之方式混合。

<樹脂層T>

將樹脂層P所用之(b)~(h)以固體成分重量比(e)/(b)/(f)/(g)/(h)/(d)=47重量份/19重量份/4.9重量份/7.0重量份/1.0重量份之方式混合。

<樹脂層U>

將樹脂層P所用之(b)~(h)以固體成分重量比(e)/(b)/(f)/(g)/(h)/(d)=47重量份/19重量份/2.5重量份/0.4重量份/0.1重量份之方式混合。

<樹脂層V>

將樹脂層O所用之(a)、(b)、(d)及水溶性樹脂P所用 之(g)、(h)以固體成分重量比(a)/(b)/(g)/(h)/(d)=25重量份/6重量份/0.3重量份/0.1重量份/0.3重量份之方式混合。

(實施例1)

將樹脂A於180度實施3小時之真空乾燥後，另一方面，將樹脂B-1於150度實施3小時真空乾燥後，分別投入2台二軸押出機，於280度熔融混煉。再者，進料斗下部進行氮沖洗。繼而，通過5片FSS(纖維燒結立體(Fiber Sintered Stereo))型之葉盤式過濾器(leaf disk filter)後，藉由齒輪泵，以吐出比為樹脂A/樹脂B-1=1.1/1之方式，計量同時合流至縫隙數251個之縫隙積層裝置，作成在厚度方向交互積層251層之積層體。作成積層體之方法，係依照日本特開2007-307893號公報[0053]~[0056]段之記載進行。其中縫隙之長度、間隔全為固定。所得到之積層體具有126層之包含樹脂A之樹脂層及125層之包含樹脂B之樹脂層，在厚度方向交互積層之積層構造。又，將在噴嘴內部之擴幅比，即噴嘴唇部之薄膜寬度方向長度除以在噴嘴流入口部之薄膜寬度方向長度的值，設定成為2.5。將如此進行所得到之包含共計251層的積層體供給至多歧管模頭，以片狀成形後，藉由電線施加8kV之靜電，在表面溫度保持25℃之鑄造滾筒上急冷固化。將所得到之鑄造薄膜，以設定為75℃之滾輪群加熱後，在長100mm之延伸區中，從薄膜兩面藉由電輻射加熱器急速加熱，同時沿縱方向延伸3.3倍，然後一度冷卻。接著，在此單軸延伸薄膜的兩面，於空氣中施行電暈放電處理，將基材薄膜之濡濕張力調成55mN/m，分別使用計量棒(meter bar)# 4在與薄膜之薄膜厚度方向垂直之一側之薄膜表面塗布樹脂層O，在位於與上述薄膜面相反側之薄膜表面塗布樹脂層Q。

將此單軸延伸薄膜導至拉幅機，以105℃熱風預熱後，以140℃之溫度沿横方向延伸4.3倍。延伸之薄膜以原樣在拉幅機內，藉由225℃之熱風進行熱處理，繼而於同溫度沿寬度方向施行2%之鬆弛處理，再者，急冷至100℃後，沿寬度方向施行1%鬆弛處理，然後，得到捲取積層薄膜。所得到之薄膜顯示如表1所示之物性，為低霧度、捲取性良好、亦未見干擾色之薄膜。

(實施例2)

除了將實施例1中使用的積層裝置改為使用縫隙數為491個之裝置，於B層改用樹脂B-2，並將樹脂B-2於100℃之氮氣下實施乾燥以外，以與實施例1同樣之方式得到薄膜。所得到之薄膜顯示如表1所示之物性，係即使薄膜厚度為30μm，亦為低霧度、捲取性良好、亦未見干擾條紋之薄膜。

(實施例3)

除了將實施例2中之樹脂層(X)-2改為樹脂層P，A層與B層之吐出比改為樹脂A/樹脂B-2=1.0/2.0以外，以與實施例2同樣之方式得到薄膜。所得到之薄膜顯示如表1所示之物性，為低霧度、亦未見干擾色之薄膜，儘管薄膜之剛性薄弱，但為捲取性良好者。

(實施例4)

除了將實施例2中之樹脂層(X)-2改為樹脂層S以外 ，以與實施例2同樣之方式得到薄膜。所得到之薄膜顯示如表1所示之物性，為低霧度、亦未見干擾色之薄膜，捲取性亦良好。

(實施例5)

除了將實施例1中之樹脂層(X)-2改為樹脂層R以外，以與實施例1同樣之方式得到薄膜。所得到之薄膜顯示如表1所示之物性，藉由形成樹脂層R，雖然霧度些許變高，影像清晰性變差，不過仍在無問題之範圍，為捲取性良好之薄膜。

(實施例6)

除了將實施例1中之樹脂層(X)-2改為樹脂層T以外，以與實施例1同樣之方式得到薄膜。所得到之薄膜顯示如表1所示之物性，藉由形成樹脂層T，與實施例1相比，為捲取性良好之薄膜。

(實施例7)

除了將實施例1中使用的積層裝置改用縫隙數201個之裝置，將樹脂層(X)-1改為樹脂層P，將樹脂層(X)-2改為樹脂層P以外，以與實施例1同樣之方式得到薄膜。所得到之薄膜顯示如表1所示之物性，與實施例1相比，雖可見些許由表面反射造成之干擾條紋，然而在無問題之範圍，為低霧度、捲取性良好之薄膜。

(實施例8)

除了將實施例7中之樹脂層(X)-1之樹脂層厚度改為200nm以外，以與實施例7同樣之方式得到薄膜。所得到之薄膜顯示如表1所示之物性，藉由將樹脂層(X)-1之厚 度增厚，與實施例7相比，雖霧度值有些高，然而為無問題之程度，為捲取性、干擾色方面亦良好之薄膜。

(實施例9)

除了在實施例3中只使用A層以外，以與實施例3同樣之方式得到薄膜。所得到之薄膜顯示如表1所示之物性，為低霧度、捲取性良好之薄膜。

(比較例1)

除了於實施例7中，改為：藉由拉幅機以100℃之熱風預熱後，於120℃之溫度進行延伸，將延伸之薄膜於拉幅機內，以230℃之熱風進行熱處理，繼而於同溫度沿寬度方向施行5%之鬆弛處理，並急冷以外，以與實施例7同樣之方式得到薄膜。所得到之薄膜遲滯高達310nm，可見到干擾色，不適合顯示器用途。

(比較例2)

除了將實施例3中之樹脂A與樹脂B之吐出比改為樹脂A/樹脂B-2=1.0/3.0以外，以與實施例2同樣之方式得到薄膜。所得到之薄膜由於楊氏模數低、剛性薄弱，所以捲取性不良。又，延伸時發生薄膜厚度不均，不適合顯示器用途。

(比較例3)

除了將實施例7中之樹脂層(X)-2之層厚度改為50nm以外，以與實施例7同樣之方式得到薄膜。所得到之薄膜可見到干擾條紋強烈，ΔR高達9%，不適合顯示器用途。

(比較例4)

除了於實施例7，改為：於長100mm之薄膜長度方向 延伸區之中，從薄膜兩面藉由電輻射加熱器急速加熱，同時沿縱方向延伸3.8倍；又，藉由拉幅機以110℃之熱風預熱後，以140℃之溫度延伸，並將延伸之薄膜在拉幅機內以230℃之熱風進行熱處理，繼而於同溫度沿寬度方向施行5%之鬆弛處理並急冷以外，以與實施例7同樣之方式得到薄膜。所得到之薄膜，薄膜寬度方向之楊氏模數高達4102MPa，與0.55mm之Gorilla Glass層疊時，於玻璃發生翹曲，不適合顯示器用途。

(實施例10)

除了將實施例1中使用的積層裝置改為使用縫隙數為260個之裝置，於樹脂B使用樹脂B-3；又將樹脂層(X)-1之厚度改為50nm以外，以與實施例1同樣之方式得到薄膜。所得到之薄膜顯示如表1所示之物性，為低霧度、捲取性良好、亦未見干擾色之薄膜。

(實施例11)

除了將實施例10中之樹脂B改為樹脂B-1，樹脂層(X)-1改為樹脂層V，樹脂層(X)-2改為樹脂層P以外，以與實施例10同樣之方式得到薄膜。所得到之薄膜顯示如表1所示之物性。若與實施例10相比，為相位差略高者，然而未出現干擾條紋、干擾色，係在安裝於顯示器時可見度方面無問題之範圍者。

(實施例12)

除了將實施例11中之B層改為樹脂B-3以外，以與實施例11同樣之方式得到薄膜。所得到之薄膜顯示如表1所示之物性，為L＊(SCE)值亦低，且捲取性亦良好，無 干擾條紋、干擾色之薄膜。

(實施例13)

除了將實施例11中之B層改為樹脂B-4以外，以與實施例11同樣之方式得到薄膜。所得到之薄膜顯示如表1所示之物性，為低霧度、相位差亦良好之薄膜。

(實施例14)

於實施例12，除了將樹脂層(X)-1改為樹脂層O，將樹脂層O之厚度改為50nm以外，以與實施例12同樣之方式得到薄膜。所得到之薄膜顯示如表1所示之物性，若與實施例12相比，可見些許干擾條紋，然而即使安裝於顯示器亦在無問題之範圍。

(實施例15)

除了將實施例12中之積層裝置改為使用縫隙數260個、歧管小者以外，以與實施例10同樣之方式得到薄膜。從所得到之薄膜之最表層至第4層之A層及B層的各層厚度為55nm以下，為與實施例12同樣未見干擾條紋、且全光線透過率高之薄膜。

(實施例16)

除了將實施例15中之横向延伸方法改為奧尼翁(Onion)延伸以外，以與實施例15同樣之方式得到薄膜。所得到之薄膜為相位差小、可見度非常良好者。

(實施例17)

除了將實施例16中之樹脂層(X)-1改為樹脂層O以外，以與實施例16同樣之方式得到薄膜。所得到之薄膜顯示如表1所示之物性，為低霧度、捲取性良好之薄膜。

(實施例18)

除了將實施例16中之樹脂層(X)-1改為樹脂層V，將樹脂層(X)-2改為樹脂層R以外，以與實施例16同樣之方式得到薄膜。所得到之薄膜為捲取性良好、可見度亦良好者。

(實施例19)

除了將實施例7中所用之積層裝置改為使用縫隙數3個之裝置，於B層使用樹脂B-4以外，以與實施例7同樣之方式得到薄膜。所得到之薄膜為捲取性良好但霧度略高者，然而安裝於顯示器時之可見度係在無問題之範圍。

[產業上之可利用性]

可使用作為偏光片保護用聚酯薄膜，該聚酯薄膜為二軸延伸聚酯薄膜，同時不呈現干擾色，捲取性良好，且與用於將偏光膜及保護膜接著之接著劑的接著性良好。具體而言，可適合作為偏光板、圓偏光板、觸控面板基材薄膜。

Claims (14)

1. 一種偏光片保護用聚酯薄膜，其係在聚酯薄膜的兩面具有含交聯材料之樹脂層(X)的積層聚酯薄膜，其中該聚酯薄膜於波長590nm之遲滯為280nm以下，且於25℃之長度方向及寬度方向之楊氏模數分別為1000MPa以上且小於4000MPa；其特徵為該積層聚酯薄膜之從分光反射曲線所導出的振動波形中，下式(1)所示之振動波形之振幅ΔR為8%以下，該分光反射曲線係使用日立製作所製分光光度計(U-4100 Spectrophotometer)測定該積層聚酯薄膜於入射角度=10度時之相對反射率而得，ΔR=(Rmax-Rmin)/2(%) 式(1)(其中，振動波形意指對於以1nm刻度之波長所求得之分光反射率曲線，以各測定點為對象進行20點移動平均處理，求出20點移動平均分光反射率曲線，擷取該20點移動平均處理前及處理後之分光反射率曲線之差而得到之曲線之波長400至700nm的範圍；Rmax、Rmin分別為振動波形之最大值及最小值)。
2. 如請求項1之偏光片保護聚酯薄膜，其中該積層聚酯薄膜之全光線透過率為85%以上。
3. 如請求項1或2之偏光片保護用聚酯薄膜，其中該樹脂層(X)之折射率為1.45以上1.60以下。
4. 如請求項1至3中任一項之偏光片保護用聚酯薄膜，其中該樹脂層(X)之至少一者含有1種以上平均粒徑50nm以上1000nm以下之粒子，與薄膜厚度方向垂直之一側 之薄膜表面，及位於與其相反側之薄膜表面的靜摩擦係數為0.5μd以上1.5μd以下，動摩擦係數為0.3μd以上1.0μd以下。
5. 如請求項1至4中任一項之偏光片保護用聚酯薄膜，其中霧度值為3.0%以下。
6. 如請求項1至5中任一項之偏光片保護用聚酯薄膜，其中該積層聚酯薄膜之反射亮度L＊(SCI)為30以下，且L＊(SCE)滿足式(2)：L＊(SCE)≦L＊(SCI)/10 式(2)(其中，L＊(SCI)及L＊(SCE)表示測定以玻璃/黏著層/偏光片保護用聚酯薄膜/黑油墨所構成之樣本之玻璃面側的數值)。
7. 如請求項1至6中任一項之偏光片保護用聚酯薄膜，其中厚度方向遲滯為1500nm以下。
8. 如請求項1至7中任一項之偏光片保護用聚酯薄膜，其中該聚酯薄膜係包含熱可塑性樹脂A之層(A層)及包含熱可塑性樹脂B之層(B層)交互積層至少11層以上而成的積層體。
9. 如請求項8之偏光片保護用聚酯薄膜，其中從該聚酯薄膜之最表層至第4層為止之A層與B層的各層厚度為55nm以下。
10. 如請求項1至9中任一項之偏光片保護用聚酯薄膜，其中該樹脂層(X)之厚度不均度為50%以下。
11. 如請求項1至10中任一項之偏光片保護用聚酯薄膜，其中該樹脂層(X)之厚度為20nm以上且小於5000nm。
12. 如請求項1至11中任一項之偏光片保護用聚酯薄膜，其中該交聯材料含有三聚氰胺系化合物、噁唑啉系化合物、碳化二亞胺(carbodiimide)系化合物之至少1種以上。
13. 如請求項1至12中任一項之偏光片保護用聚酯薄膜，其中該樹脂層(X)之至少一者包含水溶性聚酯樹脂，另一者包含水溶性丙烯酸改質樹脂，包含水溶性丙烯酸改質樹脂之樹脂層的折射率為1.53以下。
14. 一種偏光板，其係將PVA薄膜積層於如請求項1至13中任一項之偏光片保護用聚酯薄膜上而成。