TW201426993A - 顯示面板製造裝置 - Google Patents

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Abstract

一種顯示面板製造裝置包含台階滑件、配置以滑動於台階滑件上且容納測試基板之第一台階、位於台階滑件上且配置以容納主基板之第二台階、以及與台階滑件間隔一距離而設置，且配置以排出有機滴粒於測試基板上、配置以分析有機滴粒之圖樣、配置以根據有機滴粒之圖樣的分析而調整所排出之有機滴粒的圖樣、以及配置以排放有機滴粒於主基板上之圖樣化單元。

Description

顯示面板製造裝置
相關申請案之交互參照
本申請案主張於2012年12月28日向韓國智慧財產局提出申請之申請案號10-2012-0157330之優先權效益，其所揭露之全部內容將併入於此作為參照。
本發明之實施例係有關於一種顯示面板製造裝置。
以可移動性為基礎的電子裝置已被廣泛的使用。除了小型的電子裝置，例如行動電話，平板個人電腦亦已作為行動電子裝置而被廣泛的使用。
行動電子裝置包含提供使用者例如影像的視覺訊息之顯示裝置，以此支援各種功能。用於驅動顯示裝置之其他部件已被製造為小型，且因此行動電子裝置之顯示裝置的重量已減輕。同時，顯示裝置已被發展為具有在平坦狀態可彎曲一角度之可彎曲結構。
顯示裝置包含顯示面板，其可以各種形式而形成且藉由各種製造方法而形成。
可使用各種類型的製程以形成各種類型的層於顯示面板上。特別是，當使用各種類型的層之有機材料時，透過印刷製程，有機層可被堆疊，或可形成堆疊結構。於此，一般來說，有機滴粒(organic drop)(例如，液體(droplet))係排放以於印刷技藝中形成各種類型的層或結構。在印刷技藝中，顯示面板之例如解析度等因子係根據形成有機滴粒之圖樣的方法而決定。因此，有機滴粒係測試基板上預先圖樣化，且接著圖樣化於主基板上。然而，當有機滴粒如上所述被圖樣化於測試基板上時，有機滴粒係於一額外空間內被圖樣化，而非於主基板的製造過程中。
本發明之實施例提供一種精密地排放有機滴粒之顯示面板製造裝置。
根據本發明實施例之態樣，其係提供一種顯示面板製造裝置，其包含台階滑件、配置以滑動於台階滑件上且配置以容納測試基板之第一台階、於台階滑件上且配置以容納主基板之第二台階、以及 與台階滑件間隔一距離而設置，且配置以排放有機滴粒於測試基板上、配置以分析有機滴粒之圖樣、配置以根據有機滴粒之圖樣的分析而調整所排出之有機滴粒的圖樣、以及配置以排放有機滴粒於主基板上之 圖樣化單元 。
顯示面板製造裝置可更包含測試基板上升及下降單元於第一台階上，該測試基板上升及下降單元係配置以將測試基板與第一台階分離。
顯示面板製造裝置可更包含基板提供單元，基板提供單元配置以裝載測試基板於第一台階上、配置以將測試基板從第一台階卸載、配置以裝載主基板於第二台階上、或配置以將主基板從第二台階卸載。
顯示面板製造裝置可更包含乾燥單元，乾燥單元與台階滑件間隔一距離而設置，且配置以將排放至測試基板上之有機滴粒乾燥。
顯示面板製造裝置可更包含面對乾燥單元且配置以容納測試基板於其上之第三台階。
圖樣化單元可包含主框架，其係與台階滑件間隔一距離而設置，且配置以移動於台階滑件之縱向方向及垂直於縱向方向之方向；以及一或多個滴粒排放器，其係位於主框架上，且配置以排放有機滴粒於測試基板上或主基板上。
圖樣化單元可更包含圖樣化分析器，圖樣化分析器係位於主框架上且配置以分析從滴粒排放器所排放至測試基板上之有機滴粒的圖樣。
圖樣化單元可更包含圖樣化分析器，圖樣化分析器 與主框架及台階滑件間隔一距離而設置 ，且配置以分析排放至測試基板上之有機滴粒的圖樣。
顯示面板製造裝置可更包含第四台階，第四台階係位於圖樣化分析器之下表面上，且在有機滴粒之圖樣形成於測試基板上後，配置以容納測試基板於其上。
第一台階可包含對準標記於其上。
顯示面板製造裝置可更包含測試基板加熱單元於第一台階內部以控制第一台階之表面溫度。
第一台階與第二台階可彼此分隔或彼此耦合。
根據本發明實施例之另一態樣，係提供一種顯示面板製造裝置，其包含 台階滑件、位於台階滑件上且配置以容納測試基板或主基板於其上之第二台階、以及與台階滑件間隔一距離而設置，且配置以排放有機滴粒於測試基板上、配置以分析有機滴粒之圖樣以調整所排出之有機滴粒的圖樣、以及配置以排放經調整之圖樣至主基板上之圖樣化單元。
第二台階可包含配置以將測試基板放置於第二台階上之測試基板放置單元。
測試基板放置單元可包含配置以加熱測試基板而硬化有機滴粒之測試基板加熱單元。
顯示面板製造裝置可更包含位於第二台階上且配置以將測試基板與第二台階分離之測試基板上升及下降單元。
顯示面板製造裝置可更包含基板提供單元，基板提供單元係配置以移動於台階滑件之縱向方向，且配置以將測試基板裝載於第二台階上或將測試基板從第二台階卸載。
顯示面板製造裝置可更包含乾燥單元，乾燥單元 與台階滑件間隔一距離而設置，且配置以乾燥排放至測試基板上之有機滴粒。
顯示面板製造裝置可更包含面對乾燥單元且配置以容納測試基板於其上之第三台階。
圖樣化單元可包含 主框架，其係與台階滑件間隔一距離而設置，且配置以移動於台階滑件之縱向方向及與縱向方向垂直之方向；以及一或多個滴粒排放器，其係位於主框架上，且配置以排放有機滴粒於測試基板或主基板上。
圖樣化單元可包含圖樣化分析器，圖樣化分析器位於主框架上且配置以分析從滴粒排放器排放至測試基板上之有機顆粒之圖樣。
圖樣化單元可包含圖樣化分析器，圖樣化分析器 與主框架及台階滑件間隔一距離而設置，且配置以分析排放至測試基板上之有機滴粒的圖樣。
顯示面板製造裝置可更包含位於圖樣化分析器之下表面且配置以容納測試基板之第四台階，其中測試基板上形成有有機滴粒之圖樣。
顯示面板製造裝置可更包含位於第二台階上之對準標記。
100、200、300、400、500、600．．．顯示面板製造裝置
110、210、310、410、510、610．．．台階滑件
120、220、320、420．．．第一台階
130、230、330、430、530、630．．．第二台階
140、240、340、440、540、640．．．圖樣化單元
141、241、341、441、541、641．．．主框架
142、242、342、442、542、642．．．滴粒排放器
143、243、343、443、543、643．．．圖樣化分析器
150、250、350、450．．．測試基板上升及下降單元
151．．．對準標記
160、260、360、460、560、660．．．基板提供單元
170、270、370、470、570．．．滴粒乾燥單元
290、390．．．第四台階
380．．．第三台階
421、632．．．測試基板加熱單元
631．．．測試基板放置單元
T．．．測試基板
M．．．主基板
O．．．有機滴粒
本發明實施例之上述及其他態樣將藉由參閱附圖及詳細描述其例示性實施例而更為顯而易見，其中：
第1圖 為根據本發明例示性實施例之顯示面板製造裝置之示意圖；
第2A圖至第2G圖 繪示透過顯示於第1圖之顯示面板製造裝置而製造顯示面板之過程示意圖；
第3圖 為根據本發明另一例示性實施例之顯示面板製造裝置示意圖；
第4圖 為根據本發明另一例示性實施例之顯示面板製造裝置示意圖；
第5圖 為根據本發明另一例示性實施例之顯示面板製造裝置示意圖；
第6圖 為根據本發明另一例示性實施例之顯示面板製造裝置示意圖；以及
第7圖 為根據本發明另一例示性實施例之顯示面板製造裝置示意圖。
現將參閱其中顯示本發明例示性實施例之附圖以更充分的描述本發明之實施例。然而，所描述之本發明實施例可以各種不同形式而實施，且不應被解釋為被於此所設之實施例所限制；相反地，此些實施例係提供以使本揭露透徹且完整，且將充分地涵蓋本發明之概念予所屬領域具有通常知識者。使用於此之術語係僅用於描述特定的實施例，而不意欲限制範例實施例。如此處所使用的，單數形式「一(a)」、「一(an)」、以及「一(the)」係意欲同時包含複數形式，除非內文中另有清楚地指示。將更被理解的是，當使用術語「包含(comprises)」、「包含(comprising)」、「包含(includes)」及/或「包含(including)」時，係指所述之特徵、整數、步驟、操作、元件、及/或構件的存在，但不意欲排除一或多個特徵、整數、步驟、操作、元件、構件、及/或其群組之存在或添加。其將被理解的是，雖然術語「第一(first)」、「第二(second)」等可用於此以描述各種元件，此些元件不應被該些術語所限制。此些術語係僅用於區分一元件與另一元件。
第1圖為根據本發明例示性實施例之顯示面板製造裝置100之示意圖。第2A圖至第2G圖繪示透過顯示於第1圖之顯示面板製造裝置100而製造顯示面板之過程示意圖。
參閱第1圖及第2A圖至第2G圖，顯示面板製造裝置100包含台階滑件110，其係安裝以滑動位於其上之第一台階120或第二台階130，其中第一台階120與第二台階130將於後文中描述。特別地，台階滑件110包含線性運動(linear motion (LM))導件。
顯示面板製造裝置100包含台階滑件110以使，例如，第一台階120滑動於台階滑件110上，此第一台階120具有測試基板T位於其上。在本實施例中，對準標記(aligned mark) (例如定位標記(alignment mark)) 151係形成於第一台階120上以配置測試基板T(例如，以確保測試基板T相對於第一台階120而正確的對齊)。
顯示面板製造裝置100包含第二台階130，其係安裝於台階滑件110上，第二台階130具有主基板M設置於其上。在本實施例中，第一台階120與第二台階130之至少其中之一係安裝於台階滑件110上以沿著台階滑件110而線性地移動。
顯示面板製造裝置100包含圖樣化單元140，其係安裝以與台階滑件110維持一距離，且排放有機滴粒O於測試基板T上。圖樣化單元140檢查排放至測試基板T上之有機滴粒O的圖樣、調整有機滴粒O的圖樣、且排放具有調整圖樣之有機滴粒O製主基板M。
在本實施例中，圖樣化單元140包含用以維持與台階滑件110之間之距離的主框架141，其係安裝以移動於台階滑件110之縱向方向、以及垂直於縱向方向之方向。在本實施例中，主框架141可安裝於固定在外側之固定框架上以如上所述的移動。
圖樣化單元140包含滴粒排放器142，其安裝於主框架141上以排放有機滴粒O至測試基板T或主基板M上。在本實施例中，圖樣化單元140包含圖樣化分析器143，其安裝於主框架141上以分析從滴粒排放器142排出至測試基板T上之有機滴粒O的圖樣。在本實施例中，圖樣化分析器143包含照相機或相似物以捕捉有機滴粒O之圖樣、或包含感測器以感測有機滴粒O之圖樣。
顯示面板製造裝置100包含測試基板上升及下降(例如，上升及降低)單元150，其安裝於第一台階120上以將第一台階120與測試基板T分離。在本實施例中，複數個測試基板上升及下降單元150可以一間距而安裝於第一台階120上，彼此相互分隔。測試基板上升及下降單元150可包含使用油壓或氣壓而操作之汽缸，且可透過轉軸(shaft)、齒輪模組(gear module)、馬達等而舉起測試基板T。
顯示面板製造裝置100包含基板提供單元160，其安裝以與台階滑件110保持一距離。在本實施例中，基板提供單元160裝載測試基板T於第一台階120上、將測試基板T從第一台階120上卸載、裝載主基板於第二台階130上、或將主基板M從第二台階上卸載。
基板提供單元160可具有各種形式。舉例而言，基板提供單元160可具有機械手臂之形式，且基板提供單元160之一部分可旋轉以裝載或卸載測試基板T或主基板M。
基板提供單元160係安裝以根據第一台階120或第二台階130之位置而移動，且可安裝於固定框架上。
顯示面板製造裝置100包含滴粒乾燥單元(例如，乾燥單元)170，其與台階滑件110以一距離間隔而安裝，且維持與台階滑件110之間之距離。滴粒乾燥單元170將排放至測試基板T上之有機滴粒O乾燥。詳細來說，滴粒乾燥單元170係於有機滴粒O排放至測試基板T上之後，可移動性的接觸測試基板以維持真空狀態，且加熱以乾燥有機滴粒O。
現將參閱第2A圖至第2B圖描述上述實施例之顯示面板製造裝置100之操作方法。測試基板T及主基板M係分別地對準於第一台階120與第二台階130上。
在本實施例中，測試基板T係藉由基板提供單元160而放置於第一台階120上，其將測試基板T放置於第一台階120上因而使測試基板T面對對準標記151。在本實施例中，根據基板提供單元160的操作而達到精確度。因此，測試基板T係放置於第一台階120上以面對對準標記151。
當測試基板T係藉由基板提供單元160而裝載，測試基板上升及下降單元150上升以支撐測試基板T，且接著下降以放置測試基板T於第一台階120上。
參閱第2C圖，有機滴粒O係透過圖樣化單元140，從滴粒排放器142排放至測試基板T上。在本實施例中，形成有機滴粒O之有機材料可包含用以製造顯示面板之所有類型的有機材料。有機材料之範例可包含用於形成像素定義層(PDL)之有機材料、用於形成鈍化層之有機材料、以/或用於形成有機發射層之有機材料。
在有機滴粒O排出以形成有機滴粒O之圖樣於測試基板T上後，第一台階120係移動以位於滴粒乾燥單元170之下方，或下表面，如第2D圖所示。在本實施例中，第一台階120滑動於將藉由一或多種不同類型之驅動裝置而移動之台階滑件110上。例如，驅動裝置可包含馬達、汽缸等，以移動第一台階120。
當上述製程完成時，滴粒乾燥單元170下降以接觸測試基板T。同時，設示基板T可在不接觸滴粒乾燥單元170的情況下完全地插入至滴粒乾燥單元170中。然而，為了描述之目的，滴粒乾燥單元170將被描述為接觸測試基板T。
當滴粒乾燥單元170接觸測試基板T時，滴粒乾燥單元170與測試基板T於真空狀態下維持接觸狀態。滴粒乾燥單元170加熱至其接觸測試基板T之一部分以硬化測試基板T上之有機滴粒O之圖樣。藉由加熱，降低自然乾燥有機滴粒O之圖樣的時間以降低工作時間。
在測試基板T上之有機滴粒O的圖樣硬化後，如上所述，滴粒乾燥單元170係上升以與測試基板T分離。接著，第一來接120係再度移動。在本實施例中，第一台階120滑動於在圖樣化單元140之下表面之台階滑件110上。
當第一台階120係如上所述而設置，主框架141係移動在垂直於台階滑件110之縱向方向的方向上，以將圖樣化分析器143位於測試基板T上或上方。
圖樣化分析器143分析於測試基板T上之有機滴粒O的圖樣。在本實施例中，圖樣化分析器143捕捉有機滴粒O之圖樣(例如，捕捉有機滴粒O之圖樣的影像)，且比較所捕捉的圖樣/影像與有機滴粒O之預設圖樣，以分析測試基板T上之有機滴粒O的圖樣。
圖樣化分析器143基於所分析之有機滴粒O之圖樣，調整從滴粒排放器142所排出之有機滴粒O之圖樣。詳細來說，圖樣化分析器143比較所排出之有機滴粒O的圖樣與有機滴粒O之預設圖樣，以調整有機滴粒O之排放速度、排放量、排放位置等。
當測試基板T上之有機滴粒O的圖樣如上所述而分析時，測試基板T透過測試基板上升及下降單元150而與第一台階120分離，如第2G圖所示。在本實施例中，當測試基板上升及下降單元150之操作完成時，測試基板T係藉由基板提供單元160而卸載以撤回至外部(例如，以與顯示面板製造裝置100分離)。
當上述製程完成時，圖樣化單元140被搬離。詳細來說，主框架141執行於台階滑件110之縱向方向的線性運動以將滴粒排放器142設置於主基板M上/之上。在本實施例中，複數個滴粒排放器142可以一間距而設置。舉例而言，複數個滴粒排放器142可固定於主框架141，或可移動性地安裝於主框架141上。複數個滴粒排放器142可根據用於製造顯示面板之有機滴粒O的圖樣而不同的設置。
當圖樣化單元140之位置係如上所述而對準時，有機滴粒O係藉由滴粒排放器142而排放至主基板M上，以製造顯示面板。在本實施例中，製造顯示面板之方法係與一般方法相同，且因此其詳細描述將省略。
因此，顯示面板製造裝置100獨立地於外部檢測測試基板T(例如，與主基板M分隔)而不需要施加測試基板T於主基板M上。結果，可降低物流成本及製造時間。同時，顯示面板製造裝置100在相同於製造主基板M的狀況下檢測測試基板T，以得到更加精準的檢測。同時，顯示面板製造裝置100透過反饋而立即地應用檢測結果，且因此顯示面板係更精確地被製造，且失敗率降低。
第3圖為根據本發明另一例示性實施例之顯示面板製造裝置200示意圖。參閱第3圖，顯示面板製造裝置200包含台階滑件210、第一台階220、第二台階230、圖樣化單元240、測試基板上升及下降(例如，上升或降低)單元250、基板提供單元260、以及滴粒乾燥單元(例如，乾燥單元) 270。在本實施例中，台階滑件210、第一台階220、第二台階230、測試基板上升及下降單元250、基板提供單元260、以及滴粒乾燥單元270係個別地與參閱第1圖及第2A圖至第2G圖中所述之台階滑件110、第一台階120、第二台階130、測試基板上升及下降單元150、基板提供單元160、以及滴粒乾燥單元170相同，且其詳細的描述將省略。
圖樣化單元240包含主框架241、滴粒排放器242、以及圖樣化分析器243。在本實施例中，主框架241及滴粒排放器242係與第1圖及第2A圖至第2G圖中所述之主框架141及滴粒排放器142相同，且因此其詳細的描述將省略。
圖樣化單元240包含如上所述之圖樣化分析器243。在本實施例中，圖樣化分析器243係安裝以與主框架241及台階滑件210維持一距離。詳細來說，圖樣化分析器243可固定於固定框架上。在本實施例中，圖樣化分析器243分析排放至測試基板T上之有機滴粒O之圖樣，如上所述。
本實施例之顯示面板製造裝置200包含第四台階290，其位於圖樣化分析器243之下表面上以被放置測試基板T於其上。在有機滴粒O之圖樣形成於放置在第一台階220上之測試基板T上之後，測試基板T係接著藉由基板提供單元260而放置於第四台階290上。第四台階290可與第一台階220對準，且基板提供單元260可位於第一台階220與第四台階290之間。
顯示面板製造裝置200之操作方法係與如上所述顯示於第1圖及第2A圖至第2G圖中之顯示面板製造裝置100之操作方法相同。詳細來說，測試基板T係藉由基板提供單元260而設置於第一台階220上。在本實施例中，在測試基板上升及下降單元250上升以容納測試基板T於其上之後，測試基板上升及下降單元250下降以將測試基板T放置於第一台階220上。
當上述製程完成時，滴粒排放器242排放有機滴粒O於測試基板T上，且第一台階220係移動以將測試基板T設置於滴粒乾燥單元270之下表面上。在本實施例中，滴粒乾燥單元270將測試基板T上之有機滴粒O乾燥，其係相似於如上所述之乾燥方法。
當有機滴粒O被完全地乾燥時，測試基板T係從第一台階220被傳送到第四台階290上。在本實施例中，測試基板T可根據各種分法而傳送。舉例而言，在第一台階220之後，測試基板T可藉由基板提供單元260而被傳送至第四台階290上。同時，在第一台階220之位置固定之後，測試基板T可藉由基板提供單元260而從第一台階220上被卸載，且接著基板提供單元260可將測試基板T傳送至第四台階290。然而，為了描述方便，從第一台階220傳送測試基板T至第四台階290之方法將於後文中詳細描述。
詳細來說，當測試基板T上之有機滴粒O完全地乾燥時，第一台階220係移動至其原始的位置。在本實施例中，測試基板上升及下降單元250係操作以將測試基板T從第一台階220分離，且接著基板提供單元260將測試基板T傳送至第四台階290上。
當測試基板T放置於第四台階290上時，如上所述，圖樣化分析器243以相似於如上所述之檢查方法檢測有機滴粒O之圖樣，且因此，其詳細說明將省略。
在有機滴粒O之圖樣被分析後，如上所述，滴粒排放器242係基於分析結果而被控制，以調整從滴粒排放器242所排出之有機滴粒O。在本實施例中，用於調整有機滴粒O之方法與因子係相似於以上之描述，且因此其詳細說明將省略。在本實施例中，主框架241係位於主基板M上或之上，且滴粒排放器242排放有機滴粒O於主基板M上。
據此，顯示面板製造裝置200獨立地於外部檢測測試基板T(例如，測試基板係獨立地被檢測)，而不需要施加測試基板T於主基板M上。因此，可降低物流成本及製造時間。同時，顯示面板製造裝置200在相同於製造主基板M的狀況下檢測測試基板T，以得到更加精準的檢測。顯示面板製造裝置200透過反饋而快速地應用檢測結果，且因此顯示面板係更精確地被製造，且失敗率降低。
第4圖 為根據本發明另一例示性實施例之顯示面板製造裝置示意圖。參閱第4圖，顯示面板製造裝置300包含台階滑件310、第一台階320、第二台階330、第四台階390、圖樣化單元340、測試基板上升及下降單元350、基板提供單元360、以及滴粒乾燥單元(例如，乾燥單元) 370。台階滑件310、第一台階320、第二台階330、第四台階390、測試基板上升及下降單元(例如，測試基板上升及降低單元) 350、基板提供單元360、以及滴粒乾燥單元370係個別地與台階滑件210、第一台階220、第二台階230、第四台階290、測試基板上升及下降單元250、基板提供單元260、以及滴粒乾燥單元270相同，因此其詳細的描述將省略。
圖樣化單元340包含主框架341、滴粒排放器342、以及圖樣化分析器343。在本實施例中，主框架341、滴粒排放器342、以及圖樣化分析器343係與參閱第3圖之主框架241、滴粒排放器242、以及圖樣化分析器243相似，且因此其詳細說明將省略。
本實施例之顯示面板製造裝置300包含第三台階380，其係設置以面對滴粒乾燥單元370且將設置測試基板T於其上。在本實施例中，當滴粒乾燥單元370乾燥測試基板T時，測試基板T係設置於第三台階380上以被第三台階380支撐。當地三台階380係如上所述地安裝時，滴粒乾燥單元370係不設置於台階滑件310上，而是設置以面對第三台階380。當地三台階380與滴粒乾燥單元370係被以所示之方法定位時，第三台階380與滴粒乾燥單元370可安裝於與台階滑件310、第一台階320、第二台階330等分隔的空間中。
顯示面板製造裝置300之操作方法可如先前例示性實施例所述而執行。詳細來說，測試基板T係藉由基板提供單元360而設置於第一台階320上。在本實施例中，在測試基板上升及下降單元350上升且測試基板T被放置於其上之後，測試基板上升及下降單元350下降/降低以放置測試基板T於第一台階320上。
當上述製程完成時，滴粒排放器342排放有機滴粒O於測試基板T上。當有機滴粒O完全地被排放至第一台階320之測試基板T上時，測試基板上升及下降單元350上升測試基板T。在本實施例中，基板提供單元360從測試基板上升及下降單元350裝載測試基板T以將測試基板T從第一台階320移動至第三台階380。
當測試基板T移動至第三台階380時，滴粒乾燥單元370下降(例如，降低至近於測試基板T)以乾燥測試基板T。在本實施例中，透過滴粒乾燥單元370乾燥測試基板T之方法係與上述相同，且因此其詳細說明將省略。
當有機滴粒O完全地被乾燥時，設示基板T係從第三台階380被傳送至第四台階390。在本實施例中，測試基板T可根據不同的方法被傳送。舉例而言，在第三台階380被傳送之後，測試基板T可藉由基板提供單元360被傳送至第四台階390。同時，在第三台階380之位置被固定之後，測試基板T可藉由基板提供單元360被卸載，且接著傳送至第四台階390。然而，為了描述方便，藉由基板提供單元360將測試基板T從第三台階380傳送至第四台階390之方法將詳細地說明。
詳細來說，當測試基板T上之有機滴粒O完全地被乾燥時，測試基板T係藉由基板提供單元360而從第三台階380傳送至第四台階390。在本實施例中，測試基板T可使用相似於測試基板上升及下降單元350之結構而在第三台階380與第四台階390上升及下降。
當測試基板T放置於第四台階390上時，圖樣化分析器343檢查有機滴粒O之圖樣。在本實施例中，透過圖樣化分析器343檢查有機滴粒O之圖樣的方法係如上述而執行，且因此其詳細的描述將省略。
在圖樣化分析器343分析有機滴粒O之圖樣後，如上述，滴粒排放器342基於分析的結果而被控制，以調整從滴粒排放器342排放之有機滴粒O。在本實施例中，調整有機滴粒O之方法與因子係與上述相同，且因此其詳細的描述將省略。接著，主框架341可被設置於主基板M上，且滴粒排放器342可排放經調整之有機滴粒O製主基板M上。
因此，顯示面板製造裝置300獨立地檢測測試基板T，而不需要施加測試基板T於主基板M上。結果，可降低物流成本及製造時間。同時，顯示面板製造裝置300在相同於製造主基板M的狀況下檢測測試基板T，以得到更加精準的檢測。此外，顯示面板製造裝置300透過反饋而立即地應用檢測結果，且因此顯示面板係更精確地被製造，且失敗率降低。
顯示面板製造裝置300額外地形成用於乾燥測試基板T之滴粒乾燥單元370以避免可能因乾燥測試基板T所產生之影響主基板M製程的因子。
第5圖為根據本發明另一例示性實施例之顯示面板製造裝置400示意圖。參閱第5圖，顯示面板製造裝置400包含台階滑件410、第一台階420、第二台階430、圖樣化單元440、測試基板上升及下降單元450、以及基板提供單元460。在本實施例中，台階滑件410、第一台階420、測試基板上升及下降單元450、以及基板提供單元460係個別地與參閱第1圖及第2A圖至第2G圖之台階滑件110、第一台階120、測試基板上升及下降單元150、以及基板提供單元160相同，因此其詳細的描述將省略。
在本實施例中，第一及第二台階420及430係彼此相鄰而安裝。詳細來說，第一及第二台階420及430可，例如，彼此耦接或整合為一單體。
圖樣化單元440包含主框架441、滴粒排放器442、以及圖樣化分析器443。在本實施例中，圖樣化單元440可包含參閱顯示於第1圖及第2A圖至第2G圖之實施例的主框架141、滴粒排放器142、及/或圖樣化分析器143。或者，圖樣化單元440可包含參閱顯示於第3圖及第4圖之實施例的主框架241/341、滴粒排放器242/342、及/或圖樣化分析器243/343。然而，為了描述方便，圖樣化單元440將描述為包含參閱顯示於第1圖及第2A圖至第2G圖之實施例的主框架141、滴粒排放器142、及圖樣化分析器143。主框架441、滴粒排放器442、及圖樣化分析器443係與參閱顯示於第1圖及第2A圖至第2G圖之實施例的主框架141、滴粒排放器142、及圖樣化分析器143相同，且因此其詳細說明將省略。
顯示面板製造裝置400包含測試基板加熱單元421，其可安裝於第一台階420上/之上/中，以控制第一台階420之表面溫度。舉例而言，測試基板加熱單元421可包含安裝於第一台階420中之加熱裝置，例如，熱射線、加熱器或其類似物。在本實施例中，如參閱第1圖及第2A圖至第2G圖所描述的，顯示面板製造裝置包含滴粒乾燥單元(例如，乾燥單元) 470。
顯示面板製造裝置400亦可包含第三台階與第四台階。在本實施例中，第三台階與第四台階可相同於或相似於參閱第3圖及第4圖所示之第三台階與第四台階。然而，為了描述方便，第一台階420與第二台階430將被描述為在沒有第三台階與第四台階的情況下而安裝。
用於操作顯示面板製造裝置400之方法係相似於描述於先前例示性實施例中的方法。詳細來說，測試基板T係藉由基板提供單元460而設置於第一台階420上。在本實施例中，在測試基板上升及下降單元450升起之後，且當測試基板T被放置於其上時，測試基板上升及下降單元450下降以放置測試基板T至第一台階420上。
當上述製程完成後，有機滴粒O係透過滴粒排放器442而排放至測試基板T上。當有機滴粒O完全地排放至設置在第一台階420上的測試基板T上後，位於第一台階420上之測試基板T係藉由測試基板加熱單元421而加熱。測試基板T上之有機滴粒O係接著藉由如上所述的加熱而乾燥及硬化。
測試基板T之有機滴粒O係如上所述而乾燥，且接著有機滴粒O之圖樣係透過圖樣化分析器443而分析。在本實施例中，透過圖樣化分析器443分析有機滴粒O之圖樣的方法係與如上所述之方法相似，且因此其詳細的說明將省略。
當上述製程完成時，主基板441執行於台階滑件410之縱向方向的直線運動(例如，線性移動)，以將滴粒排放器442放置於主基板M上/之上。
在本實施例，在圖樣化分析器443如上所述分析有機滴粒O之圖樣後，滴粒排放器442係基於所分析的結果而調整從滴粒排放器442所排放之有機滴粒O。用於調整有機滴粒O之方法及因子係與如先前例示性實施例所述之方法及因子相似，且因此其詳細的說明將省略。在本實施例中，主框架441可位於主基板M之上，且滴粒排放器442可排放經調整過後的有機滴粒O之圖樣至主基板M上。
據此，顯示面板製造裝置400獨立地檢測測試基板T而不需要施加測試基板T於主基板M上。因此，可降低物流成本及製造時間。同時，顯示面板製造裝置400在相同於製造主基板M的狀況下檢測測試基板T，以得到更加精準的檢測。此外，顯示面板製造裝置400透過反饋而立即地應用檢測結果，且因此顯示面板係更精確地被製造，且失敗率降低。
第6圖為根據本發明另一例示性實施例之顯示面板製造裝置500示意圖。參閱第6圖，顯示面板製造裝置500包含台階滑件510、第二台階530、圖樣化單元540、測試基板上升及下降單元、滴粒乾燥單元(例如，乾燥單元) 570、以及基板提供單元560。在本實施例中，台階滑件510、第二台階530、測試基板上升及下降單元、滴粒乾燥單元570、以及基板提供單元560係個別地與參閱第1圖及第2A圖至第2G圖之台階滑件110、第二台階130、測試基板上升及下降單元、滴粒乾燥單元170、以及基板提供單元160相同，因此其詳細的描述將省略。
本實施例之圖樣化單元540包含主框架541、滴粒排放器542、以及圖樣化分析器543。在本實施例中，圖樣化單元540可包含參閱顯示於第1圖及第2A圖至第2G圖之實施例的主框架141、滴粒排放器142、及圖樣化分析器143，或可包含參閱顯示於第3圖及第4圖之實施例的主框架241/341、滴粒排放器242/342、及/或圖樣化分析器243/343。然而，為了說明方便，圖樣化單元540將於後文中描述為包含參閱第1圖及第2A圖至第2G圖之主框架141、滴粒排放器142、以及圖樣化分析器143。同時，主框架541、滴粒排放器542、以及圖樣化分析器543係個別地與參閱第1圖及第2A圖至第2G圖所描述之主框架141、滴粒排放器142、以及圖樣化分析器143相同。
顯示面板製造裝置500可包含第三台階與第四台階。在本實施例中，第三台階與第四台階可相同於或相似於參閱第3圖及第4圖所示之第三台階與第四台階。然而，為了描述方便，後文中僅有第二台階530將被描述為在沒有第三台階與第四台階的情況下而安裝。
對準標記(定位標記)可被形成於第二台階530上以對準測試基板T。在本實施例中，對準標記可被形成且以相似於如參閱第1圖及第2A圖至第2G圖所描述之形成於第一台階120上的對準標記151相同或相似的方法操作。
用於操作顯示面板製造裝置500之方法可相似於上述方法。詳細來說，測試基板T係藉由基板提供單元560而設置於第二台階530上。在本實施例中，在測試基板上升及下降單元升起之後，且當測試基板T放置於其上時，測試基板上升及下降單元係下降以將測試基板T放置於第二台階530上。
當上述製程完成後，有機滴粒O係透過滴粒排放器542而排放至測試基板T上。當有機滴粒O完全地排放至設置在第二台階530上的測試基板T上時，第二台階530於台階滑件530之縱向方向執行直線運動(例如，移動)，以將測試基板T放置於滴粒乾燥單元570之下表面上。在本實施例中，滴粒乾燥單元570係參閱如第1圖及第2A圖至第2G圖所描述的下降以將測試基板T上之有機滴粒O乾燥且硬化。
在測試基板T上之有機滴粒O如上所述的乾燥後，有機滴粒O之圖樣係透過圖樣化分析器543而分析。透過圖樣化分析器543分析有機滴粒O之圖樣的方法係與如上所述之方法相似，且因此其詳細的說明將省略。
當上述製程完成時，基板提供單元560將測試基板T從第二台階530上卸載，且接著將主基板M裝載至第二台階530上。接著，主框架541移動於台階滑件510之縱向方向以將滴粒排放器542放置於主基板M上或之上。
在本實施例中，在有機滴粒O之圖樣如上所述被分析後，滴粒排放器542係基於所分析的結果被控制而調整從滴粒排放器542所排放之有機滴粒O。用於調整有機滴粒O之方法及因子係與上述方法及因子相似，且因此其詳細的說明將省略。在本實施例中，主框架541可位於主基板M之上，且滴粒排放器542可排放經調整過後的有機滴粒O之圖樣至主基板M上。
據此，顯示面板製造裝置500獨立地檢測測試基板T而不需要施加測試基板T於主基板M上。因此，可降低物流成本及製造時間。顯示面板製造裝置500在相同於製造主基板M的狀況下檢測測試基板T，以得到更加精準的檢測。同時，顯示面板製造裝置500透過反饋而立即地應用檢測結果，且因此顯示面板係更精確地被製造，且失敗率降低。
第7圖為根據本發明另一例示性實施例之顯示面板製造裝置600示意圖。參閱第7圖，顯示面板製造裝置600包含台階滑件610、第二台階630、圖樣化單元640、測試基板上升及下降單元、以及基板提供單元660。在本實施例中，台階滑件610、第二台階630、測試基板上升及下降單元、以及基板提供單元660係個別地與參閱第6圖之台階滑件510、第二台階530、測試基板上升及下降單元、以及基板提供單元560相同，因此其詳細的描述將省略。
圖樣化單元640包含主框架641、滴粒排放器642、以及圖樣化分析器643。在本實施例中，圖樣化單元640可包含參閱顯示於第1圖至第4圖之實施例所述的主框架141/241/341、滴粒排放器142/242/342、及/或圖樣化分析器143/241/341。然而，為了說明方便，圖樣化單元640將於後文中描述為包含參閱顯示於第1圖及第2A圖至第2G圖之實施例的主框架141、滴粒排放器142、以及圖樣化分析器143。同時，主框架641、滴粒排放器642、以及圖樣化分析器643係與參閱第1圖及第2A圖至第2G圖所描述之主框架141、滴粒排放器142、以及圖樣化分析器143相同，因此其詳細說明將省略。
顯示面板製造裝置600可包含第三台階與第四台階。在本實施例中，第三台階與第四台階可相同於或相似於參閱第3圖及第4圖所示之第三台階與第四台階。然而，為了描述方便，後文中僅有第二台階630將被描述為在沒有第三台階與第四台階的情況下而安裝。
第二台階630包含測試基板放置單元631，其係放置測試基板T於第二基板630上。在本實施例中，測試基板放置單元631包含測試基板加熱單元632，其係加熱測試基板T以硬化有機滴粒O。具體而言，測試基板加熱單元632可形成為平板形式，且可包含加熱裝置，例如熱射線、加熱器、或其類似物。
用於操作顯示面板製造裝置600之方法可相似於上述方法。詳細來說，測試基板T係藉由基板提供單元660而設置於第二台階630上。在本實施例中，測試基板T係放置於第二台階630上之測試基板放置單元631上。具體而言，測試基板上升及下降單元係安裝於測試基板放置單元631上，且接著升起。同時，在測試基板T被放置於測試基板上升及下降單元上之後，測試基板上升及下降單元下降以將測試基板T放置於第二台階630上。
當上述製程完成後，有機滴粒O係透過滴粒排放器642而排放至測試基板T上。當有機滴粒O完全地排放至設置在第二台階630上的測試基板T上時，測試基板加熱單元632係運作以將測試基板T上之有機滴粒O乾燥及硬化。
在測試基板T上之有機滴粒O如上所述的乾燥後，有機滴粒O之圖樣係透過圖樣化分析器643而分析。在本實施例中，透過圖樣化分析器643分析有機滴粒O之圖樣的方法係與如上所述之方法相似，且因此其詳細的說明將省略。
當上述製程完成時，基板提供單元660將測試基板T從第二台階630上卸載，且接著將主基板M裝載至第二台階630上。在本實施例中，接著，測試基板上升及下降單元係運作以將測試基板T從測試基板放置單元631上分離。
當上述製程完成時，主框架641係執行於台階滑件610之縱向方向的直線運動(例如，移動)，以將滴粒排放器642設置於主基板M上。
在本實施例中，在有機滴粒O之圖樣如上所述被分析後，滴粒排放器642係基於所分析的結果被控制而調整從滴粒排放器642所排放之有機滴粒O。用於調整有機滴粒O之方法及因子係與上述方法及因子相似，且因此其詳細的說明將省略。在本實施例中，主框架641可位於主基板M之上，且滴粒排放器642可排放經調整過後的有機滴粒O之圖樣至主基板M上。
據此，顯示面板製造裝置600獨立地檢測測試基板T而不需要施加測試基板T於主基板M上。因此，可降低物流成本及製造時間。顯示面板製造裝置600亦在相同於製造主基板M的狀況下檢測測試基板T，以得到更加精準的檢測。顯示面板製造裝置600透過反饋而立即地應用檢測結果，且因此顯示面板係更精確地被製造，且失敗率降低。
根據上述本發明之例示性實施例，在測試基板被檢測後，主基板並不需被使用。因此，可降低物流成本及製造時間。同時，測試基板係在相同於製造主基板M的狀況下檢測，以得到更加精準的檢測。此外，檢測結果係透過反饋而立即的應用，且因此顯示面板係精確地被製造，且失敗率降低。
當本發明之實施例已參閱其例示性實施例而特別地被顯示及描述，其將被所屬領域具有通常知識者所理解的是，在不脫離藉由後附申請專利範圍及其等效物所定義之本發明的精神與範疇之下，可進行各種形式與細節的修改。
100．．．顯示面板製造裝置
110．．．台階滑件
120．．．第一台階
130．．．第二台階
140．．．圖樣化單元
141．．．主框架
142．．．滴粒排放器
143．．．圖樣化分析器
150．．．測試基板上升及下降單元
151．．．對準標記
160．．．基板提供單元
170．．．滴粒乾燥單元
T．．．測試基板
M．．．主基板

Claims (24)

  1. 一種顯示面板製造裝置，其包含：
    一台階滑件；以及
    一第一台階，配置以滑動於該台階滑件上且配置以容納一測試基板；
    一第二台階，於該台階滑件上且配置以容納一主基板；以及
    一圖樣化單元，與該台階滑件間隔一距離而設置，且配置以排放一有機滴粒於該測試基板上、配置以分析該有機滴粒之一圖樣、配置以根據該有機滴粒之該圖樣的分析而調整所排出之該有機滴粒的該圖樣、以及配置以排放該有機滴粒於該主基板上。
  2. 如申請專利範圍第1項所述之顯示面板製造裝置，其更包含一測試基板上升及下降單元於該第一台階上，該測試基板上升及下降單元係配置以將該測試基板與該第一台階分離。
  3. 如申請專利範圍第1項所述之顯示面板製造裝置，其更包含一基板提供單元，該基板提供單元係配置以裝載該測試基板於該第一台階上、配置以將該測試基板從該第一台階卸載、配置以裝載該主基板於該第二台階上、或配置以將該主基板從該第二台階卸載。
  4. 如申請專利範圍第1項所述之顯示面板製造裝置，其更包含一乾燥單元，該乾燥單元係與該台階滑件間隔一距離而設置，且配置以將排放至該測試基板上之該有機滴粒乾燥。
  5. 如申請專利範圍第4項所述之顯示面板製造裝置，其更包含面對該乾燥單元且配置以容納該測試基板於其上之一第三台階。
  6. 如申請專利範圍第1項所述之顯示面板製造裝置，其中該圖樣化單元包含：
    一主框架，係與該台階滑件間隔一距離而設置，且配置以移動於該台階滑件之一縱向方向及垂直於該縱向方向之一方向；以及
    一或多個滴粒排放器，係位於該主框架上，且配置以排放該有機滴粒於該測試基板上或該主基板上。
  7. 如申請專利範圍第6項所述之顯示面板製造裝置，其中該圖樣化單元更包含一圖樣化分析器，該圖樣化分析器係位於該主框架上且配置以分析從該滴粒排放器所排放至該測試基板上之該有機滴粒的該圖樣。
  8. 如申請專利範圍第6項所述之顯示面板製造裝置，其中該圖樣化單元更包含一圖樣化分析器，該圖樣化分析器 係與該主框架及該台階滑件間隔一距離而設置 ，且配置以分析排放至該測試基板上之該有機滴粒的該圖樣。
  9. 如申請專利範圍第8項所述之顯示面板製造裝置，其更包含一第四台階，該第四台階係位於該圖樣化分析器之一下表面上，且在該有機滴粒之該圖樣形成於該測試基板上後，配置以容納該測試基板於其上。
  10. 如申請專利範圍第1項所述之顯示面板製造裝置，其中該第一台階包含一對準標記於其上。
  11. 如申請專利範圍第1項所述之顯示面板製造裝置，其更包含一測試基板加熱單元於該第一台階內部以控制該第一台階之一表面溫度。
  12. 如申請專利範圍第1項所述之顯示面板製造裝置，其中該第一台階與該第二台階係彼此分隔或彼此耦合。
  13. 一種顯示面板製造裝置，其包含：
    一台階滑件；
    一第二台階，位於該台階滑件上且配置以容納一測試基板或一主基板於其上；以及
    一圖樣化單元，與該台階滑件間隔一距離而設置，且配置以排放一有機滴粒於該測試基板上、配置以分析該有機滴粒之一圖樣以調整所排出之該有機滴粒的該圖樣、以及配置以排放經調整之該圖樣至該主基板上。
  14. 如申請專利範圍第13項所述之顯示面板製造裝置，其中該第二台階包含配置以將該測試基板放置於該第二台階上之一測試基板放置單元。
  15. 如申請專利範圍第14項所述之顯示面板製造裝置，其中該測試基板放置單元包含配置以加熱該測試基板而硬化該有機滴粒之一測試基板加熱單元。
  16. 如申請專利範圍第13項所述之顯示面板製造裝置，其更包含位於該第二台階上且配置以將該測試基板與該第二台階分離之一測試基板上升及下降單元。
  17. 如申請專利範圍第13項所述之顯示面板製造裝置，其更包含一基板提供單元，該基板提供單元係配置以移動於該台階滑件之一縱向方向，且配置以將該測試基板裝載於該第二台階上或將該測試基板從該第二台階卸載。
  18. 如申請專利範圍第13項所述之顯示面板製造裝置，其更包含一乾燥單元，該乾燥單元係 與該台階滑件間隔一距離而設置，且配置以乾燥排放至該測試基板上之該有機滴粒。
  19. 如申請專利範圍第18項所述之顯示面板製造裝置，其更包含面對該乾燥單元且配置以容納該測試基板於其上之一第三台階。
  20. 如申請專利範圍第13項所述之顯示面板製造裝置，其中該圖樣化單元包含：
    一主框架，係與該台階滑件間隔一距離而設置，且配置以移動於該台階滑件之一縱向方向及與該縱向方向垂直之一方向；以及
    一或多個滴粒排放器，係位於該主框架上，且配置以排放該有機滴粒於該測試基板或該主基板上。
  21. 如申請專利範圍第20項所述之顯示面板製造裝置，其中該圖樣化單元包含一圖樣化分析器，該圖樣化分析器係位於該主框架上且配置以分析從該滴粒排放器排放至該測試基板上之該有機顆粒之該圖樣。
  22. 如申請專利範圍第20項所述之顯示面板製造裝置，其中該圖樣化單元更包含一圖樣化分析器，該圖樣化分析器 係與該主框架及該台階滑件間隔一距離而設置，且配置以分析排放至該測試基板上之該有機滴粒的該圖樣。
  23. 如申請專利範圍第22項所述之顯示面板製造裝置，其更包含位於該圖樣化分析器之一下表面且配置以容納該測試基板之一第四台階，其中該測試基板上形成有該有機滴粒之該圖樣。
  24. 如申請專利範圍第13項所述之顯示面板製造裝置，其更包含位於該第二台階上之一對準標記。
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