TW201344704A - 導電膏及導電電路 - Google Patents
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Abstract
本發明課題為提供一種可形成低電阻的導電電路之導電膏。另外還提供一種導電膏,其係可賦予感光性的導電膏,並具備上述特性,同時可達成導電電路的高解像化。課題解決手段為本實施形態所關連之導電膏,其特徵為:含有導電性粉末、有機黏合劑、硫代二羥乙酸及硫代二羥乙酸之衍生物之至少任一種。
Description
本發明關於一種導電膏及使用其之導電電路。
以往,關於在電漿顯示器面板(以下亦稱為「PDP」)等的平面顯示器(以下亦稱為「FPD」)等形成導電電路的技術,已知有藉由例如利用絲網印刷等的印刷技術的手段或使用賦予感光性的導電膏、利用光蝕刻技術的手段,使在有機黏合劑中混合銀粉末等的導電性粉末而成的導電膏在基板上形成圖案,接下來在550℃以上進行燒成而使有機成分燃盡,同時使導電性粉末熔接於基板上,形成僅由無機成分所構成之導電電路的方法(參照例如專利文獻1、2等)。然而此方法是在非常高溫的條件下進行,因此可適用的基材會受到限制。
相對於此,關於在基材採用PET等的電子紙等的可撓性裝置、或觸控面板等耐熱性低的裝置上形成導電電路的技術,有文獻提出一種方法,其係在基材上使導電膏形成圖案,在250℃以下的溫度使其硬化,形成由導電性粉末與有機成分所構成之導電電路(參照例如專利文獻3
等)。
為了使這些導電膏所形成的導電電路具有高導電性,已有例如提高導電膏中導電性粉末的含有率,或者像是採用特定形狀如碎片狀導電性粉末等方面的檢討,而謀求導電電路的低電阻化,然而這些檢討並不算完整,仍有改進的空間。
另一方面,近年來在搭載多個高積體化的LSI或各種電子零件用的多層電路基板或PDP等的FPD方面,小型化、高密度化、高精細化等的需求提高,形成於這些物品上的電路或電極等也逐漸比以往更需要微細化。
對於這些要求,能達成導電電路的高精細化等的光蝕刻法比絲網印刷法更為適合,而在光蝕刻法中,導電性粉末會造成塗膜內部(深部)難以充分硬化,必須長時間照射光線,因此,反應所產生的自由基或活性物質持續擴散,而會有導電電路的解像性降低的問題。
[專利文獻1]日本特開平10-269848號公報(申請專利範圍等)
[專利文獻2]日本特許3520798號
[專利文獻3]日本特開2004-355933號公報(申請專利範圍等)
本發明為了解決上述課題而完成,其目的在於提供一種導電膏,其係可形成低電阻的導電電路。另外在於提供一種導電膏,其係賦予感光性導電膏,並且具備上述特性,同時可達成導電電路的高解像化。
本實施形態所關連之導電膏,其特徵為含有導電性粉末、有機黏合劑、與硫代二羥乙酸及硫代二羥乙酸之衍生物之至少任一種。藉由這種構成可達成導電電路的低電阻化。特別是在有機成分並未燃盡的導電電路之中,可達成以往未達成的低電阻。
本實施形態所關連之導電膏的適合形態,宜為上述導電性粉末為銀粉。另外,本實施形態所關連之導電膏,其中以固形分換算相對於上述有機黏合劑樹脂每100質量份,上述硫代二羥乙酸及硫代二羥乙酸衍生物之至少任一種之摻合量係以0.01~10質量份為佳。藉由這種構成可達成導電電路進一步的低電阻化。
另外,本實施形態所關連之導電膏,其特徵為除了上述構成之外,還含有光聚合性單體、肟酯系光聚合起始劑。藉由這種構成,可使所得到的導電電路達成低電阻化,同時可謀求高解像化。
另外,本實施形態所關連之導電電路,其特徵為使用上述導電膏,所形成。
依據本發明所關連之導電膏,可形成低電阻的導電電路。另外,在賦予感光性的導電膏的情況,可具備上述特性,同時可達成導電電路的高解像化。
本發明之發明人等對於上述課題潛心檢討的結果,發現藉由使導電電路形成所使用的膏中含有導電性粉末、有機黏合劑、硫代二羥乙酸及硫代二羥乙酸之衍生物之至少任一種,可形成低電阻的導電電路,另外還發現在對上述膏賦予感光性的情況中,藉由含有作為光聚合起始劑的肟酯系光聚合起始劑,可謀求所得到的導電電路的低電阻以及高解像化,而使本發明達到完成。
以下針對本實施形態之導電膏作詳細說明。
本實施形態之導電膏中的導電性粉末係可對所形成的導電電路賦予導電性的物質,具體而言,可列舉例如Ag、Au、Pt、Pd、Ni、Cu、Al、Sn、Pb、Zn、Fe、Ir、Os、Rh、W、Mo、Ru等。這些導電性粉末能夠以單體的形態來使用,或該等的任一者之合金、或以該等的任一者作為核心或被覆層的多層體。另外還可使用氧化錫(SnO2)、氧化銦(In2O3)、ITO(Indium Tin Oxide)等的氧化物。該等導電性粉末之中適合使用Ag。
導電性粉末的形狀除了可採用球狀、碎片(鱗片)狀
以及樹枝狀等各種的形狀,並不受特別限定。
導電性粉末的粒徑並無特別限制,而在例如使用球狀導電性粉末的情況,平均粒徑為0.1~5μm,宜為0.2~3μm。另外,在使用碎片狀導電性粉末的情況,平均粒徑為0.1~5μm,宜為0.3~3μm。
此外,平均粒徑可使用SEM(掃描式電子顯微鏡),對於隨機觀察到的10個導電性粉末作測定,計算出平均值而求得。
另外,碎片狀銀粉末,具體而言是指寬高比為3以上的銀粉。寬高比可藉由(平均粒徑/平均厚度T)求得。
此處,「平均粒徑」表示以掃描式電子顯微鏡往長邊方向測得10個粒子的平均長徑L,「平均厚度T」表示以掃描式電子顯微鏡往厚度方向測得10個的粒子平均厚度T。
這種導電性粉末,宜為佔導電膏的非揮發成分(在乾燥步驟並未由膏中揮發而殘存於膜的成分)為基準的30~90質量%。若未滿30質量%,則難以得到足夠的導電性,若超過90質量%,則印刷性差,難以形成塗膜。另外,在導電膏為感光性的情況下,在曝光時,光線不會穿透至塗膜深部,因此深部的光硬化性變差,細線圖案無法形成。較佳為50~85質量%。
本實施形態之導電膏中的有機黏合劑可用來使導電性粉末分散,在基板上成為可塗佈的狀態,此外,在導電膏為感光性的情況,可藉由圖案曝光使顯像而在塗膜上形成
圖案。
有機黏合劑可採用非感光性樹脂、感光性樹脂之任一者。有機黏合劑可含有乾燥性有機黏合劑、熱硬化性有機黏合劑、光硬化性有機黏合劑之任一種。並不一定須要單獨使用,亦可將2種以上併用。
其中,乾燥性有機黏合劑及熱硬化性有機黏合劑可使用於非感光性導電膏。乾燥性有機黏合劑可與後述有機溶劑一起使用,藉由加熱乾燥將有機溶劑除去,而形成乾燥塗膜。另外,熱硬化性有機黏合劑會因為熱或觸媒的作用,產生分子間交聯而硬化,形成硬化塗膜。
這種乾燥性有機黏合劑及熱硬化性有機黏合劑可使用丙烯酸系多元醇、聚乙烯醇、聚乙烯縮醛、苯乙烯-烯丙基醇樹脂、酚樹脂等的含烯烴系羥基的聚合物、甲基纖維素、乙基纖維素、羥乙基纖維素等的纖維素衍生物、或乙烯-醋酸乙烯酯共聚物、醇酸樹脂、醇酸酚樹脂、丁醛樹脂、環氧樹脂、變性環氧樹脂、丙烯酸樹脂、聚胺甲酸乙酯樹脂、聚酯樹脂等的樹脂。特別是在藉由熱硬化形成硬化塗膜的情況,熱硬化性有機黏合劑係以併用後述過氧化物的熱聚合觸媒為佳。
另外,光硬化性有機黏合劑可使用於賦予感光性的情況,因為紫外線、電子束等的活性能量射線的作用,產生分子間交聯而硬化,形成硬化塗膜。
這種光硬化性有機黏合劑可使用具有乙烯基、烯丙基、丙烯醯基、甲基丙烯醯基等的乙烯性不飽和鍵或炔丙
基等的感光性基的樹脂,例如側鏈具有乙烯性不飽和基的丙烯酸系共聚物、不飽和羧酸變性環氧樹脂,或進一步於其上加成多元酸酐而成的樹脂等以往周知的各種感光性樹脂(感光性預聚物)。
這些光硬化性有機黏合劑,可與分子中具有1個以上的乙烯性不飽和鍵的化合物,亦即後述光聚合性單體併用。另外,為了使光聚合更有效率地進行,光硬化性有機黏合劑係以併用後述光聚合起始劑為佳。
在使用於光蝕刻法的情況,從顯像性的觀點看來,上述樹脂等之中,尤其以具有羧基的樹脂為佳。這種具有羧基的樹脂(寡聚物及聚合物之任一者皆可)具體而言,可列舉例如以下所述般的物質。
(1)藉由使(甲基)丙烯酸等的不飽和羧酸與(甲基)丙烯酸甲酯等的具有不飽和雙鍵的化合物共聚合,所得到的含羧基的樹脂。
(2)藉由利用(甲基)丙烯酸縮水甘油酯或(甲基)丙烯醯氯等,使乙烯性不飽和基加成在(甲基)丙烯酸等的不飽和羧酸與(甲基)丙烯酸甲酯等的具有不飽和雙鍵的化合物之共聚物上以作為側鏈,所得到的含羧基的感光性樹脂。
(3)使(甲基)丙烯酸縮水甘油酯等的具有環氧基與不飽和雙鍵的化合物與(甲基)丙烯酸甲酯等的具有不飽和雙鍵的化合物的共聚物,與(甲基)丙烯酸等的不飽和羧酸進行反應,使所產生的2級羥基與四氫酞酸酐等的
多元酸酐進行反應,所得到的含羧基的感光性樹脂。
(4)使馬來酸酐等的具有不飽和雙鍵的酸酐與苯乙烯等的具有不飽和雙鍵的化合物之共聚物,與(甲基)丙烯酸2-羥乙酯等的具有羥基及不飽和雙鍵的化合物進行反應,所得到的含羧基的感光性樹脂。
(5)使多官能環氧化合物與(甲基)丙烯酸等的不飽和羧酸進行反應,並使所產生的2級羥基與四氫酞酸酐等的多元酸酐進行反應,所得到的含羧基的感光性樹脂。
(6)使(甲基)丙烯酸甲酯等的具有不飽和雙鍵的化合物與(甲基)丙烯酸縮水甘油酯的共聚物中的環氧基與一分子中具有一個羧基且不具有乙烯性不飽和鍵的有機酸進行反應,並使所產生的2級羥基與多元酸酐進行反應,所得到的含羧基的感光性樹脂。
(7)使聚乙烯醇等的含羥基的聚合物與多元酸酐進行反應,所得到的含羧基的樹脂。
(8)使聚乙烯醇等的含羥基的聚合物與四氫酞酸酐等的多元酸酐進行反應,並使所得到的含羧基的樹脂與(甲基)丙烯酸縮水甘油酯等的具有環氧基與不飽和雙鍵的化合物進一步反應,所得到的含羧基的感光性樹脂。
該等之中,特別適合使用(1)、(2)、(3)、(6)之樹脂。另外,這些樹脂可單獨或混合使用。此外,本說明書中的(甲基)丙烯酸酯,是指總稱丙烯酸酯、甲基丙烯酸酯及該等的混合物的用語,其他類似的表現亦同。
關於這種具有羧基的樹脂的摻合量,宜為摻合非揮發成分(在乾燥步驟並未由膏中揮發而殘存於膜中的成分)為基準的1~50質量%。在未滿1質量%的情況,所形成的塗膜中,會因為這些樹脂的不足造成顯像性大幅惡化,難以藉由顯像來圖案化。另一方面,超過50質量%的情況,導電性粉末的比例不足,電阻值有惡化的傾向。
另外,重量平均分子量係以1,000~100,000為佳。在重量平均分子量未滿1,000的情況,顯像時塗膜的密著性會劣化,另一方面,超過100,000的情況,容易發生顯像不良。較佳為5,000~70,000。此外,重量平均分子量係藉由凝膠滲透層析(GPC)所測得的聚苯乙烯換算之值。
另外,具有羧基的樹脂之酸價係以50~250mgKOH/g為佳。酸價未滿50mgKOH/g的情況,對鹼水溶液的溶解性不足,且容易發生顯像不良,另一方面,在超過250mgKOH/g的情況,在顯像時會發生塗膜的密著性劣化或光硬化部(曝光部)的溶解。
此外,含羧基的感光性樹脂的雙鍵當量係以350~2,000g/eq為佳。在含羧基的感光性樹脂的雙鍵當量未滿350g/eq的情況,圖案容易變粗、線的銳利度容易惡化。另一方面,在超過2,000g/eq的情況,顯像時操作的裕度降低,而且在光硬化時須要高曝光量。較佳為400~1,500g/eq。
硫代二羥乙酸是為了賦予金屬鍍液的安定性而添加,而在本實施形態之中,藉由使導電電路形成所使用的導電
膏中含有此物質,可形成低電阻的導電電路。另外,在對導電膏賦予感光性的情況,藉由併用後述肟酯系光聚合起始劑,可達成上述導電電路的低電阻化,並且可達成高解像化。硫代二羥乙酸可使用例如關東化學公司製的鹿1級等的硫代二羥乙酸。
另外,使用硫代二羥乙酸之衍生物亦可形成上述導電電路。此外,衍生物是指某化合物有小部分發生構造上的變化而形成的化合物,一般是指化合物中的氫原子或特定的原子團經其他原子或原子團取代而成的化合物。
硫代二羥乙酸之衍生物可列舉例如3,3'-硫代二丙酸、硫代二醋酸二烯丙酯、硫代雙(醋酸丁酯)、硫代二羥乙酸二鈉、2,2'-硫代二醋酸雙(2-乙基己基)酯、硫代二醋酸二辛酯、2,2'-硫代雙(醋酸甲酯)、硫代二羥乙酸二鉀等。
以固形分換算相對於有機黏合劑每100質量份,硫代二羥乙酸及硫代二羥乙酸之衍生物之至少任一種的摻合比例係以0.01~10質量份為佳。若未滿0.01質量份,則導電性惡化。另一方面,若超過10質量份,則同樣地導電性惡化,另外,顯像性非常良好的硫乙醇酸及硫乙醇酸的衍生物之至少任一種的特性會造成圖案化能力惡化。較佳為0.1~5質量份。
另外,在對本實施形態之導電膏賦予感光性情況,可使用光聚合性單體。
光聚合性單體可列舉例如2-羥乙基丙烯酸酯、2-羥丙
基丙烯酸酯、二乙二醇二丙烯酸酯、三乙二醇二丙烯酸酯、聚乙二醇二丙烯酸酯、聚胺甲酸乙酯二丙烯酸酯、三羥甲基丙烷三丙烯酸酯、季戊四醇三丙烯酸酯、季戊四醇四丙烯酸酯、三羥甲基丙烷環氧乙烷變性三丙烯酸酯、二季戊四醇五丙烯酸酯、二季戊四醇六丙烯酸酯以及與上述丙烯酸酯相對應的各甲基丙烯酸酯類;酞酸、己二酸、馬來酸、伊康酸、琥珀酸、偏苯三甲酸、對苯二甲酸等的多元酸與(甲基)丙烯酸羥烷酯的單-、二-、三-、或其以上的聚酯等。
該等光聚合性單體可單獨或組合兩種以上來使用。另外,在這些光聚合性單體之中,以一分子中具有2個以上的丙烯醯基或甲基丙烯醯基的多官能單體為佳。
以固形分換算相對於有機黏合劑每100質量份,這種光聚合性單體的摻合量係以5~200質量份為佳。
另外,在對導電膏賦予感光性情況,為了促進光硬化,可使用光聚合起始劑。
光聚合起始劑可列舉例如安息香、安息香甲醚、安息香乙基醚、安息香異丙基醚等的安息香與安息香烷基醚類;苯乙酮、2,2-二甲氧基-2-苯基苯乙酮、2,2-二乙氧基-2-苯基苯乙酮、1,1-二氯苯乙酮等的苯乙酮類;2-甲基-1-[4-(甲基硫代)苯基]-2-嗎啉基丙-1-酮、2-苄基-2-二甲基胺基-1-(4-嗎啉基苯基)-丁酮-1、2-(二甲基胺基)-2-[(4-甲基苯基)甲基]-1-[4-(4-嗎啉基)苯基]-1-丁酮等的胺基苯乙酮類;2-甲基蒽醌、2-乙基蒽醌、2-第三丁
基蒽醌、1-氯蒽醌等的蒽醌類;2,4-二甲基噻噸酮、2,4-二乙基噻噸酮、2-氯噻噸酮、2,4-二異丙基噻噸酮等的噻噸酮類;苯乙酮二甲基縮酮、苄基二甲基縮酮等的縮酮類;二苯酮等的二苯酮類;或山酮類;(2,6-二甲氧基苯甲醯基)-2,4,4-戊基氧化膦、雙(2,4,6-三甲基苯甲醯基)-苯基氧化膦、2,4,6-三甲基苯甲醯基二苯氧化膦、乙基-2,4,6-三甲基苯甲醯基二苯亞膦酸酯等的氧化膦類;各種過氧化物類。
市售品可列舉例如BASF Japan公司製的IRGACURE 184、IRGACURE 819、IRGACURE 907、IRGACURE 369、IRGACURE 379、IRGACURE 389、Lucirin(註冊商標)TPO等。
以固形分換算相對於有機黏合劑每100質量份,光聚合起始劑的摻合量係以0.01~50質量份為佳。若未滿0.01質量份,則光硬化性不足,圖案容易發生缺陷。另外,表面硬化性不足,顯像時塗膜表面會受到傷害,而對導電性造成影響。另一方面,若超過50質量份,則圖案的成暈現象發生,圖案邊緣部分的銳利度惡化。另外,圖案的分離性惡化,無法描繪間距小的圖案。
在光聚合起始劑之中,尤其是肟酯系光聚合起始劑為高光感度,因此即使是摻合較多導電性粉末的膏,也能夠藉由少的曝光量充分進行光硬化,可形成解像性高的導電電路。
肟酯系光聚合起始劑可使用例如具有下述一般式
(1)所表示之基團的化合物:
(式中,R1表示氫原子、苯基(可經碳數1~6之烷基、苯基、或鹵素原子取代)、碳數1~20之烷基(可經1個以上的羥基取代,烷基鏈的中間可具有1個以上的氧原子)、碳數5~8之環烷基、碳數2~20之烷醯基或苯甲醯基(可經碳數1~6之烷基或苯基取代),R2表示苯基(可經碳數1~6之烷基、苯基或鹵素原子取代)、碳數1~20之烷基(可經1個以上的羥基取代,烷基鏈的中間可具有1個以上的氧原子)、碳數5~8之環烷基、碳數2~20之烷醯基或苯甲醯基(可經碳數1~6之烷基或苯基取代))
下述一般式(II)所表示之2-(乙醯氧基亞胺基甲基)噻噸-9-酮、
下述一般式(III)所表示之化合物,
(式中,R3及R4各自獨立,表示碳數1~12之烷基,M表示S、O或NH,R5、R6、R7、R8及R9各自獨立,表示氫原子或碳數1~6之烷基,m及n表示0~5之整數)
下述一般式(IV)所表示之化合物,
(式中,R10表示氫原子、鹵素原子、碳數1~12之烷基、環戊基、環己基、苯基、苄基、苯甲醯基、碳數2~12之烷醯基、碳數2~12之烷氧羰基(在構成烷氧基的烷基的碳數為2以上的情況,烷基可經1個以上的羥基取代,烷基鏈的中間可具有1個以上的氧原子)、或苯氧基羰基,R11、R13各自獨立,表示苯基(可經碳數1~6之
烷基、苯基或鹵素原子取代)、碳數1~20之烷基(可經1個以上的羥基取代,烷基鏈的中間可具有1個以上的氧原子)、碳數5~8之環烷基、碳數2~20之烷醯基或苯甲醯基(可經碳數1~6之烷基或苯基取代),R12表示氫原子、苯基(可經碳數1~6之烷基、苯基或鹵素原子取代)、碳數1~20之烷基(可經1個以上的羥基取代,烷基鏈的中間可具有1個以上的氧原子)、碳數5~8之環烷基、碳數2~20之烷醯基或苯甲醯基(可經碳數1~6之烷基或苯基取代))
下述一般式(V)所表示之化合物,或
(式中,R14表示碳數1~20之烷基、碳數6~30之芳香基、碳數7~30之芳香基烷基或CN,烷基、芳香基及芳香基烷基之氫原子進一步可經OR41、COR41、SR41、NR42R43、-NCOR42-OCOR43、CN、鹵素原子、-CR41=CR42R43或CO-CR41=CR42R43取代,R41、R42及R43各自獨立,表示氫原子、碳數1~20之烷基、碳數6~30之芳香
基、碳數7~30之芳香基烷基或碳數2~20之雜環基,R15表示R51或OR51,R51表示碳數1~20之烷基、碳數6~30之芳香基或碳數7~30之芳香基烷基,烷基、芳香基及芳香基烷基之氫原子進一步可經鹵素原子取代,R16表示碳數1~20之烷基、碳數6~30之芳香基或碳數7~30之芳香基烷基,R14、R16、R41、R42及R43所表示之取代基之伸烷基部分的亞甲基,亦可經不飽和鍵、醚鍵、硫醚鍵、酯鍵、硫酯鍵、醯胺鍵或胺甲酸乙酯鍵中斷1~5次,上述取代基之烷基部分可為分支側鏈或可為環狀烷基,上述取代基之烷基末端可為不飽和鍵,R16可與相鄰的苯環一起形成環。R17及R18各自獨立,表示R51、OR51、CN或鹵素原子,a及b各自獨立,而為0~3)
具有下述一般式(VI)所表示之咔唑二聚物的化合物,
(式中,R19表示氫原子、碳數1~17之烷基、碳數1~8之烷氧基、苯基、苯基(經具有碳數1~17之烷基、碳數1~8之烷氧基、胺基、碳數1~8之烷基的烷基胺基或二
烷基胺基取代)、萘基(經具有碳數1~17之烷基、碳數1~8之烷氧基、胺基、碳數1~8之烷基的烷基胺基或二烷基胺基取代),R20、R21分別表示氫原子、碳數1~17之烷基、碳數1~8之烷氧基、鹵素基、苯基、苯基(經具有碳數1~17之烷基、碳數1~8之烷氧基、胺基、碳數1~8之烷基的烷基胺基或二烷基胺基取代)、萘基(經具有碳數1~17之烷基、碳數1~8之烷氧基、胺基、碳數1~8之烷基的烷基胺基或二烷基胺基取代)、蒽基、吡啶基、苯并呋喃基、苯并噻吩基,Ar表示碳數1~10之伸烷基、伸乙烯基、伸苯基、亞聯苯基、亞吡啶基、伸萘基、伸蒽基、伸噻吩基、伸呋喃基、2,5-吡咯-二基、4,4'-茋二基、4,2'-苯乙烯二基,n為0或1之整數)。
市售品可採用例如BASF Japan公司製的CGI-325、IRGACURE(註冊商標)OXE01、IRGACURE OXE02、ADEKA公司製的NCI-831等。
以固形分換算相對於有機黏合劑每100質量份,肟酯系光聚合起始劑的摻合量係以0.01~30質量份為佳。若未滿0.01質量份,則與上述光聚合起始劑同樣地光硬化性不足,圖案容易發生缺陷。另外,表面硬化性不足,在顯像時塗膜表面會受到傷害,發生電阻值的惡化。另一方面,若超過30質量份,則與上述光聚合起始劑同樣地發生圖案的成暈現象,圖案邊緣部分的銳利度惡化。另外,圖案的分離性惡化,無法描繪間距小的圖案。較佳為0.05
~5質量份。
上述光聚合起始劑可與如N,N-二甲基胺基安息香酸乙酯、N,N-二甲基胺基安息香酸異戊酯、戊基-4-二甲基胺基苯甲酸酯、三乙胺、三乙醇胺等三級胺類般的光增感劑之1種或2種以上組合使用。
另外,為了促進導電膏的硬化,可因應必要使用熱聚合觸媒。熱聚合觸媒可藉由數分鐘至1小時左右的高溫熟成使未硬化的聚合性成分進行反應。
這種熱聚合觸媒可列舉例如過氧化苯甲醯基等的過氧化物、異丁腈等的偶氮化合物,宜為2,2'-偶氮雙異丁腈、2,2'-偶氮雙-2-甲基丁腈、2,2'-偶氮雙-2,4-二戊腈、1,1'-偶氮雙-1-環己甲腈、二甲基-2,2'-偶氮雙異丁酸酯、4,4'-偶氮雙-4-氰基纈草酸、2-甲基-2,2'-偶氮雙丙腈、2,4-二甲基-2,2,2',2'-偶氮雙戊腈、1,1'-偶氮雙(1-乙醯氧基-1-苯基乙烷)、2,2,2',2'-偶氮雙(2-甲基丁醯胺肟)二氫氯化物等。
另外,在本實施形態之導電膏中,為了調整黏度以及形成均勻的塗膜,可使用有機溶劑。
這種有機溶劑可列舉例如甲基乙基酮、環己酮等的酮類;甲苯、二甲苯、四甲基苯等的芳香族烴類;溶纖劑、甲基溶纖劑、卡必醇、甲基卡必醇、丁基卡必醇、丙二醇單甲醚、二丙二醇單甲醚、二丙二醇單乙醚、三乙二醇單乙醚等的二醇醚類;醋酸乙酯、醋酸丁酯、溶纖劑醋酸酯、丁基溶纖劑醋酸酯、卡必醇醋酸酯、丁基卡必醇醋酸
酯、丙二醇單甲醚醋酸酯、2,2,4,-三甲基-1,3-戊二醇單異丁酸酯等的酯類;乙醇、丙醇、乙二醇、丙二醇、萜品醇等的醇類;辛烷、癸烷等的脂肪族烴;石油醚、石油腦、氫化石油腦、溶劑油等的石油系溶劑,該等可單獨或組合兩種以上來使用。
在這種導電膏之中,進一步為了提升保存安定性以及抑制膠體化或流動性降低造成塗佈作業性惡化,還可添加安定劑。
這種安定劑可採用具有與導電膏中的導電性粉末錯合物化或形成鹽等效果的化合物。
具體而言,可列舉例如硝酸、硫酸、鹽酸、硼酸等的各種無機酸;蟻酸、醋酸、乙醯醋酸、檸檬酸、硬脂酸、馬來酸、富馬酸、酞酸、苯磺酸、磺胺酸等的各種有機酸;磷酸、亞磷酸、次亞磷酸、磷酸甲酯、磷酸乙酯、磷酸丁酯、磷酸苯酯、亞磷酸乙酯、亞磷酸二苯酯、單(2-甲基丙烯醯氧基乙基)酸式磷酸酯、二(2-甲基丙烯醯氧基乙基)酸式磷酸酯等的各種磷氧化合物(無機磷酸、有機磷酸)等的酸。這些安定劑可單獨或組合兩種以上來使用。
此外,在本實施形態之導電膏中還可摻合聚矽氧系、丙烯酸系等的消泡.整平劑、用來提升塗膜的密著性的矽烷偶合劑等的其他添加劑。另外,進一步還可添加周知的抗氧化劑、或用來提升保存時的熱安定性的熱聚合禁止劑等。
如以上方式所構成的導電膏,可藉由將各成分混合而調製,並可藉由攪拌機等進行攪拌之後,藉由3輥磨機等進行混練使其膏化。
以這種方式調製出的導電膏,在非感光性導電膏的情況,藉由絲網印刷、膠版印刷等的印刷法,在玻璃基板等的基材印刷所希望的導電電路,然後使印刷有導電電路的基材在80~300℃下乾燥5~60分鐘、或使其硬化,而在基材上形成所希望的導電電路。
另一方面,在感光性導電膏的情況,除了上述方法之外,還可藉由以下的方法形成導電電路。
首先,藉由絲網印刷法、棒式塗佈機、刮刀式塗佈機等適當的塗佈方法塗佈於玻璃基板等的基材,而形成塗膜。
接下來,為了使所得到的塗膜具有指觸乾燥性,可藉由熱風循環式乾燥爐、遠紅外線乾燥爐等,使其在例如約70~120℃下乾燥5~40分鐘左右,形成無黏性的塗膜(乾燥塗膜)。此時,在預先使導電膏成膜於薄膜上的情況,亦可層合於基材上。
然後對於所得到的乾燥塗膜選擇性地進行曝光。選擇性曝光可為使用具有既定曝光圖案的負型光罩的接觸曝光及非接觸曝光。曝光光源可使用例如鹵素燈、高壓水銀燈、雷射光、金屬鹵素燈、黑光燈、無電極燈等。曝光量係以10~700mJ/cm2左右為佳。
對於選擇性曝光後的塗膜進行顯像。顯像可採用噴霧
法、浸漬法等。顯像液只要是導電膏中所含的有機黏合劑中所含有的羧基可皂化而將未硬化部(未曝光部)除去即可,例如氫氧化鈉、氫氧化鉀、碳酸鈉、碳酸鉀、矽酸鈉等的金屬鹼水溶液、或單乙醇胺、二乙醇胺、三乙醇胺等的胺水溶液,特別適合使用約1.5wt%以下的濃度的稀鹼水溶液。另外,為了在顯像後除去不需要的顯像液,宜進行水洗或酸中和。
然後,使藉由顯像形成所希望的導電圖案的基板在80~300℃下乾燥5~60分鐘、或使其硬化,而在基材上形成所希望的導電電路。
以下揭示實施例及比較例針對本實施形態作具體說明,然而本發明並不受該等實施例所限定。此外,以下所述的「%」只要沒有特別註明,全部為重量基準。
在具備溫度計、攪拌機、滴液漏斗、及回流冷凝器的燒瓶中,以0.87:0.13之莫耳比裝入甲基丙烯酸甲酯、甲基丙烯酸,並加入作為溶劑的二丙二醇單甲醚、作為觸媒的偶氮雙異丁腈,在氮氣環境及80℃下攪拌2~6小時,得到含有有機黏合劑的樹脂溶液。此有機黏合劑的重量平均分子量約為10,000、酸價為74mgKOH/g、固形分為57%。
此外,有機黏合劑的重量平均分子量的測定是使用島津製作所製幫浦LC-6AD與昭和電工製的Shodex(註冊商標)KF-804、KF-803、KF-802這3根管柱相連而成的高速液相層析。
將表1所示的各成分依照組成比摻合,藉由攪拌機攪拌後,藉由3輥磨機進行混練使其膏化,而調製出實施例1~3及比較例1~4之各導電膏。
將所調製出的各導電膏印刷在玻璃基板上以形成0.4cm×10cm的圖案,並以170℃×30分鐘實施加熱處理,形成0.4cm×10cm的導電電路。藉由使用毫歐姆計的四端子法,對於此導電電路測定薄片電阻值,並計算出比電阻值。
如表1所示般,確認了使用硫代二羥乙酸或其衍生物的實施例1~3任一者皆可得到10-5(Ω.cm)等級的比電阻值,而為低電阻。另一方面,確認了不使用硫代二羥乙酸及硫代二羥乙酸之衍生物之至少任一種的比較例1、分別使用羥乙酸、硫乙醇酸、丙二酸代替硫代二羥乙酸及硫代二羥乙酸之衍生物之至少任一種的比較例2、3、4,任一者皆無法得到10-5(Ω.cm)等級的比電阻值,與實施例相比,比電阻值皆較高。
將表2所示的各成分依照其組成比摻合,藉由攪拌機進行攪拌後,藉由3本輥磨機進行混練使其膏化,而調製出實施例4~6及比較例5之各感光性導電膏。此外,感光性導電膏所使用的導電性粉末的亮度L*值係依據JIS規格Z8722所測得之值。
使用200網目的聚酯網將各感光性導電膏塗佈在玻璃基板整個表面上,使濕膜厚成為14μm,使用IR乾燥爐在100℃下乾燥20分鐘,形成乾燥塗膜。此外,乾燥後的塗膜的膜厚為10μm。
接下來,對所得到的乾燥塗膜實施曝光,光源採用超高壓水銀燈,隔著負型光罩,殘存解像度是採用線寬為10/20/~90/100μm的直線圖案負型光罩。分離解像度是採用殘存解像度的負型圖案的負/正反轉圖案。以200mJ/cm2對各乾燥塗膜實施圖案曝光之後,使用液溫30℃的0.4%碳酸鈉水溶液進行顯像,將顯像時間定為10及20秒鐘,並且進行水洗。
殘存解像度;最小殘存圖案的負型光罩設計值。
分離解像度;可圖案化的最小間距的負型光罩設計值。
將測定結果揭示於表3。
形成負型設計且為0.4×10(cm)的長方形圖案,並由熱硬化後的電阻值與膜厚計算出比電阻值。將測定結果揭示於表3。
如表3所示般,可知採用了含有硫乙醇酸的本實施形態之感光性導電膏的實施例4、5、6與不含硫乙醇酸的比較例5相比,電阻皆較低。另外還可知光聚合起始劑採用肟酯系的實施例4、5為低電阻,並且與光聚合起始劑並未採用肟酯系的實施例6相比,殘存解像度、分離解像度較為良好。另外,由實施例4、5的結果可知本實施形態之感光性導電膏圖案化情況良好,而與導電性粉末的亮度L*值無關。
Claims (9)
- 一種導電膏,其特徵為含有導電性粉末、有機黏合劑、與硫代二乙酸及硫代二乙酸之衍生物之至少任一種。
- 如請求項1之導電膏,其中前述導電性粉末包含銀粉。
- 如請求項1之導電膏,其中以固形分換算相對於前述有機黏合劑每100質量份,前述硫代二乙酸及硫代二乙酸之衍生物之至少任一種為0.01~10質量份。
- 如請求項1~3中任一項之導電膏,其為非感光性。
- 如請求項1~3中任一項之導電膏,其為感光性。
- 如請求項5之導電膏,其中更含有光聚合起始劑。
- 如請求項6之導電膏,其中前述光聚合起始劑含有肟酯系光聚合起始劑。
- 如請求項5之導電膏,其中更含有光聚合性單體。
- 一種導電電路,其特徵為使用如請求項1之導電膏所形成者。
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