TW201342123A - 測量潛時 - Google Patents

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TW201342123A TW102100728A TW102100728A TW201342123A TW 201342123 A TW201342123 A TW 201342123A TW 102100728 A TW102100728 A TW 102100728A TW 102100728 A TW102100728 A TW 102100728A TW 201342123 A TW201342123 A TW 201342123A
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Aleksandar Uzelac
David A Stevens
Andrey B Batchvarov
Changsin Lee
Takahiro Shigemitsu
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Abstract

本發明描述了平移潛時測量技術。在一或更多個實施中，測試設備包含一或更多個馬達，該一或更多個馬達經配置以將一或更多個接觸點移動至至少與裝置之一或更多個感測器鄰近，該一或多個接觸點可被偵測為移動。測試設備亦包括一或更多個模組，該一或更多個模組至少部份實施在硬體內以測量裝置識別一或更多個接觸點之移動之潛時。

Description

測量潛時
本發明係關於測量潛時。
計算裝置所利用之顯示及輸入技術正不斷發展。例如，初始計算裝置配有監視器。使用者藉由查看單色監視器上之簡單文字及經由鍵盤輸入可隨後在該監視器上查看之文字，與該計算裝置互動。此後開發出諸如圖形使用者介面及游標控制裝置之其他技術。
顯示及輸入技術一直在持續發展，例如使用計算裝置之觸摸屏顯示器感測觸摸以識別手勢。例如，使用者可藉由用手輸入手勢，可與圖形使用者介面互動，該手勢由該觸摸屏顯示器或者其他觸摸感測裝置偵測到。儘管如此，用於測試觸摸屏顯示器及其他觸摸感測裝置之傳統技術常常並不精確，因此，該等傳統技術通常情況下無法以適合該等觸摸屏顯示裝置之預期用途的方式測試該等觸摸屏顯示器。
本發明描述了平移潛時之測量技術。在一或更多個實施中，測試設備包括一或更多個馬達，該一或更多個馬 達經配置以將接觸點移動至至少與裝置之一或更多個感測器鄰近，該接觸點可被偵測為移動。測試設備亦包括一或更多個模組，該一或更多個模組至少部份實施在硬體內以測量裝置識別接觸點之移動之潛時。
在一或更多個實施中，資料由測試設備接收，該資料描述了使用裝置之觸摸功能所偵測到之平移移動。裝置之識別平移移動以啟動該裝置之一或更多個操作的潛時由測試設備測量得出。
在一或更多個實施中，測試設備包括：接觸點，該接觸點經配置以安置於具有觸摸屏功能之顯示裝置(例如，經配置可用於偵測接近之感測器，該等感測器包括觸筆感測器)附近；馬達，該馬達經配置以使接觸點沿圓形路徑移動，該裝置之觸摸屏功能將該圓形路徑偵測為平移移動；以及一或更多個模組，該一或更多個模組至少部份實施在硬體內以使用恆定角速度測量裝置識別接觸點之平移移動的潛時。測試設備亦可經配置以包括中斷模組，該中斷模組具有光中斷器電路，該光中斷器電路經配置以偵測接觸點，該中斷模組至少可部份用於測量潛時。在另一實例中，測試設備亦可經配置以包括雷射及光電二極體，該光電二極體可藉由校準接觸點之速度以用於測量潛時。
提供本【發明內容】旨在以簡化形式介紹所選概念，該等概念將在下文之【實施方式】中進一步描述。本【發明內容】並非旨在確定所主張之標的之關鍵特徵或基本特徵，亦非旨在用於幫助判定所主張之標的之範疇。
100‧‧‧環境
102‧‧‧測試設備
104‧‧‧觸摸屏裝置
106‧‧‧顯示裝置
108‧‧‧使用者之手
110‧‧‧感測器
112‧‧‧觸摸模組
114‧‧‧測試模組
116‧‧‧平移移動裝置
200‧‧‧系統
202‧‧‧接觸點
204‧‧‧路徑
206‧‧‧步進馬達
208‧‧‧步進馬達驅動器
210‧‧‧HID報告
212‧‧‧報告
300‧‧‧實例系統
302‧‧‧中斷模組
304‧‧‧聚焦光線/光纖
306‧‧‧信號
400‧‧‧實例系統/系統
402‧‧‧雷射
404‧‧‧光電二極體
406‧‧‧雷射光束
408‧‧‧信號
500‧‧‧程序
502‧‧‧步驟
504‧‧‧步驟
600‧‧‧實例系統/系統
602‧‧‧計算裝置
604‧‧‧處理系統
606‧‧‧電腦可讀取媒體
608‧‧‧輸入(I)/輸出(O)介面
610‧‧‧硬體元件
612‧‧‧記憶體/儲存器
614‧‧‧電腦
616‧‧‧行動裝置
618‧‧‧電視
620‧‧‧雲端
622‧‧‧平臺
624‧‧‧資源
參考附圖描述【實施方式】。在圖式中，元件符號之最左數位標識了該元件符號首次出現於第幾圖中。在描述及圖式中的不同實例中使用相同元件符號可指代相似項目或同等項目。該等圖式中所指代之實體可代表一或更多個實體，且因此可互換指代本文討論中出現之實體之單數形式或複數形式。
第1圖為實例實施中環境之圖示，該環境中包括適合用於測試裝置之測試設備。
第2圖描繪了系統之實例實施，該系統經配置可用於測試平移潛時。
第3圖描繪了實例系統，該實例系統中第1圖之測試設備經配置以使用中斷執行平移潛時測量。
第4圖描繪了一實例系統，該實例系統中第1圖中之測試設備經配置可使用雷射執行平移潛時測量。
第5圖為一流程圖，該流程圖描繪了在測量潛時之實例實施中之程序。
第6圖描繪了一實例系統，該實例系統包括一實例裝置之多種組件，該實例裝置可參考第1-4圖中之描述實施為任一類型之計算裝置，以實施本文中所描述之技術之實施例。
概述
平移正在成為一種愈加風行之技術，該技術用以 瀏覽藉由計算裝置輸出之使用者介面。儘管如此，習知技術無法準確測量在識別接觸點移動時之潛時，因此也無法準確測量用於執行平移之計算裝置的響應性。
本文描述潛時之測量技術。在一或更多個實施中，測試設備經配置以用於偵測計算裝置執行平移之移動潛時(例如，平移)，諸如端到端潛時、硬體潛時等。該測量可以多種方式執行。例如，測試設備可包括步進馬達，該馬達產生圓形路徑，該路徑可用於使用恆定角速度測試在識別移動時之潛時；可參看第2圖瞭解該測試方法之進一步討論。在另一實例中，該測試設備可利用諸如光中斷器之中斷以測量潛時；可參看第3圖瞭解該測試方法之實例。在進一步實例中，該測試設備可利用雷射及光電二極體測量潛時；可參看第4圖瞭解該測試方法之實例。雖然在下文之討論中以實例之方式描述平移潛時，但顯而易見，平移潛時之測量可指在裝置識別移動的潛時的測量。
在以下討論中，首先描述可採用本文所描述之平移潛時測量技術之實例環境。其次描述可在該實例環境以及其他環境中執行之實例程序。因此，該等實例程序之效能並非僅限於該實例環境，且該實例環境並非僅限於該等程序實例之效能。
實例環境
第1圖描繪了實施實例中之環境100，該環境包括測試設備102，該測試設備適合用於測試觸摸屏裝置104。觸摸屏裝置104可以多種方式配置。例如，觸摸屏裝置104 可配置為諸如行動電話、便攜式遊戲裝置、平板電腦之行動通訊裝置之部件，亦可配置為傳統計算裝置(例如，顯示裝置，該顯示裝置為膝上型電腦或個人電腦之部件)之部件等。
此外，觸摸屏裝置104之顯示裝置106可以多種 方式配置。例如，觸摸屏裝置104之顯示裝置106可包括感測器，該等感測器經配置用於偵測與顯示裝置106的鄰近(例如，接觸)。儘管描述了其他感測器，但感測器110通常用於報告與顯示裝置106之實際接觸，諸如使用者之手108的手指正觸摸顯示裝置106時。
該等感測器110之實例包括電容式觸摸感測器。 例如，在投影電容中，可在使用近似光學透明的導體(例如，銦錫氧化物)之觸摸屏上形成X-Y網格，以用於在顯示裝置106上偵測位於不同X-Y位置之接觸點。亦可考慮諸如表面電容、互電容、自電容等其他電容技術。進一步，亦可在其他情況下考慮諸如紅外線、光學成像、色散信號技術、聲脈波識別、電阻性感測器(例如偵測壓力)、像素感測器等其他感測器110。因此，觸摸感測器110可經配置用於偵測鄰近及非實際之實體接觸，例如電筆「懸停」。
不考慮所用感測器110之類型，然後可由觸摸模 組112處理由感測器110偵測到的輸入以偵測該輸入之特徵，該等特徵可用於多種目的。例如，觸摸模組112可識別出輸入表示對特定物件的選擇，可將一或更多個輸入識別為可用手勢以啟動觸摸屏裝置104之操作(例如，展開使用者介面)，等。儘管如此，該處理可依輸入之準確度而定，因 此，用於測試顯示裝置106之習知技術可能導致投入市場之觸摸屏不準確，此可妨礙使用者與裝置之互動。
在本文中所描述之一或更多個實施中，顯示裝置 106之檢測鄰近(例如，由使用者之手108之手指)的能力由測試設備102測試。例如，測試設備102可包括測試模組114及平移移動裝置116。平移移動裝置116可用於以多種方式測試觸摸屏裝置104。例如，測試模組114可利用平移移動裝置116測量觸摸屏裝置104之平移潛時，諸如觸摸模組112偵測由使用者之手108的一或更多個手指(或其他物件)與顯示裝置106之接觸以及該接觸點之後續移動的能力。該測量可以多種方式執行，例如第2圖中所示為一實例。
使用移動接觸點之平移潛時測量實例
第2圖描繪了系統200之實施實例，該系統經配 置用於測試平移潛時。平移潛時可用於評估用於偵測平移輸入之觸摸屏裝置104之感測器110及觸摸模組112，其中可涉及與該觸摸屏之接觸及該接觸點之後續移動。在所圖示系統實例中，接觸點202及沿路徑204之後續移動由步進馬達206及步進馬達驅動器208提供，步進馬達206及步進馬達驅動器208可由第1圖中之測試模組114控制。如前文所述，可藉由將接觸點202安置於受測裝置之感測器附近以偵測該接觸，因此該接觸不涉及某些情況下的實際接觸。進一步，儘管僅圖示一個接觸點202，但該等技術亦可用於支援多個接觸點，諸如支援多點觸摸測試。在所圖示實例中，路徑204為圓形，但亦需考慮到其他形狀，包括直線(例如後移及前移)。 由感測器110執行之路徑偵測及由觸摸模組112執行之後續處理係用於產生HID報告210，該HID報告由測試模組114評估以產生報告，該報告描述平移潛時。
多種不同情況中都可涉及平移，諸如滾動瀏覽 器、在區塊(tile)型使用者介面中之使用，等。在一或更多個該等情境中的理想體驗為「緊跟手指」，即最終用戶回應在顯示裝置106上移動接觸點202，即刻接收來自顯示裝置106之反饋。該體驗之品質可定量為平移情境內之端到端潛時，該品質之定義方式如下文所示。
潛時係系統內所體驗之潛時之量度。在端到端平移潛時之情形下會遇到連續系統，使得平移之整個過程並非瞬時發生，而係需要一些時間，該時間一般而言涉及秒的數量級。因而，潛時可定義為測量該量值。啟動了平移手勢的測試設備102之接觸點202可利用接觸點位置之時間函數準確模型化如下：Contact(t)：(t) → (x,y)
因此，亦可判定接觸點202每時每刻之位置。儘管如此，數位轉換器及其他感測器110通常並不提供連續報告，而係以某些預定義之報告速率(例如，每秒產生100-200個報告，100-200Hz)離散地報告。如果該報告速率為無限，則所報告之位置之時間函數可表示如下：Report(t)：(t) → (x,y)
類似於此，可建立顯示裝置106反饋之理想情況，該理想情況係同時包括圖形潛時(例如，作業系統之圖 形潛時)與該顯示反饋位置之時間函數：Display(t)：(t) → (x,y)
為實現該抽象模型化目的，可假設接觸點202位置之路徑204與報告位置路徑相同，該報告位置路徑與顯示位置路徑相同。儘管如此，實務上，在稍後進一步討論中可能並非如此。而且，即使可假設上述三個函數中每個函數均為雙射函數，亦無法經由分段模型化實現該假設。該假設可涉及將完整函數分解為若干段，每一段均為雙射函數。根據彼等兩個假設，可藉由測量顯示裝置的顯示之間的時差，為沿路徑中每個位置建立潛時函數(例如，該路徑對於按照上述第一假設的三個函數的每個函數相同)，並為路徑中每個位置建立一接觸點函數；按照第二個假設，該等三個函數中每個函數在路徑中的每個位置都提供有相對應之單個時間戳。
由此，可為潛時之該定義建立形式模型。該形式模型之建立可從如下三個反函數開始：(1)指定接觸點位置之時間：Contact-1(x,y)：(x,y)→(t)；(2)指定報告位置之時間：Report-1(x,y)：(x,y)→(t)；及(3)指定顯示反饋位置之時間：Display-1(x,y)：(x,y)→(t)
已知彼等反函數，則可為路徑中每個位置的端到端潛時函數定義如下，其中：Latency(x,y)：(x,y) → (t)
則Latency(x,y)=Display-1(x,y)-Contact-1(x,y)
例如，假設固定點為(x0,y0)，則該特定點之適當的反顯示函數為：tD=tD(x0,y0)=Display-1(x0,y0)
且該特定點之接觸點反函數與之相似，如下所示：tc=tc(x0,y0)=Contact-1(x0,y0)
在該情況下，該特定點之端到端潛時可計算如下：Latency(x0,y0)=tD(x0,y0)-tc(x0,y0)=tD-tc
該表達式描述在指定位置(x0,y0)出現接觸點之時間與顯示裝置對該事件提供反饋之時間之間的時差，該時差亦可視作端到端潛時。
回到最初三個函數，端到端潛時可分解為兩部份，(1)硬體潛時；及(2)作業系統及顯示潛時。硬體潛時涉及觸摸硬體之潛時，例如，從接觸點202出現之時到作業系統接收到報告之時。該潛時之剩餘部分涉及該作業系統及顯示潛時。由此，硬體平移潛時可表示如下：LatencyHW(x,y)=Report-1(x,y)-Contact-1(x,y)
可以相似方式將報告反函數定義為上述之接觸點反函數及顯示反函數：tR=tR(x0,y0)=Report-1(x0,y0)
因而，路徑(x0,y0)上任一指定點之硬體潛時均可表示如下：LatencyHw(x0,y0)=tR(x0,y0)-tc(x0,y0)=tR-tc
該方程式描述接觸點202在指定位置(x0,y0)上出現之時間與該接觸點報告至系統之時間之間的時差。
平移潛時測量(例如，硬體及/或端間)之情況可描述如下，其中：‧Contact(x,y)函數為連續函數；‧Report(x,y)函數為離散(不連續)函數；及‧Display(x,y)函數在端到端潛時測量中為離散(不連續)函數。
此可用於表示真實情境：報告速率及顯示速率之離散發生在大體固定時間間隔處。所以，除定義適當函數之域以外，上述所使用之實際方程式無需更改。
例如，因Report(x,y)在離散點內定義，所以反函數位於相同離散點內，而非其他位置。因而，該硬體潛時定義變成：LatencyHW(xi,yi)=Report-1(xi,yi)-Contact-1(xi,yi)
其中(xi,yi)表示第i個報告點之位置。同樣，可遵守以下端到端潛時定義：Latency(xi,yi)=Display-1(xi,yi)-Contact-1(xi,yi)
因此，一種測量潛時之方式為獲取所報告之接觸點或所顯示之接觸點的位置及時間戳，然後獲取該接觸點位於該精確位置(Contact-1(xi,yi))之時間點上之時間戳，並計算該等兩個時間戳之間的差異。
恆定角速度
上一節中描述了平移潛時測量之模型。本節中描述實例系統，該系統可用於測量平移潛時。如前文所述，平移硬體潛時之測量方法為： ‧從觸摸報告(例如，觸摸POINTER訊息)可獲取所報告之觸摸的時間戳(tR)及位置；‧可獲取接觸點位於所報告之位置上的時間戳(tC)；及‧可將該測量之潛時定義為tR-tC。
因而，平移潛時測量可簡化為接觸點位置測量。
一種測量接觸點位置之方式係移動該接觸點，例如，用一或更多個控制點使接觸點以恆定角速度繞一預定義圓形路徑204移動。起始點是接觸點202之路徑204，且因本實例中使用圓形移動，因此路徑204在實體世界中亦將為圓形，儘管在座標像素世界中該路徑並非報告為圓形。因此，可使用以下參數定義該路徑204：‧例如圓心(x00,y00)與一定義點之間距，單位為公分；及‧例如圓之半徑R，單位為公分。該等參數足以描述路徑204。
另一種描述路徑204之方式係使用參數方程式作為角α之函數：Posx(α)：(α) → (x)
Posx(α)=x(α)=x00+R cos α-R sin α,若將α定義為路徑上之一點，則該方程式正確。若將α與x軸對應，則使用Rcos(α)。
Posy(α)：(α) → (y)
Posy(α)=y(α)=y00+R sin α cos α
類似於此，可建立反角函數： Angle(x,y)：(x,y) → (α)
其中，提及之位置及角函數視該圓之圓心及半徑而定。
定義路徑204之後，其他兩個參數可用於時間上描述接觸點位置：‧接觸點之角速度(ω)；及‧一個該接觸點時間位置，假設為某明確時間t0之角(α(t0))。
根據彼等參數設定，時間上的接觸點位置可定義為：Angle(t)：(t) → (α)
Angle(t)=α(t)=α(t0)+ω(t-t0)
平移硬體潛時可依據上述函數定義。可從觸摸報告、接觸點(xi,yi)位置及時間戳tR獲取值，方程式如下所示：
本節將依據觸摸報告參數xi、yi及tR描述潛時。可在實際測量之前提取該模型之其他六個參數(x00、y00、R、ω、t0、α(t0))，該等六個參數將在下節進一步描述
獲取恆定角速度模型之參數
該模型之參數可從觸摸報告及對顯示裝置106之顯示區域的實際尺寸(例如螢幕之實體尺寸，單位為公分)之測量而獲取。因此，該模型可支援全自動測量。出於本文討論之目的，所報告之位置以公分為單位表示，但該等位置亦可以像素或其他單位表示。從像素座標空間至實體座標空 間之轉換可執行如下：
有多種方式可用於測量及估計該等參數之每一者，該等方法之實例描述如下。請注意，該列表內某些參數可彼此獨立測量。
從圓形路徑204之圓心開始，一種估計x00及y00之方式係將所收集的報告資料之值之每一者相加如下：
在該實例內，可假設報告速率在顯示裝置106之顯示區域之每部份內均相同，且完整路徑204以顯示裝置106之顯示區域為邊界。在一或更多個實施中，可單獨考慮整圓增量。請注意，如前文所述，x00及y00之估計值可彼此獨立。
x00及y00之另一估計值可計算如下：
該預估中亦假設完整路徑以顯示裝置106之顯示區域為邊界。
同樣，R之預估可表達如下：
在另一實例中，可使用以下表達式預估R：
因此，該預估之平均誤差可定義如下：
同樣，最大誤差可定義如下：
亦可定義標準差而非上文定義之最大誤差。最大誤差適用於該模型之三個參數之每一者，因此最大誤差視為具有強健性。
實務上，上述估計值足以滿足所需之測量誤差之要求，例如，涉及一對像素之誤差。在上述兩個估計值都無效之情形下，可對x00、y00及R該等三個參數之每一者執行迭代梯度回歸，該迭代梯度回歸之實例由以下函數表示如下：
執行該函數直到使用上述兩個預估值中之一者獲取之點的周圍發現達到令人滿意之局部最小值。一種實現該目的之方式係分別解出以下方程式之每一者之R、x00及y00。
第一個方程式之解已在上文中述及，重複如下：
剩餘兩個函數之解為三次方程式之根，該等兩個函數可聲明為gxoo及gyoo，如下所示：
此外，全部三個函數均可用於標準迭代程序中：
其中，與取自上文中之簡單估計值，k則定義為迭代數。
亦支援其他情境，在該等其他情境中，完整路徑不在顯示裝置106之顯示區域內，相反，該路徑之一些部份位於該顯示區域之外。在該類情境中，可選擇該路徑上之三個或三個以上點用於計算彼三角形之外切圓之圓心。該情境之實例如以下過程所示： ‧在路徑上取一點(xi,yi)；‧在路徑上選擇另一點(xj,yj)，使該等兩點之間距離最大；‧選擇第三點為(x(i+j)/2,y(i+j)/2)；‧計算該等三個點之外切圓之圓心；‧額外重複該等步驟一或多次，計算該圓心之平均位置；‧使用上述方程式計算R；‧使用上述方程式計算最大誤差；‧如果最大誤差可接受，則過程結束；及‧如果最大誤差不可接受，則繼續進行上述迭代過程。
此時，參數x00、y00及R與該等參數之最大測量誤差均已計算得出。剩餘三個參數有待計算：co、t0、α(t0)。
可假設t0=0，並由此相對於此時刻測量時間。初始角α(t0)可根據從指定時間戳t0=0上所報告之資料(xi 0,yi0)使用以下表達式計算得出：
該測量可重複多次；例如如果測量位置每次均為固定時，平均值可計算如下：
且該測量之最大誤差可計算如下：
有多種方式可用於測量角速度ω。例如，可藉由選擇路徑上之點(例如，隨機選擇)以及藉由測量兩條通路 之間相隔時間，利用所報告之接觸點位置。
因此，在該測量中可使用所報告之接觸點位置執行如下一過程：
‧在路徑上選擇一點(xi0,yi0)(例如，隨機選擇)，並儲存該點之時間戳ti0；
‧由於路徑為圓形，在下一圓中找出與(xi0,yi0)最接近之點(xi1,yi1)；
‧找出(xi0,yi0)與(xi,yi)之間距離函數之局部最小值，例如，定位(xi1-1,yi1-1)、(xi1,yi1)及(xi1+1,yi1+1)，使d(i1-1,i0)>d(i1,i0)且d(i1+1,i0)>=d(i1,i0)
‧內插時間戳ti1-1、ti1、ti1+1，以便獲取最佳估計值；
‧隨後，角速度可表示為：
‧或對於第k個圓，一般表示為：
隨後，便可定義該測量之平均角速度及最大誤差。
一替代方法為單獨準備一裝置，該裝置經配置為在接觸點到達某預定義(但為有效任意)位置之時向系統返回報告，請參看第3圖及第4圖所示及所描述之實例。此舉可藉由使用固定時間戳tk降低問題複雜性。在此情況下，每個角速度之測量變為：
隨後，平均角速度表示為：
且最大誤差表示如下：
使用步進馬達測量平移潛時之硬體設置
該實例中使用了利用恆定角速度之解。在圖示系統中，步進馬達206用於實現恆定角速度，例如，該步進馬達可提供約一毫秒之準確度。該系統可含有多個不同部件，諸如：‧調平表面，用於適當調整諸如顯示裝置106之受測裝置之水平；‧步進馬達固定架，用於將步進馬達206固定在調平表面上；‧步進馬達206；‧步進馬達驅動器208，例如，方盒(spate box)，具有經由串行端口或其他通訊連接裝置驅動步進馬達206之控製程式；‧接觸點202之安裝座(例如，觸桿或觸筆)；‧用於偵測接觸點位於控制點的時間之組件，請參看第3圖及第4圖所示之實例；及‧用於驅動及自動操作程序之軟體組件，該組件可作為測試模組114之一部份實施。
藉由降低接觸點202(例如，觸桿)直至該接觸 點到達例如顯示裝置106之受測裝置表面可執行調平。然後，可將步進馬達206以較低角速度移動，以便沿路徑204檢驗接觸點。藉由以標稱角速度(例如，3 rad/s左右)啟動步進馬達206並檢驗所報告之觸摸事件是否一致來測試該裝置：‧穩定的報告速率等於該裝置之最大報告速率；及‧穩定的接觸點內徑，接觸點內徑在幾週期內通常不變化。
滿足該等兩個條件後，顯示裝置106視為水平。
使用步進馬達測量平移潛時
平移潛時測量過程之四個不同階段可區分為：‧設置(調平，確保接觸點202牢固並產生不間斷之觸摸報告)；‧校準(根據所收集之資料偵測控制點位置)；‧擷取(根據所收集之資料偵測圓心、半徑及角速度)；及‧收集(根據所收集之資料測量平移潛時)
在第一階段，確保調平適當如上文所述，例如接觸點牢固，並至少能在一完整週期內產生可靠及不間斷之觸摸報告。在第二階段(校準)中，偵測控制點(x11,y11)及(x22,y22)之位置。該等位置係所報告之觸摸/觸筆接觸點之位置，該等位置用於計算α(t0)。實現校準之一方式為使步進馬達206以一較低角速度(例如，ω=0.03 rad/s)移動接觸點202，並與預設標稱工作角速度ω=3 rad/s相比較。
在第三階段內可偵測到路徑之參數與該圓形之 圓心及半徑，以及角速度。該偵測可在諸如ω=3 rad/s之工作速度下執行。擷取所報告之取樣之每一者，該等取樣經處理後可用於判定該等參數。根據擷取之資料及獲取之參數計算得出誤差估計值。
最終，在第四階段內收集所報告之接觸點及所報告之時間戳。先前所獲取之模型參數用於測量平移潛時。可對每個所報告之點計算平移潛時，該平移潛時可根據下文所示之模型處理以產生報告212。
使用中斷測量平移潛時之實例
第3圖描繪了實例系統300，在該系統內，測試設備102經配置使用中斷執行平移潛時測量。與之前一樣，受測裝置包括顯示裝置106，該顯示裝置具有感測器110及觸摸模組112。測試設備102包括接觸點202，該接觸點由步進馬達206沿路徑移動，且受控於步進馬達驅動器208。儘管如此，在該實例中，測試設備102進一步包括中斷模組302，該模組可包括光中斷器電路用於偵測該步進馬達206之接觸點202通過控制點之時間，該時間可對應於步進馬達之即將形成之旋轉角α0。
中斷模組302之一光中斷器電路可包括發光裝置(例如，LED)及光電二極體，該發光裝置及光電二極體之位置使該LED向該光電二極體射出聚焦光線304(例如，可見光譜以外之光線)。該光電二極體經配置可接收該聚焦光線，例如，該光電二極體可包括透鏡用於聚焦光束，以及凹槽以進一步阻擋環境光線之影響，等等。因此，當諸如接觸點202 之不透明物件或連接至步進馬達206之其他裝置(例如，探針)進入LED與光電二極體之間之空間時，該光中斷器電路會向測試模組114報告信號306。該偵測可用於估計步進馬達206在中斷時之角位置。
中斷模組302可向第2圖中之系統200內添加四 個額外組件。該等組件可包括探針，該探針附著在步進馬達之活動部件上，該步進馬達經配置可用於啟動該光中斷器電路。該光中斷器電路可置於步進馬達206之固定部件上，例如固定架，且該光中斷器電路之位置使該探針中斷該光中斷器之兩個部件之間的光束，例如光線304。此外，中斷模組302可經配置包括微控制器，該微控制器用於接收來自光中斷器電路之輸入，記錄該事件之時間戳，並向測試模組114報告該時間戳。該微控制器可經程式化用於偵測該光中斷器信號之上升沿與下降沿，從而允許可準確估計待形成之測量誤差。
一旦測試模組114接收到事件時間戳(例如，潛 時少於1ms)，便可估計該事件之時間，並進一步使用該時間將該測量誤差降低至0.5ms以下。稍後，該資訊可用於估計接觸點202在任一指定時間之實際實體位置，並由此可用於測量平移潛時。
與前文一樣，測量過程可從概念上分為四個階 段：這四個階段為設置、校準、擷取及收集。設置之執行可參看前文中第2圖之描述。對於校準而言，初始可使用相對較低之角速度，以在接收到來自中斷模組302之信號306時 偵測接觸點202之報告位置。中斷模組302可經配置在每次中斷時報告兩個信號。信號(例如，上升及下降信號)之間的預期時間可使用以下表達式估計：△ signal =d needle /Rω low
當R>>dneedle時，該表達式可獲得一較佳估計值。當探針厚度為1mm、較低角速度為0.03rad/s、半徑為4.5cm之預設值時，信號之間之預期時間約為740ms。
可在大約接收到來自中斷模組302之信號306之時收集所報告之位置(xi 0及yi 0)，然後可內插該等位置以獲取一估計值，該估計值可解決觸摸報告與光中斷器信號並非同時產生之問題。因此，可在報告該光中斷器信號之上升沿時獲取接觸點202位置( , )，該位置可由顯示裝置106報告。下降沿之測量結果可用於增加可靠性及可信度。測量誤差(定義為最大測量誤差)可計算如下：
如上所述之誤差通常為數位轉換器不準確所造成之後果，但上述誤差仍可作為誤差分析之部份。
為了擷取，路徑及角速度之特性可按以下方式偵測。首先，可記錄多個週期內之報告位置，該等位置可能完整或可能不完整，例如圓形中有部份可能出現在「螢幕以外」。
一旦記錄完成，即可計算該圓之圓心(x00,y00)及半徑R之估計值，例如，如上所述之「最佳估計值」。例如， 該估計值之誤差可表示如下：
在一或更多個實施中，平均誤差目標約為一個像素之數量級，且該平均誤差與最大誤差相差不顯著。
可使用該光中斷器之上升信號之報告時間戳估計角速度。對於每兩個連續報告上升沿而言，角速度估計值可定義為：
一旦當記錄完成，平均角速度可定義為：
最終，測量誤差可定義為：
在收集後可計算每個報告觸摸位置之平移潛時。根據先前兩個階段，已建立該模型之參數，因此對於每個報告點而言，潛時可計算如下：
其中
如前文所述，該等實例中之座標以公分為單位而不是以像素為單位，但亦可考慮像素及其他測量單位。還請注意，潛時獨立於R值。
測量誤差可表示如下：
其中，上限可直接應用，且可明確計算得出或數值估計偏導數。
可執行複數個週期(例如，幾十個週期)以儲存報告位置及時間戳xi、yi、tR。然後，該等值可用於計算潛時。一旦計算得出潛時，可對該等實例之每一者建立分佈函數，並從該分佈中提取平均潛時。由於該過程的緣故預期結果為正常高斯分佈，因此該步驟可用作最終檢查點。
誤差估計值
在前文第2圖之實例中，潛時之誤差估計值可表示如下：
該表達式可分解為以下幾段，並可用於提供上限估計值：
δt R =0.5ms
如上文所述，該上限誤差估計值係得自於直接測量誤差(前三個估計值：δxi、δyj及δtR)或來源於更複雜之間接測量。該種情況源於後三個估計值(δω、δx00及δy00)；更特定而言之，中間兩個估計值(δxi 0及δyi 0)介於兩種分類之間，因為該等兩個估計值為直接測量誤差。可定義δxi 0及δyi 0之預期，在該預期中，誤差之兩個部份大致相同(ex~δxi及ey~δyi)，該種相同表示感測器110之測量具有可信度且響應品質可接受。如果ex»δxi，則過失在於感測器110(可獨立驗證)或整體設置(例如，系統誤差)。如果ex«δxi，則該種情況可能涉及測量準確度顯示有誤。
使用雷射測量平移潛時之實例
第4圖描繪了實例系統400，在該系統內，測試設備102經配置可使用雷射執行平移潛時測量。與前文一樣，受測裝置包括顯示裝置106，該顯示裝置具有感測器110及觸摸模組112。測試設備102包括接觸點202，該接觸點由步進馬達206沿路徑移動，且受控於步進馬達驅動器208。儘管如此，在該實例中，測試設備102進一步包括雷射402(例如，IIIA級雷射)及光電二極體404(例如，反偏光光電二極體及1MQ電阻器)以偵測該步進馬達206之接觸點202通過控制點之時間。在一或更多個實施中，可縮小光電二極體404之感測區域，以便使用具有孔洞之不透明膠帶，該孔洞之尺寸提供之靈敏度，例如，小於0.5mm之孔徑。
雷射402及光電二極體406可以多種方式放置以偵測接觸點202之移動。例如，如圖所示，雷射402可放置 在受測顯示裝置106之表面上，以便接觸點202在雷射光束306從該接觸點前方通過時將該雷射光束中斷。以此方式，可準確判定接觸點202在該控制點上之位置及時間戳。該技術可與前文中關於第2圖所討論之步進馬達206方法結合。在另一實例中，雷射402可放置在路徑204以外，以便接觸點202在沿路徑204移動時兩次通過雷射光束406。亦可考慮多個其他實例。
在第一個解決方案中，使用了單個控制點；而在 第二個解決方案中，可使用兩個控制點。在擷取及收集階段，該等控制點可彼此區分，例如，該擷取及收集階段可包括「忽略」距離光電二極體404較遠之第二個控制點及「保留」最近之第一個控制點。一種實現該目的之方式為計算最後報告位置到兩個控制點之距離，該距離可在校準中形成。若最後報告位置距離第二個(較遠)控制點較近，則一簡單準則可包括忽略該報告控制點。
該準則將適用於角速度及相對較低之潛時。裝置 之臨限角速度值顯示出「不佳」平移潛時(例如，平移潛時約100ms)，而目標平移潛時可設置在約15ms。臨限角速度可使用以下表達式定義：
對於上述實例，臨限角速度約為31.42 rad/s，該速度比目標標稱角速度大十倍，因而該方法足以用於該實例。
如果雷射光束404不通過路徑204之圓心，則亦 可設計另一種區分兩個報告控制點之方法。在該種情況下，報告控制點之時間戳可用於區分該兩個控制點。準則隨後變成若最後兩個連續報告控制點之間之時間少於先前兩個連續報告控制點之時間時，則忽略報告控制點。使用該兩個準則，雷射402及光電二極體404之放置問題降低為單個控制點，但亦可考慮其他實例。
測試模組114可接收來自光電二極體之信號 408，並記錄該事件之時間戳。測試模組114經配置以偵測光電二極體404之信號408之上升沿及下降沿兩者，從而允許準確估計測量誤差。
然後，測試模組114經配置以基於事件之時間戳 估計該事件之發生時間(例如，潛時少於1ms)，並進一步將該測量誤差降低至0.5ms以下。該資訊可用於估計接觸點202在任一指定時間之實際實體位置，該位置可用於測量平移潛時。
系統400可包括如前文所述之組件，例如接觸點 202、步進馬達206、步進馬達驅動器208、調平表面、測試模組114，等等。進一步，測量亦可如前文所述分為若干階段，例如設置雷射402、校準、測量，等等。
對於根據所收集之資料校準及偵測控制點位置 而言，當接收到來自光電二極體404之信號408時可使用較低角速度偵測接觸點202之報告位置。例如，光電二極體每次中斷可報告兩個信號。兩個信號(上升及下降信號)之間之預期時間可用以下方程式估計： △signal=dstick/pen/Rωlow
與前文一樣，當R>>接觸點202時，該方程式提供較佳估計值。對於接觸點202厚度為8mm、較低角速度為0.03 rad/s及路徑204之半徑為4.5cm之預設值，信號之間之預期時間約為5926 ms。可重複該測量，例如，重複十幾次；如果絕對最大誤差多餘一個像素，則重複35次以上，等等。
約在自該光電二極體接收信號408時記錄報告位置(xi 0及yi 0)。可內插該記錄位置以達到估計值，例如，在觸摸報告可能不與光電二極體404之信號408同時產生之情況下。
因此，在光電二極體404之信號408為上升沿時(藉由顯示裝置106之一數位轉換器獲取)獲取接觸點202之報告位置(xAV 0及yAV 0)。如前文中關於第3圖所描述，該下降沿測量之結果可用於增加可靠性及可信度。
測量誤差(定義為最大測量誤差)可計算如下：
在當前實例中，預期如上文所述之誤差比實際方法測量誤差更為明顯(該種情況源於由微控器所導致之潛時)，但稍後在下文所述之誤差分析中會考慮到該兩個誤差。
關於該路徑及角速度之特性之擷取及偵測，該誤差計算可藉由記錄多個週期(例如，如前文所述之十幾次或十幾次以上)之報告位置實現。如關於第3圖所描述，週期 可能不完整，例如，週期之一部份與顯示裝置106接觸，而另一部份則未與顯示裝置106接觸。一旦記錄完成，亦可如前文所述計算該圓之圓心(x00,y00)及半徑R之最佳估計值。該估計值之誤差可表示如下：
在一或更多個實施中，平均誤差目標約為一個像素之數量級，且該平均誤差與最大誤差相差不顯著。
使用該光電二極體之上升信號之報告時間戳估計角速度。對於每兩個連續報告上升沿而言，角速度估計值可定義為：
一旦記錄完成，平均角速度可定義為：
因此，測量誤差可定義為：
在收集階段，計算每個報告觸摸位置之平移潛時
根據先前兩個階段，已建立該模型之參數，且因此對於每個報告點而言，潛時可計算如下：
其中
同樣，如前文所提及，該實例中座標以公分為單位表示，但亦可考慮諸如像素之其他單位。又如前文所提及，潛時獨立於R值。
測量誤差可表示如下：
其中，直接應用上限，且可明確計算得出或數值估計偏導數。
可記錄複數個週期，並儲存報告位置及時間戳xi、yi、tR。然後，彼等值可用於計算潛時。一旦計算得出潛時，可對每個潛時建立分佈函數，並從該分佈中提取平均潛時。由於該過程導致預期結果為正常高斯分佈，因此該步驟可用作檢查點。
在前文之討論中，潛時之誤差估計值表示如下：
該表達式可如前文所述分解為以下幾段以提供上限估計值：
δt R =0.5ms
如上文所述，該上限誤差估計值係得自於直 接測量誤差(例如，前三個估計值：δxi、δyj及δtR)或來源於間接測量(例如，作為後三個估計值：δω、δx00及δy00)。中間兩個估計值(δxi 0及δyi 0)介於兩種分類之間，因為該等兩個估計值為直接測量所得，但該測量可重複多次。可預期δxi 0及δyi 0，在該預期中，誤差之兩個部份大致相同(ex~δxj及ey~δyj)，該種相同表示顯示裝置106(例如，顯示裝置之觸摸數位轉換器)之測量具有可信度且操作理想。在ex»δxi的情況下，該種情況可能由顯示裝置106導致，可獨立驗證該顯示裝置。該種情況亦可能通過整體系統誤差導致。在ex«δxi的情況下，可獲得測量準確度之錯誤指示。
實例程序
以下討論描述了平移潛時測量技術，可利用前文中所述之系統及裝置實施該等技術。該等程序之每一者之態樣均可在硬體、韌體或軟體，或該等硬體、韌體或軟體之組合中實施。該等程序顯示為一組方塊，該組方塊規定了由一或更多個裝置執行之操作，且該組方塊未必限定於由各別方塊顯示用於執行該等操作之順序。以下討論部份中將分別參考第1圖之環境100及第2-4圖之系統200-400。
第5圖描繪了實例實施中之程序500，該實施中在裝置識別移動時測量該裝置之潛時。測試設備接收資料，該資料描述了使用裝置之觸摸功能所偵測到之平移移動(方塊502)。例如，受測裝置可向測試模組114提供諸如HID報告210之輸出，該報告描述裝置106之平移移動識別。
該測試設備測量該裝置識別平移移動以啟動 該裝置之一或更多個操作之潛時(方塊504)。如前文所述，可測量得出多個不同類型之潛時，諸如硬體潛時、端到端潛時，等等。亦可考慮多個其他實例，諸如在一實例中，接觸點由使用者藉由(例如)跟隨顯示裝置106上物件之顯示手動提供。
實例系統及裝置
第6圖描繪了實例系統(大體表示為600)，該系統包括實例計算裝置602，該計算裝置代表一或更多個計算系統及/或裝置，該等系統及/或裝置可實施本文中所述之多種技術。例如，計算裝置602可為服務提供者之伺服器、與用戶端關聯之裝置(例如，用戶端裝置)、晶片上系統，及/或任一其他適合之計算裝置或計算系統。
圖示之實例計算裝置602包括處理系統604、一或更多個電腦可讀取媒體606，及一或更多個I/O介面608，該等元件相互通訊耦接。雖然未圖示，但計算裝置602可進一步包括系統匯流排或其他資料及命令傳輸系統，該系統將多個組件相互耦接。系統匯流排可包括任一匯流排結構或不同匯流排結構之組合，諸如記憶體匯流排或記憶體控制器、周邊匯流排、通用串列匯流排，及/或處理器匯流排或區域匯流排，該處理器匯流排或區域匯流排可利用多種匯流排架構之任一架構。亦可考慮多種其他實例，諸如控制線或資料線。
處理系統604代表使用硬體執行一或更多種操作之功能。因此，處理系統604被圖示為包括硬體元件610，該硬體元件可配置為處理器、功能方塊，等等。此可包 括以硬體實施為專用積體電路或其他使用一或更多個半導體形成之邏輯裝置。硬體元件610不受限於製成該等元件之材料或元件內所使用之處理機制。例如，處理器可由半導體和/或電晶體(例如，電子積體電路(ICs))組成。在該上下文中，處理器可執行指令可為電子可執行指令。
電腦可讀取儲存媒體606被圖示為包括記憶 體/儲存器612。記憶體/儲存器612代表與一或更多個電腦可讀取媒體相關聯之記憶體/儲存器容量。記憶體/儲存器組件612可包括揮發性媒體(諸如隨機存取記憶體(RAM)及/或非揮發性媒體(諸如唯讀記憶體(ROM)、快閃記憶體、光碟、磁碟，等等)。記憶體/儲存器組件612可包括固定媒體(例如，RAM、ROM、固定硬碟，等等)以及可移動媒體(例如，快閃記憶體、可移動硬碟機、光碟，等等)。電腦可讀取媒體606可以多種其他方式配置，下文中將進一步描述。
輸入/輸出介面608代表允許使用者向計算裝 置602輸入命令及資訊的功能，且亦允許資訊向該使用者展示；且/或代表使用多種輸入/輸出裝置之其他組件或裝置。輸入裝置之實例包括鍵盤、游標控制裝置(例如，滑鼠)、麥克風、掃描器、觸摸功能(例如經配置偵測實體觸摸之電容式感測器或其他感測器)、照相機(例如，該照相機可使用諸如紅外線頻率之可見或不可見波長將移動識別為不涉及觸摸之手勢)，等等。輸出裝置之實例包括顯示裝置(例如，螢幕或投影機)、揚聲器、印表機、網路卡、觸覺響應裝置，等等。因此，計算裝置602可按多種方式配置以如下文進一 步描述支援使用者互動。
本文描述了在軟體、硬體元件或程式模組之 一般上下文下使用的多種技術。一般而言，該種模組包括常式、程式、物件、元件、組件、資料結構等，上述該等內容執行特定任務或實施特定抽象資料類型。本文所用之術語「模組」、「功能」及「組件」一般表示軟體、韌體、硬體或該等軟體、韌體、硬體之組合。本文內描述之該等技術之特徵可獨立於平臺，意謂該等技術可在具有多種處理器之多種市售計算平臺上實施。
該等所述模組及技術之實施可儲存在某種形 式之電腦可讀取媒體上或在跨越該形式之電腦可讀取媒體傳輸。該電腦可讀取媒體可包括多種媒體，計算裝置602可存取該等媒體。經由實例，電腦可讀取媒體可包括但不限定於「電腦可讀取儲存媒體」及「電腦可讀取信號媒體」。
「電腦可讀取儲存媒體」可指與僅信號傳 輸、載波或信號之本身相比賦能永久性及/或非暫時性儲存資訊之媒體及/或裝置。因此，電腦可讀取儲存媒體指非信號承載媒體。電腦可讀取儲存媒體包括諸如揮發性及非揮發性、可移動及不可移動媒體及/或儲存裝置之硬體，該等媒體及/或儲存裝置以適合諸如電腦可讀取指令、資料結構、程式模組、邏輯元件/電路或其他資料之資訊儲存之實施方法或技術實施。電腦可讀取儲存媒體之實例可包括，但不限定於，RAM、ROM、EEPROM、快閃記憶體或其他記憶體技術、CD-ROM、數位通用光碟(DVD)或其他光學儲存器、硬碟、 磁卡、磁帶、磁碟儲存器或其他磁性儲存裝置，或其他儲存裝置、實體媒體，或適合用於儲存所要資訊且可由電腦存取之製品。
「電腦可讀取信號媒體」可指信號承載媒體，該媒體經配置可經由諸如網路之方式向計算裝置602之硬體傳輸指令。信號媒體通常可使用諸如載波、資料信號或其他傳送機制之調變資料信號以包含電腦可讀取指令、資料結構、程式模組，或其他資料。信號媒體亦包括任何資訊傳送媒體。術語「調變資料信號」意謂信號，該信號已以一種方式設定或更改了該信號特性之一或更多者，該種方式可將資訊編碼到該信號中。經由實例，通訊媒體包括但不限定於諸如有線網路或直接連線連接之有線媒體，以及諸如聲波、RF、紅外線之無線媒體及其他無線媒體。
如前文所述，硬體元件610及電腦可讀取媒體606代表以硬體形式實施之模組、可程式化裝置邏輯及/或固定裝置邏輯，在某些實施例中可採用該等模組、可程式化裝置邏輯及/或固定裝置邏輯以實施本文所描述之技術之至少某些態樣，以便執行一或更多個指令。硬體可包括積體電路或晶片上系統之組件、專用積體電路(ASIC)、現場可程式化閘極陣列(FPGA)、複雜可程式化邏輯裝置(CPLD)，以及矽或其他硬體內之其他實施。在該種上下文中，硬體可作為處理裝置操作，該處理裝置執行由該硬體所包含之指令及/或邏輯定義之程式任務，該硬體亦可作為用於儲存待執行之指令之硬體操作，例如，前文所述之電腦可讀取儲存媒體。
前述之組合亦可用於實施本文所描述之各種技術。由此，軟體、硬體或可執行模組可作為一或更多個指令及/或邏輯實施，該一或更多個指令及/或邏輯包含在某種形式之電腦可讀取儲存媒體上，及/或由一或更多個硬體元件610包含。計算裝置602可經配置實施特定指令及/或函數，該等指令及/或函數與該軟體及/或硬體模組相對應。由此，如軟體可由計算裝置602執行之模組之實施可至少部份以硬體實現，例如經由使用電腦可讀取儲存媒體及/或處理系統604之硬體元件610實施。該等指令及/或功能可由一或更多個製品(例如，一或更多個計算裝置602及/或處理系統604)執行/操作，以實施本文所描述之技術、模組及實例。
如第6圖之進一步圖示，實例系統600賦能普遍存在之環境，以便在個人電腦(PC)、電視裝置及/或行動裝置上執行應用程式時獲取無縫隙(seamless)使用者體驗。對常見使用者體驗而言，在使用應用程式、玩視頻遊戲、觀看視頻等等期間從一裝置轉移至下一裝置時，服務及應用程式在所有三種環境中之執行大體相似。
在實例系統600內，多個裝置經由中央計算裝置互聯。該中央計算裝置可位於該等多個裝置本端或可位於該等多個裝置遠端。在一實施例中，該中央計算裝置可為一或更多個伺服器電腦之雲端，該等電腦經由網路、網際網路或其他資料通訊鏈路連接至該多個裝置。
在一實施例中，該互聯架構使得功能能夠跨越多個裝置傳遞，以便向該多個裝置之使用者提供共用及無 縫隙體驗。該多個裝置之每一者可具有不同實體要求及能力，且該中央計算裝置使用平臺使裝置之體驗能夠傳遞，該平臺為每個裝置而調整且亦由所有裝置共用。在一實施例中，建立一目標裝置類別，然後使體驗為總裝置類別而調整。裝置之類別可由該等裝置之實體特徵、使用類型，或其他常見特性定義。
在多個實施中，計算裝置602可假設多種不同配置，諸如電腦614、行動裝置616及電視618所用之配置。該等配置之每一者包括可具有大體不同構造及能力之裝置，因此，計算裝置602可根據不同裝置類別之一或更多者而配置。例如，計算裝置602可實施為裝置之電腦類別614，該類別包括個人電腦、桌上型電腦、多螢幕電腦、膝上型電腦、小筆電，等等。
計算裝置602亦可實施為裝置之行動類別616，該類別包括行動裝置，諸如行動電話、可攜式音樂播放器、可攜式遊戲裝置、平板電腦、多螢幕電腦，等等。計算裝置602亦可實施為裝置之電視類別618，該類別包括在休閒觀影環境中，一般具有較大螢幕或連接至較大屏幕之裝置。該等裝置包括電視、視訊轉換器、遊戲控制台，等等。
本文所描述之涉及測試模組114乃至受測裝置之技術可由計算裝置602之該等各種配置的支援，且不限定於本文所描述之技術的特定實例。測試模組114之該功能亦可經由使用分佈系統全部或部分實施，諸如經由如下所述之平臺622實施在「雲端」620上。
對於資源624而言，雲端620包括平臺622及/或代表平臺622。平臺622抽取了雲端620之硬體(例如，伺服器)及軟體資源之基礎功能。資源624可包括應用程式及/或資料，該等應用程式及/或資料可在電腦處理在伺服器上之執行期間使用，該等伺服器位於計算裝置602之遠端。資源624亦可包括在網際網路上提供之服務及/或經由諸如蜂巢或Wi-Fi網路之用戶網路提供之服務。
平臺622可抽取資源及功能以將計算裝置602與其他計算裝置相連接。平臺622亦可用於抽取資源之比例縮放(scaling)以提供對應比例水平以滿足針對經由平臺622實施之資源624之所遇到之需求。因此，在互聯裝置之實施例中，本文所描述之功能之實施可遍及整個系統600分佈。例如，該功能可在計算裝置602上部份實施，亦可經由平臺622實施，平臺622抽取雲端620之功能。
結論
雖然以特定於結構特徵及/或方法動作之語言描述本發明，但應瞭解，在附加申請專利範圍中定義之本發明並不必限定於所描述之特定特徵或動作。相反，該等特定特徵及動作係揭示為實施所主張之本發明之實例形式。
100‧‧‧環境
102‧‧‧測試設備
104‧‧‧觸摸屏裝置
106‧‧‧顯示裝置
108‧‧‧使用者之手
110‧‧‧感測器
112‧‧‧觸摸模組
114‧‧‧測試模組
116‧‧‧平移移動裝置

Claims (20)

  1. 一種測試設備，該測試設備包括：一或更多個馬達，該一或更多個馬達經配置將一或更多個接觸點移動至至少與一裝置之一或更多個感測器鄰近，該一或更多個接觸點可被偵測為移動；及一或更多個模組，該一或更多個模組至少部份實施在硬體內以測量該裝置識別該一或更多個接觸點之移動之潛時。
  2. 如請求項1所述之測試設備，其中該一或更多個模組經配置以將該潛時測量為該裝置識別該移動之硬體潛時。
  3. 如請求項1所述之測試設備，其中該一或更多個模組經配置以將該潛時測量為該設備識別該移動之端到端潛時。
  4. 如請求項1所述之測試設備，其中該一或更多個馬達經配置為一步進馬達。
  5. 如請求項4所述之測試設備，其中該步進馬達經配置以移動該一或更多個接觸點以形成一圓形路徑，藉由該裝置之該一或更多個感測器可偵測到該圓形路徑之至少一部份。
  6. 如請求項1所述之測試設備，其中該一或更多個模組經配置以經由使用恆定角速度測量該設備識別該移動之潛時。
  7. 如請求項1所述之測試設備，其中該裝置之該一或更多個感測器經配置以經由作為一觸摸感測器、紅外線感測器、光學成像感測器、色散信號感測器、像素中感測器、電阻性感測器或聲脈波識別感測器之配置將該一或更多個接觸點偵測為至少鄰近。
  8. 如請求項1所述之測試設備，其中該一或更多個模組包括一中斷模組，該中斷模組具有一光中斷器電路，該光中斷器電路經配置以偵測該一或更多個接觸點之位置，該中斷模組至少部份用於測量該潛時。
  9. 如請求項8所述之測試設備，其中該中斷模組經配置以偵測該一或更多個接觸點通過一控制點之時間，從而判定該接觸點在該一或更多個馬達作用下之一旋轉角。
  10. 如請求項1所述之一測試設備，該測試設備進一步包含一雷射及一光電二極體，該光電二極體經配置以偵測該一或更多個接觸點在該雷射及該光電二極體之間通過之時間，該時間至少部份用於測量該潛時。
  11. 一種方法，該方法包含以下步驟：由一測試設備接收資料，該資料描述了使用一裝置之觸摸功能所偵測到之平移移動；及由該測試設備測量該裝置識別該平移移動以啟動該裝置之一或更多個操作之潛時。
  12. 如請求項11所述之方法，其中該一或更多個操作導致藉由該裝置輸出之一使用者介面按一方向及一幅度平移，該方向及該幅度與該所偵測到之平移移動相對應。
  13. 如請求項11所述之方法，其中該潛時為該裝置之硬體潛時。
  14. 如請求項11所述之方法，其中由該裝置之該觸摸功能偵測到之該平移移動係經由一接觸點之移動引起的，該接觸點至少與該裝置之該觸摸功能鄰近。
  15. 如請求項14所述之方法，其中由該測試設備使用一步進馬達移動該接觸點。
  16. 如請求項11所述之方法，其中至少部份經由使用恆定角速度執行該測量。
  17. 如請求項11所述之方法，該方法進一步包含以下步驟：接收來自一光中斷器電路之一或更多個信號，該光中斷器電路經配置以偵測該接觸點，且該測量使用該一或更多個信號以測量該潛時。
  18. 如請求項11所述之方法，該方法進一步包含以下步驟：接收來自一光電二極體之一信號，該光電二極體經配置以偵測該接觸點在一雷射及該光電二極體之間通過之時間，該時間至少部份用於測量該潛時。
  19. 一種測試設備，該測試設備包含：一接觸點，該接觸點經配置可安置於鄰近一顯示裝置，該顯示裝置具有觸摸屏功能；一馬達，該馬達經配置以沿一圓形路徑移動該接觸點，該路徑可由該裝置之該觸摸屏功能偵測為一平移移動；及一或更多個模組，該一或更多個模組至少部份在硬體內實施，以使用恆定角速度測量該裝置識別該接觸點之該平移移動之潛時。
  20. 如請求項19所述之測試設備，其中該一或更多個模組包括一中斷模組，該中斷模組具有一光中斷器電路，該光中斷器電路經配置以偵測該接觸點，該中斷模組至少可用於測量該潛時。
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