KR101065014B1 - 터치 스크린 패널의 검사장치 및 검사방법 - Google Patents

터치 스크린 패널의 검사장치 및 검사방법 Download PDF

Info

Publication number
KR101065014B1
KR101065014B1 KR1020110075047A KR20110075047A KR101065014B1 KR 101065014 B1 KR101065014 B1 KR 101065014B1 KR 1020110075047 A KR1020110075047 A KR 1020110075047A KR 20110075047 A KR20110075047 A KR 20110075047A KR 101065014 B1 KR101065014 B1 KR 101065014B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
touch
screen panel
touch screen
inspection
members
Prior art date
Application number
KR1020110075047A
Other languages
English (en)
Inventor
우춘식
전영국
Original Assignee
에스맥 (주)
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 에스맥 (주) filed Critical 에스맥 (주)
Priority to KR1020110075047A priority Critical patent/KR101065014B1/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR101065014B1 publication Critical patent/KR101065014B1/ko

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/01—Subjecting similar articles in turn to test, e.g. "go/no-go" tests in mass production; Testing objects at points as they pass through a testing station
    • G01R31/013—Testing passive components
    • G01R31/016—Testing of capacitors
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/22—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
    • G06F11/26—Functional testing
    • G06F11/261—Functional testing by simulating additional hardware, e.g. fault simulation
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F3/00—Input arrangements for transferring data to be processed into a form capable of being handled by the computer; Output arrangements for transferring data from processing unit to output unit, e.g. interface arrangements
    • G06F3/01—Input arrangements or combined input and output arrangements for interaction between user and computer
    • G06F3/03—Arrangements for converting the position or the displacement of a member into a coded form
    • G06F3/041—Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means
    • G06F3/0412—Digitisers structurally integrated in a display

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Quality & Reliability (AREA)
  • Human Computer Interaction (AREA)
  • Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)

Abstract

본 발명은 전기적인 스위칭 제어를 통해 터치 스크린 패널에 충격을 가하지 않고 터치 입력을 제공할 수 있는 터치 스크린 패널의 검사장치 및 검사방법에 관한 것이다. 본 발명에 의한 터치 스크린 패널의 검사장치는, 터치 스크린 패널이 놓이는 안착면이 마련된 안착 패널, 터치 스크린 패널의 단자부와 전기적으로 접속하기 위한 커넥터, 터치 스크린 패널의 복수의 검사 영역에 접촉하여 각 검사 영역에 터치 입력을 제공하기 위한 복수의 터치 부재를 구비하는 터치 유닛, 복수의 터치 부재를 접지시키기 위한 접지부와 복수의 터치 부재 사이의 전기적 연결을 단속하기 위한 스위치 유닛, 스위치 유닛에 제어 신호를 제공하여 복수의 터치 부재를 선택적으로 접지시키고 커넥터를 통해 상기 터치 스크린 패널에서 발생하는 감지 신호를 제공받아 이를 분석하는 제어유닛을 포함한다. 본 발명에 의한 터치 스크린 패널의 검사장치는 종래와 같이 터치 입력을 제공하기 위해 고가의 구동장치가 필요 없고 복잡한 구조를 생략할 수 있어 저비용의 간단한 구조로 제조될 수 있다.

Description

터치 스크린 패널의 검사장치 및 검사방법{Apparatus and method for testing touch screen panel}
본 발명은 터치 스크린 패널의 검사장치에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 터치 스크린 패널의 검사 영역에 터치 입력을 제공하고 터치 스크린 패널에서 발생하는 감지 신호를 분석하여 터치 스크린 패널의 불량 여부를 검사할 수 있는 터치 스크린 패널의 검사장치 및 검사방법에 관한 것이다.
터치 스크린 패널은 영상표시장치 등의 화면에 나타난 지시 내용을 사람의 손 또는 물체로 선택하여 사용자의 명령을 입력할 수 있도록 한 입력장치로, 최근 다양한 정보처리장치에 적용되고 있다. 터치 스크린 패널은 조작이 간단하고, 오작동이 적으며, 다른 입력기기 없이 정보 입력이 가능하며, 영상표시장치와 일체형으로 제조되어 제품의 휴대성을 높일 수 있다.
터치 스크린 패널은 접촉된 부분을 감지하는 방식에 따라 저항막 방식, 정전용량 방식, 표면 초음파 방식, 적외선 방식 등으로 구분되며, 저항막 방식과 정전용량 방식이 주로 이용되고 있다.
저항막 방식은 투명전극이 코팅되어 있는 두 장의 기판을 합착시킨 구조로 이루어지며, 손가락이나 펜으로 압력을 가해 상부와 하부의 전극층이 접촉되면 전기적 신호가 발생되어 위치를 인지하는 방식이다. 저항막 방식의 경우 가격이 싸고 정확도가 높으며 소형화에 유리하나, 물리적으로 두 장의 기판이 접촉되어야 터치를 인식하기 때문에 견고하게 제작되는데 어려움이 있다.
정전용량 방식은 얇은 전도성 물질이 코팅된 투명기판을 이용한다. 일정량의 전류를 투명기판의 표면에 흐르게 하고 사용자가 코팅된 투명기판의 표면을 터치하면, 일정량의 전류가 사용자의 체내에 흡수되며 접촉면의 전류량이 변경된 부분을 인식함으로써 터치된 부분을 확인하게 된다. 정전용량 방식의 터치 스크린 패널은 접촉면에서의 접촉위치를 정확하게 판단하기 위해 X축 좌표 및 Y축 좌표를 인식하기 위한 두 종류의 감지전극을 갖는다.
대량 생산되는 터치 스크린 패널은 최종적으로 검사 공정을 거치게 된다. 검사 공정은 불량품을 가려내기 위한 과정으로 생산된 모든 제품은 터치감지 기능에 대한 검사를 받게 된다. 터치감지 기능 검사를 통해 터치 스크린 패널은 터치 동작을 정상적으로 감지하는지 여부와 감지한 터치 좌표가 정확한지에 대해 판단 받는다.
종래의 터치 스크린 패널의 검사장치는 터치 스크린 패널의 단자부와 전기적으로 접속되는 접속부, 터치 스크린 패널의 터치 영역을 터치하기 위한 복수의 터치 부재, 터치 부재를 작동시키기 위한 복수의 솔레노이드, 터치 스크린 패널에서 발생하는 감지 신호를 수신하여 기준 신호와 비교하는 제어장치를 포함한다. 이러한 종래 터치 스크린 패널은 복수의 터치 부재 중 검사 대상 좌표에 대응하는 터치 부재를 작동시켜 터치 스크린 패널의 검사 대상 좌표를 터치하고, 이때 터치 스크린 패널에서 발생하는 감지 신호를 기준 신호와 비교하여 터치 스크린 패널의 감지 정상 여부를 판단하게 된다.
그런데 종래 터치 스크린 패널의 검사장치는 터치 부재가 솔레노이드에 의해 전진하여 터치 스크린 패널의 터치 영역을 터치함으로써 발생하는 여러 가지 문제점을 가지고 있다. 구체적으로, 복수의 터치 부재가 개별적으로 진퇴되는 복잡한 구조를 가져야하고, 이들을 각각 진퇴시키기 위한 복수의 솔레노이드를 구비하므로 제조비용이 높다.
또한 종래 터치 스크린 패널의 검사장치는 터치 부재가 전진하여 터치 스크린 패널을 터치하므로, 터치 스크린 패널에 충격이 가해져 소음이 발생하고 터치 스크린 패널이 손상되거나 파손될 수 있다. 이러한 문제를 줄이기 위해서는 터치 부재의 진퇴 거리가 정밀하게 제어되어야 하는데, 이는 고가의 솔레노이드를 필요로 하므로 제조비용이 더욱 상승하게 된다.
또한 종래 터치 스크린 패널의 검사장치는 터치 스크린 패널의 드래그 입력의 정확도를 검사하기가 쉽지 않다. 터치 스크린 패널의 드래그 입력에 따른 감지 신호를 검사하기 위해서는 복수의 터치 부재를 미세한 시간 간격으로 연속적으로 작동시켜야 하는데, 제어 신호의 발생 시점으로부터 솔레노이드가 반응하기까지 시간적인 지연이 있고, 솔레노이드가 작동하여 터치 부재가 움직이는데에도 시간적인 지연이 생기므로, 터치 부재를 정밀하게 제어하여 정확한 드래그 입력을 제공하기가 쉽지 않다.
본 발명은 이러한 점을 감안하여 안출된 것으로, 본 발명의 목적은 솔레노이드와 같은 구동장치를 사용하지 않고 전기적인 스위칭 제어를 통해 터치 스크린 패널에 충격을 가하지 않고 터치 입력을 제공할 수 있는 터치 스크린 패널의 검사장치 및 검사방법을 제공하는 것이다.
상기 목적을 달성하기 위한 본 발명에 의한 터치 스크린 패널의 검사장치는, 터치 스크린 패널이 놓이는 안착면이 마련된 안착 패널, 상기 터치 스크린 패널의 단자부와 전기적으로 접속하기 위한 커넥터, 상기 터치 스크린 패널의 복수의 검사 영역에 접촉하여 상기 각 검사 영역에 터치 입력을 제공하기 위한 복수의 터치 부재를 구비하는 터치 유닛, 상기 복수의 터치 부재를 접지시키기 위한 접지부와 상기 복수의 터치 부재 사이의 전기적 연결을 단속하기 위한 스위치 유닛, 상기 스위치 유닛에 제어 신호를 제공하여 상기 복수의 터치 부재를 선택적으로 접지시키고 상기 커넥터를 통해 상기 터치 스크린 패널에서 발생하는 감지 신호를 제공받아 이를 분석하는 제어유닛을 포함하고, 상기 제어유닛은 상기 스위치 유닛에 제어 신호를 제공하여 상기 복수의 터치 부재 중 선택된 검사 영역에 대응하는 터치 부재를 접지시킨 후, 상기 터치 스크린 패널에서 발생하는 감지 신호로부터 터치 지점의 좌표를 해석하고, 해석한 터치 좌표와 상기 선택된 검사 영역의 검사 좌표를 비교한다.
본 발명에 의한 터치 스크린 패널의 검사장치는 상기 터치 유닛을 상기 안착면 위에서 상하 이동시키기 위한 터치 유닛 이동장치를 더 포함할 수 있다.
상기 터치부재는 상기 터치 스크린 패널에 접촉하는 끝단이 둥근 형상으로 이루어질 수 있다.
상기 안착 패널에는 상기 터치 스크린 패널을 수용하기 위한 안착홈이 마련되고, 상기 안착면 및 상기 커넥터는 상기 안착홈 내에 위치할 수 있다.
상기 목적을 달성하기 위한 본 발명에 의한 터치 스크린 패널의 검사방법은, (a) 터치 스크린 패널의 터치 영역을 복수의 검사 영역으로 구획하고 상기 각각의 검사 영역에 대한 검사 좌표를 설정하는 단계, (b) 복수의 터치 부재를 상기 복수의 검사 영역에 각각 접촉시키는 단계, (c) 상기 터치 스크린 패널에 구동 전원을 제공하는 단계, (d) 상기 복수의 터치 부재 중 선택된 검사 영역에 대응하는 터치 부재를 활성화시키는 단계, (e) 상기 터치 스크린 패널에서 발생하는 감지 신호로부터 터치 지점의 좌표를 해석하는 단계, (f) 상기 선택된 검사 영역의 검사 좌표와 상기 해석된 터치 좌표를 비교하는 단계를 포함한다.
상기 (d) 단계에서, 상기 복수의 터치 부재를 접지시키기 위한 접지부와 상기 선택된 검사 영역에 대응하는 터치 부재 사이를 전기적으로 연결하는 것으로 상기 선택된 검사 영역에 대응하는 터치 부재를 활성화시킬 수 있다.
상기 (d) 단계에서, 상기 접지부와 상기 선택된 검사 영역에 대응하는 터치 부재 사이의 전기적인 연결은 이들 사이에 배치되는 스위칭 소자의 동작제어를 통해 이루어질 수 있다.
본 발명에 의한 터치 스크린 패널의 검사장치는 복수의 터치 부재를 터치 스크린 패널의 각 검사 영역에 접촉시킨 후 복수의 터치 부재를 전기적인 스위칭 제어를 통해 선택적으로 접지시켜 선택된 검사 영역에 터치 입력을 제공하고, 터치 스크린 패널에서 발생하는 감지 신호를 제공받아 선택된 검사 영역에서의 불량 여부를 판단한다. 따라서 종래와 같이 터치 입력을 제공하기 위해 고가의 구동장치가 필요 없고 복잡한 구조를 생략할 수 있어 저비용의 간단한 구조로 제조될 수 있다.
또한 본 발명에 의한 터치 스크린 패널의 검사장치는 터치 입력을 제공할 때마다 터치 스크린 패널을 터치할 필요가 없기 때문에, 검사시 터치 스크린 패널에 충격을 주지 않아 소음 발생이 적고, 터치 스크린 패널이 손상되거나 파손되는 문제가 발생하지 않는다.
또한 종래의 터치 스크린 패널의 검사장치가 터치 부재의 진퇴 운동으로 인한 시간 지연에 따라 다양한 터치 입력을 제공하는데 어려움을 갖는데 반해, 본 발명에 의한 터치 스크린 패널의 검사장치는 터치 입력이 신속하고 시간 지연 없이 연속적으로 이루어질 수 있다. 따라서 터치 스크린 패널에 드래그 입력과 같은 다양한 입력을 제공할 수 있어 검사의 정확성 및 신뢰성을 높일 수 있다.
도 1은 본 발명의 일실시예에 의한 터치 스크린 패널의 검사장치를 개략적으로 나타낸 사시도이다.
도 2는 본 발명의 일실시예에 의한 터치 스크린 패널의 검사장치의 주요구성을 나타낸 블록도이다.
도 3은 본 발명의 일실시예에 의한 터치 스크린 패널의 검사장치의 제어유닛과 터치 스크린 패널 간의 전기적 연결 상태를 나타낸 것이다.
도 4는 본 발명의 일실시예에 의한 터치 스크린 패널의 검사장치의 터치 유닛이 검사 대상 터치 스크린 패널에 접한 상태를 나타낸 것이다.
이하에서는 첨부된 도면을 참조하여, 본 발명에 의한 터치 스크린 패널의 검사장치 및 검사방법에 대하여 상세히 설명한다.
본 발명을 설명함에 있어서, 도면에 도시된 구성요소의 크기나 형상 등은 설명의 명료성과 편의를 위해 과장되거나 단순화되어 나타날 수 있다. 또한 본 발명의 구성 및 작용을 고려하여 특별히 정의된 용어들은 사용자, 운용자의 의도 또는 관례에 따라 달라질 수 있다. 이러한 용어들은 본 명세서 전반에 걸친 내용을 토대로 본 발명의 기술적 사상에 부합하는 의미와 개념으로 해석되어야 한다.
도 1은 본 발명의 일실시예에 의한 터치 스크린 패널의 검사장치를 개략적으로 나타낸 사시도이고, 도 2는 본 발명의 일실시예에 의한 터치 스크린 패널의 검사장치의 주요구성을 나타낸 블록도이다.
도 1 및 도 2에 도시된 것과 같이, 본 발명의 일실시예에 의한 터치 스크린 패널의 검사장치(100)는 검사 대상 터치 스크린 패널(10)이 놓이는 안착 패널(110), 터치 스크린 패널(10)의 터치 영역(19)에 접촉하여 터치 스크린 패널(10)에 터치 입력을 제공하기 위한 복수의 터치 부재(121)를 갖는 터치 유닛(120), 터치 유닛(120)을 상하 이동시키기 위한 터치 유닛 이동장치(130), 복수의 터치 부재(121)를 선택적으로 접지시키기 위한 스위치 유닛(140), 스위치 유닛(140)의 동작을 제어하고 터치 스크린 패널(10)에서 발생한 감지 신호를 분석하는 제어유닛(150)을 포함한다. 이러한 터치 스크린 패널의 검사장치(100)는 터치 유닛(120)을 통해 정전용량 방식의 터치 스크린 패널(10)에 터치 입력을 제공하고 터치 스크린 패널(10)에서 발생하는 감지 신호를 분석함으로써, 터치 스크린 패널(10)이 터치 입력을 정상적으로 감지하는지 여부와 감지한 터치 좌표가 정확한지에 대해 판단한다.
터치 유닛 이동장치(130), 스위치 유닛(140), 제어유닛(150) 등은 본체 케이스(160) 내부에 설치될 수 있다. 본체 케이스(160)의 일면에는 사용자에 의한 조작 신호 입력과 정보 입력을 위한 입력 유닛(165) 및 검사 결과를 출력하기 위한 출력 유닛(167)이 배치된다. 입력 유닛(165)은 입력 버튼, 터치 패널, 키보드, 마우스 등 각종 제어 신호나 데이터를 입력할 수 있는 다양한 입력 수단이 이용될 수 있고, 출력 유닛(167)은 각종 디스플레이나 지시계, 스피커 등 다양한 형태로 마련될 수 있다.
안착 패널(110)은 본체 케이스(160)의 상부에 배치된다. 안착 패널(110)의 중간에는 터치 스크린 패널(10)이 수용되는 안착홈(111)이 마련되고, 안착홈(111) 내에는 터치 스크린 패널(10)이 놓이는 평평한 안착면(112)과 터치 스크린 패널(10)의 단자부(18)와 전기적으로 접속하기 위한 커넥터(115)가 배치된다. 제어유닛(150)은 커넥터(115)를 통해 터치 스크린 패널(10)에 구동 전원을 제공하고 터치 스크린 패널(10)에서 발생하는 감지 신호를 제공받는다.
도 3에 도시된 것과 같이, 정전용량 방식의 터치 스크린 패널(10)은 투명기판(11)과 X축 좌표 및 Y축 좌표를 인식하기 위해 투명기판(11) 위에 배치되는 두 종류의 감지전극(12)(14)을 갖는다. 감지전극(12)(14)은 ITO와 같은 투명 전도성 물질로 이루어진다. X축 감지전극(12)은 X축 방향으로 배치된 복수의 감지셀(13)을 갖고, Y축 감지전극(14)은 Y축 방향으로 배치된 복수의 감지셀(15)를 갖는다. 그리고 각 감지전극(12)(14)에는 버스 전극(16)(17)이 연결되고, 복수의 버스 전극(16)(17)은 단자부(18)에 집속된다. 따라서 제어유닛(150)은 단자부(18)와 접속하는 커넥터(115)를 통해 각 감지전극(12)(14)에 구동 전원을 인가하고, 각 감지전극(12)(14)에서 발생하는 감지 신호를 제공받을 수 있다.
다시 도 1 및 도 2를 참조하면, 터치 유닛(120)은 일정한 간격으로 이격 배치된 복수의 터치 부재(121)와 복수의 터치 부재(121)를 지지하는 지지부재(122)를 포함한다. 복수의 터치 부재(121)는 터치 스크린 패널(10)의 터치 영역(19)에 접촉하여 터치 입력을 제공하기 위한 것으로, 전도성 소재로 이루어진다. 터치 부재(121)의 끝단은 둥근 형상으로 이루어지는데, 터치 부재(121)의 끝단을 둥글게 하면, 터치 부재(121)가 터치 스크린 패널(10)에 접할 때 충격을 줄일 수 있고, 터치 부재(121)가 터치 영역(19)의 설정된 위치에 정확하게 터치 되는데 유리하다.
복수의 터치 부재(121)는 각각의 끝단 높이가 동일하게 지지부재(122)에 고정된다. 따라서 지지부재(122)가 안착 패널(110) 위에 놓인 터치 스크린 패널(10) 쪽으로 하강하면, 복수의 터치 부재(121)는 동시에 터치 스크린 패널(10)의 터치 영역(19)에 접촉한다. 복수의 터치 부재(121)는 터치 스크린 패널(10)의 설정된 복수의 검사 영역에 각각 대응하도록 배치된다. 즉, 터치 스크린 패널(10)의 터치 영역(19)은 복수의 검사 영역으로 구획되고, 복수의 터치 부재(121)는 각각의 검사 영역에 일대일로 접촉한다.
터치 스크린 패널(10)이 감지한 터치 좌표가 정확한지 판단하기 위해서는 터치 스크린 패널(10)의 감지전극(12)(14)이 배치된 터치 영역(19)을 복수의 검사 영역으로 구획하고, 각각의 검사 영역에 대한 검사 좌표와 터치 스크린 패널(10)이 감지한 터치 좌표를 비교해야 한다. 각 검사 영역에 대한 터치 좌표를 얻기 위해서는 터치 부재(121)가 각각의 검사 영역에 터치 입력을 제공할 수 있어야 하므로, 터치 부재(121)의 개수나 배치 간격 등은 터치 스크린 패널(10) 검사 영역의 개수나 배치 간격에 따라 결정된다.
터치 유닛(120)은 안착 패널(110) 위에 배치되어 터치 유닛 이동장치(130)에 의해 움직인다. 터치 유닛 이동장치(130)는 터치 유닛(120)의 지지부재(122)에 결합되는 작동 로드(131)를 구비하며, 작동 로드(131)를 진퇴시킴으로써 터치 유닛(120)을 상하 방향으로 이동시킬 수 있다. 터치 유닛 이동장치(130)는 터치 스크린 패널(10)이 로딩되거나 언로딩될 때 터치 유닛(120)을 상승시켰다가, 터치 스크린 패널(10)이 안착 패널(110)에 로딩되면 터치 유닛(120)을 하강시켜 복수의 터치 부재(121)를 터치 스크린 패널(10)의 터치 영역(19)에 접촉시킨다. 터치 유닛 이동장치(130)로는 유압 실린더, 공압 실린더, 리니어 모터 등 터치 유닛(120)을 상하 이동시킬 수 있는 다양한 장치가 이용될 수 있다.
도 2에 도시된 것과 같이, 스위치 유닛(140)은 복수의 터치 부재(121)와 접지부(145) 사이의 전기적 연결을 단속하기 위한 것으로 복수의 터치 부재(121)와 접지부(145) 사이에 배치되는 복수의 스위칭 소자(141)를 포함한다. 스위칭 소자(141)로는 릴레이 등 다양한 소자가 이용될 수 있다. 복수의 스위칭 소자(141)는 전선이나 연성회로기판 등 전기적 연결수단을 통해 복수의 터치 부재(121)와 전기적으로 연결된다. 스위칭 소자(141)가 온(on) 상태가 되면 해당 스위칭 소자(141)와 연결된 터치 부재(121)가 접지부(145)와 전기적으로 연결되고, 스위칭 소자(141)가 오프(off) 되면 해당 스위칭 소자(141)와 연결된 터치 부재(121)와 접지부(145) 사이의 전기적 연결이 끊긴다.
따라서 터치 부재(121)가 터치 스크린 패널(10)의 터치 영역(19)에 접촉한 상태에서 해당 터치 부재(121)에 대응하는 스위칭 소자(141)가 온 상태가 되면, 해당 터치 부재(121)가 활성화되어 터치 부재(121)가 접촉한 부분에 터치 입력이 제공된다. 반면, 터치 부재(121)가 터치 영역(19)에 접촉하더라도 해당 터치 부재(121)에 대응하는 스위칭 소자(141)가 오프 상태가 되면, 해당 터치 부재(121)는 비활성화 상태가 되어 터치 영역(19)에 터치 입력이 제공되지 않는다. 여기에서, 활성화는 터치 스크린 패널(10)의 표면에 흐르는 전류가 터치 부재(121)를 통해 흐를 수 있는 상태를 의미하고, 비활성화는 터치 스크린 패널(10)의 표면에 흐르는 전류가 터치 부재(121)를 통해 흐를 수 없는 상태를 의미한다.
제어유닛(150)은 출력 유닛(167), 터치 유닛 이동장치(130), 스위치 유닛(140)의 동작을 제어하고, 터치 스크린 패널(10)에서 발생하는 감지 신호를 수신하여 터치 스크린 패널(10)의 불량 여부를 판단한다. 제어유닛(150)은 터치 스크린 패널(10)의 각 검사 영역에 대한 검사 좌표를 저장하고 있으며, 터치 스크린 패널(10)로부터 터치 입력에 대한 검사 신호를 제공받아 터치 지점의 좌표를 해석하고, 해석한 터치 좌표와 검사 좌표를 비교함으로써 터치 스크린 패널(10)이 터치 동작을 정상적으로 감지하는지 여부와 감지한 터치 좌표가 정확한지에 대해 판단한다.
또한 제어유닛(150)은 설정된 프로그램 또는 사용자가 선택한 검사 모드에 따라 터치 스크린 패널(10)의 검사 영역을 선택하고, 스위치 유닛(140)에 제어 신호를 제공하여 선택된 검사 영역에 접촉한 터치 부재(121)가 활성화되도록 한다. 제어 신호를 제공받은 스위치 유닛(140)은 선택된 검사 영역에 접촉한 터치 부재(121)를 접지시키며, 이에 의해 선택된 검사 영역에 터치 입력이 제공된다. 이러한 제어유닛(150) 및 스위치 유닛(140)에 의한 전기적인 스위치 제어를 통해 터치 스크린 패널(10)에는 한 번 터치 입력뿐만 아니라, 연속 두 번 터치 입력, 드래그 입력 등 터치 스크린 패널(10)을 통한 모든 패턴의 입력이 제공될 수 있다.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 일실시예에 의한 터치 스크린 패널의 검사장치를 이용하여 터치 스크린 패널을 검사하는 방법에 대해 설명한다.
먼저, 검사 대상 터치 스크린 패널(10)을 안착 패널(110)의 안착홈(111)에 위치시킨다. 이때 터치 스크린 패널(10)의 단자부(18)는 커넥터(115)에 접속된다. 이후, 입력 유닛(165)을 통해 시작 명령을 내리면, 터치 유닛 이동장치(130)가 작동하여 터치 유닛(120)이 안착홈(111)에 위치한 터치 스크린 패널(10) 쪽으로 하강한다. 터치 유닛(120)이 하강하면, 도 4에 도시된 것과 같이, 복수의 터치 부재(121)가 터치 스크린 패널(10)의 터치 영역(19)에 접촉한다.
이후, 제어유닛(150)은 커넥터(115)를 통해 터치 스크린 패널(10)에 구동 전원을 인가한다. 복수의 터치 부재(121)가 터치 스크린 패널(10)에 접촉한 상태에서 터치 스크린 패널(10)에 구동 전원이 인가되더라도 터치 스크린 패널(10)에서는 감지 신호가 발생하지 않는데, 이것은 초기에 스위치 유닛(140)이 복수의 터치 부재(121)와 접지부(145) 사이의 연결을 차단하고 있기 때문이다. 터치 부재(121)에 의한 터치 입력은 제어유닛(150)이 스위치 유닛(140)에 제어 신호를 제공하여 터치 스크린 패널(10)에 접촉한 터치 부재(121)를 활성화시킬 때만 제공될 수 있다.
제어유닛(150)은 설정된 프로그램이나 사용자에 의해 선택된 검사 모드에 따라 스위치 유닛(140)에 제어 신호를 제공하여 터치 스크린 패널(10)에 접촉한 터치 부재(121)를 활성화시키고, 터치 스크린 패널(10)에서 발생하는 감지 신호를 수신하여 이를 분석한다. 이러한 스위치 유닛(140) 및 제어유닛(150)에 의한 터치 입력 및 감지 신호 분석 과정은 다음과 같다.
제어유닛(150)은 복수의 터치 부재(121)가 접촉한 터치 스크린 패널(10)의 복수의 감지 영역 중에서 하나의 감지 영역을 선택하고, 선택된 감지 영역에 접촉한 터치 부재(121)가 활성화될 수 있도록 스위치 유닛(140)에 제어 신호를 제공한다. 제어 신호를 제공받은 스위치 유닛(140)은 선택된 터치 부재(121)를 접지부(145)에 연결한다. 이때 터치 스크린 패널(10)의 표면에 흐르던 전류가 접지된 터치 부재(121)로 흐르게 되어 터치 스크린 패널(10) 표면의 전류 흐름에 변화가 발생함으로써 터치 스크린 패널(10)에 터치 입력이 제공된다. 그리고 터치 스크린 패널(10)에서 발생하는 감지 신호는 커넥터(115)를 통해 제어유닛(150)에 제공된다.
제어유닛(150)은 터치 스크린 패널(10)에서 감지 신호가 발생하는지 여부를 체크하고, 감지 신호가 발생한 경우 감지 신호로부터 터치 지점의 좌표를 해석하고, 해석한 터치 좌표와 저장되어 있는 검사 좌표를 비교한다. 이때 터치 좌표가 검사 좌표로부터 허용치 내의 범위에 있으면 제어유닛(150)은 해당 검사 영역에서의 감지 동작이 정상이라고 판단한다. 반면, 터치 좌표가 검사 좌표로부터 허용치를 벗어난 범위에 있으면 제어유닛(150)은 해당 검사 영역에서의 감지 동작이 비정상이라고 판단한다. 제어유닛(150)은 이러한 판단 결과를 출력 유닛(167)을 통해 출력하고, 사용자는 출력 유닛(167)에 표시되는 검사 결과를 보고 터치 스크린 패널(10)의 정상 여부를 확인할 수 있다.
이러한 터치 스크린 패널(10)의 검사 영역에 대한 정상 여부 판단은 모든 검사 영역에 대해 이루어질 수 있다. 즉, 제어유닛(150)은 하나의 검사 영역에 대한 검사가 끝나면, 다음 검사 영역에 대해 터치 입력을 제공하고 그로부터 발생하는 검사 신호를 분석하는 과정을 연속하여 수행할 수 있다.
한편, 터치 스크린 패널(10)의 드래그 입력에 대한 정상 감지 여부를 검사하는 경우, 제어유닛(150)은 복수의 검사 영역 중에서 일부 일렬로 배치된 복수의 검사 영역을 선택하고, 스위치 유닛(140)을 제어하여 각 검사 영역에 대응하는 복수의 터치 부재(121)를 연속적으로 접지시킨다. 이때, 복수의 터치 부재(121)가 접촉한 부분이 차례로 활성화되면서 터치 스크린 패널(10)에 드래그 입력이 제공된다. 이후, 제어유닛(150)은 터치 스크린 패널(10)의 감지 신호로부터 해석한 터치 좌표들과 설정된 드래그 입력에 대한 검사 좌표들을 비교함으로써 터치 스크린 패널(10)의 정상 여부를 판단한다.
상술한 것과 같이, 본 발명에 의한 터치 스크린 패널의 검사장치는 복수의 터치 부재(121)를 전기적인 스위칭 제어를 통해 선택적으로 접지시킴으로써, 터치 스크린 패널에 충격을 가하지 않고 선택된 검사 영역에 신속하고 정확한 터치 입력을 제공할 수 있다.
앞에서 설명되고 도면에 도시된 본 발명의 실시예는 본 발명의 기술적 사상을 한정하는 것으로 해석되어서는 안 된다. 본 발명의 보호범위는 특허청구범위에 기재된 사항에 의해서만 제한되고, 본 발명의 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자는 본 발명의 기술적 사상을 다양한 형태로 개량 및 변경하는 것이 가능하다. 따라서, 이러한 개량 및 변경은 해당 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 자명한 것인 한 본 발명의 보호범위에 속하게 될 것이다.
100 : 터치 스크린 패널의 검사장치 110 : 안착 패널
111 : 안착홈 112 : 안착면
115 : 커넥터 120 : 터치 유닛
121 : 터치부재 122 : 지지부재
130 : 터치 유닛 이동장치 131 : 작동 로드
140 : 스위치 유닛 141 : 스위칭 소자
145 : 접지부 150 : 제어유닛
160 : 본체 케이스 165 : 입력 유닛
167 : 출력 유닛

Claims (7)

  1. 터치 스크린 패널이 놓이는 안착면이 마련된 안착 패널;
    상기 터치 스크린 패널의 단자부와 전기적으로 접속하기 위한 커넥터;
    상기 터치 스크린 패널의 복수의 검사 영역에 접촉하여 상기 각 검사 영역에 터치 입력을 제공하기 위한 복수의 터치 부재를 구비하는 터치 유닛;
    상기 복수의 터치 부재를 접지시키기 위한 접지부와 상기 복수의 터치 부재 사이의 전기적 연결을 단속하기 위한 스위치 유닛; 및
    상기 스위치 유닛에 제어 신호를 제공하여 상기 복수의 터치 부재를 선택적으로 접지시키고, 상기 커넥터를 통해 상기 터치 스크린 패널에서 발생하는 감지 신호를 제공받아 이를 분석하는 제어유닛;을 포함하고,
    상기 제어유닛은 상기 스위치 유닛에 제어 신호를 제공하여 상기 복수의 터치 부재 중 선택된 검사 영역에 대응하는 터치 부재를 접지시킨 후, 상기 터치 스크린 패널에서 발생하는 감지 신호로부터 터치 지점의 좌표를 해석하고, 해석한 터치 좌표와 상기 선택된 검사 영역의 검사 좌표를 비교하는 것을 특징으로 하는 터치 스크린 패널의 검사장치.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 터치 유닛을 상기 안착면 위에서 상하 이동시키기 위한 터치 유닛 이동장치를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 터치 스크린 패널의 검사장치.
  3. 제 1 항에 있어서,
    상기 터치부재는 상기 터치 스크린 패널에 접촉하는 끝단이 둥근 것을 특징으로 하는 터치 스크린 패널의 검사장치.
  4. 제 1 항에 있어서,
    상기 안착 패널에는 상기 터치 스크린 패널을 수용하기 위한 안착홈이 마련되고, 상기 안착면 및 상기 커넥터는 상기 안착홈 내에 위치하는 것을 특징으로 하는 터치 스크린 패널의 검사장치.
  5. (a) 터치 스크린 패널의 터치 영역을 복수의 검사 영역으로 구획하고 상기 각각의 검사 영역에 대한 검사 좌표를 설정하는 단계;
    (b) 복수의 터치 부재를 상기 복수의 검사 영역에 각각 접촉시키는 단계;
    (c) 상기 터치 스크린 패널에 구동 전원을 제공하는 단계;
    (d) 상기 복수의 터치 부재 중 선택된 검사 영역에 대응하는 터치 부재를 활성화시키는 단계;
    (e) 상기 터치 스크린 패널에서 발생하는 감지 신호로부터 터치 지점의 좌표를 해석하는 단계; 및
    (f) 상기 선택된 검사 영역의 검사 좌표와 상기 해석된 터치 좌표를 비교하는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 터치 스크린 패널의 검사방법.
  6. 제 5 항에 있어서,
    상기 (d) 단계에서, 상기 복수의 터치 부재를 접지시키기 위한 접지부와 상기 선택된 검사 영역에 대응하는 터치 부재 사이를 전기적으로 연결하는 것으로 상기 선택된 검사 영역에 대응하는 터치 부재를 활성화시키는 것을 특징으로 하는 터치 스크린 패널의 검사방법.
  7. 제 6 항에 있어서,
    상기 (d) 단계에서, 상기 접지부와 상기 선택된 검사 영역에 대응하는 터치 부재 사이의 전기적인 연결은 이들 사이에 배치되는 스위칭 소자의 동작제어를 통해 이루어지는 것을 특징으로 하는 터치 스크린 패널의 검사방법.
KR1020110075047A 2011-07-28 2011-07-28 터치 스크린 패널의 검사장치 및 검사방법 KR101065014B1 (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020110075047A KR101065014B1 (ko) 2011-07-28 2011-07-28 터치 스크린 패널의 검사장치 및 검사방법

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020110075047A KR101065014B1 (ko) 2011-07-28 2011-07-28 터치 스크린 패널의 검사장치 및 검사방법

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR101065014B1 true KR101065014B1 (ko) 2011-09-15

Family

ID=44957411

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020110075047A KR101065014B1 (ko) 2011-07-28 2011-07-28 터치 스크린 패널의 검사장치 및 검사방법

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR101065014B1 (ko)

Cited By (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101238175B1 (ko) 2012-01-10 2013-02-28 엘지이노텍 주식회사 터치 스크린 패널 검사 스테이지
KR101240280B1 (ko) 2012-11-19 2013-03-11 (주)엠아이케이 이십일 터치 패널 검사 장치 및 검사 방법
WO2013115991A1 (en) * 2012-01-31 2013-08-08 Microsoft Corporation Latency measurement
KR101316567B1 (ko) 2012-02-09 2013-10-15 (주)멜파스 터치 스크린 검사 장치 및 방법
US8725443B2 (en) 2011-01-24 2014-05-13 Microsoft Corporation Latency measurement
US8773377B2 (en) 2011-03-04 2014-07-08 Microsoft Corporation Multi-pass touch contact tracking
US8913019B2 (en) 2011-07-14 2014-12-16 Microsoft Corporation Multi-finger detection and component resolution
US8982061B2 (en) 2011-02-12 2015-03-17 Microsoft Technology Licensing, Llc Angular contact geometry
US8988087B2 (en) 2011-01-24 2015-03-24 Microsoft Technology Licensing, Llc Touchscreen testing
US9317147B2 (en) 2012-10-24 2016-04-19 Microsoft Technology Licensing, Llc. Input testing tool
US9378389B2 (en) 2011-09-09 2016-06-28 Microsoft Technology Licensing, Llc Shared item account selection
US9542092B2 (en) 2011-02-12 2017-01-10 Microsoft Technology Licensing, Llc Prediction-based touch contact tracking
KR101741099B1 (ko) * 2015-10-23 2017-05-30 주식회사 베이스원 코퍼레이션 터치 스크린 컨트롤러 검사기
US9785281B2 (en) 2011-11-09 2017-10-10 Microsoft Technology Licensing, Llc. Acoustic touch sensitive testing
CN113552440A (zh) * 2020-04-01 2021-10-26 深圳市研测科技有限公司 一种平板电脑触摸屏测试系统
CN116183980A (zh) * 2023-03-29 2023-05-30 安徽省华兴达光电有限公司 一种电容式触摸屏检测自动夹持插线装置

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100939220B1 (ko) 2008-05-16 2010-02-10 태창엔지니어링 주식회사 가변성을 갖는 터치패널의 터치기능 검사방법 및 검사장치
KR101005624B1 (ko) 2009-02-20 2011-01-05 마이크로 인스펙션 주식회사 터치패널의 검사장치
KR101013514B1 (ko) 2010-06-24 2011-02-10 (주) 마스타 정전식 터치 패널 검사 장치 및 이를 이용한 검사 방법

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100939220B1 (ko) 2008-05-16 2010-02-10 태창엔지니어링 주식회사 가변성을 갖는 터치패널의 터치기능 검사방법 및 검사장치
KR101005624B1 (ko) 2009-02-20 2011-01-05 마이크로 인스펙션 주식회사 터치패널의 검사장치
KR101013514B1 (ko) 2010-06-24 2011-02-10 (주) 마스타 정전식 터치 패널 검사 장치 및 이를 이용한 검사 방법

Cited By (23)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9965094B2 (en) 2011-01-24 2018-05-08 Microsoft Technology Licensing, Llc Contact geometry tests
US9710105B2 (en) 2011-01-24 2017-07-18 Microsoft Technology Licensing, Llc. Touchscreen testing
US8725443B2 (en) 2011-01-24 2014-05-13 Microsoft Corporation Latency measurement
US9395845B2 (en) 2011-01-24 2016-07-19 Microsoft Technology Licensing, Llc Probabilistic latency modeling
US9030437B2 (en) 2011-01-24 2015-05-12 Microsoft Technology Licensing, Llc Probabilistic latency modeling
US8988087B2 (en) 2011-01-24 2015-03-24 Microsoft Technology Licensing, Llc Touchscreen testing
US8982061B2 (en) 2011-02-12 2015-03-17 Microsoft Technology Licensing, Llc Angular contact geometry
US9542092B2 (en) 2011-02-12 2017-01-10 Microsoft Technology Licensing, Llc Prediction-based touch contact tracking
US8773377B2 (en) 2011-03-04 2014-07-08 Microsoft Corporation Multi-pass touch contact tracking
US8913019B2 (en) 2011-07-14 2014-12-16 Microsoft Corporation Multi-finger detection and component resolution
US9935963B2 (en) 2011-09-09 2018-04-03 Microsoft Technology Licensing, Llc Shared item account selection
US9378389B2 (en) 2011-09-09 2016-06-28 Microsoft Technology Licensing, Llc Shared item account selection
US9785281B2 (en) 2011-11-09 2017-10-10 Microsoft Technology Licensing, Llc. Acoustic touch sensitive testing
KR101238175B1 (ko) 2012-01-10 2013-02-28 엘지이노텍 주식회사 터치 스크린 패널 검사 스테이지
WO2013115991A1 (en) * 2012-01-31 2013-08-08 Microsoft Corporation Latency measurement
US8914254B2 (en) 2012-01-31 2014-12-16 Microsoft Corporation Latency measurement
KR101316567B1 (ko) 2012-02-09 2013-10-15 (주)멜파스 터치 스크린 검사 장치 및 방법
US9317147B2 (en) 2012-10-24 2016-04-19 Microsoft Technology Licensing, Llc. Input testing tool
KR101240280B1 (ko) 2012-11-19 2013-03-11 (주)엠아이케이 이십일 터치 패널 검사 장치 및 검사 방법
KR101741099B1 (ko) * 2015-10-23 2017-05-30 주식회사 베이스원 코퍼레이션 터치 스크린 컨트롤러 검사기
CN113552440A (zh) * 2020-04-01 2021-10-26 深圳市研测科技有限公司 一种平板电脑触摸屏测试系统
CN116183980A (zh) * 2023-03-29 2023-05-30 安徽省华兴达光电有限公司 一种电容式触摸屏检测自动夹持插线装置
CN116183980B (zh) * 2023-03-29 2023-09-01 安徽省华兴达光电有限公司 一种电容式触摸屏检测自动夹持插线装置

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR101065014B1 (ko) 터치 스크린 패널의 검사장치 및 검사방법
US9122361B2 (en) Touch panel testing using mutual capacitor measurements
US8278571B2 (en) Capacitive touchscreen or touchpad for finger and active stylus
EP2284669B1 (en) Touch panel and output method therefor
US9213057B2 (en) Testing system and testing method for touch device
KR20110083196A (ko) 터치패널의 검사장치
JP5038877B2 (ja) 適応可能な非接触式タッチパッド検査テスト方法
US9204584B2 (en) Testing system for testing a portable electronic device
KR20070109533A (ko) 터치 스크린 패널의 검사 장치 및 검사 방법
KR101386118B1 (ko) 터치 스크린 패널의 검사방법 및 검사장치
JP6221138B2 (ja) タッチパネル検査装置及び検査方法
KR101111237B1 (ko) 터치패널 검사장치
CN104156128A (zh) 一种触摸显示面板及其驱动方法、触摸显示装置
CN110618762A (zh) 用于接近感测设备的导电引导件
JP2011076341A (ja) タッチパネル測定治具および測定方法
KR20110098331A (ko) 터치 센서 검사 장치
KR102469505B1 (ko) 접속 검사 장치
CN106462273B (zh) 具有监视功能的触摸屏显示器
KR101496252B1 (ko) 터치 스크린 패널의 기능 검사 장치
JP2014026582A (ja) 接触検出処理プログラム、接触検出処理方法、及びタッチパネル装置
KR20180069365A (ko) 터치 스크린과 그에 따른 검사 기기의 테스트 방법
JP6221145B2 (ja) タッチパネル検査装置
KR101966895B1 (ko) 터치 센서 검사 장치 및 방법
KR20140127531A (ko) 정전식 터치 모듈 검사 장치 및 검사 방법
KR102112674B1 (ko) 터치 스크린 일체형 표시패널의 검사장치 및 검사방법

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
A302 Request for accelerated examination
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
LAPS Lapse due to unpaid annual fee