KR101013514B1 - 정전식 터치 패널 검사 장치 및 이를 이용한 검사 방법 - Google Patents

정전식 터치 패널 검사 장치 및 이를 이용한 검사 방법 Download PDF

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Abstract

본 발명은 정전식 터치 패널의 출력부와 접촉하여 정전식 터치 패널의 전하량을 측정하는 전하 측정부, 정전식 터치 패널의 센싱 영역과 접촉하는 복수 개의 전극을 구비하는 터치 패드 및 터치 패드의 복수 개의 전극을 전기적으로 온/오프하는 것을 제어하고, 전하 측정부의 측정값을 전송받는 메인 제어부를 포함하는 것을 특징으로 하는 정전식 터치 패널 검사 장치를 제공한다.제어
또한 본 발명은, 터치 패드의 모든 전극의 전기적 연결을 해제하고 정전식 터치 패널 자체의 고유 전하 용량을 측정하는 제1 단계, 복수 개의 전극 중 선택된 전극에 전류 또는 전하를 인가하는 제2 단계, 선택된 전극에 전류 또는 전하가 인가된 상태에서 정전식 터치 패널의 전하 용량을 측정하는 제3 단계 및 제3 단계의 센싱된 전하 용량과 제1 단계의 고유 전하 용량과 비교하여 검사 결과를 도출하는 제4 단계를 포함하며, 복수 개의 전극 중 선택되는 전극을 달리하여 제2 단계 내지 제4 단계를 반복하는 것을 특징으로 하는 정전식 터치 패널 검사 장치를 이용한 검사 방법을 제공한다.

Description

정전식 터치 패널 검사 장치 및 이를 이용한 검사 방법{TEST APPARATUS FOR CAPACITIVE TOUCH PANEL AND TEST METHOD USING THE SAME}
본 발명은 정전식 터치 패널 검사 장치 및 이를 이용한 검사 방법에 관한 것이다.
일반적으로 액정 표시장치는 두께가 얇고 무게가 가벼우며 전력소모가 낮은 장점이 있어, 모니터, 노트북, 휴대폰 등에 주로 사용된다. 이러한 액정 표시장치는 액정의 광투과율을 이용하여 영상을 표시하는 액정 표시패널 및 상기 액정 표시패널의 하부에 배치되어 상기 액정 표시패널로 광을 제공하는 백라이트 어셈블리를 포함한다.
액정 표시패널은 신호선, 박막 트랜지스터 및 화소전극을 갖는 어레이 기판, 어레이 기판과 대향하며 공통전극을 갖는 대향기판, 및 어레이 기판과 대향기판 사이에 개재된 액정층을 포함한다. 한편, 상기 액정 표시패널은 외부의 압력을 통해 위치 데이터를 인가받을 수 있는 터치패널 기능을 가질 수 있다. 즉, 전자펜이나 사람의 손을 상기 액정 표시패널의 화면에 압력 등을 가함으로써, 위치 데이터 신호를 메인 시스템의 중앙처리장치에 인가할 수 있다.
상기 액정 표시패널은 상기 터치패널 기능을 수행하기 위해 상기 신호선과 별도로 센서배선이 더 포함한다. 즉, 상기 센서배선은 상기 어레이 기판에 형성되어, 외부의 압력에 의해 상기 어레이 기판과 상기 대향기판의 접촉시 발생되는 위치 데이터를 상기 중앙처리장치로 전송한다.
그러나, 어레이 기판과 대향기판은 외부의 압력이 없을 경우에는 서로 쇼팅(shorting)되어 있지 않아야 하는데, 제조상의 문제로 인해 어레이 기판과 대향기판이 일부 영역에서 서로 쇼팅될 수 있다. 이와 같이, 액정 표시장치는 어레이 기판과 대향기판이 서로 쇼팅되어 있을 경우, 터치패널의 기능을 제대로 수행하기 어려울 뿐만 아니라 영상의 표시품질도 저하될 수 있다. 따라서, 어레이 기판 및 대향기판이 서로 쇼팅되어 있는지 여부를 검사하기 위한 방법이 필요하다.
그러나, 종래에는 상기 어레이 기판 및 상기 대향기판의 쇼팅여부를 검사하기 위해, 상기 어레이 기판에 복수의 트랜지스터들을 포함하는 복잡한 검사회로를 형성하였다. 이러한 검사회로가 상기 어레이 기판에 형성될 경우, 게이트 구동회로 등의 구동회로가 형성될 공간이 부족해질 수 있고, 그 결과 표시영역이 감소되는 문제점이 발생된다.
한편 한국 공개특허 2008-0066308에 개시되어 있는 표시패널 검사 방법은 테스트 전압이 센서 패드부를 통해 센서 배선부로 인가되면, 어레이 기판과 대향 기판 사이에 외부의 압력이 없을 경우 쇼팅 불량을 검출할 수 있고, 한국 공개 특허 2009-0039412에 개시되어 있는 터치 패널의 특성 검사 시스템은 터치 패널의 전극 신호선과 연결되어 전압 및 저항 검사를 수행하는 마이컴 보드를 포함하며, 마이컴 보드와 터치 패널이 연결되고, 마이컴 보드에 전압이 인가되면, 마이컴 보드에서 그 값을 측정하여 전송된 전압 및 저항값이 정상 범위에 있는지를 판단한다. 이들 검사 장치 및 방법은 터치 패널이 별도의 검사 기기에 연결되어 검사되는 것이 아니라 터치 패널의 센서에 직접 전기적 연결을 하여 검사를 한 후, 배선을 분리하는 것으로 터치 패널을 계속 검사하기 위해 터치 패널과 검사 장치의 배선을 계속 연결하고 분리하는 것을 반복하여야 하는 번거로움이 있었다. 또한 종래의 터치패널 검사 시스템은 터치패널에 물리적인 가압을 하거나, 전도체와 접촉시켜 터치 패널의 전하를 변화시켜 구동하는 방법으로 터치 패널 내에서의 검사 포인트가 한정되어 있었다.
본 발명은 터치 패널의 기준 전하량 변화 값 내에서 대전될 수 있는 전극을 고정시키고, 전하의 변화가 없도록 오프된 상태에서 패널의 기준 값을 감지한 후, 각 위치의 전극을 구동하여 패널의 기준 값과 구동 후의 전하량의 값의 차이를 비교하여 패널의 하드웨어적 불량, 오작동 여부 및 터치 감도를 검사할 수 있는 검사 장치를 제공하는 것을 목적으로 한다.
본 발명은 정전식 터치 패널의 출력부와 접촉하여 정전식 터치 패널의 전하량을 측정하는 전하 측정부, 정전식 터치 패널의 센싱 영역과 접촉하는 복수 개의 전극을 구비하는 터치 패드 및 터치 패드의 복수 개의 전극을 전기적으로 온/오프하는 것을 제어하고, 전하 측정부의 측정값을 전송받는 메인 제어부를 포함하는 것을 특징으로 하는 정전식 터치 패널 검사 장치를 제공한다.
또한 본 발명의 다른 일 예로, 전하 측정부, 터치 패드 및 메인 제어부를 수용하며 장치의 외관을 형성하는 본체 케이싱을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 정전식 터치 패널 검사 장치를 제공한다.
또한 본 발명의 다른 일 예로, 본체 케이싱의 상부에 힌지 연결되며, 터치 패드 및 전하 측정부를 덮는 덮개를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 정전식 터치 패널 검사 장치를 제공한다.
또한 본 발명의 다른 일 예로, 본체 케이싱과 덮개는 스프링 힌지로 연결되어, 스프링 힌지의 복원력에 의해 개방 상태를 유지하는 것을 특징으로 하는 정전식 터치 패널 검사 장치를 제공한다.
또한 본 발명의 다른 일 예로, 덮개는 영구 자석을 구비하고, 본체 케이싱은 전자석을 구비하며, 전자석의 극성을 조절하여 덮개를 개폐하는 것을 특징으로 하는 정전식 터치 패널 검사 장치를 제공한다.
또한 본 발명의 다른 일 예로, 본체 케이싱은, 터치 패널이 터치 패드 상부에 얹혀지고, 터치 패널의 출력부가 전하 측정부에 놓이도록 안내하는 가이드를 구비하는 것을 특징으로 하는 정전식 터치 패널 검사 장치를 제공한다.
또한 본 발명의 다른 일 예로, 터치 패드의 크기는 검사되는 터치 패널의 크기보다 크거나 같은 것을 특징으로 하는 정전식 터치 패널 검사 장치를 제공한다.
또한 본 발명의 다른 일 예로, 메인 제어부는, 터치 패드의 복수 개의 전극 중 선택된 전극에 전하 또는 전류를 인가한 후 전하 측정부로 터치 패널의 전하량을 측정하는 것을 특징으로 하는 정전식 터치 패널 검사 장치를 제공한다.
또한 본 발명의 다른 일 예로, 메인 제어부는, USB 케이블과 연결되어 외부 장비로 검사 결과를 전송할 수 있고, 외부 장비를 통해 검사장치를 제어하고 모니터링할 수 있는 USB 커넥터를 구비하는 것을 특징으로 하는 정전식 터치 패널 검사 장치를 제공한다.
또한 본 발명은, 정전식 터치 패널의 전하량을 측정하는 전하 측정부, 정전식 터치 패널의 센싱 영역과 접촉하는 복수 개의 전극을 구비하는 터치 패드 및 터치 패드의 복수 개의 전극을 전기적으로 온/오프하는 것을 제어하고, 전하 측정부의 측정값을 전송받는 메인 제어부를 구비하는 정전식 터치 패널 검사 장치를 이용한 검사 방법에 있어서, 터치 패드의 모든 전극의 전기적 연결을 해제하고 정전식 터치 패널 자체의 고유 전하 용량을 측정하는 제1 단계, 복수 개의 전극 중 선택된 전극에 전류 또는 전하를 인가하는 제2 단계, 선택된 전극에 전류 또는 전하가 인가된 상태에서 정전식 터치 패널의 전하 용량을 측정하는 제3 단계 및 제3 단계의 센싱된 전하 용량과 제1 단계의 고유 전하 용량과 비교하여 검사 결과를 도출하는 제4 단계를 포함하며, 복수 개의 전극 중 선택되는 전극을 달리하여 제2 단계 내지 제4 단계를 반복하는 것을 특징으로 하는 정전식 터치 패널 검사 장치를 이용한 검사 방법을 제공한다.
또한 본 발명의 다른 일 예로, 검사 결과를 데이터 베이스에 저장하는 제5 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 정전식 터치 패널 검사 장치를 이용한 검사 방법을 제공한다.
또한 본 발명의 다른 일 예로, 제2 단계의 선택되는 전극들이 이루는 형태는, 사각형, 원형, 마름모꼴, 다각형 및 사용자가 입력한 고유의 형태 중 어느 하나인 것을 특징으로 하는 정전식 터치 패널 검사 장치를 이용한 검사 방법을 제공한다.
또한 본 발명의 다른 일 예로, 검사 결과를 USB 커넥터 및 케이블을 통해 외부 장치로 전송하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 정전식 터치 패널 검사 장치를 이용한 검사 방법을 제공한다.
또한 본 발명의 다른 일 예로, 제1 단계에서 측정한 정전식 터치 패널 자체의 고유 전하 용량과 기준 전하 용량을 비교 검사하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 정전식 터치 패널 검사 장치를 이용한 검사 방법을 제공한다.
본 발명이 제공하는 정전식 터치 패널 검사 장치 및 이를 이용한 검사 방법은 복수 개의 전극이 형성되며, 복수 개의 전극으로 전류 또는 전하를 선택적으로 인가할 수 있는 터치 패드 상에 정전식 터치 패널을 올려놓고, 제어부를 통해 전기적으로 제어함으로써, 정전식 터치 패널의 전 영역을 용이하게 검사할 수 있다.
또한 본 발명이 제공하는 정전식 터치 패널 검사 장치는 복수 개의 전극 중 전류 또는 전하가 인가되는 전극을 제어부를 통해 선택할 수 있어, 선택되는 전극들이 이루는 형태가 손가락과 같은 원형이나 사각형, 마름모꼴, 다각형 및 기타 사용자가 원하는 형태로 용이하게 변경할 수 있다.
또한 본 발명이 제공하는 정전식 터치 패널 검사 장치는 덮개와 본체 케이싱이 힌지 스프링에 의해 연결되고 영구 자석과 전자석으로 개폐를 조절할 수 있어, 버튼을 통해 원터치로 검사 장치를 개폐할 수 있어 검사를 위해 소요되는 시간을 단축할 수 있다.　
또한 본 발명이 제공하는 정전식 터치 패널 검사 장치는 본체 케이싱이 터치 패널을 검사 위치로 안내하는 가이드를 구비하여, 터치 패널의 검사를 위해 소요되는 시간을 단축할 수 있다.
또한 본 발명이 제공하는 정전식 터치 패널 검사 장치는 USB 커넥터를 구비하여, 정전식 터치 패널을 검사한 검사 결과를 PC 등의 외부 장치로 전송할 수 있다.
또한 기존의 터치 패널 검사 장치는 대형화된 설비였으나, 본 발명이 제공하는 정전식 터치 패널 검사 장치는 소형화가 가능하여, 이동성이 뛰어나 검사 장소를 다양화(챔버, 연구실 등)할 수 있고, 다양한 형태의 응용 검사가 가능하다.　
도 1 내지 도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 정전식 터치 패널 검사 장치의 사시도,
도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 정전식 터치 패널 검사 장치의 분해 사시도,
도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 정전식 터치 패널 검사 장치를 이용한 검사 방법을 도시한 플로우 차트,
도 6은 본 발명의 일 실시예에 따른 정전식 터치 패널 검사 장치의 전극에 전류 또는 전하가 선택적으로 인가된 형태의 예를 도시한 것.
이하 도면을 참조하여 본 발명의 일 실시예에 따른 정전식 터치 패널 검사 장치를 더욱 상세하게 설명하기로 한다.
도 1 내지 도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 정전식 터치 패널 검사 장치의 사시도이고, 도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 정전식 터치 패널 검사 장치의 분해 사시도이다.
본 발명의 일 실시예에 따른 정전식 터치 패널 검사 장치는, 본체 케이싱(18) 및 본체 케이싱(18)과 결합하는 덮개(4)를 포함하며, 본체 케이싱(18)에 정전식 터치 패널의 검사를 위해 정전식 터치 패널의 전하량을 측정하는 전하 측정부(14), 복수 개의 전극이 형성된 터치 패드(15), 정전식 터치 패널 검사 장치를 컨트롤하는 메인 제어부(5)를 포함한다.
또한 본체 케이싱(18)과 덮개(4)의 개폐를 용이하게 하기 위해, 본체 케이싱(18)과 덮개(4)를 회전 가능하게 연결하는 힌지가 스프링 힌지(3)로 구성되고, 본체 케이싱(18)과 덮개(4)에 각각 언더 래치(16)와 언더 래치(16)에 걸리는 후크(8)가 구비된다. 따라서 사용자가 정전식 터치 패널을 검사하기 위해 정전식 터치 패널 검사 장치의 덮개(4)를 열고자 하는 경우, 언더 래치(16)만 누르면, 스프링 힌지(3)의 복원력에 의해 덮개(4)가 열리게 된다. 또 다른 일 예로, 본체 케이싱(18)과 덮개(4)를 회전 가능하게 연결하는 힌지가 스프링 힌지(3)로 구성되고, 언더 래치(16)와 후크(8) 대신, 본체 케이싱(18)과 덮개(4)에 각각 전자석과 영구 자석이 구비되고, 전자석이 메인 제어부(5) 또는 덮개의 개폐를 위해 구비되는 별도의 제어부(미도시)와 연결되고, 메인 제어부(5) 또는 별도의 제어부(미도시)가 덮개 개방 버튼(미도시) 또는 전원 스위치(13)과 연결되어, 사용자가 덮개 개방 버튼(미도시)를 누르거나 전원 스위치(13)를 누르는 경우, 전자석이 영구 자석과 다른 극성을 띄도록 전류가 인가되어 덮개(4)가 자동으로 개방되도록 할 수도 있다. 반대로 덮개(4)를 닫고자 할 때는 전자석에 전류를 인가함이 없이도 덮개(4)가 일정 정도 닫혀지게 되면, 영구자석의 힘에 의해 덮개(4)가 완전하게 닫히는 상태로 된다. 나아가 터치 패널의 검사 중에는 영구 자석의 힘에 의해 덮개(4)가 닫힌 상태를 유지하고, 터치 패널의 검사가 완료되는 경우 전자석과 영구 자석 사이에 척력이 작용하도록 전자석에 전류를 인가하여 검사가 완료되면 자동으로 덮개(4)가 개방되도록 구성할 수도 있다. 이 경우 다음 터치 패널의 검사를 위해 사용자가 덮개(4)가 개방되도록 조작하는 시간을 단축할 수 있어 터치 패널을 계속 검사할 때 전체 검사 시간을 단축할 수 있다. 또한 본체(18)에는 덮개(4)가 닫히면 자동으로 버튼이 눌려지는 검사 시작 버튼(11)이 구비될 수 있다. 이 경우, 사용자는 본체(18) 상에 정전식 터치 패널을 올려놓고 덮개(4)를 닫음으로써 검사가 자동으로 시작되고, 검사가 완료되면 자동으로 덮개(4)가 개방되기 때문에, 검사를 위해서는 정전식 터치 패널을 본체(18) 상에 올려놓고 덮개(4)를 닫는 동작과 검사가 완료된 정전식 터치 패널을 본체(18)로부터 꺼내는 동작만을 반복하면 되므로 기구 조작 시간을 상당히 단축시킬 수 있다.
정전식 터치 패널의 검사를 위해, 본 발명에 따른 정전식 터치 패널 검사 장치는 복수 개의 전극이 형성된 터치 패드(15)와 터치 패드(15)에 형성된 전극에 선택적으로 전류 또는 전하를 인가하는 지그 컨트롤 PCB(17)와 정전식 터치 패널의 전하량을 측정하는 전하 측정부(14)를 포함한다. 또한 정전식 터치 패널 검사 장치 전체를 제어하는 메인 제어부(5)도 포함된다. 지그 컨트롤 PCB(17)는 메인 제어부(5)로부터 신호를 인가받아, 터치 패드(15)에 형성된 복수 개의 전극 중 선택된 전극에 전류 또는 전하를 인가한다. 또한 전하 측정부(14)는 메인 제어부(5)로부터 신호를 받아, 터치 패드(15)의 모든 전극에 전하 또는 전류가 인가되지 않은 상태나 선택된 전극에 전하 또는 전류가 인가되는 상태에서 정전식 터치 패널의 전하량을 측정한다. 또한 측정된 결과를 메인 제어부(5)로 전송한다. 본체(18)는 정전식 터치 패널이 검사를 위해 터치 패드(15) 상에 정확히 위치하고, 정전식 터치 패널의 출력부가 전하 측정부(14) 상에 정확히 놓이도록 안내하는 가이드(10)를 포함한다. 또한 검사 과정 동안 정전식 터치 패널과 터치 패드(15)의 전극이 안정적으로 접촉을 이루도록 정전식 터치 패널을 상부에서 가압할 수 있도록 덮개(4)에는 스폰지와 같은 탄성 가압 부재(7)가 구비된다.
그 외에도 검사의 편의를 돕기 위해, 메인 제어부(5)와 연결되는 여러 부품들이 더 구비될 수 있는데, 예를 들어 음성 또는 음향으로 검사 진행 과정을 알려줄 수 있는 마이크로 스피커(12), 라이트의 온/오프 또는 라이트의 색상으로 검사 진행 과정을 알려줄 수 있는 라이트(6)나 검사 결과를 PC 같은 외부 장치로 전송할 수 있는 USB 커넥터 등이 구비될 수 있다.
이하 도면을 참조하여 본 발명의 일 실시예에 따른 정전식 터치 패널 검사 장치를 이용한 검사 방법을 더욱 자세히 설명하기로 한다.
도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 정전식 터치 패널 검사 장치를 이용한 검사 방법을 도시한 플로우 차트이다.　
먼저 정전식 터치 패널을 본체(18)의 가이드(10)의 안내를 받아 터치 패드(15) 상에 위치시킨 다음 덮개(4)를 닫는다. 덮개(4)를 닫음으로써 검사 시작 버튼(11)이 눌려져 메인 제어부(5)로 신호가 전송된다. 메인 제어부(5)는 먼저 터치 패드(15)의 어떠한 전극에도 전류 또는 전하를 인가하지 않은 채로 정전식 터치 패널 자체의 고유 전하량을 측정한다(S1). 정전식 터치 패널 자체의 전하 용량에도 소정의 기준값이 존재할 수 있으며, 메인 제어부(5)에 이러한 기준값이 기입력되어 있거나, 메인 제어부(5)와 연결된 외부 장치로부터 검사를 위해 기준값을 입력받은 경우, 정전식 터치 패널 자체의 고유 전하량과 기준값을 비교한다(S11). 정전식 터치 패널 자체의 고유 전하량이 기준값과 일치하는 경우, 1차 검사를 통과한 것으로 표시하고(S12) 다음 검사로 진행하며, 고유 전하량이 기준값으로부터 벗어난 경우 1차 검사를 통과하지 못한 것으로 표시하고(S13) 검사를 종료한다. 물론, USB 케이블을 이용해 메인 제어부(5)와 연결된 외부 장치(예를 들어, PC)를 통해 1차 검사를 통과하지 못한 경우에도 2차 검사를 수행하도록 제어할 수 있으며, 이 때는 고유 전하량이 기준값으로부터 벗어난 경우 1차 검사를 통과하지 못한 것으로 표시하고(S13) 다음 검사로 진행하게 된다.　
다음 단계로 메인 제어부(5)는 지그 컨트롤 PCB(17)로 신호를 전송하여, 터치 패드(15)의 전극 중에 선택된 일부에 전하 또는 전류를 인가하고(S2), 전하 또는 전류가 인가된 상태에서 정전식 터치 패널의 센싱 전하량을 측정한다(S3). 센싱 전하량과 고유 전하량을 비교하거나, 센싱 전하량과 기준값을 비교한 결과에 따라 2차 검사를 통과한 것으로 표시하거나(S41), 2차 검사에 실패한 것으로 표시한다(S42).
2차 검사에 통과한 경우, 터치 패드(15)의 전극의 선택을 달리하여 전하 또는 전류를 인가하고(S2), 전하 또는 전류가 인가된 상태에서 정전식 터치 패널의 센싱 전하량을 측정하는 단계(S3)를 반복한다.
2차 검사에 실패한 경우에는 2차 검사에 실패한 것으로 표시하고(S42), 1차 검사 결과 및 2차 검사 결과를 데이터베이스에 저장한 다음(S5), 검사를 종료한다. 다만, 2차 검사에 실패한 경우에도, 단계(S2, S3)이 수행되도록 하여, 검사 대상인 터치 패널의 전극의 선택을 달리하여 다양한 위치에 대한 2차 검사를 반복적으로 수행할 수 있다. 이러한 2차 검사 실패 이후의 2차 검사의 반복 수행에 의해, 검사 대상인 터치 패널의 하드웨어적 불량, 오작동, 터치 감도 불량 등의 경향을 파악할 수 있게 된다. 이러한 터치 패널의 불량 경향을 분석하여, 터치 패널의 생산 또는 제조 공정 상의 문제점을 확인할 수도 있다. 또한, 2차 검사 실패 이후의 2차 검사의 반복 수행은 사용자의 검사 설정에 따라 또는 자동적으로 이루어질 수 있다.
2차 검사에서 복수 개의 전극 중 전하 또는 전류가 인가되도록 선택된 전극들이 이루는 형태는 사각형, 원형, 마름모꼴, 다각형 및 사용자가 설정한 형태 중 어느 한 형태로 이루어질 수 있고, 전하 또는 전류가 인가되도록 선택된 전극들의 위치도, 정전식 터치 패널의 전 영역(전 좌표)에서 이루어질 수 있도록 2차 검사는 수 차례 반복될 수 있다. 도 6은 본 발명의 일 실시예에 따른 정전식 터치 패널 검사 장치의 전극에 전류 또는 전하가 선택적으로 인가된 형태의 예를 도시한 것이다. 메인 제어부(5)에는 정전식 터치 패널의 검사를 반복하는 횟수와, 정전식 터치 패널 센싱을 위해 전하 또는 전류가 인가되는 전극들의 형태가 기 입력되어 있을 수도 있고, 검사 전에 외부 장치(PC)와 연결을 통해 사용자가 설정할 수 있다. (a)는 사각형으로, (a)와 같은 형태로 전극에 전류 또는 전하를 인가하여 터치 패널을 검사하는 경우 터치 패널 센서의 영역별 특성을 재현할 수 있고, (b)와 같이 원형으로 전극에 전류 또는 전하를 인가하여 터치 패널을 검사하는 경우 손가락의 동작 유형을 재현할 수 있다. (c)와 같이 마름모꼴로 전류 또는 전하를 전극에 인가하여 검사를 할 경우 센서의 1:1 면적 특성을 재현할 수 있고, (d)와 같이 다각형으로 전류 또는 전하를 전극에 인가하여 검사를 할 경우 터치 패널의 동작 한계나 가능 유형을 재현할 수 있다. 이와 같이 전류 또는 전하가 인가되는 전극의 형태에 따라 다양한 서로 다른 특성을 조사할 수 있으므로, 메인 제어부(5)는 검사하고자 하는 특성에 따라 전류 또는 전하가 인가되는 전극의 형태를 선택할 수 있다. 또한 단순히 정전식 터치 패널의 센싱 전하량을 측정하여 비교하는 것 외에도, 메인 제어부(5)에 정전식 터치 패널의 민감도나 동작 좌표의 정확도를 측정하도록 프로그램을 입력할 수도 있다. 메인 제어부(5)는 기 입력되거나 기 설정된 검사를 완료하여 정전식 터치 패널 검사를 종료하는 경우나, 1차 검사나 2차 검사에서 검사가 실패하여 정전식 터치 패널 검사를 종료하는 경우, 검사 결과를 DB에 저장할 수 있다(S5). DB는 메인 제어부(5) 내에 구비될 수도 있고, USB 커넥터를 통해 외부 장치에 마련될 수도 있다. 또한 메인 제어부(5)는 검사가 종료되는 경우, 덮개(4)의 영구 자석과의 사이에 인력을 작용하여 덮개(4)가 닫힌 상태를 유지하도록 전류가 인가되고 있던 본체 케이싱(18)에 구비된 전자석에 척력이 작용하도록 전류 방향을 바꾸어주거나, 전자석에 흐르는 전류를 차단하여 덮개(4)가 개방되도록 한다.
또한 메인 제어부(5)는 PC나 모니터 등의 외부 장치와 연결되어, 검사 장치를 통해 검사 되어야 할 항목을 사용자가 직접 선택할 수 있고, 검사 진행 상태를 실시간으로 출력할 수도 있다.

Claims (10)

  1. 정전식 터치 패널의 출력부와 접촉하여 정전식 터치 패널의 전하량을 측정하는 전하 측정부;
    정전식 터치 패널의 센싱 영역을 가압하지 않고 접촉한 상태에서 센싱 영역에 전류 또는 전하를 인가하는 복수 개의 전극을 구비하는 터치 패드; 및
    터치 패드의 복수 개의 전극을 전기적으로 온/오프하는 것을 제어하고, 전하 측정부의 측정값을 전송받는 메인 제어부;를 포함하며,
    복수 개의 전극에 선택적으로 전류 또는 전하를 인가하여 측정한 정전식 터치 패널의 센싱 전하량을 통해 정전식 터치 패널을 검사하는 것을 특징으로 하는 정전식 터치 패널 검사 장치.
  2. 제1항에 있어서,
    전하 측정부, 터치 패드 및 메인 제어부를 수용하며 장치의 외관을 형성하는 본체 케이싱; 및
    본체 케이싱의 상부에 힌지 연결되며, 터치 패드 및 전하 측정부를 덮는 덮개;를 더 포함하며,
    본체 케이싱과 덮개는 스프링 힌지로 연결되어, 스프링 힌지의 복원력에 의해 개방 상태를 유지하는 것을 특징으로 하는 정전식 터치 패널 검사 장치.
  3. 제2항에 있어서,
    덮개는 영구 자석을 구비하고, 본체 케이싱은 전자석을 구비하며,
    전자석의 극성을 조절하여 덮개를 개폐하는 것을 특징으로 하는 정전식 터치 패널 검사 장치.
  4. 제2항에 있어서,
    본체 케이싱은, 터치 패널이 터치 패드 상부에 얹혀지고, 터치 패널의 출력부가 전하 측정부에 놓이도록 안내하는 가이드를 구비하는 것을 특징으로 하는 정전식 터치 패널 검사 장치.
  5. 제1항에 있어서,
    메인 제어부는, USB 케이블과 연결되어 외부 장비로 검사 결과를 전송할 수 있고, 외부 장비를 통해 검사장치를 제어하고 모니터링할 수 있는 USB 커넥터를 구비하는 것을 특징으로 하는 정전식 터치 패널 검사 장치.
  6. 정전식 터치 패널의 전하량을 측정하는 전하 측정부, 정전식 터치 패널의 센싱 영역과 접촉하는 복수 개의 전극을 구비하는 터치 패드 및 터치 패드의 복수 개의 전극을 전기적으로 온/오프하는 것을 제어하고, 전하 측정부의 측정값을 전송받는 메인 제어부를 구비하는 정전식 터치 패널 검사 장치를 이용한 검사 방법에 있어서,
    터치 패드의 모든 전극의 전기적 연결을 해제하고 정전식 터치 패널 자체의 고유 전하 용량을 측정하는 제1 단계;
    복수 개의 전극 중 선택된 전극에 전류 또는 전하를 인가하는 제2 단계;
    선택된 전극에 전류 또는 전하가 인가된 상태에서 정전식 터치 패널의 전하 용량을 측정하는 제3 단계; 및
    제3 단계의 센싱된 전하 용량과 제1 단계의 고유 전하 용량과 비교하여 검사 결과를 도출하는 제4 단계;를 포함하며, 복수 개의 전극 중 선택되는 전극을 달리하여 제2 단계 내지 제4 단계를 반복하는 것을 특징으로 하는 정전식 터치 패널 검사 장치를 이용한 검사 방법.
  7. 제6항에 있어서,
    검사 결과를 데이터 베이스에 저장하는 제5 단계;를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 정전식 터치 패널 검사 장치를 이용한 검사 방법.
  8. 제6항에 있어서,
    제2 단계의 선택되는 전극들이 이루는 형태는, 사각형, 원형, 마름모꼴, 다각형 및 사용자가 입력한 고유의 형태 중 어느 하나인 것을 특징으로 하는 정전식 터치 패널 검사 장치를 이용한 검사 방법.
  9. 제6항에 있어서,
    검사 결과를 USB 커넥터 및 케이블을 통해 외부 장치로 전송하는 단계;를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 정전식 터치 패널 검사 장치를 이용한 검사 방법.
  10. 제6항에 있어서,
    제1 단계에서 측정한 정전식 터치 패널 자체의 고유 전하 용량과 기준 전하 용량을 비교 검사하는 단계;를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 정전식 터치 패널 검사 장치를 이용한 검사 방법.
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