KR101522717B1

KR101522717B1 - 전자 디바이스의 검사장치 및 검사방법

Info

Publication number: KR101522717B1
Application number: KR1020140014286A
Authority: KR
Inventors: 한봉석; 한유진; 안윤태
Original assignee: (주) 루켄테크놀러지스
Priority date: 2014-02-07
Filing date: 2014-02-07
Publication date: 2015-05-26

Abstract

제1 컨택부가 형성된 제1 회로기판 및 제2 컨택부가 형성된 제2 회로기판을 포함하는 전자 디바이스의 검사장치가 개시되며, 상기 전자 디바이스의 검사장치는 상기 제1 컨택부에 쇼팅 바 컨택(shorting bar contact)되어 제1 신호를 인가하는 제1 신호인가부; 및 상기 제2 컨택부에 풀 컨택(full contact)되어 제2 신호를 인가하는 제2 신호인가부를 포함하되, 제1 신호는 전원 신호이고, 제2 신호는 특성 검사 신호일 수 있다.

Description

전자 디바이스의 검사장치 및 검사방법{TESTING DEVICE AND TESTING METHOD OF ELECTRONIC DEVICE}

본원은 전자 디바이스의 검사장치 및 검사방법에 관한 것이다.

터치 스크린 패널(Touch Screen Panel)은 영상표시장치 등의 화면에 나타난 지시 내용을 사람의 손 또는 물체로 선택하여 사용자의 명령을 입력할 수 있도록 한 입력장치로 최근 다양한 정보처리 장치에 적용되고 있다. 터치 스크린 패널은 조작이 간단하고, 오작동이 적으며, 다른 입력기기 없이 정보 입력이 가능하여 휴대폰, 각종 의료장비, 은행이나 관공서 등 여러 분야에서 널리 사용되고 있다.

터치 스크린 패널은 접촉된 부분을 감지하는 방식에 따라 저항막 방식, 정전용량 방식, 표면 초음파 방식, 적외선 방식 등이 있다. 이 중 정전용량 방식은 얇은 전도성 물질이 코팅된 투명기판을 이용한다. 일정량의 전류를 투명기판의 표면에 흐르게 하고, 사용자가 코팅된 투명기판의 표면을 터치하면, 일정량의 전류가 사용자의 체내에 흡수되며 접촉면의 전류량이 변경된 부분을 인식함으로써 터치된 부분을 확인하게 된다. 정전용량 방식의 터치 스크린 패널은 접촉면에서의 접촉위치를 정확하게 판단하기 위해 X축 좌표 및 Y축 좌표를 인식하기 위한 두 종류의 감지전극을 갖는다.

또한, 터치 스크린 패널은 터치 패널의 구현 방식에 따라 부착형(add-on) 방식, 온셀(on-cell) 방식, 인셀(in-cell) 방식이 있다. 온셀 방식은 디스플레이 위에 터치 패널을 따로 부착하는 방식인 반면, 인셀 방식은 디스플레이 내부에 터치 패널을 부착하여 디스플레이 자체에 터치 기능을 구현하는 방식이다. 인셀 방식의 터치 스크린 패널은 온셀 방식의 터치 스크린 패널에 비해 두께가 얇고, 무게가 적게 나가며, 생산 원가가 절감되고, 터치에 보다 민감하게 반응한다는 장점이 있다.

이러한 터치 스크린 패널은 대량 생산이 되고, 최종적으로 검사 공정을 거치게 된다. 검사 공정은 불량품을 가려내기 위한 과정으로 생산된 모든 제품은 터치감지 기능 및 점등 기능에 대한 검사를 받게 된다.

기존의 온셀 방식의 터치 스크린 패널은 터치 패널에 검사신호를 인가함으로써 터치감지 기능에 대한 검사를 수행하였고, 디스플레이에 검사신호를 인가함으로써 점등 기능에 대한 검사를 수행하였다. 다시 말해, 온셀 방식의 터치 스크린 패널은 터치 패널과 디스플레이가 각각 구비되므로, 이들 각각에 검사 신호를 따로 인가하여 각각의 검사를 수행하였다.

한편, 인셀 방식의 터치 스크린 패널은 앞서 설명한 바와 같이 온셀 방식과 그 구조가 상이한바 이에 특화된 검사장치 및 검사방법이 필요하다.

본원은 전술한 종래 기술의 문제점을 해결하기 위한 것으로서, 인셀 방식의 터치 스크린 패널과 같이 전원이 인가되는 컨택부와 특정 신호가 인가되는 컨택부가 분리되는 경우에 있어서 검사 정확도의 손상 없이 검사 속도를 크게 높일 수 있는 검사방법 및 검사장치를 제공하는 것을 목적으로 한다.

상기한 기술적 과제를 달성하기 위한 기술적 수단으로서, 제1 컨택부가 형성된 제1 회로기판 및 제2 컨택부가 형성된 제2 회로기판을 포함하는 전자 디바이스의 검사장치는, 상기 제1 컨택부에 쇼팅 바 컨택(shorting bar contact)되어 제1 신호를 인가하는 제1 신호인가부; 및 상기 제2 컨택부에 풀 컨택(full contact)되어 제2 신호를 인가하는 제2 신호인가부를 포함하되, 상기 제1 신호는 전원 신호이고, 상기 제2 신호는 특성 검사 신호일 수 있다.

본원의 일 구현예에 따르면, 상기 전자 디바이스는 인셀(in-cell) 방식의 터치 스크린 패널일 수 있다.

제1 컨택부가 형성된 제1 회로기판 및 제2 컨택부가 형성된 제2 회로기판을 포함하는 전자 디바이스의 본원의 제 2 측면에 따른 검사방법은, 제1 신호인가부가 상기 제1 컨택부에 쇼팅 바 컨택(shorting bar contact)되는 단계; 제2 신호인가부가 상기 제2 컨택부에 풀 컨택(full contact)되는 단계; 상기 쇼팅 바 컨택이 이루어진 다음, 상기 제1 신호인가부가 제1 신호를 인가하는 단계; 및 상기 풀 컨택이 이루어진 다음, 상기 제2 신호인가부가 제2 신호를 인가하는 단계를 포함하되, 상기 제1 신호를 인가하는 단계에서 상기 제1 신호는 전원 신호이고, 상기 제2 신호를 인가하는 단계에서 상기 제2 신호는 특성 검사 신호일 수 있다.

전술한 본원의 과제 해결 수단 중 어느 하나에 의하면, 전원이 인가되는 제1 컨택부와 특정 검사 신호가 인가되는 제2 컨택부가 분리된 전자 디바이스의 경우, 제2 신호인가부는 제2 컨택부에 풀 컨택되어 제2 신호를 인가하도록 하되, 제1 신호인가부는 제1 컨택부에 쇼팅 바 컨택되어 제1 신호를 인가하도록 함으로써, 풀 컨택되는 제2 신호인가부만을 얼라인하면 되고, 쇼팅 바 컨택되는 제1 신호인가부의 얼라인 과정을 생략할 수 있으므로, 보다 간단하고 효율적으로 검사를 수행할 수 있다.

특히, 터치 패널이 디스플레이 내부에 부착된 구조를 가져, 패널 점등부 회로기판에 검사 신호가 인가되어야 할 뿐만 아니라 터치부 회로기판에 전원이 인가 되어야 점등 기능에 대한 검사가 가능한 인셀 방식의 터치 스크린 패널을 검사할 수 있다.

도 1은 본원의 검사 대상인 터치 스크린 패널의 평면도이다.
도 2는 도 1의 터치 컨택부 및 점등 컨택부 부분의 확대측면도이다.
도 3은 본 전자 디바이스의 검사장치의 제1 신호인가부가 제1 컨택부에 쇼팅 바 컨택되고, 제2 신호인가부가 제2 컨택부에 풀 컨택된 상태를 나타낸 도면이다.

아래에서는 첨부한 도면을 참조하여 본원이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자가 용이하게 실시할 수 있도록 본원의 실시예를 상세히 설명한다. 그러나 본원은 여러 가지 상이한 형태로 구현될 수 있으며 여기에서 설명하는 실시예에 한정되지 않는다. 그리고 도면에서 본원을 명확하게 설명하기 위해서 설명과 관계없는 부분은 생략하였으며, 명세서 전체를 통하여 유사한 부분에 대해서는 유사한 도면 부호를 붙였다.

본원 명세서 전체에서, 어떤 부분이 다른 부분과 "연결"되어 있다고 할 때, 이는 "직접적으로 연결"되어 있는 경우뿐 아니라, 그 중간에 다른 소자를 사이에 두고 "전기적으로 연결"되어 있는 경우도 포함한다.

본원 명세서 전체에서, 어떤 부재가 다른 부재 “상에” 위치하고 있다고 할 때, 이는 어떤 부재가 다른 부재에 접해 있는 경우뿐 아니라 두 부재 사이에 또 다른 부재가 존재하는 경우도 포함한다.

본원 명세서 전체에서, 어떤 부분이 어떤 구성요소를 "포함" 한다고 할 때, 이는 특별히 반대되는 기재가 없는 한 다른 구성요소를 제외하는 것이 아니라 다른 구성 요소를 더 포함할 수 있는 것을 의미한다. 본원 명세서 전체에서 사용되는 정도의 용어 "약", "실질적으로" 등은 언급된 의미에 고유한 제조 및 물질 허용오차가 제시될 때 그 수치에서 또는 그 수치에 근접한 의미로 사용되고, 본원의 이해를 돕기 위해 정확하거나 절대적인 수치가 언급된 개시 내용을 비양심적인 침해자가 부당하게 이용하는 것을 방지하기 위해 사용된다. 본원 명세서 전체에서 사용되는 정도의 용어 "~(하는) 단계" 또는 "~의 단계"는 "~ 를 위한 단계"를 의미하지 않는다.

참고로, 본원의 실시예에 관한 설명 중 방향이나 위치와 관련된 용어(상하 방향 등)는 도면에 나타나 있는 각 구성의 배치 상태를 기준으로 설정한 것이다. 예를 들면, 도 2에서 보았을 때 12시 방향이 상측 방향, 6시 방향이 하측 방향이 될 수 있다.

본원은 전자 디바이스(10)의 검사장치 및 검사방법에 관한 것이다.

우선, 본원의 일 실시예에 따른 전자 디바이스(10)의 검사장치(이하 '본 전자 디바이스의 검사장치'라 함)에 대해 설명한다.

도 1은 본원의 검사 대상인 전자 디바이스(10)의 평면도이고, 도 2는 도 1의 제1 컨택부(151) 및 제2 컨택부(171) 부분의 확대측면도이다.

또한, 도 3은 본 전자 디바이스(10)의 검사장치의 제1 신호인가부(31)가 제1 컨택부(151)에 쇼팅 바 컨택되고, 제2 신호인가부(33)가 제2 컨택부(171)에 풀 컨택된 상태를 나타낸 도면이다. 참고로, 도 3에서 전자 디바이스(10)의 검사장치 중 도시되지 않은 나머지 부분은 검사장치에 일반적으로 흔히 사용되는 구성으로서 당업자에게 자명한 바 이에 대한 도시를 생략하였다.

본 전자 디바이스(10)의 검사장치는 제1 신호인가부(31) 및 제2 신호인가부(33)를 포함한다.

이때, 전자 디바이스(10)는 제1 컨택부(151)가 형성된 제1 회로기판(15) 및 제2 컨택부(171)가 형성된 제2 회로기판(17)을 포함한다.

제1 신호인가부(31)는 제1 컨택부(151)에 쇼팅 바 컨택되어 제1 신호를 인가한다.

제2 신호인가부(33)는 제2 컨택부(171)에 풀 컨택되어 제2 신호를 인가한다.

이때, 제1 신호는 전원 신호이고, 제2 신호는 특성 검사 신호이다.

여기서, 쇼팅 바 컨택(shorting bar contact)은, 예시적으로 제1 컨택부(151)에 구비된 복수의 데이터 라인(data line) 또는 복수의 접속단자에 일대일 대응 컨택하는 것이 아니라, 복수의 데이터 라인들 또는 복수의 접속단자들에 전체적으로 컨택하는 것을 의미할 수 있다.

반면, 풀 컨택(full contact)은, 예시적으로 제2 컨택부(171)에 구비된 복수의 데이터 라인 또는 복수의 접속단자에 개별적으로 컨택하는 것을 의미할 수 있다.

한편, 제1 신호는 제1 회로기판(15)의 특성 또는 기능을 검사하기 위한 신호와는 전위차를 갖는 신호일 수 있다. 예를 들어, 제1 회로기판(15)이 터치부 회로기판일 경우, 제1 신호는 제1 회로기판(15)의 터치 기능을 검사하기 위해 제1 회로기판(15)에 인가되는 터치 신호와 전위차를 갖는 신호일 수 있다.

Add-On 타입의 터치 스크린 패널 또는 온셀(on-cell) 방식의 터치 스크린 패널은 터치 기능을 가지는 터치 패널과 디스플레이가 따로 구비되어 있다. 따라서, 터치 패널에 신호를 인가하여 이를 활성화시킴으로써 터치 기능을 검사하였고, 이와 별도로 디스플레이에 신호를 인가하여 이를 활성화시킴으로써 점등 기능을 검사하였다.

보다 구체적으로, Add-On 타입의 터치 스크린 패널 또는 온셀(on-cell) 방식의 터치 스크린 패널의 검사는 터치 패널의 가장자리에 구비된 접속단자들 각각에 접촉될 수 있는 위치로 검사장치의 프로브 핀이 정렬된 후, 프로브 핀이 접속단자들 각각에 접촉되어 검사신호를 인가함으로써 터치 패널에 구비된 라인들(예를 들어, 게이트 및 데이터 라인들)을 모두 구동시켜 터치 기능 검사를 수행하였다. 이와 마찬가지로, 디스플레이의 가장자리에 구비된 접속단자들 각각에 접촉될 수 있는 위치로 검사장치의 프로브 핀이 정렬된 후, 프로브 핀이 접속단자들 각각에 접촉되어 검사신호를 인가함으로써 디스플레이에 구비된 라인들을 모두 구동시켜 점등 기능 검사를 수행하였다.

즉, Add-On 타입 또는 온셀(on-cell) 방식의 터치 스크린 패널의 경우, 터치 기능 검사시에는 터치 패널에 컨택되는 프로브 핀을 각각 정렬한 다음, 프로브 핀을 터치 패널에 구비된 데이터 라인들 각각에 풀 컨택시켜 신호를 인가함으로써 검사를 수행하고, 점등 기능 검사시에는 디스플레이에 컨택되는 프로브 핀을 각각 정렬한 다음, 프로브 핀을 디스플레이에 풀 컨택시켜 신호를 인가함으로써 검사를 수행하였다.

이러한 Add-On 타입 또는 온셀(on-cell) 방식의 터치 스크린 패널의 경우, 별도의 전원 신호를 인가하는 과정 없이, 해당 검사 신호의 인가만을 통해 해당 검사를 수행할 수 있었다.

한편, 전자 디바이스 중 검사를 위해 전원을 인가하는 컨택부와 검사 신호를 인가하는 컨택부가 각각 분리되어 형성된 전자 디바이스의 경우, Add-On 타입 또는 온셀 방식의 터치 스크린패널과 달리, 검사 신호뿐만 아니라 전원의 인가가 필요하다.

이때, 검사 신호의 경우, 전자 디바이스의 해당 검사 신호가 인가되는 컨택부에 풀 컨택되어 개별적으로 인가되어야 한다. 예시적으로, 컨택부에 복수의 접속단자 각각에 모두 검사 신호가 인가되어야 한다.

반면, 전원의 경우 복수의 접속단자 각각에 신호를 개별적으로 인가할 필요가 없고 어느 하나의 접속단자에만 인가되어도 충분하다.

따라서, 본 전자 디바이스(10)의 검사장치는, 이와 같이 전원이 인가되는 컨택부와 검사 신호가 인가되는 컨택부가 각각 분리되어 구비된 전자 디바이스(10)의 검사를 위하여, 제2 신호인가부(33)의 경우 얼라인 과정을 통해 제2 컨택부(171)에 풀 컨택(full contact)되어 제2 신호를 인가하도록 하고, 제1 신호인가부(31)의 경우 얼라인 과정 없이 제1 컨택부(151)에 쇼팅 바 컨택(shorting bar contact)되어 제1 신호를 인가하도록 함으로써, 풀 컨택을 위한 제2 신호인가부(33)만이 얼라인 과정을 거치면 되고, 쇼팅 바 컨택되는 제1 신호인가부(31)의 경우 얼라인이 필요하지 않으므로, 검사를 보다 효율적으로 수행할 수 있다.

다시 말해, 본 발명자는, 제1 회로기판(15)의 특성과 관련된 검사를 수행하는 경우에는 제1 컨택부(151)에 제1 신호인가부(31)가 풀 컨택되어 해당 특성 검사 신호를 인가해야 하지만, 제2 회로기판(17)과 관련한 특성 검사를 위한 전원 신호를 제1 회로기판(15)에 인가하고자 하는 경우에는 풀 컨택되어 인가될 필요없이 쇼팅 바 컨택되어 인가되는 것으로 충분하다는 점에 착안하여, 본 전자 디바이스(10)의 검사장치는 전자 디바이스(10)의 데이터 라인들에 개별적으로 인가되어야 하는 신호를 인가하는 신호인가부만을 풀 컨택되도록 정렬하고, 데이터 라인마다 개별적으로 인가될 필요가 없는 신호를 인가하는 신호인가부의 경우 쇼팅 바 컨택되도록 함으로써 보다 효율적으로 검사를 수행할 수 있다.

보다 구체적으로, 제2 신호가 제2 회로기판(17)의 특성 검사를 위한 특성 검사 신호이고, 제1 신호가 전원 신호인 경우, 제2 신호인가부(33)는 제2 회로기판(15)에 풀 컨택되어 데이터 라인들 각각에 대한 특성 검사 신호 인가가 필요하지만, 제1 신호인가부(31)는 쇼팅 바 컨택을 통해 적어도 어느 하나의 데이터 라인에 전원 신호를 인가하여도 충분하므로, 제1 신호인가부(31)의 풀 컨택을 위한 얼라인 과정을 거치지 않아 검사 속도를 향상시킬 수 있다.

이하에서는, 본 전자 디바이스(10)의 검사장치와 관련된 구성들에 대해 설명한다.

먼저, 본 전자 디바이스의 검사장치는 제1 신호인가부(31) 및 제2 신호인가부(33)의 구동에 필요한 통상적인 구성들을 포함할 수 있다. 이는 터치 스크린 패널, 소형 액정표시장치 등과 같은 전자 디바이스의 점등 검사에 이용되는 구성들로서 통상의 기술자에게 있어 자명한바, 보다 상세한 설명은 생략하기로 한다.

예를 들어, 제1 컨택부(151) 및 제2 컨택부(171)는 각각 복수의 핀을 포함할 수 있다. 예시적으로, 제1 컨택부(151) 및 제2 컨택부(171) 각각은 히로세 커넥터일 수 있다. 예를 들어, 히로세 커넥터는 R0 내지 R19(Row 0 내지 Row 19), C0 내지 C11(Column 0 내지 Column 11)로 조합 배치된 복수의 핀을 포함할 수 있다.

이러한 경우, 제2 신호인가부(33)는 얼라인 과정을 통해 복수의 핀에 풀 컨택되어 각각의 핀에 제2 신호를 인가하고, 제1 신호인가부(31)는 얼라인 과정을 거치지 않고 쇼팅 바 컨택되어 복수의 핀 중 적어도 하나에 제1 신호를 인가할 수 있다.

제1 신호인가부(31)는 쇼팅 바(shorting bar)를 포함할 수 있다. 이때, 쇼팅 바는 제1 컨택부(151)에 쇼팅 바 컨택(shorting bar contact)을 통해 제1 신호를 인가할 수 있다.

예시적으로, 쇼팅 바는 도전성 물질(예를 들어, 철, 니켈, 코발트, 구리, 은 등)을 포함하는 쇼팅 패드를 포함할 수 있다. 쇼팅 패드는 제1 컨택부(151)에 접촉되어 도전성 물질에 의해 제1 신호를 제1 컨택부(151)에 전달할 수 있다.

제1 신호인가부(31)는 쇼팅 바를 통해 제1 컨택부(151)에 쇼팅 바 컨택되어 복수의 핀 중 적어도 하나에 제1 신호를 인가함으로써, 전자 디바이스의 특성 검사가 가능하도록 할 수 있다.

이때, 제1 신호는 쇼팅 바가 인가하는 공통전압(V-com) 신호일 수 있다.

여기서, 공통전압 신호는 제1 신호인가부(31)가 제1 컨택부(151)에 쇼팅 바 컨택되어 신호를 인가한 경우에도 제2 신호를 통한 제2 회로기판(17)의 특성 검사를 가능하게 하는 신호일 수 있다.

예를 들어, 제1 신호인가부(31)는 기준 전위에 해당하는 공통전압을 제1 컨택부(151)에 인가할 수 있다.

이때, 제2 신호는, 예시적으로 P/G에서 나오는 신호일 수 있다.

한편, 제2 신호인가부(33)는 제2 컨택부(171)에 풀 컨택되도록 얼라인될 수 있다.

이때, 본 전자 디바이스(10)의 검사장치는 제2 신호인가부(33)를 얼라인시키는 얼라인 유닛(35)을 포함할 수 있다.

얼라인 유닛(35)은 제1 신호인가부(31)의 얼라인 없이 제2 신호인가부(33)만을 얼라인시킬 수 있다.

제1 신호인가부(31)는 쇼팅 바 컨택되므로 얼라인 과정이 필요하지 않다. 따라서, 얼라인 유닛(35)은, 제1 신호인가부(31)의 얼라인 없이, 풀 컨택이 필요한 제2 신호인가부(33)만을 얼라인하면 되므로, 검사 속도가 향상될 수 있다.

예를 들어, 얼라인 유닛(35)은 제2 신호인가부(33) 자체 내에 구비된 것일 수 있다.

또는, 얼라인 유닛(35)은 제2 신호인가부(33)와 별도로 구비될 수도 있다. 예를 들어, 얼라인 유닛(35)은, 제1 신호인가부(31) 및 제2 신호인가부(33)에 신호를 인가하는 것과 같이 검사장치 내의 구성들을 제어하는 역할을 하는 제어유닛에 포함된 것일 수도 있다.

한편, 제1 회로기판(15)은 터치부 회로기판이고, 제2 회로기판(17)은 패널 점등부 회로기판일 수 있다. 이때, 제2 신호는 패널 점등부 회로기판의 점등 신호일 수 있다.

여기서, 점등 신호는 제2 신호인가부(33)가 제2 컨택부(171)에 풀 컨택되어 신호를 인가한 경우에 해당 픽셀의 점등이 모두 이루어지는 신호일 수 있다.

예시적으로, 전자 디바이스(10)는, 도2에 도시된 바와 같이 터치부 회로기판인 제1 회로기판(15)과 패널 점등부 회로기판인 제2 회로기판(17)이 상하 방향으로 간격을 두고 구비된 터치 스크린 패널일 수 있다.

이때, 제2 신호가 패널 점등부 회로기판인 제2 회로기판(17)의 점등 검사를 위한 점등 신호인 경우, 제1 신호는 점등 검사가 가능하도록 하는 전원 신호일 수 있다.

예시적으로, 전자 디바이스(10)는 인셀(in-cell) 방식의 터치 스크린 패널일 수 있다.

예시적으로, 도 1 및 도 2를 참조하면, 전자 디바이스(10)는 패널(11), 패드(13), 제1 회로기판(15), 및 제2 회로기판(17)을 포함하는 인셀 방식의 터치 스크린 패널일 수 있다. 이 때, 제1 회로기판(15)은 터치부 회로기판일 수 있고, 제2 회로기판(17)은 패널 점등부 회로기판일 수 있다.

인셀(in-cell) 방식의 터치 스크린 패널은, 온셀 방식의 터치 스크린 패널과 같이 터치 패널이 별도로 부착된 것이 아니라, 터치 기능이 디스플레이 자체 내에 내장되어 있다. 이로 인해 기존의 온셀 방식 등의 터치 스크린 패널과 달리, 점등 기능에 대한 검사를 수행하고자 하는 경우, 패널 점등부 회로기판에 특성 검사를 위한 제2 신호를 인가하는 것뿐만 아니라, 터치부 회로기판까지 제1 신호가 인가되어야 점등 기능에 대한 검사를 수행할 수 있다.

이때, 점등 검사 수행시에, 패널 점등부 회로기판에 구비된 제2 컨택부(171)에는 제2 신호인가부(33)가 일대일 대응 접촉, 즉 풀 컨택되어 점등 신호인 제2 신호를 인가해야 하지만, 터치부 회로기판에는 패널 점등부 회로기판의 점등 검사를 위한 전원만 인가되면 되므로 제1 신호인가부(31)가 제1 컨택부(151)에 풀 컨택하여 제1 신호를 정확히 인가할 필요 없이, 쇼팅 바 컨택을 통해 대략적으로 제1 신호를 인가하도록 할 수 있다.

이는, 터치 검사의 수행시에는 터치부 회로기판에 제1 신호인가부(31)가 풀 컨택되어 터치 검사 신호를 인가해야 하지만, 점등 검사는 패널 점등부 회로기판의 기능을 검사하는 것이므로, 점등 검사의 수행시에는 패널 점등부 회로기판에만 특성 검사 신호의 풀 컨택을 통한 인가가 필요하고, 터치부 회로기판에는 전원 신호가 풀 컨택을 통해 인가될 필요가 없기 때문이다.

따라서, 본 전자 디바이스(10)의 검사장치는 제1 신호인가부(31)의 얼라인 과정을 거칠 필요가 없으므로, 점등 검사 신호와 전원 신호 인가가 별도로 필요한 인셀 방식의 터치스크린 패널(10)을 빠르고 저소비 전력으로 점등 검사할 수 있다.

다시 말해, 본 전자 디바이스(10)의 검사장치는 인셀 방식의 터치 스크린 패널의 점등 검사를 효율적으로 수행할 수 있다.

다만, 전자 디바이스(10)는 인셀 방식의 터치 스크린 패널로만 한정되는 것이 아니라, 특성 검사를 위한 검사 신호부와 전원 인가부가 분리되어 구비됨으로써 특성 검사시에 검사 신호와 전원 신호의 인가가 각각 필요한 전자 디바이스(10)를 모두 포함할 수 있다.

한편, 전자 디바이스(10)는 패널(11)을 포함할 수 있다. 또한, 전자 디바이스(10)는 패널(11)의 일측면에 제1 회로기판(15) 및 제2 회로기판(17)이 연결될 수 있다.

이 때, 제2 회로기판(17)은 제1 회로기판(15)에 대하여 하측으로 이웃하게 배치될 수 있다.

예를 들어, 도 2를 참조하면 제2 회로기판(17)은 제1 회로기판(15)의 하측에 이와 간격을 두고 배치될 수 있다.

도 3을 참조하면, 제1 회로기판(15)과 제2 회로기판(17)이 상하 방향으로 간격을 두고 형성된 경우, 제1 회로기판(15)은 제2 회로기판(17)과의 사이에 형성된 공간으로 인해 제1 신호인가부(31)가 제1 컨택부(151)에 접촉되는 경우 누름 압력을 받아 아래로 다소 휘어질 수 있고, 이로 인해 제1 신호인가부(31)가 제1 컨택부(151)에 풀 컨택되기 어렵다.

이에, 본 전자 디바이스(10)의 검사장치는 풀 컨택이 어려운 제1 회로기판(15)에 쇼팅 바 컨택을 통해 제1 신호를 인가하므로, 보다 정확하게 검사를 수행할 수 있다.

이는, 앞서 설명한 바와 같이 제1 회로기판(15)에 그 특성과 관련된 검사를 위한 신호를 인가할 때에는 풀 컨택되어 신호를 인가하여야 하지만, 제2 회로기판(17)의 특성 검사를 위한 전원 신호를 제1 회로기판(15)에 인가할 때에는 쇼팅 바 컨택을 통해 전원 신호를 인가하는 것으로 충분하기 때문이다.

또한, 제2 회로기판(17)은 제2 컨택부(171)가 제1 회로기판(15)과 상하 방향으로 오버랩(overlap)되지 않도록 배치될 수 있다.

도 1에 도시된 바와 같이, 위쪽(평면 상)에서 바라보았을 때, 제2 컨택부(171)가 제1 회로기판(15)에 의해 가려지지 않도록 배치됨이 바람직하다. 이러한 배치 구조를 통해, 제2 신호인가부(33)가 하향 이동을 통해 제2 회로기판(17)의 상면에 구비된 제2 컨택부(171)에 컨택될 수 있다.

한편, 이하에서는 본원의 일 실시예에 따른 전자 디바이스(10)의 검사방법(이하 '본 전자 디바이스의 검사방법'이라함)에 대해 설명한다. 다만, 앞서 살핀 본원의 일 실시예에 따른 전자 디바이스(10)의 검사장치에서 설명한 구성과 동일 또는 유사한 구성에 대해서는 동일한 도면부호를 사용하고, 중복되는 설명은 간략히 하거나 생략하기로 한다.

본 전자 디바이스(10)의 검사방법은, 제1 신호인가부(31)가 제1 컨택부(151)에 쇼팅 바 컨택(shorting bar contact)되는 단계, 제2 신호인가부(33)가 제2 컨택부(171)에 풀 컨택(full contact)되는 단계, 쇼팅 바 컨택이 이루어진 다음 제1 신호인가부(31)가 제1 신호를 인가하는 단계, 및 풀 컨택이 이루어진 다음 제2 신호인가부(33)가 제2 신호를 인가하는 단계를 포함한다.

이때, 제1 신호를 인가하는 단계에서 제1 신호는 전원 신호이다. 또한, 제2 신호를 인가하는 단계에서 제2 신호는 특성 검사 신호이다.

앞서 설명한 바와 같이, 전자 디바이스 중 검사를 위해 전원 신호를 인가받는 컨택부와 특성 검사 신호를 인가받는 컨택부가 각각 분리되어 형성된 전자 디바이스에 대하여, 데이터 라인들에 개별적으로 인가되어야 하는 특성 검사 신호를 인가하는 제2 신호인가부(33)는 제2 컨택부(171)에 풀 컨택되도록 하고, 데이터 라인들에 개별적으로 인가될 필요가 없는 전원 신호를 인가하는 제1 신호인가부(31)는 제1 컨택부(151)에 쇼팅 바 컨택되도록 함으로써, 제2 신호인가부(33)의 얼라인 과정만을 수행하면 되고, 쇼팅 바 컨택되는 제1 신호인가부(31)의 얼라인 과정을 생략할 수 있다.

본 전자 디바이스(10)의 검사방법은, 예시적으로 제1 컨택부(151) 및 제2 컨택부(171) 각각에 대한 제1 신호인가부(31) 및 제2 신호인가부(33)의 컨택이 모두 이루어지고 난 후, 제1 컨택부(151) 및 제2 컨택부(171) 각각에 대한 신호를 인가하는 단계가 수행될 수 있다. 이때, 제1 신호 및 제2 신호는 필요에 따라 동시에 인가되거나, 선후관계가 정해져 인가될 수 있다.

본 전자 디바이스(10)의 검사방법의 또다른 구현예로는, 제2 신호인가부(33)가 제2 컨택부(171)에 풀 컨택이 이루어지고 제2 신호를 인가하는 단계가 모두 수행된 다음, 제1 신호인가부(31)가 제1 컨택부(151)에 쇼팅 바 컨택이 이루어지고 제1 신호를 인가하는 단계가 수행될 수 있다. 즉, 제2 회로기판(17)에 제2 신호인가부(33)의 컨택 및 특성 검사 신호의 인가가 모두 이루어진 다음, 제1 회로기판(15)에 제1 신호인가부(31)의 컨택 및 전원 신호의 인가가 이루어질 수 있다.

다만, 본 전자 디바이스(10)의 검사방법의 순서가 전술한 예시들로만 한정되는 것은 아니고, 컨택 순서 및 신호 인가 순서는 검사 대상인 전자 디바이스(10)의 종류, 검사 조건 등을 고려하여 필요에 맞게 정해질 수 있다.

제1 신호인가부(31)는 제1 컨택부(151)에 쇼팅 바 컨택되는 쇼팅 바(shorting bar)를 포함할 수 있다.

이때, 제1 신호를 인가하는 단계에서, 제1 신호는 쇼팅 바가 인가하는 공통전압(V-com) 신호일 수 있다.

제1 신호인가부(31)는 기준 전위에 해당하는 공통전압을 제1 컨택부(151)에 인가할 수 있다.

한편, 본 전자 디바이스(10)의 검사방법은, 제1 신호를 인가하는 단계 및 제2 신호를 인가하는 단계 이전에, 제2 신호인가부(33)가 제2 컨택부(171)에 풀 컨택되도록 얼라인되는 단계를 포함할 수 있다.

이때, 제2 신호인가부(33)가 제2 컨택부(171)에 풀 컨택되도록 얼라인되는 단계에서, 제2 신호인가부(33)는 얼라인 유닛(35)에 의해 얼라인될 수 있다.

제1 신호인가부(31)는 쇼팅 바 컨택되므로 얼라인 과정이 필요하지 않다. 따라서, 얼라인 유닛(35)은, 제1 신호인가부(31)의 얼라인 없이, 풀 컨택이 필요한 제2 신호인가부(33)만을 얼라인 과정을 수행하면 되므로, 검사 속도가 향상될 수 있다

한편, 제1 회로기판(15)은 터치부 회로기판이고, 제2 회로기판(17)은 패널 점등부 회로기판일 수 있다. 이때, 제2 신호를 인가하는 단계에서, 제2 신호는 패널 점등부 회로기판의 점등 신호일 수 있다.

인셀 방식의 터치 스크린 패널은 패널 점등부 회로기판에 특성 검사를 위한 제2 신호를 인가하는 것뿐만 아니라, 터치부 회로기판까지 전원 신호가 인가되어야 점등 기능에 대한 검사가 가능하다. 따라서, 특성 검사를 위한 제2 신호를 인가하는 제2 신호인가부(33)는 얼라인을 통해 제2 컨택부(171)에 풀 컨택되도록 하고, 제2 신호를 통한 특성 검사가 가능하도록 하는 전원 신호인 제1 신호를 인가하는 제1 신호인가부(31)는 제1 컨택부(151)에 쇼팅 바 컨택되도록 함으로써, 점등 검사 신호와 전원 인가가 별도로 필요한 인셀 방식의 터치스크린 패널(10)을 빠르고 저소비 전력으로 점등 검사할 수 있다.

이때, 제2 회로기판(17)은 제1 회로기판(15)에 대하여 하측으로 이웃하게 배치될 수 있다.

예를 들어, 도 2를 참조하면 제2 회로기판(17)은 제1 회로기판(15)의 하측에서 이와 간격을 두고 배치될 수 있다.

도 1에 도시된 바와 같이, 위쪽에서 보았을 때, 제2 컨택부(171)가 제1 회로기판(15)에 의해 가려지지 않도록 배치될 수 있다. 이를 통해, 제2 신호인가부(33)가 제2 컨택부(171)에 컨택되어 제2 신호를 인가할 수 있다.

전술한 본원의 설명은 예시를 위한 것이며, 본원이 속하는 기술분야의 통상의 지식을 가진 자는 본원의 기술적 사상이나 필수적인 특징을 변경하지 않고서 다른 구체적인 형태로 쉽게 변형이 가능하다는 것을 이해할 수 있을 것이다. 그러므로 이상에서 기술한 실시예들은 모든 면에서 예시적인 것이며 한정적이 아닌 것으로 이해해야만 한다. 예를 들어, 단일형으로 설명되어 있는 각 구성 요소는 분산되어 실시될 수도 있으며, 마찬가지로 분산된 것으로 설명되어 있는 구성 요소들도 결합된 형태로 실시될 수 있다.

본원의 범위는 상기 상세한 설명보다는 후술하는 특허청구범위에 의하여 나타내어지며, 특허청구범위의 의미 및 범위 그리고 그 균등 개념으로부터 도출되는 모든 변경 또는 변형된 형태가 본원의 범위에 포함되는 것으로 해석되어야 한다.

10: 전자 디바이스
11: 패널 13: 패드
15: 제1 회로기판 17: 제2 회로기판
151: 제1 컨택부 171: 제2 컨택부
31: 제1 신호인가부 33: 제2 신호인가부
35: 얼라인 유닛

Claims

제1 컨택부가 형성된 제1 회로기판 및 제2 컨택부가 형성된 제2 회로기판을 포함하는 전자 디바이스의 검사장치에 있어서,
상기 제1 컨택부에 쇼팅 바 컨택(shorting bar contact)되어 제1 신호를 인가하는 제1 신호인가부; 및
상기 제2 컨택부에 풀 컨택(full contact)되어 제2 신호를 인가하는 제2 신호인가부를 포함하되,
상기 제1 신호는 전원 신호이고, 상기 제2 신호는 특성 검사 신호인 것인 전자 디바이스의 검사장치.
제 1 항에 있어서,
상기 제1 신호인가부는 상기 제1 컨택부에 쇼팅 바 컨택되는 쇼팅 바(shorting bar)를 포함하는 것인 전자 디바이스의 검사장치.
제 2 항에 있어서,
상기 제1 신호는 상기 쇼팅 바가 인가하는 공통전압(V-com) 신호인 것인 전자 디바이스의 검사장치.
제 1 항에 있어서,
상기 제2 신호인가부는 상기 제2 컨택부에 풀 컨택되도록 얼라인되는 것인 전자 디바이스의 검사장치.
제 4 항에 있어서,
상기 제2 신호인가부를 얼라인시키는 얼라인 유닛을 더 포함하는 전자 디바이스의 검사장치.
제 1 항에 있어서,
상기 제1 회로기판은 터치부 회로기판이고, 상기 제2 회로기판은 패널 점등부 회로기판이며,
상기 제2 신호는 상기 패널 점등부 회로기판의 점등 신호인 것인 전자 디바이스의 검사장치.
제 6 항에 있어서,
상기 전자 디바이스는 인셀(in-cell) 방식의 터치 스크린 패널인 것인 전자 디바이스의 검사장치.
제 1 항에 있어서,
상기 전자 디바이스는 패널을 포함하고, 상기 패널의 일측면에 상기 제1 회로기판 및 상기 제2 회로기판이 연결되며,
상기 제2 회로기판은 상기 제1 회로기판에 대하여 하측으로 이웃하게 배치되는 것인 전자 디바이스의 검사장치.
제 8 항에 있어서,
상기 제2 회로기판은 상기 제2 컨택부가 상기 제1 회로기판과 상하 방향으로 오버랩(overlap)되지 않도록 배치되는 것인 전자 디바이스의 검사장치.
제1 컨택부가 형성된 제1 회로기판 및 제2 컨택부가 형성된 제2 회로기판을 포함하는 전자 디바이스의 검사방법에 있어서,
제1 신호인가부가 상기 제1 컨택부에 쇼팅 바 컨택(shorting bar contact)되는 단계;
제2 신호인가부가 상기 제2 컨택부에 풀 컨택(full contact)되는 단계;
상기 쇼팅 바 컨택이 이루어진 다음, 상기 제1 신호인가부가 제1 신호를 인가하는 단계; 및
상기 풀 컨택이 이루어진 다음, 상기 제2 신호인가부가 어 제2 신호를 인가하는 단계를 포함하되, 상기 제1 신호를 인가하는 단계에서, 상기 제1 신호는 전원 신호이고,
상기 제2 신호를 인가하는 단계에서, 상기 제2 신호는 특성 검사 신호인 것인 전자 디바이스의 검사방법.
제 10 항에 있어서,
상기 제1 신호인가부는 상기 제1 컨택부에 쇼팅 바 컨택되는 쇼팅 바(shorting bar)를 포함하는 것인 전자 디바이스의 검사방법.
제 11 항에 있어서,
상기 제1 신호를 인가하는 단계에서,
상기 제1 신호는 상기 쇼팅 바가 인가하는 공통전압(V-com) 신호인 것인 전자 디바이스의 검사방법.
제 10 항에 있어서,
상기 제2 신호인가부가 상기 제2 컨택부에 풀 컨택되는 단계 이전에,
제2 신호인가부가 상기 제2 컨택부에 풀 컨택되도록 얼라인되는 단계를 포함하는 것인 전자 디바이스의 검사방법.
제 13 항에 있어서,
상기 제2 신호인가부가 상기 제2 컨택부에 풀 컨택되도록 얼라인되는 단계에서,
상기 제2 신호인가부는 얼라인 유닛에 의해 얼라인되는 것인 전자 디바이스의 검사방법.
제 10 항에 있어서,
상기 제1 회로기판은 터치부 회로기판이고, 상기 제2 회로기판은 패널 점등부 회로기판이며,
상기 제2 신호를 인가하는 단계에서,
상기 제2 신호는 상기 패널 점등부 회로기판의 점등 신호인 것인 전자 디바이스의 검사방법.
제 15 항에 있어서,
상기 전자 디바이스는 인셀(in-cell) 방식의 터치 스크린 패널인 것인 전자 디바이스의 검사방법.
제 10 항에 있어서,
상기 전자 디바이스는 패널을 포함하고, 상기 패널의 일측면에 상기 제1 회로기판 및 상기 제2 회로기판이 연결되며,
상기 제2 회로기판은 상기 제1 회로기판에 대하여 하측으로 이웃하게 배치되는 것인 전자 디바이스의 검사방법.
제 17 항에 있어서,
상기 제2 회로기판은 상기 제2 컨택부가 상기 제1 회로기판과 상하 방향으로 오버랩(overlap)되지 않도록 배치되는 것인 전자 디바이스의 검사방법.