CN106125370A - 一种液晶屏测试及液晶触摸烧录装置及其测试方法 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种液晶屏测试及液晶触摸烧录装置及其测试方法，其中装置具体包括与待测液晶屏连接的接驳驱动模块，分别控制屏幕点亮和触摸烧录的主控微处理器和触摸烧录微控制器，通过所述主控微处理器控制的FPGA屏幕显示解码模块、EM MC储存模块、SD RAM储存模块，通过所述触摸烧录微控制器控制的AD采集模块、SRAM储存模块、SD卡储存模块和RTC模块，所述主控微处理器与所述接驳驱动模块连接，所述触摸烧录微控制器通过所述AD采集模块与所述接驳驱动模块连接。本发明解决了现有的测试装置功能单一的问题，将多种需要测试的指标集中在一个装置中，简化了工作流程，提高了工作效率。
Description
技术领域
本发明涉及一种既可以进行液晶屏测试又可以进行触摸烧录的装置及测试方法。
背景技术
智能手机的相关硬件技术发展很快，例如，触摸屏全贴合In-cell、On-cell、OGS技术飞速发展，市面上的测试工具都只有单一的功能，每测试一项就需要采用一种测试工具，导致测试操作的不方便，而且测试成本也无法降低。
例如，现有的测试工具测液晶屏点亮及触摸IC烧录时都是费时，费力，效率低。市面的触摸IC烧录耗时是因为他们需要连接电脑进行操作，他们烧录时需要通过电脑软件的调试，调试好了再进行烧录，整个过程复杂耗时。
液晶行业早就希望能研发出一种既能测试液晶点亮又能实现触摸IC烧录的装置。但是，这种装置技术难度大，需要攻克的难题也多，导致这种装置迟迟没有面世。
发明内容
本发明为了解决上述现有技术中存在的技术问题，提出一种液晶屏测试及液晶触摸烧录装置，包括：与待测液晶屏连接的接驳驱动模块，分别控制屏幕点亮和触摸烧录的主控微处理器和触摸烧录微控制器，通过所述主控微处理器控制的FPGA屏幕显示解码模块、EM MC储存模块、SD RAM储存模块，通过所述触摸烧录微控制器控制的AD采集模块、SRAM储存模块、SD卡储存模块和RTC模块，所述主控微处理器与所述接驳驱动模块连接，所述触摸烧录微控制器通过所述AD采集模块与所述接驳驱动模块连接。
优选的，所述接驳驱动模块根据待测液晶屏的接口协议进行更换。所述装置还设有USB接口，所述主控微处理器通过USB接口与USB储存模块相连接，所述USB储存模块内储存图片资料和固件升级资料，所述主控微处理器将所述图片资料放入所述SD RAM储存模块，并控制所述FPGA屏幕显示解码模块读取所述图片资料并按照相应的通讯协议转换后，通过接驳驱动模块传递给所述待测液晶屏用于测试屏幕的颜色、亮度、失真和显示频率。
所述SRAM储存模块存储待测液晶屏的出厂屏幕测试数据，所述触摸烧录微控制器通过AD采集模块获取待测液晶屏的触摸容值，并与所述出厂屏幕测试数据进行比对分析，并将结果生成文件记录存储在SD卡存储模块中。将结果生成文件记录的过程中，所述触摸烧录微控制器实时读取RTC实时时间采集模块的时间信息，将所述文件记录按照时间顺序存储。
优选的，所述主控微处理器采用基于ARM 32-bit Cortex-M7的STM32F746处理器。
本发明还提出了采用上述技术方案中的液晶屏测试及液晶触摸烧录装置进行测试的测试方法，包括如下步骤：
步骤1：选择与待测液晶屏相对应的接驳驱动模块，与所述待测液晶屏电连接；
步骤2：是否发送点亮指令；若是则继续下一步骤；若否，则结束测试；
步骤3：测试待测液晶屏的色彩、亮度及显示频率；
步骤4：是否发送触摸IC烧录指令；若是则继续下一步骤；若否，则结束测试；
步骤5：触摸IC测试及触摸IC烧录。
优选的，在所述步骤3和步骤4之间还存在烧录液晶屏指令。
本发明与现有技术相比，可以在测试液晶屏时脱机工作，全程无须电脑协作，即可完成液晶屏点亮及触摸IC烧录。并且，测试液晶的同时，液晶触摸IC烧录也同时进行，解决了液晶行业连测带烧的问题，提高了工作效率。除了能提供触摸IC烧录功能，还能提供触摸IC的其他测试功能，如开短路。另外，测试的详细内容还会自动生成LOG文件保存在SD卡里，供工程人员了解液晶屏的状况。通过本发明的装置可以省去了复杂的电脑操作，因此本装置操作方便易懂。
附图说明
图1为本发明的结构框图；
图2为本发明的测试流程图。
具体实施方式
下面结合附图对本发明的原理及方法进行详细说明。
如图1所示，本发明一实施例提供的液晶屏测试及液晶触摸烧录装置H1，包括两大部分——一部分是用于液晶屏的点亮测试，另一部分是用于触摸IC测试及触摸IC烧录的测试，这两个测试模块分别设有自己的微处理器，均通过一个接驳驱动模块H2与待测液晶屏进行连接，来分别测试液晶屏的点亮和触摸烧录，为了可以测试不同的液晶屏，该接驳驱动模块H2是可更换的，可以根据待测液晶屏的接口协议进行更换。
其中，用于液晶屏点亮测试的元器件有主控微处理器H3和通过主控微处理器进行控制的FPGA屏幕显示解码模块H6、EM MC储存模块H12、SD RAM储存模块H5，该装置还设有USB接口，通过USB接口主控微处理器可以与USB储存模块H4相连接，USB储存模块内储存图片资料和固件升级资料，主控微处理器H3可以把USB储存模块H4中的数据放入到EM MC储存模块H12中，通过USB把液晶显示所需的图片存储在EMMC器件中，大大提高了图片读取速度及存储容量，解决了行业中此类设备开机速度慢和图片存储量有限的问题。主控微处理器还可以读取USB储存模块中的固件升级资料对待测液晶屏进行固件升级，主控微处理器还可以读取USB储存模块中的图片资料，将图片资料放入SD RAM储存模块，并控制FPGA屏幕显示解码模块读取图片资料，然后FPGA屏幕显示解码模块会按照相应的通讯协议转换后，通过接驳驱动模块传递给待测液晶屏，这样来测试待测液晶屏的屏幕的颜色、亮度、失真和显示频率。
用于触摸和烧录的元器件有触摸烧录微控制器H8和通过触摸烧录微控制器进行控制的AD采集模块H7、SRAM储存模块H11、SD卡储存模块H10和RTC实时时间采集模块H9，触摸烧录微控制器通过AD采集模块H7与接驳驱动模块连接。SRAM储存模块H11存储待测液晶屏的出厂屏幕测试数据，触摸烧录微控制器通过AD采集模块获取待测液晶屏的触摸容值，并与出厂屏幕测试数据进行比对分析，会看获取到的待测液晶屏的测试数据是否在出厂给出的数据范围内，如果是，那么本装置会提示OK，如果否，那么就会提示NG。无论测试结合如何，都会将结果生成文件记录存储在SD卡存储模块中。而且在将结果生成文件记录（LOG文件夹里）的过程中，触摸烧录微控制器实时读取RTC实时时间采集模块的时间信息，将文件记录（LOG文件夹里）按照时间顺序存储。
通过上述的装置就可以对液晶屏既进行点亮测试还可以进行触摸烧录方面的测试。降低了液晶屏在生产过程中的成本，且测试起来更加方便。本装置可以连接市面上主流的光学镜头，通过光学镜头采集液晶屏的光学数据并对其进行分析，从而得到液晶屏的最佳Fliker值及Gamma值，然后将Fliker值及Gamma值烧录到液晶屏中，此过程快速准确，大幅提高液晶屏测试效率。
如图2所示，基于上述液晶屏测试及液晶触摸烧录装置，本发明还提出了采用上述装置进行测试的测试方法，包括如下步骤：
步骤1：选择与待测液晶屏相对应的接驳驱动模块，与所述待测液晶屏电连接；
步骤2：是否发送点亮指令；若是则继续下一步骤；若否，则结束测试；
步骤3：测试待测液晶屏的色彩、亮度及显示频率；然后可以选择烧录液晶屏指令之后再进入步骤4，也可以直接进入步骤4；
步骤4：是否发送触摸IC烧录指令；若是则继续下一步骤；若否，则结束测试；
步骤5：触摸IC测试及触摸IC烧录，将测试的结果与原出厂的测试数据进行比对，若在出厂的测试数据范围内，那么说明正常，否则则说明异常，无论是正常还是异常，都会进行相应的提示，例如通过显示屏显示相应的文字来进行提示。
通过上述测试步骤，使液晶屏的点亮测试和触摸烧录都变得十分简单，大大简化了液晶屏的测试工作。
以上具体实施例仅用以举例说明本发明的结构，本领域的普通技术人员在本发明的构思下可以做出多种变形和变化，这些变形和变化均包括在本发明的保护范围之内。
Claims (8)
1.一种液晶屏测试及液晶触摸烧录装置，其特征在于，包括：与待测液晶屏连接的接驳驱动模块，分别控制屏幕点亮和触摸烧录的主控微处理器和触摸烧录微控制器，通过所述主控微处理器控制的FPGA屏幕显示解码模块、EM MC储存模块、SD RAM储存模块，通过所述触摸烧录微控制器控制的AD采集模块、SRAM储存模块、SD卡储存模块和RTC模块，所述主控微处理器与所述接驳驱动模块连接，所述触摸烧录微控制器通过所述AD采集模块与所述接驳驱动模块连接。
2.如权利要求1所述的液晶屏测试及液晶触摸烧录装置，其特征在于，所述接驳驱动模块根据待测液晶屏的接口协议进行更换。
3.如权利要求1所述的液晶屏测试及液晶触摸烧录装置，其特征在于，所述装置还设有USB接口，所述主控微处理器通过USB接口与USB储存模块相连接，所述USB储存模块内储存图片资料和固件升级资料，所述主控微处理器将所述图片资料放入所述SD RAM储存模块，并控制所述FPGA屏幕显示解码模块读取所述图片资料并按照相应的通讯协议转换后，通过接驳驱动模块传递给所述待测液晶屏用于测试屏幕的颜色、亮度、失真和显示频率。
4.如权利要求1所述的液晶屏测试及液晶触摸烧录装置，其特征在于，所述SRAM储存模块存储待测液晶屏的出厂屏幕测试数据，所述触摸烧录微控制器通过AD采集模块获取待测液晶屏的触摸容值，并与所述出厂屏幕测试数据进行比对分析，并将结果生成文件记录存储在SD卡存储模块中。
5.如权利要求4所述的液晶屏测试及液晶触摸烧录装置，其特征在于，在将结果生成文件记录的过程中，所述触摸烧录微控制器实时读取RTC实时时间采集模块的时间信息，将所述文件记录按照时间顺序存储。
6.如权利要求1所述的液晶屏测试及液晶触摸烧录装置，其特征在于，所述主控微处理器采用基于ARM 32-bit Cortex-M7的STM32F746处理器。
7.采用上述任意一项权利要求所述的液晶屏测试及液晶触摸烧录装置进行测试的测试方法，包括如下步骤：
步骤1：选择与待测液晶屏相对应的接驳驱动模块，与所述待测液晶屏电连接；
步骤2：是否发送点亮指令；若是则继续下一步骤；若否，则结束测试；
步骤3：测试待测液晶屏的色彩、亮度及显示频率；
步骤4：是否发送触摸IC烧录指令；若是则继续下一步骤；若否，则结束测试；
步骤5：触摸IC测试及触摸IC烧录。
8.如权利要求7所述的测试方法，其特征在于，在所述步骤3和步骤4之间还存在烧录液晶屏指令。
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