CN201382850Y - 液晶显示模块测试装置 - Google Patents

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Abstract

本实用新型公开了一种液晶显示模块测试装置，包括一处理器，获取测试程序及测试数据，并执行测试程序；一存储器，与处理器连接并存储处理器获取的数据；一测试模块，连接于所述处理器与一待测液晶显示模块之间，在所述处理器控制下测试液晶显示模块的触摸屏和电流，并将测试数据传回处理器；一接口模块，连接于所述处理器与所述液晶显示模块之间，控制液晶显示模块的显示；一驱动模块，连接于所述处理器与所述液晶显示模块之间，在所述处理器控制下选择性驱动所述液晶显示模块的背光器件；和一电源模块，为所述液晶显示模块测试装置提供工作电源。

Description

液晶显示模块测试装置
技术领域
本实用新型涉及一种测试装置，尤其涉及液晶显示模块测试装置。
背景技术
液晶显示模块(Liquid Crystal Module，LCM)的测试系统一般分为中大尺寸和小尺寸两大类。中大尺寸LCM的输入显示信号源已标准化，如VGA、RGB及DVI等，其测试系统使用专用测试设备，一般比较昂贵。对于数码类产品用的小尺寸LCM，其接口类型多样化，有SPI I/F、8/9/16/18-bit System I/F以及RGB I/F等多种接口，并且每一种不同的LCM通常都使用不同的LCD drive，均需要不同的初始化方式，因此中大尺寸的专用测试设备不适用小尺寸LCM的测试，业界通常是由一块普通的单片机(MCU)加一些必须的电源模块和接口IC组成需要价格低廉，通用性强，易于维护的小型测试系统以满足小尺寸LCM的测试要求。
现有的小尺寸LCM测试系统有许多的缺点：其一，因为每个LCM都需要不同的初始化程序，所以需要频繁使用仿真器和烧录器编写变更MCU程序，重复的烧录操作容易导致MCU的引脚损坏或MCU失效，造成测试电路板的损耗；其二，小型测试系统对逐渐发展成为主流的高彩色高解析度LCM的驱动能力有限，测试效率低，LCM多种新技术的应用导致测试系统的通用性差，例如对于触摸屏(Touch Panel，TP)的测试及LED背光恒流驱动等；其三，测试系统保护性能较差，对于错误的LCM接入容易导致系统损坏(MCU、电源模块及接口IC等损坏)或LCM烧毁；其四，现有的测试系统都不能同时兼顾实现LCD driver的读功能。
鉴于以上情况，有必要提供一种新的LCM测试装置，简化其测试程序烧录过程，增强其测试能力。
实用新型内容
本实用新型的技术方案包括：
一种液晶显示模块测试装置，包括：
一处理器，通过串行接口获取测试程序及测试数据，并执行测试程序；
一存储器，与处理器连接并存储处理器获取的数据；
一测试模块，连接于所述处理器与一待测液晶显示模块之间，在所述处理器控制下检测液晶显示模块的触摸屏和电流，并将测试数据传回处理器；
一接口模块，连接于所述处理器与所述液晶显示模块之间，控制液晶显示模块的显示；
一驱动模块，连接于所述处理器与所述液晶显示模块之间，在所述处理器控制下选择性驱动所述液晶显示模块的背光器件；和
一电源模块，为所述液晶显示模块测试装置提供工作电源。
所述的液晶显示模块测试装置，其中，所述处理器通过串行接口从一计算机获取测试程序和测试数据。
所述的液晶显示模块测试装置，其中，所述存储器为闪存。
所述的液晶显示模块测试装置，其中，所述测试模块与所述处理器进行串行通信，其包括一MXB7843芯片和一LM324芯片分别用来检测液晶显示模块的触摸屏和电流。
所述的液晶显示模块测试装置，其中，所述接口模块为一74LVC4245A芯片或74HC573芯片。
所述的液晶显示模块测试装置，其中，所述驱动模块为一MP3204芯片，提供所述液晶显示模块的背光恒流驱动。
本实用新型所提供一种新的所述的液晶显示模块测试装置，其通过串行接口对测试程序和数据进行更新，可检测液晶显示模组的触摸屏和电流，并可读取液晶显示模组并驱动其背光。
附图说明
图1为本实用新型液晶显示模块测试装置较佳实施方式的框图。
具体实施方式
以下结合附图，将对本实用新型的各较佳实施例进行更为详细的说明。
如图1所示，一种液晶显示模块测试装置，包括：一处理器11、一存储器12、一测试模块13、一接口模块14、一驱动模块15及一电源模块16。所述处理器11可通过串行接口获取测试程序及测试数据，并执行测试程序，所述存储器12与处理器11连接并存储处理器11获取的数据，所述测试模块13连接于所述处理器11与一待测液晶显示模块(LCM)20之间，在所述处理器11控制下检测液晶显示模块20的触摸屏(Touch Panel，TP)和电流，并将测试数据传回处理器11，所述接口模块14连接于所述处理器11与所述LCM 20之间，控制LCM 20的显示，所述驱动模块15连接于所述处理器11与LCM 20之间，选择性驱动所述LCM 20的背光器件，所述电源模块为上述各器件提供直流电源。
在本较佳实施方式中，所述存储器12为闪存，所述测试模块13包括一MXB7843芯片和一LM324芯片，所述接口模块14为一74LVC4245A芯片，所述驱动模块15为一MP3204芯片，所述电源模块16为一LM7805芯片。芯片之间的引脚连接关系属于本领域公知技术，在此不再赘述。
作为本实用新型的其它实施方式，所述接口模块也可采用74HC573芯片，所述电源模块16也可为LM317T芯片。
所述液晶显示模块测试装置的工作原理如下：所述处理器11通过RS232串口与一计算机的串行口连接，实现数据及程序的下载更新，下载更新的程序存在处理器11内，数据保存在存储器12内，处理器11通过串行通信(SPI)的方式实现对MXB7843芯片的控制，MXB7843芯片可实现对LCM 20的TP的检测，及联合LM324实现对LCM 20的工作电流进行检测，同时将检测测量结果通过SPI再送回到处理器11，处理器11的程序对反馈数据进行实时处理。
处理器11的数据口连接芯片74LVC4245A，实现电平转换(5V<->3V)及对其显示的控制，74LVC4245A芯片及串联的电阻网络可以实现对I/O口的保护，同时74LVC4245A芯片可实现双向的数据传送，即可实现读LCM 20的功能。MP3204芯片恒流驱动LCM 20的背光器件，处理器11可通过I/O口控制其关断，实现灵活的测试要求。
本实用新型通过计算机软件及MCU软件设定，实现处理器11串行口下载各种LCM测试程序，然后再脱机自动运行，免去频繁拔插IC操作，及烧录器使用，并可方便地调试各种LCM驱动程序，大大降低了维护成本，其次，本实用新型包括测试TP的外围电路，增加恒流驱动背光LED的电路，实现了TP及LED的在线测试，合理安排处理器11的I/O使用，提高了测试效率和通用性。利用TP测试外围电路同时作A/D转换的特点，结合LM324的电流检测，可实现对LCM工作电流的检测、监控，再次、在电源端及I/O端加入IO电平转换IC及限流电阻，可以限制误操作带来的损伤且不影响测试，是一个低成本高效率的电路，最后，加入可选择的双向I/O电路，在需要的读LCM的时候，可以切换成读写结合的模式，方便使用。
应当理解的是，上述针对本实用新型较佳实施例的描述较为详细和具体，并不能因此而认为是对本实用新型专利保护范围的限制，本实用新型的专利保护范围应以所附权利要求为准。

Claims (6)

1、一种液晶显示模块测试装置，包括：
一处理器，获取测试程序及测试数据，并执行测试程序；
一存储器，与处理器连接并存储处理器获取的数据；
一测试模块，连接于所述处理器与一待测液晶显示模块之间，在所述处理器控制下检测液晶显示模块的触摸屏和电流，并将测试数据传回处理器；
一接口模块，连接于所述处理器与所述液晶显示模块之间，控制液晶显示模块的显示；
一驱动模块，连接于所述处理器与所述液晶显示模块之间，在所述处理器控制下选择性驱动所述液晶显示模块的背光器件；和
一电源模块，为所述液晶显示模块测试装置提供工作电源。
2、根据权利要求1所述的液晶显示模块测试装置，其特征在于，所述处理器通过串行接口从一计算机获取测试程序和测试数据。
3、根据权利要求1所述的液晶显示模块测试装置，其特征在于，所述存储器为闪存。
4、根据权利要求1所述的液晶显示模块测试装置，其特征在于，所述测试模块与所述处理器进行串行通信，其包括一MXB7843芯片和一LM324芯片分别用来检测液晶显示模块的触摸屏和电流。
5、根据权利要求1所述的液晶显示模块测试装置，其特征在于，所述接口模块为一74LVC4245A芯片或74HC573芯片。
6、根据权利要求1所述的液晶显示模块测试装置，其特征在于，所述驱动模块为一MP3204芯片，提供所述液晶显示模块的背光恒流驱动。
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Assignee: TCL Display Technology (Huizhou) Co., Ltd.

Assignor: TCL Group Co., Ltd.

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Denomination of utility model: Liquid crystal display module testing device and data transmission method thereof

Granted publication date: 20100113

License type: Exclusive License

Record date: 20110419

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Granted publication date: 20100113

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