CN104505012B - 一种测试系统及使用其的显示装置 - Google Patents

Abstract

本发明提供一种测试系统，包括微控制信号源、现场可编程门阵列。微控制信号源输出微控制信号。现场可编程门阵列包括第一电源引脚、第一接口模块、第二电源引脚、存储控制单元、第二接口模块。第一电源引脚接收第一参考电压。第一接口模块用于输出微控制信号。第二电源引脚接收第二电压源输出的第二参考电压。存储控制单元接收电压值与第一参考电压相同的微控制信号，并将微控制信号的电压值由第一参考电压转换为第二参考电压。第二接口模块输出电压值与第二参考电压相同的微控制信号至驱动模块。第一参考电压大于第二参考电压。本发明还提供一种显示装置。本发明的测试系统及显示装置利用现场可编程门阵列进行电压转换，提高了测试效率。

Description

一种测试系统及使用其的显示装置

技术领域

本发明涉及显示技术领域，特别涉及一种测试系统及使用其的显示装置。

背景技术

随着科技的发展，轻薄、省电的信息产品已经充斥着我们的生活，而显示器则在其间扮演了相当重要的角色，无论是手机、个人数字助理或是笔记型计算机等，均需要显示装置作为人机沟通的平台。液晶显示器因其高集成度、省电、低成本、工艺灵活等优点被广泛应用于显示领域。

目前，现有的手机等小尺寸液晶显示器需求的信号为微控制(Micro ControlUnit，MCU)信号。此外，为了满足现有市场对低功耗产品的需求，液晶显示器的液晶显示驱动模块通常设计为1.8V的低电压接口，以达到降低功耗的目的。因此，在利用MCU信号源输出MCU信号至液晶显示器的驱动模块，以测试液晶显示器显示的画面是否正常时，MCU信号源的接口输出的MCU信号需同样为1.8V，但由于MCU信号源的接口电压与工作频率成正比，这样就造成了MCU信号源的工作频率低，因此其接口输出MCU信号的速率会慢，使得液晶显示器的切换画面的速度低，从而造成测试效率低。

因此，有必要提供改进的技术方案以克服现有技术中存在的以上技术问题。

发明内容

本发明要解决的主要技术问题是提供一种节省功率的同时，提高测试效率的测试系统。

本发明提供一种测试系统，用于对显示器进行测试，所述显示器包括驱动模块，所述测试系统包括微控制信号源、现场可编程门阵列。所述微控制信号源与第一电压源相连，以接收所述第一电压源输出的第一参考电压，所述微控制信号源用于输出电压值与所述第一参考电压相同的微控制信号。所述现场可编程门阵列包括第一电源引脚、第一接口模块、第二电源引脚、存储控制单元及第二接口模块。所述第一电源引脚接收所述第一参考电压。所述第一接口模块与所述微控制信号源及所述第一电压源引脚相连，用于接收所述电压值与所述第一参考电压相同的微控制信号，并将该微控制信号输出至存储控制单元。所述第二电源引脚与第二电压源连通，以接收所述第二电压源输出的第二参考电压。所述存储控制单元与所述第一接口模块相连，用于接收所述电压值与所述第一参考电压相同的微控制信号，并将通过所述第一接口模块接收的微控制信号的电压值由所述第一参考电压转换为所述第二参考电压。所述第二接口模块与所述存储控制单元、所述第二电源引脚及所述驱动模块相连，用于输出所述电压值与所述第二参考电压相同的微控制信号至所述驱动模块。其中，所述第一参考电压大于所述第二参考电压。

本发明还提供一种测试系统，用于对显示器进行测试，所述显示器包括驱动模块，其特征在于，所述测试系统包括微控制信号源、现场可编程门阵列。所述微控制信号源与第一电压源相连，以接收所述第一电压源输出的第一参考电压，所述微控制信号源用于输出电压值与所述第一参考电压相同的初始化信号。所述现场可编程门阵列包括第一电源引脚、第一接口模块、第二电源引脚、存储控制单元及第二接口模块。所述第一电源引脚接收所述第一参考电压。所述第一接口模块与所述微控制信号源及所述第一电压源引脚相连，用于接收电压值与所述第一参考电压相同的初始化信号，并将该初始化信号输出至存储控制单元。所述第二电源引脚与第二电压源连通，以接收所述第二电压源输出的第二参考电压。所述存储控制单元与所述第一接口模块相连，用于接收所述电压值与所述第一参考电压相同的初始化信号，并将通过所述第一接口模块接收的所述初始化信号传输至所述第二接口模块。所述第二接口模块与所述存储控制单元、所述第二电源引脚及所述驱动模块相连，用于输出所述电压值与所述第二参考电压相同的初始化信号至所述驱动模块。

本发明还提供一种显示装置，所述显示装置包括测试系统及显示器。所述测试系统用于对显示器进行测试，所述显示器包括驱动模块，所述测试系统包括微控制信号源、现场可编程门阵列。所述微控制信号源与第一电压源相连，以接收所述第一电压源输出的第一参考电压，所述微控制信号源用于输出电压值与所述第一参考电压相同的微控制信号。所述现场可编程门阵列包括第一电源引脚、第一接口模块、第二电源引脚、存储控制单元及第二接口模块。所述第一电源引脚接收所述第一参考电压。所述第一接口模块与所述微控制信号源及所述第一电压源引脚相连，用于接收所述电压值与所述第一参考电压相同的微控制信号，并将该微控制信号输出至存储控制单元。所述第二电源引脚与第二电压源连通，以接收所述第二电压源输出的第二参考电压。所述存储控制单元与所述第一接口模块相连，用于接收所述电压值与所述第一参考电压相同的微控制信号，并将微控制信号的电压值由所述第一参考电压转换为所述第二参考电压。所述第二接口模块与所述存储控制单元、所述第二电源引脚及所述驱动模块相连，用于输出所述电压值与所述第二参考电压相同的微控制信号至所述驱动模块。其中，所述第一参考电压大于所述第二参考电压。

本发明还提供一种显示装置，所述显示装置包括测试系统及显示器。所述测试系统用于对显示器进行测试，所述显示器包括驱动模块，所述测试系统包括微控制信号源、现场可编程门阵列。所述微控制信号源与第一电压源相连，以接收所述第一电压源输出的第一参考电压，所述微控制信号源用于输出电压值与所述第一参考电压相同的初始化信号。所述现场可编程门阵列包括第一电源引脚、第一接口模块、第二电源引脚、存储控制单元及第二接口模块。所述第一电源引脚接收所述第一参考电压。所述第一接口模块与所述微控制信号源及所述第一电压源引脚相连，用于接收所述电压值与所述第一参考电压相同的初始化信号，并将该初始化信号输出至存储控制单元。所述第二电源引脚与第二电压源连通，以接收所述第二电压源输出的第二参考电压。所述存储控制单元与所述第一接口模块相连，用于接收所述电压值与所述第一参考电压相同的初始化信号，并将通过所述第一接口模块接收的所述初始化信号传输至所述第二接口模块。所述第二接口模块与所述存储控制单元、所述第二电源引脚及所述驱动模块相连，用于输出所述电压值与所述第二参考电压相同的初始化信号至所述驱动模块。

本发明的测试系统及使用其的显示装置利用现场可编程门阵列进行高电压(第一参考电压)到低电压(第二参考电压)的转换，以匹配驱动模块接口的电压，在节省功率的同时，提高了微控制信号源的工作效率，从而提高了测试效率。

附图说明

图1为本发明第一实施方式的测试系统的工作原理示意图。

图2为本发明一实施方式的存储控制单元的模块示意图。

图3为本发明第二实施方式的测试系统的工作原理示意图。

具体实施方式

为更进一步阐述本发明为达成预定发明目的所采取的技术手段及功效，以下结合附图及较佳实施例，对依据本发明提出的液晶显示面板其具体实施方式、方法、步骤、结构、特征及功效，详细说明如后。

有关本发明的前述及其他技术内容、特点与功效，在以下配合参考图式的较佳实施例的详细说明中将可清楚的呈现。通过具体实施方式的说明，当可对本发明为达成预定目的所采取的技术手段及功效得以更加深入且具体的了解，然而所附图式仅是提供参考与说明之用，并非用来对本发明加以限制。

图1为本发明第一实施方式的测试系统的工作原理示意图。图2为本发明第一实施方式的存储控制单元的模块示意图。请同时参阅图1及图2，本发明提供一种测试系统，用于对显示器进行测试，显示器包括驱动模块30，测试系统包括微控制信号源10、现场可编程门阵列(field programmable gate array,FPGA)20。微控制(micro control unit，MCU)信号源10通过开关元件(图中未示出)与第一电压源相连，以接收第一电压源输出的第一参考电压。在本发明一实施方式中，第一参考电压为3.3伏特(V)，当然本领域的技术人员可以理解的是第一参考电压也可以为其它电压值。

其中，MCU信号源10用于输出MCU信号，且MCU信号的电压值与第一参考电压相同。

在本发明一实施方式中，MCU信号源10为MSP430G2553IPW20芯片，当然本领域的技术人员可以理解的是MCU信号源10也可以为其它型号的芯片。

在本发明一实施方式中，MCU信号源10输出的MCU信号包括栅极扫描信号、数据线驱动信号、时序信号等测试用信号。

在本发明一实施方式中，FPGA20与MCU信号源10及驱动模块30相连，用于接收MCU信号源10输出的MCU信号，并将MCU信号源10输出的MCU信号进行电压转换，从而输出与驱动模块30所需电压值匹配的MCU信号。

其中，FPGA20包括第一电源引脚201、第一接口模块202、第二电源引脚203、存储控制单元205及第二接口模块204。其中，第一接口模块202与第二接口模块204的接口标准由其接口电压决定，也就是说，第一接口模块202只能接收与其连接的第一电源引脚201的电压相同的信号。第二接口模块204只能接收与其连接的第二电源引脚203的电压相同的信号。

第一电源引脚201接收与第一参考电压值相同的电压。第一接口模块202与MCU信号源10、第一电源引脚及存储控制单元205相连，用于接收MCU信号源10输出的MCU信号，并将该MCU信号传输至存储控制单元205，且MCU信号的电压值与第一参考电压相同。第二电源引脚203与第二电压源连通，以接收第二电压源输出的第二参考电压。在本发明一实施方式中，第二参考电压为1.8V。

其中，存储控制单元205与第一接口模块202相连，用于接收第一接口模块202输出的MCU信号，并将MCU信号的电压值由第一参考电压转换为第二参考电压。第二接口模块204与存储控制单元205、第二电源引脚203及驱动模块30相连，用于输出电压值与第二参考电压相同的MCU信号至驱动模块30。其中，在本实施方式中，第一参考电压大于第二参考电压。

在本发明第一实施方式中，FPGA20的存储控制单元205包括输入输出模块2051、可编程模块2052。可编程模块2052用于输出第一编程信号。输入输出模块2051包括输入端、控制端及输出端，输入输出模块2051的输入端与第一接口模块202相连，控制端与可编程模块2052相连，以接收可编程模块2052输出的第一编程信号，输入输出模块2051的输出端与第二接口模块204相连。输入输出模块2051用于根据第一编程信号将MCU信号的电压值由第一参考电压转换为第二参考电压。

在本发明一实施方式中，FPGA20为XC3S50AN芯片，但本领域的技术人员可以理解的是，FPGA20也可以为其它包括多个接口模块，且支持第一参考电压与第二参考电压的芯片。

在本发明第一实施方式中，驱动模块30包括MCU接口，MCU接口用于接收MCU信号。

图3为本发明第二实施方式的测试系统的工作原理示意图。请同时参阅图2及图3，FPGA20的存储控制单元205还包括逻辑模块2053、逻辑模块2053与可编程模块2052相连，用于在接收到第二编程信号后，输出逻辑(TTL)信号至第二接口模块204，以通过第二接口模块204传输至驱动模块30。

具体地，FPGA20的存储控制单元205的可编程模块2052输出第二编程信号，MCU信号源10输出初始化信号至第一接口模块202，由FPGA20的存储控制单元205的可编程模块2052输出的第二编程信号控制输入输出模块2051将通过第一接口模块202接收的初始化信号传输至第二接口模块204，同时，FPGA20的第二电源引脚203通过开关元件(图中未示出)连通逻辑(TTL)信号电压源，以接收第二参考电压。在本发明一实施方式中，第二参考电压为3.3V。

在本发明第二实施方式中，驱动模块30包括逻辑接口、初始化接口。逻辑接口用于接收逻辑模块2053输出的TTL信号。初始化接口用于接收初始化信号。

本发明的测试系统既能输出MCU信号至驱动模块30以测试显示器的显示画面是否异常，又能根据需要输出TTL信号至驱动模块30以测试显示器的显示画面是否异常，在需要输出TTL信号时，只需要将第二电源引脚203通过开关元件连接至TTL信号源电压，同时将MCU信号源产生的初始化信号由第一接口模块202通过存储控制单元205输送至第二接口模块204，然后由第二接口模块204输送至驱动模块的初始化接口，即能实现输出TTL信号至驱动模块，通用性高。

本发明还提供一种显示装置，显示装置包括测试系统及显示器。测试系统用于对显示器进行测试，显示器包括驱动模块30，测试系统包括MCU信号源10、FPGA20。MCU信号源10与第一电压源相连，以接收第一电压源输出的第一参考电压，MCU信号源10输出MCU信号，所述MCU信号的电压值与第一参考电压相同。FPGA20包括第一电源引脚201、第一接口模块202、第二电源引脚203、存储控制单元205及第二接口模块204。第一电源引脚201接收与第一参考电压值相同的电压。第一接口模块202与MCU信号源10及第一电压源引脚相连，用于接收电压值与第一参考电压相同的MCU信号并将其传输至存储控制单元205。第二电源引脚203与第二电压源连通，以接收第二电压源输出的第二参考电压。存储控制单元205与第一接口模块202相连，用于接收电压值与第一参考电压相同的MCU信号，并将MCU信号的电压值由第一参考电压转换为第二参考电压。第二接口模块204与存储控制单元205、第二电源引脚203及驱动模块30相连，用于输出电压值与第二参考电压相同的MCU信号至驱动模块30。其中，在本实施例中，第一参考电压大于第二参考电压。

本发明还提供一种显示装置，显示装置包括测试系统及显示器。测试系统用于对显示器进行测试，显示器包括驱动模块30，测试系统包括初始化信号源10、FPGA20。初始化信号源10与第一电压源相连，以接收第一电压源输出的第一参考电压，初始化信号源10用于输出电压值与第一参考电压相同的初始化信号。FPGA20包括第一电源引脚201、第一接口模块202、第二电源引脚203、存储控制单元205及第二接口模块204。第一电源引脚201接收与第一参考电压值相同的电压。第一接口模块202与初始化信号源10及第一电压源引脚相连，用于接收初始化信号源输出的初始化信号并将其传输至存储控制单元205。第二电源引脚203与第二电压源连通，以接收第二电压源输出的第二参考电压。存储控制单元205与第一接口模块202相连，用于接收电压值与第一参考电压相同的初始化信号，并将通过第一接口模块202接收的初始化信号传输至第二接口模块204。第二接口模块204与存储控制单元205、第二电源引脚203及驱动模块30相连，用于输出电压值与第二参考电压相同的初始化信号至驱动模块30。其中，在本实施例中，第一参考电压等于第二参考电压的电压值。

本发明的测试系统及使用其的显示装置利用可编程门阵列20进行高电压(第一参考电压)到低电压(第二参考电压)的转换，以匹配驱动模块30的MCU接口的电压，在节省功率的同时，提高了MCU信号源10的工作效率，从而提高了测试效率。

以上所述，仅是本发明的较佳实施例而已，并非对本发明作任何形式上的限制，虽然本发明已以较佳实施例揭露如上，然而并非用以限定本发明，任何熟悉本专业的技术人员，在不脱离本发明技术方案范围内，当可利用上述揭示的技术内容作出些许更动或修饰为等同变化的等效实施例，但凡是未脱离本发明技术方案内容，依据本发明的技术实质对以上实施例所作的任何简单修改、等同变化与修饰，均仍属于本发明技术方案的范围内。

Claims (10)

1.一种测试系统，用于对显示器进行测试，所述显示器包括驱动模块，其特征在于，所述测试系统包括：

微控制信号源，与第一电压源相连，以接收所述第一电压源输出的第一参考电压，所述微控制信号源用于输出电压值与所述第一参考电压相同的微控制信号；及

现场可编程门阵列，所述现场可编程门阵列包括：

第一电源引脚，接收所述第一参考电压；

第一接口模块，与所述微控制信号源及所述第一电压源引脚相连，用于接收所述电压值与所述第一参考电压相同的微控制信号，并将该微控制信号输出至存储控制单元；

第二电源引脚，与第二电压源连通，以接收所述第二电压源输出的第二参考电压；

存储控制单元，与所述第一接口模块相连，用于接收所述电压值与所述第一参考电压相同的微控制信号，并将通过所述第一接口模块接收的微控制信号的电压值由所述第一参考电压转换为所述第二参考电压；及

第二接口模块，与所述存储控制单元、所述第二电源引脚及所述驱动模块相连，用于输出所述电压值与所述第二参考电压相同的微控制信号至所述驱动模块；

其中，所述第一参考电压大于所述第二参考电压。

2.如权利要求1所述的测试系统，其特征在于，所述现场可编程门阵列的存储控制单元包括：

可编程模块，用于输出第一编程信号；

输入输出模块，包括输入端、控制端及输出端，所述输入输出模块的输入端与所述第一接口模块相连，所述控制端与所述可编程模块相连，所述输入输出模块的输出端与所述第二接口模块相连，所述输入输出模块用于将所述微控制信号的电压值由所述第一参考电压转换为所述第二参考电压。

3.如权利要求1所述的测试系统，其特征在于，所述驱动模块包括：

微控制接口，用于接收由所述第二接口模块输出的所述微控制信号。

4.一种测试系统，用于对显示器进行测试，所述显示器包括驱动模块，其特征在于，所述测试系统包括：

微控制信号源，与第一电压源相连，以接收所述第一电压源输出的第一参考电压，所述微控制信号源用于输出电压值与所述第一参考电压相同的初始化信号；及

现场可编程门阵列，所述现场可编程门阵列包括：

第一电源引脚，接收所述第一参考电压；

第一接口模块，与所述微控制信号源及所述第一电压源引脚相连，用于接收所述电压值与所述第一参考电压相同的初始化信号，并将该初始化信号输出至存储控制单元；

第二电源引脚，与第二电压源连通，以接收所述第二电压源输出的第二参考电压；

存储控制单元，与所述第一接口模块相连，用于接收所述电压值与所述第一参考电压相同的初始化信号，并将通过所述第一接口模块接收的所述初始化信号传输至第二接口模块；及

第二接口模块，与所述存储控制单元、所述第二电源引脚及所述驱动模块相连，用于输出所述电压值与所述第二参考电压相同的初始化信号至所述驱动模块。

5.如权利要求4所述的测试系统，其特征在于，所述现场可编程门阵列的存储控制单元包括：

可编程模块，用于输出第二编程信号；

输入输出模块，包括输入端、控制端及输出端，所述输入输出模块的输入端与所述第一接口模块相连，所述控制端与所述可编程模块相连，所述输入输出模块的输出端与所述第二接口模块相连，所述输入输出模块用于将通过所述第一接口模块接收的所述初始化信号传输至所述第二接口模块。

6.如权利要求5所述的测试系统，其特征在于，所述现场可编程门阵列的第二电源引脚接收的所述第二参考电压与所述第一参考电压的电压值相同。

7.如权利要求5所述的测试系统，其特征在于，所述现场可编程门阵列的存储控制单元还包括：

逻辑模块，与所述可编程模块相连，用于在接收到所述第二编程信号后，输出逻辑信号至所述第二接口模块。

8.如权利要求7所述的测试系统，其特征在于，所述驱动模块包括：

逻辑接口，用于接收所述逻辑模块输出的逻辑信号。

9.如权利要求8所述的测试系统，其特征在于，所述驱动模块还包括：

初始化接口，用于接收由所述第二接口模块输出的所述初始化信号。

10.一种显示装置，其特征在于，包括如权利要求1至9任意一项所述的测试系统。