CN207397670U - 显示面板测试装置 - Google Patents

Abstract

本申请公开了显示面板测试装置，其特征在于，包括：检测模块，检测通过多条通道输入的LVDS信号，以及根据检测结果输出控制信号；信号转换模块，接收所述多条通道传输的LVDS信号，将所述多条通道的LVDS信号转换成预定协议的接口信号；以及第一供电模块，根据所述检测模块输出的所述控制信号产生供电电压。其中，所述显示面板接收所述供电电压以及所述接口信号，显示测试图像。本实用新型提供一种机台与外接电源皆由机台控制的显示面板测试装置，既完成对不同接口显示面板的测试，又使得显示面板在更换时无带电插拔风险。优选地，接入同步模块，在上述测试装置达到的有益效果基础上降低了测试装置的损耗。

Description

显示面板测试装置

技术领域

本实用新型涉及显示测试技术领域，更具体地，涉及显示面板测试装置。

背景技术

液晶显示装置(Liquid Crystal Display，LCD)在出厂前，必须进行点灯测试，以保证其显示品质。测试时，将供电电压以及与显示面板的接口相匹配的接口信号提供给显示面板，显示面板在接收到接口信号后显示与该接口信号对应的画面。现有的测试装置除光学机台供电外一般都需要外接电源，主要对显示面板供电。由于目前的液晶显示装置不支持带电插拔，因此更换待测显示面板时需断开测试装置的所有电源以保证无任何信号和电压输出。

图1示出现有技术的显示面板测试装置的模块示意图。如图1所示，测试装置包括机台10、第一电源31、开关21、信号转换模块40以及显示面板50。第一电源31作为外接电源通过开关21控制提供主要供电电压VDD至显示面板50。目前显示面板50的接口采用LVDS(Low Voltage Differential Signaling，低压差分信号)、MIPI(Mobile IndustryProcessor Interface，移动产业处理器接口)、eDP(embedded Display Port，内部数字接口)以及TTL(Transistor-Transistor Logic，晶体管-晶体管逻辑电平)接口。机台10输出LVDS信号通过信号转换模块40转换为预定协议的接口信号，输入至显示面板50以实现对不同接口显示面板的测试。接口信号包括MIPI信号、eDP信号、LVDS信号以及TTL信号。

现有技术中测试装置可以实现对不同接口显示面板的测试。然而机台与外接电源各自独立控制，在测试中，更换显示面板时需要同时断开开关以及机台，仅断开机台更换显示面板，带电插拔有可能造成显示面板损坏，增加成本。

因此，有必要提供一种显示面板测试装置以克服现有技术中存在的以上技术问题。

实用新型内容

本实用新型要解决的主要技术问题是提供一种机台与外接电源皆由机台控制的显示面板测试装置，既完成对不同接口显示面板的测试，并且更换显示面板时，显示面板无带电插拔风险。

根据本实用新型，提供了一种显示面板测试装置，其特征在于，包括：检测模块，检测通过多条通道输入的LVDS信号，以及根据检测结果输出控制信号；信号转换模块，接收所述多条通道传输的LVDS信号，将所述多条通道的LVDS信号转换成预定协议的接口信号；以及第一供电模块，根据所述检测模块输出的所述控制信号产生供电电压。其中，所述检测模块一端与机台连接，另一端连接所述信号转换模块和所述第一供电模块；所述信号转换模块和所述第一供电模块的一端与显示面板相连接，为所述显示面板提供所述接口信号和所述供电电压，用于显示测试图像。

优选地，所述检测模块还包括：多个检测单元，所述每条通道上设置一个检测单元，产生一个检测信号；以及或门，或门输入端接收所述多个检测单元输出的多个检测信号，或门的输出端输出控制信号。

优选地，所述第一供电模块包括：电源管理模块，用于根据所述控制信号产生多个使能信号；以及第一电源，接收所述电源管理模块输出的多个使能信号，根据所述多个使能信号产生与之对应的所述供电电压输出至显示面板。

优选地，所述预定协议包括MIPI协议、eDP协议、LVDS协议以及 TTL协议。

优选地，所述供电电压与所述接口信号匹配，所述供电电压包括第一供电电压、第二供电电压、第三供电电压以及第四供电电压。

优选地，所述使能信号包括第一使能信号、第二使能信号、第三使能信号以及第四使能信号。

优选地，所述测试装置还包括：同步模块，接收所述检测模块输出的所述控制信号以及所述LVDS信号，根据所述控制信号控制所述LVDS 信号输出至信号转换模块，用于同步控制产生所述供电电压和所述接口信号。

优选地，所述同步包括：延时模块，根据所述控制信号产生第五使能信号；以及信号控制模块，接收所述第五使能信号控制所述LVDS信号输出。

优选地，所述第五使能信号为高电平或低电平时所述LVDS信号输出或不输出至所述信号转换模块。

相较于现有技术，本实用新型提供一种机台与外接电源皆由机台控制的显示面板测试装置，既完成对不同接口显示面板的测试，并且更换显示面板时，显示面板无带电插拔风险。优选地，接入同步模块，在上述测试装置达到的有益效果基础上降低了测试装置的无效损耗。

附图说明

通过以下参照附图对本实用新型实施例的描述，本实用新型的上述以及其他目的、特征和优点将更为清楚，在附图中：

图1示出现有技术的显示面板测试装置的模块示意图。

图2示出本实用新型第一实施例的显示面板测试装置的模块示意图。

图3示出本实用新型第一实施例的显示面板测试装置的示意图。

图4示出本实用新型第二实施例的显示面板测试装置的示意图。

具体实施方式

以下将参照附图更详细地描述本实用新型。在各个附图中，相同的元件采用类似的附图标记来表示。为了清楚起见，附图中的各个部分没有按比例绘制。此外，可能未示出某些公知的部分。

在下文中描述了本实用新型的许多特定的细节，例如器件的结构、材料、尺寸、处理工艺和技术，以便更清楚地理解本实用新型。但正如本领域的技术人员能够理解的那样，可以不按照这些特定的细节来实现本实用新型。

本实用新型可以以各种形式呈现，以下将描述其中一些实施例。

图2示出本实用新型第一实施例的显示面板测试装置的模块示意图。如图2所示，第一实施例的测试装置包括机台10、检测模块20、第一供电模块30、信号转换模块40以及显示面板50。检测模块20一端与机台 10相连接，另一端连接有信号转换模块40和第一供电模块30。信号转换模块40一端与显示面板50相连接，第一供电模块30的一端与显示面板50相连接。具体地，机台10经由通道输出LVDS信号通过信号转换模块40转换为预定协议的接口信号，输入至显示面板50以实现对不同接口显示面板的测试。预定协议包括MIPI协议、eDP协议、LVDS协议以及TTL协议。接口信号包括MIPI信号、eDP信号、LVDS信号以及 TTL信号。检测模块20检测通道有无LVDS信号传输，并输出控制信号S，第一供电模块30根据控制信号S输出适应与不同接口显示面板 50的主要供电电压。显示面板50接收与待测显示面板相匹配的供电电压和接口信号，显示测试图像完成测试。

结合图3示出的第一实施例的显示面板测试装置示意图。检测模块 20包括n个检测单元和一个多路输入逻辑器件或门，n个检测单元位于机台10和信号转换模块40之间的通道1至通道n上。机台10输出的 LVDS信号经由通道1、通道2、通道3等n条通道通过检测模块的n个检测单元分别输出至信号转换模块40，信号转换模块40的解码器接收 LVDS信号生成TTL信号传输至编码器根据不同预设协议输出MIPI信号、eDP信号、LVDS信号或者TTL信号至显示面板50。机台10输出的LVDS信号经由通道1、通道2、通道3等n条通道通过检测模块的n 个检测单元检测依次输出检测信号S1至检测信号Sn，并输入至或门的输入端，或门输出端输出控制信号S至第一供电模块30。第一供电模块 30包括电源管理模块32以及第一电源31，电源管理模块32根据控制信号S生成使能信号，使能信号包括第一使能信号EN1、第二使能信号EN2、第三使能信号EN3以及第四使能信号EN4。第一电源31根据接收的使能信号输出对应的供电电压至显示模板50。供电电压包括第一供电电压 VDD1、第二供电电压VDD2、第三供电电压VDD3以及第四供电电压 VDD4。

根据待测显示面板50的接口类型，机台10在对应通道内传输LVDS 信号。信号转换模块40根据预设协议生成MIPI信号、eDP信号、LVDS 信号以及TTL信号四者之一输出至显示面板50；检测模块20经由检测单元输出的检测信号通过或门逻辑运算输出控制信号S，第一供电模块根据控制信号S生成对应的使能信号使能输出对应的一个供电电压 VDD1/VDD2/VDD3/VDD4至显示面板50，完成对显示面板的测试。机台与外接电源皆由机台控制。更换显示面板时，机台关闭，通道内无 LVDS信号传输，第一电源31不提供供电电压，显示面板50无接口信号和供电电压输入，显示面板无带电插拔风险。

图4示出本实用新型第二实施例的显示面板测试装置的示意图。如图4所示，第二实施例的测试装置包括机台10、检测模块20、第一供电模块30、信号转换模块40、同步模块67以及显示面板50。进一步，同步模块67包括延时模块60以及信号控制模块70。检测模块20包括n 个检测单元和一个多路输入逻辑器件或门，n个检测单元位于机台10和信号转换模块40之间的通道1至通道n上。机台10输出的LVDS信号经由通道1、通道2、通道3等n条通道通过检测模块的n个检测单元输出至同步模块67的信号控制模块70；机台10输出的LVDS信号经由通道1、通道2、通道3等n条通道通过检测模块的n个检测单元检测依次输出检测信号S1至检测信号Sn，并输入至或门的输入端，或门输出端输出控制信号S至同步模块67的延时模块60以及第一供电模块30。延时模块60根据控制信号产生第五使能信号EN5，信号控制模块70根据第五使能信号EN5使能控制接收到的LVDS信号输出至信号转换模块 40。信号转换模块40的解码器接收LVDS信号生成TTL信号传输至编码器根据不同预设协议输出MIPI信号、eDP信号、LVDS信号或者TTL 信号至显示面板50。第一供电模块30包括电源管理模块32以及第一电源31，电源管理模块32根据控制信号S生成使能信号，使能信号包括第一使能信号EN1、第二使能信号EN2、第三使能信号EN3以及第四使能信号EN4。第一电源31根据接收的使能信号输出对应的供电电压至显示模板50。供电电压包括第一供电电压VDD1、第二供电电压VDD2、第三供电电压VDD3以及第四供电电压VDD4。

第二实施例的测试装置在第一实施例的测试装置的基础上连接同步模块67，通过控制信号S控制延时模块60进一步通过第五使能信号EN5 使能信号控制模块70，当第五使能信号EN5为1时，LVDS信号通过信号控制模块70输出；当第五使能信号EN5为0时，LVDS信号不通过信号控制模块70输出，从而使得输入至显示面板50的接口信号与供电电压由机台同步控制。更换显示面板时，显示面板无带电插拔风险，且降低了测试装置的无效损耗。

应当说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。

依照本实用新型的实施例如上文，这些实施例并没有详尽叙述所有的细节，也不限制该实用新型仅为具体实施例。显然，根据以上描述，可作很多的修改和变化。本说明书选取并具体描述这些实施例，是为了更好地解释本实用新型的原理和实际应用，从而使所属技术领域技术人员能很好地利用本实用新型以及在本实用新型基础上的修改使用。本实用新型仅受权利要求书及其全部范围和等效物的限制。

Claims (9)

1.一种显示面板测试装置，其特征在于，包括：

检测模块，检测通过多条通道输入的LVDS信号，以及根据检测结果输出控制信号；

信号转换模块，接收所述多条通道传输的LVDS信号，将所述多条通道的LVDS信号转换成预定协议的接口信号；以及

第一供电模块，根据所述检测模块输出的所述控制信号产生供电电压；

其中，所述检测模块一端与机台连接，另一端连接所述信号转换模块和所述第一供电模块；所述信号转换模块和所述第一供电模块的一端与显示面板相连接，为所述显示面板提供所述接口信号和所述供电电压，用于显示测试图像。

2.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述检测模块还包括：

多个检测单元，每条通道上设置一个检测单元，产生一个检测信号；以及

或门，或门输入端接收所述多个检测单元输出的多个检测信号，或门的输出端输出控制信号。

3.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述第一供电模块包括：

电源管理模块，用于根据所述控制信号产生多个使能信号；以及

第一电源，接收所述电源管理模块输出的多个使能信号，根据所述多个使能信号产生与之对应的所述供电电压输出至显示面板。

4.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述预定协议包括MIPI协议、eDP协议、LVDS协议以及TTL协议。

5.根据权利要求3所述的测试装置，其特征在于，所述供电电压与所述接口信号匹配，所述供电电压包括第一供电电压、第二供电电压、第三供电电压以及第四供电电压。

6.根据权利要求3所述的测试装置，其特征在于，所述使能信号包括第一使能信号、第二使能信号、第三使能信号以及第四使能信号。

7.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述测试装置还包括：

同步模块，接收所述检测模块输出的所述控制信号以及所述LVDS信号，根据所述控制信号控制所述LVDS信号输出至信号转换模块，用于同步控制产生所述供电电压和所述接口信号。

8.根据权利要求7所述的测试装置，其特征在于，所述同步模块包括：

延时模块，根据所述控制信号产生第五使能信号；以及

信号控制模块，接收所述第五使能信号控制所述LVDS信号输出。

9.根据权利要求8所述的测试装置，其特征在于，所述第五使能信号为高电平或低电平时所述LVDS信号输出或不输出至所述信号转换模块。