CN107369402A - 一种显示面板、其检测方法及显示装置 - Google Patents
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 title claims abstract description 94
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims abstract description 95
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 31
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims description 10
- 238000003556 assay Methods 0.000 claims description 8
- 238000005530 etching Methods 0.000 claims description 3
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 abstract 1
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 abstract 1
- 239000010408 film Substances 0.000 description 9
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 7
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 6
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 5
- 238000000034 method Methods 0.000 description 4
- YKKYCYQDUUXNLN-UHFFFAOYSA-N 2,4-dichloro-1-(2-chlorophenyl)benzene Chemical compound ClC1=CC(Cl)=CC=C1C1=CC=CC=C1Cl YKKYCYQDUUXNLN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N Silver Chemical compound [Ag] BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 3
- 239000003292 glue Substances 0.000 description 3
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 3
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 3
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 3
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000004332 silver Substances 0.000 description 3
- ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N Tin Chemical compound [Sn] ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000005684 electric field Effects 0.000 description 2
- 229910003437 indium oxide Inorganic materials 0.000 description 2
- PJXISJQVUVHSOJ-UHFFFAOYSA-N indium(iii) oxide Chemical compound [O-2].[O-2].[O-2].[In+3].[In+3] PJXISJQVUVHSOJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000007747 plating Methods 0.000 description 2
- 241000208340 Araliaceae Species 0.000 description 1
- 235000005035 Panax pseudoginseng ssp. pseudoginseng Nutrition 0.000 description 1
- 235000003140 Panax quinquefolius Nutrition 0.000 description 1
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 description 1
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 description 1
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 1
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 1
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 1
- 210000002858 crystal cell Anatomy 0.000 description 1
- 230000005611 electricity Effects 0.000 description 1
- 238000005265 energy consumption Methods 0.000 description 1
- 235000008434 ginseng Nutrition 0.000 description 1
- AMGQUBHHOARCQH-UHFFFAOYSA-N indium;oxotin Chemical compound [In].[Sn]=O AMGQUBHHOARCQH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- MRNHPUHPBOKKQT-UHFFFAOYSA-N indium;tin;hydrate Chemical compound O.[In].[Sn] MRNHPUHPBOKKQT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000012528 membrane Substances 0.000 description 1
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 238000000059 patterning Methods 0.000 description 1
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 1
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
- G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
- G09G3/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
- G09G3/006—Electronic inspection or testing of displays and display drivers, e.g. of LED or LCD displays
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- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
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- Theoretical Computer Science (AREA)
- Control Of Indicators Other Than Cathode Ray Tubes (AREA)
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Abstract
本发明公开了一种显示面板、其检测方法及显示装置，该显示面板，包括：阵列基板，以及与阵列基板相对设置的对向基板；其中，对向基板背离阵列基板的一侧设有屏蔽层，阵列基板的台阶区包括：检测点、接地点、与检测点相连的参考端子、与接地点相连的接触端子以及与检测点相连的检测电路；屏蔽层通过导电胶分别与接触端子和参考端子相连；检测电路，用于检测检测点的电位，将检测点的电位与预设阈值比较；若检测点的电位小于预设阈值，则存在与屏蔽层接触良好的接触端子；若检测点的电位大于预设阈值，则不存在与屏蔽层接触良好的接触端子，实现了自动检测屏蔽层与接触端子的接触状态，不需要外部测试设备，简化检测流程，节省检测成本。
Description
技术领域
本发明涉及显示技术领域，尤指一种显示面板、其检测方法及显示装置。
背景技术
液晶显示器(Liquid Crystal Display，LCD)具有体积小、功耗低以及无辐射等优点，在当前的平板显示器市场中占据了主导地位，广泛应用于台式电脑、笔记本电脑、个人数字助理(Personal Digital Assistant，PDA)、手机、电视、监视器等领域。
现有技术中，如图1所示，为了屏蔽外界电场对液晶盒内电场的影响，一般会在彩膜基板远离液晶层的一侧镀上一层导电膜作为屏蔽层12，例如镀一层氧化铟锡(Indiumtin oxide，ITO)薄膜，该屏蔽层12与阵列基板11上的接地点15连接，因而可以将外界电荷通过接地点15导走。参照图1，在阵列基板11的台阶区(如图1中区域B)，包括：柔性电路板17(Flexible Printed Circuit，FPC)，连接器18(FPC CNT)，集成芯片16(IC)以及至少一个接触端子13(pad)，一般在柔性电路板17上或其他位置会设置接地点15，接触端子13与接地点15电信号连接。彩膜基板上的屏蔽层12通过导电胶14(例如导电银胶)与接触端子13连接，以使屏蔽层12与接地点15导通，从而将外界电荷导走。
但是，在正常产线实际取片或组装过程中，连接屏蔽层与接触端子的导电胶容易出现断裂或破损，导致累积在屏蔽层上的静电难以导走，从而影响盒内液晶的偏转，影响显示面板的正常显示，出现显示异常。
因此，如何自动检测屏蔽层与接触端子的接触状态是继续解决的技术问题。
发明内容
本发明实施例提供一种显示面板、其检测方法及显示装置，用以解决现有技术中存在的无法自动检测屏蔽层与接触端子的接触状态的问题。
第一方面，本发明实施例提供了一种显示面板，包括：阵列基板，以及与所述阵列基板相对设置的对向基板；其中，
所述对向基板背离所述阵列基板的一侧设有屏蔽层，所述阵列基板，包括显示区，以及位于所述显示区的一侧相对于所述对向基板向外延伸的台阶区；
所述台阶区包括：检测点、接地点、与所述检测点相连的参考端子、与所述接地点相连的接触端子以及与所述检测点相连的检测电路；
所述屏蔽层通过导电胶分别与所述接触端子和所述参考端子相连；
所述检测电路，用于检测所述检测点的电位，将所述检测点的电位与预设阈值比较；若所述检测点的电位小于所述预设阈值，则存在与所述屏蔽层接触良好的所述接触端子；若所述检测点的电位大于所述预设阈值，则不存在与所述屏蔽层接触良好的所述接触端子。
第二方面，本发明实施例提供了一种上述显示面板的检测方法，包括：
控制检测电路检测检测点的电位；
控制所述检测电路将所述检测点的电位与预设阈值比较；若所述检测点的电位小于所述预设阈值，则存在与所述屏蔽层接触良好的所述接触端子；若所述检测点的电位大于所述预设阈值，则不存在与所述屏蔽层接触良好的所述接触端子。
第三方面，本发明实施例提供了一种显示装置，包括：上述显示面板。
本发明有益效果如下：
本发明实施例提供的显示面板、其检测方法及显示装置，该显示面板，包括：阵列基板，以及与阵列基板相对设置的对向基板；其中，对向基板背离阵列基板的一侧设有屏蔽层，阵列基板，包括显示区，以及位于显示区的一侧相对于对向基板向外延伸的台阶区；台阶区包括：检测点、接地点、与检测点相连的参考端子、与接地点相连的接触端子以及与检测点相连的检测电路；屏蔽层通过导电胶分别与接触端子和参考端子相连；检测电路，用于检测检测点的电位，将检测点的电位与预设阈值比较；若检测点的电位小于预设阈值，则存在与屏蔽层接触良好的接触端子；若检测点的电位大于预设阈值，则不存在与屏蔽层接触良好的接触端子。本发明实施例提供的显示面板，通过设置检测电路检测检测点的电位，并将检测点的电位与阈值比较，实现了自动检测屏蔽层与接触端子的接触状态，不需要外部测试设备，简化检测流程，节省检测成本。
附图说明
图1为现有技术中显示面板的结构示意图；
图2a为本发明实施例提供的显示面板的结构示意图之一；
图2b为本发明实施例提供的显示面板的立体结构示意图；
图3a为本发明实施例中屏蔽层与接触端子接触良好时的等效电路图；
图3b为本发明实施例中屏蔽层与接触端子接触不良时的等效电路图；
图4a为本发明实施例中接触端子为两个时的等效电路图；
图4b为本发明实施例中接触端子为三个时的等效电路图；
图5为本发明实施例中参考端子与开关连接时的等效电路图；
图6a为本发明实施例中显示面板的结构示意图之二；
图6b为本发明实施例中显示面板的结构示意图之三；
图6c为本发明实施例中显示面板的结构示意图之四；
图7为本发明实施例提供的上述显示面板的检测方法的流程图；
图8为本发明实施例提供的显示面板的结构示意图；
其中，11、阵列基板；12、屏蔽层；13、接触端子；14、导电胶；15、接地点；16、集成芯片；17、柔性电路板；18、连接器；19、对向基板；21、检测点；22、参考端子；23、检测电路；231、对比电阻；232、电位检测模块；233、状态暂存器；24、电源输入端；25、等效电阻；26、开关。
具体实施方式
针对现有技术中存在的无法自动检测屏蔽层与接触端子的接触状态的问题，本发明实施例提供了一种显示面板、其检测方法及显示装置。
下面结合附图，对本发明实施例提供的显示面板、其检测方法及显示装置的具体实施方式进行详细地说明。附图中各结构的厚度和形状不反映真实比例，目的只是示意说明本发明内容。
本发明实施例提供了一种显示面板，如图2a所示，包括：阵列基板11，以及与阵列基板11相对设置的对向基板；其中，
对向基板背离阵列基板11的一侧设有屏蔽层12，阵列基板11，包括显示区，以及位于显示区的一侧相对于对向基板向外延伸的台阶区；
台阶区包括：检测点21、接地点15、与检测点21相连的参考端子22、与接地点15相连的接触端子13以及与检测点21相连的检测电路23；
屏蔽层12通过导电胶14分别与接触端子13和参考端子22相连；
检测电路23，用于检测检测点21的电位，将检测点21的电位与预设阈值比较；若检测点21的电位小于预设阈值，则存在与屏蔽层12接触良好的接触端子13；若检测点21的电位大于预设阈值，则不存在与屏蔽层12接触良好的接触端子13。
本发明实施例提供的显示面板，通过设置检测电路检测检测点的电位，并将检测点的电位与阈值比较，若检测点的电位小于预设阈值，则存在与屏蔽层接触良好的接触端子；若检测点的电位大于预设阈值，则不存在与屏蔽层接触良好的接触端子，因而实现了自动检测屏蔽层与接触端子的接触状态，无需通过外部测试设备来检测屏蔽层与接触端子的接触状态，因而可以避免外部测试设备的探针与接触端子接触，导致接触端子受到损伤，此外，还可以降低检测成本，适合生产线批量流片生产。
在实际应用中，参照图1和图2a，一般会在对向基板远离阵列基板11的表面镀上一层导电膜作为屏蔽层12，例如镀一层氧化铟锡(ITO)薄膜，图中，由于屏蔽层12覆盖了整个对向基板，因此图中未示出对向基板，在实际应用中，屏蔽层12也可以设置为具有图案的膜层，例如可以设置多个屏蔽电极构成屏蔽层12。屏蔽层12与阵列基板11上的接地点15连接，可以将外界电荷通过接地点15导走，具体地，一般在阵列基板11上会设置接地点15，例如将接地点15设置在柔性电路板17内部或其他位置，接触端子13与接地点15电性连接，对向基板上的屏蔽层12通过导电胶14(例如导电银胶)与接触端子13连接，以使屏蔽层12与接地点15导通，从而将外界电荷导走。
图2b为对应于图2a的立体结构示意图，从图2b中可以明显看出，接触端子13位于阵列基板11靠近对向基板19的一侧，而屏蔽层12位于对向基板19远离阵列基板11的一侧，可以通过导电胶14实现屏蔽层12与接触端子13之间的电连接，导电胶14可以是例如导电银胶等具有一定粘性的导电物质。
在本发明实施例中，由于屏蔽层12通过导电胶14与接触端子13连接，导电胶14是决定屏蔽层12与接触端子13的接触状态的重要因素，因此，屏蔽层12与接触端子13接触不良也可以理解为导电胶14接触不良或导电胶14断裂，屏蔽层12与基础端子接触良好也可以理解为导电胶14接触良好。
如图1和图2a所示，阵列基板11，包括显示区(区域A)，以及位于显示区的一侧相对于对向基板向外延伸的台阶区(区域B)，一般与对向基板相对的区域为显示区，相对于对向基板向外延伸的区域为台阶区。
在具体实施时，至少设置一个接触端子与屏蔽层连接，为了增强屏蔽层的可靠性，可以设置多个接触端子与屏蔽层连接，例如两个、三个或更多个，此处不对接触端子的数量进行限定，在本发明实施例中，通过接触端子分别与屏蔽层和接地点连接，用来将屏蔽层上的外界电荷通过接地点导走，为了检测屏蔽层与接触端子之间的接触状态，以其中一个接触端子作为参考端子，用来检测屏蔽层与接触端子之间的接触状态，在检测完成后也可以将参考端子再作为接触端子，即在检测完成后可以将参考端子设置为与接地点连接，将屏蔽层上的电荷导走，在具体实施时，可以通过开关连接参考端子与接地点，在检测时该开关断开，检测完成后该开关闭合。
如图2a所示，图中以连接参考端子22的导线与检测电路23的连接点作为检测点21进行示意，检测点21可以是参考端子22与检测电路23之间的任意一个点，此处不做限定。图中，接触端子13与接地点15并没有直接相连，在具体实施时，可以通过位于接触端子13之下的其他膜层间距与接地点15连接，只要接触端子13与接地点15电性连接即可。
检测电路23通过检测检测点21处的电位来判断屏蔽层12与接触端子13之间的接触状态，具体通过将检测点21的电位与预设阈值比较，来判断是否存在与屏蔽层12接触良好的接触端子13，预设阈值的具体数值可以结合检测电路23的具体结构来设置。
进一步地，本发明实施例提供的上述显示面板中，如图3a所示，阵列基板11的台阶区还可以包括：电源输入端24；
检测电路23，包括：对比电阻231和电位检测模块232；
对比电阻231的一端与电源输入端24相连，另一端与电位检测模块232的输入端相连；
电位检测模块232与检测点21连接，用于检测检测点21的电位。
图3a中，以包含一个参考端子22和一个接触端子13为例进行示意，当接触端子13与屏蔽层12接触良好时，由于参考端子22和接触端子13都和屏蔽层12连接，因而，参考端子22和接触端子13之间存在屏蔽层12的等效电阻25，当接触端子13与屏蔽层12接触良好时，检测点21的电位为检测点21与接地点15之间的电位差，当接触端子13与屏蔽层12接触不良时，如图3b所示，接触端子13和屏蔽层12之间为断开状态，此时，检测点21处的电位近似等于电源输入端24处的电位，因而，可以通过检测点21处的电位来判断屏蔽层12与接触端子13之间的接触状态。
在实际应用中，上述电源输入端24可以位于阵列基板11的台阶区的任何位置，例如，在检测电路23的边缘，此处不对电源输入端24的位置进行限定。
在具体实施时，参照图4a和图4b所示，接触端子13可以为两个、三个或更多个，图4a以包含两个接触端子13为例进行示意，图4b以包含三个接触端子13为例进行示意，如图4a所示，当接触端子13为两个，两个接触端子13分别与接地点15连接，由于接触端子13和参考端子22都和屏蔽层12连接，因而每一个接触端子13和参考端子22之间都存在等效电阻25。如图4b所示，当接触端子13为三个，三个接触端子13分别与接地点15连接，每一个接触端子13与参考端子22之间都存在等效电阻25。当接触端子13为更多个时，与图4a和图4b类似，每一个接触端子13都与接地点15连接，且每一个接触端子13与参考电阻之间都存在等效电阻25。
具体地，本发明实施例提供的上述显示面板中，上述电位检测模块232，还可以用于将检测点21的电位与预设阈值比较；若检测点21的电位小于预设阈值，则存在与屏蔽层12接触良好的接触端子13；若检测点21的电位大于预设阈值，则不存在与屏蔽层12接触良好的接触端子13。
参照图3a，当接触端子13与屏蔽层12接触良好时，检测点21的电位为检测点21与接地点15之间的电位差，此时检测点21的电位大小要根据对比电阻231和参考端子22与接触端子13之间的电阻的大小来确定，在具体实施时，可以将对比电阻231的阻值设置为远远大于参考端子22与接触端子13之间的电阻，这样，当接触端子13与屏蔽层12接触良好时，检测点21处的电位近似为0，而接触端子13与屏蔽层12接触不良时，检测点21处的电位近似为电源输入端24的电位，因而，屏蔽层12与接触端子13接触良好和接触不良时，检测到的检测点21处的电位差别比较大，通过设置预设阈值的方式比较容易判断屏蔽层12与接触端子13之间的接触状态，检测精度较高。
如图4a和图4b所示，当接触端子13为两个、三个或更多个时，只要存在一个接触端子13与屏蔽层12接触良好，就能将屏蔽层12上的电荷通过接地点15导走。当存在至少一个接触端子13与屏蔽层12接触良好时，检测点21的电位为检测点21与接地点15之间的电位差，所有的接触端子13与屏蔽层12均接触不良时，检测点21处的电位近似为电源输入端24的电位，因而，可以通过检测点21处的电位来判断是否存在与屏蔽层12接触良好的接触端子13。
在实际应用中，以外挂式产品为例，接触端子13与参考端子22之间的等效电阻25一般在0.5kΩ～5kΩ之间，可以将对比电阻231的阻值设置为远大于等效电阻25，对比电阻231的阻值优选为50kΩ～500kΩ之间。以电源输入端24的电位为1.8V，等效电阻25的阻值为1kΩ，对比电阻231为100kΩ，以图3a所示的结构为例，当接触端子13与屏蔽层12接触良好时，由于对比电阻231远大于等效电阻25的阻值，因而，检测点21的电位近似为0V，接触端子13与屏蔽层12接触不良时，参考端子22和接触端子13之间断开，此时，检测点21处的电位近似为电源输入端24的电位，即近似为1.8V。预设阈值可以设置为0V～1.8V之间的数值，例如0.5V、1V或1.5V等数值。当接触端子13为两个、三个或更多个时，原理类似，此处不再赘述。
在具体实施时，本发明实施例提供的上述显示面板中，如图3a，图3b，图4a以及图4b所示，检测电路23，还可以包括：状态暂存器233；
状态暂存器233的输入端与电位检测模块232的输出端相连；
状态暂存器233，用于存储屏蔽层12与接触端子13间的接触状态。
本发明实施例中，通过设置状态暂存器233来存储屏蔽层12与接触端子13之间的接触状态，状态暂存器233的状态不同则屏蔽层12与接触端子13之间的接触状态不同，因而，可以通过读取状态暂存器233的状态来确定屏蔽层12与接触端子13之间的接触状态。
具体地，本发明实施例提供的上述显示面板中，状态暂存器233，具体用于若存在与屏蔽层12接触良好的接触端子13，则存储第一数值；若不存在与屏蔽层12接触良好的接触端子13，则存储第二数值。
在具体实施时，电位检测模块232检测到检测点21的电位，将检测点21的电位与预设阈值的比较结果输出给状态暂存器233，若检测点21的电位小于预设阈值，则存在与屏蔽层12接触良好的接触端子13，则状态暂存器233存储第一数值；若检测点21的电位大于预设阈值，则不存在与屏蔽层12接触良好的接触端子13，则状态暂存器233存储第一数值。例如，当存在与屏蔽层12接触良好的接触端子13，状态暂存器233存储的第一数值为0；当不存在与屏蔽层12接触良好的接触端子13，状态暂存器233存储的第二数值为1。此处只是举例说明，并不对第一数值和第二数值进行限定。
在实际应用中，还可以设置提醒模块与状态暂存器233相连，当读取到状态暂存器233中存储的是第二数值，则发出报警，提醒用户屏蔽层12与接触端子13接触不良，尽快修复显示面板或直接更换显示面板，从而避免出现不必要的损失，当读取到状态暂存器233中存储的是第一数值，可以不发出提醒，也可以通过特定的提醒方式，告知用户屏蔽层12与接触端子13接触良好。
在实际应用中，本发明实施例提供的上述显示面板中，如图5所示，上述阵列基板11的台阶区还可以包括：开关26；
参考端子22通过开关26与接地点15相连；
开关26，用于在检测时断开，以及在检测完成后闭合。
通过在参考端子22和接地点15之间设置开关26，在检测时开关26断开，参考端子22和接地点15之间断开，此时，检测电路23可以通过检测点21处的电位来判断屏蔽层12与接触端子13的接触状态；在检测完成后开关26闭合，参考端子22可以用作接触端子，将屏蔽层12的电荷通过接地点15导走。上述开关26优选为薄膜晶体管，也可以为其他开关26，此处不做限定。
在具体实施时，本发明实施例提供的上述显示面板中，上述检测电路23有以下两种设置方式：
方式一：如图6a所示；
阵列基板11的台阶区设有集成芯片16；
检测电路23集成于集成芯片16内部；
方式二：如图6b和图6c所示；
对比电阻231通过刻蚀工艺形成于阵列基板11上，检测电阻中除对比电阻231的其余部分集成于集成芯片16内部。
为了更明了的示意检测电路23的结构，图6a、图6b以及图6c中，省略了柔性电路板17等结构。上述方式一中，可以将检测电路23集成于集成芯片16内部，只需将参考端子22与各接触端子13通过导线连接至集成芯片16即可，图6a中，只是示意性的说明检测电路23位于集成芯片16内部，并不代表集成芯片16内部的真实结构。上述实施方式二中，将对比电阻231通过刻蚀工艺形成于阵列基板11上，具体地，对比电阻231可以与显示区中的导电结构采用同一构图工艺形成，从而可以在不增加工艺步骤的基础上形成对比电阻231，节约制作成本，该导电结构可以是任何能够导电的膜层，例如由氧化铟锡(ITO)制作的公共电极层或像素电极层等膜层，也可以是由金属制作的源漏极层或栅极层等膜层，或者，还可以是由多晶硅制作的有源层等，此处只是举例说明，不对该导电结构进行限定。
基于同一发明构思，本发明实施例提供了一种上述显示面板的检测方法。由于该检测方法解决问题的原理与上述显示面板相似，因此该检测方法的实施可以参见上述显示面板的实施，重复之处不再赘述。
本发明实施例提供的上述显示面板的检测方法，如图7所示，包括：
S301、控制检测电路检测检测点的电位；
S302、控制检测电路将检测点的电位与预设阈值比较；若检测点的电位小于预设阈值，则存在与屏蔽层接触良好的接触端子；若检测点的电位大于预设阈值，则不存在与屏蔽层接触良好的接触端子。
本发明实施例提供的上述显示面板的检测方法，通过控制检测电路检测检测点的电位，并控制检测电路将检测点的电位与预设阈值比较，实现了自动检测屏蔽层与接触端子的接触状态，无需通过外部测试设备来检测屏蔽层与接触端子的接触状态，因而可以避免外部测试设备的探针与接触端子接触，导致接触端子受到损伤，此外，还可以降低检测成本，适合生产线批量流片生产。
在具体实施时，本发明实施例提供的上述检测方法中，上述阵列基板的台阶区可以包括：开关；
参考端子通过开关与接地点相连；
上述检测方法，还可以包括：
控制开关在检测时断开，以及在检测完成后闭合。
通过在参考端子和接地点之间设置开关，在检测时开关断开，参考端子和接地点之间断开，此时，检测电路可以通过检测点处的电位来判断屏蔽层与接触端子的接触状态；在检测完成后开关闭合，参考端子可以用作接触端子，将屏蔽层的电荷通过接地点导走。
在具体实施时，本发明实施例提供的上述显示面板中包含状态暂存器时，上述检测方法还可以包括：读取状态暂存器中存储的屏蔽层与接触端子间的接触状态，此外，还可以根据读取到的接触状态对用户进行提醒，具体地，读取到接触状态为接触不良，可以发出报警，提醒用户屏蔽层与接触端子接触不良，尽快修复显示面板或直接更换显示面板，从而避免出现不必要的损失，当读取到的接触状态为接触良好，可以不发出提醒，也可以通过特定的提醒方式，告知用户屏蔽层与接触端子接触良好。
基于同一发明构思，本发明实施例提供一种显示装置，包括上述显示面板，该显示装置可以应用于任何具有显示功能的产品或部件，例如手机，如图8所示，该手机的显示面板可以采用本发明实施例提供的上述显示面板，此外，该显示装置还可以应用于平板电脑、电视机、显示器、笔记本电脑、数码相框、导航仪等产品或器件中。由于该显示装置解决问题的原理与上述显示面板相似，因此该显示装置的实施可以参见上述显示面板的实施，重复之处不再赘述。
本发明实施例提供的显示面板、其检测方法及显示装置，通过设置检测电路检测检测点的电位，并将检测点的电位与阈值比较，若检测点的电位小于预设阈值，则存在与屏蔽层接触良好的接触端子；若检测点的电位大于预设阈值，则不存在与屏蔽层接触良好的接触端子，因而实现了自动检测屏蔽层与接触端子的接触状态，无需通过外部测试设备来检测屏蔽层与接触端子的接触状态，因而可以避免外部测试设备的探针与接触端子接触，导致接触端子受到损伤，此外，还可以降低检测成本，适合生产线批量流片生产。
显然，本领域的技术人员可以对本发明进行各种改动和变型而不脱离本发明的精神和范围。这样，倘若本发明的这些修改和变型属于本发明权利要求及其等同技术的范围之内，则本发明也意图包含这些改动和变型在内。
Claims (11)
1.一种显示面板，其特征在于，包括：阵列基板，以及与所述阵列基板相对设置的对向基板；其中，
所述对向基板背离所述阵列基板的一侧设有屏蔽层，所述阵列基板，包括显示区，以及位于所述显示区的一侧相对于所述对向基板向外延伸的台阶区；
所述台阶区包括：检测点、接地点、与所述检测点相连的参考端子、与所述接地点相连的接触端子以及与所述检测点相连的检测电路；
所述屏蔽层通过导电胶分别与所述接触端子和所述参考端子相连；
所述检测电路，用于检测所述检测点的电位，将所述检测点的电位与预设阈值比较；若所述检测点的电位小于所述预设阈值，则存在与所述屏蔽层接触良好的所述接触端子；若所述检测点的电位大于所述预设阈值，则不存在与所述屏蔽层接触良好的所述接触端子。
2.如权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述阵列基板的台阶区还包括：电源输入端；
所述检测电路，包括：对比电阻和电位检测模块；
所述对比电阻的一端与所述电源输入端相连，另一端与所述电位检测模块的输入端相连；
所述电位检测模块与所述检测点连接，用于检测所述检测点的电位。
3.如权利要求2所述的显示面板，其特征在于，所述电位检测模块，还用于将所述检测点的电位与预设阈值比较；若所述检测点的电位小于所述预设阈值，则存在与所述屏蔽层接触良好的所述接触端子；若所述检测点的电位大于所述预设阈值，则不存在与所述屏蔽层接触良好的所述接触端子。
4.如权利要求2所述的显示面板，其特征在于，所述检测电路，还包括：状态暂存器；
所述状态暂存器的输入端与所述电位检测模块的输出端相连；
所述状态暂存器，用于存储所述屏蔽层与所述接触端子间的接触状态。
5.如权利要求4所述的显示面板，其特征在于，所述状态暂存器，具体用于若存在与所述屏蔽层接触良好的所述接触端子，则存储第一数值；若不存在与所述屏蔽层接触良好的所述接触端子，则存储第二数值。
6.如权利要求1～5任一项所述的显示面板，其特征在于，所述阵列基板的台阶区还包括：开关；
所述参考端子通过所述开关与所述接地点相连；
所述开关，用于在检测时断开，以及在检测完成后闭合。
7.如权利要求2～5任一项所述的显示面板，其特征在于，所述阵列基板的台阶区设有集成芯片；
所述检测电路集成于所述集成芯片内部；或，
所述对比电阻通过刻蚀工艺形成于所述阵列基板上，所述检测电阻中除所述对比电阻的其余部分集成于所述集成芯片内部。
8.如权利要求2～5任一项所述的显示面板，其特征在于，所述对比电阻的阻值为50kΩ～500kΩ之间。
9.一种如权利要求1～8任一项所述的显示面板的检测方法，其特征在于，包括：
控制检测电路检测检测点的电位；
控制所述检测电路将所述检测点的电位与预设阈值比较；若所述检测点的电位小于所述预设阈值，则存在与所述屏蔽层接触良好的所述接触端子；若所述检测点的电位大于所述预设阈值，则不存在与所述屏蔽层接触良好的所述接触端子。
10.如权利要求9所述的检测方法，其特征在于，阵列基板的台阶区包括：开关；
参考端子通过所述开关与接地点相连；
所述检测方法，还包括：
控制所述开关在检测时断开，以及在检测完成后闭合。
11.一种显示装置，其特征在于，包括：如权利要求1～8任一项所述的显示面板。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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| CN201710591934.0A CN107369402A (zh) | 2017-07-19 | 2017-07-19 | 一种显示面板、其检测方法及显示装置 |
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| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
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| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN201710591934.0A Pending CN107369402A (zh) | 2017-07-19 | 2017-07-19 | 一种显示面板、其检测方法及显示装置 |
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| CN (1) | CN107369402A (zh) |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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