KR20090039412A - 터치 패널의 특성 검사 시스템 - Google Patents

터치 패널의 특성 검사 시스템 Download PDF

Info

Publication number
KR20090039412A
KR20090039412A KR1020070105044A KR20070105044A KR20090039412A KR 20090039412 A KR20090039412 A KR 20090039412A KR 1020070105044 A KR1020070105044 A KR 1020070105044A KR 20070105044 A KR20070105044 A KR 20070105044A KR 20090039412 A KR20090039412 A KR 20090039412A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
voltage
axis
resistance
board
touch panel
Prior art date
Application number
KR1020070105044A
Other languages
English (en)
Inventor
배진수
Original Assignee
(주)티엔스
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by (주)티엔스 filed Critical (주)티엔스
Priority to KR1020070105044A priority Critical patent/KR20090039412A/ko
Publication of KR20090039412A publication Critical patent/KR20090039412A/ko

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2801—Testing of printed circuits, backplanes, motherboards, hybrid circuits or carriers for multichip packages [MCP]
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/20—Modifications of basic electric elements for use in electric measuring instruments; Structural combinations of such elements with such instruments
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R17/00—Measuring arrangements involving comparison with a reference value, e.g. bridge
    • G01R17/02—Arrangements in which the value to be measured is automatically compared with a reference value
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R19/00—Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof
    • G01R19/165—Indicating that current or voltage is either above or below a predetermined value or within or outside a predetermined range of values
    • G01R19/16566—Circuits and arrangements for comparing voltage or current with one or several thresholds and for indicating the result not covered by subgroups G01R19/16504, G01R19/16528, G01R19/16533
    • G01R19/1659—Circuits and arrangements for comparing voltage or current with one or several thresholds and for indicating the result not covered by subgroups G01R19/16504, G01R19/16528, G01R19/16533 to indicate that the value is within or outside a predetermined range of values (window)
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/01—Subjecting similar articles in turn to test, e.g. "go/no-go" tests in mass production; Testing objects at points as they pass through a testing station
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F3/00—Input arrangements for transferring data to be processed into a form capable of being handled by the computer; Output arrangements for transferring data from processing unit to output unit, e.g. interface arrangements
    • G06F3/01—Input arrangements or combined input and output arrangements for interaction between user and computer
    • G06F3/03—Arrangements for converting the position or the displacement of a member into a coded form
    • G06F3/041—Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Human Computer Interaction (AREA)
  • Position Input By Displaying (AREA)

Abstract

본 발명은 터치 패널의 특성 검사 시스템에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 터치 패널의 전압 및 저항 측정을 통한 특성 검사에 소요되는 시간을 단축시킬 수 있을 뿐만 아니라, 장비 구성을 간소화할 수 있는 터치 패널의 특성 검사 시스템 에 관한 것이다.
터치패널, 전압, 단자저항, 절연저항, 검사

Description

터치 패널의 특성 검사 시스템 {Quality Inspection System Of Touch Panel}
본 발명은 터치 패널의 특성 검사 시스템 및 그 방법에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 터치 패널의 전압 및 저항 측정을 통한 특성 검사에 소요되는 시간을 단축시킬 수 있을 뿐만 아니라, 장비 구성을 간소화할 수 있는 터치 패널의 특성 검사 시스템에 관한 것이다.
본 발명은 터치 패널에 대한 전압 및 저항 값 측정을 통한 특성 검사 장치에 적용될 수 있다.
터치 패널은 패널상에 디스플레이된 표시를 가압함으로써 상기 표시에 대응되어 미리 정해진 정보를 입력하는 입력수단으로써 편리성으로 인해 모든 디스플레이 수단에 활발히 적용되고 있다.
일반적으로 터치 패널은 정전용량 방식, 저항막 방식, 표면 초음파 방식, 적외선 방식 등에 의해 터치 패널에 가압된 부분의 좌표를 추출하고 정보를 입력하게 된다.
여기서, 저항막 방식은 유리나 투명한 플라스틱 기판 위에 저항성분의 물질을 코팅하고 그위에 필름을 덮어 씌운 형태로, 두 면이 서로 닿지 않도록 일정한 간격으로 절연 스페이서가 설치되어 있는데 손으로 접촉시 이 두면이 서로 접속하게 되고 이때 저항값이 변화하게 되고 전압도 변화하게 되는데 이러한 전압의 변화정도로 가압된 위치를 인식하는 방식이다.
도 1은 종래의 터치 패널의 특성검사 시스템를 개략적으로 도시한 구성도이다.
도 1을 참조하면, 종래의 터치 패널 특성검사 시스템은 터치 패널의 X축, Y축 전극 신호선들이 각각 연결된 전압 검사용 보드(710)와 저항 검사용 계측기(720)와 상기 전압 검사용 보드 및 저항 검사용 계측기와 연결되는 검사PC(730)를 포함하여 구성된다.
여기서, 상기 검사 PC(730)는 전압 검사용 보드(710), 저항 검사용 계측기(720), 실린더 및 서보 모터(Servo motor) 제어 인터페이스와 PCI 슬롯에 의해 연결된다.
보다 구체적으로, X축/Y축 절환을 지시하고, 실린더를 제어하는 디지털 IN/OUT 카드(731)와 X축/Y축 절환에 따른 절연저항 및 저항 검사용 전압을 취득하는 AD카드(732)와 상기 저항 검사용 계측기에서 측정한 저항 값에 대한 데이터를 송수신하는 GPIB 카드 또는 RS232 포트(733)와 전압 검사시 정확한 위치의 터치를 위한 서보 모터의 위치를 제어하는 위치 제어 포트(734)가 검사 PC의 PCI 슬롯에 연결된다.
그러나, 종래의 터치 패널 특성 검사 시스템은 전압 검사용 보드와 저항 검사용 계측기가 분리 구성되어 있으므로 터치 패널과 연결을 위한 배선 구조가 매우 복잡해지는 문제가 있었다.
또한, 종래의 터치 패널 특성 검사 시스템은 범용의 저항 검사용 계측기를 단순 연결하여 사용하여야 하며, 터치 패널의 해당 부분에 대하여 특정한 저항값의 만족여부를 검사하는 과정에서 0점부터 특정 저항값까지 순차적, 개별적으로 모두 검사하여야 하므로 검사에 지나치게 많은 시간이 소요되는 문제가 있었다. 상기와 같은 검사 시간의 증가로 인해 제품 생산성이 저하되어 공정의 효율성이 떨어지는 문제가 있었다.
상기와 같은 문제점을 해결하기 위해 안출된 것으로써, 본 발명의 목적은 터치 패널의 전압 및 저항 측정을 통한 특성 검사에 소요되는 시간을 단축시킬 수 있을 뿐만 아니라, 장비 구성을 간소화할 수 있는 터치 패널의 특성 검사 시스템 및 그 방법을 제공하는 데 있다.
상기와 같은 목적을 달성하기 위해 본 발명에 따른 터치 패널의 특성 검사 시스템은 터치 패널과 상기 터치 패널의 X축/Y축 전극 신호와 연결되어 전압, 절연저항 및 단자저항을 측정하는 마이컴 보드와 상기 마이컴 보드와 연결되어 X축/Y축 상태를 확인하고, 기준 저항값에 대응되는 전압을 인가하고 상기 전압에 대하여 측정된 저항값을 상기 마이컴 보드로부터 전송받아 미리 설정된 정상범위에 포함하는지 여부를 판별하여 검사를 수행하는 검사 PC를 포함하는 것을 특징으로 한다.
여기서, 상기 마이컴 보드는 전압을 측정하여 검사 PC로 전송하고, X축/Y축 절환에 따른 전압을 공급하는 전압 검사용 보드와 절연저항 또는 단자저항에 대한 저항값을 측정하여 검사 PC로 전송하는 저항 검사용 보드를 포함하는 것을 특징으로 한다.
그리고, 상기 전압 검사용 보드와 저항 검사용 보드는 연성 회로 기판(FPC)로 연결된 것을 특징으로 한다.
또한, 상기 검사 PC는 상기 마이컴 보드와 연결되어 X축/Y축 상태를 확인하고, 상기 마이컴 보드에 의해 측정된 전압값, 절연저항 및 단자저항 값을 전송받는 제 1 데이터 송수신부와 장비 실린더 구동과 서보 모터의 제어를 위한 통신을 수행하는 제 2 데이터 송수신부와 상기 데이터 송수신부의 X축/Y축 상태에 따른 전압검사용 전압과 기준 저항값에 대응되는 절연저항 및 저항 검사용 전압을 인가하는 전압공급부와 검사 PC 전체 시스템을 제어하고, 상기 데이터 송수신부로 전송된 전압값, 절연저항 및 단자저항값이 미리 설정된 정상범위에 해당하는지 여부를 판단하는 제어부를 포함하는 것을 특징으로 한다.
상기와 같은 해결 수단을 가지는 본 발명에 따른 터치 패널의 특성 검사 시스템은 종래의 범용 장비의 사용에 따른 불필요한 부분을 제거하여 최적화된 검사 시스템을 채택할 수 있으며, 검사에 소요되는 시간을 대폭적으로 감소시킬 수 있으므로 생산성 향상에 매우 탁월한 효과가 발생한다.
이하, 본 발명의 구체적인 실시예에 대하여 도면을 참조하여 상세하게 설명하기로 한다.
도 2는 터치 패널의 구조를 개략적으로 도시한 사시도이다.
도 2를 참조하면, 터치 패널(10)은 기판(110) 상에 필름(120)이 형성되고, 상기 기판과 필름 사이에 절연 스페이서(미도시)가 일정 간격으로 형성되고, 손이나 펜으로 가압될 경우 상기 기판(110)과 필름(120)이 단락되고 가압된 위치에 따라 달라지는 전류 또는 전압 레벨을 가지는 신호를 발생한다.
상기 기판(110) 상에는 X축 전극들(111, 113)이 형성되고, 상기 필름(120) 상에는 Y축 전극들(122, 124)이 형성된다.
그리고, 상기 X축 전극들(111, 113)과 Y축 전극들(122, 124)은 연성회로기판(FPC)(130)에 실장된 신호선들(1,2,3,4)과 연결된다.
보다 구체적으로 상기 X축 전극들(111, 113)은 마이컴 보드에 전류 또는 전압 레벨을 가지는 신호를 공급하는 X축 신호선들(1, 3)과 연결되고, Y축 전극들(122, 124)은 마이컴 보드에 전류 또는 전압 레벨을 가지는 신호를 공급하는 Y축 신호선들(2, 4)과 연결된다.
상기와 같이 구성되는 터치패널(10) 하부에는 액정 패널(미도시)과 백라이트 유닛(미도시)이 결합되어 터치패널 디스플레이 장치가 제작될 수 있다.
도 3은 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 터치 패널 특성 검사 시스템을 개략적으로 도시한 시스템 구성도이고, 도 4는 도 3의 상세 블럭도이다.
도 3 및 4를 참조하면, 본 발명에 따른 터치 패널 특성 검사 시스템은 터치 패널의 전극 신호선(1,2,3,4)과 연결되어 전압 및 저항 검사를 수행하는 마이컴 보드(20)와 상기 마이컴 보드와 연결되어 검사에 필요한 전압을 인가하고 상기 마이컴 보드에서 측정되어 전송된 전압 및 저항값이 정상 범위에 있는지를 판단하는 검사 PC(30)를 포함하여 구성될 수 있다.
터치 패널의 특성 검사는 일반적으로 필름과 기판 사이의 절연저항 측정, 필름과 기판의 저항값 측정 및 전압검사로 이루어질 수 있다.
여기서, 절연저항이란 기판과 필름 사이의 저항이 수치상으로 얼마만큼 절연되어 있는지를 검사하는 항목이고, 필름과 기판의 저항값 측정은 필름과 기판은 내부에 각각 X축, Y축에 해당하는 저항을 가지고 있으며, 필름과 기판의 순수한 저항값을 말하고, 전압값은 특정 포인트에 압력을 가하면 필름과 기판간의 저항값의 변화가 생기며 이 저항값의 변화를 측정하기 위해 특정 전압의 1차 전류원을 인가하면 전류값에 비례하는 2차 전압을 말한다.
보다 구체적인 측정 방법은 터치 패널의 통상의 지식을 가진자에게 자명할 뿐만 아니라, 본 발명의 핵심에서 벗어나는 부분이므로 구체적인 설명은 생략하기로 한다.
상기 마이컴 보드(20)는 전압 검사용 보드(210)와 저항 검사용 보드(220)가 연성회로기판(FPC, Flexible Printed Circuit)으로 터치 패널의 신호선들(1,2,3,4)이 연결되어 단일 보드로 구성된다.
그리고, 상기 검사 PC(30)는 제 1 데이터 송수신부(310)를 통해 상기 마이컴 보드(20)와 연결되어 X축/Y축 상태를 확인하고, 상기 마이컴 보드(20)에 의해 측정된 전압값 및 저항값을 전송받는다. 보다 구체적으로, 상기 제 1 데이터 송수신부(310)는 터치 패널에 연결된 X축 신호선(1,3)과 Y축 신호선(2,4) 중 선택된 신호선을 통신을 통해 확인하고 절환을 제어한다. 또한, 상기 마이컴 보드(20)로부터 측정된 전압값, 절연저항값 및 저항측정값을 시리얼로 전송받는다.
그리고, 검사 PC(30)는 전압 공급부(320)를 통해 X축/Y축 상태에 따른 절연저항 및 저항값 측정을 위한 전압을 공급한다.
또한, 공급되는 전압은 기준 절연저항값 또는 기준 단자저항값에 대응되는 전압이 공급되고, 상기 공급된 전압에 의해 마이컴 보드(20)에서 측정된 전압값, 절연저항값 또는 단자저항값이 미리 설정된 정상범위에 포함되는지 여부를 제어부(330)가 판단하여 정상여부를 판단하게 된다.
예를 들어, 절연저항 검사를 위해 기준 절연저항 값을 20MΩ이라고 설정한 경우, 검사 PC의 전압 공급부(320)는 20MΩ에 걸리는 전압을 마이컴 보드(20)에 인가한다.
이 때, 측정되는 절연저항의 정상 범위를 20MΩ이상 또는 100MΩ 이상으로 설정할 경우 측정된 절연저항값이 상기 정상 범위에 해당하면 제어부(330)는 합격으로 판단하고, 정상 범위에 해당하지 않으면 불합격으로 판단한다.
또한, 기판 또는 필름의 단자 저항 검사를 위해 기준 단자저항 값을 100Ω으로 설정한 경우, 전압 공급부(320)는 100Ω에 걸리는 전압을 마이컴 보드(20)에 인가한다.
이 때, 측정되는 단자저항의 정상 범위를 200Ω ~ 700Ω으로 설정할 경우 측정된 단자저항값이 상기 정상 범위에 해당하면 제어부(330)는 합격으로 판단하고, 정상 범위에 해당하지 않으면 불합격으로 판단한다.
여기서, 상기 기준 절연저항 값과 정상범위, 기준 단자저항 값과 정상범위는 필요에 따라 임의적으로 설정될 수 있으며, 설정된 값은 메모리(미도시)에 저장 관 리 될 수 있다.
또한, 검사 PC는 제 2 데이터 송수신부(340)를 통해 장비 실린더(50) 구동과 서보 모터(60)의 제어를 위한 통신을 수행할 수 있다. 상기 제 2 데이터 송수신부(340)는 실린더(50) 구동을 제어하고 전압검사시 정확한 위치의 터치를 위해 서보모터(60)를 제어하는 PLC와 시리얼로 연결되어 데이터를 송수신할 수 있으며, 이를 통해 실린더(50)와 서보모터(60)의 구동이 제어된다.
이상에서 설명한 본 발명의 상세한 설명에서는 본 발명의 바람직한 실시예를 참조하여 설명하였지만, 본 발명의 보호범위는 상기 실시예에 한정되는 것이 아니며, 해당 기술분야의 통상의 지식을 갖는 자라면 본 발명의 사상 및 기술영역으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양하게 수정 및 변경시킬 수 있음을 이해할 수 있을 것이다.
도 1은 종래의 터치 패널의 특성검사 시스템를 개략적으로 도시한 구성도이다.
도 2는 터치 패널의 구조를 개략적으로 도시한 사시도이다.
도 3은 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 터치 패널 특성 검사 시스템을 개략적으로 도시한 시스템 구성도이고, 도 4는 도 3의 상세 블럭도이다.
*도면의 주요부분에 대한 부호의 설명*
10 : 터치 패널 110 : 기판
111, 113 : X축 전극 1, 3 : X축 전극 신호선
120 : 필름 122, 124 : Y축 전극
2, 4 : Y축 전극 신호선 20 : 마이컴 보드
210 : 전압검사용 보드 220 : 저항검사용 보드
30 : 검사 PC 310 : 제 1 데이터 송수신부
320 : 전압공급부 330 : 제어부
340 : 제 2 데이터 송수신부 40 : PLC
50 : 실린더 60 : 서보모터

Claims (4)

  1. 터치 패널과;
    상기 터치 패널의 X축/Y축 전극 신호와 연결되어 전압, 절연저항 및 단자저항을 측정하는 마이컴 보드와;
    상기 마이컴 보드와 연결되어 X축/Y축 상태를 확인하고, 기준 저항값에 대응되는 전압을 인가하고 상기 전압에 대하여 측정된 저항값을 상기 마이컴 보드로부터 전송받아 미리 설정된 정상범위에 포함하는지 여부를 판별하여 검사를 수행하는 검사 PC를 포함하는 터치 패널의 특성 검사 시스템.
  2. 제 1항에 있어서,
    상기 마이컴 보드는
    전압을 측정하여 검사 PC로 전송하고, X축/Y축 절환에 따른 전압을 공급하는 전압 검사용 보드와;
    절연저항 및 단자저항에 대한 저항값을 측정하여 검사 PC로 전송하는 저항 검사용 보드를 포함하는 것을 특징으로 하는 터치 패널의 특성 검사 시스템.
  3. 제 2항에 있어서,
    상기 전압 검사용 보드와 저항 검사용 보드는 연성 회로 기판(FPC)로 연결된 것을 특징으로 하는 터치 패널의 특성 검사 시스템.
  4. 제 1항에 있어서,
    상기 검사 PC는
    상기 마이컴 보드와 연결되어 X축/Y축 상태를 확인하고, 상기 마이컴 보드에 의해 측정된 전압값, 절연저항 및 단자저항 값을 전송받는 제 1 데이터 송수신부와;
    장비 실린더 구동과 서보 모터의 제어를 위한 통신을 수행하는 제 2 데이터 송수신부와;
    상기 데이터 송수신부의 X축/Y축 상태에 따른 전압검사용 전압과 기준 저항값에 대응되는 절연저항 및 저항 검사용 전압을 인가하는 전압공급부와;
    검사 PC 전체 시스템을 제어하고, 상기 데이터 송수신부로 전송된 전압값, 절연저항 및 단자저항값이 미리 설정된 정상범위에 해당하는지 여부를 판단하는 제어부를 포함하는 것을 특징으로 하는 터치 패널의 특성 검사 시스템.
KR1020070105044A 2007-10-18 2007-10-18 터치 패널의 특성 검사 시스템 KR20090039412A (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020070105044A KR20090039412A (ko) 2007-10-18 2007-10-18 터치 패널의 특성 검사 시스템

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020070105044A KR20090039412A (ko) 2007-10-18 2007-10-18 터치 패널의 특성 검사 시스템

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR20090039412A true KR20090039412A (ko) 2009-04-22

Family

ID=40763300

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020070105044A KR20090039412A (ko) 2007-10-18 2007-10-18 터치 패널의 특성 검사 시스템

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR20090039412A (ko)

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101005624B1 (ko) * 2009-02-20 2011-01-05 마이크로 인스펙션 주식회사 터치패널의 검사장치
KR101013514B1 (ko) * 2010-06-24 2011-02-10 (주) 마스타 정전식 터치 패널 검사 장치 및 이를 이용한 검사 방법
KR101036801B1 (ko) * 2010-02-18 2011-05-25 주식회사 지니틱스 터치 센서 판넬의 특성테스트 장치
KR101387146B1 (ko) * 2012-11-21 2014-05-13 (주)네패스디스플레이 터치패널 검사장치 및 이를 이용한 터치패널 제조방법
CN109521291A (zh) * 2018-10-31 2019-03-26 安徽奕辉电子科技有限公司 一种电容式触摸屏的检测装置及方法

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101005624B1 (ko) * 2009-02-20 2011-01-05 마이크로 인스펙션 주식회사 터치패널의 검사장치
KR101036801B1 (ko) * 2010-02-18 2011-05-25 주식회사 지니틱스 터치 센서 판넬의 특성테스트 장치
KR101013514B1 (ko) * 2010-06-24 2011-02-10 (주) 마스타 정전식 터치 패널 검사 장치 및 이를 이용한 검사 방법
KR101387146B1 (ko) * 2012-11-21 2014-05-13 (주)네패스디스플레이 터치패널 검사장치 및 이를 이용한 터치패널 제조방법
CN109521291A (zh) * 2018-10-31 2019-03-26 安徽奕辉电子科技有限公司 一种电容式触摸屏的检测装置及方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7629796B2 (en) Contact type single side probe device and apparatus and method for testing open or short circuits of conductive lines using the same
CN104238849B (zh) 检查装置、检查装置的校正方法及检查方法
KR101091694B1 (ko) 터치패널의 검사장치
KR20090039412A (ko) 터치 패널의 특성 검사 시스템
KR101005624B1 (ko) 터치패널의 검사장치
US20140021968A1 (en) Chip on glass substrate and method for measuring connection resistance of the same
RU2006116510A (ru) Сенсорное дисплейное устройство
KR102038102B1 (ko) 압착 품질 검사용 저항 측정 장치 및 이를 이용한 측정 방법
KR20110077536A (ko) 정전용량 방식 터치스크린패널의 반응시간 측정시스템
CA2776085A1 (en) Apparatus, and associated method, for testing a touch sensing device
JPH0224328B2 (ko)
KR20110013224A (ko) 터치장치 및 그 제어방법
TW200510732A (en) Device for inspecting liquid crystal display panel, liquid crystal display panel, and method for inspecting liquid crystal panel
KR101929323B1 (ko) 정전용량방식의 터치스크린패널 검사장치
KR20130068354A (ko) 채널 전환 장치, 임피던스 측정 시스템, 및 그 제어 방법
CN211717670U (zh) 一种温度变送器的自动校验仪
CN201886233U (zh) 一种探针框架
CN111667783B (zh) 检测设备及其检测方法
CN109073695A (zh) 基板的配线路径的检查方法及检查系统
CN213483156U (zh) 一种多网络融合调校实训系统
CN104282248A (zh) 阵列基板及其测试方法、显示面板、显示装置
CN220820168U (zh) 一种快速检验电路板元器件参数的设备
KR101036801B1 (ko) 터치 센서 판넬의 특성테스트 장치
CN215116749U (zh) 一种宽量程电阻校准装置
KR100456156B1 (ko) 터치 패널의 선형성 측정 장치 및 방법

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E601 Decision to refuse application