CN201886233U

CN201886233U - 一种探针框架

Info

Publication number: CN201886233U
Application number: CN2010206816701U
Authority: CN
Inventors: 白国晓; 蔡金沐; 赵海生
Original assignee: Beijing BOE Optoelectronics Technology Co Ltd
Current assignee: BOE Technology Group Co Ltd
Priority date: 2010-12-16
Filing date: 2010-12-16
Publication date: 2011-06-29
Anticipated expiration: 2020-12-16

Abstract

本实用新型公开了一种探针框架，涉及液晶显示器领域，为有效减小测试误差，提高测试结果的准确性而设计。所述探针框架，包括框架，所述框架上设置有至少一个探针，所述探针中的至少一个探针连接有用于调节输入电阻的电阻补偿装置，使用时，连接有所述电阻补偿装置的探针通过所述电阻补偿装置与信号源相连接。本实用新型的探针框架可用于对TFT阵列基板进行测试。

Description

一种探针框架

技术领域

本实用新型涉及液晶显示器领域，尤其涉及一种探针框架。

背景技术

薄膜晶体管(TFT，Thin Film Transistor)液晶面板由阵列基板，彩膜基板以及位于这两个基板中间的液晶组成。在制造液晶面板的过程中，形成有阵列的玻璃基板和形成有彩膜的玻璃基板经过对盒工序后，再经过切割工序，得到若干个液晶面板。形成阵列基板后，需要对阵列基板上的TFT的特性进行相关测试，以获得TFT的特性参数及技术数据，对TFT液晶面板进行设计验证和质量验证，并为查找不良原因、优化阵列基板的设计和印刷电路板(PCB)信号设计提供参考和数据支持。

以19宽英寸液晶面板为例，如图1和图2所示，固定尺寸的玻璃基板对应制造12张液晶面板，各面板边缘均印制有长方形金属薄膜块，长方形金属薄膜块通过印制在面板边缘的金属引线与面板内部的信号线相连。进行测试时，将形成有阵列的固定尺寸的玻璃基板放置于探针框架下，其中，探针框架为一个设置有探针的框架，相当于信号源与面板之间的导线，探针框架上设置的探针将与位于玻璃基板边缘的金属薄膜块相接触，即图1中的虚线框II内的金属薄膜块，从而为待测试的面板施加测试信号。

由于进行测试时，仅使用玻璃基板边缘的金属薄膜块，而一张玻璃基板分布有多个面板，因此就会导致面板之间的信号引线长度不同，而造成测试误差，降低了测试结果的准确性。举例说明，如图2所示，面板A位于玻璃基板边缘，面板B位于玻璃基板的内部，信号源通过面板A上方的金属薄膜块分别为面板A和面板B施加测试信号，因此，相对于面板A，面板B的测试信号所经过的金属引线将较长，它的输入电阻就会大一些。金属引线存在的差异，导致面板A和面板B的输入电阻发生变化，这样面板A和面板B的测试结果将存在差异，影响了测试结果的准确性。

实用新型内容

本实用新型实施例的主要目的在于，提供一种探针框架，能够有效减小测试误差，提高测试结果的准确性。

为达到上述目的，本实用新型的实施例采用如下技术方案：

一种探针框架，包括框架，所述框架上设置有至少一个探针，其中，所述探针中的至少一个探针连接有用于调节输入电阻的电阻补偿装置，使用时，连接有所述电阻补偿装置的探针通过所述电阻补偿装置与信号源相连接。

采用上述技术方案后，本实用新型实施例提供的探针框架，对不同的产品进行测试，能够通过电阻补偿装置对输入电阻进行补偿，以保证输入电阻的统一，因此，能够有效减小测试误差，提高测试结果的准确性。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为现有技术中19宽英寸液晶面板的形成阵列的玻璃基板的结构示意图；

图2为图1中虚线框I内结构的放大示意图；

图3为本实用新型实施例的探针框架的结构示意图；

图4为图1中虚线框I内结构的放大示意图。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

如图3所示，本实施例提供的探针框架，包括框架10，框架10上设置有至少一个探针20，所有探针20中的至少一个探针20连接有电阻补偿装置30，具体的，探针框架上的每一个探针20均连接有电阻补偿装置30，或者，探针框架上的部分探针20连接有电阻补偿装置30，探针20和电阻补偿装置30通过引线相连接(图中未显示)；

其中，电阻补偿装置30用于调节输入电阻，本实施例的探针框架使用时，连接有电阻补偿装置30的探针20通过电阻补偿装置30与提供信号的信号源相连接。

本实施例中，如图3所示，电阻补偿装置30设置在探针框架的边缘区域的支撑架31上，当然，也可以设置在探针20的上方区域等其他区域，本实施例对此不做限定；

以使用本实施例的探针框架分别对图2所示的面板A和面板B进行测试为例，如背景技术中所述，相对于面板A，面板B的测试信号所经过的金属引线将较长，它的输入电阻就会大一些。因此，对面板A进行测试时，通过探针框架的电阻补偿装置30，增加输入电阻，使面板A的输入电阻与面板B的输入电阻相同或近似相同，因此，有效保证了面板A和面板B的测试信号的统一，有效减小测试误差，提高了测试结果的准确性。

另外，通常来讲，提供测量信号的信号源设置于固定位置，因此，探针框架上各探针20与信号源之间的距离不同，即各探针20与信号源之间的信号线长度不同，各探针20与信号源之间的电阻不同。而电阻补偿装置30还可对信号线长度不同而导致输入电阻误差进行调节，因此，能够有效减小测试误差，提高测试结果的准确性。

具体的，电阻补偿装置30中包括变阻器，电阻补偿装置30对于输入电阻的调节是通过所述变阻器的阻值的改变而进行的。其中，所述变阻器可为滑动变阻器、变阻箱等可调电阻。

其中，电阻补偿装置30提供的电阻值可以是连续可调的，例如电阻补偿装置30通过滑动变阻器实现电阻值的连续可调。电阻补偿装置30提供的电阻值还可以是离散可调的，例如，电阻补偿装置30包括至少两个电阻档，每个电阻档对应特定的电阻值。使用时，根据电阻补偿装置30所需提供的电阻值，将电阻补偿装置30调至与所需提供的电阻值相同或最接近的电阻档上。

可以理解的是，对于TFT液晶面板使用的探针框架而言，由于TFT液晶面板的测试精度较高，因此，需要电阻补偿装置30提供的电阻值的变化精度较高，优选的，电阻值的最小可改变量小于等于0.01欧姆。

另外，本实施例的探针框架，连接有电阻补偿装置30的探针20与电阻补偿装置30可以是一一对应的，也就是，各探针20均连接与其唯一对应的电阻补偿装置30。当然，连接有电阻补偿装置30的探针20与电阻补偿装置30不限于一一对应的，部分探针20可连接同一电阻补偿装置，即至少两个探针20连接的电阻补偿装置30为同一电阻补偿装置。

进一步的，作为本实施例的一种改进，本实施例的探针框架中，电阻补偿装置30还包括测量器，用于测量连接有电阻补偿装置30的探针20所对应的第一输入电阻和第二输入电阻，以确定电阻补偿装置30提供的电阻值，其中，电阻补偿装置30提供的电阻值为第一输入电阻和第二输入电阻之差。具体的，测量器为能够测量电阻值的装置，例如万用表等。

同样以使用本实施例的探针框架分别对图2所示的面板A和面板B进行测试为例，相对于面板A，面板B的测试信号所经过的金属引线将较长，它的输入电阻就会大一些。对面板A和面板B进行测试之前，首先玻璃基板放置在本实施例的探针框架上，使探针20与面板A上方的金属薄膜块良好接触。将测试信号所经过的探针20连接的电阻补偿装置30提供的电阻值调至0欧姆。

然后，以测试信号所经过的探针20所接触的金属薄膜块或者电阻补偿装置30作为第一参考位置，如图4所示，对于面板A，以信号进入面板A前的Ain处作为第二参考位置，使用测量器测量第一参考位置和第二参考位置间的输入电阻，即面板A对应的输入电阻(第一输入电阻)；对于面板B，以信号进入面板B前的Bin处作为第三参考位置，使用测量器测量第一参考位置和第三参考位置间的输入电阻，即面板B对应的输入电阻(第二输入电阻)，计算第一输入电阻和第二输入电阻的差值，该差值即为对面板A进行测试时，测试信号所经过的探针20连接的电阻补偿装置30提供的电阻值，对于面板B进行测试时，测试信号所经过的探针20连接的电阻补偿装置30提供的电阻值为0。因此，使面板A的输入电阻与面板B的输入电阻相同或近似相同，因此，有效保证了面板A和面板B的测试信号的统一，有效减小测试误差，提高了测试结果的准确性。

另外，还可以使用测量器测量第一参考位置和第三参考位置间的输入电阻，即面板B对应的输入电阻(第二输入电阻)；然后，使用测量器测量第一参考位置和第三参考位置间的输入电阻，即面板A对应的输入电阻(第一输入电阻)，同时，调节测试信号所经过的探针20连接的电阻补偿装置30提供的电阻值，通过测量器的测量，使第一输入电阻与第二输入电阻阻值相等，因此，使面板A的输入电阻与面板B的输入电阻相同或近似相同，因此，有效保证了面板A和面板B的测试信号的统一，有效减小测试误差，提高了测试结果的准确性。

需要说明的是，通常来讲，TFT液晶面板的尺寸与探针框架为一一对应的，即不同尺寸的TFT液晶面板，采用不同的探针框架。而对于特定尺寸的TFT液晶面板而言，各玻璃基板上各面板之间输入电阻的差别相同或近似相同，因此，只需在初始测量通过测量器的测量确定对于玻璃基板上的不同面板，电阻补偿装置30所提供的电阻值，之后的每次测量时，就可不需测量直接采用对应的电阻值即可，为进一步保证测量结果的准确性，可在定期检查并调节电阻补偿装置30所提供的电阻值，进行检查调节的时间可以设定为两个月或三个月确认一次。

以上所述，仅为本实用新型的具体实施方式，但本实用新型的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本实用新型揭露的技术范围内，可轻易想到变化或替换，都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。因此，本实用新型的保护范围应所述以权利要求的保护范围为准。

Claims

1.一种探针框架，包括框架，所述框架上设置有至少一个探针，其特征在于，所述探针中的至少一个探针连接有用于调节输入电阻的电阻补偿装置，使用时，连接有所述电阻补偿装置的探针通过所述电阻补偿装置与信号源相连接。

2.根据权利要求1所述的探针框架，其特征在于，所述电阻补偿装置包括变阻器。

3.根据权利要求1所述的探针框架，其特征在于，所述电阻补偿装置还包括测量器，用于测量连接有所述电阻补偿装置的探针所对应的第一输入电阻和第二输入电阻，以确定所述电阻补偿装置提供的电阻值。

4.根据权利要求1所述的探针框架，其特征在于，所述电阻补偿装置提供的电阻值是连续可调的。

5.根据权利要求1所述的探针框架，其特征在于，所述电阻补偿装置包括至少两个对应特定电阻值的电阻档，使用时，将所述电阻补偿装置调至与所述电阻补偿装置所需提供的电阻值对应的所述电阻档。

6.根据权利要求1所述的探针框架，其特征在于，连接有电阻补偿装置的探针与所述电阻补偿装置一一对应。

7.根据权利要求1所述的探针框架，其特征在于，在所述连接有电阻补偿装置的探针中，至少两个所述探针连接的电阻补偿装置为同一电阻补偿装置。