KR101496252B1

KR101496252B1 - 터치 스크린 패널의 기능 검사 장치

Info

Publication number: KR101496252B1
Application number: KR20130107457A
Authority: KR
Inventors: 박준영; 정주현; 송영진; 노수천; 한원희; 이성림; 허용; 장성욱; 서초란
Original assignee: (주)티메이; 박준영
Priority date: 2013-09-06
Filing date: 2013-09-06
Publication date: 2015-02-26
Also published as: WO2015034290A1

Abstract

터치 스크린 패널의 기능 검사 장치는 터치 패널이 고정 장착되는 장착부를 구비한 본체; 본체의 일측에 설치되고 상기 터치 패널에서 연성 회로 기판(Flexible Printed Circuit Board, FPCB)이 결합되는 FPCB 본딩 영역의 복수개의 금속 전극 단자에 단차가 형성된 경우, 단차가 높은 제1 금속 전극 단자에 핀 타입의 제1 전도성 단자를 접촉하며 제1 금속 전극 단자보다 낮은 단차를 가진 제2 금속 전극 단자에 면 타입의 제2 전도성 단자를 접촉하는 전용지그; 및 전용지그에 구비되고 전용지그에 FPCB와 결합시 제1 전도성 단자와 제2 전도성 단자를 통해 터치 패널에 전원을 공급한 후 터치 패널의 상면에 복수개의 좌표 중 선택적으로 누르게 되면 해당 좌표의 전압값을 분석하여 터치 패널의 양품 여부를 판단하는 콘트롤러를 포함한다.

Description

터치 스크린 패널의 기능 검사 장치{Function Inspection Apparatus for Touch Screen Panel}

본 발명은 터치 스크린 패널의 기능 검사 장치에 관한 것으로서, 특히 터치 스크린 패널의 기능을 검사하기 위해서 핀 타입의 접점과 면 타입의 접점을 포함한 복합형 접점을 구성하여 FPCB 본딩 영역의 단차로 인해 발생되는 접점 불량이나 메탈 크랙(Crack) 문제를 방지하는 터치 스크린 패널의 기능 검사 장치에 관한 것이다.

일반적으로 터치 스크린 모듈(Touch Screen Module, TSM)은 터치의 전극 역할을 하는 터치 스크린 패널(Touch Screen Panel, TSP)과, 칩이 실장된 연성 회로 기판(Flexible Printed Circuit Board, FPCB) 및 원도우 글라스로 크게 구분되어진다.

터치 스크린 모듈은 LCD 모듈 또는 OLED 모듈에 부착되어야 하기 때문에 최종 기능 및 동작 검사를 수행하여 양품만을 준비한다.

터치 스크린 모듈은 비용의 50% 이상을 차지하는 원도우 글라스와 10%의 FPCB의 불량 비용을 감소시키기 위하여 터치 스크린 패널(전극) 상태에서 기능 검사를 수행한 이후에 FPCB 부착 및 글라스 합지 공정을 진행한다.

그러나 터치 스크린 패널 상태에서는 FPCB가 없는 상태이므로 칩에 의한 성능 테스트가 불가능하다.

따라서, 칩이 장착되어져 있는 전용 지그를 제작하여 FPCB 본딩 단자에 강제적으로 전기적인 접촉을 하는 방식으로 기능 검사를 수행하여야 한다.

터치 스크린 패널의 기능 검사(Open 검사, Short 검사)를 하는 원리는 바텀 전극에 전류를 구동하여 탑 전극에 형성되는 커패시턴스(Capacitance) 값을 비교하여 분석하는 뮤추얼 캡(Mutual Cap) 방식과, 탑 전극과 바텀 전극의 각각에 대한 커패시컨스 값을 읽어 Open 검사, Short 검사하는 셀프 방식으로 크게 나누어진다.

두 가지 기능 검사 방식은 칩을 통하여 각각의 채널에 전류를 구동하여야 하므로 기능 검사기와 터치 스크린 패널의 사이에 전류를 인가할 수 있도록 전기 도통용 접점이 필요하다.

이러한 전기 도통용 접점으로 전기가 통하는 금속으로 만들어진 핀 타입(Pin Type) 방식을 많이 사용한다.

도 1은 종래 기술에 따른 핀 타입의 터치 스크린 기능 검사기의 일례를 나타낸 도면이다.

핀 타입의 터치 스크린 패널의 기능 검사 장치는 검사봉이 전도성 핀(30)으로 구성되어 있으며 터치 패널의 FPCB 본딩 영역의 단차가 있는 탑(Top) 전극(20)의 FPCB 단자(22)와 바텀(Bottom) 전극의 FPCB 단자(12)를 한 번에 눌러야 하기 때문에 완충 스프링(32)을 장착하여 사용한다.

그러나 이러한 핀 타입의 터치 스크린 패널의 기능 검사 장치는 전도성 핀(30)이 접촉되는 접촉 면적이 적기 때문에 접촉 불량에 의한 가성 불량이 발생되는 문제점이 발생한다.

특히, 단차가 높은 탑 전극(20)의 FPCB 단자(22)보다 단차가 낮은 바텀 전극(10)의 FPCB 단자(12)에서 가성 불량이 높게 발생되는 문제점이 있다.

이와 같은 문제점을 해결하기 위하여, 본 발명은 터치 스크린 패널의 기능을 검사하기 위해서 핀 타입의 접점과 면 타입의 접점을 포함한 복합형 접점을 구성하여 FPCB 본딩 영역의 단차로 인해 발생되는 접점 불량이나 메탈 크랙(Crack) 문제를 방지하는 터치 스크린 패널의 기능 검사 장치를 제공하는데 그 목적이 있다.

상기 목적을 달성하기 위하여, 본 발명의 특징에 따른 터치 스크린 패널의 기능 검사 장치는,

터치 패널이 고정 장착되는 장착부를 구비한 본체;

본체의 일측에 설치되고 상기 터치 패널에서 연성 회로 기판(Flexible Printed Circuit Board, FPCB)이 결합되는 FPCB 본딩 영역의 복수개의 금속 전극 단자에 단차가 형성된 경우, 단차가 높은 제1 금속 전극 단자에 핀 타입의 제1 전도성 단자를 접촉하며 제1 금속 전극 단자보다 낮은 단차를 가진 제2 금속 전극 단자에 면 타입의 제2 전도성 단자를 접촉하는 전용지그; 및

전용지그에 구비되고 전용지그에 FPCB와 결합시 제1 전도성 단자와 제2 전도성 단자를 통해 터치 패널에 전원을 공급한 후 터치 패널의 상면에 복수개의 좌표 중 선택적으로 누르게 되면 해당 좌표의 전압값을 분석하여 터치 패널의 양품 여부를 판단하는 콘트롤러를 포함한다.

전술한 구성에 의하여, 본 발명은 터치 패널에서 단차가 높은 탑 전극에 핀 타입의 접점을 사용하여 기능 검사를 수행하고, 단차가 낮은 바텀 전극에 면 타입의 접점을 사용하여 기능 검사를 수행하여 단차가 높은 탑 전극에 면 타입의 접점을 사용시 발생되는 메탈 크랙을 방지하며, 단차가 낮은 바텀 전극에 핀 타입의 접점을 사용시 발생되는 가성 불량을 감소하는 효과가 있다.

도 1은 종래 기술에 따른 핀 타입의 터치 스크린 기능 검사기의 일례를 나타낸 도면이다.
도 2는 본 발명의 실시예에 따른 터치 스크린 패널의 기능 검사 장치의 구성을 나타낸 도면이다.
도 3은 본 발명의 실시예에 따른 터치 스크린 패널의 기능 검사 장치의 외관을 나타낸 도면이다.
도 4는 본 발명의 실시예에 따른 콘트롤러의 구성을 나타낸 블록도이다.

아래에서는 첨부한 도면을 참고로 하여 본 발명의 실시예에 대하여 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자가 용이하게 실시할 수 있도록 상세히 설명한다. 그러나 본 발명은 여러 가지 상이한 형태로 구현될 수 있으며 여기에서 설명하는 실시예에 한정되지 않는다. 그리고 도면에서 본 발명을 명확하게 설명하기 위해서 설명과 관계없는 부분은 생략하였으며, 명세서 전체를 통하여 유사한 부분에 대해서는 유사한 도면 부호를 붙였다.

명세서 전체에서, 어떤 부분이 어떤 구성요소를 "포함"한다고 할 때, 이는 특별히 반대되는 기재가 없는 한 다른 구성요소를 제외하는 것이 아니라 다른 구성요소를 더 포함할 수 있는 것을 의미한다.

터치 패널은 터치를 감지하는 방법에 따라 저항막 방식과 정전용량 방식 등으로 구분된다.

저항막 방식은 서로 마주보는 면에 상부 전극이 형성된 상부 투명 기판과, 하부 전극이 형성된 하부 투명 기판이 스페이서(spacer)에 의해 일정 공간을 갖고 합착 되어 있다.

따라서, 저항막 방식은 상부 기판의 표면에 펜 또는 손가락 같은 소정의 입력 수단으로 어느 한 지점에 접촉하게 되면, 상부 기판에 형성된 상부 전극과 하부 기판에 형성된 하부 전극이 상호 통전되고, 그 위치의 저항값에 의하여 출력 전압이 변화되고, 변화된 전압 값을 읽어들인 후 제어 장치에서 전위차의 변화에 따라 위치 좌표를 찾게 되는 장치이다.

또한, 정전용량 방식의 터치 패널의 기본 구조는 하나의 기판에 투명 전극을 형성하고, 투명 전극에 균일한 전기장이 생성되도록 필름의 각 모서리 또는 코너에 전압을 인가하여 손가락 또는 도전성 펜(conductive stylus)이 접촉되면 전압 드롭(voltage drop)이 발생되어 위치 좌표를 찾게 되는 장치이다.

본 발명의 터치 스크린 패널의 기능 검사 장치는 저항막 방식과 정전용량 방식의 터치 패널의 구조에 모두 적용하나 설명의 편의를 위해서 정전용량 방식의 터치 패널을 일례로 설명한다.

도 2는 본 발명의 실시예에 따른 터치 스크린 패널의 기능 검사 장치의 구성을 나타낸 도면이고, 도 3은 본 발명의 실시예에 따른 터치 스크린 패널의 기능 검사 장치의 외관을 나타낸 도면이고, 도 4는 본 발명의 실시예에 따른 콘트롤러의 구성을 나타낸 블록도이다.

터치 패널의 상호 정전용량 방식은 구동부에 구동 전압이 인가되면, 구동부와 센싱부의 사이에서 상호 캡(Mutual Cap)이 형성되고 센싱부에서 상호 캡의 전압값의 변화를 감지하여 터치 여부 및 터치 위치를 검출하게 된다. 센싱부(Receive, Rx)는 터치 패널의 터치 여부 및 터치 위치를 전압값의 변화로 감지하고, 구동부(Transfer, Tx)는 터치 패널의 구동 전압이 인가된다. 여기서, 센싱부는 탑 전극(100)으로 하고, 구동부는 바텀 전극(200)으로 한다.

탑 전극(100)은 복수개의 X축 또는 Y축 정전전극의 제1 정전전극 패턴과 이에 연결된 제1 배선전극 패턴을 형성한다.

바텀 전극(200)은 복수개의 X축 또는 Y축 정전전극의 제2 정전전극 패턴과 이에 연결된 제2 배선전극 패턴을 형성한다.

터치 패널은 탑 전극(100)과 바텀 전극(200)을 개별 가공한 후, 제1 투명 OCA를 사이에 두고 탑 전극(100)과 바텀 전극(200)을 합지하고, 탑 전극(100)의 상면에 제2 투명 OCA를 부착하며 그 위에 윈도우 글라스를 부착한다.

정전전극 패턴은 터치 패널의 원도우 영역(화면이 표시되는 영역)에 해당하는 부분으로 복수개의 X축 또는 Y축 정전전극의 정전전극 패턴을 나타내며, 사용자의 터치 패턴 영역을 나타낸다.

배선전극 패턴은 터치 패널의 원도우 영역을 제외한 가장자리 영역의 버스 전극을 나타내는 금속 회로로서, 각각의 정전전극의 일측 끝단과 연결되는 금속 전극 부분과 금속 전극 부분으로부터 연성회로기판(Flexible Printed Circuit Board, FPCB)과 연결시켜 사용자의 터치 패턴을 감지 및 제어하는 리드선 전극과 연성회로기판과 접촉되는 FPCB 본딩 영역의 금속 전극 부분을 포함한다.

탑 전극(100)의 FPCB 본딩 영역(110)과 바텀 전극(200)의 FPCB 본딩 영역(210)은 도 2에 도시된 바와 같이, 일정 높이의 단차가 발생한다.

본 발명의 실시예에 따른 터치 스크린 패널의 기능 검사 장치는 탑 전극(100)의 FPCB 본딩 영역(110)의 금속 전극 부분(120)에 핀 타입의 접점을 접촉시키고, 바텀 전극(200)의 FPCB 본딩 영역(210)의 금속 전극 부분(220)에 면 타입의 접점을 접촉시킨 후 전원을 공급한다.

이어서, 터치 스크린 패널의 기능 검사 장치는 탑 전극(100)의 제1 정전전극 패턴에서 여러 좌표를 선택적으로 누르게 되면, 각각의 좌표에 대한 전압값을 분석하여 터치 패널의 양품 여부를 판단하게 된다.

터치 스크린 패널의 기능 검사 장치는 탑 전극(100)의 FPCB 본딩 영역(110)의 금속 전극 부분(120)에 면 타입의 접점을 접촉하게 되면, 넓은 면적으로 접촉하기 때문에 가성 불량을 감소할 수 있지만, 단차로 인하여 크랙에 취약한 메탈에 크랙(Crack)을 유발시킬 수 있다.

특히, 크랙은 바닥에 밀착되어 있는 바텀 전극(200)의 FPCB 본딩 영역(210)의 금속 전극 부분(220)보다 높은 곳에 위치한 탑 전극(100)의 FPCB 본딩 영역(110)의 금속 전극 부분(120)이 완충 역할을 하는 투명 OCA에 눌려지면서 발생할 수 있다.

따라서, 터치 스크린 패널의 기능 검사 장치는 바텀 전극(200)과 같이 바닥에 밀착되어 있는 바텀 전극(200)의 FPCB 본딩 영역(210)의 금속 전극 부분(220)에 면 접촉 방식의 면 타입의 제2 전도성 단자(326)를 접촉하며, 높은 단차를 가지고 있는 탑 전극(100)의 FPCB 본딩 영역(110)의 금속 전극 부분(120)에 완충 스프링(324)이 있는 핀 타입의 제1 전도성 단자(320)를 접촉하여 복합형의 접점 구조를 구성한다.

즉, 단차가 높은 탑 전극(100)은 접점을 완충 스프링(324)이 있는 핀 타입의 전도성 단자(320)를 사용하여 단차와 넓은 면을 누르지 않으므로 크랙을 방지할 수 있다.

단차가 낮은 바텀 전극(200)은 면 타입의 전도성 단자(326)를 사용하여 완충 스프링(324)에 의해 발생되는 접촉 문제가 개선되어 가성 불량이 감소하는 효과가 있다.

탄성력으로 축소되는 완충 스프링(324)의 길이는 탑 전극(200)과 바텀 전극(100)의 사이에 형성된 투명 OCA의 두께에 따라 결정된다.

본 발명의 실시예는 탑 전극(100)을 센싱부로 하고 바텀 전극(200)을 구동부로 하고 있지만, 이에 한정하지 않고 탑 전극(100)을 구동부로 하고 바텀 전극(200)을 센싱부로 할 수도 있다.

또한, 다른 실시예로서 터치 스크린 패널의 기능 검사 장치는 바텀 전극(200)의 FPCB 본딩 영역(210)의 금속 전극 부분(220)에 완충 스프링(324)이 있는 핀 타입의 제1 전도성 단자(320)를 접촉하며, 탑 전극(100)의 FPCB 본딩 영역(110)의 금속 전극 부분(120)에 면 타입의 제2 전도성 단자(326)를 접촉하여 복합형의 접점 구조를 구성할 수도 있다.

또한, 또 다른 실시예로서 터치 스크린 패널의 기능 검사 장치는 완충 스프링(324)의 탄성력으로 축소되는 길이를 다르게 하여 바텀 전극(200)의 FPCB 본딩 영역(210)의 금속 전극 부분(220)과 탑 전극(100)의 FPCB 본딩 영역(110)의 금속 전극 부분(120)에 완충 스프링(324)이 있는 핀 타입의 제1 전도성 단자(320)로 접점 구조를 구성할 수도 있다.

바텀 전극(200)에 접촉되는 제1 전도성 단자(320)의 완충 스프링(324)의 탄성력보다 탑 전극(100)에 접촉되는 제1 전도성 단자(320)의 완충 스프링(324)의 탄성력을 약하게 하여 구성하는 것이다.

이는 탑 전극(100)의 FPCB 본딩 영역(110)의 금속 전극 부분(120)은 탑 전극(100)의 완충 역할을 하는 투명 OCA에 의해 깊이있게 눌려지면서 크랙이 발생되기 때문이다.

본 발명의 실시예에 따른 터치 스크린 패널의 기능 검사 장치(300)는 본체(310), 전용지그(314), 이동수단(316) 및 콘트롤러(330)를 포함한다.

본체(310)는 상면에 터치 패널을 고정 장착되는 장착부(312)와, 일측에 FPCB(340)가 결합되는 컨넥터(미도시)를 포함한 전용지그(314)가 형성된다.

전용지그(314)는 탑 전극(100)의 FPCB 본딩 영역(110)의 금속 전극 부분(120)에 접촉하는 핀 타입의 제1 전도성 단자(320)와, 제1 전도성 단자(320)의 일단에 결합하는 결합봉(322)과, 결합봉(322)의 일단에 결합하는 완충 스프링(324)을 포함하고, 하면 일측에 하방으로 돌출된 면 타입의 제2 전도성 단자(326)를 포함한다.

전용지그(314)는 제1 전도성 단자(320), 결합봉(322), 완충 스프링(324)이 상하 방향으로 관통되고 제1 전도성 단자(320)는 콘트롤러(330)를 통해 FPCB(340)와 신호선들로 전기적으로 연결되어 있다.

전용지그(314)는 FPCB(340)가 결합되면 FPCB(340)와 면 타입의 제2 전도성 단자(326)가 전기적으로 연결된다.

면 타입의 제2 전도성 단자(326)는 바텀 전극(200)의 FPCB 본딩 영역(210)의 금속 전극 부분(220)에 접촉된다.

전용지그(314)는 핀 타입의 제1 전도성 단자(320)와 면 타입의 제2 전도성 단자(326)가 복수개가 하방으로 돌출되어 있다.

이동수단(316)은 전용지그(314)의 일단이 결합되고 전용지그(314)의 일단을 축으로 승하강시키는 구동모터가 구비된 플레이트(미도시)를 포함한다.

콘트롤러(330)는 전원부(332), 전압 감지부(334), 좌표 계산부(336) 및 판정부(338)를 포함한다.

콘트롤러(330)는 칩(Chip)의 형태로 구성되어 FPCB(340)와 제1 전도성 단자(320)를 전기적으로 연결하고 제1 전도성 단자(320)와 FPCB(340)에 전원을 공급한다.

전원부(332)는 FPCB(340)의 신호선들에 전원을 공급하고 제1 전도성 단자(320)와 제2 전도성 단자(326)를 통해 터치 패널에 전원을 공급한다.

전압 감지부(334)는 터치 패널의 탑 전극(100) 중 제1 정전전극 패턴의 복수개의 좌표를 선택적으로 누르게 되면, 탑 전극(센싱부)(100)과 바텀 전극(구동부)(200)의 사이에서 상호 캡이 형성되고 탑 전극(100)에서 상호 캡의 전압값을 감지한다.

좌표 계산부(336)는 전압 감지부(334)에서 감지된 전압값을 이용하여 해당 좌표의 위치를 계산한다.

판정부(338)는 터치된 위치에 해당하는 좌표의 전압값이 기저장된 기준 전압값과 비교하여 터치 패널의 양품 여부를 판단한다.

이상에서 설명한 본 발명의 실시예는 장치 및/또는 방법을 통해서만 구현이 되는 것은 아니며, 본 발명의 실시예의 구성에 대응하는 기능을 실현하기 위한 프로그램, 그 프로그램이 기록된 기록 매체 등을 통해 구현될 수도 있으며, 이러한 구현은 앞서 설명한 실시예의 기재로부터 본 발명이 속하는 기술분야의 전문가라면 쉽게 구현할 수 있는 것이다.

이상에서 본 발명의 실시예에 대하여 상세하게 설명하였지만 본 발명의 권리범위는 이에 한정되는 것은 아니고 다음의 청구범위에서 정의하고 있는 본 발명의 기본 개념을 이용한 당업자의 여러 변형 및 개량 형태 또한 본 발명의 권리범위에 속하는 것이다.

10: 바텀 전극
12: FPCB 단자
20: 탑 전극
22: FPCB 단자
30: 전도성 핀
32: 완충 스프링
100: 탑 전극
110: FPCB 본딩 영역
120: 금속 전극 부분
200: 바텀 전극
210: FPCB 본딩 영역
220: 금속 전극 부분
300: 터치 스크린 기능 검사 장치
310: 본체
312: 장착부
314: 전용지그
316: 이동수단
320: 제1 전도성 단자
322: 결합봉
324: 완충 스프링
326: 제2 전도성 단자
330: 콘트롤러
332: 전원부
334: 전압 감지부
336: 좌표 계산부
338: 판정부
340: FPCB

Claims

터치 패널이 고정 장착되는 장착부를 구비한 본체;
상기 본체의 일측에 설치되고 상기 터치 패널에서 연성 회로 기판(Flexible Printed Circuit Board, FPCB)이 결합되는 FPCB 본딩 영역의 복수개의 금속 전극 단자에 단차가 형성된 경우, 제1 금속 전극 단자에 핀 타입의 제1 전도성 단자를 접촉하며 상기 제1 금속 전극 단자보다 낮은 높이를 가진 제2 금속 전극 단자에 면 타입의 제2 전도성 단자를 접촉하는 전용지그; 및
상기 전용지그에 구비되고 상기 전용지그에 상기 FPCB와 결합시 상기 제1 전도성 단자와 상기 제2 전도성 단자를 통해 상기 터치 패널에 전원을 공급한 후 상기 터치 패널의 상면에 복수개의 좌표 중 선택적으로 누르게 되면 해당 좌표의 전압값을 분석하여 터치 패널의 양품 여부를 판단하는 콘트롤러
를 포함하는 터치 스크린 패널의 기능 검사 장치.
제1항에 있어서,
상기 터치 패널은 구동 전압이 인가되는 바텀 전극과, 상기 바텀 전극의 상면에 부착되는 투명 접착제층과, 상기 투명 접착제층의 상면에 부착되고 상기 바텀 전극에 구동 전압이 인가되면, 상호 캡(Mutual Cap)의 전압값의 변화로 터치 입력을 감지하는 탑 전극을 포함하며,
상기 탑 전극의 제1 FPCB 전극 영역의 제1 금속 전극 단자가 상기 바텀 전극의 제2 FPCB 전극 영역의 제2 금속 전극 단자보다 위치가 높게 형성되는 터치 스크린 패널의 기능 검사 장치.
제1항에 있어서,
상기 핀 타입의 제1 전도성 단자는 일단이 상기 전용지그를 상하 방향으로 관통하고 타단에 결합되는 결합봉과 상기 결합봉에 결합하는 완충 스프링으로 형성되는 터치 스크린 패널의 기능 검사 장치.
제1항에 있어서,
상기 콘트롤러는 상기 핀 타입의 제1 전도성 단자와 상기 전용지그에 결합되는 FPCB에 전기적으로 연결되는 터치 스크린 패널의 기능 검사 장치.
제1항에 있어서,
상기 콘트롤러는,
상기 제1 전도성 단자와 상기 제2 전도성 단자에 전원을 공급하는 전원부;
상기 터치 패널의 상면에 복수개의 좌표 중 선택적으로 누르게 되면, 해당 좌표의 위치의 캡의 전압값을 감지하는 전압 감지부;
상기 전압 감지부를 통해 감지된 전압값을 이용하여 해당 좌표의 위치를 계산하는 좌표 계산부; 및
터치된 위치에 해당하는 좌표의 전압값이 기저장된 기준 전압값과 비교하여 터치 패널의 양품 여부를 판단하는 판정부
를 포함하는 터치 스크린 패널의 기능 검사 장치.
제1항에 있어서,
상기 터치 패널은 구동 전압이 인가되는 바텀 전극과, 상기 바텀 전극의 상면에 부착되는 투명 접착제층과, 상기 투명 접착제층의 상면에 부착되고 상기 바텀 전극에 구동 전압이 인가되면, 상호 캡(Mutual Cap)의 전압값의 변화로 터치 입력을 감지하는 탑 전극을 포함하며,
상기 탑 전극의 제1 FPCB 전극 영역은 상기 바텀 전극의 제2 FPCB 전극 영역보다 높은 위치에 형성되며,
상기 제1 FPCB 전극 영역에 형성된 상기 제1 금속 전극 단자에는 상기 핀 타입의 제1 전도성 단자를 접촉하고, 상기 제2 FPCB 전극 영역에 형성된 상기 제2 금속 전극 단자에는 상기 면 타입의 제2 전도성 단자를 접촉하는 터치 스크린 패널의 기능 검사 장치.
제1항에 있어서
상기 전용지그는 하면 일측에 상기 면 타입의 제2 전도성 단자가 형성되고 상기 핀 타입의 제1 전도성 단자가 관통되어 상기 콘트롤러를 통해 상기 FPCB와 신호선들로 전기적으로 연결되어 있는 터치 스크린 패널의 기능 검사 장치.
제1항에 있어서,
상기 터치 패널은 구동 전압이 인가되는 바텀 전극과, 상기 바텀 전극의 상면에 부착되는 투명 접착제층과, 상기 투명 접착제층의 상면에 부착되고 상기 바텀 전극에 구동 전압이 인가되면, 상호 캡(Mutual Cap)의 전압값의 변화로 터치 입력을 감지하는 탑 전극을 포함하며,
상기 탑 전극의 제1 FPCB 전극 영역은 상기 바텀 전극의 제2 FPCB 전극 영역보다 높은 위치에 형성되며,
상기 제1 FPCB 전극 영역에 형성된 상기 제1 금속 전극 단자에는 상기 면 타입의 제2 전도성 단자를 접촉하고, 상기 제2 FPCB 전극 영역에 형성된 상기 제2 금속 전극 단자에는 상기 핀 타입의 제1 전도성 단자를 접촉하는 터치 스크린 패널의 기능 검사 장치.
제3항에 있어서,
상기 터치 패널은 구동 전압이 인가되는 바텀 전극과, 상기 바텀 전극의 상면에 부착되는 투명 접착제층과, 상기 투명 접착제층의 상면에 부착되고 상기 바텀 전극에 구동 전압이 인가되면, 상호 캡(Mutual Cap)의 전압값의 변화로 터치 입력을 감지하는 탑 전극을 포함하며,
상기 완충 스프링은 상기 탑 전극과 상기 바텀 전극 사이에 형성된 투명 접착제층의 두께에 따라 탄성력으로 축소되는 길이를 결정하는 터치 스크린 패널의 기능 검사 장치.