TW201341825A - 電子元件測試裝置及其應用測試設備 - Google Patents

Abstract

一種電子元件測試裝置，其係於機座上配置有測試機構、承料器及掣動機構，並罩設一具有通口且可隔離無線訊號之外罩，該測試機構係設有載座，用以承載具測試座之測試電路板，該承料器係設有具至少一承座之置料台，並設有可帶動置料台作至少一方向位移出入外罩之載送機構，以使承座於外罩之外部承載待測之電子元件後，並反向位移帶動電子元件之插接部插入於測試座，該掣動機構係於電子元件之插接部插入測試座時，可驅動測試機構之載座或承料器之承座擺動，使電子元件之插接部與測試座之探針確實電性連接而執行測試作業；藉此，可自動化測試電子元件，並以外罩隔離雜訊干擾而提升測試品質。

Description

電子元件測試裝置及其應用測試設備

本發明係提供一種可自動化測試無線通訊電子元件及易於隔離雜訊干擾而提升測試品質之電子元件測試裝置及其應用測試設備。

在現今，無線通訊電子元件(例如射頻IC)已廣泛應用於行動電話、基地台或無線網路等，為確保電子元件之出廠品質，業者必須測試無線通訊電子元件之接收/發送射頻信號等功能，目前測試方式係為工作人員將無線通訊電子元件插入測試座，由於測試座之上、下排探針所形成之插入口呈斜口狀，工作人員必須先將無線通訊電子元件之插接部(即金手指)初步斜插於測試座之插入口內，接著扳動無線通訊電子元件作一擺動，使無線通訊電子元件之插接部確實電性連接測試座之上、下排探針，再以測試機發送測試訊號供無線通訊電子元件接收，令無線通訊電子元件於測試座上執行測試作業，並依測試結果而淘汰不良品無線通訊電子元件；惟，此一測試作業具有如下缺失：

1.該測試方式係以人工先將待測之無線通訊電子元件斜插於測試座之插入口，再扳動無線通訊電子元件，方可使無線通訊電子元件確實電性連接測試座，若待測之無線通訊電子元件數量繁多，此一人工作業方式不僅相當耗時費力，亦降低生產效能。

2.該測試方式係以人工扳動電子元件，方可使無線通訊電子元件確實電性連接測試座，若人工扳動操作不當，易損壞無線通訊電子元件，造成增加電子元件損壞率及成本之缺失。

3.由於工作人員係於開放空間進行無線通訊電子元件測試作業，導致測試作業中易受其他雜訊干擾，進而影響測試品質，若於廠房內增設隔離室以供執行測試作業，則將大幅增加成本。

因此，如何設計一種可自動化測試無線通訊電子元件而提升測試產能，以及易於隔離雜訊干擾而提升測試品質之電子元件測試裝置，即為業者研發之標的。

本發明之目的一，係提供一種電子元件測試裝置，其係於機座上配置有測試機構、承料器及掣動機構，並罩設一具有通口且可隔離無線訊號之外罩，該測試機構係設有載座，用以承載具測試座之測試電路板，該承料器係設有具至少一承座之置料台，並以承座承置電子元件，該掣動機構係於電子元件之插接部插入測試座時，可驅動測試機構之載座或承料器之承座擺動，使電子元件之插接部與測試座之探針確實電性連接而執行測試作業；藉此，可自動化測試電子元件，並以外罩隔離雜訊干擾而提升測試品質。

本發明之目的二，係提供一種電子元件測試裝置，其係以掣動機構帶動測試機構之載座或承料器之承座擺動，使測試座之探針與電子元件之插接部確實電性連接，進而可防止因人為操作不當而扳損電子元件，達到降低電子元件損壞率之實用效益。

本發明之目的三，係提供一種電子元件測試裝置，其承料器係設有可帶動具承座之置料台作至少一方向位移出入外罩之載送機構，以使承座於外罩之外部便利承載待測之電子元件，並反向位移帶動電子元件之插接部插入於測試座，於測試完畢後，再將待測電子元件載出外罩，達到便利入、出料之實用效益。

本發明之目的四，係提供一種電子元件測試裝置，其外罩係以隔離材製成，使待測之電子元件於外罩內執行測試作業時，可有效防止外部雜訊干擾，毋須耗費成本增設隔離室，達到節省成本之實用效益。

本發明之目的五，係提供一種應用電子元件測試裝置之測試設備，其包含機台、供料裝置、收料裝置、至少一測試裝置、輸送裝置及中央控制裝置，供料裝置係配置於機台，用以容納至少一待測之電子元件，收料裝置係配置於機台，用以容納至少一完測之電子元件，測試裝置係可使電子元件之插接部與測試座之探針確實電性連接，而自動化測試電子元件，並有效防止外部雜訊干擾，輸送裝置係設有至少一具移料器之移料機構，用以於供料裝置、收料裝置及測試裝置間移載待測/完測之電子元件，該中央控制裝置係用以控制及整合各裝置作動，以執行自動化作業，達到自動化測試而提升測試生產效能之實用效益。

本發明之目的六，係提供一種應用電子元件測試裝置之測試設備，其測試裝置之承料器可控制載送機構帶動具承座之置料台於外罩之外部承載待測之電子元件而便利入料，並縮減輸送裝置之移料器於承座處取放待測/完測電子元件之位移行程，而縮短移料時間，達到提升生產效能之實用效益。

為使　貴審查委員對本發明作更進一步之瞭解，茲舉一較佳實施例並配合圖式，詳述如后：

請參閱第1、2、3圖，本發明測試裝置10可應用於測試無線通訊電子元件，包含有機座11、外罩12、測試機構13、承料器14及掣動機構15，該機座11可為獨立之座體，或測試設備之機台，於本實施例中，機座11係為獨立之座體，並可覆加以隔離材製成之隔離件(圖未示出)，用以隔離雜訊干擾；該外罩12係裝配於機座11上，並設有通口121，於本實施例中，外罩12係由隔離材製成，用以隔離外部雜訊干擾；該測試機構13係於機座11上設有載座131，用以承載具測試座133之測試電路板132，測試座133則用以測試無線通訊電子元件，更進一步，載座131係可固定架設於機座11，亦或於至少一側樞設有支撐架，支撐架則固設於機座11，於本實施例中，測試機構13係於載座131之兩側分別以樞軸樞接固設於機座11上之支撐架134及掣動機構15，使載座131可承載具測試座133之測試電路板132旋轉擺動，測試機構13另設有至少一可為測試天線135之測試件，用以電性連接無線通訊電子元件之接點部而測試收發訊號，更進一步，測試天線135可由一壓缸獨立驅動作至少一方向位移，亦或裝配於掣動機構15上，於本實施例中，測試天線135係裝配於掣動機構15上，並由掣動機構15驅動作Z軸向位移，使測試天線135與無線通訊電子元件之接點部作電性連接，以測試無線通訊電子元件之接收/發送訊號功能是否異常等；該承料器14係裝配於機座11上，並設有具至少一承座1411之置料台141，承座1411係承置無線通訊電子元件，更進一步，置料台141係可固設於機座11上，或由一載送機構驅動位移，承料器14可於置料台141設有固定式承座，或設有活動式承座，承座1411可為凹槽或通孔等不同型式，以供置入無線通訊電子元件，於本實施例中，承料器14係於對應外罩12之通口121處設有具承座1411之置料台141，並於置料台141上設有至少一可定位待測無線通訊電子元件之定位件，該定位件可為定位銷、壓固塊或彈片等，於本實施例中，係於承座1411上設有至少一為定位銷1412之定位件，用以定位待測之無線通訊電子元件，另於置料台141上設有封板142，封板142可於置料台141位移至外罩12內部時將通口121封閉，更進一步，封板142上可覆加以隔離材製成之隔離件(圖未示出)，用以隔離雜訊干擾，又承料器14係設有可驅動置料台141作至少一方向位移之載送機構，載送機構係以動力源驅動置料台141作至少一方向位移出入外罩12，更進一步，動力源係於機座11上設有複數個壓缸143，各壓缸143之活塞桿連接置料台141，用以驅動置料台141作至少一方向往復位移，該承料器14另於承座1411至少一側設有可為壓固塊144之定位件，用以壓抵無線通訊電子元件，並設有可控制壓固塊144伸縮位移作動之控制機構，於本實施例中，承料器14係於置料台141之承座1411兩側設有穿孔1413及滑槽1414，各滑槽1414供滑置一具有壓扣部1441之壓固塊144，其壓扣部1441可於置料台141之穿孔1413伸縮位移作動，用以壓抵或釋放承座1411上之無線通訊電子元件，控制機構係包含有移動件145及控制件146，移動件145係設有可承置控制件146之容置槽1451，移動件145之一端係設於機座11上，另一端則連結於置料台141，控制件146與各壓固塊144間則設有相互配合之引導部件與導移部件，用以控制各壓固塊144位移作動，更進一步，係於各壓固塊144之底面設有可為導桿1442之導移部件，導桿1442凸伸出置料台141之底面，於控制件146相對應各壓固塊144之導桿1442位置分別開設有可為導槽1461之引導部件，二導槽1461係呈向外逐漸傾斜狀，用以導引各導桿1442位移，使二壓固塊144可伸縮位移作動，另於移動件145之下方設有輔助滑移結構，於本實施例中，輔助滑移結構係於移動件145與機座11間設有相互配合之滑軌1471及滑座1472，又控制機構係設有可限制控制件146位移之第一限位結構，於本實施例中，第一限位結構係於控制件146與機座11間設有至少一組相互配合之擋置部件及頂抵部件，更進一步，第一限位結構係於控制件146之兩側設有可為頂抵塊1462之頂抵部件，並於機座11上相對應控制件146之各頂抵塊1462位置設有可為擋塊1463之擋置部件，用以限制控制件146位移，又控制機構係設有可限制移動件145位移之第二限位結構，更進一步，係於控制件146及移動件145間設有至少一組相互配合之限位塊及限位槽，於本實施例中，係於控制件146開設有複數個限位槽1464，並於移動件145相對應各限位槽1464之位置設有限位塊1452，限位塊1452可沿限位槽1464位移，再者，控制機構係於移動件145及控制件146間設有至少一彈性件，用以控制壓固塊144壓抵無線通訊電子元件之力量，於本實施例中，彈性件係為彈簧148，用以控制各壓固塊144之壓扣部1441壓抵於無線通訊電子元件之力量，進而可視不同電子元件，而選用具適當彈力之彈簧148，以控制壓固塊144之壓抵力量；該掣動機構15係設於機座11上，用以於無線通訊電子元件之插接部插入測試座133時，可控制測試機構13之載座131或承料器14之承座1411擺動，使無線通訊電子元件之插接部與測試座133之探針確實電性連接，更進一步，掣動機構15係設有至少一由驅動源驅動之作動件，並以作動件帶動測試機構13之載座131或承料器14之承座1411擺動，於本實施例中，掣動機構15係於機座11上以固定架151架設一為壓缸152之驅動源，壓缸152之活塞桿係連結傳動架153，傳動架153與固定架151間設有輔助滑移結構，用以輔助傳動架153平穩位移，更進一步，輔助滑移結構係於傳動架153與固定架151間設有相互配合之滑座及滑軌，於本實施例中，係於固定架151設有滑軌1511，並於傳動架153設有可滑置於滑軌1511上之滑座1531，又傳動架153係以軸桿樞接作動件154，作動件154之另一端則以軸桿樞接測試機構13之載座131，用以帶動載座13擺動，另於傳動架153上設有至少一支撐組件，用以裝配測試機構13之測試天線135，以帶動測試天線135作至少一方向位移而電性連接無線通訊電子元件之接點部，於本實施例中，支撐組件包含第一支撐架155及複數個第二支撐架156，第一支撐架155係固設於傳動架153，並開設有第一滑槽1551，各第二支撐架156係位於第一支撐架155下方，用以承載測試天線135，並開設有與第一滑槽1551不同方向之第二滑槽1561，再以栓具157穿置第一、二滑槽1551、1561，使測試天線135可作不同方向之位移調整。

請參閱第1、4圖，於使用時，測試裝置10可控制承料器14之壓缸143的活塞桿向外凸伸，而帶動具承座1411之置料台141經由外罩12之通口121滑移至外部，由於承料器14之移動件145連結置料台141，使得移動件145可受置料台141之牽動而承載控制件146同步向外位移，移動件145並利用滑軌1471沿機座11上之滑座1472而輔助平穩位移，於控制件146之頂抵塊1462抵頂至擋塊1463時，即可限制控制件146位移，由於控制件146、移動件145及置料台141係同步位移，控制件146之導槽1461並未驅動二壓固塊144之導桿1442位移，二壓固塊144之壓扣部1441保持凸伸出置料台141之穿孔1413而呈一未開啟狀態；請參閱第5、6圖，接著壓缸143之活塞桿繼續向外凸伸而帶動置料台141位移，置料台141即牽動移動件145向外同步位移，移動件145則拉伸彈簧148，由於控制件146已定位，置料台141可帶動二壓固塊144之導桿1442沿控制件146之導槽1461位移，令二導桿1442受導槽1461之導引而帶動二壓固塊144分別於置料台141之各滑槽1414中位移，使二壓固塊144之壓扣部1441退位至置料台141之穿孔1413內而呈一開啟狀態，移動件145則於限位塊1452頂抵控制件146之限位槽1464一端時而限制位移，進而使承座1411位於外罩12之外部承載待測之無線通訊電子元件20，以提升置料便利性；請參閱第7、8圖，於置料台141之承座1411承載待測之無線通訊電子元件20後，可控制壓缸143之活塞桿帶動承料器14之置料台141向內位移，置料台141即帶動移動件145同步內移，並令二壓固塊144之導桿1442沿控制件146之導槽1461位移，使各壓固塊144於置料台141之各滑槽1414中反向位移，令各壓扣部1441再次凸伸出置料台141之穿孔1413而壓扣待測之無線通訊電子元件20，由於彈簧148可透過移動件145對置料台141產生拉力，令置料台141上之各壓固塊144的導桿1442保持位於控制件146之導槽1461一端，使各壓固塊144之壓扣部1441確實凸伸壓抵無線通訊電子元件20，因此，可利用彈簧148之彈力而控制各壓固塊144之壓扣部1441壓抵無線通訊電子元件之力量，此時，移動件145之限位塊1452則頂抵於控制件146之限位槽1464另一端而限制位移，接著壓缸143之活塞桿繼續帶動置料台141向內位移，置料台141係利用移動件145頂抵帶動控制件146同步內移，進而承料器14之承座1411可承載待測之無線通訊電子元件20由外罩12之外部經通口121而滑入於內，並使封板142封閉通口121，由於測試座133之上、下排探針所排列形成之插入口係呈斜口狀，承料器14可帶動待測之無線通訊電子元件20之插接部201初步插入於測試座133之插入口內，並令待測無線通訊電子元件20之接點部202對應於測試天線135；請參閱第1、9圖，測試裝置10係控制掣動機構15之壓缸152驅動傳動架153向下位移，傳動架153即帶動第一、二支撐架155、156及作動件154同步下移，並利用滑座1531沿固定架151之滑軌1511滑移，而輔助傳動架153平穩位移，作動件154則連動下壓載座131之一端，使載座131以支撐架134之軸桿為轉軸而向下擺動適當角度，以調整測試座133之擺置角度，令測試座133之探針與待測無線通訊電子元件20之插接部201確實接觸，此時，傳動架153係利用第一、二支撐架155、156帶動測試天線135同步下移，令測試天線135接觸待測無線通訊電子元件20之接點部202，使待測之無線通訊電子元件20於外罩12之內部執行測試作業，例如測試接收/發送訊號功能等，由於外罩12係以隔離材製成，而可防止外部雜訊干擾測試，亦毋須耗費成本增設隔離室，進而提升測試品質；請參閱第10圖(配合參閱第4、5、7圖)，於無線通訊電子元件20測試完畢後，測試裝置10可控制掣動機構15之壓缸152驅動傳動架153向上位移，傳動架153即帶動第一、二支撐架155、156及作動件154同步上移，並利用作動件154牽動上拉載座131之一端，使載座131帶動測試座133向上擺動復位，以利完測無線通訊電子元件20之插接部201退出測試座133，此時，掣動機構15之第一、二支撐架155、156亦同步帶動測試天線135上移脫離完測無線通訊電子元件20之接點部202，接著測試裝置10再控制承料器14之壓缸143帶動置料台141向外位移，由於定位銷1412係穿置完測之無線通訊電子元件20，置料台141可利用定位銷1412拉動拔出完測之無線通訊電子元件20脫離測試座133，使承座1411承載完測之無線通訊電子元件20經由外罩12之通口121滑移至外部，移動件145則受置料台141之牽動而承載控制件146同步向外位移，並令二壓固塊144之導桿1442沿控制件146之導槽1461位移，使二壓固塊144之壓扣部1441退位至置料台141之穿孔1413內而開啟釋放完測之無線通訊電子元件20以供取料，達到自動化測試之實用效益。

請參閱第11圖，係為應用上述測試裝置之電子元件測試設備，該電子元件測試設備包含機台30、供料裝置40、收料裝置50、至少一測試裝置10、輸送裝置60及中央控制裝置，其中，該機台30可為多角形或圓形，供料裝置40、收料裝置50及至少一測試裝置10係環設於輸送裝置60之四周，該供料裝置40係配置於機台30，用以容納至少一待測之電子元件，更進一步，供料裝置40可供輸送裝置60直接取出待測之電子元件，亦或配置有至少一盛裝待測電子元件之料盤，於本實施例中，供料裝置40係配置有至少一盛裝待測電子元件之料盤41，並設有可作至少一方向位移之取放器42，用以將料盤41上之待測電子元件取出移載至供料區43以供取料；該收料裝置50係配置於機台30，用以容納至少一完測之電子元件，更進一步，收料裝置50可供輸送裝置60直接置放完測之電子元件，亦或配置有至少一盛裝完測電子元件之料盤，於本實施例中，收料裝置50係配置有至少一盛裝完測電子元件之料盤51，並設有可作至少一方向位移之取放器52，用以於至少一收料區53取出完測之電子元件，並移載至料盤51收置；至少一測試裝置10係相同上述之測試裝置(請配合參閱第1、2、3圖)，並配置於機台30上，用以測試至少一電子元件，例如無線通訊電子元件，並以測試器(圖未示出)將測試結果傳輸至中央控制裝置(圖未示出)，由中央控制裝置控制各裝置作動，於本實施例中，係於輸送裝置60之周側環設有複數個相同上述測試裝置之測試裝置10、10A、10B、10C，用以測試電子元件；輸送裝置60係配置於機台30上，並設有至少一具移料器之移料機構，用以移載電子元件，該移料機構可為機械手臂，更進一步，輸送裝置60若配置複數個具移料器之移料機構，機台30上則可增設至少一暫置電子元件之暫置區，使複數個具移料器之移料機構於暫置區及各裝置間交替移載電子元件，於本實施例中，輸送裝置60之移料機構61可驅動第一移料器611及第二移料器612位移，例如水平位移、升降位移及旋轉作動，用以於供料裝置40、收料裝置50及各測試裝置10、10A、10B、10C間移載待測/完測之電子元件。

請參閱第12圖，係為電子元件測試設備應用測試無線通訊電子元件之實施例，於執行測試作業時，供料裝置40係控制取放器42於料盤41上取出待測之無線通訊電子元件20，並移載至供料區43，輸送裝置60之移料機構61係驅動第一、二移料器611、612位移至供料裝置40處，並令第一移料器611於供料裝置40之供料區43取出待測之無線通訊電子元件20；請參閱第13圖(配合參閱第4、5、6圖)，測試裝置10之承料器14係帶動承座1411位移至外罩12之外部，並控制開啟二壓固塊144，以便承座1411承載待測之無線通訊電子元件20，輸送裝置60之移料機構61係驅動第一、二移料器611、612位移至測試裝置10處，並令第一移料器611將待測之無線通訊電子元件20置入於測試裝置10之承座1411；請參閱第14圖(配合參閱第7、8、9圖)，測試裝置10之承料器14係控制承載待測無線通訊電子元件20之承座1411由外罩12之外部位移至內部，並使二壓固塊144凸伸出置料台141之穿孔1413而壓扣待測之無線通訊電子元件20，承料器14即帶動待測無線通訊電子元件20之插接部201插入於載座131上之測試座133中，接著掣動機構15係驅動載座131擺動適當角度，使測試座133之探針與待測無線通訊電子元件20之插接部201確實電性接觸，掣動機構15並帶動測試天線135接觸待測無線通訊電子元件20之接點部202，使待測之無線通訊電子元件20於外罩12內執行測試作業，此時，下一測試裝置10A的承座1411A已位於外罩12A之外部，輸送裝置60之移料機構61係驅動第一、二移料器611、612位移至測試裝置10A處，並令第一移料器611將下一待測之無線通訊電子元件21置入於測試裝置10A之承座1411A，因此，輸送裝置60可依序於各測試裝置10、10A、10B、10C置入待測之無線通訊電子元件；請參閱第15圖(配合參閱第10、13圖)，當測試裝置10測試完畢後，承料器14係控制承載完測無線通訊電子元件20之承座1411位移至外罩12之外部，並開啟二壓固塊144，以供輸送裝置60取料，輸送裝置60可控制第一、二移料器611、612位移至測試裝置10處，令第二移料器612於測試裝置10之承座1411上取出完測之無線通訊電子元件20，並移載至收料裝置50之收料區53，收料裝置50係以取放器52於收料區53取出完測之無線通訊電子元件20，並移載至料盤51收置。

請參閱第16圖，係為另一應用上述測試裝置之電子元件測試分類機，該測試分類機包含有機台70、供料裝置80、收料裝置90、至少一測試裝置10、輸送裝置100及中央控制裝置，該供料裝置80係配置於機台70，用以容納至少一待測之電子元件，於本實施例中，供料裝置80係配置有至少一盛裝待測電子元件之料盤81；該收料裝置90係配置於機台70，用以容納至少一完測之電子元件，於本實施例中，係設有複數個可盛裝不同等級完測電子元件之料盤91；至少一測試裝置10係相同上述之測試裝置(請配合參閱第1、2、3圖)，並配置於機台70上，用以測試至少一電子元件，例如無線通訊電子元件，並以測試器(圖未示出)將測試結果傳輸至中央控制裝置(圖未示出)，由中央控制裝置控制各裝置作動，於本實施例中，係於機台70上配置有複數個相同上述測試裝置之測試裝置10，用以測試電子元件；輸送裝置100係配置於機台70上，並設有至少一具移料器之移料機構，用以移載電子元件，於本實施例中，輸送裝置100係包含有第一移料機構101、載送機構102及第二移料機構103，第一移料機構101係設有至少一第一移料器1011，用以於供料裝置80、收料裝置90及載送機構102間移載待測/完測之電子元件，載送機構102係設有至少一載台1021，用以於第一移料機構101及第二移料機構103載送待測/完測之電子元件，更進一步，載送機構102可調整電子元件之角位方向，第二移料機構103係設有至少一第二移料器1031，用以於各測試裝置10及載送機構102間移載待測/完測之電子元件。

10、10A、10B、10C．．．測試裝置

11．．．機座

12、12A．．．外罩

121．．．通口

13．．．測試機構

131．．．載座

132．．．測試電路板

133．．．測試座

134．．．支撐架

135．．．測試天線

14．．．承料器

141．．．置料台

1411、1411A．．．承座

1412．．．定位銷

1413．．．穿孔

1414．．．滑槽

142．．．封板

143．．．壓缸

144．．．壓固塊

1441．．．壓扣部

1442．．．導桿

145．．．移動件

1451．．．容置槽

1452．．．限位塊

146．．．控制件

1461．．．導槽

1462．．．頂抵塊

1463．．．擋塊

1464．．．限位槽

1471．．．滑軌

1472．．．滑座

148．．．彈簧

15．．．掣動機構

151．．．固定架

1511．．．滑軌

152．．．壓缸

153．．．傳動架

1531．．．滑座

154．．．作動件

155．．．第一支撐架

1551．．．第一滑槽

156．．．第二支撐架

1561．．．第二滑槽

157．．．栓具

20、21．．．無線通訊電子元件

201．．．插接部

202．．．接點部

30．．．機台

40．．．供料裝置

41．．．料盤

42．．．取放器

43．．．供料區

50．．．收料裝置

51．．．料盤

52．．．取放器

53．．．收料區

60．．．輸送裝置

61．．．移料機構

611．．．第一移料器

612．．．第二移料器

70．．．機台

80．．．供料裝置

81．．．料盤

90．．．收料裝置

91．．．料盤

100．．．輸送裝置

101．．．第一移料機構

1011．．．第一移料器

102．．．載送機構

1021．．．載台

103．．．第二移料機構

1031．．．第二移料器

第1圖：本發明測試裝置之外觀示意圖。

第2圖：本發明測試裝置之側視圖。

第3圖：本發明測試裝置之俯視圖。

第4圖：本發明測試裝置之使用示意圖(一)。

第5圖：本發明測試裝置之使用示意圖(二)。

第6圖：本發明測試裝置之使用示意圖(三)。

第7圖：本發明測試裝置之使用示意圖(四)。

第8圖：本發明測試裝置之使用示意圖(五)。

第9圖：本發明測試裝置之使用示意圖(六)。

第10圖：本發明測試裝置之使用示意圖(七)。

第11圖：本發明應用測試裝置之電子元件測試設備的示意圖。

第12圖：本發明電子元件測試設備之使用示意圖(一)。

第13圖：本發明電子元件測試設備之使用示意圖(二)。

第13圖：本發明電子元件測試設備之使用示意圖(三)。

第14圖：本發明電子元件測試設備之使用示意圖(四)。

第15圖：本發明電子元件測試設備之使用示意圖(五)。

第16圖：本發明另一應用測試裝置之測試分類機的示意圖。

10．．．測試裝置

11．．．機座

12．．．外罩

121．．．通口

13．．．測試機構

131．．．載座

132．．．測試電路板

133．．．測試座

134．．．支撐架

135．．．測試天線

14．．．承料器

141．．．置料台

1411．．．承座

1412．．．定位銷

1413．．．穿孔

1414．．．滑槽

142．．．封板

143．．．壓缸

144．．．壓固塊

1441．．．壓扣部

145．．．移動件

1451．．．容置槽

146．．．控制件

1461．．．導槽

1471．．．滑軌

1472．．．滑座

148．．．彈簧

15．．．掣動機構

151．．．固定架

1511．．．滑軌

152．．．壓缸

153．．．傳動架

154．．．作動件

155．．．第一支撐架

1551．．．第一滑槽

156．．．第二支撐架

1561．．．第二滑槽

157．．．栓具

Claims (10)

1. 一種電子元件測試裝置，包含：機座；外罩：係配置於機座上，並設有通口；測試機構：係配置於機座上，並設有載座，用以承載至少一具測試座之測試電路板，測試座則用以測試電子元件；承料器：係設有具至少一承座之置料台，承座則用以承置電子元件；掣動機構：係配置於機座上，用以於電子元件之插接部插入測試機構之測試座時，可控制測試機構之載座或承料器之承座作擺動，使電子元件之插接部與測試座確實電性連接而執行測試作業。
2. 依申請專利範圍第1項所述之電子元件測試裝置，其中，該測試機構係於載座至少一側樞接有設於機座上之支撐架，使載座可旋轉擺動。
3. 依申請專利範圍第1項所述之電子元件測試裝置，其中，該承料器之置料台係對應於外罩之通口，並設有具動力源之載送機構，用以驅動置料台作至少一方向位移出入外罩。
4. 依申請專利範圍第3項所述之電子元件測試裝置，其中，該承料器係於置料台上設有可封閉外罩通口之封板。
5. 依申請專利範圍第1或3項所述之電子元件測試裝置，其中，該承料器係於置料台上設有至少一可定位電子元件之定位件。
6. 依申請專利範圍第5項所述之電子元件測試裝置，其中，該承料器係於置料台之承座至少一側設有可為壓固塊之定位件，並設有可控制壓固塊位移作動之控制機構。
7. 依申請專利範圍第6項所述之電子元件測試裝置，其中，該控制機構係於承座至少一側設有穿孔及滑槽，滑槽供滑置壓固塊，壓固塊係於對應穿孔之位置設有壓扣部，又控制結構係包含控制件及移動件，移動件之一端係設於機座上，另一端連結置料台，並可承載控制件，另於控制件與壓固塊間設有相互配合之引導部件與導移部件，用以控制壓固塊位移作動，又該控制機構係於移動件之下方設有輔助滑移結構，用以輔助移動件位移，另設有可限制控制件位移之第一限位結構，以及可限制移動件位移之第二限位結構。
8. 依申請專利範圍第1項所述之電子元件測試裝置，其中，該掣動機構係設有至少一由驅動源驅動之作動件，並以作動件帶動測試機構之載座或承料器之承座擺動。
9. 依申請專利範圍第1或8項所述之電子元件測試裝置，其中，該測試機構更包含至少一可電性接觸電子元件接點部之測試件，該掣動機構係設有至少一支撐組件，用以裝配測試機構之測試件。
10. 一種應用電子元件測試裝置之測試設備，包含：機台；供料裝置：係配置於機台，用以容納至少一待測之電子元件；收料裝置：係配置於機台，用以容納至少一完測之電子元件；至少一依申請專利範圍第1項所述之電子元件測試裝置，用以測試電子元件；輸送裝置：係設有至少一具移料器之移料機構，用以移載電子元件；中央控制裝置：係用以控制及整合各裝置作動，以執行自動化作業。