CN107966122A - 一种自动化电子元器件测试机构 - Google Patents

一种自动化电子元器件测试机构 Download PDF

Info

Publication number
CN107966122A
CN107966122A CN201710941084.2A CN201710941084A CN107966122A CN 107966122 A CN107966122 A CN 107966122A CN 201710941084 A CN201710941084 A CN 201710941084A CN 107966122 A CN107966122 A CN 107966122A
Authority
CN
China
Prior art keywords
pan feeding
track
feeding track
detected
move
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
CN201710941084.2A
Other languages
English (en)
Inventor
陈能强
邓凌思
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Wuxi Chang Ding Electronics Co Ltd
Original Assignee
Wuxi Chang Ding Electronics Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Wuxi Chang Ding Electronics Co Ltd filed Critical Wuxi Chang Ding Electronics Co Ltd
Priority to CN201710941084.2A priority Critical patent/CN107966122A/zh
Publication of CN107966122A publication Critical patent/CN107966122A/zh
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B21/00—Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/26—Testing of individual semiconductor devices
    • G01R31/2607—Circuits therefor
    • G01R31/2608—Circuits therefor for testing bipolar transistors

Abstract

本发明涉及电子元器件的检测设备领域，具体是一种自动化电子元器件测试机构，包括入料轨道、移料装置、测试片和底座，所述入料轨道通过固定座与所述底座连接，所述移料装置套设于所述入料轨道外侧并通过气缸驱动，所述测试片安装于所述入料轨道的末端。本机构通过移料装置套设于所述入料轨道来对待检测材料移动行为进行调整与控制，不仅能够对待检测材料有条不紊的控制，而且通过移料轨道与入料轨道的循环交替控制，使得待检测材料在入料轨道上前进的速度得到有效的控制，不会对正在检测的材料产生干扰，与传统吹气控制待检测材料前进相比，整体机构更加小型化，装运和安装更加方便快捷。

Description

一种自动化电子元器件测试机构
技术领域
本发明涉及电子元器件的检测设备领域，尤其涉及一种自动化电子元器件测试机构。
背景技术
目前，表面贴装型电子元器件引脚外观变形会导致产品在整机贴装焊接中出现开、短路的不良，所以产品在出厂前进行引脚外观尺寸的检测是必不可少的，检测项目必须包含平面度、正位度、排距、脚间距、脚宽度等参数。现有检测设备都存在精度和可靠性不高的问题，难以达到检测目的 ；而且检测效率很低，不能适应生产线产量大、效率高的要求。目前大部分厂家都是通过人工肉眼目测完成的，人工检测速度慢，可靠性差，容易漏检。
发明内容
本发明的目的在于克服上述现有技术的问题，提供了一种自动化电子元器件测试机构，通过移料装置套设于所述入料轨道来对待检测材料进行行为调整与行程控制，不仅能够对待检测材料有条不紊的控制，而且通过移料轨道与入料轨道的循环交替控制，使得待检测材料在入料轨道上前进的速度得到有效的控制，不会对正在检测的材料产生干扰，与传统吹气控制待检测材料前进相比，整体机构更加小型化，装运和安装更加方便快捷。
上述目的是通过以下技术方案来实现：
一种自动化电子元器件测试机构，包括入料轨道、移料装置、测试片和底座，所述入料轨道通过固定座与所述底座连接，所述移料装置套设于所述入料轨道外侧并通过气缸驱动，所述测试片安装于所述入料轨道的末端。
进一步地，所述移料装置包括相互对称的第一移料装置和第二移料装置，所述第一移料装置和所述第二移料装置通过所述入料轨道下方的移料装置固定座分别固定于所述入料轨道的两侧，所述移料装置固定座通过第一气缸与所述底座连接；在所述第一移料装置上设置有与所述入料轨道贴合的第一移料轨道，在所述第二移料装置上设置有与所述入料轨道贴合的第二移料轨道，所述第一移料轨道通过第一盖板与所述第一移料装置固定，所述第二移料轨道通过第二盖板与所述第二移料装置固定；所述第一移料轨道与所述第二移料轨道的两对应边相互接触。
进一步地，在所述第一移料装置上设置有第二气缸，所述第二气缸用于控制所述第一移料轨道前后移动；所述第一移料轨道和所述第二移料轨道上还设置有相互匹配的拨爪料槽，所述拨爪料槽用于夹持待检测材料。
进一步地，在所述入料轨道的入口设置有下料跳盖，用于对进入轨道的待检测材料进行位置校正。
进一步地，在所述下料跳盖的末端设置有检知器，所述检知器用于感知进入入料轨道的待检测材料。
进一步地，还包括挡料顶针，所述挡料顶针设置于所述第一移料装置上，用于对进入所述入料轨道的待检测材料进行阻挡。
进一步地，还包括下料顶针，所述下料顶针设置于所述第二移料装置上，用于对进入所述入料轨道的待检测材料进行固定。
进一步地，还包括近接开关，所述近接开关设置于所述第二移料装置上。
进一步地，所述测试片通过滑轨装置固定于所述入料轨道的末端，用于对待检测材料进行检测，所述滑轨装置通过第三气缸驱动。
有益效果
本发明所提供的一种自动化电子元器件测试机构，通过移料装置套设于所述入料轨道外侧来对待检测材料移动行为进行调整与控制，不仅能够对待检测材料有条不紊的控制，而且通过移料轨道与入料轨道的循环交替控制，使得待检测材料在入料轨道上前进的速度得到有效的优化，不会对正在检测的材料产生干扰，与传统吹气控制待检测材料前进相比，整体机构更加小型化，装运和安装更加方便快捷。
附图说明
图1为本发明所述一种自动化电子元器件测试机构的第一视角立体结构示意图；
图2为本发明所述一种自动化电子元器件测试机构的第二视角立体结构示意图；
图3为本发明所述一种自动化电子元器件测试机构的第三视角立体结构示意图；
图4为本发明所述一种自动化电子元器件测试机构的移料轨道第一种运动状态结构示意图；
图5为本发明所述一种自动化电子元器件测试机构的移料轨道第二种运动状态结构示意图；
图6为本发明所述一种自动化电子元器件测试机构的移料轨道第三种运动状态结构示意图。
具体实施方式
下面根据附图和实施例对本发明作进一步详细说明。
如图1所示，一种自动化电子元器件测试机构，包括入料轨道1、移料装置2、测试片3和底座4，所述入料轨道1通过固定座6与所述底座4连接，所述移料装置2套设于所述入料轨道1外侧并通过气缸5驱动，所述测试片3安装于所述入料轨道1的末端。
如图2-4所述移料装置2包括相互对称的第一移料装置21和第二移料装置22，所述第一移料装置21和所述第二移料装置22通过所述入料轨道1下方的移料装置固定座23固定于所述入料轨道1的两侧，所述移料装置固定座23通过第一气缸51与所述底座4连接；在所述第一移料装置21上设置有与所述入料轨道1贴合的第一移料轨道211，在所述第二移料装置22上设置有与所述1入料轨道贴合的第二移料轨道221，所述第一移料轨道211通过第一盖板212与所述第一移料装置21固定，所述第二移料轨道221通过第二盖板222与所述第二移料装置22固定；所述第一移料轨道211与所述第二移料轨道221的两对应边相互接触。
如图4-6所示，在所述第一移料装置21上设置有第二气缸52，所述第二气缸52用于控制所述第一移料轨道211前后移动；所述第一移料轨道211和所述第二移料轨道221上还设置有相互匹配的第一拨爪料槽2111和第二拨爪料槽2211，用于夹持待检测材料7。
在所述入料轨道1的入口设置有下料跳盖8，用于对进入轨道的待检测材料7进行位置校正。
在所述下料跳盖8的末端设置有检知器9，所述检知器9用于感知进入入料轨道的待检测材料7，并通过与外部控制系统的通信来控制第一气缸51驱动移料装置2的左右运动。
还包括挡料顶针213，所述挡料顶针213设置于所述第一移料装置21上，用于对进入所述入料轨道1的待检测材料7进行阻挡。
还包括下料顶针223，所述下料顶针223设置于所述第二移料装置22上，用于对进入所述入料轨道的待检测材料7进行固定。
还包括近接开关10，所述近接开关10设置于所述第二移料装置22上，当待检测材料7与所述第二移料轨道221接触时，所述近接开关10控制第二气缸52驱动第一移料轨道211前后移动。
所述测试片3通过滑轨装置11固定于所述入料轨道1的末端，用于对待检测材料7进行检测，所述滑轨装置11通过第三气缸53驱动。
具体的，在所述第一移料轨道211设置有5个第一拨爪料槽2111，对应的在第二移料轨道221上设置有5个第二拨爪料槽2211。检知器9检测到待检测材料7后，第一气缸51驱动移料装置2向左移动一次，带动待检测材料7与第二移料轨道221接触（如图4），第二气缸52驱动所述第一移料轨道211向前移动一次（如图5），然后第一气缸51驱动移料装置2向右移动一次复位，对应的，待检测材料7被位于第一移料轨道211上的排在首位的第一拨爪料槽2111夹持（如图6），然后第二气缸52驱动所述第一移料轨道211向后移动一次复位。上述操作步骤如此反复5次，对应的待检测材料在5个第一拨爪料槽2111和5个第二拨爪料槽2211的交替作用下到达测试片3位置，通过第三气缸53驱动测试片3与待检测材料7的料脚接触，完成对待检测材料7的三极管特性的检测。
以上所述仅为说明本发明的实施方式，并不用于限制本发明，对于本领域的技术人员来说，凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (9)

1.一种自动化电子元器件测试机构，包括入料轨道、移料装置、测试片和底座，其特征在于，所述入料轨道通过固定座与所述底座连接，所述移料装置套设于所述入料轨道外侧并通过气缸驱动，所述测试片安装于所述入料轨道的末端。
2.根据权利要求1 所述的一种自动化电子元器件测试机构，其特征在于，所述移料装置包括相互对称的第一移料装置和第二移料装置，所述第一移料装置和所述第二移料装置通过所述入料轨道下方的移料装置固定座分别固定于所述入料轨道的两侧，所述移料装置固定座通过第一气缸与所述底座连接；在所述第一移料装置上设置有与所述入料轨道贴合的第一移料轨道，在所述第二移料装置上设置有与所述入料轨道贴合的第二移料轨道，所述第一移料轨道通过第一盖板与所述第一移料装置固定，所述第二移料轨道通过第二盖板与所述第二移料装置固定；所述第一移料轨道与所述第二移料轨道的两对应边相互接触。
3.根据权利要求2所述的一种自动化电子元器件测试机构，其特征在于，在所述第一移料装置上设置有第二气缸，所述第二气缸用于控制所述第一移料轨道前后移动；所述第一移料轨道和所述第二移料轨道上还设置有相互匹配的拨爪料槽，所述拨爪料槽用于夹持待检测材料。
4.根据权利要求1所述的一种自动化电子元器件测试机构，其特征在于，在所述入料轨道的入口设置有下料跳盖，用于对进入轨道的待检测材料进行位置校正。
5.根据权利要求4所述的一种自动化电子元器件测试机构，其特征在于，在所述下料跳盖的末端设置有检知器，所述检知器用于感知进入入料轨道的待检测材料。
6.根据权利要求2所述的一种自动化电子元器件测试机构，其特征在于，还包括挡料顶针，所述挡料顶针设置于所述第一移料装置上，用于对进入所述入料轨道的待检测材料进行阻挡。
7.根据权利要求2所述的一种自动化电子元器件测试机构，其特征在于，还包括下料顶针，所述下料顶针设置于所述第二移料装置上，用于对进入所述入料轨道的待检测材料进行固定。
8.根据权利要求2所述的一种自动化电子元器件测试机构，其特征在于，还包括近接开关，所述近接开关设置于所述第二移料装置上。
9.根据权利要求1所述的一种自动化电子元器件测试机构，其特征在于，所述测试片通过滑轨装置固定于所述入料轨道的末端，用于对待检测材料进行检测，所述滑轨装置通过第三气缸驱动。
CN201710941084.2A 2017-10-11 2017-10-11 一种自动化电子元器件测试机构 Pending CN107966122A (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201710941084.2A CN107966122A (zh) 2017-10-11 2017-10-11 一种自动化电子元器件测试机构

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201710941084.2A CN107966122A (zh) 2017-10-11 2017-10-11 一种自动化电子元器件测试机构

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN107966122A true CN107966122A (zh) 2018-04-27

Family

ID=61997571

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201710941084.2A Pending CN107966122A (zh) 2017-10-11 2017-10-11 一种自动化电子元器件测试机构

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN107966122A (zh)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN111366811A (zh) * 2020-03-19 2020-07-03 北京广利核系统工程有限公司 一种电子元器件的集成式自动检验装置及方法

Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TW493750U (en) * 2000-10-20 2002-07-01 Zentech Technology Inc SMD transformer automatic test sorting apparatus
CN1916641A (zh) * 2005-08-17 2007-02-21 京元电子股份有限公司 电子元件的测试系统
TW201024740A (en) * 2008-12-31 2010-07-01 Hon Tech Inc Test device for electronic components testing and classification machine
CN102724859A (zh) * 2012-06-29 2012-10-10 东莞市新泽谷机械制造股份有限公司 散装立式电子元件供料器
TW201341825A (zh) * 2012-04-13 2013-10-16 Hon Tech Inc 電子元件測試裝置及其應用測試設備
CN103743986A (zh) * 2013-12-24 2014-04-23 安徽省明光市爱福电子有限公司 一种元器件自动检测装置
CN105242161A (zh) * 2015-10-29 2016-01-13 青岛海智半导体有限公司 一种带引脚的电子元件测试系统
CN207180634U (zh) * 2017-10-11 2018-04-03 无锡昌鼎电子有限公司 一种自动化电子元器件测试机构

Patent Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TW493750U (en) * 2000-10-20 2002-07-01 Zentech Technology Inc SMD transformer automatic test sorting apparatus
CN1916641A (zh) * 2005-08-17 2007-02-21 京元电子股份有限公司 电子元件的测试系统
TW201024740A (en) * 2008-12-31 2010-07-01 Hon Tech Inc Test device for electronic components testing and classification machine
TW201341825A (zh) * 2012-04-13 2013-10-16 Hon Tech Inc 電子元件測試裝置及其應用測試設備
CN102724859A (zh) * 2012-06-29 2012-10-10 东莞市新泽谷机械制造股份有限公司 散装立式电子元件供料器
CN103743986A (zh) * 2013-12-24 2014-04-23 安徽省明光市爱福电子有限公司 一种元器件自动检测装置
CN105242161A (zh) * 2015-10-29 2016-01-13 青岛海智半导体有限公司 一种带引脚的电子元件测试系统
CN207180634U (zh) * 2017-10-11 2018-04-03 无锡昌鼎电子有限公司 一种自动化电子元器件测试机构

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN111366811A (zh) * 2020-03-19 2020-07-03 北京广利核系统工程有限公司 一种电子元器件的集成式自动检验装置及方法
CN111366811B (zh) * 2020-03-19 2022-06-21 北京广利核系统工程有限公司 一种电子元器件的集成式自动检验装置及方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN104614666B (zh) 电路板自动测试装置
CN202886563U (zh) 检测装置
CN104457680B (zh) 平整度检测系统及方法
CN207631562U (zh) 一种连接器端子检测包装机
CN209109627U (zh) 一种电池测量设备
CN105115472A (zh) 一种自动化平面度检测设备
CN106785797A (zh) Usb接头自动化组装和测试系统
CN105589036A (zh) 继电器老化测试机
CN204705697U (zh) 一种电感性能参数测试工作站
CN107966122A (zh) 一种自动化电子元器件测试机构
CN205066739U (zh) 一种自动化平面度检测设备
CN207180634U (zh) 一种自动化电子元器件测试机构
CN204012117U (zh) 一种MINI-USB-10Pin母座外壳自动装管机
CN105005160A (zh) 一种lcd管脚检测装置
CN107214417A (zh) 一种激光焊接质检一体设备
CN208888358U (zh) 一种电流传感器新型产品调试工装
CN203599726U (zh) 一种自动点焊机
CN206311437U (zh) 拔取力与嵌合长度全自动检测仪
CN207090361U (zh) 一种传输定位装置
JP2017090231A (ja) 超音波探傷検査に用いる探触子ユニット及びそれと共に用いるシート部材
CN207730904U (zh) 断路器瞬时特性检测设备
CN206997927U (zh) 一种带锯床的进给速度检测导向装置
CN206523594U (zh) 一种线路板的线路导通自动检测装置
CN203417813U (zh) 全自动视觉led点胶机
CN208109720U (zh) 一种自动化电路板检测机

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination