TWI434645B - A radio frequency shielding test stand and a test machine having the test seat - Google Patents

Description

射頻屏蔽測試座及具有該測試座之測試機台

本發明係關於一種半導體自動化檢測機台，特別是關於一種可屏蔽待測物於測試時產生的射頻電磁場滲透至外部空間之射頻屏蔽測試座及具有該測試座之測試機台。

從手機、無線網路卡、藍芽耳機設備等，只要是需要發射、接收訊號的裝置，幾乎都用得到射頻積體電路晶片(RF IC)，相對的現階段對於射頻積體電路晶片之測試需求逐步增溫。目前傳統用來測試IC之自動化測試機台，大致可分為由測試座提供模擬訊號，擷取各輸出腳位輸出訊號之模擬測試；以及提供實際功能性電路板與周邊，空出待測IC位置，將待測IC置入實際使用環境中運作之實境測試。

以目前業界多採行的是符合使用環境之實境測試，也就是單獨留下待測IC之空缺，讓受測IC填補受測位置，並以實際機台依照使用狀態進行測試，可輕易獲得該待測IC在實際使用環境下之反應狀態，並得知該待測IC是否可供實際裝機，亦可稱之為系統級測試。舉例來說，若所欲量測之IC為應用於手機，上述實境測試之測試電路板即為手機電路板，若所測IC為網路卡用之IC，即可以網路卡作為測試電路板，無論何種卡，多為市面上常見或已為廠商所具備者，因此實境測試之環境營造毫無困難。

一般簡易的射頻IC測試裝置，係利用人工置換待測物的 方式，測試速度緩慢，且在封閉空間中對待測物進行測試作業，不但耗費人力，且測試效率以及測試結果均有人為因素參雜，較難如實反應實際的測試結果。另外，業界目前對待測物所採用的自動化測試機台，則未見有針對測試時射頻干擾提出有效的解決方案，在多測試埠平行檢測時，對鄰近的待測物將產生干擾。

緣是，本創作人設計自動化測試機台，並在測試埠位置搭配射頻屏蔽結構，即可提升測試精度與效率，使多測試埠之測試流程一體化的進行。

本發明之目的在於揭露一種射頻屏蔽測試座，於測試過程將待測物置於該測試座內，由利用阻隔射頻之上罩體及支撐板圍繞測試座體所成為的測試空間，能限制測試所產生的電磁場至外部空間。

本發明之其一目的在於揭露一種射頻屏蔽測試座，在待測物插置於測試座體的同一時間，該測試手臂之抵壓部將與所述上罩體之開口密合，使測試流程一氣呵成。

本發明之另一目的在於揭露一種具有射頻屏蔽測試座之測試機台，以自動化流程將待測物於進料區、出料區以及預定位置之間搬移，能提升測試效率。

本發明之又一目的在於揭露一種具有射頻屏蔽測試座之測試機台，透過多測試埠(Multi-Test-site)的設置射頻屏蔽測試座，有效提升自動化測試速度，且防止測試所產生的 電磁場至外部空間，維持各測試埠的測試水準。

於一具體實施例中，本發明之射頻屏蔽測試座包含：一個支撐板；一設置在支撐板上的測試板，並於該測試板上方設有一個供待測物插置之測試座體；一個用以阻隔射頻、於所述支撐板上形成有測試空間之上罩體，該上罩體上方具有一可供待測物進出的開口；以及一組將待測物壓置於測試座之測試手臂，且該測試手臂具有一抵壓部於待測物壓置於測試座體時將開口密合。更具體的說，該測試板係依照待測物之測試所用之公板。

更具體的說，所述上罩體為金屬材料製作而成。

更具體的說，所述上罩體之阻隔射頻係以塗佈導電鍍層方式塗覆。

更具體的說，該上罩體設置有至少一個導引柱，在待測物以一預定路徑行程自開口進入上罩體內時，對測試手臂進行對位導引。

更具體的說，為進一步避免射頻滲透外部，所述上罩體與所述支撐板之接合處具有一彎折，藉以隔離射頻電磁。該彎折之具體型態為在上罩體與支撐板之接合處成為階梯狀，或具有高低落差的接合。

更具體的說，所述上罩體與所述支撐板之接合處環設有一組吸波材料，藉以隔離射頻電磁。

本發明還提供了一種具有射頻屏蔽測試座之測試機台， 包括有：進料區，用以提供擺放具有複數待測物之載盤；出料區，用以提供擺放具有複數完測待測物之載盤；一組拾取臂，用以搬移待測物於進料區載盤、出料區載盤及預定位置之間；以及複數組射頻屏蔽測試座，各測試座包括有：一個支撐板；一設置在支撐板上的測試板，並於該測試板上方設有一個供待測物插置之測試座體；一個用以阻隔射頻、於所述支撐板上形成有測試空間之上罩體，該上罩體上方具有一可供待測物進出的開口；一組用於將待測物壓置於測試座體之測試手臂，且該測試手臂具有一抵壓部於待測物壓置於測試座體時將所述上罩體之開口密合。測試完畢，拾取臂及輸送裝置再將待測物依據測試結果於出料區分類。

另外，該測試機台更包括至少一組輸送裝置，用以運送待測物自該預定位置至待測位置。

此外，各射頻屏蔽測試座除了採用支撐板做為測試板及測試座體的設置外，也可以利用測試機台的基座結構作為支撐板的支持設置，此為熟知技藝人士所知之通常知識，故未在本說明書加以詳述。

關於本發明之優點與精神可以藉由以下的發明詳述及所附圖式得到進一步的瞭解。

請參閱第一圖，為本發明之射頻屏蔽測試座示意圖，該射頻屏蔽測試座1包括有：一個支撐板10，以整體測試座來說該位置係設置於最下方，以作為支持上方的零組件，該支撐板10可以架設或跨設於測試機台之基座上。一設置在支撐板10上的測試板20，並於該測試板20上方設有一個供待測物插置之測試座體200。一般而言，該測試板20之測試即是利用一塊測試公板，該測試公板是以該待測物(俗稱半導體構裝元件，IC)所認之同步發表的公板作為測試，以實際的公板直接對每一個待測物進行公板測試。該測試板20及測試座體200係電性連接於一控制處理單元(圖未示)，並進行資料的運算傳輸處理，當壓持待測物使其確實地與測試座體200電連接以進行測試，將於測試完畢後進行測試分類。

一個上罩體30，係利用可阻隔射頻的方式製作，並於所述支撐板10上形成有測試空間S，該測試空間S足以提供測試手臂40以及待測物50運行，該上罩體30上方具有一可供待測物50進出的開口32，該開口32的位置與測試板20上的測試座體200於一軸線上；所述上罩體30之遮罩空間係包括整個測試板20，為防止待測物50進行測試時，限制測試所產生的射頻電磁滲透至外部空間，故必須採用可阻隔射頻的方式製作，譬如：金屬材質、或以塗佈導電鍍層方式塗覆於上罩體30等製作，僅可能將測試過程中所產生的射頻導入地點(GND)，此外，支撐板10亦可採用相同阻隔射頻的方式製作。且為了確保射頻隔離，進一步使上罩體30與支撐板10之接合處設計成為有一彎折，該彎折之具體型態可透過包括以下範例、但不限制的方式為之：於本較佳實施圖示中上 罩體30與支撐板10之接合處成呈現階梯狀(Stage)，亦或採用具有高低落差、角度差異等的接合方式。另一具體的實施態樣，還包括所述上罩體30與所述支撐板10之接合處環設有一組吸波材料(圖未示)，藉以隔離射頻電磁。

本發明之射頻屏蔽測試座需搭配一組用於將待測物壓置於測試座體200之測試手臂40，且該測試手臂40具有一抵壓部42於待測物50插置於測試座體200時將所述上罩體30之開口32密合。該測試手臂40的前端部位可以負壓方式吸汲待測物50，以一預定路徑行程自開口32進入測試空間S，該預定路徑行程所指為該測試手臂40朝向測試座體200的方向行進，當待測物50壓置於測試座體200的同一時間，測試手臂40的抵壓部42同時會將上罩體30的開口32密合，即成為一個暫時性封閉的測試區。

業界自動化測試機台的運行速度是十分迅速，對於每個運行點的到位時間以及到位位置均非常精準，除了依靠電腦以及處理器單元的邏輯運算，不免需要依靠結構上的設計輔助。如本實施例中的上罩體30，在開口32外圍另外設置有兩個導引柱34，以供待測物50在預定路徑行程自開口32進入上罩體30內時，對測試手臂40上另設有之導引板(圖未示)進行對位導引。

請參閱第二圖及第三圖，為一組射頻屏蔽測試座示意動作。假設待測物50已經由測試手臂40吸汲，測試前測試手臂40為預備狀態，前面提到上罩體30上方具有一可供待測物50進出的開口32，該開口32的位置與測試板20上的測 試座體200於一軸線上，所以當測試手臂40向下方移動時，測試手臂40的前端部位及待測物50亦往測試座體200的方向行進，當待測物50逐漸接近測試座體200的同時、測試手臂40的抵壓部42也逐漸接近上罩體30，而兩者距離實質上是相等。最後，在待測物50壓置於測試座體200的同一時間，該抵壓部42也緊靠於上罩體30，使開口32密合。而實務上，也可將待測物50直接透過其他機械手臂預先置放在測試座體200，再由測試手臂40向下方移動壓置而使待測物50迫緊於測試座體200進行測試，此種測試流程並不會影響測試的結果。

請參閱第四圖，本發明還提供一種具有射頻屏蔽測試座之測試機台設計，實施例中將以四個射頻屏蔽測試座1為例，包括有：進料區60，用以提供擺放具有複數待測物之載盤；出料區70，用以提供擺放具有複數完測待測物之載盤；一組拾取臂80，用以搬移待測物於進料區60之載盤、出料區70之載盤及預定位置或待測位置之間，該待測位置即為測試座體200上；另可包括具有一預定位置之輸送裝置90，用以運送待測物自該預定位置至待測位置；以及複數組射頻屏蔽測試座1。請同時參閱第一圖，每一個射頻屏蔽測試座1包括有：一個支撐板10；一設置在支撐板10上的測試板20，並於該測試板20上方設有一個供待測物插置之測試座體200，該支撐板10可以架設或跨設於測試機台之基座上；一個用以阻隔射頻、於所述支撐板10上形成有測試空間之上罩體30，該上罩體30上方具有一可供待測物進出的開口32，該開口32的位置與測試板20上的測試座體200於一軸線上；一組用於將待測物壓置於測試座體200之測試手臂 40，且該測試手臂40具有一抵壓部42於待測物壓置於測試座體200時將所述上罩體30之開口32密合。測試完畢，輸送裝置90及拾取臂80再將待測物依據測試結果於出料區70分類。

藉由以上較佳具體實施例之詳述，係希望能更加清楚描述本發明之特徵與精神，而並非以上述所揭露的較佳具體實施例來對本發明之範疇加以限制。相反地，其目的是希望能涵蓋各種改變及具相等性的安排於本發明所欲申請之專利範圍的範疇內。

1‧‧‧射頻屏蔽測試座

10‧‧‧支撐板

20‧‧‧測試板

200‧‧‧測試座體

30‧‧‧上罩體

32‧‧‧開口

34‧‧‧導引柱

40‧‧‧測試手臂

42‧‧‧抵壓部

50‧‧‧測試物

60‧‧‧進料區

70‧‧‧出料區

80‧‧‧拾取臂

90‧‧‧輸送裝置

第一圖為本發明之射頻屏蔽測試座示意圖；第二圖及第三圖為該射頻屏蔽測試座之示意動作；以及第四圖為本發明之具有射頻屏蔽測試座之測試機台簡易規劃示意圖。

1‧‧‧射頻屏蔽測試座

10‧‧‧支撐板

20‧‧‧測試板

200‧‧‧測試座體

30‧‧‧上罩體

32‧‧‧開口

34‧‧‧導引柱

40‧‧‧測試手臂

42‧‧‧抵壓部

50‧‧‧測試物

Claims (17)

1. 一種射頻屏蔽測試座，於待測物進行測試時，限制測試所產生的射頻電磁滲透至外部空間，包括有：一個支撐板；一設置在支撐板上的測試板，並於該測試板上方設有一個供待測物插置之測試座體；一個用以阻隔射頻、於所述支撐板上形成有測試空間之上罩體，該上罩體上方具有一可供待測物進出的開口；以及一組用於將待測物壓置於測試座體之測試手臂，且該測試手臂具有一抵壓部於待測物壓置於測試座體的同一時間，該抵壓部將所述上罩體之開口密合，即成為一個暫時性封閉的測試區。
2. 如申請專利範圍第1項所述之射頻屏蔽測試座，其中，該測試手臂係吸汲待測物以一預定路徑行程自開口進入上罩體內。
3. 如申請專利範圍第1項所述之射頻屏蔽測試座，其中，該測試板係依照待測物之測試所用之公板。
4. 如申請專利範圍第1項所述之射頻屏蔽測試座，其中，所述上罩體為金屬材料製作而成。
5. 如申請專利範圍第1項所述之射頻屏蔽測試座，其中，所述上罩體之阻隔射頻係以塗佈導電鍍層方式塗覆。
6. 如申請專利範圍第1、2、3、4或5項所述之射頻屏蔽測試座，其中，該上罩體設置有至少一個導引柱，在待測物以一預定路徑行程自開口進入上罩體內時，對測試手臂進行對位導引。
7. 如申請專利範圍第1、2、3、4或5項所述之射頻屏蔽測試座，其中，所述上罩體與所述支撐板之接合處具有一彎折，藉以隔離射頻電磁。
8. 如申請專利範圍第1、2、3、4或5項所述之射頻屏蔽測試座，其中，所述上罩體與所述支撐板之接合處環設有一組吸波材料，藉以隔離射頻電磁。
9. 一種具有射頻屏蔽測試座之測試機台，對待測物進行功能性自動化測試，包括有：一進料區，用以提供擺放具有複數待測物之載盤；一出料區，用以提供擺放具有複數完測待測物之載盤；一組拾取臂，用以搬移待測物於進料區載盤、出料區載盤及射頻屏蔽測試座之間；以及複數組射頻屏蔽測試座，各測試座包括有：一個支撐板；一設置在支撐板上的測試板，並於該測試板上方設有一個供待測物插置之測試座體；一個用以阻隔射頻、於所述支撐板上形成有測試空間之上罩體，該上罩體上方具有一可供待測物進出的開口；及一組用於將待測物壓置於測試座體之測試手臂，且 該測試手臂具有一抵壓部於待測物壓置時於測試座體的同一時間，該抵壓部將所述上罩體之開口密合，即成為一個暫時性封閉的測試區。
10. 如申請專利範圍第9項所述之測試機台，其中，該測試機台還包括具有一預定位置之輸送裝置，用以運送待測物自該預定位置至待測位置。
11. 申請專利範圍第9項所述之測試機台，其中，該測試手臂係吸汲待測物以一預定路徑行程自開口進入上罩體內。
12. 如申請專利範圍第9項所述之測試機台，其中，該測試板係依照待測物之測試所用之公板。
13. 如申請專利範圍第9項所述之測試機台，其中，所述上罩體為金屬材料製作而成。
14. 如申請專利範圍第9項所述之測試機台，其中，所述上罩體之阻隔射頻係以塗佈導電鍍層方式塗覆。
15. 如申請專利範圍第9項所述之測試機台，其中，該上罩體設置有至少一個導引柱，在待測物以一預定路徑行程自開口進入上罩體內時，對測試手臂進行對位導引。
16. 如申請專利範圍第9項所述之測試機台，其中，所述上罩體與所述支撐板之接合處具有一彎折，藉以隔離射頻電磁。
17. 如申請專利範圍第9項所述之測試機台，其中，所述上罩體與所述支撐板之接合處環設有一組吸波材料，藉以隔離射頻電磁。