TW201309397A - 物品分類裝置及其運轉方法 - Google Patents

Abstract

本發明旨在提供一種物品分類裝置及其運轉方法，可在運送機構之排出位置，使物品朝下方之分配機構自然落下，降低物品缺陷發生之可能性，並在測試運轉時連續循環運送基準物品，藉此重複檢查之。其中第1，該物品分類裝置包含：運送機構，具有使物品落下而排出之排出部；物品特性之檢查機構；複數分類容器，設於排出部下方；及分配機構，根據物品特性將其分類至分類容器。第2，設置排出部關閉機構，該排出部關閉機構設於排出部，在開放時使物品落下，在關閉時阻止物品落下而使其通過該排出部。第3，在分類運轉中開放排出部關閉機構以使物品落下。第4，在測試運轉中關閉排出部關閉機構以阻止物品落下，藉此持續以運送機構循環運送物品。

Description

物品分類裝置及其運轉方法

本發明係關於物品分類裝置及其運轉方法，特別是關於適合係LED元件之電子零件分類之物品分類裝置及其運轉方法。

自以往即已知如專利文獻1所示之電子零件分類裝置。專利文獻1所記載之電子零件分類裝置中，藉由噴嘴11之吹送將由分度盤2之吸附嘴8吸附而經運送至排出位置之電子零件W置入分配裝置4之置入管12，藉由擺動管13之擺動經由所需之分配構件14之分配口14A將經置入之電子零件W分類至收納箱15。

此電子零件分類裝置中有下列問題。亦即，於排出位置將由吸附嘴8吸附之電子零件W排出時，藉由噴嘴11沿水平方向吹送電子零件W，且因置入管12電子零件W之前進方向朝鉛直下方彎曲，故若係陶瓷等較脆材質所構成之電子零件W即有破損之危險。且為由噴嘴11吹送需電磁閥ON/OFF，故排出時間恰延長電磁閥動作延遲(time lag)分。

在此，若使電子零件W自然落下，將其置入上下延伸之直線狀置入管，如上述工作件發生缺陷之可能性即會降低，且亦可實現縮短排出時間。作為如此經由排出孔自然落下式之分類裝置，已知專利文獻2所示之電子零件分類裝置。

又，如此之電子零件分類裝置以檢查裝置檢查電子零件光學特性或電性特性，根據此特性進行分類。因此，在電子零件分類裝置運轉開始時，或檢查之電子零件之生產批次或品種經變更時 等，為調整該檢查裝置，需進行測試運轉。

此測試運轉重複檢查預先檢查過電子零件特性之上述檢查裝置之校正用基準晶片，根據其檢查結果調整檢查裝置。如此之測試運轉通常一天進行約數次。

然而，專利文獻2所示之電子零件分類裝置有排出孔，故為測試運轉無法進行連續之循環運送。此時，每當進行一日數次之測試運轉，操作員即會重複將曾通過檢查裝置，分配至特定分類容器之基準晶片再次對裝置供給之作業，為進行測試運轉之作業煩雜。

曾有人考慮下列方法：在專利文獻1所示之電子零件分類裝置中進行用來調整檢查裝置之測試運轉時，於排出位置維持吸附嘴8之抽吸，並同時不進行噴嘴11之吹送，藉此在分度盤2上連續循環運送電子零件W，以重複使其通過檢查裝置。然而此時於測試運轉結束後排出之際，亦無法避免檢查裝置校正用基準晶片破損之危險。

又，於先前技術使用之符號係於專利文獻1使用之符號。

【先前技術文獻】 【專利文獻】

【專利文獻1】日本專利第4474612號專利公報

【專利文獻2】日本專利第2814525號專利公報

為解決上述問題點，本發明之目的在於提供一種物品分類裝置及其運轉方法，在分類運轉時使分類對象物品在運送機構之排 出位置自然落下至位於下方之分配機構，或在測試運轉結束時使基準物品在運送機構之排出位置自然落下至位於下方之分配機構，降低係工作件之此等物品發生缺陷之可能性，並在測試運轉時可連續循環運送基準物品，可藉由檢查裝置重複檢查同一基準物品。

為解決上述課題，第1發明於物品分類裝置採用下列手段。

第1，該物品分類裝置包含：運送機構，由下列部分構成：旋轉體，設有在其外周分別收納物品之複數收納部；及固定體，自下方支持著由該旋轉體各收納部所收納之物品；且具有使物品自設於該固定體之排出部落下並排出之排出位置；檢查機構，沿該運送機構之運送路徑設置，用以檢查物品特性；複數之分類容器，設於該排出部下方；及分配機構，設於該排出部下方，根據該物品之特性將排出之物品分類至所需之分類容器。

第2，設置排出部關閉機構，該排出部關閉機構設於該固定體之排出部，在開放時使物品落下，在關閉時阻止物品落下而使其通過該排出部。

第3，在將由該運送機構所運送之物品分類至所需之分類容器之分類運轉中，開放該排出部關閉機構而使物品落下。

第4，在藉由該運送機構循環運送物品之測試運轉中，關閉該排出部關閉機構以阻止物品落下，藉此持續由該運送機構運送物品。

第2發明於第1發明附加下列手段。

第1，對該運送機構供給物品之供給路徑為1條。

第2，在該分類運轉中，自該供給路徑自動供給物品。

第3，在該測試運轉中，停止自該供給路徑自動供給物品，並手動供給基準物品。

第3發明於第1發明附加下列手段。

第1，對該運送機構供給物品之供給路徑為2條。

第2，在該分類運轉中，自第1供給路徑自動供給物品並關閉第2供給路徑。

第3，在該測試運轉中自第2供給路徑自動供給基準物品並關閉第1供給路徑。

第4發明於物品分類裝置之運轉方法採用下列手段。

第1，該物品分類裝置之運轉方法中該物品分類裝置包含：運送機構，由下列部分構成：旋轉體，設有在其外周分別收納物品之複數收納部；及固定體，自下方支持著由該旋轉體各收納部所收納之物品；且具有使物品自設於該固定體之排出部落下並排出之排出位置；檢查機構，沿該運送機構之運送路徑設置，用以檢查物品特性；複數之分類容器，設於該排出部下方；及分配機構，設於該排出部下方，根據該物品之特性將排出之物品分類至所需之分類容器。

第2，設置排出部關閉機構，該排出部關閉機構設於該固定體之排出部，在開放時使物品落下，在關閉時阻止物品落下而使其通過該排出部。

第3，在將由該運送機構所運送之物品分類至所需之分類容器之分類運轉中，開放該排出部關閉機構而使物品落下。

第4，在藉由該運送機構循環運送物品之測試運轉中，關閉該排出部關閉機構以阻止物品落下，藉此持續由該運送機構運送物品。

第5發明於第4發明附加下列手段。

第1，對該運送機構供給物品之供給路徑為1條。

第2，在該分類運轉中，自該供給路徑自動供給物品。

第3，在該測試運轉中，停止自該供給路徑自動供給物品，並手動供給基準物品。

第6發明於第4發明附加下列手段。

第1，對該運送機構供給物品之供給路徑為2條。

第2，在該分類運轉中，自第1供給路徑自動供給物品並關閉第2供給路徑。

第3，在該測試運轉中自第2供給路徑自動供給基準物品並關閉第1供給路徑。

第1發明及第4發明係一種物品分類裝置及其運轉方法，藉由選擇排出部關閉機構之開放或關閉之簡單方法，可輕易切換分類運轉與測試運轉。

且在分類運轉中，僅開放排出部關閉機構而使物品因自重落下，故可實現降低對係工作件之物品之損害。

且在測試運轉中，關閉排出部關閉機構以阻止物品(因係測試運轉時故為基準物品)落下，藉此可連續持續運送基準物品，重複藉由檢查裝置檢查同一基準物品，可使測試運轉變得容易。

第2發明及第5發明中，供給路徑為1條，在分類多數物品之分類運轉中自動供給物品，在循環運送同一基準物品之測試運轉中，停止自動供給，手動供給基準物品，藉此可取消為測試運轉需去除殘存於供給路徑之物品之繁雜作業。

第3發明及第6發明中，設置2條供給路徑，於分類運轉與測試 運轉時供給路徑不同，在分類運轉中自第1供給路徑自動供給物品並關閉第2供給路徑，在測試運轉中自第2供給路徑自動供給基準物品並關閉第1供給路徑，藉此可取消每當切換運轉即需去除殘存於供給路徑之物品之繁雜作業。

以下，說明關於圖示實施例並說明本發明實施形態。圖1係顯示本發明一實施例之電子零件分類裝置概要說明圖。實施例中作為工作件之零件係LED晶片L，該分類裝置依電性特性與光學特性分配該LED晶片L。

電子零件分類裝置包含：零件給料器1，對齊並供給LED晶片L；運送機構3，自零件給料器1接受LED晶片L，將其吸附固持並自供給位置30通過檢查位置31朝排出位置32運送之；檢查裝置2，沿運送機構3運送路徑設置，以檢查位置31檢查LED晶片L之電性特性與光學特性；分配裝置4，配置在排出位置32下方(具體而言配置在排出部61下方)，根據電性特性與光學特性分配經排出之LED晶片L；及分類部5，配置在其更下方，由儲存分配裝置4所分配，通過管子10送入之LED晶片L之多數分類容器50所構成。

零件給料器1如圖1所示，係由隨機收納多數LED晶片L之給料缽11與軌條12構成，藉由振動將LED晶片L自給料缽11朝軌條12沿長邊方向對齊呈一列並送出，自軌條12對運送機構3供給LED晶片L之機構，為本發明中之供給路徑。於實施例中此供給路徑雖為1條，但本發明中，亦可設置於分類運轉時使用之第1供給路徑與於測試運轉時使用之第2供給路徑之2條供給路徑。

運送機構3如圖3所示，由間歇旋轉之圓盤狀分度盤7，與配置在分度盤7下方之固定台6構成。分度盤7於本發明中係旋轉體，固定台6於本發明中係固定體。

於分度盤7之外周70隔著既定間隔設有多數缺口，此缺口係收納LED晶片L之口袋狀收納部71。實施例中收納部71沿等間隔設置。於分度盤7背面形成複數連通各收納部71之放射狀溝槽72。

固定台6中形成：支持部，自下方支持由各收納部71收納之LED晶片L；及排出部61，切開固定台6，使由收納部71運送來的LED晶片L朝配置在運送機構3下方之分配裝置4自然落下。

形成該排出部61之位置係排出位置32。除於排出位置32之排出部61外固定台6之上表面係支持部。

排出部61中設有於本發明係排出部關閉機構之閘門8。閘門8於開放時使LED晶片L自然落下，於關閉時阻止LED晶片L落下，使其於排出部61不落下而通過。閘門8如圖2及圖4所示，形成LED晶片L可通過之排出孔80而呈圓盤狀，可以軸83為支點旋轉。又，實施例中雖使用如上述之旋轉式閘門8，但亦可係進退式閘門或裝卸式閘門。

又，於排出部61上方設有輔助吹送噴嘴81，輔助吹送噴嘴81為確實排出LED晶片L，以LED晶片L大致不產生缺陷之壓力，自位在排出部61上之排出孔80上方朝下方吹氣。排出部61下方連結連結管82，連結管82下端連結分配裝置4。

固定台6中，除排出位置32以外，更形成供給位置30、檢查位置31。運送機構3係以固定台6與分度盤7收納部71吸附固持LED晶片L，自圖2所示之供給位置30通過檢查位置31朝排出位置32運送 LED晶片L之機構。

因此，需產生用來使收納部71吸附LED晶片L之負壓。在此，於固定台6上表面中，除供給位置30、檢查位置31、排出位置32以外，僅在運送LED晶片L之區域，雕刻連通形成於分度盤7背面之放射狀溝槽72之同心圓狀溝槽62，該溝槽62分別連接未圖示之真空源。

藉由連通此固定台6之同心圓狀溝槽62與分度盤7之放射狀溝槽72對收納部71供給負壓，將所收納之LED晶片L吸附固持於收納部71。又，於固定台6供給位置30、檢查位置31分別形成其他溝槽，於各位置對收納部71供給負壓。

於供給位置30朝收納部71的LED晶片L之傳遞如下進行。於供給位置30，自零件給料器1軌條12前端朝間歇移動至供給位置30之分度盤7收納部71逐一供給LED晶片L。具體而言，如圖5所示，使軌條12前端LED晶片L1之抽吸2為OFF，與此同時，使抽吸1為ON，對收納部71移動供給LED晶片L1。亦即，LED晶片L1移動至圖5中虛線位置。

此時可動而可開啟之外殼33位於供給位置30之收納部71上方。藉由此外殼33包覆收納部71上方，LED晶片L可順暢地朝收納部71移動。

即使在有LED晶片L1朝收納部71之供給時，抽吸3亦維持ON。亦即LED晶片L2停留於原來位置。其次，使抽吸2為ON，並使抽吸3為OFF，使後繼前頭之LED晶片L2朝軌條12前端移動。

藉由收納檢測感測器34偵測是否已對收納部71供給LED晶片L1。藉由觀察外殼33可偵測經供給之LED晶片L是否位態不良。藉 由以光顯微感測器檢測位態不良之LED晶片L托高之外殼33偵測出發生收納錯誤，供給未完畢。

於分度盤7側方設有側導件9(在排出位置32係特殊形狀之側導件90)，防止LED晶片L意外衝出。又，於檢查位置31，設有引導存在於該檢查位置31之LED晶片L4之側邊及上方之側邊及頂部導件91。

檢查裝置2由以可昇降方式設於檢查位置31下方之探針20，與設於檢查位置31上方之積分球21構成。由檢查裝置2進行之檢查如圖6(A)至(B)，使探針20上昇而抵接LED晶片L4之電極，對LED晶片L4供給電流而使其發光，由積分球21接受該發光光線，檢查LED晶片L4之光學特性並檢查其電性特性。

電子零件分類裝置需進行下列者：分類運轉，開放閘門8使由運送機構3運來的LED晶片L朝排出部61落下，分配至所需的分類容器50；及測試運轉，關閉閘門8以阻止其朝排出部61落下，持續LED晶片L之循環運送，以調整檢查裝置2。

以下，說明關於分類運轉與測試運轉之方法。

分類運轉如下進行。首先，於供給位置30，自係供給路徑之零件給料器1軌條12前端朝分度盤7之收納部71逐一自動供給LED晶片L。藉由收納檢測感測器34檢測是否已對收納部71供給LED晶片L1。

確認對收納部71之供給後，分度盤7即旋轉，藉由間歇運送使LED晶片L4到達檢查位置31。上昇之探針20抵接到達之LED晶片L4，使電流流入而發光，藉由設置在上方之積分球21檢查光學特性及電性特性。

檢查結束後，LED晶片L到達排出位置32排出部61上方時，閘門8之排出孔80位於排出部61，故LED晶片L自排出部61之落下不由閘門8阻礙，LED晶片自排出部61排出。

通過排出孔80而自排出部61排出之LED晶片L如圖4所示，於連結管82內自然落下，藉由連接其下游之分配裝置4，根據物品特性分配之，經由管子10，分類給係分類部5之所需的分類容器50。

其次測試運轉如下進行。首先，藉由閘門8關閉排出部61，亦即，藉由使閘門8之排出孔80自排出部61上方偏移90度，以閘門8關閉形成於固定台6之排出部61，並吸附固定零件給料器1軌條12前頭之LED晶片L1，停止來自供給路徑之自動供給。使圖5中之抽吸2為ON。

其後，開啟供給位置30之外殼33，由操作員將約3~10個任意數量之基準晶片收納至分度盤7之收納部71。亦即，進行基準晶片之手動供給。測試運轉時開啟外殼33以鑷子手動設置基準晶片。

其後，一旦關閉外殼33，使分度盤7旋轉，排出部61即由閘門8關閉，故通過檢查位置31之LED晶片L通過排出部61上時亦通過經關閉之閘門8上，再通過檢查位置31而被連續循環運送。

測試運轉結束後，開啟閘門8，亦即，使閘門8之排出孔80吻合排出部61。基準晶片自通過時開放之排出部61自然落下，朝所需之分類容器50排出完畢。又，基準晶片可重複使用。

如此，藉由以閘門8關閉排出部61可循環運送基準晶片，故可輕易進行測試運轉。此外，測試運轉時可開啟外殼33以人手供給基準晶片，故例如自緊急停止恢復時，即使在多數LED晶片L留在 零件給料器1內之狀態下亦可供給基準晶片，進行測試運轉。

且即使零件給料器1是空的，亦因基準晶片少至約僅有數個，故相較於對零件給料器1供給基準晶片，自動供給基準晶片，以人手供給較為簡單。實施例中，測試運轉時用來以人手供給基準晶片之位置雖係供給位置30，但因係手動供給位置不受限定，亦可為其以外之位置。且亦可於所希望之位置設置外殼，僅於供給時開啟外殼。

以上實施例中，對運送機構3供給LED晶片L或基準晶片之供給路徑(零件給料器1)雖為1個，但其亦可為2個，第1供給路徑自動供給LED晶片，第2供給路徑自動供給基準晶片。

此時，於分類運轉中自第1供給路徑自動供給LED晶片L並關閉第2供給路徑，於測試運轉中自第2供給路徑自動供給基準晶片並關閉第1供給路徑以運轉之。

L1~L4‧‧‧LED晶片

W‧‧‧電子零件

1‧‧‧零件給料器

2‧‧‧檢查裝置

3‧‧‧運送機構

4‧‧‧分配裝置

5‧‧‧分類部

6‧‧‧固定台

7‧‧‧分度盤

8‧‧‧閘門

9‧‧‧側導件

10‧‧‧管子

11‧‧‧給料缽

12‧‧‧軌條

13‧‧‧擺動管

14‧‧‧分配構件

14A‧‧‧分配口

15‧‧‧收納箱

20‧‧‧探針

21‧‧‧積分球

30‧‧‧供給位置

31‧‧‧檢查位置

32‧‧‧排出位置

33‧‧‧外殼

34‧‧‧收納檢測感測器

50‧‧‧分類容器

61‧‧‧排出部

62‧‧‧同心圓狀溝槽

70‧‧‧外周

71‧‧‧收納部

72‧‧‧放射狀溝槽

80‧‧‧排出孔

81‧‧‧輔助吹送噴嘴

82‧‧‧連結管

83‧‧‧軸

90‧‧‧側導件

91‧‧‧側邊及頂部導件

圖1係顯示本發明一實施例之電子零件分類裝置之概要說明圖。

圖2係運送機構之俯視說明圖。

圖3係顯示供給位置及檢查位置之運送機構側視說明圖。

圖4係排出位置之剖面說明圖。

圖5係顯示於供給位置供給方法之說明圖。

圖6係顯示於檢查位置探針與LED晶片位置關係之說明圖，(A)顯示檢查前後之狀態，(B)顯示檢查中。

3‧‧‧運送機構

7‧‧‧分度盤

8‧‧‧閘門

9‧‧‧側導件

30‧‧‧供給位置

31‧‧‧檢查位置

32‧‧‧排出位置

62‧‧‧同心圓狀溝槽

70‧‧‧外周

71‧‧‧收納部

72‧‧‧放射狀溝槽

80‧‧‧排出孔

90‧‧‧側導件

91‧‧‧側邊及頂部導件

Claims (6)

1. 一種物品分類裝置，包含：運送機構，由下列部分構成：旋轉體，設有在其外周分別收納物品之複數收納部；及固定體，自下方支持著由該旋轉體各收納部所收納之物品；且具有使物品自設於該固定體之排出部落下並排出之排出位置；檢查機構，沿該運送機構之運送路徑設置，用以檢查物品特性；複數之分類容器，設於該排出部下方；及分配機構，設於該排出部下方，根據該物品之特性將排出之物品分類至所需之分類容器；該物品分類裝置之特徵在於：設置排出部關閉機構，該排出部關閉機構設於該固定體之排出部，在開放時使物品落下，在關閉時阻止物品落下而使其通過該排出部，在將由該運送機構所運送之物品分類至所需之分類容器的分類運轉中，開放該排出部關閉機構而使物品落下；在藉由該運送機構循環運送物品之測試運轉中，關閉該排出部關閉機構以阻止物品落下，藉此方式而持續進行由該運送機構運送物品。
2. 如申請專利範圍第1項之物品分類裝置，其中，對該運送機構供給物品之供給路徑為1條；在該分類運轉中，自該供給路徑自動供給物品，且在該測試運轉中，停止自該供給路徑自動供給物品，並手動供給基準物品。
3. 如申請專利範圍第1項之物品分類裝置，其中，對該運送機構供給物品之供給路徑為2條；在該分類運轉中，自第1供給路徑自動供給物品並關閉第2供給路徑；而在該測試運轉中，自第2供給路徑自動供給基準物品並關閉第1供給路徑。
4. 一種物品分類裝置之運轉方法，該物品分類裝置包含：運送機構，由下列部分構成：旋轉體，設有在其外周分別收 納物品之複數收納部；及固定體，自下方支持著由該旋轉體各收納部所收納之物品；且具有使物品自設於該固定體之排出部落下並排出之排出位置；檢查機構，沿該運送機構之運送路徑設置，用以檢查物品特性；複數之分類容器，設於該排出部下方；及分配機構，設於該排出部下方，根據該物品之特性將排出之物品分類至所需之分類容器；該物品分類裝置之運轉方法之特徵在於：設置排出部關閉機構，該排出部關閉機構設於該固定體之排出部，在開放時使物品落下，在關閉時阻止物品落下而使其通過該排出部，在將由該運送機構所運送之物品分類至所需之分類容器的分類運轉中，開放該排出部關閉機構而使物品落下；在藉由該運送機構循環運送物品之測試運轉中，關閉該排出部關閉機構以阻止物品落下，藉此方式而持續進行由該運送機構運送物品。
5. 如申請專利範圍第4項之物品分類裝置之運轉方法，其中，對該運送機構供給物品之供給路徑為1條；在該分類運轉中，自該供給路徑自動供給物品；而在該測試運轉中，停止自該供給路徑自動供給物品，並手動供給基準物品。
6. 如申請專利範圍第4項之物品分類裝置之運轉方法，其中，對該運送機構供給物品之供給路徑為2條；在該分類運轉中，自第1供給路徑自動供給物品並關閉第2供給路徑；而在該測試運轉中，自第2供給路徑自動供給基準物品並關閉第1供給路徑。