TW201308218A - 移動軌跡校正方法及移動軌跡產生方法 - Google Patents

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Abstract

一種移動軌跡校正方法係接收一書寫裝置於一書寫平面上移動時產生之一移動軌跡訊號，並包括：藉由一姿態運算模組之一偵測校正單元依據移動軌跡訊號分別產生一第一軸向訊號、一第二軸向訊號及一第三軸向訊號，書寫平面係由第一軸向及第二軸向所形成，且第三軸向與書寫平面垂直；藉由偵測校正單元依據第三軸向訊號校正第一軸向訊號，以產生一第一軸向軌跡訊號；以及藉由偵測校正單元依據第三軸向訊號校正第二軸向訊號，以產生一第二軸向軌跡訊號。本發明亦揭露一種移動軌跡產生方法。

Description

移動軌跡校正方法及移動軌跡產生方法
本發明係關於一種移動軌跡校正方法及移動軌跡產生方法。
近年來，電子電路及元件在微型化技術上的迅速發展，已經大幅地降低了電子裝置的體積與重量，並且增加了它們的功能性、可攜性及方便性。由於上述技術的重大變革，使得人機介面(human-computer interaction,HCI)的技術變成了日常生活中不可或缺的一部分。其中，人機介面中的文字書寫為一般人日常生活中不可或缺的一種紀錄或表達意識的方法。目前市場上已有許多手寫輸入的人機介面感測技術，其中大致可分為電磁式、電子式、超音波、壓力及光學式感測等五種。
在電磁式人機介面感測技術方面，因其需要大量的電力來產生電磁場，以偵測及定位書寫裝置筆尖的書寫位置，所以需要較大的電池來提供電力，造成書寫裝置的重量較重而有攜帶不便的缺點。在電子式人機介面感測技術方面，其需要搭配特定的電極紙，利用電極紙上面的傳送電極與接收電極來偵測書寫裝置書寫的軌跡。不過，高單價的電極紙是目前消費者接受度低的主因。在超音波人機介面感測技術方面，其利用超音波到達接收端的時間差與三角定位原理來計算書寫裝置筆尖的書寫軌跡座標，雖然 可以精準地捕捉書寫裝置在任意平面上的移動軌跡，但其需要搭配超音波接收設備，而超音波的接收範圍較小，造成使用上的不方便。在壓力人機介面感測技術方面，其書寫範圍被限制在一定面積的壓力感測電子板上，因此也造成使用者使用上的不方便。此外，在光學式人機介面感測技術主要是利用光學滑鼠中的光學感測器來進行書寫裝置在書寫平面上的軌跡感測。其感測原理與光學滑鼠相同，因此不須再開發另外的人機介面軟體即可非常容易地將移動軌跡資訊轉換為操控滑鼠鼠標的訊號。
然而，不論那一種感測技術之書寫裝置於書寫過程中，可能因提筆或換行而離開書寫的二維平面，但此同時，感測元件卻仍繼續輸出感測訊號，因此，將產生錯誤的移動軌跡。
因此，如何提供一種移動軌跡校正方法及移動軌跡產生方法，可偵測並修正移動軌跡因提筆或換行所產生的誤差，以得到正確移動軌跡，已成為重要課題之一。
有鑑於上述課題，本發明之目的為提供一種可偵測並修正書寫裝置之移動軌跡因提筆或換行所產生的誤差，以得到正確移動軌跡之移動軌跡校正方法及移動軌跡產生方法。
為達上述目的，依據本發明之一種移動軌跡校正方法係接收一書寫裝置於一書寫平面上移動時產生之一移動 軌跡訊號，並包括：藉由一姿態運算模組之一偵測校正單元依據移動軌跡訊號分別產生一第一軸向訊號、一第二軸向訊號及一第三軸向訊號，書寫平面係由第一軸向及第二軸向所形成，且第三軸向與書寫平面垂直；藉由偵測校正單元依據第三軸向訊號校正第一軸向訊號，以產生一第一軸向軌跡訊號；以及藉由偵測校正單元依據第三軸向訊號校正第二軸向訊號，以產生一第二軸向軌跡訊號。
在一實施例中，移動軌跡訊號包含移動軌跡於不同時間的三軸向之一角速度訊號、一加速度訊號、一磁場強度訊號、一地磁方位訊號或其組合。
在一實施例中，第一軸向、第二軸向及第三軸向係彼此垂直。
在一實施例中，於校正第一軸向訊號的步驟中，更包括：當第三軸向訊號於一時間內的變化超過一預設訊號值時，藉由偵測校正單元於時間內使第一軸向訊號為零。
在一實施例中，於校正第二軸向訊號的步驟中，更包括：當第三軸向訊號於一時間內的變化超過一預設訊號值時，藉由偵測校正單元於時間內使第二軸向訊號為零。
為達上述目的，依據本發明之一種移動軌跡產生方法包括：藉由一書寫裝置之一移動軌跡感測模組感測書寫裝置於一書寫平面上移動時產生之一移動軌跡，並產生一移動軌跡訊號；藉由一姿態運算模組之一偵測校正單元依據移動軌跡訊號產生一第一軸向訊號、一第二軸向訊號及一第三軸向訊號，其中書寫平面係由第一軸向及第二軸向所 形成，且第三軸向與書寫平面垂直；藉由偵測校正單元依據第三軸向訊號分別校正第一軸向訊號及第二軸向訊號，以分別產生一第一軸向軌跡訊號及一第二軸向軌跡訊號；以及藉由一顯示模組依據第一軸向軌跡訊號及第二軸向軌跡訊號顯示校正後之移動軌跡。
在一實施例中，移動軌跡產生方法更包括：藉由姿態運算模組之一姿態轉換單元依據角速度訊號產生一座標轉換矩陣，並依據座標轉換矩陣將加速度訊號進行座標轉換。
在一實施例中，姿態轉換單元將角速度訊號進行一次積分，以得到一姿態角，進而產生座標轉換矩陣，並利用座標轉換矩陣將加速度訊號轉換，以將加速度訊號由書寫裝置之一體座標系轉換為一參考座標系。
在一實施例中，移動軌跡產生方法更包括：藉由姿態運算模組之一重力補償單元將參考座標系之加速度訊號進行重力補償。
在一實施例中，移動軌跡產生方法更包括：藉由姿態運算模組之一軌跡運算單元分別對第一軸向軌跡訊號及第二軸向軌跡訊號進行運算。
在一實施例中，畫寫平面包含一水平面、一垂直面或一傾斜面。
承上所述，因本發明之移動軌跡校正方法及移動軌跡產生方法中，係藉由一姿態運算模組之一偵測校正單元依據移動軌跡訊號分別產生一第一軸向訊號、一第二軸向訊 號及一第三軸向訊號，其中書寫平面係由第一軸向及第二軸向所形成，且第三軸向與書寫平面垂直，以及藉由偵測校正單元依據第三軸向訊號分別校正第一軸向訊號及第二軸向訊號，以分別產生一第一軸向軌跡訊號及一第二軸向軌跡訊號，再藉由顯示模組依據第一軸向軌跡訊號及第二軸向軌跡訊號顯示校正後之移動軌跡。藉此，使得本發明之移動軌跡校正方法及移動軌跡產生方法可偵測並修正移動軌跡因提筆或換行所產生的誤差，以得到正確移動軌跡。
以下將參照相關圖式，說明依本發明較佳實施例之一種移動軌跡校正方法及移動軌跡產生方法，其中相同的元件將以相同的參照符號加以說明。
請參照圖1A及圖1B所示，其分別為一書寫裝置1於一書寫平面P書寫時之示意圖及其功能方塊圖。
書寫裝置1是一種使用慣性感測元件之書寫裝置，其主要是利用慣性元件來進行書寫裝置在三維空間中之角度、姿態及位移感測。於此，書寫裝置1的形態係以一支筆為例，不過，其形態不限定為筆狀，也可是其它形式或形態，例如一只可供人握持的滑鼠或其它形態。
如圖1B所示，書寫裝置1可包括一移動軌跡感測模組。另外，書寫裝置1也可包括一姿態運算模組。不過，在其它的實施例中，另一處理裝置(例如具有顯示螢幕之 電腦)也可包含該姿態運算模組，並可藉由有線或無線方式將移動軌跡感測模組產生的訊號傳輸至姿態運算模組進行運算。
移動軌跡感測模組可感測書寫裝置1於三維空間中移動時產生之一移動軌跡，並即時產生一移動軌跡訊號。其中，移動軌跡感測模組可包含一多軸動態開關(multi-axis dyamic switch)。而移動軌跡可為一數字、一文字、一符號、一線條或一任意書寫軌跡。另外，移動軌跡訊號係可包含移動軌跡於不同時間點的座標資訊、角速度資訊、重力資訊、加速度資訊、磁場強度資訊、地磁方位資訊或其它資訊，或其組合。此外，畫寫平面P可例如為一水平面、一垂直面或一傾斜面，於此，係以一水平面為例。
移動軌跡感測模組例如可包含一陀螺儀、一加速度計、一磁力計或一電子羅盤，或上述儀器的組合，上述之儀器可為單軸或多軸(例如三軸)，而移動軌跡訊號可包含移動軌跡於不同時間的三軸向之一角速度訊號、一加速度訊號、一磁場強度訊號、一地磁方位訊號或其組合。於此，係以移動軌跡感測模組具有三軸的陀螺儀及加速度計，並量測到三軸向的角速度訊號、重力g及加速度訊號為例。先一提的是，書寫裝置1或另一處理裝置更可包括一校正濾波單元(圖未顯示)，校正濾波單元可校正移動軌跡感測模組中的慣性元件(例如上述之陀螺儀、加速度計、磁力計或電子羅盤，或其組合)本身產生的訊號，並可濾除慣性元件本身產生的雜訊或書寫時手部動作的影 響(例如顫抖)及其他外界環境所造成之影響而導致移動軌跡訊號的誤差。
在本實施例中，得到移動軌跡訊號(本實施例為角速度訊號及加速度訊號)時需先進行以下的前置處理，才可進行本發明之移動軌跡校正方法的步驟。其中，如圖1B所示，三軸向的角速度訊號需先藉由姿態運算模組之一姿態轉換單元經過一次積分後，得到書寫裝置1書寫時之一姿態角。其中，姿態角可包含一滾轉角Φ(roll angle)、一俯仰角θ(pitch angle)及一偏航角ψ(yaw angle)。姿態角主要的功能在於獲得書寫裝置1之體座標系統(body frame)與參考座標系統(local level frame，即大地座標系)之間的相對角度或轉動關係。
其中，滾轉角係書寫裝置1沿著體座標系統之一第一軸向轉動之角度，其可由量測書寫裝置1之第一方向的角速度後，經由一次積分而得到。再者，在其它的實施態樣中，滾轉角也可為書寫裝置1沿著第一方向轉動之角度，其可由量測書寫裝置1中，加速度計三個方向所量測地球重力分量而得到。另外，俯仰角係書寫裝置1沿著一第二方向轉動之角度，其可由量測書寫裝置1於第二方向的角速度後，經由一次積分而得到。再者，在其它的實施態樣中，俯仰角也可為書寫裝置1沿著第二方向轉動之角度，其可由量測書寫裝置1中加速度計三方向所量測地球重力分量而得到。此外，偏航角係書寫裝置1沿著一第三方向轉動之角度，其可由量測書寫裝置1於第三方向的角速度 後，經由一次積分而得到。再者，在其它的實施態樣中，偏航角也可為書寫裝置1沿著第三方向轉動之角度，其可由量測書寫裝置1中磁力計所量測之磁場強度或電子羅盤所量測之地磁方位而獲得。再者，滾轉角、俯仰角及偏航角也可由量測書寫裝置1之磁場強度或地磁方位、或其組合而獲得。於此，並不加以限制。
接著，再藉由姿態轉換單元依據角速度訊號及其姿態角產生一座標轉換矩陣，並利用座標轉換矩陣將移動軌跡感測模組所產生之加速度訊號由書寫裝置1的體座標系統轉換至參考座標系統。此外，再藉由姿態運算模組之一重力補償單元將加速度訊號進行重力補償，以去除因重力的影響所造成的加速度變化，之後，再藉由姿態運算模組之一偵測校正單元進行移動軌跡的校正。其中，上述之座標轉換及重力補償之技藝係為本領域熟知此技藝人士常用之技術，於此不再多作說明。
請先參照圖2A所示，於此，係以書寫裝置1書寫數字「4」為例。其中，於書寫「4」時，圖2A由位置A至位置B的移動軌跡係為書寫裝置1因提筆、換行所產生的，故依據本發明之移動軌跡校正方法可進行軌跡校正，以去除因提筆、換行所產生的軌跡(即去除位置A至位置B之間的移動軌跡)，進而得到如圖2B所示之正確軌跡「4」。
請參照圖1R及圖1C所示，其中，1C係為本發明較佳實施例之一種移動軌跡校正方法的步驟流程圖。
本發明之移動軌跡校正方法係可接收書寫裝置1於書寫平面P上移動時產生之移動軌跡訊號，而移動軌跡訊號已於上述中詳述其前處理過程，於此不再贅述。
另外，請先參照圖3A所示，其係移動軌跡感測模組輸出之移動軌跡訊號中，經由上述之前處理(例如校正、濾波等)後，所產生之體座標系的第一軸向X、第二軸向Y及第三軸向Z之加速度訊號示意圖。另外，請參照圖3B所示，其係圖3A之移動軌跡訊號經座標轉換後之波形示意圖。於此，係將體座標系之加速度訊號轉換為參考座標系之加速度訊號。如圖3B所示，第三軸向Z之基準係為1g，而第一軸向X及第二軸向Y之基準分別為0g。此外，請參照圖3C所示，其係圖3B之移動軌跡訊號經重力補償後之波形示意圖。由圖3C可得知，經由重力補償單元可將參考座標系之加速度訊號進行補償，以去除因重力所產生加速度的影響。如圖3C所示，第一軸向X、第二軸向Y及第三軸向Z之基準皆為0g。
如圖1C所示，本發明之移動軌跡校正方法係包括以下的步驟P01~P03。
首先，步驟P01為：藉由一姿態運算模組之一偵測校正單元依據移動軌跡訊號分別產生一第一軸向訊號、一第二軸向訊號及一第三軸向訊號，其中，書寫平面P係由第一軸向及第二軸向所形成，且第三軸向與書寫平面垂直。在本實施例中，第一軸向、第二軸向及第三軸向係分別為參考座標系之三個相互垂直的軸向，即圖2A之X、Y、Z。 而書寫平面P係由第一軸向X及第二軸向Y所形成，且第三軸向Z與書寫平面P垂直。另外，第一軸向訊號、第二軸向訊號及第三軸向訊號(加速度訊號)係分別為圖4A~圖4C所示。不過，在其它實施例中，若書寫平面為一垂直平面時，例如圖2A之軸向X及軸向Z所構成的平面時，則第三軸向則為Y。
接著，進行步驟P02，係藉由偵測校正單元依據第三軸向訊號校正第一軸向訊號，以產生一第一軸向軌跡訊號。在本實施例中，由於第三軸向訊號係為提筆或換行所產生者，故係以第三軸向訊號校正第一軸向訊號及第二軸向訊號。其中，於校正第一軸向訊號的步驟中，更可包括當第三軸向訊號於一時間內的變化超過一預設訊號值時，藉由偵測校正單元於該時間內使第一軸向訊號為零。換言之，第三軸向訊號係由於提筆或換行所產生的，故是不需要的訊號，因此，第三軸向訊號於一段時間內(即圖4C之時間t1~時間t2之間)之變化超過預設訊號值時，可得知其為提筆或換行所產生的，因此必須將同一時間的第一軸向X的訊號消除，使第一軸向訊號為零(圖4A只顯示該段時間之第一軸向訊號，並未顯示該段時間之第一軸向訊號為零)。其中，預設訊號值可由使用者自訂。
最後，進行步驟P03，藉由偵測校正單元依據第三軸向訊號校正第二軸向訊號，以產生一第二軸向軌跡訊號。同樣道理，當第三軸向訊號於一時間內的變化超過一預設訊號值時，藉由偵測校正單元於該時間內使第二軸向訊號 為零。因此，也將同一時間內的第二軸向Y的訊號消除，使第二軸向訊號為零(圖4B只顯示該段時間之第二軸向訊號，並未顯示該段時間之第二軸向訊號為零)。值得一提的是，上述之步驟P02及步驟P03的順序只是舉例，本發明並不限定，也可先進行步驟P03後再進行步驟P02，或步驟P02及步驟P03同時進行。
另外，請參照圖5A及圖5B所示，其分別為本發明之一種移動軌跡產生方法的步驟流程圖及其功能方塊圖。
本發明之移動軌跡產生方法係包括：藉由一書寫裝置1之一移動軌跡感測模組感測書寫裝置1於一書寫平面P上移動時產生之一移動軌跡，並產生一移動軌跡訊號(步驟S01)、藉由一姿態運算模組之一偵測校正單元依據移動軌跡訊號產生一第一軸向訊號、一第二軸向訊號及一第三軸向訊號，其中，書寫平面P係由第一軸向及第二軸向所形成，且第三軸向與書寫平面P垂直(步驟S02)，以及藉由偵測校正單元依據第三軸向訊號分別校正第一軸向訊號及第二軸向訊號，以分別產生一第一軸向軌跡訊號及一第二軸向軌跡訊號(步驟S03)。於此，步驟S01已於上述中詳述，而步驟S02~S03可參照上述步驟P01至步驟P03，不再贅述。
另外，本發明之移動軌跡產生方法更可包括步驟S04：藉由一顯示模組依據第一軸向軌跡訊號及第二軸向軌跡訊號顯示校正後之移動軌跡。換言之，如圖2B所示，可例如使用具有顯示螢幕之電腦以顯示校正後之正確的 移動軌跡。在本實施例中，如圖2B所示，由於已將第一軸向訊號及第二軸向訊號中，因提筆或換行所產生之第三軸向Z的加速度訊號去除，故可藉由顯示模組依據第一軸向軌跡訊號及第二軸向軌跡訊號顯示校正後之正確的移動軌跡。再一提的是，在步驟S04之前，如圖5B所示，移動軌跡產生方法更可包括：藉由姿態運算模組之一軌跡運算單元分別對第一軸向軌跡訊號及第二軸向軌跡訊號進行運算。於此，係進行兩次積分，使第一軸向及第二軸向之加速度訊號分別轉換成一位移訊號，而顯示模組再將位移訊號轉換成移動軌跡並顯示出來。
此外，移動軌跡產生方法的其它技術特徵已於上述中詳述，於此不再贅述。
另外，請參照圖6A及圖6B所示，其中，圖6A係為以書寫裝置1書寫數字「12」的移動軌跡示意圖，而圖6B為應用本發明之移動軌跡產生方法後，顯示模組所顯示之移動軌跡示意圖。此外，請參照圖7A及圖7B所示，其中，圖7A為以書寫裝置1書寫數字「86」的移動軌跡示意圖，而圖7B為應用本發明之移動軌跡產生方法後，顯示模組所顯示之移動軌跡示意圖。
於圖6A及圖7A中，位置A至位置B之間的移動軌跡仍為提筆或換行所產生的移動軌跡。因此，如圖6B及圖7B所示，藉由本發明之移動軌跡產生方法可偵測並修正移動軌跡因提筆或換行所產生的誤差，以得到正確移動軌跡。
綜上所述，因本發明之移動軌跡校正方法及移動軌跡產生方法中，係藉由一姿態運算模組之一偵測校正單元依據移動軌跡訊號分別產生一第一軸向訊號、一第二軸向訊號及一第三軸向訊號，其中書寫平面係由第一軸向及第二軸向所形成，且第三軸向與書寫平面垂直，以及藉由偵測校正單元依據第三軸向訊號分別校正第一軸向訊號及第二軸向訊號，以分別產生一第一軸向軌跡訊號及一第二軸向軌跡訊號，再藉由顯示模組依據第一軸向軌跡訊號及第二軸向軌跡訊號顯示校正後之移動軌跡。藉此，使得本發明之移動軌跡校正方法及移動軌跡產生方法可偵測並修正移動軌跡因提筆或換行所產生的誤差，以得到正確移動軌跡。
以上所述僅為舉例性，而非為限制性者。任何未脫離本發明之精神與範疇，而對其進行之等效修改或變更，均應包含於後附之申請專利範圍中。
1‧‧‧書寫裝置
A、B‧‧‧位置
P‧‧‧書寫平面
P01~P03、S01~S04‧‧‧步驟
t1、t2‧‧‧時間
X、Y、Z‧‧‧軸向
圖1A及圖1B分別為一書寫裝置於一書寫平面書寫時之示意圖及其功能方塊圖；圖1C係為本發明較佳實施例之一種移動軌跡校正方法的步驟流程圖；圖2A係為以書寫裝置書寫數字「4」的移動軌跡示意圖；圖2B為圖2A中，應用本發明之移動軌跡產生方法 後，顯示模組所顯示之移動軌跡示意圖；圖3A為移動軌跡訊號之三軸向加速度訊號的波形示意圖；圖3B為圖3A之移動軌跡訊號經座標轉換後之波形示意圖；圖3C為圖3B之移動軌跡訊號經重力補償後之波形示意圖；圖4A~圖4C分別第一軸向訊號、第二軸向訊號及第三軸向訊號之波形示意；圖5A及圖5B分別為本發明之一種移動軌跡產生方法的步驟流程圖及其功能方塊圖；圖6A係為以書寫裝置書寫數字「12」的移動軌跡示意圖；圖6B為圖6A中，應用本發明之移動軌跡產生方法後，顯示模組所顯示之移動軌跡示意圖；圖7A係為以書寫裝置書寫數字「86」的移動軌跡示意圖；以及圖7B為圖7A中，應用本發明之移動軌跡產生方法所顯示之移動軌跡示意圖。
P01~P03‧‧‧步驟

Claims (14)

  1. 一種移動軌跡校正方法，係接收一書寫裝置於一書寫平面上移動時產生之一移動軌跡訊號，並包括：藉由一姿態運算模組之一偵測校正單元依據該移動軌跡訊號分別產生一第一軸向訊號、一第二軸向訊號及一第三軸向訊號，其中該書寫平面係由該第一軸向及該第二軸向所形成，且該第三軸向與該書寫平面垂直；藉由該偵測校正單元依據該第三軸向訊號校正該第一軸向訊號，以產生一第一軸向軌跡訊號；以及藉由該偵測校正單元依據該第三軸向訊號校正該第二軸向訊號，以產生一第二軸向軌跡訊號。
  2. 如申請專利範圍第1項所述之移動軌跡校正方法，其中該移動軌跡訊號包含該移動軌跡於不同時間的三軸向之一角速度訊號、一加速度訊號、一磁場強度訊號、一地磁方位訊號或其組合。
  3. 如申請專利範圍第1項所述之移動軌跡校正方法，其中該第一軸向、該第二軸向及該第三軸向係彼此垂直。
  4. 如申請專利範圍第1項所述之移動軌跡校正方法，其中於校正該第一軸向訊號的步驟中，更包括：當該第三軸向訊號於一時間內的變化超過一預設訊號值時，藉由該偵測校正單元於該時間內使該第一軸向訊號為零。
  5. 如申請專利範圍第1項所述之移動軌跡校正方法，其 中於校正該第二軸向訊號的步驟中，更包括：當該第三軸向訊號於一時間內的變化超過一預設訊號值時，藉由該偵測校正單元於該時間內使該第二軸向訊號為零。
  6. 一種移動軌跡產生方法，包括：藉由一書寫裝置之一移動軌跡感測模組感測該書寫裝置於一書寫平面上移動時產生之一移動軌跡，並產生一移動軌跡訊號；藉由一姿態運算模組之一偵測校正單元依據該移動軌跡訊號產生一第一軸向訊號、一第二軸向訊號及一第三軸向訊號，其中該書寫平面係由該第一軸向及該第二軸向所形成，且該第三軸向與該書寫平面垂直；藉由該偵測校正單元依據該第三軸向訊號分別校正該第一軸向訊號及該第二軸向訊號，以分別產生一第一軸向軌跡訊號及一第二軸向軌跡訊號；以及藉由一顯示模組依據該第一軸向軌跡訊號及該第二軸向軌跡訊號顯示校正後之該移動軌跡。
  7. 如申請專利範圍第6項所述之移動軌跡產生方法，其中該移動軌跡訊號包含該移動軌跡於不同時間的三軸向之一角速度訊號、一加速度訊號、一磁場強度訊號、一地磁方位訊號或其組合。
  8. 如申請專利範圍第7項所述之移動軌跡產生方法，更包括： 藉由該姿態運算模組之一姿態轉換單元依據該角速度訊號產生一座標轉換矩陣，並依據該座標轉換矩陣將該加速度訊號進行座標轉換。
  9. 如申請專利範圍第8項所述之移動軌跡產生方法，其中該姿態轉換單元將該角速度訊號進行一次積分，以得到一姿態角，進而產生該座標轉換矩陣，並利用該座標轉換矩陣將該加速度訊號轉換，以將該加速度訊號由該書寫裝置之一體座標系轉換為一參考座標系。
  10. 如申請專利範圍第9項所述之移動軌跡產生方法，更包括：藉由該姿態運算模組之一重力補償單元將該參考座標系之該加速度訊號進行重力補償。
  11. 如申請專利範圍第6項所述之移動軌跡產生方法，其中於校正該第一軸向訊號的步驟中，更包括：當該第三軸向訊號於一時間內的變化超過一預設訊號值時，藉由該偵測校正單元於該時間內使該第一軸向訊號為零。
  12. 如申請專利範圍第6項所述之移動軌跡產生方法，其中於校正該第二軸向訊號的步驟中，更包括：當該第三軸向訊號於一時間內的變化超過一預設訊號值時，藉由該偵測校正單元於該時間內使該第二軸向訊號為零。
  13. 如申請專利範圍第6項所述之移動軌跡產生方法，更包括： 藉由該姿態運算模組之一軌跡運算單元分別對該第一軸向軌跡訊號及該第二軸向軌跡訊號進行運算。
  14. 如申請專利範圍第6項所述之移動軌跡產生方法，其中該畫寫平面包含一水平面、一垂直面或一傾斜面。
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