TW201221550A - Film-shaped sealing agent and sealing method - Google Patents

Film-shaped sealing agent and sealing method Download PDF

Info

Publication number
TW201221550A
TW201221550A TW100134101A TW100134101A TW201221550A TW 201221550 A TW201221550 A TW 201221550A TW 100134101 A TW100134101 A TW 100134101A TW 100134101 A TW100134101 A TW 100134101A TW 201221550 A TW201221550 A TW 201221550A
Authority
TW
Taiwan
Prior art keywords
film
resin
polyamine
copolymerized
component
Prior art date
Application number
TW100134101A
Other languages
English (en)
Inventor
Hiroaki Arita
Yoshiki Nakaie
Taiji Yamabe
Original Assignee
Daicel Evonik Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Daicel Evonik Ltd filed Critical Daicel Evonik Ltd
Publication of TW201221550A publication Critical patent/TW201221550A/zh

Links

Classifications

    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C09DYES; PAINTS; POLISHES; NATURAL RESINS; ADHESIVES; COMPOSITIONS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; APPLICATIONS OF MATERIALS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • C09KMATERIALS FOR MISCELLANEOUS APPLICATIONS, NOT PROVIDED FOR ELSEWHERE
    • C09K3/00Materials not provided for elsewhere
    • C09K3/10Materials in mouldable or extrudable form for sealing or packing joints or covers
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/28Encapsulations, e.g. encapsulating layers, coatings, e.g. for protection
    • H01L23/29Encapsulations, e.g. encapsulating layers, coatings, e.g. for protection characterised by the material, e.g. carbon
    • H01L23/291Oxides or nitrides or carbides, e.g. ceramics, glass
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C09DYES; PAINTS; POLISHES; NATURAL RESINS; ADHESIVES; COMPOSITIONS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; APPLICATIONS OF MATERIALS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • C09DCOATING COMPOSITIONS, e.g. PAINTS, VARNISHES OR LACQUERS; FILLING PASTES; CHEMICAL PAINT OR INK REMOVERS; INKS; CORRECTING FLUIDS; WOODSTAINS; PASTES OR SOLIDS FOR COLOURING OR PRINTING; USE OF MATERIALS THEREFOR
    • C09D177/00Coating compositions based on polyamides obtained by reactions forming a carboxylic amide link in the main chain; Coating compositions based on derivatives of such polymers
    • C09D177/06Polyamides derived from polyamines and polycarboxylic acids
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B32LAYERED PRODUCTS
    • B32BLAYERED PRODUCTS, i.e. PRODUCTS BUILT-UP OF STRATA OF FLAT OR NON-FLAT, e.g. CELLULAR OR HONEYCOMB, FORM
    • B32B37/00Methods or apparatus for laminating, e.g. by curing or by ultrasonic bonding
    • B32B37/04Methods or apparatus for laminating, e.g. by curing or by ultrasonic bonding characterised by the partial melting of at least one layer
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/28Encapsulations, e.g. encapsulating layers, coatings, e.g. for protection
    • H01L23/29Encapsulations, e.g. encapsulating layers, coatings, e.g. for protection characterised by the material, e.g. carbon
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/28Encapsulations, e.g. encapsulating layers, coatings, e.g. for protection
    • H01L23/29Encapsulations, e.g. encapsulating layers, coatings, e.g. for protection characterised by the material, e.g. carbon
    • H01L23/293Organic, e.g. plastic
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/28Encapsulations, e.g. encapsulating layers, coatings, e.g. for protection
    • H01L23/31Encapsulations, e.g. encapsulating layers, coatings, e.g. for protection characterised by the arrangement or shape
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/22Secondary treatment of printed circuits
    • H05K3/28Applying non-metallic protective coatings
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/22Secondary treatment of printed circuits
    • H05K3/28Applying non-metallic protective coatings
    • H05K3/284Applying non-metallic protective coatings for encapsulating mounted components
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/0001Technical content checked by a classifier
    • H01L2924/0002Not covered by any one of groups H01L24/00, H01L24/00 and H01L2224/00
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/10Details of semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/11Device type
    • H01L2924/12Passive devices, e.g. 2 terminal devices
    • H01L2924/1204Optical Diode
    • H01L2924/12044OLED
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K2201/00Indexing scheme relating to printed circuits covered by H05K1/00
    • H05K2201/01Dielectrics
    • H05K2201/0104Properties and characteristics in general
    • H05K2201/0129Thermoplastic polymer, e.g. auto-adhesive layer; Shaping of thermoplastic polymer
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K2203/00Indexing scheme relating to apparatus or processes for manufacturing printed circuits covered by H05K3/00
    • H05K2203/13Moulding and encapsulation; Deposition techniques; Protective layers
    • H05K2203/1305Moulding and encapsulation
    • H05K2203/1311Foil encapsulation, e.g. of mounted components
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/22Secondary treatment of printed circuits
    • H05K3/28Applying non-metallic protective coatings
    • H05K3/281Applying non-metallic protective coatings by means of a preformed insulating foil
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10TTECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T156/00Adhesive bonding and miscellaneous chemical manufacture
    • Y10T156/10Methods of surface bonding and/or assembly therefor
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10TTECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T428/00Stock material or miscellaneous articles
    • Y10T428/28Web or sheet containing structurally defined element or component and having an adhesive outermost layer
    • Y10T428/2852Adhesive compositions
    • Y10T428/2896Adhesive compositions including nitrogen containing condensation polymer [e.g., polyurethane, polyisocyanate, etc.]

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Ceramic Engineering (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Wood Science & Technology (AREA)
  • Laminated Bodies (AREA)
  • Compositions Of Macromolecular Compounds (AREA)
  • Polyamides (AREA)
  • Structures Or Materials For Encapsulating Or Coating Semiconductor Devices Or Solid State Devices (AREA)
  • Sealing Material Composition (AREA)

Description

201221550 六、發明說明: 【發明所屬之技術領域】 本發明係有關適於封裝安裝有電 电于零件之印刷基板 等裝置(或電子裝置)之薄膜狀封裝劍、# m 农刻、使用該薄膜狀封 裝劑之封裝方法。 【先前技術】 為保護半導體元件、印刷基板、太陽電池單元等精 密零件(或電子裝置)免於水分、塵埃等,—般係將i等 以樹脂封裝。就該封裝方法而言,已知有將精密零;配 置於模具腔室内並注入流動性樹脂來封裝之方法。於該 方法中,大多係使用黏度低、流動性高的熱@㈣脂二 然而’熱固性樹脂中因添加有交聯劑等添加劑,不 僅保存期間短,且注人模具腔室内後至硬化為止需要較 長的時間,而無法提高生產性。此外,根據樹脂種類, 於成形後需進行硬化處理,亦無法提高生產性。 將熱塑性樹脂射出成形來封裝精密零件亦廣為人知 。惟’熱塑性樹脂大多係以較高之溫度、壓力來進行成 型(molding,塑模)’容易損傷基板、安裝於基板上之電子 零件而損及可信度。日本特開20004 33665號公報(專利 文獻1)中揭露有一種方法’其係將安裝有電子零件的印 刷基板配置於模具腔室内,並將加熱至160〜230。(:而熔融 之聚酿胺樹脂以2.5〜25kg/cm2之壓力範圍注入前述模具 腔室内來封襞安裝有電子零件的印刷基板。該文獻之實 施例中記載,將Trl公司(法國)之聚醯胺樹脂(商品編號 817)以炫融溫度190°C、壓力20kg/cm2注入模具内來封裝 201221550 印刷基板。惟,該方法亦對電子零件作用較高之溫度、 壓力,有時會損傷電子零件。 使用薄膜來包裝(pack)裝置同樣廣為人知。日本特 開2001-284779號公報(專利文獻2)中揭露有一種製造電 子電路形成品之方法,其係透過以下方法:將具備電子 零件(2、2A)的電路基板(1)插入筒狀薄膜(3)内,並封堵 上述靖狀薄膜之兩側開口部來包裝上述電路基板之方法 ;以片狀薄膜(3 A、3B)被覆具備前述電子零件之區域之 方法;以兩片片狀薄膜(3A、3B)被覆電路基板(1)之表背 兩面,同時以上述片狀薄膜來包裝上述電路基板之方法 ,亦記載:以預先加熱而軟化之薄膜進行被覆;於上述 薄膜與上述基板之間減壓,並使上述薄膜合於上述零件 或上述基板。日本特開平n_259〇21號公報(專利文獻3) 中揭露有-種以薄膜包覆包含多個液晶顯示面板構件的 液晶顯示面板構件類,並進行積層的液晶顯示 一 1八〜日日 不面板構件,其亦例示聚醯胺作為塑膠薄膜。 緊密接著、封裝電子零件等 包覆裝置之形態下防濕或防 中一面,亦無法有效保護裝 然而’此等方法並無法 裝置°特別是此等方法係於 水’因此僅應用於裝置的其 置。 ' 更且,使用薄膜狀封裝劑來封裝裝置也為人所知 開聰.期06號公報(專利文獻4)係有關—種 ::薄膜之間以樹脂封裝太陽電池單元之太陽電池 元造方法’其揭露:在前述基板與前述太陽電池 3配置被覆前述基板之實質上整面的第一封裝樹 201221550 片,在前述薄膜與前述太陽電池單元之間配置被覆前述 基板之實質上整面的第二封裝樹脂片而製作積層體,並 將該積層體層疊成多層,同時於最上層之積層體的前述 4膜的外側配置蓋板,將前述基板與前述薄膜之間的空 氣排出,進行加熱使樹脂熔融,再予以冷卻來進行封裝 :亦記載前述封裝樹脂為選自包含乙烯/乙酸乙烯酯共聚 物、聚乙烯丁醛(P〇lyvinyl 及聚胺基甲酸酯之群 組的一種樹脂。 « 令符開 2009-99417 種包含供封裝形成於前述基板上之有機電子裝置的阻隔 膜(barrier fUm),且前述有機電子裝置與前述阻隔膜之 間^置有熱溶型構件的有機電子裝置封裝面板;亦記載 :前述熱溶型構件含有水分去除劑及蠘;其呈前述熱炫 型構件之厚度為1〇〇叫以下的薄膜狀。X曰本特開 2贈號公報(專利文獻6)中揭露一種含有水分去除 劑及蠛的有機薄胺; 膜太陽電池用熱熔型構件;亦記載熱熔 型構件的形狀可為褚^ ^ 為4臈狀、板狀、不規則形狀等。 " 11薄膜狀封裝劑對裝置之凹凸咅P的迎合性差, 從而不易緊密封裝梦 係以蠟為w 更且,前述熱熔型構件 穿。 、刀,因此難以提高對裝置之密接性而封 曰本特開20〇ΐ·2341 ^八 一種埶t Μ > t 5唬A報(專利文獻7)中揭露有 暴露於高溫火焰下㈣f r 4 了防止在塗布過程中 ,R| 良色,係相對熱塑性樹脂1 〇〇重量& ’而分別以0.05〜2 θ 、 里里物 •篁伤之比例含有受阻酚系抗氧化劑 201221550 及亞磷酸酯系抗氧化劑,且中位數粒徑為5〇〜300μιη、容 積比重為0.30g/ml以上,安息角為35度以下。該文獻中 ’作為熱塑性樹脂係例示聚乙烯樹脂、聚丙烯樹脂、尼 龍-1 1樹脂、尼龍-1 2樹脂、乙烯-乙酸乙烯酯共聚物樹脂 、乙烯-丙烯酸共聚物樹脂、乙烯-曱基丙烯酸共聚物樹 脂、改性聚乙烯樹脂、改性聚丙烯樹脂,亦記載有使用 尼龍(聚醯胺)樹脂(EMS-CHEMIE AG公司之商品名「 Grilamid」)之實例。 惟’上述粉體塗料係於高溫下熔融而進行熱喷射, 當利用於電子零件的封裝時會有容易損傷電子零件而損 及裝置之可信度之虞。 [先前技術文獻] [專利文獻] [專利文獻1]日本特開2000-1 33665號公報(申請專利 範圍、實施例) [專利文獻2]日本特開2001_284779號公報(中請專利 範圍) [專利文獻3]曰本特開平n_259〇21號公報(申請專利 範圍、[0022]) [專利文獻4]日本特開2〇〇8_2829〇6號公報(中請專利 範圍) [專利文獻5]曰本特開2〇〇9 99417號公報(申請專利 範圍、[0024]) [專利文獻6]日本特開2009-99805號公報(申請專利 範圍) 201221550 2001-234125號公報(申 請專利 [專利文獻7]日本特開 範圍、[0008]、實施例6) 【發明内容】 [發明所欲解決之課題] 種有用於在低溫下 使用該封裝劑之封 因此,本發明之目的在於提供一 緊密封裝電子裝置之薄膜狀封裝劑、 裝方法。 其中一月之二他=的在於提供一種雖僅於電子裝置的 使用㈣&仍能以高密接力緊密封裝之薄膜狀封裝劑、 使用該封裝劑之封裴方法。 子穿Π一其他目的在於提供-種可有效保護電 今❹a &水^ '塵埃或衝擊等之薄膜狀封裝劑、使用 該封裝劑之封裝方法。 便用 本發月之另外的目的在於提供一種可提高電子 =裝性以外,還可提高耐熱性'耐化學藥品 ^ 薄膜、使用該積層薄獏之封裝方法。 積層 本發明之另—的目的在於提供—種由前述薄膜 裝劑或積層薄膜封裝的電子裝置。 、、 [解決課題之手段] 本發明人等為達前述課 現.若採用含共聚合聚醯胺 脂’則相較於熱固性樹脂可 低溫低壓被覆、封裴裝置的 其中一面,仍能以高密接性 明即臻完成。 題而戮力進行研討的結果發 系樹脂之薄膜作為熱塑性樹 縮短封裝、成形週期;能以 規定部分;雖應用於裴置的 及封裝性來保護裝置,本發 201221550 即,本發明封裝劑乃為含共聚合聚醯胺系樹脂之薄 膜狀封裝劑,係供被覆、封裝裝置(或將其成型)。具有 溥膜狀形態之本發明封裝劑中,前述共聚合聚醯胺系樹 脂之熔點或軟化點可為75〜160°C左右,例如熔點為 90〜140°C左右。共聚合聚醯胺系樹脂亦可具結晶性。共 聚合聚醯胺系樹脂可為多元共聚物,例如二元共聚物〜 四το共聚物(例如二元或三元共聚物更且,共聚合聚 酿胺系樹脂可包含具有Cs-16伸烷基(例如c1Q-14伸烷基)之 長鏈成分,例如選自(:9-17内醯胺及胺基c9_17烷羧酸的至 少一種成分所衍生的單位。舉例而言,共聚合聚酼胺系 樹脂可包含選自聚醯胺11、聚醯胺12、聚醯胺610、聚醯 胺6 12及聚醯胺1〇1〇之醯胺形成成分所衍生的單位,亦可 為選自共聚醯胺6/11、共聚醯胺6/12、共聚醯胺66/11、 共聚醯胺6 6/12、共聚醯胺61 0/11、共聚醯胺61 2/11、共 聚醯胺610/12、共聚醯胺612/12、共聚醯胺1010/12、共 聚醯胺6/11/610、共聚醯胺6/11/612、共聚醯胺6/12/610 及共聚醯胺6/12/612的至少一種。此外,共聚合聚醯胺 系樹脂只要以選自聚醯胺1 1、聚醯胺1 2、聚醢胺6 1 0、聚 醯胺612及聚醯胺ΐ(π〇之醯胺形成成分所衍生的單位為 必需者,亦可為作為硬鏈段(hard segment)而包含的聚醯 胺彈性體(聚醯胺嵌段共聚物)。更且,共聚合聚醯胺系 樹脂又可包含選自十二碳内醯胺(laurolactam)、胺基十 一酸及胺基十二酸的至少一種成分所衍生的單位。本發 明薄膜狀封裝劑可被覆裝置之兩面,惟係有用於被覆裝 置之其中一面。
S 201221550 本發明亦包含一種積届@ ^ _ M m ^ Μ ^ m, 4骐,其3有前述薄膜狀封 ::及積層於該薄膜狀封裝劑之其中—面且包含耐熱 # 寻膜可為例如薄膜狀封裝劑之 其中-面上直接形成有保護層的積層 狀封裝劑之其中一面卜γ戈4A + 力』马涛膜 ^ w接著層(中間層)而形成有保 護層的積層薄膜。耐熱性樹脂之熔點或軟化點可為⑽ 以上。,熱性樹脂可為選自聚I系樹脂、聚醢胺系樹脂 及氟树脂的至少一#。積層薄膜之整體厚度可為 1 0〜1 0 0 0 μ m左右。 f發明之方法中,可藉由以前述薄臈狀封裝劑被覆( 或覆蓋)裝置的至少一部分’並將薄膜狀封裝劑加熱熔融 、冷卻來製造以共聚合聚醯胺系樹脂被覆或成型的裝置 。本發明之方法中,亦可被覆裝置的至少一面。由此, 本發明亦包含利用將薄膜狀封裝劑熱熔接(焊接)而形成 的共聚合聚醯胺系樹脂被膜將至少一部分被覆或成型的 裝置。 再者,本發明之方法中,亦可使積層薄膜的薄膜狀 封裝劑側面向裝置,而以積層薄膜被覆裝置的至少一部 分。因此,本發明亦包含以共聚合聚醯胺系樹脂被膜將 至少一部分被覆或成型的裝置’其中該共聚合聚醯胺系 樹脂被膜係將構成積層薄膜的薄膜狀封裝劑熱炫:接而% 成。 此外,本說明書中「共聚合聚醯胺系樹脂」係以包 含「由多種醯胺形成成分形成’且種類相異之多種共聚 物(共聚酿胺)的混合物」之思義使用,而非僅指「各自 -10- 201221550 心成均聚聽胺之多種酿脸形士,> \ 夕不里®胺形成成分的共聚物(共聚醯胺) J ° [發明之效果] 於本發明中,因薄膜狀封裝劑含有共聚合聚醯胺系 樹脂,故能在低溫下緊密封裝電子裝置,而不會損及裝 置之可*度。又,對裝置而言,能在低溫下將薄膜狀封 裝劑熱熔接,因此雖僅於電子裝置的其中一面,仍能以 高密接力進行封裝。更可有效保護電子裝置免於水分、 塵埃或衝擊等。若將包含耐熱性樹脂的保護層積層於上 述薄膜狀封裝劑的單面並予以多層化,除可提高電子裝 置之封裝性以外,還可提高耐熱性、耐化學藥品性。 【實施方式】 [用以實施發明之形態] 本發明薄膜狀封裝劑(或片狀封裝劑)係含有共聚合 聚酿胺系樹脂。共聚合聚醯胺系樹脂中則含有共聚合聚 酿胺(熱塑性共聚合聚醯胺)與聚醯胺彈性體。 熱塑性共聚合聚醯胺可為脂環族共聚合聚醯胺,惟 一般多為脂肪族共聚合聚醯胺。共聚合聚醯胺可組合二 胺成分、二繞酸成分、内醯胺成分、胺基羧酸成分而形 成°此外’二胺成分及二羧酸成分此兩成分可形成共聚 θ g胺之it胺鍵,内醯胺成分及胺基羧酸成分則可各 自單獨形成共聚合聚醯胺之醯胺鍵。由此觀點,共聚合 聚酿胺可透過選自一對成分(組合二胺成分及二羧酸成 分之兩成分)、内醯胺成分及胺基羧酸成分之多種醯胺形 成成分的共聚合來製得。又,共聚合聚醯胺可透過選自 -11- 201221550 一對成分(組合二胺成分及二羧酸成分之兩成分)、内醯 胺成分及胺基羧酸成分的至少一種醯胺形成成分、及與 該醯胺形成成分種類相異(或種類相同而碳數相異)之醯 胺形成成分的共聚合來製得。内醯胺成分與胺基羧酸成 分只要碳數及支鏈構造相同,亦可視為相等成分來處理 。因此,若以組合二胺成分及二羧酸成分的一對成分為 第一醯胺形成成分、以内醯胺成分及胺基羧酸成分為第 二醯胺形成成分,則例如共聚合聚醯胺可為:由第一醯 胺形成成分(一胺成分及一叛酸成分)所得之共聚合聚酿 胺,即二胺成分及二缓酸成分當中的至少一成分包含碳 數相異之多種成分的共聚合聚醯胺;第一醯胺形成成分( 二胺成分及二羧酸成分)、與第二醢胺形成成分(選自内 醯胺成分及胺基羧酸成分的至少一種成分)之共聚合聚 醯胺;包含第二酿胺形成成分(選自内醯胺成分及胺基羧 酸成分的至少一種成分)之共聚合聚醯胺,即内醯胺成分 及胺基羧酸成分當中的一成分包含碳數相異之多種成分 的共聚合聚醯胺;碳數相同或彼此相異之内酿胺成分與 胺基羧酸成分之共聚合聚醯胺等。 就二胺成分而言,可例示脂肪族二胺或伸烷基二胺 成分(例如丁二胺、己二胺、三甲基己二胺、辛二胺、十 二烷二胺等CU-w伸烷基二胺等)等。此等二胺成分可單獨 或二種以上組合使用。較佳之二胺成分係至少包含伸烷 基二胺(較佳為Clm伸烷基二胺,更佳為c6_12伸烷基二胺 )° 此外’需要時可併用脂環族二胺成分(二胺基環己烷 -12- 201221550 專二胺基環烧(:胺基C5_1Q環燒等);雙(4_胺基環己基) 曱:、雙(4-胺基·3_曱基環己基)甲烷、2,2雙(4,胺基環 己基)丙烧等雙(胺基環炫基汰[雙(胺基Ch環院基 -烷等];氫化苯二甲基二胺等)、芳香族二胺成分(間 一甲本_胺等)作為二胺成分。二胺成分(例如脂環族二 胺成分)可具有烷基(甲基、乙基等Cm燒基)等取代基。 相對二胺成分整體,伸烷基二胺成分之比例係為 50〜100莫耳%,較佳為6〇〜1〇〇莫耳%(例如7〇〜97莫耳%) ,更佳為75〜1〇〇莫耳%(例如80〜95莫耳%)左右。 就二羧酸成分而言可例舉脂肪族二羧酸或烷二羧酸 成分(例如己二酸、庚二酸、壬二酸、癸二酸、十二烷二 酸、二聚酸或其氫化物等碳數4〜36左右之二羧酸或I 36 烷二羧酸等)等。此等二羧酸成分可單獨或二種以上組合 使用較佳之二羧酸成分包含G Μ烷二羧酸(例如“ Μ 烷二羧酸,較佳為c^4烷二羧酸等)。更且,需要時可併 用月曰¥族一羧酸成分(環己烷-1,4-二羧酸、環己烷-丨,3· 凌等C5-I()環院-一缓酸專)、芳香族二叛酸(對苯二甲 酸、間苯二甲酸等)。此外,作為二胺成分及二羧酸成分 可與脂環族二胺成分及/或脂環族二羧酸成分共同併用 f述例示之脂肪族二胺成分及/或脂肪族二羧酸成分所 得之脂環族聚醯胺樹脂係已知為所謂透明聚醯胺,其透 明性高。 相對二幾酸成分,烷二羧酸成分之比例係為50〜1 00 莫耳%’較佳為60〜100莫耳。/。(例如7〇〜97莫耳%),更佳為 75〜100莫耳%(例如8〇〜95莫耳。/。)左右。 -13- 201221550 第 莫耳, 内使用 醯胺形成成分中’ 一胺成分相對二叛酸成分] 可於0_8〜1.2莫耳’較佳為〇·9〜莫耳左右之範圍 就内酿胺成分而言’可例示如戊内醯胺、ε_己内 酿胺、ω-庚内醯胺、ω-辛内醯胺、ω_癸内酿胺、ω_十一 碳内酿胺、ω-十二碳内酿胺(或ω_月桂精内醯胺)等(:4 2〇 内醯胺等,就胺基羧酸成分而言,可例示如^胺基癸酸 、胺基十一酸、ω-胺基十二酸等Q心胺基羧酸等。此 等内酿胺成分及胺基叛酸成分亦可單獨或二種以上組合 使用。 較佳之内醯胺成分係包含内醜胺,較佳為匚8_17 内醯胺’更佳為匚^·!5内醯胺(十二碳内醯胺等)。較佳之 胺基緩酸則包含胺基C6_i 9院叛酸’較佳為胺基7烷羧 酸’更佳為胺基(:1()-15烷羧酸(胺基十—酸、胺基十二酸 等)》 此外’共聚合聚酿胺亦可為使用少量聚叛酸成分及/ 或多元胺成分,且導入有支鏈構造之聚醯胺等改性聚醯 胺。 第一醯胺形成成分(組合二胺成分與二羧酸成分之 兩成分)、第二醯胺形成成分(選自内酿胺成分、及胺基 叛酸成分的至少一種醯胺形成成分)之比例(莫耳比)可選 自刖者/後者=100/0〜0/1〇〇之範圍,例如可為9〇/1〇〜〇/1〇〇( 例如 80/20〜5/95),較佳為 75/25〜10/90(例如 70/30〜15/85) ,更佳為60/40〜20/80左右。 更且,共聚合聚醯胺係以包含具有長鏈脂肪鏈(長鏈 -14- 201221550 伸烷基或伸烯基)的長鏈成分作為構成單位(或包含長鏈 成刀所衍生之單位)為佳。就此種長鏈成分而言,係含具 有碳數8〜36左右之長鏈脂肪鏈或伸烷基(較佳為〇:8_16伸 烧基更佳為烧基)的成分。就長鏈成分而言, 可例示如選自CS18烷二羧酸(較佳為CiG_b烷二羧酸,更 佳為4燒二羧酸等)、c^7内醯胺(較佳為十二碳内醯 胺等cn-ls内醯胺)及胺基C9-,7烧羧酸(較佳為胺基十一酸 、胺基十二酸等胺基Cn-u烧緩酸)的至少一種成分β此 等長鏈成分可單獨或二種以上組合使用。此等長鏈成分 當中’係大多使用選自内醯胺成分及/或胺基烷羧酸成分 ,例如十二碳内醯胺、胺基十一酸及胺基十二酸的至少 一種成分。含有此種成分所衍生之單位的共聚合聚醯胺 不僅财水性高,且對電子裝置之密接性、耐磨性及耐衝 擊性亦優良’而能夠有效保護電子裝置。 相對形成共聚合聚醯胺的單體成分整體,長鏈成分 之比例係為10〜100莫耳%(例如25〜95莫耳%),較佳為 3 0〜90莫耳%(例如40〜85莫耳%),更佳為50〜80莫耳%(例 如55〜75莫耳%)左右。 更且,共聚合聚醯胺可為前述醯胺形成成分的多元 共聚物,例如二元共聚物至五元共聚物等,惟一般大多 為二元共聚物至四元共聚物,特別是二元共聚物或三元 共聚物。 共聚合聚醯胺大多含有選自例如聚醯胺1 1、聚醯胺 12、聚醯胺610、聚醯胺612及聚醯胺ι〇10的醯胺形成成 分作為構成單位(或包含上述醯胺形成成分所衍生之單 -15- 201221550 位)。共聚合聚醯胺既可為此等多種醯胺形成成分之共聚 物,亦可為上述一種或多種酿胺形成成分、與其他酿胺 形成成分(選自聚醯胺6及聚醯胺66的至少一種酿胺形成 成分等)之共聚物。具體而言,就共聚合聚醯胺而言,可 例舉如共聚醯胺6/1 1、共聚醯胺6/12、共聚醯胺66/11、 共聚醯胺66/12、共聚醢胺610/11、共聚醯胺61 2/11、共 聚醯胺610/12、共聚醯胺612/12、共聚醯胺1010/12、共 聚醯胺6/11/610、共聚醯胺6/11/612、共聚醯胺6/12/610 、共聚醯胺6/12/6 12等。此外,此等共聚合聚醯胺中, 以斜線「/」分隔的成分係表示醯胺形成成分。 就聚醯胺彈性體(聚醯胺嵌段共聚物)而言,可例舉 包含作為硬鏈段(或硬嵌段)之聚醯胺與軟鏈段(或軟嵌段 )的聚醯胺嵌段共聚物,例如聚醯胺-聚醚嵌段共聚物、 聚酿胺-聚酯嵌段共聚物、聚醯胺-聚碳酸酯嵌段共聚物 等。 就構成硬鏈段的聚醯胺而言,可為一種或多種前述 酿胺形成成分之單獨聚合物或共聚物(均聚醯胺、共聚醯 胺)。作為硬鏈段之均聚醯胺可包含前述例示之長鏈成分 作為構成單位,較佳之長鏈成分係與前述相同。代表性 均聚酿胺可例舉聚醯胺13[、聚醯胺12、聚醯胺61〇、聚醯 胺612、聚醯胺1〇1〇、聚醯胺1〇12等。又,作為硬鏈段之 共聚醯胺係與前述例示之共聚醯胺相同。此等聚醯胺當 中,較佳為聚醯胺U、聚醯胺12、聚醯胺1010:聚醯胺 1012等均聚醯胺。 代表性聚醯胺彈性體乃為聚醯胺-聚醚嵌段共聚物 -16- 201221550 。聚醯胺-聚醚嵌段共聚物中,就聚醚(聚醚嵌段)而言, 可例舉如聚烯烴二醇(例如聚乙二醇、聚丙二酵、聚四亞 曱基二醇等聚C2-6烯烴二醇,較佳為聚C2.4烯烴二酵)等 〇 就此種聚醯胺-聚醚嵌段共聚物而言,可例舉如具有 反應性末端基團之聚醯胺嵌段與具有反應性末端基團之 聚醚嵌段共聚合縮合所得之嵌段共聚物,例如聚醚醯胺[ 例如具有二胺末端之聚醢胺嵌段與具有二羧基末端之聚 烯烴二醇嵌段(或聚氧伸烷基嵌段)的嵌段共聚物、具有 二羧基末端之聚醯胺嵌段與具有二胺末端之聚烯烴二醇 嵌段(或聚氧伸烷基嵌段)的嵌段共聚物等]、聚醚酯醯胺[ 具有二羧基末端之聚醯胺嵌段與具有二羥基末端之聚烯 烴二酵嵌段(或聚氧伸烷基嵌段)的嵌段共聚物等]等。此 外’聚醯胺彈性體可具酯鍵’惟,為提高耐酸性則未具 酯鍵亦可。又’市售聚醯胺彈性體一般大多幾乎不具有 胺基。 聚醯胺彈性體(聚醯胺嵌段共聚物)中,軟鏈段(聚趟 嵌段、聚酯嵌段、聚碳酸酯嵌段等)之數量平均分子量可 選自例如1〇〇~ 10000左右之範圍,較佳為300〜6000(例如 300〜5000) ’更佳為500〜4000(例如5〇〇〜3〇〇〇),特別為 1000〜2000左右。 且,聚醯胺彈性體(聚醯胺嵌段共聚物)中,聚醯鞍 嵌段(聚醯胺鏈段)與軟鏈段嵌段之比例(重量比)例如為 前者/後者=7 5/25〜1 0/90 ’較佳為70/30〜1 5/85,更佳為 60/40〜20/80(例如 50/50〜25/75)左右。 -17- 201221550 此等共聚合聚醯胺系樹脂可單獨或二種以上組合。 此等共聚合聚醯胺系樹脂當中,由電子裝置之封裝性觀 點言之’較佳為共聚合聚醯胺(非聚醯胺彈性體或聚酿胺 隨機共聚物),特佳為包含聚醯胺12所衍生之醯胺形成成 分作為構成單位的共聚合聚醯胺。 共聚合5^酿胺系樹脂之胺基濃度並未特別限制,例 如可為10〜300mmol/kg,較佳為15〜280mm〇l/kg,更佳為 20〜250mmol/kg左右。若共聚合聚醯胺系樹脂之胺基濃度 較高’則將其他層(後述之保護層等)積層於薄膜狀封裝 劑上時可提升接著性而有利。 共聚合聚醯胺系樹脂之羧基濃度並未特別限制,例 如可為10〜300mmol/kg ’較佳為15〜28〇mmo丨/kg,更佳為 20〜250mmol/kg左右。若共聚合聚醯胺系樹脂之羧基濃度 較高,則以熱穩定性高、長期穩定性(連續加工性)觀點 言之係屬有利。 共聚合聚酿胺系樹脂之數量平均分子量可選自例如 5000〜200000左右之範圍,例如可為6〇〇〇〜1〇〇〇〇〇,較佳 為 7000〜70000(例如 7000〜15000),更佳為 8〇〇〇〜4〇〇〇〇(例 如8000〜12000)左右,一般為8〇〇〇〜3〇〇〇〇左右。共聚合聚 醢胺系樹脂之分子量能以HFIP(六氟異丙醇)為溶劑,利 用膠透層析法換算成聚甲基丙烯酸甲酯來測定。 按共聚合聚醯胺系樹脂每1分子,共聚合聚醯胺系樹 脂之醯胺鍵含量可選自例如1〇〇單位以下之範圍;而由裝 置之封裝性觀點言之,可為30〜9〇單位,較佳為4〇〜8〇單 位,更佳為50〜70單位(例如55〜60單位)左右。此外,上 • 18 - 201221550 述醯胺鍵含量可由例如數量平均分子 單位)之分子量來算出。 複单位(1 共聚合聚醯胺系樹脂可呈非晶性,亦可具結晶性。 共聚合聚酿胺系樹脂之結晶度例如可為2〇%以 為ίο/。以下。此外,結晶度可由慣用方法,例如基於密 ,、熔解熱之測定法、X光繞射法、紅外線吸收法等來測 定0 ^曰曰丨生共聚合聚酿胺系樹脂之熱熔融性可利 用示差掃描妖詈公把., . 聚合聚醯料樹r之: 測定,結晶性共 (DSC)來測定之_可利用示差掃描熱量分析儀 ”聚α聚醯胺系樹脂(或共聚合聚醯胺或聚醯胺彈 性體)之溶點或軟化點可為75〜1601 (例如80〜1501 ),較 佳為90 140 C (例如95〜135。。),更佳為1〇〇〜;i30〇c左右, 一般為90〜16(rc (例如刚〜15〇。〇左右。由於共聚合聚酿 胺系樹脂具低熔點或軟化點,係有用於熔融後合於裝置 表面之凹凸部(咼低差之角(c〇rner)部等)等的表面形狀 。此外’共聚合聚醯胺系樹脂之熔點係指各 =中t生單一峰時1 -峰所對應之溫度,亦指各 "刀處互’合而於DSC中產生多根峰時’多根峰當中高溫 側之峰所對應的溫度。 共聚合聚醯胺系樹脂係以具高熔融流動性為佳,以 便可合於裝置表面之凹巴部等的表面形狀,並可流入或 滲入間隙等中。共聚合聚酿胺系樹脂之熔融流動率 (MFR)於溫度16(rc及荷重2 l6kg下可為^0^0分鐘 •19- 201221550 ’較佳為3〜300g/10分鐘,更佳為5〜250g/l〇分鐘左右β 在不損及密接性等特性之範圍内,共聚合聚醯胺系 樹脂中可添加均聚醯胺(例如形成前述共聚合聚醯胺之 成分所形成的均聚醯胺等)。相對共聚合聚醢胺系樹脂 100重量份,均聚醯胺之比例可為30重量份以下(例如 1〜25重量份)’較佳為2〜20重量份,更佳為3〜15重量份左 右。此外,在混合物形態的共聚合聚醯胺系樹脂中,各 聚醯胺可彼此具有互溶性。 薄膜狀封裝劑(或片狀封裝劑)只要含有共聚合聚醯 胺系樹脂即可,需要時亦可含有其他熱塑性樹脂,例如 乙烯·乙酸乙烯酯共聚物等。例如相對共聚合聚醯胺系樹 脂100重量份,其他樹脂之比例可為1〇〇重量份以下(例如 1、〜80重量份左右),較佳為2〜7〇重量份,更佳為2〜5〇重量 份,特別為30重量份以下(例如3〜2〇重量份左右)。 共聚合聚醯胺系樹脂可視需求含有各種添加劑,例 真料安疋劑(耐熱安定劑、而才候安定劑等)、著色 、塑化劑、潤滑劑、阻燃劑、抗靜電劑、導熱劑 加劑可單獨或2種以上組合。此等添加 安 定劑、導熱劑等。 竹贋用女 酿胺二本發,薄膜狀封裝劑可為包含共聚合聚 有it繁人J #共聚合聚醯胺系樹脂之混合物、或含 Γ之酿胺系樹脂與其他成分(均聚酿胺、添加劑等 )之混合物(共聚合聚酿胺系樹脂組成物)的薄膜。 薄膜狀封裝劑(或片狀封裝劑)既可為未延伸 延伸薄膜(單軸或雙軸延 '或 溥膜)也可透過延伸或配向 -20- 201221550 來賦予熱收縮性。就薄膜之延伸倍率而言,例如在一 向上可為1.2〜10倍(較佳為丨5〜7倍,更佳為2〜5倍)左右。 ^薄膜狀封裝劑之厚度可選自例如1〜1000μηι左右之 範圍,一般為5〜500μιη(例如5〜300μηι),較佳為 1〇〜250μιη(例如25_2〇〇μιη),更佳為5〇〜㈣(例如 15Ομπι)左右。厚度若過小,大多無法充分被覆角部等 ,厚度若過大,則不易順沿著裝置表面的凹凸。 从對於薄膜狀封裝劑之水蒸氣穿透度(4Gt、9〇%RH) ,若換算成厚度lmm例如可為l〇〇g/fn2/天以下,較佳為 5,天以下(例如〇_〇1〜離2/天左朴 聚、曰聚醯胺的薄膜狀封裝劑其水蒸氣阻隔性優異,對於 欠蒸氣穿透度’若換算成厚度例如為〇 〇1 / 二/天’較佳為。抓天’更佳為〇 ι〜_2/天左 右°此外’水蒸氣穿透度可由慣用方法,例如日本 規格Z0208之圓筒平板法(cup則加句來測定。 、 薄膜狀封裝劑可利用慣用之薄膜成膜 法、擠製忐形、A L 例如流延 齊氟成形法、吹塑成形法等來製造。又 使用單軸或雙軸拉幅機延伸成規定的倍率。 :外’薄膜狀封裝劑可為單片之片狀 包爽^的彎曲片狀、能夠收納裝置的袋狀等形^夠 屬膜狀封裝劑可構成(形成)積層 …膜(多層M。積層薄膜只要至少具備薄(積膜層= 包含共聚合聚醯胺系樹脂之封、:封裝劑( 如具備薄膜㈣“, 发划層)貝!未特別限制,例
srjgi . '封裝劑、與積層於該薄膜狀封裝劑之A 一面(與裝置之接荽再中 之接者面相反的面)並包含耐熱性 -21- 201221550 水性樹脂)的保護層埶 i 了…性树知層或疏水性樹脂層)。此 卜 在薄膜狀封裳劑之立中_ -r 八中面上可積層有多層保護層 〇保濩層係利用於保鳟护罟 叫W保”隻裝置免於熱、濕氣等外在不良因 子’例如耐熱性樹脂層可防 , m 1万止伴隨加熱熔融而生之薄膜 的破裂’疏水性樹脂層可卩方I 士、a # & τ月曰增』丨万止由濕軋所致之裝置的腐蝕 ’而能夠提升裝置的耐久性。 就耐熱性樹脂而言,只要具有可耐受薄膜狀封裝劑 之加熱熔融溫度的程度的耐熱性則未特別限制可例示 如氟樹脂、烯烴系樹脂(含環狀烯烴系樹脂)、苯乙烯系 樹脂、聚酯系樹脂、聚碳酸酯系樹脂、聚胺基曱酸酯系 樹脂、聚醯胺系樹脂、聚醯亞胺系樹脂(聚醯胺醯亞胺、 聚醚醯亞胺等)、聚縮醛系樹脂、聚苯醚系樹脂、聚醚_ 系樹脂(例如聚醚酮(PEK)、聚6| _酮(peek)等)、聚苯硫 系樹脂、聚醚砜系樹脂、纖維素衍生物、芳香族環氧樹 脂等。 就代表性耐熱性樹脂而言,可例舉聚酯系樹脂、聚 醯胺系樹脂、氟樹脂等。聚酯系樹脂可例示如聚亞烴基 芳基化合物系樹脂[均聚酯(例如聚對苯二曱酸乙二醋、 聚對苯二甲酸丁二酯、聚萘二甲酸乙二酯等聚C2_4亞烴基 芳基化合物)、共聚酯(例如含有C2·4亞烴基芳基化合物單 位為主成分的共聚酯等)等]、聚芳基化合物系樹脂、液 晶聚酯等。 聚酯系樹脂亦包含聚酯彈性體。就聚酯彈性體(聚酯 嵌段共聚物)而言,可例舉包含作為硬鏈段(或硬嵌段)之 芳香族聚酯與軟鏈段(或軟嵌段)的聚酯嵌段共聚物,例 -22- 201221550 如芳香族聚酯-聚鍵嵌段共聚物、芳香族聚醋-脂肪族聚 酯嵌段共聚物等。 就構成硬鏈段的芳香族聚酯而言,可例示前述聚亞 烴基芳基化合物系樹脂(例如聚對苯二甲酸丁二酯等聚 〇2·4對本·一曱酸烧一 s旨)荨。就構成軟鍵段的聚謎(聚鍵嵌 段)而言,可例示例舉為前述聚醯胺彈性體之聚醚(例如 聚四亞曱基二醇等聚C2_6烯烴二醇)等。 聚酯彈性體中相對於全鏈段,芳香族聚酯嵌段(硬鏈 段)之比例例如為25〜95重量。/。,較佳為30〜90重量%(例如 50〜85重量%)左右。 就聚醯胺系樹脂而言,可例示前述均聚醯胺(例如聚 醯胺11、聚醯胺12、聚醯胺610、聚醯胺612、聚醯胺1010 、聚醯胺1012等)、與薄臈狀封裝劑所含之共聚合聚醯胺 系樹脂種類相異的共聚合聚醯胺系樹脂(聚醯胺彈性體 等)等。聚醯胺系樹脂一般為共聚合聚醯胺以外的聚醯胺 系樹脂。 作為氟樹脂可例示如聚氟乙烯(PVF)、聚偏二氟乙烯 (PVDF)、聚三氟乙烯(PTrFE)、聚氯三氟乙烯、聚四氟乙 稀(PTFE)等單獨聚合物、乙烯-四氟乙烯共聚物(etfe) 、乙稀·氣三氟乙烯共聚物、四氟乙烯-六氟丙烯共聚物 、四氟乙稀-全氟丙基乙稀基驗共聚物等。 此外’耐熱性樹脂可為疏水性高之樹脂,例如烯烴 系樹脂、苯乙烯系樹脂、氟樹脂等。 此等耐熱性樹脂可單獨或二種以上組合。此等耐熱 性樹脂當中較佳為聚酯系樹脂(芳香族聚酯等)、聚碳酸 -23- 201221550 T系樹月曰、聚醯胺系樹脂(芳香族聚醯胺等)、聚苯醚系 树月曰&苯硫系樹脂、聚醯亞胺系樹脂等。特別是廣用 選自聚酯系樹脂、聚醯胺系樹脂、及氟樹脂的至少_種 作為对熱性樹脂。 財熱性樹脂之溶點或軟化點例如可為1 60。(:以上(例 如165〜25〇<t ) ’較佳為17〇t以上(例如175〜220°C左右) 。此外,熔點或軟化點係利用慣用方法,例如示差掃描 熱量分析儀(DSC)來測定。 财熱性樹脂之熱變形溫度可依據IS〇75_卜在高荷重 (1.82MPa)之條件下選自例如i6〇〇c以下之範圍,可為 40〜155C ’較佳為5〇~l5(rc左右。 就保護層之厚度(當形成有多層保護層時為各保護 層厚度之總和)而言’只要積層薄膜可沿表面之凹凸而緊 密地封裝裝置則未特別限定,例如可為1〜800μιη(例如 700μηι),較佳為1〇〜6〇〇gm(例如2〇〜5〇〇μπι),更佳為 3〇 400μιη(例如5〇〜3〇〇pm)左右。若保護層之厚度過小則 容易破裂’而使得作為保護層的功能降低。此外,當形 成有多層保護層時,各保護層之厚度例如可為1〜ΙΟΟμπι 較佳為5〜50μπι左右。 薄膜狀封裂劑與保護層之間、形成有多層的保護層 彼此之間可分別存在中間層(接著層)。接著層可包含慣 用之接著劑或黏著劑,例如氣乙烯系接著劑、乙酸乙烯 酯系接著劑、烯烴系接著劑、丙烯酸系接著劑、聚酯系 接著劑、胺基甲酸酯系接著劑、環氧系接著劑、橡膠系 接著劑等。 -24- 201221550 接著層之厚度並未特別阳 佳為5〜30μιη左右。 限制,例如可為1〜5〇μΐη,較 當以Α表示薄膜狀封梦 、幻、以8或Bn(n為整數i以上, 、B2、…Bn為第i、第2、 、,...第n號之保濩層)表示保護層 、以C表示接著層,並以 又予列(例如AB)將積層形態(例 如A與B之積層形態)簡化時 ^ u & a β ’作為具有一保護層的代表性 積層薄膜係可例舉AB、ACB等,就具有多層保護層的代 表性積層薄膜而言,則可例舉AB[(c)mBh(惟, ,Γ為整數工以上)等。此外,後者之積層薄膜中包含例如 ABlB2(m = 0,Γ = 1)等 3 層薄膜、ABiCB2(m=i,叫)、 ABlB2B3(m = 〇, r = 2)等4層薄膜等。又,形成各保護層^ 的耐熱性樹脂一般而言種類不同,可為選自例如聚骑系 樹脂、聚醯胺系樹脂、及氟樹脂的至少一種。以聚醯胺 系樹脂形成保護層時,聚醯胺系樹脂的末端胺基可提高 層間接著性、末端羧基其熱穩定性高,而能夠提升長期 穩定性(連續加工性)。 積層薄膜整體之厚度例如可為丨〇〜丨〇〇〇μιη,較佳為 30〜800μηι,更佳為50〜500μιη左右。 薄膜狀封裝劑與保護層(當具有多層保護層及/或接 著層時為各層厚度之總和)的厚度比可選自前者/後者 = 95/5〜5/95(例如90/10〜10/90)左右之範圍,例如可為 10/90〜90/10(例如 10/90〜80/20),較佳為 15/85〜70/30(例 如 15/85〜60/40) ’ 更佳為 20/80-50/50(例如 20/80〜40/60) 左右。 積層薄膜與單層薄膜相比,可提高耐熱性、耐化學 -25- 201221550 藥品性。舉例而言,積層薄膜之熱變形溫度(最高 度)例如為160〜3〇〇。〇,較佳為17〇〜28〇。〇, 180〜250 C左右。又設單層薄膜之熱變形溫度為 ’積層薄膜之熱變形溫度例如為12〇。〇〜2〇〇它, 125°C〜18(TC,更佳為13(rc〜16〇t左右。此外,熱 度係指經1 5秒之熱處理,薄膜發生變形的最低溫 積層薄膜對有機成分(例如脂肪烴、芳香烴、 酮類等)及無機成分(例如鹽酸等無機酸)皆可提高 藥品性,特可提高對甲醇等醇類的耐化學藥品性 積層薄膜可利用慣用方法積層薄膜狀封裝劑 層來製備。且就積層方法而言,可例示慣用方法 積層法(熱積層、乾式積層等)、廣用之使用附有 流套管(feed block)的模具、多歧管型模具 manif0lddie)等進行共擠製之方法、塗布等。八 若採用薄膜狀封裝劑(或片狀封裝劑),則相 固性樹脂可縮短封裝、成形週期。又,若為射丨 特別疋低壓射出成形)、採用熱熔樹脂之成形時, 之關係乃受限於裝置或基板的大小;相對於僅可 J l〇x 10cm2左右的大小的裝置或基板薄膜狀封 在未受限於裝置的大小之下進行封裝,且與前述 )知用熱熔樹脂之成形不同的A,薄膜狀封裝 薄膜並成型’可達輕量、小型化。X,雖僅於 。仁仍此以间岔接性及封裝性來被覆裝置並將 更且’右使用薄膜狀封裝劑上積層有包含耐埶 之保護層的積層薄膜時,可防止伴隨加熱熔融: r使用溫 更佳為 100°c 時 較佳為 ;變形溫 度。 醇類、 耐化學 〇 與保護 ,例如 進料分 (multi- 較於熱 ϋ成形( 與模具 封裝至 裝劑可 射出成 劑可形 特定部 其成型 性樹脂 生之薄 -26- 201221550 ==置Π提高褒置的密封性。因此,將其熱熔接 、電子裂置等並被覆裝置(或將其成型),對電子裝置即 可:水:防濕,並可保護其免於塵埃附著所致之汗染等 晉別^薄膜狀封I劑含共聚合聚醯㈣樹脂,雖為 _ 一仍了棱同對裝置之密接性,可賦予 :置:耐衝擊性及耐磨性,且能夠提高對裝置之保護效 此’本發明薄獏狀封裝劑可被覆或覆蓋裝置之兩 :份= 覆:覆:;…少其I面的既定 、 面’亦此以尚密接力來保護裝置。 置二'之方法中’經由以前述薄膜狀封裝劑覆蓋裝 = 的至少一部分之步驟(覆蓋步驟)、將薄膜 狀封裝劑加敎炫融夕斗 聚合聚酿胺;及冷卻步驟’即可製造以共 乐樹知破覆或成型的裝置。 機二==半的各種有 發太陽發:(τ件、 子零件或m黎 4 裝配有各種電 的電子愛&凡牛等零件之配線電路基板(印刷基板)等 電子零件(特別是精密電子零件或電子裝置等)。. 以薄=覆(或覆蓋)步驟巾,只要將裝置的至少-部分 4膜狀封裝劑(每#彳 覆)裝置整體,亦可HT)覆蓋即可,可覆蓋(或包 少i 蓋裝置的其中一面整面、裝置的至 、配^面的—部分或既定部分(電子零件之裝配區域 膜狀封ί域等)。右將裝置的其中一面(含震配部分)以薄 面狀封襄劑覆蓋並加熱溶融,便可將裝置的其十一面整 以共聚合聚醢胺系樹脂緊密地被覆或成型,而能夠有 -27- 201221550 效地保護裝置。又可使薄犋加熱軟化而覆蓋裝置;還可 將裝置以薄膜狀封裝劑(例如加熱軟化之薄膜狀封裝 覆蓋後,在減壓下排出震置與薄膜之間的氣體來使盆密 接。 八 加熱步驟中,可依據裝置的耐熱性將封裝劑加轨、 熔融而將前述共聚合聚酿㈣樹脂溶接於裝置上。加、轨 溫度可依據共聚合聚酿胺系樹脂之熔點、軟化點而例如 為75〜200C,較佳為8Π〜工 。敉佳為80〜uoc,更佳為100〜175〇c(例如 110〜150。〇左右。尚且’積層薄膜其加熱溫度係為丘聚 合聚醯胺系樹脂之熔點以上(例如熔點+代以上,較佳 為熔點以上)’纟以形成保護層之对熱性樹脂之溶 點+ 1 0 C以下(例如、2¾赴~L_ ^ cy^ (例如熔點+ 5 C以下,較佳為低於熔點)為佳 。又’加熱溫度—般為形成保護層之耐熱性樹脂的玻璃 轉移溫度以上(較佳為熱變形溫度以上)。加熱可於空氣 中、鈍軋環境中進行。加熱可於烘箱 亦:利用超音波加熱、高頻加熱(電磁感應加 熔融步驟可於常壓、加壓下或減壓條件下進行。此外, 當使用熱收縮性薄膜作為封裝劑時,係可於緊密地捆紫 裝置整體的狀態下予以熔接而緊密地封裝之。 、 更且,需要時可重複進行前述被覆(或覆蓋)步驟與 加熱步驟。如上述,可於裝置的其中一面(例如上面)形 成共聚合聚醯胺系樹脂被膜後,將裝置的另一面(例如底 面)以薄膜狀封裝劑覆蓋並進行加熱熔接,而將兩面(亦 含裝置之端面)以共聚合聚醯胺系樹脂被膜成型並封裳 °此外’於裝置的其中—面應用本發明薄膜狀封裝劑時 -28- 201221550 ’裝置的另一面可由其他樹脂’例如聚烯烴系樹脂、聚 乙烯二丁氧基甲烷系樹脂、含氟樹脂等吸水性低之樹脂 :芳香族環氧樹脂、芳香族聚酯、聚醯亞胺等耐熱性高 之樹脂等封裝。此等其他樹脂之形態可為液狀、粉粒狀 '薄膜狀等。 冷卻步驟中’可將經熔接之共聚合聚醯胺系樹脂自 然冷卻、階段性或連續冷卻、驟冷。 經由如此步驟便可製得以薄膜狀封裝劑經熱熔接而 形成的共聚合聚醯胺系樹脂被膜將其至少一部分被覆或 成型的裝置。裝置之成型部位一般多為易損傷之部位, 例如裝配有電子元件之部位、配線部位。 本發明中係能以較低溫來熔接薄膜狀封裝劑,因此 對裝置造成熱損傷較少,而能夠提高裝置之可信度。又 與射出成形等不同的是其未對裝置作用高壓力,不會 :壓力而損傷裝置。因此,能以高可信度將裝置成型及 十裝又可於短時間内加熱、冷卻,從而能夠大幅提高 成型或封裝裝置的生產性。 [實施例] 乂下基於貫施例對本發明更詳細地進行說明,惟本 :明並非由此等實施例所限定。此外,實施例中的各評 定項目的評定方法如下: [密封性] 有、,別依以下基準評定平坦基板面上的密封性、及具 、’一基板面垂直立起之側面(高度2mm或i〇mm)的凸 部的密封性。 •29- 201221550 5 :完全被覆 4 :大致完全被覆,惟可見一部分空氣進入 3 : —半浮起 2 :與一部分被塗物接著,然大部分浮起 1 :塗膜完全浮起。 [剝離試驗] 利用形成有實施例及比較例之薄膜的玻璃環氧製基 板,透過棋盤式切割剝離試驗(cross cut adhesion test) 來評定接著性。 [耐水試驗] 將形成有實施例及比較例之薄膜的玻璃環氧製基板 浸潰於2 3 °C的’I·亙溫槽1 〇 〇小時後’透過棋盤式切割剝離試 驗來評定耐水性。 [水蒸氣穿透度] 針對實施例及比較例之薄膜’依據日本工業規格 Z0208之圓筒平板法來測定水蒸氣穿透度(40°C、90%RH ’換算成厚度1mm)。 [耐化學藥品性] 对化學藥品性係於實施例及參考例之薄棋的上面塗 布各藥品並放置1小時後,進行棋盤式切割剝離試驗,以 其接著強度來評定。又,藉由目測依以下基準來評定塗 膜之狀態。 〇:無變化 △:經確認一部分變化 X :經確認明顯變化 -30- 201221550 [耐熱性] 耐熱性係將實施例及參考例之薄膜置入各種溫度的 烘箱中1 5秒,以塗膜產生變形的溫度(最高使用溫度)來 評定。 (1)單層薄膜 [實施例1] 將包含共聚合聚醯胺(VESTAMELT X1 038pl,含有 C10-14伸烷基,熔點125°C(DSC),EVONIK公司製)的薄膜 (厚度ΙΟΟμπι,大小200mmx200mm)置於玻璃環氧樹脂製 電子基板(200mmx200mm)上,並於溫度1 70°C的氣體環境 中加熱,即製得以透明樹脂塗布之基板。 [實施例2 ] 將包含共聚合聚醯胺(VESTAMELT X1051,含有 Cm4伸烷基,熔點130°C (DSC),EVONIK公司製)的薄膜 (厚度1 ΟΟμιη,大小200mmx200mm)置於玻璃環氧樹脂製 電子基板(200mmx200mm)上,並於溫度170°C的氣體環境 中加熱,即製得以透明樹脂塗布之基板。 [實施例3] 將包含共聚合聚醯胺(VESTAMELT X1333pl,含有 C10」4伸烷基,熔點105°C (DSC),EVONIK公司製)的薄膜 (厚度1 ΟΟμιη,大小200mmx200mm)置於玻璃環氧樹脂製 電子基板(200mmx200mm)上,並於溫度170°C的氣體環境 中加熱,即製得以透明樹脂塗布之基板。 [實施例4] 將包含共聚合聚醯胺(VESTAMELT 46 80,含有C10_14 -31- 201221550 伸烷基,熔點l〇5°C(DSC),EVONIK公司製)的薄膜(厚度 ΙΟΟμιη,大小200mmx200mm)置於玻璃環氧樹脂製電子基 板(20Ommx20Omm)上,並於溫度170°C的氣體環境中加熱 ,即製得以透明樹脂塗布之基板。 [實施例5] 將包含共聚合聚醯胺(VESTAMELT X7079,含有 C10_14伸烷基,熔點130°C (DSC),EVONIK公司製)的薄膜 (厚度1 ΟΟμιη,大小200mmx200mm)置於玻璃環氧樹脂製 電子基板(200mmx200mm)上,並於溫度170°C的氣體環境 中加熱,即製得以透明樹脂塗布之基板。 [實施例6 ] 將包含經雙軸擠製機複合化之Zl〇38/Z2131 = l/l的 共聚合聚醯胺(DAIAMID Z1117,含有C1()-14伸烷基,炫 點 130°C(DSC),Daicel-Evonik公司製)的薄膜(厚度 1〇〇μιη ’大小200mm X 200mm)置於玻璃環氧樹脂製電子基板 (20〇11111(1父20〇111111)上’並於溫度17〇°(:的氣體環境中加熱, 即製得以透明樹脂塗布之基板。 [實施例7 ] 將安裝有電子零件(高20mm)的玻璃環氧樹脂製電子 基板(200mmx200mm)以170°C加熱2分鐘後,於其上載置 共聚合聚醯胺(VESTAMELT XI 038pl,含有Ci() 14伸炫> 基 ’熔點125°C(DSC),EVONIK公司製)薄膜,並於溫度i7〇〇c 的氣體環境中加熱2分鐘,即製得包含電子零件並以透明 樹脂塗布之安裝基板。 [比較例1 ] -32- 201221550 將包含聚醯胺 12(DAIAMID L1840,熔點 178°C(DSC) ,Daicel-Evonik公司製)的薄膜(厚度ΙΟΟμηι,大小200mm x20 0mm)置於玻璃環氧樹脂製電子基板(200mmx200mm) 上,並於溫度220°C的氣體環境中加熱,即製得以透明樹 脂塗布之基板。 [比較例2] 將包含聚乙烯(Novatec HD,熔點,三菱 化學(股)製)的薄膜(厚度ΙΟΟμηι,大小200mmx200mm)置 於玻璃環氧樹脂製電子基板(200mmx200mm)上,並於溫 度1 6 0 °C的氣體環境中加熱,即製得以透明樹脂塗布之基 板。 [比較例3 ] 將包含聚酯彈性體(Hytrel 5557,熔點208°C (DSC), DuPont-Toray公司製)的薄膜(厚度100μπι,大小200mmx 200mm)置於玻璃環氧樹脂製電子基板(2〇〇mm X 20 0mm) 上’並於溫度2 3 0 °C的氣體環境中加熱,即製得以透明樹 脂塗布之基板。 [比較例4] 將安裝有電子零件(高20mm)的玻璃環氧樹脂製電子 基板(200mmx200mm)以170°C加熱2分鐘後,於其上載置 聚酿胺 12(DAIAMID L1840 ,溶點 178°C(DSC),
Daicel-Evonik公司製)薄膜,並於溫度22(rc的氣體環境 中加熱2分鐘’惟無法形成均勻的塗布膜。 對於實施例及比較例之封裝劑評定密封性、剝離性 及耐水性。結果係示於表1 ^此外,表中剝離試驗及耐水 -33- 201221550 試驗中的各數値係表示棋盤式切割剝離試驗中,1 〇〇個棋 盤網格當中發生剝離的棋盤網格數。 [表1] 實施例 比較例 1 2 3 4 5 6 7 1 2 3 4 平坦 5 5 5 5 5 5 5 5 5 5 1 凸部2mm 5 5 5 5 5 5 5 3 2 4 1 凸部10mm 5 5 5 5 5 5 5 1 1 1 1 剝離試驗 0 0 0 1 2 0 0 100 100 98 - 耐水試驗 0 0 0 1 2 0 0 100 100 100 - 水蒸氣穿透度 (g/m2/天) 0.7 0.7 0.7 0.7 0.7 0.7 0.7 2.2 - - 由表1可明瞭’相較於比較例,實施例中,於平坦部 及凸部顯示高密封性,密接性及耐水性優良’且水蒸氣 阻隔性亦優異。 (2)積層薄膜 [實施例8 ] 將積層薄膜(大小2〇〇mmx200mm)的第一層側置於玻 璃環氧樹脂製電子基板(200mmx200mm)上,並於溫度 1 7 0 °C的氣體環境中加熱,即製得以透明樹脂塗布之基板 ;其中該積層薄膜在包含共聚合聚醯胺(VESTAMELT X 1 03 8 ’ 含有 C1(K14伸烷基,熔點 125°C(DSC),EVONIK 公司製)的第一層(厚度1〇〇 μιτ1)的其中一面上積層有包含 聚醯胺 12(DAIAMID L1940 ,熔點 178t:(DSC), 〇&卜61-丑乂〇1^1<:公司製)的第二層(厚度2 0(^111)。 [實施例9] 將積層薄膜(大小200mmx200mm)的第一層側置於玻 璃環氧樹脂製電子基板(200mmx200mm)上,並於溫度 -34- 201221550
1 7 0 °C的氣體環境中加熱’即製得以透明樹脂塗布之基板 ;其中該積層薄膜在包含共聚合聚醯胺(VESTAMELT X1051,含有 C丨〇_14伸烧基,熔點 i3〇°c(DSC),EVONIK 公司製)的第一層(厚度100 μιη)的其中一面上積層有包含 聚醯胺 12(DAIAMID L1940)的第二層(厚度2〇〇μιη)。 [實施例10]
將積層薄膜(大小200mmx200mm)的第一層側置於玻 璃環氧樹脂製電子基板(200mmx200mm)上,並於溫度 17 0 °C的氣體環境中加熱’即製得以透明樹脂塗布之基板 :其中該積層薄膜在包含共聚合聚醞胺(VESTAMELT
X1331,含有 C丨〇_14伸烷基,熔點 i〇5°c(DSC),EVONIK 公司製)的第一層(厚度1 00 μιη)的其中一面上積層有包含 聚酿胺 12(DAIAMID L1940)的第二層(厚度 200μιη)。 [實施例1 1 ] 將積層薄膜(大小200mmx200mm)的第一層側置於玻 璃環氧樹脂製電子基板(200mmx200mm)上,並於溫度 12 1 0 °C的氣體環境中加熱,即製得以透明樹脂塗布之基 板;其中該積層薄膜在包含共聚合聚醯胺(VESTAMELT X1051)的第一層(厚度ι〇〇μπι)的其申一面上積層有包含
聚醯胺 610(VESTAMID Tera DS16 ’ 熔點 225°C,EVONIK 公司製)的第二層(厚度200μιη)。 [實施例12] 將積層薄膜(大小200mmx200mm)的第一層側置於玻 璃環氧樹脂製電子基板(200mmx200mm)上,並於溫度 20 0°C的氣體環境中加熱,即製得以透明樹脂塗布之基板 -35- 201221550 :其中該積層薄膜在包含共聚合聚醯胺(VESTAMELT X1051)的第一層(厚度ι〇〇μη1)的其中一面上積層有包含 聚醯胺 612(DAIAMID D1840,熔點 215°C(DSC),Daicel-Evonik公司製)的第二層(厚度2〇〇μιη)。 [實施例13] 將積層薄膜(大小200mmx200mm)的第一層側置於玻 璃環氧樹脂製電子基板(200mmx200mm)上,並於溫度 175 °C的氣體環境中加熱,即製得以透明樹脂塗布之基板 :其中該積層薄膜在包含共聚合聚醯胺(VESTAMELT X1051)的第一層(厚度ΙΟΟμιη)的其中一面上積層有包含 聚醯胺彈性體(DAIAMID Χ4442,含酯鍵,熔點 175°C(DSC) ’ Daicel-Evonik 公司製)的第二層(厚度 200μπι) ° [實施例14] 將積層薄膜(大小200mmx200mm)的第一層側置於玻 璃環氧樹脂製電子基板(200mmx200mm)上,並於溫度 1 65°C的氣體環境中加熱,即製得以透明樹脂塗布之基板 ;其中該積層薄膜在包含共聚合聚醯胺(VESTAMELT X1051)的第一層(厚度ΙΟΟμηι)的其中一面上積層有包含 聚醯胺彈性體(VESTAMID BS0910,不含醋鍵,熔點 166°C(DSC) ’ EVONIK公司製)的第二層(厚度 200μιη)。 [實施例15] 將積層薄膜(大小200mmx200mm)的第一層側置於玻 璃環氧樹脂製電子基板(200mmx200mm)上,並於溫度 1 70°C的氣體環境中加熱’即製得以透明樹脂塗布之基板 -36- 201221550 :其中該積層薄膜在包含共聚合聚醯胺(VESTAMELT X1038)的第一層(厚度ΙΟΟμπι)的其中一面上積層有包含 ETFE(EP7〇〇〇 ’乙烯-四氟乙烯共聚物,Daikin公司製)的 第二層(厚度200μιηρ [實施例16] 將積層薄膜(大小200mmx200mm)的第一層側置於玻 璃環氧樹脂製電子基板(200mm><200mm)上,並於溫度 1 70°C的氣體環境中加熱,即製得以透明樹脂塗布之基板 ;其中該積層薄膜在包含共聚合聚醯胺(VESTAMELT X1038)的第一層(厚度ΙΟΟμπι)的其中一面上積層有包含 熱塑性聚酯彈性體(Hytrel 5557,熔點208°C(DSC), DuPont-Toray公司製)的第二層(厚度2〇〇μηι)。 [實施例17] 將積層薄膜(大小200mmx200mm)的第一層側置於玻 璃環氧樹脂製電子基板(200mmx200mm)上,並於溫度 1 7 0 °C的氣體環境中加熱,即製得以透明樹脂塗布之基板 ;其中該積層薄膜在包含共聚合聚醯胺(VESTAMELT X103 8)的第一層(厚度1〇〇 μιη)的其中一面上,隔著包含熱 塑性聚酯彈性體(Hytrel 555 7)的第二層積層有包含 ETFE(EP7000)的第三層(厚度 i〇〇pm)。 [參考例1 ] 將包含共聚合聚醯胺(VESTAMELT Χ1038)的薄膜( 厚度300μπι,大小200mmx200mm)置於玻璃環氧樹脂製電 子基板(200 mmx2 00 mm)上,並於溫度170。(:的氣體環境中 加熱’即製得以透明樹脂塗布之基板。 -37- 201221550 [參考例2] 將包含共聚合聚醢胺(VESTAMELT X1051)的薄膜( 厚度300μηι,大小200mmx200mm)置於玻璃環氧樹脂製電 子基板(200mmx200mm)上,並於溫度170°C的氣體環境中 加熱,即製得以透明樹脂塗布之基板。 -38- 201221550 參考例 (N »〇 〇 Ο 1—^ ο τ·*·^ Ο ι—Η in X 〇 < 〇 〇 X 150°C in in o Ο ΙΟ ON ο Ο ο X 〇 < 〇 〇 X 150°C 實施例 卜 m o o T—< ο Ο ο Ο ο ι—Η 100 Ο 〇 〇 〇 〇 〇 〇 190°C tn o r~H ο Η ο »—Η Ο Η Ο Ο 〇 〇 〇 〇 〇 < 210°C in o »-H Ο ο τ—Η ο Η Ο »-Η ο 〇 〇 〇 〇 〇 〇 240〇C 寸 *r> i〇 in o ο Η ο ο τ-Η Ο ο 〇 〇 〇 〇 〇 〇 190°C m IT) o ο 1-Η Ο τ—Η Ο r—Η ο Ο 〇 〇 〇 〇 〇 < 200°C <N in »r> o p ·Η Ο ι—Η Ο ^-Η Ο ο 1—Η ο 〇 〇 〇 〇 〇 〇 210°C in o t—H Ο Ο τ·Η Ο Ο Ο 〇 〇 〇 〇 〇 〇 230〇C ο in o ,< Ο ι—Η Ο ^-Η Ο Ο τ—Η ο τ·»Η 〇 〇 〇 〇 〇 〇 235〇C σ\ 们 in in o r-H Ο τ-Η Ο Ο Ο 1—Η Ο ^—Η 〇 〇 〇 〇 〇 〇 200°C οο in »n o t—H Ο ο ϊ—Η Ο ί—Η Ο τ* Ή Ο 〇 〇 〇 〇 〇 〇 200°C 平坦 凸部2mm 凸部10mm 曱醇 甲苯 丙酮 己烷 異辛烷 10%鹽酸 甲醇 曱苯 丙酮 己烧 異辛烷 10%鹽酸 财熱性 密封性 棋盤分割剝離 塗膜狀態 201221550 由表2可明瞭,實施例之積層薄膜相較於參考例之單 層薄膜,对純優異,且最高使用溫度得以提升至 〇 90 C。λ,實施例之積層薄膜相較於t考例之單層薄 膜’耐化學藥品性(例如耐曱醇性、耐丙酮性、耐1〇%鹽 酸性,特別是耐甲醇性)亦得以提升。 [產業上之可利用性] ^發明係有用於將半導體元件、以件 '太陽電池 子元件或電子零件、裝配有各種電子零件或電 牛之印刷基板等在低〉下士、别 【圖式簡單說明】 或封裝。 無。 【主要元件符號說明】 無。 -40-

Claims (1)

  1. 201221550 七、申請專利範圍 1. 一種薄膜狀封裝 有共聚合聚醯胺 2·如申請專利範圍 醯胺系樹脂之熔 3 .如申請專利範圍 合聚醯胺系樹脂 4. 如申請專利範圍 其中共聚合聚醯 90至 160〇C。 5. 如申請專利範圍 其中共聚合聚醯 〇 6 ·如申請專利範圍 其中共聚合聚醯 成分所衍生的單 7.如申請專利範圍 其中共聚合聚醯 C9-17院緩酸的至 8 ·如申請專利範圍 其中共聚合聚醯 基十一酸及胺基 〇 9 .如申請專利範圍 其為用以被覆裝 劑,其係用以被覆並封裝裝置, 系樹脂。 第1項之薄膜狀封裝劑,其中共聚 點或軟化點為7 5至1 6 0 °C。 第1或2項之薄膜狀封裝劑,其中 係具結晶性。 第1至3項中任—項之薄膜狀封裝 胺系樹脂係具結晶性,同時具有 第1至4項中任一項之薄膜狀封裝 胺系樹脂為二元共聚物至四元共 第1至5項中任—項之薄膜狀封裝 胺系樹脂包含具有(:8-16伸烷基之 位。 第1至6項中任一項之薄膜狀封裝 胺系樹脂包含選自C9. ! 7内醯胺及 少一種成分所衍生的單位。 第1至7項中任一項之薄膜狀封裝 胺系樹脂包含選自十二碳内醯胺 十一酸的至少一種成分所衍生的 第1至8項中任一項之薄膜狀封梦 置的其中一面的封裝劑。 且含 合聚 共聚 劑, 熔點 劑, 聚物 劑, 長鍵 劑, 胺基 劑, 、胺 單位 劑, 201221550 10.二種積層薄獏’纟包含如申請專利範圍第⑴項中任 -項之薄骐狀封裝劑、及積層於該薄膜狀封裝劑的其 中一面且包括耐熱性樹脂的保護層。 如申請專利範圍第10項之積層薄膜,其中耐熱性樹脂 之溶點或軟化點為1 70°C以上。 項之積層薄膜, 、聚醯胺系樹脂 其中耐熱性 及氟樹脂的 12·如申請專利範圍第10或11 樹脂係為選自聚酯系樹脂 至少一種。 —項之積層薄膜,其 部分以如申請專利範 裝劑被覆,並將薄膜 以共聚合聚醯胺系樹 其令係將裝置的其中 中任—項之薄膜狀封 胺系樹脂被覆另一面 圍第1至9項中任—項 的共聚合聚醯胺系樹 13·如申請專利範圍第10至12項中任 中整體厚度為1〇〜1〇〇〇μιη。 14·一種方法’其係將裝置的至少一 圍第1至9項中任一項之薄膜狀封 狀封裝劑加熱熔融、冷卻來製造 月旨被覆的裝置。 •如申請專利範圍第1 4項之方法, —面以如申請專利範圍第1至9項 裝劑被覆,來製造以共聚合聚醢 的農置。 種裝置,其係以如申請專利範 之薄臈狀封裝劑熱熔接後所形成 月9被膜來被覆至少一部分。 -42- 201221550 四、指定代表圖: (一) 本案指定代表圖為:無。 (二) 本代表圖之元件符號簡單說明: 無0 五、本案若有化學式時,請揭示最能顯示發明特徵的化學式:
TW100134101A 2010-09-22 2011-09-22 Film-shaped sealing agent and sealing method TW201221550A (en)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2010212537 2010-09-22
JP2011199852A JP5801149B2 (ja) 2010-09-22 2011-09-13 フィルム状封止剤及び封止方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
TW201221550A true TW201221550A (en) 2012-06-01

Family

ID=45873920

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
TW100134101A TW201221550A (en) 2010-09-22 2011-09-22 Film-shaped sealing agent and sealing method

Country Status (7)

Country Link
US (1) US9127186B2 (zh)
EP (1) EP2620485A1 (zh)
JP (1) JP5801149B2 (zh)
KR (1) KR20130108364A (zh)
CN (1) CN103228754A (zh)
TW (1) TW201221550A (zh)
WO (1) WO2012039436A1 (zh)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI666741B (zh) * 2013-11-07 2019-07-21 大賽璐 贏創股份有限公司 封裝構件、以此封裝構件封裝而成之封裝基板及其製造方法
TWI762750B (zh) * 2017-12-18 2022-05-01 南韓商Lg化學股份有限公司 封裝膜

Families Citing this family (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2013137130A1 (ja) * 2012-03-16 2013-09-19 ダイセル・エボニック株式会社 ペースト状封止剤及び封止方法
JP6098521B2 (ja) * 2012-05-28 2017-03-22 東洋紡株式会社 電気電子部品封止用樹脂組成物、電気電子部品封止体の製造方法および電気電子部品封止体
WO2015033785A1 (ja) * 2013-09-05 2015-03-12 株式会社村田製作所 樹脂多層基板
TWI648892B (zh) * 2013-12-26 2019-01-21 日商琳得科股份有限公司 Sheet-like sealing material, sealing sheet, electronic device sealing body, and organic EL element
WO2015099059A1 (ja) * 2013-12-27 2015-07-02 電気化学工業株式会社 多層シート、太陽電池用バックシート及び太陽電池モジュール
FR3018521B1 (fr) * 2014-03-17 2017-07-07 Arkema France Composition de copolyamide a main souple
KR20190026650A (ko) 2016-07-05 2019-03-13 세키수이 폴리머텍 가부시키가이샤 봉지재 조성물 및 봉지재
JP2018146693A (ja) * 2017-03-03 2018-09-20 Smk株式会社 電子機器およびコネクタの防水構造
US10349530B1 (en) 2018-01-05 2019-07-09 Hamilton Sundstrand Corporation Plastic film/sheet as replacement for typical conformal coatings
JP6951644B2 (ja) * 2019-04-23 2021-10-20 日亜化学工業株式会社 発光モジュール及びその製造方法

Family Cites Families (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4093492A (en) * 1973-05-12 1978-06-06 Plate Bonn Gesellschaft Mit Beschrankter Haftung Copolyamides containing caprolactam, lauriclactam and 11-aminoundecanoic acid
CA1152277A (en) * 1980-03-17 1983-08-23 William D. Garlington Film of aromatic polyamide and process therefor
CA1172995A (en) * 1981-03-02 1984-08-21 Hiroshi Ueno Easily openable vessel closure and process for preparation thereof
DE3531941A1 (de) * 1985-09-07 1987-03-12 Henkel Kgaa Polyamidharze
JPS63189458A (ja) 1987-02-03 1988-08-05 Dainippon Ink & Chem Inc 電子部品封止用ポリアリ−レンスルフイド樹脂組成物及び電子部品
JPH11259021A (ja) 1998-02-17 1999-09-24 Internatl Business Mach Corp <Ibm> 液晶表示パネルおよび液晶表示装置
JP4359793B2 (ja) * 1998-10-22 2009-11-04 ノードソン株式会社 電子部品が実装されたプリント基板を封止する方法
JP2001234125A (ja) 2000-02-24 2001-08-28 Sumitomo Seika Chem Co Ltd 溶射塗装用粉体塗料
JP3876109B2 (ja) 2000-03-29 2007-01-31 松下電器産業株式会社 電子回路形成品の製造方法
US7160979B2 (en) * 2003-11-24 2007-01-09 Henkel Corporation Polyamides
JP2005209995A (ja) * 2004-01-26 2005-08-04 Calsonic Kansei Corp 基板の防水構造および防水処理方法
JP4609645B2 (ja) * 2005-03-07 2011-01-12 信越化学工業株式会社 半導体封止用エポキシ樹脂成形材料接着用プライマー組成物及び半導体装置
JP4839734B2 (ja) * 2005-08-31 2011-12-21 凸版印刷株式会社 ディスプレイ
JP5209229B2 (ja) 2007-05-09 2013-06-12 中島硝子工業株式会社 太陽電池モジュールの製造方法
JP5348869B2 (ja) 2007-10-17 2013-11-20 小松精練株式会社 有機電子デバイス用ホットメルト型部材、バリアフィルム封止部材、それらを用いた有機電子デバイス封止パネル
JP5594930B2 (ja) 2007-10-17 2014-09-24 小松精練株式会社 有機薄膜太陽電池用ホットメルト型部材及び有機薄膜太陽電池素子筐体封止パネル
JP5083070B2 (ja) * 2007-11-19 2012-11-28 日立化成工業株式会社 封止用フィルム

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI666741B (zh) * 2013-11-07 2019-07-21 大賽璐 贏創股份有限公司 封裝構件、以此封裝構件封裝而成之封裝基板及其製造方法
TWI762750B (zh) * 2017-12-18 2022-05-01 南韓商Lg化學股份有限公司 封裝膜
US11700744B2 (en) 2017-12-18 2023-07-11 Lg Chem, Ltd. Encapsulation film including metal layer and protective layer with resin component

Also Published As

Publication number Publication date
JP2012087292A (ja) 2012-05-10
US20130171440A1 (en) 2013-07-04
JP5801149B2 (ja) 2015-10-28
EP2620485A1 (en) 2013-07-31
US9127186B2 (en) 2015-09-08
KR20130108364A (ko) 2013-10-02
WO2012039436A1 (ja) 2012-03-29
CN103228754A (zh) 2013-07-31

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TW201221550A (en) Film-shaped sealing agent and sealing method
US7638186B2 (en) Fluoropolymer containing laminates
TWI566940B (zh) 多層膜於製造光伏模組上之用途
TWI666741B (zh) 封裝構件、以此封裝構件封裝而成之封裝基板及其製造方法
EP1825997A3 (en) Dimensionally stable packaging film and articles made therefrom
WO2017094871A1 (ja) プロセス用離型フィルム、その用途、及びそれを用いた樹脂封止半導体の製造方法
KR20170086466A (ko) 이형 필름, 그 제조 방법 및 반도체 패키지의 제조 방법
TW201231499A (en) Powder-shaped sealing agent and sealing method
WO2019037955A1 (en) SEMI-RIGID MULTI-LAYER STRUCTURES STABLE WITH STEAM
JP2004136480A (ja) プロピレン系重合体積層体
TW201726385A (zh) 製程用離型薄膜,其用途,及使用其的樹脂封裝半導體的製造方法
KR101963903B1 (ko) 광기전력 모듈의 제조에 있어서의 산소 투과 장벽을 갖는 다층 필름의 용도