TW201028992A - Display device and television system - Google Patents

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201028992 六、發明說明： 【發明所屬之技術領域】 本發明係關於一種使用有進行DA(Digital/Analog，數位 類比）轉換器輸出電路中之不良之自我檢測及自我修復的 * 驅動電路之顯示裝置。 * 【先前技術】 近年來’伴隨著液晶面板等之大型化及高精細化，於液 晶驅動用半導體積體電路中’液晶驅動用輸出端子之端子 W 數不斷增加、及自輸出端子輸出之多值電壓不斷多灰階 化。例如當前主流之液晶驅動用半導體積體電路中，存在 包含可輸出256灰階之電壓之約500個輸出端子數者。進 而’當前亦進行了包含1000個以上之輸出端子數之液晶驅 動用半導體積體電路之開發。又，伴隨著液晶面板之多色 化，亦進行可輸出1024灰階之灰階輸出電壓之液晶驅動用 半導體積體電路之開發。 ❹ 於此，以下參照圖43，對先前之液晶驅動用半導體積體 電路之構成進行說明。圖43係表示先前之液晶驅動用半導 體積體電路之構成之方塊圖。 * 該圖所示之液晶驅動用半導體積體電路101係可分別自n . 個液晶驅動用信號輸出端子輸出m灰階之輸出電壓。首 先，對液晶驅動用半導體積體電路101之構成加以說明。 液晶驅動用半導體積體電路101於外部包含時脈輸入端子 102、包含複數個信號輸入端子之灰階資料輸入端子1〇3、 LOAD(載入）信號輸入端子104、以及作為基準電源端子之 143487.doc 201028992 v〇端子1〇5、V1端子106、V2端子1〇7、V3端子ι〇8、v4端 子109。進而，液晶驅動用半導體積體電路i〇i包含n個液 晶驅動用信號輸出端子⑴]]…(以下，將液晶驅動用 信號輸出端子稱作信號輸出端子。進而，於對液晶驅動用 信號輸出端子111·1〜ηι_η進行總稱之情形時，稱作信號輸 出端子111)。又，液晶驅動用半導體積體電路1〇1包含基 準電源修正電路121、指標用移位暫存器電路123、鎖存電 路部124、保持電路125、D/A轉換器（Digital Anai〇g Converter :以下稱作DAC)電路126、以及輸出緩衝器 127。又，指標用移位暫存器電路123包含n段移位暫存器 電路123-1〜123-η。進而，鎖存電路部124包含以固鎖存電 路124-1〜124_η，以及保持電路125包含η個保持電路125_ 1〜125-η。又’ DAC電路126包含η個DAC電路126-1〜126-η。 此外’輸出緩衝器127包含η個輸出緩衝器127-1至127-η， 且各輸出緩衝器包含運算放大器。 其次’對液晶驅動用半導體積體電路1 〇〗之動作加以說 明。指標用移位暫存器電路123根據自時脈輸入端子1〇2輸 入之時脈輸入信號，自第一個鎖存電路124_丨至第η個鎖存 電路124-η為止進行依序選擇。由指標用移位暫存器電路 123選擇之鎖存電路124儲存來自灰階資料輸入端子103之 灰階輸出資料。再者，灰階輸出資料係對應於每個鎖存電 路124、換言之係對應於每個信號輸出端子^丨之、與上述 時脈輸入信號同步之資料。因此，各鎖存電路 可儲存對應於每個信號輸出端子n丨之各自值相異之灰階 143487.doc 201028992 輸出資料。鎖存電路124-1〜124-n中所儲存之灰階輸出資 料係根據資料LOAD信號’而向各自對應之η個保持電路 125-1〜125-η傳輸。進而’保持電路自鎖存 電路124-1〜124-n輸入之灰階輸出資料作為數位資料而輸 出至DAC電路126-1〜126-n。 於此’ DAC電路126-l~126-n根據來自保持電路125之灰 階輸出資料’選擇m種灰階電壓中之一種電壓值並輸出至 鲁 輸出緩衝器127-1〜127·η。再者，DAC電路I26根據自基準 電源端子V0端子105〜V4端子1〇9輸入之電壓，可輸出〇1種 灰階電壓。繼而，輸出緩衝器127將來自DAC電路126之灰 階電壓加以緩衝，並作為液晶面板驅動用信號而輸出至信 號輸出端子111-1〜Ill-η。 如上所述，移位暫存器電路123、鎖存電路124、保持電 路125、DAC電路126以及輸出緩衝器127之個數必需與液 晶驅動用信號輸出端子111之個數相同，若液晶驅動用信 φ 號輸出端子U 1為1000個端子，則上述各電路124〜127亦分 別需要1000個。 如上所述’近年來’液晶面板等之顯示裝置不斷大型 化、高精細化’於Fullspec之高精細電視（HDTV : High Definition Television)令，資料線數成為192〇根。藉此’ 顯示驅動用半導體積體電路必需對每個資料線提供 R*G«B(Red*Green«Blue’紅•綠•藍）之灰階電壓之信號，其 結果’顯示驅動用半導體積體電路必需192〇根 x3(R*G«B)=5760根輸出數，換言之必需包含576〇個液晶驅 143487.doc 201028992 動用k號輸出端子。於此，在將一個顯示驅動用半導體積 體電路之輸出數設為720根之情形時，必需8個顯示驅動用 半導體積體電路。 通常，顯示驅動用半導體積體電路於晶圓階段進行測 試，於封裝後進行出廠測試，於搭載在液晶面板上後進行 顯示測試。進而，利用預燒或應力測試之篩選測試，除去 可能產生初始不良之半導體積體電路。因此，搭載有可能 產生顯示不良之顯示驅動用半導體積體電路之顯示裝置不 會發貨至市場中。然而，極少會因於出廠前之測試或篩選 測試時未判斷為不良之極微小之缺陷或異物之附著混入， 而於使用顯示裝置之期間產生顯示不良。例如，即便顯示 驅動用半導體積體電路之—根㈣線於出輕產生顯示不 良之比例為0.01 ppm(1億分之υ，於資料線數為576〇根之 Fullspec之HDTV中，顯示不良之產生比例亦為 ppm(100萬分之57.6)。即，約17361台中有丄台產生顯示不 良，且越變得更大型化、更高精細化，顯示不良之產生比 例就越高。 於產生如上所述之顯示不良之情形時，必需迅速地㈣ 顯示裝置而進行顯示驅動用半導體積體電路之維修，但回 收修理需要大量成本自不用說’且會導致商品形象 降。 於此，於先前技術中揭示有：於顯示驅動用半導體積體 電路中設Μ為缺陷之電路所具有之預備電路，將存在缺 陷之電路切換為預備電路，藉此避免顯示驅動用半導體積 143487.doc 201028992 體電路之不良。 具體而言，專利文獻1中揭示有如下方法：顯示驅動用 半導體積體電路係於移位暫存器之各段中包含預備之並聯 電路，進行移位暫存器之自我檢查，並根據該檢查結果而 選擇並聯電路之無缺陷之一方，藉此避免由缺陷之移位暫 存器所引起之顯示不良。進而，專利文獻2中揭示有如下 方法.於DAC電路之輸入端與輸出端設置有選擇器，根據 記憶有存在缺陷之DAC電路之位置的RAM(Rand〇m Aceess

Memory，隨機存取記憶體）之資訊，切換選擇器而選擇使 用無缺陷之DAC電路。 [先前技術文獻] [專利文獻] [專利文獻1]日本公開專利公報「日本專利特開平6_ 208346號公報（1994年7月26日公開）」 [專利文獻2]日本公開專利公報「日本專利特開平8_ ❹ 278771號公報U996年1〇月22日公開）」 【發明内容】 [發明所欲解決之問題] 然而’具有自我檢測及自我修復功能之顯示用驅動電路 中，於進打自我檢測動作之情形時，將自我檢測之結果記 憶於驅動電路中所内置之記憶體中。驅動電路中所内置之 記憶體，自成本方面而言當前難以成為非揮發性記憶體， -般使用的是揮發性之記㈣，亦與驅動電路共用電源。 因此’於將不良檢測資訊記憶於驅動電路内部之揮發性之 143487.doc 201028992 記憶體中的構成之情形時，將驅動電路之電源切斷後，會 失去不良檢測資訊。因此，於具有自我檢測及自我修復功 旎之顯不用驅動電路中存在如下問題：一般於電源接通後 進行自我修復時，需要再次進行自我檢測，而每次直至自 我修復結束為止需要較長之時間。 再者，專利文獻1及專利文獻2中，完全未揭示對DAC電 路等輸出電路中之缺陷進行檢測之自我檢測之方法。 本發明係繁於上述問題而完成者，#目的在於提供一種 顯不裝置’該顯示裝置係包含可對輸出電路或輸出電路周 邊之輪出區塊之缺陷進行自我檢測及自我修復的驅動電路 者’且於進行自我修復之情料，無需每次進行自我檢 測。 [解決問題之技術手段] 為了解決上述問題，本發明之顯示裝置之特徵在於包 含：顯示面板；驅動電路，其係驅動上述顯示面板者，且 包含對該驅動電路之不良進行檢測並修復之自我檢測與自 我修復機構；以及記憶裝置，其記憶表示上述自我檢測與 自我修復機構對上述㈣電路Μ良進行檢狀檢測結果 的不良檢測資訊4上述記憶裝置包含於上述驅動電路之 ”根據上述構成’驅動電路對顯示面板進行驅動。而且， 2電路具有自我檢測與自我修復機構，其可對驅動電路 身之不良進行檢測，並將檢測出之不良加以修復。 又’根據上述構成，記憶裝置記憶表示上述自我檢測與 143487.doc 201028992 自我m機構s上述驅動電路之不良進行檢測之檢測結果 的不良檢測資訊。 人 根據上述構成’記憶不良檢測資訊之記憶裝置包 ;述驅動電路之外部。即，記憶裝置係自驅動電路獨 立而0¾置。兮P .崎往3B. —Γ 。μ裒置可為例如快閃記憶體等非揮發性之記 亦、卩為始終被賦予電源電壓之電路構成之揮 RAM。 Φ 藉此’本發明之顯示裝置中，可使不良檢測資訊記憶於 與驅動電路獨立設置之記憶裝置中，因此即便於將驅動電 路之電源切斷後，仍可保持不良檢測資訊。因此，於進行 自我修復之情形時，無需每次進行自我檢測，而可以短時 間進行自我修復動作。 又，本發明之顯示裝置中，上述驅動電路宜包含將用以 驅動上述顯示面板之輸出信號加以輸出之輸出電路，上述 自-我檢測與自我修復機構包含對上述輸出電路是否不良進 打判定之判定機構，於上述判定機構之判定結果為不良之 情形時，以將正常之輸出信號輸出至上述顯示面板之 對該驅動電路進行自我修復，上述記憶裝置記憶上述心 機構之判定結果作為上述不良檢測資訊。 根據上述構成’驅動電路包含將用以驢動顯示面板 出信號加以輸出之輸出電路。輸出電路將例如影像資料榦 :為灰階電屡並作為驅動顯示面板之輸出信號…輪 又’根據上述構成，自我檢測與自我修復機構包含對輪 143487.doc 201028992 出電路是否不良冷> 定壯果仃敎之狀機構，料定機構中 面：：=良之情形時’以將正常之輸出信號輸出至 面板之方式對驅動電路進行自我修復。 之判 顯示 藉此，本發明之顯 中之缺陷進行檢測， 進行自我修復。 示裝置中，可對驅動電路之輸出電路 且於輸出電路存在缺陷之情形時，可 、又’本發明之顯示裝置中’上述驅動電路宜包含可將上 述輸出&號輸出至上述顯示面板之預備輸出電路，上述自 我檢測與自我修復機構包含切換機構，該切換機構係於上 述判定機構之判定結果為不良之情形時，將來自上述成為 不良之輸出電路之輸出信號切換為來自上述預備輸出電路 輸出七號，而作為傳輸至上述顯*面板之輸出信號。 根據上述構成’上述驅動電路包含可將輸出信號輸出至 顯不面板之預備輸出電路。預備輸出電路係與輸出電路同 樣地，例如將影像資料轉換為灰階電壓並作為驅動顯示面 板之輸出信號而輸出。 又，根據上述構成，自我檢測與自我修復機構包含將判 疋機構判定為不良之輸出電路切換為預備輸出電路之切換 機構。 、 藉此，本發明之顯示裝置中，於輸出電路存在缺陷之情 形時，將存在缺陷之輸出電路切換為預備輸出電路，藉此 可容易地進行驅動電路之自我修復。 又，本發明之顯示裝置中，上述判定機構宜包含比較機 構’該比較機構將來自上述輸出電路之輸出信號與來自上 143487.doc -10- 201028992 述預備輸出電路之輸出㈣進行比較，且該 上述比較機構之比較結果，對上述輸出電機構极據 判定。 疋否不良進行 根據上述構成，判定機構包含比較機構。又 將來自輸出電路之輸出信號與來自預備輸出電路=機構 號進行比較。而且，判定機 之輪出信 句疋機構根據比較機構之比 對輸出電路是否不良進行判定。 〜果而 藉此，本發明之顯示裝置中，藉由將輸出電 預備輸出電路之輸出進行比較，可對輸出電路之不=與 判定，因此可以簡單之構成而容易地對輸出電路之不 行檢測。 个民進

又’本發明之顯示裝置中，宜進—步包含控制機構，其 :輸入至上述輸出電路及上述預備輸出電路之輸入信號進 灯控制’上述控制機構將大小相異之輸人信號輸人至上述 輸出電路與上述預備輸出電路，並且將與上述大小相異之 輸入信號相對應之、來自上述比較機構之比較結果之期望 值輸出上述判疋機構於上述比較結果與上述期望值不同 之情形時，將上述輸出電路判定為不良。 根據上述構成，控制機構對輸入至輸出電路與預備輸出 電路之輸人信號進行控制，並輸人大小相異之輸入信號。 又’控制機構將與大小相異之輸入信號相對應之、來自比 較機構之比較結果之期望值輸出。而且，判定機構係於來 自比較機構之實際之比較結果與來自控制機構之期望值不 同之情形時，將輸出電路判定為不良。 143487.doc 201028992 具體而言’例如將灰階m之輸入信號輸入至輪出電路 將灰階m+1之輸入信號輸入至預備輪出雷路。 丹考，灰階 in之灰階電壓為較灰階m+Ι之灰階電壓更低 -電壓。於 此，若輸出電路正常，則比較機構輸出表示自預備輸出電 路輸入之灰階電壓較高之信號。另一方面，於輪出電路存 在缺陷’即便輸入灰階m之信號而輪出電路仍僅能輸出= 高之灰階電壓之情形時，比較機構輪出表示自輪出b電路輸 入之灰階電壓較高之信號。 ^ 如上所述，本發明之驅動電路中，比較機構對自輸出電 路及預備輸出電路輸出之灰階電壓進行比較，於輸出電路 存在缺陷之情形時及不存在缺陷之情形時，輪出相異值 信號。 其次，判定機構根據自比較機構輸出之信號，對輸出電 路是否不良進行判定。具體而t，於如上所述之將灰階^ 之輸入信號輸入至輸出電路，將灰階m+1之輸入信號輸入 至預備輸出電路之情形時，當自比較機構輸入表示來 出電路之灰階電壓較高之信號時，判定為輸出電路不良。'j 另一方面，於自比較機構輸入表示來自預備輸出電路之灰 階電壓較高之信號之情形時，判定機構判定為輸出電路正 常。 藉此，本發明之顯示裝置中包含容易地對輸出電路之缺 陷進行檢測之具體之機構，於輸出電路存在缺陷之情形時 可進行自我修復。 / 本發明之顯示裝置中，上述判定機構宜包含對來自上述 143487.doc •12- 201028992 ==Γ中之至少兩個輸出電路之輸出信號進行比 Γ且根據上述比較機構之比較結果，對上述 顆3出電路疋否不良進行判定。 對構成，敎機構包含比較機構。又，比較機構 二自:數個輸出電路中之至少兩個輸出電路之輸出信號 進行比較。而且，判定機播抽祕 ^ b ^ 疋機構根據比較機構之比較結果，對 輸出電路是否不良進行判定。 藉此，本發明之顯示奘 y. L . 裝置中’藉由對輸出電路之輸出進 2比較:可對輸出電路之Μ進行判定，因此可以簡單之 構成而谷易地對輸出電路之不良進行檢測。 參 本發明之顯不裝置中’宜進—步包含控制機構，其對輸 入至上述複數個輸出電路中之至少兩個輸出電路之輸入信 號進订控制，上述控制機構將大小相異之輸入信號輸入至 上述至少兩個輸出電路，並且將與上述大小相異之輸入信 號相對應之、來自上述比較機構之比較結果之期望值輸 出，上述判定機構於上述比較結果與上述期望值不同之情 形時，判定上述至少兩個輸出電路之任_者為不良。 根據上述構成’控制機構對輸人至複數個輸出電路中之 至少兩個輸出電路之輸入信號進行控制，並輸入大小相異 之輸入信號。又’控制機構將與大小相異之輸入信號相對 應之、來自比較機構之比較結果的期望值輸出。而且，判 定機構係於來自比較機構之實際之比較結果與來自控制機 構之期望值不同之情形時，將輸出電路判定為不良。 具體而言’例如於對第！輸出電路與第2輸出電路此兩個 143487.doc -13- 201028992 輸出電路輸入不同之輸入信號之情形時，將灰階m之輸入 *號輸入至第1輸出電路’將灰階m+Ι之輸入信號輸入至 第2輸出電路。再者，灰階m之灰階電壓為較灰階m+1之灰 、更低之電壓。於此，若第丨輸出電路正常，則比較 輸出表不自第2輸出電路輸入之灰階電壓較高之信 號方面’於第1輸出電路存在缺陷，即便輸入灰階1 之L號而第1輸出電路仍僅能輸出較高之灰階電壓之情形 時比較機構輸出表示自第m出電路輸入之灰階電 高之信號。 如上所述’本發明之驅動電路中，比較機構對自複數個 輸出電路中$ 5 , 夕兩個輸出電路輸出之灰階電壓進行比 輸出電路存在缺陷之情形時及不存在缺陷之情形 時’輸出相異值之信號。 ，次’料機構根據自比較機構輸出之信號而對輸出電 疋否不良進行判定。具體而言，於如上所述之對第# 出電路與第2輸出電路此兩個輸出電路輸入不同之輸入^ 號之情形時，且於將灰階蚣 ° 輸入6號輸入至第1輸出電 路 將灰階1之輪入户缺 ^ ^ 〈钳入仏旒輸入至第2輸出電路之情形 時’當自比較機構輸入表示央0笙1±^, 录不來自第1輸出電路之灰階電堡 較南之信號時，判定機構判定A坌jh # j疋為第1輸出電路與第2輸出電 路之至少任一輸出電路為, 笛）私 二 ^ 時，將第1輸出電路與 f輸出電路切換為預備之輸出電路。另-方面，於自比 較機構輸入表示來自第2#丨f ^ ^ 矛叛出電路之灰階電壓較高之信號 之情形時，判定機構判定為輸出電路正常。 唬 143487.doc -14· 201028992 藉此’本發明之顯示裝置中 衣If，包含容易地對輸出 缺陷進行檢測之具體之機槿，协认 电峪之 機構於輸出電路存在缺陷之情形 時可進行自我修復。 ^ 本發明之顯示裝置中，Η β认， 上述輸出電路宜包含運算放大器 作為輸出緩衝器，上述比較機 餃機構且為包含上述運算放大 而構成之比較器。 ° 根據上述構成，輪出電路 口。 3逆鼻放大器作為輸出緩衝 '。又，比較機構為包含運算放大器之比較器。 :二將來自驅動顯示面板之輸出電路之輸出信號加以 龄乂1出至輸出端子。於此，運算放大器藉由使自身之 輸出負反饋至自身之負極性輪Α4山2 ^ 、 輸入碥子而成為電壓隨動器電 路，其具有作為緩衝器電路之功能。 因此’如上所述，藉由使比較機構成為包含運算放大器 2t比較器’而使運算放大器兼有對來自輸出電路之 輸出k號進行緩衝之緩衝器雷政盘4 h ^ 饵1路與比較機構此兩者之作 :。藉此，本發明之驅動電路無需另外包含用以對來自輸 2路之輸出信號進行緩衝之緩衝器電路，從而發揮降低 成本之效果。 本發明之顯示裝置中，上述運糞 >比 疋運异放大器於驅動顯示面板 之情形時宜作為電壓隨動器進行動作。 又’本發明之顯示裝置中 装罝中上述圯憶裝置宜為非揮發性 §己憶體。 又装本發明之顯示裝置中，宜進一步包含寫入控制機 構’其於接收到將顯示裝置自身之電源切斷之指示之情形 143487.doc -15- 201028992 時，於將電源切斷之前將上述不良檢測資訊寫入至上述呓 憶裝置中。 ° 根據上述構成’寫人控制機構係於接收到將顯示裝置自 身之電源切斷之指示之情形時，於將電源切斷之前將不良 檢測資訊寫入至記憶裳置中。即，於藉由使用者操作或計 時器設定等而將電源斷開時，將進行自我診斷後之判定結 果傳輸至驅動電路之外部之記憶裝置中並加以記憶之後 將電源斷開》 藉此，於將顯#裝置之電源切斷之前，τ確實地將表示 於顯示裝置之啟動中所執行之自我檢測之結果的不良檢測 資訊記憶於記憶裝置中，因此無需接著於啟動後再次進行 不良之輸出電路之檢測。 又’本發明之顯不裝置中，上述自我檢測與自我修復機 構於接收到將顯示裝置自身之電源切斷之指示之情形時， 宜於將電源切斷之前對上述驅動電路之不良進行檢測。 根據上述構成，自我檢測與自我修復機構係於接收到將 顯示裝置自身之電源切斷之指示之情形時，於將電源切斷 之前對驅動電路之不良進行檢測。即，於藉由使用者操作 或計時器設定等而將電源斷開時，進行自我診斷，將其判 定結果傳輸至驅動電路之外部之記憶裝置中並加以記憶之 後，將電源斷開。 藉此，於使用者結束顯示裝置之視聽後，即於使用者未 察覺之期間進行自我檢測，因此使用者不會因驅動電路之 自我檢測動作而導致視聽受到妨礙，從而方便性得以提 143487.doc 201028992 昇。 播你拉I明之顯示裝置中’上述自我檢測與自我修復機 1始收到將顯示震置自身之電源接通之指示之情形時， 自上述e憶裝置讀出之上述不良檢測資訊， 述驅動電路之不良進行修復。 而對上 a根據上述構<，自纟檢測與自我修復機構係於接收到將 裝置自身之電源接通之指示之情形時，自記憶裝置讀

不良檢測資訊，並根據所讀出之不良檢測資訊而對驅動 電路之不良進行修復。 藉L⑨使用者開始視聽顯示裝置之前，即於使用者未 察覺之期間進行自我修復動作，因此使用者不會因驅動電 自我U復動作而導致視聽受到妨礙。而且，根據已記 _於& It裝置中之自我檢測之結果而進行自我修復動作， 此直至自我修復結束為止並不需要較長之時間，從而使 用者之方便性得以提昇。 進而，本發明之電視系統可為包含上述任一項中記载之 顯示裝置之構成。 [發明之效果] 本發明之顯示裝置之特徵在於包含：顯示面板；驅動電 路其係驅動上述顯示面板者，且包含對該驅動電路之不 良進行檢測並修復之自我檢測與自我修復機構；以及記憶 裝置，其記憶表示藉由上述自我檢測與自我修復機構對上 述驅動電路之不良進行檢測之檢測結果的不良檢測資訊； 且上述記憶裝置包含於上述驅動電路之外部。 143487.doc •Π· 201028992 因此，於本發明之顯示裝置中，即便於將驅動電路之電 源切斷之後，仍可保持不良檢測資訊’因此於進行自我修 復之情形時’無需每次進行自我檢測’而可以短時間進行 自我修復動作。 【實施方式】 以下’根據圖式對本發明之實施形態進行說明。 [實施形態1] 以下’參照圖丨〜圖17，對本發明之第1實施形態進行說 明。 (液晶電視400) 作為使用有顯示用驅動電路之顯示裝置之代表性者可 舉出由液晶電視所代表之薄型電視。液晶電視（液晶顯示 裝置）係於顯示面板上安裝有複數個以半導體積體電路 (LSI(Large-Scale Integration，大型積體電路》製作成的驅 動電路而進行顯示。此種顯示裝置中，於顯示用驅動電路 產生不良之情形時，將會直接作為顯示不良而由使用者識 別出。於產生此種不良之情形時，必需迅速進行不良部位 之修理’理想的是儘可能於使用者使用之場所以短時間完 成修理。。若為如對顯示信號進行處理般之控制基板，則因 以連接器與顯示面板進行連接而容易進行更換，但因顯示 驅動用電路係直接連接於顯示面板而未以連接器等進行連 接，故於使用者使用製品之場所難以進行更換。 本申。青人提出一種具有對顯示用驅動電路自身之 不良進仃自我β斷自我修復之功能（自我檢測及自我修復 143487.doc 201028992 功能）的顯示驅動用電路（例如日本專利特願2008430848、 曰本專利特願2008-048640、日本專利特願2008-048639以 及曰本專利特願2008-054130 :均未於本案申請前之確認 時間點公開）。 圖1係表示本發明之液晶電視400之構成之方塊圖。如圖 1所示，液晶電視400 包含 TFT-LCD(Thin Film Transistor-Uquid Crystal Display，薄膜電晶體液晶顯示器）模組（顯 _ 示部）90、開關按钮401、DVD裝置402、HDD裝置403、以 及DVD與HDD控制裝置404。進而，顯示部90包含源極驅 動器（驅動電路、積體電路）l〇a、預備源極驅動器1〇1)、 TFT-LCD面板（顯示面板）8〇、閘極驅動器99以及控制器 100。而且，源極驅動器l〇a即積體電路l〇a為上述之具有 自我檢測及自我修復功能之顯示用驅動用電路。再者，預 備源極驅動器10b即預備積體電路l〇b亦可為具有自我檢測 及自我修復功能之構成。又，以下，於僅記作積體電路1〇 參 或源極驅動器1〇之情形時，表示積體電路l〇a及10b即源極 驅動器10a及10b之總稱。 以下’對顯示部90中之自我檢測及自我修復之基本動作 進行說明之後’對液晶電視400中之自我檢測及自我修復 之特徵性構成、即以不會給使用者造成產生故障之誤解之 方式而可執行自我檢測及自我修復之構成進行具體說明。 (顯示部90) 首先，參照圖2，對本發明之顯示部90之概略構成進行 說明。圖2係表示顯示部90之概略構成之方塊圖。如圖2所 143487.doc -19· 201028992 示，顯示部90包含顯示面板80、及根據自外部輸入之灰階 資料而對顯示面板80進行驅動之顯示驅動用半導體積體電 路（以下稱作積體電路或源極驅動器）1〇。又源極驅動器 即積體電路10(驅動電路）包含切換電路6〇(自我檢測與自我 修復機構、切換機構）、切換電路61(自我檢測與自我修復 機構、切換機構）、輸出電路區塊3〇(輸出電路）、預備輸出 電路區塊40(預備輸出電路）以及比較判定電路5〇(比較機 構、判定機構、自我檢測與自我修復機構）。又，顯示面 板80包含施加有來自積體電路1〇之灰階電壓之像素7〇。 其次’對顯示部90之基本動作進行說明。首先，就顯示 部90而言，作為基本動作而包含兩個基本動作。具體而 言，顯示部90包含以下兩個基本動作：積體電路1〇將自外 部輸入之灰階資料轉換為灰階電壓（輸出信號），根據該灰 階電壓而於顯示面板80上顯示影像之一般動作；及對積體 電路10中所包含之輸出電路區塊30是否不良進行檢測，於 輸出電路區塊30存在不良之情形時，積體電路10對自身進 行自我修復之自我檢測修復動作。 以下，對積體電路10所進行之自我檢測修復動作之概略 加以說明》首先，於進行自我檢測修復動作之情形時，自 外部經由切換電路61而將動作確認用之灰階資料輸入至輸 出電路區塊30與預備輸出電路區塊4〇。 輸出電路區塊30及預備輸出電路區塊40之各自將所輸入 之灰階資料轉換為灰階電壓並輸出至比較判定電路。比較 判定電路50將來自輸出電路區塊之灰階電壓與來自預備輸 I43487.doc •20- 201028992 出電路區塊之灰階電壓進行比較，根據該比較結果而對輸 出電路區塊是否不良進行判定。 進而，比較判定電路50將表示輸出電路區塊是否不良之 判定結果（不良檢測資訊）輸出至切換電路61及切換電路 60。切換電路61根據來自比較判定電路50之判定結果，而 切換來自外部之灰階資料之輸出目的地。另一方面，切換 電路60中自輸出電路區塊3〇及預備輸出電路區塊4〇之各自 φ 輸入有灰階電壓後，根據來自比較判定電路之判定結果， 而自所輸入之灰階電壓中選擇輸出至顯示面板8〇之灰階電 壓。 若加以更具體之說明，切換電路61中輸入有表示輸出電 路區塊3 0為不良之判定結果之後，將與輸出至判定為不良 之輸出電路區塊30之灰階資料相同的灰階資料亦輸入至預 備輸出電路區塊40。另一方面，切換電路6〇中輸入有表示 輸出電路區塊30為不良之判定結果之後，將來自預備輸出 φ 電路40之灰階電壓代替來自判定為不良之輸出電路區塊3〇 之灰階電壓而輸出至顯示面板80。#此，積體電路ι〇中， 即便輸出電路區塊3〇變為不良，仍可代替其而使用預備輸 出電路區塊，將正常之灰階電壓輸出至顯示面板8〇。 如上所述，本實施形態之積體電路1〇包含比較判定電路 5〇、切換電路60以及切換電路61，藉此可對自身之不良進 行檢測，進而可對自身之不良進行自我修復。換言之，積 體電路10包含對自身之不良進行檢測、進而對自身之不良 進行自我修復之自我修復電路（自我修復機構）。再者，^ 143487.doc -21- 201028992 文對源極驅動器10即積體電路1〇之構成及自我檢測以及自 我修復動作之詳細内容加以敍述。 (自我檢測動作開始開關） 圖3係表示液晶電視400之外觀之圖。如圖3所示，液晶 電視400包含用以使自我檢測動作開始之開關按鈕401 (指 示機構）。以下，對開關按紐401進行詳細說明。 圖4係表示構成液晶電視4〇〇中所包含之積體電路1〇之輸 出電路區塊30產生異常時的顯示之一例之圖。如圖4所 不，於輸出電路區塊30存在異常之情形時，顯示中存在縱 線。 通常，源極驅動器於作為LSI出廠時，充分地進行了功 能測試，於顯示裝置中亦充分進行了顯示之確認，因此產 生顯不異常之可能性非常低。即，於顯示裝置之一般使用 範圍内，產生顯示不良之可能性非常低。然而，有時因突 發性因素例如製造驅動器時之異物混入或損傷而導致於輸 出信號之路徑中產生之損壞，會於顯示裝置之使用期間擴 大而使得源極驅動器之輸出電路產生異常，從而引起顯示 不良。因此，源極驅動器必需進行輸出電路區塊之不良之 自我檢測。於此，亦考慮有例如於每次電源接通時進^輸 出電路區塊之自我檢測之構成，但如上所述，由於產生顯 不不良之可能性非常低，因此源極驅動器無需以如此高之 頻率進行輸出電路區塊之自我檢測。 因此，液晶電視400中，包含用以指示自我檢測及自我 修復之開始之開關按鈕4〇卜藉此，使用者可於任意之時 143487.doc -22- 201028992 間使液晶電視400中之自我檢測及自我修復開始。 圖5係表不液晶電視4〇〇中之自我檢測及自我修復動作之 不例之圖，圖5(a)係表示自我檢測及自我修復動作開始前 之液晶電視400之圖，圖5(13)係表示自我檢測及自我修復動 作進行中之液晶電視400之圖，圖5(c)係表示自我檢測及自 我修復動作結束後之液晶電視4〇〇之圖。 如圖5(a)所示，於產生液晶電視4〇〇之晝面中存在縱線之 φ 顯示不良之情形時，使用者按下開關按鈕4〇1。藉此，液 晶電視400中開始進行自我檢測及自我修復動作。自我檢 測及自我修復動作開始後，如圖5(b)所示，顯示自液晶電 視400之畫面暫時消失。於此期間，源極驅動器ι〇即積體 電路10進行自我檢測，自輸出電路區塊30中找出不良之輸 出電路區塊後，調換不良之輸出電路區塊與預備輸出電路 區塊40。然後，自我檢測及自我修復動作結束之後，如圖 5(c)所示，液晶電視4〇〇再次進行顯示。此時，將不良之輸 • 出電路區塊更換成正常之預備輸出電路區塊，從而顯示不 良消失。 再者’如上所述，按下開關按鈕401即接通開始開關 後，如圖5(b)所示，顯示暫時消失。因此，於使用者可能 誤解為故障之情形時，將該現象清楚記載於使用說明書 中並且可於進行自我檢測及自我修復動作之期間由顯示 面板80(通知機構）於晝面上顯示暫時消失顯示之内容，或 者亦可為藉由揚聲器（通知機構）以聲音通告等進行通知後 關閉顯示之構成。 143487.doc -23- 201028992 藉此，液晶電視彻中，無需於每次電源接通時進行自 我檢測及自我修復，因此與每次電源接通時均進行自我檢 測及自我修復之構成相比，縮短了自電源接通至進行顯示 為止之時間，並且亦節約了自我檢測所消耗之電力。 再者，亦可將開關按鈕401用作液晶電視400自身之維護 用之開關。例如於按下開關按鈕仙之情形時，控制器 啊功能表顯示控制機構）將液晶電視彻之維護功能表（例 如時鐘设定、書面之舍哨敕 色調整、畫面之調整等操作功能表） 顯不於顯〒面板80上。圖6係表示液晶電視_中之維護功 月色表之顯不例之圖。該雄嚷士 主 卿料以巾設置有進行自我檢測 及自我修復之功能表，於產生顯示不良之情形時可進行選 擇。而且，使用者自顯示於顯示面板8〇上之維護功 選擇開始自我檢測及自我修復動作之功能表(圖崎示之例 中為「3·畫面之調整」）後，開始進行源極驅動器…中之 自我檢測及自我修復動作。進而，於已選擇自我檢測及自 我修復之情形時，以畫面顯 自 ❿ 聲音通告等通知顯示暫時 4失之後，開始進行自我檢職自我修復動作。 之構成’但亦可為將開關按鈕4〇1設 之構成。，’按下設置於遙控器上之開關按二 液晶電視彻發送指示進行自我檢測及自我修復之㈣對 於液晶電視400中，根據所接收之信號，進行驅: 自我檢測及自我修復。 -路之 (預備源極驅動器） 143487.doc -24- 201028992 圖7係表示液晶電視400中之自我檢測及自我修復動作之 示例之圖，圖7(a)係表示自我檢測及自我修復動作開始前 之液晶電視400之圖，圖7(b)係表示自我檢測及自我修復動 作進行中之液晶電視400之圖，圖7(c)係表示自我檢測及自 我修復動作結束後之液晶電視400之圖。 如圖7(b)所示，液晶電視400於自我檢測及自我修復進 行中，可進行自我檢測及自我修復進行中之意思之畫面顯 示，而向使用者通知當前之狀況。再者，因液晶電視400 於自我檢測及自我修復動作進行中將源極驅動器即積體電 路10與液晶面板之連接電性切斷，故無法藉由積體電路10 而進行圖7(b)所示之自我檢測及自我修復進行中之意思之 畫面顯示。因此，液晶電視400包含用以進行圖7(b)所示之 畫面顯示之預備源極驅動器，於自我檢測及自我修復動作 進行中，使用預備源極驅動器進行自我檢測及自我修復進 行中之意思之畫面顯示。 圖8係表示構成液晶電視400之TFT-LCD模組即顯示部90 中安裝有對顯示面板80進行驅動之源極驅動器10a之示例 的圖。如圖8所示，顯示部90包含源極驅動器10a、閘極驅 動器 99、FPC(Flexible Printed Circuit，撓性印刷電路）（薄 膜電纔）98、PWD(Printed Wiring Board，印刷電路板）（印 刷基板）97、玻璃基板96、源極線95、閘極線94、 TFT(Thin Film Transistor，薄膜電晶體）93、像素92以及對 向電極91。 玻璃基板96上形成有源極線95、閘極線94、TFT93、像 143487.doc -25- 201028992 素92以及對向電極91而構成液晶面板8〇。而且，源極驅動 器10a與閘極驅動器99分別安裝於液晶面板8〇之玻璃基板 96之一邊上。源極驅動器1〇&經由源極線95而將顯示電壓 即表示圖像之灰階電壓傳輸至像素92。閘極驅動器99經由 閘極線94 ’而供給表示TFT93之導通時序即將灰階電壓傳 輸至像素之時序之閘極信號。源極驅動器1 〇a與閘極驅動 器99之輸入端連接於印刷基板97，經由印刷基板97之配線 而提供控制信號或電源電壓以及GND(接地）。控制信號或 電源電壓以及GND等係自經由薄膜電纜98而連接之控制基 板（未圖示）即控制器1 00進行供給。 如上所述，顯示部90亦可成為包含預備源極驅動器之構 成。圖9係表示構成液晶電視4〇〇之TFT-LCD模組即顯示部 9〇中安裝有對顯示面板80進行驅動之源極驅動器1〇&及預 備源極驅動器1 Ob之示例的圖。圖9中，源極驅動器1 〇a(第 1驅動電路）安裝於構成顯示面板8〇之玻璃基板％之一邊。 又’預備源極驅動器l〇b(第2驅動電路）安裝於源極驅動器 l〇a之對邊’且與源極驅動器i〇a同樣地，於輸入側連接於 印刷基板97而供給有控制信號等。 又’亦可以圖10〜圖12所示之安裝形態，安裝源極驅動 器即源極驅動器l〇a及10b。圖10係表示使用捲帶式載體 89，將具有自我檢測及自我修復功能之源極驅動器1 與 預備源極驅動器l〇b並聯安裝於玻璃基板96上之狀態的概 略圖。 圖10中’對於具有與構成圖8及圖9所示之顯示部9〇之構 143487.doc •26- 201028992 件相同功能之構件附上相同之編號。如圖10所示，源極驅 動器10a及預備源極驅動器i〇b係於輸入側連接於印刷基板 97 ’於輸出側連接於構成顯示面板80之玻璃基板96。於如 圖10所示安裝成筒狀之情形時，源極驅動器1〇3及源極驅 動器10b均可連接於印刷基板97，且可自共用之基板97供 給輸入信號。 圖11係表示將圖10所示之捲帶式載體89打開之狀態之 圖。如圖11所示，源極驅動器1 〇3係以除去了捲帶式載體 89之薄膜基材83之元件孔部87而連接於輸入侧配線88及輸 出侧配線86。又，預備源極驅動器1 係與源極驅動器1 〇a 朝向相反方向地連接於薄膜基材83之輸入側配線88及輸出 側配線86。如圖11所示’薄膜基材83中，藉由將源極驅動 器10a與預備源極驅動器1 〇b安裝成表背面相反，而於捲帶 式載體89上可共用地連接輸出端子。藉此，如圖1〇所示， 源極駆動器l〇a及源極驅動器10b可安装於構成顯示面板8〇 之玻璃基板96之相同邊。 圖12係表示自方向A觀察圖u所示之安裝有源極驅動器 l〇a及10b之捲帶式載體89的俯視圖。如圖u所示，於捲帶 式載體89之兩端形成有連接於輸入側配線88之輸入端子84 及動作切換輸入端子82。通常對動作切換輸入端子82輸入 「L」之信號後源極驅動器1〇3進行動作，顯示部9〇中進行 一般之顯示。此時，預備源極驅動器1〇b不進行動作。與 此相對，於源極驅動器l〇a中進行自我檢測及自我修復動 作之情形時，控制器（控制基板）將rH」之信號輸入至動 143487.doc -27- 201028992 我檢、、則及自 。藉此’源極驅動器料開始進行自 ’、自我修復動作’並且預備源極驅動器開始動 於顯示物中進行自我檢測及自我修復動作進行中之 意思之顯不〇 。再者’因預備源極驅動器10b只要進行簡單之顯示即 可’故其亦可由灰階數較少之便宜之驅動器所構成。例如 於源極驅動器10a可顯示1024灰階之情形時，亦可使用8灰 階之驅動器作為預備源極驅動器l〇b。 又，預備驅動器l〇b之顯示控制係與源極驅動器i〇a之控 制同樣地，亦可根據自控制器發送之控制信號及顯示用; 料信號來進行，但若於預備源極驅動器10b之内部設置有 顯不用記憶體並預先記憶有顯示内容，則無需將顯示用資 料始終持續供給至預備源極驅動器·。若於預備源極驅 動器10b進行顯示之前使顯示用記憶體記憶顯示用資料， 則可使用記憶體内之顯示資料來進行顯示控制。若決定了 顯示内容，則使顯示用記憶體成為R〇M(Read Memory’唯讀記憶體）或〇Tp(〇ne Time pr〇m，_次性可 編程記憶體）而使顯示内容成為固定後，無需自外部將顯 示資料傳輸至預備源極驅動器丨〇b，能夠以簡單之構成容 易地進行顯示控制。 (旗標儲存用外部記憶體） 於自我檢測及自我修復中，由比較判定電路5〇進行輸出 電路區塊30之不良判定，判定結果係作為判定旗標（不良 檢測資訊）而記憶於源極驅動器内之記憶體中。顯示部9〇 143487.doc • 28 201028992 根據該判定旗標進行自我修復，即便於未對源極驅動器供 給電源之情形時，亦需要預先記憶判定旗標。即，若失去 判定旗標，則無法指定不良之輸出電路，因此需要再次進 订自我檢測，而使得每次之自我修復動作需要較長之時 間。 若源極驅動器之記憶體為非揮發性則不存在問題，但將 非揮發性之記憶體内置於源極驅動器内會引起成本上升， 0 因此通常，源極驅動器内之記憶體通常為揮發性之記憶 體因此，於切斷電源時，記憶於源極驅動器之内部之記 憶體的判定旗標會消失。 因此液晶電視4〇〇中，包含如下構造：於切斷電源 時將源極驅動器之判定旗標之内容傳輸至外部之記憶體 叫記憶裝置），於電源接通時，反之將判定旗標自外部之 記憶體81讀入源極驅動器内之記憶體中。 圖13係表示構成液晶電視4〇〇2Tfivlcd模組即顯示部 ❹90中’將記憶體81安裝於連接著源極驅動器⑽之輸入之 P刷基板97上之不例的圖。源極驅動器包含·將内部 之各輸出電路區塊中所設置之判定旗標儲存用之揮發性記 憶體之值作為串列資料加以輸入輸出的串列 (put/Output，輸入/輸出）端子；用以設定向記憶體8工 之資料之寫入的端子；以及設定自記憶體8ι之資料之讀出 的端子。 串"〇端子連接於記憶體81，可於源極驅動器⑺a之内 部之揮發性記憶體與外部之記憶體Μ之間進行資料之讀出 143487.doc •29- 201028992 及讀入。 於藉由使用者之操作或電源斷開之計時器等而將液晶電 視400之電源切斷時（即，顯示部9〇之電源切斷時），自护制 器100(寫入控制機構），對設定向記憶體81之資料之寫入的 端子供給指示向記憶體81之資料之寫入的信號，且將源極 驅動器1〇3設定為向記憶體81寫入資料之狀態。然後，根 據來自控制器100之指示，將判定旗標之資料自源極驅動 器l〇a寫入至外部之記憶體81中，記憶體81記憶判定旗 標。對各源極驅動器l〇a進行該操作而使所有源極驅動器 之判定旗標記憶於記憶體81中。 另一方面，於啟動電源時，自控制器1〇〇對設定自記憶 體81讀出資料之端子，供給指示自記憶體81讀出資料之信 號，且將源極驅動器1 〇a設定為進行自記憶體8丨讀出資料 之狀態。藉此，自外部之記憶體81，將判定旗標之資料讀 入至源極驅動器l〇a中，源極驅動器1〇a之内部之揮發性記 憶體s己憶判定旗標。對各源極驅動器】〇a進行該操作而使 判疋旗k 5己憶於所有源極驅動器内部之記憶體中。然後， 切換電路60及61根據讀出之判定旗標，於不良之輸出電路 區塊30與預備之輸出電路區塊4〇之間進行切換，而進行源 極驅動器10a之自我修復。 圖14係表示於構成液晶電視4〇〇之tft_lcd模組即顯示 部90中，將記憶體81安裝於連接著源極驅動器1〇a之輸入 端之印刷基板97上之另一例的圖。 圖14所不之構成中，將源極驅動器之用以輸入輸出源極 143487.doc •30- 201028992 驅動器10a之判定旗標之資料的端子彼此連接，藉此可串 列地寫出或讀入所安裝之源極驅動器之判定旗標全體。 再者，本實施形態中，記憶體81使用作為非揮發性之記 憶體之快閃記憶體，但亦可成為揮發性之RAM。此時，作 為始終對RAM之電源供給電壓之電路構成，而需要設置有 防備突然之電源切斷之後備用之電容器或電池。 又，圖13及圖14之示例中，記憶體81設置於印刷基板

上，但亦可為設置於例如控制基板等其他基板上並經由薄 膜電纜98而進行連接之構成。 其次，使用圖15對在顯示部9〇之電源斷開時進行自我檢 測之構成進行說明。圖15係表示於顯示部9〇之電源斷開時 進行源極驅動器10a之自我檢測之順序的流程圖。該構成 中’於電源接通時僅進行自我修復而不進行自我檢測，代 替此而於電源斷開時進行自我檢測。 顯示部90接通電源後（S1501)，自儲存有判定旗標之外 部記憶體81，將判定旗標傳輸至源極驅動器1〇&内部之纪 憶體（S15〇2)。然後，源極驅動器1〇a根據該判定旗標進行 自m叫〇3m ’ 示面板8G上進行顯示圖像 等之一般動作（SU04)。顯示部9〇於一般動作中以固定 之時間間隔進行是否接收到電源斷開指令之判定 (S15〇5)。而且’顯示部90於未感知到電源斷開指令之期 間（S15〇5:N。），反覆進行是否接收到電源_指令q 定。 而且， 當顯不部90感知到自開關或遙 控器對液晶電視 143487.doc 31 201028992 4〇〇(f顯示部90)發送了電源斷開之指令後(S1505 : 加（是）），關閉於顯示面板8〇上之圖像之顯示（si5岣。此 時，不將顯示部90自身及包含顯示部9〇而構成之系統全體 之電源斷開。其次，顯示部9〇中，比較判定電路5〇對構成 顯示部90進行源極驅動n1()a之自我檢測，將表示判定結 果之内容之判定旗標保存於源極驅動器ι〇&之内部之記憶 ，中（S1507)。然後，對所有源極驅動器iQa敎自我檢測 疋否、、’。束（S1508)。於並非所有源極驅動器1〇&均結束自我 檢測之情形時（S1508: No(否）），於sl5〇7中，對未進行自 我檢測之剩餘之源極驅動器1〇a亦同樣地反覆進行自我檢 測並將判定旗標儲存於内部之記憶體中之處理。於所有源 極驅動ϋ lGa結束自我檢測之情料⑻5如），將源極 驅動器10a之㈣之記憶體中所儲存的判定旗標儲存於源 極驅MH)a之外部之非揮發性之記憶體81中（815〇9)。繼 而，將自我檢測之判定旗標儲存於源極驅動器1〇a之外部 之記憶體後，顯示部90將源極驅動器1〇a及周邊電路之電 源斷開（S 1510)。 藉由以上處理，顯不部9〇中，於源極驅動器1〇a中所包 含之輸出電路區塊產生異常而產生顯示不良之情形時將 電源斷開後再次接通電源，藉此恢復顯示。 (DVD裝置 402) 圖16係表示液晶電視4〇〇中之自我檢測及自我修復動作 之一例之圖，圖16(a)係表示自我檢測及自我修復動作前之 143487.doc -32· 201028992 液晶電視400之圖，圖16(b)係表示自我檢測及自我修復動 作中之液晶電視400之圖，圖1 6(c)係表示自我檢測及自我 修復動作結束後之液晶電視400之圖。 如圖1所示，液晶電視400中搭載有DVD(Digital Versatile Disc or Digital Video Disc)裝置 402。DVD裝置 402具有利用DVD進行再生及錄影等之功能。液晶電視400 中，根據來自使用者之指示，DVD與HDD控制部404對 DVD裝置402(影像再生裝置）之各種動作進行控制。 ® DVD需要定期對讀出信號之磁頭進行清潔。因此，如圖 16(a)所示，插入清潔碟片進行讀頭之清潔。DVD裝置402 偵測出清潔碟片之插入後，根據與使用者之指示相對應之 來自DVD與HDD控制部404之控制信號而開始進行清潔動 作。 又，如圖16(a)所示，液晶電視400中產生有於顯示畫面 上存在縱線之不良。而且，液晶電視400之特徵在於如下 φ 構成之方面，即於進行一體地包含之DVD裝置402之清潔 之時間點，一併進行源極驅動器1 0a之自我檢測。若加以 更詳細地說明，則DVD與HDD控制部404自DVD裝置402接 收到表示已開始清潔之信號後，對控制器100供給表示開 始進行源極驅動器10a之自我檢測及自我修復之指示之信 號。然後，根據來自控制器100之指示，源極驅動器l〇a開 始進行自我檢測及自我修復動作。再者，DVD裝置402亦 可為自液晶電視400獨立而設置之構成。 如圖1 6(b)所示，於進行通知正在清潔之意思之顯示的 143487.doc -33 - 201028992 情形時，對使用者而言之便利性提昇，但一般之圖像顯示 用之源極驅動器1 〇a會於進行清潔之同時進行自我檢測動 作’因此如上所述需要預先具有預備之源極驅動器1(^。 而且，將表示源極驅動器10a之自我檢測之判定結果的判 定旗標保持於源極驅動器l〇a之内部之記憶體中，源極驅 動器l〇a根據保持於内部之記憶體中之判定旗標而進行自 我修復動作。藉此，如圖16(c)所示，消除了於圖16(a)之 顯示晝面上存在縱線之不良。於電源斷開時，將上述判定 旗標自源極驅動器l〇a之内部之記憶體儲存於外部之記慘 體81中’於接通電源時再次讀入至源極驅動器i〇a之内部 之記憶體中而再次進行自我修復。 (HDD裝置 403) 圖1 7係表示液晶電視400中之自我檢測及自我修復動作 之一例的圖，圖17(a)係表示自我檢測及自我修復動作前之 液晶電視400之圖，圖17(b)係表示自我檢測及自我修復動 作中之液晶電視400之圖，圖17(c)係表示自我檢測及自我 修復動作結束後之液晶電視4〇〇之圖。 如圖1所示，液晶電視4〇〇中内置有HDD(Hard Disk Drive)裝置403。HDD裝置403具有利用HDD進行再生及錄 影等之功能。液晶電視400中，根據來自使用者之指示， DVD與HDD控制部404對HDD裝置403(影像再生裝置）之各 種動作進行控制。 HDD需要進行記憶區域之整理等（例如重組等之記憶區 域之優化或碟片之錯誤檢查等）之維護，HDD裝置403根據 143487.doc •34- 201028992 與使用者之指示相對應之來自DVD與HDD控制部404之控 制仏號，開始維護動作。於進行維護中無法進行錄影及再 生因此，HDD裝置403之記憶區域之維護需要於使用者 不進行使用之時間進行。 ^此’液晶電視400中，如圖17(a)所示，成為由使用者 才曰疋不使用之時間（例如深夜）並於所指定之時間進行維護 之構成即，HDD裝置403具有可於預先設定之時刻進行 維護之计時器功能。又，如圖17⑷所示，液晶電視彻 中’產生於顯示畫面上存在縱線之不良。而且，液晶電視 彻之特徵在於如下構成之方面，即於進行一體地包含之 HDD之維遵之時間點上一併進行源極驅動器w之自我檢 測右進行更詳細地說明，則DVD與HDD控制部404自 励裝置4〇3接收到表示已開始記憶區域之優化之信號 後’對控制器100供給表示已開始源極驅動器…之自我檢 測及自我修復之指示之信號。然後，根據來自控制器！00 之指不’源極驅動器10a開始進行自我檢測及自我修復動 作。再者，卿襄置403亦可為自液晶電視彻 之構成。 直 ^檢測係於使用者不使用之時間進行，因此無需進行 、”護HDD之意思之顯示’如圖i7(_示關閉顯示亦 Γ 亦考制錢者忘記正在進行料聰^欲使其 進行顯不之情形，因此亦可為 、 3, 戰有上述預備之源極驅動

IslOb而進行簡單之顯示之構成。 將表示自我檢測之結果之判定旗標保持於源極驅動器 143487.doc -35- 201028992 l〇a之内部之記憶體中，根據該 疋旗軚而進行自我修復 動作。圖17(c)係維護結束後再次 人進仃顯不時之畫面之狀 態，《知使用者維護已結束。如 圓17(c)所示，消除了圖 (a)之顯示畫面上存在縱線之不良。 而且’於斷開電源時，將記憶於源極驅動器_之内部 之記憶體中的判定旗標儲存於外部記憶體中，於接通電源 時再次讀人至源極驅動㈣⑽之記憶體中而再次 我修復。 (積體電路10之構成） 其次，參照圖18對本發明之源極驅動器10a之構成加以 說明。再者，如上所冑，漏源極驅動器10b亦可成為較 源極驅動器10a更簡單之構成，亦可成為與源極驅動器 1〇a相同之構成。α了’將可執行與源極驅動器心相同之 自我檢測及自我修復動作之電路稱作積體電路1〇而進行說 明。 " 圖18係表示積體電路10(驅動電路）之構成之說明圖。如 該圖所示，積體電路10包含：n個取樣電路6-1〜6n(以下， 於總稱之情形時稱作取樣電路6)，其自灰階資料輸入端子 (未圖示）經由資料匯流排而輸入與η個液晶驅動用信號輸出 端子OUT1〜OUTn(以下稱作輸出端子ουτ^ουτη)之各自 相對應之灰階資料；η個保持電路7-^74(以下，於總稱之 情形時稱作保持電路7) ; η個DAC電路S-Ι〜8_η(以下，於總 稱之情形時稱作DAC電路8) ’其將灰階資料轉換為灰階電 愿信號.；η個運算放大器1-1〜1-η(以下，於總稱之情形時稱 143487.doc •36- 201028992 作運算放大器1)，其對來自DAC電路8之灰階電壓信號具 有緩衝器電路之作用；n個判定電路3-i~3-n(以下，於總稱 之情形時稱作判定電路3) ; η個判定旗標4-1〜4·η(以下，於 總稱之情形時稱作判定旗標4);以及η個上拉與下拉電路5-1〜5-η(以下，於總稱之情形時稱作上拉與下拉電路5)。 進而，如該圖所示，積體電路1 〇包含：根據test(測試） 信號而於ON(開）與0FF(關）之間進行切換之複數個開關 _ 2a ;根據testB信號而於〇]^與〇1?1?之間進行切換之複數個開 關2b ;以及根據來自判定旗標4之輸出信號即Flagl〜Flagn 而於ON與OFF之間進行切換之複數個開關2c(連接切換機 構）及2d(連接切換機構）。再者，開關2a、2b、2<^係於輸入 有「H」之信號之情形時成為〇N,而於輸入有「[」之信 號之情形時成為OFF。另一方面，開關2c係於輸入有 H」之彳s號之情形時成為〇fF，而於輸入有「fj」之信號 之情形時成為ON。 φ 又，積體電路10包含各為一個之如下電路：預備之取樣 電路26 ;預備之保持電路27 ;預備之DAC電路28(預備輪 出電路）；以及預備之運算放大器21。 再者，圖18中，取樣電路6、保持電路7以及DA(：電路8 相當於圖2所示之輸出電路區塊3〇，取樣電路26、保持電 路27以及DAC電路28相當於圖2所示之預備電路區塊4〇， 運算放大器1、判定電路3以及判定旗標4相當於圖2所示之 比較判定電路50，與輸出端子〇UT1〜〇UTn連接之開關 及開關2c相當於圖2所示之切換電路6〇，與取樣電路6連接 143487.doc •37· 201028992 之開關2d相當於圖2所示之切換電路61。再者，圖丨8所示 之積體電路10係經由輸出端子OUT1〜OUTn而與圖2所示之 顯示面板80相連接’圖18中’省略了顯示面板8〇之圖示。 (積體電路10之一般動作） 其次，以下參照圖18對積體電路1〇中之將灰階電壓輸出 至顯示面板80(參照圖2)之一般動作進行說明。 首先，於一般動作之情形時，test信號為「l」，testB信 號成為「H」。當test信號為「L」時，開關2a成為OFF，開 關2b成為ON。藉此，將來自未圖示之指標用移位暫存器 之仏號即STR1〜STRiHs藏（以下，於總稱之情形時稱作str 信號）輸入至對應之各取樣電路6。取樣電路6根據所輸入 之STR信號，自灰階資料輸入端子經由資料匯流排而取得 與自身相對應之灰階資料。保持電路7根據資料L〇AD信 號’自取樣電路ό輸入取樣電路6所取得之灰階資料。然 後’ DAC電路8(輸出電路）自保持電路7輸入灰階資料。 DAC電路8將所輸入之灰階資料轉換為灰階電壓信號後輸 出至運算放大器1(比較機構）之正極性輸入端子。於此，因 開關2b為ON，故運算放大器i之輸出成為向自身之負極性 輸入端子之負反饋。藉此，運算放大器丨作為電壓隨動器 進行動作。藉此，運算放大器丨對來自DAC電路8之灰階電 壓而具有緩衝器電路之作用，將輸入至自身之正極性輸入 端子之灰階電壓信號輸出至對應之輸出端子 Oim〜OUTn。再者，於此，使開g2c為⑽，使開關2(1為 OFF。下文對開關〜及2(1之動作加以敍述。將上述之串聯 143487.doc -38- 201028992 連接於每個輸出端子之、包含取樣電路6、保持電路7、 DAC電路8以及運算放大器1之區塊作為輸出電路區塊，該 輸出電路區塊係用來將自灰階資料輸入端子輸入之灰階資 料轉換為用以驅動顯示面板80之灰階電壓後，經由輸出端 子將轉換之灰階電壓輸出至顯示面板80。 (向動作確認測試之切換）

其次’向進行DAC電路8之動作確認之動作確認測試的 切換，使test信號為「H」，使testB信號為「L」。首先，藉 由開關2a成為ON，而將動作確認測試用之STR信號即 TSTR1彳s號輸入至預備之取樣電路26，將動作確認測試用 之STR信號即TSTR2信號輸入至取樣電路6。進而，將來自 預備之DAC電路28之灰階電壓輸入至運算放大器！之負極 性輸入端子。又，藉由開關2b成為〇FF，而阻斷運算放大 器1之輸出負反饋至自身之負極性輸入端子。其結果運 算放大器1成為對來自串聯連接於自身之正極性輸入端子 之DAC電路8之輸出電壓、與來自預備之DAc電路28之輸 出電壓進行比較的比較器。 再者，test信號及testB_從控制動作確認測試之切換 及動作確制試之動作之控制電路（未圖示）輸出^又，該 控制電路（控制機構）亦可為對動㈣認測試中之經由資料 匯流排而輸人之灰階資料及資料LOAD信號進行控制之電 路…，該控制電路可與對一般動作中之灰階資料、資 料LOAD信號、移位時脈用輸人信號進行控制之控制電路 相同’亦可為不同之控制電路。 143487.doc -39- 201028992 (實施形態1之動作確認測試l) 其次，以下參照圖19對動作確認測試之第一順序進行說 明。圖19係表示第1實施形態之動作確認測試之第—順序 之流程圖。 該圖所示之步驟S21(以下簡稱作S21)中，使test信號為 「Η」，使testB信號為「L」。如已進行之上述般，藉由 S21，運算放大器1具有比較器之作用。 接著，S22中’將未圖示之控制電路所包含之計數器瓜 初始化為0。進而’控制電路使TSTR1信號有效，而將與 計數器m之值相對應之灰階m之灰階資料、於此為灰階〇之 灰階資料經由資料匯流排儲存於預備之取樣電路26中。進 而，控制電路使TSTR2信號有效，而將計數器m之值加 所付之灰階m+1之灰階資料、於此為灰階1之灰階資料經 由資料匯流排儲存於取樣電路6中。接著，預備之保持電 路27根據資料LOAD信號，自取樣電路26取得灰階〇之灰階 資料。進而，DAC電路28自保持電路27輸入灰階資料，將 灰階0之灰Is白電壓輸出至運算放大器1之負極性輸入端子 (S23)。另一方面，保持電路7根據資料l〇Ad信號，自取 樣電路6取得灰階1之灰階資料。進而，DAC電路8自保持 電路7輸入灰階資料。各DAC電路8將灰階丨之灰階電壓輸 出至與自身串聯連接之各運算放大器1之正極性·輸入端子 (S23卜再者’本發明之積體電路1〇輸出η灰階之灰階電 壓’灰階為0之灰階電壓為最低之電壓值，灰階為η之灰階 電壓為最高之電壓值。 143487.doc 201028992 繼而’運算放大器1將輸入至正極性輸入端子之來自 DAC電路8之灰階電壓、與輸入至負極性輪入端子之來自 DAC電路28之灰階電壓進行比較（S24)。具體而言，運算 放大器1將灰階為1之灰階電壓輸入至自身之正極性輸入端 子，將灰階為〇之灰階電壓輸入至自身之負極性輸入端 子。於此，若DAC電路8正常，則灰階為丨之灰階電壓較灰 階為0之灰階電壓更高，因此運算放大器j輸出「H」位準

之信號。於此，於運算放大器之輸出為「L」位準之信號 之情形時，DAC電路8為不良。 然後，判定電路3(判定機構）輸入來自運算放大器ι之輸 出:言號’且將所輸入之信號之位準與自身所記憶之期望值 進订比較。再者，判定電路3所記憶之期望值係自控制電 ^提供者。料動料認測試4，判定電路3將期望值作 為 H」位準而加以記憶。 ;此右自運算放大器i輸入之信號 記憶之期望值同為「 疋电路3自身所 路8正受 H」㈣，則判定電路3判定為DAC電 另一方面，若自運算放大器1輸入之信號為 :料MWUdac電路8不良，並將 H」旗標輸出至判宕族 旗標之情形/ 於自栽電路3輸入「H」 托之if形時，判定旗標 之内部記憶體中。(S25)輸入之扎旗標記憶於自身 再者，判定電路3亦可為如丁姓二 器1之輪出传μ ，，，、下構成：輸入來自運算放大 出信就，若所輸入 「L」旗標輪出至判定旗h * Η」位準’則將 ^疋旗標4，若輸入之信號為「£」位 143487.doc 201028992 準’則將「Η」旗標輸出至判定旗標[此時，於 4自判定電路3即便輸人—次「Η」旗標之情形時]疋旗標 便自：定電路3輸入「L」旗標，判定旗標4仍持之::; 「H」旗標。 τ灵保持 又，判定電路3亦可成為如下構成：於判斷為 定旗標4成為「η」之情形時’不進行其後之判定動1 其次，對計數Urn之值是否為n]進行判定（S26)。於 數器m之值為n]以下之情形時，使計數器岐值加上/ 反覆進行S23〜S25之步驟直至爪之值成為n-i為止。再者而 所謂該η係積體電路1〇可輸出之灰階數。 (實施形態1之動作確認測試2) 其次，以下參照圖20對動作確認測試之第二順序進行說 明。圖20係表示第1實施形態之動作確認測試之第二順 之流程圖。 首先，於動作確認測試丨中，輸入至運算放大器丨之正極 性輸入端子之灰階電壓始終較輸入至負極性輸入端子之灰 階電壓更高，因此於存在僅將較低之電壓輸出至dac電路 28之不良之情形時、或於存在僅將較高之電壓輸出至 電路8之不良之情形時，判定電路3會輸出表示正常之 「L」旗標。 因此’於動作確認測試2中’對運算放大器1之正極性輸 入端子輸入較負極性輸入端子更低之灰階電壓而進行動作 確認。 首先，動作確認測試i結束後，將計數器m之值初始化 H3487.doc -42· 201028992 為0(S31)。然後，控制電路使TSTR1信號有效，而將計數 器m之值加上1所得之灰階為m+i之灰階資料、於此為灰階 為1之灰階資料經由資料匯流排儲存於預備之取樣電路26 中。繼而，控制電路使TSTR2信號有效，而將與計數器瓜 相對應之灰階m之灰階資料、於此為灰階〇之灰階資料經由 資料匯流排儲存於取樣電路6中。 ❹ 於此，與動作確認測試1之S23同樣地，DAC電路28經由 保持電路27而輸入取樣電路26所儲存之灰階資料。進而， DAC電路28將與所輸入之灰階資料相對應之灰階m+丨之灰 階電壓、於此為灰階1之灰階電壓輸出至運算放大器1之負 極性輸入端子。另一方面，DAC電路8經由保持電路7而輸 入取樣電路6所儲存之灰階資料。進而，各DAC電路8將與 所輸入之灰階資料相對應之灰階m之灰階電壓、於此為灰 階0之灰階電壓輸出至與自身串聯連接之各運算放大 正極性輸入端子（S32)。 然後，運算放大器1將輸入至正極性輸入端子之來自 DAC電路8之灰階〇之灰階電壓、與輸入至負極性輸入端子 之來自DAC電路28之灰階丨之灰階電壓進行比較（S33)。於 此若DAC電路8正常，則灰階丨之灰階電壓較灰階〇之灰 階電壓更高，因此運算放大器1輸出「L」旗標之信號。於 此’於運算放大器之輸出為「H」位準之信號之情形時， DAC電路8為不良。 繼而，判定電路3輸入央ό、宙狄a . χ , 询八采自運异放大器1之輸出信號，且 將所輸入之信號之位準盥自身 千/、目身所記憶之期望值進行比較。 143487.doc -43· 201028992 於該動作確認測試1中，判定電路3將期望值作為「L」位 準而加以記憶。於此，若自運算放大器#入之信號與自 身所β It之期望值同為「L」位準’則判定電路3判定為 DA「C電路8正常。另一方面，若自運算放大器1輸入之信號 為H」’則判定電路3判定為DAC電路8不良，並將「H」 旗標輸出至判定旗標4。於自判定電路3輸入「H」旗標之 情形時’判定旗標4將所輸入之「H」旗標記憶於自身之内 部記憶體令（S34)。反覆進行以上之幻3〜S34之步驟直至仿 之值成為n-1為止（S35、S36)。 (實施形態1之動作確認測試3) 其次，以下參照圖21對動作確認測試之第三順序進行說 明。圖21係表示第丨實施形態之動作確認測試之第三順序 之流程圖。 DAC電路8中存在如下情形：於存在輸出端成為開路之 不良之情形時，運算放大器丨持續保持藉由已執行之確認 測試而輸人至運算放大器i之灰階電壓，而於動作確認Z 試1及2中無法檢測出不良。於此，動作確認測試3中，將 下拉電路連接於運算放大器丨之正極性輸入端子。藉此， 於DAC電路8之輸出端成為開路之情形時，會將較低之電 壓輸入至運算放大器i之正極性輸入端子。其結果可防止 於DAC電路8之輸出端成為開路之情形時、換言之於 電路8無輸出之情形時，運算放大器丨持續保持藉由已執― 之確認測試而輸入至運算放大器1之灰階電壓。 動作確認測試3之具艘順序係如圖21所示，首先，將計 143487.doc •44· 201028992 數器m初始化為0(S41)e然後，上拉與下拉電垮5將運算放 大器1之正極性輸入端子下拉（S42)。自此開始之s43〜s47 之步驟與已進行之上述之動作確認測試丨之“卜“了之步驟 相同，因此於此省略其說明。 、如上所述，藉由將運算放大器丨之正極性輸入端子下拉 進行動作確認測試i之順序，而於DAC電路8之輸出端成為 開路之情形時，運算放大器i輸出「L」位準之信號。其結 參果，判定電路3根據所輸入之「Lj位準之信號判定為 DAC電路8中存在不良，且判定旗標4記憶「H」旗標。 (實施形態1之動作確認測試4) 其次，以下參照圖22對動作確認測試之第四順序進行說 明。圖22係表示第〗實施形態之動作確認測試之第四順序 之流程圖。 於此，動作確認測試4係與動作確認測試3同樣地用以對 應於DAC電路8之輸出端成為開路之不良。如該圖所示， ❿ 首先，將計數器爪初始化為〇(S51)。然後，上拉與下拉電 路5將運算放大器！之正極性輪入端子上拉（s52卜自此開 始之S53〜S57之步驟與已進行之上述之動作確認測試2之 S32〜S36之步驟相同，因此於此省略其說明。 如上所述’#由將運算放大^之正極性輸入端子上拉 進行動作確認測試2之順序，而於DAC電路8之輸出端成為 開路之情形時，運算放大器i輸出「H」位準之信號。其結 果，判定電路3根據所輸入之rH」位準之信號，判定為 DAC電路8中存在不良，且判定旗標4記憶「Η」旗標。 143487.doc -45· 201028992 (實施形態1之動作確認測試5) 其次’以下參照圖23對動作確認測試之第五順序進行說 明。圖23係表示第1實施形態之動作確認測試之第五順序 之流程圖。 DAC電路8中存在產生自身之鄰接之兩個灰階短路之不 良的情形。如上所述’於鄰接之兩個灰階短路之情形時， DAC電路8輸出短路之兩個灰階之中間電壓。於該不良之 情形時，DAC電路8所輸出之灰階電壓與正常之情形相 比，不會偏差1灰階以上之電壓。因此，動作確認測試丨〜4 中，無法檢測出該不良。於此，動作確認測試5中之目的 在於’對如上所述之DAC電路8中之鄰接之兩個灰階短路 的不良進行檢測。 如該圖所示，首先，將計數器爪初始化為〇(S6i)。然 後’使TSTR1及TSTR2有效，進而，經由資料匯流排將灰 階m之灰階資料、於此為灰階〇之灰階資料輸入至取樣電路 26及取樣電路6。繼而，DAC電路28及8經由保持電路w及 7，自取樣電路26及6取得灰階〇之灰階資料。進而，dac 電路28及8將灰階〇之灰階電壓輸出至運算放大器1之正極 性輸入端子及負極性輸入端子（S62)。 接著，藉由未圖示之開關，而使運算放大器正極性 輸入端子與貞㈣輸人端子糾。再者，㈣作確認測試 1及2中，判定為DAC電路8不存在*良之情形時輸入至 正極性輸入端子與負極性輸入端子之灰階電壓之差不會成 為1灰階以上之電麼差。因此，藉由使正極性輸入端子盘 143487.doc •46· 201028992 負極性輸入端子短路，而不存在較大之電流流動之問題。 於此，藉由使運算放大器丨之正極性輸入端子與負極性 輸入端子短路，而使運算放大器1之兩個輸入端子輸入相 肖之灰階電壓。於此，因運算放大^原本具有輸入輸出 之偏移電壓，故即便將相同之灰階電壓輸入至自身之兩個 •輸入端子，運算放大器丨之輸出端仍輸出「H」或「L」之 任一者。判定電路3將上述之使運算放大器1之正極性輸入 ❹ 端子與負極性輸入端子短路之情形時的運算放大Si之輸 出之位準作為期望值加以記憶（S63)。 繼而，使未圖示之開關成為〇FF而解除運算放大器i之 正極性輸入端子與負極性輸入端子之短路。此時，將來自 DAC電路8之灰階〇之灰階電壓輸入至運算放大器丨之正極 性輸入端子，將來自DAC電路28之灰階〇之灰階電壓輸入 至負極性輸入端子。於此，若DAC電路28及8無不良’則 運算放大器1之輸出成為與記憶於判定電路3中之期望值相 • 同之輸出。因此，判定電路3將來自運算放大器！之輸出與 自身所記憶之期望值進行比較（S64)。若來自運算放大器j 之輸出值為與期望值不同之值’則判定電路3將「H」旗標 輸出至判定旗標4(S65)。 接著，藉由未圖示之開關，以將來自DAC電路28之灰階 電壓輪入至運算放大器1之正極性輸入端子，將來自DAc 電路8之灰階電壓輸入至負極性輸入端子之方式，切換運 算放大器1之輸入端（S66)。於此，進行與S64相同之處理 (S67)。S67中’若來自運算放大器丨之輸出與自身所記憶 143487.doc -47- 201028992 之期望值不同，則判定電路3將「H」旗標輸出至判定旗標 4CS68)。如上所述，藉由在正極性輸人料與負極性輸二 端子之間進行切換，即便判定電路3所記憶之期望值為 H」位準或「L」位準之任一者，仍可檢測出dac電路& 之不良。 使計數器m之值加而反覆進行以上之如〜⑽之步驟 直至计數器m之值成為!!為止（^69、S70)。 (自我修復） 之以下參照圖24，對在判定旗標4記憶有「H」旗標 2形時、換言之於上述動作確認測試卜5中判定電路_ 疋為DAC電路8-1〜8_η之任—去在古丁 * .. 者存在不良之情形時的修復 行說月。圖24係表示於判定為不_雨 ^ ^ 马不良之DAC電路8與預備 AC電路28之間進行切換而 圖。 目我修復之順序的流程 判定電路3於判定為DAC電路8不卢夕味Λ，士 不良之情形時，將「Η」 旗標輸出至判定旗標4。進而 ❹ 路3 』疋旗標4輸入來自判定電 之 Η」旗標並記憶於自身 判定後豸之内邛。於此，控制電路對 疋旗標4疋否記錄有「H」進 檢測中划a & α 檢測（S71)。於控制電路 J出判疋旗標4未記憶「Η」之愔# _ _ , 理。」您匱形日守，移行至S75之處 力—方面，控制電路於檢測屮 之愔彤眭 饱/則出判疋旗標4記憶有「Η」 障形時，對判定旗標4_丨〜4 ^ _ 之各自所記憶之「H」之旗 ^進行確認。於此，於判定旗 、 數為複數個'π斤§己憶之H」之旗標 嗄數個之情形時，移行至S73 判定热4», 理另一方面’於 疋旗標4所記憶之「H之旗 祺標數為一個之情形時，移行 143487.doc •48· 201028992 至S74之處理（S72)。 於S74中，進行將與記憶rH」旗標之判定旗標4相對應 之DAC電路8切換為預備之DAC電路28之處理（S74)。首 先，當對不良之DAC電路8與預備之DAC電路28之切換順 序進行說明時，於此，使與液晶驅動用信號輸出端子 OUT1相對應之判定旗標4-1為記憶有「η」旗標者。 判定旗標4-1對開關2C&2d輸出成為「Hj位準之Flagl φ 之輸出信號。根據Flagl之輸出信號，已輸入「H」位準之 L號之開關2c成為OFF，開關2d成為ON。藉此，開關2C將 來自運算放大器1-1之輸出端與液晶驅動用信號輸出端子 OUT1之連接斷開。另一方面，開關2d將輸入至取樣電路 6-1之STR1信號輸出至取樣電路26。藉此，與液晶驅動用 信號輸出端子OUT1相對應之灰階資料亦儲存於取樣電路 26中。進而，開關2d將運算放大器21之輸出端與液晶驅動 用信號輸出端子OUT1連接。如上所述，根據來自判定旗 ❹ 標4-1之Flagl之輸出信號，開關2(；及2(1進行切換，藉此將 不良之DAC電路8-1切換為預備之DAC電路28。 其次，對S73之處理進行說明。於判定旗標4所記憶之 「H」旗標數為複數個之情形時，考慮有預備2DAc電路 28可能為不良。因此，於S73中，控制電路使判定旗標4所 記憶之旗標全部成為rL」旗標後，移行至S75之處理。其 次，於S71中判定為NO(否）之情形時，於S73之處理後或於 S74之處理後’控制電路將test信號切換為「l」，將testB 信號切換為「Η」後，移行至一般動作（S75)。 143487.doc •49- 201028992 如上所述’藉由進行動作確認測試1〜5及自我修復之處 理’積體電路10可將不良之DAC電路切換為預備之DAC電 路28 °進而’第1實施形態中，包含與預備之DAC電路28 相對應之預備之取樣電路26及保持電路27。因此，不僅於 DAC電路8存在不良之情形時，而且於取樣電路6或保持電 路7存在不良之情形時，亦可切換為預備之取樣電路26及 保持電路28。 其次’以下參照圖25 ’對自搭載有積體電路1〇之顯示裝 置之電源接通起至進行動作確認測試後進行一般動作為止❹ 的順序進行說明。圖25係表示自顯示裝置之電源接通起至 進行動作確認測試後移行至一般動作為止之處理順序的流 程圖。 如該圖所示，首先，將顯示裝置接通電源，使積體電路 10初始化，藉此判定旗標4全部成為「L」旗標（S81)。然 後’控制電路使test信號為「H」，使…山信號為「L」 後，將積體電路10切換為動作確認測試之狀態（S82卜接 著，控制電路及積體電路10進行上述動作確認測試Θ (S83)。進而，控制電路對全部動作確認測試卜5是否結束 進行確認’將成為不良之電路切換為預備之電路後，移行 至一般動作（S84)。 (運算放大器1之動作確認） 上述動作確認測試係以運算放大器工不存在$良為前 提、然而’運算放大器！中亦存在產生不良之可能性。因 此’本實施形態中’宜於進行上述動作確認測試之前，進 143487.doc -50- 201028992 竹運算放大器1之動作確認。因此，以下參照圖26，亦對 運算放大器1之動作確認進行說明.圖26係表示運算放大 器1及用於運算放大器i之動作確認之周邊電路之構成的說 明圖。 如該圖所示，於輸入來自DAC電路8之輸出與輸入特定 之電壓之間進行切換的開關S5連接於運算放大器丨之正極 性輸入端子。進而，於兩個特定之電壓Vrefl&Vref2之間 φ 進行切換之開關S3連接於開關S5之B侧（特定電壓之輸入 侧）。另一方面，於輸入用以進行來自運算放大器丨之負反 饋之運算放大器1之輸出與輸入特定之電壓之間進行切換 的開關S6連接於運算放大器i之負極性輸入端子。進而， 於兩個特定之電壓Vrefl&Vref2之間進行切換之開關“連 接於開關S4之B側（特定電壓之輸入側）。 其次，對運算放大器1之一般動作進行說明。於運算放 大器1之一般動作時，使開關S5位於A側（DAC電路8之輸出 Ο 侧），使開關S6位於A側，藉此運算放大器1作為電壓隨動 器之電路進行動作。 其次，以下對用以進行運算放大器丨之動作確認之順序 進行說明。首先’將開關S1及S2切換至B側。藉此，不存 在運算放大器1之負反饋，而運算放大器丨作為比較器進行 動作。然後’將開關S3及S4切換至A側。藉此，運算放大 器1之正極性輸入端子輸入Vrefl，負極性輸入端子輪入 Vref2。於此，Vrefl及Vref2為預先生成之電壓，且使 Vrefl之電壓值為較Vref2之電壓值更大之值。再者，使 143487.doc •51 · 201028992 ㈣與滅之電壓值之差為較運算放大器i之輸入輸出偏 移值更大之值。此時，與輸入至負極性輸入端子之ναό 相比，輸入至正極性輸入端子之Vrefl之電壓較高，因此 運算放大器1輸出「H」位準之信號。判定電路3檢測出來 自該運算放大器1之輸出後’與自身所記憶之期望值「H」 進行比較。於此，於運算放大^之輸㈣「l」位準之情 形時，判定電路3可判定為運算放大器在不良。再者Y 判定電路3所記憶之期望值係自控制電路提供。 ❹ 其次，亦考慮有運算放大Μ之比較器動作存在不良， 而運算放大器W能輸出「H」位準之情形。因此，將開關 S3及S4切換至B側，將滅輸入至運算放大器κ正極性 輸入端子，將础輸入至負極性輸入端子”匕時，盥輸 入至正極性輸入端子之㈣相比，輸入至負極性輸二端 子之vren之電壓值更高，因此運算放大器i輸出％位 準。判定電路3檢測出來自該運算放大器以輸出後，盘自 身所記憶之期望值「L」進行比較。於此，於運算放大^ 之輸出為「H」位準之情形時’判定電路3可判定為運算放 “ 1存在不良。再者，開關S3〜S6係藉由控制電路進行切 換0 [實施形態2] ·=’以下參照圖27〜圖33,對本發明之第2實施形態進 二、再者’實施形態2之說明係僅對與實施形態1不同 方進仃說明，對於重複之地方省略其說明。 首先，對實施形態i與實施形態2之不同進行簡單說明。 143487.doc 52· 201028992 實施形態1係於運算放大器1中將DAC電路8之輸出與預備 之DAC電路28之輸出進行比較。另一方面，實施形態2係 將彼此鄰接之兩個DAC電路8設為一組而於運算放大考^中 對來自彼此之DAC電路8之輸出進行比較。 (顯示驅動用半導體積體電路2〇之構成） 參照圖27對本發明之顯示驅動用半導體積體電路（以下 稱作積體電路）20之構成進行說明。圖27係表示積體電路 ❹ 2〇(顯示裝置驅動用之積體電路）之構成之說明圖。 運异放大器1將來自串聯連接於自身之DAC電路8之輸出 輸入至自身之正極性輸入端子。進而，運算放大器丨將來 自串聯連接於自身所鄰接之運算放大器之DAC電路8之輸 出輸入至自身之負極性輸入端子。具體而言，如該圖所 不，運算放大器1-1將來自DAC電路8-1之輸出輸入至自身 之正極性輸入端子，將來自DAC電路8 2之輸出經由開關 2a而輸入至自身之負極性輸入端子。同樣地，運算放大器 ❿ 卜2將來自DAC電路8_2之輸出輸人至自身之正極性輸入端 子，將來自DAC電路8-)之輸出經由開關2a而輸入至自身 之負極性輸入端子。又，積體電路20包含預備之取樣電路 26A及26B、預備之保持電路27八及27b、預備之dac電路 28A及28B、運算放大器21A及21B、以及上拉與下拉電路 25A及25B。運算放大器21A中，亦將來自dac電路28a之 輸出輸入至自身之正極性輸入端子，將來自電路 之輸出經由開關2a而輪入至自身之負極性輸入端子。進 而’運算放大器21B中，亦、將來自DAC電路28B之輸出輸 143487.doc •53- 201028992 入至自身之正極性輸入端子’將來自DAC電路28A之輸出 經由開關2a而輸入至自身之負極性輸入端子。 (積體電路20之一般動作） 於積體電路20之一般動作中，與實施形態i同樣地，控 制電路使test信號成為「L」位準，使祕信號成為「H」 位準藉此，DAC電路8將自保持電路7輸入之灰階資料轉 換為灰階電壓信號並作為灰階電壓輸出至運算放大器1之 正極性輸入端子。於此，因開關沘為〇1^，故運算放大器工 之輸出成為向自身之負極性輸入端子之負反饋。藉此，運 算放大器1作為電壓隨動器進行動作。藉此，運算放大器ι 將來自DAC電路8之灰階電壓加以緩衝後輸出至對應之各 輸出端子OUT1〜OUTn。 (動作確認測試之切換） 向積體電路20之動作確認測試之切換中，控制電路使 test信號成為ΓΗ」位準，使忱以3信號成為「[」位準。首 先，因開關2a為ON，故將TSTR1信號輸入至取樣電路26A 及第奇數個取樣電路6(取樣電路6-1、6-3、…、^(η·!))。 進而，將TSTR2信號輸入至取樣電路268及第偶數個取樣 電路6(取樣電路6_2、6_4、...、6_n)。進而，因開關^成為 ON，故對第奇數個運算放大器丨之負極性輸入端子輸入鄰 接之來自第偶數個DAC電路8之輸出，對第偶數個運算放 大器ι之負極性輸入端子輸入來自鄰接之第奇數個dac電 路8之輸出。又，因testB信號為r L」位準，故開關㉛為 OFF。藉此，將運算放大si之自身之輸出向負極性輸入 143487.doc •54- 201028992 端子的負反饋阻斷。其結果，運算放大器丨成為將來自串 聯連接於自身之DAC電路8之輸出與來自鄰接之dac電路8 之輸出進行比較的比較器。 (實施形態2之動作確認測試u 其次，以下參照圖28對第2實施形態之動作確認測試之 第一順序進行說明。圖28係表示第2實施形態之動作確認 測試之第一順序之流程圖。

首先，控制電路使test信號成為rH」位準，使化以]3信 號成為「L」位準（S101)。藉此，運算放大器丨作為比較器 進行動作（S 102)。然後，控制電路將第奇數個判定電路 3(判定電路3_丨、3·3、…、3^))之期望值設定為「[」 位準另方面，控制電路將第偶數個判定電路3 (判定電 路3-2、3-4、…、3_η)之期望值設定為「Η」位準。 繼而，控制電路將自身所包含之計數器m初始化為 〇(S103)。進而，控制電路使TSTR1有效後，取樣電路26a 及第奇數個取樣電路6經由資料匯流排而輸入灰階爪之灰階 資料。又，控制電路使TSTR2有效後，取樣電路26B及第 偶數個取樣電路6經由資料匯流排而輸入灰階之灰階 資料（S104)。 於此右考慮δ十數器m之值為〇之情形，則第奇數個運 算放大器1將灰階〇之灰階電壓，自串聯連接於自身之第奇 數個DAC電路8輸入至自身之正極性輸入端子。又，第奇 數個運算放大器1將灰階1之灰階電壓，自鄰接之第偶數個 DAC電路8輸入至自身之負極性輸入端子。於此，若連接 143487.doc -55- 201028992 於運算放大器1之兩個輸入端子之DAC電路8為正常，則第 奇㈣運算放大^之輸㈣「L」。另一方面，第偶數個 運算放大器1將灰階丨之灰階電壓，自串聯連接於自身之第 偶數個DAC電路8輸入至自身之正極性輸入端子。又，第 偶數個運算放大器1將灰階〇之灰階電自鄰接之第奇數 個DAC電路8輸入至自身之負極性輸入端子。於此，若連 接於運算放大器丨之兩個輸入端子之DAc電路8為正常，則 第偶數個運算放大器！之輸出為「H」。

θ然後，判定電路3對來自運算放大器〗之輸出信號之位準 是否與自身所記憶之期望值一致進行判定（sl〇5)。於此， 於來自運算放大器1之輸出與期望值不同之情形時，判定 電路3將「H」旗標輸出至判定旗標4(sl〇6)。將計數器瓜之 值逐一增加而反覆進行以上之sl〇4〜sl〇6之處理直至計數 器爪之值成為n-l為止（S107、S108)。 (實施形態2之動作確認測試2)

其欠以下參照圖29對第2實施形態之動作確認測試之 第二順序進行說明。圖29係表示第2實施形態之動作確認 測試之第二順序之流程圖。 第2實施形態中之動作確認測試2係將第2實施形態中之 動作確還測試1中之第奇數個與第偶數個灰階之電壓關係 顛倒過來的動作確認，除此之外，與第2實施形態中之動 作確認測試相同。 首先’控制電路將第奇數個判定電路3之期望值設定為 「Η」’另一方面，將第偶數個判定電路3之期望值設定為 143487.doc -56- 201028992 L」。進而，控制電路將自身所包含之計數器前初始化為 0(S111) 〇 接著，控制電路使TSTR1有效後，取樣電路26A及第奇 • 數個取樣電路6經由資料匯流排而輸入灰階m+1之灰階資 料。又，控制電路使TSTR2有效後，取樣電路26B及第偶 數個取樣電路6經由資料匯流排而輸入灰階m之灰階資料 (S112)。 ❹ μ於此，若考慮計數器m之值為0之情形，則第奇數個運 异放大器1將灰階丨之灰階電壓，自串聯連接於自身之第奇 數個DAC電路8輸入至自身之正極性輸入端子。又，第奇 數個運算放大器1將灰階0之灰階電壓，自鄰接之第偶數個 DAC電路8輸入至自身之負極性輸入端子。於此，若連接 於運算放大器1之兩個輸入端子2DAC電路8為正常，則第 奇數個運鼻放大器丨之輸出為「H」位準。另一方面，第偶 數個運算放大器1將灰階〇之灰階電壓，自_聯連接於自身 Φ 之第偶數個DAC電路8輸入至自身之正極性輸入端子。 又，第偶數個運算放大器〗將灰階丨之灰階電壓，自鄰接之 第奇數個DAC電路8輸入至自身之負極性輸入端子。於 此，若相連接於運算放大器丨之兩個輸入端子之DAc電路8 為正常’則第偶數個運算放大器丨之輸出為「L」位準。 其次，判定電路3將來自運算放大器丨之輸出之位準與自 身所δ己憶之期望值進行比較（S113)。於此，於來自運算放 大器1之輸出與期望值不同之情形時，判定電路3將「H」 旗標輸出至判定旗標4。將計數器瓜之值逐一增加而反覆進 143487.doc -57- 201028992 行以上之SI 12〜SI 14之處理直 (S115 、 S116)。 至計數器m之值成為n-1為止 (實施形態2之動作確認測試3) 其次’以下參照圖30對第2實施形態之動作確認測試之 第三順序進行說明。圖30係表示第2實施形態之動作確認 測試之第三順序之流程圖。 如第1實施形態之動作確認測試3中所說明般存在如下情 形：於DAC電路8中存在輸出端成為開路之不良之情形 時’運算放大器1會持續保持藉由已執行之確認測試而輸 入至運算放大器丨之灰階電壓，從而於實施形態2之動作確 認測試1及2中無法檢測出不良。 首先，與動作確認測試丨〜2同樣地，控制電路將自身所 包含之計數器m之值初始化為0(S121)。又，積體電路2〇 中，將上拉與下拉電路5連接於DAC電路8之正極性輸入端 子。於此，控制電路以將第奇數個運算放大器丨之正極性 輸入端子上拉之方式控制上拉與下拉電路5(S122)。其結 果，於第奇數個DAC電路8之輸出端為開路之情形時，對 第奇數個運算放大器1之正極性輸入端子輸入較高之電 壓。另一方面，控制電路以將第偶數個運算放大器〗之正 極性輪入端子下拉之方式控制上拉與下拉電路5(S122)。 其結果’於第偶數個DAC電路8之輸出端成為開路之情形 時’對第偶數個運算放大器1之正極性輸入端子輸入較低 之電壓。 其後之S 12 3〜S 12 7之處理與第2實施形態之動作確認測試 143487.doc -58 - 201028992 1相同，因此於此省略其說明。 (實施形態2之動作確認測試4) 其次，以下參照圖31對第2實施形態之動作確認測試之 . 第四順序進行說明。圖31係表示第2實施形態之動作確認 測試之第四順序之流程圖。 於此之目的在於檢測與上述動作確認測試3相同之不 良。首先，與至此為止之動作確認測試同樣地，控制電路 ❿ 將自身所包含之計數器m之值初始化為0(S131)。然後，控 制電路以將第奇數個運算放大器丨之正極性輸入端子下拉 之方式控制上拉與下拉電路5(sl22)e其結果，於第奇數 個DAC電路8之輸出端成為開路之情形時，對第奇數個運 算放大器1之正極性輸入端子輸入較低之電壓。另一方 面，控制電路以將第偶數個運算放大器丨之正極性輸入端 子上拉之方式控制上拉與下拉電路5(si22)。其結果，於 第偶數個DAC電路8之輸出端成為開路之情形時，對第偶 碜數個運算放大器〗之正極性輸入端子輸入較高之電壓。 /、後之S 133〜S 137之處理與第2實施形態之動作確認測試 2相同，因此於此省略其說明。 (實施形態2之動作確認測試5) 其人以下參一圖32對第2實施形態之動作確認測試之 第五順序進行說明。圖32係表示第2實施形態之動作確認 測試之第五順序之流程圖。 如第1實施形態之動作確認測試5中已說明般，於DAC電 路8中存在產生自身中之鄰接之兩個灰階短路之不良的情 143487.doc -59- 201028992 形。第2實施形態之動作確認測試5之目的在於檢測此種不 良。 如該圖所示，首先，控制電路將自身所包含之計數器⑺ 之值初始化為0(S141)。其次，使TSTR1&TSTR2有效進 而，經由資料匯流排將灰階m之灰階資料輸入至取樣電路 26A、取樣電路26B以及取樣電路6。進而，藉由使資料 L〇AD信號有效，第奇數個DAC電路8及第偶數個DAC電路 8輸出相同之灰階m之灰階電壓（S142)。然後，控制電路經 由未圖示之開關而使運算放大器丨之正極性輸入端子與負 極性輸入端子短路。藉由使該運算放大器丨之正極性輸入 端子與負極性輸入端子短路，而使得運算放大器丨之正極 性輸入端子及負極性輸入端子輸入相同之灰階電壓。其 次，判定電路3將使運算放大器丨之正極性輸入端子與負極 性輸入端子短路之情形時的運算放大器之輸出之位準作為 期望值加以記憶（S 143)。 繼而，使未圖示之開關成為〇FF，而解除運算放大器1 之正極性輸入端子與負極性輸入端子之短路。此時，對第 奇數個運算放大器1之正極性輸入端子，輸入來自串聯連 接於自身之第奇數個DAC電路8之灰階m之灰階電壓，對負 極性輸入端子輸入來自鄰接於自身之第偶數個Dac電路8 之灰階m之灰階電壓。另一方面，對第偶數個運算放大器t 之正極性輸入端子，輸入來自串聯連接於自身之第偶數個 DAC電路8之灰階m之灰階電壓，對負極性輸入端子輸入來 自鄰接於自身之第奇數個DAC電路8之灰階m之灰階電壓。 143487.doc -60- 201028992 於此，判定電路3將自身所記憶之期望值與來自運算放大 器1之輸出進行比較（S144)。進而，於來自運算放大器 輸出與自身所記憶之期望值不同之情形時，判定電路3將 「H」旗標輸出至判^旗標4。進而，判定旗標顿自判定 電路3輸入之「H」旗標記憶於自身之内部。 ❹

然後，控制電路使用未圖示之開關，將來自DAC電路8 之輸入至運算放大器i之正極性輸人端子之信號、與輸入 至負極性輸入端子之信號加以調換（S146)。之後，進行與 Si47之處理相同之處理⑻47)。又，與叫5同樣地，於來 自運算放大器1之輸出與自身所記憶之期望值不同之情形 時，判定電路3將「H」輸出至判定旗標4(si48)。 以使計數器m之值增加〗之方式而反覆進行以上之 SM2〜S148之處理直至計數器-之值成為η為止⑻49、 S150) 〇 (實施形態2之自我修復） 其次，以下參照圖33 ’對在判定旗標4記憶有「η」之情 形時、換言之於上述動作確_試卜5巾判定電路3判定為 DAC電路8之任-者存在不良之情形時的錢進行說明。 圖33係表示於判定為不良之DAC電路轉預備之⑽電路 28A及28B之間進行切拖而、仓―上 讀而1^自我修復之順序的流程 圖。 首先，控制電路對判定旗標4是否記憶有「Η」進行檢測 (S151)。於㈣電路檢測出判定旗標4未記憶「Η」之情形 時移订至S153之處理。另—方面，於控制電路檢測出記 143487.doc -61- 201028992 憶有「Η」之判定旗標4之情形時，將與記憶有「H」之判 定旗標4相對應之DAC電路8切換為預備之DAC電路28 a或 28B。於此，實施形態2中，因將兩個DAC電路8作為一組 進行動作確認，故即便判定旗標4記憶有rH」旗標，仍無 法判斷一組中之哪一個DAC電路為不良。因此，實施形態 2中，將與記憶有「Η」之判定旗標4相對應之一組之DAc 電路8、換a之第奇數個及第偶數個此兩個dac電路8切換 為預備之DAC電路28Α及28B(S152)。作為具體之說明，以 下设為DAC電路8-1存在不良而進行說明。 於此’於DAC電路8-1存在不良之情形時，藉由動作確 認測試1〜5 ’判定電路3-1及3-2均將「Η」輸出至判定旗標 4-1及4-2。進而，判定旗標4-1及4-2將自判定電路3-1及3-2 輸入之「Η」旗標輸出至開關2c及2d，使開關2c成為 OFF ’使開關2d成為ON »其結果，取樣電路26A輸入STR1 #號’取樣電路26B輸入STR2信號。藉此，取樣電路26A 自資料匯流排取得與液晶驅動用信號輸出端子OUT1相對 應之灰階資料，又，取樣電路26B自資料匯流排取得與液 晶驅動用信號輸出端子OUT2相對應之灰階資料。進而， 因開關2c為OFF ’故將運算放大器1 _ 1之輸出端與液晶驅動 用信號輸出端子OUT1之連接斷開，亦將運算放大器1_2之 輸出端與液晶驅動用信號輸出端子OUT2之連接斷開。進 而，因開關2d為ON’故運算放大器21A之輸出端連接於液 晶驅動用信號輸出端子OUT1，運算放大器21B之輸出端連 接於液晶驅動用信號輸出端子OUT2。 143487.doc -62- 201028992

如上所述，將存在不良之DAC電路8及與其成對之DAC 電路8作為一組而切換為預備之DAC電路28A及28B，藉此 可將存在不良之DAC電路8切換為預備之DAC電路26A或 26B。 繼而，控制電路使test信號為「L」，使testB信號為 「H」後’移行至一般動作（S153)。 [實施形態3] 以上說明之實施形態1及實施形態2甲，於來自輸出電路 區塊30(參照圖2)之灰階電壓與來自預備輸出電路區塊 4〇(參照圖2)之灰階電壓之間進行切換的切換電路6〇(參照 圖2)為包含於積體電路10及2〇中之構成，但本發明並不限 定於此，切換電路60亦可為包含於顯示面板側之構成。 以下，將於顯示面板侧包含切換電路6〇之顯示部90,之 構成及動作作為本發明之第3實施形態進行說明。再者， 本實施形態中’對與實施形態1不同之處進行說明，而對 於重複之地方省略其說明。 (顯示部90'之概略構成） 首先’參照圖34對本實施形態之顯示部9〇,之概略構成 進行說明。圖34係表示顯示部90,之概略構成之方塊圖。 如圖34所示，顯示部90’包含顯示面板8〇,、及根據自外 部輸入之灰階資料而驅動顯示面板8〇,之積體電路1〇,（驅動 電路）。於此，積體電路10,中，與實施形態丨之積體電路1〇 不同之方面在於未包含切換電路60,其他構成為與積體電 路10相同之構成。又，顯示面板80'中，與實施形態！之顯 143487.doc -63- 201028992 示面板80不同之方面在於包含切換電路6〇，其他構成為與 顯示面板80相同之構成。 (顯示部90'之構成） 其次’參照圖35對本實施形態之顯示部90,之更詳細之 構成進行說明。圖35係表示積體電路1〇,之構成之方塊圖。 如圖35所示’積體電路10·包含：η個取樣電路6，其自 灰階資料輸入端子（未圖示）經由資料匯流排而輸入與η個輸 出端子OUT1〜OUTn之各自相對應之灰階資料；11個保持電 路7 ; DAC電路8，其將灰階資料轉換為灰階電壓信號；運 算放大器1，其對來自DAC電路8之灰階電壓信號具有緩衝 器電路之作用；η個判定電路3;以及η個上拉與下拉電路 5 ° 進而，如圖35所示，積體電路10,包含：根據test信號於 ON與OFF之間進行切換之複數個開關2a ;根據testB信號於 ON與OFF之間進行切換之複數個開關孔；以及根據 LF(L〇W Frequency ’低頻）信號於ON與OFF之間進行切換 之複數個開關2f。再者，開關2a、2b以及2f於輸入有 、Η」仏號之情形時為〇N，於輸入有「L」信號之情形時 為OFF進而，積體電路10'包含各為一個之以下電路：預 備之取樣電路26 ;預備之保持電路27 ;預備之DAC電路 28,預備之運算放大器21以及預備之輸出端子〇UT〇。 另一方面，如圖35所示，顯示面板80,包含：連接於積 體電路1〇’所包含之輸出端子OUT1〜OUTn之各自之連接端 子（未圖不）；判定旗標9_丨〜9_n(以下，於總稱之情形時稱 143487.doc 201028992 作判定旗標9);根據來自控制電路（未圖示）之lf信號而於 ON與OFF之間進行切換之開關2f·，根據LF信號之反轉信號

即LFB(Low Frequency Band，低頻帶）信號而於on與OFF 之間進行切換之開關2e ;以及根據來自判定旗標9之輸出 #號即Flagl〜Flagn而於ON與OFF之間進行切換之開關2C 及2d。再者，開關2d、2e以及2f於輸入有「η」信號之情 形時為ON ’於輸入有「L」信號之情形時為〇ff。又，開 關2c於輸入有「l」信號之情形時為on，於輸入有r η」 信號之情形時為OFF。 又’本實施形態中之顯示面板80,為液晶顯示面板，如 圖35所示，資料信號線(以下，於總稱之情形時 稱作資料k號線SL)經由開關2e及2c而連接於積體電路1〇, 之各個輸出端子OUT。又，數量與掃描信號線GL之根數相 同之像素P連接於各個資料信號線SL。再者，圖35中，將 連接於資料信號線SL-1之像素P作為像素!>_1，將連接於資 料信號線SL-n之像素P作為像素p_n。 (實施形態3之自我修復） 其次，對在本實施形態之顯示部90,中進行動作確認測 試之結果為判定旗標4記憶有rH」旗標之情形時的自我修 復動作進行說明。再者，本實施形態中之動作確認測試之 方法與實施形態1中所述之動作確認測試丨〜5相同，因此於 此省略動作確認測試之說明。 首先’於動作確認測試結束之時間點，test信號為 「Η」’ testB信號成為「L」。因此，藉由開關孔而將運算 143487.doc •65- 201028992 放，器1與輸出端子ουτ之連接斷開。於此，於動作碟認 測言^〜5結束後’控制電路輸出「H」<LF信號，並且輸 、」之LFB/fs號。藉由輸出該「H」之LF信號，開關2f 為 各個判定旗標4經由各輸出端子OUT而連接於各 判^旗標9。進而，各個判定旗標4將自身所記憶之「H」 、才丁或L」旗標作為Flagl〜Flagn，經由各輸出端子out 而輸出至各判定旗標9β各判定旗標9將自判定旗標4輸出 之Flagl〜Fiagn記憶於自身之内部記憶體中，並且輸出至連 接於自身之開關2。及2(1。再者，於lf信號為「只」之期 間，㈣信號成為「L」，因此各開關2e為〇FF。藉此，防 止將判疋旗&4所輸出之㈣㈣喂輸出至資料信號線& 1〜SL-n ’其結果判定旗標4所輸出之f⑽〜Μη不會對像 素P產生影響。 以下’作為顯示部9〇,中之自我修復動作之詳細說明， 以與輸出端子〇UT1相對應之判定旗標W記憶有「η」旗 標之情形為例進行說明。 首先’於與輸出端子OUT1相對應之判定旗標4]記憶有 「H」旗標之情形時’換言之於Dac電路“為不良之情形 時，判定旗標9·1中自射旗標4輸出有「H」旗標，且將 所輸出之「H」旗標記錄於自身所包含之内部記憶體中。 再者’於此示例中，判定旗標Μ〜4·η記錄有「L」旗標。 然後，判定旗標9_W「Hj旗標之輸出至連接於 自身之開關2c及2de藉此，連接於判定旗標Μ之開關& 將輸出端子0UT1與資料信號線SL.i之連接切斷，進而連 143487.doc -66 - 201028992 接於判定旗標9-1之開關2d使輸出端子OUTO與資料信號線 SL-1連接。另一方面，各個判定旗標9_2〜9_η對連接於自 身之開關2c及2d輸出「L」旗標之Flag2〜Flagn，因此連接 於判定旗標9-2〜9-n之開關2c成為ON，連接於判定旗標9_ 2〜9-n之開關2d成為0FF。其結果，各個資料信號線sl_ 2〜SL-n經由開關2e而連接於各個輸出端子〇UT2〜〇υΤη。 各判定旗標9根據來自判定旗標4之Flagl〜Flagn，對連接 ⑩ 於自身之開關2c及2d進行切換後，控制電路輸出「L」之 LF信號，並且輸出rH」之LFB信號。藉此，使各個輸出 端子OUT2〜OUTn與各個資料信號線SL-2〜SL-n連接。 接著’控制電路輸出「L」之LF信號後，輸出「L」之 test信號與「H」之testB信號，藉此資料信號線SL-1經由 輸出端子OUTO而連接於運算放大器21之輸出端，另一方 面’各個資料信號線SL-2〜SL-n經由輸出端子〇UT2〜〇UTn 而連接於運算放大器再者，連接於取樣電路6-ΐ φ 之開關2d根據來自判定旗標4-1之Flagl而成為〇Ν，因此輸 入至取樣電路6-1之灰階資料（與資料信號線丨相對應之 灰階資料）亦輸入至取樣電路26。其結果，與資料信號線 SL-1相對應之灰階資料自輸出端子ouTO，而代替自輸出 端子OUT 1輸入至資料信號線SL-1。再者，輸入至取樣電 路6及各個預備之取樣電路26之灰階資料之切換與實施形 態1中之動作相同，因此於此省略其詳細說明。 如上所述，顯示部90,進行自我修復動作，藉此可使用 預備之DAC電路28而代替檢測為不良之daC電路8，將正 143487.doc •67- 201028992 常之灰階電壓輸出至資料信號線SL。再者’與實施形態1 同樣地，本實施形態中，亦包含與預備之DAC電路28相對 應之預備之取樣電路26及保持電路27。因此，不僅於DAC 電路8，而且於取樣電路6或保持電路7存在不良之情形 時，亦可切換為預備之取樣電路26及保持電路28。 參 其次’以下參照圖36，對顯示部90,中之自電源接通起 至進行動作確認測試後移行至一般動作為止之順序進行說 明。圖36係表示自顯示部90’之電源接通起至進行動作確認 測試後移行至一般動作為止之處理順序的流程圖。 如圖36所示，首先，顯示部9〇,檢測出由使用者接通電 源後，將積體電路10初始化，藉此使判定旗標4所記憶之 所有旗^成為「L」旗標（S161)。然後，控制電路使test信 號為H j，使testB信號為「L」後，將積體電路1〇ι切換為 動作確邊測試之狀態丨62) ^接著，控制電路及積體電路 1〇進行上述之動作確認測試（S163)。進而，控制電路對所 有動作確認測試1〜5是否結束進行確認（si64)。若於該 S164中控制電路檢測出並非所有動作確認測試u已結 束’則顯示部90,根據來自控制電路之指示，將處理移行Z S163 ’進行未結束之動作確認測試。另—方面，若於_ 中控制電路確認出顯示部⑽中所有動作確認測試已結束， 則於輸出H」之LF信號及「L」之LFB信號而檢測出成為 不良之電路（取樣電路6、保持電路7、DAC電路9、運算放 =从情形時’將該不良電路切換為預倩之電路（取樣電 、保持電路27、DAC電路29、運算放大器21)後移行 143487.doc •68· 201028992 至一般動作（S165)。 再者’本實施形態中之顯示部9〇,中係作為記憶判定電 路3-1之判定結果即旗標之電路而包含判定旗標4及判定旗 標9的構成，但作為顯示部9〇，之變形例，亦可為不包含判 定旗標9、開關2f、開關2e ’且判定旗標4控制開關^及^ 之構成此時；f；需要控制開關之尸及〜之^信號及信 说’另-方面’需要用以使判定旗標4與開關^及2d連接 之配線及連接端子。 ^ [實施形態4] 以上說明之實施形態1〜實施形態3中係積體電路與顯示 面板經由輸出端子_而連接之構成，但積體電路與顯示 面板不經由輸出端子0UT而成為一體之顯示裝置亦包含於 本發明之範疇内。 以下，參照圖37，將積體電路與顯示面板成為一體之顯 不部90”作為第4實施形態進行說明。再者，本實施形態之 Φ 顯示部9〇”為實施形態1之顯示部90之變形例，本實施形態 中，對與實施形態1不同之處進行說明，而對重複之地方 省略其說明。 (顯示部90"之構成） 首先，參照圖3 7對本實施形態之顯示部9 〇"之構成進行 說明。圖37係表示顯示部90"之構成之方塊圖。 如圖37所示，顯示部90"與實施形態1中所示之積體電路 10及顯示面板80並無區別，運算放大器1及21之輸出端經 由開關2b、2c以及2d而直接連接於資料信號線Sl。即，本 143487.doc •69· 201028992 實施形態之顯示部90”中，與實施形態【之顯示部9〇不同之 方面在於是否包含輸出端子OUT之不同，其他構成與實施 形態1之顯示部90相同。 再者’本實施形態中’作為實施形態1之變形例進行說 明’但自不用說’實施形態2及3亦同樣地，積體電路與顯 示面板不經由輸出端子OUT而成為一體之顯示裝置亦包含 於本發明之範疇内。 (電視系統） 其次，參照圖38對包含實施形態1之顯示部9〇之電視系 統300進行說明。再者，圖38係表示電視系統300之構成之 方塊圖。再者’以下將電視系統300作為包含實施形態1之 顯示部90者進行說明，但本發明之電視系統並不限於此， 亦可為包含實施形態2〜4之顯示裝置而代替顯示部9〇之構 成。 (電視系統300之構成） 如圖38所示’電視系統300包含：天線3〇1，其接收廣播 波；調諧器部302 ’其將接收到之廣播波解調為影像聲音 信號；信號分離部303，其將解調之影像聲音信號分離為 影像信號與聲音信號；影像信號處理部3〇4，其將分離之 影像信號解碼為數位影像信號；顯示部9〇，其取得解碼之 數位影像信號而作為灰階資料，且根據所取得之灰階資料 而於顯示面板80(參照圖2)上顯示影像；聲音信號處理部 305，其將分離之聲音信號解碼為數位聲音信號；以及聲 音信號輸出部306，其將解碼之數位聲音信號轉換為類比 143487.doc •70· 201028992 將轉換之類比聲音信號作為聲音自揚聲器輸 (電視系統3 0 0之動作> 其次，對電視系統3叫之動作處理進行說明。首先， 天線301接收來自廣播台之廣播波，並將接收到之廣播波 輸出至調諸部3 0 2。續抵ga * w β自器部302將所輸出之廣播波解調

聲音信號後， 出。 二衫像聲音k號並輸出至信號分離部3〇3。信號分離部3〇3 將骑出之影像聲音信號分離為影像信號與聲音信號並將 各k號輸出至影像信號處理部3()4及聲音信號處理部3〇5。 影像信號處理部3G4將所輸出之影像信號解碼為數位影像 信號’並賴碼讀㈣像㈣㈣线資料而輸出至顯 示部90。顯示部9〇使用自身所包含之顯示面板8〇而顯示輸 出之灰階資料。另一方面，聲音信號處理部3〇5將由信號 分離部303所分離之聲音信號解碼為數位聲音信號並輸出 至聲音輸出部306。聲音信號輸出部3〇6將輸出之數位聲音 尨號轉換為類比聲音信號後，使用自身所包含之揚聲器而 將類比聲音信號作為聲音加以輸出。 再者，本發明之電視系統300為使用天線3〇 1及調諧器部 302作為取得影像聲音信號之機構而自廣播局取得影像聲 音k號之構成’但本發明並不限於此，亦可為自記錄媒體 讀出記錄於該記錄媒體中之内容資料之DVd播放器等内容 讀取裝置、或者經由PC(個人電腦）自網際網路等取得資料 之構成。 實施形態1及實施形態4中所說明之動作確認測試及自我 143487.doc 71 · 201028992 修復之處理動作係於剛將液晶驅動用半導體積體電路1〇接 通電源後便進行該動作之構成’但本發明並不限於此，亦 可成為藉由將控制信號輸入至液晶驅動用半導體積體電路 ίο而進行上述動作之構成，且可於任意之時間點進行上述 動作。例如亦可於自顯示裝置之控制器將表示顯示之返馳 期間之k號輸入至液晶驅動用半導體積體電路〖〇之時間點 上’進行動作確認測試、自我修復。

又’動作確認測試及自我修復之處理動作亦可於如下時 間點上進行，即液晶驅動用半導體積體電路1〇中構成有偵 測液晶驅動用半導體積體電路10之異常之電路，於液晶驅 動用半導體積體電路10中產生異常時進行該動作。例如亦 可對自液晶驅動用半導體積體電路1〇輸出之信號之電流進 行偵測，並於偵測出之電流多於設定電流之情形時，進行 動作確認測試及自我修復之處理動作。

又，動作確認測試及自我修復之處理動作亦可定期 行例如亦可於不進行顯示之每個垂直返馳期間進行該， 作’或者於預先設定之每個累計顯示時間進行該動作。 又’動作確認測試及自我修復之處理動作亦可於進行』 示之期間之—部分中進行。例如因液晶顯示裝置中像素: 憶顯示電壓’故於顯示電壓之充電結束後，即便使液晶: 動用半導禮積體電路10之輸出成為高阻抗，顯示仍不存d 問題。於顯示期間之-部分中，使液晶驅動料導體則 電路10之輸出成為高阻抗，而進行動作確認測試及自我炎 復之處理動作。此時，若無進行所㈣作確認測試模式々 143487.doc -72· 201028992 時間，則亦可1 ;1條線之顯示期間之一部分中進行例如一 種模式之判定，Β + 心且亦可於一個畫面之顯示期間或顯示數個 畫面之期間進行。 > >再1本發明之積體電路1〇(參照圖18)為了對自身之缺 、行自我檢測（動作確認測試），必需將用以驅動顯示面 (>‘、、、圖2)之輸出信號停止。即，積體電路10於自我檢 測之期間 yL·, ffTp φι es _ 、 …、驅動顯不面板80。因此，積體電路ι〇進行自 我檢測之時間必® τ ϋ π φ 需於不會對顯示裝置之影像之顯示產生影 響的期間進行。 因此，本發明之實施形態中，作為積體 電路10進行自我 檢測之期間’對積體電路10於顯示裝置之電源接通時之啟 動過程中進行自我檢測及自我修復之示例進行說明。其原 目在於：若於顯示裝置之啟動過程中，則因顯示裝置不進 仃影像之顯不，故積體電路10可於不會對顯示装置之影像 之顯示產生影響的狀態下進行自我檢測及自我修復。 ❿ > 上料，本實施職中之積體電路10於顯示裝置之電 源接通時之啟動過程中進行檢測自身缺陷之自我檢測，但 本發明並不限於此，可於除顯示裳置之啟動過程中以外之 期間進行自我檢測及自我修復。 以下，將除顯示裝置之啟動過程中以外之可進行 測及自我修復之期間作為實施例進行說明。 * [實施例1] (於垂直返馳期間之自我檢測及自我修復） 首先，作為第一實施例，於顯示裝置 衣1 s直返馳期間 143487.doc •73· 201028992 中積體電路10可於不會對顯示裳置之影像顯示產生影響 之狀態下進行自我檢測及自我修復。以下說明其理由。曰 以下’參照圖39⑷〜圖39(f)對輸人至顯示裝置之各信號 之時序進行說明。圖39⑷〜圖39(〇係表示輸入至液晶顯示 裝置之各k號之時序之時序圖。 圖39⑷表示自驅動顯示裝置之掃描線之掃描側驅動電路 輸出之、提供給顯示裝置之第—根掃描信號線之掃描信號 SCN1 ’該圖（b)表示自掃描側驅動電路輸出之、提供給顯 不裝置之第二根掃描信號線之掃描信號SCN2，該圖（c)表 示自積體電路1〇(參照圖18)提供給影像信號反轉電路之、 與顧示裝置之第·1根資料信號線相對應之影像信號DSj，該 圖（d)表示自影像信號反轉電路提供給資料側驅動電路之、 與顯示裝置之第j根資料信號線相對應之影像信號D RVj， 該圖（e)表示提供給顯示裝置之第j根資料信號線之影像信 號DATAj，該圖（f)表示對連接於顯示裝置中之第一根掃描 乜號線與第j根資料信號線之像素所施加之驅動電壓 VDlj。又，圖39所示之時刻u〜t5之期間τν為顯示裝置之 垂直掃描期間，期間τνι為垂直返馳期間，時刻tl〜t3之期 間TH為水平掃描期間，時刻t2〜t3之期間TH1為水平返馳期 間。再者’上述影像信號反轉電路為如下電路：於每個水 平掃描期間TH及垂直掃描期間TV使來自積體電路1〇之影 像信號DSj之極性反轉，以使顯示裝置之各像素中之顯示 電極之極性反轉。 如圖39(a)及（b)所示，掃描側驅動電路係自第一根掃描 143487.doc -74- 201028992 ^號線起依序使時序延遲水平掃描期間TH，而對顯示裝 置之各掃描信號線輸出掃描信號SCN1、掃描信號 SCN2、…、掃描信號8(：1^111。又，掃描側驅動電路係於每 個垂直掃描期間TV，對顯示裝置之各掃描信號線反覆輸 出各掃描信號SCN1〜掃描信號SCNm。再者，於此，顯示 裝置包含m根掃描信號線。 將圖39(c)所示之來自積體電路1〇之影像信號DSj輸入至 φ 影像信號反轉電路。然後，影像信號反轉電路於每個水平 掃描期間TH將影像信號DSj之極性反轉，並於每個垂直掃 描期間τν將該影像信號DSj之極性反轉，而生成圖39(d)所 不之影像信號DRVj。進而，影像信號反轉電路將所生成 之影像信號DRVj輸入至資料側驅動電路。 繼而’資料侧驅動電路於每個水平掃描期間TH，對來 自影像信號反轉電路之影像信號DRVj進行取樣，並將所 取樣之信號值延遲一水平掃描期間，作為圖39(e)所 ❿ 不之影像信號DATAj而輸出至顯示裝置之第j根資料信號 線。 然後’於連接於第一根掃描信號線及第j根資料信號線 之顯示裝置之像素（以下稱作像素⑴中，藉由在時刻u〜t2 之水平掃描期間ΤΗ之掃描信號SCN1，而將像素巧内

之TFT 導通，其結果經由第j根資料信號線，將在時刻tl〜t2之影 像#號DATAj之影像信號電壓作為驅動電壓VD1j而 施加至 像素1 j内之顯示電極。於此，即便於時刻t2〜t5將像素丨』内 之TFT之導通斷開’對像素υ之顯示電極所施加之驅動電 143487.doc -75· 201028992 壓VDlj仍持續保持時刻u〜t2之期間之電壓位準。同樣 地’於連接於第二根掃描信號線及第】根資料信號線之顯 不裝置之像素（以下稱作像素2j)中，藉由在時刻t3〜t4之水 平掃4¾期間TH之掃描信號SCN2，而將像素2j内之TFT導 通，其結果經由第j根資料信號線，將在時刻t3〜t4之影像 乜號DATAj之影像信號電壓作為驅動電壓而施加至像素幻 内之顯示電極。於此，亦為即便將像素2j内之TFT之導通 斷開，對像素2 j之顯示電極所施加之驅動電壓仍持續保持 時刻t3〜t4之期間之電壓位準。 如上所述，即便將各像素内之TFT之導通斷開，顯示裝 置之各像素中之驅動電壓仍持續保持於TFT導通時所施加 之驅動電壓之電壓位準。藉此，掃描側驅動電路不將使各 像素之TFT導通之掃描信號8(：犯〜8(：]^111輸出至掃描信號 線，換言之，於將各像素之TFT之導通斷開之期間即垂直 返驰期間TV1，顯示裝置無需對各像素之顯示電極施加電 壓。即，積體電路10無需輸出作為驅動電壓之根源之影像 信號DSj，而即便將積體電路1〇與顯示裝置電氣切斷仍 不會對顯示裝置之影像顯示產生影響。 因此，若為顯示裝置之垂直返馳期間，則積體電路1〇可 於不會對顯示裝f之影像顯#產生影響之狀態下進行自我 檢測及自我修復。 (積體電路10全體之動作不良檢測） 本實施形態中之積體電路10所進行之檢測自身所包含之 輸出電路區塊之不良的自我檢測處理，係於與各資料信號 143487.doc -76 - 201028992 線相對應之各輸出電 為對象而進行之處理二 輸出電路區塊全體作 理。#此，該自我檢測處理需要時間。 二於積體電路〗。所包含之各輸出電路區塊…丨起 動作不良之可能性之 測處理。換言之 …莴進仃自我檢 起動作不声 積體電路10僅於各輸出電路區塊存在引 於此^可能性之情形時，進行自我檢測處理即可。 ^此’積體f物電路， ❿ 全體判定是否存在動作不良之可能性， 形時進行自我檢哪—處存在動作不良之情 以下it檢測處理’則可防止徒勞之自我檢測處理。 …。全體判二圖圖42對積體電路1〇所包含之對積體電 細進行體說疋否存在動作不良之可能性的動作列定電路 首先’於積體電路10中產生 積體電路1〇之電不良之情形時，供給至 «之電源電流與正常動作時相比， 製品而出礙時判定為合格品之初始階段相比^因1乍為 於供給至積體電路1〇之電源電流之值與正常上二 了固定值以上之情形時，積體電路10中會產生==大 因此，動作判定電路對供給至積體電 ：。 之值進行檢測，根據檢測出之電源電流之值^電流 電路10中是否產生了動作不良。 I於積體 (動作判定電路200之構成） 以下，參照圖40對動作判定電路200之構成進、 圖4〇儀表示動作判定電路2〇〇之構成之方塊圖。丁說明。 143487.doc -77- 201028992 如圖40所示，動作判定電路200係於對積體電路10供給 電源之VA201與積體電路10之間，包含電阻202(檢測機構） 及開關203。再者，電阻202與開關203以彼此成為並聯之 方式而連接。進而，動作判定電路200包含：A/D轉換器 204(檢測機構），其連接於電阻202及開關203之於積體電路 10側之一端；開關205，其輸入來自A/D轉換器204之輸出 信號；EEPROM(Electrically Erasable and Programmable Read Only Memory，電子可擦可程式唯讀記憶體）206(正常 電流值記憶機構），其係連接於開關205之一方之輸出端子 之非揮發性記憶體；資料鎖存電路207，其連接於開關205 之另一方之輸出端子；以及比較電路208(電流值比較機 構、驅動電路判定機構），其將EEPROM206之輸出值與來 自資料鎖存電路207之輸出值進行比較。再者，比較電路 208之輸出端子連接於積體電路10所包含之控制電路，其 將比較電路208中之比較結果輸出至該控制電路。再者， 開關203及205之切換係藉由積體電路10所包含之控制電路 而進行控制。 (動作判定電路200之概略動作） 動作判定電路200預先將與積體電路10正常動作時之電 源電流值相對應之值作為基準資料而記憶於EEPROM206 中。於此，動作判定電路200於判定積體電路10中是否產 生動作不良之情形時，對與供給至積體電路10之電源電流 值相對應之值進行檢測，將該檢測出之值與EEPROM206 預先記憶之基準資料之值進行比較，於檢測出之值為固定 143487.doc -78· 201028992 值以上之情形時，判定為積體電路10中產生了動作不良。 進而，動作判定電路200對積體電路1〇所包含之控制電路 輸出表示積體電路10中產生了動作不良之信號，藉此控制 電路開始進行積體電路10之自我檢測處理及自我修復處 理。 ' (基準資料之生成及記憶處理） 如上所述’動作判定電路200需要預先將基準資料記憶 於自身所包含之EEPROM2〇6中。因此，以下參照圖41對 用於動作判定電路200將基準資料記憶於EEPROM206中之 處理進行說明。圖41係表示動作判定電路2〇〇將基準資料 記憶於EEPROM206中之動作處理之流程圖。 如圖41所示，於生成基準資料時，控制電路將開關2〇3 打開而使來自VA20 1之電源電流於電阻202中流動（S301)。 於此，電阻202之電阻值係如積體電路10正常動作時之電 阻202之電壓下降成為約〇·ΐ V般之電阻值。再者，電阻 φ 202之電阻值宜考慮積體電路之消耗電流後決定。 然後’ A/D轉換器204將電阻202之積體電路1〇側之一端 之電壓值轉換為數位值（S3 02)。A/D轉換器204將轉換之數 ’ 位值經由開關205而輸入至EEPROM206。EEPROM206將輸 • 入之來自A/D轉換器之數位值作為基礎資料而加以記憶 (S303)。再者，S303中之開關205係藉由控制電路以使A/D 轉換器204與EEPROM206連接之方式進行切換。 繼而，EEPROM206記憶基礎資料後，控制電路將開關 203短路而使積體電路10恢復至一般動作狀態（S304)。再 143487.doc -79- 201028992 者，自S301至S304為止之基準資料之生成及記憶處理，係 於包含積體電路10之顯示裝置之製品出廠階段，換言之係 於積體電路10藉由各種出廠檢查而判定為正常之階段進 行。 (動作判定電路200之動作不良檢測處理） 其次，以下參照圖42對動作判定電路200之檢測積體電 路10之動作不良之處理進行說明。圖42係表示動作判定電 路200中之檢測積體電路10之動作不良之處理的流程圖。 如圖42所示，首先，控制電路將開關203打開而使來自 VA201之電源電流於電阻202中流動（S305)。 然後，A/D轉換器204將電阻202之於積體電路1 0侧之一 端之電壓值轉換為數位值（S306)。A/D轉換器204將轉換之 數位值經由開關205而輸入至資料鎖存電路207。資料鎖存 電路207將所輸入之來自A/D轉換器之數位值作為檢測資料 而加以記憶（S307)。再者，S306中之開關205係藉由控制 電路以使A/D轉換器204與資料鎖存電路207連接之方式進 行切換。 繼而，比較電路208將EEPROM206所記憶之基準資料與 資料鎖存電路207所記憶之檢測資料讀出，並將讀出之基 準資料之值與檢測資料之值進行比較（S308)。進而，比較 電路208對基準資料之值與檢測資料之值之差是否為特定 值以上（例如以數位值示為3以上）進行檢測（S309)。於此， 於基準資料之值與檢測資料之值之差為特定值以上（例如 以數位值示為3以上）之情形時，將表示積體電路10中產生 143487.doc • 80· 201028992 動作不良之信號輸出至積體電路ίο所包含之控制電路。 於此’控制電路自比較電路208輸入表示積體電路1〇中 產生了動作不良之信號後，開始進行積體電路10之自我檢 測（S311)。進而，於在積體電路1〇之自我檢測中積體電路 10於自身之輸出電路區塊中檢測出不良之情形時，積體電 路10將不良之輸出電路區塊之輸出切換為預備之輸出電路 區塊之輸出而進行自我修復。再者，於在S311之積體電路 φ 1〇之自我檢測中無法檢測出輸出電路區塊之不良之情形 時，考慮因其他因素所引起之電源電流值之變動。因此， 此時由於電源電流值產生變動，故動作判定電路200生 成S301〜S304中所示之基準資料及進行記憶處理，將產生 變動之電源電流值作為新之基準資料記憶於EEpR〇M2〇6 中（S312)。進而，S312之後，控制電路將開關2〇3短路而 使動作判定電路200及積體電路1〇成為一般動作狀熊 (S310)。 μ * Φ 另一方面，於S309中，當比較電路208檢測出基準資料 之值與檢測資料之值之差未滿特定值（例如以數位值表示 而未滿3)之情形時’將處理移行至S310。 [實施例2] (定期之積體電路10之自我檢測） 又，亦可定期進行積體電路10之自我檢測（動作確認測 試）及自我修復。具體而言，亦可如上述實施例1中所說明 於顯示裝置之每個垂直返馳期間，進行積體電路1〇之自我 檢測（動作確認測試）及自我修復。此時，對垂直同步信號 143487.doc -81 - 201028992 白^十數於每個固定次數之顯示中進行上述自我檢測及 H此時’由非揮發性之記憶體構成計數器，計數 器對垂直同步信號之次數進行計數，藉此可實現。進而， 亦可為如下構成：積體電路10包含測定時間之計時器，藉 ▲由該計時n而對動作時間進行計數，於每個預先設定之累 十動作時間進仃積體電路1G之自我檢測及自我修復。 [實施例3] 又積體電路10之自我檢測（動作確認測試）及自我修復 之處理動作亦可於顯示裝置進行影像顯示之期間之一部分 、行仓J如顯示裝置之各像素記憶顯示電極之電壓，因 顯丁電極之電壓之充電結束後，即便使積體電路io之輸 出端子0UT1〜OUTn成為高阻抗，顯示裝置中之影像之顯 示仍不存在問題。 因此，於顯示裝置進行影像顯示之顯示期間之一部分 中’使積體電路10之輸出端子〇UT1〜〇UTn成為高阻抗而 進行自我檢測（動作確關試）及自我修復之處理動作。作 為使輸出端子OUT1〜OUTn成為高阻抗之方法之一例，相 對於使輸出端子㈤T1〜0UTn與顯示裝置連接之每個信號 傳送路徑而串聯設置開關，將該開關打開，藉此可使輸出 端子OUT1〜〇UTn與顯示裳置成Λ高阻抗，才奐言之可將該 兩者電氣切斷。 又，於自我檢測（動作確認測試）令，如本實施形態1所 說明存在若干個模式。因此，若無進行自我檢測（動作確 認測試）之所有模式之時間，則亦可於丨條線之顯示期間之 143487.doc -82· 201028992 一 〇P ^ Φ , y- > 進仃自我檢測（動作確認測試）之— 如僅-種模式)。藉此，可於顯示裝置之1::=(例 :數幢之顯示期間進行自我檢測(動作確認測試)之：= :又’若採用不-次性地進行自我檢測(動作確，W 3式而將各模式分開進行之上述方法，則可:圖 之水平返馳_進行自我檢㈣動作確認測試）。 ，、 再者，上述實施例1〜3中，將實施形態1中之積體電路10 ❹ 作為對象進行了說明，但本發明並*限於此，亦可適用於 實施形態2及3中之積體電路1〇,、2〇以及實施形態4中之顯 示部90"。 又，本實施形態1〜4中，對藉由液晶顯示面板顯示影像 之液晶顯示裝置進行了說明，但本發明並不限於此，亦可 適用於除液晶顯示裝置以外之顯示裝置例如電漿電視等。 本發明並不限定於上述各實施形態，可於請求項所示之 範圍内進行各種變更，適當地組合不同實施形態中所分別 揭示之技術性機構而獲得之實施形態亦包含於本發明之技 術性範圍内。 再者，亦可以如下方式構成本發明之顯示裝置驅動用之 積體電路及顯示裝置。 [第1構成] 一種驅動電路，其特徵在於：其係驅動顯示面板者，且 包含對成為不良之該驅動電路進行自我修復之自我修復 機構。 [第2構成] 143487.doc -83- 201028992 如第1構成之驅動電路，其 +品妃々认， 包含輪出用以驅動上述顯 不面板之輸出信號之輪出電路， ㈣上述顯 上述自我修復機構包含 對上述輸出電路是否不良進 於P W 進仃W疋之判定機構，且 顯」機構之判定結果為不良之情形時，以對上述 我修復。常之輸出錢之方切該職電路進行自 [第3構成] 如第2構成之驅動電路，苴 人 + ’、 3可對上述顯示面板輸 出上U輸出就之預備輸出電路， 上述自我修復機構包含 切換機構’其係於上述判定機構之判定結果為不良之情 將來自上述成為不良之輪出電路之輸出信號切換為 來自上述預備輸出電路之輸出信號而作為向上述顯示面板 之輸出信號。 [第4構成] 如第3構成之驅動電路，其中上述判定機構， 包含比較機構，其將來自上述輸出電路之輸出信號與來 自上述預備輸出電路之輸出信號進行比較，且 根據上述比較機構之比較結果，對上述輸出電路是否不 良進行判定。 [第5構成] 一種顯示裝置，其特徵在於包含第〗構成至第4構成中任 一構成之驅動電路與上述顯示面板。 143487.doc -84 - 201028992 [第6構成] -種顯示裝置，其特徵在於：其係包 電路者， 面板與驅動 ㈣動電路包含輸出用以驅動上述顯 之輸出電路， 之輪出信號 上述驅動電路包含： 判定機構，其對上述輸出電路是否不良 參，備輸出電路，其可對上述顯示面板輸，以及 上述顯示面板包含切換機構， 輪出信號； ㈣換機構係於來自上㈣定機構 情形時，將來自上述成+ ^ t 疋w果為不良之 為來自上述預備輸出雷政夕Μ山> 輸出^號切換 板之輪出信號。 動《亥顯示面 [第7構成] 一種顯示裝置，其特徵在於包含： φ 顯示面板； 輸出電路，其輪^ 1 再翰出用以驅動上述顯示面板之 預備輸出電路，JL可針輸出仏號， 號; ”了對上述顯不面板輪出上述輸出信 判定機構，其對上述輸出電路是否不 切換機構，其於上述判定機構之判定 ^]疋，以及 時，將來自！· ϋ e j疋果為不良之情形 自上诚箱也认， 格之輪出信號切換為來 上这預備輸出電路之輸出信號而作 之輪出信號。 μ驅動上述顯示面板 143487.doc -85- 201028992 [第8構成] 種電視系統，i拉料a 任—項 之顯示裝置 八特徵在於包含如請求項5 士牯里a & ' 丫任~ [第9構成] 一種驅動電路，其特徵在於包含： 輸出端子，其連接於顯示面板； 輸出電路區塊，盆^ ^ . 路;以及 以含可連接於上述輸出端子之輸出電 =輸出電路區塊’其包含可連接於上述輸出端 備輸出電路，且驅動上述顯示面板， 預 上述驅動電路包含：比較機構，其將來自上述 之輸出信號與來自上述預備輸丨t 較. 鞠出電路之輸出信號進行比 判定機構，其根據上述比較機構之比較結果，對 出電路是否不良進行判定； ，〜 連接切換機構，其於上述判錢構之判定結果為不良之 情形時，使上述預備輸出電路代替上述輸出電路而連^於 上述輸出端子。 、 [第10構成] 如第9構成之驅動電路，其中上述比較機構為運算放大 器。 [第11構成] 如第9構成之驅動電路，其中上述輸出電路區塊及上述 預備輸出電路區塊進一步包含使用有運算放大器之輸出緩 143487.doc • 86 · 201028992 衝器，於使用上述運算放大器作為上述比較機構而上述判 定結果為不良之情形時，連接上述預備輸出電路區塊而代 替上述輸出電路區塊。 [第12構成] 如第9構成之驅動電路，其中上述輸出電路區塊及上述 預備輸出電路區塊進一步包含：使用有運算放大器之輸出 緩衝器；以及記憶提供給輸出電路之輸入端之信號之電 ❹ S ’於使用上述運算放大II作為上述比較機構而上述判定 V。果為不良之)f形時，連接上述預備輸出電路區塊而代替 上述輸出電路區塊。 [第13構成] 如第9構成至第12構成中任—項之驅動電路，其中包含 對輸入至上述輸出電路及預備輸出電路之輸入信號進行控 制之控制機構， 述控制機構係對上述輸出電路與預備輸出電路輸入大 ❿+相異之輸入信號，並輸出與上述大小相異之輸入信號相 對應之、來自上述比較機構之比較結果之期望值， 上述判定機構係於上軌較絲與上㈣望值不同之情 形時，將上述輸出電路判定為不良。 [第14構成] 一如第9構成至第13構成中任_構成之驅動電路，其中進 一步包含儲存表*上述敎機構之狀結果之旗標的旗標 儲存機構， 當上述旗標之值表示上述輸出電路為不良時，上述連接 143487.doc -87- 201028992 切換機構使上述預備輸出電路代替上述輸出電路而連接於 上述輸出端子。 [第15構成] 如第9構成至第14構成中任一構成之驅動電路，其中於 不會對上述顯示面板所顯示之圖像產生影響之期間， 上述比較機構將來自上述輸出電路之輸出信號與來自上 述預備輸出電路之輸出信號進行比較， 上述判定機構根據上述比較機構之比較結果，對上述輸 出電路是否不良進行判定， 上述連接切換機構將對於上述輸出端子之連接，自藉由 上述判定機構判定為不良之輸出電路之輸出端切換為上述 預備輸出電路之輸出端， 於上述連接切換機構將上述輸出端子與上述預備輸出電 路之輸出端連接後，上述預備輸出電路對上述輸出端子輸 出輸出信號。 [第16構成] 如第9構成至第15構成中任一構成之驅動電路，其中進 一步包含： 檢測機構，其對供給至上述驅動電路之電源電流之值進 行檢測； 正常電流值記憶機構’其預先記憶上述驅動電路正常動 作時之上述電源電流之值； 電流值比較機構，其將來自上述檢測機構之電源電流之 值與來自上述正常電流值記憶機構之電源電流之值進行比 143487.doc -88- 201028992 較；以及 驅動電路判定機構，其根據上述電流值比較機構之比較 結果，對上述驅動電路是否不良進行判定； 於上述驅動電路判定機構之判定結果為不良之情形時， 上述比較機構將來自上述輸出電路之輸出信號與來自上 述預備輸出電路之輸出信號進行比較， 上述判定機構根據上述比較機構 出電路是否不良進行判定，#之比U，對上述輸 上述連接㈣機構將對於上述輸出端子之連接， 上述判定機構判定為不良之輸㈣路之輸出端 : 預備輸出電路之輸出端。 ~ & [第17構成] 如第9構成至第16構成中任-構成之驅動電路，其中於 上述顯示面板之電源剛接通後， 上述比較機構將來自上述輸出電路 电峪之輸出信號與來自上 迷預備輸出電路之輸出信號進行比較，

上述判定機構根據上述比較機構之比較結果，對上 出電路是否不良進行判定， J 上述連接切換機構將對於上述輸出端子之連接，自 上述判定機構判定為不良之輸出電路 ^ ^ b ^ 硌之輸出端切換為上述 預備輸出電路之輸出端。 [第18構成] 如第9構成至第16構成中任-構成之驅動電路，其中於 上述顯示面板之垂直返馳期間， 143487.doc -89- 201028992 上述比較機構將來自上述輸出電路之輸出信號與來自上 述預備輸出電路之輸出信號進行比較， 上述判定機構根據上述比較機構之比較結果，對上述輸 出電路是否不良進行判定， 上述連接切換機構將對於上述輸出端子之連接，自藉由 上述判定機構判定為不良之輸出電路之輸出端切換為上述 預備輸出電路之輸出端。 [第19構成] 如第9構成至第18構成中任一構成之驅動電路，其中進 一步包含將自上述輸出端子至上述顯示面板之信號傳送路 徑切斷之切斷機構， 於上述切斷機構將自上述輸出端子至上述顯示面板之信 號傳送路徑切斷後， 上述比較機構將來自上述輸出電路之輸出信號與來自上 述預備輸出電路之輸出信號進行比較， 上述判疋機構根據上述比較機構之比較結果，對上述輸 出電路是否不良進行判定， 上述連接切換機構將對於上述輸出端子之連接，自藉由 上述狀機構判定^良之輸出電路之輸出端切換為_1述 預備輸出電路之輸出端。 [產業上之可利用性] :發明提供-種顯示裝置，其包含對輸出電 = :::修復之具體的機構，且包含可更容易處理: 良之顯示驅動用積體電路，特別是本發明較佳 143487.doc 201028992 地適於可以適當之賠地 _ .機進仃自我檢測及自我修復之液晶顯 不裝置。 【圖式簡單說明】 圖1係表示本發明之— 貫施形恶之液晶電視之構成的方 塊圖； 圖2係表示本發明 _ 貫施形態之顯不.裝置之構成的方 塊圖； ©圖3係表不本發明> 贯月之一實施形態之液晶電視之外觀之 圖； 圖4係表示本發明之-實施形態之構成液晶電視中所包 含之積體電路的輸出電路區塊產生異常之情形時之顯示之 一例的圖； 圖5係表示本發明之一實施形態之液晶電視中之自我檢 測及自我修復動作之示例的圖，圖5(a)係表示自我檢測及 自我修復動作開始前之液晶電視之圖，圖5(b)係表示自我 參檢測及自我修復動作進行中之液晶電視之圖，圖5(c)係表 示自我檢測及自我修復動作結束後之液晶電視之圖； 圖6係表示本發明之一實施形態之液晶電視中之維護功 能表之顯示例的圖； 圖7係表示本發明之一實施形態之液晶電視中之自我檢 測及自我修復動作之示例的圖，圖7(a)係表示自我檢測及 自我修復動作開始前之液晶電視之圖，圖7(b)係表示自我 檢測及自我修復動作進行中之液晶電視之圖，圖7(e)係表 示自我檢測及自我修復動作結束後之液晶電視之圖； 143487.doc -91 - 201028992 :系*示本發明之一實施形態之構成液晶電視之π· 模組即顯示部中安裝有對顯示面板進行驅動之源極驅 動器之示例的圖； 圖9係表*本發明之-實施形態之構成液晶電視之Μ- =核組即顯示部中安裝有對顯示面板進行驅動之源極驅 動器及預備源極驅動器之示例的圖； 圖10係表示使用捲帶式載體，將本發明之_實施形態之 具有自我檢測及自我修復功能之源極驅動器與預備之源極 驅動器並聯安裝於玻璃基板上之狀態的概略圖； 圖11係表示將圖U)所示之捲帶式載體打開之狀態的圖； 圖12係自方向八觀察圖㈣示之安裝有源極驅動器及預 備之源極驅動器之捲帶式載體的俯視圖； 圖13係表示本發明之一實施形態之構成液晶電視之TFT_ LCD模組即顯示部中，將記憶體安褒於連接著源極驅動器 之輸入端之印刷基板上之示例的圖； ❿ 圖14係表示本發明之—實施形態之構成液晶電視之· LCD模組即顯示部中’將記憶體安裝於連接著源極驅動器 之輸入端之印刷基板上之另一例的圖； 圖15係表示於本發日月之—實施形態之顯示部之電源斷開 時，進行源極驅動器之自我檢測之順序的流程圖； 圖16係表示本發明之一實施形態之液晶電視中之自我檢 測及自我修仙作之—例的圖，圖16⑷係表示自我檢測及 自我修復動作前之液晶電視的圖，圖16(b)係表示自我檢測 及自我修復動作進行中之液晶電視之圖，圖16⑷係表示自 143487.doc •92· 201028992 我檢測及自我修復動作結束後之液晶電視之圖； 圖17係表示本發明之一實施形態之液晶電視中之自我檢 測及自我修復動作之一例的圖，圖17(a)係表示自我檢測及 自我修復動作前之液晶電視之圖，圖17(b)係表示自我檢測 及自我修復動作進行中之液晶電視之圖，圖17(^係表示自 我檢測及自我修復動作結束後之液晶電視之圖； 圖18係表示本發明之一實施形態之顯示驅動用半導體積 體電路之構成之說明圖； 圖19係表示本發明之一實施形態之動作確認測試之第一 順序之流程圖； 圖20係表示本發明之一實施形態之動作確認測試之第二 順序之流程圖； 圖21係表示本發明之一實施形態之動作確認測試之第三 順序之流程圖； 一 圖22係表示本發明之一實施形態之動作確認測試之 順序之流程圖； 四 圖23係表示本發明之一實施形態之動作確認測試之 順序之流程圖； 圖24係表示本發明之-實施形態之將不良之輪出電路切 換為預傷之輸出電路之順序的流程圖； 圖25係表示本發明之一實施形態之自_示裝Ϊ之電源 通起至進行動作確認、測試後移行至—般動 流程圖； 〈順序的 圖26係表示本發明之一實施形態之用以進行運算放大器 143487.doc -93· 201028992 之動作確認之電路構成的說明圖·， 圖27係表示本發明之另一實施形態之顯示驅動用半導體 積體電路之構成的說明圖； 圖2 8係表示本發明之另一實施形態之動作確認測試之第 一順序的流程圖； 一圖29係表示本發明之另一實施形態之動作確認測試之第 一順序的流程圖； 一圖30係表示本發明之另一實施形態之動作確認洌試之第 二順序的流程圖； 圖3 1係表示本發明之另一實施形態之動作確認測試之第 四順序的流程圖； 圖32係表示本發明之另一實施形態之動作確認測試之第 五順序的流程圖； 圖33係表示本發明之另一實施形態之將不良之輪出電路 切換為預備之輸出電路之順序的流程圖； 圖34係表示本發明之進而另一實施形態之顯示骏置之概 略構成的方塊圖； 圖35係表示本發明之進而另一實施形態之顯示裝置之構 成的方塊圖； 圖36係表示本發明之進而另一實施形態之自顯示裝置之 電源接通起至進行動作確認測試後移行至一般動作為止之 順序的流程圖； 圖37係表示本發明之進而另一實施形態之顯示裝置之構 成的方塊圖； 143487.doc 201028992 圖％係表*本發明之—實施形態之電視^ 統之構成 塊圖； 一圖39⑷〜圖39(f)係表示本發明之—實施形態之輸入至顯 示裝置之掃描信號、影像信號、像素電極之電隸的時序 圖40係表示表示本發明之-實施形態之動作散電路之 構成的方塊圖；

圖41係表示本發明之-實施形態之對正常動作時之積體 電路之電源電流值進行檢測及記憶之處理的流程圖； 圖42係表示本發明之-實施形態之根據供給至積體電路 之電源電流值而對積體電路之動作不良進行檢測之處理的 流程圖；及 圖43係表示先前例中之顯示驅動用半導體積體電路之構 成的說明圖。 【主要元件符號說明】 1-1 運算放大器（比較機構） 1-2 運算放大器（比較機構） 1 -η 運算放大器（比較機構） 2c 開關（連接切換機構） 2d 開關（連接切換機構） 3-1 判定電路（判定機構） 3-2 判定電路（判定機構） 3-n 判定電路（判定機構） 4-1 判定旗標（旗標儲存機構） 143487.doc -95- 201028992 4-2 判定旗標（旗標儲存機構） 4-n 判定旗標（旗標儲存機構） 8-1 DAC電路（輸出電路） 8-2 DAC電路（輸出電路） 8-n DAC電路（輪出電路） 10 液晶驅動用半導體積體電路（驅動電路） 10' 液晶驅動用半導體積體電路（驅動電路） 10a 液晶驅動用半導體積體電路（驅動電路、第1驅 動電路、源極驅動器） 10b 液晶驅動用半導體積體電路（驅動電路、第2驅 動電路、預備源極驅動器） 20 液晶驅動用半導體積體電路（驅動電路） 21 運算放大器（比較機構） 21A 運算放大器（比較機構） 21B 運算放大器（比較機構） 28 DAC電路（預備輸出電路） 28A DAC電路（預備輸出電路） 28B DAC電路（預備輸出電路） 50 比較判定機構（自我檢測與自我修復機構、判定機 構） 60 切換電路（自我檢測與自我修復機構、切換機 構） 61 切換電路（自我檢測與自我修復機構） 80 顯示面板 143487.doc -96* 201028992 80' 顯示面板 81 記憶體（記憶裝置） 82 動作切換輸入端子 83 薄膜基材 84 輸入端子 ' 85 阻焊劑 86 輸出側配線 87 元件孔 88 輸入側配線 89 捲帶式載體 90 顯示部（顯示裝置） 92 像素 93 TFT 94 閘極線 95 源極線 φ 96 玻璃基板 97 印刷基板（PWD) 98 薄膜電纜（FPC) 99 閘極驅動器 . 100 控制器（寫入控制機構） 202 電阻（檢測機構） 204 A/D轉換器（檢測機構） 206 EEPROM(正常電流值記憶機構） 208 比較電路（電流值比較機構、驅動電路判定機構) 143487.doc -97- 201028992 300 電視系統 400 液晶電視 401 開關按鈕 402 DVD裝置（影像再生裝置、DVD再生裝置） 403 HDD裝置（影像再生裝置、HDD再生裝置） 404 DVD與HDD控制部 143487.doc -98-

Claims (1)

1. 201028992 七、申請專利範圍： 1· 一種顯不裝置，其特徵在於包含： 顯示面板； .動其係驅動上述顯示面板者’且包含對該驅 • 構；以及良進純測並修復之自我㈣與自我修復機 "己隐裝置，其記憶表示藉由上述自我檢測與自 〇 …一之檢測結 上述記憶裝置包含於上述驅動電路之外部。 2· 如请求項1之顧 輸出電路，述驅動電路包含複數個 號， /、等輸出用以驅動上述顯示面板之輪出信 =自我檢測與自我修復機構包含對上述輸出電路是 結果之衫機構，且於上述判^機構之判定 ®出信鲈之义之匱形時’以對上述顯示面板輸出正常之輸 。:：方式對該驅動電路進行自我修復， :。己隐裝置记憶上述判定機構之判定結 • 不良檢測資訊。 1工江 . 3·如請求項2之顯示裝置，其中 上述驅動電路包含可银 _ 號之預備輸出電路， 面板輸出上述輸出信 述測與自我修復機構包含切換機構，其於上 J疋機構之較結果為不良之情形時，將來自上述成 143487.doc 201028992 為不良之輪出電路之輸出信號切換為來自上述預備輸出 電路之輪出k號而作為向上述顯示面板之輸出信號。 4·如吻求項3之顯示裝置，其中上述判定機構包含將來自 上述輸出電路之輸出信號與來自上述預備輸出電路之輸 出信號進行比較的比較機構，且根據上述比較機構之比 較結果對上述輸出電路是否不良進行判定。 5. 如請求項4之顯示裝置，其中進一步包含控制機構，其 對輸入至上述輸出電路及上述預備輸出電路之輸入信號 進行控制， 上述控制機構係對上述輸出電路與上述預備輸出電路 輸入大小相異之輸入信號，並且輸出與上述大小相異之 輸入信號相對應之、來自上述比較機構之比較結果之期 望值， 上述判定機構於上述比較結果與上述期望值不同之情 形時，將上述輸出電路判定為不良。 6. 如請求項3之顯示裝置，其中上述判定機構包含將來自 上述複數個輸出電路中之至少兩個輸出電路之輸出信號 進行比較的比較機構，且根據上述比較機構之比較結果 對上述輸出電路是否不良進行判定。 7. 如請求項6之顯示裝置，其中進一步包含控制機構，其 對輸入至上述複數個輸出電路中之至少兩個輸出電路之 輸入信號進行控制， 上述控制機構係對上述至少兩個輸出電路輸入大小相 異之輸入信號，並且輸出與上述大小相異之輸入信號相 143487.doc 201028992 對應之、來自上述比較機構之比較結果之期望值， 上述判定機構於上述比較結果與上述期望值不同之情 形時，判定上述至少兩個輸出電路之任一者為不良。 8.如請求項4之顯示裝置，其中 上述輸出電路包含運算放大器作為輸出緩衝器， 上述比較機構係包含上述運算放大器而構成之比較 器。

   9.如請求項8之顯示裝置，其中 上述運算放大器於驅動顯示面板之情形時，作為電壓 隨動器進行動作。 10·如請求項1之顯示裝置，其中 上述記憶裝置為非揮發性記憶體。 U·如叫求項1之顯示裝置，其中進一步包含寫入控制機 構，其於接收到將顯示裝置自身之電源切斷之指示之情 形時，於將電源切斷之前將上述不良檢測資訊寫入至上 述記憶裝置中。 12. 如請求項11之顯示裝置，其中 上述自我檢測與自我修復機構係於接收到將顯示裝置 自身之電源切斷之指示之情形時，於將電源切斷之前對 上述驅動電路之不良進行檢測。 13. 如請求項11之顯示裝置，其中 上述自我檢測與自我修復機構係於接收到將顯示裝置 身之電源接通之指示之情形時’根據自上述記憶裝置 讀出之上述不良檢測資訊，而對上述驅動電路之不良進 143487.doc 201028992 行修復。 14.一種電視系統，其特徵在於包含如請求項1之顯示裝置。

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