TW200947765A - Method for producing a plurality of radiation-emitting components and radiation-emitting component - Google Patents
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- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims abstract description 10
- 239000010410 layer Substances 0.000 claims abstract description 178
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 76
- 239000011229 interlayer Substances 0.000 claims abstract description 50
- 238000000926 separation method Methods 0.000 claims description 70
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims description 58
- 238000005538 encapsulation Methods 0.000 claims description 35
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 30
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims description 12
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 12
- 239000000956 alloy Substances 0.000 claims description 6
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 claims description 6
- DIOQZVSQGTUSAI-UHFFFAOYSA-N decane Chemical compound CCCCCCCCCC DIOQZVSQGTUSAI-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 6
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 5
- 229910010293 ceramic material Inorganic materials 0.000 claims description 5
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 claims description 5
- 239000010949 copper Substances 0.000 claims description 5
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 5
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 claims description 5
- 239000010931 gold Substances 0.000 claims description 5
- 239000000203 mixture Substances 0.000 claims description 5
- 125000001997 phenyl group Chemical group [H]C1=C([H])C([H])=C(*)C([H])=C1[H] 0.000 claims description 5
- 229920002120 photoresistant polymer Polymers 0.000 claims description 5
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 claims description 5
- 239000004332 silver Substances 0.000 claims description 5
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 claims description 4
- 125000002496 methyl group Chemical group [H]C([H])([H])* 0.000 claims description 4
- 229910000679 solder Inorganic materials 0.000 claims description 4
- BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N Silver Chemical compound [Ag] BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 125000003983 fluorenyl group Chemical group C1(=CC=CC=2C3=CC=CC=C3CC12)* 0.000 claims description 2
- WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N tungsten Chemical compound [W] WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 239000010937 tungsten Substances 0.000 claims description 2
- PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N Nickel Chemical compound [Ni] PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 4
- 150000001335 aliphatic alkanes Chemical class 0.000 claims 3
- KPUWHANPEXNPJT-UHFFFAOYSA-N disiloxane Chemical class [SiH3]O[SiH3] KPUWHANPEXNPJT-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 2
- 239000003822 epoxy resin Substances 0.000 claims 2
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 claims 2
- 229920000647 polyepoxide Polymers 0.000 claims 2
- 150000001538 azepines Chemical class 0.000 claims 1
- 229910052702 rhenium Inorganic materials 0.000 claims 1
- WUAPFZMCVAUBPE-UHFFFAOYSA-N rhenium atom Chemical compound [Re] WUAPFZMCVAUBPE-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- 238000007789 sealing Methods 0.000 claims 1
- 238000004382 potting Methods 0.000 abstract description 3
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 229910003460 diamond Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000010432 diamond Substances 0.000 description 3
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 3
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 3
- 239000004033 plastic Substances 0.000 description 3
- 229920003023 plastic Polymers 0.000 description 3
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 3
- 206010052904 Musculoskeletal stiffness Diseases 0.000 description 2
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 description 2
- PMHQVHHXPFUNSP-UHFFFAOYSA-M copper(1+);methylsulfanylmethane;bromide Chemical compound Br[Cu].CSC PMHQVHHXPFUNSP-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 2
- 238000011161 development Methods 0.000 description 2
- 230000018109 developmental process Effects 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 2
- 230000036961 partial effect Effects 0.000 description 2
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 2
- 230000002441 reversible effect Effects 0.000 description 2
- 230000011218 segmentation Effects 0.000 description 2
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 2
- FGUUSXIOTUKUDN-IBGZPJMESA-N C1(=CC=CC=C1)N1C2=C(NC([C@H](C1)NC=1OC(=NN=1)C1=CC=CC=C1)=O)C=CC=C2 Chemical compound C1(=CC=CC=C1)N1C2=C(NC([C@H](C1)NC=1OC(=NN=1)C1=CC=CC=C1)=O)C=CC=C2 FGUUSXIOTUKUDN-IBGZPJMESA-N 0.000 description 1
- 239000004709 Chlorinated polyethylene Substances 0.000 description 1
- 239000006061 abrasive grain Substances 0.000 description 1
- 238000009825 accumulation Methods 0.000 description 1
- PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N aluminium oxide Inorganic materials [O-2].[O-2].[O-2].[Al+3].[Al+3] PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000000969 carrier Substances 0.000 description 1
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 1
- 238000011109 contamination Methods 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 239000012792 core layer Substances 0.000 description 1
- 238000005336 cracking Methods 0.000 description 1
- 238000000354 decomposition reaction Methods 0.000 description 1
- 230000032798 delamination Effects 0.000 description 1
- 210000003298 dental enamel Anatomy 0.000 description 1
- 230000001627 detrimental effect Effects 0.000 description 1
- 238000004043 dyeing Methods 0.000 description 1
- 230000005611 electricity Effects 0.000 description 1
- 230000005865 ionizing radiation Effects 0.000 description 1
- 230000003647 oxidation Effects 0.000 description 1
- 238000007254 oxidation reaction Methods 0.000 description 1
- 229920000098 polyolefin Polymers 0.000 description 1
- 239000011241 protective layer Substances 0.000 description 1
- -1 recording Chemical compound 0.000 description 1
- 230000002829 reductive effect Effects 0.000 description 1
- 230000000717 retained effect Effects 0.000 description 1
- 230000000276 sedentary effect Effects 0.000 description 1
- 230000001568 sexual effect Effects 0.000 description 1
- 239000010802 sludge Substances 0.000 description 1
- 239000004575 stone Substances 0.000 description 1
- 239000002023 wood Substances 0.000 description 1
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-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L33/00—Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L33/48—Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor body packages
- H01L33/52—Encapsulations
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- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/0001—Technical content checked by a classifier
- H01L2924/0002—Not covered by any one of groups H01L24/00, H01L24/00 and H01L2224/00
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- Encapsulation Of And Coatings For Semiconductor Or Solid State Devices (AREA)
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200947765 六、發明說明: [優先權之主張] 本申請案主張德國專利申請案DE 10 2008 010 510.4 和德國專利申請案DE 10 2008 014 927. 6之優先權,該等 專利申請案所揭示之内容併入本案作為參考。 【發明所屬之技術領域】 本發明係關於生產複數個輻射線發射元件之方法,及 輻射線發射元件。 【先前技術】 ◎ 輻射線發射元件為一種可發射離子化輻射線 (ionizing radiation)之裝置。在先前技術中,已有許多 方法可用來生產複數個輻射線發射元件,然而,這些方法 所生產的複數個輻射線發射元件彼此之間未能具有良好的 分離性(separability)。 【發明内容】 至少一個實施例之目的係詳細說明生產複數個輻射線 ◎ 發射元件之方法。再者,至少一個實施例之目的係詳細說 明輻射線發射元件。 藉由於獨立請求項中之方法和物品之方式,而達成這 些目的。該方法和物品之有利的實施例和發展的特徵描述 於附屬請求項中,而且經由下列之詳細說明該方法和物品 將變得清楚易懂。藉由參照此詳細說明而明確實現了本發 明申請專利範圍所揭示之内容。 依照一個實施例,一種用以生產複數個輻射線發射元 4 94618 200947765 件之方法,該方法包括下列方法步驟: A) 提供具有複數個安裝區之載體層,其中該等安裝區藉 由多個分離區而彼此分離; B) 施加夾層於該等分離區; C) 施加各自的輻射線發射裝置於該複數個安裝區之每一 者; D) 施加連續的封裝層(potting layer)於該輻射線發射 裝置和該等分離區; 〇 E) 於第一分離步驟中,將該載體層之分離區中之封裝層 分割並且將該載體層之分離區中之夾層部分地分割; F) 於第二分離步驟中,將該夾層部分地分割並且將該載 體層分割,其中,該第一分離步驟和該第二分離步驟 將該夾層完全分割。 於此情況,事實上第一層、第一區或第一裝置被配置 或施加“於第二層、第二區或第二裝置上”意味著於此處 ^ 和下文中第一層、第一區或第一裝置直接以直接機械及/ 或電性接觸的方式配置或施加於該第二層、該第二區或該 第二裝置上或者相關於另外二個層、區或裝置。再者,亦 能指定為間接接觸,其中另外之層、區或裝置被配置於第 一層、第一區或第一裝置與第二層、第二區或第二裝置或 者另外二個層、區或裝置之間。 此處和下文中“分離(separating)” 、“分割 (severing)”或“分隔(separation)”意味著層或區形狀 之變更,亦即此層或區的局部並未結合。於分離、分割、 5 94618 或分隔期間,居 沉,分離、分判:&之邵分被分離以改變复 如:分裂(二TTm由非機械方t於此情 達到效果,並1機❹卫移除材料_ 方式(例 I且恩指能夠傕闲、备人 乂瑪蝕移除材料) 除材料或腐U移除材料==用來分裂 '機器加工移 由本文中所說明*、、二離工具而改變層或區之形狀。 由本文令所說明方法:Γ具' ::轄射線發射區,相較於用射線發射元件之 方法而言能約改善録 產射線發射元件的已 〇 (separability)。於”線發射區彼此間的分離性 層上的輻射線發射元二=在兩個位於該載體 改善至少兩個輕射線發射元件:=之夹層可在品以 區,分離軌置從鄰近以介於其間之安裝 罢隋况該等安裳區具有轄射線發射元件之輕射線發 卜、°由㈣料成分之關係’施加於該輕射線發射裝置 上之封裝層於其物理性質上㈣與載朗刊,例如:硬 度、僵硬性(stiffness)、強度、延展性、破裂細度或密度, 因此必須藉由二個分離步驟和二個不同之分離工具使得至 ^二個輻射線發射元件彼此分離。 _於習知方法中,從(例如)該封裝層直接轉換至具有不 同硬度之載體層可能造成適用於該封裝層之分離工具由於 衝撞該載體層而損壞且變得無法使用。能夠藉由於二個輻 射線發射元件之間之分離區中將夾層配置於該載體層與封 裝層之間而防止該分離工具喪失功能,該封裝層能夠藉由 適用於分隔載體層之分離工具以及藉由適用於分隔封裝層 94618 6 200947765 . · 之分分割,並因此作為緩衝或保護層。 '個貫施例中’於各情 該第二分離步驟中能雜…第”離步騾和 步驟Ε)和F)能夠赌H 實施分離。此意味著方法 再者,為了松缺_作為早一分離工具而完全地實施。 不同的性質以分離該層可=層以及該封裝層本身 工移除材料之分離卫具之^ ^使祕子作為關聯於加 Ο ^絲以較低成本以量產複數個輻射線發射元件。 者,依照第-分離步驟可以藉由第—鑛片“ 驟^ ^施分離1此第—分離步驟中,為了依照方法步 層之分ΓΓ中載Π之f離區中之封装層分割並且將該載趙 分割該封驻JS甘+ 兄第一鋸片尤其適用於 分割。該封裝層於第一分離步驟期間被完全 ❿ 佯護之方法中’因為必須保留小部分之封裝層作為 損壞,故於第-分及與此相關片 割該封裳層。然而,於此产冑片不能夠完全分 能沉積在分離邊心清/兄,因為該封裝層之殘餘物可 期間發生脫落,故小部分之保=兀=之進一步加工 離步驟。於已知之生產方法+裝層證實不利於第二分 發射元件的汙半,而f 此情況會導致該等輻射線 發射元件木而需於額外的清理步驟中清理該輕射線 94618 200947765 此外,於已知方法中,該封裝層之殘餘物於第二分離 步驟期間亦能夠沉積於該鑛片上,使得該雜片逐漸變純而 導致該鋸開結果之損害。該鋸片能夠包括嵌入於塑膠基 體、金屬基體、或者陶瓷基體内之金鋼石磨粒(diam〇nd grain),並且於剛開始實施鋸開時仍具有足夠的銳利度。 於鋸開期間,變鈍之金鋼石磨粒可能弄破該塑膠基體而因 此顯現出新的、銳利的金鋼石磨粒。在已知生產方法中, 由於該封裝層之殘餘物沉積在該新的、銳利的金鋼石磨粒 上可能導致該鋸片逐漸變鈍。 . ❹ 藉由將介於該封裝層和該載體層之間的夹層根據本發 明進行配置,可能製成完全分離之封裝層,使得該第二鋸 片上的封裝層殘餘物大大地減少,而能夠達成改善之分離 結果。 依照另一實施例,能夠藉由不同於該第〆鋸片之第二 鋸片實施第二分離步驟。於此情況,第二鋸片同樣地部分 分割該夾層並且完全分割該載體層。此意味著該第一鋸片 和該第二鋸片二者皆能夠分割該夹層而不會因為例如第一 〇 鋸片衝撞該載體層而損壞。 " 再者,該第一和該第二鋸片能夠具有相同的厚度。於 此情況,該第一和該第二鋸片能夠各具有5〇 #mi35〇 # m之厚度。由於該第一和該第二鋸片之均勻摩度,所以能 夠於該第一或該第二分離步驟後至少實質上或完全地避免 該等分離區之不平坦。 再者,於方法步驟C)之前,於各情況皆有至少—個電 8 94618 200947765 . 性接觸層能夠施加於該载體層之複數個 況,該至少一個電性接餓A 匕亍。於此情 線辦置之二 =層作為與,载體層上之輻射 (例如)導體路押… 載體層上成形作為 ⑼如;㈣H此目的,該等輻射線發 一 者皆能夠(例如)具有電極,該母 料射緣發射裳置之每-者皆能夠施加至1=裝=: 至乂個電性接觸層。為了製作反向接觸 °° ο =—_contact_making),該等輕射線發 置有(例如)電極’該電極與該載體層她 1此夠权 極能夠(例如)經由接合導線電性連接至 ’、’且該電 觸層之其中一者。作為此情況之替代方:广個電性接 置能夠於各情況藉由已知稱之為製作射線發射敦 (^l'flop~conta^ 區域中之至少二個導電體路徑上。 …#女裝 ο 者由觸層能夠包括相同的材料或 者由,、該夾層相同的材料組成。 括與該至少一個電性接觸層相 ^該夹層月匕夠包 鎢、钥、或金或者以卜替社 十4(例如:銅、錄、銀、 或者上述材料之層序^,該ΓΓ百f比之合金或混合物, 能夠同時施加於方法步驟B)n電性接觸層和該史層 第一 η:體層能夠具有第-硬度,該夾層能夠具有 ^一硬度,而該封裝層能夠具有第三硬度,其中該第一硬 ,能知於,第二硬度而該第二硬度能夠高於該第三硬 度。如此一來,該封裝層能夠具有低於該夾層之硬度,其 94618 9 200947765 中該夾層能夠依次具有低於該載體層之硬度。 於此情況,用於載體層之材料包括例如陶瓷材料、半 導體材料(例如:能約於表面上進行氧化之石夕或金屬),或 者塑膠能夠藉由高硬度來作區別。於此情況,陶竟材料能 夠(例如)包括氮化鋁(A1N)和/或氧化鋁(Ah〇3)或者由此 化合物所組成。 、 〇 依照另一個實施例,至少_個光阻、一個阻焊劑或者 一個金屬能夠使用於夾層,其中該金屬能夠選自銅、金、 銀、鎮、、師錄以及該等金屬之合金和混合物和層序列之 :中至> 者。此等金屬能夠具有低於該載體層之硬度, 並且因此能夠較該載體層為軟。此等材料更同樣可能= 該夾層不僅能夠由最適合用以分割具有最低相對硬度之封 裝層之第-鑛片進行分割’而且亦可由適合用以分右 最高相對硬度之載體層之第二鋸片進行分割。ϋ,、 依照另-個實施例,該封裝層能夠包括石夕氧立 (例如)選自甲基系、苯基系和/或與氟化合之石夕氧烧。-糸 〇 。⑽。用魏絲封裝能夠=:(::··高物 鏡之光學元件’糊 94618 10 200947765 « 層之一部份,較佳係直接配 射線發射裝置上方。 f在該幸時線發射元件中的輻 於封裝層中,優先使用具有肖式回跳硬 hardness)肖A60至肖A90之甲其功又Cbhore 具有肖式回跳硬度肖A70至肖二且二先使用 曱基矽氧烷。 有回材料穩定性之 =文中所說明之方法所生產之輻射線發 Ο ❾ 於包括阻焊劑或光阻之夾芦μ 2说封裝層之石夕氧燒黏著 上為佳。===較黏著於包括金屬之央廣 裝層之殘留物對於分離區之媒黏著能夠減少該封 -另-個實施例,:::層所:=呈染現起 :體:藉由於方法_)中施加該夹層而予起該 θ之起伏㈣藉㈣彳如❹彳枝、祕方法 由光學方法而判定。較佳的情況是 5 s 藉由感測方法於載趙層之5至10個點判載定體層之起伏能夠 於方法步驟β)施加夹層於該载體層之過程 夠渗,平坦處並 於或至小蓉料疋 之厚度較佳係能夠大 伴護或紅最大減。簡絲之央層作為 體層大大有助於避免因為該第一錯片衝撞該戟 所使用之射4 71峰於自賴造紅触。雜該載體層 施加之至5〇⑽而使得所 厚度具有5至50 —之突起(較佳為5至 94618 11 200947765 20 am),超過該載體層之最大起伏頂峰。於此情況,可以 光化學方法施加該夾層。 為了藉由上面已經提及的方法判定該載體層之起伏, 依照另一個實施例,於方法步驟A)該載體層能夠以配置於 薄膜上之方式設置。為此目的,該載體層可黏接及於此情 況(例如)層疊於該薄膜上。該薄膜能夠有利地使得該載體 層可能承壓在近乎完全平坦的區域上,並且能夠包括多種 材料(例如:氯化聚乙烯(PVC、(PET)、或聚烯烴(P0))。該 夾層、該複數個輻射線發射裝置及該封裝層能夠接著於方 〇 法步驟B)、C)及D)中實施於相關於該薄膜之載體層之相對 表面上。 再者,該薄膜能夠於方法F)中的第二分離步驟中至少 部分被分割,其促使所生產之平面能夠維持於進一步生產 方法。 依照一個實施例之輻射線發射元件尤其包括: -具有安裝區之載體層, 0 -配置在該安裝區中的輻射線發射裝置,以及 -於該輻射線發射裝置上的封裝層, -其中,夾層配置鄰近介於該載體層與該封裝層之間之安裝 區。 於此情況,該封裝層被配置或施加“於輻射線發射裝 置上”意味著於此處或下文中該封裝層係以直接機械接觸 直接地配置或施加在該輻射線發射裝置上。再者,亦能指 定間接接觸,將另外的層配置於該封裝層和該輻射線發射 12 94618 200947765 裝置之間。 與介於該載體層與該封裝層之間之安裝區相關之夾層 的鄰近配置意味著於此處或下文中該夾層可配置成與 該安裝區直接接觸,而使得該夾層和該安裝區直接靠近彼 此。再者,亦能指定間接接觸,將另外的層或區配置於該 安裝區和該失層之間。 此種輻射線發射元件能夠具體實施為半導體元件,較 佳係如同發光二極體晶片或者雷射二極體晶片。 〇 再者,此種輻射線發射元件能夠藉甴(例如)表面安裝 技術女裝於如印刷電路板之表面。由此,該印刷電路板可 能具有非常密集之元件數(該印刷電路板兩側之主要元件 數)。 此種辕射線發射元件能夠進一步達成JEDEC-1( Joint
Electron Device Engineering Council)標準,意味著此 種輕射線發射元件為了免於受到進入之濕氣和氧化作用之 ❹杈害,不能包裝和儲存於所謂的“乾包裝(dry pack),, 中而月匕夠儲存於本生產方法之環境中。舉例來說,於回 焊方法(ref low meth〇d)中將該等輻射線發射元件之銲點 配置於導體路徑上不會導致該輻射線發射元件破裂和該韓 射線發射7L件之諸層之分解(稱之為“爆玉米花效應 (popcorning effect)”),因此能夠大大地避免該輻射線 發射元件中濕氣的累積。 依照另一個實施例,該失層可環繞該安裝區。此意味 著該安裝區由至少二個表面之夾層所界限。再者,此意味 13 94618 200947765 著配置於該安裝區中之輻射線發射裝置由至少二個表面之 夾層所環繞。該夾層環繞該輻射線發射裝置之區域亦可指 _ 定為分離區。 依照另一個實施例,至少一個電性接觸層能夠至少施 加於該載體層之安裝區。於此情況,該至少一個電性接觸 層係用以自下方與該輻射線發射裝置電性接觸,並且能夠 成形為底部電極(例如:導體路徑)。為了產生反向接觸, 該輻射線發射裝置可設置有頂部電極,該頂部電極能夠包 括(例如)接合線。 ® 因此,該輻射線發射元件能夠另外具有如更先前所述 之一個或更多個特徵,例如:該電性接觸層之材料、該等 層之不同硬度和/或用以個別成形該等層之材料。 以下所述之範例實施例結合圖式,將使得用以產生複 數個輻射線發射元件之生產方法及輻射線發射元件之其他 優點、較佳實施例及發展變得清楚易懂。 【實施方式】 ^ 第1A圖至第1F圖顯示依照一個範例實施例的方法之 方法步驟。第1A圖顯示方法步驟A)之剖面示意圖,該方 法步驟A)有關提供具有複數個安裝區2之載體層1。於此 情況,該等安裝區2藉由多個分離區3而彼此分離。該等 分離區3和該等安裝區2能夠配置成例如彼此分離之行和 列。較理想的情況是,該等具有多個分離區3配置於其間 '之安裝區2以矩陣行和列形式配置於載體層1上。該載體 層1之材料較佳為陶瓷材料、半導體材料(例如:其表面亦 14 94618 200947765 能被氧化之石々七人 低)。於此材料(因為其硬度材科成本較 如微米該載體層具有5至 第圖顯示另一方法 步㈣有關施加夹層 之材料較佳係光阻、該夹層 ❹ 有上述材料之trr比^合物或合金或者具 區,導致載體^之Μ 該失層施加於载體層之分離 导致載體層之起伏平坦化。大體上,於 4之厚度較佳係至少等於且更 、/心央層 載體層1之最大起伏。為了此日二道等/刀離區3中之 該等分離區3中之载體層; 最大起伏。 個點預先判定 ❹ 第ic圖顯示方法步驟〇之剖面示音圖 _關施加各自的輻射線發射裝置5至該複數個^驟 之母一者。於此情況,該等輻射線發射裝置^之=區2 能夠直接靠近該等鄰近之分離區3或者,=每一者皆 置於载體層!上的安裝區2中距該等分離區=所示,配 位置。如第2A圖和第2β圖中所述,對於某二又距離之 裝置5之電性鏈接,在方法步驟c)之前,3線發射 可至少於該複數個安裝區2中施加至少一個況皆 1〇。於此情況’該接觸層1G和該失層4之=觸層 相同的材料或者由相同的材科成分。於 4可包括 接·一步樣 I: 94618 15 200947765 施加於該等讀區2和料分離區3 第㈣顯示方法步驟D)之剖面示意圖,該方法步驟 積之方式施加連續的封裝層6於該等輻射 線 和該失層4。該封裝層6較佳係能夠包含甲 基系或祕系切纽,該魏燒能_成透鏡。因此, 該封裝層6較佳係配置於該等輻射線發射裝置5上,而使 得該封裝層6之透鏡直接承壓在該輻射線發職置5上。 第1E圖顯示方法步驟E)之剖面示意圖,該方法步驟 E)有關於第-分離步驟7巾完全分割該封裝層6並部分分 割該夾層4。於此情況,第一分離步驟7之過程由虛線箭
號7所表示。由於事實上該封裝層6於此第一分離步驟7 中被完全分割’因此能夠得到平滑的鋸開邊緣而沒有該封 裝層6之突出物(overhang)。
第1F圖顯示方法步驟F)之剖面示意圖,該方法步驟 F)有關於在第二分離步驟8中將該夾層4部分分割且將該 載體層1完全分割(虛線箭號)。於此情況,該夾層4藉由 例示於第1E圖之第一分離步驟7並且藉由例示於第π圖 之第二分離步驟8被完全分割。結果,複數個輻射線發射 元件最後進行方法步驟F)’該方法步驟f)能夠藉由例如鋸 子之方式將組件分離。能夠使用二個不同的鑛片來分離該 等輻射線發射元件,其中用於該第一分離步驟7之鋸片於 此情況係最適合用來完全分離該封裝層6,同時用於該第 二分離步驟8之第二鋸片適用於分離該載體層1。於此情 況,該夾層4較佳係包括例如光阻、阻焊劑之材料,或者 16 94618 ‘ 200947765 層庠列銀、鑛、㈣金或者㈣的私物或合金或者 材料’而使得該央層4不僅能藉由最適合用於分 =封裝層6(具有相對最低的硬度)之錯片進行分巧,亦 σ藉由適用於分雜顏们(具#相料高 片進行分割。 、、’、°果’複數傭輻射線發射元件呈現於第1F圖中所述方 法步驟F)之目的。 Ο Ο 第2Α和2β圖顯示依照另一個範例實施例用於生產輻 射線發射元件之方法的個财法步驟。 〜=此情況下’相較於依照第1Α圖至第1F圖的方法之 =貫施例’為了將例示於第1E圖和第ιρ圖中之分離步 置於t 8實施於盡可能平垣之區域上,該載體層1係以配 置於薄膜9上之方式裝畤。^ ^ Ψ ^為了獲得用於進行該等輻射線 發射το件之進一步加工製 夕w t 之平坦區域,如例示於第2A圖 <剖面示忍圖’依照方法 僅部分分職薄臈9。㈣^ )第1離步驟8期間 _層Η)上,其中^^射線發射裝置5配置於電性 、述方法步驟C)中,在施加該輻射 緣發射裝置5之刖,將該拯 #(gAS , ^接觸層1〇施加於該安裝區2中之 :體層卜於所:則列實施例中,係以覆晶安裝之方式於 此情況下施加該輻射線發射骏置5。 最後,如第2Β圖中所一 邊緣實現了從薄膜9彼此於進—步方法步驟中於分離 離,由此達成,數個;射全分 ^singulation) ° 94618 17 200947765 例。反之於根據該範例實施騎說明之範例實施 合,尤其是包括於的特徵以及任何新特徵之結 使該些特散其本身或:特徵::中各特徵之任何結合,即 申請專利範園或範例實施例t。之結合未明確詳細說明於 【圖式簡單說明】 第1A圖至第1F圖顯示佑 方法步驟之剖面示意圖:以及、卜個範例實施例之方法之 第2A*2B圖顯示依昭 別方法步驟。 〜另1範例實施例之方法之個 於乾例實施例和圖式, 各情況中皆提供以相同的參考;:或相同動作構成部分於 及各組構部分彼此間之尺 U Μ<構成部分以 々,玆魅^ 一…寸關係不應視為真實之尺寸。反 之 …一— 供較佳之了解。 【主要元件符號說明】 1 載體層 3 分離區 5 輻射線發射裝置 7 第一分離步驟 9 薄膜 以誇大尺寸之方式例 2 安裝區 4 失層 6 封裝層 8 第二分離步驟 10 電牲接觸層 94618 18
Claims (1)
- 200947765 七、申請專利範圍: - L 一種用來生產複數個輻射線發射元件之方法,該方法包 括下列方法步驟: /匕 A) 設置具有複數個安裝區(2)之載體層(丨),其中該等 安裝區(2)藉由多個分離區(3)而彼此分離; B) 施加夾層(4)於該等分離區(3); C) 施加各自的輻射線發射裝置(5)於該複數個安裝區 (2)之每一者; W © D)施加連續的封|層⑹於該輻射線發射裝置⑸及 該等分離區(3) ; ^ E) 於第-分離步驟⑺中,將該載 區⑶_之該封裝層⑹分割μ 該等分離區(3)中之該炎層⑷部分地分割;以及 F) 於第二分離步_)中,將該失層⑷部分地分割並 且將該載體層⑴分割,其中,該第—分離步驟⑺ ❹ 和該第二分離步驟(8)將該夾層(4)完全分判。 2. 如申請專利範圍第1項之方法,其中, 。 籬牛匱況下皆可藉由鋸子之方式來實施該第-分 離步驟⑺和該第二分離步驟⑻巾之該分離。 3. 如前述申請專利範圍中任一項之方法,其中, 藉由第鑛片之方式來實施該第-分離步驟⑺中 之分離。 4. 如前述申請專利範圍中任一項之方法,其中, 藉由第一!§>;之方式來實施該第二分離步驟⑻中 94618 19 200947765 之分離;以及 該第二鋸片不同於該第一鋸片。 5. 如申請專利範圍第4項之方法,其中, 該第一鋸片和該第二鋸片具有相同的厚度。 6. 如前述申請專利範圍中任一項之方法,其中, 於方法步驟C)之前,於各情況下,施加至少一個 電性接觸層(10)於該載體層(1)之至少複數個安裝區 (2)。 7. 如前述申請專利範圍中任一項之方法,其中, 該夾層(4)和該至少一個電性接觸層(10)包括相同 的材料。 8. 如前述申請專利範圍中任一項之方法,其中, 於方法步驟B)同時施加該夾層(4)和該電性接觸層 (10)。 9. 如前述申請專利範圍中任一項之方法,其中, 該載體層(1)具有第一硬度,該夾層(4)具有第二硬 度及該封裝層(6)具有第三硬度; 該第一硬度高於該第二硬度;以及 該第二硬度高於該第三硬度。 10. 如前述申請專利範圍中任一項之方法,其中, 該載體層(1)包括陶瓷材料。 11. 如前述申請專利範圍中任一項之方法,其中, " 該夹層(4)包括至少一個光阻、一個阻焊劑或者一 個金屬, 20 94618 200947765 .. 該金屬選自銅、鎳、銀、鎢、錮及金或選自該等金 屬之合金或混合物或層序列之至少一者。 12.如前述申請專利範圍中任一項之方法,其中, 該封裝層(6)包括矽氧烷, 該矽氧烷選自甲基系、苯基系、與氟化合之矽氧烷 及/或選自 矽氧烷和環氧樹脂,或者 曱基系、苯基系及/或氟化合之矽氧烷。 〇 13.如前述申請專利範圍中任一項之方法,其中, 至少該載體層(1)之該分離區(3)呈現起伏, 該起伏係藉由於方法步驟B)中施加該夾層(4)而予 以平坦化。 14.如前述申請專利範圍中任一項之方法,其中, 該夾層(4)具有層厚度, 該厚度大於或等於該載體層(1)之起伏。 a 15.如前述申請專利範圍中任一項之方法,其中, Ό 於方法步驟A)中,以配置於薄膜(9)上之方式設置 該載體層(1);以及 施加夾層(4)、複數個輻射線發射裝置(5)、和封裝 層(6)於方法步驟B)、C)、和D)中實施於相關於該薄膜 (9)之該載體層(1)之相對表面上。 16.如前述申請專利範圍中任一項之方法,其中, . 於讀方法步驟F)中之該第二分離步驟(8)中將該薄 膜(9)至少部分分割。 21 94618 200947765 17. —種輻射線發射元件,包括: 具有安裝區(2)之載體層(1), 配置於該安裝區(2)中的輻射線發射裝置(5); 於該輻射線發射裝置(5)上的封裝層(6);以及 其中,夾層(4)係配置鄰近介於該載體層(1)和該封 裝層(6)之間之該安裝區(2)。 18. 如申請專利範圍第17項之輻射線發射元件,其中, 該夾層(4)環繞該安裝區(2)。 19. 如申請專利範圍第17項或第18項之輻射線發射元件, ® 其中, 於該載體層(1)之該安裝區(2)中施加至少一個電 性接觸層(10)。 20. 如申請專利範圍第19項之輻射線發射元件,其中, 該夾層(4)和該至少一個電性接觸層(10)包括相同 的材料。 21. 如申請專利範圍第17項至第21項中任一項之輻射線發 q 射元件,其中, 該載體層(1)具有第一硬度,該夾層(4)具有第二硬 度,和該封裝層(6)具有第三硬度; 該第一硬度高於該第二硬度,以及 該第二硬度高於該第三硬度。 22. 如申請專利範圍第17項至第21項中任一項之輻射線發 射元件,其中, 該載體層(1)包括陶瓷材料。 22 94618 200947765 23. 如申請專利範圍第17項至第22項中任一項之輻射線發 射元件,其中, 該夾層(4)包括至少一個光阻、一個阻烊劑或者一 個金屬, 該金屬選自銅、鎳、銀、鶴、翻及金或選自該等金 屬之合金或混合物或層序列之至少一者種。 24. 如申請專利範圍第17項至第23項中任一項之輻射線發 射元件,其中, © 該封裝層(6)包括矽氧烷, 該矽氧烷係選自甲基系、苯基系、與氟化合之矽氧 烷及/或選自 矽氧烷和環氧樹脂,或者 甲基系、苯基系及/或氟化合之矽氧烷。 23 94618
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---|---|---|---|
DE102008010510 | 2008-02-22 | ||
DE102008014927A DE102008014927A1 (de) | 2008-02-22 | 2008-03-19 | Verfahren zur Herstellung einer Mehrzahl von strahlungsemittierenden Bauelementen und strahlungsemittierendes Bauelement |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
TW200947765A true TW200947765A (en) | 2009-11-16 |
Family
ID=40896796
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
TW098104275A TW200947765A (en) | 2008-02-22 | 2009-02-11 | Method for producing a plurality of radiation-emitting components and radiation-emitting component |
Country Status (8)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US8790939B2 (zh) |
EP (1) | EP2255396B1 (zh) |
JP (1) | JP5579080B2 (zh) |
KR (1) | KR101525638B1 (zh) |
CN (1) | CN101946339B (zh) |
DE (1) | DE102008014927A1 (zh) |
TW (1) | TW200947765A (zh) |
WO (1) | WO2009103283A1 (zh) |
Families Citing this family (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102012008637A1 (de) | 2012-05-02 | 2013-11-07 | Heraeus Noblelight Gmbh | Optisches Modul mit Ausformung zur Montage |
DE102012025826B3 (de) * | 2012-05-02 | 2020-09-24 | Heraeus Noblelight Gmbh | Optisches Modul mit Ausformung zur Montage |
JP6176302B2 (ja) * | 2015-01-30 | 2017-08-09 | 日亜化学工業株式会社 | 発光装置の製造方法 |
DE102015105661B4 (de) * | 2015-04-14 | 2022-04-28 | OSRAM Opto Semiconductors Gesellschaft mit beschränkter Haftung | Optoelektronische Vorrichtung mit einer Mischung aufweisend ein Silikon und ein fluor-organisches Additiv |
JP6925100B2 (ja) * | 2015-05-21 | 2021-08-25 | 日亜化学工業株式会社 | 発光装置 |
TWI585844B (zh) * | 2015-09-25 | 2017-06-01 | 光寶光電(常州)有限公司 | 發光二極體封裝結構及其製造方法 |
DE102017117548A1 (de) * | 2017-08-02 | 2019-02-07 | Osram Opto Semiconductors Gmbh | Optoelektronisches Bauelement und Verfahren zur Herstellung eines optoelektronischen Bauelements |
DE102017117550A1 (de) * | 2017-08-02 | 2019-02-07 | Osram Opto Semiconductors Gmbh | Optoelektronisches Bauelement und Verfahren zur Herstellung eines optoelektronischen Bauelements |
Family Cites Families (29)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3604108B2 (ja) * | 1997-02-17 | 2004-12-22 | 株式会社シチズン電子 | チップ型光半導体の製造方法 |
JPH1174410A (ja) * | 1997-08-28 | 1999-03-16 | Citizen Electron Co Ltd | 表面実装型チップ部品及びその製造方法 |
JP3497722B2 (ja) * | 1998-02-27 | 2004-02-16 | 富士通株式会社 | 半導体装置及びその製造方法及びその搬送トレイ |
JP2000183218A (ja) | 1998-12-14 | 2000-06-30 | Mitsumi Electric Co Ltd | Icパッケージの製造方法 |
JP3455762B2 (ja) * | 1999-11-11 | 2003-10-14 | カシオ計算機株式会社 | 半導体装置およびその製造方法 |
DE10008203B4 (de) * | 2000-02-23 | 2008-02-07 | Vishay Semiconductor Gmbh | Verfahren zum Herstellen elektronischer Halbleiterbauelemente |
US6345903B1 (en) * | 2000-09-01 | 2002-02-12 | Citizen Electronics Co., Ltd. | Surface-mount type emitting diode and method of manufacturing same |
MY131962A (en) | 2001-01-24 | 2007-09-28 | Nichia Corp | Light emitting diode, optical semiconductor device, epoxy resin composition suited for optical semiconductor device, and method for manufacturing the same |
JP2003179269A (ja) | 2001-01-24 | 2003-06-27 | Nichia Chem Ind Ltd | 光半導体素子 |
JP4789350B2 (ja) * | 2001-06-11 | 2011-10-12 | シチズン電子株式会社 | 発光ダイオードの製造方法 |
JP3844196B2 (ja) * | 2001-06-12 | 2006-11-08 | シチズン電子株式会社 | 発光ダイオードの製造方法 |
JP2003031526A (ja) * | 2001-07-16 | 2003-01-31 | Mitsumi Electric Co Ltd | モジュールの製造方法及びモジュール |
US6743699B1 (en) * | 2003-01-21 | 2004-06-01 | Micron Technology, Inc. | Method of fabricating semiconductor components |
JP2004319530A (ja) * | 2003-02-28 | 2004-11-11 | Sanyo Electric Co Ltd | 光半導体装置およびその製造方法 |
JP2005051150A (ja) * | 2003-07-31 | 2005-02-24 | Seiko Epson Corp | 半導体装置及びその製造方法、回路基板並びに電子機器 |
KR20070012501A (ko) * | 2004-04-28 | 2007-01-25 | 마츠시타 덴끼 산교 가부시키가이샤 | 발광장치 및 그 제조방법 |
US7087463B2 (en) * | 2004-08-04 | 2006-08-08 | Gelcore, Llc | Laser separation of encapsulated submount |
JP4747704B2 (ja) * | 2005-07-20 | 2011-08-17 | 豊田合成株式会社 | 蛍光体層付き発光装置の製造方法 |
US7842526B2 (en) | 2004-09-09 | 2010-11-30 | Toyoda Gosei Co., Ltd. | Light emitting device and method of producing same |
JP5128047B2 (ja) * | 2004-10-07 | 2013-01-23 | Towa株式会社 | 光デバイス及び光デバイスの生産方法 |
TW200637033A (en) * | 2004-11-22 | 2006-10-16 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Light-emitting device, light-emitting module, display unit, lighting unit and method for manufacturing light-emitting device |
JP2007165789A (ja) * | 2005-12-16 | 2007-06-28 | Olympus Corp | 半導体装置の製造方法 |
JP2007184426A (ja) * | 2006-01-06 | 2007-07-19 | Shinko Electric Ind Co Ltd | 半導体装置の製造方法 |
JP4838005B2 (ja) | 2006-02-20 | 2011-12-14 | 京セラ株式会社 | 発光装置 |
JP2007324205A (ja) | 2006-05-30 | 2007-12-13 | Toyoda Gosei Co Ltd | 発光装置 |
US7816769B2 (en) * | 2006-08-28 | 2010-10-19 | Atmel Corporation | Stackable packages for three-dimensional packaging of semiconductor dice |
US7883810B2 (en) * | 2006-11-09 | 2011-02-08 | GM Global Technology Operations LLC | Slow purge for improved water removal, freeze durability, purge energy efficiency and voltage degradation due to shutdown/startup cycling |
JP4343962B2 (ja) * | 2007-01-19 | 2009-10-14 | Okiセミコンダクタ株式会社 | 半導体装置の製造方法及び半導体装置 |
US7923846B2 (en) * | 2007-11-16 | 2011-04-12 | Stats Chippac Ltd. | Integrated circuit package-in-package system with wire-in-film encapsulant |
-
2008
- 2008-03-19 DE DE102008014927A patent/DE102008014927A1/de not_active Withdrawn
-
2009
- 2009-02-11 TW TW098104275A patent/TW200947765A/zh unknown
- 2009-02-19 WO PCT/DE2009/000249 patent/WO2009103283A1/de active Application Filing
- 2009-02-19 EP EP09712047.1A patent/EP2255396B1/de not_active Not-in-force
- 2009-02-19 JP JP2010547042A patent/JP5579080B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2009-02-19 KR KR1020107020192A patent/KR101525638B1/ko not_active IP Right Cessation
- 2009-02-19 CN CN2009801060204A patent/CN101946339B/zh not_active Expired - Fee Related
- 2009-02-19 US US12/918,364 patent/US8790939B2/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP5579080B2 (ja) | 2014-08-27 |
US20110127564A1 (en) | 2011-06-02 |
CN101946339B (zh) | 2012-08-29 |
JP2011512683A (ja) | 2011-04-21 |
EP2255396B1 (de) | 2018-08-29 |
US8790939B2 (en) | 2014-07-29 |
EP2255396A1 (de) | 2010-12-01 |
CN101946339A (zh) | 2011-01-12 |
KR101525638B1 (ko) | 2015-06-03 |
WO2009103283A1 (de) | 2009-08-27 |
DE102008014927A1 (de) | 2009-08-27 |
KR20100127220A (ko) | 2010-12-03 |
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