TW200930996A - Authenticatable mark, systems for preparing and authenticating the mark - Google Patents

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200930996 九、發明說明： 【發明所屬之技術領域】 本發明係關於可鑑別標記，製造可鑑別標記之系統 法及鑑別真實標記且拒絕偽造標記之系統。 【先前技術】 ·. 在商業市場上，存在對在商業物品已製造之時間與其 • t給終端使用者之時間或甚至超過其處置時間之間確立商 業:品之真實性的需要。當物品或其包裝具有身份標記時 ❹ 獲得多種益處，包括跟蹤及追蹤特定物品以確認或否認被 盜挪用或偽造物品及/或其包裝之身份之能力。多種方 法已在其完成之時程内使用；最簡單方法包括多種公開印 刷之識別文本、商標、標識物、符號、影像或其他識別標 誌。常常使用更隱密之識別方法以挫敗非法挪用、偽造或 盜竊具有足夠誘導該等行為之價值之物品。 隱密方法之實例包括微印刷，其中所印刷之符號對未經 輔助之人眼而言太小以至於不能識別；上強加於或下強加 ® &其他影像上方或下方之影像；用登光材料製得之標記， 該等材料可在藉由光源活化後，藉由所發射之可見螢光色 • 識別，或具有可藉由光譜螢光計或更簡單偵測裝置量測之 • 發射波長；全息圖、RFID標籤、經編碼文本、易於藉由諸 如條形碼閱讀器、符號識別閱讀器及其類似物之解碼方法 偵測的標記或符號。 螢光材料已作為用於鑑別物品之標記中的不可見、隱密 標記物而用於安全應用。螢光之顏色及波長以及標記之形 136515.doc 200930996 ^及尺寸係用以驗證物品之真實性β偽造者f試藉由匹配 其形狀、尺寸、顏色、波長及其他區別特徵來複製該標 記。 、 因此，對包含展現可鑑別之特性之標記物的可鑑別標記 存在需要。 亦對製造標s己之系統及方法存在需要。 進步對可靠鑪別標記之系統及方法存在需要。 【發明内容】 本發明之系統鑑別包含複數個標記物之標記。至少一種 能源提供一或多種波長之能量，其刺激標記物以相對波長 为佈之一或多種強度來發射輻射。偵測設備量測相對波長 刀佈之發射強度且提供至少一個相應於相對波長分佈之強 度的輸出信號。裝置包括執行輸出信號之多變量統計分析 以基於量測統計值及預定統計極限及信賴極限來確定標記 之真實性的程式。裝置可為電腦或能夠遵循程式說明之任 何其他類型的機器。 在本發明系統之一實施例中，預定統計信賴極限藉由對 一組已知為真實且相應於標記物之參考標記物之多變量統 5十分析得到’且其中預定統計極限係選自由以下極限組成 之群：Q殘餘極限、馬哈朗諾比斯距離極限（Mahalanobis distance limit)、哈特林T2極限（Hotelling's T2 limit)及其任 何組合。 在本發明系統之一實施例中，標記物係由基板攜帶。 在本發明系統之另一實施例中，複數個標記物包含兩個 136515.doc 200930996 標記物。 在本發明系統之另—實施例中，系統進一步包含告知使 用者標記真實性之輸出裝置。 崎在本發明系統之另—實施例中侦測設備係選自由以下 、成之群.偵測且過濾輸出信號之偵測器，及量測相 對波長分佈之發射強度且提供輸出信號之光譜儀。 在本發明系統之另—實施例中，標記物包含螢光材料。 在本發明系統之另一實施例中，多變量統計分析係選自 由以下分析組成之群：主要組分分析（pCA)及基於其他向 量之統汁技術、判別分析、經典最小平方（CLS)、淨分析 物七號（NAS)、主要組分回歸（pcR)、部分最小平方 (PLS)、類別類比軟獨立模型化（simCA)及多路統計工具， 包括（但不限於）三重線性分解（TLD)、平行因子分析 (PARAFAC)、Tucker模型及多路PCA(MPCA)。 在本發明系統之另一實施例中，能源以選自由以下區域 組成之群之電磁光譜區中之輻射來刺激標記物：X射線、 紫外線（UV)、可見光、近紅外（NIR)、紅外線（IR)及拉曼 (Raman) 〇 在本發明系統之另一實施例中，偵測器偵測所發射之輻 射。濾波器過濾所偵測之輻射且提供至少一個相應於相對 波長分佈之強度之輸出信號。輸出裝置告知使用者標記之 真實性。 本發明之方法鑑別包含複數個標記物之標記。提供一或 多個波長下之能量以刺激標記物以相對波長分佈之一或多 136515.doc -8- 200930996 種強度來發射輪射。偵測 應於相對·波县^ 〈^射。&供至少一個相 71之強度的輸出信號。在裝置上實行鋥 式，該程式執行對輸出信號 =程 統計值且基於量測統計…：變量統6十分析以提供量測 確定標記之真實性。 〃 4固預疋統計信賴極限來 在本發明方法之 一組已知為真實且 計分析得到，且其 之群：Q殘餘極限 限及其任何組合。

—實施例中，預定統計信賴極限藉由對 相應於標記物之參考標記物之多變量統 中預定統計極限係選自由以下極限組成 、馬哈朗諾比斯距離極限、哈特林τ2極 參考標記物已經受天然 標記物係由基板攜帶。 ’標記物包含兩個標記 在本發明方法之另一實施例中， 或人工誘導之老化。 在本發明方法之另-實施例中， 在本發明方法之另—實施例中 物。

在本發明方法之$_杳 ^ 另實施例中’標記物包含選自由以下 釔構組成之群之社構. 7<、.口偁·摻合區、層化區、散佈區及圖案化 區。 在本發明方法$ t 另實施例令，告知使用者標記之真實 性0 在本發明方法$ :¾ _ _ t 右之另實施例中，標記物包含螢光材料。 在本發明方土 、 乃汝之另一實施例中，多變量統計分析係選自 ^ f 77成之群：主要組分分析（pCA)及基於其他向 i H1* & # '判別分析、經典最小平方（cls)、淨分析 136515.doc 200930996 物信號（NAS)、主要組分回歸（PCR)、部分最小平方 (PLS)、類別類比軟獨立模型化（SIMCA)及多路統計工具， 包括（但不限於）三重線性分解（TLD)、平行因子分析 (PARAFAC)、Tucker模型及多路 PCA(MPCA)。 在本發明方法之另一實施例中’使標記物經選自由以下 區域組成之群之電磁光譜區中之輻射刺激：X射線、紫外 線（UV)、可見光、近紅外（NIR)、紅外線（IR)及拉曼。 在本發明方法之另一實施例中，輸出信號藉由將強度分 佈正規化成單位面積來預處理，以補償歸因於標記物離收 集所發射輻射之偵測器的距離導致之信號變化。 在本發明方法之另一實施例中，刺激步驟提供選自由以 下激發組成之群之激發：（a)比標記物之發射短之波長 (λ)、高之能量，及比標記物之發射長之波長（λ)、低之 能量’該等標記物包括反斯托克（anti_stoke)、向上轉化材 料。 本發明之第二方法以包含以下者之步驟將複數個標記物 應用於基板： 照射一系列標記物以在相對於波長分佈之強度下發射輻 射； 1測各標記物之所發射輻射且在電腦記憶體之標記物檔 案中§己錄各標記物之相對波長分佈之輻射強度； 自標記物檔案選擇複數個標記物，該等標記物具有可藉 由該方法區別之相對波長分佈之所發射輻射強度；及 將所選標記物應用於基板。 136515.doc 10 200930996 在本發明之第二方法之一實施， 引起之發射，自由基板及分散介質组成另外基於藉由輕射 記物。 質組成之群選擇複數個標

射在=之第二方法之另-實施例中，其他步驟包含照 板及一系列分散介質，在對各標記物而言發生 =處之波長範圍内量測各基板及各分散介質的所發射 ::射強度分佈，分別在基板槽案及分散介質檔案中記錄 板及各分散介質之所發射輻射強度分佈，且分別自基 板樓案及分散介質槽案選擇基板及分散介質，以便所選標 記物之相龍長分佈之輻射強度可在所選基板及所選分散 介質的所發射之輻射存在下區別。 【實施方式】 本發明之其他目#、優點及特徵將藉由參考以下說明書 連同隨附圖式來理解’纟中相同參考符號表^目同結構元 件。 本發明之鑑別系統及方法勝過上述提供鑑別方法之隱密 方法，其利用稱為多變量統計分析（其在化學中之用途稱 為化學計量學）之化學分析技術以評估及預鑑定由印刷 品、塗層、標誌或其他標記或指定及/或局部化濃度之材 料製得之意義明確的鑑別組’該等材料可在由多種所選活 化刺激活化後發射多種可偵測信號，該等可偵測信號包括 (但不限於）回應於由具有引起榮光反應所需之能級之入射 光或電磁刺激之激發而發射的螢光信號。其他刺激及反應 亦可供該方法使用’例如由多種現象誘導之化學、電學、 136515.doc 200930996 磁性、物理或時間依賴性方法。 用以製造欲鑑別之物品上之識別區的材料經選擇具有足 夠數量及範圍之經刺激及發射之信號，以便使所組合之信 號不可由習知偵測器或光譜方法表徵。對多維信號分佈之 多變量統計分析使使用者能以高信賴度在命名為，，真"或 : "真實”及"假”或”偽造”材料之材料及由其製得之標記之間 ,* 進行區別。多變量統計分析技術通常用以增強複雜化學混 合物之間的分析區別。本發明使用多變量統計分析以出於 ® 提供對物品之安全識別及鑑別之目的來有意製造複雜混合 物’該複雜混合物係以包含複數個標記物及在一實施例中 包含至少兩個標記物之較隹隱密標記形式應用於該物品。 術語"標記物"在本文中用以意謂能夠安置在物品或其包 裝中或上之材料，其視需要預分散於適於該安置之介質 中，當受刺激時，其產生可偵測反應。材料可包含染料、 顏料或具有如上所述之能力之其他化學或物理實體。材料 可另外包含發光化學物質，當藉由光或其他電磁輻射刺激 時’其發射螢光或碌光轄射。刺激則包含入射光，且反應 包含所發射之發光輻射。可用作標記物之材料可包含可購 " 自 Honeywell International, Inc·之 Lumilux® 螢光及碟光材 、 料。可使用之Lumilux®材料包含具有包括以下化學成分之 顏料及染料：酸連氮（aldazine)、鄰胺基苯甲酸、巴比妥酸 (barbituric acid)、苯并咪唑、苯并噁嗪酮、苯并噻唑、香 豆素、萘醢胺、8-經基啥琳鹽（oxinate)、σ比峻<#、喧坐琳 酮、0i:嚇·、水楊酸、對苯二甲酸、嗔嘲（thioxanthene)之有 136515.doc -12- 200930996 機衍生物；稀土金屬螯合物及錯合物；摻雜有過渡金屬及， 或稀土離子之無機化合物，包括鹼金屬、過渡金屬及稀土 金屬之氧化物、硫化物、硫氧化物、矽酸鹽、鎢酸鹽、釩 酸鹽°該等材料之實例包括在1〇1至199、301至399、401 至499、501至599、701至799及UC-2之數值範圍内之 Lumilux® CD產品。 欲债測及定量之信號（例如’由對標記物入射之光或其 他電磁輕射刺激之光或其他電磁輻射之螢光或磷光發射） 可藉由在輻射能量範圍内量測所發射之輻射的強度來偵測 及疋量，其通常表徵為輻射之頻率或波長。分佈可包含跨 越能量範圍之強度之連續信號，或視需要以所選離散間隔 跨越能量範圍之一系列值。該等強度分佈之典型實例包括 由光譜儀產生之光譜，該光譜記錄由激發光源刺激自螢光 材料發射在所發射光頻率或波長之範圍内之光的強度；激 發及發射光譜可類似地使用光譜螢光計來獲得；使用（例 如）石夕4貞測器及光學渡波器之有限陣列之更簡單裝置可視 需要用以量測及記錄在離散頻率或波長範圍内之一系列光 發射強度。 可鑑別標記包含至少兩個標記物，其可以物品、物體或 物件上或内部之離散位置中安置在該物品、物體或物件上 或内部，或女置在物品、物體或物件之整個表面上或體積 中。各標記包含至少兩種提供回應於刺激（諸如電磁輻射） 之可偵測信號的材料。在一些實施例中，標記物包含標記 組合物。在一實施例中，可鑑別基板可藉由將標記物混合 136515.doc 13 200930996 於基板自身内部來產生。在另―杳 在另實施例中，可鑑別標記可 藉由將標記應用或安置於物品、物件之表面及/或物品中 含有之包裝材^可使用各種沈積或印刷方法（包括（但不 限於）平版印刷、膠版㈣、輪轉式凹版㈣、凹版印 刷、噴墨及熱轉移）來達成本發明。 本發明之可鑑別標記具有隱密性（亦即，不易由人眼在 正常環境照明條件下觀察到）、對刺激反應以提供可偵測 信號且難以逆向操縱之優點。此外，可鑑別標記及其性質 不受環境力顯著影響，該等環境力諸如經一定時期曝露於 光、熱、濕氣、空氣、氧、研磨力或已知影響該等材料之 效能之其他常見環境危害。同樣，存在標記物及/或標記 或其效能之足夠變化以便能提供對各用戶或物品類型而言 獨特之標記。另外，當物品事實上為偽造時，在統計上不 會將物品顯著假陽性識別為真實。另外，當物品事實上為 真實時，在統計上不會顯著將物品假陰性識別為偽造。 本發明之鑑別系統包含激發/活化源，其產生自標記之 標記物引發可偵測發射或信號之能量場。視需要，裝置或 系統改良由可鑑別標記提供之信號（例如，將信號轉化成 更可偵測之形式），或降低（或增強）信號之數量、強度或其 他特徵，（例如）以便改良偵測方法效率或成本有效性。偵 測裝置接收、量測且儲存對藉由刺激可鑑別標記引發之信 號之記錄。 本發明之鑑別系統利用包括（但不限於）PCA、部分最小 平方及其類似技術之多變量分析技術來解釋由可鑑別標記 136515.doc -14· 200930996 所提供之信號。PCA技術處理發射信號之重疊，例如光譜 或光譜之子集，且識別提供信號間之最佳區別之最大變= 區。 在藉由欲使用之激發系統活化後，分析來自一組使用標 記物之特定組合及/或排列之真實標記之發射。使用pcA^ : 相當技術界定一系列關聯矩陣中具有可接受度之區域。計 • 算信號之平均值、載荷及計分，且自其產生Q殘餘矩陣°、 馬哈朗諾比斯距離矩陣及/或哈特林T2矩陣，從而提供輸 © 入至偵測裝置之記憶體中之鑑別極限。可隨後使標記經受 能量場，該標記係使用經設計為在可接受度之區域範園内 之標記物組合來製得。藉由系統偵測且評估其發射，以便 向使用者提供指示已驗證真實身份之反應信號。相反地， 未符合鑑別訓練組之標記將由偵測/鑑別系統識別為發射 假信號。 舉例而言’可鑑別標記將在本文中關於對標記物使用螢 • 光材料之例示性實施例加以描述。舉例而言，標記物可適 g 地包含可購自 Honeywell International，Inc.之 Lumilux® 螢光材料。該等材料可包括激發比發射之波長（λ)短、能量 ·· 高之"向下轉化”材料；或視需要包括激發比發射之波長（λ) 、長、能量低之材料，亦即，反斯托克、向上轉化材料。 參考圖1，本發明之標記系統1〇〇鑑定及製造可鑑別物品 110、120或130。可鑑別物品11〇包含由基板114攜帶之可 鑑別標記112。舉例而言，可鑑別標記丨12可安置在基板 114上或中。可鑑別標記112包含層115、116及118。舉例 136515.doc -15· 200930996 而言’層118鄰近於基板114。層116覆蓋層118之全部或部 分。層115覆蓋層116之全部或部分。 基板114、124及134(例如）可為可鑑別物品或其包裝之表 面。 可鑑別物品120包含安置在基板丨24上之可鑑別標記 : 122。可鑑別物品130包含安置在基板134上之可鑑別標記 132 〇 可操作標記系統1 00來量測及記錄對複數個標記物而言 ® 最佳之波長範圍内之強度且自可鑑別標記112、122或132 之所記錄標記物選擇至少兩個標記物及較佳至少三個標記 物。 標記系統1 00包含光譜儀系統140、一或多個光源142、 電腦144、摻合設備146及印刷設備148。電腦144包含處理 器150及記憶體152 »程式180、標記物檔案154、介質檔案 156及基板檔案158儲存於記憶體152中。 當由處理器150實行時，可操作程式180來以複數個在波 ® 長範圍内具有峰值強度之不同標記物填充標記物檔案 154。該量測程序係藉由自入射於標記物16〇之表面上之光 - 源142提供特定波長下之輻射R來執行。舉例而言，光源 ‘ 142可為在365奈米（nm)下藉由使用格柵選擇之；；乂燈。標 記物160回應於輻射R以提供或發射信號Se。光譜儀系統 140捕獲信號Se且量測信號最佳強度出現之波長。信號最 佳強度及波長記錄在標記物檔案154中。對剩餘標記物重 複該程序’其中僅展示標記物162及163。 136515.doc -16- 200930996 亦將輻射R提供至分散介質17〇，該分散介質（例如）可為 所選標記物將分散於其中之墨水或塗佈調配物。信號Sm 係自分散介質170提供且由光譜儀系統14〇記錄。對複數個 不同分散介質而言，類似資料可集合且儲存於介質檔案 156中。複數個標記物160、162及163中每一者之波長之所 量測信號強度可視需要經修改以記錄於標記物檔案i54 中。 另外將輻射R提供至基板114(或124或134)。信號Ss係自 基板114提供且由光譜儀系統140捕獲，該光譜儀系統視需 要修改複數個標記物160、162及163中每一者之波長之信 號強度以記錄於基板檔案158中。 當實行時，程式180亦使處理器15〇另外執行自標記物檔 案154中之所記錄標記物識別（或選擇）具有可區分發射（亦 即’對最佳信號強度而言之不同波長）之標記物。程式18〇 確定該等標記物中之所選標記物與分散墨水介質17〇之相 容性。視需要，程序180確定儲存於介質檔案156中之複數 個分散介質中之何者與所選標記物最相容。程式180確定 所選標記物與基板114之相容性。程式180選擇可與分散介 質170及基板114相容之兩個或兩個以上可區分標記物之 組。圖1中之所選標記物為一組展示為標記物A、B及C之 三個標記物，將其提供至輸出裝置159，諸如顯示器或印 表機。 為製造可鑑別標記112,操作器獲得如由輸出裝置159所 識別之所選標記物A、B及C及分散介質170。將標記物C與 136515.doc 17 200930996

分散介質170在摻合設備146中摻合且經由單組分捧合路徑 172提供至印刷設備U8。印刷設備148將標記物c換合物作 為層118印刷於基板114上。隨後將標記物B與分散介質 在掺合設備146中搀合且經由單組分摻合路徑I?]提供至印 刷設備148。印刷設備148將標記物B摻合物作為層116印刷 於基板114上以覆蓋標記物c之全部或部分。隨後將標記物 A與分散介質170在摻合設備146中摻合且經由單組分換合 路徑172提供至印刷設備148。印刷設備148將標記物a摻合 物作為層115印刷於基板114上以覆蓋標記物6之全部或部 分。 為製造可鑑別標記132，按需要對標記物A、B及c中之

每一者重複上述程序，以供印刷設備148印刷標記物A、B 及C散佈於其中之圖案。應瞭解，圖丨中所示之圖案為實例 且其他圖案為可能的。 為製造可鑑別標記122，將標記物A、B&c在摻合設備 146中與分散介質170摻合且經由多摻合路徑174提供至印 刷設備148。印刷設備148將標記物A、B&c之多組分摻合 物印刷於基板124上。 參考圖2’本發明之鑑別系統2〇〇執行校正（或訓練）及鑑 別操作。鑑別系統200包含一或多個光源2〇2、 一或多個偵 測器204、電腦206及輸出裝置211。輸出裝置2ιι可為任何 適合用戶界面裝置，例如印表機或顯示器。儘管在圖2中 展示三個可鑑別物品11()、⑽及⑽，但舉例而言，鑑別 系統200將在對可鐘別物品UG執行其操作時加以描述。 1365I5.doc 200930996 再參考圖2，藉由光源202，用活化如在標記112處所描 述之可鑑別物品110之A、B及C的輻射R來照明可鑑別物品 110。在一實施例中，輻射r係由具有活化可鑑別物品u〇 之標記物A、B及C之帶寬的單一源提供。在其他實施例 中’輻射R係由處於所關注波長下之分離源提供。亦即， * 一個、兩個或兩個以上來源提供在一種、兩種或兩種以上 .. 波長下之輻射，該輻射活化標記物A、B及C，從而在相同 波長範圍内，自標記物以視需要不同之效率產生信號。在 ❿ 圖2中，λΐ及λ2為許多可能激發波長中之兩種，其各自可 活化所有標記物。 可鑑別物品110發射覆蓋由λ3、λ4、λ5至λη所描述之波 長範圍之信號Se，該波長範圍相應於記錄於圖1中之電腦 144之記憶體中的標記物A、B及C之波長。 包含光譜儀203及偵測器204之光譜儀系統205捕獲信號 Se且將其轉化成提供至電腦206之預處理器208之電信號。 光譜儀203為波長掃描裝置，其能夠分離在包括λ3、λ4、 λ5之波長範圍内之信號。偵測器204可適當地為（但不限於） 光電倍增管、矽PIN光電二極體或inGaAs PIN光電二極 * 體。在一替代實施例中’光譜儀203可由濾波器230置換 ' (圖2)。濾波器230包含（例如）窄帶濾波器232、233及234， 其在一實施例中分別經調諧為波長λ3、λ4及λ5以向偵測器 240提供窄帶或以其他方式經適當定界之信號。偵測器24〇 可為（但不限於）光電倍增管、矽PIN光電二極體或InGaAs PIN光電二極體。/慮波器230亦可包含短通或長通波長截止 136515.doc -19- 200930996 遽波器或陷波濾波器之組合替代窄帶通濾光器或視需要與 乍帶通據光器組合。 電腦206包含處理器207,其實行儲存在記憶體（未圖示） 中之程式209。程式209包含預處理器208、分析軟體21〇、 信賴極限軟體212、校正軟體214及濾波器優化軟體216。 , 電腦206利用分析軟體210，其具有預處理偵測器信號 • 2〇8、執行多變量統計分析210、建立信賴極限212、發展 校正程序214及鑑別物品之能力。分析軟體21〇(例如）可適 © 當地為多變量統計分析軟體。 預處理器208將由偵測器204(或偵測器240)提供之經過 渡信號Se轉化成適於由分析軟體21〇評估之格式。分析軟 體210較佳使用多變量統計分析軟體（例如，可購自 Eigenvector Associates之PLS工具箱）以確定計分、載荷、 因子數及最佳離散量測區。 為校準（或訓練）鐘別系統200 ’將由標記系統1 〇〇製造之 具有不同標記物組合之一系列可鑑別物品中的各物品提交 至光譜儀205且記錄信號。當已量測系列中之最後的可鑑 別物品時’藉由預處理器208預處理信號且藉由分析軟體 - 210以多變量統計分析技術（例如PCA)加以分析以表徵材料 ' 之訓練/校正組之信號且界定可鑑別物品之系列或組中之 可鑑別標記。分析軟體210亦確定適合度統計量，諸如各 物品之Q殘餘值、哈特林T2及馬哈朗諾比斯距離，及其信 賴極限，或其他參數。 分析軟體2 10及校正軟體2 14訓練鑑別系統200(包含光譜 1365I5.doc -20· 200930996 儀系統205及/或濾波器230及偵測器240)以識別系列中之可 鐘別標記。該程序更詳細地描述於下文中。 分析軟體210將系列之真實標記與類似地但以相同或不 同材料之不同摻合物製得之偽造標記或模擬偽造標記相比 較。分析軟體210使用PCA分析及信賴極限軟體212來確定 偽造標記是否落在所指定信賴極限内。落在信賴極限内之 k 6己疋義為真或正品。落在信賴極限外之標記定義為假或 偽造。偽造偵測程序詳細地描述於下文十。經由輸出裝置 211告知使用者真實性測定之結果。 在電腦206上運作之程式209選擇適當波長以在離散波長 下’包括訓練閱讀器相對真實標記來識別偽造者的基於據 波器之閱讀器及方法。程式2〇9主要依賴Pca來自包含標 記之染料或顏料之完全螢光光譜（由光譜儀系統2〇5量測）減 進入可結合偵測器240(圖2) —起使用的適當濾波器中之 由可鑑別標記或偽造標記提供之信號Se。 可用於該鑑別流程中之其他多變量統計分析技術包括 (但不限於）判別分析、CLS、NAS、PLS及SIMCA。若包括 多次激發及如螢光壽命、提昇螢光、χ射線信號或其他物 理性質之其他物理效應，則可使用多路統計工具。該等工 具包括（但不限於）TLD、PARAFAC及MPCA。 爾使用基於濾波器之裝置230時，須選擇對可鑑別標記 系列具有最佳波長之濾波器232、233及234。對使用n個濾 波器之裝置而§，自由標記系統1〇〇顯現用於可鑑別標記 系列之標記物中所用之材料選擇種或更少之螢光顏料 136515.doc •21- 200930996 及/或染料。其可藉由執行因 〜1 U卞貫驗，使用一系列標記中 之早及/或混合標記物來實現。 實财所用之所有樣本之完全光譜係在適當光譜儀系統 140(圖1)及205(圖2)上量測。在執行pcA之前藉由將各 光譜正規化成單位面積，接著取平均中心值 centering)來預處理光譜信號。正規化成單位面積可用以補 償歸因於樣本離偵測器之距離導致之信號變化。隨後分析 軟體21〇執行對各樣本之資料、計算計分、載荷及特徵值 及各種統計值及用於評估校正之相應統計極限之完全光譜 PCA分析。 分析軟體210及濾波器優化軟體216基於pca載荷最大值 及/或最小值來選擇濾波器232、233及234。濾波器數量比 經由各種統計參數（例如，Q殘餘值等）在真實樣本與偽造 樣本之間發展足夠區別所需之組分數量至少多一個。 鑑別系統200之基於濾波器之部分藉由量測相同樣本組 之離散（或基於遽波器）光譜來訓練。分析軟體2 1 〇藉由將對 各標記所捕獲之遽波器信號正規化成單位面積，接著將資 料組取平均中心值且藉由使用對離散過濾資料之PCA分析 以计算特徵值、載荷及計分來預處理。信賴極限軟體212 使用該等統計值以計算標記之適當統計極限，在較佳實施 例中’其為如下文所定義之Q殘餘極限、馬哈朗諾比斯極 限或哈特林T2極限。將PCA載荷、特徵值及所需統計極限 輸入適用於鑑別標靶或未知標記之鑑別系統2〇〇中。現訓 練鑑別系統200且備用於鑑別安全標記。 136515.doc -22- 200930996 未知標記之真實性藉由使用受ι練之鑑別系统2〇〇量測 且分析未知標記來確定。以與在裝置2〇〇之校正中所執行 相同之方式預處理輸入信號Se。將經過滤信號^正規化成 單位信號強度，接著使用自校正資料產生之平均光譜來取 平均中，d電腦2G6計算未知標記之適當統計值且將其 與用於鑑別之所儲存之統計極限相比較。 舉例而言，馬哈朗諾比斯距離（〇2)係基於下式計算：

在等式⑴中’ X為未知標記之平均中心化光譜，m為校 正中所用之光譜數，且（(心/㈣）).,為儲存於裝置中之訓 練組之逆協方差矩陣。上標τ表示矩陣轉置操作因子。可 將馬哈朗諾比斯距離與儲存於裝置中且用以確定樣本真實 性之相應極限相比較。馬哈朗諾比斯距離極限係、自以下等 式計算： 2 D n，m，a=n(m-l)/(m-n)Fn,m-n a， ⑺ 其中D2n’m’ $統計極限’ n為攄波器數’瓜為訓練組中之樣 本數且F係取自（l-a)百分位之ρ分佈表。 其他統計參數可用於基於樣本之訓練組來確定真實性。 Q殘餘統計值係使用基於下式之校正模型來計算： Q=x(I-PkpkT)xT， (3) 其中Q為所計算之殘餘值，X為未知標記之平均中心化光 譜’ I為（nxn)單位矩P車，且匕為保留在用於訓練資料（參見 圖2中之214)之校正模型中之（kxn)載荷矩$。上標τ表示矩 陣轉置操作因子。該（ηχη)矩陣係儲存於電腦2〇6中。 136515.doc •23- 200930996 儲存於電腦206中之統計Q極限（Qnm)自下式計算： Qn^e^c^Oiho^^Vei + j + ezhoCho-l)/®!2]17110 » (4) 其中 ; i=i、2、3 ; j=k+l 至 η， (5) \表示模型特徵值，且 ^=1-20^/3022。 ⑹ 在等式4中’〜為相應於（1_α)百分位之標準正態偏離。 ❹

在等式5中’k為用以§十算Q殘餘值之主要組分之數量（模型 中之主要組分數量）。 哈特林τ2統計值及相應極限分別由等式（7)及（8)來 算： ° (7) (8)

T2=xPkr 丨 PkTxT T2k,m,a=[k(m-l)/(m-k)]Fk>In.k)a , 其中x、Pk、上標T、m、k&a定義於上文且F係取自統計 分佈表。 特定標記之鐘別係藉由將樣本統計值與相應統計極限相 比較來確定。舉例而言’若馬哈朗諾比斯距離大於馬哈朗 諾比斯距離極限，則躲安全性標記視為偽造的。若馬哈 朗諾比斯距離小於或等於馬哈朗諾比斯距離極限，則其視 為真實的右Q殘餘值大於Q殘餘極限，則標乾安 全性標記視為偽造的。若T2大於T2極限，則㈣安全性標 記視為偽造的殘餘距離小於或等於Q殘餘距離極 限，則2標把安全性標記視為有效或真實的。當使用Q殘餘 值及T時，樣本僅當兩個條件均適㈣（亦即，賊餘值小 136515.doc -24· 200930996 於或等於Q殘餘極限且T2小於或等於T2極限）視為真實的》 使用本發明之標記系統100及鑑別系統200之實例陳述於 下文中。典型多標記物系統包含三個包含選自Lumilux® CD 材料301、310、318、320、328、329、382、394、 401、418、710、728及729之水楊酸及鄰胺基苯甲酸衍生 物之標記物。 實例（1) 如上文所定義之呈精細粉末形式之6種標記物材料係用

以製造呈透明平版印墨之墨水樣本。材料各具有極少體色 或不具有鱧色，由長波長紫外光活化，且在活化後，發射 處於不同可見光波長下之可藉由A譜螢光計或類似债測裝 置量測之可見螢光，如藉由未經輔助之人眼所觀察，產生 不同螢光色’ A亦可藉由測定比色指數座標（諸如⑽或 L*a*b)加以表徵。藉由在剪切力下併人藉由…重量％之 各粉末刮人透明墨水中，將墨水單獨用各材料調配。以該 方式製造之墨水對淺黃色基本透明，且在所列印形式下， 展現最小可觀察自然色。亦用榮光材料之1:1混合物製造 額外墨水。 隨後，用 實驗室印表機將所調配墨水應用於一系列 平版印刷品中，1中久路伞^^丨.丨 -甲各螢先色材料單獨列印於個別印刷品 中’且將其與來自製造組夕撕，理# 夕 、所選其他墨水以彼此呈頂置式 夕層之方式組合於具有極少 A ^ , F听欲螢光發射之白色卡片紙 料土板上。用具有兩種材 為"真實的"，且具右“製付之印刷品各命名 具有兩種額外材科之一組印刷品命名為 1365I5.doc -25· 200930996 "偽造的"。逐對印刷上覆層由成對"真實”及"偽造”墨水之 各組合以及包含螢光材料對之丨：1混合物之墨水之印刷品 來製得。選擇具有與其他"真實"及"偽造"對之彼等顏色類 似之淨發射顏色的材料對。 隨後將印刷品組分成子集以供利用^^乂光、濕氣及熱之 ! 加速環境激發測試用。隨後藉由經由使用365 rim UV發光 : 一極體之光纖通道進行激發來測試全組所得對照及經老化 "真實"及"偽造"印刷品，且使用附接之光譜儀量測波長依 © 賴性螢光發射強度。將光譜轉化成處於指定波長間隔下之 電子強度值，且使該等資料經受使用多變量統計技術之分 析（包括測定載荷因子、Q殘餘值及馬哈朗諾比斯距離）。 使用"真實"資料組於製造訓練組’可針對其量測其他,, 真實"組及，，偽造”組。，，真實"資料保持在如由訓練組所界定 之Q殘餘值及馬哈朗諾比斯距離極限内，且所有三組印刷 組合可易於彼此區別（包括與來自人工老化印刷品之資料 區別，該等資料展現參數空間中指示環境誘導之改變但在 右干真實及傷造"資料組之間保持不同之向量）。參見圖 3及4。 - 自兩個"真實"資料組中之一者之完全光譜建立主要組分 - 模型。該模型產生使用（4)之離散波長數及指示使用43〇、 482、523及53 8 nm之波長之光譜載荷。 圖3展示前兩個載荷為該模型之主要貢獻者。選擇相應 於各載荷之最大值及最小值之濾波器波長。組合4種波長 之離散資料且藉由主要組分方法再分析，產生特徵值、載 136515.doc -26- 200930996 荷、樣本統計值（Μ距離、Q殘餘值）及相應統計極限。該離 散模型現可用以分析其他樣本組。 圖4展示"真實”樣本（菱形706)周圍之離群值極限Q_Res 702及M-Dis極限704，其中”偽造"樣本（正方形7〇6)全部處 於該等極限外部。 : 該資料組展示藉由該方法在使用4種波長之不同發射材 ； 料的風化混合物之間獲得之區別。現計算將觸發"真實"或 "偽造"信號之簡單值所需的僅為具有用於得自多變量統計 © 分析及少數常數之簡單矩陣之記憶體的裝置。 實例（2) 使用一對來自實例（1)之"真實，，材料製造一組印刷品，其 中墨水係如前所述製造，但均為各個別墨水之印刷品之！ 重量％及2重量％，且一組上覆層使用一至兩個各自在彼此 上方及下方具有若干濃度之各墨水，此產生在整個自第一 材料之色空間附近至第二材料之色空間附近之CIE色空間 參範圍内之長波長UV刺激螢光發射。參見圖5中之菱形符號 5〇2。使用由來自實例（1)之其他材料製得之墨水製得任意 命名為”偽造"之另一更有限印刷品組，該等墨水以上覆方 式調配且置放以產生具有密切匹配在•，真實"組之任意靶向 •區中觀察到及/或對其計算之彼等座標的CIE色彩座標之發 射螢光。參見圖5中之正方形符號5〇4。 使用如實例（1)中所述之偵測器量測樣本之光譜；記錄 偽U樣本之螢光強度及CIE座標且與如上所述之”真實" 印刷扣之彼等強度及CIE座標相比較。樣本螢光之色彩座 136515.doc -27· 200930996 標及視覺外觀對未經輔助之人眼而言不可有效區別。"真 實"及"偽造"樣本之原始光譜展示於圖6及7中，且基線校 正、正規化光譜展示於圖8中。 使用PCA技術，計算相應於各印刷品之校正光譜之各種 主要組分的計分且以三維形式（PCI、PC2及PC3)繪示於圖 ! 9中。具有大的Z軸值之圖9中之資料點1402及1404代表所 ： 命名之"偽造”印刷品。展示於圖10中之樣本統計圖指示， 真實點全部落在由PCA模型界定之Q殘餘極限下方且偽造 © 點全部落在Q殘餘極限上方》 參考圖10，Q殘餘值及哈特林T2統計值及相應極限之圖 適用於偵測離群值或偽造品。該等統計參數由等式（3)及 (3a)給出。該等統計值描述任何資料點配合校正模型之程 度如何。使用圖9作為實例’真實樣本限於三維空間中之 平面上的區域。Q殘餘值描述任何樣本在該平面上方或下 方多遠。當Q殘餘值大於Q殘餘極限時，樣本為離群值（亦 ❸即，不配合校正模型）且命名為偽造品。其指示不同於真 實樣本之標記物正被混合在一起。當樣本之T2大於T2極限 時，樣本亦為離群值（亦即，不配合校正模型）且命名為偽 造017。其和示偽造品相應於真實組中所用之相同標記物之 ' 混合物，但在混合物中具有不同於訓練組之相對量。 實例（3)

將具有稀土材料之一系列12個樣本塗佈於薄膜上，該等 稀土材料具有已知Χ射線螢光發射。含有可變量之含Eu、 Tb及Gd化合物之該等樣本視為"真實的"且用以訓練基於X 136515.doc -28- 200930996 射線螢光之裝置。以相同方式製造4個額外樣本，其例外 為其除Eu、Tb&Gd外其亦含有具有另一X射線螢光元素之 化cr物》該等樣本視為"偽造"樣本。出於證明對X射線螢 光之該應用的目的，後者樣本構成測試組。將含有Tb及Eu 基化合物之樣本（亦即，”真實樣本"）添加至測試組中。在 適當波長下，量測各樣本之乂射線螢光光譜。真實組之χ 射線螢光之PCΑ用以設定Q殘餘值及哈特林τ2之極限。使 用測試樣本δ平估PCΑ模型。圖11展示q殘餘值相對τ2及統 計極限之圖。4個含有額外稀土元素之樣本識別為偽造 的。剩餘測試樣本識別為真實的（在99.9%極限内）。該實 例e明使用不同技術（亦即父射線螢光）在真實材料及偽造 材料之間區別之能力。 實例（4) 一系列具有不同可見螢光發射最大值2UV可激發材料 係識別為適於製造一組可容易地藉由本發明之技術區別之 摻合物。有具有類似或相同CIE座標之螢光發射之材料的 摻合物為如何識別適於該方法之摻合物之一實例。該等材 料中之三者之摻合物組在透明平版印墨中製造且印刷品 由純組分墨水及墨水摻合物製得。使用設定為365 ^爪之 UV實驗室燈激發含有活性標記物摻合物之印刷品，且使 用實驗室光譜儀取螢光發射之光譜。最初，將純組分標記 墨水之凡全光譜傳輸至計算系統，其中計算出一系列模擬 摻合物組成及其發射光譜，且使用多變量統計分析軟體系 統評估該等光譜以確定PCA計分、載荷及特徵值。自载荷 136515.doc -29- 200930996 最大值’選擇濾波器之最佳組（濾波器至少比標記物之數 量多一個）以用以定界離散數量之信號之螢光發射光譜， 該等信號係作為偵測器對經由各個別濾波器傳輸之發射之 反應來量測。隨後將模擬濾波器重疊於掺合物之模擬及實 際完全光譜上以獲得模擬離散光譜。

❹ 將該等光譜提交至完全PC A分析以確定各摻合物之Q殘 餘值及哈特林T2值，且自摻合物之適當組確定該等參數之 95%、99%及99,9%信賴極限。經驗證，模擬摻合物光譜可 易於與自替代標記物材料之純印刷值模擬之替代摻合物光 譜區別。獲得一組滿足先前所確定之截止標準之四個帶通 渡波器且各別地部署以截取傳輸至亦配備有365 nm UV發 光二極體之偵測裝置中之四個光受體二極體之光信號。隨 後使由"真實"材料及命名為”偽造"材料之摻合物製得之印 刷品經受鑑別裝置之詢問，使用先前所述之多變量統計分 析軟體系統評估離散輸出值，且如圖12中所述，發現"真 實"組可與遠超過99.9%信賴極限之"激發"組區別。 實例（5) 系列具有不同可見螢光發射最大值之UV可激發材料 識別為適於製造一組可容易地藉由本發明之技術區別之摻 〇物。含有具有類似或相同CIE座標之螢光發射之材料的 摻合物為如何識別適於該方法之摻合物之一實例。該等材 料中之三者之摻合物組在透明平版印墨中製造，且印刷品 係由純組分墨水及墨水摻合物製得。使用連續設定為 nm、302 nm&254 11„1之1；¥實驗室燈激發含有活性標記物 I36515.doc 200930996 :合物之印刷品’且使用實驗室光譜儀取螢光發射之光 省。將純組分標記墨水之完全光譜傳輸至計算系統，其中 計算出一系列模擬摻合物組成及其發射光譜，且使用多、變 量統計分析軟體系統評估該等光譜以確定PCA計分、 及特徵值。 將單獨不同波長活化光譜提交至完全PCA分析以確定各 ，合物之Q殘餘值及哈特林丁2值，且自接合物之適當組確 定該等參數之95%、99%及99.9%信賴極限。經驗證模擬 摻合物光譜可與自替代標記物材料之純印刷值模擬之替代 摻合物光譜區別，其中95%特徵值（定義為參數值與95%信 賴極限之比率）為100,000之數量級。在所有三種波長下活 化之經組合摻合物組之其他多變量統計分析評估展示"真 實與”偽造”摻合物之間的為許多數量級之特徵值區別之 改良圖13及丨4展示樣本之Q殘餘值及哈特林T2之圖。 實例（6) 一組印刷品係由以與實例5中所述類似之方式，使用不 同系列之三種UV可激發材料製造之墨水摻合物製得。摻 合物之CIE色空間圖展示於圖15中。使用設定為365 nm之 UV實驗室燈激發含有活性標記物摻合物之印刷品，且使 用實驗室光譜儀取螢光發射之光譜。 自真實"資料組之完全光譜建立PCA模型。完全光譜模 型資料之Q殘餘值/T2分析之圖解描述展示於圖16中；測試 印刷品完全落在99.9%信賴極限外，證實使用完全光譜資 料以在"真實"及"偽造”樣本之間區別之能力。 136515.doc -31 · 200930996 基於光譜載荷，使用完全光譜模型來產生使用（4)之離 散波長數及最佳濾波器波長（460、500、530及580 nm)。 製造偵測器總成，其含有365 nm激發發光二極體、四個具 有上文確定之波長之濾波器’改良自受激發樣本發射之光 且入射於在内之光受體二極體上。 - 記錄代表四個經過濾偵測器通道中每一者之光強度的電 ； 壓’且將資料編譯成可藉由多變量統計分析軟體定址之格 式’包括就信號總和將資料正規化至100%。離散電壓資 ® 料之Q殘餘值/T2分析之圖解描述展示於圖17中；測試印刷 品落在99_9%信賴極限外，展示使用濾波器定界離散資料 來在''真實"及"偽造"樣本之間區別之能力。 使用命名為·•偽造"印刷品中之一者來研究印刷樣本與偵 測器之間的距離對正規化資料之可變性的影響，其可影響 將”偽造”印刷品與"真實"印刷品區別之方法的能力。圖18 展示在各種量測距離及儀器預熱時間下，未經正規化之電 @ 壓資料之發射電壓相對濾波器波長之圖。該圖揭示資料之 寬泛變化。資料之正規化及pCA分析後，將不同距離下之 量測之Q殘餘值及T2值與對在特定距離下之模型獲得之值 • 及極限相比較，如圖19中所示。該圖展示，將偽造品與真 ·. 實樣本分離之能力不受量測中之距離變化影響。 本發明因此已在特別參考其較佳形式之情況下描述，顯 然，在不悖離如隨附申請專利範圍中所定義之本發明之主 旨及範疇之情況下，可在其中進行各種改變及修改。 【圖式簡單說明】 136515.doc -32· 200930996 圖1為本發明之標記系統之方塊圖； 圖2為本發明之鑑別系統之方塊圖； 圖3為經實例（1)之平均光譜上覆之載荷譜圖； 圖4為實例（1)之離群值圖； 圖5為實例（2)之CIE圖； 圖6為實例（2)之真實光譜之訓練組的圖； 圖7為實例（2)之激發光譜之測試組的圖； 圖8為圖6及7之光譜之基線校正圖；

圖9為實例（2)之三維計分圖； 圖10為實例（2)之Q殘餘值相對哈特林丁2之圖； 圖11為實例（3)之Q殘餘值相對哈特林τ2之圖； 圖12為實例（4)之Q殘餘值相對哈特林τ2之圖； 圖13及14為實例（5)之Q殘餘值相對哈特林T2之圖； 圖I5為實例（6)之CIE圖； 圖16及17為實例（6)之Q殘餘值相對哈特林T2之圖； 圖18為實例（6)之未經正規化離散譜之圖；且 圖19為實例（6)之Q殘餘值相對哈特林T2之圖。 【主要元件符號說明】 110 、 120 、 130 112 、 122 、 132 114 、 124 、 134 115 、 116 、 118 可鑑別物品 可鑑別標記 基板 層 140 142 ' 202 光譜儀系統 光源 136515.doc •33- 200930996 144 、 206 146 148 150 、 207 152 . 154 156 158 . 159 160 、 162 、 163 170

180 、 209 203 204 205 ' 240 208 210 211 212 214 216 230 232 > 233 ' 234 電腦 摻合設備 印刷設備 處理器 記憶體 標記物檔案 介質檔案 基板檔案 輸出裝置 標記物 分散介質 程式 光譜儀 偵測器 偵測器 預處理器 分析軟體 輸出裝置 信賴極限軟體 校正軟體 濾波器優化軟體 裝置 濾波器 136515.doc •34-

Claims (1)

1. 200930996 十、申請專利範圍： 種用於鑑別包含複數個標記物之標記之系統，該系統 包含： 至夕一個提供至少一波長下之能量之能源，其刺激該 等^ °己物以相對波長分佈之至少一強度來發射輻射； 偵測a備’其經配置以量測該相對波長分佈之發射強 度且提供至少—個相應⑨該相肖波長分佈之發射強度的 輸出信號；及 匕括執行對該輸出信號之多變量統計分析以基於量測 統计值及預疋統計信賴極限來確定該標記之真實性的程 式之裝置。 2. /求項1之系統，其中該預定統計信賴極限係藉由對 夕、且已知為真實且相應於該等標記物之參考標記物之該 多變量統計分㈣到’且其中該預定統計極限係選自由 以下極限組成之群·· Q殘餘極限（Q-residual limit)、馬哈 2 匕斯距離極限（Mahalanobis distance limit)、哈特林 3. T2極限（H°te11一 T2limit)及其任何組合。 如凊求項1之系統，其中該等標記物係由基板攜帶。 如請求項1夕I μ u HI糸統，其中該複數個標記物包含兩個標記 物。 5_如請求項1夕备 項1之系統，其進一步包含告知使用者該標記之 真實性之輸出裝置。 6.如請求項丨夕^ 、1 11糸統，其中該偵測設備係選自由以下設備 組成之群：偵測且過濾該輸出信號之偵測器及量測該 136515.doc 200930996 相對波長分佈之發射強度且提供該輸出信號之光譜儀。 7. 如請求項丨之系統，其中該等標記物包含螢光材料。 8. 如請求項1之系統，其中該多變量統計分析係選自由以 下分析組成之群：主要組分分析及基於其他向量之統計 技術、判別分析、經典最小平方、淨分析物信號、主要 ·· 組分回歸、部分最小平方、類別類比軟獨立模型化，及 . 多路統計工具，其包括（但不限於）三重線性分解、平行 因子分析、Tucker模型及多路主要組分分析。 ® 9.如請求項1之系統，其中該能源以選自由以下區域組成 之群之電磁光譜區中的輻射來刺激該等標記物：χ射 線、紫外線、可見光、近紅外、紅外線及拉曼 (Raman) ° 10. —種用於鑑別包含複數個標記物之標記之系統，該系統 包含： 至少一個提供至少一波長下之能量之能源，其刺激該 等標記物以相對波長分佈之至少一強度來發射輻射； ® 偵測該所發射輻射之偵測器； 過濾器’其過濾該所偵測之輻射且提供至少一個相應 ” 於該相對波長分佈之發射強度之輸出信號； - 包括執行對該輸出信號之多變量統計分析以提供量測 統計值且基於該量測統計值及至少一個預定統計信賴極 限來確定該標記之真實性的程式之裝置；及 告知使用者該真實性之輸出裝置。 11 · 一種用於鑑別包含複數個標記物之標記之方法，該方法 136515.doc 200930996 包含： 提供至少一波長下之能量以刺激該等標記物以相對波 長分佈之至少一強度來發射輻射； 偵測該所發射之輻射且提供至少一個相應於該相對波 長分佈之發射強度之輸出信號；及

   ❷ 在裝置上執行對該輸出信號進行多變量統計分析以提 供量測統計值且基於該量測統計值及至少一個預定統計 信賴極限來確定該標記之真實性的程式。 ° 12.如請求項丨丨之方法’其中該預定統計信賴極限係藉由對 -組已知為真實且相應於該等標記物之參考標記物之該 多變量統4刀析彳寸到，且其巾該預定統計極限係、選自由 以下極限組成之群：賊餘極限、馬哈朗諾比斯距離極 限、哈特林Τ1極限及其任何組合。 胃夂項12之方法’其中該等參考標記物已經受天然或 人工誘導老化。 14. 如請求項丨丨之方法 15. 如凊求項I〗之方法 16. 如請求項丨丨之方法 構組成之群之結構 區0 其中該等標記物係由基板攜帶。 八中該等標記物包含兩個標記物。 其中該等標記物包含選自由以下結 推合區、層化區、散佈區及圖案化 18. 19. 如請求項11之方法， 如请求項11之方法， 其中該等標記物包含螢光材料。 其中該多變量統計分析係選自由以 136515.doc 1 M。 丹進一步包含告知使用者該真實 200930996 下分析組成之群：主要組分分析及基於其他向量之統計 技術、判別分析、經典最小平方、淨分析物信號、主要 組分回歸、部分最小平方、類別類比軟獨立模型化，及 多路統計工具，其包括（但不限於）三重線性分解、平行 因子分析、Tucker模型及多路主要組分分析。 *· 20.如請求項Π之方法，其中該等標記物係以選自由以下區 - 域組成之群之電磁光譜區中的輻射加以刺激·· X射線、 紫外線、可見光、近紅外、紅外線及拉曼。 _ 21.如叼求項11之方法’其進-步包含藉由將該相對波長分 佈之強度正規化成單位面積來預處理該輸出信號，以補 償歸因於該等標記物距偵測該所發射輻射之偵測器的距 離所導致之信號變化。 22. 如請求項11之方法，其中該刺激步驟提供選自由以下激 發組成之群之激發：（a)比該等標記物之發射短之波長 (λ)、尚之能量，及（b)比該等標記物之發射長之波長 (λ)、低之能量。 23. —種將複數個標記物應用於基板之方法，其包含： 照射一系列標記物以在相對於波長分佈之強度下發射 *· 輻射； 量測該等標記物中每一者之該所發射輻射且在電腦記 憶體之標記物標案中記錄該等標記物中每一者之相對波 長分佈之輻射強度； 自該等標記物檔案選擇複數個具有可藉由該方法區別 之相對波長分佈之所發射輻射強度的標記物；及 136515.doc 200930996 將該等所選標記物應用於該基板》 24. 如請求項23之方法，其中另外基於由來自由該基板及分 散介質組成之群之輻射所引起之發射選擇該複數個標記 物。 25. 如請求項24之方法，其進一步包含照射一系列基板及一 - 系列分散介質’在該等標記物中每一者發生該發射之波 • 長範圍内量測該等基板中每一者及該等分散介質中每一 者之所發射輻射強度分佈，分別在基板檔案及分散介質 ® 檔案中記錄該等基板中每一者及該等分散介質中每一者 之該所發射輻射強度分佈，及分別自該基板檔案及該分 散介質擋案選擇該基板及該分傲介質，以致該等所選標 記物之該相對波長分佈之輻射強度可在該所選基板及該 所選分散介質的該所發射輻射存在下區別。 136515.doc