TW200900675A - Sampling method and sampling facility - Google Patents

Description

200900675 九、發明說明： 【發明所屬之技術領域】 本發明，将關认 析用試樣進行鋼精鍊所使用之回收原料之分 取樣方法及取樣設備。 【先前技術】 近年來，將金屬加工、 之金屬殘㈣由使用過電子材科製程所產生 精鍊等之原料（回收屑私、 η千活用作為銅 金屬之回收。原科），促進資源之有效活用與有價 於銅精鍊，前述回收原料，係直接地或進行 後被供給於自溶爐或旋轉爐（ps轉㈣）。 專之 另外，在銅精鍊中，由於以回收有價金 二亍蹲買’故有將取得之回收原料全部取樣及調製試料，： 確地分析成為買賣對象之有價金屬之含有率之必^ 干了 =，專利文獻】中，在回收原料處理裝置方面係揭 :了 收原料自動取樣之取樣裝置。該取樣裝置，^ 參照圖7及圖8說明，則如下所述。 :樣裝置200,係被設於回收原料處理 原料處理裝置_，係具備將回收原料R收容之料斗ιι〇 初級切斷物給料機12G、第1排“輸㈣13()、第2紐 出用輸送帶140。 辨 初級切斷物給料機12〇,係具備將被設於料斗⑽ 複螺桿等試料拆解機構（解碎機）ΐ2ι、與切斷物輸送帶 200900675 122，並將50〜I50mmxi00mm之回你居企， 席料以切斷物輸送帶 122移送往第i排出用輸送帶13〇。 Μ’ 取樣裝置200，係具備機能為第1 物給料機150、與機能為第2回收部之取樣各;=人級切斷 次級切斷物給料機150,係具備回收盒皿:及搬送帶 1 53。次級切斷物給料機丨5〇，係 如& 竹溉。又疋為在圖7及圖8可 在前頭X方向移動’接收由切斷物用輪送帶122 出用輸送帶130落下之粉碎後回收原料r。 如此之方式被粉碎之回收原料R，係於搬送帶i53被 於取樣裝£ 被取樣。取樣裝置·，係具備 被^為可往在圖8之箭頭γ方向移動之取樣盒210,接 收來自搬送帶153之粉碎後之回收原料r。 〔專利文獻1〕 特開2003-106948號公報 【發明内容】 匕之方式，在上述專利文獻丨所記載之取樣裝置 2⑻，係被設定為在取樣盒21〇採取（取樣）被粉碎成為 既定大小之时原料之構成。另外，在取樣200被取 °收原料’其大小’如上述所理解般，被設定為50〜 150mmxl〇〇mm。 本發明人等，針對於含有Cu、Au、Ag、Pt、Pd之回 收原料之刀析中’特別《’針對於尚未被粉碎之印刷基板 等之回收原料中’應將取樣尺寸粉碎設定於何種程度之大 200900675 討。另：正確地把握其後之有價物含有率之分析進行檢 收々料之於本舍明人等對於用以高效率地得到該尺寸之回 收原枓之粉碎方法進行了檢討。 被人等多次研究實驗之結果發現，特別是，尚未 刷基板等之回收原料，為了進行可正確地掌握 (、:：3有率之分析，其有效之尺寸係大小為30画以下 (通過網眼大小3〇x3〇mm Α 9Λ 之篩之大小），較佳為被設定 為 mm以下此點；以及， 回收原料之粉碎分2 m ^如此之回收原料，將 &又進仃，亦即，在初級粉碎進行粗 如件，其後進行用以得到既宏 f. m 侍幻既疋之大小之原料之次級粉碎此 ....，乃為了進行高效率取樣之重點所在。 本發明，係基於本發明人等之新穎知識者。 亦即’本發明之目的，係趄 入古 係如仏一種可對於在銅精鍊所 使用之含有 Cu、Au、Ag、pt、„ 揭、隹m § Pt Pd之回收原料之分析用試 樣進灯有效率地取樣之取樣方法及取樣設備。 【實施方式】 上述目的可由本發明之败禅 汁 β之取#方法及取樣設備所達成。 間而言之’依據本發明之第—能 ^ 《樣，提供—種採取在 鍊所用之分析用試樣之取樣方法， 程· /、特徵為，包含下述製 (A) 將未粉碎之回收原粗 枓糟由初級破碎機粉碎成為 約50mm程度之大小製成初級破碎物，接著， 為 (B) 將在前述製程（a)所俨 所侍到之初級破碎物藉由次 200900675 級破碎機粉碎成為40mm以下之大小製成次級破碎物， (c)將在則述製程（B)所得到之次級破碎物過篩， 大於30mm之次級破碎物，係返回前述製程（b)作進一 步米刀碎，採取大小為3Gmm以下之破碎物作為試樣。 依據本發明之第二態樣’在用以採取在銅精鍊所使用 之回收原料之分析用試樣之取樣設備巾，具有：收容未被 粉碎之时原料之料斗；被配置賴接於前述料斗，用以 將來自刚述料斗之回收原料粗粉碎成為約5〇匪程度之大 小之初級破碎物之初級破碎機；用以將前述初級破碎物粉 '為mm以下之大小之次級破碎物之次級破碎機；被 配：於前述初級破碎機與前述次級破碎機之間，用以將藉 ⑴W初、、及破碎機被粗粉碎之前述初級破碎物冑送往前述 2破碎機之f ^送用輸送帶；將前述次級破碎物，筛 t為3〇馳以下之大小之破碎物與大於3。匪之破碎物之 =被配置於前述次級破碎機與前述保之間，用以將藉由 則述次級破碎機被粉辟之許 9 ,达久級破碎物搬送往前述篩第 般送用輸送帶；被配置於前述 引述師與别述第1搬送用輸送 / 了使由前述篩所筛選之大於3〇紐之破碎物返 '关'以級破碎機，用以將前述破碎物移送至前㈣丄搬 廷用輪送帶之第3搬送用輸送《t · 選 ▼，用以採取由前述篩所篩 置。 人級破碎物作為試樣之取樣裝 根據本發明之一實施態榫，a 粉碎機，„ 則述初級破碎機係雙轴式 機剛述次級破碎機係單軸式粉碎機。 8 200900675 依據本發明之其他之實施態樣，前述筛，係振動筛。 依據本發明之其他之實施態樣，前述回收原料，係 有MJ基板、金銀逢、電氣零件屑、或鑛屬之至少—者、。 依據本發明之其他之實施態樣，該取樣裝置，係具有： 被配置於該振動篩之下方部’接收藉由該振動篩所篩 選之30mm以下大小之破碎物之搬送帶；與 接收由該搬送帶所搬送之被粉碎成為3〇匪以下之破 碎物’並採取作為試樣之取樣盒。 根據本發明，可對在銅精鍊使用之含Cu、AU、Ag、Pt、

Pd之回收原料（例如未被粉碎之印刷基板）有效率地粉碎至 刀析上有效尺寸並作為試樣而採取。 實施例1 以下’參照圖式進-步詳細説明本發明之取樣方法（亦 即’在銅精鍊所使用之+ Cu、Au、Ag、Pt、Pd之回收原 料之々析用試樣之取樣方法）以及取樣設備。 、圖1’係表示本發明之取樣方法之一實施例之概略構 成之流程圖。 首先，參照圖針對本實施例之取樣方法作説明。 依據本實施例之取樣方法，將以軟容器袋（flexible ntainer bag)等所搬入之例如從使用過之電子機器等取出 之印刷基板等之未被粉碎回收原藉由吊車裝人初級破 碎機，藉由初級破碎機粉碎成為約5〇mm程度（亦即通常為 1 〇mm〜1 〇〇mm)之大小（粗粉碎）（製程（a))。 在本說明書（及申請專利範圍），破碎物之「大小」， 9 200900675 係意指破碎物通過既定之網眼大小之筛之大小。例如，破

碎物之大小5 0 m m，後立4t A 併…邑4日破碎物通過網眼大小50x50mm 之篩之大小。 就初、，及破碎機而言，適當地使用雙轴式粉碎機。此乃 基於破碎之力道大、刀心固之理由。 ?、、又軸式私碎機而言，例如，可使用久保田股份有限 么司裝=「型號ΚΤ42Η (商品名）」（處理能力5谓）。 、著被粗柘_之初級破碎物，係藉由次級破碎機粉 碎成為40mm以下夕士，丨、士 & L ,, 卜 < 大小成為次級破碎物（製程（B ))。 次級破碎物被設定$ 4Gmm以下之大小係基於若僅將大 小做初級減低，會發生設備故障肖篩網之網眼阻塞，並且 破石 +速度降低而成為無效率之理由。 就次級破碎機而言’係適當地使用單軸式粉碎機。其 理由在於’適於使破碎物之大小一致，容易併用篩網作反 覆破碎。 就單軸式粉碎機而言，例如，可使用地球技術股份有 限公司製之「型號MR7/32SVC multir〇ter (商品名）」 (處理能力5T/H)。此單軸式粉碎機，係具備網眼大小為 4〇X4〇mm之篩網（篩），可得到40麵以下之大小之次級 破碎物。大於4〇mm之破碎物，係返回次級破碎機再度被 粉碎。 此外，將藉由次級破碎機被粉碎之次級破碎物過網眼 大小為30賴>〇()匪之篩網（篩）（製程（c)),來將3〇随 以下、較佳為20mm以下之大小之破碎物藉由取樣裝置採 10 200900675 取作為試樣。大於30mm之次級破碎物，係再度返回次級 破碎機並粉碎（製程（D))。藉此，可將大小為3〇随 以下之破碎物有效率地採取作為分析用試樣。被採取作為 分析用試樣之破碎物被設定為3〇mm以下之大小，詳細如 在後述說明之實驗結果所表示般，乃基於破碎粒度 (50x5 0mm)之分析值之變動係cu為9%，Au為η%程 度，相對於此，破碎粒度3〇mm (3〇x3〇mm)之分析值之 變動係CU為5%，Au & 7%，變動幅度被大幅改善之理由。 一就前述筛而言，振動篩係被適當地使用。就振動筛而 δ，例如，可使用地球技術股份有限公司製之「型號3 * 8 , 單床式，ML形（商品名） 由振動篩所篩選之破碎尺寸為3〇mm U下之次級破碎 物，係被送給具備與先前㈣圖7及目8制之取樣裝置 200同樣之取樣裝置之取樣設備，分析用之試樣被採取（製 程（E))。 係表示本發明人等藉由進行實驗所得到之回收原 料之依照破碎粒度之分析值偏差。 在本實驗中，依照於圖3及圖4所示方法，進行調製 试枓析用試樣^另外，在本實驗中，作為回收原料， 使用印刷基板與IC晶片之混合物。 =收原料，藉由自動取樣裝置被取樣之分析用試樣 初級^料），係藉由手動作業作縮分（最小化），此外， 為了謀求均…將其一定量與硫化鐵礦一起熔解、使其 粗糙化，調製試料。參照圖3及圖4進一步說明。 11 200900675 在本實驗，首先，如圖3表示般，將以自動取樣裝置 被取樣之大小5〇mm以下之分析用試樣（初級試料）約9kg 藉由增量法作縮分（混合縮分），得到大小5〇mm以下之 約500g之試料（試料1、試料2 )。 殘餘試料8kg，進一步，藉由破碎機（吉田製作所製 破碎機）在縮分比1/4作破碎縮分，得到大小1〇mm以下 之約500g之試料（試料3、試料4 )。 殘餘試料7kg，進一步，藉由破碎機（萊切製破碎機） 作破碎縮分，得到大小2mm以下之約5Q()g之試料 5、試料6 )。 如此之方式所得到之試料，係於圖4表示般，進一步 在電子天秤精密地秤量’藉由自動調合農4，於石墨坩鍋 内加入試料與硫化鐵礦，接著，在台車式料爐（膽。c ) 熔解而製作硫渣（matte)。 如此之方式製作之硫涪，传取屮 後在顯式軋碎機使破

石+祖度成為1 〇 m m以下。姑哨敕A T被調整為破碎粒度10mm以下之 粗糙化之分析用試樣係，進一 破碎粒度3mm以下、縮分比lm ^碎縮分機調整成為 岛 〇之後，以盤磨機（disk mill)

之分析用試樣。 Μ 0.147咖以下，得到L 進付IC P分析，求得 於圖2表示。 ’可知用於ICP分析 可知20mm以下之範 使用如此之方式所得到之試料， 按照破碎粒度之分析值之偏差結果， 由圖2’印刷基板等之回收原料 之有效尺寸為30職以下。特別是， 12 200900675 圍之大小對於分析為有效。 另外，本發明人等藉由進_ 實了依照本發明所謂的二階段粉碎仃4個貫驗之結果證 以下之破碎物有效率地採取作為試樣，。’可將大小為20職 由其結果可知，將回收原料之八 亦即，以初級# & <、 ，为為2階段進行， 、及卷碎（初級破碎機所進 碎，其後，進行用以得到既定之大小=進仃粗粉 級破碎機所進行之破）、 原料之次級粉碎（次 所在，亦即，藉由、㈣’乃為了進行高效率取樣之重點 接著H 粗粉碎成為、約50mm程度， “ It由次級破碎機粉碎成為4 得到30職以下之次級破碎物。 U 了有效率地 情況於基板作為回收原料，而依照 另外/‘、、、、'渣 曰曰片之電機零件屑、或鍍屑等。 你/上述實驗例所示般，亦可為該等經混合者。亦即， 作為回收原料，含至少該等之任-者被使用。 Α依據本發明之取樣方法，可對在鋼精鍊使用之含Cu、 ^ Ag、Pt、Pd之回收原料（例如未被粉碎之印刷基板）有 放率地私碎至分析上有效尺寸並作為試樣而採取。 實施例2 於圖5，表示用以實施本發明之取樣方法之取樣設備 之—實施例。 、若根據本實㈣，取樣設備丨，係具備收容藉由鍵吊 被技入之印刷基板等尚未被粉碎之回收原料之料斗2。 Ή接於料斗2，配置有雙轴式粉碎機作為初級破碎機3。 13 200900675 取樣設備1，係進一牛θ, 碎機4，於初級破碎機3盥A 啊讣馮-人級破 —人級破碎機4之間， 1搬送用輸送帶5。因此，鼓丄 配置有第 错由初級破碎機3被舨 初級破碎物，係藉由第1椒 溉祖私碎之 送用輸送帶5經過料斗 送至次級破碎機4。 + 6被搬 次級破碎機4之單細々 平軸式粉碎機，係具備 4〇x4〇mm之篩網（篩）， 、悚、、周眼大小 碎物。 了件40馳以下之大小之次級破 藉由次級破碎機4被粉 ,, 今之大於40mm之破碎物，展 在次級破碎機内被循環，被粉碎至成為如職以下。係 亦即，通過4〇mm筛網，被搬送至振動筛， 回次級破碎機，並被粉碎。 这 藉由次級破碎機被粉碎成為4〇mm以下之大小 破碎物，係藉由第2搬送 、’及 碎機”…班、、用輸达▼ 7搬达至與前述初級破 -己置之作為振動篩之篩網（篩）8。 另外第3搬送用輸送帶9被配置於振動筛 搬送用輸送帶5之間。因此，由具備網眼直徑％軸之筛 '(師）之振動篩8所篩選之大於3〇mm之破碎物，係藉 =弟3搬送用輸送帶9移送至前述第！搬送用輪送帶5。 因此，由此振動篩8所篩選之大於3〇mm之破碎物，係被 搬迗往次級破碎機4，藉由次級破碎機4再度被粉碎。 於珂述振動篩8之下方，配置有用以接受由振動 貪帛、gg. 、 破碎尺寸為3 0mm以下之次級破碎物之取樣穿置 2 〇 〇 14 200900675 取樣裝置20係可以任意之構成，在本 裝置20，係被設定為與參照先前圖7及圖列中’取樣 置200之同樣構成。 吮明之取樣裝 亦即，取樣裝置2〇，係於振動篩8之下方立 斗110與初級切斷物霸120， ： ？備料 選3一下之大小之破碎物。 振動師8所筛 、取樣裝置20’係具備與圖7中可在箭頭X方向移動之 二人級切斷物給料機15〇相當之搬 技-sv 士丄 21及與圖8中可在 …方向移動之取樣盒210相當之取樣盒22，由切斷物 搬送帶2丨接收被搬送之被粉碎成為3()_以下之回收原料 R，採取作為試樣。取樣，係採取全體量"1 〇 、’ ^傻，再度 採取其1 /1 0 (最終為全體之1 %程度）。 於上述實施例，回收原料R，係以使用未被粉碎之回 收原料者做說明。但是，如果回收原料係已被粉碎之情況 下，如圖1及圖5所表示般，被粉碎之回收原料，可由吊 車透過料斗6直接投入次級破碎機4。 另外，於圖5表不在本實施例，自動取樣設備，係除 了上述之取樣a又備1之外，尚具備使用被粉碎之回收原料 之取樣設備1A之構成。 取樣設備1A，係被使用於回收原料為3〇mm以下之所 s胃散裝原料之情況。 取樣設備1A ’係具備散裝原料收容料斗3 〇 1、裙式給 料機302、投入用輸送帶303、與取樣裝置2〇a。 取樣設備1A ’如參照圖6所可理解般，散裝原料係藉 15 200900675 由鏟被投入於散裝原料收容料斗301。散裝原料，係由料 斗301被移送至裙式給料機3〇2，此外，藉由投入用輸送 帶303被搬送至取樣裝置2〇A。取樣裝置2〇a，係先前參 照圖7及圖8說明之取樣裝置2〇〇，亦即，被設定為與上 述取樣裝置20同樣之構成。 亦即取樣裝置2 0 A，係位於投入用輸送帶3 〇 3之端 邠下方。卩之位置，具備相當於搬送帶153之搬送帶21 ,搬 迈f 2 1係接收被没定為3 〇mm以下之大小之散裝原料。 取樣裝置20A,係具備與圖8中可在箭頭γ方向移動 取樣瓜210相當之取樣盒22，由搬送帶η接收被搬送 八3〇jnm以下之回收原料，採取作為試樣。取樣，係採取 立里1/1〇之後’再度採取其(最終為全體之1%程 度）。 △ 據本*明之取樣設備’可對在銅精鍊使用之含Cu、 § ^ Pd之回收原料（例如未被粉碎之印刷基板）有 、率地粉碎至分析上有效尺寸並作為試樣而進行採取。 【圖式簡單說明】 圖1係本發明$ % _ 程圖 取樣方法之一實施例之概略構成之流 之圖。 圖2係表示求得依照破碎粒度之分析值之偏差之結果 圖3係用以說明太七 在求侍依照破碎粒度之分析值之偏差 〈貫驗所使用之試料（八 7叶^刀析用試樣）之調製方法之流程圖。 16 200900675 圖4係說明用以求得破碎粒度別之分析值之偏差之實 驗:所使用之試料（分析用試樣）之調製方法之流程圖。 圖5係實施用於本發明之取樣方法之取樣設備之概略 樽成圖。 圖6係說明取樣設備之動作態樣之流程圖。 圖7係以往之取樣設備之概略構成侧視圖。 圖8係以往之取樣設備之概略構成俯視圖。 【主要元件符號說明】 1 ' 1A 取樣設備 2 3 4 7 8 回收原料收容料斗 雙軸式粉碎機（初級破碎機） 單轴式粉碎機（次級破碎機） 第1搬送用輪送帶 第2搬送用輸送帶 振動篩（篩） 9 20、 20A ' 200 21、 21A、153 22、 22A、210 第3搬送用輸送帶 取樣袭置 搬送帶 取樣盒 17

Claims (1)

1. 200900675 十、申請專利範圓： 1·-種採取在鋼精鍊所用回收原料之分析用試樣之取 樣方法’其特徵為，包含下述製程. ()將未卷碎之回收原料藉由初級破碎機粉碎成為 約50mm程度之大小，製成初級破碎物，接著， (B )將在„亥製程（A )所得到之初級破碎物藉由次級 破碎機粉碎成為40mm以下之大小製成次級破碎物， (C)將在該製程（B)所得到之次級破碎物過篩，大 於30mm之次級破碎物，係回到該製程（b)進一步粉碎， 將大小為30mm以下之破碎物採取作為試樣。 2.如申請專利範圍第丨項之採取回收原料之分析用試 樣之取樣方法，其中，該初級破碎機係雙軸式粉碎機，該 次級破碎機係單軸式粉碎機。 3_如申請專利範圍第丨或2項之採取回收原料之分析 用試樣之取樣方法，其中，該篩，係振動篩。 4_如申請專利範圍第丨〜3項中任一項之採取回收原料 之分析用試樣之取樣方法，其中，該回收原料，係含有芒 刷基板、金銀渣、電氣零件屑、或鍍屑之至少—者。 5. —種取樣設備，係用以採取在銅精鍊所 丨文用之回收 原料之分析用試樣者，其特徵為，具有： 收容未被粉碎之回收原料之料斗； 之回收原 之初級破 被配置成隣接於該料斗，用以將來自該料斗 料粗粉碎成為約50mm程度之大小之初級破碎物 碎機； 18 200900675 用以將該初級破碎物粉碎成為4〇mm L Α Γ <大小之次 級破碎物之次級破碎機； 被配置於該初級破碎機與該次級破碎機之間，用以將 藉由該初級破碎機«碎之該初級破碎物搬送至該次級破 碎機之第1搬送用輪送帶； 、 將該次級破碎物篩選為3〇随以下之大小之破碎物與 大於3〇mm之破碎物之筛； 被配置於該次級破碎機與該筛之間，用以將藉由兮次 級破碎機粉碎之該次級破碎搬送至㈣之帛2搬送用料 帶； …被配置於該篩與㈣1搬送用輪送帶之間，為了將由 3亥師所師選之大於3〇mm之破碎物送回至該次級破碎機， 而用以將該破碎物移送至㈣1搬送用輸送帶之第3搬送 用輸送帶；與 用以將由該帛選之3Qmm以下之大小之次級破碎 物採取作為試樣之取樣裝置。 6·如申請專利範圍帛5項之取樣設備，其中，該初級 破碎機係雙軸式粉碎機，該次級破碎機係單軸式粉碎機。 一 7.如申凊專利範圍第5或6項之取樣設備，其中，該 篩係振動篩。 8.如申請專利範圍第5〜7項中任一項之取樣設備，其 中，该回收原料，係含有印刷基板、金銀渣、電氣零件屑、 或鍍屑之至少—者。 9·如申請專利範圍第5〜8項中任一項之取樣設備，其 19 200900675 中，該取樣裝置，係具有： 被配置於該振動篩之下方部，接收藉由該振動篩所篩 選之30mm以下之大小之破碎物之搬送帶；與 接收由該搬送帶被搬送之被粉碎成為3 0mm以下之破 碎物，並採取作為試樣之取樣盒。 十一、圖式： 如次頁 20