JP2003106962A - リサイクル原料の分析用サンプルおよびその調製法 - Google Patents
リサイクル原料の分析用サンプルおよびその調製法Info
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- Manufacture And Refinement Of Metals (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】従来、同一のリサイクル原料から複数のサンプ
ルを採取して貴金属等を分析した場合にサンプル間で得
られる分析値にバラツキが大きく、σｎ／Ｘｎ×１００
（ただし、σｎは標準偏差、Ｘｎは平均値、ｎは分析対
象サンプル数を表す整数である。）で表される変動係数
ＣＶ値（％）が大きく、リサイクル原料中の貴金属等の
分析に関して信頼性が高いとは言えず、リサイクル原料
の取引、貴金属等回収率の操業管理の面から改善が望ま
れていた。 【解決手段】リサイクル原料を破砕機により粒度２０ｍ
ｍ以下に破砕して一次サンプルを採取し、次いでこの一
次サンプルをマイクロナイザにより粒度２ｍｍ以下に粉
砕した後、集塵系統で回収し、混合、縮分して二次サン
プルを採取して最終的に分析用サンプルとした。この調
製された分析用サンプルによってサンプル間にバラツキ
の少ないデータを得ることができる。
ルを採取して貴金属等を分析した場合にサンプル間で得
られる分析値にバラツキが大きく、σｎ／Ｘｎ×１００
（ただし、σｎは標準偏差、Ｘｎは平均値、ｎは分析対
象サンプル数を表す整数である。）で表される変動係数
ＣＶ値（％）が大きく、リサイクル原料中の貴金属等の
分析に関して信頼性が高いとは言えず、リサイクル原料
の取引、貴金属等回収率の操業管理の面から改善が望ま
れていた。 【解決手段】リサイクル原料を破砕機により粒度２０ｍ
ｍ以下に破砕して一次サンプルを採取し、次いでこの一
次サンプルをマイクロナイザにより粒度２ｍｍ以下に粉
砕した後、集塵系統で回収し、混合、縮分して二次サン
プルを採取して最終的に分析用サンプルとした。この調
製された分析用サンプルによってサンプル間にバラツキ
の少ないデータを得ることができる。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、常温で展伸性の高
分子材とＣｕ、Ａｇ、Ａｕ等の銅族元素およびＲｕ、Ｒ
ｈ、Ｐｄ、Ｏｓ、Ｉｒ、Ｐｔ等の白金族元素（銅族元素
および白金族元素をあわせて貴金属等ということがあ
る。）からなる群から選ばれる少なくとも一種の金属元
素とを含有する各種基板等のリサイクル原料の分析用サ
ンプルおよびその調製法に関するものである。
分子材とＣｕ、Ａｇ、Ａｕ等の銅族元素およびＲｕ、Ｒ
ｈ、Ｐｄ、Ｏｓ、Ｉｒ、Ｐｔ等の白金族元素（銅族元素
および白金族元素をあわせて貴金属等ということがあ
る。）からなる群から選ばれる少なくとも一種の金属元
素とを含有する各種基板等のリサイクル原料の分析用サ
ンプルおよびその調製法に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】資源として再利用される産業廃棄物の中
でも各種の基板等のリサイクル原料は貴金属等の金属、
常温で展伸性を呈する高分子材（樹脂ということがあ
る。）、セラミック類の複合材料であり、通常、メッキ
やペーストなどとして使用された貴金属等が含有されて
いることが多く、さらに近年これら各種の基板等の使用
量が増加しており、資源小国の日本にとってこれらのリ
サイクル原料は重要な資源と言わねばならない。これら
の貴金属等はこれら各種の基板等において局部的に偏在
して存在していること、個々のロットの基板等によって
貴金属等の種類および含有量に大きな開きがあることも
あって、基板等のリサイクル原料中の貴金属等の含有量
の分析のために含有量のバラツキの少ない分析用サンプ
ルを得ることが重要である。しかし基板等のリサイクル
原料は上記のように多種の金属、樹脂、セラミック類が
多様に複合された状態であって、就中常温で展伸性を呈
する高分子材である樹脂が混在するため、細粒化は粒径
２０ｍｍ以下の破砕の領域にとどまり、それ以上に粉砕
することは困難であり、分析用各サンプル間の貴金属等
の含有量のバラツキが大きく、貴金属等の分析値の信頼
性に問題があった。
でも各種の基板等のリサイクル原料は貴金属等の金属、
常温で展伸性を呈する高分子材（樹脂ということがあ
る。）、セラミック類の複合材料であり、通常、メッキ
やペーストなどとして使用された貴金属等が含有されて
いることが多く、さらに近年これら各種の基板等の使用
量が増加しており、資源小国の日本にとってこれらのリ
サイクル原料は重要な資源と言わねばならない。これら
の貴金属等はこれら各種の基板等において局部的に偏在
して存在していること、個々のロットの基板等によって
貴金属等の種類および含有量に大きな開きがあることも
あって、基板等のリサイクル原料中の貴金属等の含有量
の分析のために含有量のバラツキの少ない分析用サンプ
ルを得ることが重要である。しかし基板等のリサイクル
原料は上記のように多種の金属、樹脂、セラミック類が
多様に複合された状態であって、就中常温で展伸性を呈
する高分子材である樹脂が混在するため、細粒化は粒径
２０ｍｍ以下の破砕の領域にとどまり、それ以上に粉砕
することは困難であり、分析用各サンプル間の貴金属等
の含有量のバラツキが大きく、貴金属等の分析値の信頼
性に問題があった。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】すなわち、同一のリサ
イクル原料から複数の分析用サンプルを採取してその中
に含有される貴金属等を分析した場合に各サンプル間で
得られる分析値にバラツキが大きく、σｎ／Ｘｎ×１０
０（ただし、σｎは標準偏差、Ｘｎは平均値、ｎは分析
対象サンプル数を表す整数である。）で表される変動係
数ＣＶ値（％）が大きく、リサイクル原料中の貴金属等
の分析に関して信頼性が高いとは言えず、リサイクル原
料の取引、貴金属等回収率の操業管理の面から改善が望
まれていた。
イクル原料から複数の分析用サンプルを採取してその中
に含有される貴金属等を分析した場合に各サンプル間で
得られる分析値にバラツキが大きく、σｎ／Ｘｎ×１０
０（ただし、σｎは標準偏差、Ｘｎは平均値、ｎは分析
対象サンプル数を表す整数である。）で表される変動係
数ＣＶ値（％）が大きく、リサイクル原料中の貴金属等
の分析に関して信頼性が高いとは言えず、リサイクル原
料の取引、貴金属等回収率の操業管理の面から改善が望
まれていた。
【０００４】
【課題を解決するための手段】本発明は貴金属等を含有
する基板等のリサイクル原料を好ましくは予め破砕した
後、粉砕することによって、ＣＶ値の小さい、すなわち
バラツキが少なく信頼性の高い貴金属等の分析値を求め
ることができるリサイクル原料の分析用サンプルおよび
その調製法を提供するものである。
する基板等のリサイクル原料を好ましくは予め破砕した
後、粉砕することによって、ＣＶ値の小さい、すなわち
バラツキが少なく信頼性の高い貴金属等の分析値を求め
ることができるリサイクル原料の分析用サンプルおよび
その調製法を提供するものである。
【０００５】すなわち、本発明は第１に、常温で展伸性
の高分子材と銅族元素および白金族元素からなる群から
選ばれる少なくとも一種の金属元素とを含有するリサイ
クル原料を２ｍｍ以下の粒径としたことを特徴とするリ
サイクル原料の分析用サンプルであり、第２に、前記リ
サイクル原料がコネクタ基板、基板枠、フレキシブル基
板、プリント基板およびＩＣ基板からなる群から選ばれ
る少なくとも一種である、第１記載のリサイクル原料の
分析用サンプルであり、第３に、常温で展伸性の高分子
材と銅族元素および白金族元素からなる群から選ばれる
少なくとも一種の金属元素とを含有するリサイクル原料
を粉砕機により粉砕して分析用サンプルを２ｍｍ以下の
粒径としたことを特徴とするリサイクル原料の分析用サ
ンプル調製法であり、第４に、前記金属元素について前
記サンプル間のＣＶ値が５％以下である、第３記載のリ
サイクル原料の分析用サンプル調製法であり、第５に、
前記銅族元素がＣｕ、Ａｇ、Ａｕであり、前記白金族元
素がＰｄ、Ｐｔであり、前記リサイクル原料が該銅族元
素および該白金族元素からなる群から選ばれる少なくと
も二種の金属元素を含有する、第３または４記載のリサ
イクル原料の分析用サンプル調製法であり、第６に、前
記リサイクル原料がコネクタ基板、基板枠、フレキシブ
ル基板、プリント基板およびＩＣ基板からなる群から選
ばれる少なくとも一種である、第３〜５のいずれかに記
載のリサイクル原料の分析用サンプル調製法であり、第
７に、前記粉砕機がターボミルまたはジェットミルであ
り、該粉砕機からの排出気流中から前記サンプルの粉体
を得る、第３〜６のいずれかに記載のリサイクル原料の
分析用サンプル調製法である。
の高分子材と銅族元素および白金族元素からなる群から
選ばれる少なくとも一種の金属元素とを含有するリサイ
クル原料を２ｍｍ以下の粒径としたことを特徴とするリ
サイクル原料の分析用サンプルであり、第２に、前記リ
サイクル原料がコネクタ基板、基板枠、フレキシブル基
板、プリント基板およびＩＣ基板からなる群から選ばれ
る少なくとも一種である、第１記載のリサイクル原料の
分析用サンプルであり、第３に、常温で展伸性の高分子
材と銅族元素および白金族元素からなる群から選ばれる
少なくとも一種の金属元素とを含有するリサイクル原料
を粉砕機により粉砕して分析用サンプルを２ｍｍ以下の
粒径としたことを特徴とするリサイクル原料の分析用サ
ンプル調製法であり、第４に、前記金属元素について前
記サンプル間のＣＶ値が５％以下である、第３記載のリ
サイクル原料の分析用サンプル調製法であり、第５に、
前記銅族元素がＣｕ、Ａｇ、Ａｕであり、前記白金族元
素がＰｄ、Ｐｔであり、前記リサイクル原料が該銅族元
素および該白金族元素からなる群から選ばれる少なくと
も二種の金属元素を含有する、第３または４記載のリサ
イクル原料の分析用サンプル調製法であり、第６に、前
記リサイクル原料がコネクタ基板、基板枠、フレキシブ
ル基板、プリント基板およびＩＣ基板からなる群から選
ばれる少なくとも一種である、第３〜５のいずれかに記
載のリサイクル原料の分析用サンプル調製法であり、第
７に、前記粉砕機がターボミルまたはジェットミルであ
り、該粉砕機からの排出気流中から前記サンプルの粉体
を得る、第３〜６のいずれかに記載のリサイクル原料の
分析用サンプル調製法である。
【０００６】
【発明の実施の形態】貴金属等を含有するリサイクル原
料は、 （１）基板…電子基板、携帯電話、家電解体基板、ＯＡ
機器解体基板 （２）メッキスラッジ （３）スクラップ類…リードフレーム等電子材料、家電
解体銅スクラップ、ＯＡ機器解体銅スクラップ、酸化銀
電池 （４）フィルム屑 等として発生するが、このうち（２）〜（４）は同一原
料内における貴金属等の偏析が比較的少ないことから、
これらのリサイクル原料のうち貴金属等の偏析度が大き
い（１）の基板が特に本発明を適用する意義が大きい。
料は、 （１）基板…電子基板、携帯電話、家電解体基板、ＯＡ
機器解体基板 （２）メッキスラッジ （３）スクラップ類…リードフレーム等電子材料、家電
解体銅スクラップ、ＯＡ機器解体銅スクラップ、酸化銀
電池 （４）フィルム屑 等として発生するが、このうち（２）〜（４）は同一原
料内における貴金属等の偏析が比較的少ないことから、
これらのリサイクル原料のうち貴金属等の偏析度が大き
い（１）の基板が特に本発明を適用する意義が大きい。
【０００７】また、基板は形態的には、基板上にコネク
タが搭載されたコネクタ基板、プレス打ち抜きされた後
の板状の金属屑である基板枠、プラスチックシート上に
回路が印刷されたフレキシブル基板、絶縁基板上に回路
が印刷されたプリント基板および基板上にＩＣチップが
搭載されたＩＣ基板等に大別されるが、いずれも貴金属
等の偏析度が大きく、かつ、貴金属等の種類も少なくと
も二種、具体的にはＣｕ、Ａｇ、Ａｕ、Ｐｄを含有する
ことが多い。リサイクル原料の粉砕に先だって予め行う
ことが好ましい破砕で用いる破砕機としては多種のもの
を選択でき、具体的には、ジョークラッシャー、ジャイ
レイトリークラッシャー、シングルロールクラッシャ
ー、ドッジクラッシャー、コーンクラッシャー、ダブル
ロールクラッシャー、エッジランナー、ディスインテグ
レーター、ハンマーミル、インペラーブレーカー、ディ
スククラッシャー、ロータリークラッシャー等から適宜
選択することができる。
タが搭載されたコネクタ基板、プレス打ち抜きされた後
の板状の金属屑である基板枠、プラスチックシート上に
回路が印刷されたフレキシブル基板、絶縁基板上に回路
が印刷されたプリント基板および基板上にＩＣチップが
搭載されたＩＣ基板等に大別されるが、いずれも貴金属
等の偏析度が大きく、かつ、貴金属等の種類も少なくと
も二種、具体的にはＣｕ、Ａｇ、Ａｕ、Ｐｄを含有する
ことが多い。リサイクル原料の粉砕に先だって予め行う
ことが好ましい破砕で用いる破砕機としては多種のもの
を選択でき、具体的には、ジョークラッシャー、ジャイ
レイトリークラッシャー、シングルロールクラッシャ
ー、ドッジクラッシャー、コーンクラッシャー、ダブル
ロールクラッシャー、エッジランナー、ディスインテグ
レーター、ハンマーミル、インペラーブレーカー、ディ
スククラッシャー、ロータリークラッシャー等から適宜
選択することができる。
【０００８】上記（１）の基板等のリサイクル原料は多
種の貴金属等、樹脂、セラミック類が多様に複合され、
特に常温で展伸性を呈する高分子材である樹脂が混在し
ているため、粒径２０ｍｍ以下の破砕までは比較的容易
なものの、その後に粉砕を行って粒径２ｍｍ以下のサン
プルを得る粉砕機としては衝撃式の粉砕機が好ましく、
高速回転によって衝撃を与えるターボミルまたはジェッ
ト噴射によって衝撃を与えるジェットミルがさらに好ま
しく、それらの場合は粉砕後の排出気流中から粉体のサ
ンプルを集塵して回収するのが特に好ましい。これは、
前述のようにリサイクル原料は、多種の貴金属等、樹
脂、セラミック類の複合物であり、複合成分それぞれに
性状（展伸性、硬度等）が異なるため各複合成分の含有
比率を変化させることなく粉砕することが困難なためで
ある。しかし、衝撃式の粉砕機によって剪断力と衝撃力
とを同時に与えることにより各複合成分が少なくともい
ずれかの作用により粉砕されるため、各複合成分を同時
に粉砕することができ、これによってサンプルの粒径を
２ｍｍ以下とすることにより得られる分析用サンプル間
のＣＶ値を５％以下にすることができる。前記粒径は細
かい程分析精度の高いサンプルになりうるが、粒径１０
μｍ未満の場合は飛散等によるハンドリングロス、分析
誤差、環境汚染等の諸問題が発生するためサンプル粒径
は１０μｍ以上が好ましい。また最適粒径範囲はリサイ
クル原料の種類により異なるが、平均粒径（５０％ｗ
ｔ）がコネクタ基板では約２５０μｍ、基板枠では約５
００μｍ、フレキシブル基板では約１００μｍ、プリン
ト基板では約１００μｍ、ＩＣ基板では約２００μｍが
好ましい。
種の貴金属等、樹脂、セラミック類が多様に複合され、
特に常温で展伸性を呈する高分子材である樹脂が混在し
ているため、粒径２０ｍｍ以下の破砕までは比較的容易
なものの、その後に粉砕を行って粒径２ｍｍ以下のサン
プルを得る粉砕機としては衝撃式の粉砕機が好ましく、
高速回転によって衝撃を与えるターボミルまたはジェッ
ト噴射によって衝撃を与えるジェットミルがさらに好ま
しく、それらの場合は粉砕後の排出気流中から粉体のサ
ンプルを集塵して回収するのが特に好ましい。これは、
前述のようにリサイクル原料は、多種の貴金属等、樹
脂、セラミック類の複合物であり、複合成分それぞれに
性状（展伸性、硬度等）が異なるため各複合成分の含有
比率を変化させることなく粉砕することが困難なためで
ある。しかし、衝撃式の粉砕機によって剪断力と衝撃力
とを同時に与えることにより各複合成分が少なくともい
ずれかの作用により粉砕されるため、各複合成分を同時
に粉砕することができ、これによってサンプルの粒径を
２ｍｍ以下とすることにより得られる分析用サンプル間
のＣＶ値を５％以下にすることができる。前記粒径は細
かい程分析精度の高いサンプルになりうるが、粒径１０
μｍ未満の場合は飛散等によるハンドリングロス、分析
誤差、環境汚染等の諸問題が発生するためサンプル粒径
は１０μｍ以上が好ましい。また最適粒径範囲はリサイ
クル原料の種類により異なるが、平均粒径（５０％ｗ
ｔ）がコネクタ基板では約２５０μｍ、基板枠では約５
００μｍ、フレキシブル基板では約１００μｍ、プリン
ト基板では約１００μｍ、ＩＣ基板では約２００μｍが
好ましい。
【０００９】集塵方式としては種々選択できるが集塵後
に排気ファンを設けて吸引し、集塵系を負圧にするのが
好ましく、粉砕機→サイクロン→バグフィルター→排気
ファンの方式とするのがさらに好ましい。このようにし
て得たサンプルは融解させて化学分析を行うことができ
る。斯くして得られた分析用サンプルを用いればＣＶ値
５％以下の分析精度を得ることができるが、分析方法ま
たは分析装置の誤差によって通常はＣＶ値として０．１
％は生じると考えられる。
に排気ファンを設けて吸引し、集塵系を負圧にするのが
好ましく、粉砕機→サイクロン→バグフィルター→排気
ファンの方式とするのがさらに好ましい。このようにし
て得たサンプルは融解させて化学分析を行うことができ
る。斯くして得られた分析用サンプルを用いればＣＶ値
５％以下の分析精度を得ることができるが、分析方法ま
たは分析装置の誤差によって通常はＣＶ値として０．１
％は生じると考えられる。
【００１０】本発明により調製された粉体は、リサイク
ル原料の分析用サンプルとして好適であるが、さらに、
リサイクル原料から貴金属等を回収するためのリサイク
ルプラントへの装入原料として使用すれば、操業上での
貴金属等の回収率をより安定化させることができる。こ
の場合、他のリサイクル原料や鉱石等と所定比率で混合
することにより複合成分または貴金属等の含有量が一定
化された原料を調合することができ、リサイクルプラン
トにおいて消費される熱エネルギー、電気エネルギーの
変動を最小限にすることができ、低コスト化を図ること
ができる。
ル原料の分析用サンプルとして好適であるが、さらに、
リサイクル原料から貴金属等を回収するためのリサイク
ルプラントへの装入原料として使用すれば、操業上での
貴金属等の回収率をより安定化させることができる。こ
の場合、他のリサイクル原料や鉱石等と所定比率で混合
することにより複合成分または貴金属等の含有量が一定
化された原料を調合することができ、リサイクルプラン
トにおいて消費される熱エネルギー、電気エネルギーの
変動を最小限にすることができ、低コスト化を図ること
ができる。
【００１１】
【実施例】実施例によって本発明を以下に説明するが、
本発明の技術的範囲を定めるに当たってはこれに限定さ
れるものではない。
本発明の技術的範囲を定めるに当たってはこれに限定さ
れるものではない。
【００１２】コネクタ基板（Ａｕ：１４８〜１８２ ｇ
／t、Ａｇ：２５５〜８６７ g／t、Ｃｕ：１５〜２５
ｗｔ％、Ｐｄ：０〜８５ g／t）、基板枠（Ａｕ：２３
〜３６５ g／t、Ｃｕ：１８〜４８ ｗｔ％）、フレキシ
ブル基板（Ｃｕ：２７〜５９ｗｔ％）、プリント基板
（Ａｕ：４６７〜５４３ g／t、Ａｇ：９０１〜９７２g
／t、Ｃｕ：４０〜４４ ｗｔ％）およびＩＣ基板（Ａ
ｕ：１２２〜２２５ g／t、Ａｇ：３８８〜１３７５ g
／t、Ｃｕ：１４〜２７ ｗｔ％、Ｐｄ：０〜１５９g／
t）の各リサイクル原料合計２０種類について本発明の
サンプル調製法を実施した。
／t、Ａｇ：２５５〜８６７ g／t、Ｃｕ：１５〜２５
ｗｔ％、Ｐｄ：０〜８５ g／t）、基板枠（Ａｕ：２３
〜３６５ g／t、Ｃｕ：１８〜４８ ｗｔ％）、フレキシ
ブル基板（Ｃｕ：２７〜５９ｗｔ％）、プリント基板
（Ａｕ：４６７〜５４３ g／t、Ａｇ：９０１〜９７２g
／t、Ｃｕ：４０〜４４ ｗｔ％）およびＩＣ基板（Ａ
ｕ：１２２〜２２５ g／t、Ａｇ：３８８〜１３７５ g
／t、Ｃｕ：１４〜２７ ｗｔ％、Ｐｄ：０〜１５９g／
t）の各リサイクル原料合計２０種類について本発明の
サンプル調製法を実施した。
【００１３】各ロット約２トンのリサイクル原料をまず
２軸破砕機により粒径５０ｍｍ以下に破砕した後に一軸
せん断破砕機により粒径２０ｍｍ以下に破砕したものか
ら約２００ｋｇの一次サンプルを採取し、この一次サン
プルをジェットミルに属する粉砕機であるマイクロナイ
ザにより回転数をインバーター制御して約１時間で粒径
２ｍｍ以下に粉砕した。なお、マイクロナイザは回転数
を上昇させることにより、粉砕処理速度は低下するもの
の、さらに細かい粒度を得ることも可能である。
２軸破砕機により粒径５０ｍｍ以下に破砕した後に一軸
せん断破砕機により粒径２０ｍｍ以下に破砕したものか
ら約２００ｋｇの一次サンプルを採取し、この一次サン
プルをジェットミルに属する粉砕機であるマイクロナイ
ザにより回転数をインバーター制御して約１時間で粒径
２ｍｍ以下に粉砕した。なお、マイクロナイザは回転数
を上昇させることにより、粉砕処理速度は低下するもの
の、さらに細かい粒度を得ることも可能である。
【００１４】粉砕されたものは集塵系統で回収し、これ
を混合、縮分して約５ｋｇの二次サンプルを採取し最終
的に分析用サンプルとして分析に供した。ここで、集塵
系統は粉砕機→サイクロン→バグフィルター→排気ファ
ンの順で構成されており、サイクロン、バグフィルター
で粉砕された粉体を回収した。また、粉砕機の空気取り
込み開度等を調整し、サイクロン入り口圧力、バグフィ
ルター入り口圧力をいずれも適正な負圧に保った。二次
サンプルに関し、Ａｕ、Ａｇ、Ｃｕ、Ｐｄの４元素につ
いてそれぞれ３点分析を行い、そのバラツキのＣＶ値
（％）を求めた。
を混合、縮分して約５ｋｇの二次サンプルを採取し最終
的に分析用サンプルとして分析に供した。ここで、集塵
系統は粉砕機→サイクロン→バグフィルター→排気ファ
ンの順で構成されており、サイクロン、バグフィルター
で粉砕された粉体を回収した。また、粉砕機の空気取り
込み開度等を調整し、サイクロン入り口圧力、バグフィ
ルター入り口圧力をいずれも適正な負圧に保った。二次
サンプルに関し、Ａｕ、Ａｇ、Ｃｕ、Ｐｄの４元素につ
いてそれぞれ３点分析を行い、そのバラツキのＣＶ値
（％）を求めた。
【００１５】ＣＶ値（％）は、Ａｕについて０．３〜
４．７％（平均２．６％）、Ａｇについて１．８〜４．
４％（平均３．５％）、Ｃｕについて０．５〜４．３％
（平均２．５％）、Ｐｄについて２．０〜４．８％（平
均４．０％）であり、平均値は勿論、最大値でもバラツ
キの少ないデータを得ることができた。
４．７％（平均２．６％）、Ａｇについて１．８〜４．
４％（平均３．５％）、Ｃｕについて０．５〜４．３％
（平均２．５％）、Ｐｄについて２．０〜４．８％（平
均４．０％）であり、平均値は勿論、最大値でもバラツ
キの少ないデータを得ることができた。
【００１６】[ 比較例] なお、比較のために、実施例
と同一のリサイクル原料から得た粒径が２０ｍｍ以下で
２ｍｍを超える一次サンプルに関して実施例と同様にＡ
ｕ、Ａｇ、Ｃｕ、Ｐｄの４元素についてそれぞれ３点分
析を行い、そのバラツキのＣＶ値（％）を測定したとこ
ろ、Ａｕについて平均５．４ ％、Ａｇについて平均
６．０ ％、Ｃｕについて平均４．７％、Ｐｄについて
平均１５．１％であり、同一のリサイクル原料ながら、
本発明によって調製された実施例のサンプルに比べてバ
ラツキの大きいデータとなった。
と同一のリサイクル原料から得た粒径が２０ｍｍ以下で
２ｍｍを超える一次サンプルに関して実施例と同様にＡ
ｕ、Ａｇ、Ｃｕ、Ｐｄの４元素についてそれぞれ３点分
析を行い、そのバラツキのＣＶ値（％）を測定したとこ
ろ、Ａｕについて平均５．４ ％、Ａｇについて平均
６．０ ％、Ｃｕについて平均４．７％、Ｐｄについて
平均１５．１％であり、同一のリサイクル原料ながら、
本発明によって調製された実施例のサンプルに比べてバ
ラツキの大きいデータとなった。
【００１７】
【発明の効果】粒径２ｍｍ以下に粉砕した分析用サンプ
ルを得ることによって分析値のＣＶ値を５％以下にする
ことができ、リサイクル原料中の貴金属等の分析の信頼
性が向上し、リサイクル原料の適正な評価による取引お
よび貴金属等回収工程の操業管理を大幅に改善すること
ができる。
ルを得ることによって分析値のＣＶ値を５％以下にする
ことができ、リサイクル原料中の貴金属等の分析の信頼
性が向上し、リサイクル原料の適正な評価による取引お
よび貴金属等回収工程の操業管理を大幅に改善すること
ができる。
─────────────────────────────────────────────────────
フロントページの続き
(51)Int.Cl.7 識別記号 ＦＩ テーマコート゛(参考）
Ｇ０１Ｎ 1/04 Ｇ０１Ｎ 1/28 Ｔ
(72)発明者 新留 優文
東京都千代田区丸の内１丁目８番２号 同
和鉱業株式会社内
(72)発明者 渥美 貴弘
東京都千代田区丸の内１丁目８番２号 同
和鉱業株式会社内
Ｆターム(参考） 2G052 AA11 AA13 AA14 AA18 AC28
AC30 AD32 CA03 CA04 CA14
EA03 EB06 FD08 HA01 JA07
JA08 JA20 JA23
4D065 AA07 EB14 EB20 ED01 ED14
ED24 EE02 EE11 EE19
4D067 CA02 CA09 EE07 EE12 EE22
GA16 GA20
4K001 AA01 AA04 AA09 AA41 BA22
CA01 CA02
Claims (7)
- 【請求項１】 常温で展伸性の高分子材と銅族元素およ
び白金族元素からなる群から選ばれる少なくとも一種の
金属元素とを含有するリサイクル原料を２ｍｍ以下の粒
径としたことを特徴とするリサイクル原料の分析用サン
プル。 - 【請求項２】 前記リサイクル原料がコネクタ基板、基
板枠、フレキシブル基板、プリント基板およびＩＣ基板
からなる群から選ばれる少なくとも一種である、請求項
１記載のリサイクル原料の分析用サンプル。 - 【請求項３】 常温で展伸性の高分子材と銅族元素およ
び白金族元素からなる群から選ばれる少なくとも一種の
金属元素とを含有するリサイクル原料を粉砕機により粉
砕して分析用サンプルを２ｍｍ以下の粒径としたことを
特徴とするリサイクル原料の分析用サンプル調製法。 - 【請求項４】 前記金属元素について前記サンプル間の
ＣＶ値が５％以下である、請求項３記載のリサイクル原
料の分析用サンプル調製法。 - 【請求項５】 前記銅族元素がＣｕ、Ａｇ、Ａｕであ
り、前記白金族元素がＰｄ、Ｐｔであり、前記リサイク
ル原料が該銅族元素および該白金族元素からなる群から
選ばれる少なくとも二種の金属元素を含有する、請求項
３または４記載のリサイクル原料の分析用サンプル調製
法。 - 【請求項６】 前記リサイクル原料がコネクタ基板、基
板枠、フレキシブル基板、プリント基板およびＩＣ基板
からなる群から選ばれる少なくとも一種である、請求項
３〜５のいずれかに記載のリサイクル原料の分析用サン
プル調製法。 - 【請求項７】 前記粉砕機がターボミルまたはジェット
ミルであり、該粉砕機からの排出気流中から前記サンプ
ルの粉体を得る、請求項３〜６のいずれかに記載のリサ
イクル原料の分析用サンプル調製法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001303387A JP2003106962A (ja) | 2001-09-28 | 2001-09-28 | リサイクル原料の分析用サンプルおよびその調製法 |
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|---|---|
| JP2003106962A true JP2003106962A (ja) | 2003-04-09 |
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|---|---|---|---|
| JP2001303387A Pending JP2003106962A (ja) | 2001-09-28 | 2001-09-28 | リサイクル原料の分析用サンプルおよびその調製法 |
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Cited By (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2004347141A (ja) * | 2003-05-20 | 2004-12-09 | Nippon Magnetic Dressing Co Ltd | 使用済み弾頭の回収方法およびその設備 |
| JP2008249437A (ja) * | 2007-03-29 | 2008-10-16 | Nikko Kinzoku Kk | サンプリング方法及びサンプリング設備 |
| JP2008304441A (ja) * | 2007-03-29 | 2008-12-18 | Nikko Kinzoku Kk | リサイクル原料の分析用サンプル調製方法及び装置 |
| JP2010096675A (ja) * | 2008-10-17 | 2010-04-30 | Nippon Mining & Metals Co Ltd | 自動調合装置、及び有価金属の定量分析用試料前処理方法 |
| KR100983400B1 (ko) | 2007-03-29 | 2010-09-20 | 제이엑스 닛코 닛세키 킨조쿠 가부시키가이샤 | 리사이클 원료의 분석용 샘플 조제 방법 및 장치 |
| JP2014074589A (ja) * | 2012-10-02 | 2014-04-24 | Jx Nippon Mining & Metals Corp | リサイクル原料のサンプル作製装置、及びリサイクル原料のサンプル作製方法 |
| WO2015151301A1 (ja) * | 2014-03-31 | 2015-10-08 | 三菱マテリアル株式会社 | サンプリング位置表示装置、サンプリング方法 |
| EP2837925A4 (en) * | 2013-04-26 | 2016-01-20 | Mitsubishi Materials Corp | METHOD AND DEVICE FOR SAMPLING FROM A RECYCLED RAW MATERIAL, ANALYSIS TEST FROM A RECYCLED RAW MATERIAL AND METHOD FOR EVALUATING RECYCLED RAW MATERIAL |
| CN112961976A (zh) * | 2021-01-29 | 2021-06-15 | 武汉科技大学 | 一种烧结料前驱体的制备及混匀度评价方法 |
-
2001
- 2001-09-28 JP JP2001303387A patent/JP2003106962A/ja active Pending
Cited By (17)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2004347141A (ja) * | 2003-05-20 | 2004-12-09 | Nippon Magnetic Dressing Co Ltd | 使用済み弾頭の回収方法およびその設備 |
| JP2008249437A (ja) * | 2007-03-29 | 2008-10-16 | Nikko Kinzoku Kk | サンプリング方法及びサンプリング設備 |
| JP2008304441A (ja) * | 2007-03-29 | 2008-12-18 | Nikko Kinzoku Kk | リサイクル原料の分析用サンプル調製方法及び装置 |
| KR100983400B1 (ko) | 2007-03-29 | 2010-09-20 | 제이엑스 닛코 닛세키 킨조쿠 가부시키가이샤 | 리사이클 원료의 분석용 샘플 조제 방법 및 장치 |
| KR100993715B1 (ko) | 2007-03-29 | 2010-11-10 | 제이엑스 닛코 닛세키 킨조쿠 가부시키가이샤 | 샘플링 방법 및 샘플링 설비 |
| JP2010096675A (ja) * | 2008-10-17 | 2010-04-30 | Nippon Mining & Metals Co Ltd | 自動調合装置、及び有価金属の定量分析用試料前処理方法 |
| JP4699505B2 (ja) * | 2008-10-17 | 2011-06-15 | Ｊｘ日鉱日石金属株式会社 | 自動調合装置、及び有価金属の定量分析用試料前処理方法 |
| KR101098804B1 (ko) | 2008-10-17 | 2011-12-26 | 제이엑스 닛코 닛세키 킨조쿠 가부시키가이샤 | 자동 조합 장치, 및 유가 금속의 정량 분석용 시료 전처리 방법 |
| JP2014074589A (ja) * | 2012-10-02 | 2014-04-24 | Jx Nippon Mining & Metals Corp | リサイクル原料のサンプル作製装置、及びリサイクル原料のサンプル作製方法 |
| EP2837925A4 (en) * | 2013-04-26 | 2016-01-20 | Mitsubishi Materials Corp | METHOD AND DEVICE FOR SAMPLING FROM A RECYCLED RAW MATERIAL, ANALYSIS TEST FROM A RECYCLED RAW MATERIAL AND METHOD FOR EVALUATING RECYCLED RAW MATERIAL |
| US9329105B2 (en) | 2013-04-26 | 2016-05-03 | Mitsubishi Materials Corporation | Sampling method and sampling device of recycled raw material, analysis sample of recycled raw material, and evaluation method of recycled raw material |
| WO2015151301A1 (ja) * | 2014-03-31 | 2015-10-08 | 三菱マテリアル株式会社 | サンプリング位置表示装置、サンプリング方法 |
| JP2015194381A (ja) * | 2014-03-31 | 2015-11-05 | 三菱マテリアル株式会社 | サンプリング位置表示装置、サンプリング方法 |
| KR20160138969A (ko) | 2014-03-31 | 2016-12-06 | 미쓰비시 마테리알 가부시키가이샤 | 샘플링 위치 표시 장치, 샘플링 방법 |
| US10330572B2 (en) | 2014-03-31 | 2019-06-25 | Mitsubishi Materials Corporation | Sampling location displaying apparatus and sampling method |
| CN112961976A (zh) * | 2021-01-29 | 2021-06-15 | 武汉科技大学 | 一种烧结料前驱体的制备及混匀度评价方法 |
| CN112961976B (zh) * | 2021-01-29 | 2022-06-14 | 武汉科技大学 | 一种烧结料前驱体的制备及混匀度评价方法 |
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