TW200813640A - Method of forming nanopattern and substrate having pattern formed using the method - Google Patents
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Description
200813640 九、發明說明: 【發明所屬之技術領域】 本發明係關於一種形成一奈米圖案的方法,同時,更 ·#別地’係為-種可連續地在—大面積上形成奈米圖案的 •5 #法’並且為在具有一滾筒形狀的基板上形成奈米圖案的 方法以及使用此方法形成具有圖案的一基板。 本申請書之提出係基於韓國智慧財產局在2〇〇6年三月 -十八日與2006年四月十一日提出之韓國專利編號 10-2006.27946與10-2GG6-32655的優先權,以參昭方式 1〇 全部内容揭露於本發明令。 .....八 【先前技術】 15 大體而言,為了在顯示器裝置例如半導體電路元件與 CD上七成精細圖案或是在元件或|置上製造壓印進而形 成精細圖案’通常使用運用—感光樹脂(光阻劑)的— ^製光學微影製程中,供應在基板上的感光薄膜可以 订選擇性地曝光與顯影進而於其上形成精細圖案。選擇 2曝光感光薄膜的—製程’其舉例可包括使用-光罩的 製程或使用干涉光的一製程。 近來,依據積體電路的快速發展,精細圖案之形成已 a;w=’、、、Γ求’所以對於如何將®案縮小成奈料級已成 2、二課題下文中,依據規格,當具有一預設形狀之圖 Ά 一奈米間隔連續形成’那就是,l_nm或更小值時, 20 200813640 其稱為奈米圖案。而且,當顯示器的尺寸逐漸増大時,必 須增加精細圖案的面積。 大體而言,為了經由使用光干涉微影製程形成高精度 的圖案’可以使用具有短波長的紫外光輻射線或雷射光 5束。然而,由於已知短波長雷射的印製有其限制,使得經 由已知雷射所形成的精細圖案尺寸因而受到限制。相關技 術領域中,為了在具有-大面積的試樣上發射具有短波長 的雷射光束,可使用在數公尺間隔下,配置具有大面積的 試樣與光源的一方法。例如,圖2說明經由光干擾形成圖案 10的方式。然而,上述方法其問題在於需要一大空間以及在 使用具有短波長的光源形成精確圖案的一例子中,大量雷 射光束被空氣吸收。因此,當一例子中,所使用的光源具 有預5又值或更低數值的短波長時,其製程可在真空中執 行。 15 同日守,使用光罩的光學微影製程其問題在於精細圖案 的光罩製造成本很高以及製造具有奈米圖案的光罩十分困 難。光干涉微影製程中,其t形成圖案的試樣係經由使用 與試樣有間隔的干涉光源,其問題在於圖案形狀的自由度 收到限制,以及當試樣與光源之間的距離增加時,圖案的 20 精確度降低。 近年來,運用奈米壓印製程在一大面積上形成精細圖. 案的技術已進行研究(韓國未審查專利申請書刊物編號 2005-37773與2005_75580)。然而,由於上述原因,對於製 造大到能夠使用在奈米壓印製程中進行圖案轉印的壓印器 200813640 有其困難性。因此,在使用奋半厭p在 1史用不水壓印製程的技術中,為了 在-大面積内形成精細圖案’不可避免的必需同時地使用 多數壓印器或重複地使用單一騎器數次。經由使用已知 奈米壓印製程在-大面積内形成精細圖案的一例子中,大 5 10 15 面積内的精細圖案不連續地形成,並且圖案的接合處產生 數十微米或更高的長度,此將不利於使用作為‘_。 總而言之,於相關技術領域中並無可在一大面積内連 續地形成奈㈣案的例子。為此,名詞,,大面積,,意指具有 -預设形狀的-面積,其該處為最長長度,例如,大於η 英忖的圓形直徑或矩形對角線,較佳為2〇英忖或更大值, 以及更佳為40英料更大值。現今的半導體晶片製造者, ”所用的最大晶圓尺寸為直徑12吋。此技術領域 ,而要發展可連續在大面積上形成精細圖案的方法。 【發明内容】 本發明已發現可相對地移動具有大面積試樣與干涉光 光源的—種方法,以及憑縣干涉光光源與具有滾筒形狀 =基板的相對㈣動,當旋轉基板時可有效㈣免相關技 術領域所產生的問題,例如於形成奈米圖案收備所需要 的-大^間’雷射的輸出限制,以及圖案自由度的限制。 因此’本發明之—主要目㈣提供可連續地在—大面積上 形成奈米圖案的一方法,可在具有一滚筒形狀的基板上形 成奈米圖案的一方法,以及使用此方法所形成之具有圖案 的基板。 20 200813640 5 10 法,其牛驟目=,本發明係提供一種形成圖案的方 铲:由二二.於一基板上形成-感光樹脂層,B)依據 干涉光所形成的圖案,選擇性地移動基板上形成的 :光树脂層與干涉光光源’進而選擇性地曝光感光樹脂 二=影選擇性的曝光感光樹脂層進而形成感 再者,本發明係提供一種形成圖案的方法,其步驟包 括㈨於具有-滚筒形狀的基板上形成一感光樹脂層,_ 據欲經由干涉光所形成的圖案,以基㈣軸方向選擇性地 移動干涉光光源與具有滚筒形狀的基板,當旋轉具有滾筒 形狀的基板上所形成的感光樹脂層時,進而選擇性的曝光 感光樹脂層’以及e)經由顯影選擇性的曝光感光樹脂層進而 形成感光樹脂層上的圖案。 依本發明所述,可能在一大面積上連續地形成奈米圖 15案,相較於已知技術,進而改善奈米圖案的自由度與精確 性,並且減少在一大面積上形成奈米圖案時所需的設備空 間。 本發明係提供一種形成圖案的方法,其步驟包括:A) 於一基板上形成一感光樹脂層,B)依據欲經由干涉光所形 2〇成的圖案,選擇性地移動基板上形成的感光樹脂層與干涉 光光源,進而選擇性地曝光感光樹脂層,以及c)經由顯影 選擇性的曝光感光樹脂層進而形成感光樹脂層上的圖案。 此方法可進一步的包括:D)藉由使用已圖案化的感光 樹脂層選擇性的独刻基板,以及E)移除感光樹脂層。 200813640 此方法可進一步的包括:D,)憑藉已圖案化之感光樹脂 層的包鑛以及從具有感光樹脂層的基板分離一電鍵部份進 而製造一模具,以及E,)經由使用模具轉印奈米圖案。 再者,本發明係提供一基板,經由使用包含步驟A、B、 5與C的方法,在其具有一最長寬度大於12吋的面積上,以奈 米或更小值的間隔於其至少一邊上連續地形成感光樹脂圖 案。其中形成圖案的面積,其具有的最長寬度較佳為12吋 或更大值’以及更佳為4〇吋或更大值。 再者,本發明係提供一基板,經由使用包含步驟A、B、 10 C、D與E或步驟A、B、C、D,與E,的方法,在其具有一最 長寬度大於12吋的面積上,以奈米或更小值的間隔於其上 連續地形成圖案。其,形成圖案的面積,其具有的最長寬 度較佳為12吋或更大值,以及更佳為4〇吋或更大值。 再者,本發明係提供一模具,經由使用包含步驟Α、β、 15 C^D、的方法,在其具有一最長寬度大於12吋的面積上,以 奈米或更小值的間隔於其上連續地形成圖案。其中形成圖 案的面積,其具有的最長寬度較佳為12吋或更大值,以及 更佳為40忖或更大值。 再者,本發明係提供一電子元件、一電子裝置或包含 20使用上述方法形成之奈米圖案的一壓印器。電子元件可以 為一分光偏振器以及電子裝置可以為一顯示器裝置。 再者,本發明係提供一種形成圖案的方法,其步驟包 括·· a)於具有-滾筒形狀的基板上形成一感光樹脂層,聯 據欲經由干涉光所形成的圖案,以基板的軸方向選擇性的 200813640 移動干涉光光源與具有滾筒形狀的基板,當旋轉具有滾筒 形狀的基板上所形成的感光樹脂層時,進而選擇性的曝光 感光樹脂層,以及C)經由顯影選擇性的曝光感光樹脂層進而 形成感光樹脂層上的圖案。 5 此方法可進一步的包括:d)經由使用圖案化的感光樹脂 層,以便於選擇性的蝕刻具有滾筒形狀的基板,以及e)移除 感光樹脂層。 此方法可進一步的包括:d,)憑藉已圖案化感光樹脂層 的電鍍以及從具有感光樹脂層的基板分離一電鍍部份進而 10 製造一模具’以及e’)經由使用模具轉印奈米圖案。 再者,本發明係提供具有滾筒形狀的一基板,經由使 用包含步驟a、b、與c的方法,在其具有一最長寬度大於12 对的面積上,以奈米或更小值的間隔於其至少一邊上連續 地形成感光樹脂圖案。其中形成圖案的面積,其具有的最 15 長寬度較佳為12吋或更大值,以及更佳為40吋或更大值。 再者,本發明係提供具有滾筒形狀的一基板,經由使 用包含步驟a、b、c、d與e或步驟a、b、c、d,與e,的方法, 在其具有一最長寬度大於12吋的面積上,以奈米或更小值 的間隔於其上連續地形成圖案。其中形成圖案的面積,其 20具有的最長寬度較佳為12吋或更大值,以及更佳為40吋或 更大值。 再者,本發明係提供一模具,經由使用包含步驟a、b、 c與d’的方法,在其具有一最長寬度大於12吋的面積上,以 奈米或更小值的間隔於其上連續地形成圖案。其中形成圖 200813640 案的面積,其具有的最長寬度較佳為12时或更大值’以及 更it為40时或更大值。 再者,本發明係提供一電子元件、一電子裝置或包含 使用上述方法形成奈米圖案的一壓印器。電子元件可以為 5 一分光偏振器以及電子裝置可以為一顯示器裝置。 再者,本發明係提供一種製造壓印器的方法,此方法 進一步的包括:d”)於步驟c後沈積金屬例如鉻(Cr)或一鉻合 金在感光樹脂圖案上,以及使用此方法所製造的一壓印器。 10 【實施方式】 下文將對本發明做更詳盡的敘述。 依本發明所述,形成圖案的其一方法係經由使用光學 微影製程形成圖案,其中使用干涉光圖案化一感光樹脂 層,以及於曝光感光樹脂層的過程中,在感光樹脂層形成 15 位置的干涉光光源與基板進行相對性的移動。 依本發明所述,形成圖案的另一方法係使用干涉光圖 案化一感光樹脂層,以及於曝光感光樹脂層的過程中,在 感光樹脂層形成位置的干涉光光源與具有滾筒形狀的基 板’在旋轉具有滾洵形狀的基板時,以基板的軸方向作相 2〇 對性的移動。 本發明中,可以使用干涉光源形成奈米圖案。再者, 與已知技術相比較,光源與基板放置在接近彼此的位置, 於曝光過程中,經由相對性的移動光源與基板上的感光樹 脂層’可以在一大面積上連續地形成圖案。使用基板具有 11 200813640 滾5狀的例子中,領悟到只要滾筒的長度增加,便容易 獲付大面積,所以,曝光過程中,當旋轉具有滚筒形狀 的基板時,干涉光的光源與具有滚筒形狀的基板以基板的 轴方向相對性的移動,相較已知技術,可以位於接近彼此 5的位置’進而連續地提供圍繞在具有大面積滾筒的螺旋圖 案。 ^亦即’相較於已知技術,具有大面積的樣本與光源之 «又置距離有數米間隔,以使光源輻射至具大面積之基板。 然而,本發明之光源與具有平板狀基板(或滾筒形狀的基板) 10以基板的軸方向相對性的移動,可以位於接近彼此的位 置進而連績地提供圍繞在具有大面積滚筒的螺旋圖案。 因此,相較習知技術,本發明可以減少形成一大面 圖案所=設備的空間。此外,當光源與基板之間的距離縮 紐可能改善在大面積上所形成圖案的精確性。一旦圖案 15的臬作過程中所需要的精確性可以確保,可以經由使用具 有類似短波長的光源波長準確地控制圖案。 再者,當光源與基板之間的距離縮短,容易執行多次 干涉性,並且可以確保光束前端的旋轉或交換作用。因此, 當可以形成各種形態的圖案時,可以克服已知方法中圖案 20形狀的限制。舉例之,本發明的方法中,經由多次干涉 以獲侍各種形態的圖案,例如圖4與7的例子中,該處使用 二光束干涉,以及圖5與8的例子中,該處使用四光束干涉。 本發明可以運用於必須在大面積上連續地形成高精確 性圖案的任何領域。可以使用本發明的方法且不需改變的 12 200813640 在具有滾筒形狀的基板處形成精細圖案,或者依據目的需 求’經由使用已知方法’在基板經製作而具有薄板形狀後 使用本發明的方法。舉例之,本發明可以運用在ag(防炫 光)/AR(抗反射)/LR(低反射)薄膜、防水/抗水薄膜、增亮薄 5膜、非等向性薄膜、偏光膜、自動清洗裝置、太陽能電池、 大合里全像記憶體、光子晶體、場發射顯示器(FED)電極、 轉印高精確圖案的壓印器,及其他相似裝置。 依本發明所述,使用光干涉形成圖案的一反應機構如 圖1所說明。圖i中,λ為光波長,e為光源入射角,以及口為 10 、、二由一光源形成之光束的干涉所形成的圖案之間的間距。 圖案之間的間距可使用下述方程式1計算而得。 [方程式1】 p=X/(2sin0) 因此,本發明中,光源的數量與形狀,光的入射型態, 15以及作為干涉的光源之間的角度可以控制進而決定圖案的 形狀與尺寸。本發明中,可以使用具有紫外光線區域(193 至35 lnm)的光線作為光源。本發明中,可以依據感光樹脂 的型態決定光源的型態,以及可以依據光源的型態決定感 光樹脂的型態。 2〇 當形成圖案具有一維形狀的例子中,如圖4所示,經由 =對性,移動試樣與光源可以在一大面積上連續地形成圖 案。滾筒基板的例子中,如果形成具有一維形狀的圖案, ^圖7所示,當旋轉具有滾筒形狀的基板時,光源與具有滾 筒形狀的基板以基杈的軸方向作相對性的移動,進而連續 25 地k供圍繞滾筒的螺旋圖案。 13 200813640 當形成的圖案具有簡單二或三維形狀的例子中,如圖$ 所不,經由同步化沿著圖案形成形狀的縱向循環,可以降 低橫向干涉程度以及可叫得脈動的水平干涉。滾筒基板 中’如圖8所示’經由同步化沿著圖案形成形狀的縱 "循玉衣’可以降低視為基板旋轉的軸干涉程度,以及可以 獲得有節奏的脈動。 更複雜的形狀如圖6與9所示,半導體製作過程典型地 使用壓印方法,那就是,可以執行重複製作與輸送過程進 而執行蝕刻而不產生節點的方法。特別地,於輸送過程中, 10 必須使用遮光器或斷路器阻擋光源。 、本發明中,相對性的移動干涉光光源與基板上形成之 感光樹脂層的方法無任何限制。如圖4所示,依本發明一較 佳貫施例所述之方法,其步驟包括土”經由相對性的移動 形成於基板上的感光樹脂層與相對應的光源,使得干涉光 15照射在感光树知層上。以及Β2)相對性的移動光源與相對應 的基板,以便於使光源照射在步驟B1未曝光的感光樹脂層 上。重複步驟B1與B2。步驟Bi中,基板以縱方向移動,以 及步驟B2中,基板以橫方向移動。 如圖7所示,依本發明另一具體實施例所述之方法,其 20妒驟包括:bl)經由相對性的移動形成於滚筒基板上的感光 樹脂層與相對應的光源,使得干涉光照射在感光樹脂層 上。以及b2)以軸方向相對性的移動光源與相對應的基板, 以便於使光源照射在步驟^未曝光的感光樹脂層上。重複 200813640 步驟Μ與b2。步驟bl中,基板以縱方向移動,以及步驟b2 中,基板以橫方向移動。 依本發明其他具體貫施例所述之方法,干涉光前端可 以旋轉或交換進而提供各種不同形態的圖案。本發明中, 5 可以使用如圖10至12所示的一半鏡、一洛埃鏡(L〇yd)以及一 稜鏡作為一干涉光源前端,但是干涉光前端不侷限於此。 如果旋轉圖12所示的稜鏡前端,可以獲得同中心的圓形結 構,亦就是一菲淫爾透鏡(Fresnel len)結構 本發明中’任何材料可以使用作為構成感光樹脂的材 10 料,只要該材料可運用於相關技術領域的光學微影製程, 此類材料之舉例可包括由Microchem·公司所製造的SU-6與 SU-8。使用感光樹脂於基板上形成感光樹脂層的方法無任 何限制,任何相關技術領域所熟知的方法皆可使用。舉例 之,SU-8感光樹脂覆蓋於基板上,UV照射在覆蓋於基板的 15 樹脂上,然後形成的基板可使用有機溶劑例如丙二醇曱_ 醋酸酉旨(Propylene Glycol Monomethyl Ether Acetate, PGMEA)、γ-丁内 6旨(Gamma-Butyrolactone,GBL)以及曱基 異丁酮(Methyl Iso-Butyl Ketone,MIBK)進行顯影以便於形 成圖案。 20 本發明中,具有滾筒形狀且其上形成感光樹脂層的基 板可為中空或實心體。基板的目標材料可以覆蓋於具有滚 筒形狀的支撐物上進而製造一滚筒基板。 本發明中,依據使用目的可以決定其上形成感光樹月旨 層的基板材料。舉例之,當一例子中,運用於AG(防綠 15 200813640 光)/AR(抗反射yLR(低反射)薄膜、防水/抗水薄膜、增亮薄 膜、非等向性薄膜、或偏光膜、光學穿透材料,可提供精 細圖案化感光樹脂層的基板,可以使用例如玻璃、石英或 透明樹脂作為基板用的材料。再者,當經由上述製程使用 5 感光樹脂層圖案化在基板上形成精細圖案的例子_,一材 料可以以此技術領域中熟知的蝕刻溶液進行選擇性的餘 刻’例如金屬材料,可以使用做為基板的材料。舉例之, 當經由上述製程形成具有圖案之基板使用作為一壓印器的 例子中,玻璃或石英可以使用做為基板的材料。 10 依據包含步驟A、B與C的方法,可以提供一基板,在 具有最長寬度大於12吋的一面積上,以奈米或更小值的間 距於基板的至少一邊連續地形成感光樹脂圖案。再者,依 據包含步驟a、b與c的方法,可以提供一基板,在具有最長 寬度大於12吋且具有滾筒形狀的一面積上,以奈米或更小 15 值的間距於基板的至少一邊連續地形成感光樹脂圖案。 此例子中,形成圖案之面積最長寬度較佳值為2〇吋或 更大值,以及更佳值為4〇吋或更大值。基板或具有滾筒形 狀的基板’其上具有奈米尺寸的感光樹脂圖案可以運用在 AG(防炫光)/AR(抗反射)/LR(低反射)薄膜、防水/抗水薄 20 膜、增亮薄膜、非等向性薄膜、或偏光膜,以及上述薄膜 可以運用在顯示器裝置。 本發明之方法可以進一步的包括D”),於步驟c之後沈 積金屬例如鉻或鉻合金,以及使用此方法製造的基板,可 使用作為一壓印器。製造一壓印器的製程如圖3所說明。 16 200813640 依本發明所述之方法而形成圖案的方法可進一步包括 D)、纟二由使用圖案化感光樹脂層以便於選擇性的钱刻基 板,以及e)移除感光樹脂層。 為了選擇性蝕刻依據感光樹脂層圖案化所形成的基 5 板,可以使用本技術領域中所熟知的钱刻製程與餘刻劑。 舉例之,選擇性餘刻基板可經由將基板浸入例如丙二醇甲 醋酸酯(Propylene Glycol Monomethyl Ether Acetate, PGMEA)的溶劑中。 依據包括步驟A、B、C、D以及E的前述方法以及步驟 10 A、B、C、D’以及E’的前述方法,可以提供一基板,在具 有最長寬度大於12吋的一面積上,以奈米或更小值的間距 連續地形成感光樹脂圖案。形成圖案的面積,其最長的寬 度較佳值為20吋或更大值,以及更佳值為40吋或更大值。 其上形成奈米圖案的基板可以運用在AG(防炫光)/AR(抗反 15 射)/LR(低反射)薄膜、防水/抗水薄膜、增亮薄膜、非等向 性薄膜、偏光膜、自動清洗裝置、太陽能電池、大容量全 像記憶體、光子晶體、場發射顯示器(FED)電極以及轉印高 精確圖案的壓印器。 依本發明所述,形成圖案的方法可進一步包括D’),執 20 行圖案化感光樹脂層的電鍍以及從具有感光樹脂層的基板 分離電鍍部份,進而製造一模具,以及E,)使用此模具轉印 奈米圖案。 步驟D,)的電鍍作業可以執行本技術領域所熟知的製 程,例如,一電鍍製程。此關連性中,可以使用鎳或鋁作 17 200813640 5 i 10 15 20 為包鑛材料。步驟E’轉印圖案之執行可以使用本技術領域 熱知的製程。舉例之,一可硬化樹脂壓製於模具上並藉由 熱或光硬化,然後模具從樹脂層分離以便於轉印圖案。 依據包含步驟A、B、c以及D,的上述方法,可以提供 一模具,其上具有最長寬度大於12吋的面積上以奈米或更 小值的間距連續地形成圖案。形成圖案的面積其最長寬度 較佳值為20吋或更大值,以及更佳值為4〇吋或更大值。再 者,使用模具轉印圖案進而可大量製造其上具有精細圖案 形成的薄膜,例如,AG(防炫光)/AR(抗反射)/LR(低反射) 薄膜、防水/抗水薄膜、增亮薄膜、非等向性薄膜或偏光膜。 依據構成模具材料的型態,模具可為半永久性使用。 本發明的另一方法可進一步包括d”),於步驟C之後沈 積金屬例如鉻或鉻合金,使用此方法所製造之具有滾筒形 狀的基板,可使用作為具有滾筒形狀的一壓印器。 為了選擇性蝕刻依據感光樹脂層圖案化所形成之具有 滾筒形狀的基板,可錢用本技術領域巾所熟知的姓刻製 程與钱刻劑。舉例之,選擇性⑽具有滾筒形狀的基板可 經由將基板浸人例如丙二醇甲㈣酸0旨咖州⑽吻⑺i M〇nomethyl Ether ACetate,PGMEA)的溶劑中。 依據包括步驟a、b、c、d以及e的前述方法或步驟 c、d’以及e’的前述方法,可讀供—具有滾筒形狀的基板, 在具有最長寬度大於12叶的—面積上,以奈米或更小值的 間距連續地形成圖案。形成圖案的面積,其最長的寬度較 佳值為20吋或更大值,以及更佳值為4〇吋或更大值。其上 18 200813640 形成不米圖案之具有滾筒形狀的基板可以運用在AG(防炫 光)/AR(抗反射)/LR(低反射)薄膜、防水/抗水薄膜、增亮薄 膜二?等向性薄膜、偏光膜、自動清洗裝置、太陽能電池、 大合里全像記憶體、光子晶體、場發射顯示器(FED)電極以 5 及轉印高精確圖案的壓印器。 依本發明所述,形成圖案的方法可進一步包括d,),執 打圖案化感光掛脂層的電鍍以及從具有感光樹脂層與滾筒 形狀的基板分離電鍍部份,進而製造一模具,以及e,)使用 此模具轉印奈米圖案。 10 步驟d’)的電鍍作業可以執行本技術領域所熟知的製 程,例如,一電鍍製程。此關連性中,可以使用鎳或鋁作 為電鍍材料。步驟e,轉印圖案之執行可以使用本技術領域熟 知的製程。舉例之,一可硬化樹脂壓製於模具上並藉由熱 或光硬化,然後模具從樹脂層分離以便於轉印圖案。 15 依據包含步驟a、b、c以及d,的上述方法,可以提供一 杈具,其上具有最長寬度大於12吋的面積上以奈米或更小 值的間距連續地形成圖案。形成圖案的面積其最長寬度較 佳值為20吋或更大值,以及更佳值為4〇吋或更大值。再者, 使用杈具轉印圖案進而可大量製造其上具有精細圖案形成 20的薄膜,例如,AG(防炫光)/AR(抗反射)/LR(低反射)薄膜、 防水/抗水薄膜、增亮薄膜、非等向性薄膜或偏光膜。依據 構成模具材料的型態,模具可為半永久性使用。 依本發明所述,在具有最長寬度大於12吋,較佳值為 2〇吋或更大值,以及更佳值為4〇吋或更大值的一大面積上 200813640 連績地形成奈米圖案。近來半導體晶片製造者,為了光學 微影製程所使用之晶圓最大尺寸為直徑12吋,並且從未有 過在具有直徑或對角線大於12吋的面積上形成奈米圖案的 例子。 5 依上述方法所形成之奈米圖案可以運用在電子元件或 電子裝置上,以及使用作為一壓印器。電子元件之舉例可 包括一分光偏振器,以及電子裝置之舉例可包括顯示器裝 置。 10 【圖式簡單說明】 圖1係本發明一較佳實施例之示意圖,說明經由使用光 源干涉性形成圖案的一反應機構。 圖2係本發明一較佳實施例之佈局圖,說明使用光干涉 性的一圖案化製程。 15 圖3係本發明一較佳實施例之流程圖,說明一壓印的製 造程序。 圖4至6係本發明較佳實施例之示意圖,說明本發明一 具體實施例中,憑藉相對移動一基板與一光源而形成圖案 的方式。 ' 20 圖7至9係本發明較佳實施例之示意圖,說明本發明_ 具體實施例中,憑藉相對移動具有滾筒形狀的一基板與一 光源,當轉動具有滾筒形狀的基板而形成圖案的方式。 圖10至12係本發明較佳實施例之示意圖,說明不同形 態的干.涉光前端。
20
Claims (1)
- 200813640 十、申請專利範圍·· 1· 一種形成圖案的方法,此方法包括: A) 於一基板上形成一感光樹脂層; B) 依據欲經由干涉光所形成的圖案,選擇性地移動基板 5 上形成的感光樹脂層與干涉光光源,進而選擇性地曝光感 光樹脂層;以及 C) 經由顯影選擇性的已曝光感光樹脂層進而形成感光 樹脂層上的圖案。 2.如申請專利範圍第ί項所述之方法,其中步驟B包括: 1〇 Β1)經由相對性的移動形成於基板上的感光樹脂層與相 對應的光源,使得干涉光照射在感光樹脂層上;以及 Β2)相對性的移動光源與相對應的基板,以便於使光源 照射在步驟Β1未曝光的感光樹脂層上。 其中重複步驟Β 1與Β2。 15 3.如中請專利範圍第i項所述之方法,進—步包括: D) 、工由使用已圖案化的感光樹脂層進而選擇性的姓刻 基板。 4.如申請專利範圍第3項所述之方法,達 E)移除感光樹脂層。 20 5·如申請專利範圍第1項所述之方法,進-步包括: 二ΤΙ已圖案化感光樹脂層的電鑛製造-模具,以 攸具有感光糾旨層的基板上分離1鍍部份。 6·如申請專利範圍第5項 "^刀 、斤述之方法,進一步包括: Ε)經由使用模具轉印奈米圖案。 21 200813640 7· —種基板,經由使用專利申請範圍第丨項所述的方 法,在具有一最長寬度大於12吋的面積上,以奈米或更小 值的間隔於其至少一邊上連續地形成感光樹脂圖案。/、 5 10 15 20 匕8·如申請專利範圍第7項所述之基板,其中形成感光樹 脂圖案的面積具有20吋或更大值的最長寬度。 a 9. 一基板,經由使用專利申請範圍第4項所述的方法, 在具有一最長寬度大於12吋的面積上,以奈米或更小值的 間隔於其上連續地形成圖案。 10. 如申請專利範圍第9項所述之基板,其中形成圖案 的面積具有20吋或更大值的最長寬度。 11. 一種模具,係使用專利申請範圍第5項所述的方法 中,在具有一最長寬度大於12吋的面積上,以奈米或更小 值的間隔於其上連續地形成圖案。 12·如申請專利範圍第11項所述之模具,其中形成圖案 的面積具有20吋或更大值的最長寬度。 一13· 一種電子元件,經由使用專利申請範圍第1至4項以 及弟6項中任一項所述的方法,在具有一最長寬度大於12吋 的面積上,以奈米或更小值的間隔於其上形成圖案。 14·如申請專利範圍第13項所述之電子元件,其卡電子 凡件為一分光偏振器。 15· —電子裝置,經由使用專利申請範圍第1至4項以及 第6項中任一項所述的方法,在具有一最長寬度大於a吋的 面積上,以奈米或更小值的間隔於其上形成圖案。 22 200813640 16.如申請專利範圍第15項所述之電子裝置,其中電子 裝置為一顯示器裝置。 17· —種製造壓印器的方法,此方法包括: A)於一基板上形成一感光樹脂層; 5 B)依據欲經由干涉光卿成_案,選擇性地移動基板 上形成的感光樹脂層與干涉光光源,進而選擇性地曝光感 光樹脂層; )、工由,4〜選擇性的已曝光感光樹脂層進而形成感光 樹脂層上的圖案;以及 10 D”)沈積金屬至感光樹脂圖案上。 18.如申請專利範圍第17項所述之方法,其中步驟 的金屬為絡或絡合金。 、、19·—種”器’經由使用專利中請範圍第17項所述的 方法’在具有一最長寬度大於12忖的面積上,以奈米或更 15 小值的間隔於其上形成圖案。 20· —種形成圖案的方法,該方法包括: a) 於具有一滾筒形狀的基板上形成—感光樹脂層; b) 依據欲經由干涉光所形成的圖案,以基板的軸方向選 擇性地移動干涉光光源與具有滾筒形狀的基板,當旋轉具 20有滾筒形狀的基板上所形成的感光樹脂層時,進而選擇性 的曝光感光樹脂層;以及 C)^由顯影選擇性的已曝光感光樹脂層進而形成减光 樹脂層上的圖案。 心 21·如申請專利範圍第20項所述之方法,進一步包括··23 200813640 D)經由使用已圖案化的感光樹脂層 具有滾筒形狀的基板。 進而選擇性的钱刻22·如申請專利範圍第21項所述之方 e)移除感光樹脂層。 法,進一步包括: 10 23. 如申請專利範圍第20項所述之方法,進一步包括. t d’)憑藉已圖案化感光樹脂層的電锻以及從具有感光樹 月曰層與滾筒形狀的基板分離—電鍍部份進而製造一模具。 24. 如申請專利範圍第23項所述之方法,進一步'包、括: 經由使用模具轉印奈米圖案。 25· -種具有滾筒形狀之基板,經由使用專利申請範圍 第項所述的方法,在具有-最長寬度大於財的面積 上’以奈米或更小值的間隔於其上連續地形成感光樹脂圖 15 20 26. 如申請專利範圍第25項所述之具有滾筒形狀的基 板,其中形成感光樹脂圖案的面積具有2〇吋或更大值的最 長寬度。 27. —種具有滾筒形狀之基板,經由使用專利申請範圍 第22項所述的方法,在具有一最長寬度大於以吋的面積 上’以奈米或更小值的間隔於其上連續地形成圖案。 28·如申請專利範圍第27項所述之具有滾筒形狀的基 板,其中开> 成圖案的面積具有2〇付或更大值的最長寬度。 29· —種模具,經由使用專利申請範圍第23項所述的方 法,在具有一最長寬度大於12吋的面積上,以奈米或更小 值的間隔於其上連續地形成圖案。24 200813640 30.如申請專利範圍第29項所述之模具,其中形成圖案 的面積具有20吋或更大值的最長寬度。 、31. 一種電子元件,經由使用專利申請範圍第汕至以 項以及第24項中任-項所述的方法,在具有一最長寬度大 5於12相面積上,以奈米或更小值的間隔於其上形成圖又案。 32. 如申請專利範圍第31項所述之電子元件,其中電子 元件為一分光偏振器。 33. —種電子裝置,經由使用專利申請範圍第如至以 項以及第24項中任一項所述的方法,在具有一最長寬度大 10於12对的面積上,以奈米或更小值的間隔於其上形成圖又案。 34·如申請專利範圍第33項所述之電子裝置,其申電子 裝置為一顯示器裝置。 35. —種製造具有滚筒形狀之壓印器的方法,此方法包 括: 15 幻於具有一滾筒形狀的基板上形成一感光樹脂層; b)依據欲經由干涉光所形成的圖案,以基板的軸曰方向選 擇性地移動干涉光光源與具有滾筒形狀的基板,當旋轉具 有滾筒形狀的基板上所形成的感光樹脂層時,進而選擇性 的曝光感光樹脂層; W C)經由顯影選擇性的已曝光感光樹脂層進而形成咸弁 樹脂層上的圖案;以及 ^ d”)沈積金屬至感光樹脂圖案。 36. 如申請專利範圍第35項所述之方法,其中步驟 的金屬為絡或絡合金D 25 200813640 37. —種具有滾筒形狀的壓印器,經由使用專利申請範 圍第35項所述的方法,在具有一最長寬度大於12吋的面積 上,以奈米或更小值的間隔於其上形成圖案。 26 200813640 七、指定代表圖·· (一) 本案指定代表圖為:圖(1 )。 (二) 本代表圖之元件符號簡單說明: 八、本案若有化學式時,請揭示最能顯示發明特徵的化學式:
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JPH04143790A (ja) * | 1990-10-04 | 1992-05-18 | Toppan Printing Co Ltd | ホログラム複製型およびホログラムの製造方法 |
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US6716017B2 (en) * | 2001-03-09 | 2004-04-06 | Paper Converting Machine Company | Embossing roll with removable plates |
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WO2004023210A1 (en) * | 2002-08-30 | 2004-03-18 | Toyo Gosei Co., Ltd. | Method for producing a pattern formation mold |
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KR20050075580A (ko) * | 2004-01-16 | 2005-07-21 | 엘지전자 주식회사 | 나노 임프린트 리쏘그라피를 이용한 대면적 스탬프 제작방법 |
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