JP2002198301A - 露光装置 - Google Patents

露光装置

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Mitsutoyo Kiko Co Ltd
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  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 小さい単位干渉露光領域の重ね合わせにより
長尺範囲の均一露光を可能とした露光装置を提供する。 【解決手段】 レーザ光源1の出力光ビームA0は、ミ
ラー2で反射されてコリメートレンズ系3に入射され、
ビーム径を拡大したコリメート光A1を生成する。この
コリメート光A1は、光波を2分して偏向交差させる光
学デバイスであるプリズム41により2分されて光路偏
向し、それらの交差によって、ワーク5で干渉縞53を
生成する。ワーク5を搭載したステージ6を、干渉縞4
3の周期の整数倍のピッチでステップ的に駆動して、干
渉縞43による複数回の露光をオーバラップさせること
により、長尺の周期構造を露光する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は、フォトリソグラ
フィ工程に用いられる露光装置に係り、特に微細周期構
造を持つスケール等の加工に適用して有用な露光装置に
関する。
【0002】
【従来の技術】従来より、半導体集積回路等の微細加工
技術に適用される露光方法として、縮小投影露光、電子
ビーム(EB)露光等が一般に用いられている。また、
回折格子等の微細な繰り返しパターンの加工に適した露
光法としては、レーザ光等のコヒーレント光を用いた光
波干渉露光(ホログラフィック露光)がある。これは、
レーザ出力光を2光波に分岐し、それぞれの光波を露光
に適したビーム径になるうに拡大コリメートした後に交
差させて、その公差領域に生じる干渉縞を利用してワー
クを露光するものである。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかし、従来のホログ
ラフィック露光法には、次のような問題があった。 平行波面の露光ビームは、光強度がガウシアン分布を
有する。このため、広範囲を均一に露光するためには、
ビーム径を必要な露光範囲以上にまで大きく拡大するこ
とが必要になる。その結果、長尺のスケール等の露光装
置を作るには、光学部品が高価になり、場合によっては
光学部品の製造が困難である。 ビーム径を拡大することにより、そのビーム径内で空
気屈折率変動等の環境変動による光路長変化が生じるた
め、均一な周期構造の露光が難しく、また均一な周期構
造を露光するためには安定した環境が必要となる。 更に、との関連で広範囲の均一露光のためにはレー
ザ出力光の一部しか使用できないことから、長い露光時
間が必要となり、フォトレジストの安定性や選択性が問
題になる。露光時間を短くするために光量を大きくしよ
うとすると、光源が高価なものとなってしまう。 ホログラフィック露光に限らず、他の露光法でも同様
であるが、長尺の繰り返しパターンを露光する際につな
ぎ露光を行うと、周期構造の不均一性が生じる。
【0004】この発明は、上記事情を考慮してなされた
もので、小さい単位干渉露光領域の重ね合わせにより長
尺範囲の均一露光を可能とした露光装置を提供すること
を目的としている。
【0005】
【課題を解決するための手段】この発明に係る露光装置
は、露光すべきワークを搭載するステージと、コヒーレ
ント光源と、このコヒーレント光源の出力光を径を拡大
してコリメートするコリメートレンズ系と、このコリメ
ートレンズ系から得られるコリメート光を2分した光波
を偏向交差させることにより前記ワーク上に干渉縞を生
成する光学デバイスと、前記ワークのある範囲を均一露
光するために前記ステージを重ね合わせエネルギーの分
布が均一になるピッチでステップ的に駆動して、前記干
渉縞による複数回の露光をオーバラップさせるステージ
駆動装置と、を備えたことを特徴とする。
【0006】この発明によると、拡大コリメート光をプ
リズム等の光学デバイスを用いて2分して偏向交差させ
干渉させて得られる干渉縞の多重露光を行うことによ
り、コンパクトな光学系で長尺の周期構造を露光するこ
とができる。
【0007】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照して、この発明
の実施例を説明する。図1は、この発明の実施例による
ホログラフィック露光装置の構成例を示している。この
露光装置の露光用光源は、コヒーレント光源としてのレ
ーザ光源1である。レーザ光源1の出力光ビームA0
は、ミラー2により光路偏向されて、コリメートレンズ
系3に入射される。コリメートレンズ系3は、光ビーム
A0を集光する入射レンズ(集光レンズ)31と、その
集光位置付近に配置された空間フィルタ(ピンホール)
32、及び集光してビーム径が拡大された光をコリメー
トするコリメートレンズ33を有する。コリメートレン
ズ系3は、鏡筒34に一体に収められている。
【0008】コリメートレンズ系3の下には、コリメー
ト光から干渉縞を生成するための光学デバイスとして、
この実施例ではプリズム41を収容したプリズムホルダ
4が取り付けられている。コリメート光学系3とプリズ
ムホルダ4とは、互いに回転、傾斜、横方向の相対移動
が可能に結合されている。プリズム41は、コリメート
レンズ系3から得られる拡大コリメート光A1を頂角で
受けて2分した光波を偏向交差させることにより、その
下方に配置された露光すべきワーク5上に干渉縞を生成
するための光路偏向干渉デバイスである。
【0009】具体的に、プリズム41は、図2に拡大し
て示したように、傾斜角θの2面が交差する頂角部が、
拡大コリメート光A1に対向するように配置されてい
る。レーザ光源1の真空波長をλ、プリズムの傾斜角θ
の斜面での屈折による2分割光波の交差角をα、屈折率
をnとすると、干渉縞周期Pは、P=λ/(2nsin
α)で表される。
【0010】図4は、平面図で示したプリズム41とコ
リメート光A1の関係、同じく平面図(ワーク5側から
見た)で示した干渉縞43とワーク5の関係、更に干渉
縞43の単位露光領域の光強度分布を示している。図示
のように、プリズム41はその頂角部が形成する稜線4
2が、拡大コリメート光A1の光軸と直交し、且つワー
ク5の移動方向xとも直交するように配置されている。
これにより、コリメート光A1はその光軸で2分され且
つ、2分された光波は互いに交差するように光路が偏向
される結果、干渉縞43を生成することになる。
【0011】また干渉縞43は、遮光部により不要部分
を遮光することで、単位露光領域を規定するフラットト
ップの干渉縞強度分布を示す。この様に生成される干渉
縞43が露光光として、ステージ6に搭載されたワーク
5に照射され、露光が行われる。ワーク5の前面には、
露光用シャッター7が配置されている。この露光用シャ
ッター7の開閉と、ステージ駆動回路9によるステージ
6のx方向のステップ的駆動の組み合わせにより、ワー
ク5に対して、干渉縞による多重露光を行う。
【0012】ワーク5の上方には、干渉縞の位相、周期
及び強度を検出する干渉縞検出器8が配置されている。
この干渉縞検出器8の出力はコントローラ12に送られ
る。また、ワーク5の位置を測定する測長器10が設け
られ、その測定データもコントローラ12に送られる。
そしてコントローラ12は、干渉縞検出器8の検出デー
タ及び、測長器10により測定されるワーク静止後の位
置データに基づいて、干渉縞走査機構を構成するアクチ
ュエータ14を制御して、露光干渉縞の位相を制御す
る。具体的にいえば、コントローラ12により、ワーク
5上に露光する干渉縞をx方向に連続的につなげるよう
に、前回露光時の干渉縞位相に合わせるべく、プリズム
41のx方向位置を微小変位制御する。
【0013】即ち、ワーク5の移動においては、干渉縞
のつなぎ合わせ位相を一致させたステップ露光と長尺時
に重ね合わせた露光エネルギー分布が均一になるような
等ピッチ送りを繰り返し(ステップ・アンド・リピー
ト)行うように、ステージを制御して、長尺周期構造の
露光を行うようにしている。なお、コリメートレンズ系
3の主要部分は、一点鎖線で示したように安定化チャン
バ21に収容されて、露光光の安定化が図られている。
この安定化チャンバ21は、各種駆動保持機構を含む。
【0014】具体的な露光工程では、前述のように干渉
縞走査・安定化と共に、露光シャッター7の開閉制御が
行われる。即ち、コントローラ12は、干渉縞検出器8
により検出される干渉縞が安定状態にあることを確認し
て、露光シャッター7を開いて、露光エネルギーがある
値になるまで露光をする。そして、露光シャツター7を
閉じてステップ露光を終了し、ステージ6を一定距離送
る。以下、同様の動作の繰り返しとなる。
【0015】干渉縞走査機構は、前述のように、プリズ
ムホルダ4をコリメートレンズ系3に対して、x方向に
微少駆動するPZTアクチュエータ14により構成され
る。このアクチュエータ14によりプリズム41を微小
駆動すると、コリメート光A1の分割位置が移動する結
果、生成される干渉縞42をx方向に微小距離走査する
ことができる。従って、干渉縞検出器8の出力を監視し
てコントローラ12によりアクチュエータ14を制御す
ることにより、単位干渉縞による露光をx方向につなげ
て長尺周期構造の多重露光を行う際に、そのつなぎを正
確に制御することが可能になる。
【0016】図3Aは、そのようなつなぎ露光による干
渉光強度分布を示している。単位露光領域の干渉縞強度
分布は、図4で説明したようにフラットトップとなり、
これをステップ的に送り且つ各露光位置で位相制御を行
うことにより、広い露光範囲Lを均一露光することが可
能になる。
【0017】この実施例では更に、干渉縞の周期補正機
構及びステージの真直度(ピッチング)補正機構を備え
ている。干渉縞の周期補正機構は、コリメートレンズ系
3に設けられたPZTアクチュエータ13である。この
アクチュエータ13によりコリメートレンズ系3を相対
的にプリズム41に対して傾斜させる。図2に一点鎖線
で示したように、プリズム41をコリメート光A1に対
して相対的にヨー方向に微小回転傾斜させることによっ
て、得られる干渉縞43の周期を微調整することができ
る。
【0018】図5は、プリズム41の回転傾斜角と得ら
れる干渉縞周期の関係を示している。回転傾斜角xと周
期yの関係は、負の二次関数で近似されるため、ある傾
斜位置を初期位置として、正負の微小傾斜角によって干
渉縞周期を可変できる。
【0019】従って、干渉縞検出器8の検出データを監
視しながら、コントローラ12によりこのアクチュエー
タ13を制御することによって、干渉縞周期変動を補正
して安定した干渉縞周期を得ることができる。
【0020】ステージ真直度補正機構は、ステージ6の
真直度を測定する真直度測定器11と、プリズムホルダ
4をコリメートレンズ系3に対して、光軸周りに微小回
転させるPZTアクチュエータ15とを備えて構成され
る。真直度測定器11の出力をコントローラ12により
監視しながら、アクチュエータ15を制御して、干渉縞
43をワーク5に対して相対回転させることにより、長
尺露光の際のピッチング補正ができる。
【0021】以上のようにこの実施例によると、干渉露
光光を重ね合わせて露光することにより、長尺の周期構
造デバイスに対し均一な露光強度で露光することが可能
になる。しかも、プリズム内で光波を2分岐して偏向交
差させて干渉縞を生成するため、外乱に対して安定であ
る。更に、光学系はコンパクトであり、露光装置を小型
で低コスト且つ安定性の高いものとすることができる。
また、単位露光光の重ね合わせを利用するので、レーザ
光源が小さいものでもトータルとして大きな露光強度が
得られるから、露光時間の短縮が図られ、また光源の選
択性が高いものとなる。更に、露光の長尺化は、干渉光
学系に依存することなく、容易に長尺化が可能であり、
高性能の周期構造デバイスを作ることが可能になる。更
に、プリズム傾斜に対して干渉縞周期が2次の特性で変
化するため、干渉縞周期の微調整も簡単である。ステー
ジ真直度の影響も、プリズムの相対回転により安定に補
正することができる。
【0022】この発明は上記実施例に限られない。例え
ば、光波を2分して偏向交差させて干渉縞を生成するた
めの光学デバイスとして、図6(a)に示すように、上
記実施例と同様のプリズム41をその頂角を逆配置して
用いてもよい。或いはまた、図6(b)に示すように回
折格子41aを用いることもできる。
【0023】図6(b)のように回折格子41aを用い
た場合、干渉縞強度分布は、図3Aに対して図3Bのよ
うになる。即ち、ガウシアン分布を有する干渉露光光a
1,a2,a3,…を一定の送り移動量で送りながら多
重露光することにより、トータルの露光光強度bは、あ
る範囲Lで均一になる。この範囲Lが、スケール等の周
期構造デバイスの有効長に達するように繰り返し露光を
行うことによって、長尺の周期構造の露光が可能にな
る。
【0024】
【発明の効果】以上述べたようにこの発明によれば、プ
リズム等の光学デバイスによるコリメート光の2分岐と
交差による干渉縞を生成し、これを用いて多重露光する
ことにより、小さい光学系で長尺の周期構造デバイスの
均一露光を行うことが可能になる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 この発明の実施例による露光装置の構成を示
す図である。
【図2】 同実施例による干渉縞露光の原理を示す図で
ある。
【図3A】 同実施例による長尺露光の露光強度分布を
示す図である。
【図3B】 他の実施例による長尺露光の露光強度分布
を示す図である。
【図4】 同実施例によるプリズム、干渉縞、ワークの
相対関係を示す図である。
【図5】 同実施例によるプリズム傾斜による干渉縞周
期変化の特性を示す図である。
【図6】 他の実施例による光学デバイスを示す図であ
る。
【符号の説明】
1…レーザ光源、2…ミラー、3…コリメートレンズ
系、31…入射レンズ、32…空間フィルタ、33…コ
リメートレンズ、4…プリズムホルダ、41…プリズム
(光学デバイス)、5…ワーク、6…ステージ、7…露
光シャッター、8…干渉縞検出器、9…ステージ駆動回
路、10…測長器、11…真直度検出器、12…コント
ローラ、13,14,15…アクチュエータ。

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 露光すべきワークを搭載するステージ
    と、 コヒーレント光源と、 このコヒーレント光源の出力光を径を拡大してコリメー
    トするコリメートレンズ系と、 このコリメートレンズ系から得られるコリメート光を2
    分した光波を偏向交差させることにより前記ワーク上に
    干渉縞を生成する光学デバイスと、 前記ワークのある範囲を均一露光するために前記ステー
    ジを重ね合わせエネルギーの分布が均一になるピッチで
    ステップ的に駆動して、前記干渉縞による複数回の露光
    をオーバラップさせるステージ駆動装置と、を備えたこ
    とを特徴とする露光装置。
  2. 【請求項2】 前記ワークに照射される干渉縞の位相、
    周期及び強度を検出する干渉縞検出器と、前記ステージ
    の移動距離を測定する測長器と、前記光学デバイスを前
    記ワークの移動方向に微少変位させて露光干渉縞を走査
    し安定化させる干渉走査機構と、前記干渉縞検出器及び
    測長器の出力に基づいて干渉縞を制御するコントローラ
    とを有することを特徴とする請求項1記載の露光装置。
  3. 【請求項3】 前記光学デバイスを前記コリメート光の
    光軸周りに微小角度回転させることにより、前記干渉縞
    の縞方向とワークの真直度を補正する真直度補正機構
    と、前記ワークの真直姿勢を検出する真直度測定器とを
    有することを特徴とする請求項1記載の露光装置。
  4. 【請求項4】 前記光学デバイスを、前記コリメート光
    の光軸方向と前記ワークの移動方向とがなす角内で微小
    角度傾斜させることにより、前記干渉縞の周期を補正す
    る干渉縞周期補正機構を有することを特徴とする請求項
    1記載の露光装置。
  5. 【請求項5】 前記コリメートレンズ系は、安定化チャ
    ンバに収容されていることを特徴とする請求項1記載の
    露光装置。
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