TW200537992A - Plasma generating equipment - Google Patents
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Description
200537992 (1) 九、發明說明 【發明所屬之技術領域】 本發明是有關例如根據氣體電漿來形成膜的電漿 CVD裝置,根據氣體電漿來對濺鍍靶進行濺鍍而形成膜 的裝置,根據氣體電漿來進行蝕刻的電漿蝕刻裝置,從氣 體電漿來引出離子而進行離子注入或離子摻雜的裝置等之 類利用電漿的各種裝置,以及利用如此的裝置之各種半導 體或其零件的製造裝置,或如液晶顯示裝置或其零件的製 造裝置等之類利用電漿的各種裝置中所能利用的電漿產生 裝置。 【先前技術】 使氣體電漿產生的方法有各式各樣,其中在電漿產生 室内儘可能以高密度來取得均一的電漿之方法,例如有利 用高頻電力來使電感耦合電漿產生的方法。又,最近爲了 使電漿特性提升,亦嘗試提高所施加之高頻電力的頻率 等。 該電感耦合電漿的生成,是在針對電漿產生室而設置 的高頻天線施加高頻電力,一般高頻天線是被配置於電漿 產生室外。 但,例如日本特開200 1 -3 5 697號公報所提案,爲了 提高所被投入之高頻電力的利用效率,而將高頻天線設置 於電漿產生室内。又,爲了抑止將天線配置於電漿產生室 内時所恐怕產生的異常放電等,而提案以不環繞的線狀導 -4- 200537992
體來使天線構成平面構造(2次元的構造),藉此來降低天 線的電感,且此情況還提案將天線終端引出至電漿產生室 外,經由阻塞電容器來接地。 [專利文獻1]日本特開2001-35697號公報 【發明內容】 (發明所欲解決的課題) | 但,該以往被提案的電漿產生室内設置的高頻天線, 爲了使電漿密度等的電漿特性更爲提升,一旦提高所施加 之高頻電力的頻率,則會因爲將天線終端引出至電漿產生 室外,所以天線的電感會更高,會有無法取得匹配的不良 情況產生。 又,由於將天線終端引出至電漿產生室外,因此必須 對該終端所通過電漿形成室壁的部份進行氣密處理。 又,由於天線是平面的構造,因此爲了節省電漿產生 φ 室内空間,而將該天線設置於接近室内壁時(假想此類的 情況較多時),大多來自天線的高頻電場會朝向室内壁, 這會造成高頻電力的利用效率降低。 因應於此,本發明的課題是在於提供一種具備電漿產 生室及設置於該電漿產生室内的高頻天線,由該高頻天線 來對該電漿產生室内氣體施加高頻電力’而使電感耦合電 漿產生之電將產生裝置,其係比以往同種的裝置更能夠降 低該高頻天線的電感,藉此可抑止以往的異常放電’匹配 不良等的不良情況,而使所望的電漿產生,即使爲了提升 -5- 200537992 (3) 電漿特性而提高所施加之高頻電力的頻率,還是可以抑止 異常放電,匹配不良等的不良情況,而使所望的電漿產 生。 又,本發明的課題是在於提供一種可解決上述課題, 可進行以膜形成爲目的的處理之電漿產生裝置。 (用以解決課題的手段) 本發明的電漿產生裝置,係具備電漿產生室及設置於 該電漿產生室内的高頻天線,由該高頻天線來對該電漿產 生室内氣體施加高頻電力,而使電感耦合電漿產生,其特 徵爲: 該高頻天線,係由該電漿產生室外來延伸至電漿產生 室内,在該電漿產生室内電性並列分歧,且各分歧部份的 終端會直接連接至該電漿產生室之天線,該電漿產生室電 位會被設定成接地電位。 本發明的電漿產生裝置中,由於其高頻天線的電漿產 生室外的部份不寄與電漿生成,因此可儘可能縮短該部份 來直接連接至高頻電力施加裝置的匹配箱(matching box),且因爲天線終端不會引出至電漿產生室外,直接連 接至電漿產生室,所以可縮短天線全體,且因爲採用在電 漿產生室内電性並列分歧的並列配線構造,所以可降低天 線的電感。 藉此,可抑止以往的異常放電,匹配不良等的不良情 況,使所望的電漿產生,即使爲了提升電漿特性而提高所 200537992 (4) 施加之高頻電力的頻率,還是可以抑止異常放電,匹配不 良等的不良情況,而使所望的電漿產生。 上述高頻天線爲了產生更高密度的電漿而封閉電漿 時,最好使用遮蔽構件來圍繞位於電漿產生室内的天線部 份周圍。該遮蔽構件可爲鋁,不鏽鋼等的導電性材料製。 該遮蔽構件,如後述,在將電漿產生裝置利用於膜形成 時,具有作爲防著構件的機能,亦即可抑止膜附著於電漿 產生室内壁。 爲了節省電漿產生室内空間,最好上述高頻天線爲小 型且高頻電力的利用效率佳者,因應於此,高頻天線可爲 立體的構造者。 該高頻天線的代表例,例如包含: 由上述電漿產生室外經該電漿產生室的室壁來延伸至 電漿產生室内的第1部份,及 由該第1部份的電漿產生室内側端部分歧成放射狀而 延伸,且往上述電漿產生室壁延伸的複數個第2部份, 該各第2部份的終端會被直接連接於該電漿產生室 壁。 即使該高頻天線例如配置於電漿產生室内壁附近,還 是可以往天線的第1部份,第2部份的各個周圍區域產生 感應電場,與和該室壁平行配置的平面構造的天線相較之 下,可在電漿產生室内廣範圍且效率佳地產生電場,高頻 電力的利用效率佳。 該天線的第2部份群,全體爲呈U字狀,字狀,半 200537992 (5) 圓狀者,或以第1部份爲中心,以十字形等所定的中心角 度間隔來使如此形狀的天線部份組合者。 無論是哪種情況,高頻天線至少位於電漿產生室内的 部份的導體表面,爲了抑止因自己偏壓而造成被電漿蝕刻 等的不良情況,最好皆使用氧化鋁等的電氣絶縁性材料來 覆蓋。 又,無論是哪種情況,施加於高頻天線的高頻電力, | 例如頻率可爲商用的13.56MHz者,但如上述,本發明之 電漿產生裝置的高頻天線爲低電感者,因此可爲40MHz 〜100MHz程度者,例如60MHz程度者,或者數100MHz 程度的較高者。亦可使用於如此頻率高的高頻電力,藉此 可以電漿密度等的點來提升電漿特性。 以上所述之本發明的電漿產生裝置,例如可利用於以 氣體電漿爲基礎來形成膜的電漿CVD裝置,以氣體電漿 爲基礎來對濺鍍靶進行濺鍍而形成膜的裝置,以氣體電漿 φ 爲基礎來進行蝕刻的電漿蝕刻裝置,及由氣體電漿來引出 離子而進行離子注入或離子摻雜的裝置之類利用電漿的各 種裝置,以及利用如此的處理裝置的各種半導體或其零件 的製造裝置,液晶顯示裝置或其零件的製造裝置等之利用 電漿的各種電漿處理裝置。 例如,設置往上述電漿產生室内供給膜形成用的氣體 之氣體供給裝置,在該電漿產生室内設置物品夾具,由上 述高頻天線來對從該氣體供給裝置所供給至該電漿產生室 内的氣體施加一高頻電力,而使電感耦合電漿產生,可根 200537992 (6) 據該電漿,在保持於該電漿產生室内的上述物品夾具的被 成膜物品上形成膜。 例如,若該氣體供給裝置爲供給矽烷氣體及氫氣的裝 置,則可以該矽烷氣體及氫氣的電漿爲基礎,在成膜物品 上形成矽膜。此情況,藉由控制矽烷氣體及氫氣分別往電 漿產生室内的導入量,電漿產生室内的成膜氣體壓,以及 施加於該等氣體的高頻電力(頻率及電力)等,亦可形成多 晶矽膜之類的結晶性矽膜。 [發明之效果] 如以上所説明,若利用本發明,則可提供一種具備電 漿產生室及設置於該電漿產生室内的高頻天線,由該高頻 天線來對該電漿產生室内氣體施加高頻電力,而使電感耦 合電漿產生之電漿產生裝置,比以往的同種裝置更能夠降 低該高頻天線的電感,藉此可抑止以往的異常放電,匹配 φ 不良等的不良情況,使所望的電漿產生,即使爲了提升電 漿特性而提高所施加之高頻電力的頻率,還是可以抑止異 常放電,匹配不良等的不良情況,而使所望的電漿產生。 又,本發明之高頻天線的使用個數,配置,及方向 等’可因應所需來適當決定。 又,本發明可提供一種具有上述優點,以形成膜爲目 的來進行處理的電漿產生裝置。 【實施方式】 -9 - 200537992 (7) 以下,參照圖面來說明本發明的電漿產生裝置之一 例’亦即作爲膜形成裝置利用的電漿產生裝置。 圖示的電漿產生裝置(膜形成裝置)是具備作爲成膜室 使用的電漿產生室10,在該室内設置有物品夾具3,及圍 繞該夾具上方的高頻天線1及該電極的遮蔽構件2。成膜 室1 0會被接地。 如圖1及圖2所示,高頻天線1爲立體構造的天線, p 由第1部份1 1及複數個第2部份12所構成。第1部份 11是從電漿產生室(成膜室)10外經由該室的頂壁10’來筆 直地棒狀延伸至室内。第2部份1 2是從第1部份1 1的室 内側端部1 le來分歧延伸成放射狀,且往頂壁1〇’延伸。 各第2部份1 2的終端1 2e是以連接器來直接連接至頂壁 1 〇’,因此爲經由室1 0來接地的狀態。 第2部份1 2的群組全體由平面來看彎曲成字形的2 個天線部份會組合成十字形來呈現連結於第1部份1 1的 φ 形態。 並且,高頻天線1,其天線導體的表面會以絶縁性膜 (在此爲氧化鋁膜)來覆蓋。 高頻天線1的第1部份1 1是經由匹配箱MX來連接 至高頻電源PW。匹配箱MX及電源PW是構成高頻電力 施加裝置。在第1部份11中不寄與露出於室10外的電漿 生成的部份會形成極短,直接連接於匹配箱MX。而且, 第1部份1 1會貫通設置於室10的頂壁10’之具氣密的絶 縁構件10a。 -10- 200537992 (8) 如此一來,高頻天線1會形成短,且在室1 0内形成 電性並列分歧的並列配線構造,因此天線1的電感會被低 減。 物品夾具3具備加熱被成膜物品(本例爲基板S)的加 熱器4。物品夾具3是與室1 〇 —起被接地。 遮蔽構件2在此爲筒狀者,由鋁等的導電性材料所形 成,往夾具3開放。遮蔽構件2是爲了產生更高密度電 漿,而封閉電漿,或抑止膜附著於室内壁者,但並非一定 需要。 對電漿生成室(成膜室)10而言,除了上述以外,還設 有氣體供給裝置100及排氣裝置EX。 氣體供給裝置100在此包含矽烷氣體(SiH4)供給電路 101及氫氣供給電路102。 排氣裝置EX是由:進行排氣量調整的傳導閥CV, 及經由該閥來配管連接至室10的真空泵PM所構成。 矽烷氣體供給電路101是由:貫通設置於室10的頂 壁1〇’的氣體導入噴嘴N1,及依此配管連接於該噴嘴的電 磁開閉閥 AV12,質量流控制器MFC1及電磁開閉閥 AV11,以及矽烷氣體(SiH4)瓶B1所構成。 氫氣供給電路102是由:貫通設置於室1〇的頂壁ΐ〇· 的氣體導入噴嘴N2,及依此配管連接於該噴嘴的電磁開 閉閥AV22,質量流控制器MFC2及電磁開閉閥AV21,以 及氫氣瓶B2所構成。 若利用以上説明的電漿產生裝置(膜形成裝置),則可 -11 - 200537992 (9) 如其次所述在基板S上形成矽膜。 首先,室1 0的物品搬入搬出口(圖示省略)會被開 啓,在物品夾具3上搭載被成膜基板S,再度該物品搬入 搬出口會被氣密地關閉。其次,藉由排氣裝置EX之泵 PM的運轉,室1 〇内會開始排氣。 藉此,當室10内被減壓至所定的壓力時,矽烷氣體 供給電路101的閥AV11,AV12會被開啓,以質量流控制 | 器MFC1所控制的流量來導入矽烷氣體至室10内,且氫 氣供給電路102的閥AV21,AV22會被開啓,以質量流控 制器MFC2所控制的流量來開始導入氫氣至室10内,室 内會被維持於成膜壓。而且,從電源PW經由匹配箱MX 來施加高頻電力至高頻天線1,藉此所被導入的氣體會激 勵而產生電感耦合電漿。因應所需,亦可使用圖示省略的 加熱器來加熱基板S。如此,以電感耦合電漿爲基礎,在 夾具3上的基板S形成矽膜。 φ 在此膜形成中,由於高頻天線1爲前述低電感天線, 因此可抑止異常放電,匹配不良等的不良情況,而使所望 的電漿產生。即使爲了提升電漿特性,而將所施加之高頻 電力的頻率提高爲例如40MHz〜100MHz,還是能夠抑止 異常放電,匹配不良等的不良情況’而使所望的電漿產 生。 又,由於高頻天線1爲立體的構造’因此即使配置於 室内壁附近,還是能夠在室10内廣範圍且效率佳地產生 電場,使高頻電力的利用效率提高。又,由於高頻天線1 -12- 200537992 (10) 的表面被絶縁性材料所覆蓋,因此可抑止因自我偏壓而被 電漿蝕刻等的不良情況發生。 其次,說明有關結晶性矽薄膜形成的實驗例。 條件等如以下所示。
基板:無鹼玻璃基板 基板温度:400°C 高頻電源:60MHz,4000W 砂院氣體導入量:lsccm 氫氣導入量:150sccm 成膜壓力:〇.67Pa 膜厚:約500 A 藉由雷射拉曼分光分析來評價如此取得的膜的結晶性 時,會出現顯示拉曼移動(Raman 的結晶性 的峰値,可確認結晶性。 [産業上之利用可能性] 本發明可利用於電漿CVD裝置,電漿蝕刻裝置,從 氣體電漿引出離子來進行離子注入或離子摻雜的裝置等要 求產生電漿的各種領域。 【圖式簡單說明】 圖1是表示本發明的電漿產生裝置之一例的槪略構成 圖。 圖2是表示高頻天線的立體構造例。 -13- 200537992 (11) 【主要元件符號說明】 1 0 :電漿產生室 10’ :室10的頂壁 10a :兼具氣密密封構件的絶縁性構件 1 · 高頻天線 1 1 :天線的第1部份 1 1 e :第1部份的室内之端部 ^ 12 :天線的第2部份 12e :第2部份的終端 MX :匹配箱 PW : 高頻電源 2 :遮蔽構件 3 :物品夾具 4 :加熱器 1〇〇 :氣體供給裝置 Φ 1 0 1 :矽烷氣體供給電路 AV11,AV12 :電磁開閉閥 MFC1 :質量流控制器 102 :氫氣供給裝置 AV21,AV22 :電磁開閉閥 MFC2 :質量流控制器 EX :排氣裝置 CV :傳導閥 PM :真空泵 -14-
Claims (1)
- 200537992 (1) 十、申請專利範圍 1 · 一種電漿產生裝置,係具備電漿產生室及設置於 該電漿產生室内的高頻天線,由該高頻天線來對該電漿產 生室内氣體施加高頻電力,而使電感耦合電漿產生,其特 徵爲_· 該高頻天線,係由該電漿產生室外來延伸至電漿產生 室内,在該電漿產生室内電性並列分歧,且各分歧部份的 I 終端會直接連接至該電漿產生室之天線,該電漿產生室電 位會被設定成接地電位。 2 ·如申請專利範圍第1項之電漿產生裝置,其中位 於上述高頻天線的電漿產生室内的部份,其周圍會被遮蔽 構件所圍繞。 3 ·如申請專利範圍第1項之電漿產生裝置,其中上 述高頻天線包含: 由上述電漿產生室外經該電漿產生室的室壁來延伸至 φ 電漿產生室内的第1部份,及 由該第1部份的電漿產生室内側端部分歧成放射狀而 延伸,且往上述電漿產生室壁延伸的複數個第2部份, 該各第2部份的終端會被直接連接於該電漿產生室 壁。 4 ·如申請專利範圍第1項之電漿產生裝置,其中上 述高頻天線至少位於上述電漿產生室内的部份的導體表面 會被電氣絶縁性材料所覆蓋。 5 ·如申請專利範圍第3項之電漿產生裝置,其中上 -15- 200537992 (2) 述高頻天線至少位於上述電漿產生室内的部份的導體表面 會被電氣絶縁性材料所覆蓋。 6 ·如申請專利範圍第1〜5項的任一項所記載之電漿 產生裝置,其中具有對上述高頻天線施加高頻電力的高頻 電力施加裝置’該高頻電力施加裝置係對該高頻天線施加 頻率爲40MHz〜數100MHz的高頻電力。 7 ·如申請專利範圍第1〜5項的任一項所記載之電漿 g 產生裝置,其中具備:往上述電漿產生室内供給膜形成用 的氣體之氣體供給裝置,及設置於該電漿產生室内之物品 夾具, 由上述高頻天線來對從該氣體供給裝置所供給至該電 漿產生室内的氣體施加一高頻電力,而使電感耦合電漿產 生,可根據該電漿,在保持於該電漿產生室内的上述物品 夾具的被成膜物品上形成膜。 8 ·如申請專利範圍第7項之電漿產生裝置,其中上 φ 述氣體供給裝置爲供給矽烷氣體及氫氣的裝置,可以該矽 烷氣體及氫氣的電漿爲基礎,在上述被成膜物品上形成矽 膜0 -16-
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