SU995160A1 - Классификатор полупроводниковых приборов - Google Patents
Классификатор полупроводниковых приборов Download PDFInfo
- Publication number
- SU995160A1 SU995160A1 SU762396219A SU2396219A SU995160A1 SU 995160 A1 SU995160 A1 SU 995160A1 SU 762396219 A SU762396219 A SU 762396219A SU 2396219 A SU2396219 A SU 2396219A SU 995160 A1 SU995160 A1 SU 995160A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- tray
- cheeks
- unit
- puller
- unit connected
- Prior art date
Links
Landscapes
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
Description
1
Изобретение относитс к конструкци м автоматов дл классификации полупроводниковых приборов, преимущественно диодов , предназначено дл измерени их электрических параметров, логической обработки результатов измерени и автоматической раскладки измеренных приборов в приемные бункеры, соответствующие группам классификации , и может примен тьс в радиоэлектронной промыщленности.
Известны классификаторы, содержащие многопозиционные узлы подключени 1.,
Однако соединение клемм испытательных панелей узлов подключени с измерительным устройством производитс периодически прижимающимс или скольз щим контактом, что значительно усложн ет конструкцию и снижает надежность всего классификатора .
Известны классификаторы, содержащие двухпозиционные узлы подключени 2.
Такие узлы проще многопозиционных, однако дл измерени параметров приборов также необходимы переключени измерительного устройства с одной испытательной панели на другую. Привод таких узлов реверсивен и работает в импульсном режиме , поэтому такие узлы сложны по конструкции и малонадежны.
Наиболее близким к предлагаемому по технической сущности и достигаемому результату вл етс классификатор, содержащий блок измерени , соединенный с ним блок логики, св занный с узлом раскладки, узел подключени , соединенный с блоком измерени и включающий транспортирующий элемент в виде, желоба с элементом фиксации в виде подвижного держател приборов и неподвижный контактньгй блок с подпружиненными контактами 3.
Однако выполнение транспортирующего элемента узла подключени в виде желоба 15 с подвижным держателем приборов, а контактов этого узла подвижными требует введени отдельных приборов дл контактов и держател , которые определ ют дикл работы узла подключени , состо щий из семи этапов последовательных движений его элементов . Это усложн ет работу классификатора , снижа надежность.
Кроме этого, подобное выполнение узла подключени снижает быстродействие классификатора в целом, так как измерение одного полупроводникового прибора не совмещено но времени с транспортированием другого прибора по желобу. Новый прибор выдаетс , отсекателем только после измерени предыдущего прибора и его эвакуации с желоба в механизм сортировки. Эвакуаци производитс по сигналу .со схемы измерени (с логикой) только, после поворота трубы механизма сортировки до бункера-накопител , соответствующего замеренной группе классификации, и после срабатывани подВИЛ4НОГО держател , освобождающего прибор . . Наличие двухкантактной -схемы подключени прибора на измерительной позиции приводит к необходимости объединени измеритёльной и силовой цепей, что снижает точность измерени . Цель изобретени - повыщение быстродействи и надежности работы. Поставленна цель достигаетс тем, что классификатор полупроводниковых приборов , содержащий блок измерени , соединен ный с логическим блоком, соединенным с узлом раскладки, узел подключени , соединенный с блоком измерени и включающий лоток с элементом, фиксации и неподвижный контактный блок с подпружиненными конта,к-тами, снабжен съемником приборов, расположенным в узле подключени , выполHeHijbiM в виде подвижного вилкообразного захвата с щечками, причем щечки расположены с обеих сторон лотка, а в месте расположени элемента фиксации в щечках выполнены выемки, при этом контактный блок и съемник расположены над элементом фиксации . На фиг. 1 изображена конструктивна схема, классификатора; на фиг. 2 - узел подключени . Классификатор полупроводниковых приборов содержит вибробункер 1, механизм 2 поштучной выдачи с отсекателем, блок 3 измерё:ни , соединенный с логическим блоком 4, и узел подключени приборов к блоку 3 измерени . Классификатор включает также узел сортировки измеренных приборов в тару, включающий перегрузочную емкость 5 и узел 6 раскладки карусельного типа, п управл ющих элементов которого соединены с соответствующими каналами логического блока 4, а также бункеры-накопители 7 и привод. Узел подключени (фиг. 2) содержит транспортирующий элемент в виде лотка 8, контактный блок с измерительными контактами 9, подпружиненными пружинами 10, а также подвижный вилкообразный захват II приборов с боконьши кромками 12, выполненный . Например, из изол ционного материала , и подвижный съемник приборов с захвата 11, выполненный, например, в виде собачки 13, подпружиненной пружиной 14. Лоток 8, имеющий у выхода (на одной из боковых стенок) выступ 15, может быть выполнен двухступенчатым со ступен ми 16 и 17, причем ступень 17, расположенна к выходу лотка 8, подн та по отнощению к ступени 16. Переход ступеней вл етс уступом, 18 лотка 8. Уступ 18 как элемент фиксации может быть также образован либо перегородкой , расположенной поперек лотка 8, либо выемкой, образующей на нем ступень. Щечки 19 захвата 11 имеют призмообразные выемки 20 и охватывают лоток 8 в месте расположени элемента фиксации- уступа 18, а контактный блок, закрепленный неподвижно, и подвижный съемник смонтирован над уступом 18. Щечки 19 могут быть выполнены из токопровод щего материала Уступом 18 лотка 8 могут служить боковые грани 21 выемок 20 у щечек 19, расположенные На пути движени прибора по лотку 8. Выполнение захвата из изол ционного материала, а его щечек из токопровод щего позвол ет осуществить четырехконтактную схему подключени прибора на измерительной позиции: подключение питани к прибору через щечки захвата, а измерительных схем через контактный блок. Такое разделение силовой и измерительной цепей исключает вли ние силовой цепи на погрещность измерени , что повышает точность контрол параметров. Классификатор полупроводниковых приборов работает следующим образом, Приборы загружаютс в вибробункер 1, который обеспечивает в классификаторе подачу приборов, ориентированных определенным образом. В исходном положении отсекатель механизма 2 пощтучной выдачи и захват 11 наход тс в крайнем нижнем положении. Вибробункер 1 подает первый прибор в отсекатель , после чего последний с первым прибором и захват 11 поднимаютс . При этом первый прибор выкатываетс на лоток 8 и скатываетс по ступени 16 до упора, образованного боковыми кромками 12 захвата (до первой позиции высто ), а захват 11 соверщает холостой ход. После выдержки в крайнем верхнем положении отсекатель механизма 2 поштучной выдачи и захват 11 опускаютс . При этом боковые кромки 12 захвата 11 освобождают первый прибор, который скатываетс под действием силы т жести по ступени 16 лотка 8 до уступа 18 (до второй позиции высто ). При опускании отсекател в крайнее нижнее положение -второй прибор закатываетс в него. Таким образом, в конце первого цикла первый прибор стоит около уступа 18, а второй прибор скатилс в отсекатель. После выдержки в крайнем нижнем положении отсекатель механизма 2 пощтучной выдачи с вторым прибором и захват 11 поднимаютс . При этом второй прибор выкатываетс на лоток 8, а щечки 19 захвата 11 своими выемками 20 захватывают с второй позиции высто первый прибор, который отжимает вправо собачку 13 съемника и далее транспортируетс к измерительным контактам 9. Первый удерживаетс у измерительных контактов 9 с помощью щечек 19 захвата 11. В этом положении производитс измерение параметров первого прибора, а второй прибор при этом перемещаетс до боковых кромок 12 захвата, 11 (до первой позиции высто ). В этот момент отсекатель механизм.а 2 поштучной выдачи стоит в крайнем верхнем положении, а собачка 13 съемника в исходном положении (в левом).
После окончаний измерени захват 11 опускаетс , освобожда измеренный первый прибор от измерительных контактов 9. Затем первый прибор выгружаетс из захвата И с помощью собачки 13 съемника, направл ющей его на ступень 17 лотка 8. В результате прибор падает на эту ступень и под действием силы т жести скатываетс до выхода лотка 8, где с помощью выступа 15 разворачиваетс в вертикальное положение . Далее прибор падает в перегрузочную емкость 5 узла сортировки, а из нее в ориентированном вертикальном положении в узел 6 раскладки.
Одновременно с выгрузко# первого прибора второй прибор перемещает до боковых кромок 12 захвата 11, отсекатель механизма 2 пощтучной выдачи опускаетс и третий прибор закатываетс в него.
При измерении прибора сигналы об измеренных параметрах поступают через измерительные контакты 9 в блок 3 измерений и далее обрабатываютс логическим блоком 4. Затем по соответствующему каналу логического блока 4 подаетс сигнал управлени на один из п управл ющих элементов узла 6 раскладки, который доставл ет измеренный прибор к бункеру-накопителю 7, соответствующему замеренной группе классификации .
Конструкци предлагаемого классификатора , позвол юща совмещать врем измерени одного прибора с временем транспортировани по лотку на позицию замера другого прибора и осуществл ть непрерывную раскладку приборов в бункеры-накопители , обеспечивает высокую производительность устройства - 3600 щт/ч при увеличении числа групп классификации до 44.
Claims (3)
- Формула изобретениКлассификатор полупроводниковых приборов , содержащий блок измерени , соединенный с логическим блоком, соединенным с узлом раскладки, узел подключени , соединенный с блоком измерени и включающий лоток с элментом фиксации и неподвижный контактный блок с подпружиненными контактами, отличающийс тем, что, с целью повыщени быстродействи и надежности работы, он снабжен съемником приборов , расположенным в узле подключени ,выполненным в виде подвижного вилкообразного захвата с щечками, причем щечки расположены с обеих сторон лотка а в месте расположени элемента фиксации в щечках выполнены выемки, при этом контактный блок и съемник расположены над элементом фиксации.Источники информации, прин тые во внимание при экспертизе 1. Патент Японии № 44-3181, кл. Н 01 L 7/00, опублик. 10.02.69.
- 2. Авторское свидетельство СССР № 296180, кл. Н 01 L 21/66, 14.07.69.
- 3. Паспорт УЖ 2.532.001 П. Автомат классификации стабилитронов по напр жению стабилизации Ист. 1966 (прототип).фуг./фуг.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU762396219A SU995160A1 (ru) | 1976-08-11 | 1976-08-11 | Классификатор полупроводниковых приборов |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU762396219A SU995160A1 (ru) | 1976-08-11 | 1976-08-11 | Классификатор полупроводниковых приборов |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU995160A1 true SU995160A1 (ru) | 1983-02-07 |
Family
ID=20674081
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU762396219A SU995160A1 (ru) | 1976-08-11 | 1976-08-11 | Классификатор полупроводниковых приборов |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU995160A1 (ru) |
-
1976
- 1976-08-11 SU SU762396219A patent/SU995160A1/ru active
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US5307011A (en) | Loader and unloader for test handler | |
JPH0643212A (ja) | オートマチックテストハンドラー | |
SU995160A1 (ru) | Классификатор полупроводниковых приборов | |
US5686834A (en) | Handling system | |
EP0204291A3 (en) | Device for testing and sorting electronic components, in particular integrated chips | |
US3341928A (en) | Apparatus for testing, sorting and assembling articles | |
JPH049668A (ja) | 仕分け装置 | |
JP2000088918A (ja) | Icハンドラ | |
JPS5857735A (ja) | 選別装置 | |
JPH0249015B2 (ru) | ||
JP2888750B2 (ja) | 半導体装置の処理装置およびその処理方法 | |
JP2861078B2 (ja) | Icハンドラのデバイス供給装置 | |
KR100423945B1 (ko) | 반도체 소자 테스트용 핸들러 | |
JPH10144741A (ja) | Icチップの性能分類方法および装置 | |
CN211027126U (zh) | 一种弹簧全自动外径分选机 | |
JPH08170976A (ja) | 半導体試験装置用ハンドラ機構 | |
CN110802036A (zh) | 一种弹簧全自动外径分选机 | |
US4222488A (en) | Methods and apparatus for sorting articles | |
US3450259A (en) | Automatic classifying device | |
SU1014072A1 (ru) | Устройство дл сортировки полупроводниковых приборов по электрическим параметрам | |
JP2687903B2 (ja) | 電子部品の選別・種分け装置 | |
CN220392571U (zh) | 芯片上料机构以及芯片检测装置 | |
JPH0745453Y2 (ja) | ダブルシャトルによるic収容機構 | |
JPS63265439A (ja) | 半導体素子のテスト装置 | |
JPH01118779A (ja) | ハンドリング装置 |