SU750570A1 - Устройство дл контрол оперативной пам ти - Google Patents

Устройство дл контрол оперативной пам ти Download PDF

Info

Publication number
SU750570A1
SU750570A1 SU782633896A SU2633896A SU750570A1 SU 750570 A1 SU750570 A1 SU 750570A1 SU 782633896 A SU782633896 A SU 782633896A SU 2633896 A SU2633896 A SU 2633896A SU 750570 A1 SU750570 A1 SU 750570A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
output
block
register
inputs
input
Prior art date
Application number
SU782633896A
Other languages
English (en)
Inventor
Василий Сергеевич Шевченко
Александр Иванович Чирков
Original Assignee
за вители
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by за вители filed Critical за вители
Priority to SU782633896A priority Critical patent/SU750570A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU750570A1 publication Critical patent/SU750570A1/ru

Links

Landscapes

  • Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)

Description

(54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ КОНТРОЛЯ ОПЕРАТИВНОЙ
ПАМЯТИ
1
Изобретение относитс  к области запоминающих устройств.
Известно устройство дл  контрол  оперативной пам ти, в котором в качестве управл ющих сигналов дл  оконечного регистрирующего цифропечатающего устройства используютс  сигналы из блока адреса и из блока контрол  дл  печати адреса бракованного элемента и характера брака 1
Недостаток устройства - низка  производительность .
Наиболее близким техническим решением к данному изобретению  вл етс  устройство дл  контрол  оперативной пам ти, содержащее блок формировани  тестов, блок управлени , адресный блок, блок подключени  матриц, блок печати и блок обнаружени  неисправностей, причем вход адресного блока подключен к выходу блока формировани  тестов, первый выход адресного блока соединен со входом блока подключени  матриц, выход которого подключен ко входу блока обнаружени  неисправностей, первый выход которого соединен со входом блока управлени , одни из выходов которого соединены с управл ющими входами блока формировани  тестов, адресного блока и блока обнаружени  неисправностей 2.
Недостаток устройства - увеличение времени контрол  всей оперативной пам ти на врем  распечатки данных о забракованных J элементах и, вследствие этого, низкое быстродействие устройства.
Цель изобретени  - повышение быстродействи  устройства.

Claims (2)

  1. Поставленна  цель достигаестс  тем, что устройство содержит накопитель, регистры, О блок местного управлени , схему сравнени , элементы И и элемент НЕ, причем первые входы первого элемента И и второго элемента И и вход элемента НЕ подключены к третьему выходу блока обнаружени  неисправностей , первые входы третьего элемента И и четвертого элемента И соединены с выходом элемента НЕ, выход первого элемента И подключен ко входу первого регистра , выход которого соединен с одним из входов схемы сравнени , другой вход которой подключен к выходу второго регистра, входы второго и третьего регистров соединены соответственно с выходом третьего элемента И и выходом накопител , вход которого подключен к выходу блока местного управлени , один из входов которого и вторые входы элементов И соединены с другими выходами блока управлени , третий и четвертый входы четвертого элемента И подключены к выходу схемы сравнени  и выходу блока печати, вход которого соединен с выходом третьего регистра, вторые выходы адресного блока и блока обнаружени  неисправностей , выходы первого регистра, второго элемента И, второго регистра и четвертого элемента И соединены с другими входами блока местного управлени . На чертеже изображена блок-схема предлагаемого устройства. Устройство состоит из блока 1 формировани  тестов, блока 2 управлени , адресного блока 3, блока 4 подключени  матриц, блока 5 обнаружени  неисправностей, блока 6 местного управлени , первого элемента И 7, первого регистра 8, второго элемента И 9, накопител  10, схемы 11 сравнени , блока 12 печати, элемента НЕ 13, второго регистра 14, третьего элемента И 15, третьего регистра 16 и четвертого элемента И 17. Вход адресного блока 3 подключен к выходу блока 1 формировани  тестов, а первый выход - ко входу блока 4 подключени  матриц, выход которого соединен со входом блока 5 обнаружени  неисправностей. Первый выход блока 5 соединен со входом блока 2 управлени , одни из выходов которого соединены с управл ющими входами |§лока 1 формировани  тестов, адресного |0лока 3 и блока 5 обнаружени  неисправностей . Первые входы элементов И 7 и И 9 и вход элемента НЕ 13 подключень к выходу блока 5 обнаружени  неисправностей. Первые входы элементов И 15 и И 17 соединены с выходом элемента НЕ 13. Выход элемента И 7 подключен ко входу регистра 8, выход которого соединен со входом блока 6 местного управлени  и с одним из входов схемы 11 сравнени , другой вход которой подключен к выходу регистра 14. Входы регистров 14 и 16 соединены соответственно с выходом элемента И 15 и выходом накопител  10, вход которого подключен к выходу блока 6 местного управлени . Один из входов блока 6 и вторые входы всех четырех элементов И соединены с другими выходами блока 2 управлени . Третий и четвертый входы элемента И 17 соединены с выходом схемы 11 сравнени  и выходом блока 12 печати, вход которого подключен к выходу регистра16. Вторые выходы адресного блока 3 и блока 5 обнаружени  неисправностей, выходы элементов И 9 и И 17 и регистра 14 соединены с другими входами блока 6 местного управлени . Устройство работает следующим образом . Провер ема  матрица подключаетс  к блоку 4. Блок 1 формировани  тестов вырабатывает последовательность управл ющих сигналов вида теста, определ емого блоком 2 управлени , которые в адресном блоке 3 преобразуютс  в сигналы записи-чтени  и по определенным адресам подаютс  на блок 4 подключени  матриц. При обнаружении элемента пам ти с параметрами считанного сигнала, не соответствующими установленным требовани м, из блока 5 обнаружени  неисправностей выдаетс  сигнал в блок 2 управлени  дл  останова работы адресного блока 3. Адрес бракованного элемента провер емой матрицы подаетс  в блок 6 местного управлени ,, в который подаетс  из блока 2 управлени  информаци  о номере провер ющего теста и из блока 5 обнаружени  неисправностей - информаци  о характере брака. При наличии брака на один вход первого элемента И 7 из блока 5 подаетс  разрещающий потенциал и через второй вход проходит из блока 2 управлени  сигнал установки адреса на первом регистре 8 - регистре адреса записываемых слов. Разрешающий сигнал из блока 5 подаетс  также на второй элемент И 9, через который из блока 2 управлени  в блок 6 местного управлени  проходит команда на запись первого слова, содержащего информацию из блока 5 обнаружени  неисправностей, блока 2 управлени  и адресного блока 3, в накопитель 10. После записи информации о первом забракованном элементе блок управлени  2 снимает блокировку работы адресного блока 3 и производитс  проверка следующих запоминающих элементов. При обнаружении следующего бракованного элемента блок 2 управлени  установит на первом регистре 8 адрес второго слова, по которому в накопителе 10 записываетс  информаци  о втором забракованном элементе. При отсутствии брака блок 5 выдает на первый 7 и второй 9 элементы И запрещающий потенциал, который преобразуетс  элементом НЕ 13 в разрещающий дл  прохождени  через третий элемент И 15 сигнала из блока 2 управлени  на установку второго регистра 14,  вл ющегос  регистром адреса считываемых слов, в состо ние, соответствующее адресу первого слова накопител  10. Разрещающий сигнал с выхода элемента НЕ 13 подаетс  на четвертый элемент И 17, на который подаетс  также разрешающий сигнал от блока 12 печати в случае окончани  распечатки и разрещающий сигнал иа схемы 11 сравнени  состо ний регистров в случае, когда на первый регистр 8 занесен адрес номера слова, который не меньше номера слова, занесенного во второй регистр 14. При наличии этих разрешающих сигналов через элемент И 17 от блока 2 управлени  проходит в блок 6 местного управлени  сигнал считывани  слова из накопител  10 в третий регистр 16, с которого информаци  подаетс  дл  распечатки в блок 12 печати. При отсутствии сигнала брака с блока 5 операци  считывани  из накопител  10 может повторитьс , пока номер слова регистра 14 не станет больше номера слова регистра 8. По окончании проверки матрицы вс  информаци  о ней окажетс  записанной в накопитель 10 и часть ее (или вс ) будет распечатана. При установке в блоке 4 подключени  матриц новой матрицы распечатка оставшихс  слов может продолжатьс . Технико-экономическое преимущество предлагаемого устройства заключаетс  в существенном увеличении быстродействи  за счет того, что длительность записи и считывани  информации о бракованном элементе .матрицы значительно меньше времени ее распечатки и работа цифропечатающего устройства происходит одновременно с проверкой матрицы или ее заменой после проверки. Формула изобретени  Устройство дл  контрол  оперативной пам ти, содержащее блок формировани  тестов , блок управлени , адресный блок, блок подключени  матриц, блок печати и блок обнаружени  неисправностей, причем вход адресного блока подключен к выходу блока формировани  тестов, первый выход адресного блока соединен со входом блока подключени  матриц, выход которого подключен ко входу блока обнаружени  неисправностей , первый выход которого соединен со входом блока управлени , одни из выходов которого соединены с управл ющими входами блока формировани  тестов, адресного блока и блока обнаружени  неисправностеи , отличающеес  тем, что, с целью повышени  быстродействи  устройства, оно содержит накопитель, регистры, блок местного управлени , схему сравнени , элементы И и элемент НЕ, причем первые входы первого и второго элементов И и вход элемента НЕ подключены к третьему выходу блока обнаружени  неисправностей, первые входы третьего и четвертого элементов И соединены с выходом элемента НЕ, выход первого элемента И подключен ко входу первого регистра, выход которого соединен с одним из входов схемы сравнени , другой вход которой подключен к выходу второго регистра, входы второго и третьего регистров соединены соответственно с выходом третьего элемента И и выходом накопител , вход которого подключен к выходу блока местного управлени , один из входов которого и вторые входы элементов И соединены с другими выходами блока управлени , третий и четвертый входы четвертого элемента И подключены к выходу схемы сравнени  и выходу блока печати, вход которого соединен с выходом третьего регистра, вторые выходы адресного блока и блока обнаружени  неисправностей, выходы первого регистра, второго элемента И, второго регистра и четвертого элемента И соединены с другими входами блока местного управлени . Источники информации, прин тые во внимание при экспертизе 1.Авторское свидетельство СССР № 464019, кл. G 11 С 29/00, 1973.
  2. 2.Авторское свидетельство СССР № 516103, кл. G И С 29/00, 1974 (прототип ).
SU782633896A 1978-06-27 1978-06-27 Устройство дл контрол оперативной пам ти SU750570A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU782633896A SU750570A1 (ru) 1978-06-27 1978-06-27 Устройство дл контрол оперативной пам ти

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU782633896A SU750570A1 (ru) 1978-06-27 1978-06-27 Устройство дл контрол оперативной пам ти

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU750570A1 true SU750570A1 (ru) 1980-07-23

Family

ID=20772398

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU782633896A SU750570A1 (ru) 1978-06-27 1978-06-27 Устройство дл контрол оперативной пам ти

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU750570A1 (ru)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR880014464A (ko) 자체 시험 메모리 시스템을 가진 데이타 처리 시스템
GB1593866A (en) Mos semiconductor storage modules
US5533194A (en) Hardware-assisted high speed memory test apparatus and method
SE8304170D0 (sv) Sjelvtestande system for skyddssystem till kernreaktorer
SU750570A1 (ru) Устройство дл контрол оперативной пам ти
GB844308A (en) Data transfer apparatus
KR880004490A (ko) 반도체 기억장치
SU584338A1 (ru) Устройство дл контрол блоков посто нной пам ти
JPS585681A (ja) 半導体メモリ試験装置
US3045212A (en) Checking circuit
SU1405059A1 (ru) Устройство дл контрол цифровых блоков
SU1005188A1 (ru) Ассоциативна запоминающа матрица
SU1103292A1 (ru) Устройство дл контрол оперативных накопителей
SU1660050A1 (ru) Устройство контроля информации, хранимой на носителе магнитной записи
JPH04157535A (ja) レジスタ検査方法
SU960960A1 (ru) Многоканальное устройство дл контрол блоков оперативной пам ти
SU963107A2 (ru) Устройство дл контрол блока пам ти
SU970464A2 (ru) Запоминающее устройство с одновременной выборкой нескольких слов
SU1596390A1 (ru) Устройство буферной пам ти
SU1019492A1 (ru) Буферное запоминающее устройство с самоконтролем
SU1010651A1 (ru) Запоминающее устройство с самоконтролем
SU1198523A1 (ru) Устройство дл контрол микросхем
SU1151977A1 (ru) Устройство дл ввода информации
SU364030A1 (ru) Устройство для проверки ферритовых матриц оперативных запоминающих устройств
SU1483494A2 (ru) Запоминающее устройство с обнаружением ошибок