SU364030A1 - Устройство для проверки ферритовых матриц оперативных запоминающих устройств - Google Patents

Устройство для проверки ферритовых матриц оперативных запоминающих устройств

Info

Publication number
SU364030A1
SU364030A1 SU1471755A SU1471755A SU364030A1 SU 364030 A1 SU364030 A1 SU 364030A1 SU 1471755 A SU1471755 A SU 1471755A SU 1471755 A SU1471755 A SU 1471755A SU 364030 A1 SU364030 A1 SU 364030A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
circuit
output
input
matrix
verification
Prior art date
Application number
SU1471755A
Other languages
English (en)
Inventor
И. Пашковский Ф.
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed filed Critical
Priority to SU1471755A priority Critical patent/SU364030A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU364030A1 publication Critical patent/SU364030A1/ru

Links

Landscapes

  • For Increasing The Reliability Of Semiconductor Memories (AREA)

Description

I
Изобретение относитс  к области запоминающих устройств.
Известно устройство дл  проверки ферритовых матриц оперативных запоминающих устройств, содержащее регистр адреса, нодсоединенный к блоку дещифраторов, выход которого подключен к блоку формирователей импульсов тока, блок считывани  и контрол , подсоединенный к блоку управлени , состо щему из схемы однократного цикла проверки ферритовых сердечников матрицы, генератора импульсов и схемы временной последовательности импульсов.
Предложенное устройство отличаетс  от известного тем, что в него введен триггерный регистр количества дефектов, установочные входы которого соединены с первым выходом схемы временной задержки. Вход схемы подсоединен к выходу схемы однократного цикла проверки ферритовых сердечников матрицы, а второй выход этой схемы временной задержки - к первому входу схемы «И, второй вход которой подключен к генератору нмпульсов, а выход -к схеме временной последовательности импульсов.
Это позвол ет повысить быстродейств1 е устройства.
На чертеже показана блок-схема устройства дл  проверки ферритовых матриц оперативных запоминающих устройств.
Устройство содержит блок 1 считывани  п контрол ; регистр 2 адреса; блок 3 дешифраторов; блок 4 формирователей нмпульсов токов; блок 5 унравлени , в который вход т схема 6 однократного цикла проверки ферритовых сердечников матрицы, генератор 7 импульсов , схема 8 временной последовательности импульсов; схему 9 временной задержки; схему «И 10 и регистр }} количества дефектов , состо щий из триггеров 12, 13 и 14.
Блок 1 считывани  и контрол  предназначен дл  усилени  сигналов с ферритовых сердечников матрицы до стандартного уровн  н контрол  соответствн  счнтываемой и записанной информации. Он соедииен с обмотками считывани  нровер емой матрицы и блоком 5 управлени  (соединение с провер емой матрицей и сама матрица на чертеже не показаны).
Регнстр 2 адреса, предусмотренный дл  последовательного выбора всех обмоток двух координат матрицы, представл ет собой р д триггеров, работающих в режиме счетчика. Он соединен с блоками дешифраторов 3 и управлени  5.
Блок 3 дешифраторов служит дл  преобразовани  потенциалов триггеров регистра адреса в имиульсы возбуждеии  соответствующих токовых ключе, с иомощь о которых осуидествл етс  выбор определенной обмотки данной координаты матрицы. Блок 3 соединен с блоками формирователей 4 импульсов токов и управлени  5 п провер емой матрицей. Блок 4 формирователей импульсов токов формирует импульсы токов чтени , записи, запрета. Его вход соединен с блоком 5 управБлок 5 управлени  предназначен дл  выработки необходимых импульсов и потенциалов , управл ющих работой остальных блоков устройства. Схема 6 определ ет конец однократного цикла проверки всех ферритовых сердечников матрицы. Вход этой схемы соединен с выходом регистра 2 адреса, а выход - с входом схемы 9 временной задержки. Схема 6 выдает сигнал в конце каждого цикла проверки. Генератор 7 импульсов выдает импульсы с определенной частотой. Первый выход 15 схемы 9 временной задержки соединен с входами 16 установки триггеров 12, 13 и 14 в нулевое состо ние, а второй выход 17 -с первым входом 18 схемы «И 10. Выход генератора 7 имнульсов св зан с вторым входом 19 схемы «И 10. Схема 8 временной последовательности имиульсов образует времениую последовательность при наличии сигнала на ее входе. Она соединена с выходом схемы «И 10. Схема 9 временной задержки при срабатывании измен ет на втором выходе потенциал с разрещаю- зо щего на запрещающий на врем , которое должно быть достаточным дл  воспр11 т 1  оператором определенной индикации (1 сек. Схема «И 10 выдает импульс при наличии на первом входе 18 разрешающего потенциа- 35 ла. Счетный вход 20 триггера 12 соединен с выходом блока / считывани  и контрол . Сигнал по этому входу поступает при несоответствии считываемой и записанной информации при обращении к определенному ферритовому 40 сердечнику матрицы, т. е. к дефектному ферритовому сердечнику. Триггеры 12, 13 и 14 образуют обычный двоичный счетчик. Регистр 11 количества дефектов работает следующим образом. В конце каждого цикла проверки сигналом со схемы 9 триггеры 12, 13 и 14 устанавливаютс  в состо ние «О. После этого каждый сигнал на выходе блока / учитываетс  регистром 11 количества дефектов соответствующим изменением состо ний этих триггеров. При срабатывании схемы 6 срабатывает и схема 9 временной задержки. Это приводит к отключению генератора 7 от схемы 8 за счет изменени  потенциала на первом входе 18 схемы «И 10. В конце временной задержки по первому выходу 15 схемы 9 происходит установка триггеров 12, 13 и 14 в состо ние «О. Кроме того, на первом входе 18 схемы «И 10 измен етс  потенциал на разрещающий и снова начинаетс  запуск временной последовательности импульсов. Далее цикл повтор етс . Предмет изобретени  Устройство дл  проверки ферритовых матриц оперативных запоминающих устройств, содержащее регистр адреса, подсоединенный к блоку дещифраторов, выход которого подключей к блоку формирователей импульсов тока, блок считывани  и контрол , подсоединенный к блоку управлени , состо щему из схемы однократного цикла проверки ферритовых сердечников матрицы, генератора импульсов схемы временной последовательности импульсов , отличающеес  тем, что, с целью повышени  быстродействи , оно содержит триггерный регистр количества дефектов, установочные входы которого соединены с первым выходом схемы временной задержки, вход которой подсоединен к выходу схемы однократного цикла проверки ферритовых сердечников матрицы, второй выход схемы временной задержки соединен с первым входом схемы «И, второй вход которой подключен к генератору импульсов , а выход - к схеме времеиной последовательности импульсов.
SU1471755A 1970-07-27 1970-07-27 Устройство для проверки ферритовых матриц оперативных запоминающих устройств SU364030A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU1471755A SU364030A1 (ru) 1970-07-27 1970-07-27 Устройство для проверки ферритовых матриц оперативных запоминающих устройств

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU1471755A SU364030A1 (ru) 1970-07-27 1970-07-27 Устройство для проверки ферритовых матриц оперативных запоминающих устройств

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU364030A1 true SU364030A1 (ru) 1972-12-25

Family

ID=20456773

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU1471755A SU364030A1 (ru) 1970-07-27 1970-07-27 Устройство для проверки ферритовых матриц оперативных запоминающих устройств

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU364030A1 (ru)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR900015154A (ko) 디-램형 집적 반도체 메모리와 그 시험방법
KR970066574A (ko) 반도체 메모리 시험장치
SU364030A1 (ru) Устройство для проверки ферритовых матриц оперативных запоминающих устройств
GB927405A (en) Improvements in or relating to systems for sequentially addressing memory locations
CN112466386A (zh) 一种面向故障分类的存储器测试系统及方法
JPH11283397A (ja) 半導体記憶装置とその試験方法
SU970481A1 (ru) Устройство дл контрол блоков пам ти
SU934553A2 (ru) Устройство дл контрол пам ти
SU1403097A1 (ru) Устройство дл контрол полупроводниковой пам ти
SU750570A1 (ru) Устройство дл контрол оперативной пам ти
SU379932A1 (ru) Устройство для записи информации на магнитный носитель
SU980161A1 (ru) Магнитное оперативное запоминающее устройство
SU519766A1 (ru) Устройство дл контрол ферритовых матриц оперативной пам ти
SU517037A1 (ru) Устройство дл поиска канала передачи данных
SU469137A1 (ru) Способ неразрушающего считывани информации
SU824314A1 (ru) Устройство дл контрол элементовзАпОМиНАющЕй МАТРицы
SU1280460A1 (ru) Устройство дл контрол ферритовых сердечников запоминающих матриц
SU622177A1 (ru) Устройство дл контрол матриц на ферритовых сердечниках
SU691925A1 (ru) Запоминающее устройство
SU410558A1 (ru)
SU1280578A1 (ru) Многоканальное устройство дл контрол параметров
SU451083A1 (ru) Устройство дл контрол функциональных элементов дискретных систем
SU497640A1 (ru) Устройство дл контрол оперативных накопителей
KR970051409A (ko) 반도체 메모리 장치의 결함워드라인 검출회로 및 그 방법
SU746691A1 (ru) Устройство дл контрол знаний учащихс