JPH04157535A - レジスタ検査方法 - Google Patents

レジスタ検査方法

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JPH04157535A
JPH04157535A JP2283232A JP28323290A JPH04157535A JP H04157535 A JPH04157535 A JP H04157535A JP 2283232 A JP2283232 A JP 2283232A JP 28323290 A JP28323290 A JP 28323290A JP H04157535 A JPH04157535 A JP H04157535A
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JP
Japan
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data
register
registers
sent
processor
Prior art date
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Pending
Application number
JP2283232A
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English (en)
Inventor
Miki Akiyama
美樹 秋山
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Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔概要〕 レジスタの良否を検査するための回路構成を簡易化する
と共に、処理速度を向上させることを可能とするレジス
タ検査方法に関し、 経済的で処理時間の短いレジスタ検査方法を提供するこ
とを目的とし、 複数のレジスタと、該複数のレジスタに夫々対応して接
続されると共に、該接続されたレジスタに対して夫々送
出するデータが予め設定され、切替信号に基づいて該デ
ータを該接続されたレジスタに送出して格納させる複数
の切替手段と、該切替手段に該切替信号を送出すると共
に、該複数のレジスタに格納された該データを読取り、
前記予め設定されたデータと照合して一致したか否かを
検出する制御手段とを設け、該制御手段に該複数のレジ
スタを順次一つずつ選択させて良否の検出を行わせる構
成とする。
〔産業上の利用分野〕
本発明はデータを一時記憶するレジスタを備えた情報処
理装置に係り、特に該レジスタの良否を。
検査するための回路構成を簡易化すると共に、処理速度
を向上させることを可能とするレジスタ検査方法に関す
る。
データを一時記憶するレジス、夕を備えた情報処理装置
では、レジスタの障害により誤ったデータを処理すると
、間違った動作や制御を行ったり、その誤データによっ
て、プロセッサが暴走することがある。
このため、機構部を動作させる装置では、誤動作して機
構部を損傷させる恐れがあり、データの記録/再生装置
であれば、誤データの書込み/読出しを行い、記録され
ているデータの消去等の取返しのつかない動作を行うこ
とがある。
従って、レジスタの良否を自己診断する必要があるが、
この回路構成は簡易であり、且つ、高速に実行されるこ
とが必要である。
〔従来の技術〕 第4図は従来技術の一例を説明するブロック図である。
1−1〜1−nはマルチプレクサ、2−1〜2−nはレ
ジスタ、3は診断用のプロセッサ、4はプロセッサ3が
送出するアドレスをデコードするデコーダ、5.6は3
ステートゲート、7はデータバスである。
プロセッサ3はレジスタの診断を行わない時、イネーブ
ル信号をマルチプレクサ1−1〜1−nに送出する。
従って、マルチプレクサ1−1〜1−nの各3ステート
ゲート5は、このイネーブル信号によってゲートを開き
、マルチプレクサ1−1の3ステートゲート5は端子A
から入力されるデータをレジスタ2−1に送出し、マル
チプレクサ1−2の3ステートゲート5は端子Bから入
力されるデータをレジスタ2−2に送出し、マルチプレ
クサ1−nの3ステートゲート5は端子Cから入力され
るデータをレジスタ2− nに送出する。
この時、各マルチプレクサl−1−1−nの各3ステー
トゲート6には、プロセッサ3が送出するイネーブル信
号の論理が反転して入るため、ディセーブルとなってゲ
ートを閉じている。
従って、各レジスタ2−1〜2− nには、図示省略し
た制御回路の制御信号に基づき、夫々入力されたデータ
が格納された後、夫々データバス7に送出される。
プロセッサ3は、各レジスタ2−1〜2− nを診断す
る場合、マルチプレクサ1−1〜l−nの各3ステート
ゲート5と6に送出しているイネーブル信号を停止する
。即ち、論理を反転する。
従って、3ステートゲート5はディセーブルとなってゲ
ートを閉じ、3ステートゲート6はイネーブルとなって
ゲートを開き、プロセッサ3が送出するデータを夫々レ
ジスタ2−1〜2− nに送出する。
プロセッサ3は各レジスタ2−1〜2−nに送出したデ
ータが書込まれると、デコーダ4にレジスタ2−1〜2
− nを夫々選択するアドレスを送出し、デコーダ4は
このアドレスに基づき、レジスタ2−1をイネーブルと
する。従って、レジスタ2−1は書込まれたデータをデ
ータバス7に送出し、プロセッサ3は、このデータを取
り込むと、送出したデータと一致するか調べ、一致すれ
ばレジスタ2−1は正常と判定する。
次にプロセッサ3は、上記同様にレジスタ2−2から送
出されたデータを取込み、送出したデータと一致するか
調べ、一致すればレジスタ2−1は正常と判定する。こ
の動作を繰り返し、レジスタ2−nまで調べ、正常であ
ると判定された場合は、イネーブル信号を送出して、マ
ルチプレクサ1−1〜1−nの3ステートゲート5をイ
ネーブルとし、3ステートゲート6をディセーブルとす
ると共に、上位装置等に正常終了を報告する。
又、レジスタから取り込んだデータと、送出したデータ
と一致しない場合は、上位装置等にエラー報告を行う。
第5図は第4図の動作を説明するフローチャートである
プロセッサ3は診断開始を指示されると、ステップ■で
イネーブル信号を停止して、各レジスタに対するデータ
の書込みを可能とする。そして、ステップ■で各レジス
タにデータを書込む。
次に、ステップ■で各レジスタに書込んだデータをデー
タバスに送出させ、このデータを取り込む。
そして、ステップ■で書込みデータと取込みデータは一
致か調べ、一致すればステップ■で正常終了を上位装置
に報告する。又、一致しなければ、ステップ■でエラー
を上位装置に報告する。そして、診断処理を終了する。
〔発明が解決しようとする課題] 上記の如く、従来は一つのレジスタを検査するのに、二
つの3ステートゲートを持つマルチプレクサを用い、一
つの3ステートゲートにプロセッサが送出する診断用の
データを受信するようにしているため、レジスタ検査回
路の規模が太き(て経済的では無く、又、レジスタ診断
時において、プロセッサが各レジスタに診断用のデータ
を書込んだ後、このデータをデータバスを経て取込み、
−致したか否かを調べているため、プロセッサの診断プ
ログラムのステップ数が多くなり、処理時間が長くなっ
て情報処理装置の処理効率を低下させるという問題があ
る。
本発明はこのような問題点に鑑み、マルチプレクサのハ
ードウェア量を減少させると共に、プロセッサから各レ
ジスタにデータを書込むことを止め、マルチプレクサに
予め設定したデータを各レジスタに書込ませ、これをプ
ロセッサが照合することで、経済的で処理時間の短いレ
ジスタ検査方法を提供することを目的としている。
〔課題を解決するための手段〕
第1図は本発明の詳細な説明するブロック図である。
切替手段8−1〜B −nは、複数のレジスタ2−1〜
2− nに夫々対応して接続されると共に、接続された
レジスタに対して夫々送出するデータが予め設定されて
いる。そして、制御手段9から与えられる切替信号に基
づいて、この予め設定されたデータを夫々接続されたレ
ジスタに送出して格納させる。
即ち、切替手段8−1に予め設定されたデータは、レジ
スタ2−1に送出されて格納され、切替手段8−2に予
め設定されたデータは、レジスタ2−2に送出されて格
納され、切替手段8−nに予め設定されたデータは、レ
ジスタ2−nに送出されて格納される。
制御手段9は、各切替手段8−1〜8− nに夫々切替
信号を送出すると共に、複数のレジスタ2−1〜2− 
nに格納されたデータを読取り、前記予め設定されたデ
ータと照合して一致したか否かを検出する。
即ち、制御手段9は複数のレジスタ2−1〜2−nを順
次一つずつ選択して、レジスタ2−1から読取ったデー
タを、内部メモリに格納されている切替手段8−1に予
め設定されているデータと同一のデータを用いて照合し
、良否の検出を行う。
そして、レジスタ2−2から読取ったデータを、内部メ
モリに格納されている切替手段8−2に予め設定されて
いるデータと同一のデータを用いて照合し、良否の検出
を行う。そして、レジスタ2−nから読取ったデータを
、内部メモリに格納されている切替手段8−nに予め設
定されているデータと同一のデータを用いて照合し、良
否の検出を行う。
又、切替手段8−1は制御手段9から切替信号を与えら
れない時、端子Aから入るデータをレジスタ2−1に送
出し、切替手段8−2は制御手段9から切替信号を与え
られない時、端子Bから入るデータをレジスタ2−2に
送出し、切替手段8−nは制御手段9から切替信号を与
えられない時、端子Cから入るデータをレジスタ2− 
nに送出する。
〔作用〕
上記の如く構成することにより、切替手段8−1〜8−
 nには、制御手段9が送出する診断用のデータを受信
する3ステートゲートを設ける必要が無く、制御手段9
は診断用データを書込む必要が無いため、経済的であり
、且つ、処理時間を短縮することが出来る。
〔実施例〕
第2図は本発明の一実施例を示す回路のブロック図であ
る。
10−1はマルチプレクサであり、8ビツトのデータを
転送するように構成された場合を示し、8個の3ステー
トゲート6−1〜6−8を備え、予め設定されたデータ
をレジスタ2−1に書込むために、例えば、3ステート
ゲ−)6−1.6−2.6−6及び6−7の出力側を夫
々抵抗R1゜R2,R6及びR7で地気に接続しており
、3ステートゲート6−3. 6−4. 6−5及び6
−8の出力側を夫々抵抗R3,R4,R5及びR8を経
て電源+Vcに接続している。
従って、3ステートゲート6−1〜6−8がゲートを閉
じている時、その出力インピーダンスは高いため、レジ
スタ2−1には予め設定されたデータとして16進数の
39、即ち、論理“0”O。
“1″“1”1”0”0“01”が送出される。
又、他のマルチプレクサ1O−2〜10−nも同様の構
成であるが、予め設定されたデータは異なる場合もあり
、同一の場合もある。
プロセッサ11はレジスタの診断を行わない時、マルチ
プレクサ10−1〜10−nに論理′0”を送出し、マ
ルチプレクサ10−1の3ステートゲ−)6−1〜6−
8のゲートを開かせ、端子Aから入る8ビツトのデータ
を、レジスタ2−1に送出させる。
この時電源+Vcから抵抗R3,R4,R5及びR8を
経て夫々3ステートゲート6−3.6−4.6−5及°
び6−8の出力側に供給される電圧は、3ステートゲ−
)6−3. 6−4. 6−5及び6−8の出力インピ
ーダンスが抵抗R3,R4゜R5及びR8より夫々十分
に低くデータビットの論理値に影響を与えない。
マルチプレクサ10−nも同様であり、図示省略した3
ステートゲートが端子Cから入るデータをレジスタ2−
 nに送出させる。
プロセッサ11はレジスタの診断を行う場合、マルチプ
レクサ10−1〜10−nに論理“1”を送出し、マル
チプレクサ10−1の3ステートゲート6−1〜6−8
のゲートを閉じさせ、端子Aから入る8ビツトのデータ
がレジスタ2−1に送出されることを阻止させる。
この時、前記の如(,3ステートゲート6−1〜6−8
の出力インピーダンスは高いため、レジスタ2−1には
予め設定されたデータの16進数の39、即ち、論理“
O”0”1”1”1”0“O#“1”が送出されて格納
される。
ここで、プロセッサ11はデコーダ4にレジスタ2−1
のアドレスを送出する。従って、デコーダ4はレジスタ
2−1にリードイネーブル信号を送出して、レジスタ2
−1に格納されているデータをデータバス7に送出させ
る。
プロセッサ11はデータバス7からレジスタ2−1が送
出したデータを受領し、レジスタ2−1に予め設定され
たデータとして内部メモリに記憶しているデータ、即ち
、16進数の39と比較する。そして、一致したか不一
致であったか、更に、不一致であれば一致しないビット
を内部メモリに記憶する。
プロセッサ11はレジスタ2−1〜2−nまで、上記同
様に調べ、その結果を上記同様に内部メモリに記憶する
と、図示省略した上位装置等に検査結果を報告する。
即ち、全てのレジスタ2−1〜2−nのデータが夫々一
致すれば正常であることを報告し、データの一致しない
レジスタがあれば、エラー報告と共に、一致しないレジ
スタと一致しないビットとを報告する。
尚、この報告は一つのレジスタ毎に行っても良いし、全
てのレジスタの各ビットを加算した結果と、全設定値の
各ビットを加算したものと比較して、その結果を報告し
ても良いことは勿論である。
又、プロセッサ11は表示等によりオペレータに通知し
ても良い。
第3図は第2図の動作を説明するフローチャートである
プロセッサ11は診断開始を指示されると、ステップ■
でマルチプレクサに論理“1”を送出し、各レジスタに
対し予め設定されたデータを書込ませる。そして、ステ
ップ■で各レジスタに書込んだデータをデータバスに送
出させ、このデータを取り込む。
そして、ステップ■で書込みデータと取込みデータは一
致か調べ、一致すればステップ[相]で正常終了を上位
装置に報告する。又、一致しなければ、ステップ■でエ
ラーを上位装置に報告する。そして、診断処理を終了す
る。
〔発明の効果] 以上説明した如く、本発明はマルチプレクサで使用する
3ステートゲートの数を半減させ、プロセッサの診断用
データの書込みステップを省略することが可能となるた
め、ハードウェア量が減少して経済的であり、プロセッ
サの処理ステ・ンプを減少させるため、診断処理効率を
高めることが出来る。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の詳細な説明するブロック図、第2図は
本発明の一実施例を示す回路のブロック図、 第3図は第2図の動作を説明するフローチャート、第4
図は従来技術の一例を説明するブロック図、第5図は第
4図の動作を説明するフローチャートである。 図において、 1.10はマルチプレクサ、  2はレジスタ、3.1
1はプロセッサ、    4はデコーダ、5.6は3ス
テートゲート、7はデータバス、8は切替手段、   
  9は制御手段である。 木合明切原理1説門72プロ11.フ図第 1図 箔2図の動ff’−Σ説gA’T;5フローナヤート躬
3図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 複数のレジスタ(2)と、 該複数のレジスタ(2)に夫々対応して接続されると共
    に、該接続されたレジスタ(2)に対して夫々送出する
    データが予め設定され、切替信号に基づいて該データを
    該接続されたレジスタ(2)に送出して格納させる複数
    の切替手段(8)と、 該切替手段(8)に該切替信号を送出すると共に、該複
    数のレジスタ(2)に格納された該データを読取り、前
    記予め設定されたデータと照合して一致したか否かを検
    出する制御手段(9)と、 を設け、該制御手段(9)に該複数のレジスタ(2)を
    順次一つずつ選択させて良否の検出を行わせることを特
    徴とするレジスタ検査方法。
JP2283232A 1990-10-20 1990-10-20 レジスタ検査方法 Pending JPH04157535A (ja)

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4806035B2 (ja) * 2006-03-03 2011-11-02 クゥアルコム・インコーポレイテッド 独立してアドレス可能な副単位を有するデータ記憶装置用のデータステアリングロジックをテストするための方法および装置
JP2014010467A (ja) * 2012-06-27 2014-01-20 Toshiba Tec Corp 集積回路初期化装置、電子機器およびプログラム
JP2015053105A (ja) * 2014-11-10 2015-03-19 セイコーエプソン株式会社 不揮発性記憶装置、電子機器

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4806035B2 (ja) * 2006-03-03 2011-11-02 クゥアルコム・インコーポレイテッド 独立してアドレス可能な副単位を有するデータ記憶装置用のデータステアリングロジックをテストするための方法および装置
JP2014010467A (ja) * 2012-06-27 2014-01-20 Toshiba Tec Corp 集積回路初期化装置、電子機器およびプログラム
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