SU688009A1 - Способ получени тонких пленок металлов хромового р да и их окислов - Google Patents

Способ получени тонких пленок металлов хромового р да и их окислов Download PDF

Info

Publication number
SU688009A1
SU688009A1 SU772533479A SU2533479A SU688009A1 SU 688009 A1 SU688009 A1 SU 688009A1 SU 772533479 A SU772533479 A SU 772533479A SU 2533479 A SU2533479 A SU 2533479A SU 688009 A1 SU688009 A1 SU 688009A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
source
oxide
metal
thin film
heating
Prior art date
Application number
SU772533479A
Other languages
English (en)
Inventor
Б.Г. Грибов
А.А. Попов
Р.А. Родионов
В.Н. Тихонов
Original Assignee
Предприятие П/Я Х-5476
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Предприятие П/Я Х-5476 filed Critical Предприятие П/Я Х-5476
Priority to SU772533479A priority Critical patent/SU688009A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU688009A1 publication Critical patent/SU688009A1/ru

Links

Landscapes

  • Physical Vapour Deposition (AREA)
  • Surface Treatment Of Glass (AREA)

Description

хность источника. Из исследовани  динамических характеристик рабочей камеры видно , что при посто нном нагревании испарител  без источника фонова  концентраци  реактивных газов повышаетс  и соответственно давление в камере падает, а при нагревании испарител  в тех же услови . х с источником давлени  в камере растет. Причина повышени  давлени  во втором случае св зана главным образом с эффектом интенсивного поглощени  десорбированных газов и паров нагретым источником и образовани  труднолетучих химических, соединений. В то же врем  при периодическом нагревании испарител  давление в камере практически не измен етс , что указывает на отсутствие перегретых участков и слабую десорбцию реактивных газов. Поскольку степень дегазации технологиче-. ской оснастки зависит от интенсивности ее прогревани , предложенный способ исключает возможность образовани  перегретых участков. Из результатов измерени  температуры поверхности подложки следует, что при посто нном воздействии лучистой анергии на подложки в процессе напылени  они нагреваютс  в 2-3 раза выше, чем при периодическом нагревании. Причем нижний , предел продолжительности нагревани  источника 30 с ограничен тепловой энергией испарител  с источником, в течение которой должно устанавливатьс  парциальное давление испар емого вещества над ее поверхностью не менее 0,01Ч).1 мм рт.ст. а верхний предел бОд: - ограничен возможностью перегрева технологической оснастки рабочей камеры и повышени  степени ее дегазации. Интервал времени между ступен ми нагревани  зависит от динамических свойств испарител  и вида испар емого вещества . Нижний предел интервала аремеии между ступен ми нагревани  60 с ограничен также возможностью перегрева технологической оснастки, а верхний предел 300 с - ограничен снижением производительности вакуумно-термического оборудовани . В указанных интервалах времена периодического нагревани  и охлаждени  источника концентраци  реактивных газов в объеме камеры имеет минимальное значение, гу хорость напылени  - максимальное значение. Другим преимуществом предложенного способа  вл етс  то, что равномерно-ступенчатое повышение температуры на источнике при дискретном режиме его нагревани  улучшает услови  зарождени  и дальнейший рост пленки. Поскольку структура конденсируемой пленки наследует то состо ние поверхности, которое создалось при образовании и росте зародышей. Монотонно-ступенчатое повышение температуры на источнике инициирует образование мелких, но с большей плотностью зародышей , что приводит к получению плотной
мелкозернистой структуры пленок. Аналогичное  вление наблюдаетс  и при монотонно-ступенчатом охлаждении источника в конце процесса получени  пленок. При этом скорости выхода на посто нный режим в
начале процесса, т.е. повышение темпера туры в каждой последующей ступени дискретного нагревани  зависит от вида испар емого вещества и составл ет tOO150°С (соответственно дл  легколетучих и
труднрлетучих веществ). Така  ее скорость охлаждени  выдерживаетс  в конце процесса получени  пленок. При более высокой скорости выхода на режим увеличиваетс  концентраци  испар емого вещества и ре-.
активных газов, в результате чего образуетс  рыхла  крупнозерниста  структура пленки, котора  трудно залечиваетс  последующими сло ми. Таким образом, предложенный способ позвол ет получать
вакуумно-термическим испарением малодефектные структурносовершенные пленки, чего невозможно достигнуть при использовании известных режимов.
П р и м е р 1. Получение хромированных фотошаблонных заготовок. На сферический подложкодержатель загружают 50 стекл нных пластин размером 70x70 мм рабочей стороной к испарителю, в который помещают 1 г гранул металлического хрома. Рабочую камеру герметизируют и вакуумируют до остаточного давлени  5-10® мм рт.ст.,а затем дегазируют источник и технологическую оснастку в течение 30 мин при температуре на источнике 1300°С. После дегазации источника сначала его охлаждают до комнатной температуры, а затем начинают испар ть в дискретно-ступенчатом режиме нагревани , при этом нагревание в
каждой ступени осуществл ют в течение 45 с. а интервал между ступен ми нагревани  выдерживают в течение 90 с. Температуру источника а ка;«дой последующей ступени нагреаани  до выхода «а посто нный режим (до 300°С) увеличивают на 140°С. В указанном режиме испарени  металлического хрома осуществл ют напыление пленок S течение 30 мин, причем во врем  охлаждени  источника температуру в каждои ступени уменьшают на те же 140°С. В результате использовани  данного режима получают пленки толщиной 1000-llodA и с плотностью проколсв менее 0.2 см при выходе годных хромированных фотошаблонных , заготозок бсдее 55-70%. Аналогич5 6880096
ные пластины известными способами неостальном режим аналогичен примеру 1 за получены.искл.ючением того, что источник нагревают Пример 2. Получение полупрозрач-до максимальной температуры 1200°С. Полных фотошаблонных заготовок с железо-учаемые пленки имеют толщину 800-900 А, окисным покрытием. На сферический5 плотность проколов менее 0.2 см при выподложкодержатель :загружают 50; стек-ходе годных пластин с указанными параметл нных пластин размером 70x70 мм рабо-рами в пределах 60-70%. Аналогичные чей стороной к испарителю в которыйпластины известными способами также не помещают 2 г порошка окиси железа. Вполучены.

Claims (1)

  1. (54X57) СПОСОБ ПОЛУЧЕНИЯ ТОНКИХ ПЛЕНОК МЕТАЛЛОВ ХРОМОВОГО РЯДА И ИХ ОКИСЛОВ. включающий испарение и
SU772533479A 1977-10-07 1977-10-07 Способ получени тонких пленок металлов хромового р да и их окислов SU688009A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU772533479A SU688009A1 (ru) 1977-10-07 1977-10-07 Способ получени тонких пленок металлов хромового р да и их окислов

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU772533479A SU688009A1 (ru) 1977-10-07 1977-10-07 Способ получени тонких пленок металлов хромового р да и их окислов

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU688009A1 true SU688009A1 (ru) 1991-06-07

Family

ID=20728760

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU772533479A SU688009A1 (ru) 1977-10-07 1977-10-07 Способ получени тонких пленок металлов хромового р да и их окислов

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU688009A1 (ru)

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Данилин Б.С. Вакуумна техника в производстве интегральных схем. Энерги , М.. 1972.С.113.Черн ев В.Н. Технологи производства интегральных микросхем. Энерги , М., 1977, с.242-244.(54X57) СПОСОБ ПОЛУЧЕНИЯ ТОНКИХ ПЛЕНОК МЕТАЛЛОВ ХРОМОВОГО РЯДА И ИХ окислов, включающий испарение иконденсацию паров испар емого материала на Подложку в вакууме, отличающийс тем, что, d целью снижени плотности дефектов в конденсируемой пленке за счет уменьшени концентрации реактивных газов в зоне конденсации, испарение провод т в дискретно-ступенчатом режиме нагревани источника испарени при равномерном Повышении его температуры от комнатной до 1100-1500°С'с последующим охлаждением до комнатной температуры, причем нагревание в каждой ступени провод т в течение 30-60 с, с интервалом нагревани в течение 60-300 с.(ЛсИзобретение относитс к технологии получени тонких пленок металлов и их окислов вакуумно-термическим испарением и может быть использовано в микроэлектронике, в частности при производстве маскированных фот *

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN106756792A (zh) 一种氧化物透明电极薄膜的制备方法
SU688009A1 (ru) Способ получени тонких пленок металлов хромового р да и их окислов
JPS6021959B2 (ja) Hg↓1−xCdxTeの表面組成をもつ層の製法
TWI719346B (zh) 反應性陰極電弧蒸鍍系統鍍製鋰化合物薄膜之裝置與方法
CN111925128A (zh) 一种基于非溶剂全无机Pb基钙钛矿薄膜的制备方法
JPH0652714B2 (ja) 薄膜材料の製造法
JPS63235466A (ja) 蒸着法
JPS62222058A (ja) 透明導電膜の形成方法
JPS63270456A (ja) 薄膜成長用蒸着装置
JPH0663087B2 (ja) 窒化チタン膜の形成方法
JPS58100672A (ja) 薄膜形成法及びその装置
JPS61104070A (ja) 薄膜形成法
Gaynazarova et al. METHODS OF OBTAINING THIN LAYERS OF CADMIUM TELLURIDE AND THEIR ELECTRICAL AND PHOTOELECTRIC PROPERTIES
CN117626196A (zh) 一种In2O3/2D-MoS2异质结薄膜材料及其制备方法和应用
JP3845721B2 (ja) レーザーアブレーションによる複合酸化物ナノ微結晶薄膜の製造方法
SU901352A1 (ru) Устройство дл нанесени покрытий
CN110747436A (zh) 一种铟铝共掺硫化锌薄膜及其制备方法
JPS631038A (ja) 2−6族化合物薄膜形成装置
Sun et al. Reaction of lanthanum bromide oxide with water vapour
RU1814665C (ru) Способ получени аморфных металлических пленок
RU1716813C (ru) Способ получени тонких пленок нитрида алюмини
CN111663110A (zh) 一种具有高耐磨性与抗辐照性能的二硫化钼/钇稳定氧化锆复合薄膜及其制备方法
JPS6293366A (ja) 窒化ホウ素膜の作製方法
JPH1192684A (ja) ガス中蒸着によるε型銅フタロシアニン結晶及びその薄膜の作製方法
JPH0582359B2 (ru)