SU688009A1 - Способ получени тонких пленок металлов хромового р да и их окислов - Google Patents
Способ получени тонких пленок металлов хромового р да и их окислов Download PDFInfo
- Publication number
- SU688009A1 SU688009A1 SU772533479A SU2533479A SU688009A1 SU 688009 A1 SU688009 A1 SU 688009A1 SU 772533479 A SU772533479 A SU 772533479A SU 2533479 A SU2533479 A SU 2533479A SU 688009 A1 SU688009 A1 SU 688009A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- source
- oxide
- metal
- thin film
- heating
- Prior art date
Links
Landscapes
- Physical Vapour Deposition (AREA)
- Surface Treatment Of Glass (AREA)
Description
хность источника. Из исследовани динамических характеристик рабочей камеры видно , что при посто нном нагревании испарител без источника фонова концентраци реактивных газов повышаетс и соответственно давление в камере падает, а при нагревании испарител в тех же услови . х с источником давлени в камере растет. Причина повышени давлени во втором случае св зана главным образом с эффектом интенсивного поглощени десорбированных газов и паров нагретым источником и образовани труднолетучих химических, соединений. В то же врем при периодическом нагревании испарител давление в камере практически не измен етс , что указывает на отсутствие перегретых участков и слабую десорбцию реактивных газов. Поскольку степень дегазации технологиче-. ской оснастки зависит от интенсивности ее прогревани , предложенный способ исключает возможность образовани перегретых участков. Из результатов измерени температуры поверхности подложки следует, что при посто нном воздействии лучистой анергии на подложки в процессе напылени они нагреваютс в 2-3 раза выше, чем при периодическом нагревании. Причем нижний , предел продолжительности нагревани источника 30 с ограничен тепловой энергией испарител с источником, в течение которой должно устанавливатьс парциальное давление испар емого вещества над ее поверхностью не менее 0,01Ч).1 мм рт.ст. а верхний предел бОд: - ограничен возможностью перегрева технологической оснастки рабочей камеры и повышени степени ее дегазации. Интервал времени между ступен ми нагревани зависит от динамических свойств испарител и вида испар емого вещества . Нижний предел интервала аремеии между ступен ми нагревани 60 с ограничен также возможностью перегрева технологической оснастки, а верхний предел 300 с - ограничен снижением производительности вакуумно-термического оборудовани . В указанных интервалах времена периодического нагревани и охлаждени источника концентраци реактивных газов в объеме камеры имеет минимальное значение, гу хорость напылени - максимальное значение. Другим преимуществом предложенного способа вл етс то, что равномерно-ступенчатое повышение температуры на источнике при дискретном режиме его нагревани улучшает услови зарождени и дальнейший рост пленки. Поскольку структура конденсируемой пленки наследует то состо ние поверхности, которое создалось при образовании и росте зародышей. Монотонно-ступенчатое повышение температуры на источнике инициирует образование мелких, но с большей плотностью зародышей , что приводит к получению плотной
мелкозернистой структуры пленок. Аналогичное вление наблюдаетс и при монотонно-ступенчатом охлаждении источника в конце процесса получени пленок. При этом скорости выхода на посто нный режим в
начале процесса, т.е. повышение темпера туры в каждой последующей ступени дискретного нагревани зависит от вида испар емого вещества и составл ет tOO150°С (соответственно дл легколетучих и
труднрлетучих веществ). Така ее скорость охлаждени выдерживаетс в конце процесса получени пленок. При более высокой скорости выхода на режим увеличиваетс концентраци испар емого вещества и ре-.
активных газов, в результате чего образуетс рыхла крупнозерниста структура пленки, котора трудно залечиваетс последующими сло ми. Таким образом, предложенный способ позвол ет получать
вакуумно-термическим испарением малодефектные структурносовершенные пленки, чего невозможно достигнуть при использовании известных режимов.
П р и м е р 1. Получение хромированных фотошаблонных заготовок. На сферический подложкодержатель загружают 50 стекл нных пластин размером 70x70 мм рабочей стороной к испарителю, в который помещают 1 г гранул металлического хрома. Рабочую камеру герметизируют и вакуумируют до остаточного давлени 5-10® мм рт.ст.,а затем дегазируют источник и технологическую оснастку в течение 30 мин при температуре на источнике 1300°С. После дегазации источника сначала его охлаждают до комнатной температуры, а затем начинают испар ть в дискретно-ступенчатом режиме нагревани , при этом нагревание в
каждой ступени осуществл ют в течение 45 с. а интервал между ступен ми нагревани выдерживают в течение 90 с. Температуру источника а ка;«дой последующей ступени нагреаани до выхода «а посто нный режим (до 300°С) увеличивают на 140°С. В указанном режиме испарени металлического хрома осуществл ют напыление пленок S течение 30 мин, причем во врем охлаждени источника температуру в каждои ступени уменьшают на те же 140°С. В результате использовани данного режима получают пленки толщиной 1000-llodA и с плотностью проколсв менее 0.2 см при выходе годных хромированных фотошаблонных , заготозок бсдее 55-70%. Аналогич5 6880096
ные пластины известными способами неостальном режим аналогичен примеру 1 за получены.искл.ючением того, что источник нагревают Пример 2. Получение полупрозрач-до максимальной температуры 1200°С. Полных фотошаблонных заготовок с железо-учаемые пленки имеют толщину 800-900 А, окисным покрытием. На сферический5 плотность проколов менее 0.2 см при выподложкодержатель :загружают 50; стек-ходе годных пластин с указанными параметл нных пластин размером 70x70 мм рабо-рами в пределах 60-70%. Аналогичные чей стороной к испарителю в которыйпластины известными способами также не помещают 2 г порошка окиси железа. Вполучены.
Claims (1)
- (54X57) СПОСОБ ПОЛУЧЕНИЯ ТОНКИХ ПЛЕНОК МЕТАЛЛОВ ХРОМОВОГО РЯДА И ИХ ОКИСЛОВ. включающий испарение и
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU772533479A SU688009A1 (ru) | 1977-10-07 | 1977-10-07 | Способ получени тонких пленок металлов хромового р да и их окислов |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU772533479A SU688009A1 (ru) | 1977-10-07 | 1977-10-07 | Способ получени тонких пленок металлов хромового р да и их окислов |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU688009A1 true SU688009A1 (ru) | 1991-06-07 |
Family
ID=20728760
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU772533479A SU688009A1 (ru) | 1977-10-07 | 1977-10-07 | Способ получени тонких пленок металлов хромового р да и их окислов |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU688009A1 (ru) |
-
1977
- 1977-10-07 SU SU772533479A patent/SU688009A1/ru active
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
Данилин Б.С. Вакуумна техника в производстве интегральных схем. Энерги , М.. 1972.С.113.Черн ев В.Н. Технологи производства интегральных микросхем. Энерги , М., 1977, с.242-244.(54X57) СПОСОБ ПОЛУЧЕНИЯ ТОНКИХ ПЛЕНОК МЕТАЛЛОВ ХРОМОВОГО РЯДА И ИХ окислов, включающий испарение иконденсацию паров испар емого материала на Подложку в вакууме, отличающийс тем, что, d целью снижени плотности дефектов в конденсируемой пленке за счет уменьшени концентрации реактивных газов в зоне конденсации, испарение провод т в дискретно-ступенчатом режиме нагревани источника испарени при равномерном Повышении его температуры от комнатной до 1100-1500°С'с последующим охлаждением до комнатной температуры, причем нагревание в каждой ступени провод т в течение 30-60 с, с интервалом нагревани в течение 60-300 с.(ЛсИзобретение относитс к технологии получени тонких пленок металлов и их окислов вакуумно-термическим испарением и может быть использовано в микроэлектронике, в частности при производстве маскированных фот * |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN106756792A (zh) | 一种氧化物透明电极薄膜的制备方法 | |
SU688009A1 (ru) | Способ получени тонких пленок металлов хромового р да и их окислов | |
JPS6021959B2 (ja) | Hg↓1−xCdxTeの表面組成をもつ層の製法 | |
TWI719346B (zh) | 反應性陰極電弧蒸鍍系統鍍製鋰化合物薄膜之裝置與方法 | |
CN111925128A (zh) | 一种基于非溶剂全无机Pb基钙钛矿薄膜的制备方法 | |
JPH0652714B2 (ja) | 薄膜材料の製造法 | |
JPS63235466A (ja) | 蒸着法 | |
JPS62222058A (ja) | 透明導電膜の形成方法 | |
JPS63270456A (ja) | 薄膜成長用蒸着装置 | |
JPH0663087B2 (ja) | 窒化チタン膜の形成方法 | |
JPS58100672A (ja) | 薄膜形成法及びその装置 | |
JPS61104070A (ja) | 薄膜形成法 | |
Gaynazarova et al. | METHODS OF OBTAINING THIN LAYERS OF CADMIUM TELLURIDE AND THEIR ELECTRICAL AND PHOTOELECTRIC PROPERTIES | |
CN117626196A (zh) | 一种In2O3/2D-MoS2异质结薄膜材料及其制备方法和应用 | |
JP3845721B2 (ja) | レーザーアブレーションによる複合酸化物ナノ微結晶薄膜の製造方法 | |
SU901352A1 (ru) | Устройство дл нанесени покрытий | |
CN110747436A (zh) | 一种铟铝共掺硫化锌薄膜及其制备方法 | |
JPS631038A (ja) | 2−6族化合物薄膜形成装置 | |
Sun et al. | Reaction of lanthanum bromide oxide with water vapour | |
RU1814665C (ru) | Способ получени аморфных металлических пленок | |
RU1716813C (ru) | Способ получени тонких пленок нитрида алюмини | |
CN111663110A (zh) | 一种具有高耐磨性与抗辐照性能的二硫化钼/钇稳定氧化锆复合薄膜及其制备方法 | |
JPS6293366A (ja) | 窒化ホウ素膜の作製方法 | |
JPH1192684A (ja) | ガス中蒸着によるε型銅フタロシアニン結晶及びその薄膜の作製方法 | |
JPH0582359B2 (ru) |