JPS62222058A - 透明導電膜の形成方法 - Google Patents
透明導電膜の形成方法Info
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- JPS62222058A JPS62222058A JP6485586A JP6485586A JPS62222058A JP S62222058 A JPS62222058 A JP S62222058A JP 6485586 A JP6485586 A JP 6485586A JP 6485586 A JP6485586 A JP 6485586A JP S62222058 A JPS62222058 A JP S62222058A
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Landscapes
- Physical Vapour Deposition (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は透明導電膜の形成技術、特に光電変換機能を有
する太陽電池の透明導電膜の形成方法に関するものであ
る。
する太陽電池の透明導電膜の形成方法に関するものであ
る。
(従来の技術)
従来、例えば太陽電池を製造するに当っては、ガラス基
板上に透明電極を形成し、その上にn型アモルファス・
シリコン層、i型アモルファス・シリコン層およびn型
アモルファス・シリコン層を順次に堆積形成した後、ア
ルミニウム、クロム等の金属電極またはITO,ln2
[1,、SnO,等の透明電極を形成している。このよ
うな太陽電池の製造過程において、透明導電膜を形成す
る際には、WボードまたはMOボード等を用いる抵抗加
熱法、電子ビーム加熱法、スパッタリング法が採用され
ている。
板上に透明電極を形成し、その上にn型アモルファス・
シリコン層、i型アモルファス・シリコン層およびn型
アモルファス・シリコン層を順次に堆積形成した後、ア
ルミニウム、クロム等の金属電極またはITO,ln2
[1,、SnO,等の透明電極を形成している。このよ
うな太陽電池の製造過程において、透明導電膜を形成す
る際には、WボードまたはMOボード等を用いる抵抗加
熱法、電子ビーム加熱法、スパッタリング法が採用され
ている。
(発明が解決しようとする問題点)
従来の抵抗加熱法によって透明導電膜を形成する方法で
は、ボードを構成するWやMoがITO,In、03S
n02等の材料と反応し、WONやMob、が生成され
、これが透明導電膜の材料と同時に蒸着され、透明導電
膜の透過率が低下し、甚だしい場合には透明導電膜が白
濁する欠点があるとともに比抵抗も増大する欠点がある
。
は、ボードを構成するWやMoがITO,In、03S
n02等の材料と反応し、WONやMob、が生成され
、これが透明導電膜の材料と同時に蒸着され、透明導電
膜の透過率が低下し、甚だしい場合には透明導電膜が白
濁する欠点があるとともに比抵抗も増大する欠点がある
。
また、電子線加熱法やスパッタリング法によれば、透過
度の点では良質の透明導電膜が得られるが、蒸着中に1
次電子、2次電子やイオン等の荷電粒子の衝突によって
透明導電膜がダメージを受け、その比抵抗が増大する欠
点がある。また、透明導電膜を単結晶シリコンやアモル
ファス・シリコン等の半導体材料上に成膜する場合には
上記の荷電粒子が透明導電膜のみならず半導体材料にも
ダメージを与え、作製された半導体装置の特性を著しく
劣化させる欠点があった。
度の点では良質の透明導電膜が得られるが、蒸着中に1
次電子、2次電子やイオン等の荷電粒子の衝突によって
透明導電膜がダメージを受け、その比抵抗が増大する欠
点がある。また、透明導電膜を単結晶シリコンやアモル
ファス・シリコン等の半導体材料上に成膜する場合には
上記の荷電粒子が透明導電膜のみならず半導体材料にも
ダメージを与え、作製された半導体装置の特性を著しく
劣化させる欠点があった。
本発明の目的は上述した欠点を除去し、透過率は従来の
電子線加熱法とほぼ同程度に高く、また比抵抗は従来の
方法よりも低い透明導電膜を形成する方法を提供しよう
とするものである。
電子線加熱法とほぼ同程度に高く、また比抵抗は従来の
方法よりも低い透明導電膜を形成する方法を提供しよう
とするものである。
(問題点を解決するための手段)
本発明は、基板上に透明導電膜を形成するに当り、基板
と、その上に形成すべき透明導電膜の材料とを真空容器
内に入れ、透明導電膜材料にレーザ光を照射して蒸発さ
せて基板上に真空蒸着することを特徴とするものである
。
と、その上に形成すべき透明導電膜の材料とを真空容器
内に入れ、透明導電膜材料にレーザ光を照射して蒸発さ
せて基板上に真空蒸着することを特徴とするものである
。
(作 用)
本発明の透明導電膜の形成方法によれば、レーザ光を熱
源として蒸着すべき透明導電膜材料を加熱するものであ
るから、形成される透明導電膜が荷電粒子によってダメ
ージを受けることはなく、比抵抗の十分低い透明導電膜
を得ることができる。
源として蒸着すべき透明導電膜材料を加熱するものであ
るから、形成される透明導電膜が荷電粒子によってダメ
ージを受けることはなく、比抵抗の十分低い透明導電膜
を得ることができる。
また、抵抗加熱の場合のように透明導電膜材料を保持す
る抵抗体を加熱することがないので、抵抗体材料と透明
導電膜材料とが反応することはなく、高い透過率を有す
る透明導電膜を得ることができる。本発明では、透明導
電膜材料は通常の電子線加熱と同様に水冷された金属製
るつぼに入れておき、るつぼの加熱を極力抑えるように
するのが好適である。また、レーザ光を放射するレーザ
光源としてはエキシマレーザ、YAGレーザ、Arレー
ザ、炭酸ガスレーザ等の大出力レーザを用いることがで
きる。
る抵抗体を加熱することがないので、抵抗体材料と透明
導電膜材料とが反応することはなく、高い透過率を有す
る透明導電膜を得ることができる。本発明では、透明導
電膜材料は通常の電子線加熱と同様に水冷された金属製
るつぼに入れておき、るつぼの加熱を極力抑えるように
するのが好適である。また、レーザ光を放射するレーザ
光源としてはエキシマレーザ、YAGレーザ、Arレー
ザ、炭酸ガスレーザ等の大出力レーザを用いることがで
きる。
(実施例)
図面は本発明による透明導電膜の形成方法の一実施例を
示す線図である。ガラス基板1を真空容器2内に配置す
る。この真空容器2は排気系に連通し、2 X 1O−
6Torr以下の圧力にする。また、ガラス基板1を1
00〜500℃、特に250〜350℃の温度に加熱す
るためにヒータ3をガラス基板1に隣接して設ける。真
空容器2の内部にはさらに金属製るつぼ4を配置し、そ
の中にIn2O,、ITO,5n02等の導電性酸化物
の焼結体より成る透明導電膜材料5を充填する。この金
属製るつぼ4の内部には空間を形成し、これに、バイブ
ロ、7を連結し、冷却媒体をるつぼ4を経て通し、るつ
ぼの温度が上昇しないようにする。本発明の方法を実施
するに当ってはレーザ光源8を設け、これから放射され
るレーザビームをライトガイド9を経て真空容器2の内
部に導き、るつぼ4に充填した透明導電膜材料5に照射
する。この場合、この材料5で反射されたレーザ光はレ
ーザ光吸収体10に入射させる。このレーザ光吸収体1
0が過度に加熱されるのを防ぐためにこの吸収体にもパ
イプ11.12を連結し、冷却媒体を通すようにする。
示す線図である。ガラス基板1を真空容器2内に配置す
る。この真空容器2は排気系に連通し、2 X 1O−
6Torr以下の圧力にする。また、ガラス基板1を1
00〜500℃、特に250〜350℃の温度に加熱す
るためにヒータ3をガラス基板1に隣接して設ける。真
空容器2の内部にはさらに金属製るつぼ4を配置し、そ
の中にIn2O,、ITO,5n02等の導電性酸化物
の焼結体より成る透明導電膜材料5を充填する。この金
属製るつぼ4の内部には空間を形成し、これに、バイブ
ロ、7を連結し、冷却媒体をるつぼ4を経て通し、るつ
ぼの温度が上昇しないようにする。本発明の方法を実施
するに当ってはレーザ光源8を設け、これから放射され
るレーザビームをライトガイド9を経て真空容器2の内
部に導き、るつぼ4に充填した透明導電膜材料5に照射
する。この場合、この材料5で反射されたレーザ光はレ
ーザ光吸収体10に入射させる。このレーザ光吸収体1
0が過度に加熱されるのを防ぐためにこの吸収体にもパ
イプ11.12を連結し、冷却媒体を通すようにする。
本発明による形成方法の具体例においては、ガラス基板
1およびITO材料5を真空容器2内の所定の位置に配
置した後真空容器を閉じ、内部を2X 1O−6Tor
rの圧力まで減圧する。次に真空容器2内に02ガスを
導入し、その圧力をI Xl0−5〜1×1O−2To
rr、好ましくはI Xl0−’〜1 xlO−3To
rrに保つ。また、ヒータ3に給電してガラス基板1を
300℃の温度に加熱する。レーザ光源8としてはYA
G レーザを用い、ビーム径1〜10mm、好ましくは
3〜6 mm、平均出力10〜1000W1好ましくは
100〜300Wのレーザビームを、ライトガイド9を
経てITO材料5に照射する。ITO材料5はこれによ
り加熱され、るつぼ4内で昇華し、蒸発する。このよう
にしてITOがガラス基板1上に蒸着する。
1およびITO材料5を真空容器2内の所定の位置に配
置した後真空容器を閉じ、内部を2X 1O−6Tor
rの圧力まで減圧する。次に真空容器2内に02ガスを
導入し、その圧力をI Xl0−5〜1×1O−2To
rr、好ましくはI Xl0−’〜1 xlO−3To
rrに保つ。また、ヒータ3に給電してガラス基板1を
300℃の温度に加熱する。レーザ光源8としてはYA
G レーザを用い、ビーム径1〜10mm、好ましくは
3〜6 mm、平均出力10〜1000W1好ましくは
100〜300Wのレーザビームを、ライトガイド9を
経てITO材料5に照射する。ITO材料5はこれによ
り加熱され、るつぼ4内で昇華し、蒸発する。このよう
にしてITOがガラス基板1上に蒸着する。
この蒸着膜の厚さを水晶振動数の変化によりモニタし、
所望の膜に達したらレーザビームの照射を止めて蒸着を
停止し、ガラス基板lの温度が100℃以下になってか
ら真空容器2を開放し、ガラス基板を取出す。
所望の膜に達したらレーザビームの照射を止めて蒸着を
停止し、ガラス基板lの温度が100℃以下になってか
ら真空容器2を開放し、ガラス基板を取出す。
上述した本発明の方法で形成した透明導電膜の比抵抗は
0.5〜0.9X10−’Ω・cmであり、従来の方法
で形成された透明導電膜の比抵抗1.5〜2.Ox t
o−’Ω・cmよりも低いものであった。また、透過率
は85%以上であり、従来の電子線加熱法により形成さ
れる透明導電膜の透過率とほぼ同等の値であった。また
、アモルファス・シリコン系の材料を用いた太陽電池に
おいて、その側窓電極を、本発明の方法によって形成し
た透明導電膜で構成した場合、その八M (Air M
ass) 1.5での変換効率は10%以上であり、従
来の2〜5%の変換効率に比べてきわめて大きくなって
いる。
0.5〜0.9X10−’Ω・cmであり、従来の方法
で形成された透明導電膜の比抵抗1.5〜2.Ox t
o−’Ω・cmよりも低いものであった。また、透過率
は85%以上であり、従来の電子線加熱法により形成さ
れる透明導電膜の透過率とほぼ同等の値であった。また
、アモルファス・シリコン系の材料を用いた太陽電池に
おいて、その側窓電極を、本発明の方法によって形成し
た透明導電膜で構成した場合、その八M (Air M
ass) 1.5での変換効率は10%以上であり、従
来の2〜5%の変換効率に比べてきわめて大きくなって
いる。
本発明は上述した実施例に限定されるものではなく種々
の変形ガ可能である。例えば上述した例ではガラス基板
上に透明導電膜を形成したが、ガラス以外の基板の上や
基板上に半導体層を形成した上に透明導電膜を形成する
こともできる。
の変形ガ可能である。例えば上述した例ではガラス基板
上に透明導電膜を形成したが、ガラス以外の基板の上や
基板上に半導体層を形成した上に透明導電膜を形成する
こともできる。
(発明の効果)
上述した本発明の透明導電膜の形成方法によれば、るつ
ぼ材やボード材による汚染や荷電粒子による透明導電膜
および下地基板へのダメージがないので、比抵抗が低く
、透過率の高い透明導電膜を容易に形成することができ
る。特に本発明の方法で太陽電池の透明導電膜を形成す
る場合には太陽電池の光電変換効率を大幅に向上するこ
とができる。
ぼ材やボード材による汚染や荷電粒子による透明導電膜
および下地基板へのダメージがないので、比抵抗が低く
、透過率の高い透明導電膜を容易に形成することができ
る。特に本発明の方法で太陽電池の透明導電膜を形成す
る場合には太陽電池の光電変換効率を大幅に向上するこ
とができる。
図面は本発明による透明導電膜の形成方法を実施する真
空蒸着装置の一実施例の構成を示す線図である。
空蒸着装置の一実施例の構成を示す線図である。
Claims (1)
- 1、基板上に透明導電膜を形成するに当り、基板と、そ
の上に形成すべき透明導電膜の材料とを真空容器内に入
れ、透明導電膜材料にレーザ光を照射して蒸発させて基
板上に真空蒸着することを特徴とする透明導電膜の形成
方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP6485586A JPS62222058A (ja) | 1986-03-25 | 1986-03-25 | 透明導電膜の形成方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP6485586A JPS62222058A (ja) | 1986-03-25 | 1986-03-25 | 透明導電膜の形成方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS62222058A true JPS62222058A (ja) | 1987-09-30 |
Family
ID=13270216
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP6485586A Pending JPS62222058A (ja) | 1986-03-25 | 1986-03-25 | 透明導電膜の形成方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS62222058A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6451391B1 (en) | 1998-09-10 | 2002-09-17 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Thin film formation method |
JP2022506364A (ja) * | 2018-10-31 | 2022-01-17 | マックス-プランク-ゲゼルシャフト ツール フェルデルンク デル ヴィッセンシャフテン エー.ファウ. | コーティング装置、処理チャンバ、基板をコーティングする方法、および少なくとも1つの材料層でコーティングされた基板 |
-
1986
- 1986-03-25 JP JP6485586A patent/JPS62222058A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6451391B1 (en) | 1998-09-10 | 2002-09-17 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Thin film formation method |
JP2022506364A (ja) * | 2018-10-31 | 2022-01-17 | マックス-プランク-ゲゼルシャフト ツール フェルデルンク デル ヴィッセンシャフテン エー.ファウ. | コーティング装置、処理チャンバ、基板をコーティングする方法、および少なくとも1つの材料層でコーティングされた基板 |
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